TWI644108B - 以銀奈米結構為基礎之光學堆疊及具有防紫外線之觸碰感測器 - Google Patents

Abstract

本發明揭示藉由併有一或多個擋UV層而對曝光具有穩定性之光學堆疊。

Description

以銀奈米結構為基礎之光學堆疊及具有防紫外線之觸碰感測器 相關申請案之交叉參考

本申請案依據35 U.S.C.§ 119(e)主張2013年9月27日申請之美國臨時專利申請案第61/883,863號及2014年8月15日申請之美國專利申請案第14/460,999號之權益，該等申請案係以全文引用的方式併入本文中。

本發明係關於製造包含銀奈米結構之至少一個透明導電膜之穩定且可靠的光學堆疊。

透明導體係指塗佈於高透射率表面或基板上之導電薄膜。透明導體可製造為具有表面導電性，同時維持合理的光學透明度。該等表面導電透明導體廣泛用作平面液晶顯示器、觸控面板、電致發光裝置及薄膜光伏打電池中之透明電極，用作抗靜電層及用作電磁波屏蔽層。

目前，諸如氧化銦錫(ITO)之真空沈積金屬氧化物為向諸如玻璃及聚合膜之介電表面提供光學透明度及導電性之工業標準材料。然而，金屬氧化物膜為易損的且易於在彎曲或受到其他物理應力期間損壞。其亦需要高沈積溫度及/或高退火溫度以達到高導電性位準。對於諸如塑膠及有機基板(例如聚碳酸酯)之某些易吸附水分的基板而 言，金屬氧化物膜變得難以恰當黏附。金屬氧化物膜在可撓性基板上之應用因此受到嚴重限制。另外，真空沈積為高成本之製程且需要特殊設備。此外，真空沈積之製程並不有助於形成圖案及電路。此通常導致需要昂貴的圖案化製程，諸如光微影。

近年來，傾向於用嵌入絕緣矩陣中之金屬奈米結構(例如，銀奈米線)的複合材料來替代平板顯示器中之當前工業標準透明導電ITO膜。典型地，藉由首先在基板上塗佈包括銀奈米線及黏合劑之墨水組合物來形成透明導電膜。黏合劑提供絕緣矩陣。所得透明導電膜具有與ITO膜相當或更優越之薄層電阻。

以奈米結構為基礎之塗佈技術尤其適用於印刷電子裝置。使用以溶液為基礎之形式的印刷電子技術使得可能在大面積的可撓性基板或剛性基板(玻璃)上生產穩健的電子裝置。參見以Cambrios Technologies公司之名義的美國專利第8,049,333號，該專利特此以全文引用的方式併入本文中。用以形成以奈米結構為基礎之薄膜的以溶液為基礎之方式亦與現有塗佈及層壓技術相容。因此，可將塗飾層、底塗層、黏著層及/或保護層之額外薄膜整合於高產量製程中以用於形成包括以奈米結構為基礎之透明導體的光學堆疊。

雖然一般將銀視作貴金屬，但是在特定情況下銀可對腐蝕具有敏感性。銀腐蝕之一個結果為導電性的局部或均勻損失，其表現為透明導電膜之薄層電阻漂移，導致效能不可靠。因此，在此項技術中仍需要提供可靠且穩定的併有以奈米結構為基礎之透明導體之光學堆疊。

本發明揭示包括以銀奈米結構為基礎之光學堆疊的光學堆疊，其藉由併有一或多個擋UV層而對長期曝光具有穩定性。

一個實施例提供觸碰感測器，其包含： 第一基本透明導體，其具有第一基板及第一複數個網路連接之銀奈米結構；OCA層；第二基本透明導體，其具有第二基板及第二複數個網路連接之銀奈米結構；及第三基板，其中第三基板具有接收入射光及觸碰輸入之表面，第二基本透明導體與第一基本透明導體相比更接近入射光，及其中第二基板、第三基板或OCA層中之至少一者為擋UV層。

另一實施例提供觸控螢幕，其包含：第一基本透明導體，其具有第一基板及形成於第一基板上之第一複數個網路連接之銀奈米結構；OCA層；及第二透明導體，其具有第二基板及形成於第二基板上之連續導電膜；其中第二基板具有接收入射光及觸碰輸入之表面，第二透明導體與第一基本透明導體相比更接近入射光，及其中第二基板或OCA層中之至少一者為擋UV層。

另一實施例提供光學堆疊，其包含：基本透明導體，其具有基板及複數個網路連接之銀奈米結構；及擋UV層。

另一實施例提供光學堆疊，其包含：基本透明導體，其具有第一基板及複數個網路連接之銀奈米結構；及第二基板，其上覆於基本透明導體上，其中第二基板塗佈有擋UV塗層。

10‧‧‧光學堆疊

12‧‧‧第一基板

14‧‧‧複數個網路連接之銀奈米結構

16‧‧‧OCA層

18‧‧‧第二基板

20‧‧‧基本透明導體

30‧‧‧光學堆疊

32‧‧‧第一基板

34‧‧‧複數個網路連接之銀奈米結構

36‧‧‧OCA層

38‧‧‧第二基板

40‧‧‧基本透明導體

42‧‧‧遮光罩

44‧‧‧全譜光

50‧‧‧頂表面

54‧‧‧邊緣

56‧‧‧照亮區域

58‧‧‧照亮區域

100‧‧‧光學堆疊

112‧‧‧第一基板

114‧‧‧複數個網路連接之銀奈米結構

116‧‧‧擋UV之OCA層

118‧‧‧第二基板

120‧‧‧基本透明導體

122‧‧‧裝飾框架/遮光罩

124‧‧‧入射光所照射之表面

150‧‧‧光學堆疊

152‧‧‧第一基板

154‧‧‧第一OCA層

156‧‧‧基本透明導體

158‧‧‧第二基板

160‧‧‧複數個網路連接銀奈米結構

166‧‧‧第二OCA層

168‧‧‧第三基板

172‧‧‧裝飾框架/遮光帶

174‧‧‧入射光所照射之表面

200‧‧‧光學堆疊

210‧‧‧基本透明導體

212‧‧‧第一基板

214‧‧‧複數個網路連接之銀奈米結構

216‧‧‧OCA層

218‧‧‧第二基板

220‧‧‧擋UV層

222‧‧‧裝飾框架/遮光罩

224‧‧‧入射光之表面

300‧‧‧觸碰感測器

310‧‧‧第一基本透明導體

312‧‧‧第一基板

314‧‧‧第一複數個網路連接之銀奈米結構

316‧‧‧第二基本透明導體

318‧‧‧OCA層

322‧‧‧第二基板

324‧‧‧第二複數個網路連接銀奈米結構

326‧‧‧OCA層

328‧‧‧第三基板/防護玻璃罩

330‧‧‧裝飾框架

400‧‧‧觸碰感測器

410‧‧‧第一基本透明導體

412‧‧‧第一基板

414‧‧‧第一複數個網路連接之銀奈米結構

416‧‧‧第二基本透明導體

418‧‧‧OCA層

422‧‧‧第二基板

424‧‧‧第二複數個網路連接之銀奈米結構

426‧‧‧OCA層

428‧‧‧第三基板

430‧‧‧裝飾框架

500‧‧‧觸碰感測器

510‧‧‧防護膜/顯示層

512‧‧‧第一OCA層

520‧‧‧第一基本透明導體層

522‧‧‧第一基板

524‧‧‧第一複數個網路連接銀之奈米結構

526‧‧‧OCA層

530‧‧‧第二基本透明導體

532‧‧‧第二基板

534‧‧‧第二複數個網路連接之銀奈米結構

536‧‧‧OCA層

538‧‧‧第三基板/防護玻璃罩

540‧‧‧裝飾框架

600‧‧‧觸碰感測器

610‧‧‧防護膜/顯示層

612‧‧‧防護膜/顯示層

620‧‧‧第一基本透明導體層

622‧‧‧第一基板

624‧‧‧第一複數個網路連接之銀奈米結構

626‧‧‧OCA層

630‧‧‧第二基本透明導體

632‧‧‧第二擋UV基板

634‧‧‧第二複數個網路連接之銀奈米結構

636‧‧‧OCA層

638‧‧‧第三基板/防護玻璃罩

640‧‧‧裝飾框架

700‧‧‧觸碰感測器

710‧‧‧第一基本透明導體層

712‧‧‧第一基板

714‧‧‧第一複數個網路連接之銀奈米結構

720‧‧‧OCA層

730‧‧‧透明導體

732‧‧‧玻璃基板/防護玻璃罩

734‧‧‧連續導電膜

740‧‧‧裝飾框架

800‧‧‧觸碰感測器

810‧‧‧第一基本透明導體層

812‧‧‧第一基板

814‧‧‧第一複數個網路連接之銀奈米結構

820‧‧‧OCA層

830‧‧‧第二基本透明導體

832‧‧‧第二擋UV基板/防護透鏡

834‧‧‧第二複數個網路連接之銀奈米結構

840‧‧‧裝飾框架

900‧‧‧觸碰感測器

910‧‧‧第一基本透明導體層

912‧‧‧第一基板

914‧‧‧第一複數個網路連接之銀奈米結構

920‧‧‧第二基本透明導體

922‧‧‧第二基板

924‧‧‧第二複數個奈米結構

930‧‧‧OCA層

932‧‧‧第三基板/防護透鏡

940‧‧‧裝飾框架

1000‧‧‧樣本光學堆疊

1010‧‧‧基本透明導電膜

1020‧‧‧PET基板

1030‧‧‧銀奈米線

1040‧‧‧玻璃

1044‧‧‧氣隙

1050‧‧‧膠帶

1060‧‧‧樣本光學堆疊

1070‧‧‧擋UV膜

1112‧‧‧基板

1114‧‧‧複數個網路連接之銀奈米線

1120‧‧‧OCA層

1130‧‧‧玻璃防護罩

1200‧‧‧光學堆疊

1210‧‧‧第一基板

1220‧‧‧第一OCA層

在圖式中，相同參考數字識別類似元件或動作。圖式中之元件之大小及相對位置未必按比例繪製。舉例而言，各種元件之形狀及角度並非按比例繪製，且將此等元件中之一些任意放大及定位以提高圖式可讀性。另外，所繪製之元件之具體形狀並不意欲傳達任何關於具體元件之實際形狀的資訊，且僅為了在圖式中便於辨識而選擇。

圖1展示包括銀奈米結構之基本透明導體之光學堆疊。

圖2A及圖2B示意性地展示奈米結構腐蝕之「邊緣失效(edge failure)」模式。

圖3至圖5展示根據本發明之各種實施例的併有擋UV層之光學堆疊。

圖6展示藉由併有擋UV層而有效地消除了「邊緣失效」。

圖7至圖8展示呈GFF組態之觸碰感測器。

圖9至圖10展示呈倒置GFF組態之觸碰感測器。

圖11至圖13展示根據各種實施例之額外組態之觸碰感測器。

圖14A及圖14B展示在光學堆疊中併入擋UV層之實例。

圖14C展示玻璃相比於用擋UV膜層壓之玻璃的光透射率。

圖14D展示在曝光下兩個光學堆疊(1000對比1060)之薄層電阻之時間演化。

圖15展示在高強度光下具有及不具有擋UV膜之光學堆疊之薄層電阻變化的比較結果。

圖16展示在低強度光下具有及不具有擋UV膜之光學堆疊之薄層電阻變化的比較結果。

圖17A展示某些照明條件之光照光譜。

圖17B展示在某些照明條件下不具有擋UV膜之光學堆疊中之薄層電阻變化。

圖18A、圖18B及圖18C展示併有擋UV層之多層光學堆疊之實例及在曝光後其各別薄層電阻變化。

透明導電膜為諸如觸控螢幕或液晶顯示器(LCD)之平板顯示器裝置之基本組件。此等裝置之可靠性部分地由透明導電膜之穩定性決定，該等透明導電膜在裝置之正常操作條件下曝露於光及熱中。如本文中更詳細地論述，發現長期曝光可誘發銀奈米結構之腐蝕，致使透明導體之薄層電阻的局部增大或均勻增大。

因此，本發明揭示包括以銀奈米結構為基礎之透明導體或薄膜之光學堆疊，其對長期曝露於熱及光中具有穩定性；且揭示用於製備該等光學堆疊之方法。

如本文中所使用，「光學堆疊」係指通常置放於電子裝置(例如觸碰感測器或平板顯示器)之光路中之多層結構或面板。光學堆疊包括至少一層以金屬奈米結構為基礎之透明導電膜(或透明導體)。其他光學堆疊之層可包括例如基板、塗飾層、底塗層、黏著層、保護層(例如，防護玻璃罩)或其他效能增強層，諸如抗反射或抗眩光膜。較佳地，光學堆疊包括至少一層光學清透的黏著劑(OCA)。

光學堆疊可使用許多組態。圖1展示最簡單構造中之一者。如所示，光學堆疊(10)自下而上包括第一基板(12)、複數個網路連接之銀奈米結構(14)、OCA層(16)及第二基板(18)。光學堆疊(10)可藉由以下步驟形成：首先藉由將銀奈米結構之塗佈溶液、黏合劑及揮發性溶劑沈積於第一基板(12)上來形成基本透明導體(20)。在乾燥及/或固化之後，銀奈米結構固定於第一基板(12)上。第一基板可為可撓性基板，例如聚對苯二甲酸乙二酯(PET)膜。

可將此基本透明導體併入於光學堆疊內之多種位置。基本透明導體(20)之一實例由本申請案之受讓人Cambrios Technologies公司以 商標名ClearOhm^®市售。第一基板(12)亦可為剛性材料，諸如玻璃。可經由中間OCA層(16)將基本透明導體(20)層壓至第二基板(18)。第二基板(18)可為剛性的(例如玻璃)或可撓性的(例如保護膜)。此類面板可充當例如電容式觸控面板。

光氧化

在曝光後光學堆疊中之銀奈米結構的腐蝕傾向可歸因於多個以複雜方式運作之因素。發現由光誘發之某種腐蝕可在黑暗區與曝露於環境光或模擬光之照亮區之界面處尤其顯著。圖2A示意性地展示光學堆疊(30)中之此所謂的「邊緣失效」，可將其視作觸碰感測器之簡化的樣品模型。更特定而言，光學堆疊(30)包括第一基板(32)；複數個網路連接之銀奈米結構(34)，其在第一基板(32)上形成以提供基本透明導體(40)；及OCA層(36)，其將基本透明導體(40)黏結至第二基板(38)。將遮光罩(42)沿著光學堆疊(30)之周邊置放以模型化亮/暗界面。在真實裝置中，藉由用以隱藏信號路由跡線的裝飾框架(「裝飾框架(deco frame)」)或帶槽框產生亮/暗界面。全譜光(44)為陽光或來自陽光模擬器之光，其被引向光學堆疊(30)之頂表面(50)。出人意料的是，觀測到與距離邊緣(54)較遠之照亮區域(58)中之奈米結構相比，最接近遮光與曝光之間的界面或邊緣(54)的照亮區域(56)中之奈米結構可經受更快地降解。降解表現在邊緣(54)附近局部之薄層電阻急劇增大。

圖2B展示光學堆疊(30)之俯視圖。遮光罩(42)阻擋光到達局部的下伏的奈米結構。接近遮罩(42)之照亮區域(56)與距離遮罩較遠之區域(58)(例如觸碰感測器之中心)相比，可能經歷更多且更快的奈米結構腐蝕。與失效機制無關，發現某些光化學活性經由以下氧化反應引起銀奈米結構之腐蝕：Ag⁰ → Ag⁺+e^-。

發現以下兩個因素促進銀奈米線之氧化：紫外線(UV)光及光學堆疊中之氧的存在。另外，當諸如PET之以聚合物為基礎之基板曝露於UV光中時，該基板亦可經受光氧化，同時在此過程中消耗氧。光氧化速率亦可受堆疊之其他層(尤其OCA)中之化學物質強烈影響。

咸信侷限於邊緣之失效係由與距該界面(54)較遠的區域(58)相比，在最接近亮/暗界面(54)的區域(56)中較高的局部氧及光位準所導致。更特定而言，在照亮區域中，因為PET膜基板亦經受光氧化，所以銀奈米線由於PET基板的競爭性耗氧而被剝奪氧。然而，氧可擴散穿過黑暗區(在遮罩下方)中的PET，且隨後橫向擴散穿過OCA且進入照亮區域，在該區域中氧在光氧化反應中受到消耗。因此，亮/暗界面為光學堆疊的曝露於高位準之氧及光兩者的唯一部分。

亦發現在一些情況下緊密接近OCA似乎誘發且加重銀奈米結構之腐蝕。光學清透黏著劑(OCA)為黏著性薄膜，常常用以將若干功能層(例如防護玻璃罩及透明導體)組裝或黏結成光學堆疊或面板(參見圖1)。OCA常常含有藉由自由基聚合作用所形成之丙烯酸烷酯混合物。因而，OCA可含有未反應之引發劑或光引發劑、殘餘單體、溶劑及自由基。此等物質中之一些為感光性的且可能對緊密接近OCA之銀奈米結構有害。來自OCA之化學物質亦可藉由參與初始光氧化步驟之下游氧化還原反應，來促進光氧化反應。如本文中所使用，可將OCA預製造(包括商用形態)且層壓於基板上，或以液體形態直接塗佈於基板上。

感光性物質易於吸收光子且經受或誘發複雜的光化學活性。光化學活性之一種類型涉及使化合物自基態激發至更高能階(亦即激發態)。激發態為暫態且一般將衰退回基態，同時釋放熱。然而，暫態激發態亦可能引起與其他物質之複雜、串級的反應。

併入擋UV層

併有擋UV層之光學堆疊能夠阻擋或減弱UV光與銀奈米結構相互作用。可將擋UV層併入光學堆疊中之任何地方，只要將其置放於光源與奈米結構之間即可。

擋UV層包含一或多種擋UV物質，其吸收UV區(典型定義為390nm以下之光)中之光子，因此阻擋或顯著減弱入射光中之原本可進入光學堆疊且降解銀奈米結構之UV光。擋UV物質典型地為具有不飽和化學鍵之化合物。一般而言，當擋UV物質吸收光子時產生電子激發態。激發態藉由能量轉移或電子轉移回到基態，因此耗散光子能量。

在某些實施例中，擋UV層可為本文中所描述之塗佈有擋UV物質薄層的基板中之任一者。在其他實施例中，擋UV層可在層之主要部分內併有一或多種擋UV物質。在另外的實施例中，尤其在擋UV層為光學堆疊內的中間層之組態中，擋UV層可適宜充當OCA層。在此情況下，擋UV之OCA層兼用於阻擋UV光以及黏結光學堆疊之兩個子部分之雙重用途。

圖3說明併有擋UV之OCA層之光學堆疊(100)。如所示，光學堆疊(100)包括第一基板(112)；複數個網路連接之銀奈米結構(114)，其形成於第一基板(112)上以提供基本透明導體(120)；擋UV之OCA層(116)；及第二基板(118)。可將裝飾框架或遮光罩(122)視情況置放於入射光所照射之表面(124)之周邊。此組態基本上用擋UV之OCA層(116)替代圖2之光學堆疊(30)之OCA層。因為擋UV之OCA層接觸奈米結構(114)，所以擋UV之OCA與奈米結構相容且不會變成不穩定源至關重要。

圖4說明另一實施例，其可藉由相對於入射光而顛倒光學堆疊中之基本透明導體之定向，來解決擋UV層與銀奈米結構之間潛在的不相容。如所示，光學堆疊(150)自下而上包括第一基板(152)、第一OCA層(154)、包括第二基板(158)及複數個網路連接銀奈米結構(160) 之基本透明導體(156)、第二OCA層(166)及第三基板(168)，其中第二OCA層(166)為擋UV層，且銀奈米結構(160)不與第二OCA層接觸。可將裝飾框架或遮光帶(172)視情況置放於入射光所照射之表面(174)之周邊。在此組態中，因為與圖3中之基本透明導體(120)相比，基本透明導體(156)為倒置的，所以銀奈米結構不會直接與擋UV之OCA層(166)接觸，因此避免擋UV物質與銀奈米結構之間任何潛在的不相容。第一OCA層(154)不需要為擋UV層。

圖5展示根據本發明之另一實施例之圖4之變體組態。如所示，光學堆疊(200)自下而上包括具有第一基板(212)及複數個網路連接之銀奈米結構(214)之基本透明導體(210)、OCA層(216)、第二基板(218)及擋UV層(220)。在擋UV層之入射光之表面(224)上的周邊上，可視情況藉由裝飾框架或遮光罩(222)來覆蓋該擋UV層。在圖5中，銀奈米結構不與擋UV層接觸，因此避免任何潛在的不相容。

如本文中所描述且如實例3至實例4中進一步詳細描述，圖6藉由將光學堆疊(30)及光學堆疊(200)曝露於模擬光照條件中來展示擋UV層之效應。面板(A)與光學堆疊(30)相對應，其不具有擋UV層。如邊緣區(56)中之光學堆疊之視在薄層電阻(藉由非接觸式渦電流方法量測)急劇增大所指示，展示了顯著的「邊緣失效」，而距離邊緣(54)較遠之光照區域(58)中之光學堆疊的薄層電阻在超過100小時之曝光中都具有相對穩定性。相比而言，併有擋UV層(220)之光學堆疊(200)整個皆展示在超過600小時之曝光中的相同的穩定性。如所表明，擋UV層有效地阻止局部光降解。

測試光穩定性

為了測試光學堆疊之光穩定性，將受到曝光之光學堆疊之薄層電阻作為時間之函數進行量測以偵測任何漂移。

將周圍環境室用作提供操作光學堆疊之模擬光及環境條件之測 試設備。典型地，可將氙弧燈(例如Atlas XXL+)用作陽光模擬器。氙弧燈提供與陽光極其相符之全譜光。可調整光強度以模擬在晝夜或季節之不同時間的直射陽光或間接漫射陽光。另外，環境室可對溫度(包括室溫度及背面板溫度)、相對濕度及其類似者進行調整。

觸碰感測器

本文中所描述之防UV光學堆疊可進一步與其他功能性膜整合以形成觸碰感測器。

就觸碰感測器而言，不論其為電容式的抑或電阻式的，皆在觸碰表面下方使用一個或兩個透明導電膜以運載電流。將透明導電膜圖案化成導電線路以偵測觸碰輸入位置之座標。當觸碰表面受到觸碰時，偵測到在觸碰輸入位置處之電壓發生較小的變化(在電阻式觸碰感測器中)。

許多組態皆可能用以建構觸碰感測器。一般而言，可將觸碰感測器按不同基板來分類，該等基板例如支撐各種功能層之以玻璃為基礎或以膜為基礎之基板。早期觸碰感測器架構通常使用GG組態，亦即玻璃-玻璃結構，各玻璃基板支撐各別透明導電膜(例如ITO層)。隨著諸如由Cambrios Technologies公司市售的ClearOhm^®膜之以薄膜為基礎之透明導體的出現，可能使用GFF(玻璃-膜-膜)及G1F(玻璃-膜)組態。其他組態包括由例如Shoei有限公司市售之P1F(塑膠-膜)及由UniDisplay公司市售之OFS(單膜解決方案)。

無論組態如何，例如基板、覆蓋層或OCA層之至少一個層應為置於入射光與銀奈米結構之間的擋UV層。當存在兩個銀奈米結構層時，擋UV層應處於入射光與更接近入射光的銀奈米結構層(例如，在本文中所說明之第二基本透明導體層)之間。

各種實施例係針對併有一或多個提供光穩定性且保護銀奈米結構不受光降解之擋UV層的觸碰感測器架構。應理解，正如同在申請 中之美國專利申請案第14/181,523號(該申請案的全文併入本文中)中所描述，在本文中所論述之所有組態可進一步包括一或多種抗氧化劑及/或一或多種氧障壁。

圖7展示根據一個實施例之例示性GFF(玻璃-膜-膜)組態。如所示，觸碰感測器(300)自下而上包括第一基本透明導體(310)，其具有第一基板(312)及形成於第一基板上之第一複數個網路連接之銀奈米結構(314)。經由OCA層(318)將第一基本透明導體(310)黏結至第二基本透明導體(316)，第二基本透明導體(316)具有第二基板(322)及形成於第二基板上之第二複數個網路連接銀奈米結構(324)。第一基本透明導體以及第二基本透明導體各可為ClearOhm^®膜。經由擋UV之OCA層(326)，第二基本透明導體(316)進一步黏結至第三基板(328)。第三基板可為接收入射光以及觸碰輸入之防護玻璃罩。可將視情況選用之裝飾框架(330)併入於防護玻璃罩(328)之下。擋UV之OCA層(326)有效地阻擋入射光之UV光超出防護玻璃罩而進入光學堆疊。

圖8展示根據另一實施例之GFF/PFF(塑膠-膜-膜)組態。如所示，觸碰感測器(400)自下而上包括第一基本透明導體(410)，其具有第一基板(412)及形成於第一基板上之第一複數個網路連接之銀奈米結構(414)。經由OCA層(418)，第一基本透明導體(410)黏結至第二基本透明導體(416)，第二基本透明導體(416)具有第二基板(422)及形成於第二基板上之第二複數個網路連接之銀奈米結構(424)。第一基本透明導體以及第二基本透明導體各可為ClearOhm^®膜。經由OCA層(426)，第二基本透明導體(416)進一步黏結至第三基板(428)，其為擋UV防護透鏡(塑膠或經塗佈之玻璃)。可將視情況選用之裝飾框架(430)併入於擋UV防護透鏡(428)之下。擋UV防護透鏡(428)有效地阻擋入射光之UV光進入觸碰感測器。

圖9展示呈另一GFF組態之觸碰感測器，其中與圖7中的彼等者相 比基本透明導體為倒置的。如所示，觸碰感測器(500)自下而上包括防護膜/顯示層(510)，其經由第一OCA層(512)黏結至第一基本透明導體層(520)，該第一基本透明導體層(520)具有第一基板(522)及形成於第一基板上之第一複數個網路連接之銀奈米結構(524)。與圖7之第一基本透明導體(310)相比，第一基本透明導體(520)為倒置的，因為第一基板(520)與奈米結構(524)相比更接近入射光。經由OCA層(526)，第一基本透明導體(520)黏結至第二基本透明導體(530)，第二基本透明導體(530)具有第二基板(532)及形成於第二基板上之第二複數個網路連接之銀奈米結構(534)。第一基本透明導體以及第二基本透明導體各可為ClearOhm^®膜。經由擋UV之OCA層(536)，第二基本透明導體(530)進一步黏結至第三基板(538)。第三基板(538)可為接收入射光以及觸碰輸入之防護玻璃罩。可將視情況選用之裝飾框架(540)併入於防護玻璃罩(538)之下。擋UV之OCA層(536)有效地阻擋入射光之UV光超出防護玻璃罩而進入光學堆疊。另外，因為第二基本透明導體由於其中第二基板(532)與第二複數個奈米結構(534)相比更接近入射光而為倒置的，所以奈米結構(534)不會直接與擋UV之OCA層(536)接觸。由此，奈米結構與擋UV之OCA層之間任何潛在的不相容將不會使觸碰感測器不穩定。

圖10展示呈另一GFF組態之觸碰感測器，其中基本透明導體為倒置的。觸碰感測器(600)類似於圖9之觸碰感測器(500)，不同之處在於第二基本透明導體(630)具有擋UV基板。更特定而言，觸碰感測器(600)自下而上包括防護膜/顯示層(610)，其經由第一OCA層(612)黏結至第一基本透明導體層(620)，該第一基本透明導體層(620)具有第一基板(622)及形成於第一基板上之第一複數個網路連接之銀奈米結構(624)，第一基板(622)與奈米結構(624)相比更接近入射光。經由OCA層(626)，第一基本透明導體(620)黏結至第二基本透明導體(630)，第 二基本透明導體(630)具有第二擋UV基板(632)及形成於第二基板上之第二複數個網路連接之銀奈米結構(634)。第一基本透明導體以及第二基本透明導體各可為ClearOhm^®膜。擋UV基板(632)可為任何塗佈有一或多種擋UV物質之基板。經由OCA層(636)，第二基本透明導體(630)進一步黏結至第三基板(638)。可將視情況選用之裝飾框架(640)併入於防護玻璃罩(638)之下。在此組態中，第二基本透明導體(630)之倒置結構允許介於入射光與奈米結構(634)之間的擋UV基板(632)阻擋UV光與奈米結構相互作用。

圖11展示呈G1F組態之觸碰感測器。觸碰感測器(700)自下而上包含第一基本透明導體層(710)，其具有第一基板(712)及形成於第一基板上之第一複數個網路連接之銀奈米結構(714)。第一基本透明導體層(710)可為ClearOhm^®膜。經由擋UV之OCA層(720)，其黏結至以玻璃為基礎之透明導體(730)，該透明導體(730)具有玻璃基板(732)及形成於玻璃基板上之諸如一層ITO膜之連續導電膜(734)，ITO膜與擋UV之OCA層(720)接觸。可將視情況選用之裝飾框架(740)併入於防護玻璃罩(732)之下。

圖12展示呈P1F組態之觸碰感測器，其使用擋UV塑膠防護透鏡。更特定而言，觸碰感測器(800)自下而上包含第一基本透明導體層(810)，其具有第一基板(812)及形成於第一基板上之第一複數個網路連接之銀奈米結構(814)。第一基本透明導體層(810)可為ClearOhm^®膜。經由OCA層(820)，其黏結至第二基本透明導體(830)，該第二基本透明導體(830)具有第二擋UV基板(832)及形成於第二擋UV基板上之第二複數個網路連接之銀奈米結構(834)。第二複數個網路連接銀之奈米結構(834)與OCA層(820)接觸。第二擋UV基板(832)可為接收入射光及觸碰輸入之塑膠防護透鏡。可將視情況選用之裝飾框架(840)併入於防護透鏡(832)之下。

圖13展示呈OFS組態之觸碰感測器，其使用單膜解決方案的方式來製造兩個直接彼此黏結而不具有中間OCA層之基本透明導體。觸碰感測器(900)自下而上包含第一基本透明導體層(910)，其具有第一基板(912)及形成於第一基板上之第一複數個網路連接之銀奈米結構(914)。第一基本透明導體層(910)可為ClearOhm^®膜。其直接黏結至第二基本透明導體(920)，該第二基本透明導體(920)具有第二基板(922)及形成於第二基板上之第二複數個奈米結構(924)。第二基板(922)充當OCA層來直接黏結至第一複數個奈米結構(914)。適合的材料包括由Hitachi市售之TCTF(透明導電轉印膜)，其中第二基板由透明的、可光固化的轉印膜組成，其藉由層壓製程應用於第一基本透明導體。經由擋UV之OCA層(930)，第二基本透明導體(920)進一步黏結至諸如防護玻璃罩之第三基板(932)。可將視情況選用之裝飾框架(940)併入於防護透鏡(932)之下。

下文更詳細地進一步論述本發明之某些其他特徵。

銀奈米結構

如本文中所使用，「銀奈米結構(silver nanostructures)」大體上指導電奈米大小結構，其至少一個尺寸(亦即寬度或直徑)小於500nm；更典型小於100nm或50nm。在各種實施例中，奈米結構之寬度或直徑介於10nm至40nm、20nm至40nm、5nm至20nm、10nm至30nm、40nm至60nm或50nm至70nm範圍內。

奈米結構可具有任何形狀或幾何形狀。一個界定給定奈米結構之幾何形狀的方式為藉助於其「縱橫比」，縱橫比係指奈米結構之長度與寬度(或直徑)之比。在某些實施例中，奈米結構為各向同性形狀(亦即，縱橫比=1)。典型各向同性或實質上各向同性奈米結構包括奈米粒子。在較佳實施例中，奈米結構為各向異性形狀(亦即，縱橫比≠1)。各向異性奈米結構通常具有沿其長度之縱向軸線。例示性各向 異性奈米結構包括奈米線(具有至少10及更典型至少50之縱橫比的實心奈米結構)、奈米棒(具有小於10之縱橫比的實心奈米結構)及奈米管(空心奈米結構)。

在縱向上，各向異性奈米結構(例如奈米線)之長度大於500nm或大於1μm或大於10μm。在各種實施例中，奈米結構之長度介於5μm至30μm範圍內，或介於15μm至50μm、25μm至75μm、30μm至60μm、40μm至80μm或50μm至100μm範圍內。

典型地，銀奈米結構具有介於10至100,000範圍內之縱橫比。為了獲得透明導體層，更大縱橫比可為有利的，因為其可使得能夠形成更有效的導電網路，同時允許導線整體密度更低以得到高透明度。換言之，當使用具有高縱橫比之導電奈米線時，達成導電網路之奈米線的密度可足夠低，從而使得導電網路實質上為透明的。

可藉由此項技術中已知之方法來製備銀奈米線。具體而言，可在多元醇(例如乙二醇)及聚(乙烯基吡咯啶酮)存在下經由銀鹽(例如硝酸銀)之溶液相還原來合成銀奈米線。在大規模生產中，均勻大小之銀奈米線可根據描述於皆以本發明之受讓人Cambrios Technologies公司之名義的美國公開申請案第2008/0210052號、第2011/0024159號、第2011/0045272號及第2011/0048170號中之方法來製備且純化。

奈米結構層

奈米結構層為網路連接之金屬奈米結構(例如銀奈米線)之導電網路，該等金屬奈米結構提供透明導體之導電介質。因為導電性係藉由電荷自一個金屬奈米結構展透至另一個金屬奈米結構來達成，所以在導電網路中必須存在充足的金屬奈米線，以達到電展透臨限值且變為導電性。導電網路之表面導電率與其表面電阻率成反比，表面電阻率有時稱作薄層電阻，其可藉由此項技術中已知之方法來量測。如本文中所使用，「導電(electrically conductive)」或簡言之「導電 (conductive)」係對應於不超過10⁴Ω/□，或更典型地不超過1,000Ω/□，或更典型地不超過500Ω/□，或更典型地不超過200Ω/□之表面電阻率。表面電阻率視以下因素而定：諸如網路連接之金屬奈米結構之縱橫比、對準程度、聚結程度及電阻率。

在某些實施例中，金屬奈米結構可在無黏合劑之情況下在基板上形成導電網路。在其他實施例中，可存在黏合劑，其促進黏著奈米結構與基板。適合的黏合劑包括光學清透聚合物，其包括(但不限於)：聚丙烯酸類物質，諸如聚甲基丙烯酸酯(例如聚(甲基丙烯酸甲酯))、聚丙烯酸酯及聚丙烯腈；聚乙烯醇；聚酯(例如聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、聚萘二甲酸酯及聚碳酸酯)；具有高度芳香性之聚合物，諸如酚系樹脂或甲酚-甲醛樹脂(Novolacs^®)、聚苯乙烯、聚乙烯甲苯、聚乙烯二甲苯、聚醯亞胺、聚醯胺、聚醯胺醯亞胺、聚醚醯亞胺、聚硫化物、聚碸、聚苯及聚苯醚；聚胺基甲酸酯(PU)；環氧樹脂；聚烯烴(例如聚丙烯、聚甲基戊烯及環烯)；丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物(ABS)；纖維素；聚矽氧及其他含矽聚合物(例如聚倍半矽氧烷及聚矽烷)，聚氯乙烯(PVC)；聚乙酸酯；聚降冰片烯；合成橡膠(例如EPR、SBR、EPDM)；及氟聚合物(例如聚偏二氟乙烯、聚四氟乙烯(TFE)或聚六氟丙烯)；氟烯烴及烯烴之共聚物(例如Lumiflon^®)；以及非晶形氟碳化物聚合物或共聚物(例如由Asahi Glass公司市售之CYTOP^®，或由Du Pont市售之Teflon^® AF)。

「基板」係指其上塗佈或層壓有金屬奈米結構之非導電材料。基板可為剛性的或可撓性的。基板可為清透或不透明的。適合的剛性基板包括例如玻璃、聚碳酸酯、丙烯酸類物質及其類似物。適合的可撓性基板包括(但不限於)：聚酯(例如聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、聚萘二甲酸酯及聚碳酸酯)、聚烯烴(例如直鏈、分支鏈及環狀聚烯烴)、聚乙烯(例如聚氯乙烯、聚偏二氯乙烯、聚乙烯縮醛、聚苯乙烯、聚丙 烯酸酯及其類似物)、纖維素酯基質(例如三乙酸纖維素、乙酸纖維素)、聚碸(諸如聚醚碸)、聚醯亞胺、聚矽氧及其他習知聚合膜。適合基板之其他實例可見於例如美國專利第6,975,067號中。

奈米結構層形成於基板上之後，產生基本透明導體。可將其進一步與其他功能層/膜整合以形成光學堆疊。

典型地，可藉由包括光透射率及混濁度之參數來定量地界定透明導體(亦即，非導電基板上之導電網路)的光學透明度或清晰度。 「光透射率(light transmission)」(或「光透射率(light transmissivity)」)係指經透射穿過介質之入射光的百分比。在各種實施例中，導電層之光透射率至少為80%且可高達98%。諸如黏著層、抗反射層或抗眩光層之效能增強層可進一步有助於降低透明導體之總光透射率。在各種實施例中，透明導體之光透射率(T%)可為至少50%、至少60%、至少70%或至少80%，且可高達至少91%至92%、或至少95%。

混濁度(H%)為光散射之度量。其係指在透射期間自入射光分離且散射之光的量之百分比。不同於主要為介質性質之光透射率，濁度常常為生產所關注之問題且通常由表面粗糙度及介質中所嵌入之粒子或組成異質性而引起。典型地，導電膜之混濁度可受到奈米結構之直徑的顯著影響。直徑更大之奈米結構(例如，更粗之奈米線)通常與更高之混濁度相關聯。在各種實施例中，透明導體之混濁度不超過10%、不超過8%或不超過5%，且可低至不超過2%、不超過1%或不超過0.5%，或不超過0.25%。

塗料組合物

藉由將含有奈米結構之塗料組合物塗佈於非導電基板上來製備根據本發明之圖案化透明導體。為了形成塗料組合物，典型地將金屬奈米線分散在揮發性液體中以促進塗佈製程。應理解，如本文中所使 用，可使用金屬奈米線可在其中形成穩定分散液的任何非腐蝕性之揮發性液體。較佳地，金屬奈米線係分散於水、醇、酮、醚、烴或芳族溶劑(苯、甲苯、二甲苯等)中。更佳地，液體為揮發性的，其具有不超過200℃、不超過150℃或不超過100℃之沸點。

另外，金屬奈米線分散液可含有添加劑及黏合劑以控制黏度、腐蝕、黏著力及奈米線分散。適合的添加劑及黏合劑之實例包括(但不限於)羧甲基纖維素(CMC)、2-羥乙基纖維素(HEC)、羥丙基甲基纖維素(HPMC)、甲基纖維素(MC)、聚乙烯醇(PVA)、三丙二醇(TPG)及三仙膠(XG)及界面活性劑(諸如乙氧基化物、烷氧基化物、環氧乙烷及環氧丙烷及其共聚物、磺酸鹽、硫酸鹽、二磺酸鹽、磺基丁二酸鹽、磷酸酯及含氟界面活性劑(例如DuPont之Zonyl^®))。

在一實例中，奈米線分散液或「墨水(ink)」包括以重量計0.0025%至0.1%之界面活性劑(例如，對於Zonyl^® FSO-100而言，較佳範圍為0.0025%至0.05%)，0.02%至4%之黏度調節劑(例如，對於HPMC而言，較佳範圍為0.02%至0.5%)，94.5%至99.0%之溶劑及0.05%至1.4%之金屬奈米線。適合的界面活性劑之代表性實例包括Zonyl^® FSN、Zonyl^® FSO、Zonyl^® FSH、Triton(x100、x114、x45)、Dynol(604、607)、正十二烷基b-D-麥芽糖苷及Novek。適合的黏度調節劑之實例包括羥丙基甲基纖維素(HPMC)、甲基纖維素、三仙膠、聚乙烯醇、羧甲基纖維素及羥乙基纖維素。適合的溶劑之實例包括水及異丙醇。

分散液中之奈米線濃度可影響或判定諸如奈米線網路層之厚度、電導率(包括表面電導率)、光學透明度及機械性質之參數。可調整溶劑之百分比以提供所要之奈米線於分散液中之濃度。然而，在較佳實施例中，其他成份之相對比可保持相同。具體而言，界面活性劑與黏度調節劑之比較佳介於約80至約0.01範圍內；黏度調節劑與金屬 奈米線之比較佳介於約5至約0.000625範圍內；且金屬奈米線與界面活性劑之比較佳介於約560至約5範圍內。可取決於所用之基板及塗覆之方法而修改分散液組分之比。奈米線分散液之較佳黏度範圍介於約1cP與100cP之間。

在塗佈之後，藉由蒸發來移除揮發性液體。蒸發可藉由加熱(例如烘烤)來加速。所得奈米線網路層可能需要後處理以使其具導電性。此後處理可為涉及如下所述的曝露於熱、電漿、電暈放電、UV-臭氧或壓力之製程步驟。

適合的塗料組合物之實例描述於皆以本發明之受讓人Cambrios Technologies公司之名義的美國公開申請案第2007/0074316號、第2009/0283304號、第2009/0223703號、及第2012/0104374號中。

藉由例如薄片塗佈、捲繞塗佈(web-coating)、印刷及層壓來將塗料組合物塗佈於基板上，以提供透明導體。用於自導電奈米結構製造透明導體之其他資訊揭示於例如以Cambrios Technologies公司之名義的美國公開申請案第2008/0143906號及第2007/0074316號中。

藉由以下非限制性實例更詳細地說明透明導體結構、其電學及光學性質及圖案化之方法。

實例 實例1

銀奈米線之合成

藉由以下方法合成銀奈米線：遵循描述於例如Y.Sun、B.Gates、B.Mayers及Y.Xia，「Crystalline silver nanowires by soft solution processing」,Nanoletters,(2002),2(2)165-168中之「多元醇(polyol)」方法，在聚(乙烯吡咯啶酮)(PVP)存在下，還原溶解於乙二醇中之硝酸銀。與習知「多元醇」方法生產相比，描述於以Cambrios Technologies公司之名義的美國公開申請案第2008/0210052號及第 2011/0174190號中的經修改之多元醇方法以更高的產率生產更均勻的銀奈米線。此等申請案以全文引用的方式併入本文中。

實例2

標準膜製造工序

製備包含銀奈米線、以纖維素為基礎之黏合劑及界面活性劑(例如，諸如ZONYL^® FSA之氟界面活性劑)之墨水組合物。將墨水槽模卷軸式塗佈於PET膜(例如MELINEX-454或TORAY U483)上且允許其乾燥以形成奈米線層。就某些實施例而言，隨後將聚合塗飾層塗覆於奈米線層上。

卷軸式製程可適應多種基板及膜尺寸。合適的卷軸式沈積製程可包括(但不限於)槽模、凹版、反向凹版、微凹版、反向卷軸及梅爾棒。卷軸式製程之更詳細的描述可見於以本申請案之受讓人Cambrios Technologies公司之名義的美國專利第8,049,333號及美國公開專利申請案第2013/0040106號中。此兩個專利文件皆以其全文引用的方式併入本文中。

實例3

具有及不具有擋UV層之膜的光穩定性

不具有擋UV層之樣本光學堆疊(1000)展示於圖14A中。首先根據實例2製造具有PET基板(1020)及銀奈米線之網路連接層(1030)之基本透明導電膜(1010)。隨後將基本透明導電膜安裝於一片Eagle XG玻璃(1040)上，且圍繞邊緣用膠帶(1050)固定。奈米線(1030)面向玻璃(1040)且鬆散地與其接觸，但是並未用任何黏著劑黏結至該玻璃(1040)。示意性地展示了氣隙(1044)以說明此組態。

另一具有擋UV層之樣本光學堆疊(1060)展示於圖14B中，且可藉由將擋UV膜(1070)層壓於與奈米線相反的玻璃表面上而自圖14A之光學堆疊(1000)製成。

圖14C展示裸露的Eagle XG玻璃與層壓有擋UV膜之玻璃相比之透射譜。如所示，當玻璃允許多達90%UV光(370nm以下)透射穿過時，具有擋UV層之玻璃幾乎阻擋所有370nm以下的光(幾乎零透射)。

用Delcom 717非接觸式電阻計來量測各膜之薄層電阻。平均薄層電阻為約130歐姆/平方。

將樣本置放於具有Atlas「日光(daylight)」濾光器之Atlas XXL+氙燈老化試驗儀中。將其定向從而使玻璃處於膜與光源之間。將光強度設定成在420nm下0.8W/m2*nm，且光譜及強度與直射陽光極其相符。將環境條件設定於：38℃室溫度，60℃黑色面板溫度，及50%相對濕度。

將樣本週期性地移除，且進行電氣量測。

圖14D展示兩個樣本(光學堆疊1000對比1060)之薄層電阻之時間演化。可見當入射光之紫外線部分受到阻擋時，薄層電阻的增加緩慢得多。

實例4

具有擋UV層之層壓膜的光穩定性

根據實例2製備基本透明導電膜。膜之平均薄層電阻為130歐姆/平方。將多片膜層壓至多片具有OCA層(3M 8146-2)之Eagle XG玻璃，同時奈米線層與OCA接觸且面向玻璃。將擋UV膜應用於某些樣本的相反玻璃表面。對於所有樣本，將黑色絕緣膠帶應用於玻璃的與奈米線層相反的表面，從而使得樣本之一半覆蓋有黑色膠帶。樣本組態與圖3中所示之實施例相同。

樣本尺寸為2"×3"。使用Delcom 717非接觸式薄層電阻計於以下 三個位置進行薄層電阻量測：在暗區及亮區之中心處及在亮/暗界面處(亦即「邊緣」，但是此並非樣本之實體邊緣)。Delcom使用渦電流量測薄層電阻，且感測半徑大約為1cm。

在相同測試條件下，將樣本玻璃面向上地置放於實例3中所描述之氙燈室中。在不同的時間下移除樣本且重複進行電氣量測。資料展示於圖15中。就不具有擋UV層之樣本而言，在邊緣位置，薄層電阻信號在75小時與150小時之間的某時間內就急劇增加，而在暗區及亮區中，薄層電阻並未增加。

就具有擋UV膜之樣本而言，直至曝光大約300小時，才觀測到薄層電阻之明顯變化。超過300小時後，薄層電阻在照亮區域中(而非特定在亮暗界面處)均勻地增加。因此，阻擋光譜之UV部分使得樣本壽命增加以及失效模式變化。

因此，展示了阻擋光之UV部分的淨效應係使在樣本之任何部分中出現明顯的電阻增加之前的曝光持續時間增加。

實例5

在強度降低之模擬陽光下具有擋UV層之膜的光穩定性

製備實質上與描述於實例2中彼等者相同之基本透明導電膜之樣本。將樣本玻璃面面向上地置放於具有凸起邊緣之金屬烤盤中。隨後將盤用三層金屬絲網篩覆蓋，金屬絲網篩每吋具有60、100網目數及325個金屬絲。篩之三個層的組合透射率大約為5%，且實質上與如用分光光度計所量測之300nm以上的波長無關。將篩夾固於烤盤邊緣以防止雜散光進入。

在與實例3及實例4中相同的條件下將盤置放於氙燈室中，且將樣本週期性地移除以獲得電氣特性。儘管氙燈室中之光源與實例3及實例4相同，但金屬絲網降低了入射於樣本上之光強度。

結果顯示於圖16中。對照樣本(無擋UV層)之薄層電阻不斷地增 加，且在約200小時內增加了100%。與實例2之結果(展示「邊緣失效」)相比，邊緣處之電阻增加滯後於照亮區域中的較強增加。出人意料的是，即使已將光強度降低至1/20，但是失效之時間標度並無明顯不同。咸信此係由於在全強度氙燈曝露中光氧化反應主要由氧擴散而非光強度限制。

相比而言，具有擋UV層之樣本在至少1300小時內為穩定的。

實例6

經由窗曝露於間接光之膜的光穩定性

製備具有與前述實例類似結構之樣本，且將其置放於辦公樓之兩個不同的面向北之窗旁。將窗著上類似程度的灰色，並且使其UV透射率不同。在上午11點，彼此相隔幾分鐘地使用Atlas LS200已校準分光輻射計在兩個窗處獲得輻照度譜，且其展示於圖17A中。亦展示藉由將分光輻射計對準藍天(無直射陽光，僅漫射陽光)及直接對準太陽而得到之輻照度譜，以供參考。二者皆於晴天之相同時間在戶外獲得。可見2號窗與1號窗相比少透射約9/10的UV光。

在兩個窗旁之樣本(不具有內部擋UV層)之電阻資料展示於圖17B中。在具有較低UV透射率之窗後的樣本更穩定的多，再次證實阻擋UV之效益。

實例7

將擋UV層併入光學堆疊

可將擋UV層直接併入觸碰感測器結構之光學膜堆疊中，而不需要將擋UV塗層或膜塗覆至玻璃防護透鏡。製備具有圖18A及圖18B中所示之結構的樣本。

圖18A說明光學堆疊(1100)之構造。更特定而言，展示了基本透明導電膜(1110)經由擋UV之OCA層(1120)而黏結至玻璃防護罩(1130)。基本透明導電膜(1110)包括基板(1112)及複數個網路連接之銀 奈米線(1114)。基板(1112)可為PET膜。擋UV之OCA層為3M 8172PCL且與銀奈米線(1114)直接接觸。在圖18A中，展示遮光罩(1140)處於光學堆疊(1100)之周邊以模型化暗/亮界面。

在某些擋UV之OCA層中之化學物質與銀奈米線相互作用或以其他方式與銀奈米線不相容的情況下，較佳的是擋UV之OCA層及銀奈米線不會彼此直接接觸。因此，在替代組態中，將介入層併入於擋UV層與銀奈米線之間。圖18B展示介入層可為基本透明導電膜(例如ClearOhm膜)之基板。

更特定而言，在圖18B中，光學堆疊(1200)係藉由以下步驟建構：經由第一OCA層(1220)將第一基板(1210)黏結至基本透明導電膜(1110)，該基本透明導電膜(1110)包括第二基板(1112)及複數個網路連接之銀奈米線(1114)。第一OCA層(1220)不需要阻擋UV光，而是被選擇為與銀奈米線(1114)在化學上相容，使得與銀奈米線直接接觸不會使其不穩定。第一OCA層之實例為3M 8146。或者，第一OCA層可為光學清透樹脂(OCR)層，其包括此項技術中已知用於直接黏結觸碰感測器與顯示器之任何OCR層。第一基板(1210)及第二基板(1112)可為PET膜。在替代實施例中，第一基板亦可包含顯示器。

隨後經由擋UV之OCA層(1120)將基本透明導電膜(1110)黏結至玻璃防護罩(1130)。不同於圖18A，圖18B展示基本透明導電膜(1110)藉由其基板(1120)與擋UV之OCA層(1120)接觸，因此避免銀奈米線(1114)與擋UV之OCA層之間的直接接觸。擋UV層之實例為3M 8172PCL。在圖18B中，展示遮光罩(1140)處於光學堆疊(1200)之周邊以模型化暗/亮界面。

在此兩個組態中，皆使用擋UV之OCA層(1120)，其充當黏結及阻擋入射於光學堆疊上之光譜之UV區的雙重功能。此等組態除去了任何分別塗覆擋UV塗層之需要。然而，亦設想了例如玻璃防護罩上 之額外擋UV塗層。

以與實例3相同之方式測試光學堆疊之光穩定性。在此實例中，僅在曝光及亮/暗界面位置收集薄層電阻資料。圖18C展示光學堆疊(1100)及光學堆疊(1200)之薄層電阻的變化。光學堆疊(1100)展示不佳的光穩定性，此最可能歸因於由銀奈米線與擋UV之OCA層之間的不相容誘發之銀奈米線的失穩或退化。

另一方面，光學堆疊(1200)展示在超過500小時的曝光時段中具有光穩定性。此結果指示：藉由避免不相容的擋UV之OCA與銀奈米線之間直接接觸，擋UV之OCA層能夠藉由阻擋UV光來穩定光學堆疊之效能。

本說明書所參考及/或列於申請資料表(Application Data Sheet)中的所有以上美國專利、美國專利申請公開案、美國專利申請案、外國專利、外國專利申請案及非專利出版物皆以全文引用的方式併入本文中。

自前述內容應瞭解，雖然在本文中出於說明之目的已描述本發明之特定實施例，但是在不脫離本發明之精神及範疇的情況下可進行各種修改。

Claims (19)

1. 一種觸碰感測器，其包含：一第一基本透明導體，其具有一第一基板及第一複數個網路連接之銀奈米結構；一OCA層；一第二基本透明導體，其具有一第二基板及第二複數個網路連接之銀奈米結構；及一第三基板，其中該第三基板具有接收入射光及觸碰輸入之一表面，該第二基本透明導體與該第一基本透明導體相比更接近該入射光，及其中該第二基板、該第三基板或該OCA層中之至少一者為一擋UV層。
2. 如請求項1之觸碰感測器，其中該OCA層為擋UV的且位於該第二基本透明導體與該第三基板之間。
3. 如請求項2之觸碰感測器，其中該第二基本透明導體藉由該第二複數個網路連接之銀奈米結構與該擋UV之OCA層接觸。
4. 如請求項2之觸碰感測器，其中該第二基本透明導體藉由該第二基板與該擋UV之OCA層接觸。
5. 如請求項3或4之觸碰感測器，其中該第一基本透明導體藉由一第二OCA層與該第二基本透明導體黏結。
6. 如請求項3或4之觸碰感測器，其中該第一基本透明導體直接黏結至該第二基本透明導體。
7. 如請求項1之觸碰感測器，其中該第三基板為擋UV的。
8. 如請求項1之觸碰感測器，其中該第二基本透明導體之該第二基板為擋UV的，且該第二基板與該第二複數個網路連接之銀奈米結構相比更接近該入射光。
9. 一種觸控螢幕，其包含：一第一基本透明導體，其具有一第一基板及形成於該第一基板上之第一複數個網路連接之銀奈米結構；一OCA層；及一第二基本透明導體，其具有一第二基板及形成於該第二基板上之一連續導電膜；其中該第二基板具有接收入射光及觸碰輸入之一表面，該第二基本透明導體與該第一基本透明導體相比更接近該入射光，及其中該第二基板或該OCA層中之至少一者為一擋UV層。
10. 如請求項9之觸控螢幕，其中該第二基板為一擋UV層且該連續導電膜與該OCA層接觸。
11. 如請求項9之觸控螢幕，其中該OCA層為一擋UV層且與該第一複數個銀奈米結構及該連續導電膜接觸。
12. 如請求項11之觸控螢幕，其中該第二基板為一防護玻璃罩。
13. 一種光學堆疊，其包含：一基本透明導體，其具有一第一基板及複數個網路連接之銀奈米結構；及一擋UV層，其上覆於該複數個網路連接之銀奈米結構。
14. 如請求項13之光學堆疊，其進一步包含一第二基板，其中該擋UV層為位於該第二基板與該基本透明導體之間的一OCA層。
15. 如請求項13之光學堆疊，其進一步包含一OCA層，其中該擋UV層為藉由該OCA層黏結至該基本透明導體之一第二基板。
16. 如請求項13之光學堆疊，其中該第一基板為該擋UV層。
17. 如請求項13之光學堆疊，其更包含：一第二基板，其上覆於該基本透明導體上，其中該第二基板塗佈有一擋UV之塗層，該第二基板為該擋UV層。
18. 如請求項17之光學堆疊，其中該第二基板為一防護玻璃罩。
19. 如請求項17之光學堆疊，其中該第二基板與該複數個網路連接之銀奈米結構接觸。