CN104021747A - 面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法 - Google Patents

面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法 Download PDF

Info

Publication number
CN104021747A
CN104021747A CN201410222852.5A CN201410222852A CN104021747A CN 104021747 A CN104021747 A CN 104021747A CN 201410222852 A CN201410222852 A CN 201410222852A CN 104021747 A CN104021747 A CN 104021747A
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
electronic circuit
test
electrostatic
display panel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201410222852.5A
Other languages
English (en)
Inventor
李付强
李成
安星俊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201410222852.5A priority Critical patent/CN104021747A/zh
Publication of CN104021747A publication Critical patent/CN104021747A/zh
Priority to US14/500,433 priority patent/US10109225B2/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • H—ELECTRICITY
    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H1/00—Details of emergency protective circuit arrangements
    • H02H1/0007—Details of emergency protective circuit arrangements concerning the detecting means
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/04—Display protection
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/06—Handling electromagnetic interferences [EMI], covering emitted as well as received electromagnetic radiation
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

本发明公开了面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法，以解决现有技术中显示面板的面板测试电路和静电防护电路占用较多的布线空间的问题。所述面板功能测试电路，包括与显示面板的同一条数据线电连接的第一子电路和第二子电路；所述第一子电路和所述第二子电路，用于为测试状态的显示面板的所述数据线提供测试信号；或者，用于对工作状态的显示面板的所述数据线传输的静电信号进行静电放电。本发明实施例中，面板功能测试电路兼容静电防护功能，减少元器件的数量和相应的走线，从而节省布线空间。

Description

面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法
技术领域
本发明涉及液晶显示领域，尤其涉及一种面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等特点，近年来得到了迅速地发展，在当前的平板显示器市场中占据了主导地位。目前，TFT-LCD在各种大中小尺寸的产品上得到了广泛的应用，几乎涵盖了当今信息社会的主要电子产品，如液晶电视、高清晰度数字电视、电脑(台式和笔记本)、手机、PDA、GPS、车载显示、投影显示、摄像机、数码相机、电子手表、计算器、电子仪器、仪表、公共显示和虚幻显示等。
目前TFT-LCD的显示面板生产线主要分为阵列(Array)、彩膜(ColorFilter，CF)、成盒(Cell)和模组(Module)四个主要的工作段：Array段负责TFT阵列基板的制成，主要负责TFT阵列基板上金属层信号线和各个像素电容单元的制成，；CF段主要负责CF基板上黑矩阵(Black Matrix，BM)层、RGB层以及透明导电层等的制成；Cell段的工序负责将制作好的TFT阵列基板和CF基板利用封框胶贴合在一起，形成一个完整的，闭合的Panel(液晶屏)，其中主要包括配向膜的印刷，配向膜取向制成，液晶滴入，封框胶固化等几步，在Cell段大玻璃基板(母板玻璃)贴合好以后将进行切割，得到小块的单元液晶屏，之后对单元液晶屏进行点屏检测(Cell Test)，Cell Test检测工序的目的是检测液晶屏在Array和Cell段出现的不良，主要包括各种斑(Mura)、区块(Block)、Cell污渍、亮线等不良；Module段主要包括将制作好的单元液晶屏贴上偏光片和PCB驱动电路后，与背光源组装，形成一个最终的显示模组成品。通常，显示面板需要设置用于Cell Test的面板测试电路。
在显示面板正常工作时，还会存在静电防电(Electrostatic Discharge，ESD)现象，静电放电是造成大多数电子组件或电子***受到过度电性应力(ElectricalOverstress，EOS)破坏的主要因素，这种破坏会导致半导体器件永久性的损坏，从而导致集成电路功能的失效，因此，显示面板还需要设置用于在正常显示时的静电防护电路，该静电防护电路与显示面板中的信号线电连接。
但是，由于需要设置上述的面板测试电路和静电防护电路，因此需要占用较多的布线空间。
发明内容
本发明的目的是提供一种面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法，以解决显示面板的面板测试电路的静电防护电路占用较多的布线空间的问题。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的：
本发明实施例提供一种面板功能测试电路，包括与显示面板的同一条数据线电连接的第一子电路和第二子电路；
所述第一子电路和所述第二子电路，用于为测试状态的显示面板的所述数据线提供测试信号；或者，用于对工作状态的显示面板的所述数据线传输的静电信号进行静电放电。
本发明实施例中，面板功能测试电路可以作为后续显示面板工作状态时的静电防护电路，即在不增加元件的情况下将功能测试电路和静电防护电路这两个电路的功能由一个电路完成，从而减小元器件和走线空间的占用。
优选的，所述第一子电路具体用于，根据其第一端接入的第一控制信号和其第二端接入的所述测试信号，由其第三端向所述数据线提供所述测试信号；或者，根据其第一端接入的第二控制信号和其第二端接入的第一电平信号，对其第三端接收的所述数据线传输的高电平静电信号进行放电；
所述第二子电路具体用于，根据其第一端接入的所述第二控制信号和其第二端接入的测试信号，由其第三端向所述数据线提供所述测试信号；或者，根据其第一端接入的所述第一控制信号和其第二端接入的第二电平信号，对其第三端接收的所述数据线传输的低电平静电信号进行放电。
本实施例中，第一子电路和第二子电路均能为显示面板的功能测试提供测试信号，在显示面板工作时又可以分别作为正的静电放电路和负的静电放电路。
优选的，所述第一子电路包括第一晶体管，所述第二子电路包括第二晶体管；
所述第一晶体管的栅极为所述第一子电路的第一端，其源极为所述第一子电路的第二端，其漏极为所述第一子电路的第三端；
所述第二晶体管的栅极为所述第二子电路的第一端，其源极为所述第二子电路的第二端，其漏极为所述第二子电路的第三端。
本实施例中，第一子电路为第一晶体管，第二子电路为第二晶体管，电路容易实现且构造简单。
优选的，所述第一晶体管为PMOS晶体管，所述第二晶体管为NMOS晶体管。
优选的，所述第一控制信号为低电平信号，所述第二控制信号为高电平信号；所述第一电平信号为高电平信号，所述第二电平信号为低电平信号。
本发明实施例有益效果如下：通过整合面板功能测试电路和静电防护电路，使面板功能测试电路在显示面板进行功能测试时提供测试信号，在显示面板工作时，提供静电防护，从而减小元器件和走线空间的占用。
本发明实施例提供一种显示面板，包括多条数据线，如上所述的功能测试电路。
本发明实施例有益效果如下：通过整合面板功能测试电路和静电防护电路，使面板功能测试电路在显示面板进行功能测试时提供测试信号，在显示面板工作时，提供静电防护，从而减少元器件的数量并节省走线空间。
本发明实施例提供一种显示面板的功能测试方法，采用如上所述的功能测试电路，包括：
由第一子电路的第一端输入第一控制信号，其第二端输入测试信号，其第三端为显示面板的数据线提供所述测试信号；和/或，
由第二子电路的第一端输入第二控制信号，其第二端输入测试信号，其第三端为显示面板的数据线提供所述测试信号。
优选的，所述第一子电路为PMOS晶体管，由第一子电路的第一端输入第一控制信号，其第二端输入测试信号，其第三端为显示面板的数据线提供所述测试信号，具体包括：
由所述PMOS晶体管的栅极输入所述第一控制信号，其源极输入所述测试信号，所述漏极为显示面板的所述数据线提供所述测试信号。
优选的，所述第二子电路为NMOS晶体管，由第二子电路的第一端输入第二控制信号，其第二端输入测试信号，其第三端为显示面板的数据线提供所述测试信号，具体包括：
由所述NMOS晶体管的栅极输入所述第二控制信号，其源极输入所述测试信号，所述漏极为显示面板的所述数据线提供所述测试信号。
优选的，所述第一控制信号为低电平信号，所述第二控制信号为高电平信号。
本发明实施例有益效果如下：面板功能测试电路兼具功能测试和静电防护的功能，第一子电路和第二子电路在显示面板进行功能测试均可以提供测试信号，不需要提供单独的功能测试电路，从而减少元器件的数量并节省走线空间。
本发明实施例提供一种显示面板的静电防护方法，采用如上所述的功能测试电路，包括：
由所述功能测试电路的第一子电路的第一端输入用于控制所述第一子电路关断的第二控制信号，其第二端输入第一电平信号；以及，由所述第二子电路的第一端输入用于控制所述第二子电路关断的第一控制信号，其第二端输入第二电平信号；
当所述数据线传输的静电信号到来时，所述第一子电路或所述第二子电路对所述静电信号进行静电放电。
优选的，所述第一子电路为PMOS晶体管，所述第二子电路为NMOS晶体管；
所述第一控制信号为低电平信号，所述第二控制信号为高电平信号；
所述第一电平信号为高电平信号，所述第二电平信号为低电平信号。
优选的，当所述数据线传输的静电信号到来时，所述第一子电路或所述第二子电路对所述静电信号进行静电放电，包括：
若所述静电信号为高电平静电信号，且所述静电信号的电平大于所述第二控制信号的电平，所述第一子电路对所述静电信号进行静电放电；
若所述静电信号为低电平静电信号，且所述静电信号的电平小于所述第一控制信号的电平，所述第二子电路对所述静电信号进行静电放电。
本发明实施例有益效果如下：面板功能测试电路兼具功能测试和静电防护的功能，由第一子电路和第二子电路在显示面板工作时，分别提供正的静电放电和负的静电放电，不需要提供单独的静电防护电路，从而减少元器件的数量并节省走线空间。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种面板功能测试电路的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的一种面板功能测试电路的具体结构示意图；
图3为本发明实施例提供的面板功能测试电路用于显示面板功能测试的示意图；
图4为本发明实施例提供的面板功能测试电路用于静电防护的示意图；
图5为本发明实施例提供的静电防护的方法的流程图。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本发明实施例的实现过程进行详细说明。需要注意的是，自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
基于提高显示面板的良品率的考虑，在显示面板生产中会进行多种测试。通常多个显示面板为一个生产单元进行，即多个显示面板在切割前是一个整体，点屏检测是在显示面板切割前进行测试，由面板功能测试电路完成。而在切割成单独的显示面板后，该单独的显示面板还需要一个能够确保其稳定工作状态的静电防护电路。因此，现有技术中面板功能测试和静电防护由两个电路完成，占用较多的元器件空间和走线空间。为了解决上述问题，本发明实施例提供一种面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法，具体如下：
参考图1，本发明实施例提供一种面板功能测试电路100，包括与显示面板的同一条数据线data电连接的第一子电路101和第二子电路102；
第一子电路101和第二子电路102，为测试状态的显示面板的所述数据线提供测试信号；或者，用于对工作状态的显示面板的所述数据线传输的静电信号进行静电放电。
本发明实施例中，面板功能测试电路100可以作为后续显示面板工作状态时的静电防护电路，即在不增加元件的情况下将功能测试电路和静电防护电路这两个电路的功能由一个电路完成，从而减小元器件和走线空间的占用。
优选的，第一子电路101具体用于，根据其第一端A1接入的第一控制信号和其第二端A2接入的测试信号，由其第三端A3向数据线提供测试信号；或者，根据其第一端A1的第二控制信号和其第二端A2接入第一电平信号，对其第三端A3接收的数据线传输的静电信号进行放电；
第二子电路102具体用于，根据其第一端B1接入的第二控制信号和其第二端B2接入的测试信号，由其第三端B3向数据线提供测试信号；或者，根据其第一端B1接入的第一控制信号和其第二端B2接入的第二电平信号，对其第三端B3接收的数据线传输的静电信号进行放电。
本实施例中，第一子电路101和第二子电路102均能为显示面板的功能测试提供测试信号，在显示面板工作时又可以分别作为正的静电放电路和负的静电放电路。
参见图2，提供了较具体的面板功能测试电路100的示意图。其中，第一子电路101包括第一晶体管M1，第二子电路102包括第二晶体管M2；
第一晶体管M1的栅极为第一子电路101的第一端A1，其源极为第一子电路101的第二端A2，其漏极为第一子电路101的第三端A3；
第二晶体管M2的栅极为第二子电路102的第一端B1，其源极为第二子电路102的第二端B2，其漏极为第二子电路102的第三端B3。
本实施例中，第一子电路101为第一晶体管M1，第二子电路102为第二晶体管M2，电路容易实现且构造简单。
参见图3，示出了该面板功能测试电路100用于显示面板的功能测试的示意图。在此，以第一子电路101为第一晶体管M1，第一晶体管M1为PMOS晶体管，第二子电路102为第二晶体管M2，第二晶体管M2为NMOS晶体管为例进行说明：
第一晶体管M1的漏极(第一子电路101的第三端A3)和第二晶体管M2的漏极(第二子电路102的第三端B3)均与显示面板的同一数据线data电连接。
由第一晶体管M1的栅极(第一子电路101的第一端A1)接入低电平信号VGL，第一晶体管M1的源极(第一子电路101的第二端A2)接入测试信号，因此，第一晶体管M1导通，从而将测试信号ds提供给数据线data。
由第二晶体管M2的栅极(第二子电路102的第一端B1)接入高电平信号VGH，第二晶体管M2的源极(第二子电路102的第二端B2)接入测试信号，因此，第二晶体管M2导通，从而将测试信号ds提供给数据线data。
即，第一子电路101和第二子电路102同时为一数据线data提供相同的测试信号。基于本实施例对显示面板进行测试的原理，在显示面板进行功能测试时，可以仅采用第一子电路101，或仅采用第二子电路102，在此不再赘述。
在上述各实施例中，优选的，第一控制信号为低电平信号，第二控制信号为高电平信号；第一电平信号为高电平信号，第二电平信号为低电平信号。
参见图4，示出了该面板功能测试电路100用于显示面板的静电防护的示意图，在此，以第一子电路101为第一晶体管M1，第一晶体管M1为PMOS晶体管，第二子电路102为第二晶体管M2，第二晶体管M2为NMOS晶体管为例进行说明：
由第一晶体管M1的栅极(第一子电路101的第一端A1)和第一晶体管M1的源极(第一子电路101的第二端A2)均接入高电平信号VGH，例如+5V电平信号。
由第二晶体管M2的栅极(第二子电路102的第一端B1)和第二晶体管M2的源极(第二子电路102的第二端B2)均接入低电平信号VGL，例如-5V电平信号，当然第二晶体管M2的栅极接入的低电平信号与源极接入的低电平信号可以相同，也可以不同，通常为了简化实施，可以接相同的低电平信号。
例如，当数据线data有+50V的高电平静电信号时，此时第一晶体管M1的漏极电压+50V高于栅极电压+5V，即栅极电路低相对于漏极电路为负电压，因此第一晶体管M1导通，从而第二晶体管M2对该高电平静电信号进行放电。
又例如，当数据线data有-50V的低电平静电信号时，此时第二晶体管M2的漏极电压-50V低于栅极电压-5V，即栅极电路低相对于漏极电路为正电压，因此第二晶体管M2导通，从而第二晶体管M2对该低电平静电信号进行放电。
本发明实施例有益效果如下：通过整合面板测试电路和静电防护电路，使显示面板正常显示时，面板功能测试电路根据输入信号的改变，提供静电防护的功能，减少元器件的数量和相应的走线，从而节省布线空间。
本发明实施例提供一种显示面板，包括多条数据线，如上所述的功能测试电路。
本发明实施例有益效果如下：通过整合面板功能测试电路和静电防护电路，使面板功能测试电路在显示面板进行功能测试时提供测试信号，在显示面板工作时，提供静电防护，从而减少元器件的数量并节省走线空间。
本发明实施例提供一种显示面板的功能测试方法，采用如上所述的功能测试电路，包括：
由第一子电路的第一端输入第一控制信号，其第二端输入测试信号，其第三端为显示面板的数据线提供测试信号；和/或，由第二子电路的第一端输入第二控制信号，其第二端输入测试信号，其第三端为显示面板的数据线提供测试信号。
优选的，第一子电路为PMOS晶体管，由第一子电路的第一端输入第一控制信号，其第二端输入测试信号，其第三端为显示面板的数据线提供测试信号，具体包括：
由PMOS晶体管的栅极输入第一控制信号，其源极输入测试信号，漏极为显示面板的数据线提供测试信号。
优选的，第二子电路为NMOS晶体管，由第二子电路的第一端输入第二控制信号，其第二端输入测试信号，其第三端为显示面板的数据线提供测试信号，具体包括：
由NMOS晶体管的栅极输入第二控制信号，其源极输入测试信号，漏极为显示面板的数据线提供测试信号。
优选的，第一控制信号为低电平信号，第二控制信号为高电平信号。
本发明实施例有益效果如下：面板功能测试电路兼具功能测试和静电防护的功能，第一子电路和第二子电路在显示面板进行功能测试均可以提供测试信号，不需要提供单独的功能测试电路，从而减少元器件的数量并节省走线空间。
参见图5，本发明实施例提供一种显示面板的静电防护方法，采用如上所述的功能测试电路，包括：
501、由功能测试电路的第一子电路的第一端输入用于控制第一子电路关断的第二控制信号，其第二端输入第一电平信号；以及，由第二子电路的第一端输入用于控制第二子电路关断的第一控制信号，其第二端输入第二电平信号。
502、当数据线传输的静电信号到来时，第一子电路或第二子电路对静电信号进行静电放电。
优选的，第一子电路为PMOS晶体管，第二子电路为NMOS晶体管；
第一控制信号为低电平信号，第二控制信号为高电平信号；
第一电平信号为高电平信号，第二电平信号为低电平信号。
优选的，步骤502中，当数据线传输的静电信号到来时，第一子电路或第二子电路对静电信号进行静电放电，具体包括：
若静电信号为高电平静电信号，且静电信号的电平大于第二控制信号的电平，第一子电路对静电信号进行静电放电；
若静电信号为低电平静电信号，且静电信号的电平小于第一控制信号的电平，第二子电路对静电信号进行静电放电。
本发明实施例有益效果如下：面板功能测试电路兼具功能测试和静电防护的功能，由第一子电路和第二子电路在显示面板工作时，分别提供负的静电放电和正的静电放电，不需要提供单独的静电防护电路，从而减少元器件的数量并节省走线空间。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (13)

1.一种面板功能测试电路，其特征在于，包括与显示面板的同一条数据线电连接的第一子电路和第二子电路；
所述第一子电路和所述第二子电路，用于为测试状态的显示面板的所述数据线提供测试信号；或者，用于对工作状态的显示面板的所述数据线传输的静电信号进行静电放电。
2.如权利要求1所述的面板功能测试电路，其特征在于，所述第一子电路具体用于，根据其第一端接入的第一控制信号和其第二端接入的所述测试信号，由其第三端向所述数据线提供所述测试信号；或者，根据其第一端接入的第二控制信号和其第二端接入的第一电平信号，对其第三端接收的所述数据线传输的高电平静电信号进行放电；
所述第二子电路具体用于，根据其第一端接入的所述第二控制信号和其第二端接入的测试信号，由其第三端向所述数据线提供所述测试信号；或者，根据其第一端接入的所述第一控制信号和其第二端接入的第二电平信号，对其第三端接收的所述数据线传输的低电平静电信号进行放电。
3.如权利要求2所述的面板功能测试电路，其特征在于，所述第一子电路包括第一晶体管，所述第二子电路包括第二晶体管；
所述第一晶体管的栅极为所述第一子电路的第一端，其源极为所述第一子电路的第二端，其漏极为所述第一子电路的第三端；
所述第二晶体管的栅极为所述第二子电路的第一端，其源极为所述第二子电路的第二端，其漏极为所述第二子电路的第三端。
4.如权利要求3所述的面板功能测试电路，其特征在于，所述第一晶体管为PMOS晶体管，所述第二晶体管为NMOS晶体管。
5.如权利要求4所述的面板功能测试电路，其特征在于，所述第一控制信号为低电平信号，所述第二控制信号为高电平信号；
所述第一电平信号为高电平信号，所述第二电平信号为低电平信号。
6.一种显示面板，包括多条数据线，其特征在于，包括如权利要求1至5任一项所述的功能测试电路。
7.一种显示面板的功能测试方法，采用如权利要求1至5任一项所述的功能测试电路，其特征在于，包括：
由第一子电路的第一端输入第一控制信号，其第二端输入测试信号，其第三端为显示面板的数据线提供所述测试信号；和/或，
由第二子电路的第一端输入第二控制信号，其第二端输入测试信号，其第三端为显示面板的数据线提供所述测试信号。
8.如权利要求7所述的功能测试方法，其特征在于，所述第一子电路为PMOS晶体管，由第一子电路的第一端输入第一控制信号，其第二端输入测试信号，其第三端为显示面板的数据线提供所述测试信号，具体包括：
由所述PMOS晶体管的栅极输入所述第一控制信号，其源极输入所述测试信号，所述漏极为显示面板的所述数据线提供所述测试信号。
9.如权利要求7所述的功能测试方法，其特征在于，所述第二子电路为NMOS晶体管，由第二子电路的第一端输入第二控制信号，其第二端输入测试信号，其第三端为显示面板的数据线提供所述测试信号，具体包括：
由所述NMOS晶体管的栅极输入所述第二控制信号，其源极输入所述测试信号，所述漏极为显示面板的所述数据线提供所述测试信号。
10.如权利要求7至9任一项所述的功能测试方法，其特征在于，所述第一控制信号为低电平信号，所述第二控制信号为高电平信号。
11.一种显示面板的静电防护方法，采用如权利要求2至5任一项所述的功能测试电路，其特征在于，包括：
由所述功能测试电路的第一子电路的第一端输入用于控制所述第一子电路关断的第二控制信号，其第二端输入第一电平信号；以及，由所述第二子电路的第一端输入用于控制所述第二子电路关断的第一控制信号，其第二端输入第二电平信号；
当所述数据线传输的静电信号到来时，所述第一子电路或所述第二子电路对所述静电信号进行静电放电。
12.如权利要求11所述的的静电防护方法，其特征在于，所述第一子电路为PMOS晶体管，所述第二子电路为NMOS晶体管；
所述第一控制信号为低电平信号，所述第二控制信号为高电平信号；
所述第一电平信号为高电平信号，所述第二电平信号为低电平信号。
13.如权利要求12所述的的静电防护方法，其特征在于，当所述数据线传输的静电信号到来时，所述第一子电路或所述第二子电路对所述静电信号进行静电放电，包括：
若所述静电信号为高电平静电信号，且所述静电信号的电平大于所述第二控制信号的电平，所述第一子电路对所述静电信号进行静电放电；
若所述静电信号为低电平静电信号，且所述静电信号的电平小于所述第一控制信号的电平，所述第二子电路对所述静电信号进行静电放电。
CN201410222852.5A 2014-05-23 2014-05-23 面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法 Pending CN104021747A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410222852.5A CN104021747A (zh) 2014-05-23 2014-05-23 面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法
US14/500,433 US10109225B2 (en) 2014-05-23 2014-09-29 Panel function test circuit, display panel, and methods for function test and electrostatic protection

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410222852.5A CN104021747A (zh) 2014-05-23 2014-05-23 面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN104021747A true CN104021747A (zh) 2014-09-03

Family

ID=51438474

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410222852.5A Pending CN104021747A (zh) 2014-05-23 2014-05-23 面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10109225B2 (zh)
CN (1) CN104021747A (zh)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105813365A (zh) * 2016-05-23 2016-07-27 京东方科技集团股份有限公司 一种静电保护电路、显示面板及显示装置
CN107300813A (zh) * 2017-07-28 2017-10-27 昆山龙腾光电有限公司 阵列基板及液晶显示面板
WO2017185944A1 (zh) * 2016-04-26 2017-11-02 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板的电路、阵列基板、显示装置
WO2017185716A1 (zh) * 2016-04-26 2017-11-02 京东方科技集团股份有限公司 静电防护与测试复合单元、阵列基板以及显示装置
CN110488547A (zh) * 2019-09-03 2019-11-22 业成科技（成都）有限公司 显示面板
CN111208684A (zh) * 2020-03-06 2020-05-29 京东方科技集团股份有限公司 芯片模组及显示装置
CN111261089A (zh) * 2020-03-04 2020-06-09 Tcl华星光电技术有限公司 显示装置及电子设备
CN111489672A (zh) * 2020-06-15 2020-08-04 业成科技（成都）有限公司 显示面板、电子设备和显示面板的控制方法
CN113834992A (zh) * 2021-09-24 2021-12-24 昆山龙腾光电股份有限公司 测试电路和显示面板

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105632383B (zh) * 2016-01-11 2018-09-11 京东方科技集团股份有限公司 一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置
CN107039015B (zh) * 2017-06-05 2019-05-10 京东方科技集团股份有限公司 一种显示驱动电路及其控制方法、显示装置
CN107068029B (zh) * 2017-06-20 2019-11-22 惠科股份有限公司 一种显示面板的测试电路及测试方法

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005274932A (ja) * 2004-03-24 2005-10-06 Seiko Epson Corp 電気光学装置および電子機器
US20050285984A1 (en) * 2004-06-29 2005-12-29 Ja-Fu Tsai Thin film transistor electrostatic discharge protective circuit
CN1766722A (zh) * 2004-10-28 2006-05-03 中华映管股份有限公司 薄膜晶体管阵列基板、液晶显示面板及其静电防护方法
CN1877666A (zh) * 2005-06-10 2006-12-13 三星电子株式会社 显示基板及测试具有该显示基板的显示面板的装置和方法
US20060279667A1 (en) * 2005-06-08 2006-12-14 Wintek Corporation Integrated circuit with the cell test function for the electrostatic discharge protection
CN1897094A (zh) * 2005-07-11 2007-01-17 中华映管股份有限公司 液晶显示面板及其检测方法
CN1941370A (zh) * 2005-09-29 2007-04-04 统宝光电股份有限公司 静电防护***
CN101004490A (zh) * 2006-01-18 2007-07-25 中华映管股份有限公司 主动元件阵列基板、液晶显示面板与两者的检测方法
CN101097673A (zh) * 2006-06-26 2008-01-02 胜华科技股份有限公司 具有单面板功能测试的静电放电防护整合电路
CN101221330A (zh) * 2006-11-22 2008-07-16 卡西欧计算机株式会社 液晶显示装置
CN102967973A (zh) * 2012-11-08 2013-03-13 京东方科技集团股份有限公司 一种静电放电保护电路及驱动方法和显示面板
CN203849977U (zh) * 2014-05-23 2014-09-24 京东方科技集团股份有限公司 面板功能测试电路和显示面板

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100578812B1 (ko) * 2004-06-29 2006-05-11 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시 장치
US7679396B1 (en) * 2004-07-07 2010-03-16 Kao Richard F C High speed integrated circuit
JP4432829B2 (ja) * 2004-12-21 2010-03-17 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置用基板及びその検査方法、並びに電気光学装置及び電子機器
CN103383834B (zh) * 2013-07-02 2015-08-05 京东方科技集团股份有限公司 一种像素电路、显示面板及显示装置

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005274932A (ja) * 2004-03-24 2005-10-06 Seiko Epson Corp 電気光学装置および電子機器
US20050285984A1 (en) * 2004-06-29 2005-12-29 Ja-Fu Tsai Thin film transistor electrostatic discharge protective circuit
CN1766722A (zh) * 2004-10-28 2006-05-03 中华映管股份有限公司 薄膜晶体管阵列基板、液晶显示面板及其静电防护方法
US20060279667A1 (en) * 2005-06-08 2006-12-14 Wintek Corporation Integrated circuit with the cell test function for the electrostatic discharge protection
CN1877666A (zh) * 2005-06-10 2006-12-13 三星电子株式会社 显示基板及测试具有该显示基板的显示面板的装置和方法
CN1897094A (zh) * 2005-07-11 2007-01-17 中华映管股份有限公司 液晶显示面板及其检测方法
CN1941370A (zh) * 2005-09-29 2007-04-04 统宝光电股份有限公司 静电防护***
CN101004490A (zh) * 2006-01-18 2007-07-25 中华映管股份有限公司 主动元件阵列基板、液晶显示面板与两者的检测方法
CN101097673A (zh) * 2006-06-26 2008-01-02 胜华科技股份有限公司 具有单面板功能测试的静电放电防护整合电路
CN101221330A (zh) * 2006-11-22 2008-07-16 卡西欧计算机株式会社 液晶显示装置
CN102967973A (zh) * 2012-11-08 2013-03-13 京东方科技集团股份有限公司 一种静电放电保护电路及驱动方法和显示面板
CN203849977U (zh) * 2014-05-23 2014-09-24 京东方科技集团股份有限公司 面板功能测试电路和显示面板

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10564494B2 (en) 2016-04-26 2020-02-18 Boe Technology Group Co., Ltd. Array substrate circuit, array substrate, and display device
WO2017185944A1 (zh) * 2016-04-26 2017-11-02 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板的电路、阵列基板、显示装置
WO2017185716A1 (zh) * 2016-04-26 2017-11-02 京东方科技集团股份有限公司 静电防护与测试复合单元、阵列基板以及显示装置
US10311765B2 (en) 2016-04-26 2019-06-04 Boe Technology Group Co., Ltd. Electrostatic discharge (ESD) and testing composite component, array substrate and display device
CN105813365A (zh) * 2016-05-23 2016-07-27 京东方科技集团股份有限公司 一种静电保护电路、显示面板及显示装置
CN107300813A (zh) * 2017-07-28 2017-10-27 昆山龙腾光电有限公司 阵列基板及液晶显示面板
CN107300813B (zh) * 2017-07-28 2020-05-05 昆山龙腾光电股份有限公司 阵列基板及液晶显示面板
CN110488547A (zh) * 2019-09-03 2019-11-22 业成科技（成都）有限公司 显示面板
CN110488547B (zh) * 2019-09-03 2022-06-21 业成科技（成都）有限公司 显示面板
US11315451B1 (en) 2020-03-04 2022-04-26 Tcl China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Display device and electronic device
CN111261089A (zh) * 2020-03-04 2020-06-09 Tcl华星光电技术有限公司 显示装置及电子设备
CN111261089B (zh) * 2020-03-04 2021-07-27 苏州华星光电技术有限公司 显示装置及电子设备
CN111208684A (zh) * 2020-03-06 2020-05-29 京东方科技集团股份有限公司 芯片模组及显示装置
CN111489672A (zh) * 2020-06-15 2020-08-04 业成科技（成都）有限公司 显示面板、电子设备和显示面板的控制方法
CN113834992A (zh) * 2021-09-24 2021-12-24 昆山龙腾光电股份有限公司 测试电路和显示面板

Also Published As

Publication number Publication date
US20150339959A1 (en) 2015-11-26
US10109225B2 (en) 2018-10-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104021747A (zh) 面板功能测试电路、显示面板及功能测试、静电防护方法
US11598992B2 (en) Active matrix substrate and a liquid crystal display
US9886115B2 (en) Touch display substrate
US9997117B2 (en) Common circuit for GOA test and eliminating power-off residual images
US20210327383A1 (en) Drive circuit of display device, and display device
US20120086682A1 (en) Driving apparatus and driving method
CN103715207B (zh) Tft阵列基板的电容及其制造方法和相关设备
US9502438B2 (en) Array substrate and manufacturing and repairing method thereof, display device
CN105632446A (zh) Goa单元及其驱动方法、goa电路、显示装置
US10303283B2 (en) Touch display panel and control circuit thereof
US20220137751A1 (en) Display substrate, display device, manufacturing method and driving method for display substrate
US20180196295A1 (en) Array Substrate and LCD
WO2016173105A1 (zh) Goa电路修复方法
KR20170062573A (ko) 표시 장치
CN103869516B (zh) 显示面板放电电路及显示装置
CN203849977U (zh) 面板功能测试电路和显示面板
US10002560B2 (en) Gate drive on array unit, gate drive on array circuit and display apparatus
US20090268115A1 (en) Liquid crystal display panel and display apparatus
US8259054B2 (en) Liquid crystal display device and method of controlling the same for removing excitation voltage
TWI532032B (zh) 省電方法及其相關削角電路
US20190079326A1 (en) Array substrate, method for controlling the same, display panel, and display device
US20220122560A1 (en) Display device and electronic device
US9618810B2 (en) Array substrate and liquid crystal display panel
KR100989264B1 (ko) 구동 회로가 내장된 액정 표시 패널 및 그 제조 방법
US10497294B2 (en) Array test circuit

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20140903