TWI405981B - Circuit board, circuit board assembly and mistaken insertion detection device - Google Patents

Circuit board, circuit board assembly and mistaken insertion detection device Download PDF

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Description

電路板、電路板組裝及誤***檢出裝置
本發明係關於具有形成導體線路的基板(substrate)、以及實裝在基板上的複數連接器的電路板(Circuit Board)，以及具有上述電路板的電路板組裝及誤***檢出裝置。
半導體積體電路元件等的電子元件(以下也簡稱作DUT(受測試器件))的製造過程中，使用電子元件測試裝置測試DUT的性能、功能。
此電子元件測試裝置包括測試頭，具有與DUT電氣接觸的插座；測試器，經由測試頭測試DUT；處理器，依序搬送DUT至測試頭上，並依測試結果分類測試結束的DUT。
測試頭具有實裝插座的插座板、以及與此插座板電氣連接的工作特性板；已知經由纜線連接這些電路板。如此構成的測試頭中，任一電路板中都實裝多數的連接器，可以從各電路板裝卸纜線。
不過，同一電路板中同一形狀的連接器用於複數的用途時，有連接器誤***的問題。連接器誤***狀態中，供給DUT的測試用電源至插座板時，實裝在插座板的電子元件恐怕會被高電壓損壞。
本發明欲解決的課題係提供可防止連接器誤***的電路板、電路板組裝及誤***檢出裝置。
(1)根據本發明，提供一電路板，包括形成導體線路的基板、以及實裝在上述基板上的複數的連接器；上述連接器各具有複數的接腳，包括經由上述導體線路互相電氣連接的一對檢出接腳(申請專利範圍第1項)。
上述發明中，上述連接器的上述檢出接腳中最好至少一檢出接腳的位置不同於上途複數的連接器中其他連接器的檢出接腳的位置(申請專利範圍第2項)。
(2)根據本發明，提供一電路板組裝，包括第1電路板，具有形成第1導體線路的第1基板、以及實裝在上述第1基板上的複數的第1連接器；以及複數的纜線，分別在一端具有可嵌合上述第1連接器的第2連接器；上述第1連接器的分別具有的複數的第1接腳，其中包括經由上述第1導體線路互相電氣連接的一對第1檢出接腳(申請專利範圍第3項)。
上述發明中，上述第1連接器的上述第1檢出接腳中最好至少一第1檢出接腳的位置不同於上途複數的第1連接器中其他第1連接器的第1檢出接腳的位置(申請專利範圍第4項)。
上述發明中，最好更包括第2電路板，上述複數的纜線在另一端分別具有第3連接器，上述電路板組裝中，具有形成第2導體線路的第2基板、以及實裝在上述第2基板上可與上述第3連接器嵌合的複數的第4連接器(申請專利範圍第5項)。
上述發明中，上述第2連接器最好分別具有複數的第2接腳，包括配置於對應上述第1檢出接腳位置的一對第2檢出接腳；上述第3連接器分別具有複數的第3接腳，包括經由上述纜線的導線電氣連接至上述第2檢出接腳的一對第3檢出接腳；上述第4連接器具有複數的第4接腳，包括配置於對應上述第3檢出接腳位置的一對第4檢出接腳；上述第4檢出接腳的其中之一，經由上述第2導體線路電氣連接至另一第4連接器的第4檢出接腳(申請專利範圍第6項)。
上述發明中，上述第2電路板中全部上述第4檢出接腳的組合最好經由上述第2導體線路串聯連接(申請專利範圍第7項)。
上述發明中，上述第3接腳最好包括經由上述纜線的導線電氣連接至一對第5檢出接腳；上述第4接腳，包括配置於對應上述第5檢出接腳位置的一對第6檢出接腳；上述第4檢出接腳的其中之一，經由上述第5及第6檢出接腳電氣連接至另一第4連接器的第4檢出接腳(申請專利範圍第8項)。
上述發明中，最好更包括第2電路板，具有形成第2導體線路的第2基板，上述複數的纜線的另一端直接連接至上述第2基板(申請專利範圍第9項)。
(3)根據本發明，提供一誤***檢出裝置，用於檢出電子元件測試裝置中的連接器誤***，包括；上述電路板組裝；輸入裝置，輸入檢出信號至上述電路板組裝；以及判斷裝置，根據來自上述電路板組裝的上述檢出信號有無輸出，判斷可否供給測試電源至上述電路板組裝(申請專利範圍第10項)。
上述發明中，上述判斷裝置最好當上述電路板組裝輸出上述檢出信號時，判斷供給測試電源至上述電路板組裝，且當上述電路板組裝不輸出上述檢出信號時，判斷不供給測試電源至上述電路板組裝(申請專利範圍第11項)。
本發明中，連接器具有的複數接腳中，一對檢出接腳互相電氣連接。因此，連接器***後，藉由確認其中一檢出接腳輸入的檢出信號從另一檢出接腳輸出，在電源供給前，由於可以確認***處的連接器是本來應***的連接器，因此可以防止連接器的誤***。
以下，根據圖面說明本發明的實施例。
第1圖係本實施例中電子元件測試裝置的概略剖面圖，第2圖係本實施例中測試頭的概略剖面圖，以及第3圖係第2圖中顯示的測試頭的分解圖。
本實施例中電子元件測試裝置，如第1圖所示，包括測試頭10，與DUT電氣連接；測試器2，經由測試頭10送出測試信號至DUT並檢查應答信號；以及處理器1，依序搬送DUT至測試頭10上，並依測試結果分類測試結束的DUT。此電子元件測試裝置，在對DUT施加高溫或低溫的熱應力的狀態(或是常溫狀態)下，測試DUT是否適當動作，並依上述測試結果分類DUT。
如第1圖所示，在測試頭10的上部，設置測試時與DUT電氣接觸的插座33。插座33，如同圖中所示，經由處理器1中形成的開口1a，進入處理器1的內部，搬送來的DUT以處理器1按壓至插座33。又，可以使用加熱板型、密室型作為處理器1。
測試頭10，如第2及3圖所示，包括測試頭本體11與高夾具15(界面裝置)。測試頭本體11的內部，收容納入DUT的測試使用的電子電路的腳位訊號卡(Pin Electronics Card)12。腳位訊號卡12經由第1圖所示的纜線3電氣連接至測試器2，且經由連接器13、16可裝卸地連接至高夾具15。
高夾具15為了在測試頭本體11與工作特性板20(後述)之間電氣中繼，安裝在測試頭本體11上方。高夾具15的上部，設置用以電氣連接至工作特性板20的連接器17。高夾具15具有的連接器16、17，經由纜線18電氣連接。
本實施例中，測試頭10更包括插座板30及工作特性板20。
工作特性板20安裝在高夾具15的上方，包括第2基板21、安裝在第2基板21上表面的第4連接器24、實裝在第2基板21下表面的連接器23。連接器23、24經由形成於第2基板21上的線路圖案、穿孔(未圖示)電氣連接。下側的連接器23可嵌合高夾具15上側的連接器17，由於這些連接器17、23嵌合，高夾具15與工作特性板20之間電氣連接。又，上述第4連接器24係參照第4～8圖後所說明的3個第4連接器24A～24C的總稱。又，第2及3圖中只圖示2個第4連接器24，但實際上一枚工作特性板20上實裝了數十～數百個連接器24。
插座板30設置於工作特性板20的上方，包括上表面實裝上述插座33的第1基板31、以及實裝於第1基板31下表面的複數的第1連接器35。又，實際上，1枚工作特性板20的上方設置1枚或複數枚的插座板30。插座33具有複數的接觸腳34，測試DUT時，藉由這些接觸腳34與從DUT導出的端子接觸，插座與DUT電氣接觸。插座33與第1連接器35之間經由第1基板31中形成的線路圖案、穿孔(未圖示)而電氣連接。又，上述第1連接器35係參照第4～8圖後所說明的3個第1連接器35A～35C的總稱。又，第2及3圖中只圖示2個第1連接器35，但實際上一枚插座板30上實裝了數十個連接器35。
工作特性板20與插座板30之間經由纜線40而電氣連接。纜線40的上端連接至可嵌合插座板30的第1連接器35的第2連接器43，纜線40可從插座板30裝卸。另一方面，纜線40的下端連接至可嵌合工作特性板20的第4連接器24的第3連接器45，纜線40可從工作特性板20裝卸。又，上述第2連接器43係參照第4～8圖後所說明的3個第2連接器43A～43C的總稱，上述的第3連接器45係參照同圖後所說明的3個第3連接器45A～45C的總稱。又，上述的纜線40係參照第4～8圖後所說明的3組纜線40A～40C的總稱。
第4圖係本發明實施例中插座板、纜線及工作特性板的連接關係圖；第5圖係顯示本發明實施例中誤***檢出裝置的方塊圖。
以下，參照第4及5圖，說明關於第1～第4連接器的構成及這些連接關係。又，為了容易理解，第4～8圖中以3組纜線40A～40C連接工作特性板20與插座板30的情況來說明，但實際上工作特性板20與插座板30之間係經由數十組纜線40連接。
第4圖所示的3個第1連接器35A～35C，是具有例如保持在絕緣性外殼內的8支接腳36a～36h的插孔型連接器。又，以下，關於任一連接器，各連接器具有的8支接腳在第4圖中從左側往右側稱作第1接腳、第2接腳、…第8接腳。3個第1連接器35A～35C，任一都具有同一構造，但用於檢出連接器誤***的接腳(檢出接腳)的位置不同。又，本實施例中「檢出接腳」與連接器具有的其他接腳在構成並無不同，係為了明確與上述其他接腳的用途不同而方便使用的表現。又，連接器具有的接腳數量並未特別限定，實際上一連接器上設置數十支接腳。
第4圖中左側的第1連接器35A中，第1及第2接腳36a、36b(第1檢出接腳)經由第1基板31上形成的檢出線路圖案32互相直接連接。另一方面，未特別圖示，第2~第6的接腳36c~36f也連接至第1基板31上的線路圖案，但這些接腳36c~36f彼此未直接連接。
左側的第1連接器35A中，第1及第2接腳36a、36b用於第1及第2連接器35A、43A的誤***檢出，第3~第6接腳36c~36f用於DUT測試，並未特別使用第7及第8接腳36g、36h。
相對於此，第4圖中央的第1連接器35B中，與前述的第1連接器35A不同，第3及第4接腳36c、36d(第1檢出接腳)經由檢出線路圖案32互相直接連接。另一方面，雖未特別圖示，第1、第2、第5及第6接腳36a、36b、36e、36f也連接至第1基板31上的線路圖案，但這些接腳36a、36b、36e、36f不互相直接連接。
此中央的第1連接器35B中，第3及第4接腳36c、36d用於第1及第2連接器35B、43B的誤***檢出，第1、第2、第5及第6接腳36a、36b、36e、36f用於DUT測試，並未特別使用第7及第8接腳36g、36h。
另一方面，第4圖中右側的第1連接器35C中，不同於前述的第1連接器35A、35B，第5及第6接腳36e、36f(第1檢出接腳)經由檢出線路圖案32互相直接連接。另一方面，雖未特別圖示，第1、~第4接腳36a~36d也連接至第1基板31上的線路圖案，但這些接腳36a~36d不互相直接連接。
右側的第1連接器35c中，第5及第6接腳36e、36f用於第1及第2連接器35C、43C的誤***檢出，第1～第4接腳36a～36d用於DUT測試，並未特別使用第7及第8接腳36g、36h。
如上述，藉由改變每個連接器檢出接腳位置，同一插座板30中同一形狀的連接器即使用於複數的用途，也可以更確實防止連接器誤***。又，雖以3個連接器35A～35C中檢出接腳位置完全不重複來說明，但不特別限定於此。只要2支檢出接腳中至少一檢出接腳位置不同於其他連接器的2支檢出接腳位置即可。
第4圖所示的3個第2連接器43A～43C，是具有例如保持在絕緣性外殼內的8支接腳44a～44h的插頭型連接器。3個第2連接器43A～43C，任一都具有同一構造。又，第2連接器43A～43C也可以是插孔型連接器，此時第1連接器35A～35B為插頭型連接器。
第2連接器43A～43C的接腳44a～44h，嵌合時可以與第1連接器35A～35B的接腳36a～36h分別接觸。因此，第4圖左側的第2連接器43A的第1及第2接腳44a、44b，中央的第2連接器43B的第3及第4接腳44c、44d，以及右側的第2連接器43C的第5及第6接腳44e、44f，相當於本發明中第2檢出接腳的一範例。
第4圖所示的3個第3連接器45A～45C，是具有保持在例如絕緣性外殼內的8支接腳46a～46h的插頭型連接器，任一都具有同一構造。第4圖中左側的第3連接器45A中第1～第6接腳46a～46f，經由纜線40A的導線41，分別電氣連接第2連接器43A的第1～第6接腳44a～44f。因此，第4圖中左側的第3連接器45A的第1及第2接腳46a、46b，中央的第3連接器45B的第3及第4接腳46c、46d，以及右側的第3連接器45C的第5及第6接腳46e、46f，相當於本發明中第3檢出接腳的一範例。
左側的第3連接器45A的第7及第8接腳46g、46h(第5檢出接腳)經由纜線40A的檢出導線42互相電氣連接。又，第2連接器43A中也同樣地，第7及第8接腳44g、44h經由纜線40A的導線互相電氣連接。第4圖中央及右側的第3連接器45B、45C，也以同樣的要領，經由纜線40B、40C連接至第2連接器43B、43C。任一第3連接器45A～45C中，第7及第8接腳46g、46h都用於檢出是否有誤接不同規格的纜線。
第4圖所示的3個第4連接器24A～24C，是具有保持在例如絕緣性外殼內的8支接腳25a～25h的插孔型連接器，任一都具有同一構造。又，第4連接器24A～24C可以是插頭型連接器，此時第3連接器45A～45B為插孔型連接器。
第4連接器24A～24C的接腳25a～25h可以分別接觸第3連接器45A～45B的接腳46a～46h，第4連接器24A～24C的其中任一，第7及第8接腳25g、25h(第6檢出接腳)都用於檢出是否有誤接不同規格的纜線。相對地，對應第1連接器35A～35C，各第4連接器24A～24C中，第1～第6接腳25a～25f中的任兩支接腳用於檢出連接器的誤***。
第4圖中左側的第4連接器24A中，第1及第2接腳25a、25b(第4檢出接腳)用於檢出連接器的誤***，第3～第6接腳25c～25f用於DUT測試。左側的第4連接器24A中，第2接腳25b經由形成於第2基板21上的檢出線路圖案22連接至第7接腳25g，又，第8接腳25h經由檢出線路圖案22連接至中央的第4連接器24B的第3接腳25c。
相對於此，第4圖中央的第4連接器24B中，第3及第4接腳25c、25d(第4檢出接腳)用於檢出連接器的誤***，第1、第2、第5及第6接腳25a、25b、25e、25f用於DUT測試。中央的第4連接器24B中，第4接腳25d經由檢出線路圖案22連接至第7接腳25g，又，第8接腳25h經由檢出線路圖案22連接至右側的第4連接器24C的第5接腳25e。
另一方面，第4圖中右側的第4連接器24C中，第5及第6接腳25e、25f(第4檢出接腳)用於檢出連接器的誤***，第1～第4接腳25a～25d用於DUT測試。右側的第4連接器24C中，第6接腳25f經由檢出線路圖案22連接至第7接腳25g。
又，確認不要纜線40A～40C時，第4連接器24A～24C的第4檢出接腳經由檢出線路圖案22互相連接，第7及第8接腳25g、25h用於DUT測試。
如第5圖所示，左側的第4連接器24A的第1接腳25a、以及右側的第4連接器24C的第8接腳25h連接至設置於測試器2的誤***檢出裝置5。
此誤***檢出裝置5係用於檢出第2連接器43A～43C誤***第1連接器35A～35C，具有輸入部6及判斷部7。又，結果此誤***檢出裝置5也可以檢出第3連接器45A～45C誤***第4連接器24A～24C。
輸入部6，連接至左側的第4連接器24A的第1接腳25a，可輸入用於檢出連接器誤***的檢出信號至第1接腳25a。又，用於確認高夾具15是否安裝於測試頭本體11的確認信號也可以用作此檢出信號，判斷部7，連接至右側的第4連接器24C的第8接腳25h，可以確認輸入部6輸入的檢出信號是否從第8接腳25h輸出。確認檢出信號的輸出時，判斷部7對於測試器2的電源供給部4，允許用於DUT測試的電源供給。相對於此，不確認檢出信號的輸出時，判斷部7對於電源供給部4，不允許測試電源的供給。
其次說明作用。
第6圖係顯示本實施例中誤***的檢出路線圖，第7圖係顯示實施例中連接器誤***時連接關係的一範例圖，以及第8圖係顯示本實施例中不同規格的纜線錯誤連接時的一範例圖。
首先，第4圖所示的範例中，全部的連接器正確***的情況，參照第6圖說明。
如第6圖所示，第2連接器43A~43C分別***第1連接器35A~35C，以及第3連接器45A~45C分別***第4連接器24A~24C時，左側的第4連接器24A的第1接腳25a與右側的第4連接器24C的第8接腳25h之間，形成全部的檢出接腳串聯的誤***檢出路線50。此狀態中，誤***檢出裝置5的輸入部6輸入檢出信號時，上述檢出信號經由誤***檢出路線50輸出至判斷部7，判斷部7對於電源供給部4，不允許測試電源的供給。又，也可以形成複數的誤***檢出路線，且為了可以個別檢出各連接器的誤***，可以每個連接器形成誤***檢出路線。
相對於此，例如，第7圖所示，本來應***左側的第1連接器35A的第2連接器43A誤***中央的第1連接器35B，以及應***中央的第1連接器35B的第2連接器43B誤***左側的第1連接器35A時，因為中央的第1連接器35B的第1接腳36a與第2接腳36b未互相連接，不形成誤***檢出路線50。
又，例如，第8圖所示，誤用不具有檢出導線42的纜線40’作為中央的纜線時，中央的第2連接器43B的第7接腳46g與第8接腳46h之間，誤***檢出路線50被遮斷。
如第7、8圖所示的情況，誤***檢出裝置5的輸入部6即使輸入檢出信號，因為上述檢出信號不輸出至判斷部7，判斷部7對於電源供給部4，不允許測試電源的供給。
如上述，本實施例中，具有第1連接器35A~35C的複數的接腳36a~36h中的一對檢出接腳互相電氣連接。因 此，連接器***後，確認從其中一檢出接腳輸入檢出信號，而此檢出信號由另一檢出接腳輸出，藉此在供給測試電源前，可以確認***處的連接器係本來應***的連接器。
又，本實施例中，第3連接器45A~45C具有的複數接腳46a~46h中的一對檢出接腳互相電氣連接。因此，連接器***後，確認從其中一檢出接腳輸入檢出信號，而此檢出信號由另一檢出接腳輸出，藉此可以確認連接正確規格的纜線。
又，以上說明的實施例係為了容易理解本發明的記載，不是為了限定本發明而記載。因此，上述實施例中開示的各要素以包含屬於本發明技術範圍的全部設計變更、均等物為主旨。
例如，也可以不使用第3及第4連接器45、24，纜線40的下端以焊接等直接連接至第2基板21上的配線圖案上。
又，工作特性板20的第4連接器24中，也可以設置互相電氣連接的一對檢出接腳，進行檢出第3連接器45誤***至第4連接器24。例如，第9圖所示的範例中，第4連接器24的第1及第2接腳25a、25b(第1檢出接腳)用以檢出第3連接器45誤***至第4連接器24。如同圖中所示，第4連接器24的第1接腳25a、及第2接腳25b，經由工作特性板20在第2基板21上形成的檢出線路22，互相電氣連接。又，在此情況下，本實施例中第4連接器24相當於本發明第1連接器的一範例，本實施例中第3連接器45相當於本發明的第2連接器的一範例。又，雖未特別圖示，但藉由改變每個連接器中檢出接腳位置，可以更確實防止連接器的誤***。又，在此情況下，也可以不使用第1及第2連接器35、43，纜線40的上端以焊接等直接連接至第1基板31上的線路圖案。
1．．．處理器
1a．．．開口
2．．．測試器
3．．．纜線
4．．．電源供給部
5．．．誤***檢出裝置
6．．．輸入部
7．．．判斷部
10．．．測試頭
11．．．測試頭本體
12．．．腳位訊號卡
13．．．連接器
15．．．高夾具
16．．．連接器
17．．．連接器
18．．．纜線
20．．．工作特性板
21．．．第2基板
22．．．檢出線路圖案
23．．．連接器
24、24A～24C．．．第4連接器
25c．．．第3接腳
25g．．．第7接腳
25h．．．第8接腳
30．．．插座板
31．．．第1基板
32．．．檢出線路圖案
33．．．插座
34．．．接觸腳
35、35A～35C．．．第1連接器
36a-36h．．．接腳
40、40’、40A～40C．．．纜線
41．．．導線
42．．．檢出導線
43、43A～43C．．．第2連接器
44a～44h．．．接腳
45、45A～45C．．．第3連接器
46a～46h．．．接腳
以及
50．．．誤***檢出路線
[第1圖]係本發明實施例中電子元件測試裝置的概略剖面圖；
[第2圖]係本發明實施例中測試頭的概略剖面圖；
[第3圖]係第2圖中所示的測試頭的分解圖；
[第4圖]係本發明實施例中插座板、纜線及工作特性板的連接關係圖；
[第5圖]係顯示本發明實施例中誤***檢出裝置的方塊圖；
[第6圖]係顯示本發明實施例中連接器誤***的檢出路線圖；
[第7圖]係顯示本發明實施例中連接器誤***時連接關係的一範例圖；
[第8圖]係顯示本發明實施例中不同規格的纜線錯誤連接時的連接關係的一範例圖；以及
[第9圖]係顯示本發明其他實施例中工作特性板與纜線的連接關係圖。
20．．．工作特性板
21．．．第2基板
22．．．檢出線路圖案
24A～24C．．．第4連接器
25a～h．．．接腳
30．．．插座板
31．．．第1基板
32．．．檢出線路圖案
33．．．插座
34．．．接觸腳
35A～35C．．．第1連接器
36a～36h．．．接腳
40A～40C．．．纜線
41．．．導線
42．．．檢出導線
43A～43C．．．第2連接器
44a～44h．．．接腳
45A～45C．．．第3連接器
46a-～46h．．．接腳

Claims (9)

  1. 一種電路板組裝，包括：第1電路板，具有形成第1導體線路的第1基板、以及實裝在上述第1基板上的複數的第1連接器；以及複數的纜線，分別在一端具有可嵌合上述第1連接器的第2連接器；其特徵在於：上述第1連接器的分別具有的複數的第1接腳，包括經由上述第1導體線路互相電氣連接的一對第1檢出接腳。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的電路板組裝，其中，上述第1連接器的上述第1檢出接腳中至少一第1檢出接腳的位置不同於上途複數的第1連接器中其他第1連接器的第1檢出接腳的位置。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的電路板組裝，更包括：第2電路板，上述複數的纜線在另一端分別具有第3連接器，上述電路板組裝中，具有形成第2導體線路的第2基板、以及實裝在上述第2基板上可與上述第3連接器嵌合的複數的第4連接器。
  4. 如申請專利範圍第3項所述的電路板組裝，其中，上述第2連接器分別具有複數的第2接腳，包括配置於對應上述第1檢出接腳位置的一對第2檢出接腳；上述第3連接器分別具有複數的第3接腳，包括經由上述纜線的導線電氣連接至上述第2檢出接腳的一對第3檢出接腳； 上述第4連接器具有複數的第4接腳，包括配置於對應上述第3檢出接腳位置的一對第4檢出接腳；以及上述第4檢出接腳的其中之一，經由上述第2導體線路電氣連接至另一第4連接器的第4檢出接腳。
  5. 如申請專利範圍第4項所述的電路板組裝，其中，上述第2電路板中全部上述第4檢出接腳的組合經由上述第2導體線路串聯連接。
  6. 如申請專利範圍第4項所述的電路板組裝，其中，上述第3接腳包括經由上述纜線的導線電氣連接至一對第5檢出接腳；上述第4接腳，包括配置於對應上述第5檢出接腳位置的一對第6檢出接腳；以及上述第4檢出接腳的其中之一，經由上述第5及第6檢出接腳電氣連接至另一第4連接器的第4檢出接腳。
  7. 如申請專利範圍第1項所述的電路板組裝，更包括：第2電路板，具有形成第2導體線路的第2基板；其中，上述複數的纜線的另一端直接連接至上述第2基板。
  8. 一種誤***檢出裝置，用以檢出電子元件測試裝置中的連接器誤***，包括：電路板組裝，如申請專利範圍第1至7項中任一項所述者；輸入裝置，輸入檢出信號至上述電路板組裝；以及判斷裝置，根據來自上述電路板組裝的上述檢出信號 有無輸出，判斷可否供給測試電源至上述電路板組裝。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的電路板組裝，其中，上述判斷裝置當上述電路板組裝輸出上述檢出信號時，判斷供給測試電源至上述電路板組裝，且當上述電路板組裝不輸出上述檢出信號時，判斷不供給測試電源至上述電路板組裝。
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