WO2003028214A1 - Circuit multistable - Google Patents

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WO2003028214A1
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Toshiyasu Suzuki
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Toshiyasu Suzuki
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/3565Bistables with hysteresis, e.g. Schmitt trigger
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/038Multistable circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/3568Multistable circuits

Definitions

  • the present invention relates to a multistable circuit having three or more stable states and capable of outputting a voltage or potential according to the stable state. Since this multi-stable circuit can be used as a multi-valued memory cell, multi-valued memory or multi-valued storage means, it can also be used for a multi-valued logic circuit, a multi-valued computer or a multi-valued control means. Background art
  • FIG. 14 to FIG. 15 of Japanese Patent No. 2853041 which is a prior art of the present inventor, of the multistable circuits disclosed in FIG. 27 to FIG. Fig. 4 shows an example of a ballast circuit.
  • V1 to V10 are 10 power supply lines, and the potentials of the power supply lines V1 to V10 gradually increase as going from the power supply line V1 to the power supply line V10.
  • the “P, N-channel junction-type two-junction FET connection” connected one by one between each power supply line and the input / output terminal T io is configured as shown in Fig. 5, and both FETs are normally on Therefore, the connection body is a negative resistance means having ⁇ negative resistance characteristics that the resistance decreases as the voltage across the terminal decreases, and the resistance increases as the voltage across the terminal increases. '' .
  • FIG. 5 is a reverse conduction type negative resistance means having no blocking ability against the voltage and current in the reverse direction (from the bottom to the top in the figure).
  • Fig. 1 of JP-A-51-2921 Only the "negative resistance means connected to the power supply line V10" functions as an alp means, and the "negative resistance means connected to each of the power supply lines V9 to V1" is an al-down means. Therefore, the multistable circuit in FIG. 4 can have 10 stable states. Since these negative resistance means are of the reverse conduction type, one reverse blocking diode is connected in series to each of the negative resistance means connected to the power supply lines V9 to V2, and the unidirectional negative resistance means is provided. There are eight configurations.
  • the magnitude of the potential difference between the power supply lines In the multistable circuit shown in FIG. 4, regarding the relationship between “the magnitude of the potential difference between the power supply lines” and “the magnitude of the complete off-drive voltage of each FET”, one of the ten negative resistance means On, the remaining nine are off, but if each off is completely off, there is no "leakage current flowing simultaneously through at least two or more negative resistance means" in any stable state, and current consumption Zero, convenient.
  • the magnitude of the potential difference between the power supply lines must be equal to or greater than the magnitude of the complete off-drive voltage of each of the nine negative resistance means that are turned off. It must be large enough to be supplied to the FET.
  • FIGS. 1 to 8 show three examples of other negative resistance means.
  • a general IGBT has a normally-off MOSFET structure, but if the MOSFET is normally-on, the IGBT naturally becomes normally-on.
  • any one of the negative resistance means of FIGS. 6 to 8 can be used instead of each negative resistance means.
  • each of the "negative resistance means connected to the power supply lines V9 to V2" has an al-down function in accordance with its stable state, but does not have a pull-up function. Or the reading is slow, or the stable state changes at the time of reading (ie, the stored contents are rewritten), and the wrong stable state potential or voltage (ie, the wrong stored contents) is read.
  • the first problem is that
  • the present invention provides a method that “cannot read or change the stable state during reading without increasing the current consumption in the stable state, and erroneous stable state potential or voltage (
  • the present invention is intended to provide a multi-stable circuit which does not read out (or incorrectly stored contents) and has a short readout time. That is, the present invention is a multi-stable circuit as described in claim 1.
  • the multistable circuit of the present invention is a three-stable circuit or more stable circuits.
  • each of the bidirectional pull means is al-Ahu. And It has both Le Down functions. For this reason, when an external data line is connected to the input / output terminal of this multi-stable circuit and the potential of the stable state is read from the input / output terminal, the potential of the external data line may be changed to “the stable state at the time of reading”.
  • the external data line is pulled up or down depending on its stable state, regardless of whether it is higher or lower than the potential of There is no change in the state, no reading of the potential or voltage in the erroneous stable state (or erroneous storage contents), and the reading time is short.
  • the "full-up means having a negative resistance characteristic connected to the potential supply line means having the highest potential” may of course be a bidirectional means as described above.
  • the "pull-down means having a negative resistance characteristic connected to the potential supply line means having the lowest potential” may of course be the bidirectional means as described above.
  • a multi-stable circuit which is both bidirectional means corresponds to the multi-stable circuit described in claim 2.
  • FIGS. 1 to 3 are circuit diagrams each showing one circuit of the embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of a conventional multistable circuit.
  • FIG. 8 is a circuit diagram showing one example of the negative resistance means.
  • FIG. 1 One embodiment shown in FIG. 1 is a 10 stabilization circuit in which the “predetermined number N described in claim 1” is 10 and the power supply line V 1 goes toward the power supply line V 10. The potential increases in order.
  • the “predetermined number N described in claim 1” is 10 and the power supply line V 1 goes toward the power supply line V 10. The potential increases in order.
  • Each component of the embodiment shown in FIG. 1 corresponds to each component described in claim 1 as follows.
  • the power supply lines V1 to V10 are in this order from the first potential supply line means to the tenth potential supply line means described in the same item.
  • the output terminal Tout is the output terminal described in claim 1.
  • one DC power supply means (not shown) exists between each power supply line.
  • one connection of two P-channel and N-channel junction FETs is connected between each power supply line VI 0, VI and the input / output terminal Ti 0 , and each connection is connected to the
  • one bidirectional negative resistance means is connected between each of the power supply lines V9 to V2 and the input / output terminal Tio. It functions as a bidirectional al means with up and down functions.
  • These two-way negative resistance means are "two negative resistance means shown in Fig.
  • the negative resistance means can have a bidirectional characteristic of “negative resistance characteristics in which the resistance decreases as the magnitude of the voltage between both ends decreases, and the resistance increases as the magnitude of the voltage between both ends increases”.
  • each of the “negative resistance means connected to the power supply lines V10 to V2” can function as an al-up means, so that, for example, when reading data, the selection switch connects the external data line to the input / output terminal Tio. Even if the potential of the external data line when connected is lower than the "potential of the stable state at the time of reading", each of the “negative resistance means connected to the power supply lines VI0 to V2" can easily be connected to the external data line. of The potential can be pulled up. Since each of the "negative resistance means connected to the power supply lines V9 to V1” can function as an al-down means, for example, when a selection switch connects an external data line to the input / output terminal Tio during data reading. Even if the potential of the external data line is higher than the "potential of the stable state at the time of reading", each of the "negative resistance means connected to the power supply lines V9 to V1” can easily reduce the potential of the external data line. Al can be down.
  • the first effect is that “reading is not performed, there is no change in the stable state at the time of reading, and there is no reading of the potential or voltage (or erroneous stored contents) in the erroneous stable state, and the reading time is shortened.”
  • the multistable circuit of the present invention includes the embodiment of FIG. (First effect) The reason why the read time is shortened is that the charge and discharge of the charges of the external data line are performed quickly in all stable states.
  • FIGS. 2 and 3 are also a 10-stable circuit in which the “predetermined number N in claims 1” is 10.
  • the combination of the negative resistance means of FIG. The directional negative resistance means is used one by one, and in the embodiment shown in FIG. 3, the unidirectional negative resistance means in which the negative resistance means of FIG.
  • each of the embodiments shown in FIGS. 1 to 3 is a 10-stable circuit in which the “predetermined number N described in claim 1” is 10, but the predetermined number N is naturally 10
  • the number is not limited to three or more. For example, 4, 5, 8, 12, 15, 16, 20, 25, 30, 32, 45, 60, 64, etc.
  • the negative resistance means and the diode for reverse blocking shown in FIG. 5 are replaced.
  • One-way negative resistance means connected in series may be used one by one. This is true even in the case of a negative resistance means that does not use a junction type FET.
  • the driving reverse bias voltage polarity is Arras. Any switching means can be used, and instead of an N-channel junction type FET, a ⁇ reverse bias voltage for driving Any polarity-negative, normally-on switching means can be used.
  • the multi-stable circuit according to the present invention is useful as a multi-valued memory cell, multi-valued memory or multi-valued storage means, a multi-valued logic circuit, a multi-valued computer or a multi-valued memory. It is suitable for use as a control means.

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)

Description

明 多安定回路 技術分野
この発明は、 その安定状態の数が 3又は 3以上で、 その安定状態に応じた 電圧もしくは電位を出力できる多安定回路に関する。 この多安定回路は多値 のメモリ一 .セル、 多値メモリー又は多値記憶手段として利用できるので、 多値論理回路、 多値コンピュータ又は多値の制御手段などにも利用できる。 背景技術
従来の多安定回路として本発明者の先行技術である特許第 2853041 号の第 14図〜第 15図ゃ特開 2000-83369号の図 27〜図 36に 開示された多安定回路のうち、 10安定回路の 1例を第 4図に示す。
第 4図で V 1〜V 10は 10本の電源線で、 電源線 V 1から電源線 V 10 の方へ行くに従 々にその電位は高くなつて行く。各電源線と入出力端子 T i oとの間に 1つずつ接続される 「P、 Nチャネルの接合型 FET2つの 接続体」は第 5図の通り構成され、 その両 FETがノ一マリィ ·オンである ためその接続体は「その両端電圧の大きさが小さくなるとその抵抗が小さく なり、 その両端電圧の大きさが大きくなるとその抵抗が大きくなる負性抵抗 特性」 を持つ負性抵抗手段である。 但し、 第 5図の負性抵抗手段は逆方向( 図の下から上の方向)の電圧、 電流に対して阻止能力が無い逆導通型の負性 抵抗手段である。 (参考:特開昭 51 - 2921号の第 1図) そして、 「電源線 V 10に接続される負性抵抗手段」だけがアル ·ァップ 手段として機能し、 「電源線 V9〜V1それぞれに 1つずつ接続される負性 抵抗手段」はアル'ダウン手段として機能するので、 第 4図の多安定回路は 10の安定状態を持つことができる。 これら負性抵抗手段は逆導通型である 為「電源線 V9〜V 2に接続される各負性抵抗手段」 に逆阻止用ダイオード が 1つずつ直列接続され、 1方向性の負性抵抗手段が 8つ構成されている。 その接続理由は、 例えば入出力端子 T i oが電源線 V 1の電位または電圧 を出力するとき 「電源線 V 9〜V 2に接続される各負性抵抗手段から逆方向 電流が電源線 V 1へ流れ込んで、 その逆方向電流が電源線 V 1に接続される 負性抵抗手段のアル ·ダウン動作を妨げる」のを防ぐ為である。
尚、 第 4図の多安定回路において 「各電源線間の電位差の大きさ」 と 「各 FETの完全オフ駆動電圧の大きさ」の関係に関して、 その 10の負性抵抗 手段のうち 1つはオンで、 残り 9つはオフであるが、各オフが完全なオフで あれば、 どの安定状態の時でも 「少なくとも 2つ以上の負性抵抗手段を同時 に流れる漏洩電流」が無く、 消費電流ゼロで、 都合が良い。 そのためには「 各電源線間の電位差の大きさ」は「オフである 9つの負性抵抗手段それぞれ の各 F E Tの完全オフ駆動電圧の大きさ」以上の大きさのゲ一ト逆バイァス 電圧をその FETに供袷できる大きさでなければならない。
また、 第ら図〜第 8図に他の負性抵抗手段の例を 3つ示す。 但し、 一般的 な I GBTはノ一マリィ .オフの MOSFET構造を内蔵しているが、 その MOSFETをノ一マリィ 'オンにすれば、 当然その I GBTはノ一マリィ -オンになる。 もちろん、 第 4図の回路において各負性抵抗手段の代わりに 第 6図〜第 8図の負性抵抗手段のうちどれかを 1つずつ使うことができる。 (参考:特開 2 0 0 0— 8 3 3 6 9号の図 8 1〜図 1 0 0の各負性抵抗手段 と、 ノーマリイ ·オンの S Iサイリスタを用いた図 3 5〜図 3 6。 ) さらに、 第 4図の回路において第 8図の負性抵抗手段を 1 0個用いる回路 の場合、 「電源線 V 9〜V 2に接続される I G B T」が全て逆阻止型ならば 、 「第 4図に示される 8つの逆阻止用ダイオード」は必要無く、 その全ての 負性抵抗手段を入出力端子 T i oに直結することができる。 この事は逆阻止 型のノ一マリィ .オンの S Iサイリスタを使う場合も同じである。 しかしながら、 「電源線 V 9〜V 2に接続される負性抵抗手段」 それぞれ はその安定状態に応じてアル ·ダウン機能を持つ一方、 プル · アップ機能を 持たないために、 『読み出し不能になったり、 又は、 読み出しが遅かったり 、 あるいは、 読み出しの際にその安定状態が変わり (すなわち、記憶内容が 書き換えられ) 、 誤った安定状態の電位または電圧(すなわち、誤った記憶 内容)が読み出されてしまう』 という第 1の問題点が有る。
(第 1の問題点) 例えば、 選択スィツチでデータ線を入出力端子 T i oに接続して、 入出力 端子 T i oからその安定状態の電位(又は電圧) を読み出す時そのデータ線 の電位が「その読み出す時の安定状態の電位」 よりも低い場合、 「電源線 V 1 0に接続される負性抵抗手段」ならアル ·アップできるが、 「電源線 V 9 〜V 2に接続される各負性抵抗手段」ではプル ·アップすることができない 。 この事が読み出し不能または遅い読み出しとなる。又は、 逆にそのデータ 線が入出力端子 T i oの電位をアル ·ダウンしてその安定状態を変化させ、 誤った安定状態の電位が読み出されてしまう。 つまり、記憶内容が書き換え られ、 誤った記憶内容が読み出されてしまう。
その問題を解決するために 「電源線 V I 0に接続される負性抵抗手段」の 代わりに例えばアル■アップ抵抗などのプル■アップ手段を接続する方法が 考えられるが、 今度は『安定状態のときの消費電流が増えてしまう』 という 第 2の問題点が新たに生じる。 (第 2の問題点) 尚、 「第 4図の回路に対して電圧極性もしくは電圧方向に関して対称的な 関係に有る回路」すなわち 「第 4図の回路において各トランジスタを 『それ と相補関係に有るトランジスタ (例: Nチャネル F E Tに対する Pチャネル F E T。 ) 』で 1つずつ置き換え、 電圧極性もしくは電圧方向の有る各構成 要素(例:直流電源、 ダイオード。 )の向きを逆にした多安定回路」では、 電源線 V 1 0〜V 1の電位の高低が正反対にひつくり返り、 8つの逆阻止用 ダイオードの向きが逆になるので、 前述したプル ·アップ機能の補足、 強化 ではなくアル ·ダウン機能の補足、 強化が必要になる。
この場合も、 プル ·ダウン抵抗などのプル ·ダウン手段が接続されるため 、 大きなシンク電流(吸い込み電流〉 を供給する必要が有り、やはり 『安定 状態の時の消費電流が増えてしまう』 という第 2の問題点が新たに生じる。 そこで、 本発明は、 『安定状態のときの消費電流を増やさずに、 読み出し 不能も、読み出し時の安定状態の変化も、誤った安定状態の電位または電圧 (もしくは誤った記憶内容)の読み出しも無く、 かつ、読み出し時間が早い 』多安定回路を提供することを目的としている。 発明の開示 即ち、本発明は請求の範囲第 1項に記載された通りの多安定回路である。 本発明は、 少なくとも 「最高電位の電位供給線手段(例えば電源線など。 ) と最低電位の電位供給線手段の間に有る電位供給線手段」のそれぞれに接続 される各負性抵抗手段に 「その雨端電圧の大きさが小さくなるとその抵抗が 小さくなり、 その両端電圧の大きさが大きくなるとその抵抗が大きくなる負 性抵抗特性」 を双方向に対して持つ双方向性プル手段を 1つずつ用いている 。 ただし、 その電位供給線手段の数は 3又は 3以上の所定数であるから、 本 発明の多安定回路は 3安定回路もしくはそれ以上の安定回路である。
このことによって、 その双方向性プル手段それぞれはアル ·アツフ。とフ。ル · ダウンの両機能を持っている。 このため、外部データ線がこの多安定回路 の入出力端子に接続されて、 その入出力端子からその安定状態の電位を読み 出す時、 たとえその外部データ線の電位が「その読み出す時の安定状態」の 電位より高かろうが低かろうが、 その外部データ線はその安定状態に応じて プル .アップされたり、 あるいは、 アル .ダウンされたりするので、 『読み 出し不能も、 読み出し時の安定状態の変化も、誤った安定状態の電位または 電圧(もしくは誤った記憶内容)の読み出しも無く、 読み出し時間が早い』 という第 1の効果が本発明の多安定回路に有る。 (第 1の効果) それから、 前述した様なアル -アップ抵抗などのアル■アップ手段または プル ·ダウン抵抗などのプル ·ダウン手段が必要無いので、 『安定状態の時 の消費電流が増えない』 という第 2の効果が本発明の多安定回路に有る。
(第 2の効果) 尚、 「その最高電位の電位供給線手段に接続される、 負性抵抗特性を持つ フ°ル -アップ手段」が前述した様な双方向性アル手段でももちろん構わない し、 「最低電位の電位供給線手段に接続される、 負性抵抗特性を持つプル - ダウン手段」が前述した様な双方向性アル手段でももちろん構わない。 両方 とも双方向性アル手段である多安定回路は、請求の範囲第 2項記載の多安定 回路に対応する。 図面の筒単な説明
第 1図〜第 3図それぞれは本発明の実施例の回路を 1つずつ示す回路図で あり、 第 4図は従来の多安定回路の 1例を示す回路図であり、 第 5図〜第 8 図それぞれは負性抵抗手段の例を 1つずつ示す回路図である。 発明を実施するための最良の形態
本発明をより詳細に説明するために、 添付図面に従ってこれを説明する。 第 1図に示す 1実施例は「請求の範囲第 1項に記載中の所定数 N」が 1 0で ある 1 0安定回路で、 電源線 V 1から電源線 V 1 0の方へ行くに従い順々に その電位は高くなつて行く。 第 1図の実施例の各構成手段は次の通り請求の 範囲第 1項に記載中の各構成手段に相当する。
a )電源線 V 1〜V 1 0それぞれが同項記載中の第 1電位供給線手段から 第 1 0電位供給線手段までのそれぞれにこの順序で。
b ) 出力端子 T o u tが請求項 1記載中の出力端子に。
c ) 「電源線 V Iと出力端子 T o u tの間に接続される P、 Nチャネルの 接合型 F E T計 2つの接合体」が請求項 1記载中のアル ·ダウン手段 に。
d ) 「電源線 V 2〜V それぞれと出力端子 T o u tの間に.1つずつ接続 される P、 Nチャネルの接合型 FET計 4つの接合体」が請求項 1記 載中の双方向性プル手段に。
e ) 「電源線 VI 0と出力端子 Toutの間に接続される P、 Nチャネル の接合型 FET計 2つの接合体」が請求項 1記载中のアル■アップ手 段に。
当然の事ながら、 それぞれの電源線間には直流電源手段(図示せず。 )が 1つずつ存在する。 電源線 VI 0、 VIそれぞれと入出力端子 Ti 0の間に 従来と同じ様に 「P、 Nチャネルの接合型 FET2つの接続体」が 1つずつ 接続され、 各接続体はアル ·アップ手段とアル ·ダウン手段として機能する 一方、電源線 V9〜V2それぞれと入出力端子 Ti oの間には双方向性の 負性抵抗手段が 1つずつ接続され、 それらの負性抵抗手段は「アル'アップ 機能とアル ·ダウン機能を持つ双方向性アル手段」 として機能する。 それら 双方向性の負性抵抗手段は「第 5図に示される負性抵抗手段 2つが直列接続 されたもの」であるが、 両方の逆導通方向は互いに正反対であるため、 その 双方向性の負性抵抗手段は「その両端電圧の大きさが小さくなるとその抵抗 が小さくなり、 その両端電圧の大きさが大きくなるとその抵抗が大きくなる 負性抵抗特性」 を双方向に持つことができる。
このため、 「電源線 V 10〜V 2に接続される負性抵抗手段」それぞれは アル -アップ手段として機能できるので、例えばデータ読み出しの際に選択 スィツチが外部データ線を入出力端子 T i oに接続した時その外部データ線 の電位が「その読み出す時の安定状態の電位」 より低くても、 容易に「電源 線 VI 0〜V 2に接続される負性抵抗手段」 それぞれはその外部データ線の 電位をプル■アップすることができる。 そして、 「電源線 V 9〜V 1に接続 される負性抵抗手段」 それぞれはアル ·ダウン手段として機能できるので、 例えばデータ読み出し時に選択スィツチが外部データ線を入出力端子 T i o に接続した時その外部データ線の電位が「その読み出す時の安定状態の電位 」 より高くても、 「電源線 V 9〜V 1に接続される負性抵抗手段」それぞれ は容易にその外部データ線の電位をアル ·ダウンすることができる。
その結果、 前述通り 『読み出し不能も、読み出し時の安定状態の変化も、 誤った安定状態の電位または電圧(もしくは誤った記憶内容)の読み出しも 無く、読み出し時間が早くなる』 という第 1効果が、 第 1図の実施例を含め 、 本発明の多安定回路に有る。 (第 1効果) 読み出し時間が早くなるのはその外部データ線の電荷の充放電がすべての 安定状態において速やかに行われる様になるからである。
それから、 前述した様な「アル■アップ抵抗などのアル■アップ手段」や 「プル ·ダウン抵抗などのプル■ダウン手段」が必要無いので、 『安定状態 のときの消費電流が増えない』 という第 2効果が、 第 1図の実施例を舍め、 本発明の多安定回路に有る。 (第 2効果) 尚、 「電源線 V 1 0、 V 1それぞれに接続される負性抵抗手段」が「電源 線 V 9〜V 2それぞれに接続される双方向性の負性抵抗手段」 と同じ双方向 性の負性抵抗手段であっても、 回路動作上で全く問題無い。 その部品点数の 増加が問題にならないのなら、 むしろその方が『全ての負性抵抗手段が同じ 構成になるため、 I C化の際に都合が良い』 という利点が有るし、 『電源の 接続を間違えて電源線 V 1 0から電源線 V 1の方へ行くに従って順々にその 電位が高くなつて行っても全く問題が無いし、 又は、 積極的に電源線の電位 の高低を入れ換える使い方もできる』 という利点も有る。 これらの事は後述 する第 2図〜第 3図の各実施例につ ても言うことができる。 第 2図〜第 3図に示す各実施例も、 「請求の範囲第 1項に記載中の所定数 N」が 10である 10安定回路である。 「電源線 V9〜V2それぞれに接続 される双方向性の負性抵抗手段」 として第 2図に示す実施例では「第 5図の 負性抵抗手段とダイオード ·ブリッジ接続型整流回路を組み合わせた双方向 性の負性抵抗手段」 を 1つずつ使用し、第 3図に示す実施例では「第 5図の 負性抵抗手段と逆阻止用ダイ才一ドを直列接続した 1方向性の負性抵抗手段 を 2つ逆並列接続した双方向性の負性抵抗手段」 を 1つずつ使用している。 最後に補足する事として第 1図〜第 3図の各実施例は「請求の範囲第 1項 に記載中の所定数 N」が 10である 10安定回路であるが、 所定数 Nは当然 10に限定されず、 3又はそれ以上ならいくつでも構わない。 例えば 4、 5 、 8、 12、 15、 16、 20、 25、 30、 32、 45、 60、 64等。 また、 第 1図〜第 3図の各実施例において 「電源線 VI 0、 VIそれぞれ に接続される負性抵抗手段」の代わりに 「第 5図の負性抵抗手段と逆阻止用 のダイォードを直列接続した 1方向性の負性抵抗手段」 を 1つずつ用いても 良い。 この事は接合型 FETを使わない負性抵抗手段の場合でも言える。 さらに、 「第 1図〜第 3図の各実施例」又は「それから派生する各実施例 」において Pチャネルの接合型 FETの代わりに「駆動用の逆バイアス電圧 極性がアラスで、. ノーマリィ ■オンのスィツチング手段」なら何でも使うこ とができ、 Nチャネルの接合型 FETの代わりに 「駆動用の逆バイアス電圧 極性がマイナスで、 ノーマリィ ·オンのスィツチング手段」なら何でも使う ことができる。
それから、 第 3図の実施例で各接合型 F E Tの代わりに逆阻止型 I G B T の様にノーマリィ ·オンの逆阻止型スィツチング手段を 1つずつ使う場合、 逆阻止用ダイォードは 1つも要らない。
そして、 「第 1図〜第 3図の各実施例」又は「それから派生する各実施例 」において 「それぞれの電源線間の電位差の大きさ」 と 「各負性抵抗手段を 構成するノーマリイ ·オンの各スィツチング手段の完全オフ駆動電圧の大き さ」の関係に関して、 そのすベての負性抵抗手段のうち 1つはオンで、 その 残りはオフであるが、 各オフが完全なオフであれば、 どの安定状態の時でも 「少なくとも 2つ以上の負性抵抗手段を同時に流れる漏洩電流」が全く無く 、 C M O Sメモリ一の様に安定状態での消費電流はゼロで、 都合良い。 その ためには「それぞれの電源線間の電位差の大きさ」は「オフであるその残り の負性抵抗手段それぞれの各スィツチング手段の完全オフ駆動電圧の大きさ 」以上の大きさの駆動逆バイァス電圧をそのスィ チング手段に供給できる 大きさでなければならない。 産業上の利用可能性
半導体の高集積化による高機能化もそろそろ限界に達していると言われて おり、 別の手段、 方法が模索されている。 その 1つの答えが多値化であるが 、本発明にかかる多安定回路は多値メモリー■セル、 多値メモリーもしくは 多値記憶手段として有用であり、 多値論理回路、 多値コンピュータもしくは 多値制御手段などに用いるのに適している。

Claims

請 求 の 範 囲
1 - 3又は 3以上の所定数を Nとしたときに、
第 1電位から第 N電位まで番号順に電位が高くなつて行く N個の電位を供給 する第 1電位供給線手段〜第 N電位供給線手段と:
信号の入出力を行う入出力端子と、
前記第 1電位供給線手段と前記入出力端子の間に接続され、 「その両端電圧 の大きさが小さくなるとその抵抗が小さくなり、 その両端電圧の大きさが大 きくなるとその抵抗が大きくなる負性抵抗特性」 を持つアル ·ダウン手段と 前記第 2電位供給線手段から前記第(N— 1 )電位供給線手段までの各電位 供給線手段と前記入出力端子の間に 1つずつ接続され、 「その雨端電圧の大 きさが小さくなるとその抵抗が小さくなり、 その両端電圧の大きさが大きく なるとその抵抗が大きくなる負性抵抗特性」 を双方向に対して持つ(N— 2 )個の双方向性プル手段と、
前記第 N電位供給線手段と前記入出力端子の間に接続され、 「その両端電圧 の大きさが小さくなるとその抵抗が小さくなり、 その両端電圧の大きさが大 きくなるとその抵抗が大きくなる負性抵抗特性」 を持つアル ·アップ手段、 を有することを特徴とする多安定回路。
2 · 前記プル ·ダウン手段が「その負性抵抗特性を双方向に持つ双方向性 のアル手段」 として機能し、前記プル■アップ手段が「その負性抵抗特性を 双方向に持つ双方向性のフ レ手段」 として機能することを特徴とする請求の 範囲第 1項に記載の多安定回路。
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