JP2013513418A - 微分位相コントラストイメージングシステム - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (14)
- X線放出装置とX線検出装置を有する、対象物の微分位相コントラストイメージングを行うためのX線イメージングシステムであって、
前記X線放出装置は、少なくとも部分的にコヒーレントなX線放射線を供し、
前記X線検出装置は、位相シフト回折格子、位相解析回折格子、及びX線画像検出装置を有し、
前記X線放出装置、前記位相シフト回折格子、前記位相解析回折格子、及び前記X線画像検出装置は、光軸に沿ってこの順序で配置され、
被検査対象物は、該被検査対象物の関心領域が、前記X線放出装置から前記X線画像検出装置へ放出されるX線放射線に曝露可能となるように、前記X線放出装置と前記位相解析回折格子との間で受けられ、
前記位相シフト回折格子及び前記位相解析回折格子のうちの一と前記X線放出装置からなる群のうちの少なくとも一には、前記光軸に関して互いに対向するように配置された少なくとも2つのアクチュエータが備えられる、
X線イメージングシステム。 - 前記少なくとも2つのアクチュエータが、位相ステッピング画像を取得するため、前記位相シフト回折格子と前記位相解析回折格子のうちの一と前記X線放出装置からなる群のうちの少なくとも一のステッピング運動を与え、かつ、前記X線放出装置、前記位相シフト回折格子、及び前記位相解析回折格子の位置合わせのずれを検出して補償するため、システムを校正する校正運動を供する、
請求項1に記載のX線イメージングシステム。 - 前記X線放出装置は、インコヒーレントなX線放射線を放出するX線源を有し、
線源回折格子は、空間的なビームコヒーレンスを供するように、前記X線源に近接して設けられている、
請求項1又は2に記載のX線イメージングシステム。 - 前記少なくとも2つのアクチュエータの各々は、前記グリッドの向きに垂直で、前記光軸にも垂直な方向での直線運動を供する、
請求項1乃至3のいずれかに記載のX線イメージングシステム。 - 前記少なくとも2つのアクチュエータは堅固なヒンジを備える圧電駆動素子として供される、請求項1乃至4のいずれかに記載のX線イメージングシステム。
- 対象物に関する情報を取得する方法であって、
当該方法は:
a)少なくとも部分的にコヒーレントなX線放射線をX線放出装置からX線検出装置へ放出する手順であって、前記X線検出装置は、位相シフト回折格子、位相解析回折格子、及び、X線像検出器を有し、前記X線放出装置、前記位相シフト回折格子、前記位相解析回折格子、及び、前記X線像検出器は、光軸に沿って配置され、かつ、前記の放出された少なくとも部分的にコヒーレントなX線放射線、前記位相シフト回折格子、及び、前記位相解析回折格子は、共通のグリッド配置を有する、手順;
b)対象物の存在しない状態で第1複数の校正用の投影を実行する手順であって、前記第1複数の校正用の投影中、前記の放出されたX線放射線、又は、前記位相シフト回折格子と前記位相解析回折格子からなる群の内の一は、校正用変位値だけステップ状に変位する、手順;
c)前記X線放出装置と前記位相解析回折格子との間に対象物が配置された状態で第2複数の測定用の投影を実行する手順であって、前記第2複数の測定用の投影中、前記の放出されたX線放射線、又は、前記位相シフト回折格子と前記位相解析回折格子からなる群の内の一は、測定の増分だけステップ状に変位する、手順;並びに、
d)前記測定用の投影を前記校正用の投影に記録することによって、前記校正用の投影のうちの少なくとも一を前記測定用の投影の各々に関連づける手順;
を有する方法。 - 手順d)の後に:
e)前記測定用の投影の各々から各対応する校正用の走査を減ずることによって調節された測定用の投影を生成する手順;
f)前記調節された測定用の投影から微分位相データを決定する手順、及び
g)前記の決定された微分位相データに基づいて対象物の情報を生成する手順;
が実行される、請求項6に記載の方法。 - 前記手順b)に続いて、前記校正用の投影の各々について位相勾配データが決定され、かつ、
前記手順c)に続いて、前記測定用の投影の各々について位相勾配データが決定される、
請求項6又は7に記載の方法。 - 前記X線放出装置は、インコヒーレントなX線放射線を放出するX線源を有し、
線源回折格子は、空間的なビームコヒーレンスを供するように、前記X線源に近接して設けられ、かつ、
前記線源回折格子は、前記校正用の投影と前記測定用の投影の間に変位する、
請求項6乃至8のいずれかに記載の方法。 - 前記位相シフト回折格子及び前記位相解析回折格子のうちの一と前記X線放出装置からなる群のうちの少なくとも一には、前記光軸に関して互いに対向するように配置された少なくとも2つのアクチュエータが備えられ、かつ
前記少なくとも2つのアクチュエータは、前記校正用の投影と前記測定用の投影の間に変位を供する、
請求項6乃至9のいずれかに記載の方法。 - 前記校正のステップ状の変位は、前記グリッドの向きに対して垂直な方向でのステッピングを有する、請求項6乃至10のいずれかに記載の方法。
- 前記校正用の変位値が前記校正用の投影の各々について記録され、かつ、
前記第2複数の測定用の投影を実行する手順c)の間、1つ以上の測定用の投影後に、少なくとも1つの校正用の投影が関連付けられ、かつ、各対応する校正用の変位値が位置合わせのずれの因子として決定され、かつ、
前記第2複数の測定用の投影を行う前に、前記少なくとも2つのアクチュエータが、前記X線放出装置を、前記位相シフト回折格子と前記位相解析回折格子のみならず画像検出装置と再度位置合わせするように起動する、
請求項6乃至11のいずれかに記載の方法。 - 処理装置によって実行されるときに請求項6乃至12のいずれかに記載の方法を実行する、請求項1乃至4のいずれかに記載のX線イメージングシステムを制御するコンピュータプログラム。
- 請求項13に記載のコンピュータプログラムを記憶するコンピュータにより読み取り可能な媒体。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015524727A (ja) * | 2012-08-17 | 2015-08-27 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 微分位相コントラストイメージングにおけるミスアライメントの対処 |
JP2016523157A (ja) * | 2013-06-28 | 2016-08-08 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | スリット走査位相コントラストイメージングにおける補正 |
JP2020534904A (ja) * | 2017-09-25 | 2020-12-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | X線撮像参照スキャン |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5438649B2 (ja) * | 2010-03-26 | 2014-03-12 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影システム及び位置ずれ判定方法 |
JP6228457B2 (ja) | 2010-10-19 | 2017-11-08 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 微分位相コントラスト画像形成 |
GB201112537D0 (en) * | 2011-07-21 | 2011-08-31 | Ucl Business Plc | X-ray imaging |
US9826949B2 (en) | 2012-03-05 | 2017-11-28 | University Of Rochester | Methods and apparatus for differential phase-contrast cone-beam CT and hybrid cone-beam CT |
US9767982B2 (en) | 2013-02-13 | 2017-09-19 | Koninklijke Philips N.V. | Multiple X-ray beam tube |
DE102013204604A1 (de) * | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgenaufnahmesystem zur differentiellen Phasenkontrast-Bildgebung eines Untersuchungsobjekts mit Phase-Stepping |
WO2014206841A1 (en) * | 2013-06-28 | 2014-12-31 | Koninklijke Philips N.V. | Correction in phase contrast imaging |
DE102013213244A1 (de) * | 2013-07-05 | 2015-01-08 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgenaufnahmesystem zur hochaufgelösten differentiellen Phasenkontrast-Bildgebung eines Untersuchungsobjekts |
US9412554B2 (en) | 2013-07-23 | 2016-08-09 | Koninklijke Philips N.V. | Anode for an X-ray tube of a differential phase contrast imaging apparatus |
CN104161536B (zh) * | 2014-07-30 | 2017-01-11 | 西北工业大学 | 一种基于互补光栅的锥束ct散射校正方法及其装置 |
JP6369206B2 (ja) * | 2014-08-06 | 2018-08-08 | コニカミノルタ株式会社 | X線撮影システム及び画像処理装置 |
US10365465B2 (en) * | 2015-05-04 | 2019-07-30 | Versitech Limited | Apparatus and method for quantitative phase-gradient chirped-wavelength-encoded optical imaging |
DE102016206153B4 (de) * | 2016-04-13 | 2023-04-27 | Siemens Healthcare Gmbh | Verfahren und Röntgensystem zur Erzeugung von Phasenkontrast- und/oder Dunkelfelddarstellungen eines Untersuchungsobjektes |
EP3551402B1 (en) * | 2016-12-07 | 2021-01-20 | John Bean Technologies Corporation | Methods for calibrating portioning apparatus |
EP3468472B1 (en) * | 2016-12-22 | 2019-09-25 | Koninklijke Philips N.V. | Phantom device, dark field imaging system and method for acquiring a dark field image |
JP6838531B2 (ja) * | 2017-09-06 | 2021-03-03 | 株式会社島津製作所 | 放射線位相差撮影装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5812629A (en) * | 1997-04-30 | 1998-09-22 | Clauser; John F. | Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging |
US20010001010A1 (en) * | 1997-04-08 | 2001-05-10 | Wilkins Stephen William | High resolution x-ray imaging of very small objects |
JP2002107593A (ja) * | 2000-08-14 | 2002-04-10 | Carl-Zeiss-Stiftung Trading As Carl Zeiss | 光学部材マウント及びそれを用いる光学構成体 |
JP2008545981A (ja) * | 2005-06-06 | 2008-12-18 | パウル・シェラー・インスティトゥート | 非干渉性多色x線源を用いた定量的位相コントラスト画像法及び断層撮影法のための干渉計 |
JP2009276342A (ja) * | 2008-04-15 | 2009-11-26 | Canon Inc | X線用線源格子、x線位相コントラスト像の撮像装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5173928A (en) * | 1990-07-09 | 1992-12-22 | Hitachi, Ltd. | Tomograph using phase information of a signal beam having transmitted through a to-be-inspected object |
US6320707B1 (en) * | 2000-01-18 | 2001-11-20 | The Boeing Company | Miniature piezoelectric translators for optical applications |
JP4704675B2 (ja) * | 2003-11-28 | 2011-06-15 | 株式会社日立製作所 | X線撮像装置及び撮像方法 |
DE102006063048B3 (de) * | 2006-02-01 | 2018-03-29 | Siemens Healthcare Gmbh | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen |
DE102006015358B4 (de) * | 2006-02-01 | 2019-08-22 | Paul Scherer Institut | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, zugehöriges Röntgen-System sowie Speichermedium und Verfahren zur Erzeugung tomographischer Aufnahmen |
US20100327175A1 (en) * | 2007-12-14 | 2010-12-30 | Yakov Nesterets | Phase-contrast imaging method and apparatus |
US7949095B2 (en) * | 2009-03-02 | 2011-05-24 | University Of Rochester | Methods and apparatus for differential phase-contrast fan beam CT, cone-beam CT and hybrid cone-beam CT |
-
2010
- 2010-12-08 CN CN2010800556915A patent/CN102651994A/zh active Pending
- 2010-12-08 JP JP2012542672A patent/JP2013513418A/ja active Pending
- 2010-12-08 US US13/514,166 patent/US20120250823A1/en not_active Abandoned
- 2010-12-08 EP EP10807737A patent/EP2509487A1/en not_active Withdrawn
- 2010-12-08 WO PCT/IB2010/055664 patent/WO2011070521A1/en active Application Filing
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20010001010A1 (en) * | 1997-04-08 | 2001-05-10 | Wilkins Stephen William | High resolution x-ray imaging of very small objects |
US5812629A (en) * | 1997-04-30 | 1998-09-22 | Clauser; John F. | Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging |
JP2002107593A (ja) * | 2000-08-14 | 2002-04-10 | Carl-Zeiss-Stiftung Trading As Carl Zeiss | 光学部材マウント及びそれを用いる光学構成体 |
JP2008545981A (ja) * | 2005-06-06 | 2008-12-18 | パウル・シェラー・インスティトゥート | 非干渉性多色x線源を用いた定量的位相コントラスト画像法及び断層撮影法のための干渉計 |
JP2009276342A (ja) * | 2008-04-15 | 2009-11-26 | Canon Inc | X線用線源格子、x線位相コントラスト像の撮像装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015524727A (ja) * | 2012-08-17 | 2015-08-27 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 微分位相コントラストイメージングにおけるミスアライメントの対処 |
JP2016523157A (ja) * | 2013-06-28 | 2016-08-08 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | スリット走査位相コントラストイメージングにおける補正 |
JP2020534904A (ja) * | 2017-09-25 | 2020-12-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | X線撮像参照スキャン |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20120250823A1 (en) | 2012-10-04 |
WO2011070521A1 (en) | 2011-06-16 |
CN102651994A (zh) | 2012-08-29 |
EP2509487A1 (en) | 2012-10-17 |
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