JPH08338815A - びん検査装置及びびん検査方法 - Google Patents
びん検査装置及びびん検査方法Info
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- JPH08338815A JPH08338815A JP14775295A JP14775295A JPH08338815A JP H08338815 A JPH08338815 A JP H08338815A JP 14775295 A JP14775295 A JP 14775295A JP 14775295 A JP14775295 A JP 14775295A JP H08338815 A JPH08338815 A JP H08338815A
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 客観的な基準でコーティングびんの外観劣化
を判別し、かつ、検査速度を向上させる。 【構成】 検査光射出手段４は、びん２を透過させるべ
く検査光Ｌを射出し、撮像手段５は、検査光Ｌのうち、
コーティング膜の劣化に起因する散乱光を撮像して撮像
信号Ｖを出力し、判別手段７は撮像信号Ｖ及び予め設定
した基準データに基づきコーティング膜の劣化状態を判
別するので、コーティング膜の劣化に起因する散乱光の
光量、分布等に基づいてコーティング膜のミクロンオー
ダの劣化状態に起因する外観劣化を容易、かつ、客観的
に把握して自動的に検査を行なえる。また、搬送手段３
はびん２を検査位置まで搬送し、位置検出手段８は、び
ん２が検査位置に到達したことを検出し、検出信号Ｄを
出力し、判定手段７は、検出信号Ｄの出力タイミングに
応じて良否判定を行なうので、より確実なタイミングで
検査を行なえるとともに、連続的に検査を行なうことに
より検査速度を向上できる。
を判別し、かつ、検査速度を向上させる。 【構成】 検査光射出手段４は、びん２を透過させるべ
く検査光Ｌを射出し、撮像手段５は、検査光Ｌのうち、
コーティング膜の劣化に起因する散乱光を撮像して撮像
信号Ｖを出力し、判別手段７は撮像信号Ｖ及び予め設定
した基準データに基づきコーティング膜の劣化状態を判
別するので、コーティング膜の劣化に起因する散乱光の
光量、分布等に基づいてコーティング膜のミクロンオー
ダの劣化状態に起因する外観劣化を容易、かつ、客観的
に把握して自動的に検査を行なえる。また、搬送手段３
はびん２を検査位置まで搬送し、位置検出手段８は、び
ん２が検査位置に到達したことを検出し、検出信号Ｄを
出力し、判定手段７は、検出信号Ｄの出力タイミングに
応じて良否判定を行なうので、より確実なタイミングで
検査を行なえるとともに、連続的に検査を行なうことに
より検査速度を向上できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、びん検査装置及びびん
検査方法に係り、特にリターナブル（returnable; 再使
用）性を有するびん（以下、リターナブルびんとい
う。）の外観検査を行なうびん検査装置及びびん検査方
法に関する。
検査方法に係り、特にリターナブル（returnable; 再使
用）性を有するびん（以下、リターナブルびんとい
う。）の外観検査を行なうびん検査装置及びびん検査方
法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来よりビールびん等のように飲料用び
んのうちリターナブルびんは、使用後に回収され、びん
洗浄機により熱アルカリ溶液（例えば、８０℃の４％苛
性ソーダ水溶液）で洗浄することにより十数回程度繰り
返し使用された後、廃棄処分とされていた。
んのうちリターナブルびんは、使用後に回収され、びん
洗浄機により熱アルカリ溶液（例えば、８０℃の４％苛
性ソーダ水溶液）で洗浄することにより十数回程度繰り
返し使用された後、廃棄処分とされていた。
【０００３】ところで、出願人は、リターナブルびんの
繰り返し使用回数を向上させるべく、熱アルカリ溶液に
より繰り返し使用しても、剥がれないようなコーティン
グ膜（ＳｎＯ2 コーティング膜、厚さ約１００ｎｍ）を
形成したリターナブルびんを開発し、出願するとともに
（特開平３−１３１５４７号参照）、実際に使用してい
る。
繰り返し使用回数を向上させるべく、熱アルカリ溶液に
より繰り返し使用しても、剥がれないようなコーティン
グ膜（ＳｎＯ2 コーティング膜、厚さ約１００ｎｍ）を
形成したリターナブルびんを開発し、出願するとともに
（特開平３−１３１５４７号参照）、実際に使用してい
る。
【０００４】このＳｎＯ2 コーティング膜を用いたリタ
ーナブルびんは従来のコーティングしたびんと比較して
その再使用回数は、飛躍的に向上し、３０〜４０回程度
となった。
ーナブルびんは従来のコーティングしたびんと比較して
その再使用回数は、飛躍的に向上し、３０〜４０回程度
となった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記コ
ーティングを施したリターナブルびんにおいても、回収
後の洗浄を繰り返すうちにコーティング膜が劣化し、表
面が摺りガラス状となり外観上問題となっていた。
ーティングを施したリターナブルびんにおいても、回収
後の洗浄を繰り返すうちにコーティング膜が劣化し、表
面が摺りガラス状となり外観上問題となっていた。
【０００６】より具体的には、まず、図９（ａ）に示す
ように、ＳｎＯ2 コーティング膜の表面に直径２〜３μ
ｍのピンホールが生じる。この生じたピンホールは熱ア
ルカリ溶液により繰り返し洗浄が行なわれることによ
り、図９（ｂ）に示すように、深く大きく（直径１０μ
ｍ程度）成長する。
ように、ＳｎＯ2 コーティング膜の表面に直径２〜３μ
ｍのピンホールが生じる。この生じたピンホールは熱ア
ルカリ溶液により繰り返し洗浄が行なわれることによ
り、図９（ｂ）に示すように、深く大きく（直径１０μ
ｍ程度）成長する。
【０００７】この成長したピンホールにより、コーティ
ングびんを透過する光は散乱させられることとなり、劣
化前は青色がかった金色を呈していたコーティング膜
が、劣化が進むにつれ次第に銀色を帯びて透明度が低下
する。
ングびんを透過する光は散乱させられることとなり、劣
化前は青色がかった金色を呈していたコーティング膜
が、劣化が進むにつれ次第に銀色を帯びて透明度が低下
する。
【０００８】さらに劣化が進むと、びん表面は摺りガラ
ス状になり、びん全体あるいはびんの一部の光沢が失わ
れて白っぽく見えるようになる。そこで、従来において
は、目視検査によりコーティング膜の劣化を判別し、劣
化の程度が激しいびんについては廃棄するようにしてい
た。
ス状になり、びん全体あるいはびんの一部の光沢が失わ
れて白っぽく見えるようになる。そこで、従来において
は、目視検査によりコーティング膜の劣化を判別し、劣
化の程度が激しいびんについては廃棄するようにしてい
た。
【０００９】上記従来の目視検査においては、劣化の程
度を判別するための明確な指標があったわけではなく、
主観的に判断しており、判別結果に個人差を生じてしま
うという問題点があった。
度を判別するための明確な指標があったわけではなく、
主観的に判断しており、判別結果に個人差を生じてしま
うという問題点があった。
【００１０】また人手に頼っているため、検査速度が制
限されてしまうという問題点があった。そこで、本発明
の目的は、客観的な基準でコーティングびんの外観劣化
を判別できるとともに、検査速度を向上させることが可
能なびん検査装置及びびん検査方法を提供することにあ
る。
限されてしまうという問題点があった。そこで、本発明
の目的は、客観的な基準でコーティングびんの外観劣化
を判別できるとともに、検査速度を向上させることが可
能なびん検査装置及びびん検査方法を提供することにあ
る。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項１記載の発明は、コーティング膜が形成され
たびんの前記コーティング膜の劣化を検査するびん検査
装置において、前記びんを透過させるべく検査光を射出
する検査光射出手段と、前記検査光のうち、前記コーテ
ィング膜の劣化に起因する散乱光を撮像して撮像信号を
出力する撮像手段と、前記撮像信号及び予め設定した基
準データに基づいて、前記コーティング膜の劣化状態を
判別する判別手段と、を備えて構成する。
め、請求項１記載の発明は、コーティング膜が形成され
たびんの前記コーティング膜の劣化を検査するびん検査
装置において、前記びんを透過させるべく検査光を射出
する検査光射出手段と、前記検査光のうち、前記コーテ
ィング膜の劣化に起因する散乱光を撮像して撮像信号を
出力する撮像手段と、前記撮像信号及び予め設定した基
準データに基づいて、前記コーティング膜の劣化状態を
判別する判別手段と、を備えて構成する。
【００１２】請求項２記載の発明は、請求項１記載の発
明において、前記判別手段の判別結果及び予め設定した
良品に対応する基準データに基づいて、前記びんの良否
判定を行なう判定手段を備えて構成する。
明において、前記判別手段の判別結果及び予め設定した
良品に対応する基準データに基づいて、前記びんの良否
判定を行なう判定手段を備えて構成する。
【００１３】請求項３記載の発明は、請求項１または請
求項２記載の発明において、前記撮像手段は、前記検査
光の前記びんの透過光が入射しない位置、かつ、前記コ
ーティング膜の劣化に伴う前記検査光の散乱光が入射す
る位置に配置するように構成する。
求項２記載の発明において、前記撮像手段は、前記検査
光の前記びんの透過光が入射しない位置、かつ、前記コ
ーティング膜の劣化に伴う前記検査光の散乱光が入射す
る位置に配置するように構成する。
【００１４】請求項４記載の発明は、請求項１乃至請求
項３のいずれかに記載の発明において、前記検査光射出
手段は、原検査光を射出する光源と、前記原検査光をス
リットを通過させて前記検査光とするスリット手段と、
を備えて構成する。
項３のいずれかに記載の発明において、前記検査光射出
手段は、原検査光を射出する光源と、前記原検査光をス
リットを通過させて前記検査光とするスリット手段と、
を備えて構成する。
【００１５】請求項５記載の発明は、請求項４記載の発
明において、前記スリット手段は、複数の前記スリット
を備えて構成する。請求項６記載の発明は、請求項１乃
至請求項５記載の発明において、前記びんを検査位置ま
で搬送する搬送手段と、前記びんが前記検査位置に到達
したことを検出し、検出信号を出力する位置検出手段を
有し、前記判定手段は、前記検出信号の出力タイミング
に応じて取り込んだ前記撮像信号に基づいて前記良否判
定を行なうように構成する。
明において、前記スリット手段は、複数の前記スリット
を備えて構成する。請求項６記載の発明は、請求項１乃
至請求項５記載の発明において、前記びんを検査位置ま
で搬送する搬送手段と、前記びんが前記検査位置に到達
したことを検出し、検出信号を出力する位置検出手段を
有し、前記判定手段は、前記検出信号の出力タイミング
に応じて取り込んだ前記撮像信号に基づいて前記良否判
定を行なうように構成する。
【００１６】請求項７記載の発明は、コーティング膜が
形成されたびんの前記コーティング膜の劣化を検査する
びん検査方法において、前記びんを透過させるべく検査
光を射出する検査光射出工程と、前記検査光のうち、前
記コーティング膜の劣化に起因する散乱光を撮像して撮
像信号を出力する撮像工程と、前記撮像信号及び予め設
定した基準データに基づいて、前記コーティング膜の劣
化状態を判別する判別工程と、を備えて構成する。
形成されたびんの前記コーティング膜の劣化を検査する
びん検査方法において、前記びんを透過させるべく検査
光を射出する検査光射出工程と、前記検査光のうち、前
記コーティング膜の劣化に起因する散乱光を撮像して撮
像信号を出力する撮像工程と、前記撮像信号及び予め設
定した基準データに基づいて、前記コーティング膜の劣
化状態を判別する判別工程と、を備えて構成する。
【００１７】請求項８記載の発明は、請求項７記載の発
明において、前記判別工程における判別結果及び予め設
定した良品に対応する基準データに基づいて、前記びん
の良否判定を行なう判定工程を備えて構成する。
明において、前記判別工程における判別結果及び予め設
定した良品に対応する基準データに基づいて、前記びん
の良否判定を行なう判定工程を備えて構成する。
【００１８】請求項９記載の発明は、請求項７または請
求項８記載の発明において、前記びんを検査位置まで搬
送する搬送工程と、前記びんが前記検査位置に到達した
ことを検出し、検出信号を出力する位置検出工程を有
し、前記判定工程は、前記検出信号の出力タイミングに
応じて取り込んだ前記撮像信号により前記良否判定を行
なうように構成する。
求項８記載の発明において、前記びんを検査位置まで搬
送する搬送工程と、前記びんが前記検査位置に到達した
ことを検出し、検出信号を出力する位置検出工程を有
し、前記判定工程は、前記検出信号の出力タイミングに
応じて取り込んだ前記撮像信号により前記良否判定を行
なうように構成する。
【００１９】
【作用】請求項１記載の発明によれば、検査光射出手段
は、びんを透過させるべく検査光を射出する。
は、びんを透過させるべく検査光を射出する。
【００２０】これにより撮像手段は、検査光のうち、コ
ーティング膜の劣化に起因する散乱光を撮像して撮像信
号を判別手段に出力する。この結果、判別手段は、撮像
信号及び予め設定した基準データに基づいて、コーティ
ング膜の劣化状態を判別する。
ーティング膜の劣化に起因する散乱光を撮像して撮像信
号を判別手段に出力する。この結果、判別手段は、撮像
信号及び予め設定した基準データに基づいて、コーティ
ング膜の劣化状態を判別する。
【００２１】請求項２記載の発明によれば、請求項１記
載の発明の作用に加えて、判定手段は、判別手段の判別
結果及び予め設定した良品に対応する基準データに基づ
いて、びんの良否判定を行なう。
載の発明の作用に加えて、判定手段は、判別手段の判別
結果及び予め設定した良品に対応する基準データに基づ
いて、びんの良否判定を行なう。
【００２２】請求項３記載の発明によれば、請求項１ま
たは請求項２記載の発明の作用に加えて、撮像手段は、
検査光のびんの透過光が入射しない位置、かつ、コーテ
ィング膜の劣化に伴う検査光の散乱光が入射する位置に
配置されているので、コーティング膜の劣化に伴う検査
光の散乱光以外の透過光の影響を受けずに検査を行なえ
る。
たは請求項２記載の発明の作用に加えて、撮像手段は、
検査光のびんの透過光が入射しない位置、かつ、コーテ
ィング膜の劣化に伴う検査光の散乱光が入射する位置に
配置されているので、コーティング膜の劣化に伴う検査
光の散乱光以外の透過光の影響を受けずに検査を行なえ
る。
【００２３】請求項４記載の発明によれば、請求項１乃
至請求項３のいずれかに記載の発明の作用に加えて、検
査光射出手段の光源は、原検査光を射出し、スリット手
段は、原検査光をスリットを通過させて検査光とする。
至請求項３のいずれかに記載の発明の作用に加えて、検
査光射出手段の光源は、原検査光を射出し、スリット手
段は、原検査光をスリットを通過させて検査光とする。
【００２４】従って、スリットにより検査光の不要な拡
散を抑制して、コーティング膜の劣化に伴う検査光の散
乱光以外の透過光の影響を低減することができる。請求
項５記載の発明によれば、請求項４記載の発明の作用に
加えて、スリット手段は、複数のスリットを備えている
ので、びんの位置精度を低くすることが可能となり、よ
り容易に検査装置を構築できる。
散を抑制して、コーティング膜の劣化に伴う検査光の散
乱光以外の透過光の影響を低減することができる。請求
項５記載の発明によれば、請求項４記載の発明の作用に
加えて、スリット手段は、複数のスリットを備えている
ので、びんの位置精度を低くすることが可能となり、よ
り容易に検査装置を構築できる。
【００２５】請求項６記載の発明によれば、請求項１乃
至請求項５記載の発明の作用に加えて、搬送手段はびん
を検査位置まで搬送する。これと並行して位置検出手段
は、びんが検査位置に到達したことを検出し、検出信号
を出力する。
至請求項５記載の発明の作用に加えて、搬送手段はびん
を検査位置まで搬送する。これと並行して位置検出手段
は、びんが検査位置に到達したことを検出し、検出信号
を出力する。
【００２６】これにより判定手段は、検出信号の出力タ
イミングに応じて取り込んだ撮像信号に基づいて良否判
定を行なう。請求項７記載の発明によれば、検査光射出
工程は、びんを透過させるべく検査光を射出する。
イミングに応じて取り込んだ撮像信号に基づいて良否判
定を行なう。請求項７記載の発明によれば、検査光射出
工程は、びんを透過させるべく検査光を射出する。
【００２７】これと並行して撮像工程は、検査光のう
ち、コーティング膜の劣化に起因する散乱光を撮像して
撮像信号を出力する。これらの結果、判別工程は、撮像
信号及び予め設定した基準データに基づいて、コーティ
ング膜の劣化状態を判別する。
ち、コーティング膜の劣化に起因する散乱光を撮像して
撮像信号を出力する。これらの結果、判別工程は、撮像
信号及び予め設定した基準データに基づいて、コーティ
ング膜の劣化状態を判別する。
【００２８】請求項８記載の発明によれば、請求項７記
載の発明の作用に加えて、判定工程は、判別工程におけ
る判別結果及び予め設定した良品に対応する基準データ
に基づいて、びんの良否判定を行なう。
載の発明の作用に加えて、判定工程は、判別工程におけ
る判別結果及び予め設定した良品に対応する基準データ
に基づいて、びんの良否判定を行なう。
【００２９】請求項９記載の発明によれば、請求項７ま
たは請求項８記載の発明の作用に加えて、搬送工程は、
びんを検査位置まで搬送する。これと並行して位置検出
工程は、びんが検査位置に到達したことを検出し、検出
信号を出力する。
たは請求項８記載の発明の作用に加えて、搬送工程は、
びんを検査位置まで搬送する。これと並行して位置検出
工程は、びんが検査位置に到達したことを検出し、検出
信号を出力する。
【００３０】この結果、判定工程は、検出信号の出力タ
イミングに応じて取り込んだ撮像信号により良否判定を
行なう。
イミングに応じて取り込んだ撮像信号により良否判定を
行なう。
【００３１】
【実施例】次に図面を参照して本発明の好適な実施例を
説明する。図１にびん検査装置の概要構成図を示す。
説明する。図１にびん検査装置の概要構成図を示す。
【００３２】びん検査装置１は、検査対象であるびん２
を搬送するコンベア３と、３０Ｗ程度の蛍光灯等の図示
しない光源を内蔵し、コンベア３側に設けられたスリッ
トＳから検査光Ｌを射出する検査光射出ユニット４と、
検査光射出ユニット４から射出された検査光Ｌのうち、
びん２のコーティング膜により散乱された散乱検査光を
撮像し、撮像信号Ｖを出力するＣＣＤカメラ等の撮像ユ
ニット５と、撮像信号Ｖが入力され、各種演算を行なう
ことにより、検査対象のびん２の良品、不良品を判別
し、リジェクト信号Ｒを図示しないリジェクト装置に出
力するとともに、判別結果並びに撮像信号Ｖに基づく撮
像画像をディスプレイ６に表示するコントロールユニッ
ト７と、びん２が測定位置に到達したことを検出し、位
置検出信号Ｄを出力する位置センサ８と、を備えて構成
されている。
を搬送するコンベア３と、３０Ｗ程度の蛍光灯等の図示
しない光源を内蔵し、コンベア３側に設けられたスリッ
トＳから検査光Ｌを射出する検査光射出ユニット４と、
検査光射出ユニット４から射出された検査光Ｌのうち、
びん２のコーティング膜により散乱された散乱検査光を
撮像し、撮像信号Ｖを出力するＣＣＤカメラ等の撮像ユ
ニット５と、撮像信号Ｖが入力され、各種演算を行なう
ことにより、検査対象のびん２の良品、不良品を判別
し、リジェクト信号Ｒを図示しないリジェクト装置に出
力するとともに、判別結果並びに撮像信号Ｖに基づく撮
像画像をディスプレイ６に表示するコントロールユニッ
ト７と、びん２が測定位置に到達したことを検出し、位
置検出信号Ｄを出力する位置センサ８と、を備えて構成
されている。
【００３３】この場合において、検査光射出ユニット４
のコンベア側の面、すなわち、スリットが設けられてい
る面は、黒色に着色されている。これは、撮像ユニット
によりびん２を撮像した場合に散乱光の散乱状態をより
顕著に観測することが可能となるからである。
のコンベア側の面、すなわち、スリットが設けられてい
る面は、黒色に着色されている。これは、撮像ユニット
によりびん２を撮像した場合に散乱光の散乱状態をより
顕著に観測することが可能となるからである。
【００３４】ここで図２及び図３を参照して、検査光Ｌ
の射出方向と撮像ユニット５の配置関係を説明する。図
２は、スリットを一つ設けた場合の配置例を示してい
る。
の射出方向と撮像ユニット５の配置関係を説明する。図
２は、スリットを一つ設けた場合の配置例を示してい
る。
【００３５】この場合には、スリットＳを透過した検査
光Ｌは、検査対象であるびん２に入射し、散乱等がない
と仮定すれば、検査光の光路は、図２に実線で示す透過
光光路となるはずである。
光Ｌは、検査対象であるびん２に入射し、散乱等がない
と仮定すれば、検査光の光路は、図２に実線で示す透過
光光路となるはずである。
【００３６】これに対し、びん２のコーティング膜によ
る散乱があるとすると、検査光の光路は、図２に破線で
示す散乱光光路となるはずである。そこで、図２に示す
ように、散乱光のみが入射し、透過光が入射しないよう
な位置に撮像ユニット５を配置することにより、びん２
のコーティング膜による散乱が発生した場合にのみ、撮
像ユニット５に検査光Ｌが入射するようにする。
る散乱があるとすると、検査光の光路は、図２に破線で
示す散乱光光路となるはずである。そこで、図２に示す
ように、散乱光のみが入射し、透過光が入射しないよう
な位置に撮像ユニット５を配置することにより、びん２
のコーティング膜による散乱が発生した場合にのみ、撮
像ユニット５に検査光Ｌが入射するようにする。
【００３７】図３はスリットを複数（図では二つ）設け
た場合の配置例を示している。この場合においては、図
３（ｂ）に示すように、びん２の直径、撮像ユニットの
光軸及び検査光Ｌのびん２による散乱光の光路の一部を
含む第１の直線Ｌ1 を仮定し、この第１の直線とびんの
直径を含む直線であって、第１の直線と所定角度θをな
す二つの直線Ｌ2 、Ｌ2 ’上にスリットを配置する。
た場合の配置例を示している。この場合においては、図
３（ｂ）に示すように、びん２の直径、撮像ユニットの
光軸及び検査光Ｌのびん２による散乱光の光路の一部を
含む第１の直線Ｌ1 を仮定し、この第１の直線とびんの
直径を含む直線であって、第１の直線と所定角度θをな
す二つの直線Ｌ2 、Ｌ2 ’上にスリットを配置する。
【００３８】このように配置することにより、スリット
を透過した検査光は、検査対象であるびん２に入射し、
散乱等がないと仮定すれば、検査光の光路は、図３
（ａ）に実線で示す透過光光路となる。
を透過した検査光は、検査対象であるびん２に入射し、
散乱等がないと仮定すれば、検査光の光路は、図３
（ａ）に実線で示す透過光光路となる。
【００３９】これに対し、びん２のコーティング膜によ
る散乱があるとすると、検査光の光路は、図３（ａ）に
破線で示す散乱光光路となり、撮像ユニットに検査光が
入射することとなる。
る散乱があるとすると、検査光の光路は、図３（ａ）に
破線で示す散乱光光路となり、撮像ユニットに検査光が
入射することとなる。
【００４０】このように複数のスリットを設けた場合に
は、検査可能となるびんの位置範囲が広がり、検査対象
であるびんの位置精度があまり要求されないので、検査
装置の構成がより容易となる。
は、検査可能となるびんの位置範囲が広がり、検査対象
であるびんの位置精度があまり要求されないので、検査
装置の構成がより容易となる。
【００４１】次にびん検査装置の動作を説明する。ま
ず、本実施例のびん検査装置の検査原理を説明する。び
ん２のコーティング膜が劣化し、ピンホールが発生する
と、検査光は散乱することとなる。この場合において、
ピンホールの径が大きくなればなるほど、散乱光量は多
くなる。
ず、本実施例のびん検査装置の検査原理を説明する。び
ん２のコーティング膜が劣化し、ピンホールが発生する
と、検査光は散乱することとなる。この場合において、
ピンホールの径が大きくなればなるほど、散乱光量は多
くなる。
【００４２】これにより、本実施例においては、ピンホ
ールの径（コーティング膜の劣化状態に対応）と、散乱
光量と、を予め対応づけ、散乱光量を観測することより
びんの劣化状態の検査を行なっているのである。
ールの径（コーティング膜の劣化状態に対応）と、散乱
光量と、を予め対応づけ、散乱光量を観測することより
びんの劣化状態の検査を行なっているのである。
【００４３】次に具体的な動作を説明する。コンベア３
により、検査対象であるびん２が搬送されてくると、検
査光射出ユニット４は、コンベア３側に設けられたスリ
ットＳから検査光Ｌを射出する。
により、検査対象であるびん２が搬送されてくると、検
査光射出ユニット４は、コンベア３側に設けられたスリ
ットＳから検査光Ｌを射出する。
【００４４】びん２が検査位置に到達すると、検査光Ｌ
はびん２に入射されるとともに、位置センサ８によりび
ん２が検査位置に到達したことを表す位置検出信号Ｄが
コントロールユニット７に出力される。
はびん２に入射されるとともに、位置センサ８によりび
ん２が検査位置に到達したことを表す位置検出信号Ｄが
コントロールユニット７に出力される。
【００４５】びん２に入射した検査光Ｌは、びん２を透
過するとともに、コーティング膜の劣化状態（ピンホー
ルの形成状態）に応じて散乱光となり撮像ユニット５に
入射して撮像される。
過するとともに、コーティング膜の劣化状態（ピンホー
ルの形成状態）に応じて散乱光となり撮像ユニット５に
入射して撮像される。
【００４６】図４に散乱光の撮像状態の説明図を示す。
図４（Ａ−１）〜図４（Ａ−３）はびん２の表面が乾燥
状態にある場合の撮像画面の模式図であり、図４（Ｂ−
１）〜図４（Ｂ−３）はびん２の表面が濡れ状態にある
場合の撮像画面の模式図である。
図４（Ａ−１）〜図４（Ａ−３）はびん２の表面が乾燥
状態にある場合の撮像画面の模式図であり、図４（Ｂ−
１）〜図４（Ｂ−３）はびん２の表面が濡れ状態にある
場合の撮像画面の模式図である。
【００４７】図４（Ａ−１）及び図４（Ｂ−１）は、コ
ーティング膜の劣化程度が低い（劣化していない）場合
であり、画面の中央部分、すなわち、図中、十字で示す
位置（中心）近傍には散乱光がほとんど観察されていな
い。
ーティング膜の劣化程度が低い（劣化していない）場合
であり、画面の中央部分、すなわち、図中、十字で示す
位置（中心）近傍には散乱光がほとんど観察されていな
い。
【００４８】これに対し、図４（Ａ−２）は、コーティ
ング膜の劣化が中程度である場合であり、画面の中央部
分に散乱光が観察される。しかしながら、コーティング
膜の劣化が中程度であっても、びん２が濡れ状態にある
場合（図４（Ｂ−２）参照）には、図５に示すように、
劣化により生じたピンホールが水でマスクされた状態と
なり、見掛け上ピンホールの径が小さくなり、散乱光が
減少することとなる。
ング膜の劣化が中程度である場合であり、画面の中央部
分に散乱光が観察される。しかしながら、コーティング
膜の劣化が中程度であっても、びん２が濡れ状態にある
場合（図４（Ｂ−２）参照）には、図５に示すように、
劣化により生じたピンホールが水でマスクされた状態と
なり、見掛け上ピンホールの径が小さくなり、散乱光が
減少することとなる。
【００４９】さらにコーティング膜の劣化が進み、コー
ティング膜の劣化が高くなって廃棄処分の対象となる程
度に劣化した場合には、図４（Ａ−３）及び図４（Ｂ−
３）に示すように、びん２の表面が乾燥状態にあろう
と、あるいは濡れ状態にあろうと、画面の中央部分に散
乱光が観察されることとなる。
ティング膜の劣化が高くなって廃棄処分の対象となる程
度に劣化した場合には、図４（Ａ−３）及び図４（Ｂ−
３）に示すように、びん２の表面が乾燥状態にあろう
と、あるいは濡れ状態にあろうと、画面の中央部分に散
乱光が観察されることとなる。
【００５０】上述したように、コーティング膜の劣化が
高程度となると、散乱光が容易に観察されることとな
る。そこで、コントロールユニット７は、撮像ユニット
５からの撮像信号Ｖ及び位置センサ８からの位置検出信
号が入力されると、撮像信号Ｖに対応する画像を取込
み、二値化、散乱光分布分析等の各種演算を行なって、
撮像画像から検査データを算出する。
高程度となると、散乱光が容易に観察されることとな
る。そこで、コントロールユニット７は、撮像ユニット
５からの撮像信号Ｖ及び位置センサ８からの位置検出信
号が入力されると、撮像信号Ｖに対応する画像を取込
み、二値化、散乱光分布分析等の各種演算を行なって、
撮像画像から検査データを算出する。
【００５１】そして得られた検査データを良品に対応す
る基準データと比較することにより、検査対象のびん２
の良品、不良品を判別し、リジェクト信号Ｒを図示しな
いリジェクト装置に出力することとなる。
る基準データと比較することにより、検査対象のびん２
の良品、不良品を判別し、リジェクト信号Ｒを図示しな
いリジェクト装置に出力することとなる。
【００５２】これと並行してコントロールユニット７
は、判別結果並びに撮像信号に基づく撮像画像をディス
プレイ６に表示する。従って、本実施例のびん検査装置
によれば、コーティング膜の劣化に起因する散乱光の光
量、分布等に基づいてコーティング膜のミクロンオーダ
の劣化状態に起因する外観劣化を容易、かつ、客観的に
把握して自動的に検査を行なえるとともに、連続的に検
査を行なうことができ検査速度を向上させることが可能
となる。
は、判別結果並びに撮像信号に基づく撮像画像をディス
プレイ６に表示する。従って、本実施例のびん検査装置
によれば、コーティング膜の劣化に起因する散乱光の光
量、分布等に基づいてコーティング膜のミクロンオーダ
の劣化状態に起因する外観劣化を容易、かつ、客観的に
把握して自動的に検査を行なえるとともに、連続的に検
査を行なうことができ検査速度を向上させることが可能
となる。
【００５３】ここで、図６乃至図８を参照してコントロ
ールユニット７による良品／不良品判別の基準データの
設定について説明する。良品／不良品の判別の基準デー
タを設定するに際し、目視により検査対象であるびんの
劣化程度を６段階（グレード０〜グレード５）に分類し
た。
ールユニット７による良品／不良品判別の基準データの
設定について説明する。良品／不良品の判別の基準デー
タを設定するに際し、目視により検査対象であるびんの
劣化程度を６段階（グレード０〜グレード５）に分類し
た。
【００５４】そして、劣化していないびん（グレード
０）の場合に対応する劣化を表す数値を５０とし、劣化
がかなり進んだびん（グレード５に属する）の場合に対
応する劣化を表す数値を１００に設定し、目視により分
類したびんについて測定し、測定結果の平均値を示した
のが図６である。この場合の測定条件としては、図７に
示すように、光源として蛍光燈を用い、スリット間隔＝
５０ｍｍ、スリット幅＝８ｍｍ、スリット数＝２であ
り、検査対象びんは茶色のビールびんである。スリット
とびんとの距離は２５０ｍｍ、びんと撮像ユニットであ
るカラーＣＣＤカメラとの距離は、３００ｍｍとしてい
る。
０）の場合に対応する劣化を表す数値を５０とし、劣化
がかなり進んだびん（グレード５に属する）の場合に対
応する劣化を表す数値を１００に設定し、目視により分
類したびんについて測定し、測定結果の平均値を示した
のが図６である。この場合の測定条件としては、図７に
示すように、光源として蛍光燈を用い、スリット間隔＝
５０ｍｍ、スリット幅＝８ｍｍ、スリット数＝２であ
り、検査対象びんは茶色のビールびんである。スリット
とびんとの距離は２５０ｍｍ、びんと撮像ユニットであ
るカラーＣＣＤカメラとの距離は、３００ｍｍとしてい
る。
【００５５】また、図６には平均値しか示していない
が、測定値のバラツキは、グレードが高くなるに従って
大きくなっていた。さらにびん表面が乾燥状態にある場
合と、濡れ状態にある場合との測定値を比較してみる
と、グレード０に属するびんについては、ほとんど同じ
値となったが、グレード１〜グレード５に属するびんに
ついては、濡れ状態の測定値に１１〜１４加算すると乾
燥状態の測定値とほぼ等しくなることがわかり、これに
より濡れ状態にあるびんについても、高精度で良品／不
良品の判別を行なうことができることがわかる。
が、測定値のバラツキは、グレードが高くなるに従って
大きくなっていた。さらにびん表面が乾燥状態にある場
合と、濡れ状態にある場合との測定値を比較してみる
と、グレード０に属するびんについては、ほとんど同じ
値となったが、グレード１〜グレード５に属するびんに
ついては、濡れ状態の測定値に１１〜１４加算すると乾
燥状態の測定値とほぼ等しくなることがわかり、これに
より濡れ状態にあるびんについても、高精度で良品／不
良品の判別を行なうことができることがわかる。
【００５６】図８は、上記測定結果に基づき、グレード
１のびんの平均値＝１０、グレード５のびんの平均値＝
８０として、正規化した場合の測定結果の数値化結果で
ある。
１のびんの平均値＝１０、グレード５のびんの平均値＝
８０として、正規化した場合の測定結果の数値化結果で
ある。
【００５７】この結果、目視によるグレードとびん検査
装置により得られた測定結果の数値には相関関係がある
のがわかる。これらの結果より、洗浄直後に行なわれる
実際のびんの検査でも、本実施例のびん検査装置が有効
であることがわかる。
装置により得られた測定結果の数値には相関関係がある
のがわかる。これらの結果より、洗浄直後に行なわれる
実際のびんの検査でも、本実施例のびん検査装置が有効
であることがわかる。
【００５８】以上の実施例においては、茶色のビールび
んを検査対象のびんとしていたが、白色びん、緑色びん
等その他のびんについても適用が可能である。この場合
においては、基準データを検査しようとするびんに対応
するものに変更するだけで適用できる。
んを検査対象のびんとしていたが、白色びん、緑色びん
等その他のびんについても適用が可能である。この場合
においては、基準データを検査しようとするびんに対応
するものに変更するだけで適用できる。
【００５９】
【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、検査光射
出手段は、びんを透過させるべく検査光を射出し、撮像
手段は、検査光のうち、コーティング膜の劣化に起因す
る散乱光を撮像して撮像信号を判別手段に出力し、判別
手段は、撮像信号及び予め設定した基準データに基づい
て、コーティング膜の劣化状態を判別するので、コーテ
ィング膜の劣化に起因する散乱光の光量、分布等に基づ
いてコーティング膜のミクロンオーダの劣化状態に起因
する外観劣化を容易、かつ、客観的に把握して自動的に
検査を行なえる。
出手段は、びんを透過させるべく検査光を射出し、撮像
手段は、検査光のうち、コーティング膜の劣化に起因す
る散乱光を撮像して撮像信号を判別手段に出力し、判別
手段は、撮像信号及び予め設定した基準データに基づい
て、コーティング膜の劣化状態を判別するので、コーテ
ィング膜の劣化に起因する散乱光の光量、分布等に基づ
いてコーティング膜のミクロンオーダの劣化状態に起因
する外観劣化を容易、かつ、客観的に把握して自動的に
検査を行なえる。
【００６０】請求項２記載の発明によれば、請求項１記
載の発明の効果に加えて、判定手段は、判別手段の判別
結果及び予め設定した良品に対応する基準データに基づ
いて、びんの良否判定を行なうので、確実に不良品をリ
ジェクトすることが可能となる。
載の発明の効果に加えて、判定手段は、判別手段の判別
結果及び予め設定した良品に対応する基準データに基づ
いて、びんの良否判定を行なうので、確実に不良品をリ
ジェクトすることが可能となる。
【００６１】請求項３記載の発明によれば、請求項１ま
たは請求項２記載の発明の効果に加えて、撮像手段は、
検査光のびんの透過光が入射しない位置、かつ、コーテ
ィング膜の劣化に伴う検査光の散乱光が入射する位置に
配置されているので、コーティング膜の劣化に伴う検査
光の散乱光以外の透過光の影響を受けずに検査を行なえ
るので、コーティング膜の劣化の微小な差を容易に判別
することができる。
たは請求項２記載の発明の効果に加えて、撮像手段は、
検査光のびんの透過光が入射しない位置、かつ、コーテ
ィング膜の劣化に伴う検査光の散乱光が入射する位置に
配置されているので、コーティング膜の劣化に伴う検査
光の散乱光以外の透過光の影響を受けずに検査を行なえ
るので、コーティング膜の劣化の微小な差を容易に判別
することができる。
【００６２】請求項４記載の発明によれば、請求項１乃
至請求項３のいずれかに記載の発明の効果に加えて、検
査光射出手段の光源は、原検査光を射出し、スリット手
段は、原検査光をスリットを通過させて検査光とするの
で、スリットにより検査光の不要な拡散を抑制して、コ
ーティング膜の劣化に伴う検査光の散乱光以外の透過光
の影響を低減して、より確実な検査を行なうことができ
る。
至請求項３のいずれかに記載の発明の効果に加えて、検
査光射出手段の光源は、原検査光を射出し、スリット手
段は、原検査光をスリットを通過させて検査光とするの
で、スリットにより検査光の不要な拡散を抑制して、コ
ーティング膜の劣化に伴う検査光の散乱光以外の透過光
の影響を低減して、より確実な検査を行なうことができ
る。
【００６３】請求項５記載の発明によれば、請求項４記
載の発明の効果に加えて、スリット手段は、複数のスリ
ットを備えているので、びん位置に対応する検査可能範
囲を広くすることができ、びんの位置精度を低くするこ
とが可能となり、より容易に検査装置を構築できるとと
もに、確実に検査を行なえる。
載の発明の効果に加えて、スリット手段は、複数のスリ
ットを備えているので、びん位置に対応する検査可能範
囲を広くすることができ、びんの位置精度を低くするこ
とが可能となり、より容易に検査装置を構築できるとと
もに、確実に検査を行なえる。
【００６４】請求項６記載の発明によれば、請求項１乃
至請求項５記載の発明の効果に加えて、搬送手段はびん
を検査位置まで搬送し、位置検出手段は、びんが検査位
置に到達したことを検出し、検出信号を出力し、判定手
段は、検出信号の出力タイミングに応じて取り込んだ撮
像信号に基づいて良否判定を行なうので、より確実なタ
イミングで検査を行なえるとともに、連続的に検査を行
なうことができ検査速度を向上させることが可能とな
る。
至請求項５記載の発明の効果に加えて、搬送手段はびん
を検査位置まで搬送し、位置検出手段は、びんが検査位
置に到達したことを検出し、検出信号を出力し、判定手
段は、検出信号の出力タイミングに応じて取り込んだ撮
像信号に基づいて良否判定を行なうので、より確実なタ
イミングで検査を行なえるとともに、連続的に検査を行
なうことができ検査速度を向上させることが可能とな
る。
【００６５】請求項７記載の発明によれば、検査光射出
工程は、びんを透過させるべく検査光を射出し、撮像工
程は、検査光のうち、コーティング膜の劣化に起因する
散乱光を撮像して撮像信号を出力し、判別工程は、撮像
信号及び予め設定した基準データに基づいて、コーティ
ング膜の劣化状態を判別するので、コーティング膜の劣
化に起因する散乱光の光量、分布等に基づいてコーティ
ング膜のミクロンオーダの劣化状態に起因する外観劣化
を容易、かつ、客観的に把握して自動的に検査を行なえ
る。
工程は、びんを透過させるべく検査光を射出し、撮像工
程は、検査光のうち、コーティング膜の劣化に起因する
散乱光を撮像して撮像信号を出力し、判別工程は、撮像
信号及び予め設定した基準データに基づいて、コーティ
ング膜の劣化状態を判別するので、コーティング膜の劣
化に起因する散乱光の光量、分布等に基づいてコーティ
ング膜のミクロンオーダの劣化状態に起因する外観劣化
を容易、かつ、客観的に把握して自動的に検査を行なえ
る。
【００６６】請求項８記載の発明によれば、請求項７記
載の発明の効果に加えて、判定工程は、判別工程におけ
る判別結果及び予め設定した良品に対応する基準データ
に基づいて、びんの良否判定を行なうので、確実に不良
品をリジェクトすることが可能となる。
載の発明の効果に加えて、判定工程は、判別工程におけ
る判別結果及び予め設定した良品に対応する基準データ
に基づいて、びんの良否判定を行なうので、確実に不良
品をリジェクトすることが可能となる。
【００６７】請求項９記載の発明によれば、請求項７ま
たは請求項８記載の発明の効果に加えて、搬送工程は、
びんを検査位置まで搬送し、位置検出工程は、びんが検
査位置に到達したことを検出し、検出信号を出力し、判
定工程は、検出信号の出力タイミングに応じて取り込ん
だ撮像信号により良否判定を行なうので、より確実なタ
イミングで検査を行なえるとともに、連続的に検査を行
なうことができ検査速度を向上させることが可能とな
る。
たは請求項８記載の発明の効果に加えて、搬送工程は、
びんを検査位置まで搬送し、位置検出工程は、びんが検
査位置に到達したことを検出し、検出信号を出力し、判
定工程は、検出信号の出力タイミングに応じて取り込ん
だ撮像信号により良否判定を行なうので、より確実なタ
イミングで検査を行なえるとともに、連続的に検査を行
なうことができ検査速度を向上させることが可能とな
る。
【図１】びん検査装置の概要構成ブロック図である。
【図２】スリットと撮像ユニットの配置関係説明図（そ
の１）である。
の１）である。
【図３】スリットと撮像ユニットの配置関係説明図（そ
の２）である。
の２）である。
【図４】散乱光の撮像状態の説明図である。
【図５】濡れ状態のびんの説明図である。
【図６】劣化のグレードと検査結果の関係説明図であ
る。
る。
【図７】より具体的な検査条件の説明図である。
【図８】劣化のグレードと正規化を行なった検査結果の
関係説明図である。
関係説明図である。
【図９】従来の問題点の説明図である。
１…びん検査装置 ２…びん ３…コンベア ４…検査光射出ユニット ５…撮像ユニット ６…ディスプレイ ７…コントロールユニット ８…位置センサ Ｄ…位置検出信号 Ｌ…検査光 Ｒ…リジェクト信号 Ｖ…撮像信号
Claims (9)
- 【請求項１】 コーティング膜が形成されたびんの前記
コーティング膜の劣化を検査するびん検査装置におい
て、 前記びんを透過させるべく検査光を射出する検査光射出
手段と、 前記検査光のうち、前記コーティング膜の劣化に起因す
る散乱光を撮像して撮像信号を出力する撮像手段と、 前記撮像信号及び予め設定した基準データに基づいて、
前記コーティング膜の劣化状態を判別する判別手段と、 を備えたことを特徴とするびん検査装置。 - 【請求項２】 請求項１記載のびん検査装置において、 前記判別手段の判別結果及び予め設定した良品に対応す
る基準データに基づいて、前記びんの良否判定を行なう
判定手段を備えたことを特徴とするびん検査装置。 - 【請求項３】 請求項１または請求項２記載のびん検査
装置において、 前記撮像手段は、前記検査光の前記びんの透過光が入射
しない位置、かつ、前記コーティング膜の劣化に伴う前
記検査光の散乱光が入射する位置に配置することを特徴
とするびん検査装置。 - 【請求項４】 請求項１乃至請求項３のいずれかに記載
のびん検査装置において、 前記検査光射出手段は、原検査光を射出する光源と、 前記原検査光をスリットを通過させて前記検査光とする
スリット手段と、 を備えたことを特徴とするびん検査装置。 - 【請求項５】 請求項４記載のびん検査装置において、 前記スリット手段は、複数の前記スリットを備えたこと
を特徴とするびん検査装置。 - 【請求項６】 請求項１乃至請求項５記載のびん検査装
置において、 前記びんを検査位置まで搬送する搬送手段と、 前記びんが前記検査位置に到達したことを検出し、検出
信号を出力する位置検出手段を有し、 前記判定手段は、前記検出信号の出力タイミングに応じ
て取り込んだ前記撮像信号に基づいて前記良否判定を行
なうこと、 を特徴とするびん検査装置。 - 【請求項７】 コーティング膜が形成されたびんの前記
コーティング膜の劣化を検査するびん検査方法におい
て、 前記びんを透過させるべく検査光を射出する検査光射出
工程と、 前記検査光のうち、前記コーティング膜の劣化に起因す
る散乱光を撮像して撮像信号を出力する撮像工程と、 前記撮像信号及び予め設定した基準データに基づいて、
前記コーティング膜の劣化状態を判別する判別工程と、 を備えたことを特徴とするびん検査方法。 - 【請求項８】 請求項７記載のびん検査方法において、 前記判別工程における判別結果及び予め設定した良品に
対応する基準データに基づいて、前記びんの良否判定を
行なう判定工程を備えたことを特徴とするびん検査方
法。 - 【請求項９】 請求項７または請求項８記載のびん検査
方法において、 前記びんを検査位置まで搬送する搬送工程と、 前記びんが前記検査位置に到達したことを検出し、検出
信号を出力する位置検出工程を有し、 前記判定工程は、前記検出信号の出力タイミングに応じ
て取り込んだ前記撮像信号により前記良否判定を行なう
こと、 を特徴とするびん検査方法。
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14775295A JPH08338815A (ja) | 1995-06-14 | 1995-06-14 | びん検査装置及びびん検査方法 |
| PCT/JP1996/001586 WO1997000423A1 (fr) | 1995-06-14 | 1996-06-12 | Appareil et methode pour le controle d'une pellicule de revetement |
| KR1019970709381A KR100418069B1 (ko) | 1995-06-14 | 1996-06-12 | 코팅막의검사장치및방법 |
| US08/973,459 US5991018A (en) | 1995-06-14 | 1996-06-12 | Apparatus and method for inspecting coating layer |
| EP96917648A EP0833126B1 (en) | 1995-06-14 | 1996-06-12 | Apparatus and methods for inspecting coating film |
| AU60149/96A AU6014996A (en) | 1995-06-14 | 1996-06-12 | Apparatus and method for inspecting coating film |
| DE69627328T DE69627328T2 (de) | 1995-06-14 | 1996-06-12 | Verfahren und vorrichtungen zur prüfung von beschichtungen |
| AT96917648T ATE237122T1 (de) | 1995-06-14 | 1996-06-12 | Verfahren und vorrichtungen zur prüfung von beschichtungen |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14775295A JPH08338815A (ja) | 1995-06-14 | 1995-06-14 | びん検査装置及びびん検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08338815A true JPH08338815A (ja) | 1996-12-24 |
Family
ID=15437354
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14775295A Pending JPH08338815A (ja) | 1995-06-14 | 1995-06-14 | びん検査装置及びびん検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08338815A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001519028A (ja) * | 1997-04-10 | 2001-10-16 | ホイフト ジュステームテヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 透明容器内における散乱された汚れを検出するための装置 |
| JP2003107010A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Hitachi Eng Co Ltd | 透明容器等の充填液中の異物検出装置 |
| US6937339B2 (en) | 2001-03-14 | 2005-08-30 | Hitachi Engineering Co., Ltd. | Inspection device and system for inspecting foreign matters in a liquid filled transparent container |
| JP2006275618A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Nec Robotics Eng Ltd | ラベル検査装置 |
| JP2019194557A (ja) * | 2017-10-26 | 2019-11-07 | ハインリヒ ゲオルク ゲーエムベーハー マシーネンファブリークＨｅｉｎｒｉｃｈ Ｇｅｏｒｇ ＧｍｂＨ Ｍａｓｃｈｉｎｅｎｆａｂｒｉｋ | 検査システム及び欠陥分析方法 |
| CN113984773A (zh) * | 2021-10-18 | 2022-01-28 | 楚天科技股份有限公司 | 一种灯检机合格瓶出料控制方法、***及介质 |
-
1995
- 1995-06-14 JP JP14775295A patent/JPH08338815A/ja active Pending
Cited By (7)
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