CN109975316A - 鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法 - Google Patents

Abstract

鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，过程如下：1)将鼓形滚子竖立于上传送带输送装置上，在鼓形滚子移动至第一CMOS面阵拍摄相机和第二CMOS面阵拍摄相机的下方时，分别完成对应的图像采集；2)鼓形滚子被传送到上传送带输送装置的末端后，由第一电磁铁将其吸住，继续传送，在鼓形滚子被传送到上传送带输送装置和下传送带输送装置的重叠区域后，第一电磁铁断电，第二电磁铁通电，鼓形滚子落入下传送带输送装置；3)鼓形滚子被下传送带输送装置传送到第三CMOS面阵拍摄相机和第四CMOS面阵拍摄相机的下方时，分别完成剩余的图像采集；4)整个检测过程均合格的，即为合格品。该方法可以用于检测各种尺寸形状鼓形滚子，检测时间短，检测效率高，检测精度高。

Description

鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法

技术领域

本发明涉及鼓形滚子表面缺陷检测技术，具体涉及了一种鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法。

背景技术

轴承是装备制造业中重要的、关键的基础零部件，直接决定着重大装备和主机产品的性能、质量和可靠性，被誉为装备制造的“心脏”部件。精密鼓形滚子作为鼓形滚子轴承的一种关键零件，其精度和一致性对轴承的工作性能和使用寿命起到至关重要的作用。

目前，针对鼓形滚子表面缺陷检测仍以人工为主。但是人工检测费时费力，且精确度较差，往往有许多缺陷是肉眼难以发现的，从而有部分瑕疵品被当做质量合格的投入生产使用，从而造成安全隐患。此外，人工检测还存在效率较低的问题。

近年来，随着机器视觉技术的兴起，业内也有人尝试利用机器视觉技术来检测鼓形滚子。但是，如何高效、高质量地采集鼓形滚子表面轮廓图像的问题一直困扰着相关技术人员，阻碍了机器视觉技术在鼓形滚子检测中的应用。

发明内容

针对现有技术中存在的不足，本发明提供了一种基于机器视觉技术的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，该方法检测时间短，检测效率高，检测精度高。

本发明的技术方案：鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，实现该方法的检测装置包括水平设置的上传送带输送装置和下传送带输送装置；下传送带输送装置位于上传送带输送装置下方且下传送带输送装置的起始端与上传送带输送装置的末端呈部分重叠状设置；所述上传送带输送装置内部，在与下传送带输送装置重叠的区域，设有第一电磁铁；对应的，所述下传送带输送装置内部，在与上传送带输送装置重叠的区域，设有第二电磁铁；所述上传送带输送装置的上方设有装有平面拍摄镜头的第一CMOS面阵拍摄相机和装有环侧面展开镜头的第二CMOS面阵拍摄相机；所述下传送带输送装置的上方设有装有平面拍摄镜头的第三CMOS面阵拍摄相机和装有环侧面展开镜头的第四CMOS面阵拍摄相机；检测过程如下：1)将鼓形滚子竖立于上传送带输送装置上，随上传送带输送装置移动，在鼓形滚子移动至第一CMOS面阵拍摄相机和第二CMOS面阵拍摄相机的下方时，分别完成对鼓形滚子上端面及其倒角面的图像采集和侧面上半部分的图像采集，并送给计算机，由计算机判断是否存在瑕疵，完成上半轮廓表面的检测；2)鼓形滚子被传送到上传送带输送装置的末端后，第一电磁铁通电将其吸住，继续传送，在鼓形滚子1被传送到上传送带输送装置的与下传送带输送装置重叠部分的下侧后，第一电磁铁断电，第二电磁铁通电，鼓形滚子落入下传送带输送装置，完成180度翻转，然后随下传送带输送装置移动；3)鼓形滚子被下传送带输送装置传送到第三CMOS面阵拍摄相机和第四CMOS面阵拍摄相机的下方时，分别完成另一个端面及其倒角面的图像采集和另一半侧面的图像采集，并传送给计算机，由计算机判断是否存在瑕疵，完成另一半轮廓表面的检测；4)整个检测过程均合格的，即为合格品。

与现有技术相比，本发明的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法通过呈上、下设置的特定传送带输送装置输送待检测鼓形滚子，在完成上半部分的检测后，利用设于输送带内部特定位置的电磁铁的通断电完成180度翻转，再进行另一半表面轮廓的检测，实现了流水线式地传送待检测鼓形滚子，待鼓形滚子到达指定工位时，由两台装有环侧面展开镜头的CMOS面阵拍摄相机和两台装有平面拍摄镜头的CMOS面阵拍摄相机分别进行图像采集，并由计算机对采集到的图像进行分析，得出检测结果，不仅实现了圆柱滚子表面瑕疵的自动化检测和全表面检测，有效填补了现有技术中关于鼓形滚子的自动化全表面检测技术的空白，检测效率高且检测精确度也高。

作为优化，所述上传送带输送装置的下表面和下传送带输送装置的表面材料为棉帆布、尼龙或PVC；所述上传送带输送装置的下表面和下传送带输送装置的上表面之间的距离为待检测鼓形滚子高度的1.2～1.5倍。此时，鼓形滚子从上传送带输送装置稳定地落到下传送带输送装置上，同时，鼓形滚子对下输送带装置的冲击较小，避免鼓形滚子掉落到下输送带装置上时发生损坏。

作为优化，所述上传送带输送装置内部紧邻着第一电磁铁设有第三电磁铁，第三电磁铁的下方对应设有第一次品盒；过程1)检测结果为不合格时，在鼓形滚子被传送到上传送带输送装置与下传送带输送装置重叠部分的下侧后，第一电磁铁不断电，第二电磁铁不通电，第三电磁铁通电，鼓形滚子随上传送带输送装置继续移动，到达第一次品盒上方后，第三电磁铁断电，使不合格的鼓形滚子落入第一次品盒内。该结构可以进行次品鼓形滚子的淘汰和分选，大幅优化了检测过程，通过提前淘汰部分次品，减少了第三CMOS面阵拍摄相机和第四CMOS面阵拍摄相机的工作量，有利于提高检测效率。

作为优化，所述下传送带输送装置内部在传送末端位置设有第四电磁铁，第四电磁铁的下方对应设有第二次品盒；过程3)检测结果为不合格时，鼓形滚子传送至下传送带装置的末端后，第四电磁铁通电，将其吸住，继续传送，在鼓形滚子被传送到下传送带输送装置的末端下侧后，第四电磁铁断电，不合格的鼓形滚子落入第二次品盒。该结构实现了次品鼓形滚子的淘汰和分选。

作为优化，所述上传送带输送装置和所述下传送带输送装置均为定速传动；所述下传送带输送装置的传送速度与所述上传送带输送装置的传送速度之和不超过10cm/s。上传送带输送装置下表面和下传送带输送装置上表面的运动方向相反，鼓形滚子从上传带装置落到下传送带装置上的瞬间，容易因两者之间存在相对运动，发生倾倒，经试验表明，相对运动的速度不超过10cm/s时，鼓形滚子可以稳定的落到下传送带装置上，完成翻转，且不会因摩擦力的作用对鼓形滚子造成伤害。

作为优化，所述上传送带输送装置的输送带表面等间距一组用于放置鼓形滚子的定位标记槽；所述下传送带输送装置的传送速度为所述上传送带输送装置的传送速度的60～80％。定位标记槽可以对鼓形滚子起到定位作用，使上传送带装置可以更快地输送滚子，提高检查效率(上传送带装置的传送速度决定了整体的检测效率)；同时，定位标记槽还具有方便上料的优点，操作人员按照定位标记槽放置鼓形滚子，可以避免出现上料过快或过慢的情况，便于大批量检测。进一步，所述下传送带输送装置的传送速度4cm/s；所述上传送带输送装置的传送速度6cm/s。上述的两个运动传送速度既可以保证较高的传送效率，又可以进一步确保鼓形滚子可以准确且稳定的落至下传送带输送装置上。

作为优化，所有CMOS面阵拍摄相机均安装于可调节高度的支架上。所有CMOS面阵拍摄相机安装于可调节高度的支架上时，检测人员可以根据鼓形滚子的尺寸调节CMOS面阵拍摄相机位置，使其始终位于合适高度，保证采集到的图像具有较高清晰度和完整性，从而使得本发明的适用范围更广。

作为优化，所述上传送带输送装置和/或所述下传送带输送装置的高度可调。上传送带输送装置和下传送带输送装置其中至少一个高度可调，从而可以适用不用高度尺寸的鼓形滚子，使得本发明的适用范围更广。

作为优化，上传送带输送装置与下传送带输送装置重叠区域的长度为5～10cm；相邻两定位标记槽的间距为10～15cm。从而，保证检测质量的同时，具有较快的检测速度。(定位标记槽的间距以及上下输送带装置的重叠长度过小，容易影响检测质量，过大则会影响检测效率)

附图说明

图1是实现本发明的鼓形滚子全表面瑕疵检测方法的检测装置的结构示意图；

图2是鼓形滚子的结构示意图；

图3是本发明中装有环侧面展开镜头的CMOS面阵拍摄相机拍摄的图像鼓形滚子的图像轮廓；

图4是CMOS面阵拍摄相机拍摄的鼓形滚子侧面轮廓图像通过计算机还原的侧面展开图；

图5是本发明中装有平面拍摄镜头的CMOS面阵拍摄相机拍摄的图像轮廓。

附图中的标记为：1-鼓形滚子；2-上传送带输送装置；3-下传送带输送装置；4-第一CMOS面阵拍摄相机；5-第二CMOS面阵拍摄相机；6-第三CMOS面阵拍摄相机；7-第四CMOS面阵拍摄相机；8-第一电磁铁；9-第二电磁铁；10-第三电磁铁；11-第四电磁铁；12-第一次品盒；13-第二次品盒；14-支架；15-定位标记槽。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式(实施例)对本发明作进一步的说明，但并不作为对本发明限制的依据。

如图1～5所示，实现本发明的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法的检测装置包括水平设置的上传送带输送装置2和下传送带输送装置3；下传送带输送装置3位于上传送带输送装置2下方且下传送带输送装置3的起始端与上传送带输送装置2的末端呈部分重叠状设置；所述上传送带输送装置2内部，在与下传送带输送装置3重叠的区域，设有第一电磁铁8；对应的，所述下传送带输送装置3内部，在与上传送带输送装置2重叠的区域，设有第二电磁铁9；所述上传送带输送装置2的上方设有装有平面拍摄镜头的第一CMOS面阵拍摄相机4和装有环侧面展开镜头的第二CMOS面阵拍摄相机5；所述下传送带输送装置3的上方设有装有平面拍摄镜头的第三CMOS面阵拍摄相机6和装有环侧面展开镜头的第四CMOS面阵拍摄相机7；

检测过程如下：

1)将鼓形滚子1竖立于上传送带输送装置2上，随上传送带输送装置2移动，在鼓形滚子1移动至第一CMOS面阵拍摄相机4和第二CMOS面阵拍摄相机5的下方时，分别完成对鼓形滚子1上端面及其倒角面的图像采集和侧面上半部分的图像采集，并送给计算机，由计算机判断是否存在瑕疵，完成上半轮廓表面的检测；

2)鼓形滚子1被传送到上传送带输送装置2的末端后，第一电磁铁8通电将其吸住，继续传送，在鼓形滚子1被传送到上传送带输送装置2的与下传送带输送装置3重叠部分的下侧后，第一电磁铁8断电，第二电磁铁9通电，鼓形滚子1落入下传送带输送装置3，完成180度翻转，然后随下传送带输送装置3移动；

3)鼓形滚子1被下传送带输送装置3传送到第三CMOS面阵拍摄相机6和第四CMOS面阵拍摄相机7的下方时，分别完成另一个端面及其倒角面的图像采集和另一半侧面的图像采集，并传送给计算机，由计算机判断是否存在瑕疵，完成另一半轮廓表面的检测；

4)整个检测过程均合格的，即为合格品。

作为优化，所述上传送带输送装置2的下表面和下传送带输送装置3的表面材料为棉帆布、尼龙或PVC；所述上传送带输送装置2的下表面和下传送带输送装置3的上表面之间的距离可以为待检测鼓形滚子1高度的1.2～1.5倍。此时，鼓形滚子1从上传送带输送装置2稳定地落到下传送带输送装置3上，同时，鼓形滚子1对下输送带装置3的冲击较小，避免鼓形滚子1掉落到下输送带装置3上时发生损坏。

作为优化，所述上传送带输送装置2和所述下传送带输送装置3均为定速传动；所述下传送带输送装置3的传送速度与所述上传送带输送装置2的传送速度之和不超过10cm/s。上传送带输送装置2下表面和下传送带输送装置3上表面的运动方向相反，鼓形滚子1从上传带装置2落到下传送带装置3上的瞬间，容易因两者之间存在相对运动，发生倾倒，经试验表明，相对运动的速度不超过10cm/s时，鼓形滚子1可以稳定的落到下传送带装置3上，完成翻转，且不会因摩擦力的作用对鼓形滚子1造成伤害。进一步，所述上传送带输送装置2的输送带表面等间距一组用于放置鼓形滚子1的定位标记槽15；所述下传送带输送装置3的传送速度为所述上传送带输送装置2的传送速度的60～80％。定位标记槽15可以对鼓形滚子1起到定位作用，使上传送带装置2可以更快地输送滚子1，提高检查效率(上传送带装置2的传送速度决定了整体的检测效率)；同时，定位标记槽15还具有方便上料的优点，操作人员按照定位标记槽15放置鼓形滚子1，可以避免出现上料过快或过慢的情况，便于大批量检测。

作为优化，所有CMOS面阵拍摄相机均安装于可调节高度的支架14上。所有CMOS面阵拍摄相机安装于可调节高度的支架14上时，检测人员可以根据鼓形滚子1的尺寸调节CMOS面阵拍摄相机位置，使其始终位于合适高度，保证采集到的图像具有较高清晰度和完整性，从而使得本发明的适用范围更广。

作为优化，所述上传送带输送装置2和/或所述下传送带输送装置3的高度可调。上传送带输送装置2和下传送带输送装置3其中至少一个高度可调，从而可以适用不用高度尺寸的鼓形滚子1，使得本发明的适用范围更广。

优选地，上传送带输送装置2与下传送带输送装置3重叠区域的长度为5～10cm；相邻两定位标记槽15的间距为10～15cm。从而，保证检测质量的同时，具有较快的检测速度。(定位标记槽15的间距以及上下输送带装置的重叠长度过小，容易影响检测质量，过大则会影响检测效率)

作为一个具体实施例：

所述上传送带输送装置2内部紧邻着第一电磁铁8设有第三电磁铁10，第三电磁铁10的下方对应设有第一次品盒12；过程1)检测结果为不合格时，在鼓形滚子1被传送到上传送带输送装置2与下传送带输送装置3重叠部分的下侧后，第一电磁铁8不断电，第二电磁铁9不通电，第三电磁铁10通电，鼓形滚子1随上传送带输送装置2继续移动，到达第一次品盒12上方后，第三电磁铁10断电，使不合格的鼓形滚子1落入第一次品盒12内。该结构可以进行次品鼓形滚子1的淘汰和分选，大幅优化了检测过程，通过提前淘汰部分次品，减少了第三CMOS面阵拍摄相机6和第四CMOS面阵拍摄相机7的工作量，有利于提高检测效率。

所述下传送带输送装置3内部在传送末端位置设有第四电磁铁11，第四电磁铁11的下方对应设有第二次品盒13；过程3)检测结果为不合格时，鼓形滚子1传送至下传送带装置3的末端后，第四电磁铁11通电，将其吸住，继续传送，在鼓形滚子1被传送到下传送带输送装置3的末端下侧后，第四电磁铁11断电，不合格的鼓形滚子1落入第二次品盒13，淘汰余下的次品。

所述下传送带输送装置3高度可调，检测时，将下传送带装置3的高度调节至距离上传送带输送装置2相当于1.2倍鼓形滚子1高度的位置；所述上传送带输送装置2的下表面和下传送带输送装置3的表面材料为棉帆布；

所述上传送带输送装置2的输送带表面等间距一组用于放置鼓形滚子1的定位标记槽15；上传送带输送装置2与下传送带输送装置3重叠区域的长度为10cm；相邻两定位标记槽15的间距为10cm；所述下传送带输送装置3的传送速度4cm/s；所述上传送带输送装置2的传送速度6cm/s。上述的两个运动传送速度既可以保证较高的传送效率，又可以进一步确保鼓形滚子1可以准确且稳定的落至下传送带输送装置3上。

检测时，各CMOS面阵拍摄相机、上传送带输送装置2、下传送带输送装置3，以及各电磁铁均与计算机连接，由计算机控制它们的工作。检测时，通过红外传感器识别鼓形滚子1是否到达某个指定位置。(例如：在CMOS面阵拍摄相机下方对应设置红外传感器，在鼓形滚子1到达CMOS面阵拍摄相机下方位置时，红外传感器发送信号给计算机，计算机控制CMOS面阵拍摄相机执行拍摄动作，并对该鼓形滚子1进行计数标记；在上下传送带输送装置的重叠区域设置红外传感器，鼓形滚子1到达该区域时，红外传感器发送信号给计算机，计算机对该鼓形滚子1进行计数标记，并根据与该计数标记相对应的过程1)的检测结果由计算机控制相关电磁铁进行相应的动作)

具体的工作过程如下：

1)将鼓形滚子1竖立于上传送带输送装置2的定位标记槽15内，使其随上传送带输送装置2移动，在鼓形滚子1移动至第一CMOS面阵拍摄相机4的下方时，第一CMOS面阵拍摄相机4完成对鼓形滚子1的上端面及其倒角面的图像采集，采集的图像如图5所示，其中，内圆为端面图像，外圈的圆环为倒角面图像，然后传送给计算机，由计算机判断是否存在瑕疵；在鼓形滚子1移动至第二CMOS面阵拍摄相机5的下方时，第二CMOS面阵拍摄相机5完成对鼓形滚子1侧面上半部分的图像采集，采集的图像如图3所示，并发送给计算机，其中最外圈的圆环为大部分侧面图像，内圈的两个同心圆为上端面及倒角面图像，但是通过环侧面展开镜头拍摄的端面及倒角面图像清晰度较差，计算机只对最外圈的圆环进行处理，得到如图4所示的侧面展开图，计算机通过侧面展开图判断上侧面是否存在瑕疵；

2)鼓形滚子1被传送到上传送带输送装置2的末端后，第一电磁铁8通电将其吸住，继续随上传送带装置2移动，在鼓形滚子1被传送到上传送带输送装置2和下传送带输送装置3的重叠区域后，若步骤1的检测结果中没有发现瑕疵，第一电磁铁8断电，第二电磁铁9通电，鼓形滚子1落入下传送带输送装置3，完成180度翻转，然后随下传送带输送装置3移动；若步骤1的检测结果中发现存在瑕疵时，第一电磁铁8和第三电磁铁10保持通电，第二电磁铁9断电，待鼓形滚子1被传送至第一次品盒12上方时，第三电磁铁10断电，鼓形滚子1掉入第一次品盒12内；

3)鼓形滚子1被下传送带输送装置传送到第三CMOS面阵拍摄相机6和第四CMOS面阵拍摄相机7的下方时，分别完成另一个端面及其倒角面的图像采集和另一半侧面的图像采集，发送给计算机，由计算机判断是否存在瑕疵；

4)整个检测过程均合格的，即为合格品。

鼓形滚子1在过程3)的检测中没有发现瑕疵时，待鼓形滚子1被传送至下传送带输送装置3末端时，第四电磁铁15断电，由工作人员或机械手直接将质量合格的鼓形滚子1取走，打包入库；若步骤3的检测结果显示存在瑕疵时鼓形滚子1被传送至下传送带输送装置3末端的下表面时，末端的第四电磁铁15断电，鼓形滚子1掉入第二次品盒13内。

计算机判断是否存在瑕疵即是将采集到的图像进行分析，并与各种瑕疵类型的阈值进行比较，判断瑕疵。

马氏体不锈钢是目前作为轴承和滚子制作材料主要的一类不锈钢，由于马氏体不锈钢可以被磁铁吸附，所以可以通过上述的检测方法进行检测。

本发明的方法除了使用红外传感器识别鼓形滚子1是否到达某个指定位置，也可以利用时序控制相关元器件的工作。(在传送速度、上料速度确定的情况下，鼓形滚子1到达各指定位置的时间时确定的，所以，只需让计算机在设定时间控制相关元器件动作即可，利用时间控制相关元器件动作虽可以节省硬件成本，但是容易在长时间检测后因存在传送速度误差出现失效的问题)

圆柱滚子的情况与鼓形滚子类似，如何高效、高质量地采集圆柱滚子表面轮廓图像的问题，也阻碍了机器视觉技术在圆柱滚子检测中的应用。

本发明所提供的检测方法和检测装置，也可以用于圆柱滚子的全表面瑕疵检测。检测时，第一CMOS面阵拍摄相机4和第三CMOS面阵拍摄相机6用于对圆柱滚子1的端面和倒角面检测，第二CMOS面阵拍摄相机5或第四CMOS面阵拍摄相机7用于对圆柱滚子1的柱面检测(第二CMOS面阵拍摄相机5或第四CMOS面阵拍摄相机7只需要一台工作即可)。

以第二CMOS面阵拍摄相机5工作，第四CMOS面阵拍摄相机7不工作为例，具体检测过程如下：

1)将圆柱滚子竖立于上传送带输送装置2的定位标记槽15内，使其随上传送带输送装置2移动，在圆柱滚子移动至第一CMOS面阵拍摄相机4的下方时，第一CMOS面阵拍摄相机4完成对鼓形滚子1的上端面及其倒角面的图像采集，然后传送给计算机，由计算机判断是否存在瑕疵；在圆柱滚子移动至第二CMOS面阵拍摄相机5的下方时，第二CMOS面阵拍摄相机5完成对圆柱滚子圆柱面的图像采集，并发送给计算机，通过环侧面展开镜头拍摄的端面及倒角面图像清晰度较差，计算机只对最外圈的圆环进行处理，得到侧面展开图，计算机通过侧面展开图判断上侧面是否存在瑕疵；

2)圆柱滚子被传送到上传送带输送装置2的末端后，第一电磁铁8通电将其吸住，继续随上传送带装置2移动，在圆柱滚子被传送到上传送带输送装置2和下传送带输送装置3的重叠区域后，若步骤1的检测结果中没有发现瑕疵，第一电磁铁8断电，第二电磁铁9通电，圆柱滚子落入下传送带输送装置3，完成180度翻转，然后随下传送带输送装置3移动；若过程1)的检测结果中发现存在瑕疵时，第一电磁铁8和第三电磁铁10保持通电，第二电磁铁9断电，待圆柱滚子被传送至第一次品盒12上方时，第三电磁铁10断电，圆柱滚子掉入第一次品盒12内；

3)圆柱滚子被下传送带输送装置传送到第三CMOS面阵拍摄相机6下方时，完成另一个端面及其倒角面的图像采集发送给计算机，由计算机判断是否存在瑕疵；

4)整个检测过程均合格的，即为合格品。

圆柱滚子在过程3)的检测中没有发现瑕疵时，待圆柱滚子被传送至下传送带输送装置3末端时，第四电磁铁15断电，由工作人员或机械手直接将质量合格的圆柱滚子取走，打包入库；若步骤3的检测结果显示存在瑕疵时圆柱滚子被传送至下传送带输送装置3末端的下表面时，末端的第四电磁铁15断电，圆柱滚子掉入第二次品盒13内。

可见，本申请同时提供了一种专用于检测圆柱滚子全表面瑕疵的检测装置，该装置相比于前述的鼓形滚子的检测装置不具有第二CMOS面阵拍摄相机5或第四CMOS面阵拍摄相机7。

上述对本申请中涉及的发明的一般性描述和对其具体实施方式的描述不应理解为是对该发明技术方案构成的限制。本领域所属技术人员根据本申请的公开，可以在不违背所涉及的发明构成要素的前提下，对上述一般性描述或/和具体实施方式(包括实施例)中的公开技术特征进行增加、减少或组合，形成属于本申请保护范围之内的其它的技术方案。

Claims (10)

1.鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：

实现该方法的检测装置包括水平设置的上传送带输送装置和下传送带输送装置；下传送带输送装置位于上传送带输送装置下方且下传送带输送装置的起始端与上传送带输送装置的末端呈部分重叠状设置；所述上传送带输送装置内部，在与下传送带输送装置重叠的区域，设有第一电磁铁；对应的，所述下传送带输送装置内部，在与上传送带输送装置重叠的区域，设有第二电磁铁；所述上传送带输送装置的上方设有装有平面拍摄镜头的第一CMOS面阵拍摄相机和装有环侧面展开镜头的第二CMOS面阵拍摄相机；所述下传送带输送装置的上方设有装有平面拍摄镜头的第三CMOS面阵拍摄相机和装有环侧面展开镜头的第四CMOS面阵拍摄相机；

检测过程如下：

1)将鼓形滚子竖立于上传送带输送装置上，随上传送带输送装置移动，在鼓形滚子移动至第一CMOS面阵拍摄相机和第二CMOS面阵拍摄相机的下方时，分别完成对鼓形滚子上端面及其倒角面的图像采集和侧面上半部分的图像采集，并送给计算机，由计算机判断是否存在瑕疵，完成上半轮廓表面的检测；

2)鼓形滚子被传送到上传送带输送装置的末端后，第一电磁铁通电将其吸住，继续传送，在鼓形滚子被传送到上传送带输送装置的与下传送带输送装置重叠部分的下侧后，第一电磁铁断电，第二电磁铁通电，鼓形滚子落入下传送带输送装置，完成180度翻转，然后随下传送带输送装置移动；

3)鼓形滚子被下传送带输送装置传送到第三CMOS面阵拍摄相机和第四CMOS面阵拍摄相机的下方时，分别完成另一个端面及其倒角面的图像采集和另一半侧面的图像采集，并传送给计算机，由计算机判断是否存在瑕疵，完成另一半轮廓表面的检测；

4)整个检测过程均合格的，即为合格品。

2.根据权利要求1所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述上传送带输送装置的下表面和下传送带输送装置的表面材料为棉帆布、尼龙或PVC；所述上传送带输送装置的下表面和下传送带输送装置的上表面之间的距离为待检测鼓形滚子高度的1.2～1.5倍。

3.根据权利要求2所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述上传送带输送装置内部紧邻着第一电磁铁设有第三电磁铁，第三电磁铁的下方对应设有第一次品盒；过程1)检测结果为不合格时，在鼓形滚子被传送到上传送带输送装置与下传送带输送装置重叠部分的下侧后，第一电磁铁不断电，第二电磁铁不通电，第三电磁铁通电，鼓形滚子随第一传送带输送装置继续移动，到达第一次品盒上方后，第三电磁铁断电，使不合格的鼓形滚子落入第一次品盒内。

4.根据权利要求3所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述下传送带输送装置内部在传送末端位置设有第四电磁铁，第四电磁铁的下方对应设有第二次品盒；过程3)检测结果为不合格时，鼓形滚子传送至下传送带装置的末端后，第四电磁铁通电，将其吸住，继续传送，在鼓形滚子被传送到下传送带输送装置的末端下侧后，第四电磁铁断电，不合格的鼓形滚子落入第二次品盒。

5.根据权利要求2、3或4所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述上传送带输送装置和所述下传送带输送装置均为定速传动；所述下传送带输送装置的传送速度与所述上传送带输送装置的传送速度之和不超过10cm/s。

6.根据权利要求5所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述上传送带输送装置的输送带表面等间距一组用于放置鼓形滚子的定位标记槽；所述下传送带输送装置的传送速度为所述上传送带输送装置的传送速度的60～80％。

7.根据权利要求6所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述下传送带输送装置的传送速度4cm/s；所述上传送带输送装置的传送速度6cm/s。

8.根据权利要求1所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所有CMOS面阵拍摄相机均安装于可调节高度的支架上。

9.根据权利要求1所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：所述上传送带输送装置和/或所述下传送带输送装置的高度可调。

10.根据权利要求6-9任一权利要求所述的鼓形滚子的全表面瑕疵检测方法，其特征在于：上传送带输送装置与下传送带输送装置重叠区域的长度为5～10cm；相邻两定位标记槽的间距为10～15cm。