CN201138366Y - 面板测试结构 - Google Patents

Abstract

一种面板测试结构，其利用含有多个导电结构的一薄膜或软性片与一面板电性接触来作像素测试，其中任一导电结构具有多个导电凸块凸设于薄膜探针或软性片的表面，且任一导电结构的导电凸块分别与任一相同原色子像素形成电性接触并导通至一对外接点，以进行点灯测试而达到面板全功能的断路/短路(open/short)测试。利用不同导电结构上的导电凸块可分别或同时测试各原色的彩度，且使用单片薄膜或软性片即可进行测试，故易于制造及维修。

Description

面板测试结构

技术领域

本实用新型涉及一种利用薄膜探针的特性所制成的面板测试结构，特别涉及一种可测试面板彩度的面板测试结构。

背景技术

不论是何种显示器，于现今信息社会中已是一个不可或缺的配备，其用以呈现画面与文字信号的输出装置，在显示器中一个影像的输出由许多具不同颜色及明亮度的像素(pixel)所构成，且每一像素中包括有红(R)、绿(G)及蓝(B)三个子像素(sub-pixel)，而相邻二子像素之间的最短距离即所谓的间距(pitch)，当间距越小时，显示器的画面将越为清晰。

每一个像素中的每一子像素分别受一条信号扫描线(common)及一条数据信号线(segment)连接，且每一信号扫描线并受一信号扫描线驱动电路供应扫描信号，而每一数据信号线则受一数据信号线驱动电路供应影像数据，并使数据信号线及信号扫瞄线分别与设置于面板边缘的驱动电路连接，以藉由驱动电路来控制驱动信号快速且反复的扫瞄过各子像素，进而控制每一子像素的亮与暗，以经由三原色依比例调和而显示出全彩模式的色彩。

已知在对显示器面板进行点灯测试时，即是针对每一像素中的子像素进行测试，乃在安装前述的驱动电路以及完成面板接合之后，先以点灯测试机台对此面板进行测试，以确保产品妥善。然，于高显示度的显示面板其电极终端区的输入电极排线相当密集，以致于利用传统探针方式来进行点测试时遇到很大的困难，且此种利用点灯测试机台进行测试的方式使用有所限制，亦无法分别单独测试各原色子像素。

实用新型内容

本实用新型的一目的是提供一种面板测试结构，其利用不同导电结构上的导电凸块分别与任一相同原色子像素形成电性接触，且将待侧面板上的相同原色子像素全都连接至同一测试点，以藉此进行面板像素测试。

本实用新型的另一目的是提供一种面板点灯测试结构，其可针对三原色，红绿蓝(RGB)，分别单独测试其彩度，应用更为广泛。

本实用新型的再一目的是提供一种面板测试结构，其使用单面的测试薄膜探针即可进行点灯测试，故易于制造及维修。

本实用新型的又一目的是提供一种可降低成本的面板测试结构。

为达到上述的目的，本实用新型的一实施例提出一种面板测试结构将导电结构布设于薄膜或软性片上而形成薄膜探针。其用以测试一面板上的多个像素，且每一像素含有多个子像素；以及一薄膜探针设有多个导电结构。其中导电结构具有多个导电凸块凸设于薄膜上的导电线表面，且任一导电结构的导电凸块分别与任一相同颜色子像素形成电性连接。此外，导电凸块利用至少一导电线路连接至一对外接点，因此可藉由对外接点做面板测试。

以下藉由具体实施例配合所附的附图详加说明，当更容易了解本实用新型的目的、技术内容、特点及其所达成的功效。

附图说明

图1为依据本实用新型的一实施例的待测面板的示意图。

图2a为依据本实用新型的一实施例的薄膜或软性片上电线的结构示意图。

图2b为图2a的局部侧视示意图。

图3为依据本实用新型的一实施例的进行面板测试的结构俯视图。

图4为依据本实用新型的一实施例的进行面板测试的结构侧视图。

图5为依据本实用新型的又一实施例的进行面板测试的结构俯视图。

主要元件符号说明：

100                面板

110                像素

112、114、116      子像素

200                薄膜探针

210、220、230      导电结构

212、222、232      导电凸块

214、224、234      导电线路

216、226、236      对外接点

240、250           控制线路

C1、C2、C3…       信号扫描线

S11、S12、S13、    数据传输线

S21、S22、S23…

具体实施方式

其详细说明如下，所述较佳实施例仅做一说明非用以限定本实用新型。

首先，请先参考图1，图1绘示本实用新型的一实施例所使用的待测面板示意图。如图所示，一面板100具有成矩阵排列的多个像素110，且每一个像素110分为多个子像素，于一实施例中，子像素可区分为三原色子像素，分别为红色(R)子像素112、绿色(G)子像素114及蓝色(B)子像素116等三原色。其中多个信号扫瞄线(Common line)(如C1、C2、C3…)设置于面板的一侧边，且任一信号扫瞄线电性连接面板100上任一横向排列的像素110；而多个数据传输线(Segmentline)(如S11、S12、S13…)设置于面板100的另一侧边，且任一数据传输线电性连接面板100上任一纵向排列的子像素(112、114或116)以方便面板100进行测试、电性导通与数据传输用。

接着，请参考图2a及图2b，图2a绘示本实用新型的一实施例的薄膜或软性片上电线的结构示意图；图2b为图2a的局部侧视示意图。请先参考图2a，一薄膜探针200，例如由薄膜或不导电的可挠式材质所构成，其上含有多个导电结构，于一实施例中，导电结构可由异方向性导电胶或是镍合金的金属导线所构成。且任一导电结构中，含有多个导电凸块(如212、222或232)凸出于薄膜探针200表面，且任一导电结构的导电凸块(212、222或232)利用至少一导电线路(如214、224或234)连接至一对外接点(如216、226或236)。其中导电凸块212、222、232经由导电线路(图中仅显示导电线路234)连接并凸出薄膜探针的示意图可参考图2b。

接续上述，于一实施例中，薄膜探针200具有三组导电结构，其为一红色子像素导电结构、一绿色子像素导电结构及一蓝色子像素导电结构，分别用以测试不同原色的子像素。于又一实施例中，红色子像素导电结构210由多个导电凸块212、至少一导电线路214及一对外接点216组成；绿色子像素导电结构220由多个导电凸块222、至少一导电线路224及一对外接点226组成；以及蓝色子像素导电结构230由多个导电凸块232、至少一导电线路234及一对外接点236组成。如图2a所示，于此实施例中，薄膜探针200上红色子像素导电结构210的多个导电凸块212凸出于薄膜探针200表面，且利用导电线路214连接至对外接点216。同理，绿色子像素导电结构220的导电凸块222亦凸出于薄膜探针200表面，且利用导电线路224连接至对外接点226；以及蓝色子像素导电结构230的导电凸块232凸设于薄膜探针200表面，且利用导电线路234连接至对外接点236。其中三组导电结构分别经由对外接点216、226、236连接外部测试信号(如测试机台信号产生品)，即可将待侧信号转接出去，进行面板100(如图1所示)的点灯测试。

再来，使用如图2a所示的薄膜探针200对如图1所示的待测面板100进行测试时，请同时参阅图3及图4，图3及图4绘示本实用新型的一实施例的进行面板测试的结构俯视图及其结构侧视图。如图所示，将薄膜探针200设置于面板100上，且利用薄膜探针200上的导电凸块与面板100电性接触。于此实施例中，例如红色子像素导电结构210上的任一导电凸块212与面板100上任一红色子像素112的数据传输线电性接触，再经由导电线路214连接至对外接点216，藉由对外接点216对面板100中红色子像素112做点灯测试；而绿色子像素导电结构220上的任一导电凸块222与面板100上任一绿色子像素114的数据传输线电性导通，再经由导电线路224连接至对外接点226，藉由对外接点226对绿色子像素114做点灯测试；同理，蓝色子像素导电结构230上的任一导电凸块232与面板100上任一蓝色子像素116的数据传输线电性连接，再经由导电线路234连接至对外接点236，藉由对外接点236对蓝色子像素116做点灯测试。此外，对外接点216、226及236可受一开关线路(图中未示)控制以分别进行个别单色点亮及全点亮的面板测试。图4绘示其结构侧视图，薄膜探针200上的导电凸块212、222与232分别与面板100上的数据传输线(S11、S12、S13、S21、S22、S23…)电性接触以测试面板100在各别亮与全点亮状态下的彩度。

接续上述说明，于又一实施例中，如图5所示，薄膜探针200上更可含有一控制线路(240或250)，其上亦具有凸出薄膜探针200表面的导电凸块(242或252)可与面板100上任一列的信号扫瞄线电性接触。如图所示，于此实施例中，两控制线路240与250可分别与奇数列与偶数列的各组信号扫瞄线电性连接以控制面板100在半点亮状况下检查其像素是否正常。但，可以理解的是，图中所绘式的薄膜探针200与面板100的样式仅为一实施例，并不限制本实用新型的范畴。

根据上述，本实用新型提供一种面板测试结构，利用薄膜探针上导电凸块即可分别测试面板像素全点亮、半点亮及各别点亮的面板测试而达到面板全功能的断路/短路(open/short)测试。其可应用于小型显示面板与大型显示面板，应用相当广泛。另，导电凸块设计可使测试薄膜探针与面板线路接触性更为良好。

综合上述，本实用新型的一实施例所提出的面板测试结构，利用三组导电结构上的多个导电凸块，藉由导电凸块电性接触待测面板上任一相同原色子像素的数据传输线并电性连接至一对外接点，故可针对三原色，例如红绿蓝(RGB)，分别单独测试其彩度。再者，使用单面薄膜探针即可进行点灯测试，且因薄膜探针上的接点间距较大，故易于制造及维修，成本亦可相对降低。

以上所述藉由实施例说明本实用新型的特点，其目的在使熟习该技术者能了解本实用新型的内容并据以实施，而非限定本实用新型的专利范围，故，凡其他未脱离本实用新型所揭示的精神所完成的等效修饰或修改，仍应包含在以下所述的权利要求书中。

Claims (11)

1.一种面板测试结构，其特征在于，包括：

一面板，包含多个像素，且任一该些像素具有多个子像素；以及

一薄膜探针，设有多个导电结构，其中任一该导电结构包含多个导电凸块凸设于该薄膜探针表面；任一该导电结构的该些导电凸块分别与相同颜色的任一该些子像素形成电性连接，且该些导电凸块利用至少一导电线路连接至一对外接点。

2.如权利要求1所述的面板测试结构，其特征在于，该薄膜探针为不导电的挠性材质所构成。

3.如权利要求1所述的面板测试结构，其特征在于，该些导电凸块为异方向性导电胶或镍合金所构成。

4.如权利要求1所述的面板测试结构，其特征在于，该些子像素为三原色子像素。

5.如权利要求4所述的面板测试结构，其特征在于，该些导电结构为一红色子像素导电结构、一绿色子像素导电结构及一蓝色子像素导电结构。

6.如权利要求5所述的面板测试结构，其特征在于，该红色子像素导电结构的该些导电凸块与该面板上的任一该红色子像素形成电性接触；该绿色子像素导电结构上的该些导电凸块与该面板上的任一该绿色子像素形成电性接触；以及该蓝色子像素导电结构上的该些导电凸块与该面板上的任一该蓝色子像素形成电性接触。

7.如权利要求1所述的面板测试结构，其特征在于，该面板更含有多个信号扫瞄线于该面板的一侧边，且任一该些信号扫瞄线电性连接该面板上任一横向排列的该些像素。

8.如权利要求7所述的面板测试结构，其特征在于，更包含至少一控制线路设置于该薄膜探针上与至少一该些信号扫瞄线电性连接。

9.如权利要求8所述的面板测试结构，其特征在于，更包含多个导电凸块凸出该控制线路并与至少一该些信号扫瞄线电性接触。

10.如权利要求1所述的面板测试结构，其特征在于，该面板更含有多个数据传输线于该面板的另一侧边，且任一该些数据传输线电性连接该面板上任一纵向排列的该些子像素。

11.如权利要求10所述的面板测试结构，其特征在于，该薄膜探针上的该些导电凸块与该些数据传输线电性接触。

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