WO2012002542A1 - 光学部材および顕微鏡 - Google Patents

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specimen
stimulation
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良一 左高
まゆみ 萩原
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株式会社ニコン
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Definitions

  • the present invention relates to an optical member and a microscope capable of obtaining a brighter and clearer observation image when fluorescence observation is performed with light stimulation.
  • Patent Document 1 Conventionally, there is known a scanning microscope that scans a specimen with excitation light to acquire an observation image of the specimen while stimulating the specimen to be observed with stimulation light (see, for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).
  • the fluorescence generated in the specimen is reduced by half and weakened every time it passes through the half mirror for synthesis or the half mirror for separation.
  • the photodetector cannot receive a sufficient amount of fluorescence, and the observation image becomes dark and unclear.
  • the present invention has been made in view of such a situation, and makes it possible to obtain a brighter and clearer observation image when performing fluorescence observation while stimulating light.
  • the optical member of the present invention reflects the part of the first light having the first wavelength incident thereon and transmits the part of the first light to thereby determine the first light in advance.
  • the light beam is separated at a predetermined ratio, and substantially all of the second light having a second wavelength different from the incident first wavelength is transmitted or reflected.
  • the microscope of the present invention is a part of the stimulation light for stimulating the specimen to be observed and the same wavelength as the stimulation light, and reflects a part of the excitation light for generating fluorescence from the specimen, By transmitting a part of the stimulation light and a part of the excitation light, the stimulation light and the excitation light incident from different directions are combined and irradiated on the specimen, and the excitation light is irradiated on the specimen. And a first optical member that reflects or transmits substantially all of the fluorescence generated by the above.
  • a brighter and clearer observation image can be obtained when fluorescence observation is performed with light stimulation.
  • FIG. 1 It is a figure which shows the structural example of one Embodiment of the microscope system to which this invention is applied. It is a figure which shows the example of a layer structure of a dichroic mirror. It is a figure which shows the example of an optical characteristic of a dichroic mirror. It is a figure which shows the example of a layer structure of a dichroic mirror. It is a figure which shows the example of an optical characteristic of a dichroic mirror. It is a figure which shows the example of a layer structure of a dichroic mirror. It is a figure which shows the example of an optical characteristic of a dichroic mirror.
  • FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of an embodiment of a microscope system to which the present invention is applied.
  • the microscope system includes a scanning laser microscope 11 that performs fluorescence observation while performing light stimulation, a controller 12 that controls each part of the laser microscope 11, and a computer 13.
  • the specimen 14 to be observed is placed on a stage (not shown) of the laser microscope 11, and the illumination light emitted from the laser unit 21 is irradiated onto the specimen 14.
  • the laser unit 21 is provided with two laser light sources 22 and 23, and the illumination light emitted from the laser light source 22 and the laser light source 23 is the same by a combiner mirror 24 composed of a total reflection mirror, a half mirror, or the like. Synthesized on the optical path.
  • the illumination light synthesized by the combiner mirror 24 is appropriately wavelength-selected and intensity-modulated by the acousto-optic filter 35 and guided to the optical fiber 37 by the fiber coupler 36.
  • the illumination light that has entered the optical fiber 37 from the laser unit 21 enters the collimating lens 38 through the optical fiber 37, and is further converted into parallel rays by the collimating lens 38 and enters the dichroic mirror 39.
  • the illumination light incident on the dichroic mirror 39 passes through the dichroic mirror 39 and enters the optical path selection unit 40.
  • the dichroic mirror 39 has optical characteristics such that it transmits light in the wavelength band of illumination light serving as stimulation light and excitation light, and reflects light in the wavelength band of fluorescence generated in the specimen 14. .
  • the optical path selector 40 is provided on the optical path of the illumination light and selects the optical path of the incident light. That is, the optical path selection unit 40 includes a turret that is rotationally driven by a motor and an optical member that is disposed on the optical path of the illumination light and is held by the turret.
  • the turret of the optical path selection unit 40 is an optical member (deflection element) that functions as a half mirror for light in the wavelength band of illumination light and functions as a mirror for light in the wavelength band of fluorescence. 40A and mirror 40B are held.
  • the illumination light incident on the optical path selection unit 40 is guided to the scanning unit 41 or the scanning unit 42 by the wavelength of the light and an optical member arranged on the optical path of the light.
  • the dichroic mirror 40A has an optical characteristic that transmits almost half of the incident illumination light and reflects the remaining half of the illumination light.
  • the dichroic mirror 40A since the dichroic mirror 40A is arranged on the optical path of the illumination light, almost half of the illumination light incident on the dichroic mirror 40A from the dichroic mirror 39 is reflected by the dichroic mirror 40A and scanned by the scanning unit 41. Is incident on. Further, the remaining half of the illumination light incident on the dichroic mirror 40A from the dichroic mirror 39 is transmitted through the dichroic mirror 40A and incident on the scanning unit 42.
  • illumination light incident on the scanning unit 41 from the dichroic mirror 40A is used as excitation light
  • illumination light incident on the scanning unit 42 from the dichroic mirror 40A is used as stimulation light.
  • the illumination light (stimulation light) incident on the scanning unit 42 is deflected (reflected) by the scanning unit 42 and enters the optical path selection unit 43.
  • the scanning unit 42 scans the specimen 14 with the stimulation light by deflecting the stimulation light and changing the irradiation position of the stimulation light on the specimen 14 in the horizontal direction and the depth direction in the drawing.
  • the scanning unit 42 is configured by two galvano scanners, and can set a scan area more freely than the scanning unit 41.
  • the illumination light (excitation light) incident on the scanning unit 41 is deflected (reflected) by the scanning unit 41 and enters the optical path selection unit 43.
  • the scanning unit 41 scans the specimen 14 with the excitation light by deflecting the excitation light and changing the irradiation position of the excitation light on the specimen 14 in the horizontal direction and the depth direction in the drawing.
  • the scanning unit 41 is configured by two galvano scanners, and can perform scanning at a higher speed than the scanning unit 42.
  • the optical path selection unit 43 has the same configuration as the optical path selection unit 40, and the optical path selection unit 43 holds a dichroic mirror 43A and a mirror 43B.
  • the dichroic mirror 43A has the same optical characteristics as the dichroic mirror 40A. Light in the wavelength band of the illumination light is separated at a predetermined ratio, and light in the fluorescent wavelength band is almost totally reflected.
  • the dichroic mirror 43A is arranged on the optical path of the stimulation light and the excitation light, a part of the stimulation light incident on the optical path selection unit 43 is transmitted through the dichroic mirror 43A and is a relay lens.
  • the specimen 14 is irradiated through 44 and the objective lens 45.
  • a part of the excitation light incident on the optical path selection unit 43 is reflected by the dichroic mirror 43A, passes through the relay lens 44 and the objective lens 45, and is irradiated on the sample 14.
  • the specimen 14 is optically stimulated by the stimulation light and imaging by the excitation light is performed.
  • fluorescence is generated from the sample 14, and this fluorescence is reflected by the dichroic mirror 43 ⁇ / b> A of the optical path selection unit 43 through the objective lens 45 and the relay lens 44, and further descanned by the scanning unit 41.
  • the descanned fluorescence is reflected by the dichroic mirror 40A, further reflected by the dichroic mirror 39, and condensed by the condenser lens 46.
  • the fluorescence condensed by the condenser lens 46 enters the photodetector 48 through the pinhole 47 and is received.
  • the pinhole 47 is disposed at the focal position of the objective lens 45, that is, at a position conjugate with the observation surface of the specimen 14, so that only the fluorescence condensed at the position of the pinhole 47 enters the photodetector 48. Has been made.
  • the photodetector 48 converts the fluorescence into an electric signal indicating the received light intensity of the fluorescence by receiving and photoelectrically converting the incident fluorescence.
  • the electrical signal obtained by the photoelectric conversion is supplied from the photodetector 48 to the controller 12.
  • the controller 12 generates an observation image that is an image of the observation surface of the sample 14 based on the electrical signal supplied from the photodetector 48 and supplies the observation image to the computer 13.
  • the computer 13 displays the observation image supplied from the controller 12 on the display.
  • the turret of the optical path selection unit 40 and the optical path selection unit 43 may hold an optical member such as a hollow block that allows light to pass through as it is, a double-sided mirror, or a bare glass. .
  • the wavelengths of the stimulating light and the excitation light are 440 nm, and the fluorescence is light in a wavelength band including 510 nm with a peak at 510 nm.
  • the dichroic mirror 40A is formed by laminating lithium niobate (Nb 2 O 5) and silicon dioxide (SiO 2) alternately on a glass substrate to form a layered vapor deposition film on the glass substrate. It is set as the optical member obtained by forming.
  • the “layer number” column shows a layer number for specifying the position of the layer of the substance deposited on the glass substrate.
  • the substance the substance constituting the layer specified by the layer number is shown.
  • the film thickness (nm)” column the thickness of the layer specified by the layer number ( Film thickness) is shown.
  • the layer number of each layer is given so that the layer closer to the surface of the glass substrate has a smaller layer number.
  • the layer whose layer number is “1” is a layer (film) formed by vapor-depositing lithium niobate on the glass substrate surface, and the thickness of the layer is 37.33 nm.
  • the layer with the layer number “2” is a layer formed by vapor-depositing silicon dioxide to a thickness of 10 nm on the surface of the layer with the layer number “1”.
  • a 176-layer film is formed on a glass substrate to form a dichroic mirror 40A.
  • the dichroic mirror 40A having such a configuration has the optical characteristics shown in FIG.
  • the vertical axis indicates the transmittance of light incident on the dichroic mirror 40A
  • the horizontal axis indicates the wavelength of light.
  • the upper side shows the optical characteristics of the S-polarized light incident on the dichroic mirror 40A
  • the lower side shows the optical characteristics of the P-polarized light incident on the dichroic mirror 40A. It is shown.
  • the solid line, the dotted line, and the alternate long and short dash line indicate the optical characteristics of light having incident angles of 45 degrees, 52 degrees, and 38 degrees with respect to the dichroic mirror 40A, respectively.
  • the incident angle is an angle formed between the normal line of the surface (reflection surface) of the dichroic mirror 40A and the optical path of light.
  • the transmittance of light with a wavelength of 420 nm to 450 nm is about 50%, and the transmittance of light with other wavelengths is almost 0%. Therefore, when illumination light having a wavelength of 440 nm is incident on the dichroic mirror 40A, almost half of the illumination light passes through the dichroic mirror 40A as it is, and the remaining half of the illumination light is reflected by the dichroic mirror 40A. On the other hand, the fluorescence having a wavelength of about 476 nm is almost totally reflected by the dichroic mirror 40A.
  • the dichroic mirror 43A also has the same optical characteristics as the dichroic mirror 40A. That is, the dichroic mirror 43A has the layer configuration shown in FIG. 2 and is an optical member having the optical characteristics shown in FIG.
  • the dichroic mirror 40A and the dichroic mirror 43A having the optical characteristics of transmitting light of a predetermined wavelength band with a predetermined transmittance and almost totally reflecting light of other wavelength bands are used as the light of the laser microscope 11. If it arrange
  • the controller 12 When the user operates the computer 13 to instruct the start of observation of the specimen 14, the controller 12 operates the optical path selection unit 40 and the optical path selection unit 43 according to the instruction from the computer 13.
  • the optical path selection unit 40 rotates the turret based on the control of the controller 12 and arranges the dichroic mirror 40A on the optical path of the illumination light.
  • the optical path selection unit 43 rotates the turret based on the control of the controller 12 and arranges the dichroic mirror 43A on the optical path of the illumination light (stimulation light and excitation light).
  • the controller 12 causes the laser unit 21 to emit illumination light having a wavelength of 440 nm, and controls the acousto-optic filter 35 to adjust the amount of illumination light.
  • the illumination light emitted from the laser unit 21 passes through the optical fiber 37 to the dichroic mirror 39 and enters the dichroic mirror 40A.
  • the illumination light incident on the dichroic mirror 40A is separated into excitation light and stimulation light by reflection or transmission in the dichroic mirror 40A.
  • the illumination light transmitted through the dichroic mirror 40A is irradiated as a stimulus light on the specimen 14 through the scanning unit 42 or the objective lens 45.
  • the scanning unit 42 scans the sample 14 with the stimulation light by deflecting the stimulation light.
  • the illumination light reflected by the dichroic mirror 40A becomes excitation light and irradiates the specimen 14 through the scanning unit 41 and the dichroic mirror 43A to the objective lens 45.
  • the scanning unit 41 scans the observation surface of the specimen 14 with the excitation light by deflecting the excitation light.
  • the stimulation light and the excitation light are scanned by different scanning units, so that the desired part of the specimen 14 can be stimulated and at the same time, the excitation light can be irradiated to a part different from the part to which the stimulus is applied. .
  • the excitation light can be irradiated to a part different from the part to which the stimulus is applied.
  • the dichroic mirror 40A and the dichroic mirror 43A that almost totally reflect fluorescence as an optical member that separates illumination light into stimulation light and excitation light and an optical member that synthesizes stimulation light and excitation light, fluorescence can be obtained. Can be suppressed. As a result, a sufficient amount of fluorescent light can be secured, and a brighter and clearer observation image can be obtained.
  • the dichroic mirror 40A and the dichroic mirror 43A reflect the fluorescence almost totally, more specifically, the reflectance of the fluorescence in these dichroic mirrors may be 80% or more.
  • the reflectance of the fluorescence in these dichroic mirrors may be 80% or more.
  • the fluorescence is light in a wavelength band including 510 nm with a peak at 510 nm.
  • the dichroic mirror 40A is an optical member obtained by alternately depositing lithium niobate and silicon dioxide on a glass substrate as shown in FIG.
  • lithium niobate and silicon dioxide are alternately deposited on a glass substrate to form a 105-layer film, which is a dichroic mirror 40A.
  • the dichroic mirror 40A having such a configuration has the optical characteristics shown in FIG.
  • the vertical axis indicates the transmittance of light incident on the dichroic mirror 40A
  • the horizontal axis indicates the wavelength of light.
  • the upper side shows the optical characteristics of the S-polarized light incident on the dichroic mirror 40A
  • the lower side shows the optical characteristics of the P-polarized light incident on the dichroic mirror 40A. It is shown.
  • the solid line, the dotted line, and the alternate long and short dash line indicate the optical characteristics of light having incident angles of 45 degrees, 52 degrees, and 38 degrees with respect to the dichroic mirror 40A, respectively.
  • the transmittance of light having a wavelength of 400 nm to 420 nm is almost 100%, and the transmittance of light having a wavelength of 470 nm to 500 nm is about 50%. Furthermore, the transmittance of light having a wavelength of 500 nm to 670 nm is almost 0%.
  • the dichroic mirror 43A also has the same layer configuration and optical characteristics as the dichroic mirror 40A. Therefore, almost all of the light of 405 nm and almost half of the light of 488 nm pass through the dichroic mirror 43 ⁇ / b> A and are irradiated on the sample 14. In addition, approximately half of the excitation light of 488 nm is reflected by the dichroic mirror 43A and irradiated on the specimen 14.
  • the fluorescence generated at the sample 14 and having a wavelength of about 510 nm is substantially totally reflected by the dichroic mirror 43A and the dichroic mirror 40A and received by the photodetector 48. Even in such a configuration of the dichroic mirror 43A and the dichroic mirror 40A, a reduction in the amount of fluorescent light is suppressed, and a brighter and clearer observation image can be obtained.
  • the fluorescence is light in a wavelength band including 510 nm with a peak at 510 nm.
  • the dichroic mirror 40A is an optical member obtained by alternately depositing lithium niobate and silicon dioxide on a glass substrate as shown in FIG. Note that the columns of “layer number”, “substance”, and “film thickness (nm)” in FIG. 6 are the same as those in FIG. Also in FIG. 6, the layer number of each layer is given so that the layer closer to the glass substrate surface has a smaller layer number.
  • lithium niobate and silicon dioxide are alternately deposited on a glass substrate to form a 185-layer film, which is a dichroic mirror 40A.
  • the dichroic mirror 40A having such a configuration has the optical characteristics shown in FIG.
  • the vertical axis indicates the transmittance of light incident on the dichroic mirror 40A
  • the horizontal axis indicates the wavelength of light.
  • the upper side shows the optical characteristics of the S-polarized light incident on the dichroic mirror 40A
  • the lower side shows the optical characteristics of the P-polarized light incident on the dichroic mirror 40A. It is shown.
  • the solid line, the dotted line, and the alternate long and short dash line indicate the optical characteristics of light having incident angles of 45 degrees, 52 degrees, and 38 degrees with respect to the dichroic mirror 40A, respectively.
  • the transmittance of light having a wavelength of 400 nm to 430 nm is almost 100%, and the transmittance of light having a wavelength of 430 nm to 500 nm is about 90%. That is, for light in the wavelength band of 430 to 500 nm, the ratio of transmission and reflection is 9: 1. Furthermore, the transmittance of light having a wavelength of 510 nm to 660 nm is almost 0%.
  • the dichroic mirror 43A also has the same layer configuration and optical characteristics as the dichroic mirror 40A. Therefore, almost all of the light of 405 nm and about 90% of the light of 488 nm pass through the dichroic mirror 43A and are irradiated on the specimen 14 among the stimulation light. In addition, about 10% of the 488 nm light of the excitation light is reflected by the dichroic mirror 43A and irradiated on the specimen 14.
  • the fluorescence generated at the sample 14 and having a wavelength of about 510 nm is substantially totally reflected by the dichroic mirror 43A and the dichroic mirror 40A and received by the photodetector 48. Even in such a configuration of the dichroic mirror 43A and the dichroic mirror 40A, a reduction in the amount of fluorescent light is suppressed, and a brighter and clearer observation image can be obtained.
  • the dichroic mirror 40A and the dichroic mirror 43A are prepared in advance so that the ratio of transmission and reflection of 488 nm light serving as stimulation light or excitation light is an appropriate value. It is not necessary to adjust the amount of stimulation light or excitation light using an optical filter or the like.
  • the illumination light reflected by the dichroic mirror 40A and the dichroic mirror 43A has been described as the excitation light.
  • the illumination light transmitted through these dichroic mirrors is used as the excitation light. Also good.
  • the dichroic mirror 40A and the dichroic mirror 43A have optical characteristics that allow almost all of the fluorescence generated from the specimen 14 to pass therethrough.
  • the present invention is not limited to the confocal microscope, and It can be applied to a microscope that observes fluorescence while stimulating.
  • stimulation light and excitation light having the same wavelength emitted from different light sources are synthesized by the dichroic mirror 43A and irradiated onto the specimen 14, and almost all of the fluorescence from the specimen 14 is reflected or transmitted by the dichroic mirror 43A.
  • the microscope may be configured as described above. In such a microscope, it is not always necessary to scan the specimen 14 with stimulation light or excitation light. When scanning is performed, the microscope functions as a confocal microscope (scanning microscope).

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Abstract

本発明は、光刺激をしながら蛍光観察を行なう場合において、より明るく鮮明な観察画像を得ることができるようにする光学部材および顕微鏡に関する。 レーザユニット21からの照明光は、ダイクロイックミラー40Aで刺激光と励起光に分離される。すなわち、照明光の半分はダイクロイックミラー40Aを透過して刺激光となり、照明光の半分はダイクロイックミラー40Aで反射されて励起光となる。また、励起光の半分はダイクロイックミラー43Aで反射されて標本14に照射され、刺激光の半分はダイクロイックミラー43Aを透過して、標本14に照射される。標本14から生じた蛍光は、ダイクロイックミラー43Aとダイクロイックミラー40Aで全反射し、光検出器48で受光される。刺激光と励起光を特定の割合で分離し、蛍光を全反射させるダイクロイックミラーを用いれば、蛍光の光量低下を抑制できる。本発明は、共焦点顕微鏡に適用することができる。

Description

光学部材および顕微鏡
 本発明は、光刺激をしながら蛍光観察を行なう場合において、より明るく鮮明な観察画像を得ることができるようにした光学部材および顕微鏡に関する。
 従来、観察対象の標本を刺激光で刺激しつつ、標本を励起光で走査して標本の観察画像を取得する走査型顕微鏡が知られている(例えば、特許文献1および特許文献2参照)。
 このような走査型顕微鏡では、同じ波長の刺激光と励起光により標本の蛍光観察を行なう場合には、同一光源からのレーザ光を、分離用のハーフミラーを用いて刺激光と励起光とに分離することが多い。この場合、刺激光と励起光は、それぞれ異なるスキャナにより走査が行なわれた後、合成用のハーフミラーで合成されて標本に照射される。
 そして、励起光の照射により標本から蛍光が発生すると、この蛍光は、合成用および分離用のハーフミラーを通って、光検出器に受光され、その結果得られた電気信号に基づいて、標本の観察画像が生成される。ユーザは、このようにして得られた観察画像を見ることで、標本の観察面を観察することができる。
国際公開第WO2008/004336号
特開2007-78773号公報
 しかしながら、上述した技術では、標本で発生した蛍光は合成用のハーフミラーや、分離用のハーフミラーを通るたびに半減し、弱まってしまう。そうすると、光検出器では、充分な光量の蛍光を受光することができず、観察画像が暗く不鮮明なものとなってしまう。
 本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、光刺激をしながら蛍光観察を行なう場合において、より明るく鮮明な観察画像を得ることができるようにするものである。
 本発明の光学部材は、入射した第1の波長の第1の光の一部を反射させるとともに、前記第1の光の一部を透過させることにより、前記第1の光を予め定められた所定の割合で分離し、入射した前記第1の波長とは異なる第2の波長の第2の光の略全部を透過または反射させることを特徴とする。
 本発明の顕微鏡は、観察対象の標本を刺激するための刺激光の一部、および前記刺激光と同じ波長であり、前記標本から蛍光を発生させるための励起光の一部を反射させるとともに、前記刺激光の一部および前記励起光の一部を透過させることで、異なる方向から入射した前記刺激光と前記励起光を合成して前記標本に照射させ、前記励起光の前記標本への照射により発生した蛍光の略全部を反射または透過させる第1の光学部材を備えることを特徴とする。
 本発明によれば、光刺激をしながら蛍光観察を行なう場合において、より明るく鮮明な観察画像を得ることができる。
本発明を適用した顕微鏡システムの一実施の形態の構成例を示す図である。 ダイクロイックミラーの層構成の例を示す図である。 ダイクロイックミラーの光学特性例を示す図である。 ダイクロイックミラーの層構成の例を示す図である。 ダイクロイックミラーの光学特性例を示す図である。 ダイクロイックミラーの層構成の例を示す図である。 ダイクロイックミラーの光学特性例を示す図である。
 以下、図面を参照して、本発明を適用した実施の形態について説明する。
[顕微鏡システムの構成]
 図1は、本発明を適用した顕微鏡システムの一実施の形態の構成例を示す図である。
 この顕微鏡システムは、光刺激をしながら蛍光観察を行なう走査型のレーザ顕微鏡11、レーザ顕微鏡11の各部を制御するコントローラ12、およびコンピュータ13から構成される。
 レーザ顕微鏡11の図示せぬステージには、観察対象の標本14が載置され、レーザユニット21から射出された照明光が、標本14に照射される。
 レーザユニット21には、2つのレーザ光源22およびレーザ光源23が設けられており、レーザ光源22とレーザ光源23から射出された照明光は、全反射ミラーやハーフミラー等からなるコンバイナミラー24により同一光路上に合成される。そして、コンバイナミラー24で合成された照明光は、音響光学フィルタ35において適宜、波長選択および強度変調され、ファイバカプラ36により光ファイバ37に導かれる。
 また、レーザユニット21から光ファイバ37に入射した照明光は、光ファイバ37を通ってコリメートレンズ38に入射し、さらにコリメートレンズ38により平行光線とされてダイクロイックミラー39に入射する。
 ダイクロイックミラー39に入射した照明光は、ダイクロイックミラー39を透過して光路選択部40に入射する。ここで、ダイクロイックミラー39は、刺激光および励起光となる照明光の波長帯域の光を透過するとともに、標本14において発生する蛍光の波長帯域の光を反射するような光学特性を有している。
 光路選択部40は、照明光の光路上に設けられ、入射した光の光路を選択する。すなわち、光路選択部40は、モータにより回転駆動するターレットと照明光の光路上に配置され、ターレットに保持される光学部材とから構成される。
 光路選択部40のターレットには、光学部材(偏向素子)として、照明光の波長帯域の光に対してはハーフミラーとして機能し、蛍光の波長帯域の光に対してはミラーとして機能するダイクロイックミラー40Aと、ミラー40Bとが保持されている。光路選択部40に入射した照明光は、その光の波長と、光の光路上に配置された光学部材によって、スキャニング部41またはスキャニング部42へと導かれる。
 ここで、ダイクロイックミラー40Aは、入射した照明光のほぼ半分を透過させ、残り半分の照明光を反射するような光学特性を有している。図1の例では、照明光の光路上にはダイクロイックミラー40Aが配置されているので、ダイクロイックミラー39からダイクロイックミラー40Aに入射した照明光のほぼ半分は、ダイクロイックミラー40Aで反射されてスキャニング部41に入射する。また、ダイクロイックミラー39からダイクロイックミラー40Aに入射した照明光の残り半分は、ダイクロイックミラー40Aを透過してスキャニング部42に入射する。
 レーザ顕微鏡11では、ダイクロイックミラー40Aからスキャニング部41に入射した照明光が励起光とされ、ダイクロイックミラー40Aからスキャニング部42に入射した照明光が刺激光とされる。
 スキャニング部42に入射した照明光(刺激光)は、スキャニング部42により偏向(反射)されて光路選択部43に入射する。スキャニング部42は刺激光を偏向させて、刺激光の標本14への照射位置を図中、左右方向および奥行き方向に変化させることで、標本14を刺激光で走査する。例えば、スキャニング部42は、2つのガルバノスキャナにより構成され、スキャニング部41と較べて、スキャン領域をより自由に設定できるようになされている。
 一方、スキャニング部41に入射した照明光(励起光)は、スキャニング部41により偏向(反射)されて光路選択部43に入射する。スキャニング部41は励起光を偏向させて、励起光の標本14への照射位置を図中、左右方向および奥行き方向に変化させることで、標本14を励起光で走査する。例えば、スキャニング部41は、2つのガルバノスキャナにより構成され、スキャニング部42と較べて、より高速に走査を行なうことができるようになされている。
 光路選択部43は、光路選択部40と同じ構成とされており、光路選択部43には、ダイクロイックミラー43Aとミラー43Bが保持されている。このダイクロイックミラー43Aは、ダイクロイックミラー40Aと同じ光学特性を有しており、照明光の波長帯域の光は予め定められた割合で分離され、蛍光の波長帯域の光はほぼ全反射される。
 図1の例では、刺激光および励起光の光路上には、ダイクロイックミラー43Aが配置されているので、光路選択部43に入射した刺激光の一部は、ダイクロイックミラー43Aを透過し、リレーレンズ44および対物レンズ45を通って、標本14に照射される。
また、光路選択部43に入射した励起光の一部は、ダイクロイックミラー43Aで反射され、リレーレンズ44および対物レンズ45を通って、標本14に照射される。
 これにより、標本14が刺激光により光刺激されるとともに、励起光によるイメージングが行なわれる。励起光が標本14に照射されると、標本14から蛍光が生じ、この蛍光は対物レンズ45およびリレーレンズ44を通って光路選択部43のダイクロイックミラー43Aで反射され、さらにスキャニング部41でデスキャンされる。
 そして、デスキャンされた蛍光は、ダイクロイックミラー40Aで反射され、さらにダイクロイックミラー39で反射されて、集光レンズ46により集光される。集光レンズ46により集光された蛍光は、ピンホール47を通って光検出器48に入射し、受光される。ピンホール47は、対物レンズ45の焦点位置、つまり標本14の観察面と共役な位置に配置されており、ピンホール47の位置に集光された蛍光だけが光検出器48に入射するようになされている。
 光検出器48は、入射した蛍光を受光して光電変換することで、蛍光を、蛍光の受光強度を示す電気信号に変換する。光電変換により得られた電気信号は、光検出器48からコントローラ12へと供給される。コントローラ12は、光検出器48から供給された電気信号に基づいて、標本14の観察面の画像である観察画像を生成し、コンピュータ13に供給する。また、コンピュータ13は、コントローラ12から供給された観察画像をディスプレイに表示する。
 なお、光路選択部40や光路選択部43のターレットには、ダイクロイックミラーやミラーの他、光をそのまま通過させる中空なブロックや両面ミラー、素ガラスなどの光学部材が保持されるようにしてもよい。
[偏向素子の構成例1]
 次に、図1のダイクロイックミラー40Aおよびダイクロイックミラー43Aの具体的な構成例について説明する。
 例えば、CFP(Cyan Fluorescent Protein)を利用して、FLIP(Fluorescence Loss In Photobleaching)またはFRAP(Fluorescence Recovery After Photobleaching)と呼ばれる手法により、標本14を蛍光観察する場合を考える。この場合、刺激光および励起光の波長は440nmとされ、蛍光は510nmをピークとする、510nmを含む波長帯域の光とされる。
 このような例においては、ダイクロイックミラー40Aは、図2に示すように、ガラス基板に、ニオブ酸リチウム(Nb2O5)と、二酸化ケイ素(SiO2)を交互に蒸着させて、ガラス基板に層状の蒸着膜を形成することで得られた光学部材とされる。
 なお、図2において、「層番号」の欄には、ガラス基板に蒸着される物質の層の位置を特定する層番号が示されている。また、「物質」の欄には、その層番号により特定される層を構成する物質が示されており、「膜厚(nm)」の欄には、層番号により特定される層の厚み(膜厚)が示されている。
 図2では、よりガラス基板表面に近い位置にある層ほど、その層の層番号が小さくなるように、各層の層番号が付与されている。例えば、層番号が「1」である層は、ガラス基板表面に対して、ニオブ酸リチウムを蒸着して形成された層(膜)であり、その層の厚さは、37.33nmとされている。また、層番号が「2」である層は、層番号「1」の層の表面に、二酸化ケイ素を膜厚10nmとなるように蒸着して形成された層である。
 この例では、ガラス基板に176層の膜が形成されて、ダイクロイックミラー40Aとされている。このような構成のダイクロイックミラー40Aは、図3に示す光学特性を有する。
 なお、図3において、縦軸は、ダイクロイックミラー40Aに入射した光の透過率を示しており、横軸は光の波長を示している。また、図中、上側には、ダイクロイックミラー40Aに入射したS偏光の光の光学特性が示されており、図中、下側には、ダイクロイックミラー40Aに入射したP偏光の光の光学特性が示されている。
 さらに、図中、上側および下側において、実線、点線、および一点鎖線は、それぞれダイクロイックミラー40Aに対する入射角度が45度、52度、および38度である光の光学特性を示している。ここでの入射角度とは、ダイクロイックミラー40Aの表面(反射面)の法線と、光の光路とがなす角度である。
 図3の例では、波長が420nmから450nmの光の透過率は約50%となっており、他の波長の光の透過率は、ほぼ0%となっている。したがって、波長が440nmである照明光がダイクロイックミラー40Aに入射すると、照明光のほぼ半分はそのままダイクロイックミラー40Aを透過し、残りの半分の照明光は、ダイクロイックミラー40Aにおいて反射されることになる。これに対して、波長が約476nmである蛍光は、ダイクロイックミラー40Aにおいてほぼ全反射されることになる。
 また、この例においては、ダイクロイックミラー43Aもダイクロイックミラー40Aと同じ光学特性を有するものとされる。すなわち、ダイクロイックミラー43Aも図2に示した層構成とされ、図3に示した光学特性を有する光学部材とされる。
 このように、所定の波長帯域の光を予め定められた透過率で透過させ、他の波長帯域の光をほぼ全反射させる光学特性を有するダイクロイックミラー40Aや、ダイクロイックミラー43Aをレーザ顕微鏡11の光路上に配置すれば、蛍光の光量低減を抑制することができる。これにより、励起光と同じ波長の刺激光で光刺激をしながら蛍光観察を行なう場合においても、より明るく鮮明な観察画像を得ることができる。
[顕微鏡システムの動作]
 次に、ダイクロイックミラー40Aとダイクロイックミラー43Aが、図2および図3を参照して説明した構成とされる場合における、顕微鏡システムの動作について説明する。
 ユーザがコンピュータ13を操作して、標本14の観察開始を指示すると、コントローラ12は、コンピュータ13の指示に従って、光路選択部40および光路選択部43を動作させる。光路選択部40は、コントローラ12の制御に基づいてターレットを回転させ、ダイクロイックミラー40Aを照明光の光路上に配置する。また、光路選択部43は、コントローラ12の制御に基づいてターレットを回転させ、ダイクロイックミラー43Aを照明光(刺激光および励起光)の光路上に配置する。
 また、コントローラ12は、レーザユニット21に、波長が440nmの照明光を射出させるとともに、音響光学フィルタ35を制御して、照明光の光量調整を行なわせる。レーザユニット21から射出された照明光は、光ファイバ37乃至ダイクロイックミラー39を通ってダイクロイックミラー40Aに入射する。
 ダイクロイックミラー40Aに入射した照明光は、ダイクロイックミラー40Aにおいて、反射または透過により励起光と刺激光に分離される。
 すなわち、ダイクロイックミラー40Aを透過した照明光は、刺激光となってスキャニング部42乃至対物レンズ45を通って標本14に照射される。このとき、スキャニング部42は、刺激光を偏向することにより、刺激光で標本14を走査する。
 一方、ダイクロイックミラー40Aで反射した照明光は、励起光となってスキャニング部41、およびダイクロイックミラー43A乃至対物レンズ45を通って標本14に照射される。このとき、スキャニング部41は、励起光を偏向することにより、励起光で標本14の観察面を走査する。
 このように、顕微鏡システムでは、刺激光と励起光を異なるスキャニング部で走査するので、標本14の所望する部位を刺激すると同時に、刺激を与える部位とは異なる部位に励起光を照射することができる。これにより、標本14の特定の部位に刺激光を照射する光刺激時に、標本14全体に余計なレーザ光が照射されずに済むので、標本14の退色を防止することができる。
 このようにして、標本14に励起光が照射されると、標本14からは蛍光が生じ、この蛍光は、対物レンズ45とリレーレンズ44を通ってダイクロイックミラー43Aで反射され、さらにスキャニング部41でデスキャンされる。そして、スキャニング部41から射出された蛍光は、ダイクロイックミラー40Aで反射されて、ダイクロイックミラー39乃至ピンホール47を通り、光検出器48に受光される。
 光検出器48で蛍光が光電変換されると、光検出器48からコントローラ12には、蛍光の受光量に応じた電気信号が供給されるので、コントローラ12は、この電気信号から観察画像を生成してコンピュータ13に供給する。これにより、ユーザは、コンピュータ13に表示される観察画像を見て、標本14を観察することができる。
 このように、照明光を刺激光と励起光に分離する光学部材、および刺激光と励起光を合成する光学部材として、蛍光をほぼ全反射するダイクロイックミラー40Aおよびダイクロイックミラー43Aを用いることで、蛍光の光量の低下を抑制することができる。これにより、蛍光の光量を充分に確保し、より明るく鮮明な観察画像を得ることができる。
 なお、ダイクロイックミラー40Aおよびダイクロイックミラー43Aにおいて、蛍光をほぼ全反射すると説明したが、より具体的には、これらのダイクロイックミラーにおける蛍光の反射率は80%以上であればよい。同様に、ダイクロイックミラー40Aやダイクロイックミラー43Aにおいて、光をほぼ透過すると説明する場合には、具体的には80%以上の光を透過させればよい。
[偏向素子の構成例2]
 次に、ダイクロイックミラー40Aおよびダイクロイックミラー43Aの他の具体的な構成例について説明する。ここでは、例えばDRONPA-Greenと呼ばれる手法により、標本14を蛍光観察する場合について説明する。
 そのような場合、波長が405nmおよび488nmの光が刺激光とされ、波長が488nmの光が励起光とされる。また、蛍光は510nmをピークとする、510nmを含む波長帯域の光とされる。
 このような例においては、ダイクロイックミラー40Aは、図4に示すように、ガラス基板に、ニオブ酸リチウムと、二酸化ケイ素が交互に蒸着されて得られた光学部材とされる。
 なお、図4における「層番号」、「物質」、および「膜厚(nm)」の各欄は、図2における場合と同様であるので、その説明は適宜省略する。また、図4においても、よりガラス基板表面に近い位置にある層ほど、その層の層番号が小さくなるように、各層の層番号が付与されている。
 図4の例では、ガラス基板上に、ニオブ酸リチウムと二酸化ケイ素が交互に蒸着されて、105層の膜が形成され、ダイクロイックミラー40Aとされている。このような構成のダイクロイックミラー40Aは、図5に示す光学特性を有する。
 なお、図5において、縦軸は、ダイクロイックミラー40Aに入射した光の透過率を示しており、横軸は光の波長を示している。また、図中、上側には、ダイクロイックミラー40Aに入射したS偏光の光の光学特性が示されており、図中、下側には、ダイクロイックミラー40Aに入射したP偏光の光の光学特性が示されている。さらに、図中、上側および下側において、実線、点線、および一点鎖線は、それぞれダイクロイックミラー40Aに対する入射角度が45度、52度、および38度である光の光学特性を示している。
 図5の例では、波長が400nmから420nmの光の透過率はほぼ100%となっており、波長が470nmから500nmの光の透過率は約50%となっている。さらに、波長が500nmから670nmの光の透過率はほぼ0%となっている。
 したがって、波長が405nmおよび488nmの光からなる照明光がダイクロイックミラー40Aに入射すると、405nmの光のほぼ全部と、488nmの光のほぼ半分とがダイクロイックミラー40Aを透過して、刺激光となる。また、488nmの光のほぼ半分がダイクロイックミラー40Aで反射されて、励起光とされる。
 さらに、ダイクロイックミラー43Aも、ダイクロイックミラー40Aと同じ層構成および光学特性を有するものとされる。そのため、刺激光のうち、405nmの光のほぼ全部と、488nmの光のほぼ半分とがダイクロイックミラー43Aを透過して、標本14に照射される。また、励起光のうち、488nmの光のほぼ半分がダイクロイックミラー43Aで反射されて、標本14に照射される。
 一方、標本14で発生した波長が約510nmである蛍光は、ダイクロイックミラー43A、およびダイクロイックミラー40Aでほぼ全反射されて、光検出器48に受光される。
このようなダイクロイックミラー43A、およびダイクロイックミラー40Aの構成においても、蛍光の光量低減が抑制され、より明るく鮮明な観察画像が得られる。
[偏向素子の構成例3]
 ダイクロイックミラー40Aおよびダイクロイックミラー43Aのさらに他の具体的な構成例について説明する。この例でもDRONPA-Greenと呼ばれる手法により、標本14を蛍光観察する場合について説明する。
 この場合においても、波長が405nmおよび488nmの光が刺激光とされ、波長が488nmの光が励起光とされる。また、蛍光は510nmをピークとする、510nmを含む波長帯域の光とされる。
 このような例においては、ダイクロイックミラー40Aは、図6に示すように、ガラス基板に、ニオブ酸リチウムと、二酸化ケイ素が交互に蒸着されて得られた光学部材とされる。なお、図6における「層番号」、「物質」、および「膜厚(nm)」の各欄は、図2における場合と同様であるので、その説明は適宜省略する。また、図6においても、よりガラス基板表面に近い位置にある層ほど、その層の層番号が小さくなるように、各層の層番号が付与されている。
 図6の例では、ガラス基板上に、ニオブ酸リチウムと二酸化ケイ素が交互に蒸着されて、185層の膜が形成され、ダイクロイックミラー40Aとされている。このような構成のダイクロイックミラー40Aは、図7に示す光学特性を有する。
 なお、図7において、縦軸は、ダイクロイックミラー40Aに入射した光の透過率を示しており、横軸は光の波長を示している。また、図中、上側には、ダイクロイックミラー40Aに入射したS偏光の光の光学特性が示されており、図中、下側には、ダイクロイックミラー40Aに入射したP偏光の光の光学特性が示されている。さらに、図中、上側および下側において、実線、点線、および一点鎖線は、それぞれダイクロイックミラー40Aに対する入射角度が45度、52度、および38度である光の光学特性を示している。
 図7の例では、波長が400nmから430nmの光の透過率はほぼ100%となっており、波長が430nmから500nmの光の透過率は約90%となっている。すなわち、430乃至500nmの波長帯域の光については、透過と反射の割合が、9対1となっている。さらに、波長が510nmから660nmの光の透過率はほぼ0%となっている。
 したがって、波長が405nmおよび488nmの光からなる照明光がダイクロイックミラー40Aに入射すると、405nmの光のほぼ全部と、488nmの光の約90%がダイクロイックミラー40Aを透過して、刺激光となる。また、488nmの光の約10%がダイクロイックミラー40Aで反射されて、励起光とされる。
 さらに、ダイクロイックミラー43Aも、ダイクロイックミラー40Aと同じ層構成および光学特性を有するものとされる。そのため、刺激光のうち、405nmの光のほぼ全部と、488nmの光の約90%がダイクロイックミラー43Aを透過して、標本14に照射される。また、励起光のうち、488nmの光の約10%がダイクロイックミラー43Aで反射されて、標本14に照射される。
 一方、標本14で発生した波長が約510nmである蛍光は、ダイクロイックミラー43A、およびダイクロイックミラー40Aでほぼ全反射されて、光検出器48に受光される。
このようなダイクロイックミラー43A、およびダイクロイックミラー40Aの構成においても、蛍光の光量低減が抑制され、より明るく鮮明な観察画像が得られる。
 また、この例のように、ダイクロイックミラー40Aやダイクロイックミラー43Aとして、刺激光や励起光となる488nmの光の透過と反射の割合が適切な値であるものを予め用意しておくことで、音響光学フィルタ等による刺激光や励起光の光量調整が不要となる。
 なお、以上においては、ダイクロイックミラー40Aとダイクロイックミラー43Aで反射された照明光が、励起光とされる例について説明したが、これらのダイクロイックミラーを透過した照明光が励起光とされるようにしてもよい。
 そのような場合には、照明光のうち、ダイクロイックミラー40Aとダイクロイックミラー43Aを透過した光が励起光とされ、ダイクロイックミラー40Aとダイクロイックミラー43Aで反射された光が刺激光とされる。また、この場合には、ダイクロイックミラー40Aとダイクロイックミラー43Aは、標本14から発生した蛍光のほぼ全部を透過させる光学特性を有するようにされる。
 さらに、以上においては、ダイクロイックミラー40Aとダイクロイックミラー43Aを、共焦点顕微鏡として機能するレーザ顕微鏡11の光路中に配置する例について説明したが、本発明は共焦点顕微鏡に限らず、標本14を光刺激しながら蛍光観察する顕微鏡に適用可能である。
 例えば、異なる光源から射出された、同じ波長の刺激光と励起光が、ダイクロイックミラー43Aで合成されて標本14に照射され、標本14からの蛍光のほぼ全部がダイクロイックミラー43Aで反射または透過されるような構成の顕微鏡とされてもよい。このような顕微鏡では、必ずしも刺激光や励起光で標本14を走査する必要はなく、走査が行なわれる場合には、この顕微鏡は共焦点顕微鏡(走査型顕微鏡)として機能することになる。
 なお、本発明の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
 11 レーザ顕微鏡, 12 コントローラ, 13 コンピュータ, 14 標本, 21 レーザユニット, 40 光路選択部, 40A ダイクロイックミラー, 41 スキャニング部, 42 スキャニング部, 43 光路選択部, 43A ダイクロイックミラー, 45 対物レンズ

Claims (8)

  1.  入射した第1の波長の第1の光の一部を反射させるとともに、前記第1の光の一部を透過させることにより、前記第1の光を予め定められた所定の割合で分離し、入射した前記第1の波長とは異なる第2の波長の第2の光の略全部を透過または反射させる
     ことを特徴とする光学部材。
  2.  前記光学部材は、前記第1の光の略半分を透過させるとともに、前記第1の光の略半分を反射させる
     ことを特徴とする請求項1に記載の光学部材。
  3.  前記光学部材は、第1の物質と第2の物質を交互に基板上に形成してなる
     ことを特徴とする請求項1に記載の光学部材。
  4.  観察対象の標本を刺激するための刺激光の一部、および前記刺激光と同じ波長であり、前記標本から蛍光を発生させるための励起光の一部を反射させるとともに、前記刺激光の一部および前記励起光の一部を透過させることで、異なる方向から入射した前記刺激光と前記励起光を合成して前記標本に照射させ、前記励起光の前記標本への照射により発生した蛍光の略全部を反射または透過させる第1の光学部材を備える
     ことを特徴とする顕微鏡。
  5.  前記刺激光を前記第1の光学部材を介して前記標本に照射させるとともに、前記刺激光を偏向させることで、前記刺激光で前記標本を走査する第1のスキャニング部と、
     前記励起光を前記第1の光学部材を介して前記標本に照射させるとともに、前記励起光を偏向させることで、前記励起光で前記標本を走査する第2のスキャニング部と
     をさらに備える
     ことを特徴とする請求項4に記載の顕微鏡。
  6.  入射した所定の波長の光の一部を反射させるとともに、入射した前記光の一部を透過させることにより前記光を前記刺激光と前記励起光に分離して、前記刺激光と前記励起光を前記第1のスキャニング部と前記第2のスキャニング部に入射させ、前記標本から前記第1の光学部材、および前記第2のスキャニング部を通って入射した前記蛍光の略全部を反射または透過させる第2の光学部材をさらに備える
     ことを特徴とする請求項5に記載の顕微鏡。
  7.  前記第1の光学部材および前記第2の光学部材は、前記刺激光および前記励起光の略半分を透過させるとともに、前記刺激光および前記励起光の略半分を反射させる
     ことを特徴とする請求項6に記載の顕微鏡。
  8.  前記第1の光学部材および前記第2の光学部材は、前記刺激光のうち、前記励起光と同じ波長の光の略半分を反射および透過させるとともに、前記刺激光のうち、前記励起光と異なる波長の光の略全部を反射または透過させる
     ことを特徴とする請求項7に記載の顕微鏡。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2923630A1 (en) 2014-03-26 2015-09-30 3M Innovative Properties Company Intraoral imaging and illumination apparatus
CN105806817A (zh) * 2016-03-31 2016-07-27 北京卓立汉光仪器有限公司 一种基于紫外光激发的全光谱光致发光光谱检测***
CN107334471B (zh) * 2016-12-19 2023-07-14 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 一种双通道动物神经元信号记录与同步刺激***
JP7007227B2 (ja) * 2018-04-09 2022-01-24 浜松ホトニクス株式会社 試料観察装置及び試料観察方法
CN117224859B (zh) * 2023-11-14 2024-02-06 浙江大学 包括焦虑状态评估装置和多靶点时序光刺激和成像装置的***

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05232314A (ja) * 1992-02-21 1993-09-10 Fuji Photo Optical Co Ltd ダイクロイックミラー
JPH0672114U (ja) * 1992-07-16 1994-10-07 東芝硝子株式会社 照明用器具
JPH09101110A (ja) * 1995-10-06 1997-04-15 Olympus Optical Co Ltd 光学フィルタ及びそれを利用した顕微鏡装置
JPH10153705A (ja) * 1996-11-21 1998-06-09 Canon Inc ダイクロイックミラー
JPH10206742A (ja) * 1996-11-21 1998-08-07 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査顕微鏡
JP2006106346A (ja) * 2004-10-05 2006-04-20 Olympus Corp 顕微鏡システム
WO2008004336A1 (fr) * 2006-07-03 2008-01-10 Nikon Corporation Microscope à balayage laser
JP2008276191A (ja) * 2007-05-02 2008-11-13 Olympus Corp 蛍光顕微鏡装置
JP2009008554A (ja) * 2007-06-28 2009-01-15 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計及び液体クロマトグラフィ
JP2009238990A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Nikon Corp 光源装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7196843B2 (en) * 2002-03-27 2007-03-27 Olympus Optical Co., Ltd. Confocal microscope apparatus
JP4573524B2 (ja) * 2003-12-24 2010-11-04 オリンパス株式会社 走査型レーザー顕微鏡
JP2005208256A (ja) * 2004-01-21 2005-08-04 Fujinon Corp トリミングフィルタ、色分解光学系、色合成光学系、撮像装置および投影装置
JP4576150B2 (ja) * 2004-04-20 2010-11-04 オリンパス株式会社 走査型レーザ顕微鏡
JP4258814B2 (ja) * 2004-11-11 2009-04-30 オリンパス株式会社 顕微鏡の照明装置
JP4963543B2 (ja) 2005-09-12 2012-06-27 オリンパス株式会社 走査型レーザ顕微鏡及びその制御方法
JP2008250254A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Brother Ind Ltd 光学フィルタ、合波器、光源装置及び画像表示装置
JP5536995B2 (ja) * 2007-07-17 2014-07-02 オリンパス株式会社 顕微鏡対物レンズおよびレーザー走査型顕微鏡システム
JP5178107B2 (ja) * 2007-09-14 2013-04-10 オリンパス株式会社 レーザー走査型顕微鏡
JP5176521B2 (ja) * 2007-12-13 2013-04-03 株式会社ニコン レーザ走査顕微鏡
JP2009145567A (ja) * 2007-12-13 2009-07-02 Nikon Corp 走査顕微鏡
JP5208825B2 (ja) * 2008-09-12 2013-06-12 オリンパス株式会社 光学顕微鏡

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05232314A (ja) * 1992-02-21 1993-09-10 Fuji Photo Optical Co Ltd ダイクロイックミラー
JPH0672114U (ja) * 1992-07-16 1994-10-07 東芝硝子株式会社 照明用器具
JPH09101110A (ja) * 1995-10-06 1997-04-15 Olympus Optical Co Ltd 光学フィルタ及びそれを利用した顕微鏡装置
JPH10153705A (ja) * 1996-11-21 1998-06-09 Canon Inc ダイクロイックミラー
JPH10206742A (ja) * 1996-11-21 1998-08-07 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査顕微鏡
JP2006106346A (ja) * 2004-10-05 2006-04-20 Olympus Corp 顕微鏡システム
WO2008004336A1 (fr) * 2006-07-03 2008-01-10 Nikon Corporation Microscope à balayage laser
JP2008276191A (ja) * 2007-05-02 2008-11-13 Olympus Corp 蛍光顕微鏡装置
JP2009008554A (ja) * 2007-06-28 2009-01-15 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計及び液体クロマトグラフィ
JP2009238990A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Nikon Corp 光源装置

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