CN109791089A - 检查装置、检查方法以及程序 - Google Patents

检查装置、检查方法以及程序 Download PDF

Info

Publication number
CN109791089A
CN109791089A CN201780060501.0A CN201780060501A CN109791089A CN 109791089 A CN109791089 A CN 109791089A CN 201780060501 A CN201780060501 A CN 201780060501A CN 109791089 A CN109791089 A CN 109791089A
Authority
CN
China
Prior art keywords
light
brightness
emitting surface
light source
bright
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201780060501.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109791089B (zh
Inventor
小西嘉典
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp filed Critical Omron Corp
Publication of CN109791089A publication Critical patent/CN109791089A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109791089B publication Critical patent/CN109791089B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21SNON-PORTABLE LIGHTING DEVICES; SYSTEMS THEREOF; VEHICLE LIGHTING DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR VEHICLE EXTERIORS
    • F21S2/00Systems of lighting devices, not provided for in main groups F21S4/00 - F21S10/00 or F21S19/00, e.g. of modular construction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/0001Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems
    • G02B6/0011Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems the light guides being planar or of plate-like form
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
    • G02F1/1336Illuminating devices
    • G02F1/133615Edge-illuminating devices, i.e. illuminating from the side
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T1/00General purpose image data processing
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • G06T7/0008Industrial image inspection checking presence/absence
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/0001Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems
    • G02B6/0011Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems the light guides being planar or of plate-like form
    • G02B6/0065Manufacturing aspects; Material aspects
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30121CRT, LCD or plasma display

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Planar Illumination Modules (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

检查装置具有:图像取得部,其取得作为拍摄面光源装置的发光面而得到的图像的发光面图像;***,其在发光面图像内的可能出现不良情况的位置设定检查范围,从检查范围中检测比下限阈值亮的区域即亮区域,计算对亮区域的大小和亮区域的亮度双方进行评价的评价值,根据评价值判定不良情况的有无;以及输出部,其输出由***得到的信息。

Description

检查装置、检查方法以及程序
技术领域
本发明涉及用于检查边缘光型的面光源装置的不良情况的技术。
背景技术
作为液晶显示装置的背光源(back light),使用边缘光型(Edge lit)的面光源装置。边缘光型是指这样的结构:沿着面光源装置的发光面的端缘(edge)配置LED(LightEmitting Diode:发光二极管)等光源,利用板状的导光器(Light guide,称为导光板)将从光源出射的光引导至发光面。由于边缘光型的面光源装置比较容易小型化、薄型化,因此在例如智能手机这样的小型电子设备中被广泛采用。
在边缘光型的面光源装置中,由于导光板的模具或成形的不良、以及组装时的偏差等各种原因,有时会发生与亮度不均匀相关的不良情况。作为那样的不良情况之一,存在如下情况:在除配置有光源的部分的端部出现与基准亮度相比极度亮的部分(在本说明书中,该不良情况被称为“亮边(Bright edge)”)。
目前的实际情况是,这种不良情况的检查依赖于人(检查人员)的目视的感观检查。因此,存在检查需要花费功夫以及成本、个人性的水平高低等问题,需求检查的自动化和客观化(定量化)。
另外,虽然不是面光源装置的检查,但是在专利文献1中提出了通过图像处理来自动检查液晶面板的亮度不均(在该文献中称为“斑点(Stain)缺陷”)的方法。然而,本发明人尝试了能否将该文献的方法应用于亮边的检查,但是未能得到接近人的感官检查的结果。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2007-172397号公报
发明内容
发明要解决的课题
本发明是鉴于上述实际情况而提出的,目的在于提供一种用于客观且自动地检查在边缘光型的面光源装置中产生的与亮度不均匀相关的不良情况的技术。
用于解决课题的手段
为了实现上述目的,在本发明中,导入用于对亮边的产生程度进行定量化的新的评价值(评价指标)。并且,本发明提出了根据拍摄面光源装置的发光面而得到的图像自动地计算评价值并根据该评价值自动进行亮边的检查的算法。
具体而言,本发明的第1方式提供一种检查装置,其检查与面光源装置的发光面内的亮度不均匀相关的不良情况,其中,所述面光源装置是边缘光型的面光源装置,所述面光源装置具有:光源,其沿着所述发光面的一条边配置;和导光板,其将从所述光源出射的光引导至所述发光面,所述不良情况是指在所述发光面中的、除配置有所述光源的部分以外的端部出现比基准亮度亮的部分的不良情况,
所述检查装置具有:图像取得部,其取得作为拍摄所述发光面而得到的图像的发光面图像;***,其在所述发光面图像内的可能出现所述不良情况的位置设定检查范围,从所述检查范围中检测比下限阈值亮的区域即亮区域,计算对所述亮区域的大小和所述亮区域的亮度双方进行评价的评价值,根据所述评价值判定所述不良情况的有无;以及输出部,其输出由所述***得到的信息。
根据该结构,基于拍摄面光源装置的发光面而得到的图像来计算表示亮边的产生程度的评价值,并且,根据该评价值能够判定亮边的有无。因此,能够客观且自动地检查亮边。而且,由于本发明使用评价亮区域的大小和亮区域的亮度双方的评价值,因此能够得到接近以往的感官检查(人的目视检查)的结果。
在所述亮区域内包含比上限阈值亮的部分的情况下,所述***也可以在所述评价值的计算中,将比所述上限阈值亮的部分的亮度评价得比实际小。例如,在所述亮区域内包含比上限阈值亮的部分的情况下,所述***在所述评价值的计算中,也可以将比所述上限阈值亮的部分的亮度视为与所述上限阈值相同的亮度。
在亮边处有时会出现局部极度亮的点。在这样的情况下,如果将该点的亮度直接反映到评价值中,则评价值会变得过大,有可能与人的感官检查的结果背离。因此,通过如本发明那样设定上限阈值,减小比上限阈值亮的部分的亮度对评价值产生的影响,从而即使在存在极度亮的点的情况下,也能够得到适当的(接近人的感官检查的)评价值。
也可以是,在所述发光面图像是具有与第1方向平行的边和与第2方向平行的边的矩形的图像且所述不良情况沿着与第2方向平行的边出现的情况下,所述***生成表示所述检查范围内的第1方向上的亮度值的变化的一维的亮度分布,将所述亮度分布中亮度值超过所述下限阈值的第1方向上的范围检测为所述亮区域,计算由所述亮区域内的所述亮度分布、以及表示所述亮区域的第1方向上的范围的2条直线、表示基准亮度的直线和表示所述上限阈值的直线包围的封闭区域的面积作为所述评价值。
这里,“亮区域的第1方向上的范围”相当于亮区域的大小,“表示基准亮度的直线”与“亮度分布”之间的宽度、以及“表示基准亮度的直线”与“表示上限阈值的直线”之间的宽度相当于亮区域的亮度(与基准亮度的亮度差)。因此,封闭区域的面积与评价亮区域的大小和亮区域的亮度双方的评价值中的一个对应。通过将这样的封闭区域的面积用作评价值,能够通过简单的计算得到妥当的评价值。
所述基准亮度也可以是所述检查范围的所述亮度分布内最小的亮度值。人容易将局部区域内的相对的亮度的变动感知为亮度不均。因此,根据检查范围内的最小亮度设定基准亮度,从而能够进行局部的(即检查范围内的)亮度不均的妥当的评价。
所述下限阈值和所述上限阈值可以根据所述基准亮度来设定。例如,将所述下限阈值设定为所述基准亮度的约1.025倍的值,将所述上限阈值设定为所述基准亮度的约1.15倍的值时,能够得到与人的感官检查非常接近的评价值。
所述检查范围的第2方向上的宽度可以小于所述发光面图像的第2方向上的宽度。这是因为,有时仅在发光面图像的第2方向上的宽度的一部分出现亮边。
所述输出部也可以输出所述评价值和所述不良情况的有无的判定结果。利用判定结果的输出,能够立即判断亮边的有无和/或面光源装置的良好/不良。此外,由于还输出评价值,因此能够确认判定结果的依据,提高判定结果的认同性、客观性。
所述输出部也可以输出在所述发光面图像、或者对所述发光面图像进行加工而得到的图像上重叠了表示出现所述不良情况的位置的信息的图像。通过输出这样的重叠图像,能够直观且简单地掌握出现亮边的问题部位,还有利于实物的确认作业。
所述输出部也可以输出所述检查范围的亮度分布。通过输出亮度分布,能够掌握亮区域的大小以及相对于基准亮度的亮度差等。
另外,本发明能够理解为具有上述结构或功能的至少一部分的检查装置或亮边定量化装置。此外,本发明还可以理解为是包含上述处理的至少一部分的检查方法、检查装置的控制方法、亮边定量化方法、以及用于使计算机执行这些方法的程序、或者非临时性地记录有那样的程序的计算机可读取的记录介质。只要不产生技术上的矛盾,上述结构和处理分别都能够相互组合而构成本发明。
发明效果
根据本发明,能够自动且客观地检查与在边缘光型的面光源装置中产生的亮度不均匀相关的不良情况。
附图说明
图1是例示面光源装置的基本结构的立体图。
图2的(A)和图2的(B)是示出亮边的一例的图。
图3是示出检查装置的硬件结构的图。
图4是示出与检查装置的亮边检查处理相关的功能的框图。
图5是检查装置中的亮边检查处理的流程图。
图6的(A)是示出输入图像的一例的图,图6的(B)是示出从输入图像中提取的发光面图像的一例的图。
图7的(A)是示出检查范围内的图像的一例的图,图7的(B)是示出一维的亮度数据一例的图。
图8的(A)是归一化后的亮度数据(亮度分布)的一例,图8的(B)是说明亮边评价值的图。
图9是示出检查结果的输出画面的一例的图。
具体实施方式
本发明涉及用于利用客观的(定量的)评价值来评价在边缘光型的面光源装置中是否发生了被称为亮边的不良情况并自动检查亮边的有无的检查技术。该检查技术优选能够应用于例如面光源装置的生产线的最终工序中的在线检查、或制造组装有面光源装置的产品的制造商的部件(面光源装置)的验收检查等。另外,在以下实施方式中,叙述了被用作液晶显示装置的背光源的面光源装置的例子,但本发明的检查技术还能够应用于照明装置、数字标牌等(digital signage)等其它用途中使用的面光源装置的检查。
以下,参照附图对用于实施本发明的优选方式的一例进行说明。但是,以下的实施方式中记载的装置的结构和动作只是一例,本发明的范围不限于这些实施方式。
(面光源装置)
图1是例示面光源装置1的基本结构的立体图。面光源装置1具备导光板(导光器)10、多个光源11、挠性印刷基板(下面也表述为“FPC”)12、框架13以及固定部件14。此外,面光源装置1具备配置在导光板10的下表面侧的反射片(sheet)15。此外,面光源装置1具备在导光板10的上表面侧依次层叠的扩散片16、棱镜片17a、17b以及遮光片18。
导光板10大致呈板状,是由聚碳酸酯树脂或聚甲基丙烯酸甲酯树脂等透光性的材料成形的。导光板10的上侧的面成为光出射的发光面(也称为光出射面)。导光板10利用全反射将从光源11导入导光板10内的光引导至发光面,使发光面整体大致均匀地发光。
光源11例如是出射白色光的LED光源。但是,也可以使用白色以外的LED光源或LED光源以外的光源,也可以使用多种颜色(例如RGB)的光源。光源11被安装于FPC12,接受来自FPC12的供电而被驱动。在本实施方式中,8个光源11沿着导光板10的发光面的一条短边(称为“第1边”)等间隔地配置成一列。
框架13是具有开口且由4条边构成的框状部件。框架13是由含有氧化钛的聚碳酸酯树脂等成形的。导光板10嵌入框架13中,框架13的内周面包围形成导光板10的外周面的侧面。框架13具有较高的反射率,其对光进行反射,使得导光板10内的光不从导光板10的外周面漏出。在框架13的一边设有收纳光源11的收纳部,在收纳部设有反射来自光源11的光的反射壁。
固定部件14配置在FPC12的下表面等,用于固定FPC12、框架13和导光板10。固定部件14例如是上下面为粘合面的双面粘合带,但是不限于双面粘合带。反射片15是由反射率较高的白色树脂片或金属箔等构成的平滑的片,其对光进行反射,使得导光板10内的光不从导光板10的下侧面漏出。扩散片16是半透明的树脂薄膜,使从导光板10的发光面发出的光扩散而扩大光的指向特性。棱镜片17a和17b是上表面形成有三角棱镜状的细微图案的透明树脂薄膜,对由扩散片16扩散后的光进行聚光,使从上表面侧观察面光源装置1时的亮度上升。遮光片18是上下两面为粘合面的黑色粘合片。遮光板18呈框状,其抑制光的漏出。
(亮边)
在图1所例示的边缘光型的面光源装置中,由于导光板10的模具或成形的不良、各种部件组装时的偏差、以及各种片材15~18的贴合时的偏差等各种原因,有时会发生与亮度不均匀相关的不良情况。作为那样的不良情况之一,存在在除配置有光源11的部分的端部出现与基准亮度相比极度亮的部分的、被称为“亮边”的不良情况。亮边是由于从光源11入射到导光板10的光不能传送到发光面侧而到达导光板10的端部而产生的,是发生频度最高的不良情况之一。如图2的(A)所示,还存在沿着与配置有光源11的边(第1边)21相对的边22出现亮边20的情况、以及如图2的(B)所示,沿着与配置有光源11的边21垂直的边23,24出现亮边20的情况。另外,还存在导光板为矩形以外的形状(例如,圆形、椭圆形、多边形、非对称形状等)的情况,但无论是何种形状的导光板,都有可能在除配置有光源的部分(即,来自光源的光入射的部分)以外的端部产生亮边。
本发明人在实现亮边的定量化算法的构建和检测的自动化时,对以往的感官检查的步骤和检查结果进行了分析,得到了如下见解。
(1)检查人员关注明显比周围更明亮的区域(称为“亮区域”)。如果是比周围稍亮的程度,则亮度不均匀不明显,因此不成为问题。
(2)检查人员判断为,亮区域的面积越大,亮度不均匀越明显。
(3)检查人员判断为,亮区域与其周围的亮度差越大,亮度不均匀越明显。但是,当亮度差超过某一水平时,检查人员感觉到的亮度不均匀的程度几乎不变。
根据以上的见解,本发明人设计了评价亮区域的大小和亮区域的亮度双方的评价值(称为“亮边评价值”),利用该评价值对亮边的产生程度进行了定量化。评价亮区域的大小和亮区域的亮度双方的评价值意味着,例如,评价值依赖于亮区域的大小和亮区域的亮度双方,或者,评价值与亮区域的大小和亮区域的亮度分别正相关。通过导入这样的评价值,能够定量且客观地理解亮边的产生程度,能够使以往依赖于感官检查的亮边检查自动化。以下,对本实施方式的亮边评价值以及使用该亮边评价值的检查处理的一个具体例详细地进行说明。
(检查装置)
使用图3对本发明的实施方式的检查装置3的结构进行说明。图3是示出检查装置3的硬件结构的图。该检查装置3是定量地评价面光源装置1中的亮边的产生程度、自动判定有无应作为缺陷排除的亮边的装置。
如图3所示,检查装置3大致具有信息处理装置(计算机)30、摄像装置31、载台32、恒流电源33。信息处理装置30由通用或专用的计算机构成,该计算机具有作为硬件处理器的CPU(中央运算处理装置)、作为主存储的存储器、非临时性地存储程序和数据的存储装置(硬盘、闪存等)、输入装置(鼠标、键盘、触摸面板等)、显示装置、与摄像装置31的接口、以及网络接口等。
摄像装置31是拍摄载置于载台32上的面光源装置1并输出数字图像的装置。作为摄像装置31,例如可以使用具有光学***、摄像元件、与信息处理装置30的接口等的数字照相机。由于目的是面光源装置1的亮度测量,如果面光源装置1是单色光源,则可以是单色照相机,如果面光源装置1是多种颜色的光源,则优选为彩色照相机。载台32是载置作为检查对象的面光源装置1的工作台。恒流电源33是向面光源装置1供给电力的装置。虽未图示,但是摄像装置31和载台32也可以设于洁净台(clean bench)内。
当面光源装置1的型号不同时,发光面的大小(纵横的尺寸)和/或发光亮度有可能不同。因此,还优选的是,根据检查对象的发光面的大小来调整载台32与摄像装置31之间的距离或摄像装置31的变焦,由此进行由摄像装置31得到的图像的1个像素与发光面上的实际尺寸之间的对应关系的校准(calibration)。此外,还优选的是,根据检查对象的发光亮度来调整摄像装置31的曝光时间,由此进行由摄像装置31得到的图像的平均亮度的校准。这些校准可以由信息处理装置30自动执行,也可以由操作人员手动进行。
图4是示出与检查装置3的亮边检查处理相关的功能的框图。检查装置3具有图像取得部40、***41、输出部42和存储部43。图像取得部40是从摄像装置31取得拍摄作为检查对象的面光源装置1而得到的图像数据的功能。***41是通过分析由图像取得部40取得的图像数据来检查亮边的有无的功能。输出部42是向显示装置输出图像数据、检查结果等信息的功能。存储部43是存储检查处理中使用的阈值等设定数据的功能。对于这些功能的详细情况,容后再述。
图4所示的功能基本上是通过信息处理装置30的CPU从存储装置加载所需的程序并执行来实现的。但是,也可以用ASIC或FPGA等电路来代替这些功能的一部分或全部。此外,也可以利用云计算或分布式计算技术,通过其它计算机来执行这些功能的一部分或全部。
(检查处理)
参照图5,对亮边检查处理的流程进行说明。图5是检查装置3中的亮边检查处理的流程图。
首先,检查人员将面光源装置1的发光面朝向摄像装置31一侧地配置在载台32上的规定位置。然后,将面光源装置1与恒流电源33连接而驱动光源11,使面光源装置1成为点亮状态。另外,在本实施方式的检查装置3中,通过手动作业进行检查对象的设置,但是也可以使检查对象的导入、定位、与电源的连接、以及排出等自动化。
在步骤S50中,摄像装置31拍摄点亮状态的面光源装置1,图像取得部40从摄像装置31取入图像数据。图像的分辨率是任意的,在本实施方式中,使用1个像素约为0.1mm(发光面上的实际尺寸)的分辨率的图像。
在步骤S51中,图像取得部40从在步骤S50中取入的输入图像中仅提取发光面的区域。之后,将这里提取出的发光面的区域的图像称为发光面图像。图6的(A)是输入图像60的一例,图6的(B)是从输入图像60提取出的发光面图像61的一例。在本实施方式中,生成使发光面的长边与图像的X轴平行的发光面图像61。
发光面的区域的提取可以使用任何方法。例如,图像取得部40可以(1)将原图像二值化,(2)通过闭处理(closing process)去除背景区域(发光面以外的区域)的噪声,然后,(3)提取发光面的轮廓。进而,在发光面的轮廓相对于图像坐标系倾斜的情况下,还可以进行倾斜校正(旋转校正)。或者,当检查对象在载台上的定位精度足够高的情况下,也可以仅切出原图像中的规定范围。
接下来,***41进行发光面图像61的检查。在本实施方式中,如图6的(B)所示,将沿着与发光面图像的Y方向平行的边出现的亮边作为检查对象(即,X方向与本发明的“第1方向”对应,Y方向与本发明的“第2方向”对应。)。
首先,在步骤S52中,***41对发光面图像61设定检查范围(也称为窗口(window))。检查范围是在不良情况的检测和评价的计算中使用的局部区域,被设定为发光面图像61内可能出现不良情况的位置。在图6的(B)的例子中,由于光源配置在发光面图像61的左侧,因此可以沿着发光面图像61的右端设定检查范围62。以下,作为一例,对使用X方向宽度:100像素(相当于约10mm)、Y方向宽度:200像素(相当于约20mm)的四边形的检查范围62的例子进行说明。但是,检查范围62的尺寸和形状是任意的,只要根据检查对象的发光面的大小或亮边的出现范围等适当设计即可。
在步骤S53中,***41根据检查范围62内的图像生成表示检查范围62内的X方向上的亮度值的变化的一维的亮度分布。例如,***41针对检查范围62内的图像的各列(列是指在Y方向上排列的200个像素)计算亮度值(像素值)的平均,得到一维的亮度数据(100列的亮度平均值的数据)。图7的(A)示出检查范围62内的图像的例子,图7的(B)示出一维的亮度数据的例子。图7的(B)的曲线图的横轴表示检查范围62内的X方向上的像素位置,纵轴表示平均亮度值。接下来,***41对一维的亮度数据实施平滑化处理而降低噪声之后,用基准亮度值进行归一化。基准亮度值是没有亮边的区域的亮度值(通常的亮度值)。在本实施方式中,将一维的亮度数据中最小的亮度值用作基准亮度值。但是,基准亮度值的确定方法不限于此。例如,可以将一维的亮度数据中的左端(最靠光源侧)的亮度值选择为基准亮度值,也可以将发光面图像整体或中央部分的亮度的平均值或最频值选择为基准亮度值。或者,也可以使用在存储部43中预先设定的固定值。图8的(A)是归一化后的亮度数据的例子。纵轴表示设基准亮度值为1.0时的归一化亮度值。在本实施方式中,归一化后的亮度数据被称为亮度分布80。
在步骤S54中,***41根据亮度分布检测出亮区域。亮区域是指在检查范围中比下限阈值亮的区域。在本实施方式中,将下限阈值设为基准亮度值1.025倍的值,将亮度分布中亮度值超过下限阈值的X方向范围检测为亮区域(图8的(A))。这里,设置下限阈值是因为,如果与基准亮度值(即周围区域的亮度值)的亮度差较小(下限阈值以下),则亮度不均匀不明显,在亮边的评价中无需考虑。
在步骤S54中检测出亮区域的情况下,进入步骤S55,在未检测出亮区域的情况下,进入步骤S56。在步骤S55中,***41根据亮区域的亮度分布计算亮边评价值。具体而言,如图8的(B)所示,***41计算由亮区域内的亮度分布80、表示亮区域的X方向范围的2条直线81及82、表示基准亮度值的直线83和表示上限阈值的直线84包围的封闭区域(阴影区域)85的面积,将该面积值作为该检查范围的亮边评价值。
封闭区域85的横向宽度相当于亮区域的大小,封闭区域85的纵向宽度相当于亮区域的亮度(与基准亮度值的亮度差)。因此,封闭区域85的面积值与评价亮区域的大小和亮区域的亮度双方的评价值相对应。
这里,设置上限阈值的理由如下。在亮边处有时会出现局部极度亮的点。在这样的情况下,如果将该点的亮度直接用于亮边评价值的计算,则评价值会变得过大,有可能与人的感官检查的结果背离。这是因为,在人的感官检查中,当亮度超过某个水平时,对亮度不均的评价几乎不产生影响(即,当亮度超过某个水平时,人存在着感觉到相同程度的亮度不均而与实际的亮度值无关的倾向。)因此,通过如本实施方式那样设定上限阈值,减小比上限阈值亮的部分的亮度对评价值产生的影响,从而即使在存在极度亮的点的情况下,也能够得到妥当的(接近人的感官检查的)评价值。上限阈值可以根据感官检查的结果或实验结果等设定为适当的值。在本实施方式中,将上限阈值设定为基准亮度值的1.15倍的值。
在步骤S56中,***41判断是否对全部检查范围求取了评价值,在存在未处理的检查范围的情况下,返回步骤S52,将检查范围在Y方向上错开规定间距(例如5mm),反复进行亮度分布的生成以及亮边评价值的计算(步骤S53~S55)。在对全部检查范围执行了步骤S52~S55的处理之后,进入步骤S57。
***41从全部检查范围的亮边评价值中选择最大的值作为代表评价值(步骤S57),将代表评价值与判定阈值进行比较(步骤S58)。判定阈值是用于判定亮边的有无的阈值,可以根据感官检查的结果或实验结果等预先确定。***41在代表评价值大于判定阈值的情况下判定为“有亮边”(步骤S59),在不大于的情况下判定为“无亮边”(步骤S60)。
在步骤S61中,输出部42生成输出由***41得到的信息的画面,并输出至显示装置。图9是检查结果的输出画面的一例。在该输出画面中显示有从摄像装置31取入的输入图像90、从输入图像90切出的发光面图像91、以及对发光面图像81实施了用于使亮度不均明显的加工而得到的加工图像(例如伪彩色图像等)92。此外,在发光面图像91上重叠地显示有表示亮边出现的位置的信息(例如,表示亮边评价值超过判定阈值的检查范围的信息)93。此外,还显示亮边评价值的最大值(代表评价值)94和判定结果95、以及观测到该代表评价值的检查范围的亮度分布96。
根据上述的本实施方式的检查装置3,基于拍摄面光源装置1的发光面而得到的图像计算表示亮边的产生程度的评价值,并且,根据该评价值能够判定亮边的有无。因此,能够客观且自动地检查亮边。而且,由于使用评价亮区域的大小和亮区域的亮度双方的评价值,因此能够得到接近以往的感官检查(人的目视检查)的结果。
此外,通过输出图9所示的检查结果,检查人员能够立即判断亮边的有无和/或面光源装置1的良好/不良。此外,由于还输出亮边评价值,因此能够确认判定结果的依据,提高判定结果的认同性、客观性。此外,由于在发光面图像91上重叠地显示有表示亮边的位置的信息93,因此能够直观且简单地掌握出现亮边的问题部位,也有利于实物的确认作业。另外,由于还显示亮度分布96,因此能够掌握明亮区域的大小以及相对于基准亮度的亮度差等。
(其它)
上述实施方式的说明只不过是例示性地说明了本发明。本发明不限于上述的具体方式,能够在其技术思想的范围内进行各种变形。例如,在上述实施方式中例示了具有矩形的发光面的面光源装置,但是发光面的形状不限于矩形。此外,上述亮边评价值只是一例,只要是能够评价亮区域的大小和亮度双方的评价值,则可以任意设计。在上述图5的检查处理中,仅将沿着发光面图像的与Y方向平行的边出现的亮边作为检查对象,但是,如图2的(B)所示,也可以将沿着与X方向平行的边出现的亮边作为检查对象。在该情况下,例如,可以沿着发光面图像的上端和/或下端设定检查范围,基于检查范围内的Y方向上的亮度分布求取亮边评价值。当然,也可以将沿着与Y方向平行的边出现的亮边和沿着与X方向平行的边出现的亮边双方作为检查对象。此外,即使在亮边出现的边与X方向和Y方向都不平行的情况下、或者是曲线的边的情况下,也能够将检查范围设定为沿着该边、或者通过对发光面图像进行仿射变换(Affine transformation)使该边成为与X方向或Y方向平行的直线,从而以与上述实施方式相同的方法进行亮边的检查。
标号说明
1:面光源装置;
10:导光板、11:光源、20:亮边;
3:检查装置、30:信息处理装置、31:摄像装置、32:载台、33:恒流电源;
40:图像取得部、41:***、42:输出部、43:存储部;
60:输入图像、61:发光面图像;
80:亮度分布。

Claims (13)

1.一种检查装置,其检查与面光源装置的发光面内的亮度不均匀相关的不良情况,其特征在于,
所述面光源装置是边缘光型的面光源装置,所述面光源装置具有:光源,其沿着所述发光面的一条边配置;和导光板,其将从所述光源出射的光引导至所述发光面,
所述不良情况是指在所述发光面中的、除配置有所述光源的部分以外的端部出现比基准亮度亮的部分的不良情况,
所述检查装置具有:
图像取得部,其取得作为拍摄所述发光面而得到的图像的发光面图像;
***,其在所述发光面图像内的可能出现所述不良情况的位置设定检查范围,从所述检查范围中检测比下限阈值亮的区域即亮区域,计算对所述亮区域的大小和所述亮区域的亮度双方进行评价的评价值,根据所述评价值判定所述不良情况的有无;以及
输出部,其输出由所述***得到的信息。
2.根据权利要求1所述的检查装置,其特征在于,
在所述亮区域内包含比上限阈值亮的部分的情况下,所述***在所述评价值的计算中,将比所述上限阈值亮的部分的亮度评价得比实际小。
3.根据权利要求1所述的检查装置,其特征在于,
在所述亮区域内包含比上限阈值亮的部分的情况下,所述***在所述评价值的计算中,将比所述上限阈值亮的部分的亮度视为与所述上限阈值相同的亮度。
4.根据权利要求2或3所述的检查装置,其特征在于,
在所述发光面图像是具有与第1方向平行的边和与第2方向平行的边的矩形的图像且所述不良情况沿着与第2方向平行的边出现的情况下,
所述***生成表示所述检查范围内的第1方向的亮度值的变化的一维的亮度分布,将所述亮度分布中亮度值超过所述下限阈值的第1方向上的范围检测为所述亮区域,
计算由所述亮区域内的所述亮度分布、表示所述亮区域的第1方向上的范围的2条直线、表示基准亮度的直线和表示所述上限阈值的直线包围的封闭区域的面积,作为所述评价值。
5.根据权利要求4所述的检查装置,其特征在于,
所述基准亮度是所述检查范围的所述亮度分布内最小的亮度值。
6.根据权利要求4或5所述的检查装置,其特征在于,
所述下限阈值被设定为所述基准亮度的约1.025倍的值。
7.根据权利要求4至6中的任一项所述的检查装置,其特征在于,
所述上限阈值被设定为所述基准亮度的约1.15倍的值。
8.根据权利要求4至7中的任一项所述的检查装置,其特征在于,
所述检查范围的第2方向上的宽度小于所述发光面图像的第2方向上的宽度。
9.根据权利要求4至8中的任一项所述的检查装置,其特征在于,
所述输出部输出所述评价值、以及所述不良情况的有无的判定结果。
10.根据权利要求4至9中的任一项所述的检查装置,其特征在于,
所述输出部输出在所述发光面图像、或者对所述发光面图像进行加工而得到的图像上重叠了表示出现所述不良情况的位置的信息的图像。
11.根据权利要求4至10中的任一项所述的检查装置,其特征在于,
所述输出部输出所述检查范围的亮度分布。
12.一种检查方法,其用于检查与面光源装置的发光面内的亮度不均匀相关的不良情况,其特征在于,
所述面光源装置是边缘光型的面光源装置,所述面光源装置具有:光源,其沿着所述发光面的一条边配置;和导光板,其将从所述光源出射的光引导至所述发光面,
所述不良情况是指在所述发光面中的、除配置有所述光源的部分以外的端部出现比基准亮度亮的部分的不良情况,
所述检查方法包括如下步骤:
取得作为拍摄所述发光面而得到的图像的发光面图像;
在所述发光面图像内的可能出现所述不良情况的位置设定检查范围;
从所述检查范围中检测比下限阈值亮的区域即亮区域;
计算对所述亮区域的大小和所述亮区域的亮度双方进行评价的评价值;
根据所述评价值判定所述不良情况的有无;以及
输出判定的结果。
13.一种程序,其特征在于,
所述程序用于使计算机执行权利要求12所述的检查方法的各步骤。
CN201780060501.0A 2016-12-15 2017-10-26 检查装置、检查方法以及计算机可读取的记录介质 Active CN109791089B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016-243248 2016-12-15
JP2016243248A JP6265254B1 (ja) 2016-12-15 2016-12-15 検査装置および検査方法
PCT/JP2017/038687 WO2018110112A1 (ja) 2016-12-15 2017-10-26 検査装置、検査方法、およびプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109791089A true CN109791089A (zh) 2019-05-21
CN109791089B CN109791089B (zh) 2021-03-05

Family

ID=61020751

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201780060501.0A Active CN109791089B (zh) 2016-12-15 2017-10-26 检查装置、检查方法以及计算机可读取的记录介质

Country Status (7)

Country Link
US (1) US10585045B2 (zh)
EP (1) EP3557217B1 (zh)
JP (1) JP6265254B1 (zh)
KR (1) KR20190041009A (zh)
CN (1) CN109791089B (zh)
TW (1) TWI639977B (zh)
WO (1) WO2018110112A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113252557A (zh) * 2021-04-08 2021-08-13 成都小淞科技有限公司 条纹结构光喷涂瑕疵检出光源装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11132787B2 (en) * 2018-07-09 2021-09-28 Instrumental, Inc. Method for monitoring manufacture of assembly units
US20220318667A1 (en) * 2021-03-30 2022-10-06 Accenture Global Solutions Limited Intelligent real-time defect prediction, detection, and ai driven automated correction solution
JP2022187661A (ja) * 2021-06-08 2022-12-20 富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 表面検査装置及びプログラム
CN117889751B (zh) * 2024-03-18 2024-05-28 珠海新立电子科技有限公司 一种fpc的贴片精度检测方法及***

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005207808A (ja) * 2004-01-21 2005-08-04 Nidec Copal Corp 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP2007172397A (ja) * 2005-12-22 2007-07-05 Seiko Epson Corp エッジ勾配検出方法、シミ欠陥検出方法、エッジ勾配検出装置、シミ欠陥検出装置
CN102494304A (zh) * 2011-11-30 2012-06-13 深圳市百得力电子有限公司 一种提高侧发光背光源亮度的***及方法
CN103925992A (zh) * 2013-01-16 2014-07-16 光宝电子(广州)有限公司 具有背光的装置的亮度测量方法及***
CN104791671A (zh) * 2015-05-08 2015-07-22 京东方科技集团股份有限公司 一种背光源、测试***及其测试方法和显示装置
CN104898312A (zh) * 2015-06-25 2015-09-09 京东方科技集团股份有限公司 一种背光源检测装置及检测方法
CN105934665A (zh) * 2014-02-25 2016-09-07 欧姆龙株式会社 检查装置、检查方法、程序以及记录介质

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI226959B (en) 2003-09-30 2005-01-21 Startech Co Ltd Plane light-source device for identifying images
JP2006300913A (ja) * 2005-04-20 2006-11-02 Selcon Technologies Inc 導光板外観検査装置
JP2007333449A (ja) * 2006-06-13 2007-12-27 Heiwa Tokei Mfg Co Ltd 検査装置
KR101068364B1 (ko) * 2007-07-11 2011-09-28 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 검사장비 및 그 검사방법
US9651729B2 (en) * 2010-04-16 2017-05-16 Flex Lighting Ii, Llc Reflective display comprising a frontlight with extraction features and a light redirecting optical element
CN102435618A (zh) 2010-09-29 2012-05-02 旭硝子株式会社 透明板状体的缺陷检查方法及装置
WO2013016729A1 (en) * 2011-07-28 2013-01-31 Massachusetts Institute Of Technology Optical tactile sensor
JP2015042942A (ja) * 2013-08-26 2015-03-05 シャープ株式会社 画像処理装置、欠陥検出装置、画像処理方法、プログラム、及び、記録媒体
EP3521253A1 (en) * 2013-12-19 2019-08-07 Corning Incorporated Textured surfaces for display applications
JP7026309B2 (ja) * 2015-01-29 2022-02-28 株式会社 デクシス 光学式外観検査装置、及びこれを用いた光学式外観検査システム
EP3410180B1 (en) * 2016-03-10 2019-12-11 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Liquid crystal backlight device
CN106054309A (zh) 2016-07-28 2016-10-26 滁州佳宏光电有限公司 一种高光效、亮度均匀的导光板及其制造方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005207808A (ja) * 2004-01-21 2005-08-04 Nidec Copal Corp 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP2007172397A (ja) * 2005-12-22 2007-07-05 Seiko Epson Corp エッジ勾配検出方法、シミ欠陥検出方法、エッジ勾配検出装置、シミ欠陥検出装置
CN102494304A (zh) * 2011-11-30 2012-06-13 深圳市百得力电子有限公司 一种提高侧发光背光源亮度的***及方法
CN103925992A (zh) * 2013-01-16 2014-07-16 光宝电子(广州)有限公司 具有背光的装置的亮度测量方法及***
CN105934665A (zh) * 2014-02-25 2016-09-07 欧姆龙株式会社 检查装置、检查方法、程序以及记录介质
CN104791671A (zh) * 2015-05-08 2015-07-22 京东方科技集团股份有限公司 一种背光源、测试***及其测试方法和显示装置
CN104898312A (zh) * 2015-06-25 2015-09-09 京东方科技集团股份有限公司 一种背光源检测装置及检测方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113252557A (zh) * 2021-04-08 2021-08-13 成都小淞科技有限公司 条纹结构光喷涂瑕疵检出光源装置
CN113252557B (zh) * 2021-04-08 2023-02-03 成都小淞科技有限公司 条纹结构光喷涂瑕疵检出光源装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP3557217B1 (en) 2022-04-13
US10585045B2 (en) 2020-03-10
TW201824180A (zh) 2018-07-01
WO2018110112A1 (ja) 2018-06-21
TWI639977B (zh) 2018-11-01
CN109791089B (zh) 2021-03-05
JP2018096904A (ja) 2018-06-21
EP3557217A4 (en) 2020-05-20
EP3557217A1 (en) 2019-10-23
JP6265254B1 (ja) 2018-01-24
KR20190041009A (ko) 2019-04-19
US20190285554A1 (en) 2019-09-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109791089A (zh) 检查装置、检查方法以及程序
CN109791088A (zh) 检查装置、检查方法以及程序
JP5659623B2 (ja) 露出属性の設定方法およびコンピューター読み取り可能な記憶媒体
CN111145138B (zh) Led灯板的检测方法、装置、设备及存储介质
CN106226033B (zh) 检测透光基板透过率的方法及装置
KR101739096B1 (ko) 디스플레이 패널 외관 검사 장치 및 그 검사 방법
CN207439372U (zh) 检测***
JP6337949B1 (ja) スジ状領域検出装置およびスジ状領域検出方法
JP2000019064A (ja) フィルム評価方法およびフィルム評価装置
JP2015175821A (ja) 防眩性検査装置、方法、及びプログラム
JP2023121518A (ja) 外観検査装置、外観検査装置の制御方法、および外観検査装置の制御プログラム
KR20230023420A (ko) 다채널 led 조명의 균일도 측정장치 및 이를 이용한 다채널 led 조명의 균일도 측정방법
JP2000111492A (ja) 周期性パターンのムラ検査方法
KR20030043506A (ko) 냉연강판 표면결함 검출장치
JP2017215187A (ja) ワークの反り量測定方法及び反り量測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant