TWI680330B - 光學膜附著系統 - Google Patents

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Beom Seok Lee
鄭周永
Ju Young JEOUNG
金景植
Kyoung Sik Kim
崔恒碩
Hang Suk Choi
張應鎭
Eung Jin Jang
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Abstract

本發明的例示性實施例提供一種光學膜附著系統，其連 接至下游裝置且包含面板供應單元及面板傳送路徑。光學膜附著系統包含：連接單元，連接面板傳送路徑及下游裝置且傳送面板；第一檢驗單元，定位於面板傳送路徑上且找出具有所附著光學膜的面板是否具有缺陷；第二檢驗單元，定位於與面板傳送路徑間隔開的位置處且重新檢驗藉由由第一檢驗單元進行的檢驗判定為缺陷性面板的經判定缺陷的面板；以及控制單元，控制連接單元以調節面板的傳送，其中連接單元包含主要傳送路徑、第一輔助傳送路徑以及第二輔助傳送路徑，在主要傳送路徑中，第一傳送單元及第二傳送單元在面板傳送路徑的傳送方向上相繼配置，第一輔助傳送路徑連接第一傳送單元及第二檢驗單元且自主要傳送路徑繞道，第二輔助傳送路徑連接至第二傳送單元且自主要傳送路徑繞道，控制單元控制連接單元，以使得經判定缺陷的面板在由第一檢驗單元所檢驗的面板判定為缺陷性面板時自第一傳送單元沿第一輔助傳送路徑傳送至第二檢驗單元，且控制單元控制連接單元，以使得由第一檢驗單元判定為良好品質面板的經判定良好品質的面板在難以將經判定良好品質的面板傳送至下游裝置時自第二傳送單元沿第二輔助傳送路徑傳送。

Description

光學膜附著系統
本發明是關於一種將光學膜附著至面板且傳送面板的光學膜附著系統。
近來，正有效地進行研究以改良光學膜附著系統的生產效率，光學膜附著系統藉由將光學膜附著至面板來製造光學顯示元件。
同時，可能有必要執行後製程，諸如將驅動晶片安裝於光學顯示元件上的製程，光學顯示元件藉由將光學膜附著至面板來製造且藉由通過電功率操作來執行顯示功能。
為滿足此需求，光學膜附著系統可連接至下游裝置供用於執行前述後製程，但附著光學膜的製程的速度及由下游裝置執行的後製程的速度可彼此不同。
為連續地執行製程，附著光學膜的製程及由下游裝置執行的後製程與面板的傳送同時發生，但製程之間的速度的差異不利地影響面板的連續及平穩傳送，且因此，可出現兩種製程中的任一者的效率降低的問題。
同時，光學膜附著系統除附著光學膜的製程之外亦執行檢驗附著光學膜的面板的製程，且在附著光學膜的整個製程期 間，面板的傳送受面板的檢驗速度及分類良好品質產品/缺陷性產品的速度影響。
本發明的例示性實施例提供一種光學膜附著系統，所述光學膜附著系統連續連接至光學顯示單元製造裝置且藉由考慮檢驗附著光學膜的面板的速度及/或光學顯示單元製造裝置的製程能力來實施面板的高效傳送。
本發明的例示性實施例提供一種光學膜附著系統，所述光學膜附著系統連接至下游裝置且包含用於供應面板的面板供應單元及用於傳送自面板供應單元所供應的面板且將光學膜附著至面板的面板傳送路徑，光學膜附著系統包含：連接單元，連接面板傳送路徑及下游裝置且傳送面板；第一檢驗單元，定位於面板傳送路徑上且找出具有所附著光學膜的面板是否具有缺陷；第二檢驗單元，定位於與面板傳送路徑間隔開的位置處且重新檢驗藉由由第一檢驗單元進行的檢驗判定為缺陷性面板的經判定缺陷的面板；以及控制單元，控制連接單元以調節面板的傳送，其中連接單元包含主要傳送路徑、第一輔助傳送路徑以及第二輔助傳送路徑，在主要傳送路徑中，第一傳送單元及第二傳送單元在面板傳送路徑的傳送方向上相繼配置，第一輔助傳送路徑連接第一傳送單元及第二檢驗單元且自主要傳送路徑繞道，第二輔助傳送路徑連接至第二傳送單元且自主要傳送路徑繞道，控制單元控制連接單元，以使得經判定缺陷的面板在由第一檢驗單元所檢驗的面板判定為缺陷性面板時自第一傳送單元沿第一輔助傳送路徑傳送 至第二檢驗單元，且控制單元控制連接單元，以使得由第一檢驗單元判定為良好品質面板的經判定良好品質的面板在難以將經判定良好品質的面板傳送至下游裝置時自第二傳送單元沿第二輔助傳送路徑傳送。
在本發明例示性實施例中，第一輔助傳送路徑可包含第一緩衝單元，第一緩衝單元在由第二檢驗單元進行的重新檢驗暫停時儲存自第一傳送單元所傳送的經判定缺陷的面板。
在本發明例示性實施例中，自第一傳送單元所傳送的經判定缺陷的面板可在第二檢驗單元處於閒置狀態時經由第一緩衝單元傳送至第二檢驗單元，自第一傳送單元所傳送的經判定缺陷的面板可在由第二檢驗單元進行的重新檢驗暫停時儲存於第一緩衝單元中，且儲存於第一緩衝單元中的經判定缺陷的面板可在延遲定位於第一緩衝單元的上游側處的面板的傳送時傳送至第二檢驗單元。
在本發明例示性實施例中，定位於第二傳送單元上的面板可在下游裝置處於閒置狀態時傳送至下游裝置，定位於第二傳送單元上的面板可在下游裝置暫停時沿第二輔助傳送路徑傳送，且定位於第二輔助傳送路徑上的面板可在延遲定位於第二傳送單元的上游側處的面板的傳送時傳送至第二傳送單元。
在本發明例示性實施例中，藉由由第二檢驗單元進行重新檢驗確認為良好品質的面板的經確認良好品質的面板可沿第二輔助傳送路徑傳送至第二傳送單元。
在本發明例示性實施例中，第二輔助傳送路徑可包含儲存自第二傳送單元所傳送的面板的第二緩衝單元。
在本發明例示性實施例中，第二緩衝單元可儲存藉由由第二檢驗單元進行的重新檢驗確認為良好品質面板的經確認良好品質的面板。
在本發明例示性實施例中，自第二檢驗單元所傳送的經確認良好品質的面板可在將面板自第一傳送單元傳送至第二傳送單元時儲存於第二緩衝單元中。
在本發明例示性實施例中，經確認良好品質的面板自第二檢驗單元至第二輔助傳送路徑的傳送可在面板自第二傳送單元沿第二輔助傳送路徑傳送時停止。
根據本發明的例示性實施例，光學膜附著系統經由連接單元連接至下游裝置，經判定缺陷的面板通過連接單元的至少第一傳送單元傳送至第二檢驗單元，且經判定良好品質的面板通過連接單元的第二傳送單元傳送至下游裝置，連接單元定位於第一傳送單元的下游側處，以使得具有所附著光學膜的面板的檢驗的可靠性改良，且經判定良好品質的面板的傳送不受阻，且因此，有可能充分確保傳送面板的效率。
另外，即使基於面板的傳送速度，光學膜附著系統的製程速度高於定位於光學膜附著系統的下游側處的光學顯示單元製造裝置的製程速度，有可能藉由使用第二輔助傳送路徑來臨時轉移來自主要傳送路徑的經判定良好品質的面板，且因此，有可能充分呈現光學膜附著系統的製程能力。
16a‧‧‧第一傳送裝置
16b‧‧‧第二傳送裝置
16b_x‧‧‧機器人臂
16b_y‧‧‧面板固定單元
100‧‧‧光學膜附著系統
110‧‧‧面板供應單元
120‧‧‧面板傳送路徑
121‧‧‧第一光學膜附著單元
122‧‧‧面板轉動/反向單元
123‧‧‧第一光學膜附著位置量測單元
124‧‧‧第二光學膜附著單元
125‧‧‧面板反向單元
126‧‧‧第二光學膜附著位置量測單元
130‧‧‧第一光學膜傳送路徑
131‧‧‧第一光學膜供應單元
132‧‧‧第一光學膜切割單元
133‧‧‧第一載膜捲繞單元
140‧‧‧第二光學膜傳送路徑
141‧‧‧第二光學膜供應單元
142‧‧‧第二光學膜切割單元
143‧‧‧第二載膜捲繞單元
150‧‧‧第一檢驗單元
160‧‧‧連接單元
161‧‧‧主要傳送路徑
161a‧‧‧第一傳送單元
161b‧‧‧第二傳送單元
162‧‧‧第一輔助傳送路徑
162a、162a_f‧‧‧第一輔助傳送單元
162b‧‧‧第一緩衝單元
163‧‧‧第二輔助傳送路徑
163a‧‧‧第二輔助傳送單元
163b‧‧‧第二緩衝單元
170‧‧‧第二檢驗單元
170a‧‧‧第一側
170b‧‧‧第二側
200‧‧‧光學顯示單元製造裝置
P‧‧‧面板
P_a、P_a'‧‧‧經判定良好品質的面板
P_d、P_d'‧‧‧經判定缺陷的面板
A、B‧‧‧側
圖1為用於解釋根據本發明的例示性實施例的光學膜附著系統的概念圖。
圖2為用於解釋根據第一例示性實施例的第一檢驗單元、連接單元以及第二檢驗單元的概念圖。
圖3a及圖3b為簡要地示出操作根據例示性實施例的第一傳送單元及第二傳送單元的狀態的概念圖。
圖4為簡要地示出操作根據另一例示性實施例的第一傳送單元及第二傳送單元的狀態的概念圖。
圖5為用於解釋根據第二例示性實施例的第一檢驗單元、連接單元以及第二檢驗單元的概念圖。
本發明參考下文所詳細描述的例示性實施例以及隨附圖式將顯而易見。然而，本發明不限於本文中所揭露的例示性實施例但將以各種形式實施。提供例示性實施例，以使得完全揭露本發明，且所屬領域中具通常知識者可完全理解本發明的範疇。因此，本發明將僅藉由所附權利要求書的範疇定義。同時，本說明書中所使用的術語用於解釋例示性實施例而非用於限制本發明。 除非另外在本發明書中特別陳述，否則單數形式亦包含複數形式。另外，除所提及的構成元件、步驟、操作以及/或元件之外，用於本說明書中的諸如「包括(comprises)(包含(includes))」及/或「包括(comprising)(包含(including))」的術語不排除一或多種其他構成元件、步驟、操作以及/或元件的存在或添加。諸如「第一」及「第二」的術語可用於描述各種構成元件，但構成 元件不應受術語限制。這些術語僅用於將一個構成元件與另一構成元件區分開。
圖1為用於解釋根據本發明的例示性實施例的光學膜附著系統的概念圖，且圖2為用於解釋根據第一例示性實施例的第一檢驗單元、連接單元以及第二檢驗單元的概念圖。
參考圖1及圖2，根據本發明的例示性實施例的光學膜附著系統100為藉由將光學膜附著至液晶面板來製造光學顯示元件的系統。光學膜附著系統100可藉由連續地連接至光學顯示單元製造裝置200作為下游裝置來構成連續光學顯示單元製造系統。 此處，作為下游裝置的光學顯示單元製造裝置200可為例如用於將光學顯示元件驅動晶片(捲帶式自動接合(tape automated bonding，TAB))安裝在光學顯示元件上的裝置。
光學膜附著系統100可包含用於供應面板的面板供應單元110、面板傳送路徑120、第一光學膜傳送路徑130、第二光學膜傳送路徑140以及連接單元160。此處，面板供應單元110、面板傳送路徑120以及將在下文描述的連接單元160的主要傳送路徑161相繼串聯連接，以使得光學膜可附著至自面板供應單元110所供應的面板，且隨後可將面板連續地傳送至作為下游裝置的光學顯示單元製造裝置200。
面板傳送路徑120可為經提供以傳送自面板供應單元110所供應的面板且將光學膜附著至面板的傳送路徑。面板傳送路徑120可包含：第一光學膜附著單元121，將第一光學膜附著至面板；面板轉動/反向單元122，安置於第一光學膜附著單元121的下游側處且將具有附著至其一個表面的光學膜的面板水平地旋轉及/或 上下顛倒地反向；第一光學膜附著位置量測單元123，安置於面板轉動/反向單元122的下游側處且量測第一光學膜的附著位置；第二光學膜附著單元124，安置於第一光學膜附著位置量測單元123的下游側處且將第二光學膜附著至面板；面板反向單元125，安置於第二光學膜附著單元124的下游側處且使具有附著至其兩個表面的光學膜的面板反向；以及第二光學膜附著位置量測單元126，安置於面板反向單元125的下游側處且量測第二光學膜的附著位置。
第一光學膜傳送路徑130可包含：第一光學膜供應單元131，安置於第一光學膜傳送路徑130的最上游側處且供應第一光學膜；第一光學膜切割單元132，安置於第一光學膜供應單元131的下游側處且切割自第一光學膜供應單元131所供應的第一光學膜；以及第一載膜捲繞單元133，安置於第一光學膜傳送路徑130的最下游側處且捲繞與第一光學膜分隔的第一載膜以便將第一光學膜附著至面板。
第二光學膜傳送路徑140可包含：第二光學膜供應單元141，安置於第二光學膜傳送路徑140的最上游側處且供應第二光學膜；第二光學膜切割單元142，安置於第二光學膜供應單元141的下游側處且切割自第二光學膜供應單元141所供應的第二光學膜；以及第二載膜捲繞單元143，安置於第二光學膜傳送路徑140的最下游側處且捲繞與第二光學膜分隔的第二載膜以便將第二光學膜附著至面板。
光學膜附著系統100可包含第一檢驗單元150、連接單元160、第二檢驗單元170以及控制單元(未示出)。
第一檢驗單元150定位於面板傳送路徑120上且可找出具有所附著光學膜的面板P是否具有缺陷。舉例而言，第一檢驗單元150可通過自動光學檢驗(automatic optical inspection；AOI)找出具有所附著光學膜的面板P是否具有缺陷，自動光學檢驗基於預定光學檢驗參考來自動判定面板是否具有缺陷。另外，第一檢驗單元150可將判定結果傳輸至預定控制單元，判定結果亦即，判定所檢驗面板是否為經判定良好品質的面板P_a或經判定缺陷的面板P_d的結果。
連接單元160可連接面板傳送路徑120及作為下游裝置的光學顯示單元製造裝置200，且提供可在通過面板傳送路徑120連接光學膜的面板P傳送至作為下游裝置的光學顯示單元製造裝置200之前臨時儲存或分流面板P的預定路徑。
因為光學膜附著系統100經由連接單元160連接至下游裝置200，所以通過面板傳送路徑120所傳送的面板可由連接單元160臨時儲存或分流，以使得即使光學膜附著系統100的製程速度高於在下游側處作為下游裝置的光學顯示單元製造裝置200的製程速度，光學膜附著系統100的製程速度不需要減小以與作為下游裝置的光學顯示單元製造裝置200的製程速度匹配。因此，可充分呈現連續光學顯示單元製造系統的製程能力。
具體而言，例如，在下游裝置200的製程速度低於光學膜附著系統100的製程速度的情況下，可藉由使用安裝於第一檢驗單元150與下游裝置200之間的連接單元160而臨時儲存或分流已經附著光學膜的面板。因此，有可能防止以下問題：在下游裝置200無法跟上光學膜附著系統100的製程速度時，此是因為 光學膜附著系統100的製程速度高於下游裝置200的製程速度，已完全附著光學膜的面板保持在第一檢驗單元150中，以使得降低光學膜附著系統100的製程速度且無法充分呈現光學膜附著系統100的製程能力。
同時，第一檢驗單元150基於預定光學檢驗參考來自動判定面板是否具有缺陷，且可在實際大量生產期間基於良好品質的參考而分類為良好品質面板的面板可包含於經判定為缺陷性面板的經判定缺陷的面板P_d中。
第二檢驗單元170定位於與面板傳送路徑120間隔開的位置處且可重新檢驗已由第一檢驗單元150判定為缺陷性面板的經判定缺陷的面板P_d。舉例而言，在第二檢驗單元170中，安置操作員以對經判定缺陷的面板P_d執行光學檢驗，由此操作員的裸眼判定是否存在缺陷。藉由重新檢驗，已由第一檢驗單元150判定為缺陷性面板的經判定缺陷的面板P_d可經分類且判定為在實際大量生產期間基於良好品質的參考分類為良好品質面板的面板(在下文中，稱為經確認良好品質的面板P_a')或分類為缺陷性面板的經確認缺陷的面板P_d'。操作員可將結果手動地輸入及傳輸至預定控制單元。
控制單元(未示出)控制連接單元160以調節面板的傳送環境。舉例而言，控制單元可允許已由第一檢驗單元150判定為缺陷性面板的經判定缺陷的面板P_d通過連接單元160傳送至第二檢驗單元170，或控制單元可防止已由第一檢驗單元150判定為良好品質的面板的經判定良好品質的面板P_a通過連接單元160在難以將經判定良好品質的面板P_a傳送至下游裝置的情況 下(例如，在下游裝置忙碌或停止的情況下)直接地傳送至下游裝置。根據例示性實施例，控制單元可以各種形式實施，諸如電路板、積體電路晶片、安裝於硬體、韌體以及軟體中的一系列電腦程式，供用於控制連接單元160。
同時，連接單元160可包含主要傳送路徑161、第一輔助傳送路徑162以及第二輔助傳送路徑163。
主要傳送路徑161經組態以使得第一傳送單元161a及第二傳送單元161b在面板傳送路徑120的傳送方向上相繼配置，以使得已附著光學膜且已由第一檢驗單元150判定為良好品質面板的經判定良好品質的面板P_a可傳送至下游裝置200。
第一傳送單元161a安裝在面板傳送路徑120的下游側處，且可將已由第一檢驗單元150判定為良好品質面板的經判定良好品質的面板P_a傳送至安裝在第一傳送單元161a的下游側處的第二傳送單元161b。另外，第一傳送單元161a進一步連接至待在下文描述的第一輔助傳送路徑162，且可將已由第一檢驗單元150判定為缺陷性面板的經判定缺陷的面板P_b傳送至第二檢驗單元170。
如圖3a及圖3b中所示出，第一傳送單元161a可包含傳送裝置，傳送裝置具有雙滾筒結構，其中滾筒具有彼此正交的中心軸線且旋轉。具體而言，第一傳送單元161a可包含構成雙滾筒結構的第一傳送裝置16a及第二傳送裝置16b。
第一傳送裝置16a為包含傳送滾筒的傳送裝置，且可將已判定為良好品質的面板的經判定良好品質的面板P_a傳送至第二傳送單元161b。第一傳送裝置16a經組態以使得多個傳送滾筒 可旋轉地安裝在傳送滾筒軸上以構成一列傳送滾筒，且多列傳送滾筒平行安置以在面板傳送路徑120的傳送方向上以預定間隔彼此間隔開。因此，第一傳送裝置16a可將經判定良好品質的面板P_a在面板傳送路徑120的傳送方向上傳送至第二傳送單元161b。
第二傳送裝置16b為包含傳送滾筒的傳送裝置，且可將已判定為缺陷性面板的經判定缺陷的面板P_b經由第一輔助傳送路徑162傳送至第二檢驗單元170。第二傳送裝置16b經組態以使得多個傳送滾筒可旋轉地安裝在傳送滾筒軸上以構成一列傳送滾筒，且多列傳送滾筒平行安置以在與面板傳送路徑120的傳送方向水平正交的方向上以預定間隔彼此間隔開。因此，第二傳送裝置16b可將經判定缺陷的面板P_d經由第一輔助傳送路徑162在與面板傳送路徑120的傳送方向水平正交的方向上傳送至第二檢驗單元170。
更具體言之，在俯視圖中自頂面觀察時，第一傳送裝置16a的所述列傳送滾筒及第二傳送裝置16b的所述列傳送滾筒可經安置為彼此正交。
另外，第一傳送裝置16a的多列傳送滾筒之間的間隔至少大於第二傳送裝置16b的傳送滾筒的厚度，以使得第二傳送裝置16b的傳送滾筒可在第一傳送裝置16a的多列傳送滾筒之間穿過。
另外，第二傳送裝置16b的傳送滾筒之間的間隔至少大於第一傳送裝置16a的傳送滾筒的直徑，以使得第一傳送裝置16a的傳送滾筒可在第二傳送裝置16b的多列傳送滾筒之間穿過。
因此，第二傳送裝置16b可在不干擾第一傳送裝置16a 的情況下向上及向下移動。
此處，構成第二傳送裝置16b的傳送滾筒的直徑可大於構成第一傳送裝置16a的傳送滾筒的直徑。
第一傳送單元161a可更包含用於切換第一傳送裝置16a及第二傳送裝置16b的第一開關裝置。
在由第一檢驗單元150所檢驗的面板經判定為良好品質的面板時，控制單元可控制連接單元160，以使得經判定良好品質的面板P_a可經由第一傳送單元161a傳送至第二傳送單元161b。 在此情況下，如圖3a中所示出，第一傳送裝置16a定位於第二傳送裝置16b上方，亦即，構成第一傳送裝置16a的傳送滾筒的表面高於構成第二傳送裝置16b的傳送滾筒的表面。因此，面板可藉由使用第一傳送裝置16a傳送至下游側，亦即，第二傳送單元161b。
在由第一檢驗單元150所檢驗的面板經判定為缺陷性面板時，控制單元可控制連接單元160，以使得經判定缺陷的面板P_d可自第一傳送單元161a沿第一輔助傳送路徑162傳送至第二檢驗單元170。在此情況下，如圖3b中所示出，控制單元藉由使用第一開關裝置升高第二傳送裝置16b的位置，以使得構成第二傳送裝置16b的傳送滾筒的表面變得高於第一傳送裝置16a的傳送滾筒的表面，且因此，經判定缺陷的面板P_d可藉由使用第二傳送裝置16b自主要傳送路徑161的第一傳送單元161a沿第一輔助傳送路徑162傳送至第二檢驗單元170。
控制單元亦允許經判定缺陷的面板P_d自第一傳送單元161a沿第一輔助傳送路徑162傳送至第二檢驗單元170。隨後， 在由第一檢驗單元150所檢驗的後續面板經判定為良好品質的面板時，控制單元藉由使用第一開關裝置(未示出)切換第一傳送單元161a的雙滾筒結構，亦即，控制單元藉由使用第一開關裝置升高第一傳送裝置16a的位置，以使得構成第一傳送裝置16a的傳送滾筒的表面變得高於第二傳送裝置16b的傳送滾筒的表面，以使得經判定良好品質的面板P_a可藉由使用第一傳送裝置16a自主要傳送路徑161的第一傳送單元161a傳送至主要傳送路徑161的第二傳送單元161b。
因此，可使用第一傳送單元161a，且同時，可實施沿主要傳送路徑161的傳送及沿第一輔助傳送路徑162的傳送。
作為另一例示性實施例，第一傳送單元161a可包含圖3a及圖3b中所示出的第一傳送裝置16a及圖4中所示出的第二傳送裝置16b。舉例而言，第一傳送裝置16a包含傳送滾筒以將經判定良好品質的面板P_a自第一傳送單元161a傳送至第二傳送單元161b。第二傳送裝置16b可藉由使用機器人臂16b_x及安裝在機器人臂16b_x上的面板固定單元16b_y將經判定缺陷的面板P_d通過第一輔助傳送路徑162傳送至第二檢驗單元170。
在下文中，為便於說明，假定第一傳送單元161a包含構成雙滾筒結構的第一傳送裝置16a及第二傳送裝置16b，如圖3a及圖3b中所示出。
第二傳送單元161b安裝在第一傳送單元161a的下游側處，且可將自第一傳送單元161a經由面板傳送路徑120傳送的經判定良好品質的面板P_a傳送至下游裝置200。另外，第二傳送單元161b進一步連接至待在下文描述的第二輔助傳送路徑163，且 可將經判定良好品質的面板P_a傳送至第二輔助傳送路徑163。
第二傳送單元161b的結構類似於第一傳送單元161a的結構，且第二傳送單元161b包含第一傳送裝置16a及第二傳送裝置16b且可藉由使用第二開關裝置來切換第一傳送裝置16a及第二傳送裝置16b。舉例而言，第二傳送單元161b的第一傳送裝置16a包含傳送滾筒，且可將經判定良好品質的面板P_a傳送至下游裝置200。第二傳送單元161b的第二傳送裝置16b包含傳送滾筒，且可將經判定良好品質的面板P_a傳送至第二輔助傳送路徑163。
在比較第二傳送單元161b與第一傳送單元161a的可操作原理時，除了第一傳送單元161a將經判定缺陷的面板P_d傳送至第一輔助傳送路徑162而第二傳送單元161b將經判定良好品質的面板P_a傳送至第二輔助傳送路徑163或自第二輔助傳送路徑163恢復面板(例如，經判定良好品質的面板P_a或經確認良好品質的面板P_a')，可操作原理基本上彼此類似。因此，將省略其詳細描述。
同時，在下游裝置200處於閒置狀態時傳送面板的典型製程期間，控制單元可控制連接單元160，以使得自第一傳送單元161a所傳送的經判定良好品質的面板P_a可經由第二傳送單元161b傳送至下游裝置200。在此情況下，如圖3a中所示出，第一傳送裝置16a定位於第二傳送裝置16b上方，亦即，構成第一傳送裝置16a的傳送滾筒的表面高於構成第二傳送裝置16b的傳送滾筒的表面。因此，面板可藉由使用第一傳送裝置16a傳送至下游側，亦即，下游裝置200。
在下游裝置200暫停(例如，下游裝置200忙碌或停止) 的情況下，控制單元可控制連接單元160，以使得已自第一傳送單元161a傳送且定位於第二傳送單元161b上的經判定良好品質的面板P_a可沿第二輔助傳送路徑163傳送。在此情況下，如圖3b中所示出，控制單元藉由使用第二開關裝置升高第二傳送裝置16b的位置，以使得構成第二傳送裝置16b的傳送滾筒的表面變得高於第一傳送裝置16a的傳送滾筒的表面，且因此，經判定良好品質的面板P_a可藉由使用第二傳送裝置16b自主要傳送路徑161的第二傳送單元161b傳送至第二輔助傳送路徑163。
另外，在延遲定位於第二傳送單元161b的上游側處的面板的傳送的情況下，控制單元可控制連接單元160，以使得定位於第二輔助傳送路徑163上的面板(例如，經判定良好品質的面板P_a或經確認良好品質的面板P_a')可傳送至第二傳送單元161b。 在此情況下，控制單元藉由使用第二開關裝置(未示出)切換第二傳送單元161b的雙滾筒結構，亦即，控制單元藉由使用第二開關裝置升高第一傳送裝置16a的位置，以使得構成第一傳送裝置16a的傳送滾筒的表面變得高於第二傳送裝置16b的傳送滾筒的表面，且因此，經判定良好品質的面板P_a或經確認良好品質的面板P_a'可藉由使用第一傳送裝置16a自第二輔助傳送路徑163返回至主要傳送路徑161的第二傳送單元161b。
因此，可使用第二傳送單元161b，且同時，可實施沿主要傳送路徑161的傳送及沿第二輔助傳送路徑163的傳送。
第一輔助傳送路徑162連接第一傳送單元161a及第二檢驗單元170，由此形成自主要傳送路徑161繞道的傳送路徑。第一輔助傳送路徑162可包含至少一個第一輔助傳送單元162a。
多個第一輔助傳送單元162a可彼此串聯連接以形成傳送路徑，經判定缺陷的面板P_d可通過傳送路徑在第一傳送單元161a與第二檢驗單元170之間傳送。第一輔助傳送單元162a可經組態為滾筒傳送裝置。
如圖2中所示出，定位於第一輔助傳送路徑162的最下游側處的第一輔助傳送單元162a_f可具有連接至第二檢驗單元170的一側A及連接至將在下文描述的第二輔助傳送路徑163的第二輔助傳送單元163a的另一側B。
第一輔助傳送路徑162可包含第一緩衝單元162b，第一緩衝單元162b在由第二檢驗單元170進行的重新檢驗暫停的情況下(例如，在第二檢驗單元170忙碌或停止的情況下)儲存自第一傳送單元161a所傳送的經判定缺陷的面板P_d。第一緩衝單元162b可為具有多個分割間隔以便儲存多個經判定缺陷的面板P_d的卡匣裝置。第一緩衝單元162b可替代第一輔助傳送單元162a中的至少一者，或第一緩衝單元162b可提供於第一輔助傳送單元162a上以便向上及向下移動。本發明的描述將基於第一緩衝單元162b作為提供於第一輔助傳送單元162a上以便向上及向下移動的卡匣裝置的組態進行。
同時，在第二檢驗單元170處於閒置狀態時傳送經判定缺陷的面板P_d的典型製程期間，控制單元可控制連接單元160，以使得自第一傳送單元161a所傳送的經判定缺陷的面板P_d可經由第一緩衝單元162b傳送至第二檢驗單元170。
另外，在由第二檢驗單元170進行的重新檢驗暫停的情況下(例如，在第二檢驗單元170忙碌或停止的情況下)，控制單 元可控制連接單元160，以使得自第一傳送單元161a所傳送的經判定缺陷的面板P_d可儲存於第一緩衝單元162b中。由第二檢驗單元170進行的重新檢驗暫停的實例可包含由由第一檢驗單元150所檢驗的面板連續地判定為缺陷性面板且隨後經判定缺陷的面板P_d通過第一輔助傳送路徑162連續地引入的實例。一般原因為第一檢驗單元150的檢驗速度或經判定缺陷的面板P_d的傳送速度一般高於第二檢驗單元170的重新檢驗速度。
另外，在延遲定位於第一緩衝單元162b的上游側處的面板的傳送的情況下(例如，在以下情況下：延遲或停止面板傳送路徑120中的面板的傳送，延遲或停止由第一檢驗單元150進行的檢驗，或由第一檢驗單元150所檢驗的面板連續地判定為良好品質的面板)，控制單元可控制連接單元160，以使得儲存於第一緩衝單元162b中的經判定缺陷的面板P_d可傳送至第二檢驗單元170。在此情況下，由第二檢驗單元170進行的重新檢驗不暫停而可順利執行，此是因為延遲將經判定缺陷的面板P_d引入至第一緩衝單元162b，且因此，控制單元可允許由第二檢驗單元170藉由將儲存於第一緩衝單元162b中的經判定缺陷的面板P_d供應至第二檢驗單元170來連續地執行重新檢驗。
同時，藉由由第二檢驗單元170進行的重新檢驗分類為缺陷性面板的經確認缺陷的面板P_d'發送至單獨空間。分類為良好品質面板的經確認良好品質的面板P_a'可傳送至下游裝置200且隨後經由第二輔助傳送路徑163傳送至第二傳送單元161b，以使得可對經確認良好品質的面板P_a'執行後製程。
圖2中所示出的第一例示性實施例經組態以使得已藉由 由第二檢驗單元170進行的重新檢驗確認為良好品質的面板的經確認良好品質的面板P_a'經由定位於第一輔助傳送路徑162的最下游側處的第一輔助傳送單元162a_f傳送至第二輔助傳送路徑163上的第二輔助傳送單元163a。
第二輔助傳送路徑163連接至第二傳送單元161b，由此形成自主要傳送路徑161繞道的傳送路徑。第二輔助傳送路徑163可包含至少一個第二輔助傳送單元163a。
多個第二輔助傳送單元163a可彼此串聯連接以形成傳送路徑，可通過傳送路徑自第二傳送單元161b傳送經判定良好品質的面板P_a。第二輔助傳送單元163a可經組態為滾筒傳送裝置。
如圖2中所示出，用於形成第二輔助傳送路徑163的第二輔助傳送單元163a中的任一者可具有連接至第一輔助傳送路徑162的最下游側處的第一輔助傳送單元162a_f的第一側。因此，已由第二檢驗單元170確認為良好品質面板的經確認良好品質的面板P_a'可經由最下游側處的第一輔助傳送單元162a_f引入至第二輔助傳送路徑163上。
第二輔助傳送路徑163可包含儲存自第二傳送單元161b所傳送的經判定良好品質的面板P_a的第二緩衝單元163b。第二緩衝單元163b可為具有多個分割間隔以便儲存多個經判定良好品質的面板P_a的卡匣裝置。第二緩衝單元163b可替代第二輔助傳送單元163a中的至少一者，或第二緩衝單元163b可提供於第二輔助傳送單元163a上以便向上及向下移動。本發明的描述將基於第二緩衝單元163b作為提供於第二輔助傳送單元163a上以便向上及向下移動的卡匣裝置的組態進行。
第二緩衝單元163b可藉由由第二檢驗單元170進行的重新檢驗儲存確認為良好品質的面板的經確認良好品質的面板P_a'。具體而言，控制單元可控制連接單元160，以使得在面板(例如，經判定良好品質的面板P_a)自第一傳送單元161a傳送至第二傳送單元161b時，自第二檢驗單元170所傳送的經確認良好品質的面板P_a'可儲存於第二緩衝單元163b中。因為第二緩衝單元163b儲存經確認良好品質的面板P_a'，所以在已經確認為良好品質的面板的經確認良好品質的面板P_a'需要連續地引入至第二輔助傳送路徑163的情況下，有可能允許第二檢驗單元170在不阻礙經判定良好品質的面板P_a自第一傳送單元161a至第二傳送單元161b的傳送的情況下連續地重新檢驗經判定缺陷的面板P_d。
控制單元可控制連接單元160以在面板自第二傳送單元161b傳送至第二輔助傳送路徑163時，停止經確認良好品質的面板P_a'自第二檢驗單元170至第二輔助傳送路徑163的傳送。
具體而言，若經判定良好品質的面板P_a在下游裝置200暫停時通過第一傳送單元161a引入至第二傳送單元161b，則有必要將經判定良好品質的面板P_a自第二傳送單元161b沿第二輔助傳送路徑163傳送。同時，若存在藉由由第二檢驗單元170進行的重新檢驗分類為經確認良好品質的面板P_a'的面板，則有必要將經確認良好品質的面板P_a'引入至第二輔助傳送路徑163，以便執行由第二檢驗單元170進行的連續重新檢驗。然而，若第二輔助傳送路徑163較短且經判定良好品質的面板P_a及經確認良好品質的面板P_a'無法在兩個方向上同時引入至第二緩衝單元163b，則有必要較佳地選擇第一控制及第二控制中的任一者，第 一控制將經判定良好品質的面板P_a引入至第二輔助傳送路徑163，第二控制將經確認良好品質的面板P_a'引入至第二輔助傳送路徑163。在通過光學膜附著系統100所傳送的全部面板中，由第一檢驗單元150所判定的經判定良好品質的面板P_a的數目可大於由第一檢驗單元150及第二檢驗單元170所確認的經確認良好品質的面板P_a'的數目，且因此，可相對於第二控制較佳地執行第一控制，以便使面板的傳送的總體流動順利，第一控制將經判定良好品質的面板P_a引入至第二輔助傳送路徑，第二控制將經確認良好品質的面板P_a'引入至第二輔助傳送路徑163。若選擇第一控制，則停止經確認良好品質的面板P_a'自第二檢驗單元170至第二輔助傳送路徑163的傳送，且同時，視需要，可停止由第二檢驗單元170進行的重新檢驗。
圖5為用於解釋根據第二例示性實施例的第一檢驗單元、連接部分以及第二檢驗單元的概念圖。與第一例示性實施例中的構成元件實質上一致的構成元件由相同附圖標號表示，且將省略其重複描述。
在第二例示性實施例中，第二檢驗單元170可具有第一側170a及第二側170b，第一側170a連接至定位於第一輔助傳送路徑162的最下游側處的第一輔助傳送單元162a_f，第二側170b連接至定位於第二輔助傳送路徑163的最下游側處的第二輔助傳送單元163a。亦即，第一輔助傳送路徑162及第二輔助傳送路徑163可通過第二檢驗單元170連接。因此，在第二例示性實施例中，已藉由重新檢驗通過第一輔助傳送路徑162所引入的經判定缺陷的面板P_d分類及確認為良好品質的面板的經確認良好品質 的面板P_a'可在不穿過第一輔助傳送路徑162的情況下直接地引入至第二輔助傳送路徑163。
根據如上文所描述組態的光學膜附著系統100，連接面板傳送路徑120及下游裝置200且傳送面板的連接單元160包含主要傳送路徑161、第一輔助傳送路徑162以及第二輔助傳送路徑163，第一輔助傳送路徑162自主要傳送路徑161繞道傳送經判定缺陷的面板P_d，第二輔助傳送路徑163在難以將經判定良好品質的面板P_a傳送至下游裝置200時自主要傳送路徑161繞道傳送經判定良好品質的面板P_a。因此，有可能允許至第二檢驗單元170的傳送重新檢驗經判定缺陷的面板P_d且經判定良好品質的面板P_a至下游裝置200的傳送不阻礙彼此，且在附著光學膜的製程的速度高於下游裝置200中的製程速度的情況下，有可能在不減小附著光學膜的製程的速度的情況下順利管理面板的傳送的流動。
另外，在光學膜附著系統100中，第一輔助傳送路徑162包含第一緩衝單元162b，第一緩衝單元162b在由第二檢驗單元170進行的重新檢驗暫停的情況下儲存自第一傳送單元161a所傳送的經判定缺陷的面板P_d，且因此，甚至在由第一檢驗單元150所檢驗的面板在忙碌地執行或停止藉由第二檢驗單元170的重新檢驗的情況下連續地判定為缺陷性面板的情況下，有可能管理經判定缺陷的面板P_d，以使得經判定缺陷的面板P_d可通過第一輔助傳送路徑162連續地引入。
另外，在光學膜附著系統100中，自第一傳送單元161a所傳送的經判定缺陷的面板P_d可在第二檢驗單元170處於閒置 狀態時經由第一緩衝單元162b傳送至第二檢驗單元170，自第一傳送單元161a所傳送的經判定缺陷的面板P_d可在由第二檢驗單元170進行的重新檢驗暫停時儲存於第一緩衝單元162b中，且儲存於第一緩衝單元162b中的經判定缺陷的面板可在延遲定位於第一緩衝單元162b的上游側處的面板的傳送時傳送至第二檢驗單元170，以使得由第二檢驗單元170進行的重新檢驗及經判定缺陷的面板P_d至第一輔助傳送路徑162的引入可在不阻礙彼此的情況下連續地執行。
另外，在光學膜附著系統100中，定位於第二傳送單元161b上的面板可在下游裝置200處於閒置狀態時傳送至下游裝置200，定位於第二傳送單元161b上的面板可在下游裝置200暫停時沿第二輔助傳送路徑163傳送，且定位於第二輔助傳送路徑163上的面板可在延遲定位於第二傳送單元161b的上游側處的面板的傳送時傳送至第二傳送單元161b，以使得面板在面板傳送路徑120上的傳送及附著光學膜的製程可在不受下游裝置200的情況影響的情況下連續地執行。
另外，在光學膜附著系統100中，因為已通過由第二檢驗單元170進行的重新檢驗確認為良好品質的面板的經確認良好品質的面板P_a'可沿第二輔助傳送路徑163傳送至第二傳送單元161b，所以已由第一檢驗單元150判定為良好品質面板的經判定良好品質的面板P_a及已由第二檢驗單元170確認為良好品質面板的經確認良好品質的面板P_a'通過同一第二輔助傳送路徑163供應至主要傳送路徑161，由此易於管理面板的供應。
儘管已參考前述例示性實施例描述本發明，但可在不脫 離本發明的主題及範疇的情況下進行各種修改或更改。因此，所附申請專利範圍包含修改或更改，只要修改或更改屬於本發明的標的即可。

Claims (8)

  1. 一種光學膜附著系統，連接至下游裝置且包含用於供應面板的面板供應單元及用於傳送自所述面板供應單元所供應的所述面板且將光學膜附著至所述面板的面板傳送路徑，所述光學膜附著系統包括：連接單元，連接所述面板傳送路徑及所述下游裝置且傳送所述面板；第一檢驗單元，定位於所述面板傳送路徑上且找出附著有所述光學膜的所述面板是否具有缺陷；第二檢驗單元，定位於與所述面板傳送路徑間隔開的位置處且重新檢驗藉由由所述第一檢驗單元進行的檢驗判定為缺陷性面板的經判定缺陷的面板；控制單元，控制所述連接單元以調節所述面板的傳送，其中所述連接單元包含主要傳送路徑、第一輔助傳送路徑以及第二輔助傳送路徑，在所述主要傳送路徑中，第一傳送單元及第二傳送單元在所述面板傳送路徑的傳送方向上相繼配置，所述第一輔助傳送路徑連接所述第一傳送單元及所述第二檢驗單元且自所述主要傳送路徑繞道，所述第二輔助傳送路徑連接至所述第二傳送單元且自所述主要傳送路徑繞道，所述控制單元控制所述連接單元，以使得所述經判定缺陷的面板在由所述第一檢驗單元所檢驗的所述面板判定為缺陷性面板時自所述第一傳送單元沿所述第一輔助傳送路徑傳送至所述第二檢驗單元，且所述控制單元控制所述連接單元，以使得由所述第一檢驗單元判定為良好品質面板的經判定良好品質的面板在難以將所述經判定良好品質的面板傳送至所述下游裝置時自所述第二傳送單元沿所述第二輔助傳送路徑傳送，其中藉由由所述第二檢驗單元進行的重新檢驗確認為良好品質面板的經確認良好品質的面板可沿所述第二輔助傳送路徑傳送至所述第二傳送單元。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的光學膜附著系統，其中所述第一輔助傳送路徑包含第一緩衝單元，所述第一緩衝單元在由所述第二檢驗單元進行的所述重新檢驗暫停時儲存自所述第一傳送單元所傳送的所述經判定缺陷的面板。
  3. 如申請專利範圍第2項所述的光學膜附著系統，其中自所述第一傳送單元所傳送的所述經判定缺陷的面板可在所述第二檢驗單元處於閒置狀態時經由所述第一緩衝單元傳送至所述第二檢驗單元，自所述第一傳送單元所傳送的所述經判定缺陷的面板可在由所述第二檢驗單元進行的所述重新檢驗暫停時儲存於所述第一緩衝單元中，且儲存於所述第一緩衝單元中的所述經判定缺陷的面板可在延遲定位於所述第一緩衝單元的上游側處的所述面板的傳送時傳送至所述第二檢驗單元。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的光學膜附著系統，其中定位於所述第二傳送單元上的所述面板在所述下游裝置處於閒置狀態時傳送至所述下游裝置，定位於所述第二傳送單元上的所述面板可在所述下游裝置暫停時沿所述第二輔助傳送路徑傳送，且定位於所述第二輔助傳送路徑上的所述面板可在延遲定位於所述第二傳送單元的上游側處的所述面板的傳送時傳送至所述第二傳送單元。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的光學膜附著系統，其中所述第二輔助傳送路徑包含第二緩衝單元，所述第二緩衝單元儲存自所述第二傳送單元所傳送的所述面板。
  6. 如申請專利範圍第5項所述的光學膜附著系統，其中所述第二緩衝單元儲存藉由由所述第二檢驗單元進行的重新檢驗確認為良好品質面板的所述經確認良好品質的面板。
  7. 如申請專利範圍第6項所述的光學膜附著系統，其中自所述第二檢驗單元所傳送的所述經確認良好品質的面板在所述面板自所述第一傳送單元傳送至所述第二傳送單元時儲存於所述第二緩衝單元中。
  8. 如申請專利範圍第6項所述的光學膜附著系統，其中所述經確認良好品質的面板自所述第二檢驗單元至所述第二輔助傳送路徑的傳送在所述面板自所述第二傳送單元沿所述第二輔助傳送路徑傳送時停止。
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