CN102024420A

CN102024420A - 显示设备

Info

Publication number: CN102024420A
Application number: CN2010102839766A
Authority: CN
Inventors: 中村和夫
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Joled Inc
Priority date: 2009-09-18
Filing date: 2010-09-10
Publication date: 2011-04-20
Anticipated expiration: 2030-09-10
Also published as: TW201142790A; CN102024420B; US20110069061A1; US20130249965A1; KR20110031096A; US8497857B2; JP5246433B2; JP2011065048A

Abstract

一种显示设备，包括：显示板，包含其中二维地布置显示像素的显示区域、以及其中布置第一虚拟像素和第二虚拟像素的非显示区域；第一驱动部件，其通过将具有不同幅度的信号电压施加到第一虚拟像素中的每一个来使得第一虚拟像素中的每一个能够发射光；第二驱动部件，其通过使具有不同幅度的恒定电流流到第二虚拟像素中的每一个来使得第二虚拟像素中的每一个能够发射光；电流测量部件，其检测流过第一虚拟像素中的每一个的电流以输出其电流信息；光接收部件，其检测从第二虚拟像素中的每一个发射的光以输出其亮度信息；以及计算部件，其使用所述电流信息导出电流劣化函数，并且使用所述亮度信息导出效率劣化函数。

Description

显示设备

技术领域

本发明涉及一种显示设备，在该显示设备中，在显示板内提供光发射元件。

背景技术

近年来，在显示图像的显示设备的领域中，使用电流驱动型光学元件作为像素的光发射元件的显示设备已经被开发出来，并且被逐渐商业化，所述电流驱动型光学元件例如为有机EL(电致发光)元件，其中，光发射亮度根据流动的电流的值而变化。与液晶元件等不同，有机EL元件是自发光元件。因此，在使用有机EL元件的显示设备(有机EL显示设备)中，由于光源(背光)不是必需的，因此与其中需要光源的液晶显示设备相比，实现了薄型化和高亮度。具体地，在使用有源矩阵方法作为驱动方法的情况下，可以点亮和保持每个像素，这使得低功耗成为可能。因此，预计有机EL显示设备成为下一代平板显示器的主流。

然而，在有机EL元件中，元件根据流动电流的量而劣化(deteriorate)，并且存在亮度降低的问题。因此，在使用有机EL元件作为显示设备中的像素的情况下，劣化的状态可能随每个像素而变化。例如，在相同位置处以高亮度长时间显示诸如时间和显示频道之类的信息的情况下，仅仅该部分中的像素的劣化被加快。结果，在包括劣化被加快的像素的部分中显示具有高亮度的视频的情况下，产生被称为“老化”的现象，使得仅仅劣化被加快的像素的部分被较暗地显示。由于老化是不可逆的，因此当老化一旦产生时，它就不会被消除。

迄今为止已经提出了大量防止老化的方法。例如，在日本未审专利公开第2002-351403号中，公开了这样的方法：在除了显示区域以外的区域中提供虚拟(dummy)像素，并且通过检测虚拟像素发光时的端电压来估计虚拟像素的劣化程度，从而通过使用该估计来校正视频信号。此外，例如，在日本未审专利公开第2008-58446号和国际公布WO2006/046196中，公开了这样的方法：将光学传感器布置在每个显示像素中，并且通过使用从该光学传感器输出的光接收信号来校正视频信号。

发明内容

然而，在日本未审专利公开第2002-351403号的方法中，由于没有基于显示区域中的像素的光发射信息来估计像素的劣化程度，并且难以准确地校正视频信号，因此存在难以防止老化的问题。此外，在日本未审专利公开第2008-58446号和国际公布WO2006/046196的方法中，由于每个像素中的光学传感器的光电转换效率不同，因此，例如，在以相同亮度进行显示的两个像素中，光接收信号的强度可能不同。结果，存在难以准确防止老化的问题。

鉴于前述内容，希望提供一种能够准确地防止老化的显示设备。

根据本发明的实施例，提供了一种显示设备，包括显示板，该显示板包括其中二维地布置多个显示像素的显示区域、以及其中布置多个第一虚拟像素和多个第二虚拟像素的非显示区域。此外，该显示设备包括：第一驱动部件，其通过将具有彼此不同的幅度的信号电压施加到第一虚拟像素中的每一个来使得第一虚拟像素中的每一个能够发射光；以及第二驱动部件，其通过使具有彼此不同的幅度的恒定电流流到第二虚拟像素中的每一个来使得第二虚拟像素中的每一个能够发射光。此外，显示设备包括：电流测量部件，其通过检测流过第一虚拟像素中的每一个的电流来输出第一虚拟像素中的每一个的电流信息；光接收部件，其通过检测从第二虚拟像素中的每一个发射的光来输出第二虚拟像素中的每一个的亮度信息；以及计算部件，其通过使用所述电流信息导出电流劣化函数，并且通过使用所述亮度信息导出效率劣化函数。

在根据本发明的该实施例的显示设备中，将具有彼此不同的幅度的信号电压施加到在显示板的非显示区域中提供的第一虚拟像素中的每一个，第一虚拟像素中的每一个以依照该信号电压幅度的亮度发射光，通过电流测量部件来检测流过第一虚拟像素中的每一个的电流，并且从电流测量部件输出第一虚拟像素中的每一个的电流信息。此外，使具有彼此不同的幅度的恒定电流流到在显示板的非显示区域中提供的第二虚拟像素中的每一个，第二虚拟像素中的每一个以依照该恒定电流幅度的亮度发射光，通过光接收部件来检测从第二虚拟像素中的每一个发射的光，并且从光接收部件输出第二虚拟像素中的每一个的亮度信息。随后，通过使用所述电流信息导出电流劣化函数，并且通过使用所述亮度信息导出效率劣化函数。由此，例如，根据电流劣化函数和每个显示像素的视频信号的历史，可以预测每个显示像素的电流劣化比率。此外，根据效率劣化函数和每个显示像素的视频信号的历史，可以预测每个显示像素的效率劣化比率。

这里，在根据本发明的实施例的显示设备中，优选地将在其中导出电流劣化函数的循环期(cycle)设置为比在其中导出效率劣化函数的循环期短。在这一情况下，可以在电流被校正的状态下校正效率劣化。

本发明的其它和进一步的目的、特征和优点将从以下描述更充分地显现出来。

附图说明

图1是图示根据本发明实施例的显示设备的结构示例的示意图。

图2是图示显示区域的像素电路的结构示例的示意图。

图3是图示非显示区域的像素电路的结构示例的示意图。

图4是图示图1中的显示板的结构示例的顶面视图。

图5是图示对于每个初始电流的电流劣化比率的时间改变示例的特性视图。

图6是图示电流劣化比率和初始电流S_s的虚拟像素的电流劣化比率之间的关系示例的关系视图。

图7是图示幂系数n(S_i，S_s)和初始电流比率S_i/S_s之间的关系示例的关系视图。

图8是图示时刻T_k处的电流劣化比率的预测值S_s2和时刻T_k处的电流劣化比率的测量值S_s1之间的关系示例的关系视图。

图9是图示时刻T_k-1处的电流劣化函数I_s(t)和时刻T_k处的电流劣化函数I_s(t)之间的关系示例的关系视图。

图10是解释幂系数的计算方法示例的概念图。

图11是图示时刻T_k-1处的幂系数n(S_i，S_s)和时刻T_k处的幂系数n(S_i，S_s)之间的关系示例的关系视图。

图12是解释电流劣化函数I_i(t)的计算方法示例的概念图。

图13是解释处于参考亮度的光发射累积时间T_xy的导出方法示例的概念图。

图14是解释电流校正量R_I的导出方法示例的概念图。

图15是图示对于每个初始亮度的效率劣化比率的时间改变示例的特性视图。

图16是图示效率劣化比率和初始亮度Y_s的虚拟像素的效率劣化比率之间的关系示例的关系视图。

图17是图示幂系数n(Y_i，Y_s)和初始亮度比率Y_i/Y_s之间的关系示例的关系视图。

图18是图示时刻T_k处的效率劣化比率的预测值Y_s2和时刻T_k处的效率劣化比率的测量值Y_s1之间的关系示例的关系视图。

图19是图示时刻T_k-1处的效率劣化函数F_s(t)和时刻T_k处的效率劣化函数F_s(t)之间的关系示例的关系视图。

图20是解释幂系数的计算方法示例的概念图。

图21是图示时刻T_k-1处的幂系数n(Y_i，Y_s)和时刻T_k处的幂系数n(Y_i，Y_s)之间的关系示例的关系视图。

图22是解释效率劣化函数F_i(t)的计算方法示例的概念图。

图23是解释处于参考亮度的光发射累积时间T_xy的导出方法示例的概念图。

图24是解释效率校正量R_y的导出方法示例的概念图。

图25是前述实施例的显示设备的第一应用示例的外观的透视图。

图26A是图示从前侧看上去的第二应用示例的外观的透视图，图26B是图示从后侧看上去的外观的透视图。

图27是图示第三应用示例的外观的透视图。

图28是图示第四应用示例的外观的透视图。

图29A是未合盖的第五应用示例的正视图，图29B是其侧视图，图29C是已合盖的第五应用示例的正视图，图29D是其左侧视图，图29E是其右侧视图，图29F是其顶面视图，图29G是其底面视图。

具体实施方式

在下文中，将参照附图详细描述本发明的实施例。将按照以下顺序进行描述。

1.实施例(图1到24)

2.修改(没有图示)

-初始电流S_i较低的每个虚拟像素16由多个虚拟像素构成的示例

-初始亮度Y_i较低的每个虚拟像素18由多个虚拟像素构成的示例

-在参考像素中出现故障的情况下将另一个虚拟像素16新设置为参考像素的示例

-在参考像素中出现故障的情况下将另一个虚拟像素18新设置为参考像素的示例

-将采样周期ΔT₁设置为可变的示例

-将采样周期ΔT₂设置为可变的示例

-仅利用4个算术运算导出幂系数n(S_i，S_s)的示例

-仅利用4个算术运算导出幂系数n(Y_i，Y_s)的示例

3.应用示例(图25到29)

1.实施例

(显示设备1的示意结构)

图1图示了根据本发明实施例的显示设备1的示意结构。显示设备1包括显示板10以及驱动显示板10的驱动电路20。

显示板10包括显示区域12，在显示区域12中二维地布置多个有机EL元件11R、11G和11B。在此实施例中，彼此邻近的这三个有机EL元件11R、11G和11B组成一个像素(显示像素13)。在下文中，“有机EL元件11”被适当地用作有机EL元件11R、11G和11B的一般术语。显示板10还包括非显示区域15，在非显示区域15中二维地布置多个有机EL元件14R、14G和14B。在此实施例中，彼此邻近的这三个有机EL元件14R、14G和14B组成一个像素(虚拟像素16)。在下文中，“有机EL元件14”被适当地用作有机EL元件14R、14G和14B的一般术语。

此外，在非显示区域15中，二维地布置多个有机EL元件17R、17G和17B。在此实施例中，彼此邻近的这三个有机EL元件17R、17G和17B组成一个像素(虚拟像素18)。在下文中，“有机EL元件17”被适当地用作有机EL元件17R、17G和17B的一般术语。在非显示区域15中，提供光接收元件组19(光接收部件)，其接收从有机EL元件17R、17G和17B发射的光。尽管在图中没有示出，但是光接收元件组19例如由多个光接收元件组成。所述多个光接收元件例如被二维地布置，同时与各个有机EL元件17配对。每个光接收元件检测从其对应的虚拟像素18(有机EL元件17)发射的光(所发射的光)，并且输出所述虚拟像素18的光接收信号19A(亮度信息)。每个光接收元件例如为光电二极管。

驱动电路20包括定时产生电路21、视频信号处理电路22、信号线驱动电路23、扫描线驱动电路24、虚拟像素驱动电路25、电流测量电路26、测量信号处理电路27和存储电路28。

(像素电路31)

图2图示了显示区域12中的电路结构的示例。在显示区域12中，多个像素电路31被二维地布置，同时与各个有机EL元件11配对。每个像素电路31例如由驱动晶体管T_r1、写入晶体管T_r2和保持电容器C_s组成，并且具有2Tr1C的电路结构。驱动晶体管T_r1和写入晶体管T_r2例如由n沟道MOS薄膜晶体管(TFT)形成。驱动晶体管T_r1或写入晶体管T_r2可以是p沟道MOS TFT。

在显示区域12中，沿列的方向布置多个信号线DTL，并且分别沿行的方向布置多个扫描线WSL和多个电源线Vcc。在每个信号线DTL和每个扫描线WSL的每个交叉点附近，提供有机EL元件11R、11G和11B(子像素)之一。每个信号线DTL连接到信号线驱动电路23的输出端子(在图中没有示出)以及写入晶体管T_r2的漏极电极(在图中没有示出)。每个扫描线WSL连接到扫描线驱动电路24的输出端子(在图中没有示出)以及写入晶体管T_r2的栅极电极(在图中没有示出)。每个电源线Vcc连接到电源的输出端子(在图中没有示出)以及驱动晶体管T_r1的漏极电极(在图中没有示出)。写入晶体管T_r2的源极电极(在图中没有示出)连接到驱动晶体管T_r1的栅极电极(在图中没有示出)以及保持电容器C_s的一端。驱动晶体管T_r1的源极电极(在图中没有示出)和保持电容器C_s的另一端连接到有机EL元件11的阳极电极(在图中没有示出)。有机EL元件11的阴极电极(在图中没有示出)例如连接到地线GND。

图3图示了非显示区域15中的电路结构的示例。在非显示区域15中，具有与像素电路31相同的结构的多个像素电路32被二维地布置，同时与各个有机EL元件14配对。每个像素电路32例如由驱动晶体管T_r1’、写入晶体管T_r2’和保持电容器C_s’组成，并且具有2Tr1C的电路结构。驱动晶体管T_r1’和写入晶体管T_r2’例如由n沟道MOS TFT形成。驱动晶体管T_r1’或写入晶体管T_r2’可以是p沟道MOS TFT。

此外，在非显示区域15中，沿列的方向布置多个信号线DTL’，并且分别沿行的方向布置多个扫描线WSL’和多个电源线Vcc’。在每个信号线DTL’和每个扫描线WSL’的每个交叉点附近，提供有机EL元件14R、14G和14B(子像素)之一。每个信号线DTL’连接到虚拟像素驱动电路25的输出端子(在图中没有示出)以及写入晶体管T_r2’的漏极电极(在图中没有示出)。每个扫描线WSL’连接到虚拟像素驱动电路25的输出端子(在图中没有示出)以及写入晶体管T_r2’的栅极电极(在图中没有示出)。每个电源线Vcc’连接到电源的输出端子(在图中没有示出)以及驱动晶体管T_r1’的漏极电极(在图中没有示出)。写入晶体管T_r2’的源极电极(在图中没有示出)连接到驱动晶体管T_r1’的栅极电极(在图中没有示出)以及保持电容器C_s’的一端。驱动晶体管T_r1’的源极电极(在图中没有示出)和保持电容器C_s’的另一端连接到有机EL元件14的阳极电极(在图中没有示出)。有机EL元件14的阴极电极(在图中没有示出)例如连接到地线GND。

(显示板10的顶面结构)

图4图示了显示板10的顶面结构的示例。显示板10具有例如其中驱动板30和密封板40通过密封层(在图中没有示出)粘合在一起的结构。

尽管在图4中没有示出，但是驱动板30包括在显示区域12中二维地布置的多个有机EL元件11、以及邻近每个有机EL元件11布置的多个像素电路31。此外，尽管在图4中没有示出，但是驱动板30包括在非显示区域15中二维地布置的多个有机EL元件14和17、以及邻近每个有机EL元件17布置的多个光接收元件。

在驱动板30的一条边(长边)上，例如，如图4所示，安装多个视频信号供应器TAB 51、控制信号供应器TCP 54、以及测量信号输出端TCP 55。在驱动板30的另一条边(短边)上，例如，安装扫描信号供应器TAB 52。此外，在驱动板30的、但是与视频信号供应器TAB 51的边不同的一条边(长边)上，例如，安装电源供应器TCP 53。通过将其中集成了信号线驱动电路23的IC架空地(aerially)接线到薄膜形状的布线基板的孔中来形成视频信号供应器TAB 51。通过将其中集成了扫描线驱动电路24的IC架空地接线到薄膜形状的布线基板的孔中来形成扫描信号供应器TAB 52。通过在薄膜上形成将外部电源与电源线Vcc和Vcc’互相电连接的多个连线(wiring)来形成电源供应器TCP 53。通过在薄膜上形成将外部虚拟像素驱动电路25与虚拟像素16和18以及光接收元件组19互相电连接的多个连线来形成控制信号供应器TCP 54。通过在薄膜上形成将外部测量信号处理电路27和光接收元件组19互相电连接的多个连线来形成测量信号输出端TCP 55。此外，信号线驱动电路23和扫描线驱动电路24可以不在TAB中形成，而是可以被形成在例如驱动板30上。

密封板40包括例如将有机EL元件11、14和17密封的密封基板(在图中没有示出)以及滤色器(在图中没有示出)。例如在密封基板表面上的、有机EL元件11的光透射的区域中提供滤色器。该滤色器包括例如用于红色的过滤器、用于绿色的过滤器、以及用于蓝色的滤色器(在图中没有示出)，它们对应于有机EL元件11R、11G和11B中的每一个。此外，密封板40包括例如光反射部件(在图中没有示出)。该光反射部件意图反射从有机EL元件17发射的光，从而允许该光进入光接收元件组19。例如，在密封基板的表面上的、有机EL元件17的光透射的区域中提供该光反射部件。

(驱动电路20)

接下来，将参照图1描述驱动电路20的每个电路。定时产生电路21控制视频信号处理单元22、信号线驱动电路23、扫描线驱动电路24、虚拟像素驱动电路25、电流测量电路26以及测量信号处理电路27，从而使得它们能够互相协作地操作。

定时产生电路21响应于从外部输入的同步信号20B(与从外部输入的同步信号20B同步)而输出例如控制信号21A到上述电路中的每一个。定时产生电路21例如与视频信号处理电路22、虚拟像素驱动电路25、电流测量电路26、测量信号处理电路27、存储电路28等一起被形成在例如与显示板10分开提供的控制电路基板(在图中没有示出)上。

视频信号处理单元22响应于控制信号21A的输入(与控制信号21A的输入同步)而校正例如从外部输入的数字视频信号20A，并且将校正后的视频信号转换为模拟信号以便将该模拟信号输出到信号线驱动电路23。在此实施例中，视频信号处理电路22通过使用从存储电路28读取的校正信息27A(稍后将描述)来校正视频信号20A。例如，对于每个水平周期，视频信号处理电路22从存储电路28读取一行的每个显示像素13的校正量(电流校正量R_I以及效率校正量R_y)(稍后将描述)作为校正信息27A，并且通过使用所读取的校正量(电流校正量R_I以及效率校正量R_y)校正视频信号20A以便将校正后的视频信号22A输出到信号线驱动电路23。

信号线驱动电路23响应于控制信号21A的输入(与控制信号21A的输入同步)而将从视频信号处理电路22输入的模拟视频信号22A输出到每个信号线DTL。如图4所示，例如，在安装在驱动板30的一条边(长边)上的视频信号供应器TAB 51中提供信号线驱动电路23。扫描线驱动电路24响应于控制信号21A的输入(与控制信号21A的输入同步)而从多个扫描线WSL中依序选择一个扫描线WSL。如图4所示，例如，在安装在驱动板30的另一条边(短边)上的扫描信号供应器TAB 52中提供扫描线驱动电路24。

测量信号处理电路27基于从光接收元件组19输入的光接收信号19A导出校正信息27A，并且响应于控制信号21A的输入(与控制信号21A的输入同步)而将所导出的校正信息27A输出到存储电路28。此外，稍后将描述校正信息27A的导出方法。存储电路28存储从测量信号处理电路27输入的校正信息27A，使得视频信号处理电路22可以读取存储在存储电路28中的校正信息27A。

(电流校正)

虚拟像素驱动电路25响应于控制信号21A的输入(与控制信号21A的输入同步)而将幅度彼此不同的信号电压V_sigi(恒定值)施加到连接到每个虚拟像素16的信号线DTL’，从而使得每个虚拟像素16能够发射具有彼此不同的灰度级(gray scale)的光。例如，在虚拟像素16的数目为n的情况下，虚拟像素驱动电路25允许将恒定电压施加到第一虚拟像素16使得初始电流为S₁，允许将恒定电压施加到第二虚拟像素16使得初始电流为S₂(＞S₁)，允许将恒定电压施加到第i虚拟像素16使得初始电流为S_i(＞S_i-1)，并且允许将恒定电压施加到第n虚拟像素16使得初始电流为S_n(＞S_n-1)。虚拟像素驱动电路25例如测量每个虚拟像素16发射光期间的时间。

此外，即使在继续将具有恒定值的信号电压V_sigi施加到连接到每个虚拟像素16的信号线DTL’的情况下，例如如图5所示，每个虚拟像素16的亮度也随着时间渡过而逐渐减小。这是因为在连接到每个虚拟像素16的像素电路32中包括的诸如驱动晶体管T_r1’之类的半导体元件具有根据电流施加时间(电流施加累积时间)劣化的性质，并且随着劣化的进展，电流变得难以流动。此外，图5中的“S_S”表示流过在每个虚拟像素16中被设置为参考像素(稍后将描述)的像素中的有机EL元件14的初始电流。

流过每个虚拟像素16中的有机EL元件14的电流的劣化比率(电流劣化比率)的改变不是均一的。例如，如图6所示，当在横轴上表示被设置为参考像素的像素(虚拟像素16)的电流劣化比率时，可以看到，在开始时，与参考像素的电流劣化比率的改变相比，具有比参考像素的初始电流S_S小的初始电流的虚拟像素16的电流劣化比率的改变更缓和。另一方面，可以看到，在开始时，与参考像素的电流劣化比率的改变相比，具有比参考像素的初始电流S_S大的初始电流的虚拟像素16的电流劣化比率的改变更剧烈。通过以下等式来表示在图6中例示的每个虚拟像素16的电流劣化比率的改变。

等式1

D_{si} = {D_{ss}}^{n (S_{i}, S_{s})}

在等式1中，D_si表示第i虚拟像素16的电流劣化比率。D_ss表示参考像素的电流劣化比率。n(S_i，S_s)表示第i虚拟像素16的电流相对于参考像素的电流的幂系数。幂系数n(S_i，S_s)例如是通过将(Log(S_i(T_k))-Log(S_i(T_k-1))除以(Log(S_s(T_k))-Log(S_s(T_k-1))导出的，例如如以下等式所示。

等式2

n (s_{i}, s_{s}) = \frac{\log (s_{i} (T_{k})) - \log (s_{i} (T_{k - 1}))}{\log (s_{s} (T_{k})) - \log (s_{s} (T_{k - 1}))}

在等式2中，Log(S_s(T_k))表示S_s(T_k)的对数，Log(S_s(T_k-1))表示S_s(T_k-1)的对数，Log(S_i(T_k))表示S_i(T_k)的对数，Log(S_i(T_k-1))表示S_i(T_k-1)的对数。

在等式2中，S_s(T_k)表示时刻T_k处参考像素的电流信号26A(电流信息)，并且对应于参考像素的电流信息中的最新电流信息。S_s(T_k-1)表示时刻T_k-1(＜时刻T_k)处参考像素的电流信号26A(电流信息)，并且对应于参考像素的电流信息中的非最新电流信息。S_i(T_k)表示时刻T_k处第i虚拟像素16的电流信号26A(电流信息)，并且对应于第i虚拟像素16(非参考像素)的电流信息中的最新电流信息。S_i(T_k-1)表示时刻T_k-1处第i虚拟像素16的电流信号26A(电流信息)，并且对应于第i虚拟像素16(非参考像素)的电流信息中的非最新电流信息。时刻T_k-1和时刻T_k之间的关系例如由以下等式表示。

等式3

T_k＝T_k-1-ΔT₁

在等式3中，ΔT₁表示采样周期。这里，采样周期ΔT₁表示例如在其中测量信号处理电路27导出等式2右侧的分母的值和分子的值的循环期。采样周期ΔT₁优选地被设置为短于稍后将描述的采样周期ΔT₂。测量信号处理电路27将采样周期ΔT₁设置为在任何时间都是恒定的。

例如，如图7所示，当横轴表示每个虚拟像素16的初始电流S_i与参考像素的初始电流S_s的比率(S_i/S_s)时，在时刻T_k，按照上述方式导出的幂系数n(S_i，S_s)绘制出向右的上升曲线，其随着初始电流S_i的增加而增加。此外，如可以从等式2明显看出的，幂系数n(S_i，S_s)在S_s/S_s处为1。

接下来，将参照图8到图14描述用于校正视频信号20A的电流校正量R_I的导出方法。

(初始设置)

首先，将描述初始设置。测量信号处理电路27将多个虚拟像素16中的一个像素设置为参考像素。在此实施例中，不将参考像素改变为另一个虚拟像素16(非参考像素)，而是始终将同一个虚拟像素16设置为参考像素。

接下来，测量信号处理电路27从电流测量电路26获得时刻T₁和T₂处的电流信号26A。具体地，测量信号处理电路27从电流测量电路26获得时刻T₁和T₂处的、作为多个虚拟像素16中的一个像素的参考像素的电流信号26A。此外，测量信号处理电路27从电流测量电路26获得时刻T₁和T₂处的、作为多个虚拟像素16中除了参考像素之外的所有像素的多个非参考像素的电流信号26A。接下来，测量信号处理电路27从参考像素的电流信息导出参考像素的电流劣化信息(Log(S_s(T₂))-Log(S_s(T₁)))，并且从每个非参考像素的电流信息导出每个非参考像素的电流劣化信息(Log(S_i(T₂))-Log(S_i(T₁)))。

接下来，根据参考像素的电流劣化信息和每个非参考像素的电流劣化信息，测量信号处理电路27导出时刻T₂处每个非参考像素的电流信息与参考像素的电流信息的幂系数n(S_i，S_s)。接下来，根据参考像素的电流信息，测量信号处理电路27导出时刻T₂处的表示参考像素的电流的时间改变的电流劣化函数I_s(t)。此外，根据电流劣化函数I_s(t)和幂系数n(S_i，S_s)，测量信号处理电路27导出时刻T₂处的表示每个非参考像素的电流的时间改变的电流劣化函数I_i(t)。以这一方式，测量信号处理电路27通过使用初始电流信息导出时刻T₂处的电流劣化函数I_s(t)和I_i(t)。

(数据更新)

接下来，将描述数据更新。测量信号处理电路27从电流测量电路26获得时刻T_k-1和T_k处的参考像素的电流信号26A以及多个非参考像素的电流信号26A。此时的参考像素的电流信号26A的值(测量值)被视为S_s1(参照图8)。接下来，根据时刻T_k-1处的电流劣化函数I_s(t)，测量信号处理电路27预测时刻T_k处的参考像素的电流信息。此时的预测值被视为S_s2(参照图8)。接下来，根据测量值S_s1和预测值S_s2之间的比较，测量信号处理电路27确定测量值S_s1和预测值S_s2是否彼此一致。结果，例如，在测量值S_s1和预测值S_s2彼此一致的情况下，测量信号处理电路27将时刻T_k-1处的电流劣化函数I_s(t)视为时刻T_k处的电流劣化函数I_s(t)。另一方面，例如，在测量信号处理电路27基于测量值S_s1和预测值S_s2之间的比较确定测量值S_s1不同于预测值S_s2的情况下，测量信号处理电路27根据参考像素的电流信息导出时刻T_k处的电流劣化函数I_s(t)。

接下来，根据参考像素的电流信息，测量信号处理电路27导出参考像素的电流劣化信息(Log(S_s(T_k))-Log(S_s(T_k-1)))。此外，根据多个非参考像素的电流信息，测量信号处理电路27导出每个非参考像素的电流劣化信息(Log(S_i(T_k))-Log(S_i(T_k-1)))。接下来，根据参考像素的电流劣化信息以及每个非参考像素的电流劣化信息，测量信号处理电路27导出时刻T_k处的幂系数n(S_i，S_s)。

接下来，测量信号处理电路27将时刻T_k-1处的电流劣化函数I_s(t)的参数(例如p1、p2、...、pm)更新为时刻T_k处的电流劣化函数I_s(t)的参数(例如p1’、p2’、...、pm’)(参照图9)。换言之，测量信号处理电路27根据参考像素的电流信息中的最新电流信息(S_s(T_k))以及参考像素的电流信息中的非最新电流信息(S_s(T_k-1))来更新电流劣化函数I_s(t)的参数。测量信号处理电路27例如将新获得的电流劣化函数I_s(t)的参数存储在存储电路28中。

接下来，根据时刻T_k处的电流劣化函数I_s(t)(参照图10)以及幂系数n(S_i，S_s)(参照图11)，测量信号处理电路27导出时刻T_k处的电流劣化函数I_i(t)(参照图12)。具体地，测量信号处理电路27通过使用以下等式来导出时刻T_k处的电流劣化函数I_i(t)。

等式4

I_{i} (t) = I_{s} {(t)}^{n (S_{i}, S_{s})}

接下来，测量信号处理电路27将时刻T_k-1处的每个非参考像素的电流劣化函数I_i(t)的参数更新为时刻T_k处的每个非参考像素的电流劣化函数I_i(t)的参数。测量信号处理电路27例如将新获得的电流劣化函数I_i(t)的参数存储在存储电路28中。

(电流劣化比率的预测)

接下来，测量信号处理电路27预测在直到下一个采样周期到来为止的时间期间每个显示像素13的电流劣化比率。具体地，根据电流劣化函数I_s(t)、电流劣化函数I_i(t)和每个显示像素13的视频信号20A的历史，测量信号处理电路27导出处于参考电流的每个显示像素13的光发射累积时间T_xy。例如，测量信号处理电路27如将在下面描述的那样获得处于参考电流的每个显示像素13的光发射累积时间T_xy。

图13示意性地图示了处于参考电流的每个显示像素13的光发射累积时间T_xy的导出过程。例如，如图13所示，假设随着某个显示像素13在时刻T＝0到t₁期间以初始电流S₁(初始亮度Y₁)发射光，在时刻T＝t₁到t₂期间以初始电流S₂(初始亮度Y₂)发射光、并且在时刻T＝t₂到t₃期间以初始电流S_n(初始亮度Y_n)发射光，所述某个显示像素13的亮度改变。此时，在狭义上，该显示像素13的亮度在时刻T＝0到t₁期间沿着初始电流S₁的劣化曲线劣化，在时刻T＝t₁到t₂期间沿着初始电流S₂的劣化曲线劣化，并且在时刻T＝t₂到t₃期间沿着初始电流S_n的劣化曲线劣化。结果，假设该显示像素13的亮度劣化到48％，例如如图13所示。由此，通过获得参考像素的电流劣化曲线(I_s(t))中的劣化比率变为48％的时刻，可以获得处于参考电流的每个显示像素13的光发射累积时间T_xy。以这一方式，通过根据输入信号的强度(灰度级)跟踪每个灰度级中的电流劣化曲线，可以获得处于参考电流的每个显示像素13的光发射累积时间T_xy、以及每个显示像素13的电流劣化比率。

(校正量的导出)

接下来，根据所获得的光发射累积时间T_xy(或者每个显示像素13的预测的电流劣化比率)以及显示板10的伽玛特性，测量信号处理电路27导出对于视频信号的校正量。测量信号处理电路27例如如将在下面描述的那样获得对于视频信号的校正量。

图14图示了T＝0和T_xy处的、在灰度级(视频信号20A的值)和亮度之间的关系示例。T＝0处的灰度级-亮度特性是所谓的伽玛特性。T＝T_xy处的灰度级-亮度特性是通过相对于伽玛特性将所有灰度级的亮度衰减到48％而获得的。这里，在某个显示像素13中，当视频信号20A的值为S_xy时，可以看到，在初始状态下，该显示像素13的亮度具有与图中的白色圆圈相对应的值。换言之，当从初始状态起经过光发射累积时间T_xy时，可以预测该显示像素13的亮度具有通过将初始状态下的亮度衰减到48％所获得的值。

因此，测量信号处理电路27导出要对视频信号20A施加的电流校正量R_I，使得当从初始状态起经过光发射累积时间T_xy时的亮度与初始状态下的亮度相同。具体地，测量信号处理电路27通过使用以下等式导出电流校正量R_I。

等式5

R_{I} = {G_{I}}^{\frac{1}{r}}

在等式5中，G_I表示电流校正增益，并且它在上述示例中为1/0.48。“r”表示伽玛特性的索引号(伽玛值)。

最后，测量信号处理电路27将电流校正量R_I作为校正信息27A存储在存储电路28中。以这一方式，测量信号处理电路27校正由像素电路32中包括的诸如驱动晶体管T_r1’之类的半导体元件的劣化导致的效率劣化。

(效率校正)

此外，虚拟像素驱动电路25响应于控制信号21A的输入(与控制信号21A的输入同步)而允许具有彼此不同的幅度的恒定电流流过每个虚拟像素18，从而使得每个虚拟像素18能够发射光。例如，在虚拟像素18的数目为n时，虚拟像素驱动电路25允许一恒定电流流过第一虚拟像素18，使得初始亮度为Y₁，允许一恒定电流流过第二虚拟像素18，使得初始亮度为Y₂(＞Y₁)，允许一恒定电流流过第i虚拟像素18，使得初始亮度为Y_i(＞Y_i-1)，并且允许一恒定电流流过第n虚拟像素18，使得初始亮度为Y_n(＞Y_n-1)。虚拟像素驱动电路25测量例如电流通过每个虚拟像素18期间的时间。

此外，即使在恒定电流继续流过每个虚拟像素18的情况下，每个虚拟像素18的亮度也随着时间渡过而逐渐减小，例如图15所示。这是因为每个虚拟像素18中包括的有机EL元件17具有根据电流施加时间(光发射累积时间)劣化的性质，并且光发射效率根据劣化的进展而劣化。此外，图15中的Y_s表示每个虚拟像素18中被设置为参考像素(稍后将描述)的像素的初始亮度。

每个虚拟像素18的效率劣化比率的改变不是均一的。例如，如图16所示，在横轴上表示被设置为参考像素的像素(虚拟像素18)的效率劣化比率时，可以看到，在开始时，与参考像素的效率劣化比率的改变相比，具有比参考像素的初始亮度Y_S小的初始亮度的虚拟像素18的效率劣化比率的改变更缓和。另一方面，可以看到，在开始时，与参考像素的效率劣化比率的改变相比，具有比参考像素的初始亮度Y_S大的初始亮度的虚拟像素18的效率劣化比率的改变更剧烈。通过以下等式来表示在图16中例示的每个虚拟像素18的效率劣化比率的改变。

等式6

D_i＝D_s ^n(Yi，s)

在等式6中，D_i表示第i虚拟像素18的效率劣化比率。D_s表示参考像素的效率劣化比率。n(Y_i，Y_s)表示第i虚拟像素18的亮度相对于参考像素的亮度的幂系数。幂系数n(Y_i，Y_s)例如是通过将(Log(Y_i(T_k))-Log(Y_i(T_k-1))除以(Log(Y_s(T_k))-Log(Y_s(T_k-1))导出的，例如如以下等式所示。

等式7

n (Y_{i}, Y_{s}) = \frac{\log (Y_{i} (T_{k})) - \log (Y_{i} (T_{k - 1}))}{\log (Y_{s} (T_{k})) - \log (Y_{s} (T_{k - 1}))}

在等式7中，Log(Y_s(T_k))表示Y_s(T_k)的对数，Log(Y_s(T_k-1))表示Y_s(T_k-1)的对数，Log(Y_i(T_k))表示Y_i(T_k)的对数，Log(Y_i(T_k-1))表示Y_i(T_k-1)的对数。

在等式7中，Y_s(T_k)表示时刻T_k处参考像素的光接收信号19A(亮度信息)，并且对应于参考像素的亮度信息中的最新亮度信息。Y_s(T_k-1)表示时刻T_k-1(＜时刻T_k)处参考像素的光接收信号19A(亮度信息)，并且对应于参考像素的亮度信息中的非最新亮度信息。Y_i(T_k)表示时刻T_k处第i虚拟像素18的光接收信号19A(亮度信息)，并且对应于第i虚拟像素18的亮度信息中的最新亮度信息。Y_i(T_k-1)表示时刻T_k-1处第i虚拟像素18的光接收信号19A(亮度信息)，并且对应于第i虚拟像素18(非参考像素)的亮度信息中的非最新亮度信息。时刻T_k-1和时刻T_k之间的关系例如由以下等式表示。

等式8

T_k＝T_k-1-ΔT₂

在等式8中，ΔT₂表示采样周期。这里，采样周期ΔT₂表示例如在其中测量信号处理电路27导出等式7右侧的分母的值和分子的值的循环期。测量信号处理电路27将采样周期ΔT₂设置为在任何时间都是恒定的。

例如，如图17所示，当横轴表示每个虚拟像素16的初始亮度Y_i与参考像素的初始亮度Y_s的比率(Y_i/Y_s)时，在时刻T_k，按照上述方式导出的幂系数n(Y_i，Y_s)绘制出向右的上升曲线，其随着初始亮度Y_i的增加而增加。此外，如可以从等式7明显看出的，幂系数n(Y_i，Y_s)在Y_s/Y_s处为1。

接下来，将参照图18到图24描述用于校正视频信号20A的效率校正量R_y的导出方法。

(初始设置)

首先，将描述初始设置。测量信号处理电路27将多个虚拟像素18中的一个像素设置为参考像素。在此实施例中，不将参考像素改变为另一个虚拟像素18(非参考像素)，而是始终将同一个虚拟像素18设置为参考像素。

接下来，测量信号处理电路27从光接收元件组19获得时刻T₁和T₂处的光接收信号19A。具体地，测量信号处理电路27从光接收元件组19获得时刻T₁和T₂处的、作为多个虚拟像素18中的一个像素的参考像素的光接收信号19A。此外，测量信号处理电路27从光接收元件组19获得时刻T₁和T₂处的、作为多个虚拟像素18中除了参考像素之外的所有像素的多个非参考像素的光接收信号19A。接下来，测量信号处理电路27从参考像素的亮度信息导出参考像素的效率劣化信息(Log(Y_s(T₂))-Log(Y_s(T₁)))，并且从每个非参考像素的亮度信息导出每个非参考像素的效率劣化信息(Log(Y_i(T₂))-Log(Y_i(T₁)))。

接下来，根据参考像素的效率劣化信息和每个非参考像素的效率劣化信息，测量信号处理电路27导出时刻T₂处每个非参考像素的亮度信息与参考像素的亮度信息的幂系数n(Y_i，Y_s)。接下来，根据参考像素的亮度信息，测量信号处理电路27导出时刻T₂处的表示参考像素的亮度的时间改变的效率劣化函数F_s(t)。此外，根据效率劣化函数F_s(t)和幂系数n(Y_i，Y_s)，测量信号处理电路27导出时刻T₂处的表示每个非参考像素的亮度的时间改变的效率劣化函数F_i(t)。以这一方式，测量信号处理电路27通过使用初始亮度信息导出时刻T₂处的效率劣化函数F_s(t)和F_i(t)。

(数据更新)

接下来，将描述数据更新。测量信号处理电路27从光接收元件组19获得时刻T_k-1和T_k处的参考像素的光接收信号19A以及多个非参考像素的光接收信号19A。此时的参考像素的光接收信号19A的值(测量值)被视为Y_s1(参照图18)。接下来，根据时刻T_k-1处的效率劣化函数F_s(t)，测量信号处理电路27预测时刻T_k处的参考像素的亮度信息。此时的预测值被视为Y_s2(参照图18)。接下来，根据测量值Y_s1和预测值Y_s2之间的比较，测量信号处理电路27确定测量值Y_s1和预测值Y_s2是否彼此一致。结果，例如，在测量值Y_s1和预测值Y_s2彼此一致的情况下，测量信号处理电路27将时刻T_k-1处的效率劣化函数F_s(t)视为时刻T_k处的效率劣化函数F_s(t)。另一方面，例如，在测量信号处理电路27基于测量值Y_s1和预测值Y_s2之间的比较确定测量值Y_s1不同于预测值Y_s2的情况下，测量信号处理电路27根据参考像素的亮度信息导出时刻T_k处的效率劣化函数F_s(t)。

接下来，根据参考像素的亮度信息，测量信号处理电路27导出参考像素的效率劣化信息(Log(Y_s(T_k))-Log(Y_s(T_k-1)))。此外，根据多个非参考像素的亮度信息，测量信号处理电路27导出每个非参考像素的效率劣化信息(Log(Y_i(T_k))-Log(Y_i(T_k-1)))。接下来，根据参考像素的效率劣化信息以及每个非参考像素的效率劣化信息，测量信号处理电路27导出时刻T_k处的幂系数n(Y_i，Y_s)。

接下来，测量信号处理电路27将时刻T_k-1处的效率劣化函数F_s(t)的参数(例如p1、p2、...、pm)更新为时刻T_k处的效率劣化函数F_s(t)的参数(例如p1’、p2’、...、pm’)(参照图19)。换言之，测量信号处理电路27根据参考像素的亮度信息中的最新亮度信息(Y_s(T_k))以及参考像素的亮度信息中的非最新亮度信息(Y_s(T_k-1))来更新效率劣化函数F_s(t)的参数。测量信号处理电路27例如将新获得的效率劣化函数F_s(t)的参数存储在存储电路28中。

接下来，根据时刻T_k处的效率劣化函数F_s(t)(参照图20)以及幂系数n(Y_i，Y_s)(参照图21)，测量信号处理电路27导出时刻T_k处的效率劣化函数F_i(t)(参照图22)。具体地，测量信号处理电路27通过使用以下等式来导出时刻T_k处的效率劣化函数F_i(t)。

等式9

F_i(t)＝F_s(t)^n(Yi，Ys)

接下来，测量信号处理电路27将时刻T_k-1处的每个非参考像素的效率劣化函数F_i(t)的参数更新为时刻T_k处的每个非参考像素的效率劣化函数F_i(t)的参数。测量信号处理电路27例如将新获得的效率劣化函数F_i(t)的参数存储在存储电路28中。

(效率劣化比率的预测)

接下来，测量信号处理电路27预测在直到下一个采样周期到来为止的时间期间每个显示像素13的效率劣化比率。具体地，根据效率劣化函数F_s(t)、效率劣化函数F_i(t)和每个显示像素13的视频信号20A的历史，测量信号处理电路27导出处于参考亮度的每个显示像素13的光发射累积时间T_xy。例如，测量信号处理电路27如将在下面描述的那样获得处于参考亮度的每个显示像素13的光发射累积时间T_xy。

图23示意性地图示了处于参考亮度的每个显示像素13的光发射累积时间T_xy的导出过程。例如，如图23所示，假设随着某个显示像素13在时刻T＝0到t₁期间以初始亮度Y₁发射光，在时刻T＝t₁到t₂期间以初始亮度Y₂发射光、并且在时刻T＝t₂到t₃期间以初始亮度Y_n发射光，所述某个显示像素13的亮度改变。此时，在狭义上，该显示像素13的亮度在时刻T＝0到t₁期间沿着初始亮度Y₁的劣化曲线劣化，在时刻T＝t₁到t₂期间沿着初始亮度Y₂的劣化曲线劣化，并且在时刻T＝t₂到t₃期间沿着初始亮度Y_n的劣化曲线劣化。结果，假设该显示像素13的亮度劣化到48％，例如如图23所示。由此，通过获得参考像素的效率劣化曲线(F_s(t))中的劣化比率变为48％的时刻，可以获得处于参考亮度的每个显示像素13的光发射累积时间T_xy。以这一方式，通过根据输入信号的强度(灰度级)跟踪每个灰度级中的效率劣化曲线，可以获得处于参考亮度的每个显示像素13的光发射累积时间T_xy、以及每个显示像素13的效率劣化比率。

(校正量的导出)

接下来，根据所获得的光发射累积时间T_xy(或者每个显示像素13的预测的效率劣化比率)以及显示板10的伽玛特性，测量信号处理电路27导出对于视频信号的校正量。测量信号处理电路27例如如将在下面描述的那样获得对于视频信号的校正量。

图24图示了T＝0和T_xy处的、在灰度级(视频信号20A的值)和亮度之间的关系示例。T＝0处的灰度级-亮度特性是所谓的伽玛特性。T＝T_xy处的灰度级-亮度特性是通过相对于伽玛特性将所有灰度级的亮度衰减到48％而获得的。这里，在某个显示像素13中，当视频信号20A的值为S_xy时，可以看到，在初始状态下，该显示像素13的亮度具有与图中的白色圆圈相对应的值。换言之，当从初始状态起经过光发射累积时间T_xy时，可以预测该显示像素13的亮度具有通过将初始状态下的亮度衰减到48％所获得的值。

因此，测量信号处理电路27导出要对视频信号20A施加的效率校正量R_I，使得当从初始状态起经过光发射累积时间T_xy时的亮度与初始状态下的亮度相同。具体地，测量信号处理电路27通过使用以下等式导出效率校正量R_I。

等式10

R_{y} = {G_{y}}^{\frac{1}{r}}

在等式10中，G_y表示亮度校正增益，并且它在上述示例中为1/0.48。

最后，测量信号处理电路27将效率校正量R_y作为校正信息27A存储在存储电路28中。以这一方式，测量信号处理电路27校正由每个虚拟像素18中包括的有机EL元件17的劣化导致的光发射效率的劣化。

(操作和效果)

接下来，将描述该实施例的显示设备1的操作和效果。视频信号20A和同步信号20B被输入到显示设备1。然后，信号线驱动电路23和扫描线驱动电路24驱动每个显示像素13，并且响应于每个显示像素13的视频信号20A的视频被显示在显示区域12上。同时，虚拟像素驱动电路25将具有彼此不同的幅度的信号电压V_sigi(恒定值)施加到连接到每个虚拟像素16的信号线DTL’，并且每个虚拟像素16发射具有彼此不同的灰度级的光。结果，从电流测量电路26输出与流过每个虚拟像素16的有机EL元件14的电流值相对应的电流信号26A。此外，当虚拟像素驱动电路25驱动每个虚拟像素18时，光接收元件组19也同时被驱动。因此，允许具有彼此不同的幅度的恒定电流流过每个虚拟像素18，每个虚拟像素18发射具有按照该恒定电流的幅度的亮度的光，并且在光接收元件组19中检测从每个虚拟像素18发射的光，结果，从光接收元件组19输出与从每个虚拟像素18发射的光相对应的光接收信号19A。接下来，由测量信号处理电路27执行以下处理。

换言之，从电流信号26A导出非参考像素的电流信号26A(电流信息)与参考像素的电流信号26A(电流信息)的幂系数n(S_i，S_s)。接下来，从参考像素的电流信息导出参考像素的电流劣化函数I_s(t)，并且从该电流劣化函数I_s(t)和幂系数n(S_i，S_s)导出非参考像素的电流劣化函数I_i(t)。接下来，通过使用电流劣化函数I_s(t)、电流劣化函数I_i(t)和每个显示像素13的视频信号20A的历史，预测处于参考电流的每个显示像素13的光发射累积时间T_xy和每个显示像素13的电流劣化比率。接下来，将电流校正量R_I施加到每个显示像素13的视频信号20A，使得当从初始状态起经过光发射累积时间T_xy时的亮度与初始状态下的亮度相同。

此外，从光接收信号19A导出非参考像素的光接收信号19A(亮度信息)与参考像素的光接收信号19A(亮度信息)的幂系数n(Y_i，Y_s)。接下来，从参考像素的亮度信息导出参考像素的效率劣化函数F_s(t)，并且从该效率劣化函数F_s(t)和幂系数n(Y_i，Y_s)导出非参考像素的效率劣化函数F_i(t)。接下来，通过使用效率劣化函数F_s(t)、效率劣化函数F_i(t)和每个显示像素13的视频信号20A的历史，预测处于参考电流的每个显示像素13的光发射累积时间T_xy和每个显示像素13的效率劣化比率。接下来，将效率校正量R_y施加到每个显示像素13的视频信号20A，使得当从初始状态起经过光发射累积时间T_xy时的亮度与初始状态下的亮度相同。

以这一方式，在此实施例中，通过使用电流劣化函数I_s(t)、从电流劣化函数I_s(t)和幂系数n(S_i，S_s)所获得的电流劣化函数I_i(t)、以及每个显示像素13的视频信号20A的历史，预测每个显示像素13的电流劣化比率。此外，通过使用效率劣化函数F_s(t)、从效率劣化函数F_s(t)和幂系数n(Y_i，Y_s)所获得的效率劣化函数F_i(t)、以及每个显示像素13的视频信号20A的历史，预测每个显示像素13的效率劣化比率。由此，可以以高精度预测每个显示像素13的效率劣化，从而可以将适当的校正量(电流校正量R_I和效率校正量R_y)施加到每个显示像素13的视频信号20A，使得每个显示像素13的亮度等于初始状态下的亮度。结果，可以准确地防止老化。

此外，在本实施例中，可以通过使用观察时的数据(S_s(T_k)，S_s(T_k-1)，Y_s(T_k)，和Y_s(T_k-1))来预测每个显示像素13的电流劣化比率和效率劣化比率。因此，可以以高精度预测每个显示像素的效率劣化而不需要长时间的观察。因此，该实施例的预测方法极为实用。此外，该在本实施例中，由于可以通过使用观察时的数据预测每个显示像素13的效率劣化比率，因此可以抑制和减少所述更新所必需的存储器量和计算量。

2.修改

在前述实施例中，尽管对每个显示像素13的视频信号20A执行通过使用电流校正量R_I和效率校正量R_y两者进行的校正，但是也可以执行通过只使用电流校正量R_I和效率校正量R_y之一进行的校正。

此外，在前述实施例中，尽管初始电流为S₁到S_n的所有虚拟像素16是由一组有机EL元件14R、14G和14B的单个像素组成的，但是其中初始电流S_i较低的每个虚拟像素16(低电流像素)可以由多个虚拟像素(第二虚拟像素)(在图中没有示出)构成。在这种情况下，根据流过连接到多个第二虚拟像素的有机EL元件14的电流的平均值，测量信号处理电路27可以导出等式2右侧的分母或分子。因此，在具有低亮度的虚拟像素16中，可以使测量误差较小。因此，可以以高精度预测具有低亮度的显示像素13的效率劣化。结果，可以更准确地防止老化。

此外，在前述实施例中，尽管初始亮度为Y₁到Y_n的所有虚拟像素18是由一组有机EL元件17R、17G和17B的单个像素组成的，但是其中初始亮度Y_i较低的每个虚拟像素18(低亮度像素)可以由多个虚拟像素(第三虚拟像素)(在图中没有示出)构成。在这种情况下，根据多个第三虚拟像素的亮度的平均值，测量信号处理电路27可以导出等式7右侧的分母或分子。因此，在具有低亮度的虚拟像素18中，可以使测量误差较小。因此，可以以高精度预测具有低亮度的显示像素13的效率劣化。结果，可以更准确地防止老化。

在前述实施例中，尽管在任何时候都将特定的虚拟像素16设置为参考像素，但是在必要时，可以将已经被设置为非参考像素的虚拟像素16设置为参考像素。例如，当测量信号处理电路27检测到流过连接到参考像素的有机EL元件14的电流具有等于或小于预定值的值时，测量信号处理电路27排除到目前为止已经被设置为参考像素的虚拟像素16，并且将多个非参考像素中的一个像素设置为新的参考像素。随后，测量信号处理电路27按照与此前相同的方式导出等式2右侧的分母和分子。在这种情况下，即使在参考像素中发生故障的情况下，也可以继续预测效率劣化。因此，可以提高效率劣化预测的可靠性。

此外，在前述实施例中，尽管在任何时候都将特定的虚拟像素18设置为参考像素，但是在必要时，可以将已经被设置为非参考像素的虚拟像素18设置为参考像素。例如，当测量信号处理电路27检测到参考像素的亮度具有等于或小于预定值的值时，测量信号处理电路27排除到目前为止已经被设置为参考像素的虚拟像素18，并且将多个非参考像素中的一个像素设置为新的参考像素。随后，测量信号处理电路27按照与此前相同的方式导出等式7右侧的分母和分子。在这种情况下，即使在参考像素中发生故障的情况下，也可以继续预测效率劣化。因此，可以提高效率劣化预测的可靠性。

在前述实施例中，尽管在任何时候采样周期ΔT₁都是恒定的，但是它可以是可变的。例如，测量信号处理电路27可以根据多个虚拟像素16的光发射累积时间而改变采样周期ΔT₁。在该情况下，例如，当光发射累积时间T_xy是较长的时间、并且效率劣化几乎没有发生时，可以延长采样周期ΔT₁。因此，可以抑制和减少所述更新所必需的计算量。

在前述实施例中，尽管在任何时候采样周期ΔT₂都是恒定的，但是它可以是可变的。例如，测量信号处理电路27可以根据多个虚拟像素18的光发射累积时间而改变采样周期ΔT₂。在该情况下，例如，当光发射累积时间T_xy是较长的时间、并且效率劣化几乎没有发生时，可以延长采样周期ΔT₂。因此，可以抑制和减少所述更新所必需的计算量。

在前述实施例中，尽管通过使用等式2导出幂系数n(S_i，S_s)，但是，例如可以通过使用以下等式导出幂系数n(S_i，S_s)。

等式11

n (S_{i}, S_{s}) = \frac{S_{s} (T_{k})}{S_{i} (T_{k})} \times \frac{\frac{d}{dt} (S_{i} (T_{k}))}{\frac{d}{dt} (S_{s} (T_{k}))}

等式12

n (S_{i}, S_{s}) = \frac{S_{s} (T_{k})}{S_{i} (T_{k})} \times \frac{S_{i} (T_{k}) - S_{i} (T_{k - 1})}{S_{s} (T_{k}) - S_{s} (T_{k - 1})}

在等式11中，右侧第二项中的分母表示时刻T_k处参考像素的劣化速率。右侧第二项中的分子表示时刻T_k处非参考像素的劣化速率。在等式12中，右侧第二项是通过将时刻T_k处参考像素的劣化速率除以时刻T_k处非参考像素的劣化速率获得的。

在通过使用等式11或等式12导出幂系数n(S_i，S_s)的情况下，可以仅用四个算术运算来导出幂系数n(S_i，S_s)，并且像使用等式2时的对数计算不是必需的。因此，与通过使用等式2导出幂系数n(S_i，S_s)的情况相比，可以抑制和减少计算量。

在前述实施例中，尽管通过使用等式7导出幂系数n(Y_i，Y_s)，但是例如可以通过使用以下等式来导出幂系数n(Y_i，Y_s)。

等式13

n (Y_{i}, Y_{s}) = \frac{Y_{s} (T_{k})}{Y_{i} (T_{k})} \times \frac{\frac{d}{dt} (Y_{i} (T_{k}))}{\frac{d}{dt} (Y (T_{k}))}

等式14

n (Y_{i}, Y_{s}) = \frac{Y_{s} (T_{k})}{Y_{i} (T_{k})} \times \frac{Y_{i} (T_{k}) - Y_{i} (T_{k - 1})}{Y_{s} (T_{k}) - Y_{s} (T_{k - 1})}

在等式13中，右侧第二项中的分母表示时刻T_k处参考像素的劣化速率。右侧第二项中的分子表示时刻T_k处非参考像素的劣化速率。在等式14中，右侧第二项是通过将时刻T_k处参考像素的劣化速率除以时刻T_k处非参考像素的劣化速率获得的。

在通过使用等式13或等式14导出幂系数n(Y_i，Y_s)的情况下，可以仅用四个算术运算来导出幂系数n(Y_i，Y_s)，并且像使用等式7时的对数计算不是必需的。因此，与通过使用等式7导出幂系数n(Y_i，Y_s)的情况相比，可以抑制和减少计算量。

3.应用示例

在下文中，将对在前述实施例及其修改中描述的显示设备1的应用示例进行描述。前述实施例等的显示设备1可应用于各种领域中的电子装备中的显示设备，在所述显示设备中，作为图像或视频来显示从外部输入的视频信号或在该显示设备内部产生的视频信号，所述显示设备例如为电视设备、数字照相机、笔记本型个人计算机、诸如移动电话的移动终端设备、以及摄像机。

第一应用示例

图25图示了前述实施例等的显示设备1所应用到的电视设备的外观。该电视设备包括例如视频显示屏幕部件300，其包括前面板310和滤色玻璃320。视频显示屏幕部件300由前述实施例等的显示设备1构成。

第二应用示例

图26A和26B图示了前述实施例等的显示设备1所应用到的数字照相机的外观。该数字照相机包括例如用于闪光灯的光发射部件410、显示部件420、菜单开关430和快门按钮440。显示部件420由前述实施例等的显示设备1构成。

第三应用示例

图27图示了前述实施例等的显示设备1所应用到的笔记本型个人计算机的外观。该笔记本型个人计算机包括例如主体510、用于输入字符等的操作的键盘520、以及用于显示图像的显示部件530。显示部件530由前述实施例等的显示设备1构成。

第四应用示例

图28图示了前述实施例等的显示设备1所应用到的摄像机的外观。该摄像机包括例如主体610、在主体610的前侧表面上提供的用于捕捉对象的镜头620、开始/结束捕捉开关630、以及显示部件640。显示部件640由前述实施例等的显示设备1构成。

第五应用示例

图29A到图29G图示了前述实施例等的显示设备1所应用到的移动电话的外观。在该移动电话中，例如，上外壳710和下外壳720通过接合部件(铰链部件)730接合。该移动电话包括显示器740、副显示器750、画面灯760和照相机770。显示器740或副显示器750由前述实施例等的显示设备1构成。

本申请包含与2009年9月18日在日本专利局提交的日本优先权专利申请JP2009-217183的主题有关的主题，其全部内容通过引用而被合并于此。

本领域技术人员应当理解，根据设计要求和其它因素，可以进行各种修改、组合、子组合和变更，只要它们处于所附权利要求或其等同物的范围内。

Claims

1.一种显示设备，包括：

显示板，包含其中二维地布置多个显示像素的显示区域、以及其中布置多个第一虚拟像素和多个第二虚拟像素的非显示区域；

第一驱动部件，其通过将具有彼此不同的幅度的信号电压施加到第一虚拟像素中的每一个来使得第一虚拟像素中的每一个能够发射光；

第二驱动部件，其通过使具有彼此不同的幅度的恒定电流流到第二虚拟像素中的每一个来使得第二虚拟像素中的每一个能够发射光；

电流测量部件，其通过检测流过第一虚拟像素中的每一个的电流来输出第一虚拟像素中的每一个的电流信息；

光接收部件，其通过检测从第二虚拟像素中的每一个发射的光来输出第二虚拟像素中的每一个的亮度信息；以及

计算部件，其通过使用所述电流信息导出电流劣化函数，并且通过使用所述亮度信息导出效率劣化函数。

2.根据权利要求1所述的显示设备，其中，将在其中导出所述电流劣化函数的循环期设置为短于在其中导出效率劣化函数的循环期。

3.根据权利要求1或2所述的显示设备，其中，计算部件根据所述电流劣化函数、以及每个显示像素的视频信号的历史，预测每个显示像素的电流劣化比率，并且根据每个显示像素的所预测的电流劣化比率和显示板的伽玛特性，导出对于视频信号的第一校正量。

4.根据权利要求3所述的显示设备，其中，计算部件根据所述效率劣化函数、以及每个显示像素的视频信号的历史，预测每个显示像素的效率劣化比率，并且根据每个显示像素的所预测的效率劣化比率和显示板的伽玛特性，导出对于视频信号的第二校正量。