BR112019021755A2

BR112019021755A2 - instrumento de densidade óptica e sistemas e métodos usando o mesmo

Info

Publication number: BR112019021755A2
Application number: BR112019021755A
Authority: BR
Inventors: David Peterson Brian; George Kocher Christopher; Joseph Pingel Daniel; R Maes Gregory; R Hoffmann Jack Jr; S Yan Jacky; Edward Price Jeffrey; Patrick Harrison Joel; Kenneth Korte John; H Schleicher Leonard Jr; D Stamm Perry; Gregory Furman Sean; J Clynes Walter
Original assignee: Bio Merieux Inc
Priority date: 2017-04-20
Filing date: 2018-04-20
Publication date: 2020-05-05
Also published as: US10625265B2; AU2018254602B2; CA3060374A1; US11141733B2; US11673141B2; AU2018254604B2; US20180306701A1; EP3612815B1; US11779931B2; CA3060377C; US11938483B2; US10478821B2; CN110914673A; WO2018195511A1; US20220134332A1; US20180304255A1; BR112019021732A2; WO2018195514A1; US20180306729A1; CA3061024A1

Abstract

instrumentos, sistemas e métodos para medir a densidade óptica de amostras microbiológicas são fornecidos. em particular, os instrumentos de densidade óptica que fornecem maior segurança, eficiência, conforto e conveniência são fornecidos. tais instrumentos de densidade óptica incluem uma porção portátil e uma estação de base. os instrumentos de densidade óptica podem ser utilizados em sistemas e métodos para medir a densidade óptica de amostras biológicas.

Description

Relatório Descritivo da Patente de Invenção para INSTRUMENTO DE DENSIDADE ÓPTICA E SISTEMAS E MÉTODOS USANDO O MESMO.

REFERÊNCIA CRUZADA A PEDIDOS DE PATENTE RELACIONADOS [0001] Este pedido reivindica o benefício de cada um dos seguintes: O Pedido Provisório US 62/488.450, intitulado Optical Density Instrument And Systems And Methods Using The Same e foi depositado em 21 de abril de 2017; Pedido Provisório US 62/487.807, intitulado Optical Test Platform” e foi depositado em 20 de abril de 2017; Pedido Provisório US 62/487.796, intitulado Optical Density Instrument And Systems And Methods Using The Same e foi depositado em 20 de abril de 2017; Pedido Provisório US 62/487.860, intitulado Tip Resistant Optical Testing Instrument e foi depositado em 20 de abril de 2017; e o Pedido Provisório US 62/487.736, intitulado Method, Apparatus, And Computer Program Product For Controlling Components Of A Detection Device e foi depositado em 20 de abril de 2017. Cada um dos pedidos anteriores é aqui incorporado por referência na sua totalidade.

CAMPO TÉCNICO [0002] A presente invenção refere-se geralmente a dispositivos, sistemas e métodos para medir a densidade óptica da amostra e, mais particularmente, a dispositivos, sistemas e métodos para medir a densidade óptica das amostras microbiológicas.

ANTECEDENTES [0003] Em laboratórios de microbiologia e outros ambientes similares, técnicos de laboratório, cientistas e outros profissionais usam equipamentos de laboratório para medir condições de suspensões líquidas. As suspensões podem ser observadas e manipuladas em tubos de ensaio de poliestireno transparente, tubos de vidro ou outros frascos similares. O profissional pode utilizar vários dispositivos ou ins

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2/82 trumentos para realizar leituras e medições no líquido em um tubo de amostra. O profissional também pode manipular o fluido enquanto realiza medições, ou intermitentemente entre medições. Em alguns exemplos, um profissional pode manipular o fluido enquanto monitora uma medição ou leitura realizada por um instrumento.

[0004] Um exemplo de tal medição realizada em um laboratório de microbiologia inclui a medição da turbidez e/ou concentração de ml· crorganismos no líquido usando um instrumento de densidade óptica. O profissional pode usar o instrumento para alcançar a diluição ideal da amostra diluindo as soluções com solução salina ou aumentando os níveis de microrganismos no fluido. Os sensores de densidade óptica em um dispositivo ou instrumento podem ser configurados para detectar a luz emitida na área do tubo de amostra para medir características do líquido.

[0005] Os instrumentos existentes geralmente são incapazes de serem usados continuamente durante a preparação de uma amostra devido à baixa visibilidade, interferência de fontes de luz externa e interna, vazamentos e outros danos elétricos aos componentes internos do instrumento e altos custos de fabricação. Os inventores identificaram inúmeras outras deficiências com as tecnologias existentes no campo, cujas soluções são objeto das modalidades descritas na presente invenção.

BREVE SUMÁRIO [0006] Uma ou mais modalidades da invenção podem abordar um ou mais dos problemas acima mencionados. Certas modalidades de acordo com a invenção fornecem dispositivos, sistemas e métodos para medir a densidade óptica de amostras microbiológicas. Em particular, as modalidades da invenção são direcionadas a vários recursos de tais instrumentos, sistemas e métodos que fornecem maior segurança, conforto, eficiência e conveniência para os usuários.

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3/82 [0007] De acordo com certas modalidades, o instrumento de densidade óptica inclui uma unidade portátil com uma parte superior e uma parte inferior e uma estação base com pelo menos uma porção de recepção de unidade portátil, de modo que a unidade portátil seja configurada para se acoplar operacionalmente à estação base, tanto quando a unidade portátil engata a porção de recepção da unidade portátil como quando a unidade portátil é separada da estação base. A unidade portátil inclui ainda uma plataforma de teste óptico com uma parte superior aberta e uma cavidade configurada para receber pelo menos uma porção de um primeiro tubo de amostra e uma porção inferior posicionada dentro da unidade portátil, de modo que o primeiro tubo de amostra se estende acima da parte superior da unidade portátil quando inserido na plataforma de teste óptico. Além disso, a unidade portátil inclui um emissor posicionado dentro da unidade portátil na parte inferior da plataforma de teste óptico, de modo que o emissor é configurado para emitir luz na cavidade, e o emissor é configurado para emitir luz no primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico. Além disso, a unidade portátil Inclui pelo menos um sensor posicionado em comunicação óptica com o emissor através da cavidade, de modo que pelo menos um sensor é configurado para receber a luz emitida da cavidade, e de modo que pelo menos um sensor é configurado para receber luz emitida pelo emissor e passar através do primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico. Além disso, a unidade portátil inclui uma luz de iluminação posicionada na parte inferior da plataforma de teste óptico que está configurada para iluminar o primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico. Em algumas modalidades, a unidade portátil pode incluir uma mola que define uma primeira perna e uma segunda perna, e a primeira perna e a segunda perna

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4/82 podem ser configuradas para aplicar uma força em um tubo de amostra em direção a um ponto entre a primeira perna e a segunda perna. [0008] Em outro aspecto, certas modalidades de acordo com a invenção fornecem um sistema para medir a densidade óptica de uma amostra. De acordo com certas modalidades, o sistema inclui uma unidade portátil tendo uma parte superior e uma parte inferior, uma estação base tendo pelo menos uma porção de recepção de unidade portátil, de modo que a unidade portátil esteja configurada para se acoplar operacionalmente à estação base, tanto quando a unidade portátil engata a porção de recepção da unidade portátil como quando a unidade portátil é separada da estação base, e um dispositivo de computação com uma interface de usuário. A unidade portátil inclui ainda uma plataforma de teste óptico com uma parte superior aberta e uma cavidade configurada para receber pelo menos uma porção de um primeiro tubo de amostra e uma porção inferior posicionada dentro da unidade portátil, de modo que o primeiro tubo de amostra se estende acima da parte superior da unidade portátil quando inserido na plataforma de teste óptico. Além disso, a unidade portátil inclui um emissor posicionado dentro da unidade portátil na parte inferior da plataforma de teste óptico, de modo que o emissor é configurado para emitir luz na cavidade, e o emissor é configurado para emitir luz no primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico. Além disso, a unidade portátil inclui pelo menos um sensor posicionado em comunicação óptica com o emissor através da cavidade, de modo que pelo menos um sensor é configurado para receber a luz emitida da cavidade, e de modo que pelo menos um sensor é configurado para receber luz emitida pelo emissor e passar através do primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico. Além disso, a unidade portátil inclui uma luz de iluminação posicionada na parte inferior da

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5/82 plataforma de teste óptico que está configurada para iluminar o primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico.

[0009] Em ainda outro aspecto, certas modalidades de acordo com a invenção fornecem um método para medir a densidade óptica da amostra. De acordo com certas modalidades, o método inclui receber um primeiro tubo de amostra contendo a amostra, iluminar a amostra no primeiro tubo de amostra para inspeção visual por um usuário de acordo com um padrão de modulação de luz, emitir uma fonte de luz através da amostra no primeiro tubo de amostra de acordo com o padrão de modulação de luz, detectar uma porção da fonte de luz transmitida ou refletida pela amostra para gerar dados de luz bruta, e converter os dados de luz bruta em dados de densidade óptica.

BREVE DESCRIÇÃO DAS DIVERSAS VISTAS DOS DESENHOS [0010] Tendo assim descrito a invenção em termos gerais, agora será feita referência aos desenhos anexos, que não são necessariamente desenhados em escala e em que:

[0011] As FIGS. 1 e 2 são vistas em perspectiva de um instrumento de densidade óptica de acordo com certas modalidades da invenção;

[0012] As FIGS. 3A e 3B são vistas em perspectiva da frente de uma unidade portátil, de acordo com certas modalidades da invenção;

[0013] A FIG. 4 é uma vista em perspectiva da parte traseira de uma unidade portátil de acordo com certas modalidades da invenção;

[0014] A FIG. 5 é uma vista em perspectiva de uma estação base de acordo com certas modalidades da invenção;

[0015] A FIG. 6 é uma vista superior de uma estação base de acordo com certas modalidades da invenção;

[0016] A FIG. 7 é uma vista inferior de uma estação base de acordo com certas modalidades da invenção;

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6/82 [0017] As FIGS. 8A e 8B são vistas frontal e traseira respectivamente de uma estação base, de acordo com certas modalidades da invenção;

[0018] As FIGS. 9A e 9B são vistas laterais de uma estação base de acordo com certas modalidades da invenção;

[0019] As FIGS. 10A e 10B são vistas em perspectiva de uma estação base, incluindo uma tela de exibição de acordo com certas modalidades da invenção;

[0020] A FIG. 11 é uma vista superior de uma estação base, incluindo uma tela de exibição de acordo com certas modalidades da invenção;

[0021] A FIG. 12 é uma vista inferior de uma estação base, incluindo uma tela de exibição de acordo com certas modalidades da invenção;

[0022] A FIG. 13 é uma vista frontal de uma tela de exibição em uma estação base de acordo com certas modalidades da invenção;

[0023] A FIG. 14 é uma vista lateral de uma estação base, incluindo uma tela de exibição de acordo com certas modalidades da invenção;

[0024] A FIG. 15 ilustra uma rede de sensores posicionada em torno de um tubo de amostra de acordo com certas modalidades da invenção;

[0025] A FIG. 16 é uma vista em perspectiva de uma plataforma de teste óptico que mostra os caminhos ópticos da luz que viajam através da plataforma de teste óptico de acordo com certas modalidades da invenção;

[0026] A FIG. 17 é uma vista superior de uma plataforma de teste óptico de acordo com certas modalidades da invenção;

[0027] As FIGS. 18A e 18B ilustram uma estrutura de tubo de amostra duplo de acordo com certas modalidades da invenção;

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7/82 [0028] A FIG. 19 é uma vista inferior de uma unidade portátil de acordo com certas modalidades da invenção;

[0029] A FIG. 20 é um diagrama de blocos de um sistema para medir a densidade óptica de uma amostra de acordo com certas modalidades da invenção;

[0030] A FIG. 21 é um diagrama de blocos de uma rede de sensores em um sistema para medir a densidade óptica de uma amostra de acordo com certas modalidades da invenção;

[0031] A FIG. 22 é um diagrama de blocos de um método para medir a densidade óptica de uma amostra de acordo com certas modalidades da invenção;

[0032] As FIGS. 23 e 24 são exemplos de diagramas de temporização de acordo com certas modalidades da invenção;

[0033] A FIG. 25 é outra vista de exemplo de um instrumento de densidade óptica de acordo com algumas modalidades discutidas na presente invenção;

[0034] A FIG. 26 é outro exemplo de um instrumento de densidade óptica de acordo com algumas modalidades discutidas na presente invenção;

[0035] As FIGS. 27 a 31 mostram um exemplo de tubo duplo com uma capacidade de calibração de acordo com algumas modalidades discutidas na presente invenção;

[0036] A FIG. 32 mostra um tag de calibração de acordo com algumas modalidades discutidas na presente invenção;

[0037] A FIG. 33 mostra uma porção de tag de calibração da FIG. 32;

[0038] A FIG. 34 é uma vista plana superior de uma plataforma de teste óptico de acordo com uma modalidade de exemplo;

[0039] A FIG. 35 é uma vista plana superior simplificada e sem escala de uma plataforma de teste óptico de acordo com uma modalidaPetição 870190120041, de 19/11/2019, pág. 15/144

8/82 de de exemplo;

[0040] A FIG. 36 é uma vista em perspectiva de uma mola com cilindros de acordo com uma modalidade de exemplo;

[0041] A FIG. 37 é uma vista plana superior de uma plataforma de teste óptico de acordo com uma modalidade de exemplo;

[0042] A FIG. 38 é uma vista plana de fundo de um compartimento para um instrumento de densidade optica de acordo com uma modalidade de exemplo;

[0043] A FIG. 39 é uma vista em perspectiva da plataforma de teste óptico da FIG. 37;

[0044] A FIG. 40 é uma seção transversal da plataforma de teste óptico da FIG. 37;

[0045] A FIG. 41 é uma vista plana inferior da plataforma de teste óptico da FIG. 37;

[0046] A FIG. 42 é uma vista lateral da plataforma de teste óptico da FIG. 37;

[0047] A FIG. 43 é uma janela de acordo com uma modalidade de exemplo;

[0048] A FIG. 44 é uma vista plana superior de uma janela inferior de acordo com uma modalidade de exemplo;

[0049] A FIG. 45 é uma seção transversal da janela inferior da FIG. 44;

[0050] A FIG. 46 é uma vista lateral de um instrumento de teste óptico em uma posição inclinada ou angular de acordo com uma modalidade de exemplo;

[0051] A FIG. 47 é um fluxograma que ilustra operações de acordo com uma modalidade de exemplo;

[0052] A FIG. 48 é um fluxograma que ilustra operações de acordo com uma modalidade de exemplo;

[0053] A FIG. 49 é um gráfico de exemplo de leituras de sensor de

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9/82 acordo com uma modalidade de exemplo; e [0054] A FIG. 50 é um fluxograma que ilustra operações de acordo com uma modalidade de exemplo.

DESCRIÇÃO DETALHADA [0055] A invenção será agora descrita mais detalhadamente daqui em diante com referência aos desenhos anexos, nos quais são mostradas algumas, mas nâo todas as modalidades das invenções. De fato, esta invenção pode ser incorporada em muitas formas diferentes e não devem ser interpretadas como limitadas às modalidades aqui estabelecidas; em vez disso, essas modalidades são fornecidas para que esta divulgação atenda aos requisitos legais aplicáveis. Numerais iguais se referem a elementos iguais. Conforme usado no relatório descritivo e nas reivindicações anexas, as formas singulares um, uma, o, a incluem referências plurais, a menos que o contexto indique claramente o contrário.

[0056] A invenção inclui, de acordo com certas modalidades, dispositivos, sistemas e métodos para medir a densidade óptica de amostras microbiológicas. Em particular, as modalidades da invenção são direcionadas a vários recursos de tais instrumentos, sistemas e métodos que fornecem maior segurança, conforto, eficiência e conveniência para os usuários. Embora o termo densidade óptica” seja usado ao longo desta divulgação, um versado na técnica entendería que este termo é intercambiável com o termo turbidez e deve ser interpretado como tal.

I, Instrumento de Densidade Óptica [0057] Certas modalidades de acordo com a invenção fornecem instrumentos de densidade óptica. Por exemplo, as FIGS. 1 e 2 são vistas em perspectiva de um instrumento de densidade óptica de acordo com certas modalidades da invenção. Como mostrado nas FIGS. 1 e 2, o instrumento de densidade óptica 1 pode incluir uma unidade por

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10/82 tátil 10 e uma estação base 20. A unidade portátil 10 pode ser acoplada operacionalmente à estação base 20 através de um conector de unidade portátil 24 (mostrado na FIG. 5, 6 e 8A-11) quando posicionados em uma unidade portátil que recebe a porção 23 (mostrada nas FIGs. 5,6e 8A-11) na estação base 20. Em algumas modalidades, a unidade portátil 10 é operada por batería para conveniência e flexibilidade. Em tais modalidades, por exemplo, a batería pode carregar quando a unidade portátil 10 está conectada à estação base 20 via, por exemplo, o conector de unidade portátil 24. O conector de unidade portátil 24 pode compreender um conector de pino flutuante. A unidade portátil 10 pode transmitir dados para a estação base 20 via Bluetooth™ ou outro protocolo sem fio ou com fio.

[0058] As FIGS. 5-14, por exemplo, mostram várias vistas da estação base 20 (por exemplo, em uma base de carregamento padrão ou em uma base de carregamento com configuração de tela). Como mostrado e mencionado acima, a estação base 20 pode incluir uma porção de suporte 21, uma porção de recepção da unidade portátil 23, um conector de unidade portátil 24 e/ou um conector de interface de usuário

25. Como pode ser visto, por exemplo, na FIG. 5, a porção de suporte 21 fornece um suporte para os recursos restantes da estação base 20. A porção de suporte 21 pode ser substancialmente plana e suportada pelos pés 26. O tamanho da porção de suporte 21 pode depender se a estação base 20 inclui uma tela de exibição 22, como discutido em mais detalhes abaixo. A porção de recepção da unidade portátil 23 pode ser embutida na porção de suporte 21 da estação base 20. Além disso, a porção de recepção da unidade portátil 23 pode ter uma forma substancialmente redonda. No entanto, a porção de recepção da unidade portátil 23 pode ter qualquer forma que corresponda à forma da unidade portátil 10. Em outras modalidades e como discutido em mais detalhes abaixo, a estação base 20 pode ser conectada por fio ou sem

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11/82 fio a uma interface de usuário de um dispositivo de computação separado (por exemplo, um computador independente, ou outro dispositivo de coleta ou exibição de dados) através do conector de interface de usuário 25 para receber dados de densidade óptica (ou seja, turbidez) em tempo real. O conector de interface de usuário 25 pode ser um conector de barramento serial universal (USB), um conector serial ou outro protocolo com fio. Em algumas modalidades, a estação base 20 pode ser conectada sem fio à interface de usuário do dispositivo de computação separado. A este respeito, o instrumento de densidade óptica 1 pode se comunicar continuamente com a interface de usuário 130 durante a operação do instrumento de densidade óptica. Em algumas outras modalidades, a comunicação entre o instrumento de densidade óptica 1 e a interface de usuário 130 pode não ser contínua. Em outras modalidades, por exemplo, o instrumento de densidade óptica 1 pode estar em comunicação com a interface de usuário via, por exemplo, circuitos de processamento discutidos em mais detalhes abaixo.

[0059] De acordo com certas modalidades, a estação base 20 pode ou não incluir uma tela de exibição 22. Por exemplo, as FIGS. 1 e

5-9B fornecem várias vistas de uma porção de base 20 sem uma tela de exibição. No entanto, as FIGS. 2 e 10A-14 fornecem várias vistas de uma porção de base 20 tendo uma tela de exibição 22. A tela de exibição 22 pode estar em comunicação com a unidade portátil 10 via, por exemplo, circuitos de processamento discutidos em mais detalhes abaixo. A este respeito, a tela de exibição 22 pode exibir medição (por exemplo, medições de turbidez) gerada pela unidade portátil 10 para monitoramento por um usuário. A tela de exibição 22 pode estar em comunicação contínua ou descontínua com a unidade portátil 10. Em algumas modalidades, ao usar as técnicas de processamento e redução de interferência descritas na presente invenção, a unidade portátil

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12/82 pode enviar dados contínuos em tempo real para a estação base 20 enquanto também ilumina os tubos de amostra.

[0060] De acordo com certas modalidades, a unidade portátil 10 pode ter um topo angulado 11 e um fundo substancialmente plano 12. Em algumas modalidades, por exemplo, a unidade portátil 10 pode ter uma forma substancialmente de ampulheta. Em tais modalidades, por exemplo, o topo angulado 11 pode ser mais estreito que o fundo 12. Por exemplo, as FIGS. 3A, 3B e 4 são vistas em perspectiva da unidade portátil 10 de acordo com certas modalidades da invenção. A este respeito, a unidade portátil 10 pode ser facilmente agarrada pela mão do usuário para fornecer conforto e evitar quedas e derramamentos durante o uso. A unidade portátil 10 também pode incluir um comutador de membrana 15 na parte traseira da unidade portátil 10. O interruptor de membrana 15 pode ser usado como um botão para interagir com pelo menos a porção portátil 10 (e também possivelmente a estação base 20 ou o dispositivo de computação com uma interface de usuário 130, como descrito em mais detalhes abaixo), a fim de, por exemplo, aceitar um leitura ou zerar uma leitura se mantido pressionado por um determinado período de tempo (por exemplo, 3 segundos).

[0061] Além disso, como mostrado em várias vistas nas FIGS. 1-4 e 16, a unidade portátil 10 também pode incluir uma plataforma de teste óptico 13. A plataforma de teste óptico 13 pode ter um topo aberto configurado para receber pelo menos dois tubos de amostra 14 posicionados dentro de uma porção inferior (não mostrada) posicionada dentro da unidade portátil 10, de modo que os tubos de amostra 14 se estendam acima do topo angulado 11 quando inseridos na plataforma de teste óptico 13. A este respeito, em combinação com a luz de iluminação 33 mostrada na FIG. 15, o topo angulado 11 permite que o usuário inspecione visualmente uma amostra contida em pelo menos um dos tubos de amostra 14 e iluminadas pela luz de iluminação 33. A luz

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13/82 de iluminação 33 pode compreender um diodo emissor de luz (LED) ou outra fonte de luz e pode ser configurada para emitir luz para cima na amostra contida em pelo menos um dos tubos de amostra 14. Além disso, a luz de iluminação 33 pode emitir luz de acordo com um padrão de modulação de luz. Detalhes adicionais sobre a operação da luz de iluminação 33 e métodos correspondentes de uso e redução da interferência da luz de iluminação são discutidos mais adiante e podem ser encontrados no Pedido Provisório US 62/487.736, intitulado Method, Apparatus, and Computer Program for Controlling Components of a Detection Device e depositado em 20 de abril de 2017, cujo pedido de patente é incorporado por referência aqui na sua totalidade.

[0062] A FIG. 15 também ilustra uma rede de sensores 190 e várias fontes de luz 30, 33 e detectores 31, 32 posicionados em torno de um tubo de amostra 14 de acordo com certas modalidades da invenção. Como mostrado na FIG. 15, o emissor 30 pode ser posicionado dentro da unidade portátil 10 próxima a uma porção central inferior da plataforma de teste óptico 13, de modo que o emissor 30 alinhe substancialmente pelo menos um dos pelo menos dois tubos de amostra 14 quando os tubos de amostra 14 são inseridos na plataforma de teste óptico 13 (por exemplo, com uma seção vertical da parede de pelo menos um dos tubos de amostra 14). O emissor 30 pode ser qualquer tipo de dispositivo configurado para emitir um sinal para detecção por um sensor. O sinal emitido pelo emissor 30 pode incluir, mas não está limitado a, comprimentos de onda de infravermelho (IV), comprimento de onda infravermelho próximo (NIR), radiação eletromagnética e/ou outros tipos de luz (incluindo luz visível e/ou não visível). Por exemplo, em algumas modalidades, o emissor 30 pode ser um LED, LED infravermelho e/ou similar. Por uma questão de simplicidade, o sinal emitido pelo emissor 30 pode ser referido aqui como uma fonte de luz ou luz emitida, mas será apreciado que qualquer um dos tipos de sinal

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14/82 acima mencionados pode ser utilizado.

[0063] O emissor 30 pode emitir a luz da fonte de acordo com um padrão de modulação de luz. Na modalidade ilustrada da FIG. 15, um emissor 30 e dois sensores 31, 32 sâo usados para gerar uma medição precisa da turbidez da amostra. Em operação, o emissor 30 pode transmitir luz para a amostra e uma porção da luz transmitida passa através da amostra para um primeiro sensor 31 (por exemplo, um sensor de densidade) posicionado oposto ao emissor 30 em relação ao tubo de amostra 14, enquanto uma segunda porção da luz transmitida reflete-se na amostra e é coletada por um segundo sensor 32 (por exemplo, um sensor nefelométrico) perpendicular à direção de transmissão do emissor 30. Em particular, o sensor de densidade 31 (que pode ser considerado um sensor óptico de densidade) pode ser configurado para medir uma massa de microrganismos ou outra matéria em uma suspensão líquida com base em uma quantidade de fonte de luz que passa através do tubo de amostra e é detectada pelo sensor de densidade 31, e o sensor nefelométrico 32 pode ser configurado para medir uma concentração de partículas suspensas na amostra.

[0064] Além disso, o sensor de densidade 31 pode ser orientado colinearmente em relação ao eixo 34 do emissor 30 e pode ser orientado a 180 graus de desvio do emissor 30 em relação ao eixo 35 do tubo de amostra 14, de modo que quando um tubo de amostra é inserido, o emissor 30 é posicionado no lado oposto do tubo do sensor de densidade 31. O sensor nefelométrico 32 pode ser posicionado 90 graus em tomo da circunferência radial do tubo de amostra 14 do emissor 30 e do sensor de densidade 31 em um eixo ortogonal 36 para coletar a luz refletida. O emissor 30 pode ser configurado para transmitir a fonte de luz perpendicular à superfície do tubo de amostra 14 através do eixo longitudinal 35 do tubo de amostra 14. O instrumento de densidade óptica 1 pode então combinar os sinais de cada sen

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15/82 sor 31, 32 para gerar uma medição óptica (por exemplo, turbidez) da amostra.

[0065] Uma leitura para essa medição de turbidez e/ou concentração de microrganismos no líquido que pode ser obtida é conhecida como valor de McFarland. Esse valor de McFarland é obtido usando uma série de padrões de McFarland, que são uma série de concentrações conhecidas de soluções usadas para preparar uma curva padrão para determinar a concentração de partículas em uma amostra desconhecida. O sensor de densidade 31 e o sensor nefelométrico 32 são fornecidos apenas como exemplos de sensores e podem ser opcionais em algumas modalidades.

[0066] Será apreciado que uma variedade de outros tipos de sensores e/ou receptores pode estar presente e pode ser empregada de acordo com modalidades de exemplo. Por exemplo, o sensor de densidade 31 e o sensor nefelométrico 32 podem ser qualquer tipo de fotodetector ou outro sensor óptico, incluindo, mas não limitado a, dispositivos acoplados a carga (CCD); sensores de pixel ativo (APSs), como sensores complementares de metal-óxido -semicondutor (CMOS); LEDs com polarização reversa, fotodiodos, fototransistores, fotorresistores, fotomultiplicadores ou qualquer outro sensor capaz de determinar uma intensidade de luz incidente no sensor.

[0067] O circuito de processamento pode, por exemplo, controlar operações de pelo menos o emissor 30, a luz de iluminação 33 e pelo menos um sensor para gerar dados de luz bruta, converter os dados de luz bruta em dados de densidade óptica e comunicar os dados de densidade óptica à tela de exibição 22. Mais detalhes sobre a operação dos sensores, incluindo calibração, zeragem e coleta de dados, são discutidos abaixo e podem ser encontrados no Pedido Provisório US 62/487.736, intitulado Method, Apparatus, and Computer Program for Controlling Components of a Detection Device, e depositado em

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16/82 de abril de 2017, cujo pedido de patente é incorporado por referência aqui na sua totalidade.

[0068] As FIGS. 16 e 17 mostram várias vistas da plataforma de teste óptico 13. Com referência à FIG. 16, uma vista em perspectiva da plataforma de teste óptico 13 é mostrada de acordo com certas modalidades. A plataforma de teste óptico 13 pode incluir janelas separadas 40, 41, 42, 43 embutidas no invólucro 44 da plataforma de teste 13, e o invólucro 44 pode ser moldado de um material opaco ou semiopaco (por exemplo, um polímero preto). As janelas 40, 41, 42, 43 permitem que a luz que viaja para, e/ou parte dos emissores, detectores e luzes de iluminação discutidas na presente invenção passe através do invólucro 44 em ângulos geralmente perpendiculares à superfície da janela, com o material do invólucro proibindo a luz de se propagar através do próprio invólucro. O invólucro 44 pode definir uma ou mais cavidades 45a, 45b (coletivamente 45) no mesmo e, em algumas modalidades, as cavidades podem ser limitadas por uma ou mais paredes. As cavidades 45 podem receber os tubos de amostra 14 (mostrados nas FIGS. 1-5) através de uma abertura superior 46a, 46b (coletivamente 46) e os tubos de amostra 14 podem ser suportados pelo invólucro 44.

[0069] O invólucro 44 pode conter qualquer uma das várias configurações dos tubos de amostra 14. Por exemplo, na modalidade representada da FIG. 16, o invólucro 44 inclui duas cavidades 45a, 45b configuradas para receber dois tubos de amostra correspondentes 14. A modalidade representada é configurada para testar um dos dois tubos de amostra 14 (por exemplo, em algumas modalidades, os componentes ópticos podem apenas interrogar uma das duas cavidades, cavidade 45a), enquanto a segunda cavidade é deixada por conveniência para segurar um segundo tubo de amostra. Essa configuração de tubo de amostra duplo é útil para uso com um tubo de amostra du

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17/82 pio ou outros tubos de amostra fundidos, onde os dois tubos de amostra devem ser mantidos juntos para estudo, mas não precisam ser verificados independentemente com sensores de densidade óptica. Embora a descrição aqui se refira à interrogação de um único tubo de amostra, esses ensinamentos podem ser facilmente aplicados a um segundo conjunto de componentes ópticos que operam na segunda cavidade 45b. Em algumas modalidades alternativas, a plataforma de teste óptico 13 pode incluir apenas uma única cavidade para testar um único tubo de amostra ou, em algumas modalidades, mais de dois tubos de amostra podem ser utilizados com um, dois ou mais conjuntos de componentes ópticos para interrogar o respectivos tubos de amostra. [0070] A plataforma de teste óptico 13 pode incluir um ou mais suportes 47, 48, 49 para engatar e suportar os componentes ópticos (por exemplo, o emissor 30, primeiro detector 31 e segundo detector 32 mostrados na FIG. 15). Nas modalidades mostradas nas FIGS. 15-17, a primeira montagem 47 pode receber e engatar o emissor 30, a segunda montagem 48 pode receber e engatar o segundo detector 32, e a terceira montagem 49 pode receber e engatar o primeiro detector 31. Um versado na técnica também apreciará que os suportes 47, 48, 49, o emissor 30, os sensores 31, 32 e a luz de iluminação 33 podem ser reconfigurados para qualquer arranjo que satisfaça as possíveis relações de emissor-detector discutidas aqui.

[0071] Voltando à FIG. 34, uma segunda modalidade da plataforma de teste óptico 300 é mostrada. A plataforma de teste óptico 300 pode incluir um invólucro 310 com um ou mais suportes 320, 322, 324; uma abertura 330; aberturas superiores 314a, 314b; e cavidades 312a, 312b que podem ser estruturadas e operar substancialmente da mesma maneira que as plataformas de teste óptico de exemplo 13, 800 detalhadas aqui. Além disso, modalidades da plataforma de teste óptico 300, ou porções da mesma, podem ser incorporadas ou substituí

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18/82 das por porções das plataformas de teste óptico 13, 800 aqui detalhadas.

[0072] Com referência continuada às FIG. 34, a plataforma de teste óptico 300 pode incluir pelo menos uma mola 340 que impele um tubo de amostra 342 para uma posição predeterminada dentro de uma ou mais das cavidades 312a, 312b. Na modalidade representada na FIG. 34, a plataforma de teste óptico 300 inclui uma mola 340 configurada para desviar um tubo de amostra 342 em direção a uma janela 106. A mola representada 340 inclui um fio em espiral 344 disposto em torno de um poste 346 e duas pernas 348, 349 definindo as respectivas extremidades do fio.

[0073] A mola 340 pode operar como uma mola de torção helicoidal, de modo que o fio em espiral helicoidal 344 seja torcido em torno do eixo da bobina (por exemplo, um eixo que se estende perpendicularmente à página da FIG. 34) por momentos de flexão aplicados nas pernas 348, 349. Em tais modalidades, o fio em espiral 344 pode deformar elasticamente em resposta a uma força em uma ou ambas as pernas 348, 349, e o fio em espiral 344, quando deformado elasticamente, pode fazer com que as pernas 348, 349 apliquem uma força oposta à direção da força aplicada. Por exemplo, o tubo de amostra 342 pode ser inserido na cavidade 312a entre as duas pernas 348, 349, o que pode causar uma força externa (por exemplo, uma força radialmente para fora do centro da cavidade 312a) nas pernas 348, 349 e um torque de torção no fio em espiral 344. As pernas 348, 349 podem aplicar uma força interna oposta (por exemplo, uma força radialmente para dentro em direção ao centro da cavidade 312a) no tubo de amostra 342, causada pelo torque de reação de torção do fio em espiral 344, que pode empurrar o tubo de amostra em direção à janela 106.

[0074] Na modalidade representada, o poste 346 e a mola 340 es

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19/82 tão dispostos no mesmo lado da cavidade 312a que a primeira montagem 320, oposta à terceira janela 106, para fazer com que a mola instale o tubo de amostra 342 em direção à terceira janela, como descrito aqui. Em algumas modalidades, o poste 346 e a mola 340 podem ser dispostos em qualquer outro lado da cavidade, incluindo o lado oposto à segunda janela 104.

[0075] Em algumas modalidades, um cilindro 354, 355 pode ser disposto em cada uma das pernas respectivas 348, 349 da mola 350, e os cilindros 354, 355 podem ser encaixáveis de modo deslizável ou de outra forma deixados girar em torno das pernas 348, 349 para permitir que o tubo de amostra 342 se mova livremente para cima e para baixo (por exemplo, para dentro e para fora da página da FIG. 34). As pernas 348, 349 podem aplicar forças ao tubo de amostra 342 perpendicular às superfícies dos cilindros 354, 355 (por exemplo, um vetor de força que intercepta substancialmente um centro de rotação dos cilindros), enquanto os cilindros giram quando a força é aplicada tangencialmente à superfície da sua superfície. Desta maneira, a gravidade pode reter o tubo de amostra 342 verticalmente dentro da cavidade 312a, enquanto ainda permite que o tubo de amostra seja livremente removido ou inserido, e na modalidade representada, a mola 340 pode reter pelo menos uma porção do tubo de amostra em posição dentro do plano horizontal (por exemplo, o plano do papel na FIG. 34). Em algumas modalidades, os cilindros 354, 355 podem fazer com que as pernas 348, 349 apliquem uma força puramente horizontal ao tubo de amostra 342. Em algumas modalidades, os cilindros 354, 355 podem definir cilindros geralmente ocos dispostos em torno das pernas 348, 349. Em algumas modalidades, os cilindros 354, 355 podem ser feitos de um material de baixo atrito para evitar arranhões no tubo de amostra 342. Por exemplo, em algumas modalidades, os cilindros 354, 355 podem ser feitos de PEEK (Poliéter éter cetona), PTFE (PolitetrafluorePetição 870190120041, de 19/11/2019, pág. 27/144

20/82 tHeno) ou Acetal (Polioximetileno).

[0076] Com referência à FIG. 35, uma modalidade simplificada da mola 340, tubo de amostra 342 e componentes circundantes são mostrados para fins de ilustração. Na modalidade representada, as pernas 348, 349 podem aplicar forças 364, 366 no tubo de amostra 342 em direções que estão pelo menos parcialmente em direção a um detector 362 (por exemplo, o primeiro detector 31) e pelo menos parcialmente em direção a um eixo central 360 que corta as pernas 348, 349. Em algumas modalidades, o eixo central 360 pode se estender entre um centro diametral do poste 346 e o detector 362. Em algumas modalidades, o centro em largura de uma ou mais janelas (por exemplo, janelas 40 e 42 mostradas nas FIGS. 16-17) pode ser definido no eixo central 360. Embora não seja mostrado na FIG. 35, uma janela (por exemplo, a janela 42 mostrada nas FIGS. 16-17 e a janela 106 mostrada na FIG. 34) pode ser posicionada entre o tubo de amostra 342 e o detector 362.

[0077] A cavidade 312a pode ser limitada por uma parede 316a da plataforma de teste óptico. Em algumas modalidades, duas ou mais nervuras de alinhamento 352, 353 podem ser dispostas na parede 316a da cavidade 312a para ajudar a posicionar o tubo de amostra 342 ao longo do eixo central 360. Em algumas modalidades, as nervuras 352, 353 podem ser moldadas como parte do invólucro 310. Na modalidade representada na FIG. 35, as nervuras de alinhamento 352, 353 podem reter o tubo de amostra 342 em uma posição predeterminada (por exemplo, a posição mostrada nas FIGS. 35-36) quando as pernas 348, 349 aplicam uma força em qualquer direção com um componente de força em direção ao detector 362. Dessa maneira, as nervuras de alinhamento 352, 353 podem fornecer uma posição estável e repetível para o tubo de amostra 342 sem exigir um vetor de força preciso das pernas 348, 349 e as nervuras 352, 353 podem guiar o

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21/82 tubo de amostra 342 para a posição, por exemplo, para uma posição centralizada ao longo do eixo central 360. Em algumas modalidades, as pernas 348, 349 podem ser configuradas para aplicar uma força ao tubo de amostra 342 em direção a um ponto entre as pernas (por exemplo, um ponto de interseção dos vetores de força 364, 366), com o fio em espiral 344 tentando mover as pernas 348, 349 em direções contrárias ao redor do eixo da mola helicoidal.

[0078] A posição predeterminada do tubo de amostra 342 pode ser projetada para facilitar uma interrogação clara e repetível do tubo de amostra usando as técnicas e os aparelhos descritos na presente invenção, e a posição predeterminada pode ser dependente do diâmetro do tubo de amostra e do espaçamento entre as nervuras. Em algumas modalidades, as nervuras 352, 353 podem ser posicionadas pelo menos na posição vertical de uma das pernas 348, 349. Em algumas modalidades, as nervuras 352, 353 podem ser posicionadas abaixo de uma posição vertical das pernas 348, 349. Em algumas modalidades, as nervuras 352, 353 podem ser posicionadas entre as posições verticais das pernas 348, 349. Em algumas modalidades, as nervuras 352, 353 podem ser posicionadas na posição vertical de ambas as pernas 348, 349. Em algumas modalidades, as pernas 348, 349 podem ser dispostas sobre, ou podem aplicar uma força em, um plano horizontal, de modo que a linha de ação da mola esteja em um plano horizontal em relação à plataforma de teste óptico 300. Em algumas modalidades, as nervuras 352, 353 podem se estender substancialmente a altura da cavidade 312a.

[0079] Em operação, o tubo de amostra 342 é inserido na cavidade 312a da plataforma de teste óptico 310 (mostrada na FIG. 34). À medida que o tubo de amostra 342 é inserido, as pernas 348, 349 são empurradas em direção oposta ao eixo central 360, conforme os cilindros 354, 355 permitem que o tubo de amostra deslize para dentro da

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22/82 cavidade 312a. O torque criado pela deformação elástica do fio em espiral 344 da mola 340 pode fazer com que cada perna 348, 349 aplique uma força 364, 366 no tubo de amostra 342. Cada uma das forças 364, 366 das pernas 348, 349 pode estar em uma direção que está pelo menos parcialmente em direção ao eixo central 360 e pelo menos parcialmente em direção ao detector 362.

[0080] Em algumas modalidades, os componentes das forças 364, 366 que são perpendiculares ao eixo central 360 podem cancelar, deixando uma força líquida no tubo de amostra 342 ao longo do eixo central 360 em direção ao detector 362. A mola 340 pode aplicar uma força de reação no poste 346 em um ponto mais próximo ao detector 362 no eixo central 360. Em algumas modalidades, como descrito abaixo, as pernas 348, 349 podem ser deslocadas verticalmente, de modo que haja um leve torque aplicado ao tubo de amostra 342, e esse torque pode ser neutralizado pela estrutura da plataforma de teste óptico (por exemplo, as nervuras 352, 353 e/ou superfície de guia 368). O tubo de amostra 342 pode ser mantido verticalmente dentro da cavidade 312a entre os vários pontos de contato descritos na presente invenção.

[0081] Em algumas modalidades, a mola 340 (mostrada nas FIGS. 34-36) e estruturas de alinhamento 352, 353, 368 podem ser configuradas para posicionar o tubo de amostra 342 (mostrado nas FIGS. 3435) adjacente à terceira janela 106, de modo que o sinal de densidade (por exemplo, a porção da fonte de luz que passa através do tubo de amostra em direção ao sensor de densidade) é incidente no tubo de amostra 342 e na janela 106 perpendicular às suas respectivas superfícies. Em tais modalidades, a mola 340 pode ser posicionada oposta à janela 106, como mostrado na FIG. 34. Em tais modalidades, a luz emitida também pode ser incidente no tubo de amostra perpendicular à sua superfície, e o sinal de luz e densidade emitido pode viajar pelo menos parcialmente ao longo do eixo central 360 mostrado na FIG. 35

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23/82 (por exemplo, o detector 362 pode receber o sinal de densidade 154). Em algumas modalidades, a mola 340 pode posicionar o tubo de amostra 342 mais próximo à terceira janela 106 do que à primeira janela 102 ou à segunda janela 104, de modo que em algumas modalidades, a superfície do tubo de amostra pode nâo se alinhar com a segunda janela 104 para transmitir o sinal nefelométrico 152 perpendicularmente através de ambas as superfícies. Como detalhado aqui, em algumas modalidades, a mola 340 pode ser configurada para posicionar o tubo de amostra adjacente a qualquer uma dentre a primeira, a segunda ou a terceira janelas, com as nervuras de alinhamento em ambos os lados de qualquer uma das janelas mencionadas acima e a mola oposta a qualquer uma das janelas acima mencionadas.

[0082] Quando nenhum tubo de amostra 342 é inserido na cavidade 312a, as pernas 348, 349 da mola 340 podem engatar nos respectivos batentes 350, 351 no instrumento de teste óptico 310 (mostrado na FIG. 34). Em algumas modalidades, os batentes 350, 351 podem ser posicionados equidistantes do eixo central 360, de modo que as pernas 348, 349 permaneçam centradas em relação ao eixo 360 para receber o tubo de amostra 342 entre os mesmos. Em algumas modalidades, os batentes 350, 351 podem ser configurados para engatar as pernas 348, 349, de modo que a mola 340 seja sempre deformada elasticamente quando posicionada no poste 346. Em tais modalidades, a mola 340 pode aplicar uma força aos batentes 350, 351 quando não for de outro modo obstruído ou resistido pelo tubo de amostra 342, e a deformação contínua pode ajudar a criar um movimento suave na mola 340 sem inclinação ou folga no movimento ou aplicação de força. Em algumas modalidades, as pernas 348, 349 podem ser dispostas perpendicularmente uma à outra quando as pernas estão engatadas com os respectivos batentes 350, 351. Em algumas modalidades, os batentes 350, 351 podem ser posicionados de modo que as pernas

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348, 349 e os cilindros 354, 355 se projetem verticalmente sobre a cavidade 312a quando nenhum tubo de amostra 342 é inserido. Em algumas modalidades, os batentes 350, 351 podem ser posicionados de modo que as pernas 348, 349 e os cilindros 354, 355 se projetem menos da metade da cavidade 312a quando nenhum tubo de amostra 342 é inserido. Em algumas modalidades, a mola 340 pode ser posicionada entre o invólucro 310 da plataforma de teste óptico e o compartimento externo do instrumento (mostrado na FIG. 1).

[0083] Em algumas modalidades, os batentes 350, 351 podem ser posicionados de modo que, quando um tubo de amostra 342 é inserido na cavidade e é mantido contra as nervuras 352, 353, as pernas 348, 349 entram em contato com os batentes. Em algumas modalidades, o tubo de amostra 342 pode impedir que as pernas 348, 349 entrem em contato com os batentes 350, 351 quando na posição predeterminada. Em algumas modalidades, as pernas 348, 349 podem aplicar uma força (por exemplo, forças 364, 366) ao tubo de amostra 342 antes e enquanto o tubo de amostra está na posição predeterminada contra as nervuras 352, 353.

[0084] Voltando à FIG. 36, uma vista em perspectiva de uma modalidade da mola 340 é mostrada. Na modalidade representada, as pernas 348, 349 se cruzam perto da porção enrolada do fio 344. Como mostrado na FIG. 35, o cruzamento pode ocorrer ao longo do eixo central 360. A força externa nas pernas 348, 349 em direção oposta ao eixo central 360 pode fazer com que o fio em espiral 344 aperte e comprima torcionalmente na modalidade representada.

[0085] Voltando à FIG. 36, as pernas 348, 349 podem ser separadas verticalmente uma da outra devido à espessura da mola 340 no eixo da bobina helicoidal, o que pode fazer com que uma perna (por exemplo, a perna superior 349) se projete sobre a cavidade (por exemplo, a cavidade 312a mostrada nas FIGS. 34-35) em uma posi

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25/82 ção mais alta que uma outra perna (por exemplo, a perna mais baixa 348). Em tais modalidades, um torque pode ser aplicado ao tubo de amostra 342 em uma direção dentro do plano horizontal (por exemplo, o plano do papel nas FIGS. 34-35) tentando mover o tubo de amostra para fora do alinhamento vertical, e o torque pode ser neutralizado pelas estruturas e superfícies de guia da plataforma de teste óptico descritas na presente invenção. Em algumas modalidades, as pernas podem ser flexionadas ou reorientadas em outra direção enquanto ainda são capazes de aplicar força ao tubo de amostra.

[0086] Com referência à FIG. 34, em algumas modalidades, a extremidade inferior da cavidade 312a, próxima à janela inferior 108, pode definir uma superfície de guia em forma de U 368 orientada com uma porção curva 369 definindo um semicírculo e um par de porções retas 370 que se estendem para qualquer lado de uma janela 106. Na modalidade representada, a porção curva 369 da superfície de guia 368 é disposta no mesmo lado da cavidade 312a como o poste 346 e na maior parte da mola 340, de modo que a força (por exemplo, forças 364, 366 mostradas na FIG. 35) da mola 340 empurre o tubo de amostra 342 ao longo da superfície de guia em forma de U 368 em direção às nervuras de alinhamento (por exemplo, nervuras de alinhamento 352, 353 mostradas na FIG. 35). A superfície de guia em forma de U 368 pode ser disposta acima da janela inferior 108, cuja janela pode funcionar e ser estruturada de acordo com as modalidades descritas na presente invenção.

[0087] O tubo de amostra 342 pode engatar a superfície de guia 368 e manter o tubo de amostra na ereto e vertical contra as nervuras de alinhamento (por exemplo, nervuras de alinhamento 352, 353 mostradas na FIG. 35). Em algumas modalidades, o tubo de amostra 342 pode ter um fundo hemisférico curvo que pode descansar contra uma superfície angulada complementar da superfície de guia 348. A porção

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26/82 curva da superfície de guia 368 pode definir um centro de curvatura que é deslocado do centro da janela inferior 108 e do centro da cavidade 312a, de modo que o tubo de amostra seja posicionado mais próximo a uma janela 106 oposta à mola 340 e ao poste 346 do que às janelas 102, 104 nas outras superfícies da parede 316a da cavidade. A superfície de guia 368 e as nervuras de alinhamento 352, 353 podem cooperar para manter o tubo de amostra 342 substancialmente verticalmente dentro da cavidade 312a e podem cooperar para manter o tubo de amostra paralelo à parede 316a da cavidade. A porção curva 369 e as porções retas 370 podem fornecer uma força de neutralização ao torque das pernas de deslocamento 348, 349 na modalidade da mola 340 e do tubo de amostra 342 descritos acima.

[0088] Voltando à FIGS. 37-45 é mostrada outra modalidade da plataforma de teste óptico 800. A plataforma de teste óptico 800 pode incluir um invólucro 810 com um ou mais suportes 820, 822, 824; uma abertura 830; aberturas superiores 814a, 814b: e cavidades 812a, 812b que podem ser estruturadas e operar substancialmente da mesma maneira que as plataformas de teste óptico de exemplo 13, 300 detalhadas acima. Além disso, modalidades da plataforma de teste óptico 800, ou porções da mesma, podem ser incorporadas ou substituídas por porções das plataformas de teste óptico 13, 300 aqui detalhadas. Em algumas modalidades, uma primeira cavidade 812a pode ser usada para testar e/ou operar no fluido em um tubo de amostra, enquanto a segunda cavidade 812b não inclui janelas ou detectores de teste.

[0089] Com referência continuada às FIG. 34, a plataforma de teste óptico 800 pode incluir pelo menos uma mola 840 que impele um tubo de amostra 842 para uma posição predeterminada dentro de uma ou mais das cavidades 812a, 812b. A mola 840 pode incluir os cilindros 854, 855 que operam substancialmente da mesma maneira que

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27/82 os cilindros 354, 355 detalhados acima. Na modalidade representada na FIG. 34, a plataforma de teste óptico 800 inclui uma mola 840 configurada para desviar um tubo de amostra 842 em direção a uma janela 806. A mola representada 840 inclui um fio em espiral 844 disposto em torno de um poste 846 (mostrado na FIG. 38) e duas pernas 848, 849 que definem as respectivas extremidades do fio. A mola 840 pode operar como uma mola de torção helicoidal, de modo que o fio em espiral helicoidal 844 seja torcido em torno do eixo da bobina (por exemplo, um eixo que se estende perpendicularmente à página da FIG. 34) por momentos de flexão aplicados nas pernas 848, 849.

[0090] Com referência à FIG. 38, um exemplo embaixo de uma porção (por exemplo, o topo angulado 11) do compartimento da unidade portátil de um instrumento de teste óptico (por exemplo, unidade portátil 10 do instrumento de teste óptico 1 mostrado na FIG. 1) é representado. Na modalidade representada, a porção do compartimento (por exemplo, o topo angulado 11) tem um poste 846 e um par de batentes 849, 850 estendendo-se para baixo a partir do mesmo em direção à plataforma de teste óptico (por exemplo, plataforma de teste óptico 800 mostrada na FIG. 37). Em algumas modalidades, a porção do compartimento pode ser uma inserção que se encaixa dentro do topo angulado 11 (por exemplo, ao longo da linha de peça no topo angulado 11 mostrado circunferencialmente em torno dos tubos de amostra 14 na FIG. 1). O poste 846 e os batentes 849, 850 podem ser estruturados e operar substancialmente da mesma maneira que o poste 346 e os batentes 349, 350 detalhados acima, exceto que alguma parte ou todo o poste e batentes podem ser fixados à porção 11 do compartimento da unidade portátil em vez da plataforma de teste óptico. O poste e os batentes podem ser intercambiados, de modo que um poste 846 possa ser fixado à porção do compartimento, enquanto um ou mais dos batentes 349, 350 são fixados à plataforma de teste óptico,

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28/82 ou vice-versa.

[0091] Voltando à FIGS. 39 e 40, em algumas modalidades, as cavidades 812a, 812b da plataforma de teste óptico 800 podem ser pelo menos parcialmente definidas por uma parede 816a, 816b do invólucro 810. Em algumas modalidades, uma parede (por exemplo, a parede 816a) pode incluir uma ou mais nervuras de alinhamento (por exemplo, as nervuras de alinhamento 352, 353 mostradas na FIG. 35). Com referência continuada às FIGS. 39 e 40, em algumas modalidades, a parede 816a pode ser mais aita em certas posições do que em outras. Por exemplo, a parede 816a mostrada nas FIGS. 39 e 40 é mais alta em uma área adjacente à terceira janela 806 e à terceira montagem 824 do que em uma área adjacente à primeira janela 802 e à primeira montagem 820. Com referência à FIG. 39, a parede 816a pode definir uma primeira altura mais alta da fenda 880 (configurada para receber uma chave na mesma para detectar o tubo de amostra, como um interruptor mecânico) para a segunda janela 804, incluindo a terceira janela 806; e a parede 816a pode definir uma segunda altura mais curta da segunda janela 804 de volta em torno da fenda 880, incluindo a primeira janela 802.

[0092] Em algumas modalidades, a porção da parede 816a contra a qual o tubo de amostra (por exemplo, o tubo de amostra 342 mostrado na FIG. 35) é forçado é mais alto que a porção da parede adjacente à mola (por exemplo, a mola 340 mostrada na FIG. 35 e/ou a mola 840 mostrada na FIG. 37).

[0093] As nervuras (por exemplo, as nervuras de alinhamento 352, 353 mostradas na FIG. 35) podem ser posicionadas na primeira porção mais alta da parede e a mola 840 pode ser posicionada acima da segunda porção mais curta da parede (por exemplo, como mostrado na FIG. 37). Em tais modalidades, a mola 840 pode ser posicionada em linha com as nervuras em um plano geralmente horizontal em rela

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29/82 ção à plataforma de teste óptico 800, de modo que a linha de ação da mola seja direcionada às nervuras de alinhamento.

[0094] Com referência à FIGS. 37 e 39-41, o invólucro 810 pode incluir superfícies de guia 868 com uma porção curva 869 e porções retas 870 configuradas para alinhar e manter os tubos de amostra (por exemplo, o tubo de amostra 342 mostrado na FIG. 34) dentro das cavidades 812a, 812b. Na modalidade representada, as superfícies de guia 868 estão posicionadas em ambas as cavidades 812a, 812b e cada uma tem a forma de canais em U. A superfície de guia representada 868 na cavidade 812a com as janelas 802, 804, 806, 808 é orientada em direção à terceira janela 806, de modo que a superfície de guia 868 coopere com a mola 840 e as nervuras de alinhamento para manter o tubo de amostra verticalmente em uma posição consistente repetível, como descrito acima. A superfície de guia 868 pode afunilar para baixo e para dentro a partir de um piano ou eixo na parede 816a da cavidade 812a em direção à janela 808, de modo que a base do tubo de amostra seja guiada em direção à posição predeterminada consistente e repetível à medida que é inserida.

[0095] Em algumas modalidades, a janela inferior 808 pode definir uma forma complementar à porção inferior da cavidade 812a. Com referência à FIGS. 39-41 e 44-45, a janela inferior 808 pode ser substancialmente em forma de U ou sino para coincidir com a forma da parede 816a e das superfícies de guia 868 da cavidade 812a. A janela inferior 808 pode incluir uma borda elevada 809 configurada para engatar na parede 816a. Com referência à FIG. 40, a janela inferior 808 pode ser fechada e firmemente fixada ao invólucro 810 (por exemplo, por sobremoldagem) na parte inferior da cavidade 812a. Com referência à FIG. 41, em algumas modalidades, uma abertura inferior 830 através da qual a luz de iluminação é transmitida pode ser substancialmente circular (por exemplo, similar à abertura 330). A abertura infe

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30/82 rior 830 pode definir um centro radiai substancialmente no centro horizontal da cavidade 812a.

[0096] Com referência à FIGS. 39-41 e 43, em algumas modalidades, as janelas superiores 802, 804, 806 podem ser substancialmente quadradas e não podem se estender em toda a altura da cavidade 812a ou dos canais em que estão assentadas. As janelas 802, 804, 806 podem ser engatadas com o invólucro 810 de acordo com qualquer uma das modalidades divulgadas na presente invenção. Em algumas modalidades, pelo menos uma porção das janelas 802, 804, 806 pode ser mais curta que a segunda menor altura da parede 816a discutida acima, de modo que a mola 840 possa operar sobre as janelas. As janelas superiores 802, 804, 806 podem ser incorporadas no invólucro 810 (por exemplo, por sobremoldagem), deslizadas no invólucro (por exemplo, verticalmente para baixo em canais predefinidos) ou fixadas por qualquer outro meio.

[0097] Detalhes adicionais sobre a operação e o layout da plataforma de teste óptico podem ser encontrados no Pedido Provisório US 62/487.807, intitulado Optical Test Platform, e depositado em 20 de abril de 2017, cujo pedido de patente é incorporado aqui por referência na sua totalidade.

[0098] Como discutido anteriormente, uma variedade de configurações de tubo de amostra pode ser usada em conexão com o instrumento de densidade óptica 1. Por exemplo, os tubos de amostra podem compreender pelo menos um dentre vidro, policarbonato, poliestireno e/ou similares. Por exemplo, os tubos de amostra usados para referência de calibração podem compreender policarbonato, enquanto os tubos de amostra descartáveis podem compreender poliestireno. Além disso, como mencionado, os tubos de amostra podem incluir tubos de amostra individuais ou uma estrutura de tubo de amostra duplo. Por exemplo, as FIGS. 18A e 18B ilustram uma estrutura de tubo de

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31/82 amostra duplo 14 de acordo com certas modalidades da invenção, Como mostrado na FIG. 18, dois tubos de amostra 14 são ligados através de uma porção de conexão superior 61 na parte superior dos tubos de amostra 14 e uma estrutura de ponte 62 entre os tubos de amostra 14 no meio dos tubos de amostra 14. A porção de conexão superior 61 e a estrutura de ponte 62 podem promover a estabilidade dos tubos de amostra 14 dentro da unidade portátil 10 e da plataforma de teste óptico 13 para evitar derramamentos, vazamentos e/ou similares. Além disso, em algumas modalidades a estrutura do tubo de amostra duplo 14 mostrada nas FIGS. 18A e 18B pode incluir uma escala em preto e branco (por exemplo, Escala de Wickham) na estrutura de ponte 62 entre os tubos de amostra 14 para melhor visualização da turbidez por um usuário. Voltando à FIG. 1, em algumas modalidades, uma escala de Wickham pode ser disposta em uma fenda entre as cavidades que recebem os tubos de amostra. Em algumas modalidades, a estrutura de ponte 62 pode ser chaveada para uma orientação particular dos tubos de amostra, de modo que elas não possam ser revertidas acidentalmente. Por exemplo, a estrutura de ponte 62 mostrada nas FIGs. 18A-18B pode incluir uma saliência que se insere em uma fenda da unidade portátil 10 ou em uma fenda na escala de Wickham (por exemplo, como mostrado na FIG. 1).

[0099] De acordo com certas modalidades, o fundo 12 da porção portátil 10 pode ainda compreender características resistentes à inclinação. Por exemplo, a FIG. 19 é uma vista inferior da unidade portátil 10 de acordo com certas modalidades da invenção. Como mostrado na FIG. 19, o fundo 12 da unidade portátil 10 compreende vários elementos de suporte 51 (por exemplo, pés antiderrapantes). A pluralidade de elementos de suporte 51 pode fornecer resistência de ponta à porção portátil 10. Se for aplicada força suficiente à unidade portátil 10 para fazer com que a unidade portátil 10 levante os elementos de su

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32/82 porte 51, a unidade portátil 10 deslizará sem tombar devido à superfície de translaçâo 52 que circunda os elementos de suporte 51 no fundo 12 da unidade portátil 10. A este respeito, a unidade portátil 10 pode ser resistente à ponta em qualquer ângulo de deslocamento.

[0100] Em algumas modalidades, os elementos de suporte 51 podem ser posicionados na superfície inferior do invólucro 12, de modo que um dos elementos 51 de suporte esteja localizado ao longo de uma linha diametral do que pode ser uma superfície inferior circular do invólucro 12 e um segundo e terceiro elementos de suporte 51 são, cada um, localizados com equidistância da linha diametral e do primeiro elemento de suporte. Como mostrado na FIG. 19, esse posicionamento dos elementos de suporte 51, juntamente com o recesso dos elementos de suporte parcialmente na superfície inferior do invólucro 12 pode ser combinado em uma modalidade da presente divulgação. Em algumas modalidades, os elementos de suporte podem ser circunferencialmente equidistantes de cada elemento de suporte adjacente e cada elemento de suporte pode ser equidistante de um centro da superfície inferior 12. Além disso, em algumas modalidades, como mostrado na FIG. 19, os elementos de suporte 51 podem ser espaçados a uma distância da borda externa da superfície inferior do invólucro 12. Particularmente, os elementos de suporte 51 podem ser dispostos em um círculo concêntrico com um diâmetro menor que o diâmetro externo da superfície inferior do invólucro 12. Como descrito abaixo, em tal modalidade, a superfície de translaçâo 52 pode ser posicionada como uma porção anular da superfície inferior do invólucro que se estende radialmente para fora dos elementos de suporte 51 até a borda externa da superfície inferior do invólucro 12.

[0101] A superfície de translaçâo 52 pode ser configurada com um coeficiente de atrito menor para permitir que o instrumento de teste óptico deslize quando suportado pela superfície de translaçâo (por

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33/82 exemplo, quando o instrumento de teste óptico é inclinado como descrito aqui. Como representado na FIG. 19, a superfície de translação 52 da superfície inferior do invólucro 12 pode, em algumas modalidades, compreender uma superfície substanciaimente plana. Em um caso em que a unidade portátil 10 é orientada em uma posição de teste operacional, plana sobre uma mesa ou outra superfície de trabalho, a superfície de translação 52 pode ser posicionada substancialmente paralela à superfície de suporte e pode ser mantida acima da superfície de suporte pelos elementos de suporte 51. Em algumas modalidades, a superfície de translação 52 pode ser uma seção ou porção da superfície inferior do invólucro 12. Em algumas modalidades, a superfície de translação 52 pode ser uma seção ou porção contígua da superfície inferior do invólucro 12. Em algumas modalidades, toda a superfície inferior do invólucro 12 pode ter o coeficiente de atrito mais baixo que os elementos de suporte 51, e a porção da superfície inferior do invólucro 12 que entra em contato com a superfície de suporte pode ser considerada a superfície de translação. Em algumas modalidades, a superfície de translação 52 pode ser definida como uma porção anular da superfície inferior do invólucro 12 que se estende circunferencialmente em torno de uma borda da superfície inferior do invólucro

12. Por um exemplo mais particular, a superfície de translação 52 pode ser definida pela superfície inferior do invólucro 12 como uma porção anular da superfície inferior do invólucro que se estende radialmente para fora dos elementos de suporte 51 até uma borda da superfície inferior do invólucro 12.

[0102] Um versado na técnica apreciará, à luz desta divulgação, que os elementos de suporte 51 e a superfície inferior do invólucro 12 podem assumir muitas formas e formatos, desde que a unidade portátil 10 possa transladar na superfície de translação 52 quando inclinada, em vez de virar completamente. Para facilitar a translação, uma porção

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34/82 da superfície de translação 52 precisa apenas ser posicionada oposta à direção da força dos elementos de suporte 51 que formam o ponto de apoio do instrumento. Dito de outra forma, com referência à FIG. 46, quando a unidade portátil 10 é inclinada em tomo de um eixo de articulação em um ou mais dos elementos de suporte 51, a superfície de suporte de translação 52 é articulada em contato com a superfície de suporte 125. Em muitos casos, isso significa que porções da superfície de translação 52 são posicionadas radialmente para fora dos elementos de suporte 51. Em algumas modalidades adicionais, a superfície de suporte de translação 52 engata na superfície de suporte

125 antes que o instrumento possa passar do ponto em que seu centro de gravidade carrega o instrumento pelo resto do caminho.

[0103] Em algumas modalidades, a translação da unidade portátil 10 pode começar quando a força de tombamento (por exemplo, força

126 mostrada na FIG. 46) ou a inércia do instrumento supera o atrito estático entre o instrumento (por exemplo, incluindo a combinação da superfície de translação 52 e superfícies do elemento de suporte 51 atualmente tocando a superfície de suporte) e a superfície de suporte 125. Por exemplo, se os elementos de suporte 51 tiverem um coeficiente de atrito mais alto que a superfície de translação 52, quanto maior a porção do peso do instrumento que é transferida para a superfície de translação 52, maior é a probabilidade de o instrumento deslizar. Desta maneira, a unidade portátil 10 pode começar a transladar enquanto a superfície de translação 52 e um ou mais dos elementos de suporte 51 estão em contato com a superfície de suporte 125. Em tais modalidades, a medida que a unidade portátil 10 se inclina, uma porção cada vez maior do peso do instrumento é transferida para a superfície de translação 52, diminuindo assim gradualmente a resistência ao atrito entre o instrumento e a superfície de suporte 125. Uma vez que a força lateral entre a unidade portátil 10 e a superfície de suporte 125 su

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35/82 pera a diminuição da resistência ao atrito, o instrumento começa a transladar. A estabilidade da ferramenta pode depender da altura dos elementos de suporte 51, dos coeficientes de atrito dos elementos de suporte 51 e do elemento de translaçâo 52, da distância entre os elementos de suporte 51 e do ponto de contato do elemento de translação 52 (por exemplo, o ponto, próximo à borda da superfície inferior do invólucro 12, no qual a superfície de translaçâo 52 entra em contato com a superfície de suporte 125), o centro de gravidade da unidade portátil 10, a largura da unidade portátil 10, a forma da superfície inferior do invólucro 12 e as propriedades da superfície de suporte 125. [0104] Em algumas modalidades, a unidade portátil 10 pode girar em torno de dois ou mais elementos de suporte 51 em torno de um eixo de contato comum que se estende entre eles. Em tais modalidades, a unidade portátil 10 pode girar em torno dos dois ou mais elementos de suporte 51 até que a superfície de translaçâo 52 entre em contato com a superfície de suporte. Detalhes adicionais sobre a operação e o layout dos recursos resistentes à inclinação podem ser encontrados no Pedido Provisório US 62/487.860, intitulado Tip Resistant Optical Testing Instrument, e depositado em 20 de abril de 2017, cujo pedido de patente é incorporado por referência na presente invenção em sua totalidade.

[0105] A esse respeito, o instrumento de densidade óptica oferece conveniência, conforto e segurança adicionais sobre os dispositivos de medição de densidade existentes.

II. Sistema para Medição da Densidade Óptica [0106] Em outro aspecto, certas modalidades de acordo com a invenção fornecem sistemas para medir a densidade óptica de uma amostra. O sistema inclui o instrumento de densidade óptica 1 discutido acima e uma interface de usuário 130. Por exemplo, a FIG. 20 é um diagrama de blocos de um sistema 100 para medir a densidade óptica

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36/82 de uma amostra de acordo com certas modalidades da invenção. Como mostrado na FIG. 20, o sistema 100 pode incluir circuitos de processamento 110 que podem ser configurados para interagir com, controlar ou coordenar, as operações de vários componentes ou módulos descritos na presente invenção em conexão com a medição da densidade óptica, como descrito na presente invenção. Em algumas modalidades, o sistema 100 pode ainda incluir uma interface de comunicação 116 para transmitir e receber informações de outros sensores, computadores e dispositivos de entrada (por exemplo, localmente ou através de uma rede local ou remota).

[0107] Em algumas modalidades, o circuito de processamento 110 pode ser incorporado como um chip ou conjunto de chips. Em outras palavras, o circuito de processamento 110 pode compreender um ou mais pacotes físicos (por exemplo, chips), incluindo materiais, componentes e/ou fios em um conjunto estrutural (por exemplo, um rodapé). O conjunto estrutural pode fornecer resistência física, conservação de tamanho e/ou limitação de interação elétrica para circuitos de componentes incluídos no mesmo. O circuito de processamento 110 pode, portanto, em alguns casos, ser configurado para implementar uma modalidade da presente invenção em um único chip ou como um único sistema em um chip. Como tal, em alguns casos, um chip ou chipset pode constituir um meio para executar uma ou mais operações para fornecer as funcionalidades descritas na presente invenção.

[0108] De acordo com certas modalidades, o circuito de processamento 110 pode incluir uma ou mais instâncias de um processador 112 e memória 114 que podem estar em comunicação com, ou de outra forma controlar, uma interface de usuário 130. Como tal, o circuito de processamento 110 pode ser incorporado como um chip de circuito (por exemplo, um chip de circuito integrado) configurado (por exemplo, com hardware, software ou uma combinação de hardware e software)

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37/82 para executar as operações descritas na presente invenção.

[0109] A interface de usuário 130 pode incluir um ou mais mecanismos ou dispositivos de interface para permitir a comunicação com um usuário (por exemplo, um computador laptop). Em alguns casos, a interface de usuário 130 pode ser qualquer meio, como um dispositivo ou circuito incorporado no hardware, ou uma combinação de hardware e software que está configurado para receber e/ou transmitir dados de/para dispositivos ou componentes em comunicação com o circuito de processo 110 através de mecanismos de comunicação interno e/ou externo. Portanto, por exemplo, a interface de usuário 130 pode ainda incluir equipamento de comunicação com fio e/ou sem fio para, pelo menos, comunicar-se entre um usuário e o instrumento de densidade óptica 1 e/ou outros componentes ou módulos descritos na presente invenção. A interface de usuário 130 pode estar em comunicação com o circuito de processamento 110 para receber uma indicação de uma entrada do usuário na interface de usuário 130 e/ou fornecer uma saída audível, visual, mecânica ou outra saída para o usuário. Como tal, a interface de usuário 130 pode incluir, por exemplo, um teclado, monitor, uma tela sensível ao toque (por exemplo, monitor 615 mostrada na FIG. 25) e/ou outros mecanismos de entrada/saída. Como tal, a interface de usuário 130 pode, em algumas modalidades de exemplo, fornecer meios para o controle do usuário de gerenciar ou processar operações de acesso a dados e/ou similares. Em algumas modalidades de exemplo, uma interface de usuário 130 pode nâo estar presente no dispositivo de detecção, mas a interface de usuário pode ser implementada em um dispositivo remoto (por exemplo, smartphone, tablet, computador pessoal e/ou similares) comunicativamente conectado à detecção, por comunicação Bluetooth™ ou uma rede local, por exemplo.

[0110] A interface de comunicação 116 pode incluir um ou mais

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38/82 mecanismos de interface para permitir a comunicação com outros dispositivos e/ou redes. Em alguns casos, a interface de comunicação 116 pode ser qualquer meio, como um dispositivo ou circuito incorporado no hardware, ou uma combinação de hardware e software que está configurada para receber e/ou transmitir dados de/para uma rede e/ou qualquer outro dispositivo ou módulo em comunicação com o circuito de processamento 110. A título de exemplo, a interface de comunicação 116 pode ser configurada para permitir a comunicação entre os componentes do sistema 100, o dispositivo de detecção e/ou dispositivos de computação remota. Em alguns exemplos, a interface de comunicação 116 pode incluir uma rede configurada para transmitir informações entre vários dispositivos. Sendo assim, a interface de comunicação 116 pode, por exemplo, incluir hardware e/ou software de suporte para permitir comunicações sem fio e/ou com fio via cabo, linha de assinante digital (DSL), barramento serial universal (USB), Ethernet ou outros métodos.

[0111] A rede na qual o sistema 100, o dispositivo de detecção e/ou qualquer um dos seus componentes pode operar pode incluir uma rede de área local, a Internet, qualquer outra forma de rede ou qualquer combinação dos mesmos, incluindo redes de propriedades privadas e semiprivadas e redes públicas. A rede pode compreender uma rede com fio e/ou uma rede sem fio (por exemplo, uma rede de celular, rede de área local sem fio, rede de área ampla sem fio, alguma combinação das mesmas e/ou similares).

[0112] O processador 112 pode ser incorporado de várias maneiras diferentes. Por exemplo, o processador 112 pode ser incorporado como vários meios de processamento, como um ou mais de um microprocessador ou outro elemento de processamento, um coprocessador, um controlador ou vários outros dispositivos de computação ou processamento, incluindo circuitos integrados, como, por exemplo, um

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ASIC (Circuito Integrado de Aplicação Específica), um FPGA (matrizes de portas programávels no campo) ou similares. Embora ilustrado como um único processador, será apreciado que o processador 112 pode compreender uma pluralidade de processadores. A pluralidade de processadores pode estar em comunicação operacional um com o outro e pode ser configurada coletivamente para executar uma ou mais funcionalidades do sistema 100 e/ou dispositivo de detecção, conforme descrito aqui. A pluralidade de processadores pode ser incorporada em um único dispositivo de computação ou distribuída através de uma pluralidade de dispositivos de computação configurados coletivamente para funcionar como aparelho 100. Por exemplo, algumas operações executadas na presente invenção podem ser executadas por componentes do dispositivo de detecção, enquanto algumas operações podem ser executadas em um dispositivo remoto conectado co~ municativamente ao dispositivo de detecção. Por exemplo, um dispositivo de usuário como um smartphone, tablet, computador pessoal e/ou similar pode ser configurado para se comunicar com o dispositivo de detecção, como por comunicação Bluetooth™ ou por uma rede local. Adicionalmente ou alternativamente, um dispositivo de servidor remoto pode executar algumas das operações descritas na presente invenção, como processar dados coletados por qualquer um dos sensores e fornecer ou comunicar dados resultantes a outros dispositivos de acordo.

[0113] Em uma modalidade de exemplo, o processador 112 pode ser configurado para executar instruções armazenadas na memória 114 ou acessíveis, de outra forma, ao processador 112. Como tal, quer seja configurado por hardware ou por uma combinação de hardware e software, o processador 112 pode representar uma entidade (por exemplo, fisicamente incorporada em circuitos - na forma de circuitos de processamento 110) capaz de executar operações de acordo com

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40/82 as modalidades da presente invenção enquanto configurado de acordo. Assim, por exemplo, quando o processador 112 é incorporado como um ASIC, FPGA ou similar, o processador 112 pode ser um hardware configurado especificamente para realizar as operações descritas na presente invenção. Alternativamente, como outro exemplo, quando o processador 112 é incorporado como um executor de instruções de software, as instruções podem configurar especificamente o processador 112 para executar as operações descritas na presente invenção em referência à execução de uma modalidade de exemplo.

[0114] Em algumas modalidades, a memória 114 pode incluir um ou mais dispositivos de memória não transitórios, como, por exemplo, memória volátil e/ou não volátil que pode ser fixa ou removível. A memória 114 pode compreender um meio de armazenamento legível por computador não transitório. Será apreciado que, embora a memória 114 seja ilustrada como uma única memória, a memória 114 pode compreender uma pluralidade de memórias. A pluralidade de memórias pode ser incorporada em um único dispositivo de computação ou pode ser distribuída através de uma pluralidade de dispositivos de computação. A memória 114 pode ser configurada para armazenar informações, dados, aplicativos, instruções ou similares para permitir que o circuito de processamento 110 execute várias funções de acordo com modalidades exemplificadoras da presente invenção. Por exemplo, a memória 114 pode ser configurada para armazenar dados de entrada em buffer para processamento pelo processador 112. Adicionalmente ou alternativamente, a memória 114 pode ser configurada para armazenar instruções para execução pelo processador 112. Como ainda outra capacidade alternativa ou adicional, a memória 114 pode incluir um ou mais bancos de dados que podem armazenar ou acumular em buffer uma variedade de conjuntos de dados ou tabelas

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41/82 úteis para a operação dos módulos descritos abaixo e/ou o circuito de processamento 110. Entre o conteúdo da memória 114, aplicativos ou conjuntos de instruções podem ser armazenados para execução pelo processador 112, a fim de executar a funcionalidade associada a cada aplicativo ou conjunto de instruções respectivo. Em particular, a memória 114 pode armazenar instruções executáveis que permitem que a potência computacional dos circuitos de processamento 110 seja empregada para melhorar o funcionamento do instrumento de densidade óptica 1, como descrito na presente invenção. Por exemplo, a memória 114 pode armazenar dados detectados por um sensor(es) do dispositivo de detecção e/ou código de aplicativo para processar esses dados de acordo com modalidades de exemplo. Em alguns casos, a memória 114 pode estar em comunicação com um ou mais dentre processadores 112, interface de comunicação 116, interface de usuário 130, luz de iluminação 33, sensor de densidade 31, sensor nefelométrico 32, emissor 30 e/ou outros componentes do sistema 100. Como tal, a operação melhorada dos componentes computacionais do instrumento de densidade óptica 1 transforma o instrumento de densidade óptica 1 em uma ferramenta mais capaz de medir a densidade óptica de uma amostra, como descrito aqui.

[0115] A FIG. 21 é um diagrama de blocos da rede de sensores 190 no sistema 100 para medir a densidade óptica de uma amostra de acordo com certas modalidades da invenção. Em algumas modalidades, a rede de sensores 190 pode fornecer dados aos componentes descritos acima para facilitar a execução das funções descritas acima e/ou quaisquer outras funções que os componentes possam ser configuráveis para executar. Em alguns casos, a rede de sensores 190 pode incluir (talvez entre outras coisas) qualquer um ou todos os sensores de densidade 31 ou sensores nefelométricos 32, como mostrado na FIG. 21. A este respeito, a FIG. 21 ilustra um diagrama de blocos

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42/82 de alguns componentes que podem ser empregados como parte da rede de sensores 190 de acordo com uma modalidade de exemplo. [0116] Em algumas modalidades, o sistema 100, que pode ser incorporado como um único aparelho ou sistema de componentes, pode ser implementado como ou pelo menos parcialmente como um sistema distribuído ou sistema baseado em nuvem e, portanto, pode incluir qualquer número de dispositivos de usuário remoto e/ou dispositivos de servidor. Portanto, as modalidades de exemplo podem não estar necessariamente limitadas ao uso em configurações de laboratório, mas podem ser implementadas, por exemplo, em uma configuração de fabricação ou outro ambiente, de modo que o processamento remoto e/ou monitoramento de dados coletados pelo dispositivo de detecção possam ser executados em servidores e/ou outros dispositivos de computação similares. Independentemente da implementação, o sistema 100 pode ser configurado para executar e/ou controlar o desempenho dos vários componentes e funcionalidades do dispositivo de detecção, conforme descrito na presente invenção.

[0117] A este respeito, o sistema fornece a conveniência, o conforto e a segurança adicionais do instrumento de densidade óptica 1 sobre os dispositivos de medição de densidade existentes, enquanto também é conectado continuamente a uma interface de usuário.

III. Métodos para Medição da Densidade Óptica [0118] Em ainda outro aspecto, certas modalidades de acordo com a invenção fornecem métodos para medir a densidade óptica de uma amostra. A FIG. 22 é um diagrama de blocos de um método 200 para medir a densidade óptica de uma amostra de acordo com certas modalidades da invenção. Como mostrado na FIG. 22, o método 200 pode incluir receber pelo menos dois tubos de amostra, pelo menos um dos tubos de amostra contendo uma amostra na operação 210, emitir uma fonte de luz através da amostra nos tubos de amostra de acordo

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43/82 com um padrão de modulação de luz na operação 220, detectar qualquer fonte de luz transmitida através da, ou refletida pela, amostra para gerar dados de luz bruta na operação 230 e converter os dados de luz bruta em dados de densidade óptica na operação 240, e as etapas opcionais de comunicar os dados de densidade óptica a uma tela de exibição na operação 250 e comunicar os dados de densidade óptica a uma interface de usuário de um dispositivo de computação separado na operação 260. Em algumas modalidades, a iluminação da amostra ocorre simultaneamente com pelo menos a emissão da fonte de luz ou a detecção da fonte de luz. Em outras modalidades, a comunicação dos dados de densidade óptica a uma interface de usuário de um dispositivo de computação separado ocorre continuamente.

[0119] Em algumas modalidades, a luz da luz de iluminação 33 pode causar interferência na detecção de um sinal por um sensor do instrumento de densidade óptica. Se a luz ambiente ou a luz suplementar for muito brilhante, a luz poderá inundar ou interferir nas leituras do sensor. No entanto, como discutido anteriormente, a luz de iluminação pode ser necessária para permitir que o usuário veja o conteúdo do tubo de amostra e o tubo de amostra. Por exemplo, o sensor de densidade 31 configurado para detectar a fonte de luz através do tubo de amostra 14 e/ou o sensor nefelométrico 32 configurado para detectar a fonte de luz refletida ou dispersa de partículas no tubo de amostra pode ser impactado pela luz de iluminação, de modo que as leituras se tomam imprecisas. As modalidades de exemplo podem, portanto, modular a luz de iluminação de modo que as leituras do sensor possam ser realizadas quando a luz de iluminação estiver apagada.

[0120] A FIG. 47 é um fluxograma que ilustra operações exemplificadoras do sistema 100 de acordo com algumas modalidades de exemplo. Como mostrado pela operação 4700 da FIG. 47, o sistema

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44/82 pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, interface de comunicação 116, luz de iluminação 33 (mostrada na FIG. 15) e/ou similares, para fazer com que uma luz de iluminação (por exemplo, luz de iluminação 33) seja ligada e desligada de acordo com um padrão de modulação de luz tendo ciclos de ligação e ciclos de desligamento para a luz de iluminação.

[0121] Por exemplo, a FIGS. 23 e 24 são exemplos de diagramas de temporização de acordo com certas modalidades da invenção. Como mostrado na FIG. 23, após a inserção do tubo de amostra (400), a luz de iluminação pode ser ligada (402) e desligada (404) por um intervalo de tempo predeterminado. Em algumas modalidades, o padrão de modulação de luz pode ser configurado para começar em resposta a uma indicação de uma inserção do tubo de amostra. A indicação pode ser fornecida em resposta ao acionamento de um comutador físico no dispositivo de detecção e/ou entrada do usuário na interface de usuário 130, por exemplo. Os intervalos de tempo dos ciclos de ligar e desligar podem ser qualquer período de tempo predeterminado ou dinamicamente determinado. O intervalo de tempo de um ciclo de ligação pode ser igual ou diferente do de um ciclo de desligamento e, em alguns exemplos, os intervalos podem mudar ou variar. O exemplo de padrão de modulação de luz da FIG. 23 indica um ciclo de ligação de 8 milissegundos ( ms) seguido por um ciclo de desligamento de 8 ms, repetido. A este respeito, a luz de iluminação é modulada com um período de 16 ms e um ciclo de trabalho de 50% (403).

[0122] O padrão de modulação de luz pode ser determinado de modo que a luz de iluminação seja ligada por durações adequadas para permitir que a luz suplementar seja fornecida para o profissional ou usuário visualizar a suspensão no tubo de amostra, mas desligada por durações de modo que a iluminação suplementar pareça constante para o usuário. A este respeito, nenhuma oscilação ou uma quantida

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45/82 de insignificante de oscilação pode ser aparente para o usuário, de modo que a luz de iluminação pareça constante. Os intervalos de tempo do ciclo de ligação e desligamento podem, portanto, ser determinados com base em uma variedade de fatores, incluindo, entre outros, o tipo, tamanho e/ou luminosidade da luz de iluminação. Outros intervalos de tempo além dos ilustrados podem, portanto, ser utilizados. Por exemplo, em algumas modalidades, a luz de iluminação pode realizar ciclo de ligação e desligamento por intervalos de 10 ms. Em algumas modalidades, o padrão de modulação de luz pode compreender a multiplexação por divisão do tempo da luz de iluminação e do emissor.

[0123] Em algumas modalidades, o maior ciclo de desligamento pode ser definido pelo período em que um ser humano pode tolerar que a luz de iluminação sendo desligada. Por exemplo, em algumas modalidades, o ciclo de desligamento pode ser de 16,66 ms ou menos (por exemplo, ciclo de 30 Hz ou maior). Em algumas modalidades, o menor ciclo de desligamento pode ser definido pelo tempo necessário para processar uma leitura do sensor. Por exemplo, em algumas modalidades e para alguns sensores, um sensor pode exigir 6 ms para processar uma leitura. Em tais modalidades, o ciclo de desligamento pode ser de 6 ms ou maior (por exemplo, ciclo de 84Hz ou menos). Em algumas modalidades e para alguns sensores, um sensor pode exigir 8 ms para processar uma leitura. Em tais modalidades, o ciclo de desligamento pode ser de 8 ms ou maior (por exemplo, ciclo de 65Hz ou menos).

[0124] Assim, em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 6 ms a 16,66 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 5 ms a 16,66 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 4 ms a 16,66 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do pa

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46/82 drão de modulação de luz pode ser de 3 ms a 16,66 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 16,66 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 6 ms a 16 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 5 ms a 16 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 4 ms a 16 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 3 ms a 16 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 16 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 6 ms a 17 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 5 ms a 17 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 4 ms a 17 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 3 ms a 17 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 17 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 19 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 18 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 15 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 14 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 13 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 12 ms. Em algumas modalida

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47/82 des, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 11 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 10 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 9 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 8 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 7 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 6 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 5 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 4 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 3 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 3 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 4 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 5 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 6 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 7 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 8 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 9 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 10 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 11 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 12 ms a 20 ms. Em algu

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48/82 mas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 13 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 14 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 15 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 16 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 17 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 18 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser de 19 ms a 20 ms.

[0125] Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 6 ms a 16,66 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 5 ms a 16,66 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 4 ms a 16,66 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 3 ms a 16,66 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 16,66 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 6 ms a 16 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 5 ms a 16 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 4 ms a 16 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 3 ms a 16 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 16 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 6 ms a 17 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de

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49/82 luz pode ser de 5 ms a 17 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 4 ms a 17 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 3 ms a 17 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 17 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 19 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 18 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 15 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 14 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 13 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 12 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 11 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 10 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 9 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 8 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 7 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 6 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 5 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 4 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 2 ms a 3 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de

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50/82 luz pode ser de 3 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 4 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 5 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 6 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 7 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 8 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 9 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 10 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 11 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 12 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 13 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 14 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 15 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 16 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 17 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 18 ms a 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser de 19 ms a 20 ms.

[0126] Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 21 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 19 ms.

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Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 18 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 17 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 16 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 15 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 14 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 13 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 12 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 11 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 10 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 9 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 8 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 7 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 6 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 5 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 4 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 3 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser menor que 2 ms.

[0127] Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 21 ms. Em algumas modalida

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52/82 des, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 20 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 19 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 18 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 17 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 16 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 15 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 14 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 13 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 12 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 11 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 10 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 9 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 8 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 7 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 6 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 5 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 4 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 3 ms. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser menor que 2 ms.

[0128] Em algumas modalidades, conforme descrito aqui, o ciclo

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53/82 de ligação e o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz podem ter a mesma duração, que pode incluir qualquer par de faixas ou durações aqui mencionadas (por exemplo, 2 ms ligada, 2 ms desligada; 3 ms ligada, 3 ms desligada; 4 ms ligada, 4 ms desligada; 5 ms ligada, 5 ms desligada; 6 ms ligada, 6 ms desligada; 7 ms ligada, 7 ms desligada; 8 ms ligada, 8 ms desligada; 9 ms ligada, 9 ms desligada; 10 ms ligada, 10 ms desligada; 11 ms ligada, 11 ms desligada; 12 ms ligada, 12 ms desligada; 13 ms ligada, 13 ms desligada; 14 ms ligada, 14 ms desligada; 15 ms ligada, 15 ms desligada; 16 ms ligada, 16 ms desligada; 17 ms ligada, 17 ms desligada; 18 ms ligada, 18 ms desligada; 19 ms ligada, 19 ms desligada; 20 ms ligada, 20 ms desligada, etc.). Em algumas modalidades, o ciclo de ligação e o ciclo de desligamento podem ter durações diferentes, de acordo com qualquer uma das faixas ou durações aqui indicadas. Em algumas modalidades, o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz pode ser mais longo do que o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz. Em algumas modalidades, o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz pode ser mais longo que o ciclo de ligação do padrão de modulação de luz.

[0129] Como mostrado pela operação 4702 da FIG. 47, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, interface de comunicação 116, emissor 30 (mostrado na FIG. 15), e/ou similares, para controlar pelo menos um sensor para realizar uma leitura escura enquanto o pelo menos um emissor (por exemplo, emissor 30) está desligado.

[0130] Em alguns exemplos, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode ser configurado para controlar os sensores de modo que as leituras dos sensores iniciem após um atraso de tempo predeterminado após a inserção do tubo. Por exemplo, como

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54/82 indicado na FIG. 23, um atraso 410 de 500 ms ou outro tempo predeterminado pode ocorrer desde o momento da inserção do tubo até o início das leituras do sensor, para explicar o tempo necessário para um usuário inserir o tubo no dispositivo de detecção depois que o aparelho detectar o tubo sendo inserido (por exemplo, usando um comutador físico, óptico ou outro).

[0131] Uma leitura do sensor pode começar 412 e terminar 414 dentro de um único ciclo de desligamento da luz de iluminação 33. Depois que as leituras do sensor começam 412, as leituras do sensor podem ser repetidas em um ciclo contínuo, como a cada 192 ms 416 até que o tubo seja removido 420. As leituras repetidas do sensor são descritas em mais detalhes abaixo com relação às operações 4712 e 4714.

[0132] Em algumas modalidades, as leituras do sensor podem ser tomadas a cada ciclo de desligamento da luz de iluminação 110 (por exemplo, um intervalo correspondente a qualquer um dos intervalos do ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz detalhado aqui). Em algumas modalidades, as leituras do sensor podem ser feitas após um número predeterminado de ciclos de desligamento da luz de iluminação. Dito de forma diferente, o intervalo entre as leituras 416 pode ser um múltiplo do ciclo de trabalho 403 e duração do ciclo de desligamento 404. Por exemplo, na modalidade representada na Figura 4, o intervalo entre as leituras é de 192 ms 416, que é um múltiplo 12x do ciclo de trabalho de 16 ms 403.

[0133] Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 2 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 3 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 4 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o interva

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Io entre as leituras 416 pode ser menor que 5 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 6 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 7 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 8 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 9 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 10 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 11 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 12 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 13 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 14 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 15 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 16 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 17 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 18 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 19 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 20 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 21 vezes a duração do ciclo de trabalho 403.

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56/82 [0134] Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 500 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 300 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 450 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 400 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 350 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 300 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 250 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 200 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 150 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 100 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser menor que 50 ms.

[0135] Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 320 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 304 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 288 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 272 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 256 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 240 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser 224 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser 208 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser 192 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser 176 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser 160 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as

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57/82 leituras 416 pode ser 144 ms ou menor. Em aigumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser 128 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser 112 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser 96 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser 80 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser 64 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser 48 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser 32 ms ou menor. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser 16 ms ou menor.

[0136] Em aigumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 1 a 20 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 2 a 20 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 4 a 20 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 6 a 20 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 8 a 20 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 10 a 20 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 12 a 20 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 14 a 20 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 16 a 20 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 18 a 20 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 1 a 18 vezes a dura

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58/82 ção do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 1 a 16 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 1 a 14 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 1 a 12 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 1 a 10 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 1 a 8 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 1 a 6 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 1 a 4 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 1 a 2 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 6 a 18 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 8 a 18 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 10 a 18 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 12 a 18 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 14 a 18 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 6 a 16 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 6 a 14 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 6 a 12 vezes a duração do ciclo de trabalho 403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 6 a 10 vezes a duração do ciclo de trabalho

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403. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 6 a 8 vezes a duração do ciclo de trabalho 403.

[0137] Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 100 ms a 500 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 150 ms a 500 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 200 ms a 500 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 250 ms a 500 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 300 ms a 500 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 350 ms a 500 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 400 ms a 500 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 450 ms a 500 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 100 ms a 450 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 100 ms a 400 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 100 ms a 350 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 100 ms a 300 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 100 ms a 250 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 100 ms a 200 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 100 ms a 150 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 192 ms a 256 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 192 ms a 240 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 192 ms a 224 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 192 ms a 208 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 176 ms a 192 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 160 ms a 192 ms. Em algumas modalidades, o

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60/82 intervalo entre as leituras 416 pode ser de 144 ms a 192 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 192 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 176 ms a 256 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 176 ms a 240 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 176 ms a 224 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 176 ms a 208 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 176 ms a 192 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 160 ms a 176 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 144 ms a 176 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 176 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 144 ms a 256 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 144 ms a 240 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 144 ms a 224 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 144 ms a 208 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 144 ms a 192 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 144 ms a 176 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 144 ms a 160 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 144 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 256 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 240 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 224 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 208 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 192 ms. Em algumas modalida

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61/82 des, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 176 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 160 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 208 ms a 256 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 208 ms a 240 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 208 ms a 224 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 192 ms a 208 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 176 ms a 208 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 160 ms a 208 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 144 ms a 208 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 208 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 224 ms a 256 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 224 ms a 240 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 208 ms a 224 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 192 ms a 224 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 176 ms a 224 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 160 ms a 224 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 144 ms a 224 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 224 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 240 ms a 256 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 224 ms a 240 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 208 ms a 240 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 192 ms a 240 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 176 ms a 240 ms. Em algumas mo

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62/82 dalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 160 ms a 240 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 144 ms a 240 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 240 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 224 ms a 256 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 208 ms a 256 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 192 ms a 256 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 176 ms a 256 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 160 ms a 256 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 144 ms a 256 ms. Em algumas modalidades, o intervalo entre as leituras 416 pode ser de 128 ms a 256 ms.

[0138] A FIG. 24 é uma vista explodida de um ciclo de desligamento de 8 ms 500 da luz de iluminação. Em alguns exemplos, o circuito de processamento 110 pode controlar o emissor 30 e/ou sensores de modo que as leituras de sensor são realizadas após um atraso de tempo predeterminado 510 após o desligamento da luz de iluminação 520. Por exemplo, o circuito de processamento 110 pode controlar o emissor 30 para emitir um sinal depois de 2 ms após o final de um ciclo de ligação do padrão de modulação de luz. Nesse sentido, os elétrons podem se depositar e a luz ambiente nas proximidades do tubo de amostra pode estabilizar, reduzindo, minimizando e/ou impedindo a interferência da luz de iluminação com qualquer um dos sensores.

[0139] O indicador 530 representa uma ou mais leituras escuras realizadas por um sensor. Por exemplo, D e N das leituras 530 representam leituras respectivamente realizadas pelo sensor de densidade 31 e sensor nefelométrico 32. O termo escuro na leitura escura se refere ao estado desligado do emissor 30 e, portanto, o termo leitura escura não se destina a ser limitativo. Em algumas modalidades, a

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63/82 leitura escura é usada para calibrar qualquer um dos sensores para contabilizar a luz ambiente, conforme descrito em mais detalhes abaixo. Em algumas modalidades, as leituras escuras 530 podem ser inferiores a 1 ms combinado. Em algumas modalidades, as leituras escuras 530 podem ser de 800 mlcrossegundos combinados. Em algumas modalidades, as leituras escuras 530 podem ser 800 microssegundos ou menos combinados. Em algumas modalidades, o tempo de leitura escura pode incluir um tempo de conversão de analógico para digital (ADC) e um tempo de execução de firmware (FW).

[0140] Como descrito em relação à operação 4704 na FIG. 47, e como mostrado pelo indicador 540 na FIG. 24, o instrumento de densidade óptica 1 pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, emissor 30 e/ou similares, durante um ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz, controlar pelo menos um emissor para emitir um sinal (por exemplo, fonte de luz) para detecção por pelo menos um sensor.

[0141] Na operação 4706, o instrumento de densidade óptica 1 também pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, sensor de densidade 31, sensor nefelométrico 32, qualquer outro sensor do dispositivo de detecção e/ou similares, para controlar pelo menos um sensor para executar uma leitura clara durante o ciclo de desligamento do padrão de modulação de luz e enquanto o pelo menos um emissor estiver ligado.

[0142] A este respeito, após um atraso de tempo predeterminado opcional 550, o instrumento de densidade óptica 1 pode direcionar os sensores para executar uma leitura clara 560. O atraso de tempo predeterminado opcional, como de 4 ms, pode ser variável e pode ser configurado para permitir que o sinal ou fonte de luz emitida pelo emissor 540 seja detectado por um sensor. As leituras D e N das leituras 560 representam leituras claras, respectivamente, realizadas

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64/82 pelo sensor de densidade 31 e sensor nefelométrico 32. O termo clara na leitura clara se refere ao estado de emissão ou ligado do emissor 540 e não se destina a ser limitative. Por exemplo, será apreciado que a luz de iluminação pode realmente estar desligada durante uma leitura clara, como é ilustrado na FIG. 24. Em algumas modalidades, as leituras claras 560 podem ser inferiores a 1 ms combinado. Em algumas modalidades, as leituras claras 560 podem ser de 800 microssegundos combinados. Em algumas modalidades, as leituras claras 560 podem ser de 800 microssegundos ou menos combinados. Em algumas modalidades, o tempo de leitura clara pode incluir um tempo de conversão de analógico para digital (ADC) e um tempo de execução de firmware (FW).

[0143] Na operação 4708, o instrumento de densidade óptica 1 pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114 e/ou similares, para determinar um deslocamento da luz ambiente subtraindo uma leitura escura de uma leitura clara. A este respeito, as leituras convertidas e/ou digitalizadas dos sensores podem ser usadas para calcular um deslocamento quantificável da luz ambiente.

[0144] Na operação 4710, o instrumento de densidade óptica 1 pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, Interface de comunicação 116 e/ou similares, para calibrar leituras do sensor de acordo com o deslocamento da luz ambiente. Nesse sentido, a luz ambiente detectada pela comparação da leitura escura com a leitura clara pode ser usada para ajustar as leituras subsequentes, de modo que as leituras do sensor sejam responsáveis pela luz ambiente. O deslocamento da luz ambiente pode ser um coeficiente ou outro fator que, quando aplicado a uma leitura realizada por um sensor, a leitura ajustada ou calibrada pode ser responsável pela luz ambiente, de modo que as leituras do sensor possam

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65/82 ser fornecidas de maneira mais uniforme e/ou precisa, apesar das condições de luz ambiente. Nesse sentido, pode ocorrer uma leitura escura e/ou cálculo do desvio da luz ambiente uma vez após a inserção do tubo de amostra ou pode ser repetida inúmeras vezes durante leituras de ciclos repetidos (por exemplo, para cada leitura clara ou para cada número predeterminado de leituras claras).

[0145] Na operação 4712, o instrumento de densidade óptica 1 pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, sensor de densidade 31, sensor nefelométrico 32, qualquer outro sensor do dispositivo de detecção e/ou similares, para controlar o pelo menos um sensor para executar uma pluralidade de leituras (por exemplo, leituras claras) ao longo de uma pluralidade de ciclos de desligamento no padrão de modulação de luz. As leituras do sensor podem ser repetidas em um intervalo de tempo predeterminado, como de 192 ms ou qualquer outro intervalo discutido aqui. Adicionalmente ou alternativamente, a repetição de um sensor pode ser repetida com base no número decorrido de ciclos de ligação e desligamento da luz de iluminação (por exemplo, 12 ciclos). Em algumas modalidades, o instrumento de densidade óptica 1 pode causar uma leitura do sensor após o intervalo de tempo (por exemplo, 192 ms) ter decorrido e a luz de iluminação ter desligado, como ilustrado na FIG. 23 (416 e 418).

[0146] Na operação 4714, o instrumento de densidade óptica 1 pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114 e/ou similares, para calcular uma leitura de sensor de média de movimento com base na pluralidade de leituras. As modalidades de exemplo podem, por exemplo, usar um número predeterminado de leituras anteriores para calcular uma média de movimento a ser fornecida a um usuário por meio de uma interface de usuário ou para outro dispositivo. Por exemplo, três leituras anteriores podem ser

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66/82 usadas como o número predeterminado de leituras a serem incorporadas em uma média de movimento. A média de movimento pode servir como um mecanismo de suavização para fornecer leituras para outro dispositivo e/ou para um usuário por meio de uma interface de usuário, por exemplo.

[0147] Em alguns exemplos, o instrumento de densidade óptica 1 pode utilizar leituras de sensores de vários sensores e/ou tipos de sensores, processar as leituras do sensor para calcular uma propriedade de uma suspensão e fornecer uma média de movimento. Por exemplo, conforme descrito em mais detalhes abaixo, o instrumento de densidade óptica 1 pode usar uma leitura de ambos dentre um sensor de densidade 31 e um sensor nefelométrico 32 para determinar um valor de McFarland. A este respeito, uma leitura de ambos dentre o sensor de densidade 31 e o sensor nefelométrico 32 pode ser combinada e manipulada para determinar um valor de McFarland, e as leituras podem ser repetidas de acordo com as configurações do instrumento de densidade óptica 1 e podem ser representadas como uma média de movimento ao longo do tempo. Adicionalmente ou alternativamente, modalidades exemplificadoras podem calcular uma média de movimento com base nas leituras do sensor obtidas de um único sensor.

[0148] O período de 192 ms no qual se repetem as leituras do sensor, e a média de movimento de três pontos são fornecidos apenas como exemplos e será apreciado que qualquer padrão de leitura do sensor e médias de movimento pode ser usado. Por exemplo, um período de 192 ms e uma média de movimento de três pontos podem ser determinados como parâmetros apropriados pelos quais coletar dados do sensor de densidade 31 e/ou sensor nefelométrico 32 e fornecer dados resultantes a um usuário ou outro dispositivo de computação com base na experiência do usuário desejado e/ou variabilidade nos

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67/82 dados relatados. No entanto, em algumas modalidades, o instrumento de densidade óptica 1 pode determinar outros períodos nos quais repetir as leituras e/ou outros números de amostras a serem usadas em uma média de movimento, dependendo de uma variedade de fatores como tipo de sensor, sensibilidade do sensor, variabilidade estimada em uma característica medida da suspensão e/ou variabilidade desejada nos dados resultantes.

[0149] Em algumas modalidades, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode vantajosamente utilizar leituras do sensor de densidade 31 e do sensor nefelométrico 32 na determinação de um valor de McFarland. Os valores de McFarland podem ser usados como referência para ajustar a turbidez em uma suspensão, de modo que a concentração de microrganismos possa ser um valor especificado ou dentro de uma faixa de valores para padronizar o teste.

[0150] A FIG. 48 é um fluxograma que ilustra exemplos de operações do instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100 de acordo com algumas modalidades de exemplo. Na operação 4800, o sistema 100 pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, interface de comunicação 116, sensor de densidade 31 e/ou similares, para receber uma pluralidade de leituras de sensor de densidade. Na operação 4802, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100 pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, interface de comunicação 116, sensor nefelométrico 32 e/ou similares, para receber uma pluralidade de leituras de sensores nefelométricos.

[0151] A FIG. 49 é um gráfico de exemplo das leituras de sensores de densidade 490 e leituras de sensores nefelométricos 492 de acordo com as modalidades de exemplo. As leituras são plotadas como voltagens relativas à turbidez do líquido e podem ser não lineares.

[0152] Em algumas modalidades, à medida que a turbidez aumen

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68/82 ta, as leituras nefelométricas aumentam e as leituras de densidade diminuem. Em alguns exemplos, uma leitura do sensor de densidade pode ser mais sensível para líquidos de turbidez mais baixa em relação à sensibilidade das leituras nefelométricas, enquanto as leituras nefelométricas podem ser mais sensíveis para líquidos de turbidez mais altas em relação à sensibilidade das leituras de densidade. Uma equação polinomial pode, portanto, explicar o impacto variável dos dois tipos de dados no valor de McFarland.

[0153] Em algumas modalidades, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100 pode determinar uma equação ou modelo polinomial aplicando regressão linear às duas leituras, cuja saída fornece um valor de McFarland do líquido. Dito de forma diferente, o sistema 100 pode calibrar os dois sinais para gerar um valor de McFarland. Em algumas modalidades, essa calibração pode ser realizada usando amostras conhecidas em uma ampla faixa de valores de McFarland.

[0154] Sendo assim, na operação 4804, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, interface de comunicação 116 e/ou similares, para aplicação de regressão linear às leituras do sensor de densidade e às leituras nefelométricas do sensor para determinar os coeficientes de uma equação polinomial. E, na operação 4804, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100 pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, interface de comunicação 116 e/ou similares, para aplicar leituras subsequentes à equação polinomial para calcular um valor de McFarland.

[0155] Em algumas modalidades, na operação 4808, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100 pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114,

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69/82 interface de comunicação 116 e/ou similares, para detectar um erro em pelo menos um sensor com base em uma comparação das leituras do sensor de densidade e as leituras nefelométricas do sensor. Dadas as leituras anteriores do sensor de densidade e/ou as leituras nefelométricas do sensor, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode ser configurado para detectar uma alteração em uma das leituras do sensor em relação à outra e/ou com base na equação polinomial determinada. Por exemplo, umas leitura anormal de um sensor em relação às leituras do outro sensor, em comparação com um padrão de leituras anteriores de sensor de densidade e/ou leituras nefelométricas do sensor em relação uma à outra, pode indicar um sensor ou janela suja posicionada entre um sensor e o tubo.

[0156] Em algumas modalidades, em resposta à detecção de um erro, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode ser ainda configurado para calcular um valor de McFarland com base em um(s) sensor(es) funcionando corretamente, não sujeito ao erro detectado. Dito de forma diferente, as modalidades de exemplo podem excluir leituras de sensor detectadas de um sensor para o qual um erro é detectado. O instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode, portanto, continuar a fornecer valores de McFarland e/ou alertar um usuário para limpar os componentes do dispositivo e/ou solucionar o problema.

[0157] A FIG. 50 é um fluxograma que ilustra exemplos de operações do instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100 de acordo com algumas modalidades de exemplo. Na operação 5000, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, interface de comunicação 116, interface de usuário 130 e/ou similares, para receber uma indicação para executar uma calibração de zeragem. Um usuário pode inserir um tubo de linha de base no

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70/82 dispositivo de detecção e indicar via interface de usuário 130 para zerar o dispositivo de detecção. Como outro exemplo, a indicação pode ser gerada em resposta à detecção de um tubo de linha de base sendo inserido no dispositivo de detecção.

[0158] Na operação 5002, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, interface de comunicação 116, emissor 30 e/ou similares, para em resposta à indicação da calibração de zeragem, controlar um emissor (por exemplo, emissor 30) para ajustar um sinal emitido. Por exemplo, quando o emissor 30 é incorporado como um LED, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode fazer com que a corrente seja gradualmente aumentada. O LED pode ser acionado por um conversor de digital para analógico, como um conversor de 12 bits configurado para permitir que o LED emita 4.096 níveis diferentes de corrente.

[0159] À medida que o emissor 30 é aumentado gradualmente, as leituras do sensor podem ser realizadas com base nos vários sinais. A este respeito, na operação 5004, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, interface de comunicação 116, sensor de densidade 31, sensor nefelométrico 32, qualquer outro tipo de sensor e/ou similares, para controlar pelo menos um sensor para realizar leituras com base no sinal emitido.

[0160] Na operação 5006, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, interface de comunicação 116, emissor 30 e/ou similares, para monitorar as leituras do sensor e armazenar um nível do sinal emitido quando a leitura do sensor satisfaz um critério predeterminado. O critério predeterminado pode ser um valor alvo predeterminado ou faixa de valores que o sensor de

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71/82 ve detectar com base em um tubo vazio e/ou solução salina transparente. Como outro exemplo, o critério predeterminado pode ser um valor alvo predeterminado ou faixa de valores de um cálculo realizado com base em uma leitura de sensor, como um valor de McFarland calculado com base em uma leitura de sensor de densidade e/ou leitura de sensor nefelométrico. Por exemplo, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode ser pré-configurado com um valor esperado ou faixa de valores para o sensor de densidade 31 (e/ou outros tipos de sensores). Uma vez atingido o valor ou a faixa alvo, o nível de corrente emitida pelo emissor 30 pode ser registrado. A calibração pode ainda permitir que o sinal transmitido se normalize rastreando a leitura do sensor por um período de tempo e aguardando até que não haja desvio. A normalização pode ocorrer antes, durante ou após o aumento da corrente do emissor ou pode ser realizada separadamente a partir dela.

[0161] Na operação 5008, o instrumento de densidade óptica do aparelho 1, incluindo o sistema 100, pode incluir meios, como circuitos de processamento 110, processador 112, memória 114, interface de comunicação 116, emissor 30 e/ou similares, para controlar o emissor para operar com base no nível armazenado do sinal emitido. A este respeito, o instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100, pode usar a calibração (por exemplo, nível armazenado de sinal ou corrente emitida) até a próxima calibração de zeragem. Um usuário pode zerar novamente o dispositivo de detecção quando o dispositivo de detecção estiver ligado, quando começar a usar um tipo diferente de tubo e/ou quando as condições ambientais mudarem.

[0162] As operações descritas na presente invenção podem, portanto, reduzir a interferência da luz de iluminação nas leituras do sensor e, portanto, podem melhorar a precisão das leituras do sensor, ao mesmo tempo em que fornecem melhor visibilidade do líquido no tubo

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72/82 de amostra. Mais detalhes sobre a operação dos sensores, incluindo calibração, zeragem e coleta de dados, podem ser encontrados no Pedido Provisório US 62/487.736, intitulado “Method, Apparatus, and Computer Program for Controlling Components of a Detection Device, e depositado em 20 de abril de 2017, cujo pedido de patente é incorporado por referência aqui na sua totalidade.

[0163] A esse respeito, o método fornece conveniência, conforto e segurança adicionais sobre os métodos de medição de densidade existentes.

IV. Modalidades Exemplificadoras não Limitativas [0164] De acordo com certas modalidades, o instrumento de densidade óptica Inclui uma unidade portátil com uma parte superior e uma parte inferior e uma estação base com pelo menos uma porção de recepção de unidade portátil, de modo que a unidade portátil seja configurada para se acoplar operacionalmente à estação base, tanto quando a unidade portátil engata a porção de recepção da unidade portátil como quando a unidade portátil é separada da estação base. A unidade portátil inclui ainda uma plataforma de teste óptico com uma parte superior aberta e uma cavidade configurada para receber pelo menos uma porção de um primeiro tubo de amostra e uma porção inferior posicionada dentro da unidade portátil, de modo que o primeiro tubo de amostra se estende acima da parte superior da unidade portátil quando inserido na plataforma de teste óptico. Além disso, a unidade portátil inclui um emissor posicionado dentro da unidade portátil na parte inferior da plataforma de teste óptico, de modo que o emissor é configurado para emitir luz na cavidade, e o emissor é configurado para emitir luz no primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico. Além disso, a unidade portátil inclui pelo menos um sensor posicionado em comunicação óptica com o emissor através da cavidade, de modo que pelo menos

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73/82 um sensor é configurado para receber a luz emitida da cavidade, e de modo que pelo menos um sensor é configurado para receber luz emitida pelo emissor e passar através do primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico. Além disso, a unidade portátil inclui uma luz de iluminação posicionada na parte inferior da plataforma de teste óptico que está configurada para iluminar o primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico.

[0165] De acordo com certas modalidades, o emissor pode ser configurado para emitir uma fonte de luz através de uma amostra disposta no primeiro tubo de amostra e o pelo menos um sensor é configurado para detectar uma porção da fonte de luz que é transmitida através da amostra. Em algumas modalidades, o emissor e a luz de iluminação podem ser configurados para emitir luz de acordo com um padrão de modulação de luz. Em outras modalidades, pelo menos um dos emissores ou a luz de iluminação pode incluir um diodo emissor de luz.

[0166] De acordo com certas modalidades, o pelo menos um sensor compreende pelo menos dois sensores, incluindo um sensor de densidade e um sensor nefelométrico. Em tais modalidades, o sensor de densidade pode ser posicionado oposto ao emissor em relação à cavidade para detectar a fonte de luz transmitida através de uma amostra contida em pelo menos um dos tubos de amostra, e o sensor nefelométrico pode ser posicionado perpendicularmente a um eixo que mede o sensor de densidade e o emissor para detectar a fonte de luz refletida por uma amostra no tubo de amostra.

[0167] De acordo com certas modalidades, a estação base pode ainda incluir uma tela de exibição. Em tais modalidades, a tela de exibição pode ser configurada para apresentar dados transmitidos para a estação base pela unidade portátil. Em algumas modalidades, o ins

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74/82 trumento de densidade óptica pode ainda incluir circuitos de processamento configurados para controlar operações de pelo menos o emissor, a luz de iluminação e o pelo menos um sensor para gerar dados de luz bruta, converter os dados de luz bruta em dados de densidade óptica e comunicar os dados de densidade óptica a uma tela de exibição em tempo real.

[0168] De acordo com certas modalidades, a parte superior da unidade portátil pode ser aberta para permitir que um usuário inspecione visualmente uma amostra contida no primeiro tubo de amostra e iluminada pela luz de iluminação. Em algumas modalidades, a unidade portátil pode incluir uma forma substancialmente de ampulheta, e a parte superior da unidade portátil pode ser mais estreito que a parte inferior. Em outras modalidades, a parte inferior da unidade portátil pode incluir uma pluralidade de pés antiderrapantes.

[0169] Em outro aspecto, certas modalidades de acordo com a invenção fornecem um sistema para medir a densidade óptica de uma amostra. De acordo com certas modalidades, o sistema inclui uma unidade portátil tendo uma parte superior e uma parte inferior, uma estação base tendo pelo menos uma porção de recepção de unidade portátil, de modo que a unidade portátil esteja configurada para se acoplar operacionaimente à estação base, tanto quando a unidade portátil engata a porção de recepção da unidade portátil como quando a unidade portátil é separada da estação base, e um dispositivo de computação com uma interface de usuário. A unidade portátil inclui ainda uma plataforma de teste óptico com uma parte superior aberta e uma cavidade configurada para receber pelo menos uma porção de um primeiro tubo de amostra e uma porção inferior posicionada dentro da unidade portátil, de modo que o primeiro tubo de amostra se estende acima da parte superior da unidade portátil quando inserido na plataforma de teste óptico. Além disso, a unidade portátil inclui um emis

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75/82 sor posicionado dentro da unidade portátil na parte inferior da plataforma de teste óptico, de modo que o emissor é configurado para emitir luz na cavidade, e o emissor é configurado para emitir luz no primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico. Além disso, a unidade portátil inclui pelo menos um sensor posicionado em comunicação óptica com o emissor através da cavidade, de modo que pelo menos um sensor é configurado para receber a luz emitida da cavidade, e de modo que pelo menos um sensor é configurado para receber luz emitida pelo emissor e passar através do primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico. Além disso, a unidade portátil inclui uma luz de iluminação posicionada na parte inferior da plataforma de teste óptico que está configurada para iluminar o primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico.

[0170] De acordo com certas modalidades, o sistema pode ainda incluir circuitos de processamento configurados para controlar operações de pelo menos o emissor, a luz de iluminação e pelo menos um sensor para gerar dados de luz bruta, converter os dados de luz bruta em dados de densidade óptica, comunicar os dados de densidade óptica para uma tela de exibição em tempo real e comunicar os dados de densidade óptica à interface de usuário. Em algumas modalidades, o circuito de processamento pode ser configurado para comunicar continuamente os dados de densidade óptica à interface de usuário.

[0171] De acordo com certas modalidades, o emissor pode ser configurado para emitir uma fonte de luz através de uma amostra disposta no primeiro tubo de amostra e o pelo menos um sensor é configurado para detectar uma porção da fonte de luz que é transmitida através da amostra. Em algumas modalidades, o emissor e a luz de iluminação podem ser configurados para emitir luz de acordo com um

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76/82 padrão de modulação de luz. Em outras modalidades, pelo menos um dos emissores ou a luz de iluminação pode incluir um diodo emissor de luz.

[0172] De acordo com certas modalidades, o pelo menos um sensor compreende pelo menos dois sensores, incluindo um sensor de densidade e um sensor nefelométrico. Em tais modalidades, o sensor de densidade pode ser posicionado oposto ao emissor em relação à cavidade para detectar a fonte de luz transmitida através de uma amostra contida em pelo menos um dos tubos de amostra, e o sensor nefelométrico pode ser posicionado perpendicularmente a um eixo que mede o sensor de densidade e o emissor para detectar a fonte de luz refletida por uma amostra no tubo de amostra.

[0173] De acordo com certas modalidades, a estação base pode ainda incluir uma tela de exibição em comunicação com a unidade portátil. Em algumas modalidades, a tela de exibição pode ser configurada para apresentar dados transmitidos para a estação base pela unidade portátil.

[0174] De acordo com certas modalidades, a parte superior da unidade portátil pode ser aberta para permitir que um usuário inspecione visualmente uma amostra contida no primeiro tubo de amostra e iluminada pela luz de iluminação. Em algumas modalidades, a unidade portátil pode incluir uma forma substancialmente de ampulheta, e a parte superior da unidade portátil pode ser mais estreito que a parte inferior. Em outras modalidades, a parte superior aberta da plataforma de teste óptico pode ser ainda configurada para receber um segundo tubo de amostra. Em algumas modalidades, o primeiro tubo de amostra pode ser fixado no segundo tubo de amostra. Em outras modalidades, a parte inferior da unidade portátil pode incluir uma pluralidade de pés antiderrapantes.

[0175] Em ainda outro aspecto, certas modalidades de acordo com

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77/82 a invenção fornecem um método para medir a densidade óptica da amostra. De acordo com certas modalidades, o método inclui receber um primeiro tubo de amostra contendo a amostra, iluminar a amostra no primeiro tubo de amostra para inspeção visual por um usuário de acordo com um padrão de modulação de luz, emitir uma fonte de luz através da amostra no primeiro tubo de amostra de acordo com o padrão de modulação de luz, detectar uma porção da fonte de luz transmitida ou refletida pela amostra para gerar dados de luz bruta, e converter os dados de luz bruta em dados de densidade óptica.

[0176] De acordo com certas modalidades, o método pode ainda incluir a comunicação dos dados de densidade óptica para uma tela de exibição. Em algumas modalidades, o método pode incluir ainda a comunicação dos dados de densidade óptica para uma interface de usuário. Em outras modalidades, a comunicação dos dados de densidade óptica para a interface de usuário pode ocorrer continuamente. Em certas modalidades, a iluminação da amostra pode ocorrer simultaneamente com pelo menos a emissão da fonte de luz ou a detecção da fonte de luz. Em algumas modalidades, o padrão de modulação de luz pode compreender iluminar a amostra e emitir a fonte de luz em momentos diferentes.

V. Calibração e Operação [0177] Com referência à FIG. 25, uma modalidade de exemplo de uma unidade portátil 605 e base de exibição 610 de um instrumento de densidade óptica 600 é mostrada com indicadores visuais no monitor, e os recursos e operação do instrumento de densidade óptica 600 podem ser substancialmente os mesmos que os de outros instrumentos de densidade óptica descritos na presente invenção. Em algumas modalidades, a tela 615 pode ser uma tela sensível ao toque que exibe um valor de McFarland. A escala de alcance da tela pode ser apropriada de acordo com o tipo de cartão (por exemplo, o cartão de teste de

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78/82 sensibilidade a antibióticos a jusante (AST) usado com a amostra diluída dos tubos de amostra) e a tela pode fornecer indicadores visuais (por exemplo, barras mostradas em 2,70 e 3,30 McFarland na tela 615) da densidade óptica da amostra em comparação com o intervalo necessário para testes a jusante. A FIG. 26 também mostra um exemplo de instrumento 700, que pode operar de acordo com qualquer uma das modalidades detalhadas aqui.

[0178] Em algumas modalidades, o instrumento pode gerar leituras em tempo real usando uma configuração de dois sensores, o densitométrico e o nefelométrico aqui descritos. Em algumas modalidades, o instrumento de teste óptico pode operar no modo autônomo ou conectado. No modo conectado, o instrumento pode se conectar e se comunicar com outro dispositivo de computação por exemplo, uma tela VITEK2™ Flexprep™ O instrumento pode ser configurado para enviar o valor medido de McFarland para uma máquina de teste a jusante por exemplo, uma máquina VITEK2™ e o instrumento pode receber uma faixa de McFarland desejada e/ou determinar a faixa de McFarland desejada com base no cartão ou em outro aparelho de teste a jusante. [0179] Em algumas modalidades, um modo de verificação de calibração pode ser usado com um conjunto especializado de tubo duplo. Em operação, um padrão conhecido, correspondente a um valor conhecido de McFarland, pode ser colocado no Instrumento para verificar sua calibração. Com referência à FIGS. 27-33, um tubo de amostra duplo de calibração 635 pode ser usado para verificar a calibração. O tubo de calibração 635 pode conter um chip RFID programado 650 ou outro transmissor ou identificador eletrônico como parte de um tag de calibração 640, cujo chip contém o valor de McFarland que é esperado para os tubos de calibração 635. O instrumento de densidade óptica 1 pode, por sua vez, ter um receptor e/ou leitor correspondente conectado ao circuito de processamento 110 para detectar o tag RFID (por

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79/82 exemplo, via RFID passivo ou ativo da tag). O tag pode incluir um corpo inerte 642 com o chip 650 disposto em uma extremidade. Por exemplo, a extremidade distal do corpo 642 mais próxima do instrumento em operação. Em algumas modalidades, o corpo 642 pode incluir uma extremidade entalhada 644 oposta à extremidade distal, e a extremidade entalhada 644 pode engatar uma tampa 645 no tubo. Em algumas modalidades adicionais, uma marcação (mostrada nas FIGS. 27 e 29) que identifica o valor de McFarland do calibrador também pode ser colocada nos tubos 635.

[0180] O instrumento 1, 605 pode receber o valor de calibração e verificar o resultado da calibração em comparação com o padrão. Em algumas modalidades, os tubos de calibração 635 podem incluir um tubo marcado 637 (mostrado na FIG. 30) tendo um tag de calibração 640 (mostrada nas FIGS. 30-32) para comunicar o valor de McFarland da amostra de calibração ao instrumento, e os tubos 635 podem incluir um tubo de calibração 639 contendo uma amostra de calibração para verificar e/ou atualizar a calibração do instrumento. Em algumas modalidades, a amostra de calibração pode ser um meio de silicone e ΊΊΟ2. Nas modalidades do instrumento que testa apenas um dos dois tubos 635, 0 tubo de calibração 639 pode ser opticamente interrogado pelos componentes de densidade óptica e 0 tubo marcado 637 pode ser posicionado na outra cavidade da unidade portátil.

[0181] Os tubos podem ser usados, por exemplo, por um cliente para verificar a calibração do instrumento, e uma pluralidade de tubos 635 pode ser usada em limites predeterminados de McFarland (por exemplo, cada metade do valor de McFarland - 0,5, 1, 1,5, 2, 2,5, 3,

3,5 e 4 McFarland). O instrumento pode usar uma quantidade menor de tubos 635 para verificar a calibração (por exemplo, 1, 2, 3 e 4 tubos de valor de McFarland) e uma quantidade maior de tubos 635 para recalibrar 0 instrumento (por exemplo, 0,5, 1, 1,5, 2, 2,5, 3, 3,5 e 4 tubos

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80/82 de valor de McFarland).

VI. Conclusão [0182] Portanto, será apreciado que as figuras são, cada uma, fornecidas como exemplos e nâo devem ser interpretadas para restringir o escopo ou espírito da divulgação de qualquer maneira. A este respeito, o escopo da divulgação abrange muitas modalidades potenciais, além das ilustradas e descritas na presente invenção. Numerosas outras configurações também podem ser usadas para implementar as modalidades da presente invenção.

[0183] As FIGS. 22, 47, 48 e 50 ilustram operações de um método, aparelho e produto de programa de computador de acordo com algumas modalidades de exemplo. Será entendido que cada operação dos fluxogramas ou diagramas, e combinações de operações nos fluxogramas ou diagramas pode ser implementada por vários meios, como hardware e/ou um produto de programa de computador compreendendo um ou mais meios legíveis por computador com instruções de programa legíveis por computador armazenadas no mesmo. Por exemplo, um ou mais dos procedimentos descritos aqui podem ser incorporados por instruções de programa de computador de um produto de programa de computador. A este respeito, o(s) produto(s) de programa de computador que incorpora(m) os procedimentos descritos na presente invenção pode(m) compreender um ou mais dispositivos de memória de um dispositivo de computação (por exemplo, memória 114) armazenando instruções executáveis por um processador no dispositivo de computação (por exemplo, por processador 112). Em algumas modalidades de exemplo, as instruções do programa de computador do(s) produto(s) do programa de computador que incorporam os procedimentos descritos acima podem ser armazenadas por dispositivos de memória de uma pluralidade de dispositivos de computação. Como será apreciado, qualquer produto desse programa de computador po

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81/82 de ser carregado em um computador ou outro aparelho programável (por exemplo, instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100) para produzir uma máquina, de modo que o produto do programa de computador, incluindo as instruções executadas no computador ou outro aparelho programável cria meios para implementar as funções especificadas no(s) bloco(s) do fluxograma. Além disso, o produto de programa de computador pode compreender uma ou mais memórias legíveis por computador nas quais as instruções de programa de computador podem ser armazenadas de modo que a uma ou mais memórias legíveis por computador possam direcionar um computador ou outro aparelho programável para funcionar de uma maneira específica, tal que o produto de programa de computador possa compreender um artigo de fabricação que implementa a função especificada no(s) bloco(s) de fluxograma. As instruções do programa de computador de um ou mais produtos de programa de computador também podem ser carregadas em um computador ou outro aparelho programável (por exemplo, instrumento de densidade óptica 1, incluindo o sistema 100 e/ou outro aparelho) para fazer com que uma série de operações sejam executadas no computador ou outro aparelho programável para produzir um processo implementado por computador, de modo que as instruções executadas no computador ou outro aparelho programável implementem as funções especificadas no(s) bloco(s) de fluxograma. [0184] Sendo assim, os blocos dos fluxogramas suportam combinações de meios para executar as funções especificadas e combinações de operações para executar as funções especificadas. Também será entendido que um ou mais blocos dos fluxogramas, e combinações de blocos nos fluxogramas, podem ser implementados por sistemas de computador baseados em hardware para fins especiais que executam as funções especificadas ou combinações de instruções de hardware e computador para fins especiais.

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82/82 [0185] Muitas modificações da invenção aqui apresentadas virão à mente de uma pessoa versada na técnica a que a invenção pertence, tendo o benefício dos ensinamentos apresentados nas descrições anteriores e nos desenhos associados. Portanto, deve ser entendido que a invenção não deve ser limitada às modalidades específicas divulgadas e que modificações e outras modalidades devem ser incluídas no escopo das reivindicações anexas. Por exemplo, métodos individuais, porções de métodos, aparelhos e porções de aparelhos podem ser trocados ou combinados entre as modalidades descritas na presente invenção em qualquer combinação viável. Embora termos específicos sejam aqui empregados, eles são usados apenas em sentido genérico e descritivo e não para fins de limitação.

Claims

REIVINDICAÇÕES

1. Instrumento de densidade óptica, caracterizado pelo fato de que compreende:

uma unidade portátil que tem uma parte superior e uma parte inferior e que compreende ainda:

uma plataforma de teste óptico com uma parte superior aberta e uma cavidade configurada para receber pelo menos uma porção de um primeiro tubo de amostra e uma porção inferior posicionada dentro da unidade portátil, de modo que o primeiro tubo de amostra se estende acima da parte superior da unidade portátil quando inserido na plataforma de teste óptico;

um emissor posicionado dentro da unidade portátil na parte inferior da plataforma de teste óptico, de modo que o emissor é configurado para emitir luz na cavidade, e em que o emissor é configurado para emitir luz no primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico;

pelo menos um sensor posicionado em comunicação óptica com o emissor através da cavidade, de modo que pelo menos um sensor é configurado para receber a luz emitida da cavidade, e de modo que pelo menos um sensor é configurado para receber luz emitida pelo emissor e passar através do primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico; e uma luz de iluminação posicionada na porção inferior da plataforma de teste óptico e configurada para iluminar a cavidade de modo que a luz emitida pela luz de iluminação é configurada para iluminar o primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico; e uma estação base tendo pelo menos uma porção de recepção de unidade portátil, em que a unidade portátil é configurada para se acoplar

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2/8 operacionalmente à estação de base, tanto quando a unidade portátil engata na porção de recebimento da unidade portátil quanto quando a unidade portátil é separada da estação de base.

2. Instrumento, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que o emissor é configurado para emitir uma fonte de luz através de uma amostra disposta no primeiro tubo de amostra, e o pelo menos um sensor é configurado para detectar uma porção da fonte de luz que é transmitida através da amostra.
3. Instrumento, de acordo com qualquer uma das reivindicações anteriores, caracterizado pelo fato de que o emissor e a luz de iluminação são configurados para emitir luz de acordo com um padrão de modulação de luz.
4. Instrumento, de acordo com qualquer uma das reivindicações anteriores, caracterizado pelo fato de que pelo menos um dos emissores ou a luz de iluminação compreende um diodo emissor de luz.
5. Instrumento, de acordo com qualquer uma das reivindicações anteriores, caracterizado pelo fato de que pelo menos um sensor compreende pelo menos dois sensores, incluindo um sensor de densidade e um sensor nefelométrico, o sensor de densidade sendo posicionado oposto ao emissor em relação à cavidade para detectar a fonte de luz transmitida através de uma amostra contida em pelo menos um dos tubos de amostra e o sensor nefelométrico sendo posicionado perpendicularmente a um eixo que abrange o sensor de densidade e o emissor para detectar a fonte de luz refletida por uma amostra no tubo de amostra.
6. Instrumento, de acordo com qualquer uma das reivindicações anteriores, caracterizado pelo fato de que a parte superior da unidade portátil está aberta para permitir que um usuário inspecione visualmente uma amostra contida no primeiro tubo de amostra e ilumi-

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3/8 nada pela luz de iluminação.
7. Instrumento, de acordo com qualquer uma das reivindicações anteriores, caracterizado pelo fato de que a estação base compreende ainda uma tela de exibição e em que a tela de exibição é configurada para apresentar dados transmitidos para a estação base pela unidade portátil.
8. Instrumento, de acordo com qualquer uma das reivindicações anteriores, caracterizado pelo fato de que a unidade portátil compreende uma forma substancialmente de ampulheta, e a parte superior da unidade portátil sendo mais estreita que a parte inferior.
9. Instrumento, de acordo com qualquer uma das reivindicações anteriores, caracterizado pelo fato de que a parte inferior da unidade portátil compreende uma pluralidade de pés antiderrapantes.
10. Instrumento, de acordo com qualquer uma das reivindicações anteriores, caracterizado pelo fato de que compreende ainda circuitos de processamento configurados para:

controlar operações de pelo menos o emissor, a luz de iluminação, e o pelo menos um sensor para gerar dados de luz bruta;

converter os dados de luz bruta em dados de densidade óptica; e comunicar os dados de densidade óptica para uma tela de exibição em tempo real.
11. Instrumento, de acordo com qualquer uma das reivindicações anteriores, caracterizado pelo fato de que a unidade portátil compreende ainda uma mola que define uma primeira perna e uma segunda perna, em que a primeira perna e a segunda perna são configuradas para aplicar uma força em um tubo de amostra em direção a um ponto entre a primeira perna e a segunda perna.
12. Sistema para medir a densidade óptica de uma amostra, o sistema caracterizado pelo fato de que compreende:

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4/8 um instrumento de densidade óptica, o instrumento de densidade óptica, compreendendo:

uma unidade portátil que tem uma parte superior e uma parte inferior e que compreende ainda:

uma plataforma de teste óptico tendo uma parte superior aberta configurada para receber um primeiro tubo de amostra e uma porção inferior posicionada dentro da unidade portátil, de modo que o primeiro tubo de amostra se estende acima da parte superior da unidade portátil quando inserido na plataforma de teste óptico;

um emissor posicionado dentro da unidade portátil na parte inferior da plataforma de teste óptico, de modo que o emissor é configurado para emitir luz na cavidade, e em que o emissor é configurado para emitir luz no primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico;

pelo menos um sensor posicionado em comunicação óptica com o emissor através da cavidade, de modo que pelo menos um sensor é configurado para receber a luz emitida da cavidade, e de modo que pelo menos um sensor é configurado para receber luz emitida pelo emissor e passar através do primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico; e uma luz de iluminação posicionada na porção inferior da plataforma de teste óptico e configurada para iluminar a cavidade de modo que a luz emitida pela luz de iluminação é configurada para iluminar o primeiro tubo de amostra quando o primeiro tubo de amostra é inserido na plataforma de teste óptico; e uma estação base tendo pelo menos uma porção de recepção de unidade portátil, em que a unidade portátil é configurada para se acoplar operacionalmente à estação de base, tanto quando a unidade portátil engata na porção de recebimento da unidade portátil quanto quando a

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5/8 unidade portátil é separada da estação de base; e um dispositivo de computação compreendendo uma interface de usuário.
13. Sistema, de acordo com a reivindicação 12, caracterizado pelo fato de que o instrumento de densidade óptica compreende circuitos de processamento configurados para:

controlar operações de pelo menos o emissor, a luz de iluminação, e o pelo menos um sensor para gerar dados de luz bruta;

converter os dados de luz bruta em dados de densidade óptica;

comunicar os dados de densidade óptica a uma tela de exibição em tempo real; e comunicar os dados de densidade óptica para a interface de usuário.
14. Sistema, de acordo com a reivindicação 13, caracterizado pelo fato de que o circuito de processamento é configurado para:

comunicar continuamente os dados de densidade óptica para a interface de usuário.
15. Sistema, de acordo com qualquer uma das reivindicações 12 a 14, caracterizado pelo fato de que o emissor é configurado para emitir uma fonte de luz através de uma amostra disposta no primeiro tubo de amostra, e pelo menos um sensor é configurado para detectar uma porção da fonte de luz que é transmitida através da amostra.
16. Sistema, de acordo com qualquer uma das reivindicações 12 a 15, caracterizado pelo fato de que o emissor e a luz de iluminação são configurados para emitir luz de acordo com um padrão de modulação de luz.
17. Sistema, de acordo com qualquer uma das reivindicações 12 a 16, caracterizado pelo fato de que pelo menos um dentre o

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6/8 emissor ou a luz de iluminação compreende um diodo emissor de luz.
18. Sistema, de acordo com qualquer uma das reivindicações 12 a 17, caracterizado pelo fato de que o pelo menos um sensor compreende pelo menos dois sensores, incluindo um sensor de densidade e um sensor nefelométrico, o sensor de densidade sendo posicionado oposto ao emissor em relação à cavidade para detectar a fonte de luz transmitida através de uma amostra contida em pelo menos um dos tubos de amostra e o sensor nefelométrico sendo posicionado perpendicularmente a um eixo que abrange o sensor de densidade e o emissor para detectar a fonte de luz refletida por uma amostra no tubo de amostra.
19. Sistema, de acordo com qualquer uma das reivindicações 12 a 18, caracterizado pelo fato de que a parte superior da unidade portátil está aberta para permitir que um usuário inspecione visualmente uma amostra contida no primeiro tubo de amostra e iluminada pela luz de iluminação.
20. Sistema, de acordo com qualquer uma das reivindicações 12 a 19, caracterizado pelo fato de que a estação base compreende ainda uma tela de exibição em comunicação com a unidade portátil.
21. Sistema, de acordo com qualquer uma das reivindicações 12 a 20, caracterizado pelo fato de que a estação base compreende ainda uma tela de exibição e em que a tela de exibição é configurada para apresentar dados transmitidos para a estação base pela unidade portátil.
22. Sistema, de acordo com qualquer uma das reivindicações 12 a 21, caracterizado pelo fato de que a parte inferior da unidade portátil compreende uma pluralidade de pés antiderrapantes.
23. Sistema, de acordo com qualquer uma das reivindicações 12 a 22, caracterizado pelo fato de que a parte superior aberta da

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7/8 plataforma de teste óptico é ainda configurada para receber um segundo tubo de amostra.
24. Sistema, de acordo com a reivindicação 23, caracterizado pelo fato de que o primeiro tubo de amostra é afixado ao segundo tubo de amostra.
25. Método para medir a densidade óptica de uma amostra, o método caracterizado pelo fato de que compreende:

receber um primeiro tubo de amostra, os primeiros tubos de amostra contendo a amostra:

iluminar a amostra no primeiro tubo de amostra para inspeção visual por um usuário de acordo com um padrão de modulação de luz;

emitir uma fonte de luz através da amostra no primeiro tubo de amostra de acordo com o padrão de modulação de luz;

detectar uma porção da fonte de luz transmitida ou refletida pela amostra para gerar dados de luz bruta; e converter os dados de luz bruta em dados de densidade óptica.
26. Método, de acordo com a reivindicação 25, caracterizado pelo fato de que compreende ainda a comunicação dos dados de densidade óptica a uma tela de exibição.
27. Método, de acordo com qualquer uma das reivindicações 25 ou 26, caracterizado pelo fato de que compreende ainda a comunicação dos dados de densidade óptica para uma interface de usuário.
28. Método, de acordo com a reivindicação 27, caracterizado pelo fato de que a comunicação dos dados de densidade óptica para a interface de usuário ocorre continuamente.
29. Método, de acordo com qualquer uma das reivindicações 25 a 28, caracterizado pelo fato de que a iluminação da amostra

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8/8 ocorre simultaneamente com pelo menos a emissão da fonte de luz ou a detecção da fonte de luz.
30. Método, de acordo com qualquer uma das reivindicações 25 a 29, caracterizado pelo fato de que o padrão de modulação de luz compreende iluminar a amostra e emitir a fonte de luz em momentos diferentes.