CN102636951B - 双吸收层交替相移接触孔掩模衍射场的计算方法 - Google Patents

双吸收层交替相移接触孔掩模衍射场的计算方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102636951B
CN102636951B CN201210148199.3A CN201210148199A CN102636951B CN 102636951 B CN102636951 B CN 102636951B CN 201210148199 A CN201210148199 A CN 201210148199A CN 102636951 B CN102636951 B CN 102636951B
Authority
CN
China
Prior art keywords
partiald
lambda
grating
alpha
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201210148199.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102636951A (zh
Inventor
李艳秋
杨亮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Institute of Technology BIT
Original Assignee
Beijing Institute of Technology BIT
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Institute of Technology BIT filed Critical Beijing Institute of Technology BIT
Priority to CN201210148199.3A priority Critical patent/CN102636951B/zh
Publication of CN102636951A publication Critical patent/CN102636951A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102636951B publication Critical patent/CN102636951B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)

Abstract

本发明提供一种双吸收层交替相移接触孔掩模衍射的计算方法,该方法可以快速计算光刻中双吸收层交替相移接触孔掩模的衍射。具体步骤为:步骤一、设定x方向上保留的谐波数,设定y方向上保留的谐波数;步骤二、根据布洛开条件,求解各个衍射级次的波矢量沿着切向、法向的分量;步骤三、将每一层二维光栅的介电常数及介电常数倒数进行傅里叶Fourier级数展开;步骤四、利用增强透射矩阵法求解出射区域的衍射场。本发明在两个正交的方向上,通过选取三个光栅层在对应正交方向上周期的最小公倍数,进行Fourier级数展开,可分析两个正交方向上周期都不同的多层二维掩模光栅的衍射,同时本发明能快速求解得到双吸收层交替相移接触孔掩模的衍射场。

Description

双吸收层交替相移接触孔掩模衍射场的计算方法
技术领域
本发明涉及一种双吸收层交替相移接触孔掩模衍射场的计算方法,属于光刻分辨率增强技术领域。
背景技术
半导体产业的飞速发展,主要得益于微电子技术的微细加工技术的进步,而光刻技术是芯片制备中最关键的制造技术之一。由于光学光刻技术的不断创新,它一再突破人们预期的光学曝光极限,使之成为当前曝光的主流技术。
光刻***主要分为:照明***(光源)、掩模、投影***及晶片四部分。光入射到掩模上发生衍射,衍射光进入投影***后在晶片上干涉成像,再经过显影和蚀刻处理后,就将图形转移到晶片上。
掩模上的结构比较复杂,按照在各方向上的周期性,掩模可以分成一维、二维图形。一维图形仅在一个方向上具有周期性,比较简单,常见的线条/空间(Line/Space)结构就是一维图形。二维图形在两个方向上都具有周期性,是一些较复杂的几何图形,与实际器件结构更为接近。接触孔(Contact Hole)、L图形、拼接图形及H图形都是二维结构。另外,按照图形密度又可以分为密集图形、半密集图形和孤立图形三类。
为了更好地理解上述过程发生的物理机理,需要建立模型,并模拟仿真光在其中的传播。且光刻仿真已经成为发展、优化光刻工艺的重要工具。这里我们重点介绍掩模衍射的计算方法。
模拟仿真掩模衍射主要有两种方法:基尔霍夫方法(Kirchhoff approach)及严格的电磁场方法(Rgorous electromagnetic field)。Kirchhoff方法将掩模当成无限薄的,透过电场的幅值、相位直接由掩模布局(mask layout)决定。例如在二元掩模(binary masks,BIM)中,透光区域的光强为1,相位为0,不透光区域光强为0。例如在交替相移掩模(alternating phase shift masks,Alt.PSM)中,透光区域的刻蚀区透过光强度为1,相位为π,透光区域的非刻蚀区透过光强度为1,相位为0,不透光区域的透过光强度都为0。Kirchhoff方法的主要特点是掩模不同区域的强度、相位变化很陡直。
当掩模特征尺寸远大于波长且厚度远小于波长时候,光的偏振特性不明显,此时Kirchhoff近似是十分精确的。随着光刻技术发展到45nm时,掩模的特征尺寸接近光源波长(ArF),且掩模厚度也达到波长量级,再加上采用大数值孔径(Numerical Aperture,NA)的浸没式光刻,光的偏振效应十分明显,必须采用严格的电磁场模型来模拟掩模的衍射。
严格的电磁场模型完全考虑了掩模的3D(Three Dimensional)效应及材料的影响。采用的数值方法主要包括:时域有限差分法(finite-difference time domainmethod,FDTD)、严格耦合波法(rigorous coupled wave analysis,)、波导法(the waveguide method,)及有限元法(finite element methods,FEM)。FDTD中,将麦克斯韦(Maxwell)方程在空间、时间上进行离散化,这些离散化的方程对时间进行积分就得到了掩模衍射场,解的精度取决于离散化时步长的大小。是将掩模电磁场、介电常数进行傅里叶Fourier级数展开得到特征值方程,再通过求解特征值方程得到问题的解,解的精度取决于Fourier展开时的阶数。FEM比较复杂,理解起来也很困难,并不十分流行。通过这些严格的电磁场模型,要么得到掩模近场的幅值、相位,要么直接得到远场衍射光的幅值、相位。严格电磁场模型表明,掩模透过区域与不透过区域透过电场幅值、相位变化不再那么陡直。
现有技术(J.Opt.Soc.Am.A,1994,11,9:2494-2502;JOURNAL OFMUDANJIANG COLLEGE OF EDUCATION,2009,6:57-59)公开了一种利用分析二维亚波长光栅的衍射特性。但该方法具有以下不足,其只能分析周期相同的多层二维光栅;该方法分析的是电介质光栅衍射特性,且收敛性较差;同时该方法只分析了一层二维光栅的衍射,而在交替相移接触孔掩模中,掩模有三个光栅层,玻璃基底中刻蚀区域在两个正交的方向上(x、y)的周期是掩模吸收层对应周期的二倍,两个正交方向上的周期都不相同,且基底移相区呈现交叉光栅特性。因此采用上述方法不能计算双吸收层交替相移接触孔掩模的衍射。
发明内容
本发明提供一种双吸收层交替相移接触孔掩模衍射的计算方法,该方法可以快速计算光刻中双吸收层交替相移接触孔掩模的衍射。
实现本发明的技术方案如下:
一种双吸收层交替相移接触孔掩模衍射的计算方法,具体步骤为:
步骤一、设定x方向上保留的谐波数为Lx,设定y方向上保留的谐波数为Ly
步骤二、根据布洛开(Floquet)条件,求解第(m,n)个衍射级次的波矢量沿着切向、法向的分量,其中m为取遍[-Dx,Dx]之间的整数,n为取遍[-Dy,Dy]之间的整数,Lx=2Dx+1,Ly=2Dy+1;
波矢量沿着切向即x、y轴的分量αm、βn为:
α m = α 0 - 2 πm / Λ x β n = β 0 - 2 πn / Λ y - - - ( 1 )
α0=nIksinθcosδ,β0=nIksinθsinδ      (2)
其中k是入射光波在真空中的波矢量,nI是入射区的折射率,θ是光波的入射角,δ为光波的方位角,Λx为掩模沿x方向三层光栅周期的最小公倍数,Λy为掩模沿y方向三层光栅周期的最小公倍数;
波矢量沿着光栅平面的法向即z轴的分量rmn、tmn为:
r mn = [ ( n I k ) 2 - α m 2 - β n 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 ≤ ( n I k ) 2 - j [ α m 2 + β n 2 - ( n I k ) 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 > ( n I k ) 2 - - - ( 3 )
t mn = [ ( n II k ) 2 - α m 2 - β n 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 ≤ ( n II k ) 2 - j [ α m 2 + β n 2 - ( n II k ) 2 ] 2 α m 2 + β n 2 > ( n II k ) 2 - - - ( 4 )
其中下标I表示入射区,nI表示入射区的折射率,下标II表示出射区,nII表示出射区的折射率,j表示虚数单位;
步骤三、将每一层二维光栅的介电常数及介电常数倒数进行傅里叶Fourier级数展开;
介电常数可作傅立叶展开表示成:
ϵ l ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ϵ l , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( l = 1,2 ) - - - ( 5 )
ϵ l ′ ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ϵ l ′ , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( l ′ = 3 ) - - - ( 6 )
其中εl,(p,q)是第l层光栅相对介电常数第(p,q)个Fourier分量,εl′,(p,q)是第l′层光栅相对介电常数第(p,q)个Fourier分量;
介电常数倒数可作傅立叶展开表示成:
1 / ϵ l ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ξ l , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( l = 1,2 ) - - - ( 7 )
1 / ϵ l ′ ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ξ l ′ , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( l ′ = 3 ) - - - ( 8 )
其中ξl,(p,q)是第l层光栅相对介电常数倒数的第(p,q)个Fourier分量,ξl′,pq是第l′层光栅相对介电常数倒数的第(p,q)个Fourier分量;
步骤四、根据步骤二中计算的αm、βn、r(m,n)、t(m,n)以及步骤三中计算的εl,(p,q)、εl′(p,q)、ξl,(p,q)及ξl′,(p,q)求解每层光栅的特征矩阵,根据电磁场切向连续边界条件,利用增强透射矩阵法求解出射区域的衍射场。
有益效果
本发明中在两个正交的方向(x,y)上,通过选取三个光栅层在对应方向上周期的最小公倍数,进行Fourier级数展开,可分析两个正交方向(x,y)上周期都不同的多层二维掩模光栅的衍射,且可以分析基底区交叉光栅的衍射;本发明通过采用增强透射矩阵法分析三层光栅锥形入射的情况,能快速求解得到双吸收层交替相移接触孔掩模的衍射场。
附图说明
图1为双吸收层交替相移接触孔掩模示意图。
图2为求解双吸收层交替相移接触孔掩模衍射流程图。
图3为本发明矩阵El的示意图。
图4为本发明矩阵El′的示意图。
图5为本发明矩阵Al的示意图。
图6为本发明矩阵Al′的示意图。
图7为本发明矩阵Kx的示意图。
图8为本发明矩阵Ky的示意图。
图9为本发明单位矩阵I的示意图。
图10为本发明矩阵YI的示意图。
图11为本发明矩阵ZI的示意图。
图12为本发明矩阵YII的示意图。
图13为本发明矩阵ZII的示意图。
图14为本发明矩阵Fc的示意图。
图15为本发明矩阵Fs的示意图。
图16为TE偏振光锥形入射(θ=10°,λ=193nm)双吸收层(CrO/Cr)交替相移接触孔掩模时,(0,0)、(0,2)、(1,1)、(2,0)衍射级次的衍射效率随着特征尺寸(晶圆尺度,nm)的变化关系图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明进行进一步详细说明。
双吸收层交替相移接触孔掩模示意图如图1所示,以下对本实施例中涉及的掩模进行说明。
本发明以掩模平面(光栅平面)的法线方向为z轴,依照右手坐标系原则,确定x轴和y轴,建立坐标系(x,y,z)如图1所示。
双吸收层交替相移接触孔掩模沿z轴方向分为三层,两层吸收层和一层相移层;第一吸收层(z0<z<z1)一般为CrO,厚度为d1=z1-z0,第二吸收层(z1<z<z2)一般为Cr,厚度为d2=z2-z1,第三相移层,其刻蚀深度为d=λ/2(n-1),以实现180°的相移。第一吸收层沿x轴呈周期Λ1x分布,占空比为f1x,第一吸收层沿y轴呈周期Λ1y分布,占空比为f1y。第二层吸收层沿x轴呈周期Λ2x分布,占空比为f2x,第二吸收层沿y轴呈周期Λ2y分布,占空比为f2y。且前两层分别在x、y轴上的周期和占空比均相同,即Λ1x=Λ2x、f1x=f2x、Λ1y=Λ2y、f1y=f2y,但f1x≠f1y,f2x≠f2y。第三层为电介质,沿x轴呈周期Λ3x分布,占空比为f3x,沿y轴呈周期Λ3y分布,占空比为f3y,且Λ3y=2Λ1y,Λ3x=2Λ1x。顶层(L′=0)、底层(L′=4)是分别是入射区、出射区,且沿着z轴的负向、正向是无限扩展,且顶层的折射率为nI,底层的折射率为nII
一束线偏振光入射到二维光栅上发生衍射,入射角为θ,方位角(入射平面与x轴夹角)为δ,偏振角(入射电场矢量与入射平面的夹角)为ψ,ψ=90°当对应于TE偏振光,ψ=0°对应于TM偏振光。
如图2所示,本发明双吸收层交替相移接触孔掩模衍射场计算方法的流程图;具体步骤为:
步骤一、设定x方向上保留的谐波数为Lx,设定y方向上保留的谐波数为Ly;上述两谐波数可以根据需要进行设定,若希望在求解电场能有较快的速度,则可以将其设置较小,若希望所求解的电场有较高的精度,则可以将其设置较大,同时也可以令Lx=Ly
步骤二、根据布洛开(Floquet)条件,求解第(m,n)个衍射级次的波矢量沿着切向、法向的分量,其中m为取遍[-Dx,Dx]之间的整数,n为取遍[-Dy,Dy]之间的整数,Lx=2Dx+1,Ly=2Dy+1。
波矢量沿着切向即x、y轴的分量αm、βn为:
α m = α 0 - 2 πm / Λ x β n = β 0 - 2 πn / Λ y - - - ( 1 )
α0=nIksinθcosδ,β0=nIksinθsinδ   (2)
其中k是入射光波在真空中的波矢量,nI是入射区的折射率,θ是光波的入射角,δ为光波的方位角,Λx为掩模沿x方向三层光栅周期的最小公倍数,由于Λ3y=2Λ1y,所以此处的Λy=Λ3y,Λy为掩模沿y方向三层光栅周期的最小公倍数,由于Λ3x=2Λ1x,所以此处的Λx=Λ3x
波矢量沿着光栅平面的法向即z轴的分量rmn、tmn为:
r mn = [ ( n I k ) 2 - α m 2 - β n 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 ≤ ( n I k ) 2 - j [ α m 2 + β n 2 - ( n I k ) 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 > ( n I k ) 2 - - - ( 3 )
t mn = [ ( n II k ) 2 - α m 2 - β n 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 ≤ ( n II k ) 2 - j [ α m 2 + β n 2 - ( n II k ) 2 ] 2 α m 2 + β n 2 > ( n II k ) 2 - - - ( 4 )
其中下标I表示入射区,nI表示入射区的折射率,下标II表示出射区,nII表示出射区的折射率,j表示虚数单位。
步骤三、将每一层二维光栅的介电常数及介电常数倒数进行傅里叶Fourier级数展开。由于三层二维光栅在x、y方向上的周期不同,级数展开时应选取三层光栅在对应方向上周期的最小公倍数。在做Fourier级数展开时,所选择的单位区域如图1(a)中虚线所示。
介电常数可作傅立叶展开表示成:
ϵ l ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ϵ l , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( l = 1,2 ) - - - ( 5 )
ϵ l ′ ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ϵ l ′ , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( l ′ = 3 ) - - - ( 6 )
其中εl,(p,q)是第l层光栅相对介电常数第(p,q)个Fourier分量,εl′,(p,q)是第l′层光栅相对介电常数第(p,q)个Fourier分量。
介电常数倒数可作傅立叶展开表示成:
1 / ϵ l ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ξ l , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( l = 1,2 ) - - - ( 7 )
1 / ϵ l ′ ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ξ l ′ , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( l ′ = 3 ) - - - ( 8 )
其中ξl,(p,q)是第l层光栅相对介电常数倒数的第(p,q)个Fourier分量。其中ξl′,pq是第l′层光栅相对介电常数倒数的第(p,q)个Fourier分量。
步骤四、根据步骤二中计算的αm、βn、r(m,n)、t(m,n)以及步骤三中计算的εl,(p,q)、εl′,(p,q)、ξl,(p,q)及ξl′,(p,q)求解每层光栅的特征矩阵,根据电磁场切向连续边界条件,利用增强透射矩阵法求解出射区域的衍射场。
步骤401、求解每个二维光栅层的特征矩阵;
二维光栅的特征矩阵为:
Ml=FlGl(l=1,2)          (9)
Ml′=Fl′Gl′(l′=3)     (10)
其中
F l = K y A l K x I - K y A l K y K x A l K x - I - K x A l K y ( l = 1,2 ) - - - ( 11 )
G l = K x K y αA l - 1 + ( 1 - α ) E l - K y 2 K x 2 - αE l - ( 1 - α ) A l - 1 - K x K y ( l = 1,2 ) - - - ( 12 )
α = f 1 y Λ 1 y f 1 x Λ 1 x + f 1 y Λ 1 y - - - ( 13 )
F l ′ = K y E l ′ - 1 K x I - K y E l ′ - 1 K y K x E l ′ - 1 K x - I - K x E l ′ - 1 K y ( l ′ = 3 ) - - - ( 14 )
G l ′ = K x K y A l ′ - 1 - K y 2 K x 2 - A l ′ - 1 - K x K y ( l ′ = 3 ) - - - ( 15 )
其中El,El′,Al,Al′,Kx,Ky、I都是(Lt×Lt)阶矩阵,Lt=Lx×Ly,l和l′皆表示层数。El中的元素为εl,(p,q)、El′中的元素为εl′,(p,q)、Al中的元素为ξl,(p,q)、Al′中的元素为ξl′,(p,q)
例如本发明设定Lx=3,Ly=3,由于 p=[-2,-1,0,1,2],q=[-2,-1,0,1,2];对于第l层光栅来说,根据步骤三生成的εl,(p,q)个,分别为:εl,(-2,-2)、εl,(-2,-1)、……εl,(2,2)
每一层光栅对应的El的分配规则相同,以下忽略对层数的考虑,对大小为(Lt×Lt)即9×9的矩阵El上元素的分配规律进行说明:
将El分成Ly×Ly(即9)个Lx×Lx(即3×3)的小矩阵,并将每一小矩阵e(i,j)当作一元素,其中i=[1,2,3]、j=[1,2,3],e(1,1)为坐标等于(1,1)的小矩阵,e(1,2)为坐标等于(1,2)的小矩阵,并依次类推。针对于每一小矩阵e(i,j)其内包含9个元素e′(i,j),(i′,j′),其中i′=[1,2,3]、j′=[1,2,3],e′(i,j),(1,1)为小矩阵e(i,j)内坐标等于(1,1)的小矩阵元素,e′(i,j),(1,2)为小矩阵e(i,j)内坐标等于(1,2)的小矩阵,并依次类推。
分配规律为:在小矩阵e(i,j)中,其第(i′,j′)个元素e′(i,j)(i′,j′)=εl,(i′-j′,i-j)
例如对小矩阵e(1,1)中的第(1,1)个元素e′(1,1),(1,1),由于i-j=0,i′-j′=0,所以e′(1,1),(1,1)(也就是相当于El中的第(1,1)个元素)等于εl,(0,0)
例如对小矩阵e(1,1)中的第(1,2)个元素e′(1,1),(1,2),由于i-j=0,i′-j′=-1,所以e′(1,1),(1,2)(也就是相当于El中的第(1,2)个元素)等于εl,(-1,0)
例如对小矩阵e(2,1)中的第(1,2)个元素e′(2,1),(1,2),由于i-j=1,i′-j′=-1,所以e′(2,1),(1,2)(也就是相当于El中的第(4,2)个元素)等于εl,(-1,1)
例如对小矩阵e(2,1)中的第(3,3)个元素e′(2,1),(3,3),由于i-j=1,i′-j′=0,所以e′(2,1),(3,3)(也就是相当于El中的第(6,3)个元素)等于εl,(0,1)
例如对小矩阵e(3,3)中的第(1,3)个元素e′(3,3),(1,3),由于i-j=0,i′-j′=-2,所以e′(3,3),(1,3)(也就是相当于El中的第(7,9)个元素)等于εl,(-2,0)
例如对小矩阵e(3,3)中的第(3,3)个元素e′(3,3),(3,3),由于i-j=0,i′-j′=0,所以e′(3,3),(3,3)也就是相当于El中的第(9,9)个元素等于εl,(0,0)
依照上述规律获取的El如图3所示。
El′、Al及Al′上元素的分配规律与El相同,如图4-6所示。
Kx为对角矩阵,其对角元为αm
例如本发明设定Lx=3,Ly=3,由于Dx=(Lx-1)/2,则Dx=1,m=[-1,0,1];根据步骤二生成的αm为3个,分别为:α-1、α0、α1
以下对大小为(Lt×Lt)即9×9的对角矩阵Kx对角元素的分配规律进行说明:
将Kx分成Ly×Ly(即9)个Lx×Lx(即3×3)的小矩阵,并将每一小矩阵当作一元素,其中i=[1,2,3]、j=[1,2,3],为坐标等于(1,1)的小矩阵,为坐标等于(1,2)的小矩阵,并依次类推。针对于每一小矩阵其内包含9个元素其中i′=[1,2,3]、j′=[1,2,3],为小矩阵内坐标等于(1,1)的小矩阵元素,为小矩阵内坐标等于(1,2)的小矩阵,并依次类推。
由于Kx为对角矩阵,则只在以及的对角位置上存在元素值,其余小矩阵的元素值皆为0。
分配规律为:在小矩阵中(即j=i),其第(i′,j′)(即j′=i′)个元素由于该分配规律与(i,j)无关,所以以及完全相同。
例如对小矩阵中的第(1,1)个元素由于i′=1,Dx=1,i′-(Dx+1)=-1,所以(也就是相当于Kx中的第(1,1)个元素)等于a-1
例如对小矩阵中的第(2,2)个元素由于i′=2,Dx=1,i′-(Dx+1)=0,所以(也就是相当于Kx中的第(2,2)个元素)等于a0
依照上述规律获取的Kx如图7所示。
Ky为对角矩阵,其对角元为βn
例如本发明设定Lx=3,Ly=3,由于Dy=(Ly-1)/2,则Dy=1,n=[-1,0,1];,根据步骤二生成的βn为3个,分别为:β-1、β0、β1
以下对大小为(Lt×Lt)即9×9的对角矩阵Ky对角元素的分配规律进行说明:
将Ky分成Ly×Ly(即9)个Lx×Lx(即3×3)的小矩阵,并将每一小矩阵当作一元素,其中i=[1,2,3]、j=[1,2,3],为坐标等于(1,1)的小矩阵,为坐标等于(1,2)的小矩阵,并依次类推。针对于每一小矩阵其内包含9个元素其中i′=[1,2,3]、j′=[1,2,3],为小矩阵内坐标等于(1,1)的小矩阵元素,为小矩阵内坐标等于(1,2)的小矩阵,并依次类推。
分配规律为:在小矩阵中(即j=i),其对角元素由于该分配规律与(i′,j′)无关,所以每一小矩阵内的对角元素相同。
例如对小矩阵中的第(1,1)个元素由于i=1,Dy=1,i-(Dy+1)=-1,所以(也就是相当于Ky中的第(1,1)个元素)等于β-1
例如对小矩阵中的第(2,2)个元素由于i=2,Dy=1,i-(Dy+1)=0,所以(也就是相当于Ky中的第(5,5)个元素)等于β0
依照上述规律获取的Ky如图8所示。
I是单位阵,如图9所示。
步骤402、求解入射区的矩阵YI、ZI,及透射区矩阵YII、ZII
其中YI、ZI为对角矩阵,对角元素分别为YII、ZII也是对角矩阵,对角元素分别为
矩阵YI、ZI YII及ZII上元素的分配规律相同,以下选取YI作为分析对象,由于k为常数,因此忽略k对其上元素的分配规律进行详细说明。
例如本发明设定Lx=3,Ly=3,由于Dx=(Lx-1)/2,则Dx=1,m=[-1,0,1],由于Dy=(Ly-1)/2,则Dy=1,n=[-1,0,1],根据步骤二生成的r(m,n)为3×3=9个,分别为:r(-1,-1)、r(-1,0)、r(-1,1)、……r(1,-1)、r(1,0)、r(1,1)
YI为(Lt×Lt)即9×9的对角矩阵,以下对YI对角元素的分配规律进行说明:
将YI分成Ly×Ly(即9)个Lx×Lx(即3×3)的小矩阵,并将每一小矩阵y(i,j)当作一元素,其中i=[1,2,3]、j=[1,2,3],y(1,1)为坐标等于(1,1)的小矩阵,y(1,2)为坐标等于(1,2)的小矩阵,并依次类推。针对于每一小矩阵y(i,j)其内包含9个元素y′(i,j),(i′,j′),其中i′=[1,2,3]、j′=[1,2,3],y′(i,j),(1,1)为小矩阵y(i,j)内坐标等于(1,1)的小矩阵元素,y′(i,j),(1,2)为小矩阵y(i,j)内坐标等于(1,2)的小矩阵,并依次类推。
由于YI为对角矩阵,则只在y(1,1)、y(2,2)以及y(3,3)的对角位置上存在元素值,其余小矩阵的元素值皆为0。
分配规律为:在小矩阵y(i,j)中(即j=i),其第(i′,j′)(即j′=i′)个元素y′(i,j),(i′,j′)=r((i′-Dx-1),(i-Dy-1))。
例如对小矩阵y(1,1)中的第(1,1)个元素y′(1,1),(1,1),由于i′=1,Dx=1,i=1,Dy=1,i′-(Dx+1)=-1,i-(Dy+1)=-1,所以y′(1,1),(1,1)(也就是相当于YI中的第(1,1)个元素)等于r(-1,-1)
例如对小矩阵y(1,1)中的第(2,2)个元素y′(1,1),(2,2),由于i′=2,Dx=1,i=1,Dy=1,i′-(Dx+1)=0,i-(Dy+1)=-1,所以y′(1,1),(2,2)(也就是相当于YI中的第(2,2)个元素)等于r(0,-1)
例如对小矩阵y(2,2)中的第(2,2)个元素y′(2,2),(2,2),由于i′=2,Dx=1,i=2,Dy=1,i′-(Dx+1)=0,i-(Dy+1)=0,所以y′(2,2),(2,2)(也就是相当于YI中的第(5,5)个元素)等于r(0,0)
依照上述规律获取的YI、ZI YII及ZII如图10-13所示。
步骤403、利用电磁场切向连续的边界条件,得到入射区与出射区电磁场之间的表达式;
sin ψ δ m 0 δ n 0 j sin ψ n I cos θ δ m 0 δ n 0 - j n I cos ψ δ m 0 δ n 0 cos ψ cos θ δ m 0 δ n 0 + I 0 - j Y I 0 0 I 0 - j Z I R =
Π L = 1 N = 3 V L , 1 V L , 1 X L W L , 1 - W L , 1 X L w L , 2 - W L , 2 X L V L , 2 V L , 2 X L V L , 1 X L V L , 1 W L , 1 X L - W L , 1 W L , 2 X L - W L , 2 V L , 2 X L V L , 2 - 1 I 0 j Y II 0 0 I 0 j Z II T (L=1,2,3)   (16)
其中
VL,1=FcWL,y-FsWL,x VL,2=FcWL,x+FsWL,y
WL,1=FcVL,x+FsVL,y WL,2=FcVL,y-FsVL,x
(17)
WL,x=[wL,x]    WL,y=[wL,y]
VL,x=[vL,x]    VL,y=[vL,y]
L表示第L层二维光栅;
W L = w L , y w L , x 为第L层二维光栅特征矩阵ML的本征矢量矩阵;
qL,l为第L层二维光栅特征矩阵ML的本征值矩阵中第(l,l)个元素的正平方根l=[1,2,3,……,2Lt];
XL表示第L层二维光栅中的对角矩阵,对角元素(l,l)为exp(-kqL,ldL);
dL表示第L层二维光栅的厚度;
V L = v L , y v L , x = F L - 1 Q L W L ;
QL是对角元素(l,l)为qL,l的对角矩阵;
Fc是对角元为的对角矩阵;
Fs是对角元为的对角矩阵;
Fc和Fs的对角元素的分配规则与YI相同,如图14-15所示。
δm0为Lx×1的矩阵,其中当m=0时,δ(m+Dx+1,1)=1;当m≠0时,δ(m+Dx+1,1)=0;
δ′n0为Ly×1的矩阵,其中当n=0时,δ′(n+Dy+1,1)=1;当n≠0时,δ′(n+Dy+1,1)=0;
R为中间变量;
T为待求解的透射场各个衍射级次的幅值;
步骤404、利用增强透射矩阵法,求解透射场的各个衍射级次的幅值T;其中T为2Lt×1的矩阵,T中的每一元素为复数a+bj的形式,其中衍射场的幅值为即获得偏振光出射区的衍射场。
利用增强透射矩阵法,入射区与出射区电磁场之间的表达式为:
sin ψ δ m 0 δ n 0 j sin ψ n I cos θ δ m 0 δ n 0 - j n I cos ψ δ m 0 δ n 0 cos ψ cos θ δ m 0 δ n 0 + I 0 - j Y I 0 0 I 0 - j Z I R = f 1 g 1 T 1 - - - ( 18 )
其中
f L g L T L = V L , 1 V L , 1 X L W L , 1 - W L , 1 X L W L , 2 - W L , 2 X L V L , 2 V L , 2 X L I b L a L - 1 X L T L - - - ( 19 )
a L b L V L , 1 V L , 1 W L , 1 - W L , 1 W L , 2 - W L , 2 V L , 2 V L , 2 - 1 f L + 1 g L + 1 - - - ( 20 )
f 4 g 4 = I 0 j Y II 0 0 I 0 jZ II - - - ( 21 )
T = a 3 - 1 X 3 a 2 - 1 X 2 a 1 - 1 X 1 T 1 - - - ( 22 )
进一步地,本发明还可求解出各衍射级次的衍射效率;
第(m,n)级次的衍射效率为:
η ( m , n ) = | T s , ( m , n ) | 2 Re ( t ( m , n ) kn I cos θ ) + | T p , ( m , n ) | 2 Re ( t ( m , n ) / n II 2 kn I cos θ ) - - - ( 23 )
其中Ts为T中的上半部分元素组成的矩阵,Tp为T中的下半部分元素组成的矩阵。Ts,(m,n)为Ts中的第((m+Dx+1)+(n+Dy)Lx)个元素,Tp,(m,n)为Tp中的第((m+Dx+1)+(n+Dy)Lx)个元素。
进一步地,本发明还可以求解各衍射级次的偏振度(Degree of Polarization,DoP)
DoP ( m , n ) = η ( m , n ) TE - η ( m , n ) TM η ( m , n ) TE + η ( m , n ) TM · 100 % - - - ( 24 )
其中当入射光为TE偏振光时,将η(m,n)定义为当入射光为TM偏振光时,将η(m,n)定义为DoP为正,表示掩模类似TE偏振片,DoP为负,表示掩模类似TM偏振片。
发明实例一:
这里计算了双吸收层(CrO/Cr)交替相移接触孔掩模中,TE锥形入射(θ=10°,λ=193nm)时,不同掩模线宽(晶圆尺度)时,(0,0)、(0,2)、(1,1)、(2,0)级次的衍射效率。其中CrO折射率、消光系数及厚度分别为1.965、1.201及18nm.Cr折射率、消光系数及厚度分别为1.477、1.762及55nm.掩模在x轴上的占空比为0.5,在y轴上的占空比为0.6。
图16为TE偏振光锥形入射(θ=10°,λ=193nm)双吸收层(CrO/Cr)交替相移接触孔掩模时,(0,0)、(0,2)、(1,1)、(2,0)衍射级次的衍射效率随着特征尺寸(晶圆尺度,nm)的变化关系图。(a)(0,0)级光的衍射效率随线宽变化的关系图,(b)(0,2)级光的衍射效率随线宽变化的关系图,(c)(1,1)级光的衍射效率随线宽变化的关系图,(d)(2,0)级光的衍射效率随线宽变化的关系图。
综上所述,以上仅为本发明的较佳实施例而已,并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (1)

1.一种双吸收层交替相移接触孔掩模衍射场的计算方法,其特征在于,具体步骤为:
步骤一、设定x方向上保留的谐波数为Lx,设定y方向上保留的谐波数为Ly
步骤二、根据布洛开(Floquet)条件,求解第(m,n)个衍射级次的波矢量沿着切向、法向的分量,其中m为取遍[-Dx,Dx]之间的整数,n为取遍[-Dy,Dy]之间的整数,Lx=2Dx+1,Ly=2Dy+1;
波矢量沿着切向即x、y轴的分量αm、βn为:
α m = α 0 - 2 πm / Λ x β n = β 0 - 2 πn / Λ y - - - ( 1 )
α0=nIksinθcosδ,β0=nIksinθsinδ    (2)
其中k是入射光波在真空中的波矢量,nI是入射区的折射率,θ是光波的入射角,δ为光波的方位角,Λx为掩模沿x方向三层光栅周期的最小公倍数,Λy为掩模沿y方向三层光栅周期的最小公倍数;
波矢量沿着光栅平面的法向即z轴的分量rmn、tmn为:
r mn = [ ( n I k ) 2 - α m 2 - β n 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 ≤ ( n I k ) 2 - j [ α m 2 + β n 2 - ( n I k ) 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 > ( n I k ) 2 - - - ( 3 )
t mn = [ ( n II k ) 2 - α m 2 - β n 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 ≤ ( n II k ) 2 - j [ α m 2 + β n 2 - ( n II k ) 2 ] 1 / 2 α m 2 + β n 2 > ( n II k ) 2 - - - ( 4 )
其中下标I表示入射区,nI表示入射区的折射率,下标II表示出射区,nII表示出射区的折射率,j表示虚数单位;
步骤三、将每一层二维光栅的介电常数及介电常数倒数进行傅里叶Fourier级数展开;
介电常数可作傅立叶展开表示成:
ϵ l ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ϵ l , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( l = 1,2 ) - - - ( 5 )
ϵ l ′ ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ϵ l ′ , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( l ′ = 3 ) - - - ( 6 )
其中εl,(p,q)是第l层光栅相对介电常数第(p,q)个Fourier分量,
在l=1时,εl,(p,q)1,(p,q)是第1层光栅相对介电常数第(p,q)个Fourier分量,
在l=2时,εl,(p,q)=ε2,(p,q)是第2层光栅相对介电常数第(p,q)个Fourier分量;
εl,(p,q)是第l'层光栅相对介电常数第(p,q)个Fourier分量,
在l′=3时,εl′,(p,q)=ε3,(p,q)是第3层光栅相对介电常数第(p,q)个Fourier分量;
∂ x = L x - 1 , ∂ y = L y - 1 ;
介电常数倒数作傅立叶展开表示成:
1 / ϵ l ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ϵ l , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( l = 1,2 ) - - - ( 7 )
1 / ϵ l ′ ( x , y ) = Σ p = - ∂ x ∂ x Σ q = - ∂ y ∂ y ϵ l ′ , ( p , q ) exp [ j 2 π ( px / Λ x + qy / Λ y ) ] ( l ′ = 3 ) - - - ( 8 )
其中ξl,(p,q)是第l层光栅相对介电常数倒数的第(p,q)个Fourier分量,ξl',pq是第l'层光栅相对介电常数倒数的第(p,q)个Fourier分量;
步骤四、根据步骤二中计算的αm、βn、r(m,n)、t(m,n)以及步骤三中计算的εl,(p,q)、εl′,(p,q)、ξl,(p,q)及ξl′,(p,q)求解每层光栅的特征矩阵,根据电磁场切向连续边界条件,利用增强透射矩阵法求解出射区域的衍射场。
CN201210148199.3A 2012-05-11 2012-05-11 双吸收层交替相移接触孔掩模衍射场的计算方法 Active CN102636951B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210148199.3A CN102636951B (zh) 2012-05-11 2012-05-11 双吸收层交替相移接触孔掩模衍射场的计算方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210148199.3A CN102636951B (zh) 2012-05-11 2012-05-11 双吸收层交替相移接触孔掩模衍射场的计算方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102636951A CN102636951A (zh) 2012-08-15
CN102636951B true CN102636951B (zh) 2014-07-30

Family

ID=46621385

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210148199.3A Active CN102636951B (zh) 2012-05-11 2012-05-11 双吸收层交替相移接触孔掩模衍射场的计算方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102636951B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105093405B (zh) * 2014-05-09 2018-08-10 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 亚波长光栅波导结构真彩元件及其制作方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010088139A2 (en) * 2009-01-29 2010-08-05 Synopsys, Inc. Compact abbe's kernel generation using principal component analysis
CN102122111A (zh) * 2011-03-20 2011-07-13 北京理工大学 一种基于像素的光学邻近效应校正的优化方法
CN102269925A (zh) * 2011-09-09 2011-12-07 北京理工大学 一种基于Abbe矢量成像模型的相移掩膜优化方法
CN102323723A (zh) * 2011-09-09 2012-01-18 北京理工大学 基于Abbe矢量成像模型的光学邻近效应校正的优化方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7034963B2 (en) * 2001-07-11 2006-04-25 Applied Materials, Inc. Method for adjusting edges of grayscale pixel-map images

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010088139A2 (en) * 2009-01-29 2010-08-05 Synopsys, Inc. Compact abbe's kernel generation using principal component analysis
CN102122111A (zh) * 2011-03-20 2011-07-13 北京理工大学 一种基于像素的光学邻近效应校正的优化方法
CN102269925A (zh) * 2011-09-09 2011-12-07 北京理工大学 一种基于Abbe矢量成像模型的相移掩膜优化方法
CN102323723A (zh) * 2011-09-09 2012-01-18 北京理工大学 基于Abbe矢量成像模型的光学邻近效应校正的优化方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN102636951A (zh) 2012-08-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102053509B (zh) 一种压印光刻中凸起光栅对准标记的制作方法
CN102636951B (zh) 双吸收层交替相移接触孔掩模衍射场的计算方法
Dossou et al. A combined three-dimensional finite element and scattering matrix method for the analysis of plane wave diffraction by bi-periodic, multilayered structures
CN102540698B (zh) 双吸收层交替相移掩模衍射场的计算方法
CN102654729B (zh) 带辅助线条的双层衰减相移接触孔掩模衍射场的计算方法
CN101738845A (zh) 光罩及其制作方法
CN102662303B (zh) 多吸收层二维光掩模近场分布的计算方法
CN102621801B (zh) 带辅助线条的双层衰减相移l/s掩模锥形衍射场的计算方法
CN104238282A (zh) 极紫外光刻含缺陷掩模衍射谱的快速严格仿真方法
CN102681333B (zh) 多吸收层一维光掩模近场分布的计算方法
CN102621799B (zh) 双吸收层衰减相移掩模衍射场及偏振度的计算方法
CN102654734B (zh) 双吸收层交替相移l/s掩模锥形衍射场的计算方法
CN102621800B (zh) 带辅助线条的双吸收层衰减相移掩模衍射场的计算方法
CN102809894B (zh) 一种计算多吸收层接触孔掩模衍射的方法
CN103617309A (zh) 极紫外光刻无缺陷掩模衍射谱快速严格仿真方法
Yeung et al. Waveguide effect in high-NA EUV lithography: The key to extending EUV lithography to the 4-nm node
CN105043294B (zh) 适用于纳米级三维形貌测量的远场矢量光学特性建模方法
CN101923278A (zh) 一种光刻工艺中移相掩模版的建模方法
CN101988896B (zh) 周期性结构的非破坏性分析方法
Bischoff et al. Scatterometry modeling for gratings with roughness and irregularities
Yeung et al. Three-dimensional mask transmission simulation using a single integral equation method
Gross et al. Optimal sets of measurement data for profile reconstruction in scatterometry
Zhu et al. METRO-3D: an efficient three-dimensional wafer inspection simulator for next-generation lithography
CN109870755A (zh) 一种全息防伪包装薄膜及其零级衍射光栅的制造方法
CN105242502B (zh) 一种对准光栅组及其光栅的制作方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant