CN105486708A - Xrf分析试样化学成分的方法及其工作曲线的制作方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种XRF分析试样化学成分的方法及其工作曲线的制作方法，其中工作曲线的制作方法包括如下步骤：制备标准样品的分析样片；采用相同的仪器工作条件分别测量各种类标准样品分析样片中各化学成分X射线荧光强度；其中每一种类标准样品测量的化学成分包括待检测样品中全部的可测定化学成分；分别确定各种类样品中各化学成分对应的工作曲线的斜率和截距：通过对标准样品中某一化学成分的已知质量百分含量与测量得到的该化学成分的荧光强度按设定的工作曲线表达式进行回归分析，从而确定该种类标准样品中该化学成分对应的工作曲线的斜率和截距。本发明提高了XRF分析的准确性和操作方便性。

Description

XRF分析试样化学成分的方法及其工作曲线的制作方法

技术领域

本发明涉及XRF分析技术领域，尤其涉及一种XRF分析试样化学成分的方法及其工作曲线的制作方法。

背景技术

采用XRF分析仪器测定样品中化学成分含量时，首先需要用制作一个“应用”(Application，也称为工作曲线)，然后再利用该应用进行试样分析。目前，X射线荧光分析不同种类样品时，需要采用不同的应用(Application)，因此，每个XRF分析实验室需要制作多个应用以进行多个种类样品的分析，每次对样品测定都需要操作人员先进行应用(Application)选择。例如针对水泥产品的XRF分析实验室最少需要制作水泥(包括生料和熟料)的应用，石灰石的应用，粘土的应用和铁粉的应用等各种类原料样品的应用。当对某一样品进行检测时，需要先确定是采用粘土的应用还是铁粉的应用或者是其他的应用。一旦由于疏忽等原因选择应用错误，会造成检测结果错误。尤其是当XRF分析的一批样品中存在多种类样品时，这种选择尤为不便，不小心还会造成选择失误。由于选择确定应用之后的XRF分析过程一般是自动完成，无意造成的这种失误又不易察觉和发现，最终造成了分析结果的意外错误。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种XRF分析的工作曲线的制作方法，主要目的是提高分析准确性和操作方便与简易性。

为达到上述目的，本发明主要提供如下技术方案：

一方面，本发明实施例提供了一种XRF分析的工作曲线的制作方法，包括如下步骤：

制备标准样品的分析样片；

采用相同的仪器工作条件分别测量各种类标准样品分析样片中各化学成分X射线荧光强度；其中每一种类标准样品测量的化学成分包括待检测样品中全部的可测定化学成分；

分别确定各种类样品中各化学成分对应的工作曲线的斜率和截距：通过对标准样品中某一化学成分的已知质量百分含量与测量得到的该化学成分的荧光强度按设定的工作曲线表达式进行回归分析，从而确定该种类标准样品中该化学成分对应的工作曲线的斜率和截距。

作为优选，获取各化学成分的斜率和截距的平均值：某一化学成分在各种类样品中对应的斜率或截距的和除以样品种类数量即为该化学成分对应的斜率或截距的平均值。

作为优选，当某种类标准样品中某一化学成分没有标准值时，该化学成分在该种类样品中对应的工作曲线的斜率和截距为0。

作为优选，所述分析样片采用玻璃熔片法制备。

作为优选，所述工作曲线的表达式如下：

$C_i=(K_i{I}_i+b_i)(1+\underset{j}{\Σ}{\mathrm{\α}}_{i,j}{C}_j),$

式中：

C_i―待测化学成分的质量百分含量；

C_j―共存基体元化学成分的质量百分含量；

I_i—待测化学成分的荧光X射线强度；

K_i―工作曲线的斜率；

b_i―工作曲线的截距；

α_i,j—共存化学成分j对待测化学成分i的影响系数。

另一方面，本发明实施例提供了一种XRF分析试样化学成分的方法，包括如下步骤：

参照标准样品制备分析样片的方法将试样制作化学成分析样片；

采用与测量标准样品时相同的仪器工作条件测量试样中各化学成分X射线荧光强度；

当制备试样的分析样片时采用的稀释比与制备标准样品的分析样片的稀释比不同，即与标准稀释比不同时，将检测到的各化学成分的X射线荧光强度转换为标准稀释比下的强度；

用任一种类样品中的各化学成分对应的工作曲线的斜率和截距或所有种类样品中各化学成分的斜率和截距的平均值将各化学成分的荧光强度分别转换为各化学成分的质量百分含量，以获得试样的近似化学组成；

根据试样的近似化学组成判断试样的种类；

调用该种类样品中各化学成分对应的斜率和截距，重新计算试样中各化学成分的质量百分含量。

作为优选，通过下式将检测到的各化学成分的X射线荧光强度转换为标准稀释比下的强度，

$I_{i,0}=I_i\×\frac{1+{\mathrm{D\α}}_{i,f}}{1+D_0{\mathrm{\α}}_{i,f}},$

式中：

I_i,0—与标准样品稀释比相同时，试样熔片中待测化学成分i的强度；

I_i—试样熔片中，待测化学成分i的实测强度；

D—试样熔片的实际稀释比；

D₀—标准样品所采用的稀释比；

α_i,f—MLD系数。

作为优选，所述工作曲线采用上述实施例的工作曲线。

作为优选，所述试样为水泥及其原材料的样品，所述水泥原料的种类分为钙质(石灰石)原料、硅质(砂岩)原料、铁质(硫硫酸渣，铁矿石)原料、硫质(石膏)原料和废渣类原料；

其中待测试样种类判定方法如下：

当试样中三氧化硫的质量百分含量大于10％，判定试样为硫质原料；

当试样中二氧化硅的质量百分含量大于80％，判定试样为硅质原料

当试样中三氧化二铁的质量百分含量大于20％，判定试样为铁质原料；

当试样中二氧化硅的质量百分含量小于40％，且氧化钙的质量百分含量大于40％时，判定为水泥及其生熟料；

上述条件均不满足时，判定试样为废渣类原料。

作为优选，所述试样为耐火材料样品，耐火材料种类分为硅质、铝质、镁质、铬镁质、锆质、AZS耐火材料和粘土质；

耐火材料待测试样种类判定原则如下：

试样中二氧化硅的质量百分含量大于70％时，判定为硅质样品

试样中三氧化二铝的质量百分含量大于70％时，判定为铝质样品

试样中氧化镁的质量百分含量大于70％，三氧化二铬的质量百分含量小于5％时，判定为镁质样品；

试样中三氧化二铬的质量百分含量大于5％时，判定为铬质样品；

若试样中二氧化锆的质量百分含量大于10％，且三氧化二铝的质量百分含量小于10％，判定为锆质样品；

若试样中二氧化锆的质量百分含量大于10％，且三氧化二铝的质量百分含量大于于10％，判定为AZS质样品；

上述条件均不符合时，判定试样为粘土质样品。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：

本发明实施例的工作曲线制作方法对样品中的化学成分的测量包括全部可测化学成分，获得的工作曲线更加准确，分析结果也更准确。本发明实施例的分析方法先对试样的化学成分进行近似计算，然后根据组成的近似结果判断试样所属种类，进一步选择该试样种类对应的工作曲线来分析测量结果，全程自动进行，避免了误操作，结果更加准确。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明作进一步详细描述，但不作为对本发明的限定。在下述说明中，不同的“一实施例”或“实施例”指的不一定是同一实施例。此外，一或多个实施例中的特定特征、结构、或特点可由任何合适形式组合。

实例1

水泥化验室用XRF分析测定水泥、生料、熟料、石灰石、砂岩、铁质原料、石膏和矿渣、粉煤灰、煤矸石等工业废渣等样品。

水泥化验室用XRF分析上述样品时，一般将水泥、生料和熟料三种样品用同一条工作曲线(水泥工作曲线)，矿渣、粉煤灰、煤矸石等工业废渣也是采用同一条工作曲线(废渣类工作曲线)，钙质(石灰石)原料、硅质(砂岩)原料、铁质(硫酸渣，铁矿石)原料和硫质(石膏)原料分别制作自己的工作曲线，按照水泥化学分析国家标准的要求，对各种类样品测定的最多化学成分有11种，分别为二氧化硅，三氧化二铁，三氧化二铝，氧化钙，氧化镁，氧化钾，氧化钠。三氧化硫，二氧化钛，氧化锰和五氧化二磷，由于水泥企业化验室同类样品的化学成分相对较为稳定，无需进行基体校正，不同种类的样品采用不同的斜率即可准确计算样品中各待测化学成分的质量百分含量，因此将样品的玻璃熔片的强度转换为样品质量百分含量的所需要的参数仅有斜率和MLD系数。

工作曲线的制作：

从市场购买上述六个种类样品的标准样品，采用玻璃熔片法分别制备上述六个种类标准样品的分析样片。采用相同的仪器工作条件分别测量各种类标准样品分析样片中各化学成分X射线荧光强度；其中每一种类标准样品测量的化学成分包括上述11种化学成分。根据采用的工作曲线的表达式，对荧光强度和含量进行回归分别确定各种类样品中各化学成分对应的工作曲线的斜率和截距，具体如下：通过对标准样品中某一化学成分的已知质量百分含量与测量得到的该化学成分的荧光强度按设定的工作曲线表达式进行回归分析，从而确定该种类标准样品中该化学成分对应的工作曲线的斜率。因为水泥企业的样品无需截距，因此仅确定斜率即可。六个种类样品的斜率确定后再计算各化学成分的斜率的平均值。本实施例采用的工作曲线的表达式为下式(1)，式中：Ci为待测化学成分的质量百分含量；Cj为共存基体化学成分的质量百分含量；Ii—待测化学成分的荧光X射线强度；Ki―工作曲线的斜率；bi―工作曲线的截距，本例中均为零；αi,j—共存化学成分j对待测化学成分i的影响系数，本例中均为零。其中MLD系数的获取采用现有技术，在此不再赘述。得到的MLD系数见表1，获取的斜率见表2。如果某种类标准样品中某一化学成分没有标准值时，该化学成分在该种类样品中对应的工作曲线的斜率和截距为0。

表1中的各化学成分的MLD系数平均值为该化学成分在六种样品中的MLD系数的平均值。表2中的各化学成分的斜率平均值为该化学成分在六种样品中的斜率的平均值。

对于一系列待测样品(试样)，测定其化学成分的具体步骤如下：

将待测样品(共6个，编号分别为1-6)用玻璃熔片法制备成一系列分析样片，对各个分析样片进行X射线荧光强度测量，测量结果及分析样片的稀释比见表3。

制备标准样片时的稀释比(标准稀释比)统一采用10.00。将表3中样品强度转换为标准稀释比强度，转换时MLD系数采用表1中的“MLD平均”行中的相关数值，转换结果及表4。转换公式为下式(2)：

$I_{i,0}=I_i\×\frac{1+{\mathrm{D\α}}_{i,f}}{1+D_0{\mathrm{\α}}_{i,f}}---\left(2\right)$

式中：

I_i,0—与标准样品稀释比相同时，试样熔片中待测化学成分i的强度；

I_i—试样分析样片中，待测化学成分i的实测强度；

D—试样分析样片的实际稀释比；

D₀—标准稀释比；

α_i,f—MLD系数。

将表4中的强度值利用式(1)可转换为样品中各化学成分的质量百分含量值。求得的质量百分含量结果作为样品种类判定的估算值。转换为质量百分含量时，式(1)中MLD系数可采用表1中的任一种类样品的MLD系数。优选为采用表1中的平均值用于进行质量百分含量估值计算。式(1)中的斜率同样可以是表2中任一种类样品的斜率，或者采用平均值。或者计算不同化学成分时采用对应样品的斜率。作为优选，本实施例估算化学成分质量百分含量时斜率取值如下：二氧化硅的斜率取硅质样品的二氧化硅斜率，三氧化二铁的斜率取铁质样品的三氧化二铁斜率，氧化钙的斜率取钙质样品的氧化钙斜率，三氧化硫的斜率取硫质样品的三氧化硫斜率，其它化学成分的斜率取六种样品斜率的平均值。截距及元素间影响系数均为0，

根据标准稀释比下强度的转换的结果，对各样品的种类进行判别，然后按照判别结果调用相应种类的样品对应的MLD系数和斜率值分析计算标准稀释比强度值和各化学成分的质量百分含量。转换结果和种类判别的结果具体见表5。

判别方法如下：

当试样中三氧化硫的质量百分含量大于10％，判定试样为硫质原料；

当试样中二氧化硅的质量百分含量大于80％，判定试样为硅质原料

当试样中三氧化二铁的质量百分含量大于20％，判定试样为铁质原料；

当试样中二氧化硅的质量百分含量小于40％，且氧化钙的质量百分含量大于40％时，判定为水泥及其生熟料；

上述条件均不满足时，判定试样为废渣类原料。

按照上述原则1-6号样品的种类判别如下：

1号样品中氧化钙的质量百分含量为97.47％，结果大于80％，可判定1号样品为钙质样品，故利用钙质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用钙质样品的斜率计算1号样品各化学成分的质量百分含量；

2号样品的二氧化硅的质量百分含量为97.53％，大于80％，可判定2号样品为硅质原料，故利用硅质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用硅质样品的斜率计算2号样品各化学成分的质量百分含量；

3号样品中三氧化二铁的质量百分含量为45.20％，大于20％，可判定3号样品为铁质原料，故利用铁质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用铁质样品的斜率计算其各化学成分的质量百分含量；

4号样品中三氧化硫的质量百分含量为57.72％，大于10％，可判定4号样品为石膏；故利用硫质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用硫质样品的斜率计算其各化学成分的质量百分含量；

5号样品中二氧化硅的质量百分含量为23.4％，小于40％，且氧化钙的质量百分含量为60.11％，大于40％，可判定5号样品为水泥及其生熟料，故利用水泥类样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用水泥类样品的斜率计算其各化学成分的质量百分含量；

6号样品中二氧化硅的质量百分含量为55.40％，但氧化钙的质量百分含量为2.75％，故不是水泥、钙质原料或硅质原料，6号样品中三氧化二铁的质量百分含量为5.59％，故不是铁质原料，三氧化硫的质量百分含量为0.12％，故不为硫质原料，因此只能判定其为废渣类样品。故利用废渣类样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用废渣类样品的斜率计算其各化学成分的质量百分含量。

各个样品的各化学成分准确标准稀释比强度见表6，各样品化学成分的质量百分含量最终分析结果见表7。

表1：不同种类样品的MLD系数及其平均值

表2：不同种类样品的斜率及斜率平均值

表3：1-6号样品分析样片的强度测量值(Kcps)及其稀释比

表4：1-6号样品分析样片的标准稀释比强度估算值(Kcps)

表5：1-6号样品中待测化学成分质量百分含量估算值及种类判别结果(％)

表6：1-6号样品分析样片根据种类判别结果计算的标准稀释比强度值

表7：1-6号样品中化学成分的质量百分含量最终分析结果(％)

实例2

耐火材料化验室应用XRF分析主要测定硅质、铝质、粘土质、镁质、铬镁质、锆质及AZS耐火材料等七个种类材料的化学成分。不同种类的耐火材料，所要求测定的化学成分并不相同，但均不外乎以下几种化学成分：Na₂O、MgO、Al₂O₃、SiO₂、P₂O₅、K₂O、CaO、TiO₂、Cr₂O₃、MnO、Fe₂O₃、ZrO₂和HfO₂。

参照实施例1的方法制作工作曲线：

首先确定工作曲线表达式，本实施例确定的工作曲线表达式与实施例1相同。通过测量标准样品的荧光强度进行回归确定各种类样品的工作曲线参数。各种类样品的工作曲线参数见表8。同样，若待测化学成分的斜率与截距的数值均为零，表示分析报告中无需测定该化学成分。表8中的MLD系数及元素间影响系数均通过理论方法计算获得。斜率和截距通过对标准样品进行测定，用回归方法求得。

耐火材料待测样品分析：

参见实施1，首先也要对样品的化学成分含量进行估算。估算时所采用的参数可视元素间的影响系数为零，MLD系数为各类样品系数的平均值，斜率和截距用各种类的全部标准样品确定，且强制令各化学成分的截距值为零。根据样品化学成分估算值判别样品种类，根据样品种类重新选择对应种类的参数计算样品化学成分质量百分含量。表9中为各化学成分的MLD系数及斜率的平均值，用于本实施例中对样品化学成分质量百分含量估算的参数。

对于一系列待测耐火材料样品(七个样品，编号分别为105、205、309、405、505、606和705)，测定其化学成分具体步骤如下：

制备成各样品的分析样片，对各个分析样片进行X射线荧光强度测量，测量结果及分析样片的稀释比见表10。

标准稀释比统一采用10.00。利用式(2)将表10中样品强度转换为标准稀释比强度，转换时MLD系数采用表9中的MLD的相关数值，转换结果见表11：

将表11中的标准稀释比强度值利用式(1)可转换为样品的化学成分质量百分含量值，然后以该质量百分含量值作为样品种类判别的估算值对样品种类进行判别。此时，式(1)中的斜率为表9中斜率的相关数值，截距及元素间影响系数均为0。化学成分质量百分含量的估算值及样品种类判别结果见表12。

对各样品的种类判别如下：

105号样品中氧化镁的质量百分含量为0.28％，故不是镁质样品；氧化铝的质量百分含量为25.55％，故不是铝质样品；二氧化硅的质量百分含量为68.57％，故不是硅质样品；三氧化二铬的质量百分含量为0.04％，故不是铬质样品；二氧化锆的质量百分含量为0.08％，故不是锆质或AZS样品；故可判定样品为粘土质样品，故利用粘土质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用粘土质样品的斜率、截距和元素间影响系数计算其各化学成分的质量百分含量；

205号样品的二氧化硅的质量百分含量为93.18％，大于70％，可判定样品为硅质样品，故利用硅质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用硅质样品的斜率、截距和元素间影响系数计算其各化学成分的质量百分含量；

309号样品中三氧化二铝的质量百分含量为90.94％，大于70％，可判定样品为铝质样品，故利用铝质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用铝质样品的斜率、截距和元素间影响系数计算其各化学成分的质量百分含量；

405号样品中氧化镁的质量百分含量为93.40％，大于70％，氧化铬为0.05％，小于5％，可判定样品为镁质样品；故利用镁质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用硫质样品的斜率、截距和元素间影响系数计算其各化学成分的质量百分含量；

505号样品中三氧化二铬的质量百分含量为17.41％，大于5％，可判定为铬质样品，故利用铬质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用铬质样品的斜率、截距和元素间影响系数计算其各化学成分的质量百分含量；

606号样品中二氧化锆的质量百分含量为72.69％，大于10％，但三氧化二铝的质量百分含量为0.72％，大于10％，因此只能判定其为锆质样品。故利用锆质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用锆质样品的斜率、截距和元素间影响系数计算其各化学成分的质量百分含量；

705号样品中二氧化锆的质量百分含量为28.38％，大于10％，但三氧化二铝为63.49％，大于10％，因此能判定其为AZS样品。故利用锆质样品的MLD系数重新计算其标准稀释比强度，再用AZS样品的斜率、截距和元素间影响系数计算其各化学成分的质量百分含量。

通过上述重新计算，各个样品的准确标准稀释比强度见表13，各样品最终化学成分质量百分含量分析结果见表14。

表9：MLD系数及斜率的平均值

表10：各耐火材料样品分析样片测量的荧光强度及其稀释比

表11：各耐火材料样品分析样片的标准稀释比强度近似值

表12：各耐火材料样品化学化学成分质量百分含量估算值及样品种类判定结果(％)

表13各耐火材料样品分析样片标准稀释比强度

表14各耐火材料样品的化学化学成分质量百分含量的最终分析结果(％)

同一实验室进行样品的XRF分析时，样品中存在的化学化学成分种类一般相近，只是化学化学成分的含量会有所不同，样品的种类是根据其主要化学组成的差异区分的，同类样品是指主要化学化学成分的含量范围相近的样品。XRF分析时，若采用斜率和截距相同的工作曲线测定不现种类的样品，结果的误差会较大，但存在这种较大偏差的结果尚不足于使人们对样品的种类的判断产生偏差，即利用这些存在偏差的XRF结果仍可正确判断样品的种类。因此，本发明实施例中先通过近似计算获得样品中化学成分质量百分含量的估算值，然后根据该估算值确定待测样品的种类，如上分析的，估算值不会影响种类判别的正确性。然后根据确定的种类调取对应的参数准确计算样品中各化学成分的含量。不会出现工作曲线选取错误等问题。基于上述分析可知，在本发明实施例的分析过程中的工作曲线及相关参数也可采用现有的任意工作曲线及其参数。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.XRF分析的工作曲线的制作方法，包括如下步骤：

制备标准样品的分析样片；

采用相同的仪器工作条件分别测量各种类标准样品分析样片中各化学成分X射线荧光强度；其中每一种类标准样品测量的化学成分包括待检测样品中全部的可测定化学成分；

分别确定各种类样品中各化学成分对应的工作曲线的斜率和截距：通过对标准样品中某一化学成分的已知质量百分含量与测量得到的该化学成分的荧光强度按设定的工作曲线表达式进行回归分析，从而确定该种类标准样品中该化学成分对应的工作曲线的斜率和截距。

2.根据权利要求1所述的XRF分析的工作曲线的制作方法，其特征在于，获取各化学成分的斜率和截距的平均值：某一化学成分在各种类样品中对应的斜率或截距的和除以样品种类数量即为该化学成分对应的斜率或截距的平均值。

3.根据权利要求1所述的XRF分析的工作曲线的制作方法，其特征在于，当某种类标准样品中某一化学成分没有标准值时，该化学成分在该种类样品中对应的工作曲线的斜率和截距为0。

4.根据权利要求1所述的XRF分析的工作曲线的制作方法，其特征在于，所述分析样片采用玻璃熔片法制备。

5.根据权利要求1所述的XRF分析的工作曲线的制作方法，其特征在于，所述工作曲线的表达式如下：

式中：

C_i―待测化学成分的质量百分含量；

C_j―共存基体化学成分的质量百分含量；

I_i—待测化学成分的荧光X射线强度；

K_i―工作曲线的斜率；

b_i―工作曲线的截距；

α_i,j—共存化学成分j对待测化学成分i的影响系数。

6.XRF分析试样化学成分的方法，包括如下步骤：

参照标准样品制备分析样片的方法将试样制作化学成分析样片；

采用与测量标准样品时相同的仪器工作条件测量试样中各化学成分X射线荧光强度；

当制备试样的分析样片稀释比与制备标准样品的分析样片稀释比不同，即与标准稀释比不同时，将检测到的试样各化学成分的X射线荧光强度转换为标准稀释比下的强度；

用任一种类样品中的各化学成分对应的工作曲线的斜率和截距或所有种类样品中各化学成分的斜率和截距的平均值将各化学成分的荧光强度分别转换为各化学成分的质量百分含量，以获得试样的近似化学组成；

根据试样的近似化学组成判断试样的种类；

调用该种类样品中各化学成分对应的斜率和截距，重新计算试样中各化学成分的含量。

7.根据权利要求6所述的XRF分析试样化学成分的方法，其特征在于，通过下式将检测到的各化学成分的X射线荧光强度转换为标准稀释比下的强度，

式中：

I_i,0—与标准样品稀释比相同时，试样熔片中待测化学成分i的强度；

I_i—试样熔片中，待测化学成分i的实测强度；

D—试样熔片的实际稀释比；

D₀—标准样品所采用的稀释比；

α_i,f—MLD系数。

8.根据权利要求6所述的XRF分析试样化学成分的方法，其特征在于，所述工作曲线采用权利要求1制作的工作曲线。

9.根据权利要求6所述的XRF分析试样化学成分的方法，其特征在于，所述试样为水泥及其原材料的样品，所述水泥原料的种类分为钙质原料、硅质原料、铁质原料、硫质原料和废渣类原料；

其中待测试样种类判定方法如下：

当试样中三氧化硫的质量百分含量大于10％时，判定试样为硫质原料；

当试样中二氧化硅的质量百分含量大于80％，判定试样为硅质原料

当试样中三氧化二铁的质量百分含量大于20％，判定试样为铁质原料；

当试样中二氧化硅的质量百分含量小于40％，且氧化钙的质量百分含量大于40％时，判定为水泥及其生熟料；

上述条件均不满足时，判定试样为废渣类原料。

10.根据权利要求6所述的XRF分析试样化学成分的方法，其特征在于，所述试样为耐火材料样品，耐火材料种类分为硅质、铝质、镁质、铬镁质、锆质、AZS耐火材料和粘土质；

耐火材料待测试样种类判定原则如下：

试样中二氧化硅的质量百分含量大于70％时，判定为硅质样品

试样中三氧化二铝的质量百分含量大于70％时，判定为铝质样品

试样中氧化镁的质量百分含量大于70％，三氧化二铬含量小于5％时，判定为镁质样品；

试样中三氧化二铬的质量百分含量大于5％时，判定为铬质样品；

若试样中二氧化锆的质量百分含量大于10％，且三氧化二铝的质量百分含量小于10％，判定为锆质样品；

若试样中二氧化锆的质量百分含量大于10％，且三氧化二铝的质量百分含量大于于10％，判定为AZS耐火材料样品；

上述条件均不符合时，判定试样为粘土质样品。