TWI649556B - 檢驗設備 - Google Patents

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TWI649556B TW106140898A TW106140898A TWI649556B TW I649556 B TWI649556 B TW I649556B TW 106140898 A TW106140898 A TW 106140898A TW 106140898 A TW106140898 A TW 106140898A TW I649556 B TWI649556 B TW I649556B
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能木直安
楊以權
許盟杰
蔡瑞源
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住華科技股份有限公司
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    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/04Optical benches therefor

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Abstract

檢驗設備包括工作平台、活動臂、抵壓件及彈性元件。抵壓件連接於活動臂且抵壓在工作平台上。彈性元件連接工作平台與活動臂,以提供活動臂一抵壓力。

Description

檢驗設備
本發明是有關於一種檢驗設備,且特別是有關於一種光學膜片的檢驗設備。
傳統檢查光學膜片的方式是檢驗員用手拿著光學膜片朝向光源,並同時用眼睛檢驗光學膜片。然而,手的晃動度大,穩定性不佳,導致眼睛無法清楚辨識缺陷,特別是小缺陷。因此,提出一種新的檢查光學膜片的技術是本技術領域業者努力的方向之一。
因此,本發明提出一種檢驗設備,可改善前述習知問題。
根據本發明之一實施例,提出一種檢驗設備。檢驗設備包括一工作平台、一活動臂、一抵壓件及一第一彈性元件。抵壓件連接於活動臂且抵壓在工作平台上。第一彈性元件連接工作平台與活動臂,以提供活動臂一抵壓力。
為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解,下文特舉實施例,並配合所附圖式詳細說明如下:
請參照第1A~1B圖,第1A圖繪示依照本發明一實施例之光學膜片10的檢驗設備100的示意圖,而第1B圖繪示第1A圖之檢驗設備100的抵壓機構120的示意圖。
檢驗設備100包括工作平台110、頂部115、抵壓機構120、發光元件130及至少一止擋部140。抵壓機構120配置在工作平台110之工作面110u上。抵壓機構120可將光學膜片10抵壓在工作平台110上。例如,當要檢查光學膜片10時,可把光學膜片10插進抵壓機構120與工作平台110的工作面110u之間,以讓抵壓機構120將光學膜片10抵壓在工作平台110的工作面110u上,以方便檢驗員檢驗光學膜片10的品質。光學膜片10例如是偏光膜片、增亮膜、擴光膜或其它具有光學特性的膜結構。此處的光學膜片10例如是可用於顯示裝置或發光裝置的光學膜。
發光元件130配置在抵壓機構120上方。例如,發光元件130配置在頂部115。頂部115連接於工作平台110並位於工作平台110上方。如此,發光元件130可往下照明光學膜片10,讓光學膜片10的缺陷(若有的話)被光線L1顯示出來,這樣檢驗員更容易判斷光學膜片10是否具有該缺陷。由於抵壓機構120可穩固地將光學膜片10抵壓在工作面110u上,使操作者能夠專注地觀察光學膜片10,不須特別顧慮光學膜片10是否會脫離工作平台110。在另一實施例中,發光元件130也可以配置在工作平台110內,例如是在工作面110u下方。
此外,工作平台110更具有底面110b。檢驗設備100以底面110b放置在一載體C1,此載體C1例如是地面或樓面。由於抵壓機構120可將光學膜片10抵壓在工作面110u上,因此即使工作面110u相對底面110b是傾斜的,光學膜片10也不會輕易自工作面110u掉落。傾斜的工作面110u可減少檢驗設備100的寬度W1。
工作面110u與底面110b之間具有夾角A1。在一實施例中,工作面110u與底面110b可以互相垂直,即夾角A1大致上為90度。或者,工作面110u與底面110b可以互相平行,即夾角A1大致上為0度。換言之,工作面110u與底面110b的夾角A1例如是介於約0度~約90度之間,較佳地介於約30度~約50度之間。
如第1B圖所示,抵壓機構120包括活動臂121、抵壓件122、第一彈性元件123、第二彈性元件124、第一保持件125及第二保持件126。第一彈性元件123例如是扭轉彈簧,其連接活動臂121與工作平台110,以提供活動臂121一抵壓在工作平台110的抵壓力F (抵壓力F繪示於第1A圖)。相似地,第二彈性元件124例如是扭轉彈簧,其連接活動臂121與工作平台110,同樣可提供活動臂121一抵壓在工作平台110的抵壓力F。此外,第一彈性元件123及第二彈性元件124可分別保持在第一保持件125及第二保持件126內,以穩定彈性元件的變形狀況。在一實施例中,抵壓力F可以依照實際需求,藉由第一彈性元件123及第二彈性元件124的選擇搭配調整之,以將光學膜片10穩定地抵壓在工作平台110上。此外,透過適當設計第一彈性元件123的彈性係數及第二彈性元件124的彈性係數可獲得適當或預期的抵壓力F。
在一實施例中,第一彈性元件123可連接活動臂121與第一保持件125,而第二彈性元件124可連接活動臂121與第二保持件126。如此,在第一保持件125及第二保持件126移離工作平台110後,整個抵壓機構120可自工作平台110分離。在一實施例中,第一保持件125可透過至少一螺紋元件127暫時性固定在工作面110u上,而第二保持件126可透過至少一螺紋元件128暫時性固定在工作面110u上。或者,第一保持件125及/或第二保持件126可卡合在工作面110u上,在此設計下,可選擇性省略螺紋元件127及/或128。在其它實施例中,第一保持件125及第二保持件126可藉由磁力暫時性固定在工作面110u上。在另一實施例中,若無需要,抵壓機構120可省略第一保持件125及/或第二保持件126。藉由上述設計,抵壓機構120可視需要移動安置位置及/或數量。
抵壓件122連接於活動臂121且抵壓在工作平台110上。如此,當光學膜片10進入抵壓件122與工作面110u之間時,前述抵壓力F傳遞至抵壓件122,使抵壓件122將光學膜片10抵壓在工作面110u上,進而使操作者方便觀察光學膜片10。此外,由於第一彈性元件123及第二彈性元件124持續性地提供活動臂121一抵壓力F,使抵壓件122持續性地將光學膜片10抵壓在工作面110u上。在一實施例中,當抵壓件122與工作面110u之間不具有光學膜片10時,抵壓件122仍接觸工作面110u。如此,不須特別顧慮光學膜片10的厚度,就算是厚度很薄的光學膜片10在進入抵壓件122與工作面110u之間時,都能被抵壓件122抵壓在工作面110u上。
如第1B圖所示,活動臂121具有U字形結構。例如,活動臂121包括第一臂1211、第二臂1212及第三臂1213。第二臂1212連接第一臂1211與第三臂1213,且第一臂1211與第三臂1213相對,使活動臂121具有U字形結構。
詳細來說,第一臂1211包括第一端1211a及第二端1211b,其中第一端1211a連接於第一彈性元件123。第二臂1212包括第一端1212a及第二端1212b,其中第二臂1212的第一端1212a連接於第一臂1211的第二端1211b。第二臂1212沿抵壓件122的中心軸向S1延伸。第三臂1213包括第一端1213a及第二端1213b,其中第一端1213a連接於第二彈性元件124。第二臂1212的第二端1212b連接於第三臂1213的第二端1213b。
如第1B圖所示,第一臂1211更包括一連接部1211c,其連接第一端1211a與第二端1211b。第一端1211a與連接部1211c夾一角度A2,使第一端1211a能以適當角度連接於第一彈性元件123。角度A2例如是90度。相似地,第三臂1213更包括一連接部1213c,其連接第一端1213a與第二端1213b。第一端1213a與連接部1213c夾一角度A3,使第一端1213a能以適當角度連接於第二彈性元件124。角度A3例如是90度。在一實施例中,第一臂1211及/或第三臂1213為桿件採用折彎工法製成。或者,活動臂121為一體成形結構。例如,一桿件可採用折彎工法形成第一臂1211、第二臂1212與第三臂1213。
抵壓件122包括壓輪1221、第一連接軸1222及第二連接軸1223。壓輪1221例如是圓柱輪或球輪,本發明實施例係以圓柱輪為例說明。壓輪1221具有相對之第一端面1221a與第二端面1221b。第一連接軸1222相對壓輪1221的第一端面1221a的中心往外突出並連接在第一臂1211的連接部1211c上。在本實施例中,第一連接軸1222包括第一端1222a及第二端1222b,其中第一端1222a連接於壓輪1221的第一端面1221a,而第二端1222b可連接在活動臂121。例如,第一連接軸1222的第一端1222a可固定或樞接在壓輪1221的第一端面1221a。
相似地,第二連接軸1223相對壓輪1221的第二端面1221b的中心往外突出並連接在第三臂1213上。第二連接軸1223具有類似或同於第一連接軸1222的結構,於此不再贅述。在一實施例中,第一連接軸1222與第二連接軸1223可彼此連接。例如,第一連接軸1222與第二連接軸1223可以構成一體成形結構。
在一實施例中,第一連接軸1222及第二連接軸1223可樞接於壓輪1221,使壓輪1221相對第一連接軸1222及第二連接軸1223係可轉動。如此,在光學膜片10進入壓輪1221與工作面110u過程中,壓輪1221透過轉動而減少光學膜片10的進入阻力(摩擦力)。此外,壓輪1221的材質包括橡膠、塑膠或具有軟質材料(如毛料、布料),可避免壓傷光學膜片10。
此外,第一連接軸1222的第二端1222b具有一環形結構1222c,第一臂1211可穿過環形結構1222c。環形結構1222c與第一臂1211係鬆配合,二者具有適當間隙。如此,在光學膜片10進入壓輪1221與工作面110u過程中,當光學膜片10推動壓輪1221時,壓輪1221可適當地調適本身位置(例如,透過間隙產生位移量),進而減少光學膜片10的進入阻力。
此外,環形結構1222c為一封閉環型,可防止第一臂1211與環形結構1222c分離。如此,在光學膜片10進入壓輪1221與工作面110u過程中,當光學膜片10推動壓輪1221時,由於環形結構1222c受到第一臂1211的阻力,使抵壓件122不致被光學膜片10推動過長的距離。如此,可穩定抵壓件122的位置。
如第1A圖所示,止擋部140配置在且突出於工作平台110的工作面110u上且鄰近抵壓件122,可止擋光學膜片10。如此,當光學膜片10進入抵壓件122與工作面110u之間時,檢驗員不須特別顧慮光學膜片10的進入深度,只要光學膜片10受到止擋部140的止擋即可開始進行檢驗。此外,如圖所示,止擋部140位於壓輪1221與第一臂1211的第一端1211a之間,使光學膜片10先通過壓輪1221再受到止擋部140的止擋。此外,止擋部140可位於壓輪1221的中心軸向S1與周面1221s垂直投影至工作面110u的投影區域範圍R1內。如此,相較於止擋部140位於投影區域範圍R1外,當止擋部140位於投影區域範圍R1內時光學膜片10可露出較大的可觀察面積,其中可觀察面積指的是未被抵壓機構120遮住的面積(即,光學膜片10位於第1A圖之壓輪1221左方的區域)。在另一實施例中,止擋部140位於壓輪1221與第一臂1211的第一端1211a之間,但可位於投影區域範圍R1外。此外,數個止擋部140可沿一直線排列,其中直線例如是大致平行於中心軸向S1(繪示於第1B圖)。然可視需求而定,直線可以與中心軸向S1夾一銳角、直角或鈍角。或者,數個止擋部140可沿一曲線排列。
如第1B圖所示,檢驗設備100更包括至少一止擋件150,其可止擋抵壓件121,如止擋抵壓件121之第一連接軸1222,避免抵壓件121往遠離第一端1211a的方向滑動。
如第1B圖所示,止擋件150包括調整部151及第二固定部152。調整部151配置在活動臂121上具有第一固定部151a及貫孔151h,其中第一固定部151a從調整部151的外側面延伸至貫孔151h。第二固定部152透過第一固定部151a將止擋件150固定在活動臂121上。在本實施例中 ,第一固定部151a例如是螺孔,而第二固定部152例如是螺紋元件,如螺栓。螺栓可穿過螺孔,並抵壓在活動臂121上,以固定調整部151與活動臂121的相對位置。如此,固定的調整部151可阻擋抵壓件121,避免抵壓件121往遠離第一端1211a的方向滑動。
此外,調整部151在活動臂121的位置係可調整。詳細來說,活動臂121可穿過貫孔151h,且調整部151相對活動臂121可滑動。如此,可調整調整部151在活動臂121的位置。
由於止擋件150在活動臂121的位置係可調整,因此抵壓件121提供給光學膜片10的抵壓力F也可調整。當抵壓件121相對第一端1211a的位置愈近,則抵壓件121提供愈大的抵壓力F給光學膜片10;反之則愈小。
在本實施例中,一個止擋件150配置在活動臂121的第一臂1211上。在另一實施例中,二個止擋件150可分別配置在活動臂121的第一臂1211與第三臂1213,以分別止擋抵壓件121的第一連接軸1222與第二連接軸1223。在其它實施例中,檢驗設備100亦可省略止擋件150。
此外,在其它實施例中,檢驗設備200或400可更包括至少一止擋件150,其配置在檢驗設備的活動臂。該其它實施例的止擋件150與活動臂的相對配置關係類似或同於前述止擋件150與活動臂121的相對配置關係,於此不再贅述。
請參照第2圖,其繪示依照本發明另一實施例之檢驗設備200的示意圖。檢驗設備200包括工作平台110、頂部115 (未繪示)、數個抵壓機構120、發光元件130 (未繪示)及至少一止擋部140 (未繪示)。相較於檢驗設備100,檢驗設備200的抵壓機構120的數量是多個,可以同時抵壓在一大尺寸的光學膜片10上。抵壓機構120的數量可以依照光學膜片10而定,本發明實施例不加以限定。如前述,抵壓機構120可分離地安裝在工作平台110上,如此可視光學膜片10的尺寸而定,安裝適當數量的抵壓機構120於工作平台110上。
請參照第3圖,其繪示依照本發明另一實施例之檢驗設備300的示意圖。檢驗設備300包括工作平台110、頂部115 (未繪示)、至少一抵壓機構320、發光元件130 (未繪示)及至少一止擋部140 (未繪示)。抵壓機構320包括活動臂121、抵壓件322、第一彈性元件123、第二彈性元件124、第一保持件125及第二保持件126。相較於前述抵壓件122,本實施例之抵壓件322可省略第一連接軸1222及第二連接軸1223,但保留壓輪1221。壓輪1221具有一貫穿孔1221h,以允許活動臂121的第二臂1212穿過。此外,第二臂1212與貫穿孔1221h可緊配或鬆配。
請參照第4圖,其繪示依照本發明另一實施例之檢驗設備400的示意圖。檢驗設備400包括工作平台110、頂部115 (未繪示)、至少一抵壓機構420、發光元件130 (未繪示)及至少一止擋部140 (未繪示)。抵壓機構420包括活動臂421、抵壓件422、第一彈性元件123及第一保持件125。相較於前述抵壓件122,本實施例之抵壓件422可省略第二連接軸1223,但保留壓輪1221及第一連接軸1222。相較於前述活動臂121,本實施例之活動臂421省略第三臂1213,但保留第一臂1211及第二臂1212。第二臂1212可延伸至與壓輪1221的周面1221s重疊,以產生阻擋壓輪1221自活動臂421脫離的作用。
在另一實施例中,抵壓件422可省略第一連接軸1222,而活動臂421的第一臂1211穿入貫穿孔1221h內。在此設計下,第一臂1211與貫穿孔1221h緊配,以防止活動臂421與壓輪1221分離。
綜上所述,雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾。因此,本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10‧‧‧光學膜片
100、200、300、400‧‧‧檢驗設備
115‧‧‧頂部
110‧‧‧工作平台
110u‧‧‧工作面
110b‧‧‧底面
120、320、420‧‧‧抵壓機構
121、421‧‧‧活動臂
1211‧‧‧第一臂
1211a、1212a、1213a、1222a‧‧‧第一端
1211b、1212b、1213b、1222b‧‧‧第二端
1211c、1213c‧‧‧連接部
1212‧‧‧第二臂
1213‧‧‧第三臂
122、322、422‧‧‧抵壓件
1221‧‧‧壓輪
1221a‧‧‧第一端面
1221b‧‧‧第二端面
1221h‧‧‧貫穿孔
1221s‧‧‧周面
1222‧‧‧第一連接軸
1222c‧‧‧環形結構
1223‧‧‧第二連接軸
123‧‧‧第一彈性元件
124‧‧‧第二彈性元件
125‧‧‧第一保持件
126‧‧‧第二保持件
127、128‧‧‧螺紋元件
130‧‧‧發光元件
140‧‧‧止擋部
150‧‧‧止擋件
151‧‧‧調整部
151a‧‧‧第一固定部
151h‧‧‧貫孔
152‧‧‧第二固定部
A1、A2、A3‧‧‧夾角
F‧‧‧抵壓力
L1‧‧‧光線
S1‧‧‧中心軸向
R1‧‧‧投影區域範圍
W1‧‧‧寬度
第1A圖繪示依照本發明一實施例之光學膜片的檢驗設備的示意圖。 第1B圖繪示第1A圖之檢驗設備的抵壓機構的示意圖。 第2圖,其繪示依照本發明另一實施例之檢驗設備的示意圖。 第3圖,其繪示依照本發明另一實施例之檢驗設備的示意圖。 第4圖,其繪示依照本發明另一實施例之檢驗設備的示意圖。

Claims (15)

  1. 一種光學膜片的檢驗設備,包括:一工作平台;一活動臂;一抵壓件,連接於該活動臂且抵壓在該工作平台上;以及一第一彈性元件,連接該工作平台與該活動臂,以提供該活動臂一抵壓力;一止擋件,配置在該活動臂上,以止擋該抵壓件。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之檢驗設備,其中該活動臂包括:一第一臂,連接於該第一彈性元件;以及一第二臂,連接於該第一臂且沿該抵壓件的轉軸方向延伸;其中,該抵壓件連接於該第一臂。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之檢驗設備,其中該抵壓件包括:一壓輪,具有一第一端面;一第一連接軸,相對該壓輪的該第一端面的中心往外突出並連接在該活動臂上。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之檢驗設備,其中該第一連接軸可轉動地樞接於該壓輪。
  5. 如申請專利範圍第3項所述之檢驗設備,其中該第一連接軸相對該壓輪係固定。
  6. 如申請專利範圍第3項所述之檢驗設備,其中該第一連接軸具有一第一端及一第二端,該第一端連接於該第一端面,而該第二端具有一環形結構,該活動臂穿過該環形結構。
  7. 如申請專利範圍第2項所述之檢驗設備,其中該活動臂更包括:一第二彈性元件;以及一第三臂,連接該第二彈性元件與該第二臂。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之檢驗設備,其中該抵壓件係橡膠輪。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之檢驗設備,更包括:一止擋部,配置在該工作平台上,且鄰近該抵壓件。
  10. 如申請專利範圍第8項所述之檢驗設備,其中該該壓輪具有一中心軸向及一周面,該止擋部位於該中心軸向與該周面垂直投影至該工作平台之一工作面的投影區域範圍內。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之檢驗設備,其中該抵壓件、該活動臂與該第一彈性元件構成一抵壓機構,該檢驗設備包括複數個該抵壓機構。
  12. 如申請專利範圍第1項所述之檢驗設備,其中該抵壓件係持續性抵壓在該工作平台上。
  13. 如申請專利範圍第1項所述之檢驗設備,更包括:一保持件,配置在該工作平台上;其中,該第一彈性元件連接該活動臂與該保持件。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之檢驗設備,其中該保持件可分離地配置在該工作平台上。
  15. 如申請專利範圍第1項所述之檢驗設備,其中該止擋件包括:一調整部,配置在該活動臂上且具有一第一固定部;以及一第二固定部,透過該第一固定部將該調整部固定在該活動臂上。
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