KR101226466B1

KR101226466B1 - 회로보드 어셈블리

Info

Publication number: KR101226466B1
Application number: KR1020117009874A
Authority: KR
Inventors: 토루 무라카미; 사토루 에비하라; 히로시 가와모토
Original assignee: 가부시키가이샤 아드반테스트
Priority date: 2008-10-09
Filing date: 2008-10-09
Publication date: 2013-01-28
Also published as: JP5351171B2; TWI405981B; WO2010041324A1; KR20110082021A; TW201027093A; CN102172107A; JPWO2010041324A1

Abstract

회로보드(30)는 검출용 배선패턴(32)이 형성된 제1 기판(31)과, 제1 기판(31)에 실장된 복수의 커넥터(35A~35C)를 구비하고 있고, 커넥터(35A~35C)가 각각 갖는 복수의 핀(36a~36h)은 검출용 배선패턴(32)을 통하여 서로 전기적으로 접속된 한쌍의 검출용 핀을 포함하고 있다.

Description

회로보드 어셈블리{CIRCUIT BOARD ASSEMBLY}

본 발명은 도체배선이 형성된 기판(Substrate)과, 그 기판에 실장된 복수의 커넥터를 구비한 회로보드(Circuit Board) 및 그를 구비한 회로보드 어셈블리 및 오삽입 검출장치에 관한 것이다.

반도체 집적회로소자 등의 전자부품(이하, 간단히 DUT(Device Under Test)라 칭한다.)의 제조공정에서는 전자부품 시험장치를 이용하여 DUT의 성능이나 기능을 시험한다.

상기 전자부품 시험장치는 DUT와 전기적으로 접촉하는 소켓을 갖는 테스트 헤드와, 테스트 헤드를 통하여 DUT를 시험하는 테스터와, DUT를 테스트 헤드상으로 순차 반송하고, 테스트가 종료된 DUT를 시험결과에 따라 분류하는 핸들러를 구비하고 있다.

테스트 헤드는 소켓이 실장된 소켓 보드와, 상기 소켓 보드와 전기적으로 접속되어 있는 퍼포먼스 보드를 구비하고 있고, 케이블을 통하여 이들 보드를 접속한 것이 알려져 있다. 이와 같은 구성의 테스트 헤드에서는 어느 보드에도 다수의 커넥터가 실장되어 있고, 각각의 보드로부터 케이블을 착탈하는 것이 가능하게 되어 있다.

그렇지만, 동일한 보드에서 동일 형상의 커넥터가 복수의 용도로 사용되고 있으면, 커넥터를 오삽입하는 문제가 있었다. 커넥터를 오삽입한 상태에서 DUT의 테스트용 전력을 소켓 보드로 공급하면, 소켓 보드에 실장된 전자부품이 고전압에 의해 파손될 우려가 있었다.

본 발명이 해결하기 위한 과제는 커넥터의 오삽입을 방지 가능한 회로보드, 회로보드 어셈블리 및 오삽입 검출장치를 제공하는 것이다.

(1) 본 발명에 따르면, 도체배선이 형성된 기판과, 상기 기판에 실장된 복수의 커넥터를 구비한 회로보드로서, 상기 커넥터가 각각 갖는 복수의 핀은 상기 도체배선을 통하여 서로 전기적으로 접속된 한쌍의 검출용 핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 회로보드가 제공된다(청구항 1 참조).

상기 발명에서, 상기 커넥터에서의 상기 검출용 핀 중의 적어도 한쪽의 검출용 핀의 위치가 상기 복수의 커넥터 중의 다른 커넥터에서의 검출용 핀의 위치와 다르게 되어 있는 것이 바람직하다(청구항 2 참조).

(2) 본 발명에 따르면, 제1 도체배선이 형성된 제1 기판 및 상기 제1 기판에 실장된 복수의 제1 커넥터를 갖는 제1 회로보드와, 상기 제1 커넥터와 결합 가능한 제2 커넥터를 일단에 각각 갖는 복수의 케이블을 구비한 회로보드 어셈블리로서, 상기 제1 커넥터가 각각 갖는 복수의 제1 핀은 상기 제1 도체배선을 통하여 서로 전기적으로 접속된 한쌍의 제1 검출용 핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 회로보드 어셈블리가 제공된다(청구항 3 참조).

상기 발명에서, 상기 제1 커넥터에서의 상기 제1 검출용 핀 중의 적어도 한쪽의 제1 검출용 핀의 위치가, 상기 복수의 제1 커넥터 중의 다른 제1 커넥터에서의 제1 검출용 핀의 위치와 다르게 되어 있는 것이 바람직하다(청구항 4 참조).

상기 발명에서, 상기 복수의 케이블은 제3 커넥터를 타단에 각각 갖고, 상기 회로보드 어셈블리는 제2 도체배선이 형성된 제2 기판 및 상기 제2 기판에 실장되고, 상기 제3 커넥터와 결합 가능한 복수의 제4 커넥터를 갖는 제2 회로보드를 더 구비한 것이 바람직하다(청구항 5 참조).

상기 발명에서, 상기 제2 커넥터가 각각 갖는 복수의 제2 핀은 상기 제1 검출용 핀에 대응하는 위치에 배치된 한쌍의 제2 검출용 핀을 포함하고, 상기 제3 커넥터가 각각 갖는 복수의 제3 핀은 상기 케이블의 도선을 통하여 상기 제2 검출용 핀에 전기적으로 접속된 한쌍의 제3 검출용 핀을 포함하고, 상기 제4 커넥터가 갖는 복수의 제4 핀은 상기 제3 검출용 핀에 대응하는 위치에 배치된 한쌍의 제4 검출용 핀을 포함하고 있고, 상기 제4 검출용 핀의 한쪽은 상기 제2 도체배선을 통하여 다른 제4 커넥터의 제4 검출용 핀에 전기적으로 접속되어 있는 것이 바람직하다(청구항 6 참조).

상기 발명에서, 상기 제2 회로보드에서의 모든 상기 제4 검출용 핀의 조합이 상기 제2 도체배선을 통하여 직렬 접속되어 있는 것이 바람직하다(청구항 7 참조).

상기 발명에서, 상기 제3 핀은 상기 케이블의 도선을 통하여 서로 전기적으로 접속된 한쌍의 제5 검출용 핀을 더 포함하고, 상기 제4 핀은 상기 제5 검출용 핀에 대응하는 위치에 배치된 한쌍의 제6 검출용 핀을 더 포함하고 있고, 상기 제4 검출용 핀의 한쪽은 상기 제5 및 제6 검출용 핀을 통하여, 다른 제4 커넥터가 갖는 제4 검출용 핀에 전기적으로 접속되어 있는 것이 바람직하다(청구항 8 참조).

상기 발명에서, 제2 도체배선이 형성된 제2 기판을 갖는 제2 회로보드를 더 구비하고 있고, 상기 복수의 케이블의 타단은 상기 제2 기판에 직접 접속되어 있는 것이 바람직하다(청구항 9 참조).

(3) 본 발명에 따르면, 전자부품 시험장치에서 커넥터의 오삽입을 검출하기 위한 오삽입 검출장치로서, 상기 회로보드 어셈블리와, 상기 회로보드 어셈블리에 검출용 신호를 입력하는 입력수단과, 상기 회로보드 어셈블리로부터의 상기 검출용 신호의 출력의 유무에 기초하여, 상기 회로보드 어셈블리로의 테스트용 전력의 공급의 여부를 판단하는 판단수단을 구비한 것을 특징으로 하는 오삽입 검출장치가 제공된다(청구항 10 참조).

상기 발명에서, 상기 판단수단은 상기 회로보드 어셈블리로부터 상기 검출용 신호가 출력된 경우에, 상기 회로보드 어셈블리로 테스트용 전력을 공급하도록 판단하고, 상기 회로보드 어셈블리로부터 상기 검출용 신호가 출력되지 않은 경우에, 상기 회로보드 어셈블리로 테스트용 전력을 공급하지 않도록 판단하는 것이 바람직하다(청구항 11 참조).

본 발명에서는 커넥터가 갖는 복수의 핀 중의 한쌍의 검출용 핀을 서로 전기적으로 접속하고 있다. 그러므로, 커넥터의 삽입 후에, 한쪽의 검출용 핀으로부터 입력한 검출용 신호가 다른쪽의 검출용 핀으로부터 출력된 것을 확인함으로써, 전력 공급 전에, 앞서 삽입된 커넥터가 본래 삽입되어야 할 커넥터인 것을 확인할 수 있으므로, 커넥터의 오삽입을 방지할 수가 있다.

도 1은 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치의 개략 단면도.
도 2는 본 발명의 실시형태에서의 테스트 헤드의 개략 단면도.
도 3은 도 2에 도시한 테스트 헤드의 분해도.
도 4는 본 발명의 실시형태에서의 소켓 보드, 케이블 및 퍼포먼스 보드의 접속관계를 도시한 도면.
도 5는 본 발명의 실시형태에서의 오삽입 검출장치를 도시한 블록도.
도 6은 본 발명의 실시형태에서의 커넥터 오삽입의 검출용 경로를 도시한 도면.
도 7은 본 발명의 실시형태에서 커넥터가 오삽입된 경우의 접속관계의 일례를 도시한 도면.
도 8은 본 발명의 실시형태에서 다른 사양의 케이블이 잘못 접속된 경우의 접속관계의 일례를 도시한 도면.
도 9는 본 발명의 다른 실시형태에서의 퍼포먼스 보드와 케이블의 접속관계를 도시한 도면.

이하, 본 발명의 실시형태를 도면에 기초하여 설명한다.

도 1은 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치의 개략 단면도, 도 2는 본 발명의 실시형태에서의 테스트 헤드의 개략 단면도, 도 3은 도 2에 도시한 테스트 헤드의 분해도이다.

본 실시형태에서의 전자부품 시험장치는 도 1에 도시한 바와 같이, DUT와 전기적으로 접속되는 테스트 헤드(10)와, 테스트 헤드(10)를 통하여 DUT에 시험신호를 송출하는 동시에 응답신호를 검사하는 테스터(2)와, DUT를 테스트 헤드(10)상으로 순차 반송하고, 테스트가 종료된 DUT를 시험결과에 따라 분류하는 핸들러(1)를 구비하고 있다. 상기 전자부품 시험장치는 DUT에 고온 또는 저온의 열스트레스를 인가한 상태(혹은 상온상태)에서, DUT가 적절하게 동작하는지의 여부를 시험하여, 그 시험결과에 따라 DUT를 분류하는 장치이다.

도 1에 도시한 바와 같이, 테스트 헤드(10)의 상부에는 테스트시에 DUT에 전기적으로 접촉하는 소켓(33)이 설치되어 있다. 상기 소켓(33)은 도 1에 도시한 바와 같이, 핸들러(1)에 형성된 개구(1a)를 통하여 핸들러(1)의 내부로 들어가 있고, 반송되어 온 DUT가 핸들러(1)에 의해 소켓(33)에 밀착된다. 한편, 핸들러(1)로는 히트플레이트 타입이나 챔버 타입의 것을 사용할 수 있다.

테스트 헤드(10)는 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 테스트 헤드 본체(11)와 하이픽스(15)(인터페이스 장치)를 구비하고 있다. 테스트 헤드 본체(11)의 내부에는 DUT의 시험에 사용되는 전자회로가 조립된 핀 일렉트로닉스 카드(12)가 수용되어 있다. 핀 일렉트로닉스 카드(12)는 도 1에 도시한 케이블(3)을 통하여, 테스터(2)에 전기적으로 접속되어 있는 동시에, 커넥터(13),(16)를 통하여, 하이픽스(15)에 착탈 가능하게 접속되어 있다.

하이픽스(15)는 테스트 헤드 본체(11)와 퍼포먼스 보드(20)(후술)의 사이를 전기적으로 중계하기 위하여, 테스트 헤드 본체(11)상에 장착되어 있다. 상기 하이픽스(15)의 상부에는 퍼포먼스 보드(20)와 전기적으로 접속하기 위한 커넥터(17)가 설치되어 있다. 하이픽스(15)가 갖는 커넥터(16),(17)는 케이블(18)을 통하여 전기적으로 접속되어 있다.

본 실시형태에서의 테스트 헤드(10)는 소켓 보드(30)와 퍼포먼스 보드(20)를 더 구비하고 있다.

퍼포먼스 보드(20)는 하이픽스(15)상에 장착되어 있고, 제2 기판(21)과, 제2 기판(21)의 윗면에 실장된 제4 커넥터(24)와, 제2 기판(21)의 아랫면에 실장된 커넥터(23)를 구비하고 있다. 커넥터(23),(24)는 제2 기판(21)에 형성된 배선패턴이나 스루홀(미도시)을 통하여 전기적으로 접속되어 있다. 하측의 커넥터(23)는 하이픽스(15)의 상측의 커넥터(17)에 결합 가능하게 되어 있고, 이들 커넥터(17),(23)가 결합함으로써, 하이픽스(15)와 퍼포먼스 보드(20)가 전기적으로 접속되도록 되어 있다. 한편, 상술한 제4 커넥터(24)는 도 4~도 8을 참조하면서 이후에 설명하는 3개의 제4 커넥터(24A~24C)의 총칭이다. 또한, 도 2 및 도 3에서는 제4 커넥터(24)를 2개밖에 도시하지 않았지만, 실제로는 수십~수백개의 커넥터(24)가 1장의 퍼포먼스 보드(20)에 실장되어 있다.

소켓 보드(30)는 퍼포먼스 보드(20)상에 설치되어 있고, 상술한 소켓(33)이 윗면에 실장된 제1 기판(31)과, 제1 기판(31)의 아랫면에 실장된 복수의 제1 커넥터(35)를 구비하고 있다. 한편, 실제로는 1장의 퍼포먼스 보드(20)상에 1장 혹은 복수장의 소켓 보드(30)가 설치되어 있다. 소켓(33)은 복수의 콘택트핀(34)을 갖고 있고, DUT의 테스트시에 이들 콘택트핀(34)과 DUT로부터 도출하는 단자가 접촉함으로써, 소켓과 DUT가 전기적으로 접속된다. 소켓(33)과 제1 커넥터(35)는 제1 기판(31)에 형성된 배선패턴이나 스루홀(미도시)을 통하여 전기적으로 접속되어 있다. 한편, 상술한 제1 커넥터(35)는 도 4~도 8을 참조하면서 이후에서 설명하는 3개의 제1 커넥터(35A~35C)의 총칭이다. 또한, 도 2 및 도 3에서는 제1 커넥터(35)를 2개밖에 도시하지 않았지만, 실제로는 1장의 소켓 보드(30)에 수십개의 커넥터(35)가 실장되어 있다.

퍼포먼스 보드(20)와 소켓 보드(30)는 케이블(40)을 통하여 전기적으로 접속되어 있다. 상기 케이블(40)의 상단에는 소켓 보드(30)의 제1 커넥터(35)에 결합 가능한 제2 커넥터(43)가 접속되어 있고, 케이블(40)을 소켓 보드(30)로부터 착탈하는 것이 가능하게 되어 있다. 한편, 케이블(40)의 하단에는 퍼포먼스 보드(30)의 제4 커넥터(24)에 결합 가능한 제3 커넥터(45)가 접속되어 있고, 케이블(40)을 퍼포먼스 보드(20)로부터 착탈하는 것이 가능하게 되어 있다. 한편, 상술한 제2 커넥터(43)는 도 4~도 8을 참조하면서 이후에 설명하는 3개의 제2 커넥터(43A~43C)의 총칭이고, 상술한 제3 커넥터(45)도 도 4~도 8을 참조하면서 이후에 설명하는 3개의 제3 커넥터(45A~45C)의 총칭이다. 또한, 상술한 케이블(40)은 도 4~도 8을 참조하면서 이후에 설명하는 3개의 케이블(40A~40C)의 총칭이다.

도 4는 본 발명의 실시형태에서의 소켓 보드, 케이블 및 퍼포먼스 보드의 접속관계를 도시한 도면, 도 5는 본 발명의 실시형태에서의 오삽입 검출장치를 도시한 블록도이다.

이하에, 도 4 및 도 5를 참조하면서, 제1~제4 커넥터의 구성 및 이들 접속관계에 대하여 설명한다. 한편, 이해를 용이하게 하기 위하여, 도 4~도 8에서는 3조의 케이블(40A~40C)에 의해 퍼포먼스 보드(20)와 소켓 보드(30)를 접속하는 경우를 예를 들어 설명하지만, 실제로는 퍼포먼스 보드(20)와 소켓 보드(30)는 수십조의 케이블(40)을 통하여 접속되어 있다.

도 4에 도시한 3개의 제1 커넥터(35A~35C)는 예컨대 절연성의 하우징에 홀드된 8개의 핀(36a~36h)을 갖는 리셉터클형 커넥터이다. 한편, 이하에서, 어느 커넥터에 대해서도, 각각의 커넥터가 갖는 8개의 핀을, 도 4에서 좌측으로부터 우측을 향하여, 제1 핀, 제2 핀, …, 제8 핀으로 부른다. 3개의 제1 커넥터(35A~35C)는 모두 동일 구조를 갖고 있지만, 커넥터의 오삽입을 검출하기 위한 핀(검출용 핀)의 위치가 다르다. 한편, 본 실시형태에서의「검출용 핀」은 커넥터가 갖는 다른 핀과 구성상의 차이는 없고, 그 다른 핀과의 용도가 다름을 명확하게 하기 위하여 편의적으로 사용된 표현이다. 또한, 커넥터가 갖는 핀의 갯수는 특별히 한정되지 않지만, 실제로는 하나의 커넥터에 수십개의 핀이 설치되어 있다.

도 4에서 좌측의 제1 커넥터(35A)에서는 제1 및 제2 핀(36a,36b)(제1 검출용 핀)이 제1 기판(31)에 형성된 검출용 배선패턴(32)을 통하여 서로 직접적으로 접속되어 있다. 한편, 특별히 도시하지 않지만, 제2~제6 핀(36c~36f)도 제1 기판(31)상의 배선패턴에 접속되어 있지만, 이들 핀(36c~36f)끼리는 직접적으로는 접속되어 있지 않다.

상기 좌측의 제1 커넥터(35A)에서는 제1 및 제2 핀(36a,36b)이 제1 및 제2 커넥터(35A,43A)의 오삽입의 검출에 사용되고, 제3~제6 핀(36c~36f)이 DUT의 시험에 사용되고, 제7 및 제8 핀(36g,36h)은 특별히 사용되지 않는다.

이에 대하여, 도 4에서 중앙의 제1 커넥터(35B)에서는 상술한 제1 커넥터(35A)와 다르게, 제3 및 제4 핀(36c,36d)(제1 검출용 핀)이 검출용 배선패턴(32)을 통하여 서로 직접적으로 접속되어 있다. 한편, 특별히 도시하지 않지만, 제1, 제2, 제5 및 제6 핀(36a,36b,36e,36f)도 제1 기판(31)상의 배선패턴에 접속되어 있지만, 이들 핀(36a,36b,36e,36f)끼리는 직접적으로는 접속되어 있지 않다.

상기 중앙의 제1 커넥터(35B)에서는,제3 및 제4 핀(36c,36d)이 제1 및 제2 커넥터(35B,43B)의 오삽입의 검출에 사용되고, 제1, 제2, 제5 및 제6 커넥터(36a,36b,36e,36f)가 DUT의 시험에 사용되고, 제7 및 제8 핀(36g,36h)은 특별히 사용되지 않는다.

한편, 도 4에서 우측의 제1 커넥터(35C)에서는 상술한 제1 커넥터(35A,35B)와 다르게, 제6 및 제7 커넥터(36e,36f)(제1 검출용 핀)가 검출용 배선패턴(32)을 통하여 서로 직접적으로 접속되어 있다. 한편, 특별히 도시하지 않지만, 제1~제4 핀(36a~36d)도 제1 기판(31)상의 배선패턴에 접속되어 있지만, 이들 핀(36a~36d)끼리는 직접적으로는 접속되어 있지 않다.

상기 우측의 제1 커넥터(35c)에서는 제5 및 제6 핀(36e,36f)이 제1 및 제2커넥터(35C,43C)의 오삽입의 검출에 사용되고, 제1~제4 핀(36a~36d)이 DUT의 시험에 사용되고, 제7 및 제8 핀(36g,36h)은 특별히 사용되지 않는다.

이상과 같이, 커넥터마다 검출용 핀의 위치를 변경함으로써, 동일한 소켓 보드(30)에서 동일 형상의 커넥터가 복수의 용도로 사용되더라도 커넥터의 오삽입을 보다 확실하게 방지할 수가 있다. 한편, 3개의 커넥터(35A~35C)에서 검출용 핀의 위치가 모두 중복되지 않도록 설명하였지만, 특별히 이에 한정되지 않는다. 2개의 검출용 핀 중 적어도 한쪽의 검출용 핀의 위치가 다른 커넥터에서의 2개의 검출용 핀의 위치와 다르면 좋다.

도 4에 도시한 3개의 제2 커넥터(43A~43C)는 예컨대 절연성의 하우징에 홀드된 8개의 핀(44a~44h)을 갖는 플러그형 커넥터이다. 3개의 제2 커넥터(43A~43C)는 모두 동일 구조를 갖고 있다. 한편, 제2 커넥터(43A~43C)를 리셉터클형 커넥터로 하여도 좋고, 이 경우에는 제1 커넥터(35A~35C)가 플러그형 커넥터로 된다.

제2 커넥터(43A~43C)의 핀(44a~44h)은 결합시에 제1 커넥터(35A~35C)의 핀(36a~36h)과 각각 접촉하는 것이 가능하게 되어 있다. 따라서, 도 4의 좌측의 제2 커넥터(43A)에서의 제1 및 제2 핀(44a,44b), 중앙의 제2 커넥터(43B)에서의 제3 및 제4 핀(44c,44d), 및 우측의 제2 커넥터(43C)에서는 제5 및 제6 핀(44e,44f)이 본 발명에서의 제2 검출용 핀의 일례에 상당한다.

도 4에서 도시한 3개의 제3 커넥터(45A~45C)도 예컨대 절연성의 하우징에 홀드된 8개의 핀(46a~46h)을 갖는 플러그형 커넥터이고, 모두 동일 구조를 갖고 있다. 도 4에서 좌측의 제3 커넥터(45A)에서는 제1~제6 핀(46a~46f)이 케이블(40A)의 도선(41)을 통하여, 제2 커넥터(43A)의 제1~제6 핀(44a~44f)에 각각 전기적으로 접속되어 있다. 따라서, 도 4의 좌측의 제3 커넥터(45A)에서의 제1 및 제2 핀(46a,46b), 중앙의 제3 커넥터(45B)에서의 제3 및 제4 핀(46c,46d), 및 우측의 제3 커넥터(45C)에서의 제5 및 제6 핀(46e,46f)이 본 발명에서의 제3 검출용 핀의 일례에 상당한다.

좌측의 제3 커넥터(45A)의 제7 및 제8 핀(46g,46h)(제5 검출용 핀)은 케이블(40A)의 검출용 도선(42)을 통하여 서로 전기적으로 접속되어 있다. 한편, 제2 커넥터(43A)에서도 동일하게, 제7 및 제8 핀(44g,44h)이 케이블(40A)의 도선을 통하여 서로 전기적으로 접속되어 있다. 도 4에서 중앙 및 우측의 제3 커넥터(45B,45C)도 동일 요령으로, 케이블(40B,40C)을 통하여 제2 커넥터(43B,43C)에 접속되어 있다. 어느 제3 커넥터(45A~45C)에서도, 제7 및 제8 핀(46g,46h)은 다른 사양의 케이블이 잘못 접속되어 있지 않은지를 검출하기 위하여 사용된다.

도 4에 도시한 3개의 제4 커넥터(24A~24C)는 예컨대 절연성의 하우징에 홀드된 8개의 핀(25a~25h)을 갖는 리셉터클형 커넥터이고, 모두 동일 구조를 갖고 있다. 한편, 제4 커넥터(24A~24C)를 플러그형 커넥터로 하여도 좋고, 이 경우에는 제3 커넥터(45A~45C)가 리셉터클형 커넥터가 된다.

제4 커넥터(24A~24C)의 핀(25a~25h)은 제3 커넥터(45A~45C)의 핀(46a~46h)과 각각 접촉하는 것이 가능하게 되어 있고, 어느 제4 커넥터(24A~24C)에서도 제7 및 제8 핀(25g,25h)(제6 검출용 핀)은 다른 사양의 케이블이 잘못 접속되어 있지 않는지를 검출하기 위하여 사용된다. 이에 대하여, 제1 커넥터(35A~35C)에 대응하여, 각각의 제4 커넥터(24A~24C)에서, 제1~제6 핀(25a~25f) 중 어느 2개의 핀이 커넥터의 오삽입을 검출하기 위하여 사용된다.

도 4에서 좌측의 제4 커넥터(24A)에서는 제1 및 제2 핀(25a,25b)(제4 검출용 핀)이 커넥터의 오삽입의 검출에 사용되고, 제3~제6 핀(25c~25f)이 DUT의 시험에 사용된다. 상기 좌측의 제4 커넥터(24A)에서는 제2 핀(25b)이 제2 기판(21)에 형성된 검출용 배선패턴(22)을 통하여, 제7 핀(25g)에 접속되어 있고, 또한 제8 핀(25h)이 검출용 배선패턴(22)을 통하여, 중앙의 제4 커넥터(24B)의 제3 핀(25c)에 접속되어 있다.

이에 대하여, 도 4에서 중앙의 제4 커넥터(24B)에서는 제3 및 제4 핀(25c,25d)(제4 검출용 핀)이 커넥터의 오삽입의 검출에 사용되고, 제1, 제2, 제5 및 제6 핀(25a,25b,25e,25f)이 DUT의 시험에 사용된다. 상기 중앙의 제4 커넥터(24B)에서는 제4 핀(25d)이 검출용 배선패턴(22)을 통하여 제7 핀(25g)에 접속되어 있고, 또한 제8 핀(25h)이 검출용 배선패턴(22)을 통하여 우측의 제4 커넥터(24C)의 제5 핀(25e)에 접속되어 있다.

한편, 도 4에서 우측의 제4 커넥터(24C)에서는 제5 및 제6 핀(25e,25f)(제 검출용 핀)이 커넥터의 오삽입의 검출에 사용되고, 제1~제4 핀(25a~25d)이 DUT의 시험에 사용된다. 상기 우측의 제4 커넥터(24C)에서는 제6 핀(25f)이 검출용 배선패턴(22)을 통하여 제7 핀(25g)에 접속되어 있다.

한편, 케이블(40A~40C)의 확인이 불필요한 경우에는 제4 커넥터(24A~24C)의 제4 검출용 핀끼리를, 검출용 배선패턴(22)을 통하여 직접 접속하고, 제7 및 제8 핀(25g,25h)을 DUT의 테스트에 사용하여도 좋다.

도 5에 도시한 바와 같이, 좌측의 제4 커넥터(24A)의 제1 핀(25a)과, 우측의 제4 커넥터(24C)의 제8 핀(25h)은 테스터(2)에 설치된 오삽입 검출장치(5)에 접속되어 있다.

상기 오삽입 검출장치(5)는 제1 커넥터(35A~35C)로의 제2 커넥터(43A~43C)의오삽입을 검출하기 위한 장치이고, 입력부(6)와 판단부(7)를 구비하고 있다. 한편, 결과적으로, 상기 오삽입 검출장치(5)는 제4 커넥터(24A~24C)로의 제3 커넥터(45A~45C)의 오삽입도 검출할 수가 있다.

입력부(6)는 좌측의 제4 커넥터(24A)의 제1 핀(25a)에 접속되어 있고, 커넥터의 오삽입을 검출하기 위한 검출용 신호를 제1 핀(25a)에 입력하는 것이 가능하게 되어 있다. 한편, 상기 검출용 신호로서, 테스트 헤드 본체(11)에 하이픽스(15)가 장착되어 있는지의 여부를 확인하기 위한 확인용 신호를 사용하여도 좋다.

판단부(7)는 우측의 제4 커넥터(24C)의 제8 핀(25h)에 접속되어 있고, 입력부(6)가 입력한 검출용 신호가 제8 핀(25h)으로부터 출력되는지의 여부를 확인하는 것이 가능하게 되어 있다. 검출용 신호의 출력이 확인된 경우, 판단부(7)는 테스터(2)의 전력공급부(4)에 대하여, DUT의 테스트를 위한 전력 공급을 허가한다. 이에 대하여, 검출용 신호의 출력이 확인되지 않은 경우에는 판단부(7)는 전력공급부(4)에 대하여 테스트용 전력 공급을 허가하지 않는다.

다음에 작용에 대하여 설명한다.

도 6은 본 발명의 실시형태에서의 오삽입 검출용 경로를 도시한 도면, 도 7은 본 발명의 실시형태에서 커넥터가 오삽입된 경우의 접속관계의 일례를 도시한 도면, 도 8은 본 발명의 실시형태에서 다른 사양의 케이블이 잘못 접속된 경우의 일례를 도시한 도면이다.

먼저, 도 4에 도시한 예에서, 모든 커넥터가 바르게 삽입된 경우에 대하여, 도 6을 참조하면서 설명한다.

도 6에 도시한 바와 같이, 제2 커넥터(43A~43C)가 제1 커넥터(35A~35C)에 각각 삽입되는 동시에, 제3 커넥터(45A~45C)가 제4 커넥터(24A~24C)에 각각 삽입되면, 좌측의 제4 커넥터(24A)의 제1 핀(25a)과, 우측의 제4 커넥터(24C)의 제8 핀(25h)의 사이에, 모든 검출용 핀을 직렬 접속한 오삽입 검출용 경로(50)가 형성된다. 그 상태에서, 오삽입 검출장치(5)의 입력부(6)가 검출용 신호를 입력하면, 그 검출용 신호가 오삽입 검출용 경로(50)를 통하여 판단부(7)로 출력되고, 판단부(7)는 전원공급부(6)에 대하여 테스트용 전력의 공급을 허가한다. 한편, 오삽입 검출용 경로를 복수 형성하여도 좋고, 각각의 커넥터의 오삽입을 개별로 검출할 수 있도록, 커넥터마다 오삽입 검출용 경로를 형성하여도 좋다.

이에 대하여, 예컨대 도 7에 도시한 바와 같이, 좌측의 제1 커넥터(35A)에 본래 삽입해야 하는 제2 커넥터(43A)를 중앙의 제1 커넥터(35B)에 잘못 삽입하는 동시에, 중앙의 제1 커넥터(35B)에 삽입해야 할 제2 커넥터(43B)를 좌측의 제1 커넥터(35A)에 잘못 삽입한 경우에는 중앙의 제1 커넥터(35B)의 제1 핀(36a)과 제2 핀(36b)이 서로 접속되어 있지 않기 때문에, 오삽입 검출용 경로(50)가 형성되지 않는다.

또한, 예컨대 도 8에 도시한 바와 같이, 중앙의 케이블로서, 검출용 도선(42)을 갖고 있지 않는 케이블(40')을 잘못 사용한 경우에는 중앙의 제2 커넥터(45B)의 제7 핀(46g)과 제8 핀(46h)의 사이에서 오삽입 검출용 경로(50)가 차단된다.

도 7이나 도8에 도시한 바와 같은 경우에는, 오삽입 검출장치(5)의 입력부(6)가 검출용 신호를 입력하더라도, 그 검출용 신호가 판단부(7)로 출력되지 않기 때문에, 판단부(7)는 전원공급부(6)에 대하여 테스트용 전력의 공급을 허가하지 않는다.

이상과 같이, 본 실시형태에서는 제1 커넥터(35A~35C)가 갖는 복수의 핀(36a~36h) 중의 한쌍의 검출용 핀을 서로 전기적으로 접속하고 있다. 이러므로, 커넥터의 삽입 후에, 한쪽의 검출용 핀으로부터 검출용 신호를 입력하고, 그 검출용 신호가 다른쪽의 검출용 핀으로부터 출력된 것을 확인함으로써, 테스트용 전력을 공급하기 전에, 앞서 삽입된 커넥터가 본래 삽입되어야 할 커넥터인 것을 확인할 수가 있다.

또한, 본 실시형태에서는 제3 커넥터(45A~45C)가 갖는 복수의 핀(46a~46h) 중 한쌍의 검출용 핀을 서로 전기적으로 접속하고 있다. 이러므로, 커넥터의 삽입 후에, 한쪽의 검출용 핀으로부터 검출용 신호를 입력하고, 그 검출용 신호가 다른쪽의 검출용 핀으로부터 출력되는 것을 확인함으로써, 올바른 사양의 케이블이 접속되어 있는 것을 확인할 수가 있다.

한편, 이상 설명한 실시 형태는 본 발명의 이해를 용이하게 하기 위해 기재된 것으로서, 본 발명을 한정하기 위해 기재된 것은 아니다. 따라서, 상기 실시 형태에 개시된 각 요소는 본 발명의 기술적 범위에 속하는 모든 설계 변경이나 균등물을 포함하는 취지이다.

예컨대, 제3 및 제4 커넥터(45,24)를 사용하지 않고, 케이블(40)의 하단을 납땜 등에 의해 제2 기판(21)상의 배선패턴에 직접 접속하여도 좋다.

또한, 퍼포먼스 보드(20)의 제4 커넥터(24)에, 서로 전기적으로 접속된 한쌍의 검출용 핀을 설치하고, 제4 커넥터(24)로의 제3 커넥터(46)의 오삽입의 검출을 수행하여도 좋다. 예컨대, 도 9에 도시한 예에서는, 제4 커넥터(24)에서의 제1 및 제2 핀(25a,25b)(제 검출용 핀)이, 제4 커넥터(24)로의 제3 커넥터(45)의 오삽입의 검출을 위하여 사용된다. 도 9에 도시한 바와 같이, 제4 커넥터(24)의 제1 핀(25a)과 제2 핀(25b)은 퍼포먼스 보드(20)의 제2 기판(21)에 형성된 검출용 배선패턴(22)을 통하여, 서로 전기적으로 접속되어 있다. 한편, 그 경우에는 본 실시형태에서의 제4 커넥터(24)가 본 발명에서의 제1 커넥터의 일례에 상당하고, 본 실시형태에서의 제3 커넥터(45)가 본 발명에서의 제2 커넥터의 일례에 상당한다. 또한, 특별히 도시하지 않지만, 커넥터마다 검출용 핀의 위치를 변경함으로써, 커넥터의 오삽입을 보다 확실하게 방지할 수가 있다. 나아가서, 그 경우에는 제1 및 제2 커넥터(35,43)를 사용하지 않고, 케이블(40)의 상단을 납땜 등에 의해 제1 기판(31)상의 배선패턴에 직접 접속하여도 좋다.

2…테스터
5…오삽입 검출장치
6…입력부
7…판단부
10…테스트 헤드
20…퍼포먼스 보드
21…제2 기판
22…검출용 배선패턴
24,24A~24C…제4 커넥터
30…소켓 보드
31…제1 기판
32…검출용 배선패턴
35,35A~35C…제1 커넥터
40,40A~40C…케이블
41…도선
42…검출용 도선
43,43A~43C…제2 커넥터
45,45A~45C…제3 커넥터
50…오삽입 검출용 경로

Claims

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제1 도체배선이 형성된 제1 기판 및 상기 제1 기판에 실장된 복수의 제1 커넥터를 갖는 제1 회로보드와,
상기 제1 커넥터와 결합 가능한 제2 커넥터를 일단에 각각 갖는 복수의 케이블을 구비한 회로보드 어셈블리로서,
상기 제1 커넥터가 각각 갖는 복수의 제1 핀은 상기 제1 도체배선을 통하여 서로 전기적으로 접속된 한쌍의 제1 검출용 핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 회로보드 어셈블리.
청구항 3에 있어서,
상기 제1 커넥터에서의 상기 제1 검출용 핀 중의 적어도 한쪽의 제1 검출용 핀의 위치가, 상기 복수의 제1 커넥터 중의 다른 제1 커넥터에서의 제1 검출용 핀의 위치와 다르게 되어 있는 것을 특징으로 하는 회로보드 어셈블리.
청구항 3에 있어서,
상기 복수의 케이블은 제3 커넥터를 타단에 각각 갖고,
상기 회로보드 어셈블리는 제2 도체배선이 형성된 제2 기판 및 상기 제2 기판에 실장되고, 상기 제3 커넥터와 결합 가능한 복수의 제4 커넥터를 갖는 제2 회로보드를 더 구비한 것을 특징으로 하는 회로보드 어셈블리.
청구항 5에 있어서,
상기 제2 커넥터가 각각 갖는 복수의 제2 핀은 상기 제1 검출용 핀에 대응하는 위치에 배치된 한쌍의 제2 검출용 핀을 포함하고,
상기 제3 커넥터가 각각 갖는 복수의 제3 핀은 상기 케이블의 도선을 통하여 상기 제2 검출용 핀에 전기적으로 접속된 한쌍의 제3 검출용 핀을 포함하고,
상기 제4 커넥터가 갖는 복수의 제4 핀은 상기 제3 검출용 핀에 대응하는 위치에 배치된 한쌍의 제4 검출용 핀을 포함하고 있고,
상기 제4 검출용 핀의 한쪽은 상기 제2 도체배선을 통하여 다른 제4 커넥터의 제4 검출용 핀에 전기적으로 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 회로보드 어셈블리.
청구항 6에 있어서,
상기 제2 회로보드에서의 모든 상기 제4 검출용 핀의 조합이 상기 제2 도체배선을 통하여 직렬 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 회로보드 어셈블리.
청구항 6에 있어서,
상기 제3 핀은 상기 케이블의 도선을 통하여 서로 전기적으로 접속된 한쌍의 제5 검출용 핀을 더 포함하고,
상기 제4 핀은 상기 제5 검출용 핀에 대응하는 위치에 배치된 한쌍의 제6 검출용 핀을 더 포함하고 있고,
상기 제4 검출용 핀의 한쪽은 상기 제5 및 제6 검출용 핀을 통하여, 다른 제4 커넥터가 갖는 제4 검출용 핀에 전기적으로 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 회로보드 어셈블리.
청구항 3에 있어서,
제2 도체배선이 형성된 제2 기판을 갖는 제2 회로보드를 더 구비하고 있고,
상기 복수의 케이블의 타단은 상기 제2 기판에 직접 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 회로보드 어셈블리.
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