CN108931667A - 兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针及其制备方法 - Google Patents

兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针及其制备方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108931667A
CN108931667A CN201710373454.7A CN201710373454A CN108931667A CN 108931667 A CN108931667 A CN 108931667A CN 201710373454 A CN201710373454 A CN 201710373454A CN 108931667 A CN108931667 A CN 108931667A
Authority
CN
China
Prior art keywords
probe
carbon nanotube
electricity
flying
signal acquisition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201710373454.7A
Other languages
English (en)
Inventor
李润伟
郭姗姗
王保敏
杨华礼
陈斌
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ningbo Institute of Material Technology and Engineering of CAS
Original Assignee
Ningbo Institute of Material Technology and Engineering of CAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ningbo Institute of Material Technology and Engineering of CAS filed Critical Ningbo Institute of Material Technology and Engineering of CAS
Priority to CN201710373454.7A priority Critical patent/CN108931667A/zh
Publication of CN108931667A publication Critical patent/CN108931667A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q70/00General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
    • G01Q70/08Probe characteristics

Abstract

本发明提供了一种兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针,包括探针本体与一根碳纳米管;沿着碳纳米管的长度方向,碳纳米管的一端与探针针尖形成电连接,并且碳纳米管的管壁中,除了距离另一端一定长度的管壁之外,其余管壁包覆磁性金属层。该探针能够获取材料的电学和磁学信号,具有高探测分辨率,并且能够保证探测稳定性,增加探针的使用寿命。

Description

兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针及其制备 方法
技术领域
本发明属于纳米技术研究与测试领域,尤其涉及一种兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针及其制备方法。
背景技术
扫描探针显微镜(SPM)是一种具有原子级分辨率的用于表面形貌采集、电磁性能分析的重要仪器,是表面科学、纳米技术等领域的重要表征工具。其中,探针是扫描探针显微镜中的重要组成部分,属于该高科技设备常用的耗材。
普通SPM探针主要是通过利用微机电***技术手段加工硅或氮化硅来制备,一般只能提供材料形貌、力学等简单信息。伴随器件小型化的发展趋势,需要对材料进行纳米尺度相关性能,例如磁学、电学等的观测,这就需要在普通硅探针表面沉积额外的涂层,一般为金属层。例如,导电SPM探针是在普通硅探针针尖表面镀10nm-50nm厚的金属铂以及其他提高镀层结合力的金属,如钛、铬,铂和铱等而获得。磁性SPM探针则是在普通硅探针针尖的表面镀一层几十纳米厚的磁性金属层,如铁、钴、镍及其合金等。
但是,在探针针尖表面镀几十纳米的金属层,探针针尖的直径将大大增加,导致探针难以测试一些精细的微纳结构,严重降低探测分辨率,从而严重影响对材料性能的测试精度。而且,无论是导电SPM探针还是磁性SPM探针,在使用过程中其金属镀层易于磨损,导致其导电性或磁性难以长期有效保持,制约了探针的使用寿命。
因此,亟需一种具有高分辨率和更长使用寿命的新型探针。
发明内容
针对上述技术问题,本发明提供一种兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针,具有高分辨率,长使用寿命的特点。
为了实现上述目的,本发明所采用的技术方案是:兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针,包括探针本体与一根碳纳米管,所述探针本体包括探针臂与探针针尖;沿着碳纳米管的长度方向,碳纳米管的一端与探针针尖形成电连接(该端称为碳纳米管的后端,另一端称为碳纳米管的前端),并且碳纳米管的管壁中,除了距离前端一定长度的管壁之外,其余管壁包覆磁性金属层。
所述的探针臂起支撑作用,所述的探针针尖用于靠近样品或者接触样品,以测量样品的各性能。碳纳米管的一端与探针针尖形成电连接,通过探针针尖可以与探针本体的其他部位形成电连接。
所述的探针本体与碳纳米管形成电连接,该探针本体不限,可以是普通硅探针或者氮化硅探针。
所述的磁性金属层材料不限,包括铁、钴、镍及其合金等。
作为优选,所述的磁性金属层厚度为1nm-50nm。
与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:
(1)碳纳米管沿着长度方向与探针针尖相连,由于碳纳米管具有大的长径比(一般为100-1000)以及小的直径(一般为1nm至10nm),不仅有效延伸了探针针尖的长度,而且能够保持高探测分辨率;
(2)碳纳米管具有一定的导电性,可以测试材料的电学性能;
(3)碳纳米管的外壁包覆磁性金属层,并且沿着碳纳米管的长度方向,保留距离碳纳米管前端一定长度的管壁未覆盖磁性金属薄膜层。这种结构设计一方面可以使该探针用于探测材料的磁性特性,另一方面是考虑到磁性金属薄膜层的厚度将增大碳纳米管的直径,从而降低探测分辨率,因此本发明保留距离碳纳米管前端一定长度的管壁未覆盖磁性金属薄膜层,既实现了磁性特性探测,又保持了碳纳米管高的探测分辨率;
(4)现有技术中探针在使用过程中针尖易磨损,易导致探测失效,本发明中碳纳米管前端与样品接触,由于碳纳米管具有大的长径比,因此能够保证探测的有效性与稳定性,并且大大增加了探针的使用寿命。
本发明还提供了一种兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针的制备方法,包括如下步骤:
(1)在探针针尖原位生长、化学胶粘或者偏压焊接一根碳纳米管,使该碳纳米管沿着长度方向的一端(该端称为碳纳米管的后端,另一端称为碳纳米管的前端)与探针针尖形成电连接,另一端作为探针针尖的延伸终端;
(2)沿着碳纳米管的长度方向,距离碳纳米管的前端一定长度的位置作为起始位置,采用聚焦离子束的方法,在自该起始位置至碳纳米管后端的管壁沉积磁性金属层;或者,
沿着碳纳米管的长度方向,距离碳纳米管的前端一定长度的位置作为终止位置,采用聚焦离子束的方法,在自碳纳米管后端至该终止位置的管壁沉积磁性金属层。
所述的原位生长为:在探针针尖放置催化剂颗粒,然后利用碳纳米管生长技术,在催化剂颗粒处原位生长碳纳米管。在探针针尖放置催化剂颗粒的技术包括但不限于纳米探针技术等。催化剂颗粒包括但不仅限于金、镍等纳米微粒。碳纳米管生长技术包括但不限于化学气相沉积法(CVD)等。碳纳米管的直径和长度等可以通过改变催化剂颗粒尺寸和生长条件等调控。
所述的化学胶粘法为:将探针针尖靠近碳纳米管,使该碳纳米管沿着长度方向的后端化学胶粘在探针针尖,形成电连接,另一端作为探针针尖的延伸终端。
所述的偏压焊接为:将探针针尖靠近碳纳米管,利用偏压焊接使碳纳米管的后端固定在探针针尖,形成电连接,另一端作为探针针尖的延伸终端。
所述探针本体与碳纳米管形成电连接,该探针本体不限,可以是普通商用探针,如硅探针或者氮化硅探针,亦或是覆盖金属层的探针等。
作为优选,所述的磁性金属层厚度为1nm-50nm。
本发明中,还可以利用聚焦离子束对碳纳米管的长度进行控制,即,在步骤(1)中,利用聚焦离子束对碳纳米管进行切割,保证碳纳米管探针的长度均一,从而保证探针性能的稳定性。
附图说明
图1是实施例1中的扫描显微镜探针的结构示意图;
图2是实施例1中采用聚焦离子束对碳纳米管的长度进行控制的示意图;
图3是实施例1中采用聚焦离子束在碳纳米管的管壁沉积磁性金属层的示意图。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明作进一步详细描述,需要指出的是,以下所述实施例旨在便于对本发明的理解,而对其不起任何限定作用。
探针本体1、探针针尖2、碳纳米管3、碳纳米管前端4、碳纳米管后端5、磁性金属层6。
实施例1:
本实施例中,探针结构如图1所示,探针本体1包括探针臂与探针针尖2,探针针尖2位于探针本体前端,碳纳米管3沿着长度方向的一端为前端4,另一端为后端5,后端5与探针针尖2形成电连接。并且,碳纳米管的管壁中,除了距离前端4一定长度的管壁之外,其余管壁包覆着磁性金属层6。
该探针的制备方法包含以下步骤:
(1)在探针针尖2的顶端原位生长碳纳米管
首先,利用纳米探针技术在探针针尖2顶端放置金、镍等纳米微粒作为催化剂颗粒,然后利用碳纳米管生长技术,例如化学气相沉积法(CVD),在催化剂颗粒处原位生长碳纳米管,使其沿着长度方向的一端,即后端5,与探针针尖2形成电连接,另一端,即前端4,作为探针针尖2的延伸终端。如图2所述,可以通过聚焦离子束对碳纳米管进行切割,以控制碳纳米管的长度。
(2)沿着碳纳米管的长度方向,距离碳纳米管的前端4一定长度的位置A作为起始位置,如图3所示,采用聚焦离子束的方法,在自该起始位置A至碳纳米管后端5的管壁沉积厚度为1nm-50nm的磁性金属层。
实施例2:
本实施例中,探针结构与实施例1中的探针结构相同。
该探针的制备方法包含以下步骤:
(1)利用机械法在探针针尖2连接碳纳米管
利用机械手操纵技术,将探针针尖2靠近碳纳米管3,采用化学胶使碳纳米管沿着长度方向的一端,即后端5,与探针针尖2粘合,形成电连接,另一端,即前端4,作为探针针尖2的延伸终端。
(2)沿着碳纳米管的长度方向,距离碳纳米管的前端4一定长度的位置A作为终止位置,如图3所示,,采用聚焦离子束的方法,在自碳纳米管后端5至该终止位置的管壁沉积厚度为1nm-50nm的磁性金属层。
实施例3:
本实施例中,探针结构与实施例1中的探针结构相同。
该探针的制备方法包含以下步骤:
(1)利用机械法在探针针尖2连接碳纳米管
利用机械手操纵技术,将探针针尖2靠近碳纳米管3,采用施加偏压焊接的方法使碳纳米管沿着长度方向的一端,即后端5,固定在探针针尖2上,形成电连接,另一端,即前端4,作为探针针尖2的延伸终端。
(2)沿着碳纳米管的长度方向,距离碳纳米管的前端4一定长度的位置A作为终止位置,如图3所示,采用聚焦离子束的方法,在自碳纳米管后端5至该终止位置的管壁沉积厚度为1nm-50nm的磁性金属层。
以上所述的实施例对本发明的技术方案进行了详细说明,应理解的是以上所述仅为本发明的具体实施例,并不用于限制本发明,凡在本发明的原则范围内所做的任何修改、补充或类似方式替代等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针,包括探针本体与一根碳纳米管,探针本体包括探针臂与探针针尖;其特征是:沿着碳纳米管的长度方向,碳纳米管的一端与探针针尖形成电连接,并且碳纳米管的管壁中,除了距离另一端一定长度的管壁之外,其余管壁包覆磁性金属层。
2.如权利要求1所述的兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针,其特征是:所述探针本体是硅探针或者氮化硅探针。
3.如权利要求1所述的兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针,其特征是:所述的磁性金属层厚度为1nm-50nm。
4.兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针的制备方法,其特征是:包括如下步骤:
(1)在探针针尖原位生长、化学胶粘或者偏压焊接一根碳纳米管,使该碳纳米管沿着长度方向的一端与探针针尖形成电连接,另一端作为探针针尖的延伸终端;
(2)沿着碳纳米管的长度方向,距离碳纳米管的另一端一定长度的位置作为起始位置,采用聚焦离子束的方法,在自该起始位置至碳纳米管后端的管壁沉积磁性金属层;或者,
沿着碳纳米管的长度方向,距离碳纳米管的另一端一定长度的位置作为终止位置,采用聚焦离子束的方法,在自碳纳米管一端至该终止位置的管壁沉积磁性金属层。
5.如权利要求4所述的兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针的制备方法,其特征是:所述的原位生长为:在探针针尖放置催化剂颗粒,然后利用碳纳米管生长技术,在催化剂颗粒处原位生长碳纳米管。
6.如权利要求5所述的兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针的制备方法,其特征是:所述催化剂颗粒包括金纳米颗粒和/或镍纳米颗粒;
作为优选,所述碳纳米管生长法包括化学气相沉积法。
7.如权利要求5所述的兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针的制备方法,其特征是:通过改变催化剂颗粒尺寸和/或生长条件调控碳纳米管的直径和/或长度。
8.如权利要求4所述的兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针的制备方法,其特征是:所述的磁性金属层厚度为1nm-50nm。
9.如权利要求4所述的兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针的制备方法,其特征是:探针本体是硅探针或者氮化硅探针。
10.如权利要求4至9中任一权利要求所述的兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针的制备方法,其特征是:在步骤(1)中,利用聚焦离子束对碳纳米管进行切割。
CN201710373454.7A 2017-05-24 2017-05-24 兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针及其制备方法 Pending CN108931667A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710373454.7A CN108931667A (zh) 2017-05-24 2017-05-24 兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针及其制备方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710373454.7A CN108931667A (zh) 2017-05-24 2017-05-24 兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针及其制备方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN108931667A true CN108931667A (zh) 2018-12-04

Family

ID=64450419

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710373454.7A Pending CN108931667A (zh) 2017-05-24 2017-05-24 兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针及其制备方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108931667A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022227230A1 (zh) * 2021-04-28 2022-11-03 西安交通大学 一种碳纳米管探针的制备方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1054249A1 (en) * 1998-12-03 2000-11-22 Daiken Chemical Co. Ltd. Electronic device surface signal control probe and method of manufacturing the probe
CN1397012A (zh) * 2000-11-26 2003-02-12 大研化学工业株式会社 根据聚焦离子束加工制作的扫描型显微镜用探针
CN1661355A (zh) * 2004-02-28 2005-08-31 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 原子力显微镜探针装置及其制造方法
CN1993609A (zh) * 2004-07-29 2007-07-04 韩国标准科学研究院 使用离子束制造扫描探针显微镜和临界尺寸扫描探针显微镜纳米针探针的方法与由其制造的扫描探针显微镜和临界尺寸扫描探针显微镜纳米针探针
US20070204681A1 (en) * 2006-03-03 2007-09-06 Olympus Corporation Carbon thin line probe
CN102778589A (zh) * 2011-05-09 2012-11-14 株式会社日立高新技术 磁力显微镜用悬臂及其制造方法
CN105510639A (zh) * 2014-09-24 2016-04-20 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 一种扫描探针显微镜中的探针、其制备方法及探测方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1054249A1 (en) * 1998-12-03 2000-11-22 Daiken Chemical Co. Ltd. Electronic device surface signal control probe and method of manufacturing the probe
CN1397012A (zh) * 2000-11-26 2003-02-12 大研化学工业株式会社 根据聚焦离子束加工制作的扫描型显微镜用探针
CN1661355A (zh) * 2004-02-28 2005-08-31 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 原子力显微镜探针装置及其制造方法
CN1993609A (zh) * 2004-07-29 2007-07-04 韩国标准科学研究院 使用离子束制造扫描探针显微镜和临界尺寸扫描探针显微镜纳米针探针的方法与由其制造的扫描探针显微镜和临界尺寸扫描探针显微镜纳米针探针
US20070204681A1 (en) * 2006-03-03 2007-09-06 Olympus Corporation Carbon thin line probe
CN102778589A (zh) * 2011-05-09 2012-11-14 株式会社日立高新技术 磁力显微镜用悬臂及其制造方法
CN105510639A (zh) * 2014-09-24 2016-04-20 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 一种扫描探针显微镜中的探针、其制备方法及探测方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
刘勇 等: "《特种加工技术》", 31 January 2013, 重庆大学出版社 *
姜山 等: "《纳米》", 30 September 2013, 科学普及出版社 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022227230A1 (zh) * 2021-04-28 2022-11-03 西安交通大学 一种碳纳米管探针的制备方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Xu et al. Recent development of PeakForce Tapping mode atomic force microscopy and its applications on nanoscience
US7214303B2 (en) Cantilever probes for nanoscale magnetic and atomic force microscopy
JP5240975B2 (ja) 導電性カーボンナノチューブチップ、これを備えた走査型プローブ顕微鏡のプローブ、及び該導電性カーボンナノチューブチップの製造方法
US20040113621A1 (en) Nanotube cantilever probes for nanoscale magnetic microscopy
US20180330918A1 (en) Methods and apparatus for high throughput sem and afm for characterization of nanostructured surfaces
CN110333372A (zh) 一种磁性扫描显微镜探针及其制备方法
CN110452817A (zh) 一种dna测序装置及测序方法
CN107782918A (zh) 一种采用磁性纳米线的磁学原子力显微镜探针
CN108931667A (zh) 兼具电学和磁学信号获取功能的扫描显微镜探针及其制备方法
CN108375687B (zh) 一种在原子力显微镜探针针尖上包覆石墨烯的方法
Hu et al. A sub-micron spherical atomic force microscopic tip for surface measurements
Dobson et al. Electron beam lithographically-defined scanning electrochemical-atomic force microscopy probes: fabrication method and application to high resolution imaging on heterogeneously active surfaces
WO2004102582A1 (en) Carbon nanotube-based probes, related devices and methods of forming the same
CN107782919A (zh) 一种采用导电纳米线的电学原子力显微镜探针
Magonov et al. Advancing characterization of materials with atomic force microscopy-based electric techniques
CN103336149A (zh) 基于纳米粒子点阵量子输运的原子力显微微悬臂及应用
CN107043929B (zh) 一种在原子力显微镜探针表面可控区域生成金属镀层的方法
Wang et al. Sequential electrochemical oxidation and site-selective growth of nanoparticles onto AFM probes
Bai et al. Nanoscale probe system for cell-organelle analysis
JPH04162339A (ja) 表面観察装置用探針の製造方法及び表面観察装置
CN107436366A (zh) 一种长寿命高分辨电学原子力显微镜探针
WO2005017977A2 (en) Carbon nanotube bundle probe for scanning probe microscopes
JP2997497B2 (ja) 磁気情報検出装置
Ingole et al. Assembly and magnetic properties of nickel nanoparticles on silicon nanowires
Xu et al. Design and realization of scanning probe microscope based on a T-shaped high-aspect-ratio probe

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20181204

RJ01 Rejection of invention patent application after publication