WO2019087605A1 - X線位相差撮像システム - Google Patents
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 52
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 38
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 26
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 124
- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 description 56
- 238000000034 method Methods 0.000 description 36
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 5
- LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H lead(2+);trioxido(oxo)-$l^{5}-arsane Chemical compound [Pb+2].[Pb+2].[Pb+2].[O-][As]([O-])([O-])=O.[O-][As]([O-])([O-])=O LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
Images
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-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/48—Diagnostic techniques
- A61B6/484—Diagnostic techniques involving phase contrast X-ray imaging
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/52—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/5205—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving processing of raw data to produce diagnostic data
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4035—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis the source being combined with a filter or grating
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4291—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/52—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/5258—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/041—Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K2207/00—Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
- G21K2207/005—Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast
Definitions
- the present invention relates to an X-ray phase contrast imaging system, and more particularly to an X-ray phase contrast imaging system that performs imaging using a plurality of gratings.
- an X-ray phase difference imaging system that performs imaging using a plurality of gratings is known.
- Such an X-ray phase contrast imaging system is disclosed, for example, in WO 2014/030115.
- the X-ray phase contrast imaging system disclosed in WO 2014/030115 is configured to perform X-ray imaging with a Talbot-Lau interferometer and generate a phase contrast image by fringe scanning.
- imaging is performed using a multi-slit, a phase grating, and an absorption grating.
- one of the plurality of gratings is imaged a plurality of times while being translated in the direction orthogonal to the pattern of the gratings.
- the fringe scanning method is a method of generating a phase contrast image based on a change in intensity of pixel values of each pixel of an X-ray image captured a plurality of times while translating a grating.
- the fringe scanning method determines the waveform of the function, assuming that the intensity change of the pixel value of each pixel of the X-ray image is data at each phase of the function of the grating period, and the waveform is determined.
- This is a method of generating a phase contrast image based on a function.
- the phase contrast image includes an absorption image, a phase differential image and a dark field image.
- An absorption image is an image imaged based on attenuation of X-rays generated when X-rays pass through an object.
- the phase differential image is an image formed based on the phase shift of the X-rays generated when the X-rays pass through the subject.
- a dark field image is a Visibility image obtained by a change in Visibility based on small angle scattering of an object.
- the dark field image is also referred to as a small angle scattering image. "Visibility" is the definition.
- imaging is performed while translating any one of a plurality of gratings in a direction orthogonal to the grating pattern at least for one period of the gratings.
- imaging is performed while translating the grating in a direction orthogonal to the pattern of the grating by 1 / N of the grating period. Therefore, the total amount of movement of the grid after translating N times is equal to the period of the grid to be moved. Further, since the total movement amount of the grid and the cycle of the grid to be moved become equal, the cycle of intensity change of the pixel value of each pixel becomes equal to the cycle of the grid to be moved.
- N is a positive integer.
- the point at which the intensity change of the pixel value of each pixel of the X-ray image has a phase of 1 / N period Since the phase contrast image is generated on the premise that the data is data of, for example, the movement amount of the lattice in each step is 1 due to the change of the relative position of the lattice due to thermal fluctuation and the movement accuracy of the lattice movement mechanism. If it is not / N period, the waveform of the function deviates from the actual data. Therefore, there is a problem that if the total displacement of the grid and the period of the grid deviate, an artifact is generated in the obtained image.
- the present invention has been made to solve the problems as described above, and one object of the present invention is to shift the total movement amount in the direction orthogonal to the lattice pattern of the lattice and the period of the lattice. It is an object of the present invention to provide an X-ray phase contrast imaging system capable of suppressing the occurrence of an artifact in a phase contrast image to be obtained.
- the deviation between the total movement amount in the direction orthogonal to the lattice pattern of the lattice and the period of the lattice is a very small deviation due to the thermal fluctuation, the accuracy of the lattice movement mechanism, and the like.
- an X-ray phase-contrast imaging system comprises an X-ray source, and first and second gratings irradiated with X-rays from the X-ray source.
- a plurality of gratings including a second grating to be illuminated, a detector for detecting X-rays emitted from the X-ray source, a grating moving mechanism for moving at least one of the plurality of gratings, and the detector
- an image processing unit that generates a phase contrast image based on a change in intensity representing a change in pixel value of each of the detected pixels, the image processing unit uses the period of the intensity change and the period as variables and
- the phase contrast image is configured to be generated by a function that represents the intensity change of the pixel value with the movement.
- the X-ray phase difference imaging system has a phase contrast by the period of intensity change and a function that uses the period as a variable and represents the intensity change of pixel values accompanying the movement of the grating.
- An image processing unit that generates an image is provided.
- the period of the intensity change is a period including at least one of the shift of the grating period and the shift of the grating movement by the grating movement mechanism. is there. This makes it possible to set the period (variable) of the function to the period of the intensity change including the deviation, even if there is a deviation in either the grating period or the lattice movement amount (or when both occur). By combining, it is possible to suppress the occurrence of an artifact in the generated phase contrast image.
- the image processing unit is configured to move at least one of the plurality of gratings based on the data and the function of the intensity change acquired. It is configured to determine the period. According to this configuration, it is possible to acquire the cycle of the intensity change from the data of the intensity change actually measured. As a result, even when there is a deviation between the period of intensity change and the period of the grating, it is possible to acquire the period of intensity change including the deviation.
- the image processing unit is configured to determine the cycle of the intensity change by fitting the shape of the waveform of the intensity change and the shape of the function waveform. ing.
- the cycle of the intensity change can be determined based on the deviation between the shape of the waveform of the intensity change and the shape of the function waveform.
- the intensity change is performed by image processing an image acquired using a plurality of cycles. The process of determining the cycle of intensity change can be simplified as compared to the case of determining the cycle of.
- the image processor uses at least the values of both larger and smaller values than the design value of the lattice period moved by the lattice movement mechanism as the period of the waveform shape and function of the intensity change.
- the deviation from the shape of the waveform is determined.
- the deviation is minimized by comparing the deviation calculated by a value larger than the designed value of the grating period with the deviation calculated by a value smaller than the designed value of the grating period. Therefore, it can be determined whether the period of the signal is larger or smaller than the design value of the lattice period. As a result, it is possible to easily determine the cycle in which the deviation is minimized.
- the image processing unit acquires the coefficient of the function corresponding to the predetermined period;
- the coefficient and the predetermined cycle are configured to obtain the deviation between the shape of the waveform of the intensity change and the shape of the function waveform.
- the image processing unit acquires the coefficient of the function from the period of intensity change acquired in advance, and the acquired coefficient and the period of intensity change acquired in advance Are configured to generate a phase contrast image.
- the period of the grating is a very small value, the period may be slightly shifted due to a manufacturing error. Even if the period slightly deviated from the period of the grating is known, in the general fringe scanning method, it is necessary to acquire k / N period data. However, if the accuracy of the grid moving mechanism is not sufficient, the grid can not be translated by a movement amount obtained by equally dividing the known cycle by N, so data of k / N cycles can not be acquired, causing an artifact.
- the deviation of the grating period can be obtained in advance by measurement, the deviation between the intensity change period and the grating period can be obtained in advance. Therefore, if configured as described above, it is possible to obtain the coefficient of the function by fitting the actual measurement value and the function into which the cycle of the intensity change obtained in advance is substituted. As a result, even when the amount of movement of the grid is shifted, it is possible to determine a function that closely approximates the actual data, and it is possible to suppress the occurrence of an artifact in the generated phase contrast image.
- k is a positive integer from 1 to N.
- the plurality of gratings further include a third grating disposed between the X-ray source and the first grating.
- the third grating can increase the coherence of the X-rays emitted from the X-ray source.
- the freedom of selection of the X-ray source can be improved.
- FIGS. 7A to 7C are schematic diagrams (A) to (C) for explaining a change in an artifact when the cycle is changed. It is a flowchart for demonstrating the production
- FIG. 1 is a view of the X-ray phase difference imaging system 100 as viewed from the Y direction.
- the X-ray phase difference imaging system 100 includes an X-ray source 1, a first grating 2, a second grating 3, a detector 4, an image processing unit 5, and an apparatus control unit 9. , And the grid moving mechanism 10.
- the direction from the X-ray source 1 toward the first grating 2 is taken as the Z2 direction, and the opposite direction is taken as the Z1 direction.
- the horizontal direction in the plane orthogonal to the Z direction is taken as the Y direction
- the direction toward the back of the paper is taken as the Y2 direction
- the direction toward the front of the paper is taken as the Y1 direction.
- the vertical direction in the plane orthogonal to the Z direction is the X direction
- the upper direction is the X1 direction
- the lower direction is the X2 direction.
- the X-ray source 1 generates an X-ray by applying a high voltage based on a signal from the device control unit 9 and irradiates the generated X-ray toward the detector 4 (Z2 direction) Is configured as.
- the first grating 2 has a plurality of slits 2a that are arranged at a predetermined period (pitch) p 1 in the X direction and has an X-ray phase change portion 2b.
- Each of the slits 2a and the X-ray phase change portion 2b is formed to extend linearly. Further, each slit 2a and the X-ray phase change portion 2b are formed to extend in parallel with each other.
- the first grating 2 is a so-called phase grating.
- the first grating 2 is disposed between the X-ray source 1 and the second grating 3 and is irradiated with X-rays from the X-ray source 1.
- the first grating 2 is provided to form a self-image 20 (see FIG. 2) of the first grating 2 by the Talbot effect.
- an image (self-image 20) of the grating is formed at a predetermined distance (talbot distance) from the grating. This is called Talbot effect.
- the second grating 3 has a plurality of X-ray transmitting portion 3a and the X-ray absorbing portion 3b which is arranged at a predetermined period (pitch) p 2 in the X direction.
- Each of the X-ray transmitting parts 3a and the X-ray absorbing parts 3b is formed to extend in a straight line. Further, each of the X-ray transmitting parts 3a and the X-ray absorbing parts 3b is formed to extend in parallel.
- the second grating 3 is a so-called absorption grating.
- the first grating 2 and the second grating 3 are gratings having different roles, but the slit 2a and the X-ray transmitting portion 3a transmit X-rays. Further, the X-ray absorbing portion 3b plays a role of shielding the X-ray, and the X-ray phase change portion 2b changes the phase of the X-ray due to the difference in refractive index with the slit 2a.
- the second grating 3 is disposed between the first grating 2 and the detector 4 and is irradiated with X-rays that have passed through the first grating 2.
- the second grating 3 is disposed at a position separated from the first grating 2 by a Talbot distance.
- the second grating 3 interferes with the self-image 20 of the first grating 2 to form moire fringes (not shown) on the detection surface of the detector 4.
- the detector 4 is configured to detect X-rays, convert the detected X-rays into an electrical signal, and read the converted electrical signal as an image signal.
- the detector 4 is, for example, an FPD (Flat Panel Detector).
- the detector 4 is composed of a plurality of conversion elements (not shown) and pixel electrodes (not shown) disposed on the plurality of conversion elements. The plurality of conversion elements and the pixel electrodes are arrayed in the X direction and the Y direction at a predetermined period (pixel pitch). Further, the detector 4 is configured to output the acquired image signal to the image processing unit 5.
- the image processing unit 5 includes an image generation unit 6, a control unit 7 and a storage unit 8.
- the image generation unit 6 is configured to generate an X-ray image (not shown) based on the image signal output from the detector 4. Further, the image generation unit 6 is configured to generate the phase contrast image 11 (see FIG. 3B) based on the generated X-ray image.
- the image generation unit 6 includes, for example, a processor such as a GPU (Graphics Processing Unit) or an FPGA (Field-Programmable Gate Array) configured for image processing.
- control unit 7 is configured to acquire a period p of the intensity change 30 (see FIG. 2) of the X-ray detected by the detector 4 and the like. The detailed configuration in which the control unit 7 acquires the period p of the intensity change 30 will be described later. Further, the control unit 7 includes, for example, a processor such as a CPU (Central Processing Unit).
- CPU Central Processing Unit
- the storage unit 8 is configured to store an X-ray image generated by the image generation unit 6, a program for generating the phase contrast image 11, and the like.
- Storage unit 8 includes, for example, an HDD (Hard Disk Drive), a non-volatile memory, and the like.
- the device control unit 9 is configured to step-move the second grating 3 in the grating plane in the direction (X direction) orthogonal to the direction (Y direction) of the grating pattern through the grating moving mechanism 10.
- Device control unit 9 also includes, for example, a processor such as a CPU.
- the lattice moving mechanism 10 also includes, for example, a stepping motor, a piezo actuator, and the like.
- FIG. 2 is a self-image of the first grating 2 when the second grating 3 is translated by the grating moving mechanism 10 when the image generation unit 6 according to the first embodiment generates the phase contrast image 11 by the fringe scanning method.
- the schematic diagrams (A) to (D) showing the positional relationship between the second grating 3 and the second grating 3 and the intensity change 30 of the pixel value at each pixel of the X-ray image captured by translating the second grating 3 are shown. It is a graph.
- the apparatus control unit 9 is constituted with a second grating 3 through the grid moving mechanism 10 to perform photographing by 4 times translated by p 2/4. That is, in the first embodiment, as shown in FIG. 2 (A) ⁇ FIG 2 (D), X-ray phase imaging system 100, while moving the second grating 3 in the X2 direction by p 2/4 imaging Is configured to do.
- the control unit 7 as the intensity change of the pixel values of the pixels when performing imaging while moving the second grating 3 in the X2 direction by p 2/4, the intensity change 30 shown in the graph of FIG. 2 To get
- the phase is changed based on the intensity change 30 in the X-ray image captured without arranging the subject Q and the intensity change 30 in the X-ray image captured by arranging the subject Q
- a contrast image 11 is generated. For example, consider the case where the second grid 3 is translated N times for imaging.
- the intensity of the X-ray detected by the detector 4 when the subject Q is placed and imaged is I k (x, y), and the intensity of the X-ray when taken without the subject Q is I 0k (x , Y), and define S (x, y) and S 0 (x, y) below.
- k is a positive integer from 1 to N.
- x and y are the x and y coordinates of each pixel.
- the pixel value of each pixel showing the phase differential image 11a can be calculated by the following equation (3) using the above equations (1) and (2).
- the pixel value ⁇ (x, y) of each pixel of the phase differential image 11 a is the difference between the phase value when the object Q is arranged and when the object Q is not arranged.
- Z T is the distance between the first grating 2 and the second grating 3.
- the pixel value T (x, y) of each pixel showing the absorption image 11 b is expressed by the following equation (4).
- V (x, y), which is the Visibility when the subject Q is arranged, and V 0 (x, y), which is the Visibility when the subject Q is not arranged, are represented by the following formulas (5) and (6) Be done.
- the dark-field image 11 c is a ratio of Visibility between the case where the subject Q is arranged and the case where the object Q is not arranged, and therefore, is represented by the following Expression (7).
- the period p 2 of the second grating 3 per step is calculated the period p 2 of the second grating 3 on the assumption that moving only divided by the number of steps Based on these values, the phase contrast image 11 is imaged.
- the image acquired in each step is each position of 1/4, 2/4, 3/4, 4/4 of the period p 2 of the second grating 3 Since the image is assumed to be an image in phase, it is necessary to reliably acquire an image of each phase of 1 ⁇ 4 to 4/4 by photographing while translating the second grating 3.
- the period p of the intensity variation 30 to be obtained if the deviation in the period p 2 of the second grating 3 has occurred, the image (pixel value) in a phase shifted from 1 / 4-1 4/4 for each phase
- the artifact 12 is formed in the generated phase contrast image 11 because the calculation is performed using it.
- the intensity change 30b is actually data of N points, but in the example shown in FIG. 3A, each of the data of N points is regarded as data in the k / N cycle.
- the second grating 3 may be thermally deformed due to the heat generated from the X-ray source 1.
- the period p 2 of the second grating 3 is changed.
- the grid moving mechanism 10 is configured to move the second grid 3 in parallel with the first grid 2, the moving direction of the second grid 3 is due to positional deviation or the like at the time of installation. It may not be parallel to the first grid 2.
- the direction of the grating pattern of the second grating 3 (Y-direction) perpendicular to the direction (X A deviation occurs between the total movement amount in the direction (direction) and the period p 2 of the second grating 3.
- the intensity acquired by the control unit 7 The period p of the change 30 is shifted to the period p 2 of the second grating 3. That is, the period p of the intensity change 30 is a period p including at least one of the deviation of the period p 2 of the second grating 3 and the deviation of the movement amount of the second grating 3 by the lattice moving mechanism 10.
- the obtained intensity change 30 b represents the intensity change 30 a having the same period as the period p 2 of the second grating 3.
- the phase contrast image 11 is generated by applying to a function. Accordingly, in a state in which misalignment occurs in a period p 2 of the period p and the second grating 3 of the intensity variation 30, the equation (1) phase contrast image 11 by to Formula typical fringe scanning method using (8) Is generated, as shown in FIG. 3B, streaked artifacts 12 are formed in each image.
- the image processing unit 5 uses the period p of the intensity change 30b and a function that uses the period as a variable and represents the intensity change 30b of the pixel value along with the movement of the grid. It is configured to generate. Specifically, the image generation unit 6, even if the period p and the deviation in the period p 2 of the second grating 3 of the intensity variation 30 occurs, prevent the artifact 12 is generated in the phase contrast image 11 As described above, the phase contrast image 11 is generated by the process described below.
- the control unit 7 is configured to determine the cycle p of the intensity change 30 b based on the data and the function of the intensity change 30 b acquired by moving the second grating 3. Specifically, the control unit 7 is configured to determine the period p of the intensity change 30 b by fitting the shape of the waveform of the intensity change 30 b and the shape of the function waveform. The control unit 7 performs least squares fitting on the N data points on the acquired intensity change 30 b to determine the coefficients a to c of the function, and the square sum Z of the deviation of the function is minimized. It is configured to obtain the period p.
- the X coordinate x k of the N data points can be expressed by the following equation (8).
- p is the period of the intensity change 30b.
- a, b and c are coefficients of the function determined by determining the period p.
- the image processing unit 5 is configured to obtain the coefficients a to c of the equation (9) corresponding to a predetermined cycle.
- the control unit 7 is configured to acquire the square sum Z of the deviation between the shape of the waveform of the intensity change 30b and the shape of the waveform of the equation (9) according to the acquired coefficients a to c and the predetermined period p. It is done.
- the control unit 7 is configured to obtain the period p of the equation (9) by calculating the sum of squares Z of the deviations between the function of the equation (9) and the N data points. ing.
- the sum of squares Z of the deviations can be expressed as the following equation (10).
- m is the frequency of the intensity change 30b
- m 2 ⁇ / p.
- control unit 7 takes partial derivatives of the coefficients a, b, and c in the above equation (10) to perform fitting using the least squares method.
- the partial derivatives of the coefficients a, b and c are expressed by the following equations (11) to (13), respectively.
- y k is a pixel value in each pixel.
- Equations (11) to (13) are shown below because a, b, and c may be determined such that each of Equations (11) to (13) becomes 0 by the definition of the least squares method. It deform
- a 1 , b 1 , c 1 and d can be represented by the following formulas (20) to (23), respectively.
- the image processing unit 5 is configured to acquire the period p in which the sum of squares Z of the deviations is minimized.
- the period p of the intensity change 30 b is shifted so as to be smaller than the period p 2 of the second grating 3. Therefore, the control unit 7 may obtain the square sum Z of the deviation using a plurality of cycles p in which the value of the cycle p is smaller than the cycle p 2 of the second grating 3.
- the period p of the intensity change 30b is unknown.
- control unit 7 the waveform of the intensity variation 30b using both the value of the second higher value and a value smaller than the design value of the period p 2 of the grating 3 to be moved by at least the grating moving mechanism 10 as a periodic structure And the shape of the waveform of the equation (9).
- control unit 7 compares the acquired first deviation and the second deviation, and if the first deviation is smaller, a plurality of periods p larger than the period p 2 of the second grid 3 are used to generate a plurality of deviations. Get the sum of squares Z
- the control unit 7 obtains the sum of squares Z of the plurality of deviations using a plurality of periods p smaller than the period p 2 of the second grating 3.
- the control unit 7 is configured to determine the period p when the acquired sum of squares Z of the plurality of deviations becomes the smallest as the period p of the intensity change 10 b.
- Figure 4 shows an example of a case where the period p of intensity change 30b by using the plurality of cycles is smaller than the period p 2 of the second grating 3 generates differential phase image 11a, the absorption image 11b and dark image 11c ing.
- the analysis period in FIG. 4 is that the period obtained by multiplying the period p 2 of the second grating 3 at a predetermined coefficient.
- the analysis period 0.95 is a period (0.95 ⁇ p 2 ) obtained by multiplying the period p 2 of the second grating 3 by 0.95.
- FIG. 4 it can be seen that as the analysis period is reduced from 1.00 to 0.95, the artifact 12 occurring in each image is reduced.
- the control unit 7 includes a plurality of periods including inflection points of the period p which increase from the period p in which the magnitude of the square sum Z of the deviation decreases. It is configured to set p and determine a period p such that the sum of squares Z of deviations becomes a minimum value as a period p of the intensity change 30b.
- the image generation unit 6 uses the coefficients a, b and c calculated by the above equations (17) to (23) and the determined period p to determine each pixel value of the phase contrast image 11 Calculate When calculating each pixel value of the phase contrast image 11, the equation obtained by rewriting the equation (9) into the equation (24) shown below is used.
- the coefficients A, B, C and the coefficients a, b, c have the relationships shown in the following equations (25) to (27).
- the unit of Formula (26) shown below is rad.
- the phase differential image 11a, the absorption image 11b and the dark field image 11c can be expressed by the following equations (28) to (30), respectively.
- ⁇ is a phase differential image.
- T is an absorption image.
- D is a dark field image.
- subscripts s and r respectively indicate a coefficient in the case of imaging with the subject Q and a coefficient in the case of imaging without the subject Q.
- the control unit 7 uses the least squares method to determine the shape of the waveform of the intensity change 30b of the X-ray image actually captured, and the shape of the waveform of Expression (9) It is configured to do the fitting. Therefore, even when the period p of intensity variation 30b is shifted to the period p 2 of the second grating 3, by income a function corresponding to the period p of intensity variation 30b (Equation (9)), the phase contrast image 11 Can be generated.
- step S1 the image generation unit 6 acquires an X-ray image obtained by imaging the subject Q. Thereafter, the control unit 7 acquires data of the intensity change 30b of the pixel value in each pixel of the X-ray image obtained by imaging the subject Q.
- step S2 the control unit 7 obtains the square sum of the first difference by substituting the first cycle of a value greater than the period p 2 of the second grating 3 to the function. Further, the control unit 7 substitutes the second period of a value smaller than the period p 2 of the second grating 3 into the function, and obtains the sum of squares of the second deviation.
- step S3 the control unit 7 compares the magnitudes of the values of the sum of squares of the first deviation and the sum of squares of the second deviation. If the sum of squares of the first deviation is smaller than the sum of squares of the second deviation, the process proceeds to step S4. If the sum of squares of the first deviation is larger than the sum of squares of the second deviation, the process proceeds to step S5.
- step S 4 the control unit 7 sets a plurality of cycles p having a value smaller than the cycle p 2 of the second grating 3.
- step S5 the control unit 7 sets a plurality of period p of greater than period p 2 of the second grating 3. Thereafter, the process proceeds to step S6.
- step S6 the control unit 7 obtains the sum of squares Z of the plurality of deviations using the plurality of cycles p set in step S4 (step S5). After that, the control unit 7 acquires a cycle p in which the value of the sum of squares Z of the plurality of deviations is the smallest, and sets the cycle p as the function (Expression (9)). Thereafter, in step S7, the control unit 7 acquires the coefficients a to c of the function (Expression (9)). Thereafter, in step S8, the image generation unit 6 uses the function (equation (9)) for which the period p acquired in step S6 is determined and the coefficients a to c acquired in step S7. Generate and finish the process.
- the X-ray phase contrast imaging system 100 includes the X-ray source 1 and the X-rays from the first grating 2 and the first grating 2 to which the X-ray source 1 emits X-rays.
- a plurality of gratings including a second grating 3 to be irradiated, a detector 4 for detecting X-rays emitted from the X-ray source 1, a grating moving mechanism 10 for moving the second grating 3, and a detector 4
- the image processing unit 5 that generates the phase contrast image 11 based on the intensity change 30b representing the change in the pixel value of each pixel detected by the image processing unit 5.
- the phase contrast image 11 is generated by a function (Equation (9)) representing the intensity change 30 b of the pixel value accompanying the movement of the lattice with as a variable.
- a function (Equation (9)) representing the intensity change 30 b of the pixel value accompanying the movement of the lattice with as a variable.
- the period p of intensity variation 30b is at least one of the deviation of the amount of movement of the second grating 3 due to the deviation and the grid moving mechanism 10 of the period p 2 of the second grating 3 It is a cycle that includes one shift.
- the period of the second case where both the deviation of the amount of movement of the period p 2 and the second grating 3 grid 3 has occurred (or, if the deviation both occurs) also including a deviation intensity variation 30b
- the image processing unit 5 changes the intensity change 30 b based on the data of the intensity change 30 b acquired by moving the second grating 3 and the function (Equation (9)). It is configured to determine the period p of. Thereby, the period p of the intensity change 30b can be acquired from the data of the intensity change 30b actually measured. As a result, it is possible to obtain the period p of the case, too, including the displacement intensity variation 30b of period p and the deviation in the period p 2 of the second grating 3 of intensity variation 30b is occurring.
- the image processing unit 5 fits the waveform shape of the intensity change 30 b and the waveform shape of the function (equation (9)) into the period p of the intensity change 30 b. Is configured to determine.
- the period p of the intensity change 30b can be determined based on the square sum Z of the deviation between the shape of the waveform of the intensity change 30b and the shape of the waveform of the function (Equation (9)).
- the period p of the intensity change 30b it is possible to determine the period p of the intensity change 30b by comparing the square sum Z of the deviations obtained using a plurality of periods, so for example, an image acquired using a plurality of periods p
- the process of determining the period p of the intensity change 30 b can be simplified as compared to the case where the period p of the intensity change 30 b is determined.
- a second deviation calculated by the first deviation and a value smaller than the design value of the period p 2 of the second grating 3 which is calculated by the value greater than the design value of the period p 2 of the second grating 3 By comparison, it can be determined whether the period p for minimizing the sum of squares Z of the deviations is a larger value or a smaller value than the design value of the period p 2 of the second grating 3. As a result, it is possible to easily determine the period p in which the sum of squares Z of the deviations is minimized.
- the image processing unit 5 acquires the coefficients a to c of the function (Equation (9)) corresponding to the predetermined period p, and the coefficients a to c and the predetermined period
- the sum p of the squares of the deviation between the shape of the waveform of the intensity change 30b and the shape of the waveform of the function (Eq. (9)) is obtained.
- the square sum Z of the deviation corresponding to the predetermined period p can be acquired.
- an X-ray phase difference imaging system 200 according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 6.
- the image processing unit 5 acquires in advance
- the coefficients a to c of the function (equation (9)) are acquired from the period p of the intensity change 30b, and the phase contrast image 11 is obtained based on the acquired coefficients a to c and the period p of the intensity change 30b acquired in advance.
- the period p 2 of the second grating 3 is so very small value and may slightly period p 2 is shifted by manufacturing errors.
- p x the period slightly deviated from the period p 2 of the second grating 3
- p x the period slightly deviated from the period p 2 of the second grating 3
- a general fringe scanning method using the above equations (1) and (2)
- the second grating 3 can not be translated by a movement amount (p x ⁇ (k / N)) obtained by equally dividing the known period p x into N. It is not possible to acquire data of / N period, and an artifact 12 occurs.
- control unit 7 is configured to measure the deviation of the period p 2 of the second grating 3 in advance.
- step S1 the control unit 7 acquires data of the intensity change 30b of the pixel value in each pixel of the X-ray image obtained by imaging the subject Q.
- step S10 the control unit 7 acquires the cycle p of the intensity change 30b.
- step S11 the control unit 7 acquires the coefficients a to c of the equation (9) from the period p of the intensity change 30b acquired in advance. Thereafter, the process proceeds to step S8.
- step S8 the image generation unit 6 generates the phase contrast image 11 based on the acquired coefficients a to c and the period p of the intensity change 30b acquired in advance, and ends the processing.
- the remaining structure of the second embodiment is similar to that of the aforementioned first embodiment.
- the image processing unit 5 acquires the coefficients a to c of the function (Equation (9)) from the period p of the intensity change 30 b acquired in advance, and acquires the acquired coefficients a to
- the phase contrast image 11 is configured to be generated based on c and the period p of the intensity change 30 b acquired in advance.
- the coefficients a to c of the function (Eq. (9)) are obtained by fitting the actual measurement value and the function (Eq. (9)) to which the cycle p of the intensity change 30 b acquired in advance is substituted. can do.
- the present invention is not limited to this.
- the third grating 40 may be provided between the X-ray source 1 and the first grating 2.
- the third grating 40 has a plurality of slits 40 a and an X-ray absorbing portion 40 b which are arranged in the X direction at a predetermined period (pitch) p 3 .
- Each of the slits 40a and the X-ray absorbing portion 40b is formed to extend linearly.
- each slit 40a and the X-ray absorbing portion 40b are formed to extend in parallel with each other.
- the third grating 40 is disposed between the X-ray source 1 and the first grating 2, and the X-ray source 1 emits X-rays.
- the third grating 40 is configured such that the X-rays that have passed through the slits 40 a are line light sources corresponding to the positions of the slits 40 a.
- the coherence of the X-rays irradiated from the X-ray source 1 can be enhanced by the third grating 40.
- phase contrast image 11 can be acquired without using the self-image 20 of the first grating 2, so the freedom of the arrangement position of the first grating 2 can be improved.
- phase contrast image 11 is degraded. Therefore, when it is desired to obtain the phase contrast image 11 of high quality, it is better to use the phase grating as the first grating 2. preferable.
- a value smaller than the period p 2 of the second grating 3 is used as the plurality of periods p used for obtaining the square sum Z of the deviation. It is not limited to.
- a value larger than the period p 2 of the second grating 3 may be used as the plurality of periods p.
- the least squares method is used to fit the waveform shape of the intensity change 30b and the waveform shape of the function.
- the present invention is not limited to this. Any fitting method may be used as long as coefficients a to c of the function (Eq. (9)) can be obtained.
- the first grid 2 may be translated.
- the grid to be moved may be any grid.
- a display unit is provided to display a plurality of phase contrast images 11 in which the period p is changed, and the user selects the phase contrast image 11 displayed on the display unit. 9)) may be configured to determine the sum of squares Z of the deviation.
- Reference Signs List 1 X-ray source 2 first grating 3 second grating 4 detector 5 image processing unit 10 grating moving mechanism 12 phase contrast image 30, 30a, 30b intensity change 40 third grating 100, 200, 300 X-ray phase difference imaging system Q Subject p Period of intensity change Period p 2 Lattice period Z deviation sum of squares
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Abstract
このX線位相差撮像システム(100)は、X線源(1)と、複数の格子と、検出器(4)と、格子移動機構(10)と、位相コントラスト画像(11)を生成する画像処理部(5)とを備え、画像処理部(5)は、強度変化(30b)の周期(p)と、周期を変数とするとともに格子の移動に伴う画素値の強度変化を表す関数とにより、位相コントラスト画像(11)を生成するように構成されている。
Description
本発明は、X線位相差撮像システムに関し、特に、複数の格子を用いて撮像を行うX線位相差撮像システムに関する。
従来、複数の格子を用いて撮像を行うX線位相差撮像システムが知られている。このようなX線位相差撮像システムは、たとえば、国際公開第2014/030115号に開示されている。
国際公開第2014/030115号に開示されているX線位相差撮像システムは、タルボ・ロー干渉計によってX線撮像を行い、縞走査法によって位相コントラスト画像を生成するように構成されている。
ここで、タルボ・ロー干渉計では、マルチスリットと、位相格子と、吸収格子とを用いて撮像が行われる。具体的には、複数の格子のうちいずれか1つを、格子のパターンと直交する方向に並進させながら複数回撮像する。また、縞走査法とは、格子を並進移動させながら複数回撮像されたX線画像の各画素の画素値の強度変化に基づいて、位相コントラスト画像を生成する手法である。具体的には、縞走査法は、X線画像の各画素の画素値の強度変化が、格子の周期の関数の各位相におけるデータであるとして、関数の波形を決定し、波形が決定された関数に基づいて、位相コントラスト画像を生成する手法である。位相コントラスト画像には、吸収像、位相微分像および暗視野像が含まれる。吸収像とは、X線が被写体を通過した際に生じるX線の減衰に基づいて画像化した像である。また、位相微分像とは、X線が被写体を通過した際に発生するX線の位相のずれをもとに画像化した像である。また、暗視野像とは、物体の小角散乱に基づくVisibilityの変化によって得られる、Visibility像のことである。また、暗視野像は、小角散乱像とも呼ばれる。「Visibility」とは、鮮明度のことである。
縞走査法を用いて位相コントラスト画像を生成する際、複数の格子のいずれか1つを、少なくとも格子の1周期分、格子のパターンと直交する方向に並進移動させながら撮像を行う。具体的には、縞走査法では、格子を格子のパターンと直交する方向に、格子の周期の1/Nずつ並進移動させながら撮像する。したがって、N回並進移動させた際の格子の総移動量が、移動させる格子の周期と等しくなる。また、格子の総移動量と移動させる格子の周期とが等しくなるため、各画素の画素値の強度変化の周期と移動させる格子の周期とが等しくなる。なお、Nは正の整数である。
しかしながら、国際公開第2014/030115号のX線位相差撮像システムで用いられている一般的な縞走査法では、X線画像の各画素の画素値の強度変化が1/N周期の位相の点のデータであることを前提として位相コントラスト画像を生成しているため、たとえば、熱変動による格子の相対位置の変化や格子移動機構の移動精度に起因して、各ステップにおける格子の移動量が1/N周期でない場合、関数の波形が実データから乖離する。したがって、格子の総移動量と格子の周期とにずれが生じた場合、得られる画像にアーチファクトが生じるという問題点がある。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、格子の格子パターンと直交する方向における総移動量と格子の周期とにずれが生じている場合でも、得られる位相コントラスト画像にアーチファクトが生じることを抑制することが可能なX線位相差撮像システムを提供することである。なお、格子の格子パターンと直交する方向における総移動量と格子の周期とのずれとは、熱変動や格子移動機構の精度等に起因する、極めて小さいずれである。
上記目的を達成するために、この発明の一の局面におけるX線位相差撮像システムは、X線源と、X線源からX線が照射される第1格子と第1格子からのX線が照射される第2格子とを含む複数の格子と、X線源から照射されたX線を検出する検出器と、複数の格子の少なくともいずれか1つを移動させる格子移動機構と、検出器により検出された各画素の画素値の変化を表す強度変化に基づいて、位相コントラスト画像を生成する画像処理部とを備え、画像処理部は、強度変化の周期と、周期を変数とするとともに格子の移動に伴う画素値の強度変化を表す関数とにより、位相コントラスト画像を生成するように構成されている。
この発明の一の局面におけるX線位相差撮像システムは、上記のように、強度変化の周期と、周期を変数とするとともに格子の移動に伴う画素値の強度変化を表す関数とにより、位相コントラスト画像を生成する画像処理部を備える。これにより、関数の周期が変数であるため、関数の周期の最適解を求めることにより、格子の移動によって実際に取得された強度変化の周期を近似することができる。その結果、各画素における画素値の強度変化の周期と格子の周期とにずれが生じている場合でも、関数の周期を強度変化の周期に合わせることが可能となるので、得られる位相コントラスト画像にアーチファクトが生じることを抑制することができる。
上記一の局面におけるX線位相差撮像システムにおいて、好ましくは、強度変化の周期は、格子の周期のずれと格子移動機構による格子の移動量のずれとのうち少なくとも一方のずれを含んだ周期である。これにより、格子の周期および格子の移動量のどちらにずれが生じていた場合(または、両方にずれが生じた場合)でも、ずれを含んだ強度変化の周期に、関数の周期(変数)を合わせることにより、生成する位相コントラスト画像にアーチファクトが生じることを抑制することができる。
上記一の局面におけるX線位相差撮像システムにおいて、好ましくは、画像処理部は、複数の格子の少なくともいずれか1つを移動させて取得した強度変化のデータと関数とに基づいて、強度変化の周期を決定するように構成されている。このように構成すれば、実際に計測した強度変化のデータから強度変化の周期を取得することができる。その結果、強度変化の周期と格子の周期とにずれが生じている場合でも、ずれを含んだ強度変化の周期を取得することができる。
上記一の局面におけるX線位相差撮像システムにおいて、好ましくは、画像処理部は、強度変化の波形の形状と関数の波形の形状とをフィッティングすることにより強度変化の周期を決定するように構成されている。このように構成すれば、強度変化の波形の形状と関数の波形の形状との偏差に基づいて強度変化の周期を決定することができる。その結果、複数の周期を用いて取得した偏差を比較することにより強度変化の周期を決定することが可能となるので、たとえば、複数の周期を用いて取得した画像を画像処理することにより強度変化の周期を決定する場合と比較して、強度変化の周期を決定する処理を簡素化することができる。
この場合、好ましくは、画像処理部は、少なくとも格子移動機構により移動される格子の周期の設計値よりも大きい値および小さい値の両方の値を周期として用いて強度変化の波形の形状と関数の波形の形状との偏差を求めるように構成されている。このように構成すれば、格子の周期の設計値よりも大きい値により算出される偏差と格子の周期の設計値よりも小さい値により算出される偏差とを比較することにより、偏差を最小にするための周期が、格子の周期の設計値よりも大きい値か小さい値かを判断することができる。その結果、偏差が最小になる周期を容易に決定することができる。
上記強度変化の波形の形状と関数の波形の形状とをフィッティングすることにより強度変化の周期を決定する構成において、好ましくは、画像処理部は、所定の周期に対応する関数の係数を取得し、係数および所定の周期により強度変化の波形の形状と関数の波形の形状との偏差を取得するように構成されている。このように構成すれば、所定の周期に対応する偏差を取得することができる。その結果、複数の周期に対応した偏差を比較することにより、偏差が最小となる周期を容易に決定することができる。
上記一の局面におけるX線位相差撮像システムにおいて、好ましくは、画像処理部は、あらかじめ取得された強度変化の周期から、関数の係数を取得し、取得した係数およびあらかじめ取得された強度変化の周期に基づき、位相コントラスト画像を生成するように構成されている。ここで、格子の周期は非常に小さい値なので、製作誤差によりわずかに周期がずれる場合がある。格子の周期からわずかにずれた周期が既知であっても、一般的な縞走査法では、k/N周期のデータを取得する必要がある。しかし、格子移動機構の精度が十分でないと、既知の周期をN等分した移動量で格子を並進移動させることができないので、k/N周期のデータを取得することができず、アーチファクトが生じる。格子の周期のずれは計測することによりあらかじめ取得することが可能であるため、強度変化の周期と格子の周期とのずれは、あらかじめ取得することが可能である。したがって、上記のように構成すれば、実際の計測値と、あらかじめ取得された強度変化の周期を代入した関数とをフィッティングすることにより、関数の係数を取得することができる。その結果、格子の移動量がずれている場合でも、実データに精度よく近似した関数を決定することが可能となり、生成される位相コントラスト画像にアーチファクトが生じることを抑制することができる。なお、kは1からNまでの正の整数である。
上記一の局面におけるX線位相差撮像システムにおいて、好ましくは、複数の格子は、X線源と第1格子との間に配置された第3格子をさらに含んでいる。このように構成すれば、第3格子によってX線源から照射されるX線の可干渉性を高めることができる。その結果、X線源の焦点径に依存することなく第1格子の自己像を形成させることが可能となるので、X線源の選択の自由度を向上させることができる。
本発明によれば、上記のように、格子の格子パターンと直交する方向における総移動量と格子の周期とにずれが生じている場合でも、得られる位相コントラスト画像にアーチファクトが生じることを抑制することが可能なX線位相差撮像システムを提供することができる。
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
[第1実施形態]
図1~図5を参照して、本発明の第1実施形態によるX線位相差撮像システム100の構成について説明する。
図1~図5を参照して、本発明の第1実施形態によるX線位相差撮像システム100の構成について説明する。
(X線位相差撮像システムの構成)
まず、図1を参照して、本発明の第1実施形態によるX線位相差撮像システム100の構成について説明する。
まず、図1を参照して、本発明の第1実施形態によるX線位相差撮像システム100の構成について説明する。
図1は、X線位相差撮像システム100をY方向から見た図である。図1に示すように、X線位相差撮像システム100は、X線源1と、第1格子2と、第2格子3と、検出器4と、画像処理部5と、装置制御部9と、格子移動機構10とを備えている。なお、本明細書において、X線源1から第1格子2に向かう方向をZ2方向、その逆向きの方向をZ1方向とする。また、Z方向と直交する面内の左右方向をY方向とし、紙面の奥に向かう方向をY2方向、紙面の手前側に向かう方向をY1方向とする。また、Z方向と直交する面内の上下方向をX方向とし、上方向をX1方向、下方向をX2方向とする。
X線源1は、装置制御部9からの信号に基づいて高電圧が印加されることにより、X線を発生させるとともに、発生させたX線を検出器4(Z2方向)に向けて照射するように構成されている。
第1格子2は、X方向に所定の周期(ピッチ)p1で配列される複数のスリット2aおよび、X線位相変化部2bを有している。各スリット2aおよびX線位相変化部2bはそれぞれ、直線状に延びるように形成されている。また、各スリット2aおよびX線位相変化部2bはそれぞれ、平行に延びるように形成されている。第1格子2は、いわゆる位相格子である。
第1格子2は、X線源1と、第2格子3との間に配置されており、X線源1からX線が照射される。第1格子2は、タルボ効果により、第1格子2の自己像20(図2参照)を形成するために設けられている。可干渉性を有するX線が、スリットが形成された格子を通過すると、格子から所定の距離(タルボ距離)離れた位置に、格子の像(自己像20)が形成される。これをタルボ効果という。
第2格子3は、X方向に所定の周期(ピッチ)p2で配列される複数のX線透過部3aおよびX線吸収部3bを有する。各X線透過部3aおよびX線吸収部3bはそれぞれ、直線状に延びるように形成されている。また、各X線透過部3aおよびX線吸収部3bはそれぞれ、平行に延びるように形成されている。第2格子3は、いわゆる、吸収格子である。第1格子2、第2格子3はそれぞれ異なる役割を持つ格子であるが、スリット2aおよびX線透過部3aはそれぞれX線を透過させる。また、X線吸収部3bはX線を遮蔽する役割を担っており、X線位相変化部2bはスリット2aとの屈折率の違いによってX線の位相を変化させる。
第2格子3は、第1格子2と検出器4との間に配置されており、第1格子2を通過したX線が照射される。また、第2格子3は、第1格子2からタルボ距離離れた位置に配置される。第2格子3は、第1格子2の自己像20と干渉して、検出器4の検出表面上にモアレ縞(図示せず)を形成する。
検出器4は、X線を検出するとともに、検出されたX線を電気信号に変換し、変換された電気信号を画像信号として読み取るように構成されている。検出器4は、たとえば、FPD(Flat Panel Detector)である。検出器4は、複数の変換素子(図示せず)と複数の変換素子上に配置された画素電極(図示せず)とにより構成されている。複数の変換素子および画素電極は、所定の周期(画素ピッチ)で、X方向およびY方向にアレイ状に配列されている。また、検出器4は、取得した画像信号を、画像処理部5に出力するように構成されている。
画像処理部5は、画像生成部6、制御部7および記憶部8を含んでいる。画像生成部6は、検出器4から出力された画像信号に基づいて、X線画像(図示せず)を生成するように構成されている。また、画像生成部6は、生成したX線画像に基づいて、位相コントラスト画像11(図3(B)参照)を生成するように構成されている。画像生成部6は、たとえば、GPU(Graphics Processing Unit)または画像処理用に構成されたFPGA(Field-Programmable Gate Array)などのプロセッサを含む。
また、制御部7は、検出器4で検出したX線の強度変化30(図2参照)の周期pなどを取得するように構成されている。制御部7が強度変化30の周期pを取得する詳細な構成については後述する。また、制御部7は、たとえば、CPU(Central Processing Unit)などのプロセッサを含む。
記憶部8は、画像生成部6が生成したX線画像や位相コントラスト画像11を生成するためのプラグラムなどを保存するように構成されている。記憶部8は、たとえば、HDD(ハードディスクドライブ)や不揮発性のメモリなどを含む。
装置制御部9は、格子移動機構10を介して、第2格子3を格子面内において格子パターンの方向(Y方向)と直交する方向(X方向)にステップ移動させるように構成されている。また、装置制御部9は、たとえば、CPUなどのプロセッサを含む。
格子移動機構10は、装置制御部9からの信号に基づいて、第2格子3を格子面内(XY面内)において格子の格子パターンの方向(Y方向)と直交する方向(X方向)にステップ移動させるように構成されている。具体的には、格子移動機構10は、第2格子3の周期p2をN分割し、p2/Nずつ第2格子3をステップ移動させる。なお、Nは正の整数であり、第1実施形態では、たとえば、N=4である。また、格子移動機構10は、たとえば、ステッピングモータやピエゾアクチュエータなどを含む。
(各画素における画素値の強度変化を取得する構成)
次に、図2を参照して、画像処理部5が各画素における画素値の強度変化30を取得する構成について説明する。
次に、図2を参照して、画像処理部5が各画素における画素値の強度変化30を取得する構成について説明する。
図2は、第1実施形態による画像生成部6が縞走査法によって位相コントラスト画像11を生成する際に格子移動機構10によって第2格子3を並進移動させた際の第1格子2の自己像20と第2格子3との位置関係を示す模式図(A)~(D)および、第2格子3を並進移動させて撮影したX線画像の各画素における画素値の強度変化30を示したグラフである。
第1実施形態では、装置制御部9は、格子移動機構10を介して第2格子3をp2/4ずつ4回並進移動させて撮影を行うように構成されている。すなわち、第1実施形態では、図2(A)~図2(D)に示すように、X線位相差撮像システム100は、第2格子3をp2/4ずつX2方向に移動させつつ撮像を行うように構成されている。また、制御部7は、第2格子3をp2/4ずつX2方向に移動させつつ撮像を行った際の各画素の画素値の強度変化として、図2のグラフに示すような強度変化30を取得する。
(比較例の説明)
ここで、一般的な縞走査法では、被写体Qを配置せずに撮像したX線画像における強度変化30と、被写体Qを配置して撮像したX線画像における強度変化30とに基づいて、位相コントラスト画像11を生成する。たとえば、第2格子3をN回並進させて撮影した場合を考える。
ここで、一般的な縞走査法では、被写体Qを配置せずに撮像したX線画像における強度変化30と、被写体Qを配置して撮像したX線画像における強度変化30とに基づいて、位相コントラスト画像11を生成する。たとえば、第2格子3をN回並進させて撮影した場合を考える。
被写体Qを配置して撮影した際の検出器4で検出されるX線の強度をIk(x、y)、被写体Qを配置せずに撮影した際のX線の強度をI0k(x、y)とし、以下のS(x,y)およびS0(x、y)を定義する。
ここで、kは1からNまでの正の整数である。また、xおよびyは、各画素のx座標およびy座標である。
位相微分像11aを示す各画素の画素値は、上記式(1)および式(2)を用いて、以下に示す式(3)によって算出することができる。なお、位相微分像11aの各画素の画素値φ(x、y)は、被写体Qを配置した場合と配置しない場合における位相値の差分である。
ここで、ZTは、第1格子2と第2格子3との間の距離である。また、吸収像11bを示す各画素の画素値T(x、y)は、以下の式(4)によって表される。
上記式(1)および式(2)に示す通り、一般的な縞走査法では、1ステップにつき、第2格子3の周期p2をステップ数で割った値だけ移動することを前提として計算された値に基づいて、位相コントラスト画像11を画像化している。言い換えると、上記式(1)および式(2)は、各ステップで取得される画像が、第2格子3の周期p2の1/4、2/4、3/4、4/4の各位相における画像であることを前提としているため、第2格子3を並進移動させながら撮影することによって、1/4~4/4の各位相の画像を確実に取得する必要がある。したがって、取得される強度変化30の周期pと、第2格子3の周期p2とにずれが生じた場合、1/4~4/4の各位相からずれた位相における画像(画素値)を用いて演算を行うことになるため、生成される位相コントラスト画像11にアーチファクト12が形成される。
(強度変化の周期のずれ)
次に、図3を参照して、強度変化30の周期pと第2格子3の周期p2とにずれが生じた際に、位相コントラスト画像11に生じるアーチファクト12について説明する。
次に、図3を参照して、強度変化30の周期pと第2格子3の周期p2とにずれが生じた際に、位相コントラスト画像11に生じるアーチファクト12について説明する。
図3(A)に示すグラフは、強度変化30の周期pと第2格子3の周期p2とが一致している場合の強度変化30a(直線グラフ)および強度変化30の周期pと第2格子3の周期p2とにずれが生じている場合の強度変化30b(破線グラフ)を示す模式図である。なお、強度変化30bは、実際にはN点のデータであるが、図3(A)に示す例では、N点のデータのそれぞれをk/N周期におけるデータとみなしている。ここで、X線位相差撮像システム100では、X線源1から生じる熱に起因して、第2格子3が熱変形を起こす場合がある。第2格子3が熱変形を起こした場合、第2格子3の周期p2が変化する。また、格子移動機構10は、第2格子3を第1格子2と平行に移動させるように構成されているが、設置の際の位置ずれなどに起因して、第2格子3の移動方向が第1格子2とは平行にならない場合がある。このように、第2格子3の周期p2の変化および/または第2格子3の移動方向にずれが生じた場合、第2格子3の格子パターンの方向(Y方向)と直交する方向(X方向)における総移動量と、第2格子3の周期p2とにずれが生じる。第2格子3の格子パターンの方向(Y方向)と直交する方向(X方向)における総移動量と、第2格子3の周期p2とにずれが生じた場合、制御部7が取得する強度変化30の周期pが第2格子3の周期p2とずれる。すなわち、強度変化30の周期pは、第2格子3の周期p2のずれと格子移動機構10による第2格子3の移動量のずれとのうち少なくとも一方のずれを含んだ周期pである。
一般的な縞走査法は、上記式(1)~式(7)に示したように、得られた強度変化30bを、第2格子3の周期p2と同じ周期である強度変化30aを表す関数に当てはめることにより位相コントラスト画像11を生成している。したがって、強度変化30の周期pと第2格子3の周期p2とにずれが生じた状態で、上記式(1)~式(8)を用いた一般的な縞走査法によって位相コントラスト画像11を生成した場合、図3(B)に示すように、各画像に縞状のアーチファクト12が形成される。
そこで、第1実施形態では、画像処理部5は、強度変化30bの周期pと、周期を変数とするとともに格子の移動に伴う画素値の強度変化30bを表す関数とにより、位相コントラスト画像11を生成するように構成されている。具体的には、画像生成部6は、強度変化30の周期pと第2格子3の周期p2とにずれが生じた状態であっても、位相コントラスト画像11にアーチファクト12が生じることを抑制できるように、以下に示す処理によって位相コントラスト画像11を生成する。
(位相コントラスト画像の生成処理)
第1実施形態では、制御部7は、第2格子3を移動させて取得した強度変化30bのデータと関数とに基づいて、強度変化30bの周期pを決定するように構成されている。具体的には、制御部7は、強度変化30bの波形の形状と関数の波形の形状とをフィッティングすることにより強度変化30bの周期pを決定するように構成されている。制御部7は、取得した強度変化30b上のN個のデータ点に対して、最小二乗フィッティングを行うことにより、関数の係数a~cを決定し、関数の偏差の二乗和Zが最小となる周期pを取得するように構成されている。
第1実施形態では、制御部7は、第2格子3を移動させて取得した強度変化30bのデータと関数とに基づいて、強度変化30bの周期pを決定するように構成されている。具体的には、制御部7は、強度変化30bの波形の形状と関数の波形の形状とをフィッティングすることにより強度変化30bの周期pを決定するように構成されている。制御部7は、取得した強度変化30b上のN個のデータ点に対して、最小二乗フィッティングを行うことにより、関数の係数a~cを決定し、関数の偏差の二乗和Zが最小となる周期pを取得するように構成されている。
画像処理部5は、所定の周期に対応する上記式(9)の係数a~cを取得するように構成されている。また、制御部7は、取得した係数a~cおよび所定の周期pにより強度変化30bの波形の形状と、上記式(9)の波形の形状との偏差の二乗和Zを取得するように構成されている。具体的には、制御部7は、上記式(9)の関数とN個のデータ点との偏差の二乗和Zを計算することにより、式(9)の周期pを取得するように構成されている。偏差の二乗和Zは、以下の式(10)のように示すことができる。
ここで、mは、強度変化30bの周波数であり、m=2π/pである。
第1実施形態では、制御部7は、最小二乗法を用いてフィッティングを行うため、上記式(10)の係数a、b、およびcの偏微分をとる。係数a、b、およびcの偏微分は、それぞれ以下の式(11)~式(13)で表される。
ここで、ykは、各画素における画素値である。
上記式(17)~式(19)で取得した係数a、b、c、および上記式(9)に含まれる周期p(周波数m)は未知数である。したがって、第1実施形態では、画像処理部5は、偏差の二乗和Zが最小となる周期pを取得するように構成されている。図3(A)に示す例では、強度変化30bの周期pは、第2格子3の周期p2よりも小さくなるようにずれている。そのため、制御部7は、周期pの値を第2格子3の周期p2よりも小さくした複数の周期pを用いて偏差の二乗和Zを取得すればよい。しかし、実際には強度変化30bの周期pは未知数である。そのため、制御部7は、少なくとも格子移動機構10により移動される第2格子3の周期p2の設計値よりも大きい値および小さい値の両方の値を周期として用いて強度変化30bの波形の形状と式(9)の波形の形状との偏差の二乗和Zを求めるように構成されている。
たとえば、制御部7は、第2格子3の周期p2よりも大きい値を周期として用いた第1偏差と、第2格子3の周期p2よりも小さい値を周期として用いた第2偏差とを取得する。制御部7は、取得した第1偏差と第2偏差とを比較し、第1偏差の方が小さければ、第2格子3の周期p2よりも大きい複数の周期pを用いて複数の偏差の二乗和Zを取得する。一方、第2偏差の方が小さければ、制御部7は、第2格子3の周期p2よりも小さい複数の周期pを用いて複数の偏差の二乗和Zを取得する。制御部7は、取得した複数の偏差の二乗和Zが最も小さくなる際の周期pを強度変化10bの周期pとして決定するように構成されている。
図4は、強度変化30bの周期pを第2格子3の周期p2よりも小さくした複数の周期を用いて位相微分像11a、吸収像11bおよび暗視野像11cを生成した場合の例を示している。図4における解析周期とは、第2格子3の周期p2を所定の係数で乗算することにより得られる周期の事である。たとえば、解析周期0.95とは、第2格子3の周期p2に0.95をかけた周期(0.95×p2)のことである。図4に示すように、解析周期を1.00から0.95へと小さくするにつれて、各画像に生じているアーチファクト12が軽減されていることがわかる。また、解析周期を0.95からさらに小さくするとアーチファクト12が増加していることもわかる。したがって、図4に示す例では、偏差の二乗和Zが最も小さくなる周期は、解析周期0.95(0.95×p2)となる。なお、図4に示す例は、強度変化30bの周期pを0.95×p2としてシミュレーションを行った例である。したがって、実際に強度変化30bの周期pを決定するために、制御部7は、偏差の二乗和Zの大きさが小さくなる周期pから大きくなる周期pの変曲点を含むような複数の周期pを設定し、偏差の二乗和Zが極小値となるような周期pを強度変化30bの周期pと決定するように構成されている。
第1実施形態では、画像生成部6は、上記式(17)~式(23)により算出した係数a、b、およびcと決定した周期pとを用いて、位相コントラスト画像11の各画素値を算出する。位相コントラスト画像11の各画素値を算出する際には、上記式(9)を以下に示す式(24)に書き換えた式を用いる。
ここで、係数A、B、Cと係数a、b、cとの間には、以下の式(25)~式(27)に示す関係がある。なお、以下に示す式(26)の単位はradである。
上記式(24)の係数A、B、Cを用いると、位相微分像11a、吸収像11bおよび暗視野像11cはそれぞれ以下の式(28)~式(30)で表すことができる。
ここで、φは位相微分像である。また、Tは吸収像である。また、Dは暗視野像である。また、下付き文字のsおよびrは、それぞれ、被写体Qありで撮像した場合の係数および被写体Qなしで撮像した場合の係数を示している。
以上のように、第1実施形態では、制御部7は、最小二乗法を用いて、実際に撮影されたX線画像の強度変化30bの波形の形状と、式(9)の波形の形状とのフィッティングを行うように構成されている。したがって、強度変化30bの周期pが第2格子3の周期p2とずれている場合でも、強度変化30bの周期pに対応した関数(式(9))を所得することにより、位相コントラスト画像11を生成することができる。
(位相コントラスト画像の生成方法)
次に、図5を参照して、第1実施形態による位相コントラスト画像11の生成方法について説明する。
次に、図5を参照して、第1実施形態による位相コントラスト画像11の生成方法について説明する。
ステップS1において、画像生成部6は、被写体Qを撮影したX線画像を取得する。その後、制御部7は被写体Qを撮影したX線画像の各画素における画素値の強度変化30bのデータを取得する。次に、ステップS2において、制御部7は、第2格子3の周期p2よりも大きい値の第1周期を関数に代入して第1偏差の二乗和を取得する。また、制御部7は、第2格子3の周期p2よりも小さい値の第2周期を関数に代入し、第2偏差の二乗和を取得する。なお、ステップS2では、第1偏差の二乗和および第2偏差の二乗和を取得するために、上記式(9)、式(17)~式(23)およびm=2π/pの関係式を用いて、式(9)に含まれる変数を周期pのみにした式を用いる。その後、処理はステップS3へ進む。
ステップS3において、制御部7は、第1偏差の二乗和および第2偏差の二乗和の値の大きさを比較する。第1偏差の二乗和が第2偏差の二乗和よりも小さい場合、処理はステップS4へ進む。第1偏差の二乗和が第2偏差の二乗和よりも大きい場合、処理はステップS5へ進む。
ステップS4において、制御部7は、第2格子3の周期p2よりも小さい値の複数の周期pを設定する。また、ステップS5では、制御部7は、第2格子3の周期p2よりも大きい値の複数の周期pを設定する。その後、処理はステップS6へ進む。
ステップS6において、制御部7は、ステップS4(ステップS5)において設定した複数の周期pを用いて複数の偏差の二乗和Zを取得する。その後、制御部7は、複数の偏差の二乗和Zの値が最も小さくなる周期pを取得し、関数(式(9))の周期pとする。その後、ステップS7において、制御部7は、関数(式(9))の係数a~cを取得する。その後、ステップS8において、画像生成部6は、ステップS6において取得した周期pが決定された関数(式(9))およびステップS7において取得された係数a~cを用いて、位相コントラスト画像11を生成し、処理を終了する。
(第1実施形態の効果)
第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第1実施形態では、上記のように、X線位相差撮像システム100は、X線源1と、X線源1からX線が照射される第1格子2と第1格子2からのX線が照射される第2格子3とを含む複数の格子と、X線源1から照射されたX線を検出する検出器4と、第2格子3を移動させる格子移動機構10と、検出器4により検出された各画素の画素値の変化を表す強度変化30bに基づいて、位相コントラスト画像11を生成する画像処理部5とを備え、画像処理部5は、強度変化30bの周期pと、周期を変数とするとともに格子の移動に伴う画素値の強度変化30bを表す関数(式(9))とにより、位相コントラスト画像11を生成するように構成されている。これにより、関数(式(9))の周期pが変数であるため、関数(式(9))の周期pの最適解を求めることにより、第2格子3の移動によって実際に取得された強度変化30bの周期pを近似することができる。その結果、各画素における画素値の強度変化30bの周期pと第2格子3の周期p2とにずれが生じている場合でも、関数(式(9))の周期pを強度変化30bの周期pに合わせることが可能となるので、得られる位相コントラスト画像11にアーチファクト12が生じることを抑制することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、強度変化30bの周期pは、第2格子3の周期p2のずれと格子移動機構10による第2格子3の移動量のずれとのうち少なくとも一方のずれを含んだ周期である。これにより、第2格子3の周期p2および第2格子3の移動量のどちらにずれが生じていた場合(または、両方にずれが生じた場合)でも、ずれを含んだ強度変化30bの周期pに、関数(式(9))の周期p(変数)を合わせることにより、生成する位相コントラスト画像11にアーチファクト12が生じることを抑制することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、画像処理部5は、第2格子3を移動させて取得した強度変化30bのデータと関数(式(9))とに基づいて、強度変化30bの周期pを決定するように構成されている。これにより、実際に計測した強度変化30bのデータから強度変化30bの周期pを取得することができる。その結果、強度変化30bの周期pと第2格子3の周期p2とにずれが生じている場合でも、ずれを含んだ強度変化30bの周期pを取得することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、画像処理部5は、強度変化30bの波形の形状と関数(式(9))の波形の形状とをフィッティングすることにより強度変化30bの周期pを決定するように構成されている。これにより、強度変化30bの波形の形状と関数(式(9))の波形の形状との偏差の二乗和Zに基づいて強度変化30bの周期pを決定することができる。その結果、複数の周期を用いて取得した偏差の二乗和Zを比較することにより強度変化30bの周期pを決定することが可能となるので、たとえば、複数の周期pを用いて取得した画像を画像処理することにより強度変化30bの周期pを決定する場合と比較して、強度変化30bの周期pを決定する処理を簡素化することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、少なくとも格子移動機構10により移動される第2格子3の周期p2の設計値よりも大きい値および小さい値の両方の値を周期pとして用いて強度変化30bの波形の形状と関数(式(9))の波形の形状との偏差の二乗和Zを求めるように構成されている。これにより、第2格子3の周期p2の設計値よりも大きい値により算出される第1偏差と第2格子3の周期p2の設計値よりも小さい値により算出される第2偏差とを比較することにより、偏差の二乗和Zを最小にするための周期pが、第2格子3の周期p2の設計値よりも大きい値か小さい値かを判断することができる。その結果、偏差の二乗和Zが最小になる周期pを容易に決定することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、画像処理部5は、所定の周期pに対応する関数(式(9))の係数a~cを取得し、係数a~cおよび所定の周期pにより強度変化30bの波形の形状と関数(式(9))の波形の形状との偏差の二乗和Zを取得するように構成されている。これにより、所定の周期pに対応する偏差の二乗和Zを取得することができる。その結果、複数の周期pに対応した偏差の二乗和Zを比較することにより、偏差の二乗和Zが最小となる周期pを容易に決定することができる。
[第2実施形態]
次に、図1および図6を参照して、本発明の第2実施形態によるX線位相差撮像システム200について説明する。複数の周期pを用いて取得した複数の偏差の二乗和Zを比較することにより関数の周期pを決定する第1実施形態とは異なり、第2実施形態では、画像処理部5は、あらかじめ取得された強度変化30bの周期pから、関数(式(9))の係数a~cを取得し、取得した係数a~cおよびあらかじめ取得された強度変化30bの周期pに基づき、位相コントラスト画像11を生成するように構成されている。なお、上記第1実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、説明を省略する。
次に、図1および図6を参照して、本発明の第2実施形態によるX線位相差撮像システム200について説明する。複数の周期pを用いて取得した複数の偏差の二乗和Zを比較することにより関数の周期pを決定する第1実施形態とは異なり、第2実施形態では、画像処理部5は、あらかじめ取得された強度変化30bの周期pから、関数(式(9))の係数a~cを取得し、取得した係数a~cおよびあらかじめ取得された強度変化30bの周期pに基づき、位相コントラスト画像11を生成するように構成されている。なお、上記第1実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、説明を省略する。
ここで、第2格子3の周期p2は非常に小さい値なので、製作誤差によりわずかに周期p2がずれる場合がある。その場合、第2格子3の周期p2からわずかにずれた周期(以下、pxとする)が既知であっても、上記式(1)および式(2)を用いる一般的な縞走査法では、k/N周期のデータを取得する必要がある。しかし、格子移動機構10の精度が十分でないと、既知の周期pxをN等分した移動量(px×(k/N))で第2格子3を並進移動させることができないので、k/N周期のデータを取得することができず、アーチファクト12が生じる。そこで、第2実施形態では、制御部7は、あらかじめ第2格子3の周期p2のずれを計測するように構成されている。また、制御部7は、実際の測定値と、あらかじめ取得された強度変化30bの周期p2を代入した上記式(9)とをフィッティングさせることにより、係数a~cを決定するように構成されている。
(位相コントラスト画像の生成方法)
次に、図6を参照して、第2実施形態による位相コントラスト画像11の生成方法について説明する。
次に、図6を参照して、第2実施形態による位相コントラスト画像11の生成方法について説明する。
ステップS1において、制御部7は、被写体Qを撮像したX線画像の各画素における画素値の強度変化30bのデータを取得する。次に、ステップS10において、制御部7は、強度変化30bの周期pを取得する。その後、ステップS11において、制御部7は、あらかじめ取得された強度変化30bの周期pから、式(9)の係数a~cを取得する。その後、処理はステップS8へ進む。
ステップS8において、画像生成部6は、取得した係数a~cおよびあらかじめ取得された強度変化30bの周期pに基づき、位相コントラスト画像11を生成し、処理を終了する。
なお、第2実施形態のその他の構成は、上記第1実施形態と同様である。
(第2実施形態の効果)
第2実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第2実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第2実施形態では、上記のように、画像処理部5は、あらかじめ取得された強度変化30bの周期pから、関数(式(9))の係数a~cを取得し、取得した係数a~cおよびあらかじめ取得された強度変化30bの周期pに基づき、位相コントラスト画像11を生成するように構成されている。これにより、実際の計測値と、あらかじめ取得された強度変化30bの周期pを代入した関数(式(9))とをフィッティングすることにより、関数(式(9))の係数a~cを取得することができる。その結果、第2格子3の移動量がずれている場合でも、実データに精度よく近似した関数(式(9))を決定することが可能となり、生成される位相コントラスト画像11にアーチファクト12が生じることを抑制することができる。
なお、第2実施形態のその他の効果は、上記第1実施形態と同様である。
(変形例)
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
たとえば、上記第1~第3実施形態では、複数の格子として、第1格子2および第2格子3を設ける例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、図7に示すX線位相差撮像システム300のように、X線源1と第1格子2との間に、第3格子40を設ける構成でもよい。第3格子40は、X方向に所定の周期(ピッチ)p3で配列される複数のスリット40aおよびX線吸収部40bを有している。各スリット40aおよびX線吸収部40bはそれぞれ、直線状に延びるように形成されている。また、各スリット40aおよびX線吸収部40bはそれぞれ、平行に延びるように形成されている。また、第3格子40は、X線源1と第1格子2との間に配置されており、X線源1からX線が照射される。第3格子40は、各スリット40aを通過したX線を、各スリット40aの位置に対応する線光源とするように構成されている。これにより、第3格子40によってX線源1から照射されるX線の可干渉性を高めることができる。その結果、X線源1の焦点径に依存することなく第1格子2の自己像20を形成させることが可能となるので、X線源1の選択の自由度を向上させることができる。
また、上記第1および第2実施形態では、第1格子2として、位相格子を用いる例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第1格子2として、吸収格子を用いてもよい。第1格子2として吸収格子を用いた場合、画像処理部5(画像生成部6)は、第1格子2を透過したX線の縞模様と第2格子3とにより位相コントラスト画像11を生成する。したがって、第1格子2の自己像20を用いることなく位相コントラスト画像11を取得することが可能となるので、第1格子2の配置位置の自由度を向上させることができる。しかし、第1格子2として吸収格子を用いる場合、得られる位相コントラスト画像11の画質が低下するため、高画質の位相コントラスト画像11を得たい場合は、第1格子2として位相格子を用いる方が好ましい。
また、上記第1実施形態では、偏差の二乗和Zを取得する際に用いる複数の周期pとして、第2格子3の周期p2よりも小さい値を用いる例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、強度変化30bの周期pが第2格子3の周期p2よりも大きい場合、複数の周期pとして、第2格子3の周期p2よりも大きい値を用いてもよい。
また、上記第1実施形態では、強度変化30bの波形の形状と関数の波形の形状のフィッティングとして最小二乗法を用いる例を示したが、本発明はこれに限られない。関数(式(9))の係数a~cを取得することが可能であれば、どのようなフィッティング方法を用いてもよい。
また、上記第1および第2に実施形態では、格子移動機構10が第2格子3を並進移動させる例を示したが、本発明はこれに限られない。第1格子2を並進移動させてもよい。移動させる格子はいずれの格子でもよい。
また、上記第1および第2実施形態では、制御部7によって関数(式(9))の偏差の二乗和Zを決定する例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、図4に示すような周期pを変化させた複数の位相コントラスト画像11を表示する表示部を備え、表示部に表示された位相コントラスト画像11をユーザが選択することにより、関数(式(9))の偏差の二乗和Zを決定するように構成されていてもよい。
1 X線源
2 第1格子
3 第2格子
4 検出器
5 画像処理部
10 格子移動機構
12 位相コントラスト画像
30、30a、30b 強度変化
40 第3格子
100、200、300 X線位相差撮像システム
Q 被写体
p 強度変化の周期
p2 格子の周期
Z 偏差の二乗和
2 第1格子
3 第2格子
4 検出器
5 画像処理部
10 格子移動機構
12 位相コントラスト画像
30、30a、30b 強度変化
40 第3格子
100、200、300 X線位相差撮像システム
Q 被写体
p 強度変化の周期
p2 格子の周期
Z 偏差の二乗和
Claims (8)
- X線源と、
前記X線源からX線が照射される第1格子と、前記第1格子からのX線が照射される第2格子とを含む複数の格子と、
前記X線源から照射されたX線を検出する検出器と、
前記複数の格子の少なくともいずれか1つを移動させる格子移動機構と、
前記検出器により検出された各画素の画素値の変化を表す強度変化に基づいて、位相コントラスト画像を生成する画像処理部とを備え、
前記画像処理部は、前記強度変化の周期と、周期を変数とするとともに格子の移動に伴う画素値の強度変化を表す関数とにより、前記位相コントラスト画像を生成するように構成されている、X線位相差撮像システム。 - 前記強度変化の周期は、格子の周期のずれと前記格子移動機構による格子の移動量のずれとのうち少なくとも一方のずれを含んだ周期である、請求項1に記載のX線位相差撮像システム。
- 前記画像処理部は、前記複数の格子の少なくともいずれか1つを移動させて取得した前記強度変化のデータと前記関数とに基づいて、前記強度変化の周期を決定するように構成されている、請求項1に記載のX線位相差撮像システム。
- 前記画像処理部は、前記強度変化の波形の形状と前記関数の波形の形状とをフィッティングすることにより前記強度変化の周期を決定するように構成されている、請求項1に記載のX線位相差撮像システム。
- 前記画像処理部は、少なくとも前記格子移動機構により移動される格子の周期の設計値よりも大きい値および小さい値の両方の値を周期として用いて、前記強度変化の波形の形状と前記関数の波形の形状との偏差を求めるように構成されている、請求項4に記載のX線位相差撮像システム。
- 前記画像処理部は、所定の周期に対応する前記関数の係数を取得し、前記係数および前記所定の周期により前記強度変化の波形の形状と前記関数の波形の形状との偏差を取得するように構成されている。請求項4に記載のX線位相差撮像システム。
- 前記画像処理部は、あらかじめ取得された前記強度変化の周期から、前記関数の係数を取得し、取得した前記係数およびあらかじめ取得された前記強度変化の周期に基づき、前記位相コントラスト画像を生成するように構成されている、請求項1に記載のX線位相差撮像システム。
- 前記複数の格子は、前記X線源と前記第1格子との間に配置された第3格子をさらに含んでいる、請求項1に記載のX線位相差撮像システム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US16/636,492 US11013482B2 (en) | 2017-10-31 | 2018-09-19 | Phase contrast X-ray imaging system |
JP2019549947A JP6743983B2 (ja) | 2017-10-31 | 2018-09-19 | X線位相差撮像システム |
CN201880043381.8A CN110832309B (zh) | 2017-10-31 | 2018-09-19 | X射线相位差摄像*** |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017211085 | 2017-10-31 | ||
JP2017-211085 | 2017-10-31 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2019087605A1 true WO2019087605A1 (ja) | 2019-05-09 |
Family
ID=66333090
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2018/034674 WO2019087605A1 (ja) | 2017-10-31 | 2018-09-19 | X線位相差撮像システム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11013482B2 (ja) |
JP (1) | JP6743983B2 (ja) |
CN (1) | CN110832309B (ja) |
WO (1) | WO2019087605A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6743983B2 (ja) * | 2017-10-31 | 2020-08-19 | 株式会社島津製作所 | X線位相差撮像システム |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2018
- 2018-09-19 JP JP2019549947A patent/JP6743983B2/ja active Active
- 2018-09-19 WO PCT/JP2018/034674 patent/WO2019087605A1/ja active Application Filing
- 2018-09-19 CN CN201880043381.8A patent/CN110832309B/zh active Active
- 2018-09-19 US US16/636,492 patent/US11013482B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110832309A (zh) | 2020-02-21 |
CN110832309B (zh) | 2022-08-23 |
JPWO2019087605A1 (ja) | 2020-04-02 |
US20200249178A1 (en) | 2020-08-06 |
JP6743983B2 (ja) | 2020-08-19 |
US11013482B2 (en) | 2021-05-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 18872493 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 2019549947 Country of ref document: JP Kind code of ref document: A |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 18872493 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |