TWI706138B - 探針 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種能夠以更良好的精度對多極連接器的端子進行特性檢查的探針。該用於對多極連接器的端子進行特性檢查的探針,具備:凸緣,具有通孔,並用於將探針安裝於設備;同軸纜線,***通到凸緣的通孔並沿軸方向延伸,並且在前端部安裝有探針;柱塞,內包探針,並且具有用於供多極連接器嵌合的凹部,並且使探針露出到凹部;以及彈簧,在凸緣與柱塞之間內包同軸纜線,一側的端部被固定於凸緣,另一側的端部被固定於柱塞。
Description
本發明係有關一種用於對多極連接器的端子進行特性檢查的探針。
以往,公開了用於對作為被檢查體的連接器的端子進行特性檢查的探針(例如參照專利文獻1)。
專利文獻1的探針係用於進行同軸連接器的特性檢查的探針,尤其進行設置有複數個端子以使複數個訊號藉由的多極連接器的特性檢查。專利文獻1的探針具備能夠同時接觸多極連接器的複數個端子的複數個中心導體。
專利文獻1:國際公開第2016/072193號公報
關於連接器的探針,要求提高端子的特性檢查的精度。如專利文獻1的探針那樣,在使複數個中心導體同時接觸複數個端子的情況下,產生端子和中心導體的位置偏離,導致特性檢查的精度容易降低。需要開發能夠以更良好的精度對多極連接器的端子進行特性檢查的技術。
因此,本發明的目的在於提供能夠以更良好的精度對多極連接器的端子進行特性檢查的探針。
為了實現上述目的,本發明的探針,係用於對多極連接器的端
子進行特性檢查的探針,具備:凸緣,具有通孔,並用於將探針安裝於設備;同軸纜線,***通到上述通孔並沿軸方向延伸,並且在前端部安裝有探針;以及柱塞,內包上述探針,並且具有用於供多極連接器嵌合的凹部,並且使上述探針露出到上述凹部;以及彈簧,在上述凸緣與上述柱塞之間內包上述同軸纜線,一側的端部被固定於上述凸緣,另一側的端部被固定於上述柱塞。
根據本發明的探針,能夠以更良好的精度對多極連接器的端子進行特性檢查。
2‧‧‧探針
3‧‧‧多極連接器
3a‧‧‧端子
4‧‧‧柱塞
4A‧‧‧嵌合部
4B‧‧‧連結部
6‧‧‧同軸纜線
8‧‧‧凸緣
8A‧‧‧主體部
8B‧‧‧突出部
8C‧‧‧通孔
8D‧‧‧內周面
10‧‧‧彈簧
10A‧‧‧非密繞部
10B、10C‧‧‧密繞部
12‧‧‧測量連接器
17‧‧‧凹部
18‧‧‧探針銷
28‧‧‧開口部
34‧‧‧底壁
36‧‧‧第一側壁
38‧‧‧第二側壁
40‧‧‧探針
42‧‧‧筒狀構件
42A‧‧‧上端部
42B‧‧‧下端部
圖1係實施形態1中的探針的概略立體圖。
圖2係圖1的探針的局部放大立體圖。
圖3係表示將圖2的探針沿縱向切斷的剖面的概略立體圖。
圖4係表示圖1的探針的組裝前的狀態的概略立體圖。
圖5係從與圖1-圖4不同的角度觀察的探針的概略立體圖。
圖6係表示將多極連接器配置於凹部的動作的概略縱剖面圖。
圖7係表示將多極連接器配置於凹部的動作的概略縱剖面圖。
圖8係表示將多極連接器配置於凹部的動作的概略縱剖面圖。
圖9係多極連接器與柱塞的凹部已嵌合的狀態的側視圖。
圖10係表示排列有複數個圖1的探針的方式的概略立體圖。
圖11係實施形態2中的探針的概略立體圖。
圖12係表示將圖11的探針沿縱向切斷的剖面的概略立體圖。
圖13係圖11的探針的縱剖面圖。
根據本發明的第一態樣,提供一種探針,該探針係用於對多極連接器的端子進行特性檢查的探針,具備:凸緣,具有通孔,並用於將探針安裝於設備;同軸纜線,***通到上述通孔並沿軸方向延伸,並且在前端部安裝有探針;以及柱塞,內包上述探針,並且具有用於供多極連接器嵌合的凹部,並且使上述探針露出到上述凹部;以及彈簧,在上述凸緣與上述柱塞之間內包上述同軸纜線,一側的端部被固定於上述凸緣,另一側的端部被固定於上述柱塞。
根據如此的構成,在使多極連接器與柱塞的凹部嵌合時,彈簧發生彈性變形,由此能夠更準確地進行多極連接器的端子和探針的位置對準。由此,能夠以更良好的精度對多極連接器的端子進行特性檢查。
根據本發明的第二態樣,提供上述同軸纜線的彎曲剛性被設定為小於上述彈簧的彎曲剛性的第一態樣所述的探針。根據如此的構成,由於在彈簧發生彈性變形時同軸纜線容易發生彈性變形,所以不會阻礙彈簧的彈性變形,能夠以更良好的精度對多極連接器的端子進行特性檢查。
根據本發明的第三態樣,提供在上述彈簧與上述同軸纜線之間進一步具備內包上述同軸纜線的筒狀構件的第一態樣或者第二態樣所述的探針。根據如此的構成,藉由設置筒狀構件,能夠抑制彈簧發生彈性變形時超出必要地發生變形。
根據本發明的第四態樣,提供上述筒狀構件從上述凸緣的形成上述通孔的內周面隔開間隔地插通到上述通孔,並被壓入固定於上述柱塞的第三態樣所述的探針。根據如此的構成,藉由不將筒狀構件固定於凸緣,能夠確保筒狀構件能夠移動的狀態,並且藉由將筒狀構件壓入固定於柱塞,能夠容易地配置筒狀構件。
根據本發明的第五態樣,提供上述凸緣的上述通孔具有直徑恆
定的圓柱形狀的第一態樣~第四態樣中的任意一項所述的探針。根據如此的構成,與通孔為其它形狀的情況相比,能夠更容易地形成。
根據本發明的第六態樣,提供上述凸緣進一步具備突出的筒狀的突出部,以便上述通孔朝向上述彈簧延伸,上述彈簧被壓入固定於上述突出部的外周的第一態樣~第五態樣中的任意一項所述的探針。根據如此的構成,能夠以更簡單的構成實現凸緣和彈簧的固定。
根據本發明的第七態樣,提供上述突出部具有內徑和外徑分別恆定的圓筒形狀的第六態樣所述的探針。根據如此的構成,與突出部為其它形狀的情況相比,能夠容易形成。
根據本發明的第八態樣,提供在上述柱塞不與上述多極連接器嵌合的非嵌合狀態下,上述彈簧的長度為自然長以上的第一態樣~第七態樣中的任意一項所述的探針。根據如此的構成,藉由在柱塞和多極連接器的非嵌合狀態下使彈簧為自然長以上,與被壓縮成比自然長短的構成相比,可以實現僅由彈簧來支承柱塞的自重的構成等。
根據本發明的第九態樣,提供上述彈簧在兩端部具有密繞部的第一態樣~第八態樣中的任意一項所述的探針。根據如此的構成,能夠更牢固地進行彈簧的固定。另外,由於彈簧的兩端部與中央部相比,被抑制變形,所以容易使彈簧進一步向所要的方向變形。
根據本發明的第十態樣,提供形成上述凹部的上述柱塞的壁部具備:使上述探針的前端部露出的底壁、從上述底壁的周圍豎起的第一側壁、以及從上述第一側壁的周圍豎起並且朝向上述第一側壁傾斜成向內側縮窄的第二側壁的第一態樣~第九態樣中的任意一項所述的探針。根據如此的構成,在使多極連接器與柱塞的凹部嵌合時,能夠沿著第二側壁將多極連接器向凹部的內側引導。
以下,根據圖式,詳細地對本發明的實施形態進行說明。
(實施形態1)
圖1-圖5係表示實施形態1中的探針2的概略構成的圖。圖1係探針2的概略立體圖,圖2係圖1的局部放大立體圖,圖3係表示將圖2的探針2沿縱向切斷的剖面的圖。圖4係表示圖1的探針2的組裝前的狀態的概略立體圖,圖5係從與圖1-圖4不同的角度觀察的探針2的局部放大立體圖。
探針2係對具有複數個端子的多極連接器3(圖1、圖5)進行特性檢查的檢查器件。如圖1等所示,探針2具備柱塞4、同軸纜線6、凸緣8、彈簧10、測量連接器12和探針銷18(圖3、圖4、圖5)。
柱塞4係用於與多極連接器3嵌合而將多極連接器3定位的構件。如圖3、圖4所示,柱塞4為中空的筒狀構件。柱塞4具備嵌合部4A和連結部4B。
嵌合部4A係與多極連接器3嵌合的部分。在嵌合部4A的底部形成有凹部17。在凹部17中配置多極連接器3並與柱塞4嵌合。對於凹部17周邊的詳細構成在下文中進行描述。
連結部4B係與後述的彈簧10連結的部分。連結部4B具有圓筒形狀,在連結部4B的外周連結彈簧10。本實施形態1的連結部4B具有內徑和外徑恆定的圓筒形狀。
在彈簧10的內側插通有複數個同軸纜線6。同軸纜線6係與前述的測量連接器12電連接的棒狀的構件。在本實施形態1中例示設置有兩根同軸纜線6的方式,但根數並不限於此。在同軸纜線6的前端安裝有探針銷18。同軸纜線6還與探針銷18電連接,並具有使探針銷18和測量連接器12之間的訊號藉由的功能。
本實施形態1中的同軸纜線6的彎曲剛性被預先設定為規定值k1。具體而言,同軸纜線6的彎曲剛性k1被設定為比後述的彈簧10的彎曲剛性
小的值。此外,彎曲剛性可以利用任意的一般的測量方法來測量。
同軸纜線6***通到凸緣8的通孔8C中。凸緣8係用於將探針2安裝於規定的設備(未圖示)的構件。作為設備,例如有用於根據多極連接器3的特性檢查的結果來選別構裝有多極連接器3的印刷基板的選別機等,但並不限於此。
凸緣8具備主體部8A和突出部8B。主體部8A係構成凸緣8的主體的部分,係沿水準方向延伸的大致板狀的構件。突出部8B係從主體部8A的表面朝向下方突出的部分。突出部8B作為用於連結後述的彈簧10的連結部發揮作用。在突出部8B的外周連結有彈簧10。
本實施形態1中的凸緣8藉由切削加工等由一個構件製成。即,主體部8A以及突出部8B一體地形成。
凸緣8的通孔8C係用於插通同軸纜線6的孔。通孔8C形成在包括主體部8A以及突出部8B的凸緣8的厚度方向整個長度上。本實施形態1的通孔8C具有直徑沿著同軸纜線6的軸方向A恆定的圓柱形狀。同樣地,突出部8B也具有內徑和外徑恆定的圓筒形狀。如果係如此的形狀,則能夠容易地製造凸緣8。
彈簧10係將凸緣8和柱塞4連結的彈性體。彈簧10具備非密繞部10A和密繞部10B、10C。彈簧10的中央部為非密繞部10A,彈簧10的兩端部為密繞部10B、10C。
如圖3等所示,彈簧10的上端部亦即密繞部10B被壓入固定於凸緣8的突出部8B的外周。而彈簧10的下端部亦即密繞部10C被壓入固定於柱塞4的連結部4B的外周。如此,彈簧10被直接固定於凸緣8和柱塞4的各個上。
根據如此的構成,由於彈簧10能夠發生彈性變形,所以在使多極連接器3與柱塞4嵌合時,能夠發揮多極連接器3的端子的位置對準功能。特
別係由於彈簧10能夠以三維發生彈性變形,不僅能夠在前後左右上下的方向上進行位置對準,還能夠在周方向θ上進行位置對準,所以能夠迅速且高精度地使多極連接器3的端子的位置對準。
本實施形態1中的彈簧10在多極連接器3與柱塞4嵌合前的非嵌合狀態下僅受到柱塞4的自重的量,沒有被沿同軸纜線6的軸方向A壓縮。非嵌合狀態下的彈簧10的長度比自然長略長與柱塞4的自重的量相應的長度。
如前述那樣,比本實施形態1中的彈簧10的彎曲剛性k2小地設定同軸纜線6的彎曲剛性k1。由此,對於相同的負載,同軸纜線6比彈簧10容易發生彈性變形。
探針銷18係與多極連接器3的端子接觸而電導通的針狀的構件。探針銷18被內包在柱塞4的嵌合部4A中。在本實施形態1中,與兩根同軸纜線6的每一根對應地設置有兩根探針銷18,但根數並不限於此。
如圖5所示,探針銷18的前端被配置於在柱塞4的嵌合部4A的凹部17設置的開口部28的附近。開口部28係被設置在柱塞4的嵌合部4A的前端的開口。
圖1所示的測量連接器12係用於使同軸纜線6與外部的測量器(未圖示)連接的連接器。在本實施形態1中,與兩根同軸纜線6對應地分別設置有兩個測量連接器12。
接下來,使用圖6對探針銷18和多極連接器3的端子的關係進行說明。圖6係探針銷18的前端部周邊的概略縱剖面圖。
如圖6所示,在多極連接器3設置有複數個端子3a。在將多極連接器3配置在凹部17時,設定探針銷18的位置,以便探針銷18的前端能夠與端子3a接觸。由此,能夠同時使複數個探針銷18與多極連接器3的複數個端子3a接觸,同時進行每個端子3a的特性檢查。
本實施形態1的凹部17由柱塞4的底壁34、第一側壁36以及第二側壁38形成。底壁34係構成凹部17的底面的柱塞4的壁部。第一側壁36係從底壁34的周圍豎起成與底壁34正交的側壁。第二側壁38係從第一側壁36的周圍豎起的側壁。本實施形態1中的第二側壁38朝向遠離第一側壁36的方向延伸成以放射狀向外側擴展。具有如此的形狀的第二側壁38作為將多極連接器3向凹部17的內側引導的引導部發揮作用。
使用圖6、圖7、圖8對將多極連接器3配置於凹部17來進行端子3a的特性檢查的方法進行說明。圖7、圖8係表示將多極連接器3配置於凹部17的動作的概略縱剖面圖。
如圖6所示,首先,使多極連接器3靠近凹部17(箭頭B)。由此,多極連接器3如圖7所示,開始與柱塞4的第二側壁38接觸(圖中左側)。
如前述那樣,第二側壁38具有傾斜成向內側縮窄的錐形形狀。由此,已與第二側壁38接觸的多極連接器3被導向凹部17的內側(箭頭C)。
此時,藉由與多極連接器3的接觸,對柱塞4以及被固定於柱塞4的彈簧10作用使它們壓縮/變形的力。
如前述那樣,彈簧10能夠以三維發生變形,不僅能夠沿軸方向A發生變形,還能夠沿與軸方向A交叉的方向變形。如圖9所示,彈簧10沿著軸方向A被壓縮而發生變形(箭頭A1),並且在水準方向上也發生變形(箭頭D)。並且,彈簧10還在周方向θ(圖3)上發生變形。藉由如此發生變形,彈簧10能夠迅速且高精度地使多極連接器3的端子3a和探針銷18的位置對準。
最終如圖8所示,多極連接器3被定位於凹部17的規定的測量位置。更具體而言,在被底壁34以及第一側壁36包圍的位置配置多極連接器3。藉由探針銷18與多極連接器3的端子3a接觸,同軸纜線6經由探針銷18與多極連接器3的複數個端子3a導通,能夠同時進行每個端子3a的特性檢查。
如此,藉由使複數個探針銷18同時與多極連接器3的複數個端子3a接觸,能夠同時實施複數個端子3a的特性檢查。由此,能夠同時測量複數個訊號。
在本實施形態1中,特別係將凸緣8和柱塞4藉由彈簧10直接固定。根據如此的構成,能夠採用簡單的構成並且藉由彈簧10的彈性變形精度良好地進行多極連接器3的端子3a和探針銷18的位置對準。由此,能夠精度良好地進行多極連接器3的端子3a的特性檢查。
並且,藉由將凸緣8和柱塞4利用彈簧10直接固定,能夠在多極連接器3與柱塞4嵌合的緊後使彈簧10發生變形,進而能夠迅速地進行位置對準。
並且,由於將凸緣8和彈簧10直接連結,所以無需設置用於將凸緣8和彈簧10連結的單獨的連結構件(殼體)。由此,凸緣8的短邊方向的寬度只要確保突出部8B和通孔8C的大小的量即可。例如,如圖10所示,在對複數個多極連接器3並排使用複數個探針2的情況下,能夠使凸緣8在排列方向(箭頭E)的尺寸變小,所以能夠配置更多的探針2。
如上述那樣,本實施形態1的探針2係用於進行多極連接器3的端子的特性檢查的探針,並具備凸緣8、同軸纜線6、柱塞4和彈簧10。凸緣8係具有通孔8C並用於將探針2安裝於設備的構件。同軸纜線6係***通到凸緣8的通孔8C並沿軸方向A延伸並且在前端部安裝有探針銷18的構件。柱塞4係內包探針銷18並且具有用於供多極連接器3嵌合的凹部17且使探針銷18露出到凹部17的構件。彈簧10係在凸緣8與柱塞4之間內包同軸纜線6、一側的端部(密繞部10B)被固定於凸緣8、另一側的端部(密繞部10C)被固定於柱塞4的構件。
根據如此的構成,在使多極連接器3與柱塞4的凹部17嵌合時,在柱塞4產生按壓力,彈簧10發生彈性變形。由於彈簧10不僅能夠沿軸方向A發
生變形,還能夠沿與軸方向A交叉的方向發生變形,所以能夠更準確地進行多極連接器3的端子3a和探針銷18的位置對準。由此,能夠以更良好的精度進行多極連接器3的端子3a的特性檢查。
另外,根據實施形態1的探針2,同軸纜線6的彎曲剛性k1被設定為小於彈簧10的彎曲剛性k2。根據如此的構成,由於在彈簧10發生彈性變形時同軸纜線6容易發生彈性變形,所以不會阻礙彈簧10的彈性變形。由此,能夠以更良好的精度進行多極連接器3的端子3a的特性檢查。
另外,根據實施形態1的探針2,凸緣8的通孔8C具有直徑恆定的圓柱形狀。根據如此的構成,與通孔8C為其它形狀的情況相比,更容易形成。
另外,根據實施形態1的探針2,凸緣8進一步具備突出的筒狀的突出部8B,以便通孔8C朝向彈簧10延伸。彈簧10被壓入固定於突出部8B的外周。根據如此的構成,能夠以更簡單的構成實現凸緣8和彈簧10的固定。
另外。根據實施形態1的探針2,突出部8B具有內徑和外徑分別恆定的圓筒形狀。根據如此的構成,與突出部8B為其它形狀的情況相比,能夠容易形成。
另外,根據實施形態1的探針2,在柱塞4不與多極連接器3嵌合的非嵌合狀態下,彈簧10的長度為自然長以上。如此,藉由在柱塞4和多極連接器3的非嵌合狀態下使彈簧10為自然長以上,與被壓縮成比自然長短的構成相比,可以實現僅由彈簧10支承柱塞4的自重的構成等。
另外,根據實施形態1的探針2,彈簧10在兩端部具有密繞部10B、10C。根據如此的構成,能夠更牢固地進行彈簧10的固定。另外,由於密繞部10B、10C與中央部的非密繞部10A相比,被抑制變形,所以能夠容易使彈簧10沿著軸方向A進一步向所要的方向變形。
另外,根據實施形態1的探針2,形成凹部17的柱塞4的壁部具備底壁34、第一側壁36和第二側壁38。第二側壁38從第一側壁36的周圍豎起,並且朝向第一側壁36傾斜成向內側縮窄。根據如此的構成,在使多極連接器3與柱塞4的凹部17嵌合時,能夠沿著第二側壁38將多極連接器3向凹部17的內側引導。
(實施形態2)
使用圖11-圖13對本發明的實施形態2的探針40進行說明。此外,在實施形態2中,主要對與實施形態1不同的點進行說明。另外,對於相同或者等同的構成,標注相同的符號,並省略說明。
圖11係將實施形態2的探針40的局部放大的概略立體圖,圖12係表示將圖11的探針40沿縱向切斷的剖面的概略立體圖,圖13係圖11的探針40的縱剖面圖。
實施形態2的探針40還設置有筒狀構件42作為新的構成這一點與實施形態1的探針2不同。
筒狀構件42係被配置在彈簧10與同軸纜線6之間的筒狀的構件。筒狀構件42具有抑制彈簧10的過度變形的功能。如圖12、圖13所示,筒狀構件42內包同軸纜線6,並且相對於彈簧10以及同軸纜線6這雙方隔開間隔地配置。
筒狀構件42的上端部42A***通到凸緣8的通孔8C中。從形成通孔8C的凸緣8的內周面8D隔開間隔地配置有筒狀構件42的上端部42A。根據如此的配置,筒狀構件42僅能夠在凸緣8的通孔8C的內部,在接觸到內周面8D為止的範圍內移動。
另一方面,筒狀構件42的下端部42B與柱塞4的連結部4B連結。實施形態2的下端部42B被壓入固定於連結部4B的內周。根據如此的配置,筒狀構件42與柱塞4的移動相應地與柱塞4一體地移動。
藉由設置如此的筒狀構件42,在多極連接器3與柱塞4嵌合而彈簧10發生變形時,在彈簧10發生變形的同時,筒狀構件42移動。筒狀構件42的上端部42A若與凸緣8的內周面8D接觸則限制移動。隨著筒狀構件42的移動限制,被固定於柱塞4的彈簧10的變形也被限制。如此,能夠抑制彈簧10的過度變形。
如上述那樣,實施形態2的探針40在彈簧10與同軸纜線6之間進一步具備內包同軸纜線6的筒狀構件42。藉由設置如此的筒狀構件42,能夠抑制彈簧10在發生彈性變形時超出必要地發生變形。
另外,根據實施形態2的探針40,筒狀構件42從凸緣8的形成通孔8C的內周面8D隔開間隔地***通到通孔8C,並被壓入固定於柱塞4的連結部4B。根據如此的構成,藉由不將筒狀構件42固定於凸緣8,能夠確保筒狀構件42能夠移動的狀態。而且,藉由將筒狀構件42壓入固定於柱塞4,能夠與柱塞4一體地移動,並且能夠容易地配置筒狀構件42。
以上,列舉上述的實施形態1、2對本發明進行了說明,但本發明並不限於上述的實施形態1、2。
藉由參照圖式並與較佳的實施形態關聯地充分記載了本發明,但對於本發明所屬技術領域中具有通常知識者而言可以進行各種變形和修改係顯而易見的。如此的變形和修改只要不脫離根據發明申請專利範圍的本發明的範圍,就應當被理解成包含在本發明的範圍內。另外,各實施形態中的要素的組合、順序的變化能夠在不脫離本發明的範圍和構思的情況下實現。
此外,藉由適當地組合上述各種實施形態1、2中的任意的實施形態,能夠發揮每個實施形態所具有的效果。
只要是對多極連接器的端子進行特性檢查的探針,即可應用本
發明。
2‧‧‧探針
3‧‧‧多極連接器
4‧‧‧柱塞
6‧‧‧同軸纜線
8‧‧‧凸緣
10‧‧‧彈簧
12‧‧‧測量連接器
Claims (12)
- 一種探針,係用於對多極連接器的端子進行特性檢查的探針,具備:凸緣,具有通孔,並用於將探針安裝於設備;同軸纜線,***通到所述通孔並沿軸方向延伸,並且在前端部安裝有探針銷;以及柱塞,內包所述探針銷,並且具有用於供多極連接器嵌合的凹部,並且使所述探針銷露出到所述凹部;以及彈簧,在所述凸緣與所述柱塞之間內包所述同軸纜線,一側的端部被固定於所述凸緣,另一側的端部被固定於所述柱塞;所述同軸纜線的彎曲剛性被設定為小於所述彈簧的彎曲剛性。
- 如請求項1所述之探針,其中,在所述彈簧與所述同軸纜線之間進一步具備內包所述同軸纜線的筒狀構件。
- 如請求項2所述之探針,其中,所述筒狀構件從所述凸緣的形成所述通孔的內周面隔開間隔地插通到所述通孔,並被壓入固定於所述柱塞。
- 如請求項1至3中任一項所述之探針,其中,所述凸緣的所述通孔具有直徑恆定的圓柱形狀。
- 如請求項1至3中任一項所述之探針,其中,所述凸緣進一步具備突出的筒狀的突出部,以便所述通孔朝向所述彈簧延伸,所述彈簧被壓入固定於所述突出部的外周。
- 如請求項5所述之探針,其中, 所述突出部具有內徑和外徑分別恆定的圓筒形狀。
- 如請求項1至3中任一項所述之探針,其中,在所述柱塞不與所述多極連接器嵌合的非嵌合狀態下,所述彈簧的長度為自然長以上。
- 如請求項1至3中任一項所述之探針,其中,所述彈簧在兩端部具有密繞部。
- 如請求項1至3中任一項所述之探針,其中,形成所述凹部的所述柱塞的壁部具備:使所述探針銷的前端部露出的底壁、從所述底壁的周圍豎起的第一側壁、以及從所述第一側壁的周圍豎起並且朝向所述第一側壁傾斜成向內側縮窄的第二側壁。
- 一種探針,係用於對多極連接器的端子進行特性檢查的探針,具備:凸緣,具有通孔,並用於將探針安裝於設備;同軸纜線,***通到所述通孔並沿軸方向延伸,並且在前端部安裝有探針銷;柱塞,內包所述探針銷,並且具有用於供多極連接器嵌合的凹部,並且使所述探針銷露出到所述凹部;以及彈簧,一側以及另一側的兩端部以密繞部構成,所述一側的端部以及所述另一側的端部之間以非密繞部構成;所述彈簧,在所述凸緣與所述柱塞之間內包所述同軸纜線,所述一側的端部被固定於所述凸緣,所述另一側的端部被固定於所述柱塞。
- 如請求項10所述之探針,其中,所述凸緣,具有用以固定所述彈簧的突出部;所述柱塞,具有用以固定所述彈簧的連結部; 所述彈簧之所述一側的端部,被壓入固定於所述突出部的外周;所述彈簧之所述另一側的端部,被壓入固定於所述連結部的外周。
- 如請求項10或11所述之探針,其中,所述同軸纜線的彎曲剛性被設定為小於所述彈簧的彎曲剛性。
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WO2021235082A1 (ja) * | 2020-05-21 | 2021-11-25 | 株式会社村田製作所 | プローブ |
JP7201129B2 (ja) * | 2020-05-28 | 2023-01-10 | 株式会社村田製作所 | プローブおよび該プローブを備えるコネクタ検査装置 |
KR102503437B1 (ko) * | 2021-04-26 | 2023-02-24 | 주식회사 에이플러스알에프 | 인쇄회로기판 테스트용 커넥터 |
CN114122851B (zh) * | 2021-11-30 | 2024-01-30 | 苏州毕毕西通讯***有限公司 | 一种高效精准的检测同轴连接器导体偏移的机构 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8402587B2 (en) * | 2008-03-27 | 2013-03-26 | Ntt Advanced Technology Corporation | Optical connector cleaning tool |
CN103306923A (zh) * | 2012-03-05 | 2013-09-18 | 通用汽车环球科技运作有限责任公司 | 具有可感测涂层的形状记忆合金致动器 |
TW201621323A (zh) * | 2014-11-07 | 2016-06-16 | Murata Manufacturing Co | 探針 |
US20170052217A1 (en) * | 2015-08-17 | 2017-02-23 | Chaojiong Zhang | Electrical Contact and Testing Apparatus |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3325650A1 (de) * | 1983-07-15 | 1985-01-24 | Eckart Dr.med. 8000 München Frimberger | Versteifungssonde und spanneinrichtung fuer diese |
US4580862A (en) * | 1984-03-26 | 1986-04-08 | Amp Incorporated | Floating coaxial connector |
JPS6292475U (zh) * | 1985-11-30 | 1987-06-12 | ||
JPS63161366U (zh) * | 1987-04-10 | 1988-10-21 | ||
JPH042484U (zh) * | 1990-04-23 | 1992-01-10 | ||
JPH07326693A (ja) * | 1994-05-30 | 1995-12-12 | Tokyo Electron Ltd | Bgaパッケージ用コンタクタ |
EP0922960A1 (en) * | 1997-12-12 | 1999-06-16 | Padar Tecnologie di Riccioni Roberto S.a.s. | Microcircuit testing device |
US7053643B2 (en) * | 2004-03-25 | 2006-05-30 | Intel Corporation | Radio frequency (RF) test probe |
US7507099B2 (en) * | 2004-10-01 | 2009-03-24 | Teradyne, Inc. | Floating interface linkage |
JP2008197009A (ja) | 2007-02-14 | 2008-08-28 | Hioki Ee Corp | 電子部品検査プローブ |
JP2011257227A (ja) * | 2010-06-08 | 2011-12-22 | Panasonic Corp | 半導体検査装置および検査方法 |
JP5566221B2 (ja) * | 2010-08-23 | 2014-08-06 | オリンパス株式会社 | ワイヤガイド部材 |
KR101582432B1 (ko) * | 2011-10-07 | 2016-01-04 | 닛폰 하츠죠 가부시키가이샤 | 프로브 유닛 |
JP2015152547A (ja) * | 2014-02-19 | 2015-08-24 | オルガン針株式会社 | 電流プローブ |
US9887478B2 (en) * | 2015-04-21 | 2018-02-06 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Thermally insulating electrical contact probe |
JP6556612B2 (ja) * | 2015-12-04 | 2019-08-07 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
CN105738661B (zh) * | 2016-01-29 | 2019-05-07 | 中国矿业大学 | 一种电气连接器检测装置 |
CN206020477U (zh) * | 2016-08-25 | 2017-03-15 | 上海恽振通讯科技有限公司 | 一种同轴射频连接器探针 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8402587B2 (en) * | 2008-03-27 | 2013-03-26 | Ntt Advanced Technology Corporation | Optical connector cleaning tool |
CN103306923A (zh) * | 2012-03-05 | 2013-09-18 | 通用汽车环球科技运作有限责任公司 | 具有可感测涂层的形状记忆合金致动器 |
TW201621323A (zh) * | 2014-11-07 | 2016-06-16 | Murata Manufacturing Co | 探針 |
US20170052217A1 (en) * | 2015-08-17 | 2017-02-23 | Chaojiong Zhang | Electrical Contact and Testing Apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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