TWI700617B - 電子機器、控制裝置、記錄介質以及控制方法 - Google Patents

電子機器、控制裝置、記錄介質以及控制方法 Download PDF

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Abstract

本發明實現一種在電子機器受到衝擊後，接觸偵測裝置能夠對物體之接觸適當地進行偵測的電子機器。該電子機器具備對物體之接觸進行偵測的接觸偵測裝置(1)、及控制裝置(2)，該控制裝置具備：判定部(21)，其對是否滿足多個條件進行判定；以及校正執行部(22)，其在滿足該多個條件的情況下執行該接觸偵測裝置的校正；在用於該校正執行部執行該校正的多個條件中，包含：該判定部判定為偵測到衝擊；以及，在從該衝擊的偵測到規定的期間以上，藉由該接觸偵測裝置未偵測到接觸。

Description

電子機器、控制裝置、記錄介質以及控制方法
本發明涉及一種電子機器、控制裝置、控制程序、記錄有該程序的記錄介質以及控制方法。
以往，已知有一種具備接觸感測器，並能夠對由用戶抓握或按壓這樣的動作進行偵測的電子機器。專利文獻1中公開了能夠抑制由周圍環境的變化引起的接觸狀態的錯誤判定的資訊處理裝置。
專利文獻1：日本公開專利公報“特開2015-211455號公報(2015年11月24日公開)”
專利文獻1所記載的電子機器，存在有如下問題，即，在受到衝擊的情況下，儘管未把持終端，但也有可能接觸偵測裝置成為保持進行了反應的狀態。
本發明的一個態樣是鑒於所述的問題點而完成，其目的在於，實現一種在電子機器受到衝擊後，接觸偵測裝置能夠對物體之接觸適當地進行偵測的電子機器。
為了解決所述的問題，本發明的一個態樣的電子機器，具備對物體之接觸進行偵測的接觸偵測裝置、及控制裝置，該控制裝置具備：判定部，其對是否滿足多個條件進行判定；以及校正執行部，其在滿足該多個條件的情況下，執行該接觸偵測裝置的校正；在用於該校正執行部執行 該校正的該多個條件中，包含：該判定部判定為偵測到衝擊；以及，在從該衝擊的偵測到規定的期間以上，藉由該接觸偵測裝置未偵測到接觸。
此外，為了解決所述的問題，本發明的一個態樣的控制裝置，對具備偵測物體之接觸的接觸偵測裝置的電子機器進行控制，該控制裝置具備：判定部，其對是否滿足多個條件進行判定；以及校正執行部，其在滿足該多個條件的情況下，執行該接觸偵測裝置的校正；在用於該校正執行部執行該校正的該多個條件中，包含：該判定部判定為偵測到衝擊；以及，在從該衝擊的偵測到規定的期間以上，藉由該接觸偵測裝置未偵測到接觸。
此外，為了解決所述的問題，本發明的一個態樣的控制方法，為電子機器的控制方法，該電子機器具備對物體之接觸進行偵測的接觸偵測裝置、以及控制裝置，該控制方法包含：判定步驟，對是否滿足多個條件進行判定；以及校正步驟，在滿足該多個條件的情況下，執行該接觸偵測裝置的校正；在該多個條件中，包含：該控制裝置判定為偵測到衝擊；以及，在從該衝擊的偵測到規定的期間以上，藉由該接觸偵測裝置未偵測到接觸。
根據本發明的一個態樣，發揮如下效果：在電子機器受到衝擊後，接觸偵測裝置能夠適當地偵測物體之接觸。
1:接觸偵測裝置
2:控制裝置
3:計時器
4:儲存裝置
5:顯示裝置
6:衝擊偵測裝置
7:殼體
10:電子機器
21:偵測裝置控制部(判定部)
22:校準處理部(校正執行部)
圖1為表示本發明的實施形態的電子機器的概要構成的框圖。
圖2為表示所述電子機器的外觀的圖。
圖3為用於對所述電子機器的動作進行說明的圖。
圖4為表示所述電子機器的動作的流程的一個示例的流程圖。
圖5為用於對所述電子機器的動作進行說明的圖。
〔第一實施形態〕
以下，對本發明的一個實施形態詳細地進行說明。對於以下的特定的項目(實施形態)中的構成，在其與其他項目中說明的構成相同的情況下，有時省略說明。此外，為了便於說明，對與各項目所示的構件具有相同功能的構件，標記相同的符號，並適當省略其說明。
此外，作為以下說明的電子機器，只要是具有供人把持的部分的機器，則可以是任何的機器。作為這樣的電子機器，例如可列舉出智慧型手機、可攜式電話、平板終端、遙控器、乾燥機、以及吸塵器等。
〔電子機器〕
以下，對電子機器10為智慧型手機的示例進行說明，但電子機器10並不限定於這樣的形態。如圖1所示，電子機器10具備接觸偵測裝置1、控制裝置2、計時器3、儲存裝置4、顯示裝置5、以及衝擊偵測裝置6。
接觸偵測裝置1為主要能夠偵測人類把持的情況的裝置。作為接觸偵測裝置1，例如可以想到對以何種程度施加壓力進行偵測的裝置以及對由壓力變化引起的電子機器10的變形、翹曲進行偵測的裝置等。更具體而言，作為接觸偵測裝置1，可例示壓力感測器、壓電感測器、以及靜電感測器(3D力感測器)等、偵測用戶的手等與物體之接觸的感測器。另外，接觸偵測裝置的輸出值是指，作為一個示例，接觸偵測裝置1將因接觸而輸入的信號數值化，並向偵測裝置控制部21輸出的值。
衝擊偵測裝置6為可偵測電子機器10受到衝擊的裝置。作為衝擊偵測裝置6，對作用於電子機器10的加速度進行偵測，例如可列舉出加速度感 測器。另外，衝擊偵測裝置的輸出值是指，作為一個示例，衝擊偵測裝置6將因衝擊而輸入的信號數值化，並向偵測裝置控制部21輸出的值。
控制裝置2統括性地控制電子機器10的各個部分，在本實施形態中，尤其具備偵測裝置控制部(判定部)21以及校準處理部(校正執行部)22。在下文中對偵測裝置控制部21以及校準處理部22的功能的詳情進行說明。
計時器3用於對時間進行計測。計時器3例如能夠藉由時間計測用的即時時鐘(RTC)IC(Integrated Circuit)來實現。此外，計時器3示範性地形成為，在根據偵測裝置控制部21的指示從開始時間的計測到經過了規定的時間時能夠向偵測裝置控制部21輸出通知信號(警報器)。
儲存裝置4對各種數據以及程序進行儲存。儲存裝置4例如能夠由作為非揮發性的儲存裝置的硬碟、快閃記憶體、以及ROM等構成。儲存裝置4中例如預先儲存有作為不接觸物體等時的接觸偵測裝置1的輸出值的基準值、接觸偵測裝置1的輸出值的接觸閾值以及衝擊偵測裝置6的輸出值的衝擊閾值。偵測裝置控制部21能夠從儲存裝置4中讀/寫所儲存的值。
基準值用於表示電子機器10的殼體未被用戶把持時的接觸偵測裝置的輸出值。接觸閾值為，用於判定物體與接觸偵測裝置1的接觸的閾值，並基於所述基準值進行設定。此外，衝擊閾值為，用於判定電子機器10的掉落、以及異物對電子機器10的碰撞等、電子機器10的急劇速度變化的閾值。
對於顯示裝置5例如使用液晶面板。但是，顯示裝置5所使用的顯示面板並不限定於液晶面板，也可以是有機EL(電致發光)面板、無機EL面板、以及等離子面板等。
偵測裝置控制部21對接觸偵測裝置1以及衝擊偵測裝置6的動作進行控制，尤其是對是否滿足以下的(1)以及(2)的兩個條件進行判定。兩個條件為，(1)衝擊偵測裝置6對規定以上的大小的衝擊進行偵測、即由衝擊偵測裝置6偵測超過了儲存裝置4所儲存的衝擊閾值的輸出值；以及(2)偵測到衝擊後，在規定的期間以上，接觸偵測裝置1未偵測接觸。
校準處理部22在判定為滿足所述(1)且(2)的條件的情況下，執行校準。
作為具體的校準處理的一個示例，校準處理部22藉由將衝擊偵測後的所述接觸偵測裝置的輸出值設定為所述接觸偵測裝置的基準值，對接觸偵測裝置1進行校正。
在滿足所述(1)以及(2)的條件的情況下，考慮不是人類把持電子機器10的狀態，而是因電子機器10的殼體的變形等而物理性地持續施加壓力的狀態。在這樣的情況下，藉由對接觸偵測裝置1的輸出值進行校正，即使在儘管未接觸物體但接觸偵測裝置1處於進行了反應的狀態的狀況下，也能夠對物體之接觸適當地進行偵測。
此外，校準處理部22也可以構成為，(3)對是否滿足偵測到衝擊後的接觸偵測裝置1的輸出值與儲存部所儲存的基準值的差分為規定的值以上這樣的條件進行判定。作為一個示例，校準處理部22在除所述(1)以及(2)的條件以外而判定為滿足(3)的條件的情況下，也可以執行校準。在此，作為所述規定的值，也可以使用固定值，也可以是根據假定的使用場景等而適當設定的構成。
圖2為表示本實施形態的電子機器10的外觀的概要圖。電子機器10在殼體的至少1個面具備顯示裝置5(觸控面板等)。另外，如圖2的(a)所示，將具備顯示裝置5的面稱作電子機器10的“正面”。此外，電子機器 10在把持住電子機器10的殼體的用戶的手與電子機器10接觸位置具備接觸偵測裝置1。
例如，如圖2的(a)以及(b)所示，電子機器10的與所述正面的長邊相鄰的兩個面(將該兩個面稱作電子機器10的“側面”)分別逐一具備接觸偵測裝置1。另外，接觸偵測裝置1的數量以及接觸偵測裝置1配置的範圍並不限定於圖2的(a)以及(b)所示的示例，例如，接觸偵測裝置1也可以在所述各側面配置多個，接觸偵測裝置1也可以配置於側面整體。
此外，接觸偵測裝置1也可以露出殼體之外，如圖2的(c)所示，也可以配置於殼體7之中。換言之，接觸偵測裝置1只要設置於與把持住殼體7的用戶的手的位置對應的位置即可。此外，除所述以外，還可以想到接觸偵測裝置1配置在例如電源鍵/音量按鈕/Home按鈕(未圖示)等的下側、顯示面板(觸控面板)的下側等。
圖3為表示接觸偵測裝置1的輸出值與時間的關係的圖表。持續預備時間t0為，用於判斷接觸偵測裝置1的輸出值的變動是否已收斂的期間，如果在該時間內接觸偵測裝置1的輸出值的變動收斂在變動幅度d內，則偵測裝置控制部21判定為接觸偵測裝置1的輸出值的變動已收斂。
接著，持續時間t為，用於判斷人類是否把持電子機器10的期間，如果在該時間內接觸偵測裝置1的輸出值的變動收斂在變動幅度d內，則偵測裝置控制部21判定為人類未把持電子機器10。另一方面，在所述持續時間t的期間內存在超過變動幅度d的接觸偵測裝置1的輸出值的變動的情況下，偵測裝置控制部21判定為人類把持電子機器10。這是由於，可以想到在人體與接觸偵測裝置1接觸(人把持電子機器10)時，必須產生一定以上的輸出值的變動。即，在接觸偵測裝置1的輸出值超過預先設 定的接觸閾值且一定幅度以上的輸出值的變動持續一定時間的情況下，能夠判斷為人類把持電子機器10。
〔電子機器的動作例(電子機器10的控制方法，其1)〕
接著，基於圖4的流程圖，對電子機器10的動作例(其1)進行說明。首先，開始使用電子機器10，進入步驟S(以下，省略“步驟”)1。
S1中，預先偵測裝置控制部21將接觸偵測裝置1的輸出值(以下，稱作感測器值)即基準值儲存於儲存裝置4。
S2中，偵測裝置控制部21對衝擊偵測裝置6的輸出值是否急劇轉變進行判定。這與判定電子機器10(終端)受到掉落等的衝擊相對應。此時，在衝擊偵測裝置6的輸出值超過預先設定的衝擊閾值的情況下，進入S3。另一方面，在輸出值為衝擊閾值以下的情況下，返回S1。
S3中，偵測裝置控制部21對感測器值是否連續(持續預備時間t0的期間)地收斂於變動幅度d0內進行判定。這與判定感測器值的變動是否已收斂相對應。此時，感測器值在持續預備時間t0的期間內持續地收斂於變動幅度d0內的情況下，進入S4。另一方面，在超過變動幅度d的感測器值的變動產生在持續預備時間t0的期間內的情況下，返回S1。S4中，偵測裝置控制部21啟動計時器3，進入S5。
S5中，偵測裝置控制部21，在感測器值的變動於一定時間(持續時間t)的期間，對是否收斂於變動幅度d內進行判定。這與判定人類是否把持電子機器10相對應。此時，感測器值的變動在一定時間(持續時間t)的期間收斂於變動幅度d內的情況下，進入S6。另一方面，在超過變動幅度d的感測器值的變動產生在持續時間t的期間內的情況下，進入S8。S8中使計時器3初始化，返回S1。
S6中，偵測裝置控制部21對S5的感測器值和儲存裝置4預先儲存的基準值進行比較，在其差分為規定值以上的情況下，進入S7。另一方面，在該差分比規定值小的情況下，進入S8。S8中，使計時器3初始化並返回S1。
S7中，校準處理部22執行校準(校正)。具體而言，藉由變更接觸偵測裝置1的基準值來對感測器值進行校正。例如，校準處理部22也可以計算出持續時間t內的感測器值的平均值，將其平均值作為新的基準值。由此，完成圖示的處理。
〔第二實施形態〕
以下對第二實施形態進行說明。另外，為了便於說明，對與所述實施形態中已說明的構件具有相同的功能的構件，標記相同的符號，並不重複其說明。
在本實施形態中，在儲存裝置4中，除作為不與物體等接觸時的接觸偵測裝置1的輸出值的基準值以外，也可以預先儲存有與接觸偵測裝置1的輸出值的變化量相關的閾值(變化量閾值)。在此，輸出值的變化量是指接觸偵測裝置1的輸出值的每單位時間的變化量。與變化量有關的閾值為，用於判定由電子機器10的掉落、異物對電子機器10的碰撞等引起的、單位時間內的急劇的輸出值的變化的閾值。另外，上述的單位時間在電子機器10的設計中適當設定為最佳即可。例如，在電子機器10中，在設計為按每0.01秒讀出來自接觸偵測裝置1的輸出值的情況下，所述單位時間作為一個示例設為0.01秒即可。
在本實施形態中，控制裝置2在接觸偵測裝置1的輸出值的變化量超過變化量閾值的情況下，判定為偵測到衝擊。
偵測裝置控制部21對是否滿足(1)接觸偵測裝置1偵測到衝擊以及(2)偵測到衝擊後，在規定的期間以上，接觸偵測裝置1未偵測接觸這樣的兩個條件進行判定。
〔電子機器的動作例(電子機器10的控制方法，其2)〕
在本實施形態中，在校準處理中，藉由實施以下的處理來執行第一實施形態中的圖4所示的處理過程中的步驟S2。
即，S2中，偵測裝置控制部21對接觸偵測裝置1的輸出值是否急劇轉變進行判定。這與判定電子機器10(終端)受到掉落等衝擊相對應。
本實施形態中偵測裝置控制部21的處理除上述的S2以外，與第一實施形態中說明的處理的流程相同。
在本實施形態中，電子機器10具備和不具備衝擊偵測裝置6均可。電子機器10具備衝擊偵測裝置6，即使在衝擊偵測裝置6未偵測衝擊的情況下，而接觸偵測裝置1偵測到衝擊的情況下，偵測裝置控制部21也可以判定為電子機器受到衝擊。此外，接觸偵測裝置1以及衝擊偵測裝置6這雙方也可以負責施加於電子機器10的衝擊的偵測這樣的任務。
〔電子機器的動作例(電子機器10的控制方法，其3)〕
圖5中示出壓力變化的圖像。圖5的(a)以及(b)所示的圖表表示接觸偵測裝置1的輸出值與時間的關係。圖5的(a)所示的圖表表示人手持電子機器10時的壓力變化。另一方面，圖5的(b)所示的圖表表示由電子機器10的掉落或異物對電子機器10的碰撞而產生的壓力變化。
在圖5的(a)所示的圖表中接觸偵測裝置1的輸出值超過閾值L(接觸閾值)後的輸出值的變化比較緩和。另一方面，在圖5的(b)所示的圖表中接觸偵測裝置1的輸出值超過閾值L(接觸閾值)後的輸出值的變化比較陡峭。因此，如果計算出接觸偵測裝置1的輸出值的變化量， 則能夠根據其變化量的大小，對人持有電子機器10時的狀態、或存在有電子機器10的掉落或者異物對電子機器10的碰撞時的狀態進行判別。
如此，本第二實施形態中的衝擊偵測藉由參照接觸偵測裝置1的輸出值的變化量來更好地實施。
〔第三實施形態〕
以下對第三實施形態進行說明。另外，為了便於說明，對與所述實施形態中已說明的構件具有相同的功能的構件，標注相同的符號，並不重複其說明。
在本實施形態中，校準處理部22也可以實施變更接觸閾值的處理，以替代藉由變更基準值來對接觸偵測裝置1輸出的輸出值進行校正。對於接觸閾值，針對圖3所示的持續時間t輸出的大小的輸出值而變更為不偵測為物體接觸到的值。由此，與所述實施形態同樣地，即使在對接觸偵測裝置1持續施加有物理性的壓力的狀態下，接觸偵測裝置1也能夠適當地偵測物體之接觸。例如，校準處理部22也可以計算出持續時間t內的感測器值的平均值，使該平均值和儲存裝置4預先儲存的接觸閾值與基準值的差分相加，以作為新的接觸閾值。
〔第四實施形態：由軟體實現的示例〕
電子機器10的控制裝置2的控制模塊(尤其是偵測裝置控制部21以及校準處理部22)也可以藉由形成於積體電路(IC晶片)等的邏輯電路(硬體)來實現，也可以藉由軟體來實現。
在後者的情況下，控制裝置2具備執行作為實現各功能的軟體的程序的命令的電腦。該電腦例如至少具備1個處理器(控制裝置)，同時具備儲存有所述程序的電腦可讀取的至少1個記錄介質。並且，在所述電腦中，所述處理器藉由從所述記錄介質讀取並執行所述程序來達到本發 明的目的。作為所述處理器，例如能夠使用CPU(Central Processing Unit)。作為所述記錄介質，除“非暫時性的有形的介質”、例如ROM(Read Only Memory)等以外，還能夠使用磁帶、磁盤、卡、半導體記憶體、可編程的邏輯電路等。此外，也可以還具備對所述程序進行展開的RAM(Random Access Memory)等。此外，所述程序也可以經由能夠傳輸該程序的任意的傳輸介質(通信網絡、廣播波等)供給至所述電腦。另外，本發明的一個態樣即使是所述程序藉由電子的傳輸而被具體化的、埋入於載波的數據信號的方式也可實現。
〔總結〕
本發明的態樣1的電子機器(10)具備對物體之接觸進行偵測的接觸偵測裝置(1)、和控制裝置(2)，所述控制裝置具備：對是否滿足多個條件進行判定的判定部(21)、和在滿足所述多個條件的情況下執行所述接觸偵測裝置的校正的校正執行部(22)，在用於所述校正執行部執行所述校正的所述多個條件中，包含：所述判定部判定為偵測到衝擊；以及，從所述衝擊的偵測到規定的期間以上，藉由所述接觸偵測裝置未偵測到接觸。
根據所述的結構，在電子機器受到衝擊後，接觸偵測裝置也能夠適當地偵測物體之接觸。
本發明的態樣2的電子機器(10)在所述態樣1的基礎上，還具備衝擊偵測裝置(6)，所述判定部在所述衝擊偵測裝置的輸出值比規定的衝擊閾值大的情況下，判定為偵測到衝擊。
根據所述的結構，在電子機器受到衝擊後，接觸偵測裝置也能夠適當地偵測物體之接觸。
本發明的態樣3的電子機器(10)在所述態樣1或2的基礎上，所述判定部在接觸偵測裝置(1)的輸出值的變化量比規定的變化量閾值大的情況下判定為偵測到衝擊。
根據所述的結構，在電子機器受到衝擊後，接觸偵測裝置也能夠適當地偵測物體之接觸。
本發明的態樣4的電子機器(10)在所述態樣1~3中任一態樣的基礎上，在所述多個條件中還包含：所述接觸偵測裝置(1)的輸出值與儲存裝置(4)儲存的基準值之差為規定的值以上。
根據所述的結構，在電子機器受到衝擊後，接觸偵測裝置也能夠適當地偵測物體之接觸。
本發明的態樣5的電子機器(10)在所述態樣1~4中任一態樣基礎上，作為對所述接觸偵測裝置(1)進行校正的處理，所述校正執行部(22)將衝擊偵測後的所述接觸偵測裝置的輸出值設定為所述接觸偵測裝置的基準值。
根據所述的結構，在電子機器受到衝擊後，接觸偵測裝置也能夠適當地偵測物體之接觸。
本發明的態樣6的控制裝置(2)對具備偵測物體之接觸的接觸偵測裝置(1)的電子機器進行控制，所述控制裝置具備：對是否滿足多個條件進行判定的判定部(21)、和在滿足所述多個條件的情況下執行所述接觸偵測裝置的校正的校正執行部(22)，在用於所述校正執行部執行所述校正的多個條件中包含：所述判定部判定為偵測到衝擊；以及，在從所述衝擊的偵測到規定的期間以上，藉由所述接觸偵測裝置未偵測到接觸。
根據所述的結構，能夠實現一種在電子機器受到衝擊後，接觸偵測裝置也能夠適當地偵測物體之接觸的控制裝置。
本發明的各態樣的控制裝置也可以由電腦來實現，在該情況下，使電腦作為所述控制裝置所具備的軟體要素的所述校正執行部以及所述判定部進行動作從而利用電腦來實現所述控制裝置的控制裝置的控制程序、以及記錄有該程序的電腦可讀取的記錄介質也包含於本發明的範疇。
本發明的態樣7的控制方法對電子機器進行控制，所述電子機器具備偵測物體之接觸的接觸偵測裝置(1)和控制裝置(2)，所述控制方法包含：判定步驟，對是否滿足多個條件進行判定；以及校正步驟，在滿足所述多個條件的情況下執行所述接觸偵測裝置的校正；在所述多個條件中包含：判定為所述控制裝置偵測到衝擊；以及，在從所述衝擊的偵測到規定的期間以上，藉由所述接觸偵測裝置未偵測到接觸。
根據所述的結構，能夠實現一種在電子機器受到衝擊後，接觸偵測裝置也能夠適當地偵測物體之接觸的控制方法。
〔附記事項〕
本發明並不限定於上述的各實施形態，在申請專利範圍所示的範圍內能夠實施各種變更，對不同的實施形態分別公開的技術手段進行適當組合而獲得的實施形態也包含於本發明的技術範圍。而且，通過對各實施形態分別公開的技術手段進行組合，能夠形成新的技術特徵。
1:接觸偵測裝置
2:控制裝置
3:計時器
4:儲存裝置
5:顯示裝置
6:衝擊偵測裝置
10:電子機器
21:偵測裝置控制部(判定部)
22:校準處理部(校正執行部)

Claims (7)

  1. 一種電子機器，具備對物體之接觸進行偵測的接觸偵測裝置、及控制裝置，其特徵在於，該控制裝置具備：判定部，其對是否滿足多個條件進行判定；以及校正執行部，其在滿足該多個條件的情況下，執行該接觸偵測裝置的校正；在用於該校正執行部執行該校正的該多個條件中，包含：該判定部判定為偵測到衝擊；以及在從該衝擊的偵測到規定的期間以上，藉由該接觸偵測裝置未偵測到接觸；該校正執行部是，作為對該接觸偵測裝置進行校正的處理，將衝擊偵測後的該接觸偵測裝置的輸出值設定為該接觸偵測裝置的基準值。
  2. 如申請專利範圍第1項的電子機器，其還具備衝擊偵測裝置，該判定部在該衝擊偵測裝置的輸出值比規定的衝擊閾值大的情況下判定為偵測到衝擊。
  3. 如申請專利範圍第1或2項的電子機器，其中，該判定部在該接觸偵測裝置的輸出值的變化量比規定的變化量閾值大的情況下判定為偵測到衝擊。
  4. 如申請專利範圍第1或2項的電子機器，其中，在該多個條件中還包含：該接觸偵測裝置的輸出值與儲存裝置所儲存的基準值之差為規定的值以上。
  5. 一種電子機器的控制裝置，對具備偵測物體之接觸的接觸偵測裝置的電子機器進行控制，其特徵在於，該控制裝置具備：判定部，其對是否滿足多個條件進行判定；以及校正執行部，其在滿足該多個條件的情況下，執行該接觸偵測裝置的校正； 在用於該校正執行部執行該校正的該多個條件中包含：該判定部判定為偵測到衝擊；以及在從該衝擊的偵測到規定的期間以上，藉由該接觸偵測裝置未偵測到接觸；該校正執行部是，作為對該接觸偵測裝置進行校正的處理，將衝擊偵測後的該接觸偵測裝置的輸出值設定為該接觸偵測裝置的基準值。
  6. 一種電腦可讀取的記錄介質，記錄有控制程序，該控制程序用於使電腦作為申請專利範圍第1項的電子機器中的校正執行部以及判定部而發揮功能。
  7. 一種電子機器的控制方法，該電子機器具備對物體之接觸進行偵測的接觸偵測裝置、以及控制裝置，其特徵在於，該控制方法包含：判定步驟，對是否滿足多個條件進行判定；以及校正步驟，在滿足該多個條件的情況下，執行該接觸偵測裝置的校正；在該多個條件中包含：該控制裝置判定為偵測到衝擊；以及在從該衝擊的偵測到規定的期間以上，藉由該接觸偵測裝置未偵測到接觸；該校正步驟是，作為對該接觸偵測裝置進行校正的處理，將衝擊偵測後的該接觸偵測裝置的輸出值設定為該接觸偵測裝置的基準值。
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