JP7226171B2 - X線位相イメージング装置 - Google Patents
X線位相イメージング装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7226171B2 JP7226171B2 JP2019137930A JP2019137930A JP7226171B2 JP 7226171 B2 JP7226171 B2 JP 7226171B2 JP 2019137930 A JP2019137930 A JP 2019137930A JP 2019137930 A JP2019137930 A JP 2019137930A JP 7226171 B2 JP7226171 B2 JP 7226171B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- subject
- image
- grating
- phase
- distance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 71
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 134
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 64
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 58
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 28
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 18
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 17
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 17
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 16
- LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H lead(2+);trioxido(oxo)-$l^{5}-arsane Chemical compound [Pb+2].[Pb+2].[Pb+2].[O-][As]([O-])([O-])=O.[O-][As]([O-])([O-])=O LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
また、この発明の第2の局面におけるX線位相イメージング措置は、X線源と、X線源からX線が照射される第1格子と、第1格子からのX線が照射される第2格子とを含む複数の格子と、X線源から照射されたX線を検出する検出器と、検出器により検出されたX線の強度分布に基づいて、位相コントラスト画像を生成するとともに、X線源と複数の格子と検出器とを含む光学系の配置情報と、被写体の配置情報とに基づいて、生成される位相コントラスト画像におけるコントラストを評価する指標として、被写体と第1格子との間の第1距離に基づく評価指標を取得する制御部と、評価指標を表示する表示部と、を備え、制御部は、光学系の配置情報および第2格子の周期の少なくとも一方が異なる場合に取得される複数の評価指標を、表示部において比較可能に表示させるように構成されている。
図1を参照して、一実施形態によるX線位相イメージング装置100の構成について説明する。
図2は、画像処理部20が生成する位相コントラスト画像41の模式図である。本実施形態では、画像処理部20は、位相コントラスト画像41として、吸収像41a、位相微分像41bおよび、暗視野像41cを生成するように構成されている。吸収像41aは、X線が被写体90を透過した際に被写体90に吸収されることによる、検出器11によって検出されるX線の強度の変化に基づいて画像化したものである。また、位相微分像41bは、X線が被写体90を透過した際に生じるX線の位相のずれに基づいて被写体90の内部構造を画像化したものである。また、暗視野像41cは、X線が被写体90を透過した際に生じるX線の微小角度の散乱に基づいて被写体90の内部構造を画像化したものである。
図3を参照して、被写体90を配置することによって生じる自己像40のシフト(移動)について説明する。
次に、図3~図6を参照して、被写体90の配置に基づく自己像40のシフト量Ssの変化について説明する。
次に、図7および図8を参照して、光学系1に基づく自己像40のシフト量Ssの変化について説明する。なお、図7および図8に示す例では、便宜上、自己像40の明部はハッチングを付した四角形で図示し、暗部は図示していない。
本実施形態では、制御部2は、光学系1の配置情報および被写体90の配置情報に基づいて、少なくとも、第1格子12の自己像40の最大シフト量Ssmaxに対する自己像40のシフト量Ssの比率である自己像シフト比Sr、および、自己像40の位相変化の検出感度を表す指標である位相感度Psのいずれかを、評価指標30として取得するように構成されている。なお、本実施形態では、制御部2は、評価指標30として、自己像シフト比Srおよび位相感度Psの両方を取得する。
次に、図9および図10を参照して、制御部2が評価指標30を取得する構成について説明する。なお、図9および図10では、便宜上、第2格子13を図示していない。
位相感度Psが大きいほど、位相コントラスト画像41のコントラストが向上する。すなわち、位相感度Ps大きいほど、位相コントラスト画像41の画質が向上する。
本実施形態では、制御部2は、被写体90の拡大率Mおよび被写体90の配置情報の少なくとも一方と、評価指標30とを、表示部3に表示させるように構成されている。具体的には、図13に示すように、制御部2は、被写体90の拡大率Mと、自己像シフト比Srと、位相感度Psとを表示部3に表示させるように構成されている。また、本実施形態では、図13に示すように、制御部2は、評価指標30と、被写体90の画像42とを、表示部3に表示させるように構成されている。また、本実施形態では、制御部2は、被写体移動機構6によって被写体90を移動させた後の被写体90の配置情報に基づいて評価指標30を取得するとともに、取得した評価指標30を表示部3に表示させるように構成されている。なお、被写体90の画像42とは、被写体90の位置調整を行っている際に表示されるX線画像である。被写体90の移動に伴って拡大率Mが変化するため、表示部3に表示される被写体90の画像42は、被写体90の移動に伴って大きさが変化する。
本実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
たとえば、上記実施形態では、制御部2は、同一の光学系1における評価指標30を表示部3に表示させる構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、図14に示す第1変形例のように、制御部2は、光学系1の配置情報および第2格子13の周期p2の少なくとも一方が異なる場合に取得される複数の評価指標30を、表示部3において比較可能に表示させるように構成されていてもよい。具体的には、制御部2は、グラフG3を表示させることにより、複数の評価指標30を表示部3において比較可能に表示させるように構成されていてもよい。グラフG3は、縦軸が位相感度であり、横軸が第1距離である。なお、グラフG3において、第1距離robは、第1格子12の位置を基準(ゼロ)として、X線源10に近づく方向がマイナスの値となり、検出器11に近づく方向がプラスの値となる。
また、上記実施形態では、制御部2が、評価指標30を表示させる構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、図15に示す第2変形例のように、制御部2は、評価指標30に基づいて、撮影条件31の候補を提示するように構成されてもよい。具体的には、制御部2は、被写体90の位置を変更して撮影する場合に、被写体90の位置を変更する前に撮影した際の評価指標30と、被写体90の位置を変更した後に撮影した際の評価指標30との変化が所定の範囲44内に収まるようなX線の照射時間32の候補を提示するように構成されていてもよい。
また、上記実施形態では、制御部2が評価指標30として、自己像シフト比Srの数値および位相感度Psの数値を、表示部3に表示させる構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、図16に示す第3変形例のように、制御部2は、表示部3において、評価指標30の数値とともに、評価指標30のグラフG2を表示させるように構成されていてもよい。このように構成すれば、評価指標30の数値とともに、評価指標30のグラフG2を操作者に提示することができる。したがって、操作者は、評価指標30数値とともに、評価指標30のグラフG2を確認した状態で、被写体90の位置調整を行うことができる。その結果、被写体90の位置における評価指標30の数値のみならず、グラフG2によって評価指標30の取り得る範囲を確認することが可能となるので、操作者は、よりよい撮影位置を容易に把握することができる。
また、上記実施形態では、制御部2が、評価指標30の数値を表示させる構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、図17に示す第4変形例のように、制御部2は、評価指標30の数値とともに、評価指標30の推奨範囲を表示するように構成されていてもよい。なお、評価指標30の推奨範囲とは、許容し得る画質が得られる範囲のことである。このように構成すれば、位相コントラスト画像41の画質が許容できる範囲となる位置に、容易に被写体90を配置することができる。
また、上記実施形態では、複数の格子が第1格子12と第2格子13とを含む構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、図18に示す第5変形例のように、X線位相イメージング装置100は、複数の格子として、第1格子12と、第2格子13とに加えて、第3格子14とを備えていてもよい。
また、上記実施形態では、被写体90をX線の光軸50方向に移動させて撮影する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、図19に示す第6変形例のように、被写体90をX線の光軸50と直交する軸線53線周りに回転させながら撮影するように構成されていてもよい。具体的には、第6変形例によるX線位相イメージング装置100は、X線の光軸50方向と直交する方向周りの回転方向において、被写体90と光学系1とを相対回転させる回転機構7を備える。制御部2は、回転機構7を制御することにより、被写体90を、X線の光軸50と直交する軸線53周りの方向に、被写体90を所定の角度ずつ回転させる。制御部2は、被写体90を所定の角度に回転させたそれぞれの角度において被写体90を撮影する制御を行う。第6変形例によるX線位相イメージング装置100は、いわゆる、コンピュータ断層撮影(CT:Computed Tomography)が可能なように構成されている。
また、上記実施形態では、X線位相イメージング装置100が制御部2を備える構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、X線位相イメージング装置100は、制御部2と同様の制御を行うことが可能なPC(パーソナルコンピュータ)などに接続されていれば、制御部2を備えていなくてもよい。
上述した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
X線源と、
前記X線源からX線が照射される第1格子と、前記第1格子からのX線が照射される第2格子とを含む複数の格子と、
前記X線源から照射されたX線を検出する検出器と、を備え、
前記検出器により検出されたX線の強度分布に基づいて、位相コントラスト画像を生成するとともに、前記X線源と前記複数の格子と前記検出器とを含む光学系の配置情報と、被写体の配置情報とに基づいて、生成される前記位相コントラスト画像におけるコントラストを評価する指標として、被写体と前記第1格子との間の第1距離に基づく評価指標を取得するように構成されている、X線位相イメージング装置。
前記位相コントラスト画像を生成するとともに、前記第1距離に基づく指標を取得する制御部をさらに備え、
前記制御部は、前記光学系の配置情報および前記被写体の配置情報に基づいて、少なくとも、前記第1格子の自己像の最大シフト量に対する前記自己像のシフト量の比率である自己像シフト比、および、前記自己像の位相変化の検出感度を表す指標である位相感度のいずれかを、前記評価指標として取得するように構成されている、項目1に記載のX線位相イメージング装置。
前記制御部は、被写体が前記X線源と前記第1格子との間に配置される場合に、前記第1距離と、前記X線源と前記第1格子との間の第2距離とに基づいて、前記自己像シフト比を取得するか、または、前記第1距離と、前記第2距離と、前記第1格子と前記検出器の検出面または前記第2格子との間の第3距離と、前記自己像の周期または前記第2格子の周期とに基づいて、前記位相感度を取得するように構成されている、項目2に記載のX線位相イメージング装置。
前記制御部は、被写体が前記第1格子と前記第2格子との間に配置される場合に、前記第1距離と、前記第1格子と前記検出器の検出面または前記第2格子との間の第3距離とに基づいて、前記自己像シフト比を取得するか、または、前記第1距離と、前記第3距離と、前記自己像の周期または前記第2格子の周期とに基づいて、前記位相感度を取得するように構成されている、項目2に記載のX線位相イメージング装置。
前記評価指標を表示する表示部をさらに備え、
前記制御部は、取得した前記評価指標を前記表示部に表示させるように構成されている、項目2~4のいずれか1項に記載のX線位相イメージング装置。
被写体を移動させる被写体移動機構をさらに備え、
前記制御部は、前記被写体移動機構によって被写体を移動させた後の前記被写体の配置情報に基づいて前記評価指標を取得するとともに、取得した前記評価指標を前記表示部に表示させるように構成されている、項目5に記載のX線位相イメージング装置。
前記制御部は、被写体の拡大率および前記被写体の配置情報の少なくとも一方と、前記評価指標とを、前記表示部に表示させるように構成されている、項目6に記載のX線位相イメージング装置。
前記制御部は、前記評価指標と、被写体の画像とを、前記表示部に表示させるように構成されている、項目6または7に記載のX線位相イメージング装置。
前記制御部は、前記光学系の配置情報および前記第2格子の周期の少なくとも一方が異なる場合に取得される複数の前記評価指標を、前記表示部において比較可能に表示させるように構成されている、項目6に記載のX線位相イメージング装置。
前記制御部は、前記評価指標に基づいて、撮影条件の候補を提示するように構成されている、項目2~8のいずれか1項に記載のX線位相イメージング装置。
前記制御部は、被写体の位置を変更して撮影する場合に、被写体の位置を変更する前に撮影した際の前記評価指標と、被写体の位置を変更した後に撮影した際の前記評価指標との変化が所定の範囲内に収まるようなX線の照射時間の候補を提示するように構成されている、項目9に記載のX線位相イメージング装置。
前記制御部は、前記評価指標が、所定の値の範囲の下限値である第1閾値を下回るか、または、所定の値の範囲の上限値である第2閾値を上回る位置に被写体が配置された場合に、前記評価指標が所定の値の範囲外となる位置に被写体が配置されていることを報知する制御を行うように構成されている、項目2~9のいずれか1項に記載のX線位相イメージング装置。
2 制御部
3 表示部
6 被写体移動機構
10 X線源
11 検出器
12 第1格子(複数の格子)
13 第2格子(複数の格子)
30 評価指標
40 自己像
41 位相コントラスト画像
42 被写体の画像
44 所定の値の範囲
45 第1閾値
46 第2閾値
90 被写体
100 X線位相イメージング装置
p2 第2格子の周期
p3 自己像の周期
Ps 位相感度
rob 被写体と第1格子との間の第1距離
r2 X線源と第1格子との間の第2距離
r3 第1格子と検出器との間の第3距離
Sr 自己像シフト比
Ss 自己像のシフト量
Ssmax 自己像の最大シフト量
Claims (12)
- X線源と、
前記X線源からX線が照射される第1格子と、前記第1格子からのX線が照射される第2格子とを含む複数の格子と、
前記X線源から照射されたX線を検出する検出器と、を備え、
前記検出器により検出されたX線の強度分布に基づいて、位相コントラスト画像を生成するとともに、前記X線源と前記複数の格子と前記検出器とを含む光学系の配置情報と、被写体の配置情報とに基づいて、生成される前記位相コントラスト画像におけるコントラストを評価する指標として、被写体と前記第1格子との間の第1距離に基づく評価指標を取得するように構成されており、
前記評価指標は、前記第1距離と、前記X線源と前記第1格子との間の第2距離と、前記第1格子と前記検出器の検出面または前記第2格子との間の第3距離と、前記第1格子の自己像の周期または前記第2格子の周期とに基づいて取得されるか、または、前記第1距離と、前記第3距離と、前記自己像の周期または前記第2格子の周期とに基づいて取得される、前記自己像の位相変化の検出感度を表す指標である位相感度を含む、X線位相イメージング装置。 - 前記位相コントラスト画像を生成するとともに、前記第1距離に基づく指標を取得する制御部をさらに備え、
前記評価指標は、前記自己像の最大シフト量に対する前記自己像のシフト量の比率である自己像シフト比をさらに含み、
前記制御部は、前記光学系の配置情報および前記被写体の配置情報に基づいて、少なくとも、前記自己像シフト比、および、前記位相感度を、前記評価指標として取得するように構成されている、請求項1に記載のX線位相イメージング装置。 - 前記制御部は、被写体が前記X線源と前記第1格子との間に配置される場合に、前記第1距離と、前記第2距離とに基づいて、前記自己像シフト比を取得し、かつ、前記第1距離と、前記第2距離と、前記第3距離と、前記自己像の周期または前記第2格子の周期とに基づいて、前記位相感度を取得するように構成されている、請求項2に記載のX線位相イメージング装置。
- 前記制御部は、被写体が前記第1格子と前記第2格子との間に配置される場合に、前記第1距離と、前記第3距離とに基づいて、前記自己像シフト比を取得し、かつ、前記第1距離と、前記第3距離と、前記自己像の周期または前記第2格子の周期とに基づいて、前記位相感度を取得するように構成されている、請求項2に記載のX線位相イメージング装置。
- 前記評価指標を表示する表示部をさらに備え、
前記制御部は、取得した前記評価指標を前記表示部に表示させるように構成されている、請求項2~4のいずれか1項に記載のX線位相イメージング装置。 - 被写体を移動させる被写体移動機構をさらに備え、
前記制御部は、前記被写体移動機構によって被写体を移動させた後の前記被写体の配置情報に基づいて前記評価指標を取得するとともに、取得した前記評価指標を前記表示部に表示させるように構成されている、請求項5に記載のX線位相イメージング装置。 - 前記制御部は、被写体の拡大率および前記被写体の配置情報の少なくとも一方と、前記評価指標とを、前記表示部に表示させるように構成されている、請求項6に記載のX線位相イメージング装置。
- 前記制御部は、前記評価指標と、被写体の画像とを、前記表示部に表示させるように構成されている、請求項6または7に記載のX線位相イメージング装置。
- X線源と、
前記X線源からX線が照射される第1格子と、前記第1格子からのX線が照射される第2格子とを含む複数の格子と、
前記X線源から照射されたX線を検出する検出器と、
前記検出器により検出されたX線の強度分布に基づいて、位相コントラスト画像を生成するとともに、前記X線源と前記複数の格子と前記検出器とを含む光学系の配置情報と、被写体の配置情報とに基づいて、生成される前記位相コントラスト画像におけるコントラストを評価する指標として、被写体と前記第1格子との間の第1距離に基づく評価指標を取得する制御部と、
前記評価指標を表示する表示部とを備え、
前記制御部は、前記光学系の配置情報および前記第2格子の周期の少なくとも一方が異なる場合に取得される複数の前記評価指標を、前記表示部において比較可能に表示させるように構成されている、X線位相イメージング装置。 - 前記制御部は、前記評価指標に基づいて、撮影条件の候補を提示するように構成されている、請求項2~8のいずれか1項に記載のX線位相イメージング装置。
- 前記制御部は、被写体の位置を変更して撮影する場合に、被写体の位置を変更する前に撮影した際の前記評価指標と、被写体の位置を変更した後に撮影した際の前記評価指標との変化が所定の範囲内に収まるようなX線の照射時間の候補を提示するように構成されている、請求項9に記載のX線位相イメージング装置。
- 前記制御部は、前記評価指標が、所定の値の範囲の下限値である第1閾値を下回るか、または、所定の値の範囲の上限値である第2閾値を上回る位置に被写体が配置された場合に、前記評価指標が所定の値の範囲外となる位置に被写体が配置されていることを報知する制御を行うように構成されている、請求項2~9のいずれか1項に記載のX線位相イメージング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019137930A JP7226171B2 (ja) | 2019-07-26 | 2019-07-26 | X線位相イメージング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019137930A JP7226171B2 (ja) | 2019-07-26 | 2019-07-26 | X線位相イメージング装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021021620A JP2021021620A (ja) | 2021-02-18 |
JP7226171B2 true JP7226171B2 (ja) | 2023-02-21 |
Family
ID=74574789
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019137930A Active JP7226171B2 (ja) | 2019-07-26 | 2019-07-26 | X線位相イメージング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7226171B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116297569B (zh) * | 2023-04-28 | 2023-09-05 | 杭州睿影科技有限公司 | 一种基于x射线的物体检测方法、***及处理设备 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004105437A (ja) | 2002-09-18 | 2004-04-08 | Fuji Photo Film Co Ltd | 医用画像処理装置及び医用画像撮影システム |
JP2014521437A (ja) | 2011-07-29 | 2014-08-28 | ザ・ジョンズ・ホプキンス・ユニバーシティ | 微分位相コントラストx線イメージングシステム及びそのためのコンポーネント |
WO2015156125A1 (ja) | 2014-04-11 | 2015-10-15 | 株式会社 日立メディコ | 医用画像撮影装置及び医用画像撮影方法 |
JP2015213665A (ja) | 2014-05-12 | 2015-12-03 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
WO2020054158A1 (ja) | 2018-09-11 | 2020-03-19 | 株式会社島津製作所 | X線位相撮像システム |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100032175A1 (en) * | 2008-08-07 | 2010-02-11 | Boyd Joseph J | Bubble Fire Extinguisher |
-
2019
- 2019-07-26 JP JP2019137930A patent/JP7226171B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004105437A (ja) | 2002-09-18 | 2004-04-08 | Fuji Photo Film Co Ltd | 医用画像処理装置及び医用画像撮影システム |
JP2014521437A (ja) | 2011-07-29 | 2014-08-28 | ザ・ジョンズ・ホプキンス・ユニバーシティ | 微分位相コントラストx線イメージングシステム及びそのためのコンポーネント |
WO2015156125A1 (ja) | 2014-04-11 | 2015-10-15 | 株式会社 日立メディコ | 医用画像撮影装置及び医用画像撮影方法 |
JP2015213665A (ja) | 2014-05-12 | 2015-12-03 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
WO2020054158A1 (ja) | 2018-09-11 | 2020-03-19 | 株式会社島津製作所 | X線位相撮像システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2021021620A (ja) | 2021-02-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP3346260B1 (en) | Radiographic image generating device | |
JP5783987B2 (ja) | 放射線撮影装置 | |
JP2012090945A (ja) | 放射線検出装置、放射線撮影装置、放射線撮影システム | |
JP2013513418A (ja) | 微分位相コントラストイメージングシステム | |
US20140286475A1 (en) | Interferometer and object information acquisition system | |
JP2012143549A (ja) | 放射線画像生成方法および放射線画像撮影装置 | |
JP2012200567A (ja) | 放射線撮影システム及び放射線撮影方法 | |
JP2015150185A (ja) | X線撮影システム及び画像処理方法 | |
JP2010190777A (ja) | X線撮影装置 | |
JP7226171B2 (ja) | X線位相イメージング装置 | |
US11175241B2 (en) | X-ray phase image capturing system | |
WO2020066135A1 (ja) | X線位相イメージング装置 | |
WO2020188970A1 (ja) | 表示制御装置、放射線撮影システム及びプログラム | |
JP6743983B2 (ja) | X線位相差撮像システム | |
EP3395253B1 (en) | X-ray phase imaging apparatus | |
US10588591B2 (en) | X-ray imaging apparatus and method of composing x-ray imaging images | |
US20220218296A1 (en) | Application for x-ray dark-field and/or x-ray phase contrast imaging using stepping and moiré imaging | |
WO2019123758A1 (ja) | X線位相差撮像システム | |
JP2014223091A (ja) | 放射線撮影装置及び画像処理方法 | |
JP7131625B2 (ja) | X線位相イメージング装置 | |
JP7136033B2 (ja) | X線位相差撮影装置 | |
CN113453623B (zh) | 用于dax成像的全视场散射估计 | |
US20240099682A1 (en) | X-ray phase imaging apparatus and display method of preview image in x-ray phase imaging apparatus | |
JP2014132913A (ja) | 放射線撮影システム及び放射線撮影方法 | |
JP2013090920A (ja) | 放射線撮影装置及び画像処理方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20211101 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220729 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220802 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220929 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20221018 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20221214 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230110 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230123 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 7226171 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |