TWI433104B - 雙閘線單元面板之測試線路及雙閘線單元面板之色彩顯示方法 - Google Patents

雙閘線單元面板之測試線路及雙閘線單元面板之色彩顯示方法 Download PDF

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Description

雙閘線單元面板之測試線路及雙閘線單元面板之色 彩顯示方法
本發明是有關於一種液晶面板之測試結構及顯示方法，特別是有關於一種雙閘線單元面板之測試線路及雙閘線單元面板之色彩顯示方法。
請參考第1圖，第1圖係為雙閘線單元面板之傳統短路棒測試架構之示意圖。第1圖所示之雙閘線單元面板1係含有像素P、電晶體開關Tn、電極E、掃描線gn、資料線Dn、金屬線101及102以及測試墊121及122。其中，像素P係以矩陣排列之方式分布在雙閘線單元面板1上，且一個像素P包含三個子像素即紅色子像素R、綠色子像素G及藍色子像素B。子像素之電晶體開關Tn之閘極、源極及汲極係分別耦接掃描線gn、資料線Dn及子像素之電極E，且每一個子像素係藉由一條掃描線gn及一條資料線Dn來控制其顏色之明暗程度。
在雙閘線單元面板1之傳統短路棒(Shorting bar)測試架構中，係將所有的掃描線gn透過金屬線101電性連接，而且所有的資料線Dn係透過金屬線102電性連接。測試訊號包含掃描訊號源111及影像訊號源112，且掃描訊號源111及影像訊號源112係分別透過連接金屬線101之測試墊121及連接金屬線102之測試墊122輸入到雙閘線單元面板1之複數條掃描線gn及複數條資料線Dn，以進行雙閘線單元面 板1之顯示測試。
當掃描訊號源111使電晶體開關Tn開啟時，影像訊號源112會影響相關裝置的運作，進而使雙閘線單元面板1顯示所需之色彩或圖案。由於雙閘線單元面板1之色彩顯示原理係為一般知識者所知，並不在此贅述。但簡單來說，當子像素之電晶體開關Tn開啟時，若影像訊號112之電壓愈接近參考電壓(V-common)，則該子像素之顏色就會愈亮；若影像訊號112之電壓與參考電壓之差值達到一設定值，則該子像素之顏色就不會顯示出來。其中，參考電壓係例如5伏特，且若影像訊號112之電壓為4.9伏特或5.1伏特時，則該子像素的顏色會顯示出來且很亮；若影像訊號112之電壓為10伏特或0伏特時，則該子像素的顏色就不會顯示出來。
由於雙閘線單元面板1利用短路棒測試架構來進行顯示測試時，係將所有的資料線Dn及所有的掃描線gn分別電性連接在一起，然後再分別輸入影像訊號源112及掃描訊號源111。如此，是沒有辦法單獨顯示出紅色、綠色及藍色。由於測試時無法單獨顯示出紅色、綠色及藍色，致使有些缺陷沒辦法被檢視出來。所以，沒被檢測出之帶有缺陷之雙閘線單元面板1就會進行後續製程，直到更精密之成品測試時，此些帶有缺陷之雙閘線單元面板1就會被檢測出來，然後將其丟棄或回收。如此，等同於浪費了對有缺陷之雙閘線單元面板1在顯示測試後所下之製程成本。
有鑑於上述習知技藝之問題，所以吾人發明之一種雙閘線單元面板之測試線路及雙閘線單元面板之色彩顯示方法。此雙閘線單元面板之測試線路能在顯示測試時讓雙閘線單元面板顯示出單獨之紅、綠及藍色。透過雙閘線單元面板之單色顯示就可檢測出較多缺陷，被檢測出有缺陷的雙閘線單元面板即可丟棄或回收，如此可避免浪費後續製程成本於有缺陷之雙閘線單元面板上。
為達到上述目的，本發明之一種雙閘線單元面板之測試線路係將雙閘線單元面板之所有資料線分成三組即第一組資料線、第二組資料線及第三組資料線，且係例如依序以第一組資料線、第二組資料線及第三組資料線之排列方式橫向循環排列。再將所有的第一組資料線、第二組資料線及第三組資料線所有的資料線分別電性連接第一測試墊、第二測試墊及第三測試墊，其中第一組資料線係耦接複數個第一子像素及複數個第二子像素，第二組資料線係耦接複數個第三子像素及複數個第四子像素，第三組資料線係耦接複數個第五子像素及複數個第六子像素。
其中，各該子像素係包含一電晶體開關電性連接一掃瞄線及一資料線，當該第一組掃描線被通入一開啟訊號時，該第一組掃描線相對應之電晶體開關係被開啟，該第二組掃描線則被通入一關閉訊號，若該第一組資料線被通入一顯示訊號，則該些第一子像素顯示出該第一顏色。
本發明另外提供一種雙閘線單元面板之色彩顯示方法，其係應用於一雙閘線單元面板之顯示測試上，此雙 閘線單元面板之色彩顯示方法包括：提供一第一週期性訊號給複數條第一組掃描線以開啟或關閉各該第一組掃描線耦接之複數個電晶體開關；提供一第二週期性訊號給複數條第二組掃描線以對應該第一週期性訊號而關閉或開啟各該第二掃描線耦接之複數個電晶體開關；以及提供一第三週期性訊號給複數條第一組資料線，當各該第一掃描線或各該第二掃描線耦接之該些電晶體開關開啟時，該第三週期性訊號係使各該第一組資料線耦接之複數個第一子像素顯示出一第一顏色或複數個第二子像素顯示出一第二顏色。以像素排列而成的像素矩陣中，以子像素排列的方式來看，每一列之奇數行之子像素之電晶體開關之閘極係耦接到同一條掃描線，並稱此些掃描線為第一組掃描線；每一列之偶數行之子像素之電晶體開關之閘極係耦接到同一條掃描線，並稱此些掃描線為第二組掃描線。並且將所有的第一組掃描線及所有的第二組掃描線分別電性連接第四測試墊及第五測試墊。
在雙閘線單元面板之顯示測試時，只要分別輸入適當之訊號予第一測試墊、第二測試墊、第三測試墊、第四測試墊及第五測試墊，就可以讓雙閘線單元面板單獨顯示紅色、綠色、藍色。如此，在顯示測試時，有缺陷之雙閘線單元面板就容易被檢測出，進而及時將其丟棄或回收，就可省下後續對有缺陷雙閘線單元面板所加工之成本。
以下將參照相關圖式，說明依本發明之雙閘線單元面板之測試線路及雙閘線單元面板之色彩顯示方法之實施例及應用，為使便於理解，下述實施例中之相同元件係以相同之符號標示來說明。
請參考第2圖，第2圖係為本發明之雙閘線單元面板之測試線路之實施例之結構示意圖。其中，第2圖所示之雙閘線單元面板1與第1圖所示之雙閘線單元面板1在結構上大致相同，不同之處在於第2圖所繪示之複數條資料線Dn與複數條掃描線gn係被分組，並且將相同組別之複數條資料線Dn或複數條掃描線gn連接到同一金屬線，並且將金屬線連到一測試墊。詳言之，第2圖所示之資料線Dn係例如被分成第一組資料線D1、第二組資料線D2及第三組資料線D3，且係例如依序以第一組資料線D1、第二組資料線D2及第三組資料線D3橫向循環排列。而所有的第一組資料線D1、所有的第二組資料線D2及所有的第三組資料線D3分別電性連接到第一金屬線301、第二金屬線302及第三金屬線303，且第一金屬線301、第二金屬線302及第三金屬線303係分別電性連接第一測試墊321、第二測試墊322及第三測試墊323。
在像素P排列而成的像素P矩陣中，以子像素排列的方式來看，每一列之奇數行之子像素之電晶體開關T1、T3及T5之閘極係耦接到第一組掃描線g1；每一列之偶數行之子像素之電晶體開關T2、T4及T6之閘極係耦接到第二組掃描線g2。並且將所有第一組掃描線g1 及所有的第二組掃描線g2分別電性連接第四金屬線304及第五金屬線305，且第四金屬線304及第五金屬305線係分別連接第四測試墊324及第五測試墊325。
為了方便說明，吾人亦將子像素做歸類，且以“行”為單位。其中，第一組資料線D1控制紅色子像素R1及綠色子像素G1之顯示，且第二組資料線D2控制藍色子像素B1及紅色子像素R2之顯示，而第三組資料線D3控制綠色子像素G2及藍色子像素B2之顯示。此外，第一組掃描線g1亦控制紅色子像素R1、藍色子像素B1及綠色子像素G2之顯示，而第二組掃描線g2亦控制綠色子像素G1、紅色子像素R2及藍色子像素B2之顯示。在顯示時，紅色子像素R1與紅色子像素R2皆顯示出紅色、綠色子像素G1與綠色子像素G2皆顯示出綠色、藍色子像素B1與藍色子像素B2皆顯示出藍色。
在雙閘線單元面板1之顯示測試時，分別將第一週期性訊號源311’之第一週期性訊號311、第二週期性訊號源312’之第二週期性訊號312、第三週期性訊號源313’之第三週期性訊號313、第四週期性訊號源314’之第四週期性訊號314及第五週期性訊號源315’之第五週期性訊號315通入到第四測試墊324、第五測試墊325、第一測試墊321、第二測試墊322及第三測試墊323，就可以讓雙閘線單元面板1單獨顯示紅色子像素R1及R2之紅色、綠色子像素G1及G2之綠色或藍色子像素B1及B2之藍色。如此，在顯示測試時有缺陷之雙閘線單元面板1就容易被檢測 出，進而及時將其丟棄或回收，就可省下後續對有缺陷之雙閘線單元面板1所加工之成本。
由於第2圖所示之雙閘線單元面板1在顯示測試時，藉由提供適當之訊號予雙閘線單元面板1，以使雙閘線單元面板1顯示出色彩，進而達成測試目的，所以本發明更提出一種雙閘線單元面板之色彩顯示方法。請參考第3、4及5圖，並請同時參考第2圖。其中，第3圖係為使第2圖所示之實施例單獨顯示紅色子像素之訊號波形圖、第4圖係為使第2圖所示之實施例單獨顯示綠色子像素之訊號波形圖且第5圖係為使第2圖所示之實施例單獨顯示藍色子像素之訊號波形圖。其中，橫向代表時間變化，而縱向代表電壓變化。
此雙閘線單元面板之色彩顯示方法係將第一週期性訊號311、第二週期性訊號312、第三週期性訊號313、第四週期性訊號314及第五週期性訊號315分別輸入第2圖所示之第四測試墊324、第五測試墊325、第一測試墊321、第二測試墊322及第三測試墊323。其中，第一週期性訊號311~第五週期性訊號315係例如具有相同週期t之週期性訊號。其中，第三週期性訊號313、第四週期性訊號314及第五週期性訊號315之前半週期t1之電壓分別為第一電壓V1、第三電壓V3及第五電壓V5，而其後半週期t2之電壓分別為第二電壓V2、第四電壓V4及第六電壓V6。此外，第一週期性訊號311及第二週期性訊號312係為具有一週期性凸波700之週期性訊號，且凸波700之電壓係使與第一組掃描線g1及第二組掃描線g2相接之電晶體開關T1~T6開啟。其中，第一週期性訊號311的凸波700只出現於前半週 期t1之中後段，而第二週期性訊號312的凸波700只出現於後半週期t2之中後段。而第一週期性訊號311及第二週期性訊號312在無凸波700出現的時候，即表示電晶體開關T1~T6關閉。換言之，當掃描線被通入一開啟訊號時，第一組掃描線相對應之電晶體開關係被開啟。該第二組掃描線則被通入一關閉訊號。
承上。由於雙閘線單元面板1之顯色機制並不為本發明之重點，所以在此僅簡略敘述雙閘線單元面板1之顯色機制。當子像素之電晶體開關T1~T6關閉時，該子像素是不顯示顏色的。當子像素之電晶體開關T1~T6開啟時，若電晶體開關T1~T6之源極電壓愈接近參考電壓Vcom則該子像素之顏色愈亮。其中，電晶體開關T1~T6之源極電壓係來自第三週期性訊號313、第四週期性訊號314或第五週期性訊號315。舉例來說，參考電壓Vcom係例如5伏特，當源極電壓為5.1伏特或4.9伏特時，子像素所顯示之顏色最亮；當源極電壓愈大於5.1伏特或愈小於4.9伏特時，子像素所顯示之顏色愈暗；當源極電壓為於10伏特或0伏特時，是看不到該子像素之顏色的。換言之，若第一組資料線被通入顯示訊號，則第一子像素顯示出第一顏色。
以下將說明使第2圖所示之實施例單獨顯示紅色子像素R1及R2、綠色子像素G1及G2或藍色子像素B1及B2之顏色之步驟：
(1)請參考第2及3圖。為使雙閘線單元面板1可單獨顯示紅色子像素R1及R2之紅色，以下之(a)(b)步驟係分別 討論第一週期性訊號311~第五週期性訊號315於前半週期t1與後半週期t2之情形。
(a)於前半週期t1時，第四週期性訊號314之第三電壓V3及第五週期性訊號315之第五電壓V5為係例如為10伏特，且第二週期性訊號312無凸波700出現。而此時，第三週期性訊號313之第一電壓V1係例如為5.1伏特，以及第一週期性訊號311的凸波700出現於前半週期t1之中後期。如此，在前半週期t1之初始時，所有子像素是不亮的。待第一週期性訊號311之凸波700出現時，表示與第一組掃描線g1連接之電晶體開關T1、T3及T5才會開啟，且此時也只有受第一組資料線D1控制之紅色子像素R1之紅色會顯示出來。
(b)於後半週期t2時，第三週期性訊號313之第二電壓V2及第五週期性訊號315之第六電壓V6係例如為0伏特，且第一週期性訊號311無凸波700出現。而此時，第四週期性訊號314之第四電壓V4係例如為4.9伏特，以及第二週期性訊號312的凸波出現於後半週期t2之中後期。如此，在後半週期t2之初始時，所有子像素是不亮的。待第二週期性訊號312之凸波700出現時，表示與第二組掃描線g2連接之電晶體開關T2、T4及T6才會開啟，而此時也只有受第二組資料線D2控制之紅色子像素R2之紅色會顯示出來。
所以經由步驟(1)之(a)、(b)步驟會使雙閘線單元面板1於顯示測試時單獨顯示出紅色子像素R1及R2之紅色。
(2)請參考第2及4圖。為使雙閘線單元面板1可單獨顯示綠色子像素G1及G2之綠色，以下之(a)、(b)步驟係分別討論所有的週期性訊號於前半週期t1與後半週期t2之情形。
(a)於前半週期t1時，第三週期性訊號313之第一電壓V1及第四週期性訊號314之第三電壓V3係例如為10伏特，且第二週期性訊號312無凸波700出現。而此時，第五週期性訊號315之第五電壓V5係例如為5.1伏特，以及第一週期性訊號311之凸波700出現於前半週期t1之中後期。如此，在前半週期t1之初始時，所有子像素是不亮的。待第一週期性訊號311之凸波700出現時，表示與第一組掃描線g1連接之電晶體開關T1、T3及T5才會開啟，而此時也只有受第三組資料線D3控制之綠色子像素G2之綠色會顯示出來。
(b)於後半週期t2時，第四週期性訊號314之第四電壓V4及第五週期性訊號315之第六電壓V6為係例如為0伏特，且第一週期性訊號311無凸波700出現。而此時，第三週期性訊號313之第二電壓V2係例如為4.9伏特，以及第二週期性訊號312的凸波700出現於後半週期t2之中後期。如此，在後半週期t2之初始時，所有子像素是不亮的。待第二週期性訊號312之凸波700出現時，表示與第二組掃描線g2連接之電晶體開關T2、T4及T6才會開啟，而此時也只有與第一組資料線D1耦接之綠色子像素G1之綠色會顯示出來。
所以經由步驟(2)之(a)、(b)步驟會使雙閘線單元面板1於顯示測試時單獨顯示出綠色子像素G1及G2之綠色。
(3)請參考第2及5圖。為使雙閘線單元面板1可單獨顯示藍色子像素B1及B2之藍色，以下之(a)、(b)步驟係分別討論所有的週期性訊號於前半週期t1與後半週期t2之情形。
(a)於前半週期t1時，第三週期性訊號313之第一電壓V1及第五週期性訊號315之第五電壓V5為係例如為10伏特，且第二週期性訊號312無凸波700出現。而此時，第四週期性訊號314之第三電壓V3係例如為5.1伏特，以及第一週期性訊號311的凸波700出現於前半週期t1之中後期。如此，在前半週期t1之初始時，所有子像素是不亮的。待第一週期性訊號311之凸波700出現時，表示與第一組掃描線g1連接之電晶體開關T1、T3及T5才會開啟，而此時也只有與第二組資料線D2耦接之藍色子像素B1之藍色會顯示出來。
(b)於後半週期t2時，第三週期性訊號313之第二電壓V2及第四週期性訊號314之第四電壓V4為係例如為0伏特，且第一週期性訊號311無凸波700出現。而此時第五週期性訊號315之第六電壓V6係例如為4.9伏特，以及第二週期性訊號312之凸波700出現於後半週期t2之中後期。如此，在後半週期t2之初始時，所有子像素是不亮的。待第二週期性訊號312之凸波700出現時，表示與第二組掃描線g2連接之電晶體開關T2、T4及T6才會開啟，而此時也 只有與第三組資料線D3耦接之藍色子像素B2之藍色會顯示出來。
所以經由步驟(3)之(a)、(b)步驟會使雙閘線單元面板1於顯示測試時單獨顯示出藍色子像素B1及B2之藍色。
綜合以上所述，本發明之雙閘線單元面板之測試線路及雙閘線單元面板之色彩顯示方法可使雙閘線單元面板於顯示測試時單獨顯示出紅色、綠色或藍色。透過雙閘線單元面板之單色顯示，就能更精確且及時檢測出有缺陷之線雙閘線單元面板。被檢測出有缺陷的雙閘線單元面板即可丟棄或回收，如此可避免浪費後續製程成本於有缺陷之雙閘線單元面板上。
P‧‧‧像素
Tn‧‧‧電晶體開關
T1‧‧‧第一電晶體開關
T2‧‧‧第二電晶體開關
T3‧‧‧第三電晶體開關
T4‧‧‧第四電晶體開關
T5‧‧‧第五電晶體開關
T6‧‧‧第六電晶體開關
E‧‧‧電極
R、R1、R2‧‧‧紅色子像素
G、G1、G2‧‧‧綠色子像素
B、B1、B2‧‧‧藍色子像素
gn‧‧‧掃描線
g1‧‧‧第一組掃描線
g2‧‧‧第二組掃描線
Dn‧‧‧資料線
D1‧‧‧第一組資料線
D2‧‧‧第二組資料線
D3‧‧‧第三組資料線
V1‧‧‧第一電壓
V2‧‧‧第二電壓
V3‧‧‧第三電壓
V4‧‧‧第四電壓
V5‧‧‧第五電壓
V6‧‧‧第六電壓
Vcom‧‧‧參考電壓
t‧‧‧週期
t1‧‧‧前半週期
t2‧‧‧後半週期
1‧‧‧雙閘線單元面板
101、102‧‧‧金屬線
121、122‧‧‧測試墊
301‧‧‧第一金屬線
302‧‧‧第二金屬線
303‧‧‧第三金屬線
304‧‧‧第四金屬線
305‧‧‧第五金屬線
111‧‧‧掃描訊號源
112‧‧‧影像訊號源
311’‧‧‧第一週期性訊號源
311‧‧‧第一週期性訊號
312’‧‧‧第二週期性訊號源
312‧‧‧第二週期性訊號
313’‧‧‧第三週期性訊號源
313‧‧‧第三週期性訊號
314’‧‧‧第四週期性訊號源
314‧‧‧第四週期性訊號
315’‧‧‧第五週期性訊號源
315‧‧‧第五週期性訊號
321‧‧‧第一測試墊
322‧‧‧第二測試墊
323‧‧‧第三測試墊
324‧‧‧第四測試墊
325‧‧‧第五測試墊
700‧‧‧凸波
第1圖 係為雙閘線單元面板之傳統短路棒測試架構之示意圖。
第2圖 係為本發明之雙閘線單元面板之測試線路之實施例之結構示意圖。
第3圖 係為使第2圖所示之實施例單獨顯示紅色之訊號波形圖。
第4圖 係為使第2圖所示之實施例單獨顯示綠色之訊號波形圖。
第5圖 係為使第2圖所示之實施例單獨顯示藍色之訊號波形圖。
P‧‧‧像素
T1‧‧‧第一電晶體開關
T2‧‧‧第二電晶體開關
T3‧‧‧第三電晶體開關
T4‧‧‧第四電晶體開關
T5‧‧‧第五電晶體開關
T6‧‧‧第六電晶體開關
E‧‧‧電極
R1、R2‧‧‧紅色子像素
G1、G2‧‧‧綠色子像素
B1、B2‧‧‧藍色子像素
gn‧‧‧掃描線
g1‧‧‧第一組掃描線
g2‧‧‧第二組掃描線
Dn‧‧‧資料線
D1‧‧‧第一組資料線
D2‧‧‧第二組資料線
D3‧‧‧第三組資料線
1‧‧‧雙閘線單元面板
301‧‧‧第一金屬線
302‧‧‧第二金屬線
303‧‧‧第三金屬線
304‧‧‧第四金屬線
305‧‧‧第五金屬線
311’‧‧‧第一週期性訊號源
312’‧‧‧第二週期性訊號源
313’‧‧‧第三週期性訊號源
314’‧‧‧第四週期性訊號源
315’‧‧‧第五週期性訊號源
321‧‧‧第一測試墊
322‧‧‧第二測試墊
323‧‧‧第三測試墊
324‧‧‧第四測試墊
325‧‧‧第五測試墊

Claims (10)

  1. 一種雙閘線單元面板之測試線路，該測試線路係位於該雙閘線單元面板上，該測試線路係包含：一第一組資料線，係電性連接一第一測試墊，並耦接複數個第一子像素及複數個第二子像素；一第二組資料線，係電性連接一第二測試墊，並耦接複數個第三子像素及複數個第四子像素；一第三組資料線，係電性連接一第三測試墊，並耦接複數個第五子像素及複數個第六子像素；一第一組掃描線，係電性連接一第四測試墊，並分別耦接該些第一子像素、該些第三子像素及該些第五子像素；以及一第二組掃描線，係電性連接一第五測試墊，並分別耦接該些第二子像素、該些第四子像素及該些第六子像素；其中，該些第一子像素與該些第四子像素係為一第一顏色，該些第二子像素與該些第五子像素係為一第二顏色，該些第三子像素與該些第六子像素係為一第三顏色，其中，該些第一子像素、該些第二子像素及該些第三子像素依序對應至同一像素，且該些第四子像素、該些第五子像素及該些第六子像素依序對應至另一像素， 其中，該第一顏色、該第二顏色及該第三顏色互不相同。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之雙閘線單元面板之測試線路，其中各該子像素係包含一電晶體開關電性連接該些掃瞄線之一者及該些資料線之一者；當該第一組掃描線被通入一開啟訊號時，該第一組掃描線相對應之電晶體開關係被開啟，該第二組掃描線則被通入一關閉訊號，若該第一組資料線被通入一顯示訊號，則該些第一子像素顯示出該第一顏色；當該第二組掃描線被通入該開啟訊號時，該第二組掃描線相對應之電晶體開關係被開啟，該第一組掃描線則被通入該關閉訊號，若該第一組資料線被通入該顯示訊號，則該些第二子像素顯示出該第二顏色。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之雙閘線單元面板之測試線路，其中當該第一組掃描線被通入該開啟訊號且該顯示訊號係一週期性訊號時，該些第一子像素於該週期性訊號的前半週期中係顯示出該第一顏色。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之雙閘線單元面板之測試線路，其中當該第二組掃描線被通入該開啟訊號且該顯示訊號係一週期性訊號時，，該些第二子像素於該週期性訊號的後半週期中係顯示出該第二顏色。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之雙閘單元面板之測試線路，其中各該子像素係包含一電晶體開關電性連接該些掃瞄線之一者及該些資料線之一者； 當該第一組掃描線被通入一開啟訊號時，該第一組掃描線相對應之電晶體開關係被開啟；該第二組掃描線則被通入一關閉訊號若該第二組資料線被通入一顯示訊號，則該些第三子像素顯示出該第三顏色；當該第二組掃描線被通入該開啟訊號時，該第二組掃描線相對應之電晶體開關係被開啟，該第一組掃描線則被通入該關閉訊號，若該第二組資料線被通入該顯示訊號，則該些第四子像素顯示出該第一顏色。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之雙閘單元面板之測試線路，其中當該第一組掃描線被通入該開啟訊號且該顯示訊號係一週期性訊號時，該些第三子像素於該週期性訊號的前半週期中係顯示出該第三顏色。
  7. 如申請專利範圍第5項所述之雙閘單元面板之測試線路，其中當該第二組掃描線被通入該開啟訊號且該顯示訊號係一週期性訊號時，該些第四子像素於該週期性訊號的後半週期中係顯示該第一顏色。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之雙閘單元面板之測試線路，其中各該子像素係包含一電晶體開關電性連接該些掃瞄線之一者及該些資料線之一者；當該第一組掃描線被通入一開啟訊號時，該第一組掃描線相對應之電晶體開關係被開啟，該第二組掃描線則被通入一關閉訊號若該第三組資料線被通入一顯示訊號，則該些第五子像素顯示出該第二顏色； 當該第二組掃描線被通入該開啟訊號時，該第二組掃描線相對應之電晶體開關係被開啟，該第一組掃描線則被通入該關閉訊號，若該第一組資料線被通入該顯示訊號，則該些第六子像素顯示出該第三顏色。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之雙閘單元面板之測試線路，其中當該第一組掃描線被通入該開啟訊號且該顯示訊號係一週期性訊號時，該些第五子像素於該週期性訊號的前半週期中係顯示出該第二顏色。
  10. 如申請專利範圍第8項所述之雙閘單元面板之測試線路，其中當該第二組掃描線被通入該開啟訊號且該顯示訊號係一週期性訊號時，該些第六子像素於該週期性訊號的後半週期中係顯示該第三顏色。
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