JP6337949B1 - スジ状領域検出装置およびスジ状領域検出方法 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 49
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 94
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims abstract description 27
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 6
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 39
- 238000001914 filtration Methods 0.000 abstract description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 45
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 28
- 230000008569 process Effects 0.000 description 20
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 17
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 14
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000006870 function Effects 0.000 description 12
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 10
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 9
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 6
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 2
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 2
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 2
- 230000001953 sensory effect Effects 0.000 description 2
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/10—Segmentation; Edge detection
- G06T7/11—Region-based segmentation
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/40—Analysis of texture
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06T1/00—General purpose image data processing
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
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- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/10—Segmentation; Edge detection
- G06T7/12—Edge-based segmentation
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/60—Analysis of geometric attributes
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/20—Special algorithmic details
- G06T2207/20024—Filtering details
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30121—CRT, LCD or plasma display
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Theoretical Computer Science (AREA)
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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- Liquid Crystal (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【課題】画像から任意の幅のスジ状領域を検出可能なフィルタリング手法を提供する。【解決手段】スジ状領域検出装置は、画像を取得する画像取得部と、第1方向に沿う輝度の増加に反応する第1フィルタを前記画像に適用し、前記第1フィルタの適用位置における前記第1フィルタの応答値である、第1応答値を取得する第1フィルタ演算部と、前記第1方向に沿う輝度の減少に反応する第2フィルタを前記画像に適用し、前記第2フィルタの適用位置における前記第2フィルタの応答値である、第2応答値を取得する第2フィルタ演算部と、前記第1応答値と前記第2応答値を統合した統合値に基づいて、前記第1フィルタの適用位置と前記第2フィルタの適用位置との間の前記第1方向に沿う距離に対応する幅をもつ、スジ状領域を検出する検出部と、前記検出部により得られた情報を出力する出力部と、を有する。【選択図】図6
Description
本発明は、画像内のスジ状領域を検出するための技術に関する。
液晶表示装置のバックライトとして、エッジライト型(Edge-lit)の面光源装置が用いられている。エッジライト型とは、面光源装置の発光面の端縁(エッジ)に沿ってLED(Light Emitting Diode)などの光源を配置し、光源から出射された光を板状のライトガイド(導光板と呼ばれる)により発光面に導く構成である。エッジライト型の面光源装置は、小型化・薄型化が比較的容易であることから、例えばスマートフォンのような小型の電子機器において広く採用されている。
エッジライト型の面光源装置では、導光板の金型や成形の不良、アセンブル時のズレなどの様々な原因により、輝度の不均一に関する不具合が発生することがある。そのような不具合の一つに、ある方向に沿って直線的に延びるスジ状の明領域又は暗領域が現れる、というものがある。明領域とは周囲に比べて輝度が相対的に高い領域であり、暗領域とは周囲に比べて輝度が相対的に低い領域である。本明細書ではこの種の不具合を「スジ状領域」又は「スジ状欠陥」と呼ぶ。
現状、この種の不具合の検査は、ヒト(検査員)の目視による官能検査に依存しているのが実情である。それゆえ、検査に要する手間及びコスト、属人性の高さなどの課題があり、検査の自動化と客観化(定量化)が求められている。
特許文献1には、液晶パネル等の表示デバイスやその応用製品であるプロジェクタにおけるスジ状欠陥を画像処理によって自動で検査する方法が提案されている。その方法は、被検査物を撮影した画像に対し、スジ状欠陥の輝度変化パターンに一致するカーネルをもつフィルタを走査することで、スジ状欠陥を検出するというものである。
特許文献1に記載の方法は、カーネルに一致する輝度変化パターンをもつスジ状欠陥は精度良く検出できるものの、それ以外のスジ状欠陥(例えば、幅が異なるスジ状欠陥など)は検出できないか、検出精度が著しく低下するおそれがある。したがって、検出しなければならないスジ状欠陥の幅が不定の場合(つまり、様々な幅のスジ状欠陥を検出しなければならない場合)には、想定される幅にあわせて多数のフィルタを用意しなければならず、メモリ容量の増大によるコスト増の問題が生じる。しかも、多数のフィルタによる走査を行うと、欠陥検出に要する処理時間が長大になるという課題もある。
本発明は上記実情に鑑みてなされたものであって、画像から任意の幅のスジ状領域を検出可能なフィルタリング手法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明では、2種類のフィルタを用い、各フィルタの応答値を組み合わせた統合値に基づいてスジ状領域の検出を行う、というアルゴリズムを提案
する。
する。
具体的には、本発明の第一態様は、画像を取得する画像取得部と、第1方向に沿う輝度の増加に反応する第1フィルタを前記画像に適用し、前記第1フィルタの適用位置における前記第1フィルタの応答値である、第1応答値を取得する第1フィルタ演算部と、前記第1方向に沿う輝度の減少に反応する第2フィルタを前記画像に適用し、前記第2フィルタの適用位置における前記第2フィルタの応答値である、第2応答値を取得する第2フィルタ演算部と、前記第1応答値と前記第2応答値を加算又は平均した統合値を計算し、前記統合値が所定の閾値より大きい場合に、前記第1フィルタの適用位置と前記第2フィルタの適用位置との間の前記第1方向に沿う距離に対応する幅をもつ、スジ状領域があると判定する検出部と、前記検出部により得られた情報を出力する出力部と、を有するスジ状領域検出装置を提供する。
この構成によれば、第1フィルタの適用位置と第2フィルタの適用位置との第1方向に沿う距離(以後、「フィルタ間隔」と呼ぶ。)を所望の値に設定することにより、検出するスジ状領域の幅を変えることができる。したがって、2つのフィルタだけで、任意の幅のスジ状領域を検出可能である。よって、フィルタ設計の工数ならびにフィルタ用のメモリ容量を大幅に削減することができる。
ここで、「第1方向に沿う輝度の増加に反応する」とは、フィルタが適用される局所領域において、画像の輝度が第1方向に沿って増加傾向にある場合に、フィルタの応答値が正の値となることをいう。また、「第1方向に沿う輝度の減少に反応する」とは、フィルタが適用される局所領域において、画像の輝度が第1方向に沿って減少傾向にある場合に、フィルタの応答値が正の値となることをいう。なお、「第1方向」は、画像の水平方向でもよいし、垂直方向でもよいし、斜め方向でもよい。
前記第1フィルタ演算部は、前記第1フィルタの適用位置を変えて、複数の第1応答値を取得し、前記第2フィルタ演算部は、前記第2フィルタの適用位置を変えて、複数の第2応答値を取得し、前記検出部は、前記複数の第1応答値と前記複数の第2応答値のうちから選択する第1応答値と第2応答値の組み合わせを変えることにより、幅の異なる複数種類のスジ状領域を検出可能としてもよい。
この構成によれば、幅の異なる複数種類のスジ状領域を検出するために必要なフィルタ演算量を、従来方法(検出する幅毎の複数のフィルタを用いる方法)に比べて、大幅に削減することができる。したがって、本発明の方法は、2種類以上のスジ状領域が検出対象となる場合や、スジ状領域の幅が不定である場合において、従来方法よりも処理時間を大幅に短縮できるという有利な効果を奏する。
前記第1フィルタ演算部は、前記第1フィルタの適用位置を前記第1方向にシフトしながら、複数の第1応答値を取得し、前記第2フィルタ演算部は、前記第2フィルタの適用位置を前記第1方向にシフトしながら、複数の第2応答値を取得し、前記検出部は、前記複数の第1応答値と前記複数の第2応答値のうちから、前記統合値が最大となる第1応答値と第2応答値の組み合わせを選択し、最大の前記統合値に基づいてスジ状領域の有無を判定してもよい。
このような「最大の統合値」を用いることにより、画像内の任意の位置に現れる任意の幅のスジ状領域を精度良く検出することができる。
前記スジ状領域は、前記第1方向と直交する第2方向に沿って延びる領域であり、前記第1フィルタ演算部は、前記第1フィルタの適用位置を前記第2方向にシフトしながら、複数の第1応答値を取得し、前記第2フィルタ演算部は、前記第2フィルタの適用位置を
前記第2方向にシフトしながら、複数の第2応答値を取得し、前記検出部は、前記複数の第1応答値と前記複数の第2応答値を統合した統合値を計算し、前記統合値に基づいて前記第2方向に沿って延びるスジ状領域の有無を判定してもよい。
前記第2方向にシフトしながら、複数の第2応答値を取得し、前記検出部は、前記複数の第1応答値と前記複数の第2応答値を統合した統合値を計算し、前記統合値に基づいて前記第2方向に沿って延びるスジ状領域の有無を判定してもよい。
第2方向に沿って同じ幅の明領域又は暗領域が長く延びているほど、上記統合値は大きい値をとる。したがって、このような統合値を用いることにより、第2方向に沿って延びるスジ状領域を精度良く検出することができる。
前記出力部は、前記評価値と、前記スジ状領域の有無の判定結果とを出力してもよい。ユーザは、判定結果の出力をみることで、スジ状領域の有無を即座に判断することができる。また、評価値も出力されるので、判定結果の根拠が確認でき、判定結果の納得性・客観性が向上する。
前記出力部は、前記画像又は前記画像を加工した画像の上に、前記スジ状領域が検出された位置を示す情報を重畳した画像を、出力してもよい。このような重畳画像を出力することにより、スジ状領域が現れている箇所を直観的かつ簡易に把握することができ、現物の確認作業にも有用である。
前記出力部は、前記第1方向に沿う輝度値の変化を示す1次元の輝度プロファイルを出力してもよい。輝度プロファイルを出力することにより、スジ状領域の状態(周囲との輝度の差)を把握することができる。
例えば、前記画像取得部により取得される前記画像は、面光源装置の発光面を撮影した画像であり、前記検出部は、前記発光面内の輝度の不均一により現れるスジ状の明領域又は暗領域を検出するものであってもよい。すなわち、本発明を面光源装置の検査に利用してもよい。
なお、本発明は、上記構成ないし機能の少なくとも一部を有するスジ状領域検出装置、スジ状領域定量化装置、スジ状領域の検査装置として捉えることができる。また、本発明は、上記処理の少なくとも一部を含む、スジ状領域検出方法、スジ状領域定量化方法、スジ状領域の検査方法や、これらの方法をコンピュータに実行させるためのプログラム、又は、そのようなプログラムを非一時的に記録したコンピュータ読取可能な記録媒体として捉えることもできる。上記構成及び処理の各々は技術的な矛盾が生じない限り互いに組み合わせて本発明を構成することができる。
本発明によれば、画像から任意の幅のスジ状領域を検出可能なフィルタリング手法を提供することができる。
本発明は、フィルタを用いて画像からスジ状領域を検出するための技術に関する。この技術は、一般的な画像認識や画像解析に適用することができる。以下では、本発明の好ましい実施形態として、本発明を面光源装置のスジ状領域の検査に応用した例を説明する。この検査は、例えば、面光源装置の製造ラインにおける最終工程でのインライン検査や、面光源装置を組み込んだ製品を製造するメーカにおける部品(面光源装置)の受入検査などに適用できる。なお、以下の実施形態では、液晶表示装置のバックライトとして用いられる面光源装置の例を述べるが、本発明の検査技術は、照明装置やデジタルサイネージなど、他の用途に用いられる面光源装置の検査にも応用することができる。
以下、図面を参照して本発明を実施するための好ましい形態の一例を説明する。ただし、以下の実施形態に記載されている装置の構成や動作は一例であり、本発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。
<第1実施形態>
(面光源装置)
図1は、面光源装置1の基本的な構成を例示する斜視図である。面光源装置1は、導光板(ライトガイド)10、複数の光源11、フレキシブルプリント基板(以下、「FPC」とも表記する)12、フレーム13、及び固定部材14を備える。また、面光源装置1は、導光板10の下面側に配置される反射シート15を備える。さらに、面光源装置1は、導光板10の上面側に順に積層される拡散シート16、プリズムシート17a、17b、及び遮光シート18を備える。
(面光源装置)
図1は、面光源装置1の基本的な構成を例示する斜視図である。面光源装置1は、導光板(ライトガイド)10、複数の光源11、フレキシブルプリント基板(以下、「FPC」とも表記する)12、フレーム13、及び固定部材14を備える。また、面光源装置1は、導光板10の下面側に配置される反射シート15を備える。さらに、面光源装置1は、導光板10の上面側に順に積層される拡散シート16、プリズムシート17a、17b、及び遮光シート18を備える。
導光板10は、概略板状で、ポリカーボネート樹脂やポリメチルメタクリレート樹脂等の透光性の素材で成形される。導光板10の上側の面は、光が出射する発光面(光出射面とも称す)となっている。導光板10は、光源11から導光板10内へ導入された光を、全反射を利用して発光面に導き、発光面の全体が略均一に光るようにしたものである。
光源11は、例えば白色光を出射するLED光源である。ただし、白色以外のLED光源やLED光源以外の光源が用いられてもよいし、複数色(例えばRGB)の光源が用いられてもよい。光源11はFPC12に実装されており、FPC12からの給電を受けて駆動される。本実施形態では、導光板10の発光面の一の短辺(「第1の辺」と呼ぶ)に沿って8個の光源11が等間隔に一列に配置されている。
フレーム13は、開口を有し、四辺からなる枠状の部材である。フレーム13は、酸化チタンを含有したポリカーボネート樹脂等により成形される。フレーム13には、導光板10がはめ込まれ、フレーム13の内周面が導光板10の外周面を形成する側面を囲う。フレーム13は、高い反射率を有しており、導光板10内の光が導光板10の外周面から漏れないように光を反射する。フレーム13の一辺には、光源11を収容する収容部が設けられ、収容部には、光源11からの光を反射する反射壁が設けられる。
固定部材14は、FPC12の下面等に配置され、FPC12とフレーム13と導光板10を固定する。固定部材14は、例えば、上下面が粘着面となった両面粘着テープであるが、両面粘着テープに限られるものではない。反射シート15は、反射率の高い白色樹脂シートや金属箔などからなる平滑なシートであり、導光板10内の光が導光板10の下側面から漏れないように光を反射する。拡散シート16は、半透明な樹脂フィルムであり、導光板10の発光面から発せられた光を拡散させて光の指向特性を広げる。プリズムシート17a及び17bは、上面に三角プリズム状の微細なパターンが形成された透明な樹脂フィルムあり、拡散シート16によって拡散された光を集光し、面光源装置1を上面側から見た場合の輝度を上昇させる。遮光シート18は、上下両面が粘着面となった黒色の粘着シートである。遮光シート18は額縁状となっており、光が漏れ出ることを抑制する。
(スジ状領域)
図1に例示したエッジライト型の面光源装置では、導光板10の金型や成形の不良、各種部材のアセンブル時のズレ、各種シート15〜18の貼り合せ時のズレなどの様々な原因により、輝度の不均一に関する不具合が発生することがある。そのような不具合の一つに、直線的に延びるスジ状領域がある。図2にスジ状領域の一例を模式的に示す。スジ状領域には、周囲に比べて輝度が相対的に高い明領域(20,21)と、周囲に比べて輝度が相対的に低い暗領域(22,23)とがある。また、導光板10の発光面の長辺に平行に延びる縦スジ(22)、導光板10の発光面の短辺に平行に延びる横スジ(21,22)、斜めに延びる斜めスジ(23)がある。
図1に例示したエッジライト型の面光源装置では、導光板10の金型や成形の不良、各種部材のアセンブル時のズレ、各種シート15〜18の貼り合せ時のズレなどの様々な原因により、輝度の不均一に関する不具合が発生することがある。そのような不具合の一つに、直線的に延びるスジ状領域がある。図2にスジ状領域の一例を模式的に示す。スジ状領域には、周囲に比べて輝度が相対的に高い明領域(20,21)と、周囲に比べて輝度が相対的に低い暗領域(22,23)とがある。また、導光板10の発光面の長辺に平行に延びる縦スジ(22)、導光板10の発光面の短辺に平行に延びる横スジ(21,22)、斜めに延びる斜めスジ(23)がある。
(検査装置)
図3を用いて、本発明の実施形態に係るスジ状領域検出装置を具備した検査装置3の構成を説明する。図3は検査装置3のハードウェア構成を示す図である。この検査装置3は、面光源装置1におけるスジ状領域の発生度合いを定量的に評価し、不良品として排除すべきスジ状領域の有無を自動で判定する装置である。
図3を用いて、本発明の実施形態に係るスジ状領域検出装置を具備した検査装置3の構成を説明する。図3は検査装置3のハードウェア構成を示す図である。この検査装置3は、面光源装置1におけるスジ状領域の発生度合いを定量的に評価し、不良品として排除すべきスジ状領域の有無を自動で判定する装置である。
図3に示すように、検査装置3は、概略、情報処理装置(コンピュータ)30と、撮像装置31と、ステージ32と、定電流電源33とを有している。情報処理装置30は、ハードウェアプロセッサであるCPU(中央演算処理装置)、主記憶であるメモリ、非一時的にプログラムやデータを記憶する記憶装置(ハードディスク、フラッシュメモリなど)、入力装置(マウス、キーボード、タッチパネルなど)、表示装置、撮像装置31とのインタフェース、ネットワークインタフェースなどを有する、汎用又は専用のコンピュータにより構成される。
撮像装置31は、ステージ32上に載置された面光源装置1を撮影し、デジタル画像を出力する装置である。撮像装置31としては、例えば、光学系、撮像素子、情報処理装置30とのインタフェースなどを有するデジタルカメラを用いることができる。面光源装置1の輝度計測が目的のため、面光源装置1が単色光源であればモノクロのカメラでも構わないし、面光源装置1が複数色の光源であればカラーのカメラであることが好ましい。ステージ32は、検査対象となる面光源装置1を載置する台である。定電流電源33は、面光源装置1に電力を供給する装置である。図示しないが、撮像装置31及びステージ32は、クリーンベンチ内に設けられていてもよい。
面光源装置1の型番が異なると、発光面の大きさ(縦横の寸法)や発光輝度が異なる可能性がある。したがって、検査対象の発光面の大きさに応じて、ステージ32と撮像装置31の間の距離、又は、撮像装置31のズームを調整することで、撮像装置31で得られる画像の1画素と発光面上の実寸との対応関係のキャリブレーションを行うことも好ましい。また、検査対象の発光輝度に応じて、撮像装置31の露光時間を調整することで、撮
像装置31で得られる画像の平均輝度のキャリブレーションを行うことも好ましい。これらのキャリブレーションは、情報処理装置30が自動で実行してもよいし、作業者が手作業で行ってもよい。
像装置31で得られる画像の平均輝度のキャリブレーションを行うことも好ましい。これらのキャリブレーションは、情報処理装置30が自動で実行してもよいし、作業者が手作業で行ってもよい。
図4は、検査装置3のスジ状領域検出処理に関わる機能を示すブロック図である。検査装置3は、画像取得部40と、第1フィルタ演算部41と、第2フィルタ演算部42と、検出部43と、出力部44と、記憶部45とを有する。画像取得部40は、検査対象となる面光源装置1を撮影した画像データを撮像装置31から取得する機能である。第1フィルタ演算部41及び第2フィルタ演算部42は、フィルタ演算を行う機能である。検出部43は、第1フィルタ演算部41と第2フィルタ演算部42のそれぞれで得られたフィルタ応答値を用いて、スジ状領域を検出する機能である。出力部44は、画像データや検出結果などの情報を表示装置に出力する機能である。記憶部45は、検出処理に用いるフィルタ、判定閾値、応答値、評価値などのデータを記憶する機能である。これらの機能の詳細は後述する。
図4に示す機能は、基本的に、情報処理装置30のCPUが必要なプログラムを記憶装置からロードし、実行することにより実現されるものである。ただし、これらの機能の一部又は全部を、ASICやFPGAなどの回路で代替しても構わない。また、クラウドコンピューティングや分散コンピューティングの技術を利用することで、これらの機能の一部又は全部を他のコンピュータにより実行しても構わない。
(フィルタ)
図5A〜図5D、図6A〜図6Dを用いて、本実施形態のスジ状領域検出処理で用いるフィルタの特徴を説明する。図5A〜図5Dは、従来手法を示し、図6A〜図6Dは本実施形態のフィルタを示している。
図5A〜図5D、図6A〜図6Dを用いて、本実施形態のスジ状領域検出処理で用いるフィルタの特徴を説明する。図5A〜図5Dは、従来手法を示し、図6A〜図6Dは本実施形態のフィルタを示している。
従来手法では、検出したいスジ状領域の幅に合わせてフィルタ(カーネルのサイズや係数)を変えなければならない。図5Aは、幅が狭い明領域50を検出するためのカーネル55を模式的に示し、図5Bは、幅が広い明領域51を検出するためのカーネル56を模式的に示す。ただし、カーネル内の黒色の領域は負の係数(例えば「−1」)、白色の領域は正の係数(例えば「+1」)を表している。これらのフィルタは、カーネルの係数分布とスジ状領域の輝度分布とが一致した場合に、すなわち、カーネル内の白色の領域の幅とスジ状領域の幅とが一致した場合に、最も強く反応する(フィルタの応答値が最も大きくなる)。
また、従来手法では、明領域と暗領域とでフィルタを変える必要もある。図5C及び図5Dは暗領域52、53と、それぞれの幅に対応したカーネル57、58を示している。暗領域用のカーネル57、58は、明領域用のカーネル55、56とは係数の符号が反転している。
これに対し、図6A〜図6Dに示すように、本実施形態では2つのフィルタを組み合わせてスジ状領域の検出を行う。例えば、画像のX方向(図6Aでは右方向)に沿ってスジ状領域が延びていると仮定する。その場合、フィルタとしては、Y方向(図6Aでは下方向)に沿う輝度の増加に反応する第1フィルタ61と、Y方向に沿う輝度の減少に反応する第2フィルタ62の2つを用いる。第1フィルタ61は、スジ状領域の一方のエッジ(Y方向に向かって輝度が暗→明となるエッジ)にのみ反応し、第2フィルタ62は、スジ状領域の他方のエッジ(Y方向に向かって輝度が明→暗となるエッジ)にのみ反応する。したがって、第1フィルタ61の応答値と第2フィルタ62の応答値を統合した統合値(例えば、2つの応答値の合計値、平均値など)を用いれば、2つのフィルタ61、62の間のY方向距離(「フィルタ間隔」と呼ぶ)に対応する幅をもつスジ状領域を検出するこ
とができる。例えば、幅が狭い明領域50を検出する場合には、図6Aのようにフィルタ間隔を狭くすればよく、幅が広い明領域51を検出する場合には、図6Bのようにフィルタ間隔を広くすればよい。さらに、図6C及び図6Dに示すように、第1フィルタ61と第2フィルタ62の位置関係を入れ替えるだけで、暗領域52,53の検出も可能である。
とができる。例えば、幅が狭い明領域50を検出する場合には、図6Aのようにフィルタ間隔を狭くすればよく、幅が広い明領域51を検出する場合には、図6Bのようにフィルタ間隔を広くすればよい。さらに、図6C及び図6Dに示すように、第1フィルタ61と第2フィルタ62の位置関係を入れ替えるだけで、暗領域52,53の検出も可能である。
以上述べたように、従来手法では、スジ状領域の幅や、暗領域と明領域の違いごとに、複数のフィルタを用意する必要があったが、本実施形態では、2つのフィルタ61、62を用いて任意の幅の明領域及び暗領域を検出することができる。
なお、各フィルタのカーネルサイズ及び係数は、想定されるスジ状領域の幅・長さ、輝度分布、方向などに応じて適宜設定すればよい。例えば図7Aは、縦スジ検出用のフィルタの例であり、縦(X方向):30mm×横(Y方向):10mmの大きさを有している。画像の解像度が0.1mm/pixの場合、カーネルサイズは300pix×100pixとなる。第1フィルタ71は、上半分の係数が負の値(例えば「−1」)であり、下半分の係数が正の値(例えば「+1」)である。第2フィルタ72は、第1フィルタ71を上下反転したものとなっており、上半分の係数が正の値、下半分の係数が負の値である。なお、白色と黒色それぞれの領域内の係数は一定値である必要はなく、勾配を有していても良い。また、図7Bは、横スジ検出用の第1フィルタ73及び第2フィルタ74の例であり、図7Cは、斜めスジ検出用の第1フィルタ75及び第2フィルタ76の例である。
(検査処理)
図8のフローチャートに沿って、縦スジの検査処理の流れを説明する。なお、本実施形態では図7Aのフィルタ71、72を用いるものとする。
図8のフローチャートに沿って、縦スジの検査処理の流れを説明する。なお、本実施形態では図7Aのフィルタ71、72を用いるものとする。
まず、検査員が、面光源装置1をステージ32上の所定の位置に、発光面を撮像装置31側に向けて、配置する。そして、面光源装置1を定電流電源33に接続して光源11を駆動し、面光源装置1を点灯状態とする。なお、本実施形態の検査装置3では検査対象の設置を手作業により行うが、検査対象の導入・位置決め・電源との接続・排出などを自動化してもよい。
ステップS80において、撮像装置31が点灯状態の面光源装置1を撮影し、画像取得部40が画像データを撮像装置31から取り込む。画像の解像度は任意であるが、本実施形態では、1画素が約0.1mm(発光面上の実寸)の解像度の画像を用いる。
ステップS81において、画像取得部40が、ステップS80で取り込まれた入力画像から発光面の領域のみを抽出する。ここで抽出された発光面の領域の画像を、以後、発光面画像と呼ぶ。図9Aは入力画像90の一例であり、図9Bは入力画像90から抽出された発光面画像91の一例である。本実施形態では、発光面の長辺が画像のX軸と平行になるように、発光面画像91を生成する。符号92は縦スジ(明領域)を示している。
発光面の領域抽出はどのような方法を用いてもよい。例えば、画像取得部40が、(1)原画像を2値化し、(2)クロージング処理により背景領域(発光面以外の領域)のノイズを除去した後、(3)発光面の輪郭を抽出してもよい。さらに、発光面の輪郭が画像座標系に対して傾いている場合には、傾き補正(回転補正)を行ってもよい。あるいは、検査対象のステージ上の位置決め精度が十分高い場合には、原画像中の所定の範囲を切り出すだけでもよい。
ステップS82では、フィルタ71、72のX方向位置に初期値(例えば、X=15m
m)を設定する。ステップS83では、第1フィルタ演算部41が第1フィルタ71をY方向に走査し、各Y方向位置での第1フィルタ71の応答値(第1応答値と呼ぶ)を計算する。
m)を設定する。ステップS83では、第1フィルタ演算部41が第1フィルタ71をY方向に走査し、各Y方向位置での第1フィルタ71の応答値(第1応答値と呼ぶ)を計算する。
ステップS83の詳細フローを図10に示す。まず第1フィルタ演算部41は、第1フィルタ71のY方向位置に初期値(例えば、Y=5mm)を設定する(ステップS100)。次に、第1フィルタ演算部41は、設定されたX方向位置及びY方向位置を中心とする画像領域に対し第1フィルタ71を適用し、第1フィルタ71の第1応答値を計算する(ステップS101)。第1応答値は、第1フィルタ71の係数と対応する画素値の積和演算の結果である。積和演算の結果が負の値の場合は応答値を0にしてもよい。計算された第1応答値は、第1フィルタ71の適用位置(X方向位置とY方向位置)の情報と共に記憶部45に保持される(ステップS102)。その後、フィルタのY方向位置を1画素ずつシフトしながら(ステップS103)、フィルタが検査範囲のY方向の終端に到達するまで(ステップS104)、ステップS101〜S102の処理を繰り返す。なお、検査範囲は発光面画像91の全体でもよいし、(例えば、縦スジが現れ得るエリアがあらかじめわかっている場合などには)発光面画像91の一部でもよい。
ステップS84では、第2フィルタ演算部42が第2フィルタ72をY方向に走査し、各Y方向位置での第2フィルタ72の応答値(第2応答値と呼ぶ)を計算する。ステップS84の処理は、用いるフィルタが異なる点を除けば、ステップS83の処理と同様である。ステップS84で計算された第2応答値は、第2フィルタ72の適用位置の情報と共に記憶部45に保持される。
ステップS85では、検出部43が、例えば下記式により、第1応答値と第2応答値の統合値の最大値R(x)を計算する。このR(x)の値は、X方向位置:xにおけるスジ状領域の発生度合いを定量化した値であり、以後、「スジ状領域評価値」と呼ぶ。
ここで、R1(x,i)はX方向位置:x,Y方向位置:iにおける第1応答値であり、R2(x,j)はX方向位置:x,Y方向位置:jにおける第2応答値である。ΩはY方向の検査範囲である。また、mはフィルタ71,72のカーネルの白色領域(または黒色領域)のY方向幅であり、|i−j|はiとjの差の絶対値、すなわちフィルタ間隔である。条件|i−j|≧mは、一方のフィルタの白色領域と他方のフィルタの黒色領域が重ならないことを表している。
ここで、R1(x,i)はX方向位置:x,Y方向位置:iにおける第1応答値であり、R2(x,j)はX方向位置:x,Y方向位置:jにおける第2応答値である。ΩはY方向の検査範囲である。また、mはフィルタ71,72のカーネルの白色領域(または黒色領域)のY方向幅であり、|i−j|はiとjの差の絶対値、すなわちフィルタ間隔である。条件|i−j|≧mは、一方のフィルタの白色領域と他方のフィルタの黒色領域が重ならないことを表している。
上記式は、X方向位置xにおいて、2つのフィルタ71,72をY方向にシフト(走査)することで得られる、複数の第1応答値R1(x,i)と複数の第2応答値R2(x,j)のうちから、統合値の最大値R(x)を与える第1応答値と第2応答値の組み合わせを選択することを意味している。
なお、上記式では、図6A及び図6Bのように第1フィルタ71の方が上にある場合と、図6C及び図6Dのように第2フィルタ72の方が上にある場合の両方を考慮するため、明領域と暗領域の両方を検出可能である。すなわち、スジ状領域評価値R(x)を与えるi,jの組み合わせが、i<jの場合は明領域であり、i>jの場合は暗領域である。なお、明領域のみを検出したい場合には上記式においてi<jという制約を加えればよく、暗領域のみを検出したい場合には上記式においてi>jという制約を加えればよい。
ステップS86では、検出部43が、ステップS85で求めたスジ状領域評価値R(x)を判定閾値と比較する。判定閾値はスジ状領域の有無を判定するための閾値であり、官能検査の結果や実験結果などに基づいて予め決めておけばよい。検出部43は、スジ状領域評価値R(x)が判定閾値より大きい場合は「位置xにスジ状領域が発生している」と判定し(ステップS87)、そうでない場合は「位置xにスジ状領域無し」と判定する(ステップS88)。
その後、フィルタのX方向位置を5mmずつ(50画素ずつ)シフトしながら(ステップS89)、フィルタが検査範囲のX方向の終端に到達するまで(ステップS90)、ステップS83〜S89の処理を繰り返す。なお、検査範囲は発光面画像91の全体でもよいし、(例えば、縦スジが現れ得るエリアがあらかじめわかっている場合などには)発光面画像91の一部でもよい。
ステップS91において、出力部44は、検出部43により得られた情報を出力する画面を生成し、表示装置に出力する。図11は検査結果の出力画面の一例である。この出力画面では、撮像装置31から取り込まれた入力画像110と、入力画像110から切り出された発光面画像111と、発光面画像111に対し輝度ムラを目立たせるための加工を施した加工画像(例えば疑似カラー画像など)112が表示されている。また、発光面画像111の上に、スジ状領域が現れている位置を示す情報(例えば、スジ状領域評価値R(x)が判定閾値を超えた画像領域を示す枠)113が重畳表示されている。さらに、スジ状領域評価値の最大値maxR(x)114とその判定結果115、及び、スジ状領域評価値の最大値maxR(x)が得られたX方向位置(図11の一点鎖線)におけるY方向の輝度プロファイル116も表示される。
以上述べた本実施形態の検査装置3によれば、面光源装置1の発光面を撮影した画像を基に、スジ状領域の発生度合いを表す評価値を計算し、かつ、この評価値に基づいてスジ状領域の有無を判定することができる。したがって、スジ状領域を客観的かつ自動的に検査することが可能となる。また、2つのフィルタだけで、任意の幅のスジ状領域を検出可能であるため、従来手法のようにあらかじめ多数のフィルタを用意しておく必要がない。よって、フィルタ設計の工数ならびにフィルタ用のメモリ容量を大幅に削減することができる。
さらに、第1フィルタと第2フィルタについて1回ずつ走査を行い、各適用位置での第1応答値と第2応答値を記憶部に保持した後は、第1応答値と第2応答値の組み合わせを変えて統合値を計算することで、任意の位置の任意の幅のスジ状領域の発生度合いを評価することができる。このアルゴリズムによれば、幅の異なる複数種類のスジ状領域を検出するために必要なフィルタ演算量を、従来方法(検出する幅毎の複数のフィルタを用いる方法)に比べて、大幅に削減することができる。したがって、本実施形態の方法は、2種類以上のスジ状領域が検出対象となる場合や、スジ状領域の幅が不定である場合において、従来方法よりも処理時間を大幅に短縮できるという有利な効果を奏する。
また、図11に示す検査結果を出力することにより、検査員は、スジ状領域の有無や面光源装置1の良/不良を即座に判断することができる。また、スジ状領域評価値も出力されるので、判定結果の根拠が確認でき、判定結果の納得性・客観性が向上する。また、発光面画像111の上にスジ状領域の位置を示す情報113が重畳表示されるので、スジ状領域が現れている問題箇所を直観的かつ簡易に把握することができ、現物の確認作業にも有用である。さらに、輝度プロファイル116も表示されるので、スジ状領域の状態(周囲との輝度の差)を把握することができる。
<第2実施形態>
次に、本発明の第2実施形態について説明する。第1実施形態では、フィルタのX方向位置ごとにスジ状領域評価値を求めたのに対し、第2実施形態では、フィルタ間隔ごと(つまり、スジ状領域の幅ごと)にスジ状領域評価値を求める点が異なる。それ以外の構成については第1実施形態のものと同様であるため、以下では第2実施形態に特有の構成及び処理についてのみ説明する。
次に、本発明の第2実施形態について説明する。第1実施形態では、フィルタのX方向位置ごとにスジ状領域評価値を求めたのに対し、第2実施形態では、フィルタ間隔ごと(つまり、スジ状領域の幅ごと)にスジ状領域評価値を求める点が異なる。それ以外の構成については第1実施形態のものと同様であるため、以下では第2実施形態に特有の構成及び処理についてのみ説明する。
図12及び図13は、第2実施形態における縦スジの検査処理のフローチャートである。まず、ステップS80〜S84,S89,S90の処理によって、各フィルタ71、72をY方向及びX方向にそれぞれ走査し、検査範囲内の各X方向位置・各Y方向位置における第1応答値及び第2応答値を計算し、記憶部45に保持する。これらの処理は第1実施形態の図8のフローチャートにおける同じステップ番号の処理と同様である。
続いて、幅ごとのスジ状領域評価値を計算する。本実施形態では、幅w=4,6,8,10[mm]についてスジ状領域評価値を求める例を示す。
まずステップS120では、検出部43が、幅wに初期値(4mm)を設定する。そして、ステップS121では、検出部43が、Y方向位置yに初期値(例えば5mm)を設定する。
ステップS122では、検出部43は、例えば下記式により、スジ状領域評価値R(y,w)を計算する。このR(y,w)の値は、Y方向位置:yにおける幅:wのスジ状領域の発生度合いを定量化した値である。
ここで、R1(k,y)はX方向位置:k,Y方向位置:yにおける第1応答値であり、R2(k,y+w)はX方向位置:k,Y方向位置:y+wにおける第2応答値である。ΘはX方向の検査範囲である。
ここで、R1(k,y)はX方向位置:k,Y方向位置:yにおける第1応答値であり、R2(k,y+w)はX方向位置:k,Y方向位置:y+wにおける第2応答値である。ΘはX方向の検査範囲である。
上記式は、2つのフィルタ71,72のY方向位置とフィルタ間隔を一定に保ったまま、2つのフィルタ71,72をX方向にシフト(走査)することで得られる、複数の第1応答値R1(k,y)と複数の第2応答値R2(k,y+w)を統合した値R(y,w)を計算することを意味している。
ステップS123では、検出部43が、ステップS122で求めたスジ状領域評価値R(y,w)を判定閾値と比較する。検出部43は、スジ状領域評価値R(y,w)が判定閾値より大きい場合は「位置yに幅wのスジ状領域が発生している」と判定し(ステップS124)、そうでない場合は「位置yに幅wのスジ状領域無し」と判定する(ステップS125)。
その後、yを1画素ずつシフトしながら(ステップS126)、yの値が検査範囲のY方向の終端に到達するまで(ステップS127)、ステップS122〜S125の処理を繰り返す。さらにその後、幅wを2mmずつ増やしながら(ステップS128)、wの値が10mmとなるまで(ステップS129)、ステップS121〜S127の処理を繰り返す。以上で、幅w=4,6,8,10[mm]それぞれのスジ状領域の検出処理が終了する。以降の処理は第1実施形態と同様である。
本実施形態で用いたスジ状領域評価値R(y,w)は、X方向に沿って同じ幅の明領域又は暗領域が長く延びているほど、大きい値をとる。したがってこの評価値R(y,w)を用いてスジ状領域の発生度合いを評価することにより、X方向に沿って延びるスジ状領域(縦スジ)を精度良く検出することができる。
なお、本実施形態では、Y方向位置:yと幅:wの組み合わせごとに評価値R(y,w)を求めている。この方法は画像内に現れている全ての縦スジを検出できるという利点がある。ただし、画像内に最も強く現れている縦スジのみを検出・評価するだけ十分なケースであれば、下記式のような評価値R(w)又は評価値Rを用いてもよい。評価値R(w)は幅:wのスジ状領域の発生度合いを定量化した値であり、評価値Rは任意の幅のスジ状領域の発生度合いを定量化した値である。
<その他>
上記の実施形態の説明は、本発明を例示的に説明するものに過ぎない。本発明は上記の具体的な形態には限定されることはなく、その技術的思想の範囲内で種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では矩形の発光面をもつ面光源装置を例示したが、発光面の形状は矩形に限られない。また、上述したスジ状領域評価値はあくまで一例であり、第1フィルタの第1応答値と第2フィルタの第2応答値を統合した値であればどのように設計してもよい。また、上記実施形態では縦スジの検出処理を例示したが、フィルタのカーネルと走査方向を適宜変えるだけで、横スジや斜めスジの検出が可能であることは言うまでもない。もちろん、縦スジ、横スジ、斜めスジのうち2種類以上のスジ状領域の検出を行ってもよい。
上記の実施形態の説明は、本発明を例示的に説明するものに過ぎない。本発明は上記の具体的な形態には限定されることはなく、その技術的思想の範囲内で種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では矩形の発光面をもつ面光源装置を例示したが、発光面の形状は矩形に限られない。また、上述したスジ状領域評価値はあくまで一例であり、第1フィルタの第1応答値と第2フィルタの第2応答値を統合した値であればどのように設計してもよい。また、上記実施形態では縦スジの検出処理を例示したが、フィルタのカーネルと走査方向を適宜変えるだけで、横スジや斜めスジの検出が可能であることは言うまでもない。もちろん、縦スジ、横スジ、斜めスジのうち2種類以上のスジ状領域の検出を行ってもよい。
1:面光源装置
10:導光板、11:光源、20〜23:スジ状領域
3:検査装置、30:情報処理装置、31:撮像装置、32:ステージ、33:定電流電源
40:画像取得部、41:第1フィルタ演算部、42:第2フィルタ演算部、43:検出部、44:出力部、45:記憶部
61,71,73,75:第1フィルタ
62,72,74,76:第2フィルタ
90:入力画像、91:発光面画像、92:縦スジ
10:導光板、11:光源、20〜23:スジ状領域
3:検査装置、30:情報処理装置、31:撮像装置、32:ステージ、33:定電流電源
40:画像取得部、41:第1フィルタ演算部、42:第2フィルタ演算部、43:検出部、44:出力部、45:記憶部
61,71,73,75:第1フィルタ
62,72,74,76:第2フィルタ
90:入力画像、91:発光面画像、92:縦スジ
Claims (10)
- 画像を取得する画像取得部と、
第1方向に沿う輝度の増加に反応する第1フィルタを前記画像に適用し、前記第1フィルタの適用位置における前記第1フィルタの応答値である、第1応答値を取得する第1フィルタ演算部と、
前記第1方向に沿う輝度の減少に反応する第2フィルタを前記画像に適用し、前記第2フィルタの適用位置における前記第2フィルタの応答値である、第2応答値を取得する第2フィルタ演算部と、
前記第1応答値と前記第2応答値を加算又は平均した統合値を計算し、前記統合値が所定の閾値より大きい場合に、前記第1フィルタの適用位置と前記第2フィルタの適用位置との間の前記第1方向に沿う距離に対応する幅をもつ、スジ状領域があると判定する検出部と、
前記検出部により得られた情報を出力する出力部と、を有する
ことを特徴とするスジ状領域検出装置。 - 前記第1フィルタ演算部は、前記第1フィルタの適用位置を変えて、複数の第1応答値を取得し、
前記第2フィルタ演算部は、前記第2フィルタの適用位置を変えて、複数の第2応答値を取得し、
前記検出部は、前記複数の第1応答値と前記複数の第2応答値のうちから選択する第1応答値と第2応答値の組み合わせを変えることにより、幅の異なる複数種類のスジ状領域を検出可能である
ことを特徴とする請求項1に記載のスジ状領域検出装置。 - 前記第1フィルタ演算部は、前記第1フィルタの適用位置を前記第1方向にシフトしながら、複数の第1応答値を取得し、
前記第2フィルタ演算部は、前記第2フィルタの適用位置を前記第1方向にシフトしながら、複数の第2応答値を取得し、
前記検出部は、前記複数の第1応答値と前記複数の第2応答値のうちから、前記統合値が最大となる第1応答値と第2応答値の組み合わせを選択し、最大の前記統合値に基づい
てスジ状領域の有無を判定する
ことを特徴とする請求項1に記載のスジ状領域検出装置。 - 前記スジ状領域は、前記第1方向と直交する第2方向に沿って延びる領域であり、
前記第1フィルタ演算部は、前記第1フィルタの適用位置を前記第2方向にシフトしながら、複数の第1応答値を取得し、
前記第2フィルタ演算部は、前記第2フィルタの適用位置を前記第2方向にシフトしながら、複数の第2応答値を取得し、
前記検出部は、前記複数の第1応答値と前記複数の第2応答値を統合した統合値を計算し、前記統合値に基づいて前記第2方向に沿って延びるスジ状領域の有無を判定する
ことを特徴とする請求項1に記載のスジ状領域検出装置。 - 前記出力部は、前記統合値と、前記スジ状領域の検出結果とを出力する
ことを特徴とする請求項1〜4のうちいずれか1項に記載のスジ状領域検出装置。 - 前記出力部は、前記画像又は前記画像を加工した画像の上に、前記スジ状領域が検出された位置を示す情報を重畳した画像を、出力する
ことを特徴とする請求項1〜5のうちいずれか1項に記載のスジ状領域検出装置。 - 前記出力部は、前記第1方向に沿う輝度値の変化を示す1次元の輝度プロファイルを出力する
ことを特徴とする請求項1〜6のうちいずれか1項に記載のスジ状領域検出装置。 - 前記画像取得部により取得される前記画像は、面光源装置の発光面を撮影した画像であり、
前記検出部は、前記発光面内の輝度の不均一により現れるスジ状の明領域又は暗領域を検出するものである
ことを特徴とする請求項1〜7のうちいずれか1項に記載のスジ状領域検出装置。 - 画像を取得するステップと、
第1方向に沿う輝度の増加に反応する第1フィルタを前記画像に適用し、前記第1フィルタの適用位置における前記第1フィルタの応答値である、第1応答値を取得するステップと、
前記第1方向に沿う輝度の減少に反応する第2フィルタを前記画像に適用し、前記第2フィルタの適用位置における前記第2フィルタの応答値である、第2応答値を取得するステップと、
前記第1応答値と前記第2応答値を加算又は平均した統合値を計算し、前記統合値が所定の閾値より大きい場合に、前記第1フィルタの適用位置と前記第2フィルタの適用位置との間の前記第1方向に沿う距離に対応する幅をもつ、スジ状領域があると判定するステップと、
検出の結果を出力するステップと、を含む
ことを特徴とするスジ状領域検出方法。 - 請求項9に記載のスジ状領域検出方法の各ステップをコンピュータに実行させるためのプログラム。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016243249A JP6337949B1 (ja) | 2016-12-15 | 2016-12-15 | スジ状領域検出装置およびスジ状領域検出方法 |
KR1020197008961A KR20190040067A (ko) | 2016-12-15 | 2017-10-24 | 줄무늬형 영역 검출 장치, 줄무늬형 영역 검출 방법, 프로그램 |
EP17880750.9A EP3557526B1 (en) | 2016-12-15 | 2017-10-24 | Striated region detection device, striated region detection method, and program |
PCT/JP2017/038324 WO2018110089A1 (ja) | 2016-12-15 | 2017-10-24 | スジ状領域検出装置、スジ状領域検出方法、プログラム |
US16/340,153 US10846869B2 (en) | 2016-12-15 | 2017-10-24 | Streak-like region detecting device, streak-like region detecting method, and program |
CN201780059575.2A CN109791691B (zh) | 2016-12-15 | 2017-10-24 | 条纹状区域检测装置、条纹状区域检测方法、计算机可读取的记录介质 |
TW106136810A TWI647660B (zh) | 2016-12-15 | 2017-10-26 | 條狀區域檢測裝置、條狀區域檢測方法及其程式的記錄媒體 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016243249A JP6337949B1 (ja) | 2016-12-15 | 2016-12-15 | スジ状領域検出装置およびスジ状領域検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP6337949B1 true JP6337949B1 (ja) | 2018-06-06 |
JP2018097717A JP2018097717A (ja) | 2018-06-21 |
Family
ID=62487559
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016243249A Active JP6337949B1 (ja) | 2016-12-15 | 2016-12-15 | スジ状領域検出装置およびスジ状領域検出方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10846869B2 (ja) |
EP (1) | EP3557526B1 (ja) |
JP (1) | JP6337949B1 (ja) |
KR (1) | KR20190040067A (ja) |
CN (1) | CN109791691B (ja) |
TW (1) | TWI647660B (ja) |
WO (1) | WO2018110089A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7004826B2 (ja) * | 2019-08-07 | 2022-01-21 | 株式会社日立ハイテク | 寸法計測装置、寸法計測方法及び半導体製造システム |
Family Cites Families (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1405409A (en) * | 1971-10-08 | 1975-09-10 | Emi Ltd | Colour television cameras |
JP3254288B2 (ja) * | 1993-03-04 | 2002-02-04 | 大日本印刷株式会社 | スジ検査方法 |
US6275600B1 (en) * | 1998-03-09 | 2001-08-14 | I.Data International, Inc. | Measuring image characteristics of output from a digital printer |
JP3574584B2 (ja) * | 1998-12-16 | 2004-10-06 | 富士通株式会社 | 表画像処理装置及びそのプログラム記憶媒体 |
US6393161B1 (en) * | 1999-04-26 | 2002-05-21 | Xerox Corporation | Software system for minimizing image defects in a hard-copy input scanner |
TW424398B (en) * | 1999-06-10 | 2001-03-01 | Chen Yung Chang | Method and system of automatic spectral responsivity measurement for digital color cameras |
US7043080B1 (en) * | 2000-11-21 | 2006-05-09 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Methods and systems for text detection in mixed-context documents using local geometric signatures |
US7116841B2 (en) * | 2001-08-30 | 2006-10-03 | Micron Technology, Inc. | Apparatus, method, and product for downscaling an image |
US7450746B2 (en) * | 2002-06-07 | 2008-11-11 | Verathon Inc. | System and method for cardiac imaging |
AU2003289116A1 (en) * | 2002-12-16 | 2004-07-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Pattern identification method, device thereof, and program thereof |
JP4298283B2 (ja) * | 2002-12-16 | 2009-07-15 | キヤノン株式会社 | パターン認識装置、パターン認識方法、及びプログラム |
JP4266798B2 (ja) * | 2003-12-15 | 2009-05-20 | キヤノン株式会社 | パターン検出装置及びパターン検出方法 |
JP2004289496A (ja) * | 2003-03-20 | 2004-10-14 | Ricoh Co Ltd | 画像再生装置、画像再生方法およびこの方法をコンピュータに実行させるためのプログラム |
US7424169B2 (en) * | 2003-08-15 | 2008-09-09 | Xerox Corporation | Active compensation of streaks using spatial filtering and feedback control |
JP2005346300A (ja) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Seiko Epson Corp | 筋状欠陥検出方法及び装置 |
JP4364275B2 (ja) * | 2005-02-23 | 2009-11-11 | 富士通株式会社 | 画像処理方法、画像処理装置及びコンピュータプログラム |
JP2007285753A (ja) * | 2006-04-13 | 2007-11-01 | Seiko Epson Corp | 欠陥検出方法および欠陥検出装置 |
JP4692371B2 (ja) * | 2006-04-26 | 2011-06-01 | オムロン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム、および画像処理プログラムを記録した記録媒体、ならびに移動物体検出システム |
JP4879263B2 (ja) * | 2006-05-19 | 2012-02-22 | 株式会社日立メディコ | 超音波診断装置及び超音波診断方法 |
JP5675253B2 (ja) * | 2009-12-28 | 2015-02-25 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法及びコンピュータプログラム |
JP2011244085A (ja) * | 2010-05-14 | 2011-12-01 | Sony Corp | 信号処理装置及び信号処理方法 |
JP2012038423A (ja) * | 2010-08-03 | 2012-02-23 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 導光体および面光源装置 |
JP2012042720A (ja) * | 2010-08-19 | 2012-03-01 | Sony Corp | 画像処理装置および方法、並びにプログラム |
JP2012058978A (ja) * | 2010-09-08 | 2012-03-22 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
US9036937B2 (en) * | 2010-11-15 | 2015-05-19 | Qualcomm Incorporated | Fast repeated integral images |
JP5644413B2 (ja) * | 2010-11-22 | 2014-12-24 | 三菱レイヨン株式会社 | 導光体、面光源装置及び画像表示装置 |
JP2012129743A (ja) * | 2010-12-14 | 2012-07-05 | Nec Access Technica Ltd | 画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラム |
US8761454B2 (en) * | 2011-05-10 | 2014-06-24 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Detecting streaks in printed images |
JP6122269B2 (ja) * | 2011-12-16 | 2017-04-26 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、及びプログラム |
JP2015082053A (ja) * | 2013-10-23 | 2015-04-27 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像形成装置 |
JP6307873B2 (ja) * | 2013-12-24 | 2018-04-11 | 富士通株式会社 | 対象線検出装置、方法、及びプログラム |
JP6557943B2 (ja) * | 2014-01-15 | 2019-08-14 | オムロン株式会社 | 画像照合装置、画像センサ、処理システム、画像照合方法 |
JP6700933B2 (ja) * | 2016-04-20 | 2020-05-27 | キヤノン株式会社 | 画像形成装置 |
-
2016
- 2016-12-15 JP JP2016243249A patent/JP6337949B1/ja active Active
-
2017
- 2017-10-24 EP EP17880750.9A patent/EP3557526B1/en active Active
- 2017-10-24 US US16/340,153 patent/US10846869B2/en active Active
- 2017-10-24 CN CN201780059575.2A patent/CN109791691B/zh active Active
- 2017-10-24 WO PCT/JP2017/038324 patent/WO2018110089A1/ja unknown
- 2017-10-24 KR KR1020197008961A patent/KR20190040067A/ko not_active Application Discontinuation
- 2017-10-26 TW TW106136810A patent/TWI647660B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3557526A4 (en) | 2020-06-10 |
US20190244373A1 (en) | 2019-08-08 |
WO2018110089A1 (ja) | 2018-06-21 |
EP3557526B1 (en) | 2024-02-14 |
US10846869B2 (en) | 2020-11-24 |
TWI647660B (zh) | 2019-01-11 |
CN109791691B (zh) | 2023-06-06 |
CN109791691A (zh) | 2019-05-21 |
TW201824183A (zh) | 2018-07-01 |
JP2018097717A (ja) | 2018-06-21 |
KR20190040067A (ko) | 2019-04-16 |
EP3557526A1 (en) | 2019-10-23 |
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Legal Events
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180423 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |