1376006 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於配置來處理諸如裝置製造設備的物件之 處理設備、及配置來使基板曝光於諸如光的輻射能之曝光 設備。 【先前技術】 # 如曰本專利先行公開案第2000-75853號中所述,於 半導體曝光處理中,曝光設備自設於塗佈與顯影設備的晶 圓輸送自動裝置所輸送之塗佈與顯影設備自動地接收塗有 光敏材料的晶圓。然後,晶圓係藉由曝光設備曝光。然後 ’曝光完成的晶圓係自動地轉移至曝光設備中的晶圓輸送 自動裝置所輸送之塗佈與顯影設備。 當晶圓輸送處理、光敏材料塗佈處理、曝光處理、及 曝光晶圓顯影處理平順地進行時,半導體曝光設備無問題 ® 地前進。然而,當問題發生及連續處理因爲維護必須被停 止時’例如,操作者必須手動地恢復晶圓。 於單一設備的例子,曝光設備或塗佈與顯影設備包括 當設備的維護門被開啓用於維護時而停止設備中之輸送自 .動裝置的操作之機構。然而,例如,即使曝光設備的輸送 單元的驅動在維護工作被實施在曝光設備的輸送單元之前 被停止’如果塗佈與顯影設備的輸送單元的驅動未被停止 ’操作者可能無法實施維護在曝光設備上,再者問題可能 於曝光設備或塗佈與顯影設備的使用發生。 -4 - 1376006 【發明內容】 本發明針對增加處理設備的安全性。 依據本發明的形態在於’提供一種處理設備,其包括 配置來處理物件之處理單元,該設備包含:輸送單元,其 配置來將該物件輸送在轉移部及該處理單元之間,該轉移 部設在外部設備及該處理單元之間;控制器,其配置來輸 出請求該外部設備將該物件輸送至該轉移部之請求信號; 及輸出單元,其配置來輸出指示該處理設備的維護開始之 信號。控制器係配置在該請求信號輸出之後,基於指示自 該輸出單元輸出的該維護開始之該信號,將用於停止輸送 該物件至該轉移部之信號輸出至該外部設備。 依據本發明的另一形態在於,提供一種處理設備,其 包括配置來處理物件之處理單元,該設備包含:輸送單元 ,其配置來將該物件輸送在轉移部及該處理單元之間,該 轉移部設在外部設備及該處理單元之間;控制器,其配置 來輸出請求該外部設備將該物件輸送至該轉移部之請求信 號;及輸出單元,其配置來輸出指示該處理設備的維護開 始之信號:擋門,其配置於該轉移部來隔絕輸送該物件之 該外部設備的輸送單元的接近區;其中在輸出該請求信號 之後,該控制器基於自該輸出單元輸出的該維護開始之該 信號來控制及關閉該擋門。 依據本發明的另一形態,裝置製造方法使用該等處理 設備的一者。 -5- 1376006 本發明的其它特徵及形態自示範性實施例的以下說明 並參照附圖,本發明的更多特徵將更爲清楚。 【實施方式】 以下將參照附圖詳細說明本發明的各種示範性實施例 、特徵及形態。 當維護工作被實施於依據本發明的示範性實施例之第 # 一處理設備時。指示維護開始的信號被輸出。基於此信號 ’控制器輸出信號至外部設備,依據該信號停止輸送物件 至轉移部。 依據本發明的示範性實施例,處理設備及外部設備爲 諸如曝光設備及光敏材料塗佈與顯影設備之裝置製造設備 。例如’如果外部設備係光敏材料塗佈與顯影設備,則處 理設備將是曝光設備。如果外部設備係曝光設備,則處理 設備將是光敏材料塗佈與顯影設備。將被處理之物件係晶 # 圓(基板)’且使用於請求轉移部輸送物件之請求信號被 稱爲晶圓輸入請求。使用於處理物件之處理單元係,例如 ’校準單元、曝光單元、光敏材料塗佈單元或光敏材料顯 影單元。更者,配置輸送物件在轉移部(設於外部設備及 處理單元之間)及處理單元之間之第一輸送單元係,例如 ’機構輸送自動裝置。維護所指的是,例如,第一輸送單 元上之維護操作< 依據本發明的示範性實施例之第一處理設備包括使用 於維護之門’且輸出單元包括配置來檢測該門是否開啓之 -6- 1376006 檢測單元。當該門開啓時自檢測單元輸出之檢測 爲開始維護所依據之信號。再者,控制器例如, 於斷開外部設備中之輸送單元(亦即,第二輸送 驅動電力以停止物件的輸送之信號》替代地,例 器輸出使用來停止物件的輸送之信號至供應電力 送單元之外部設備的供電單元。 電信號可經由串聯通信線路來轉移,該串聯 被設置來與外部設備或用於外部設備的整體控制 腦而交換設備資訊。再者,電信號可經由信號電 ’信號電纜被設置獨特地用於交換處理設備及外 之構件轉移資訊。於此例中,電信號亦可被轉移 部設備的控制電腦》 依據本發明的示範性實施例之第二處理設備 。擋門係配置來將外部設備的輸送單元的接近區 移部。當維護將被實施在第二處理設備時,控制 示維護的開始之信號來控制及關閉擋門。 依據本發明的示範性實.施例之第二處理設備 於維護之門。輸出單元包括配置來檢測門是否開 單元。當該門開啓時自檢測單元輸出之檢測信號 始維護所依據之信號。 第一示範性實施例 圖】解說依據本發明的示範性實施例之半導 備的架構。半導體曝光設備包括:具有光源及擋 信號亦作 輸出使用 單元)的 如,控制 至第二輸 通信線路 之專用電 纜來轉移 部設備間 而無需外 包括擋門 隔絕於轉 器基於指 包括使用 啓之檢測 亦作爲開 體曝光設 門之照明 -7- 1376006 設備1、配置來裝設具有電路圖案的光罩2之光罩載台3 、及配置來測量光罩2在光罩載台3上的位置之光罩位置 測量機構4。再者,半導體曝光設備包括作爲投影光學系 統使用於列印之投影透鏡5、配置來移動晶圓9 (亦即, 將被列印的物件)於兩個方向(亦即,裝設晶圓9之X Y 平面上的X及Y方向)之XY載台6、及配置來測量XY 載台6的位置之雷射干涉儀7。更者,半導體曝光設備包 括配置於曝光期間在其上移動晶圓9於垂直方向以調整焦 點(以下稱爲聚焦)之晶圓Z載台8、及配置來測量晶圓 9的焦點位置之自動焦點單元1 0。 如圖2所示,半導體曝光設備係與塗佈與顯影設備一 起使用且設在包括曝光設備室門22之曝光設備室Π內。 半導體曝光設備包括曝光設備晶圓輸送柄16、曝光設備控 制電腦1 8、配置來檢測曝光設備室門22是否開或關之曝 光設備門/關檢測單元20、及用於曝光設備自動裝置之電 源電路單元24。 塗佈與顯影設備係設在包括塗佈與顯影設備室門23 的塗佈與顯影設備室12內。塗佈與顯影設備包括:塗佈 與顯影設備晶圓輸送柄17、塗佈與顯影設備控制電腦Μ 、配置來檢測塗佈與顯影設備室門23是否開或關之用於 塗佈與顯影設備的門開/關檢測單元2 1、及用於塗佈與顯 影設備自動裝置之供電電路單元25。 曝光設備晶圓輸送柄〗6藉由塗佈與顯影設備的晶圓 輸送柄1 7來接收輸送至晶圓轉移站1 3之晶圓’且將晶圓 -8- 1376006 輸送至XY載台6。當曝光處理完成時,曝光設備晶圓輸 送柄16將已曝光處理的晶圓輸送至晶圓轉移站】3。曝光 設備晶圓輸送柄16可在晶圓輸送至ΧΥ載台6之前以晶 圓校準單元(未顯示)來調整晶圓的位置。半導體曝光設 備亦可具有數個曝光設備晶圓輸送柄。 圖3爲解說控制流程之流程圖,其中當晶圓輸送處理 期間的曝光設備發生問題時,曝光設備室門22被開啓用 於維護。於步驟S400,曝光設備控制電腦I 8開始控制曝 光設備。於步驟S4〇l,塗佈與顯影設備控制電腦19開始 控制塗佈與顯影設備。於步驟S402,用於塗佈與顯影設 備自動裝置的供電電路單元25被啓動。再者,配置於曝 光設備室Π及塗佈與顯影設備室12之裝置變成可操作。 於步驟S403,曝光設備控制電腦1 8確認晶圓是否存 在於晶圓轉移站1 3上。如果曝光設備控制電腦1 8確認晶 圓存在(YES於步驟S403),則過程前進至步驟S410。 如果曝光設備控制電腦〗8確認晶圓不存在(NO於步驟 S403 ),則曝光設備控制電腦1 8將晶圓輸入請求傳送至 塗佈與顯影設備控制電腦19且前進至步驟S 4 05。於步驟 S4 1 0,曝光設備控制電腦1 8執行晶圓存在錯誤恢復處理 ,且過程結束於步驟S419。 於步驟S405,曝光設備控制電腦〗8確認晶圓是否存 在晶圓轉移站I 3上。如果曝光設備控制電腦1 8確認晶圓 存在(YES於步驟S405 ),則過程前進至步驟S406。如 果曝光設備控制電腦丨8確認晶圓不存在(Ν Ο於步驟 1376006 S4 05 ),則曝光設備控制電腦1 8重複步驟S4 05中的過程 於步驟S404,塗佈與顯影設備控制電腦1 9基於接收 自曝光設備控制電腦1 8的晶圓輸入請求而操作塗佈與顯 影設備晶圓輸送柄1 7上之控制。依據該晶圓輸入請求, 塗佈與顯影設備晶圓輸送柄1 7將晶圓輸送至晶圓轉移站 13 ° φ 於步驟S406,曝光設備控制電腦1 8使用曝光設備晶 圓輸送柄16將已被塗佈與顯影設備晶圓輸送柄17輸送至 晶圓轉移站13之晶圓輸送至曝光設備。當曝光設備接收 自晶圓轉移站]3的晶圓時,曝光設備控制電腦1 8將晶圓 輸入請求傳輸至塗佈與顯影設備控制電腦19,且過程前進 至步驟S407。 於步驟S407,假設真空錯誤發生於處理期間。晶圓 及曝光設備晶圓輸送柄1 6間之不必要物質於輸送該晶圓 Φ 的曝光設備晶圓輸送柄16中造成真空錯誤。如果真空錯 誤被檢測到,過程前進至步驟S408。 於步驟S408 ’曝光設備控制電腦1 8確認曝光設備室 門2 2是否開啓。如果曝光設備控制電腦1 8確認曝光設備 室門22開啓(YES於步驟S408),過程前進至步驟S409 。如果曝光設備控制電腦1 8確認曝光設備室門22關閉( NO於步驟S408 ),步驟S4〇8中的過程被重複。取代確 認曝光設備室門2 2是否開啓,曝光設備控制電腦]8可確 認或檢測操作者所輸入之信號,該信號係使用於解開具有 -10- 1376006 電磁鎖定功能之曝光設備室門22。該信號指示維護工作的 開始。 步驟S4〇7及S408係在曝光設備控制電腦18將晶圓 輸入請求傳送至塗佈與顯影設備控制電腦19之後所實施 之處理。換言之,步驟S4 07及S408在塗佈與顯影設備控 制電腦1 9正控制塗佈與顯影設備晶圓輸送柄1 7之時被處 理以將晶圓輸送至晶圓轉移站13。因爲曝光設備室門22 在此時開啓,晶圓轉移站13可被接近使得自曝光設備室 門22進入之人員或物件可操作塗佈與顯影設備晶圓輸送 柄1 7。進入晶圓轉移站1 3之人員例如,爲實施維護的操 作者。進入晶圓轉移站1 3之物件例如,***作者***晶 圓轉移站13之工具或裝置構件。 於步驟S409 ’曝光設備控制電腦1 8將電源斷開信號 傳送至用於塗佈與顯影設備自動裝置的供電電路單元25。 於步驟S4]3,用於塗佈與顯影設備自動裝置之供電 電路單元2 5 (其不具控制電腦)的電源被關閉。於步驟 S412,如果曝光設備控制電腦18在操作中,該操作被致 止緊急停止。用於塗佈與顯影設備自動裝置之供電電路單 元2 5保持斷電狀態直到其接收供電信號。 於步驟S 4 1 1,曝光設備控制電腦]8確認曝光設備晶 圓輸送柄16載送的晶圓是否被移除且曝光設備室門22是 否關閉。如杲曝光設備控制電腦1 8確認晶圓被移除且曝 光設備室門22關閉(YES於步驟S411),過程前進至步 驟S 4 1 4 °如果曝光設備控制電腦〗8不能確認晶圓被移除 -11- 1376006 且曝光設備室門22關閉(NO於步驟S411 ) ’則步驟 S4 1 1被重複。 於步驟S4 14,曝光設備控制電腦18將供電信號傳送 至用於塗佈與顯影設備自動裝置之供電電路單元25 ° 於步驟S4 15,用於塗佈與顯影設備自動裝置之供電 電路單元2 5的電力被供應至外側’且塗佈與顯影設備晶 圓輸送柄17於而後的處理變成操作。於步驟S417’塗佈 與顯影設備晶圓輸送柄1 7回到正常控制狀態。再者’於 步驟S418,用於塗佈與顯影設備自動裝置之供電電路單 元2 5繼續供電直到其接收電源切斷信號爲止。 於步驟S416,曝光設備控制電腦18繼續重複步驟 S4 05及S4 06中的處理,直到該處理達到該批的末端(一 單位晶圓處理的結束)且然後過程結束。 依據本示範性實施例,當曝光設備室門22開啓時, 曝光設備控制電腦18於塗佈與顯影設備室12中直接控制 用於塗佈與顯影設備自動裝置之供電電路單元25。然而, 曝光設備控制電腦18可接收直接來自曝光設備門/關檢測 單元20或經由曝光設備控制電腦18之電信號以基於電信 號來控制(亦即,切斷)用於塗佈與顯影設備自動裝置之 供電電路單元2 5。於任一例子,自曝光設備控制電腦18 至用於塗佈與顯影設備自動裝置的供電電路單元25之斷 電指令可以是經由專用線路來傳送。然而,如果塗佈與顯 影設備控制電腦1 9接收直接來自曝光設備門/關檢測單元 20之電信號’較佳地使用專用信號電纜以藉由稱爲平行輸 -12- 1376006 入/輸出(PIO )的方法來交換該等設備間的構件轉移資訊 。如果塗佈與顯影設備控制電腦1 9經由曝光設備控制電 腦〗8而接收來自曝光設備門/關檢測單元2 0之電信號, 較佳地使用專用串聯通信線路以藉由稱爲Linked Litho的 方法而與其它設備或與用於實施該設備的整體控制的專用 電腦來交換設備資訊。 依據本示範性實施例,當曝光設備室門22開啓時, 曝光設備控制電腦1 8於塗佈與顯影設備室1 2中直接控制 用於塗佈與顯影設備自動裝置之供電電路單元25。然而, 取代切斷用於塗佈與顯影設備自動裝置之供電電路單元25 的電力,塗佈與顯影設備晶圓輸送柄17的操作可被停止 或禁止。且,於此例中,使用上述信號電纜或串聯通信線 路自曝光設備將曝光設備門/關檢測單元20的電信號傳輸 至塗佈與顯影設備是有效的。 第二示範性實施例 於第一示範性實施例,說明控制流程之流程圖,其中 當曝光設備發生問題時,曝光設備室門22被開啓用於半 導體曝光設備的維護。於此例中,曝光設備中的晶圓輸送 處理正被控制。如果以塗佈曝光設備中的對應構件取代曝 光設備中的每一構件,當塗佈與顯影設備發生問題時,塗 佈與顯影設備室門23被開啓用於塗佈與顯影設備的維護 之流程圖係相似於第一示範性實施例所述的流程圖。換言 之,以塗佈與顯影設備室1 2取代曝光設備室1 1可達到本 -13- 1376006 發明’以曝光設備晶圓輸送柄1 6取代塗佈與顯影設備晶 圓輸送柄17,以塗佈與顯影設備控制電腦19取代曝光設 備控制電腦1 8,以用於塗佈與顯影設備的門開/關檢測單 元21取代爆光設備門/關檢測單元20,以塗佈與顯影設備 室門23取代曝光設備室門22,以及以電源電路單元24曝 光設備自動裝置取代塗佈與顯影設備自動裝置之供電電路 單元2S。 第三示範性實施例 除了圖2所示的半導體製造系統,圖4所示的半導體 製造系統具有曝光設備保護擋門14及塗佈與顯影設備擋 門15。圖2中直接連接之半導體製造系統的曝光設備控制 電腦18及用於塗佈與顯影設備自動裝置之供電電路單元 25未被連接於圖4所示的半導體製造系統。再者,塗佈與 顯影設備控制電腦19未直接連接至用於曝光設備自動裝 置之電源電路單元24。 圖5爲解說圖4所述之半導體製造系統的控制之流程 圖。 於步驟S500,曝光設備控制電腦1 8開始控制曝光設 備。於步驟S501,塗佈與顯影設備控制電腦19開始控制 塗佈與顯影設備。於步驟S502’曝光設備保護擋門14變 成可操作。再者’配置於曝光設備室及塗佈與顯影設 備室12之裝置變成可操作。 於步驟S 5 0 3,曝光設備控制電腦1 8確認晶圓是否存 -14- 1376006 在晶圓轉移站1 3上。如果曝光設備控制電腦1 8確認晶圓 存在(YES於步驟S503),則過程前進至步驟S510。如 果曝光設備控制電腦1 8確認晶圓不存在(NO於步驟 S 5 03 ),則曝光設備控制電腦1 8將晶圓輸入請求傳送至 塗佈與顯影設備控制電腦】9且前進至步驟S 5 05。 於步驟S 5 1 0,曝光設備控制電腦1 8執行晶圓存在錯 誤恢復處理,且過程結束於步驟S519。 # 於步驟S 5 0 5,曝光設備控制電腦1 8確認晶圓是否存 在晶圓轉移站1 3上。如果曝光設備控制電腦1 8確認晶圓 存在(YES於步驟S 5 05 ),則過程前進至步驟S 5 06。如 果曝光設備控制電腦I 8確認晶圓不存在(NO於步驟 S505),則曝光設備控制電腦18重複步驟S505中的過程 〇 於步驟S504,塗佈與顯影設備控制電腦19基於接收 自曝光設備控制電腦1 8的晶圓輸入請求而控制塗佈與顯 # 影設備晶圓輸送柄17。依據該晶圓輸入請求,塗佈與顯影 設備晶圓輸送柄1 7將晶圓輸送至晶圓轉移站1 3。 於步驟S5 06,曝光設備控制電腦1 8使用曝光設備晶 圓輸送柄16將已被塗佈與顯影設備晶圓輸送柄17輸送至 晶圓轉移站13之晶圓輸送至曝光設備。當曝光設備接收 來自晶圓轉移站1 3的晶圓時,曝光設備控制電腦〗8將晶 圓輸入請求傳輸至塗佈與顯影設備控制電腦19,且過程前 進至步驟S5 07。 於步驟S507,假設於處理期間發生真空錯誤。輸送 -15- 1376006 該晶圓的曝光設備晶圓輸送柄1 6中之晶圓及曝光設 圓輸送柄1 6間之不必要物質所造成真空錯誤。如果 錯誤被檢測到,過程前進至步驟S 508。 於步驟S5 08’曝光設備控制電腦丨8確認曝光設 門2 2是否開啓。如果曝光設備控制電腦1 8確認曝光 室門22開啓(YES於步驟S508),過程前進至步驟 。如果曝光設備控制電腦I 8確認曝光設備室門22關 NO於步驟S508),步驟S508中的過程被重複。 步驟S5C7及S 5 08係在曝光設備控制電腦18將 輸入請求傳送至塗佈與顯影設備控制電腦1 9之後的 。換言之,步驟S507及S508係在塗佈與顯影設備控 腦1 9正控制塗佈與顯影設備晶圓輸送柄1 7之時被處 將晶圓輸送至晶圓轉移站13。因爲曝光設備室門22 時開啓,晶圓轉移站13可被接近使得自曝光設備室| 進入之人員或物件可操作塗佈與顯影設備晶圓輸送柄 進入晶圓轉移站1 3之人員例如,爲實施維護的操作 進入晶圓轉移站1 3之物件例如,爲***作者***晶 移站13之工具或裝置構件。 於步驟S5 09,曝光設備控制電腦1 8將擋門關閉 傳送至設在晶圓轉移站1 3的晶圓接收側上之曝光設 護擋門1 4。 於步驟S5 13,曝光設備保護擋門14係藉由曝光 控制電腦I 8來關閉。曝光設備保護擋門1 4被關閉直 接收擋門開啓信號。因爲曝光設備保護擋門】4被關 備晶 真空 備室 設備 S509 閉( 晶圓 處理 制電 理以 在此 1 22 17° 者。 圓轉 信號 備保 設備 到其 閉, -16- 1376006 可滿足實施曝光設備維護操作。 於步驟S5】2,塗佈與顯影設備控制電腦19在曝光設 備保護擋門1 4控制塗佈與顯影設備晶圓輸送柄1 7被關閉 時,且將晶圓輸送至晶圓轉移站1 3。 於步驟S5 1 1,曝光設備控制電腦1 8確認曝光設備晶 圓輸送柄16載送的晶圓是否被移除且曝光設備室門22是 否關閉。如果曝光設備控制電腦1 8確認晶圓被移除且曝 光設備室門22關閉(YES於步驟S511),過程前進至步 驟S 5 1 4。如果曝光設備控制電腦1 8不能確認晶圓被移除 且曝光設備室門22關閉(NO於步驟S511 ),則步驟 S511被重複。 於步驟S 5 I 4,曝光設備控制電腦I 8將擋門開啓信號 傳送至曝光設備保護擋門14。 於步驟S 5 1 5,設在晶圓轉移站1 3的晶圓接收側上之 曝光設備保護擋門1 4被開啓直到其接收擋門關閉信號於 步驟S518。因爲曝光設備保護擋門14被開啓,曝光設備 晶圓輸送柄1 6能夠再次接近晶圓轉移站1 3 » 於步驟S 5 1 6,曝光設備控制電腦1 8繼續重複步驟 S 5 05及S 5 06中的處理,直到該處理達到該批的末端(一 單位晶圓處理的結束)且然後過程結束❶ 第四示範性實施例 於第三示範性實施例,流程圖說明控制流程,其中曝 光設備室門22係在曝光設備中發生問題時,開啓用於半 -17- U76〇〇6 導鳍曝光設備的維護。於此例中,曝光設備中的晶圓輸送 處理正被控制。如果以塗佈曝光設備中的對應構件取代曝 光設備中的每一構件,當塗佈與顯影設備發生問題時,塗 佈與顯影設備室門23被開啓用於塗佈與顯影設備的維護 之流程圖係相似於第三示範性實施例所述的流程圖。換言 之’可以下述方式達到本發明,以塗佈與顯影設備室12 取代曝光設備室11,以塗佈與顯影設備擋門15取代曝光 設備保護擋門M,以曝光設備晶圓輸送柄16取代塗佈與 顯影設備晶圓輸送柄1 7,以塗佈與顯影設備控制電腦]9 取代曝光設備控制電腦1 8,以用於塗佈與顯影設備的門開 /關檢測單元2 1取代曝光設備門/關檢測單元20,及以塗 佈與顯影設備室門23取代曝光設備室門22。 依據第一及第二示範性實施例,當將被維護之設備的 門被開啓時’電信號被改變。電信號然後被傳送至其它設 備。依據此信號’晶圓輸入自動裝置的驅動電力被斷開且 構件輸入自動裝置被致使緊急停止。電信號被檢測到及供 電電路被直接切斷而未使用控制電腦》因此,設備免於控 制電腦的軟體問題或中斷。因此,晶圓輸入自動裝置的接 近區之安全性確定地可被固定在較低成本。 再者’另一方法可提供相似功效。於該方法,在將被 維護之設備的門開啓時改變之電信號被傳送至另一設備的 控制電腦。依據電信號藉由控制電腦的劣化而停止晶圓輸 入自動裝置的驅動控制。以此方式,雖然可靠性可能或多 或少降級,可達到相似功效。 -18- 1376006 依據第三及第四示範性實施例,爲回應在將被維護之 設備的門開啓時改變之電信號,保護安全性擋門可被設在 另一設備的構件輸送自動裝置接達將被維護之設備的區。 藉由關閉保護安全性擋門,自實施維護的設備至構件輸送 自動裝置接達區之接達可被排除。因爲該方法免除用於連 通兩個設備間之信號的需要,晶圓輸入自動裝置的接達區 之安全性可被加強。然而,此方法需要用於設備中的保護 安全性擋門之空間,且設備成本因此升高。 第五示範性實施例 圖9爲解說使用上述半導體製造設備系統之用於微裝 置(諸如積體電路(1C )或大型積體電路(LSI )、液晶 面板、電荷耦合裝置(CCD )、薄膜磁頭、微機器等)的 示範性製造處理之流程圖。 圖6解說用於半導體裝置之示範性製造處理之流程圖 〇 步驟S1係用於設計半導體裝置的電路之電路設計過 程。步驟S2係基於所設計的電路圖案來製作掩膜(其被 稱爲原形板或光罩)之掩膜製作過程。 步驟S 3係以矽或可比較材料製造的晶圓(其被稱爲 基板)之晶圓製造過程。步驟S4係依據光微影技術以上 述所製備掩膜使用曝光設備將實際電路形成在晶圓上之晶 圓處理(其被稱爲”預處理”)。 步驟S5係使用步驟S4中所製造的晶圓而形成半導體 -19- 1376006 晶片之組裝處理(其被稱爲“後處理”)。後處理包括組裝 過程(例如,切割、接合等)及封裝過程(晶片密封)。 步驟S6係用於檢查步驟S5中所製造的半導體裝置之檢查 過程。該檢查包括操作確認測試及耐久測試。步驟S 7係 用於運送經由上述處理所完成的半導體裝置之運送過程。 步驟S4中的上述晶圓處理包括用於氧化晶圓表面的 氧化步驟、用於形成絕緣膜在晶圓表面上之化學蒸氣沉積 (CVD )、及藉由蒸發將電極形成在晶圓上之電極形成步 驟。更者,步驟S4中的晶圓處理包括將離子植入晶圓的 離子植入步驟、使用上述塗佈與顯影設備之以光敏材料塗 佈晶圓之抗蝕處理步驟、及使用具有電路圖案的掩膜藉由 ±述曝光設備使受到抗蝕處理步驟的晶圓曝光之曝光步驟 。更者,步驟S4中的晶圓處理包括使曝露於曝光步驟中 的晶圓顯影的顯影步驟、用於切割除了顯示於顯影步驟的 抗蝕影像外的部分的蝕刻步驟、及用於移除在蝕刻步驟後 留下的不需抗蝕劑的抗蝕剝離步驟。藉由重複上述步驟之 處理,多電路圖案可被形成在晶圓上。 依據上述示範性實施例,例如,處理設備的安全性可 被增加。 雖然已參照示範性實施例說明本發明,應瞭解到,本 發明未受限於所揭示的示範性實施例。以下請求項的範圍 將被給與最寬廣的詮釋以含蓋所有修改、等效結構及功能 -20- 1376006 【圖式簡單說明】 結合並構成說明書的一部份之附圖解說本發明的示範 性實施例、特徵及形態,且與該說明一起用來敘述本發明 的原理。 圖1解說依據本發明的示範性實施例之半導體曝光設 備的架構。 圖2解說依據本發明的第一及第二示範性實施例之包 括圖1所述的曝光設備及塗佈與顯影設備之半導體製造系 統的架構。塗佈與顯影設備的自動裝置的電源被關閉以回 應當曝光設備的室門開啓時所產生之信號。 圖3爲解說圖2所述之半導體製造系統的控制流程之 流程圖。 圖4解說依據本發明的第三及第四示範性實施例之包 括圖1所述的曝光設備及塗佈與顯影設備之半導體製造系 統的架構。曝光設備的保護擋門被關閉以回應當曝光設備 的室門開啓時所產生之信號》 圖5爲解說圖4所述之半導體製造系統的控制之流程 圖。 圖6爲解說半導體裝置的示範性製造過程之流程圖。 【主要元件符號說明】 PIO :平行輸入/輸出 1C :積體電路 LSI :大型積體電路 -21 - 1376006 CCD :電荷耦合裝置 CVD :化學蒸氣沉積 1 :照明設備 2 :光罩 3 :光罩載台 4 :光罩位置測量機構 5 :投影透鏡 • 6 : XY載台 7 :雷射干涉儀 8 :晶圓Z載台 9 :晶圓 1 0 :自動焦點單元 Π :曝光設備室 1 2 :塗佈與顯影設備室 ]3 :晶圓轉移站 • 14:曝光設備保護擋門 15:塗佈與顯影設備擋門 1 6 :曝光設備晶圓輸送柄 1 7 :塗佈與顯影設備晶圓輸送柄 1 8 :曝光設備控制電腦 1 9 :塗佈與顯影設備控制電腦 20 :曝光設備門/關檢測單元 21 :門開/關檢測單元 2 2 :曝光設備室門 -22- 1376006 23 :塗佈與顯影設備室門 24 :電源電路單元 2 5 :供電電路單元
-23-