JP7276363B2 - アダプタ - Google Patents

Description

本開示は、アダプタに関する。

携帯端末等の通信機器は、高周波の信号を扱う回路基板を含む。この種の回路基板において、高周波特性などの回路特性の検査は不可欠である。回路特性の検査には、測定ピンを有するプローブ装置が用いられる。検査の際、測定器に接続されたプローブ装置の測定ピンが、回路基板上のコネクタの端子に接触する。この状態で、測定器は、プローブ装置を通じて、回路基板に対して信号を入出力する。これにより、回路基板の回路特性が検査される。

このような検査を実施する前に、プローブ装置のキャリブレーションが行われる。プローブ装置における損失によって引き起こされる測定誤差を補正するためである。プローブ装置のキャリブレーションには、アダプタが用いられる（例えば、実用新案登録第３２２５８４１号公報（特許文献１）参照）。以下、このアダプタをキャリブレーション用アダプタとも言う。

キャリブレーション用アダプタは概ね直方体形状のハウジングで構成される。ハウジングの上面には、プローブ装置と嵌合可能な凹部が形成されている。凹部には、プローブ装置の測定ピンに対応する位置に接触ピンが設けられている。接触ピンには接続ピンが連結され、接続ピンはハウジングの側面から延び出す。接続ピンが延び出す側面には、コネクタ部が設けられている。コネクタ部に同軸ケーブルが取り付けられ、同軸ケーブルの内導体（芯線）が接続ピンに接続される。コネクタ部は、汎用の同軸ケーブルのコネクタに対応するように、標準的な形状寸法を有する。

キャリブレーションの際、アダプタに接続された同軸ケーブルは、プローブ装置と共通の測定器に接続される。プローブ装置がアダプタの凹部と嵌合し、プローブ装置の測定ピンがアダプタの接触ピンに接触する。このようにしてアダプタがプローブ装置に取り付けられる。この状態で、測定器は、プローブ装置に対して信号を入出力する。これにより、プローブ装置のキャリブレーションが行われる。

実用新案登録第３２２５８４１号公報

キャリブレーションが行われる現場において、アダプタは台の上に固定され、アダプタのコネクタ部に同軸ケーブルが取り付けられる。アダプタに取り付けられた同軸ケーブルは、ハウジングのある一つの側面から突出するように引き出される。同軸ケーブルの引出し方向は、使用環境に従って決定される。つまり、同軸ケーブルの引出し方向は、一律ではない。このため、使用環境に応じて、適切な側面にコネクタ部が形成されたアダプタを準備する必要がある。

特に、検査対象の回路基板のコネクタが多極コネクタである場合、コネクタは複数の端子を備える。プローブ装置は、コネクタの各端子に対応する位置に測定ピンを有する。この場合、キャリブレーション用アダプタは、測定ピンに対応する位置に接触ピンを有する。接触ピンの設置位置によっては、ハウジングのある一つの側面から接触ピンまでの距離が、ハウジングの別の側面から接触ピンまでの距離と異なる。

そうすると、使用環境に従って同軸ケーブルの引出し方向が決定されるところ、要求される同軸ケーブルの引出し方向に応じて、接触ピンからコネクタ部までの距離、すなわち接続ピンの長さが変わる。つまり、キャリブレーション用アダプタにおいて、同軸ケーブルの引出し方向に応じて、信号を伝送する線路長が変わる。アダプタにおける線路長が変われば、キャリブレーションの精度が安定しない。

本開示の目的は、使用環境にかかわらず、プローブ装置のキャリブレーションを精度よく行える、アダプタを提供することである。

本開示に係るアダプタは、測定ピンを有するプローブ装置に取り付け可能である。アダプタは、第１ハウジングと、第２ハウジングと、を備える。第１ハウジングは上面及び底面を有する。第１ハウジングは、プローブ装置と嵌合可能な主嵌合部と、第１嵌合部と、貫通孔と、を含む。主嵌合部は、第１ハウジングの上面に形成されている。第１嵌合部は、第１ハウジングの底面に形成されている。貫通孔は、主嵌合部から第１嵌合部まで貫く。第２ハウジングは上面及び側面を有する。第２ハウジングは、第２嵌合部と、接触ピンと、接続ピンと、接続ピンに同軸ケーブルを接続するためのコネクタ部と、を含む。第２嵌合部は、第２ハウジングの上面に形成されている。第２嵌合部は、第１嵌合部と嵌合する。接触ピンは、第１ハウジングの貫通孔を挿通する。接続ピンは、接触ピンに連結され、第２ハウジングの側面から延び出す。コネクタ部は、第２ハウジングの側面に設けられている。

本開示に係るアダプタによれば、使用環境にかかわらず、プローブ装置のキャリブレーションを精度よく行える。

図１は、プローブ装置の要部を示す斜視図である。 図２は、第１実施形態のアダプタの全体構成を示す斜視図である。 図３は、第１実施形態のアダプタの上面図である。 図４は、図３の線IV－IVにおける断面図である。 図５は、図３の線Ｖ－Ｖにおける断面図である。 図６は、第１実施形態のアダプタにおける第１ハウジングの底面図である。 図７は、第１実施形態のアダプタにおける第２ハウジングの上面図である。 図８は、第１実施形態のアダプタの変形例を示す上面図である。 図９は、第１実施形態のアダプタの変形例を示す上面図である。 図１０は、第１実施形態のアダプタの変形例を示す上面図である。 図１１は、第２実施形態のアダプタにおける第１ハウジングの底面図である。 図１２は、第３実施形態のアダプタにおける第１ハウジングの底面図である。 図１３は、第４実施形態のアダプタにおける第１ハウジングの底面図である。 図１４は、第４実施形態のアダプタにおける第２ハウジングの上面図である。

以下、本開示の実施形態について説明する。なお、以下の説明では、本開示の実施形態について例を挙げて説明するが、本開示は以下で説明する例に限定されない。以下の説明において特定の数値や特定の材料を例示する場合があるが、本開示はそれらの例示に限定されない。

本開示の実施形態に係るアダプタは、測定ピンを有するプローブ装置に取り付け可能である。アダプタは、第１ハウジングと、第２ハウジングと、を備える。第１ハウジングは上面及び底面を有する。第１ハウジングは、プローブ装置と嵌合可能な主嵌合部と、第１嵌合部と、貫通孔と、を含む。主嵌合部は、第１ハウジングの上面に形成されている。第１嵌合部は、第１ハウジングの底面に形成されている。貫通孔は、主嵌合部から第１嵌合部まで貫く。第２ハウジングは上面及び側面を有する。第２ハウジングは、第２嵌合部と、接触ピンと、接続ピンと、接続ピンに同軸ケーブルを接続するためのコネクタ部と、を含む。第２嵌合部は、第２ハウジングの上面に形成されている。第２嵌合部は、第１嵌合部と嵌合する。接触ピンは、第１ハウジングの貫通孔を挿通する。接続ピンは、接触ピンに連結され、第２ハウジングの側面から延び出す。コネクタ部は、第２ハウジングの側面に設けられている（第１の構成）。

第１の構成のキャリブレーション用アダプタでは、第２嵌合部が第１嵌合部と嵌合して、第２ハウジングが第１ハウジングと一体化される。このアダプタでは、第２ハウジングに含まれる接触ピンが、第１ハウジングに含まれる貫通孔を挿通する。第１ハウジングの主嵌合部において、貫通孔は、例えば、プローブ装置の測定ピンに対応する位置にある。このため、接触ピンは、プローブ装置の測定ピンに対応する位置に設けられる。さらに、このアダプタでは、第２ハウジングにおいて、接続ピンが接触ピンに連結される。接続ピンは第２ハウジングの一つの側面から延び出し、その側面にコネクタ部が設けられている。

キャリブレーションが行われる現場において、アダプタのコネクタ部に同軸ケーブルが取り付けられる。アダプタに取り付けられた同軸ケーブルは、第２ハウジングの一つの側面から突出するように引き出される。同軸ケーブルの引出し方向は、使用環境に従って決定される。ここで、第２嵌合部を第１嵌合部と嵌合させるとき、使用環境に従って要求される同軸ケーブルの引出し方向に応じて、適切な位置にコネクタ部を配置することができる。つまり、適切な方向に同軸ケーブルを引き出すことができる。しかも、接触ピンからコネクタ部までの距離、すなわち接続ピンの長さは不変である。つまり、アダプタにおいて、信号を伝送する線路長が不変である。したがって、第１の構成のキャリブレーション用アダプタによれば、使用環境にかかわらず、プローブ装置のキャリブレーションを精度よく行える。

第１の構成のアダプタにおいて、好ましくは、第１嵌合部が凹形状であり、第２嵌合部が凸形状である（第２の構成）。

第２の構成のキャリブレーション用アダプタの場合、凸形状の第２嵌合部が凹形状の第１嵌合部と嵌合する。

ただし、第１の構成のアダプタにおいて、第１嵌合部が凸形状であり、第２嵌合部が凹形状であってもよい。この場合、凹形状の第２嵌合部が凸形状の第１嵌合部と嵌合する。

第１又は第２の構成のアダプタは、典型的な例では、第１ハウジングにおいて、主嵌合部がプローブ装置と嵌合可能な凹部である（第３の構成）。ただし、主嵌合部がプローブ装置と嵌合可能な凸部であってもよい。

第１から第３の構成のいずれか１つのアダプタは、好ましくは、下記の構成を含む。第１ハウジングにおいて、第１嵌合部は、第１軸を中心に回転対称な形状を有する。第１軸は、第１ハウジングの上面及び底面に垂直な軸のうちで測定ピンに対応する位置にある。貫通孔は第１軸に沿っている。第２ハウジングにおいて、第２嵌合部は、第１軸と一致する第２軸を中心に回転対称な形状を有する。接触ピンは第２軸に沿って延びる（第４の構成）。

第４の構成のキャリブレーション用アダプタでは、第１ハウジングに含まれる貫通孔は、プローブ装置の測定ピンに対応する位置にある第１軸に沿っている。第２ハウジングに含まれる接触ピンは、第１軸と一致する第２軸に沿って延びている。このため、接触ピンは、確実に、プローブ装置の測定ピンに対応する位置に設けられる。また、相互に嵌合する第１嵌合部及び第２嵌合部について、第１嵌合部は、第１軸を中心に回転対称な形状を有し、第２嵌合部は、第１軸と一致する第２軸を中心に回転対称な形状を有する。このため、第２嵌合部を第１嵌合部と嵌合させるとき、使用環境に従って要求される同軸ケーブルの引出し方向に応じて、第１ハウジング部に対して第２ハウジング部を第１軸（第２軸）回りにずらすことができる。この場合、適切な位置にコネクタ部を配置することができる。つまり、適切な方向に同軸ケーブルを引き出すことができる。

第４の構成のアダプタにおいて、好ましくは、相互に嵌合する第１嵌合部及び第２嵌合部の横断面形状が円形である（第５の構成）。

第５の構成のキャリブレーション用アダプタによれば、第２嵌合部を第１嵌合部と嵌合させるとき、第１ハウジングに対する第１軸（第２軸）回りの第２ハウジングのずらし角度が制限されない。このため、同軸ケーブルの引出し方向を自由に設定することができる。

第５の構成のアダプタは、好ましくは、第１嵌合部に対して第２嵌合部の軸回りの回転を抑制する回転抑制機構を備える（第６の構成）。

第５の構成のアダプタのように第１嵌合部及び第２嵌合部の横断面形状が円形であれば、上記の通り、第１ハウジングに対する第１軸（第２軸）回りの第２ハウジングのずらし角度が制限されない。この場合、第１ハウジングに対して第２ハウジングが軸回りに不意に回転するおそれがある。この点、第６の構成のキャリブレーション用アダプタによれば、そのような事態を防止することができる。

第６の構成のアダプタにおいて、典型的な例では、回転抑制機構は、第１ハウジングの底面に設けられた壁と、この壁と接触する第２ハウジングの側面と、から構成される（第７の構成）。

第７の構成のキャリブレーション用アダプタによれば、第２ハウジングの側面が、第１ハウジングに設けられた壁と接触することにより、第１ハウジングに対して第２ハウジングが軸回りに不意に回転するのを防止することができる。ただし、この場合、第１ハウジングに対する第１軸（第２軸）回りの第２ハウジングのずらし角度が制限される。

回転抑制機構として、第２嵌合部を第１嵌合部と嵌合させた状態で、第２ハウジングを第１ハウジングと接合してもよい。接合方法は特に限定されないが、好ましくは、接着剤による接着、はんだ付け又は溶接である。

第４の構成のアダプタにおいて、相互に嵌合する第１嵌合部及び第２嵌合部の横断面形状が正多角形であってもよい（第８の構成）。

第８の構成のキャリブレーション用アダプタによれば、第２嵌合部を第１嵌合部と嵌合させるだけで、第１ハウジングに対して第２ハウジングが軸回りに不意に回転するのを防止することができる。ただし、この場合、第１ハウジングに対する第１軸（第２軸）回りの第２ハウジングのずらし角度が所定の角度ピッチに制限される。

典型的な例では、第１嵌合部及び第２嵌合部の横断面形状は正方形である。横断面形状は、正三角形、正五角形、又は正六角形等であってもよい。例えば、横断面形状が正方形である場合、第２ハウジングのずらし角度は９０°ピッチである。横断面形状が正三角形である場合、第２ハウジングのずらし角度は１２０°ピッチである。横断面形状が正五角形である場合、第２ハウジングのずらし角度は７２°ピッチである。横断面形状が正六角形である場合、第２ハウジングのずらし角度は６０°ピッチである。

相互に嵌合する第１嵌合部及び第２嵌合部の横断面形状が長方形であってもよい。この場合、第２ハウジングのずらし角度は１８０°ピッチである。

以下に、図面を参照しながら、本実施形態のキャリブレーション用アダプタについて、具体例を説明する。図中同一又は相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。まず、本実施形態のアダプタによってキャリブレーションが行われるプローブ装置について説明する。

［プローブ装置１０１］
図１は、本実施形態のアダプタによってキャリブレーションが行われるプローブ装置１０１の要部を示す斜視図である。図１には、プローブ装置１０１を斜め下方から見たときの様子が示される。

図１を参照して、プローブ装置１０１は回路基板の回路特性の検査に用いられる。検査対象の回路基板はコネクタを備え、コネクタは端子を備える。

プローブ装置１０１は、概ね直方体形状の本体１１０と、本体１１０の底面１１０ａから突出する測定ピン１２０と、を備える。測定ピン１２０は本体１１０によって支持される。例えば、測定ピン１２０は、本体１１０に対して、図示しない弾性体（例：圧縮コイルばね）によって下方（突出方向）に向く弾性力を与えられながら、上方（突出方向とは逆方向）への移動を許容するように支持される。ただし、測定ピン１２０は、本体１１０に対して電気的に絶縁されている。

測定ピン１２０は、検査対象のコネクタの端子に対応する位置に設けられている。コネクタが、複数の端子を備える多極コネクタである場合、コネクタの端子の位置に応じて、測定ピン１２０の設置位置が変わる。本体１１０の底面１１０ａには、一対からなる突出部１１１が形成されている。突出部１１１同士の間の領域に、測定ピン１２０が配置される。

本実施形態では、本体１１０は導電性を有する。例えば、本体１１０の材質は金属である。この金属は、例えばステンレス鋼である。測定ピン１２０は導電性を有する。例えば、測定ピン１２０の材質は金属である。この金属は、例えばベリリウム銅である。

このようなプローブ装置１０１が、図示しない同軸ケーブルを介して、測定器（例：ネットワークアナライザ）に接続される。例えば、プローブ装置１０１において、同軸ケーブルの内導体（芯線）が測定ピン１２０の上部に接続される。この同軸ケーブルの外導体（グラウンド導体）が本体１１０に接続される。

回路基板の検査の際、プローブ装置１０１の本体１１０が検査対象のコネクタと嵌合する。これにより、プローブ装置１０１の測定ピン１２０がコネクタの端子に接触する。このとき、本体１１０の突出部１１１は、コネクタが有する凹部と嵌合する。これにより、コネクタに対するプローブ装置１０１の本体１１０の位置がより安定する。この状態で、測定器は、プローブ装置１０１（測定ピン１２０）及びコネクタを通じて、回路基板に対して信号を入出力する。これにより、回路基板の回路特性が検査される。

［第１実施形態のキャリブレーション用アダプタ１］
図２～図１０を参照して、第１実施形態のキャリブレーション用アダプタ１について説明する。第１実施形態のアダプタ１は、図１に示すプローブ装置１０１のキャリブレーションに用いられる。なお、本明細書では、アダプタ１の構成、及びアダプタ１に対するプローブ装置１０１の位置を説明するのに、上、下、前、後、右及び左を使用している。ただし、これらの各方向は便宜のために使用したものにすぎず、アダプタ１の構成、及びアダプタ１に対するプローブ装置１０１の位置はこれらの各方向に限定されない。例えば、上と下が逆であってもよい。前と後が逆であってもよい。右と左が逆であってもよい。

図２は、第１実施形態のアダプタ１の全体構成を示す斜視図である。図３は、そのアダプタ１の上面図である。図４は、図３の線IV－IVにおける断面図である。図５は、図３の線Ｖ－Ｖにおける断面図である。図６は、第１実施形態のアダプタ１における第１ハウジング１０の底面図である。図７は、第１実施形態のアダプタ１における第２ハウジング２０の上面図である。図２には、アダプタ１を斜め上方から見たときの様子が示される。

図２を参照して、アダプタ１は、第１ハウジング１０と、第２ハウジング２０と、を備える。第２ハウジング２０が第１ハウジング１０の下に配置されている。第２ハウジング２０が第１ハウジング１０と組み合わされることにより、アダプタ１が構成される。

図２～図６を参照して、本実施形態では、第１ハウジング１０の外形は概ね直方体である。第１ハウジング１０は、上面１０ａと、底面１０ｂと、四つの側面１０ｃ、１０ｄ、１０ｅ及び１０ｆとを有する。上面１０ａ及び底面１０ｂは長方形である。本明細書において、便宜上、四つの側面１０ｃ、１０ｄ、１０ｅ及び１０ｆをそれぞれ前側面１０ｃ、後側面１０ｄ、右側面１０ｅ及び左側面１０ｆとも言う。前側面１０ｃ及び後側面１０ｄは、それぞれ上面１０ａ（底面１０ｂ）の対応する短辺につながる。右側面１０ｅ及び左側面１０ｆは、それぞれ上面１０ａ（底面１０ｂ）の対応する長辺につながる。

第１ハウジング１０の上面１０ａには、プローブ装置１０１の本体１１０と嵌合可能な主嵌合部１３が形成されている。各図には、主嵌合部１３が凹部である例が示される。主嵌合部１３は、プローブ装置１０１の本体１１０と嵌合可能な限り、凹部に限定されない。例えば、主嵌合部１３が凸部であってもよい。主嵌合部１３には、一対からなる穴部１４が形成されている。穴部１４は、プローブ装置１０１の本体１１０の突出部１１１に対応する位置に設けられている。

第１ハウジング１０の底面１０ｂには、凹形状の第１嵌合部１１が形成されている。第１嵌合部１１は、第１軸Ａ１を中心に回転対称な形状を有する。第１軸Ａ１は、上面１０ａ及び底面１０ｂに垂直な軸であって、プローブ装置１０１の測定ピン１２０に対応する位置にある。本実施形態では、第１嵌合部１１の横断面形状が円形である。ここでいう横断面とは、第１嵌合部１１を第１軸Ａ１に垂直な面で切断したときの断面を意味する。本実施形態の場合、第１嵌合部１１が凹形状であるため、第１嵌合部１１の内周形状が円形である。

第１ハウジング１０には、第１軸Ａ１に沿って貫通孔１２が設けられている。本明細書において、便宜上、この貫通孔１２を第１貫通孔１２とも言う。第１貫通孔１２は、主嵌合部１３から第１嵌合部１１まで第１ハウジング１０を貫く。別の観点では、第１貫通孔１２は、第１嵌合部１１の中心軸（第１軸Ａ１）に沿って設けられている。第１貫通孔１２の横断面形状は円形である。

さらに、本実施形態では、第１ハウジング１０の底面１０ｂに、各々が第１軸Ａ１に向く第１壁１５及び第２壁１６が設けられている。第１壁１５は、前側面１０ｃの近くで前側面１０ｃと平行に、右側面１０ｅから左側面１０ｆまで延びている。第２壁１６は、第１壁１５と対向し、前側面１０ｃと平行に、右側面１０ｅから左側面１０ｆまで延びている。第１軸Ａ１から第１壁１５までの最短距離は、第２ハウジング２０の形状寸法によって定められる。本実施形態では、後述するように、第２ハウジング２０の外形が概ね直方体であり、その上面２０ａが正方形である。第１ハウジング１０の第１軸Ａ１から第１壁１５までの最短距離は、第２ハウジング２０の上面２０ａの一辺の長さの半分である。第２壁１６についても第１壁１５と同様のことが適用される。

図２～図５及び図７を参照して、本実施形態では、第２ハウジング２０の外形は概ね直方体である。第２ハウジング２０は、上面２０ａと、底面２０ｂと、四つの側面２０ｃ、２０ｄ、２０ｅ及び２０ｆとを有する。上面２０ａ及び底面２０ｂは正方形である。本明細書において、便宜上、四つの側面２０ｃ、２０ｄ、２０ｅ及び２０ｆをそれぞれ第１側面２０ｃ、第２側面２０ｄ、第３側面２０ｅ及び第４側面２０ｆとも言う。第１側面２０ｃ、第２側面２０ｄ、第３側面２０ｅ及び第４側面２０ｆは、それぞれ上面２０ａ（底面２０ｂ）の対応する辺につながる。

第２ハウジング２０の上面２０ａには、凸形状の第２嵌合部２１が形成されている。第２嵌合部２１は、第２軸Ａ２を中心に回転対称な形状を有する。第２軸Ａ２は、第１ハウジング１０の第１軸Ａ１と一致する。本実施形態では、第２嵌合部２１の横断面形状が円形である。ここでいう横断面とは、第２嵌合部２１を第２軸Ａ２（第１軸Ａ１）に垂直な面で切断したときの断面を意味する。本実施形態の場合、第２嵌合部２１が凸形状であるため、第２嵌合部２１の外周形状が円形である。第２嵌合部２１は第１嵌合部１１に嵌合する形状を有する。

第２ハウジング２０は内部空間２４を有する。第２ハウジング２０には、第２軸Ａ２（第１軸Ａ１）に沿って貫通孔２２が設けられている。本明細書において、便宜上、この貫通孔２２を第２貫通孔２２とも言う。第２貫通孔２２は、内部空間２４から第２嵌合部２１まで第２ハウジング２０を貫く。別の観点では、第２貫通孔２２は、第２嵌合部２１の中心軸（第２軸Ａ２）に沿って設けられている。第２貫通孔２２の横断面形状は円形である。

第２貫通孔２２には、円筒状のブッシング３１が挿入されている。ブッシング３１は絶縁性材料で構成される。ブッシング３１には、接触ピン３０が挿入されている。接触ピン３０は、第２軸Ａ２（第１軸Ａ１）に沿って延びている。接触ピン３０は、ブッシング３１を介して第２ハウジング２０の第２嵌合部２１に固定される。

接触ピン３０の下端部３０ｂは、第２ハウジング２０の内部空間２４に配置されている。接触ピン３０の下端部３０ｂに接続ピン４０が連結される。連結方法は特に限定されない。連結方法は、単なる接触であってもよいし、はんだ付けであってもよい。接続ピン４０は、第２ハウジング２０の四つの側面２０ｃ、２０ｄ、２０ｅ及び２０ｆのうちの、例えば、第４側面２０ｆから外部に延び出す。

接続ピン４０が延び出す第４側面２０ｆには、コネクタ部２３が設けられている。典型的な例では、コネクタ部２３はＳＭＡ（Sub Miniature Type A）型コネクタである。例えば、コネクタ部２３は円筒状の外導体部２３ａを含む。外導体部２３ａは、第２ハウジング２０と一体成形される。外導体部２３ａには、円筒状のブッシング４１が挿入されている。ブッシング４１は絶縁性材料で構成される。ブッシング４１には、接続ピン４０が挿入されている。接続ピン４０は、接触ピン３０に連結された状態で、ブッシング４１を介して第２ハウジング２０のコネクタ部２３に固定される。

本実施形態では、第１ハウジング１０及び第２ハウジング２０は導電性を有する。例えば、第１ハウジング１０及び第２ハウジング２０の材質は金属である。この金属は、例えばステンレス鋼である。接触ピン３０及び接続ピン４０は導電性を有する。例えば、接触ピン３０及び接続ピン４０の材質は金属である。この金属は、例えばベリリウム銅である。

本実施形態のアダプタ１では、第２嵌合部２１が第１嵌合部１１と嵌合して、第２ハウジング２０が第１ハウジング１０と一体化される。第２嵌合部２１が第１嵌合部１１と嵌合するのに伴い、接触ピン３０がブッシング３１と共に第１貫通孔１２を挿通する。接触ピン３０の先端（上端）は第１ハウジング１０の主嵌合部１３に表出する。第１ハウジング１０の主嵌合部１３において、第１貫通孔１２は第１軸Ａ１に沿っており、第１軸Ａ１は、プローブ装置１０１の測定ピン１２０に対応する位置にある。このため、接触ピン３０は、プローブ装置１０１の測定ピン１２０に対応する位置に設けられる。

さらに、本実施形態のアダプタ１では、第２ハウジング２０において、接続ピン４０が接触ピン３０に連結される。接続ピン４０は第４側面２０ｆから延び出し、その第４側面２０ｆにコネクタ部２３が設けられている。図２～図５に示す例では、第２嵌合部２１が第１嵌合部１１と嵌合した状態において、第２ハウジング２０の第４側面２０ｆが第１ハウジング１０の左側面１０ｆと同じ方向を向く。このため、コネクタ部２３は第１ハウジング１０の左側面１０ｆ側に配置される。また、この状態において、第２ハウジング２０の第１側面２０ｃが、第１ハウジング１０の底面１０ｂに設けられた第１壁１５と接触している。第２ハウジング２０の第２側面２０ｄが、第１ハウジング１０の底面１０ｂに設けられた第２壁１６と接触している。ただし、相互に接触する第１側面２０ｃと第１壁１５との間に僅かな隙間が設けられてもよい。これと同様に、相互に接触する第２側面２０ｄと第２壁１６との間に僅かな隙間が設けられてもよい。

ここで、相互に嵌合する第１嵌合部１１及び第２嵌合部２１について、第１嵌合部１１は、第１軸Ａ１を中心に回転対称な形状を有し、第２嵌合部２１は、第１軸Ａ１と一致する第２軸Ａ２を中心に回転対称な形状を有する。このため、第２嵌合部２１を第１嵌合部１１と嵌合させるとき、第１ハウジング１０に対して第２ハウジング２０を第１軸Ａ１（第２軸Ａ２）回りにずらすことができる。このため、第１ハウジング１０に対して、コネクタ部２３の設置位置を変えることができる。

特に、本実施形態では、第１嵌合部１１及び第２嵌合部２１の横断面形状が円形であるため、第１ハウジング１０に対する第１軸Ａ１（第２軸Ａ２）回りの第２ハウジング２０のずらし角度は制限されない。この場合、第１ハウジング１０に対して第２ハウジング２０が軸回りに不意に回転するおそれがある。この点、第２嵌合部２１が第１嵌合部１１と嵌合した状態において、第２ハウジング２０の第１側面２０ｃが第１ハウジング１０の第１壁１５と接触し、第２ハウジング２０の第２側面２０ｄが第１ハウジング１０の第２壁１６と接触している。これにより、第１ハウジング１０に対して第２ハウジング２０が軸回りに不意に回転する事態を防止することができる。つまり、第１側面２０ｃと第１壁１５との接触は、第１ハウジング１０に対して第２ハウジング２０の軸回りの回転を抑制する回転抑制機構として機能する。これと同様に、第２側面２０ｄと第２壁１６との接触は、回転抑制機構として機能する。

図８～図１０は、それぞれ第１実施形態のアダプタ１の変形例を示す上面図である。図８～図１０には、第１実施形態のアダプタ１においてコネクタ部２３の取り得る設置位置が示される。

図８に示す例では、第２嵌合部２１が第１嵌合部１１と嵌合した状態において、第２ハウジング２０の第４側面２０ｆが第１ハウジング１０の右側面１０ｅと同じ方向を向く。このため、コネクタ部２３は第１ハウジング１０の右側面１０ｅ側に配置される。また、この状態において、第２ハウジング２０の第２側面２０ｄが第１ハウジング１０の第１壁１５と接触している。第２ハウジング２０の第１側面２０ｃが第１ハウジング１０の第２壁１６と接触している。

図９に示す例では、第２嵌合部２１が第１嵌合部１１と嵌合した状態において、第２ハウジング２０の第４側面２０ｆが第１ハウジング１０の後側面１０ｄと同じ方向を向く。このため、コネクタ部２３は第１ハウジング１０の後側面１０ｄ側に配置される。また、この状態において、第２ハウジング２０の第３側面２０ｅが第１ハウジング１０の第１壁１５と接触している。第２ハウジング２０の第４側面２０ｆが第１ハウジング１０の第２壁１６と接触している。

図１０に示す例では、第２嵌合部２１が第１嵌合部１１と嵌合した状態において、第２ハウジング２０の第４側面２０ｆが第１ハウジング１０の前側面１０ｃと同じ方向を向く。このため、コネクタ部２３は第１ハウジング１０の前側面１０ｃ側に配置される。また、この状態において、第２ハウジング２０の第４側面２０ｆが第１ハウジング１０の第１壁１５と接触している。第２ハウジング２０の第３側面２０ｅが第１ハウジング１０の第２壁１６と接触している。

キャリブレーションが行われる現場において、アダプタ１のコネクタ部２３に同軸ケーブル（図示省略）が取り付けられる。アダプタ１に取り付けられた同軸ケーブルは、第２ハウジング２０の第４側面２０ｆから突出するように引き出される。同軸ケーブルの引出し方向は、使用環境に従って決定される。ここで、上記の通り、第１嵌合部１１は、第１軸Ａ１を中心に回転対称な形状を有し、第２嵌合部２１は、第１軸Ａ１と一致する第２軸Ａ２を中心に回転対称な形状を有する。このため、第２嵌合部２１を第１嵌合部１１と嵌合させるとき、使用環境に従って要求される同軸ケーブルの引出し方向に応じて、第１嵌合部１１に対して第２嵌合部２１を第１軸Ａ１（第２軸Ａ２）回りにずらすことができる。この場合、適切な位置にコネクタ部２３を配置することができる。つまり、適切な方向に同軸ケーブルを引き出すことができる。

キャリブレーションの際、アダプタ１のコネクタ部２３に同軸ケーブルが取り付けられ、同軸ケーブルの内導体（芯線）が接続ピン４０に接続される。この同軸ケーブルの外導体（グラウンド導体）がコネクタ部２３の外導体部２３ａに接続される。アダプタ１に接続された同軸ケーブルは、プローブ装置１０１と共通の測定器（例：ネットワークアナライザ）に接続される。

プローブ装置１０１の本体１１０がアダプタ１の主嵌合部１３と嵌合する。主嵌合部１３が凹部である場合、本体１１０が凹部と嵌合する。この場合、本体１１０の側面が凹部の内面と接触することにより、アダプタ１に対する本体１１０の位置が決まる。これにより、プローブ装置１０１の測定ピン１２０がアダプタ１の接触ピン３０に接触する。このとき、本体１１０の突出部１１１は、アダプタ１の主嵌合部１３に形成された穴部１４と嵌合する。これにより、アダプタ１に対するプローブ装置１０１の本体１１０の位置がより安定する。この状態で、測定器は、プローブ装置１０１（測定ピン１２０）に対して信号を入出力する。これにより、プローブ装置１０１のキャリブレーションが行われる。なお、主嵌合部１３が凸部である場合、本体１１０の突出部１１１がアダプタ１の主嵌合部１３に形成された穴部１４と嵌合することにより、アダプタ１に対する本体１１０の位置が決まる。

このとき、接触ピン３０からコネクタ部２３までの距離、すなわち接続ピン４０の長さは不変である。つまり、アダプタ１において、信号を伝送する線路長が不変である。したがって、使用環境にかかわらず、プローブ装置１０１のキャリブレーションを精度よく行える。

本実施形態において、第１壁１５及び第２壁１６のいずれか一方のみが第１ハウジング１０の底面１０ｂに設けられても構わない。第１壁１５のみ又は第２壁１６のみであっても、第１ハウジング１０に対して第２ハウジング２０が軸回りに不意に回転する事態を防止することができるからである。

また、本実施形態において、第２嵌合部２１を第１嵌合部１１と嵌合させた状態で、第２ハウジング２０を第１ハウジング１０と接合してもよい。接合方法は、接着剤による接着であってもよいし、はんだ付け又は溶接であってもよい。これにより、第２ハウジング２０が第１ハウジング１０と強固に一体化される。

また、本実施形態において、第１壁１５及び第２壁１６が設けられなくてもよい。第２ハウジング２０を第１ハウジング１０と接合すれば、第１ハウジング１０に対して第２ハウジング２０が軸回りに不意に回転する事態を防止することができるからである。この場合、第１ハウジング１０に対する第１軸Ａ１（第２軸Ａ２）回りの第２ハウジング２０のずらし角度が制限されないため、同軸ケーブルの引出し方向を自由に設定することができる。

［第２実施形態のキャリブレーション用アダプタ１］
図１１は、第２実施形態のアダプタ１における第１ハウジング１０の底面図である。第２実施形態のアダプタ１は、第１実施形態のアダプタ１における回転抑制機構を変更したものである。

本実施形態では、第２壁１６が、左側面１０ｆから右側面１０ｅと左側面１０ｆとの間の中央までの範囲に設けられている。第２嵌合部２１が第１嵌合部１１と嵌合した状態において、第２ハウジング２０の例えば第２側面２０ｄが第１ハウジング１０の第２壁１６と接触している。第１実施形態における第１壁１５（図６参照）は設けられていない。ただし、第２壁１６と同様の第１壁１５が設けられてもよい。第１壁１５が設けられる場合、第２壁１６が設けられなくてもよい。本実施形態のアダプタ１によれば、上記した第１実施形態のアダプタ１と同様の効果を奏することができる。

［第３実施形態のキャリブレーション用アダプタ１］
図１２は、第３実施形態のアダプタ１における第１ハウジング１０の底面図である。第３実施形態のアダプタ１は、第１実施形態のアダプタ１における回転抑制機構を変更したものである。

本実施形態では、第１実施形態の第２壁１６（図６参照）に代えて、第１ハウジング１０の底面１０ｂに一対の突起１７が設けられている。一対の突起１７は、第２壁１６の設置位置に相当する位置に設けられている。一方の突起１７は、右側面１０ｅの近くに設けられ、他方の突起１７は、左側面１０ｆの近くに設けられている。第２嵌合部２１が第１嵌合部１１と嵌合した状態において、第２ハウジング２０の例えば第２側面２０ｄが第１ハウジング１０の一対の突起１７と接触している。第１実施形態の第１壁１５（図６参照）は設けられていない。ただし、第１壁１５の設置位置に相当する位置に、一対の突起１７と同様の一対の突起が設けられてもよい。本実施形態のアダプタ１によれば、上記した第１実施形態のアダプタ１と同様の効果を奏することができる。

［第４実施形態のキャリブレーション用アダプタ１］
図１３及び図１４を参照して、第４実施形態のキャリブレーション用アダプタ１について説明する。第４実施形態のアダプタ１は、第１実施形態のアダプタ１における第１嵌合部１１及び第２嵌合部２１の横断面形状を変更したものである。

図１３は、第４実施形態のアダプタ１における第１ハウジング１０の底面図である。図１４は、第４実施形態のアダプタ１における第２ハウジング２０の上面図である。

本実施形態では、相互に嵌合する第１嵌合部１１及び第２嵌合部２１の横断面形状が正方形である。本実施形態の場合、第１嵌合部１１が凹形状であるため、第１嵌合部１１の内周形状が正方形である。第２嵌合部２１が凸形状であるため、第２嵌合部２１の外周形状が正方形である。

本実施形態のアダプタ１によれば、上記した第１実施形態のアダプタ１と同様の効果を奏することができる。

もっとも、本実施形態のアダプタ１では、第２嵌合部２１を第１嵌合部１１と嵌合させるだけで、第１ハウジング１０に対して第２ハウジング２０が軸回りに不意に回転するのを防止することができる。このため、本実施形態のアダプタ１には、第１実施形態のような第１壁１５及び第２壁１６が設けられなくてもよい。ただし、本実施形態のアダプタ１の場合、第１嵌合部１１及び第２嵌合部２１の横断面形状が正方形であるため、第１ハウジング１０に対する第１軸Ａ１（第２軸Ａ２）回りの第２ハウジング２０のずらし角度が９０°ピッチに制限される。

本実施形態において、相互に嵌合する第１嵌合部１１及び第２嵌合部２１の横断面形状は、正多角形である限り、正方形に限定されない。例えば、横断面形状は、正三角形、正五角形、又は正六角形等であってもよい。

その他、本開示は上記の実施形態に限定されず、本開示の趣旨を逸脱しない範囲で、種々の変更が可能である。例えば、相互に嵌合する第１嵌合部１１及び第２嵌合部２１の横断面形状は、回転対称な形状である限り、特に限定されない。例えば、横断面形状は長方形であってもよい。

また、上記の実施形態の場合、第１嵌合部１１が凹形状であり、第２嵌合部２１が凸形状である。しかしながら、第１嵌合部１１が凸形状であり、第２嵌合部２１が凹形状であっても構わない。この場合、凹形状の第２嵌合部２１が凸形状の第１嵌合部１１と嵌合する。

１：アダプタ
１０：第１ハウジング
１０ａ：上面
１０ｂ：底面
１０ｃ、１０ｄ、１０ｅ、１０ｆ：側面
１１：第１嵌合部
１２：貫通孔
１３：主嵌合部
２０：第２ハウジング
２０ａ：上面
２０ｃ、２０ｄ、２０ｅ、２０ｆ：側面
２１：第２嵌合部
２３：コネクタ部
３０：接触ピン
４０：接続ピン
Ａ１：第１軸
Ａ２：第２軸

Claims (8)

1. 測定ピンを有するプローブ装置に取り付け可能なアダプタであって、
   上面及び底面を有する第１ハウジングであって、
   前記第１ハウジングの前記上面に形成され、前記プローブ装置と嵌合可能な主嵌合部と、
   前記第１ハウジングの前記底面に形成される第１嵌合部と、
   前記主嵌合部から前記第１嵌合部まで貫く貫通孔と、を含む、前記第１ハウジングと、
   上面及び側面を有する第２ハウジングであって、
   前記第２ハウジングの前記上面に形成され、前記第１嵌合部と嵌合する第２嵌合部と、
   前記第１ハウジングの前記貫通孔を挿通する接触ピンと、
   前記接触ピンに連結され、前記第２ハウジングの前記側面から延び出す接続ピンと、
   前記第２ハウジングの前記側面に設けられ、前記接続ピンに同軸ケーブルを接続するためのコネクタ部と、を含む、前記第２ハウジングと、
   を備える、アダプタ。
2. 請求項１に記載のアダプタであって、
   前記第１嵌合部が凹形状であり、前記第２嵌合部が凸形状である、アダプタ。
3. 請求項１又は２に記載のアダプタであって、
   前記第１ハウジングにおいて、前記主嵌合部が前記プローブ装置と嵌合可能な凹部である、アダプタ。
4. 請求項１から３のいずれか１項に記載のアダプタであって、
   前記第１ハウジングにおいて、前記第１嵌合部は、前記第１ハウジングの前記上面及び前記底面に垂直な軸のうちで前記測定ピンに対応する位置にある第１軸を中心に回転対称な形状を有し、前記貫通孔は第１軸に沿っており、
   前記第２ハウジングにおいて、前記第２嵌合部は、前記第１軸と一致する第２軸を中心に回転対称な形状を有し、前記接触ピンは第２軸に沿って延びる、アダプタ。
5. 請求項４に記載のアダプタであって、
   相互に嵌合する前記第１嵌合部及び前記第２嵌合部の横断面形状が円形である、アダプタ。
6. 請求項５に記載のアダプタであって、
   前記第１嵌合部に対して前記第２嵌合部の前記軸回りの回転を抑制する回転抑制機構を備える、アダプタ。
7. 請求項６に記載のアダプタであって、
   前記回転抑制機構は、前記第１ハウジングの前記底面に設けられた壁と、前記壁と接触する前記第２ハウジングの側面と、から構成される、アダプタ。
8. 請求項４に記載のアダプタであって、
   相互に嵌合する前記第１嵌合部及び前記第２嵌合部の横断面形状が正多角形である、アダプタ。
   

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