CN101234704A - 电子组件移载装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明为一种电子组件移载装置与方法，其包括：至少一作业站，供待作业的电子组件移入，执行作业；第一供料载具，位于所述作业站的一侧，承置待作业的电子组件；第二供料载具，位于所述作业站的另侧，承置待作业的电子组件；第一收料载具，位于第一供料载具的同侧，承置完成作业的电子组件；第二收料载具，位于第二供料载具的同侧，承置完成作业的电子组件；第一移载取放器，以滑轨组架置在作业站上方的机架，作三轴向的滑移作动，以移载电子组件执行作业；第二移载取放器，以滑轨组架置在作业站上方的机架，作三轴向的滑移作动，以移载电子组件执行作业；从而达到准确，且稳定将电子组件置入作业站执行作业，易于制作与提升作业质量的目的。

Description

电子组件移载装置及方法
技术领域
本发明涉及的是一种运载装置以及方法，特别涉及的是一种利用架置在作业站上方并可作三轴向滑移作动的第一移载取放器与第二移载取放器，以将电子组件轮替移载至作业站，并以稳定的水平度将电子组件置入作业站执行作业，达到易于制作与提升作业质量的电子组件移载装置与方法。
背景技术
请参阅图1、图2、图3，其为台湾专利申请第93110783号『IC检测装置(二)』专利案，所述的检测装置包含有测试台10、第一、二取料机构20、30与入、出料机构40、50，其中，所述的测试台10的两侧设有第一、二取料机构20、30，各取料机构均设有相互组装的横移结构与升降结构，各横移结构是在机架上设有横向滑轨21、31与横向螺杆22、32，而横向螺杆22、32由马达23、33驱动，一具有螺套241、341与横向滑座242、342的滑动件24、34，是滑置且螺合在横向滑轨21、31与横向螺杆22、32上，并在另面设有纵向滑座243、343，而升降结构是在一底面具吸嘴的取料器25、35侧面设有纵向滑轨251、351，以滑置在滑动件24、34的纵向滑座243、343中，所述的横移结构另在取料器25、35的顶面设有一横向滑座252、352，以滑置在一支架26、36的横向滑轨261、361上，而升降结构并在所述的支架26、36的另面设有二纵向滑座262、362与一螺套263、363，以分别组装在机架的纵向滑轨27、37与纵向螺杆28、38上，而纵向螺杆28、38由一马达29、39驱动，进而当各横移结构的马达23、33驱动横向螺杆22、32时，即带动滑动件24、34的横向滑座242、342与取料器25、35的横向滑座252、352，在机架的横向滑轨21、31与支架26、36的横向滑轨261、361上作X方向往复位移，而当各升降结构的马达29、39驱动纵向螺杆28、38时，即带动支架26、36的纵向滑座262、262与取料器25、35的纵向滑轨251、351，在机架的纵向滑轨27、37与滑动件24、34的纵向滑座243、343上作Z方向往复位移，另所述的入料机构40与出料机构50是分别设在测试台10的前、后方，各设有一具载台41、51的载台结构，用以载送IC，与一具有吸嘴42、52的取放结构，用以取放IC；所述的入料机构40的吸嘴42是将待测IC放置在载台41上，以载台41载送至第一取料机构20的取料器25下方，所述的第一取料机构20令取料器25的吸嘴在载台41上吸取IC，并置入在测试台10中进行测试作业，而载台41再反向位移复位以承载下一待测IC；当入料机构40的载台41再载送另一待测IC至测试台10的侧方时，第二取料机构30的取料器35作X方向位移，令取料器35位于入料机构40的载台41上吸取待测IC，当第一取料机构20的IC检测完毕后，即带动取料器25横向位移至出料机构50的载台51上方，并令取料器25下降将IC放置在载台51上送出，在此同时，第二取料机构30的取料器35作X-Z方向位移，将取料器35上另一待测IC置入在测试台10中进行测试作业，当第二取料机构30的IC作测试时，所述的第一取料机构20的取料器25即反向位移作动，而再次在入料机构40的载台41上吸附又一待测IC，当第二取料机构30的取料器35将测试完的IC放置在出料机构50的载台51上送出时，第一取料机构20即可将待测IC置入在测试台10中进行测试，而凭借第一、二取料机构20、30依序迅速载送IC进行测试作业。
由于所述的第一、二取料机构20、30具吸嘴的取料器25、35仅能作X-Z两轴向的位移，使得取料器25、35在各取放位置与测试位置无法作X-Y-Z三轴向的位置微调，因此载台41、51相对于测试台10的位移定位位置，以及取料器25、35相对于测试台10、载台41、51的位移定位位置，在装配设计上都必须具有绝对的精准度，才能使取料器25、35在X-Z两轴向的位移限制下，准确的载送IC进行测试作业，如此高精度的制作需求，即造成制作不易与大幅提高制作成本的问题。此外取料器25、35以L型悬臂的型态架置在测试台10的两侧，其下压吸嘴253、353压抵待测的IC，可能产生较差的水平度，而影响测试质量。
有鉴于此，本发明人遂以其多年从事相关行业的研发与制作经验，针对目前所面临的问题深入研究，经过长期努力的研究与试作，终究研创出一种可作三轴向滑移的移载取放器，以微调位移的方式补偿与各相对位置间的误差，进而达到易于制作与稳定执行作业，此即为本发明的设计宗旨。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种电子组件移载装置与方法，达到易于制作与降低制作成本，稳定的压抵电子组件以执行作业，提升作业质量的目的。
为实现上述目的，本发明采用的技术方案在于，首先提供一种电子组件移载装置，其包括：至少一作业站，是供待作业的电子组件移入，以执行电子元件的作业；  第一供料载具，其位于所述作业站的一侧，并承置待作业的电子组件；第二供料载具，其位于所述作业站的另侧，并承置待作业的电子组件；第一收料载具，其位于第一供料载具的同侧，并承置完成作业的电子组件；第二收料载具，其位于第二供料载具的同侧，并承置完成作业的电子组件；第一移载取放器，其以滑轨组架置在作业站上方的机架，并作三轴向的滑移作动，以移载电子组件执行作业；第二移载取放器，其以滑轨组架置在作业站上方的机架，并作三轴向的滑移作动，以移载电子组件执行作业；
其次本发明提供了一种电子组件移载方法，其包括的步骤有：
步骤a：.第一移载取放器位于第一供料载具处准备取置待作业的电子组件，而第二移载取放器则位于作业站上方待电子组件执行作业；
步骤b：当作业站内的电子组件完成作业后，第二移载取放器将完成作业的电子组件移载至第二收料载具放置，同时第一移载取放器将待作业的电子组件移载至作业站上执行作业；
步骤c：作业站内的电子组件执行作业的同时，第二移载取放器将会移动至第二供料载具处，准备取置下一组待作业的电子组件；
步骤d：作业站内的电子组件完成作业后，第一移载取放器将完成作业的电子组件移载至第一收料载具放置，同时第二移载取放器将下一组待作业的电子组件移载至作业站上执行作业；
步骤e：作业站内的电子组件执行作业的同时，第一移载取放器将移动至第一供料载具处准备取置下一组待作业的电子元件。
附图说明
图1为台湾专利申请第93110783号IC检测装置(二)专利案的配置示意图；
图2为台湾专利申请第93110783号IC检测装置(二)专利案第一取料机构的示意图；
图3为台湾专利申请第93110783号IC检测装置(二)专利案第二取料机构的示意图；
图4本发明配置在测试分类机的配置示意图；
图5本发明的架构图；
图6本发明移载取放器的示意图；
图7本发明移载的动作示意图(一)；
图8本发明移载的动作示意图(二)；
图9本发明移载的动作示意图(三)；
图10本发明移载的动作示意图(四)；
图11本发明移载的动作示意图(五)；
图12本发明移载取放器下压执行测试作业的示意图。
附图标记说明：10-测试台；20-第一取料机构21-横向滑轨；22-横向螺杆；23-马达；24-滑动件；241-螺套；242-横向滑座；243-纵向滑座；25-取料器；251-纵向滑轨；252-横向滑座；253-下压吸嘴；26-支架；261-横向滑轨；262-纵向滑座；263-螺套；27-纵向滑轨；28-纵向螺杆；29-马达；30-第二取料机构；31-横向滑轨；32-横向螺杆；33-马达；34-滑动件；341-螺套；342-横向滑座；343-纵向滑座；35-取料器；351-纵向滑轨；352-横向滑座；353-下压吸嘴；36-支架；361-横向滑轨；362-纵向滑座；363-螺套；37-纵向滑轨；38-纵向螺杆；39-马达；40-入料机构；41-载台；42-吸嘴；50-出料机构；51-载台；52-吸嘴；60-供料机构；70-输入端输送机构；80-作业区；81-第一供料载具；82-第二供料载具；83-第一收料载具；84-第二收料载具；85-作业站；86-第一移载取放器；861-滑轨组；862-升降杆；863-横向面板；864-吸嘴；87-第二移载取放器；871-滑轨组；872-升降杆；873-横向面板；874-吸嘴；90-输出端输送机构；100-收料机构；110-电子组件；111-电子组件；112-电子组件；113-电子组件。
具体实施方式
以下结合附图，对本发明上述的和另外的技术特征和优点作更详细的说明。
请参阅图4，本发明配置在测试分类机使用时，所述的测试分类机是包括有供料机构60、输入端输送机构70、作业站区80、输出端输送机构90与收料机构100；输入端输送机构70是将供料机构60上待检测的电子组件分别输送至作业区80内的第一、第二供料载具81、82，作业区80内的第一、第二收料载具83、84上测试完的电子组件，则依据检测结果由输出端输送机构90输送至收料机构100分类放置。
请参阅图5、图6，本发明的作业区80包括有作业站85、位于作业站85一侧的第一供料载具81与第一收料载具83、位于作业站85另侧的第二供料载具82与第二收料载具84、第一移载取放器86与第二移载取放器87；第一、二供料载具81、82是承置待检测的电子组件，第一、二收料载具83、84则供承置测试完的电子组件，所述的第一、二供料载具81、82与第一、二收料载具83、84是可以固定的方式定位于相对作业站85的相关位置，以供第一、二移载取放器86、87与输入端输送机构、输出端输送机构进行供、收料作业，或以各自独立左右往复滑动的方式，定位于相对作业站85的相关位置，以供第一、二移载取放器86、87与输入端输送机构、输出端输送机构进行供、收料作业，第一移载取放器86与第二移载取放器87是分别以滑轨组861、871架置在作业站85上方的机架，并可分别作三轴向(X-Y-Z)的滑移作动，所述的第一移载取放器86与第二移载取放器87的升降杆862、872头端是以横向面板863、873装设两吸嘴864、874，进而可利用滑轨组861、871、升降杆862、872与横向面板863、873带动吸嘴864、874作三轴向(X-Y-Z)的滑移作动，以移载电子组件至作业站执行检测作业。
请参阅图7，本发明的电子组件移载方法，其是在作业区80执行检测作业时，其第二移载取放器87是位于作业站85上方压抵电子组件110执行检测作业，而第一移载取放器86则位于第一供料载具81处准备取置待检测的电子组件111；请参阅图8，当电子组件110完成检测后，第二移载取放器87将测试完的电子组件110移载至第二收料载具84放置，以供输出端输送机构依据检测结果输送至收料机构分类放置，同时第一移载取放器86将待检测的电子组件111吸取移载至作业站85上，并下压压抵电子组件111执行检测作业；请参阅图9，在电子组件111执行检测作业的同时，第二移载取放器87将测试完的电子组件110完成放置后，将会平行移动至第二供料载具82处，由于输入端输送机构已将待检测的电子组件112输送至第二供料载具82上，因此第二移载取放器87可在第二供料载具82上准备取置下一组待检测的电子组件112；请参阅图10，接着当电子组件111完成检测后，第一移载取放器86将测试完的电子组件111移载至第一收料载具83放置，以供输出端输送机构依据检测结果输送至收料机构分类放置，同时第二移载取放器87将待检测的电子组件112吸取移载至作业站85上，并下压压抵电子组件112执行检测作业；请参阅图11，在电子组件112执行检测作业的同时，第一移载取放器86将测试完的电子组件111完成放置后，将会平行移动至第一供料载具81处，由于输入端输送机构已将待检测的电子组件113输送至第一供料载具81上，因此第一移载取放器86可在第一供料载具81上准备取置下一组待检测的电子组件113，进而由第一移载取放器86与第二移载取放器87分别由作业站85两侧交互轮替的将电子组件移载并执行检测作业。
本发明的第一移载取放器86与第二移载取放器87由于可作三轴向的滑移，因此可以微调位移的方式补偿与作业站、固定式供料载具、固定式收料载具间的各相对位置间的误差，进而达到易于制作与降低制作成本的效益。
请参阅图12，本发明的第一移载取放器86与第二移载取放器87由于可作三轴向的滑移，而在执行测试作业时，其升降杆862、872头端的吸嘴864、874可准确在作业站85正上方置入电子组件，并且以较佳的水平度，提供平均的下压力，稳定的压抵电子组件以执行检测作业，达到提升作业质量的目的。
据此，本发明不仅可易于制作与降低制作成本，且有效提升检测作业质量，实为一深具实用性与进步性的设计，然未见有相同的产品与刊物公开，从而允符发明专利申请要件，依法提出申请。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，对本发明而言仅仅是说明性的，而非限制性的。本专业技术人员理解，在本发明权利要求所限定的精神和范围内可对其进行许多改变，修改，甚至等效，但都将落入本发明的保护范围内。

Claims (10)

1. 一种电子组件移载装置，其特征在于：其包括：至少一作业站，是供待作业的电子组件移入，以执行电子元件的作业；
第一供料载具，其位于所述作业站的一侧，并承置待作业的电子组件；
第二供料载具，其位于所述作业站的另侧，并承置待作业的电子组件；
第一收料载具，其位于第一供料载具的同侧，并承置完成作业的电子组件；
第二收料载具，其位于第二供料载具的同侧，并承置完成作业的电子组件；
第一移载取放器，其以滑轨组架置在作业站上方的机架，并作三轴向的滑移作动，以移载电子组件执行作业；
第二移载取放器，其以滑轨组架置在作业站上方的机架，并作三轴向的滑移作动，以移载电子组件执行作业。
2. 根据权利要求1项所述的电子组件移载装置，其特征在于：所述的第一、二供料载为固定式或移动式供料载具。
3. 根据权利要求1项所述的电子组件移载装置，其特征在于：所述的第一、二收料载为固定式或移动式收料载具。
4. 根据权利要求1项所述的电子组件移载装置，其特征在于：所述的第一移载取放器在升降杆头端装设吸嘴，将供料载具上的电子组件移载在作业站与收料载具间，并下压电子组件执行作业。
5. 根据权利要求1项所述的电子组件移载装置，其特征在于：所述的第二移载取放器在升降杆头端装设吸嘴，将供料载具上的电子组件移载在作业站与收料载具间，并下压电子组件执行作业。
6. 一种电子组件移载方法，其通过所述的电子组件移载装置实现的，其特征在于：其包括的步骤有：
步骤a：准备阶段，第一移载取放器位于第一供料载具处准备取置待作业的电子组件，而第二移载取放器则位于作业站上方待电子组件执行作业；
步骤b：当作业站内的电子组件完成作业后，第二移载取放器将完成作业的电子组件移载至第二收料载具放置，同时第一移载取放器将待作业的电子组件移载至作业站上执行作业；
步骤c：作业站内的电子组件执行作业的同时，第二移载取放器将会移动至第二供料载具处，准备取置下一组待作业的电子组件；
步骤d：作业站内的电子组件完成作业后，第一移载取放器将完成作业的电子组件移载至第一收料载具放置，同时第二移载取放器将下一组待作业的电子组件移载至作业站上执行作业；
步骤e：作业站内的电子组件执行作业的同时，第一移载取放器将移动至第一供料载具处准备取置下一组待作业的电子元件。
7. 根据权利要求6项所述的电子组件移载方法，其特征在于：所述的第一移载取放器将待作业的电子组件吸取移载至作业站执行作业时，同时下压压抵电子组件以执行作业。
8. 根据权利要求6项所述的电子组件移载方法，其特征在于：所述的第二移载取放器将待作业的电子组件吸取移载至作业站执行作业时，同时下压压抵电子组件以执行作业。
9. 根据权利要求6项所述的电子组件移载方法，其特征在于：还包括在所述的第一、二供料载具上的待作业电子组件是由输入端输送机构输送放置。
10. 根据权利要求6项所述的电子组件移载方法，其特征在于：还包括在所述的第一、二收料载具上的完成作业电子组件是由输出端输送机构输送至收料机构分类放置。
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