WO1997000423A1

WO1997000423A1 - Appareil et methode pour le controle d'une pellicule de revetement

Info

Publication number: WO1997000423A1
Application number: PCT/JP1996/001586
Authority: WO
Inventors: Junjirou Imaizumi; Tsutomu Amano; Yoshimoto Take; Yoshito Amino
Original assignee: Kirin Beer Kabushiki Kaisha
Priority date: 1995-06-14
Filing date: 1996-06-12
Publication date: 1997-01-03
Also published as: US5991018A; EP0833126A1; AU6014996A; EP0833126A4; DE69627328D1; KR100418069B1; DE69627328T2; EP0833126B1; ATE237122T1; KR19990022912A

Description

明細書コーティング膜の検査装置および方法技術分野

本発明は、壜等の容器の表面に施されるコーティング膜の状態をする装置および方法に関し、より詳しくは、軽量化された « 器等の S娘を保持するために容器の表面に形成されたコ一ティング膜の膜厚や劣化の状態を検査する検査装置および方法に関する。背景技術

例えば飲料等を 3¾8するための容器としては、従来からガラス製の離器等が多く使用されている。

近年、このような器について、搬送等の {El!のため軽量化が図られており、この軽量化に伴う驟器の S嫂低下を防止するため、驢器の表面にコーティング膜を形成する方法が採られている。このコーティング膜の形成は、壜容器の表面に S n 02 や T i 02 等の酸化物をホットエンドコーティングと呼ばれる方法によりコーティングすることによって行われる。

このホットェンドコーティングとは、 ¾ 器の製造時において、徐冷される前の ¾ 器の表面温度がまだ高いときに反応ガスを吹きつけることによって、壜容器の表面に S n 02 または T i 02等の酸化物被膜を形成する技術である。

このコーティング膜が規定の厚さを有しているか否かは、壜容器の機械的強度（耐久性）保持等の観点から重要な因子であり、コ一ティング膜の膜厚が薄い場合には、搬送時等に器が互、に接触して器の表面に傷が発生することにより、壜容器か定の強度を保持出来なくなって破損してしまう虞がある。

また、コーティング膜の腿が厚すぎる場合には、光（特に可概域）の干渉によりびん表面に油膜が付着したような虹色の模様が出来てしまい、美観上好ましくなく、商品価値の低下を招く虞があるとともに、反応ガスの浪費にもつながるという問題がある。このため、壜容器の表面に形成されたコ一ティング膜の膜厚のは厳しく行われる必要がある。

従来、この ¾ ^器に形成されたコーティング膜の膜は、例えばァメリカングラスリサーチ社製のホットェンドコーティングメータのように壜容器の表面に投受光器を接触させて膜厚の測定を行う接触型の測定装置を用いて行われている。

し力、しながら、この型のコーティング膜の膜装置においては、投受光器の角度を調整して最大の受光量が得られる位置にお！ ^、て膜厚の測定を行う必要があるため、測定に ^を要し、また^者であつても手間取ることが往々にしてあるという問題点がある。

さらに、この接触型のコーティング膜の膜^ ¾装置においては、投受光器を壜容器にさせる際に合用液体としてシリコン系オイルを器の表面に塗布しなければならないため、膜厚の測定後にこの塗布されたオイルを除去するがある。このオイルの除去には手間がかかるので、コーティング膜の膜厚測定の対象となった驟器は、通常廃棄されている。

このため、 ¾ ^器の it 程におけるコーティング膜厚の^ ¾は、抜取り^ gにより行う必要があるが、製造された器の全体のコーティング膜の膜厚の状態を知るためには抜取り検査の回数を多くする必要があり、その分廃棄される壜容器も増加することとなり、かつ検査の効率も良くないという問題点がある。

また、繰り返し使用されるビーノ Hi等の飲料用器の化を図るとともにその器の繰返し使用回数を増加させることのできるコーティング膜（S n 02コーティング膜を有し、腿が約 1 O O nm)が形成されたリタ一ナブルの器が既に開発されている（特開平 3— 1 3 1 5 4 7号公報）が、上記従来の接触型コーティング膜の膜装置においては、測定可能な膜厚が 6 0 n mgjgまでであり、それ以上の厚さを有するコーティング膜の膜厚測定は困難であるため、上記のような 1 0 0 nmの厚さのコーティング膜を有する壜容器の検査は行うことが出来ないという問題点がある。

さらに、所定の厚さのコーティング膜が形成されたリタ一ナブル器は、その繰返し删回数が飛躍的に増加するが、市場から回収されたリタ一ナブル容器は、通常、洗浄機において熱アルカリ溶液（例えば、が 8 0' Cで 4パーセントの苛性ソーダ水溶液）によって繰り返し洗浄されるため、この熱アルカリ溶液によってコ一ティング膜が劣化する場合がある。

このコーティング膜の劣化によって、壜容器の表面が摺りガラス状になり、壜容器自体はまだ十分な 5娘を有して t、て再使用が可能な場合であつても、壜容器の外観が損なわれることによって壜詰め製品の商品価値を低下させてしまう虞がある。

すなわち、コーティング膜には、図 1 3 ( a ) に示すように、 S n 02コーティング膜の表面に直径 2〜 3〃mのピンホールかり、このピンホールは、熱アルカリ溶液による繰返し洗浄によって劣化が進むと、図 1 3 (b ) に示すように、徐々に深く大きくなつてゆき、直径 1 0 z m程度にまで成長する。

ピンホールがこのような大きさにまで成長すると、 ¾ ^器を透過する光がコーティング膜のピンホールによってされるようになる。そして、このようなピンホールが増加してくると、最初は青色がかったを呈していたコーティング膜が次第に銀色を帯びるようになり、その透明度が低下してくる。

コーティング膜においてピンホールがさらに増加すると、 ¾ ^器の表面は摺りガラス状になり、壜容器表面の全体あるいはその一部の光沢が失われて白っぽく見えるようになる。このようなコーティング膜の劣化の激しい離器は、 5娘的に再使用が可能な場合であっても、廃棄しなければならなくなる。

従来、このようなコーティング膜の劣化が生じた ¾ ^器の選別は、觀員の目ネ! ^によって行われている。

しかしながら、このコーティング膜の劣化の目においては、劣化のを判別するための客観的な指標を設定するのか 1 しく、結局は検査員の主観的な判断に任せるしかなく、従って、判 ^果に個人差を生じてしまうという問題点がある。また、この觀員による目では、見落としが生じたり、速度が制限されてしまう等の問題点がある o

この発明は、上記のような ¾ ^器等の表面に施されたコ一ティング膜の膜厚や劣化等の状態を検査する際の問題点を解決するために為されたものである。

すなわち、この発明は、容器の表面に施されたコーティング膜の膜厚を非接触で測定することができ、これによつて^^器の^ ¾をサンプリングではなく全ての容器について行うことができ、さらに、膜厚が厚いコーティング膜についてもその膜厚の測定が可能なコーティング膜の検査装置および方法を提供することを目的とする。

さらにこの発明は、壜容器等の表面に施されたコ一ティング膜の劣化の状態を自動的にかつ客観的な基準で判別できるとともに、減速度が速いコ一ティング膜の猫装置および方法を提供することを目的とする。発明の開示

上記目的を達成するために第 1の発明によるコ一ティング膜の難装置は、容器の表面に形成されたコーティング膜の膜厚または劣化の状態を検査するためのコーティング膜の装置であって、表面にコーティング膜が形成された容器に^ tを照象卜する検査光照射手段と、この^ ¾光照 Ji手段から照 itされた光の容器からの s†光または容器を透過した光を受光するとともにこの s i光または光を撮像信号に変換して出力する撮像手段と、この撮像手段から出力される撮像信号を入力してこの撮像信号が示す撮像データを予め記憶している基準データと比較することにより容器に形成されているコーティング膜の^ ifまたは劣化の状態を検出する演算手段とを備えて、ることを特徴としている。

この第 1の発明によるコーティング膜の觀装置は、 ^«照 it手段から、表面にコーティング膜が形成されたガラス等の透明な材質で出来た壜等の容器に検査光を照身る。このは、その照 Ji角度によつて容器の表面から ίされたりまた容器をしたりする。撮像手段がこの検査光の容器からの^†光または容器を透過した透過光を受光して、この S i光または翻光を撮像信号に変換する。このとき、 ^«が容器の表面から s tされる際に、その反射光のスぺクトル分布が容器の表面に形成されたコーティング膜のによって変化する。また、錢光が容器を透過する際に、容器のコーティング膜の劣化によってコーティング膜にいわゆるピンホールが形成されている場合には、容器を透過する錢光に散乱が生じ、この散乱光の量はコ一ティング膜の劣化の状態によって変化しその劣化が進行するほど多くなる。撮像手段から出力される撮像信号はこのような光または散 ¾C光に含まれるコーティング膜に関するデータを含んでいるので、演算手段が、この撮像信号に含まれる撮像データを予め記憶しているスぺクトル分布または散乱光の量に関する基準データと比較することにより、容器に形成されているコーティング膜の膜厚または劣化の状態を検出する。

以上のように、この第 1の発明によれば、容器の表面に形成されたコーティング膜の形成状態を非接触でしかも客観的基準に基づいて自動的に検出することができる。

上記目的を達成するために第 2の発明によるコーティング膜の検査装置は、第 1の発明において、錢光照 J†手段が所定のスぺクトル分布を有する錢光を照 J†し、撮像手段がの容器からの光を受光する位置に配置されており、辨データが予めコーティング膜の膜厚に対応して計測された基準スぺクトル分布であり、演算手段が撮像手段が受光した反射光のスぺクトル分布と基準スぺクトル分布とを対比することによって容器のコ一ティング膜の膜厚を算出することを特徴としている。

この第 2の発明によるコーティング膜の錢装置は、錢光照 Ji手段から照される検か定のスぺクトル分布を有していて、その容器からの ί光が撮像手段に受光される。光のスぺクトル分布は、容器によって S iされる際にその容器に形成されたコーティング膜の膜厚によってその厚さが厚いほど大きく変化する。演算手段には、予めコーティング膜の^ ϋに対応して計測されたスぺクトル分布が ¾ ^データとして記憶されており、演算手段は撮像信号に含まれる反射光のスぺクトル分布に関するデータと基準データのスぺクトル分布とを対 Jt "ることによって容器のコーティング膜の膜厚の算出を行う。以上のように、この第 2の発明によれば、容器の表面に形成されたコーティング膜の膜厚を容器に非接触で測定することができ、これによつて容器の «をサンプリングではなく全ての容器について行うことができるとともに、膜厚が厚いコーティング膜についてもその膜厚の測定を行うことができる。

上記目的を達成するために第 3の発明によるコーティング膜の検査装置は、第 2の発明において、検査光照射手段の容器のコーティング膜に対する検査光の照射角度が 3 0 ° 〜6 0° であることを特徴としている。

この第 3の発明によるコーティング膜の觀装置は、錢光照 Jt手段からの検査光の容器のコーティング膜に ¾fる照角度が 3 0° 〜6 0。であることによって、容器からの S t光におけるスぺクトル分布の変化が顕著になり、これによつてコーティング膜の膜厚の正確な測定が可能になる。

上記目的を達成するために第 4の発明によるコーティング膜の検査装置は、第 2の発明において、錢光照手段が面光源であり、照射される錢光の色が略一定となるように設定されていることを特徴としている。

この第 4の発明によるコーティング膜の装置は、面光源である光照 Ji手段から容器に錢光が照される。これによつて、赚位置において容器の位置が厳密に要求されなくなり、安定した^ Sを行うことができるようになる。そして、光の色温度が略一定になるようにされることによって、光の色 ¾補正等を行うことなくさらに安定した検査が可能になる。

上記目的を達成するために第 5の発明によるコーティング膜の検査装置は、第 2の発明において、搬送されてきた容器か定の位置に位置されたことを検出して検出信号を出力する位置検出手段をさらに備え、演算手段が位置検出手段から出力される検出信号を入力した際に撮像手段から出力される撮像信号を取り込んでコーティング膜の膜厚の算出を行うことを特徴としている。

この第 5の発明によるコーティング膜の錢装置は、この磁装置が容器を搬送するコンベア等の搬送手段に取り付けられて次々に搬送されてくる容器について連繞的にコーティング膜の錢を行う場合に、位置検出手段によって搬送されてきた容器か定の輕位置に位置されたことが検出される。そして、演算手段が位置検出手段から出力される容器の検出信号を入力すると、その時に撮像手段から出力される撮像信号を取り込むことによって、コーティング膜の膜厚の算出を行う。これによつて、容器の搬送ラインにおいて纖的に搬送されてくる容器について連続的にコーティング膜の膜厚測定を行うことが可能になり、コーティング膜の膜厚測定を全ての容器について行うことができる。

上記目的を達成するために第 6の発明によるコ一ティング膜の装置は、第 1の発明において、撮像手段が rts ^光照 it手段から照 ifされる光が容器を透過する際に発生する散乱光をする位置に配置されており、基準データが予めコーティング膜の劣化状態に対応して設定されたコーティング膜の劣化状態を示すデータであり、演算手段が、撮像手段が受光した散乱光の量に基ずくデータと ¾ ^データとを対比することによって容器のコーティング膜の劣化状態を検出することを特徴としている。

この第 6の発明によるコーティング膜の装置は、光照射手段から †される検が容器をする際に、その ¾ 光に散乱が生じると、この散乱光が撮像手段にされる。この^ ¾光の ¾¾1は、容器のコーティング膜が劣化してこのコ一ティング膜にいわゆるピンホールが形成されることによって生じ、コ一ティング膜の劣化が進むほど航光の量が多くなる。演算手段には、予めコーティング膜の劣化状態に対応して設定されたコーティング膜の劣化状態を示す散乱光の量が基準データとして記憶されており、演算手段は撮像信号に含まれる光の量を示すデータと ¾ ^データとを対比することによって容器のコーティング膜の劣化状態を検出する。

以上のように、この第 6の発明によれば、； a 器等の表面に施されたコーティング膜の劣化の状態を自動的にかつ客観的なで判別できるとともに、 ¾ ^の高速化を図ることができる。

上記目的を達成するために第 7の発明によるコーティング膜の觀装置は、第 6の発明において、撮像手段が、散乱光のみを受光し散乱を生じないで容器を透過した検査光は受光しない位置に配置されていることを特徴としている。この第 7の発明によるコ一ティング膜の^ ¾装置は、撮像手段が容器を透過した検出光のうちコ一ティング膜の劣化によって生じた散乱光のみを受光し、散乱を生じないで透過した^^光は受光しない。これによつて、コーティング膜の劣化の状態を示す ffl外の光のを受けることなく正確な驢を行なうことができ、コ一ティング膜の劣化の微小な差も容易に判別することができる。

上記目的を達成するために第 8の発明によるコ一ティング膜の検査装置は、第 6の発明において、 ^¾ 出手段が、光源と、この光源と容器の位置との間に配置されたスリットを有し光源から照 Jiされる光をスリットを通すことによってスリット状の検査光にするスリツト部材とを有していることを特徴としている。

この第 8の発明によるコ一ティング膜の錢装置は、光源から照射された光が、スリツト部材に形成されたスリットを通過することによってスリット状の検査光に形成されて容器に照される。このように、光源から照射された光をスリツトを通過させた後に容器に照射ることによっての不要な拡散が抑制され、コーティング膜の劣化に伴う輕光の»¾¾外の光の WS されることによって、より精密なを行なうことができる。

上記目的を達成するために第 9の発明によるコ一ティング膜の装置は、第 8の発明において、スリット部材が複数のスリツトを有していることを特徴としている。

この第 9の発明によるコーティング膜の検査装置は、スリット部材が複数のスリットを備えていることによって、一つの容器に対して複数本のスリツト状の光が照射されることになる。これによつて、対象の容器を位置において位置決めする際に厳密に位置決めする必要がなくなり、より容易にかつ確実に検査を行なうことができる。上記目的を達成するために第 1 0の発明によるコーティング膜の検査装置は、第 6の発明において、搬送されてきた容器か定の^ ¾位置に位置されたことを検出して検出信号を出力する位置検出手段をさらに備え、演算手段が位置検出手段から出力される検出信号を入力した際に爾己撮像手段から出力される撮像信号を取り込んでコーティング膜の劣化状態の検出を行うことを特徴としている。この第 1 0の発明によるコーティング膜の猫装置は、この觀装置が容器を搬送するコンベア等の搬送手段に取り付けられて次々に搬送されてくる容器につ、て連続的にコーティング膜の輕を行う場合に、位置検出手段によって搬送されてきた容器か定の観位置に位置されたことが検出される。そして、演算手段が位置検出手段から出力される容器の検出信号を入力すると、その時に撮像手段から出力される撮像信号を取り込むことによって、コーティング膜の劣化状態の検出を行う。これによつて、容器の搬送ラインにおいて的に搬送されてくる容器について自動的にかつ連続的にコ一ティング膜の輕を行うことができる。

上記目的を達成するために第 1 1の発明によるコーティング膜の錢方法は、容器の表面に形成されたコ一ティング膜の膜厚または劣化の状態を検査するためのコー^ィング膜の輕方法であって、表面にコーティング膜が形成されている容器に検査光を照 J†tる検照 it工程と、この錢光照 JO:程にお、て照 Jiされた^ ¾光の容器からの耐光または容器を^^した透過光を撮像手段によつて受光して撮像信号に変換する撮像工程と、この撮像工程において変換された反射光または透過光の撮像信号の撮像データを予め設定されているデータと対比することによって容器に形成されているコーティング膜の膜厚または劣化の状態を検出する検出工程とからなることを特徴としている。

この第 1 1の発明によるコーティング膜の觀方法は、表面にコ一ティング膜が形成されたガラスまたはプラスチック等の透明な材質で出来た壜等の容器に照射された検査光が、その照 Ji角度によって容器の表面から s iされたりまた容器を透過したりする。このが容器の表面から^ ίされる際に、その S i光のスぺクトル分布が容器の表面に形成されたコーティング膜の膜厚によって変化する。また、が容器をする際に、容器のコ一ティング膜の劣化によってコ一ティング膜にいわゆるピンホールが形成されている場合には、容器を ¾ する錢光に散乱が生じ、この光の量はコーティング膜の劣化の状態によって変化しその劣化が進行するほど多くなる。このような s i光または散 a¾を変換することによつて撮像手段から出力される撮像信号は、このような 5#光または ¾¾ι¾に含まれるコーティング膜に関するデータを含んでいるので、この撮像信号に含まれる撮像データをスぺクトル分布または散乱光の量に関する基準データと比較して、容器に形成されているコ一ティング膜の膜厚または劣化の状態を検出する。

以上のように、この第 1 1の発明によれば、容器の表面に形成されたコーティング膜の形成状態を非接触でしかも客観的基準に基づ、て自動的に検出することができる。上記目的を達成するために第 1 2の発明によるコーティング膜の検査方法は、第 1 1の発明の錢光照工程において錢光を所定のスぺクトル分布を有する光とし、撮程にお t、て撮像手段を ^¾光の容器からの光を受光する位置に配置し、検出工程にお t、て ¾ ^データを予めコーティング膜の膜厚に対応して計測された基準スぺクトル分布として撮像信号が示す光のスぺクトル分布を »スぺクトル分布に対比することによって容器のコーティング膜の膜厚を算出することを特徴としている。

この第 1 2の発明によるコーティング膜の^ S方法は、光が所定のスぺクトル分布を有しており、この検¾¾のスペクトル分布は、容器によってされる際にその容器に形成されたコーティング膜の膜厚によってその厚さが厚いほど大きく変化する。撮像手段から出力される撮像信号には、この^ ¾光の光におけるスぺクトル分布の変化に関するデータが含まれており、この撮像信号に含まれる光のスぺクトル分布に関するデー夕とデータのスぺクトル分布とを対比することによって容器のコーティング膜の膜厚の算出を行う。

以上のように、この第 1 2の発明によれば、容器の表面に形成されたコ一ティング膜のを容器に非で測定することができ、これによつて容器の検査をサンプリングではなく全ての容器について行うことができるとともに、膜厚が厚いコ一ティング膜についてもその膜厚の測定を行うことができる。

上記目的を達成するために第 1 3の発明によるコーティング膜の検査方法は、第 1 2の発明の査光照射工程における検査光の容器のコーティング膜に対する照射角度を 3 0' 〜6 0^β にすることを特徴としている。

この第 1 3の発明によるコーティング膜の方法は、の容器のコーティング膜にる照 J†角度が 3 0' 〜6 0' であることによって、容器からの S t光におけるスぺクトル分布の変化が顕著になり、これによつてコーティング膜の膜厚の正確な測定が可能になる。

上記目的を達成するために第 1 4の発明によるコーティング膜の方法は、第 1 2の発明の^) t照工程において、； ^光の光源を面光源とし、この面光源から照 J される検査光の色温度を略一定にすることを特徴としている。

この第 1 4の発明によるコーティング膜の検査方法は、面光源から容器に観光が照 Jt される。これによつて、輕位置において容器の位置が厳密に要求されなくなり、安定したを行うことができるようになる。そして、光の色^ gが略一定になるように設定されることによって、光の色補正等を行うことなくさらに安定したが可能になる。

上記目的を達成するために第 1 5の発明によるコーティング膜の検査方法は、第 1 2の発明の検出工程において、搬送されてきた容器か定の錢位置に位置されたことを検出し、容器か定の^ ¾位置に位置されたことが検出された際に撮像手段から出力される撮像信号に基づいてコーティング膜の膜厚の算出を行うことを特徴としている。

この第 1 5の発明によるコーティング膜の被方法は、コンベア等の搬送手段によって次々に搬送されてくる容器について連続的にコーティング膜の觀を行う場合に、搬送されてきた容器か定の^ ¾位置に位置されたことを検出し、この容器が^ ¾位置に位置されたことが検出された際に、その時に撮像手段から出力される撮像信号に基づいて、コ一ティング膜の膜厚の算出を行う。これによつて、容器の搬送ラインにおいて連続的に搬送されてくる容器について連続的にコーティング膜の膜厚測定を行うことが可能になり、コーティング膜の膜厚測定を全ての容器について行うことができる。

上記目的を達成するために第 1 6の発明によるコーティング膜の検査方法は、第 1 1の発明の撮像工程において撮像手段を検«が容器を透過する際に発生する散乱光をする位置に配置し、検出工程においてデータを予めコーティング膜の劣ィ態に対応して計測された散 SUtの量を示すデータとし撮像信号が示す光の量を示すデータとデータとを対 it"することによって容器のコーティング膜の劣イ^態を検出することを特徴としている。

この第 1 6の発明によるコーティング膜の方法は、照射される光が容器を透過する際に、その透過光に散乱が生じると、この散乱光を撮像手段によって受光する。この翻光のは、容器のコ一ティング膜カ化することによりこのコ一ティング膜にいわゆるピンホールが形成されることによって生じ、コーティング膜の劣化が進むほど «光の量が多くなるので、撮像信号に含まれる散乱光の量を示すデータと予めコ一ティング膜の劣化状態に対応して設定された散乱光の量を示す基準データとを対比することによつて、容器のコ一ティング膜の劣化状態を検出する。

以上のように、この第 1 6の発明によれば、壜容器等の表面に施されたコーティング膜の劣化の状態を自動的にかつ客観的な基準で判別できるとともに、検査の高速化を図ることができる。

上記目的を達成するために第 1 7の発明によるコーティング膜の検査方法は、第 1 6の発明の錢光照 JOl程において、錢光を光源と容器の錢位置との間に配置したスリットを通すことによってスリット状にして照射することを特徴としている。

この第 1 7の発明によるコーティング膜の検査方法は、光源から照射された光が、スリットを通過することによってスリット状の^ ¾光に形成されて容器に照される。このように、光源から照された光をスリットを通過させた後に容器に照 Jt ることによって光の不要な拡散が抑制され、コ一ティング膜の劣化に伴う觀光の散乱光以外の光のが低減されることによって、より精密な検査を行なうことができる。

上記目的を達成するために第 1 8の発明によるコーティング膜の検査方法は、第 1 7の発明の検査光照射工程において、スリツトを複数設けることを特徴としている。

この第 1 8の発明によるコ一ティング膜の検査方法は、一つの容器に対して複数のスリットを通して複数本のスリット状の^ «が照されることになる。これによつて、検颜象の容器を錢位置において位置決めする際に厳密に位置決めする艘がなくなり、より容易にかつ確実に検査を行なうことができる。

上記目的を達成するために第 1 9の発明によるコーティング膜の検査方法は、第 1 6の発明の撮像工程に、て、撮像手段を散乱光のみを受光し容器を散乱しな、で透過した検査光は受光しな t、位置に配置することを特徴としている。

この第 1 9の発明によるコーティング膜の検査方法は、撮像手段によって容器を透過した検出光のうちコ一ティング膜の劣化によって生じた散乱光のみを受光し、を生じないで ¾ϋした錢光は M;しない。これによつて、コ一ティング膜の劣化の状態を示す光以外の光の體を受けることなく正確な觀を行なうことができ、コーティング膜の劣ィ匕の微小な差も容易に判別することができる。

上記目的を達成するために第 2 0の発明によるコーティング膜の検査方法は、第 1 6の発明の検出工程において、搬送されてきた容器が所定の位置に位置されたことを検出し、容器が所定の位置に位置されたことが検出された際に撮像手段から出力される撮像信号に基づいてコーティング膜の劣化状態の検出を行うことを特徴としている。この第 2 0の発明によるコーティング膜の検査方法は、コンベア等の搬送手段によって次々に搬送されてくる容器について連続的にコ一ティング膜の錢を行う場合に、搬送されてきた容器が所定の^ i置に位置されたことを検出し、この容器が位置に位置されたことが検出された際に、その時に撮像手段から出力される撮像信号に基づいて、コーティング膜の劣化状態の検出を行う。これによつて、容器の搬送ラインにおいて連続的にされてくる容器について自動的にかつ連続的にコ一ティング膜の錢を行うことができる。図面の簡単な説明

図 1は、この発明の第 1の ¾5S形態におけるコーティング膜の誠装置を示«要構成図である。

図 2は、同コーティング膜の検査装置における基準データの設^法を説明するための説明図である。

図 3は、この発明の第 2の実施形態におけるコーティング膜の検査装置を示す正面図である。図 4は、同コーティング膜の検査装置の平面図である。

図 5は、この発明の第 3の実施形態におけるコーティング膜の検査装置を示す概要構成図である。

図 6は、同コーティング膜の検査装置において一個のスリットを設ける場合の配置を示す説明図である。

図 7は、同コ一ティング膜の錢装置において二個のスリットを設ける場合の配置を示す説明図である。

図 8は、散乱光の撮像状態を示す説明図である。

図 9は、コーティング膜の劣化した驢器が濡れているときの状態を示す部分断面図であ ο

図 1 0は、同コーティング膜の髓装置において基準データをするための測定装置を示す概略構成図である。

図 1 1は、同コーティング膜の検査装置における基準データの設定方法を説明するための表である。

図 1 2は、図 1 1の表をグラフにした図である。

図 1 3は、コーティング膜の劣化状態を示すための説明図である。発明を実施するための最良の形態

以下、本発明の好適な実施形態について図面を参照しながら説明を行う。

図 1は、この発明によるコーティング膜の觀装置の第 1の餓形態を示しており、この図 1の観装置は、器に施されたコ一ティング膜の膜厚をオフラインにおいて測定するものである。

図 1においてコーティング膜輕装置 1は、びん 4に^ tLを射出する光源ュニット 3と、この光源ユニット 3に接続されての発光光び発光スぺクトル分布が一定となるように光源ユニット 3に安定した電源を供給する安定化電源 2と、びん 4から反射された検査光 Lの反射光 LRを受光するとともにこの反射光 LRを R G B撮像信号 V に変換して出力するカラー C C Dカメラ 5と、このカラー C C Dカメラ 5に接続されて入力される R G B撮像信号 Vに基づ L、てびん 4の表面に形成されたコーティング膜の膜厚を算出する演算ュニット 6とを備えている。

光源ユニット 3は、原検査光 Loを照射する複数の白色光源 3 Aと、白色光源 3 Aから照射された原検査光 Loを拡散して均一な面光源にする拡散板 3 Bとを備えている。この白色光源 3 Aには、スぺクトル分布が平坦で色変化がほぼ一定でありかつ色補正を行う必要がない白色蛍光灯が用いられている。

光源ュニット 3は、さらに、光軸がびん 4のコーティング膜の測定面に対して 3 0〜6 0 ^β の角度になるように検査光 Lを射出するように設定されている。これは、コーティング膜の膜厚の変化による反射光 L Rのスぺクトル分布への影響を確実に計測することができるようにするためである。

演算ユニット 6は、実際の演算と各種制御を行う演算ュニット本体 6 Aと、各種演算結果および制御状態等を表示するディスプレイ 6 Bとを備えている。

次に、上記検査装置 1の動作について説明を行う。

光源ユニット 3の白色光源 3 Aには、安定化電源 2により安定した電源が供給され、白色光源 3 Aは所定の発光スぺクトル分布を有する原検査光 L oを拡散板 3 Bに向かって照 ffる。この拡散板 3 Bは、白色光源 3 Aから照射された原検査光 Loを拡散して均一な面光源とした後、この面光源から検査光 Lをびん 4に向けて照射する。

光 Lが照されたびん 4のコーティング膜では、その膜厚に応じて、された検 Lの吸収、 E または干渉等が行われ、 X†した光 Lとは異なるスぺクトル分布を有する反射光 L Rが生成される。

この場合において、びん 4の表面にコーティング膜が形成されていないとすると、びん 4自体の影響を除けば、光 Lと反射光 L Rとは同じスぺクトル分布を示すことになるが、コーティング膜が施されていることにより、その膜厚が厚くなるほど反射光 L R は青みを帯び、 4 0 nmg で青みが最大となり、さらに腿が厚い場合には^ ^を帯びることになる。上記のように色調変化（スぺクトル分布変化）が生じたびん 4からの反射光 LRは、カラー CCDカメラ 5によって受光され、さらにこのカラー CCDカメラ 5において RGV撮像信号 Vに変換されて演算ユニット 6に出力される。

演算ュニット 6は、カラー CCDカメラ 5から入力される RGB撮像信号 Vに基づいて、演算ュニット本体 6 Aにおいてびん 4の表面に形成されたコ一ティング膜の膜厚の算出を行い、この算出したコーティング膜の膜厚をディスプレイ 6 Bに表示する。

この演算ュニット本体 6 Aにおけるコ一ティング膜の膜厚の算出方法は、以下の通りである。 '；

スぺクトル分布を表現する手法としては様々な手法があるが、以下においては、 J I S Z 8701に規定されている XYZ表色系が用いられる。

図 2に、測定対象であるびん 4の色がアンバーである場合のコーティング膜の膜厚と XYZ表色系における光源色の二刺激値 Xおよび Yとの関係が示されている。

図 2 (a)は、それぞれ膜厚の異なるコーティング膜を他の方法、例えば断面を電子顕微鏡により撮像する等の方法によって予め測定しておき、この膜厚が測定済みのコ一ティング膜に検査光 Lを照射してその反射光 LRから二刺激値 X， Yを求めて、この二刺激値 X， Yを各膜厚ごとに示したものである。

このようにして求められたコーティング膜の膜厚の測定値と二刺激値 X, Yとの関係を、刺激値 Xを横軸にとり刺激値 Yを縦軸にとってグラフに示したものが図 2 (b)である。この図 2 (b)から、コーティング膜の膜厚と二刺激値 X, Yの閧係を示すグラフがほほ直線で近似できることが分かる。

演算ュニット本体 6Aは、図 2 (b)から求められるグラフの近似式に基づいてコーティング膜の膜厚を算出する。すなわち、演算ュニット本体 6 Aは、 J I S Z 8701に示される関係式に基つ、て、カラー CCDカメラ 5から入力される R G B撮像信号 Vから反射光 LRにおける二刺激値 X, Yを求め、この求められた二刺激値 X, Y によって図 2 (b)から求められたグラフの近似式からコーティング膜の膜厚を算出する。そして、上記のようにして算出されたコーティング膜の膜厚は、演算ュニット本体 6 A の制御によってディスプレイ 6 Bに表示される。

図 3および 4は、この発明によるコーティング膜の検査装置の第 2の実施形態を示している。図 3はこの第 2の実施形態における検査装置 1 1の正面図であり、図 4はこの検査装置 1 1の平面図である。

装置 1 1は、壜容器のコーティング膜の膜厚の測定を、上記第 1の実施形態における検査装置 1がオフラインで行うのに対し、生産ライン上（オンライン）で行うようになっているものである。

図 3および 4において、錢装置 1 1は、搬送コンベア 1 6上のびん 1 3に錢光 Lを照 Tる光源ュニット 1 2と、びん 1 3から反射された検査光 Lの反射光 LRを受光するとともにこの反射光 L Rを R G B撮像信号 Viに変換して出力するカラ一 C C Dカメラ 1 4 -1と、同様に光 LRを受光するとともにこの光 LRを R G B撮像信号 V2 に変換して出力するカラー C CDカメラ 1 4 -2と、カラー C C Dカメラ 1 4 -1および 1 4 -2から R GB撮像信号 Viおよび V2力入力されこの入力された R G B撮像信号 Vi ， V₂ に基づいてびん 1 3のコーティング膜の膜厚の算出を行うとともに装置全体の制御を行うコントロールュニット 1 5と、搬送コンベア 1 6上にびん 1 3を所定間隔で供給するインフィーダ 1 7と、びん 1 3が測定位置に到達したことを検出する位置センサ 1 8 とを備えている。

装置 1 1がカラー C C Dカメラを 2台備えているのは、びん 1 3の首部と胴部というように、びん 1 3の複数箇所のコーティング膜を同時に測定することができるようにするためである。

コントロールュニット 1 5は、コーティング膜の膜厚の演算およびその他の各種制御を行うコントロールュニット本体 1 5 Aと、この演算結果や制御状態等を表示するディスプレイ 1 5 Bとを備えている。

上記検査装置 1 1の作動は以下の通りである。

^^象のびん 1 3.は、インフィーダ 1 7によって搬送コンベア 1 6上に所定間隔で供給され、搬送コンベア 1 6によって測定位置の方向に搬送される。そして、位置センサ 1 8によってびん 1 3が測定位置に到達したことが検出されると、この位置センサ 1 8から検出信号がコントロールュニット本体 1 5に出力される。コントロールュニット本体 1 5は、位置センサ 1 8から入力される検出信号によってコ一ティング膜の膜厚の演算を開始する。

光源ュニット 1 2には図示しない安定化電源から安定電源が供給されており、この光源ュニット 1 2からびん 1 3に向かって所定の発光スぺクトル分布を有する ^¾光しが照 Jf される。

この検査光 Lの照射によって、びん 1 3の表面に形成されたコ一ティング膜においてコ一ティング膜のに対応する觀光 Lの吸収、および干渉等の現象力発生し、検査光 Lとは異なるスぺクトル分布を有する反射光 LRが生成される。

このびん 1 3から反射される反射光 L Rは、 2台のカラー C C Dカメラ 1 4 -1および 1 4 -2によって受光され、それぞれ R G B撮像信号 Viおよび V₂に変換されてコントロールュニット 1 5に出力される。

コントロールュニット 1 5は、前述した第 1の実施形態において図 2 ( a ) および ( b ) によって説明したのと同様の方法により、それぞれ R G B撮像信号 Vi および V₂ からびん 1 3のコーティング膜の膜厚を算出する。そして、それぞれのカラー C C Dカメラ毎に算出したコーティング膜の膜厚を、ディスプレイ 1 5 Bに表示する。

以上のように上言装置 1 1は、器の製紅程において、全ての壜容器について的にかつ非接触でコーティング膜の膜厚の測定を行うことができる。これによつて、された器のコーティング膜の信頼性を向上させることができるとともに、人手によらず自動的に膜厚の測定が行われるので、膜厚の測定を高速で行うことができる。なお、上記の各難形態においては、スぺクトル分布を J ¾するために ΧΥΖ表色系を用いているが、スぺクトル分布を定量的に判別できるものであれば、他の手法を用いることもできる。

図 5は、この発明によるコーティング膜の^!装置の第 3の難形態を示しており、この図 5の検査装置は、壜容器に形成されたコーティング膜の劣化状態を検査するものである。

図 5において、装置 2 1は、検査対象であるびん 2 2を搬送するコンベア 2 3の側方に配置され 3 owmgの蛍 ¾IT等の図示しない光源を内蔵するとともにコンベア 2 3側に設けられたスリット Sから検査光 Lを射出する検査光射出ュニット 2 4と、コンベア 2 3を挟んで^ t†出ュニット 2 4と反対側の位置でかつ観出ュニット 2 4力、ら射出された^ «;Lのうちびん 2 2のコーティング膜を透過して散乱された散乱光のみを ¾する位置に配置された C C Dカメラ等の撮像ュニット 2 5と、この撮像ュニット 2 5 から出力される撮像信号 Vが入力されてこの撮像信号 Vに基づいてびん 2 2に形成されたコーティング膜の劣化状態を検出するコントロールュニット 2 7と、このコントロールュニット 2 7における検出結果および撮像ュニット 2 5からの撮像信号 Vに基づく撮像画像を表示するディスプレイ 2 6と、びん 2 2が^ ¾位置に到達したことを検出して位置検出信号 Dを出力する位置センサ 2 8とを備えている。

錢舰出ュニット 2 4のスリット Sが形成されて、るコンベア 2 3側の面は、黒色に飽されている。これは、撮像ユニット 2 5によってびん 2 2を撮像した際に、散乱光の散乱状態をより顕著に検出できるようにするためである。

次に、図 6および 7を参照しながら、光 Lの射出方向と撮像ュニット 2 5の配置関係について説明を行う。

図 6には、スリツト Sがー個設けられている場合の配置例が示されている。

この図 6において、.'光源からスリット Sを通って觀対象であるびん 2 2に照 J†された錢光 Lのびん 2 2の^ 後のは、

2 2をする際に tk¾Lを生じない場合には、で示すように、びん 2 2に A tする前の^ MLの光路と直線状になるが、びん 2 2を透過する際にが生じると、赚で示すように、びん 2 2に λ ίΐ" る前の検査光 Lの光路に対して屈曲した光路となる。

撮像ュニット 2 5は、 cMの:) fc½ (¾mで示される上に配置されている。これによって、びん 2 2を透過する際に検査光 Lに散乱が生じた場合にのみ撮像ユニット 2 5 に觀光 Lの光が λ#され、びん 2 2をする際に ^«;Lに滅が生じなかった場合には、撮像ュニット 2 5に検査光 Lの透過光が入射されることはない。

図 7には、スリット Sが複数個（図の例では二個）設けられている場合の配置例が示されている。

この例において、二個のスリット Sは、図 7 (b ) に示されるように、撮像ュニット 2 5の光軸を含みびん 2 2の中心を通る直線 L iに対して所定の角度 0をなすとともにびん 2 2の中心を通る二本の直線 L 2 , L2 ' が検査光射出ユニット 2 4の前面壁と交差する位置に、それぞれ形成されている。

上記において、第 1の直線 L iのうちびん 2 2と撮像ュニット 2 5の間の区間は、スリット Sからびん 2 2に照された光 Lに散乱が生じた場合のその散乱光の光路を示し、また二本の直線 L2 , L2 ' は、検査光 Lがびん 2 2を透過する際に散乱が生じな I、場合のその検査光 Lの光路を示すことになる。

ここで、角度は、撮像ユニット 2 5が二本のそれぞれの直線 L2, L2 ' 上に位置しないような角度に設定される。

以上のような撮像ユニット 2 5および各スリツト Sの配置によって、図 7 ( a ) に示されるように、各スリツト Sから射出された光 Lが; ^対象であるびん 2を透過する際に、力性じる場合には、その散乱光の光路が、灘で示されるように、翻前の光路に対して屈曲して撮像ュニット 2 5の光軸に重なり、これによつて^ ¾ Lの散乱光力像ユニット 2 5に入射されることになる。

一方、各スリット Sから射出された観光 Lが錢対象であるびん 2を透過する際に、航が生じない場合には、その透過光の光路が、実線で示されるように、透過前の^ t Lの光路と直線状になり、これによつて検査光 Lの透過光力像ユニット 2 5に入射されることはない。

上記の例において複数のスリット Sを設けたのは、びん 2 2に対して検 «;Lを複数箇所から照 Ji "るようにすることにより^ ¾が可能なびんの位置範囲を広げることができるためである。このようにスリット Sを複数個設けることによって、： ^対象であるびんの位置精度があまり要求されないようにすることが出来、これによつて装置の構成を簡易にすることが出来る。

上記の検査装置 2 1の検査原理は、以下の通りである。

すなわち、図 1 3において説明したように、壜容器の表面に形成されたコーティング膜が繰り返しの洗浄等によって劣化して、コーティング膜に所謂ピンホールが形成されると、光が壜容器を透過する際にピンホールによって散乱されることになる。そして、コ一ティング膜に形成されたピンホールの径カ呔きくなればなるほど、散乱光の光量は多くなる。

猶装置 2 1は、このコーティング膜のピンホールの径（コーティング膜の劣化状態に対応）と ¾^器を透過した光の散乱光の光量との関係を予めコントロールュニット 2 7に記憶させておいて、検出された検査対象のびん 2 2における散乱光の光量と対比することにより、コーティング膜の劣化の状態の検査を行う。

次に、以上のような検査原理に基ずく検査装置 2 1の作動の説明を行う。

舰出ュニット 2 4は、コンベア 2 3側に設けられたスリット Sから錢光 Lを撮像ュニット 2 5の方向に照射る。そして、この状態でコンベア 2 3によって錢対象のびん 2 2が搬送されてくると、検査光 Lがびん 2 2に照射される。

そして、位置センサ 2 8によってびん 2 2が^^位置光 Lがびん 2 2の中心を通る位置）に到達したことが検出されると、位置センサ 2 8から位置検出信号 Dがコントロールュニット 2 7に出力される。コントロールュニット 2 7は、この位置検出信号 Dの入力によって、コーティング膜の劣化状態の検出を開始する。

びん 2 2に Λ ίした賤光 Lは、びん 2 2を透過する際に、コーティング膜の劣化状態 (ピンホールの形成状態）に応じて散乱光となり、この散乱光が撮像ュニット 2 5に λ!ί される。

図 8には、このとき撮像ユニット 2 5によって撮像された散乱光の撮像画面が示されている。

この図 8において、（Α— 1 )ないし（Α— 3 ) はびん 2 2の表面が乾燥状態にある場合の撮像画面の模式図であり、（B— 1 ) 〜（B— 3 ) はびん 2 2の表面が濡れ状態にある場合の撮像画面の模式図である。

図 8 (A- 1 ) および（B - 1 ) は、コーティング膜が劣化していないか劣化 ¾gが低い場合の撮像画面であり、画面の中央部分すなわち図中に十字で示す位置（中心）の近傍には、散乱光はほとんど観察されない。

図 8 (A— 2 ) および（B—2 ) は、コーティング膜の劣化が中程度である場合の撮像画面であり、図 8 (A - 2 ) においては画面の中央部分に散乱光が観察される力びん 2 2が濡れ状態にある場合の図 8 (B— 2 ) においては、画面の中央部分には散乱光は観察されない。これは、図 9に示されるように、コーティング膜に形成されたピンホールが水によってマスクされた状態になり、ピンホールの径が小さくなるのと同様の状態になつて、散乱光が減少するためである。

図 8 (A- 3 ) および（B— 3 ) は、さらにコーティング膜の劣化が進んでピンホールの径が廃棄処分の対象となる程度にまで大きくなった場合の撮像画面であり、この場合には、びん 2 2の表面が乾燥状態にある場合と濡れ状態にある場合の何れにおいても、画面の中央部分に散乱光が観察される。

以上のように、コ一ティング膜の劣化のが高くなると、撮像画面における散乱光の検出部分が広くなる。

コントロールユニット 2 7は、位置センサ 2 8からの位置検出信号 Dが入力されると、撮像ュニット 2 5から入力される撮像信号 Vを取り込んで、この撮像信号 Vの二値化を行い、さらにこの二値化された撮像信号に基づいて散乱光の分布分析等の各種演算を行つて、検査データを算出する。

そして、コントロールュニット 2 7は、得られた輕データを、予め記憶している辨データ（後で詳 ¾Tする）と Jt^することによって、 ^ ¾対象のびん 2 2におけるコーティング膜の劣化の状態を検出する。

このコーティング膜の検出結果およびそのときの散乱光の撮像画像は、ディスプレイ 2 6に表示される。そして、検出の結果、コーティング膜の劣化の状態が、図 8 (A— 3 ) および（B— 3 ) に示される gjgに進んでいる場合には、コントロールユニット 2 7 は、コンベア 2 3の下流側に設けられた図示しないリジェクト装置にリジェクト信号 Rを出力して、そのびん 2 2を排除する。

以上のように、赚装置 2 1によれば、光が ¾ ^器を透過する際の散乱光のや分布等に基づいて、コーティング膜がミクロンオーダで劣化することによって生じるびん 2 2 の外観の損傷を容易かつ客観的に把握することにより、コーティング膜のを、果のばらつきを生じることなく自動的にかつ連続的に行なうことができる。

コントロールュニット 2 7に予め記憶させておく上述の基準データは、以下の方法によって求めることが出来る。

最初に、検査対象である壜容器のコーティング膜の劣化の程度を、目視による観察によって 6段階（グレード 0〜5 ) に分類する。すなわち、コーティング膜が劣化していない場合をグレード 0とし、コーティング膜の劣化が壜容器を廃棄する程度にまで進んでいる場合をグレード 5として、その間の劣化の状態を 5段階に区分する。

そして、この器の劣化の状態を数値化するために、グレード 0の壜容器の劣化の状態の数値を 5 0に、グレード 5の壜容器の劣化の状態の数値を 1 0 0にそれぞれ設定する。

目視により分類された器を各グレードごとに複数本用意しておき、それぞれの驟器を図 1 0に示されるような測定装置によって撮像し、その撮像画像を上記劣化状態の数値化を行った器の撮像画像と比較することによって、それぞれの器の劣 < 態を示す数値を算出する。

この測定結果の各グレードごとの平均値を示したのが図 1 1であり、図 1 2はこの図 1 1の表をグラフにしたものである。

このようにして求められた壜容器の劣化状態を示す数値が、基準データとしてコントロールュニット 2 7に記憶され、コントロールュニット 2 7は、前述したように対象のびん 2 2を撮像することによって得られる撮像データをこのデータと比較することによって、その^ ί象のびん 2 2がどのグレードに属するか否かを判別して、コーティング膜の劣化の状態を検出する。そして、予め設定されたグレード以上のびん 2 2を不可とする。

なお、図 1 1および 1 2には、壜容器の表面が乾いている場合と濡れている場合の測定結果が、それぞれ示されている。

この器の表面が乾燥状態にある場合と濡れ状態にある場合との測定値を比較してみると、グレード 0に属する^器については測定値にほとんど差がないが、グレード 1〜グレード 5に属する驢器については、乾燥状態の壜容器の方が濡れ状態の壜容器よりもその測定値が 1 1〜： I 4だけ大きいことが分かる。

これによつて、例えばコントロールュニット 2 7に乾燥状態にある驟器についての基準データを記憶しておき、さらに上記のような乾燥状態と濡れ状態における測定値の差の数値を補正値として記憶しておくことにより、例えば洗浄直後の濡れ状態にある器についても高精度の検査が可能になる。

図 1 0の測定装置における測定条件は、以下の通りである。

すなわち、光源には蛍光燈が用いられ、スリット Sは 2個設けられ、スリット間隔が 5 0 mm. スリット幅が 8 mm、スリット Sとびん 2 2との距離が 2 5 0 mm、びんと撮像ュニットであるカラー C C Dカメラ 2 5との距離が 3 0 0 mmに設定される。そして、検査対象には茶色のビールびんが用いられる。

なお、鶴装置 2 1による觀は、鮮データを対象の器の色に対応するものに変更するだけで、茶色の驢器に限らず、白色や iifeの驟器についても行うことがでさる。産業上の利用可能性

以上のように、本発明にかかるコーティング膜の猫装置は、近年、ビーノ等の驟器につ、てその軽量化のために形成されるようになつたコーティング膜の膜厚ゃ劣ィ態を錢するのに用いられ、コ一ティング膜が規定のを有していなかったり劣化することによって、所定の S娘を保持できない器ゃコーティング膜の劣化によって外観の損傷が大き t、壜容器が出荷されるのを防止するのに有用である。

Claims

請求の範囲

1. 容器の表面に形成されたコ一ティング膜の膜厚または劣化の状態を輕するためのコーティング膜の検査装置であって、

表面にコーティング膜が形成された容器に検査光を照 Tる検査光照射手段と、この^ t照 J†手段から照射された^ ¾光の容器からの ^ ί光または容器を^^した透過光を受光するとともにこの光または透過光を撮像信号に変換して出力する撮像手段と、

この撮像手段から出力される撮像信号を入力してこの撮像信号が示す撮像データを予め記憶しているデータと Jt^することにより容器に形成されているコーティング膜の膜厚または劣化の状態を検出する演算手段と、

を備えていることを特徴とするコーティング膜の検査装置。

2. 前記検査光照射手段が所定のスぺクトル分布を有する検査光を照射し、

前記撮像手段が検査光の容器からの反射光を受光する位置に配置されており、 ill己 ¾ ^データが予めコーティング膜の膜厚に対応して計測された »スぺクトル分布であり、

編己演算手段カ像手段が受光した反射光のスぺクトル分布と基準スぺクトル分布とを対比することによって容器のコーティング膜の膜厚を算出する、

請求の範囲第 1項に記載のコーティング膜の検査装置。

3. 前記検査光照射手段の容器のコーティング膜に対する検査光の照射角度が 3 0 ' 〜6 0 ° である請求の範囲第 2項に記載のコーティング膜の検査装置。

4. ilS¾ ^照手段が面光源であり、照 J†される^ «の色が略一定となるように設定されて、る請求の範囲第 2項に記載のコーティング膜の検査装置。

5. «¾iされてきた容器か定の位置に位置されたことを検出して検出信号を出力する位置検出手段をさらに備え、

β演算手段が位置検出手段から出力される検出信号を入力した際に n己撮像手段から出力される撮像信号を取り込んでコーティング膜の膜厚の算出を行う請求の範囲第 2項に記載のコーティング膜の検査装置。

6. ΙίΠ己撮像手段か光照射手段から照射される光が容器を透過する際に発生する散乱光を受光する位置に配置されており、

tin己 ¾ ^データが予めコーティング膜の劣化状態に対応してされたコーティング膜の劣化状態を示すデータであり、

雄己演算手段が、撮像手段が受光した散乱光の量に基ずくデータと基準データとを対比することによって容器のコーティング膜の劣化状態を検出する、

請求の範囲第 1項に記載のコーティング膜の検査装置。

7. ΙΐίΙ己撮像手段が、 ΙίίΙ己散乱光のみを受光し散乱を生じないで容器を ¾iした^ 光は «;しな、位置に配置されて t、る請求の範囲第 6項に記載のコーティング膜の検査装置。

8. 前記検査 ¾†出手段が、光源と、この光源と容器の検査位置との間に配置されたスリットを有し光源から照 J†される光をスリットを通すことによってスリット状の^ ¾光にするスリット部材とを有している請求の範囲第 6項に記載のコーティング膜の検査装置。

9. iff己スリット部材力数のスリットを有している請求の範囲第 8項に記載のコーティング膜の検査装置。

1 0. 搬送されてきた容器か定の^ i置に位置されたことを検出して検出信号を出力する位置検出手段をさらに備え、

ri己演算手段が位置検出手段から出力される検出信号を入力した際に ri己撮像手段から出力される撮像信号を取り込んでコーティング膜の劣 { 態の検出を行う請求の範囲第 6 項に記載のコーティング膜の検査装置。

1 1. 容器の表面に形成されたコーティング膜の膜厚または劣化の状態を^ ¾するためのコーティング膜の検査方法であって、

表面にコーティング膜が形成されている容器に検査光を照 fTる検査光照射工程と、この^) t照 Ji工程にぉ、て照 J†された^^の容器からの光または容器をした ¾ϋ光を撮像手段によって受光して撮像信号に変換する撮像工程と、この撮像工程におゝて変換された反射光または透過光の撮像信号の撮像データを予め設定されている ¾^データと対比することによって容器に形成されているコーティング膜の膜厚または劣化の状態を検出する検出工程と、

からなることを特徵とするコーティング膜の検査方法。

1 2. 前記検査光照射工程において検査光を所定のスぺクトル分布を有する光とし、己撮紅程にぉ、て撮像手段を^ «の容器からの光を受光する位置に配置し、 riB^出工程においてデータを予めコーティング膜の膜厚に対応して計測された基準スぺクトル分布とし撮像信号が示す^†光のスぺクトル分布を基準スぺクトル分布に対比することによって容器のコーティング膜の膜厚を算出する、

請求の範囲第 1 1項に記載のコーティング膜の検査方法。

1 3. W ^¾光照射工程において、検査光の容器のコーティング膜に対する照射角度を 3 0° 〜6 0° にする請求の範囲第 1 2項に記載のコ一ティング膜の検査方法。

1 4. 編^光照 JO!程において、 ^ g光の光源を面光源とし、この面光源から照される検査光の色温度を略一定にする請求の範囲第 1 2項に記載のコーティング膜の検査方法。

1 5. 顧出工程において、搬送されてきた容器か定の錢位置に位置されたことを検出し、容器か定の^ ¾位置に位置されたことが検出された際に撮像手段から出力される撮像信号に基づいてコーティング膜の膜厚の算出を行う請求の範囲第 1 2項に記載のコーティング膜の検査方法。

1 6. ¾?1己撮紅程において撮像手段を観光が容器を^ ϋする際に発生する散乱光を受光する位置に配置し、

ΙίίΙβ^出工程においてデータを予めコーティング膜の劣ィ！ ^態に対応して計測された光の量を示すデータとし撮像信号が示す ¾¾ι光の量を示すデータと »データとを対比することによつて容器のコーティング膜の劣化状態を検出する、

請求の範囲第 1 1項に記載のコーティング膜の検査方法。

1 7. iifS ^光照工程において、 £を光源と容器の觀位置との間に配置したスリットを通すことによってスリット状にして照射する請求の範囲第 1 6項に記載のコーティング膜の検査方法。

1 8. 光照工程において、スリットを複数設ける請求の範囲第 1 7項に言識のコーティング膜の検査装置。

1 9. till己撮像工程において、撮像手段を散乱光のみを受光し容器を散乱しないで透過した検査光は受光しない位置に配置する請求の範囲第 1 6項に記載のコーティング膜の検査方法。

2 0. 出工程において、搬送されてきた容器か定の錢位置に位置されたことを検出し、容器か定の位置に位置されたことが検出された際に撮像手段から出力される撮像信号に基づいてコーティング膜の劣ィ! ^態の検出を行う請求の範囲第 1 7項に記載のコーティング膜の方法。