TWI238387B - Method of and apparatus for managing disc defects in disc, and disc on which defects are managed - Google Patents

Description

1238387

相關應用之互相參照 本申請案主張對於在2002年1〇月1〇曰於韓 局提出之編號為2 0 〇 2 - 6 1 8 9 7之韓國專利中請案2 9慧財產 在此完整揭露其内容以作為參考。 〃之優先權， 發明所屬之技術領域 本發明是有關於碟片缺陷管理，且特別是 利用暫時缺陷管理區（TDMA)來管理碟片缺陷$ 關於—種 置，以及一種利用此方法與裝置來執行缺陷 法與裝 先前技術 I之碟片。 缺陷管理是一種覆寫有 儲存之資料之程序。上述資 分，因而補償缺陷所造成的 理是利用線性取代（1 i n e a r (slipping replacement) 缺陷之使用者資料區將以無 挪移取代法，將挪移具有缺 一個無缺陷之使用者資料區 線性取代法與挪移取代 記錄資料且能夠利用隨機存 料被覆寫至碟片資料區 資料損失。一般 °°之新 , J a ，缺陷 replacement)法或挪移取= 來執行。於線性取代法，2 缺陷之備用資料區來取代具: 陷之使用者資料區，並使用: 〇 法兩者只可應用於能夠重複j 取（random access)方法執行

記錄之碟片，例如DVD-RAM/RW。換言之，線性取代法與挪 移取代法難以應用於只允許記錄一次之可寫一次型碟片 (wri te-once discs) 〇

一般而言，碟片所出現之缺陷是藉由記錄資料於碟片 然後再確認資料是否已經正確地記錄於碟片來偵測。然

12293pif.ptd 第7頁 1238387 發明說明（2) 而 旦$己錄資料於可寫一刑泄μ 以及管理其缺陷。 ”、、_ i碟片，將無法覆寫新資料 在發展CD-R與DVD-R之後，蔣道人s ， 組（GB)記錄容量之高 具有數十十億位元 貴且允許可快速讀取；d:;;碟片：因為其… 碟片然』，因為缺陷管理對於可寫-次型 二以在備份操作期間若侦測到缺陷區(亦 份操作在***未頻繁#用上知作。-般而言，因為備 區报；可寫-次型碟片之缺陷 態，使得備份操作無法完整地：：操作會整夜維持中斷狀 發明内容

置，η: 一種能夠應用於碟片之缺陷管理方法*裝 置以及-種利用此缺陷管理方万U 本發明也提供一種縱使在記 I 、《之碟片。 能夠管理碟片缺陷之缺陷管理方期間谓測到缺陷也 作不致於中斷，以及一種具有此方;=:使得此記錄操 、本發明之其他觀點及/或優點部分將於下。别句^ 以陳述，並且部分將可由此說明 、；1说明中予 明而得知。 ’ ® ’或可藉由實施本發 根據本發明之_ - 规點隹此提供一種碟H ^ ^ ^ L 個用以記錄使用者資料之資料區，f茱片，其中包括一 及一導出區當中至少一區且用以> 乂及一個位於—導入區 …£且用MS己錄與上述資料區所記錄

1238387

〜队用者眘树‘ 暫時缺心Γ之暫時 料 訊 ° (¾ 〇 較佳但非 區之記錄#、要情況為對於每一個記錄使用者資料方 。 '、喿作都纪錄暫時缺陷資訊及暫時缺陷管理| 之

料區2 ^佳但非必要情況為暫時缺陷資訊包含指示資 資料，或勺、位置之資訊，其中記錄了相對應之使用者 之資訊。曰示個用以替換此缺陷區之取代區之位置 根 碟片缺 操作所 於一暫 入區及 缺陷資 時缺陷 較 錄操作 記錄步 缺陷資 述導出 據本發明 陷之方法 6己錄之資 時缺陷管 一導出區 訊之管理 管理區。 佳但非必 都重複上 驟；以及 訊記錄於 區當中至 之另一觀點在此提供一種用以管理碟片之 ，，其中包括：將與碟片資料區根據一記錄 料有關之缺陷資訊當作暫時缺陷資訊記錄 =區，此暫時缺陷管理區位於碟片之一導 t中至少一區；以及將用以管理上述暫時 二貝汛S作暫時缺陷管理資訊記錄於上述暫 要情況為上述方法更包括：對於每一個記 述缺陷資訊之記錄步驟及上述管理資訊之 將最後^記錄之暫時缺陷管理資訊及暫時 一缺陷管理區，此區位於上述導入區及上 少一區。 期間執行最後所記 根據本發明之一觀點，在终結碟片 錄之暫時缺陷資訊之記錄步驟。 〃 較佳但非必要情況為上述缺陷資訊之記錄步驟更包

1238387 五、發明說明（4) 括·將指示上述白人4

區位置之資^^ & 3目對應使用者資料之資料F …資:τ 記: ，錄；或循序上；以作上述暫 此暫時缺陷資訊區之起二；：暫w陷資訊區，並且由 較佳但非必要情、> 序地記錄上述缺陷資1二述官理資訊之記錄步驟包括循 暫時缺陷管理資訊暫時缺陷管理區所包括；： 點開始。 由此暫時缺陷管理資訊區之終 根據本發明之又一 記錄及/或再生裝置另；觀勺點在此提供-種可使用碟片之 元記錄資料於碟片或由、括·;記錄/讀取單元，此單 控制器控制上述記錄/±碟片頃取貧料，·以及一控制写，此 -記錄操作所記錄之、資項料取單元以便 訊記錄於一暫時缺理^缺陷資訊當作暫時缺陷資 一導出區當令至少—^理£，此區位於碟片之一導入區„ ，之管理資訊當作“二上述暫時缺陷f 管理區。 s理貝矾圮錄於上述暫時缺陷 車交佳但非必要愔 、 單元以便對於每—個記制上述記錄/讀取 述暫時缺陷管理資訊記錄於上述暫時=暫時缺陷資訊及上 終結碟片期間將最後所記錄士2缺陷管理區；以及在 之暫時缺陷管理資訊於二τ缺陷資訊及最後所記錄 錄於一缺陷管理區，此區位於碟片 _ 12293pif.ptd 第10頁 1238387 r -----. 五、發明說明（5) f導入區及上述導出區當中至少一區。 記錄本之又另-觀點在此提供-種可使用碟片之 料於碟片或由：2 ::記錄/讀取單元’此單元記錄資 制上述記錄/續取項_取貧料’以及一控制11，此控制器控 操作所記釺$ # 以便將與碟片資料區根據第一記錄 資訊記』：工：:2關之缺陷資訊當作第-暫時缺陷 及—導出區者：5 ,、，理區，11匕區位於碟片之一導入區 資訊之缺“二=將用以管理上述第一暫時缺陷 述暫時缺陷管理ί I苐一暫時缺陷管理資訊記錄於上 記錄之第二資料;Μ與碟片資料區根據第二記錄操作所 錄於上述暫時： = 陷資訊當作第二暫時缺陷資訊記 缺陷資訊之缺陷管理“:以及將用α管理j^第二暫時 於上述暫時缺陷當作第二暫時缺陷管理資訊記錄 為了讓本發明$ μ H u 明顯易懂，下文牿夹 ^和/、他目的、特徵、和優點能更 詳細說明如下：牛，、父佳實施例，並配合所附圖式，作 實施方式 本發明現在將舉其較 以詳細地說明。不 ^例，並 > 照所附圖式，予 件。以下將參照附圖二^ ^的相同參考數字表示相同元 第1圖是根據本發明夕父佳實施例以解釋本發明。 裝置之方塊圖。參照χ < 一較佳實施例之記錄及/或再生 記錄/讀取單元丨、控、圖]上述記錄及/或再生裝置包括 工 态2以及記憶體3。記錄/讀取單元工

12293pif.ptd 第11頁 1238387 五、發明說明（6) I己錄資料於碟片100(其為一種根據本發明之第一實施 二存媒體）並且從碟片100讀回資料以檢驗所記錄之資 二理Ί ΐ。控制器2執行根據本發明之一實施例之缺陷、 Β里。於本實施例，控制器2使用一種寫後檢驗法 henfy-after_write meth〇d)，其中以預 錄資料於碟片100，然後檢驗所記錄 準確二:己 ，記錄之資料之缺陷"奥言之，控制二價 早位來記錄使用者資料於碟片j 〇〇， “ ^乍之 碟趣上有缺陷之區; 匕：錄上述資料之後，控制器2將產生指亍碑 片100之缺陷區位置之資訊當作暫 ^才曰不碟 陷資訊儲存於記憶體3 存：i:: “ ί二:預的定缺’ 彳控制器2將記錄所儲存之資訊當 單元工作，或f::::乍：f根據使用者意願所決定之一 記錄操作表示-個將碟片丁100°己载錄入工上作二根據本實施例’-置、記錄資料於碟片100、以及將ϋ錄及/或再生裝 或再生裝置取出之程序。在上:片100由上述記錄及/ 檢驗資料至少一次。一般而+ j 4知作期間，將記錄及 利用上述寫後檢驗法所獲:得：缺己錄及檢驗資料數次。 體3。 、曰貝戒將暫時儲存於記憶 若使用者在記錄資料之德 述記錄及/或再生裝置之退於、、移除碟片1 00而按下上 文〃丑（未顯示），則控制器2將 ΙΜ 12293pif.ptd 第12頁 1238387 五、發明說明（7) 要求終止圮錄操作。接著，* 之資訊’並提供所讀 =2將：取記憶體3所儲存 記錄/讀取單元丨以,己钎斛錄頃取單元1，且控制 右已經完成碟片1〇〇 乃 資料於碟片10。並且要終結二=步：(亦即將不再記錄 述暫時缺陷資訊及上述暫缺 、1控制益2將記錄上 缺陷管理區。 9時缺吕理身訊於碟片100之— 區及記錄及/或再生裝置㈣缺陷管理 , 使用者貝枓。當說明中提及如第1圖所示之 δ己錄及/或再生裝置時，顯然上 t 裝置或單獨的再生裝置或記錄及再生裝置早獨的5己錄 禅片Ι^Γ夕圖，第2B圖•示如本發明之實施例所述第1圖之 二片：^構。第2A圖詳細繪示具有一記錄層L0之碟片 料區以及—早導二錄層上碟:導碟「片100包括-導入區一 「導出區上述導入區位於碟片100之内部，而 = 、品位於碟片1 〇 〇之外部。上述資料區位於上述導 2 = 了上述導出區之間，並且分為一使用者資料區與一備 上述使用者資料區是上述資料區當中一個記錄使用 資料之區域。上述備用區是上述資料區當中一個使用者J 料，以=的區域，並且是具有缺陷之一部分使用者資料區 ^ 代區域。上述備用區用以補償上述使用者資料區之缺 所仏成之記錄區域損失。假定缺陷可能發生於碟片10 0 12293pif.ptd 第13頁 1238387 五、發明說明（8) 之内，則妨 1 0 0之全部次但非必要之情況為假設上述備用區占碟片 片1〇〇。。貝料容量之5°/〇，以便能夠記錄較大量資料於碟 苐2B圖纟备一目+ 重記錄層碟、；；不/、i兩記錄層10及L1之碟片100以表示雙 成於第一:己二二導入區 資料區以及-外圍區依序雙 -外圍區、ί 内部至第一記錄層L°之外部。並且 L1之外部至：:J -導出區依序形成於第二記錄層 碟片1〇〇不同的―Λ 部。與第2A圖之單一記錚^ 部。亦印，第2二導出區位於第26圖之碟片_之内 中資料之2 斗之碟片10〇具有相反執跡路徑（OTP)，足 嚷~ ^ °己錄方式是由第一記錄層L0之導入& M、 層L0及L1之每一層。ώ °°。上边備用區分配給上述記錄 $第2Α圖及第2Β圖之實施例，備用區位於使 Ϊ =之間以及使用者資料區與外圍區之間。若i: β此a使用一部分使用者資料區作為另一個備用區 二:、’可能有超過一個備用區出現在導入區與導出區之。 構。Γ昭圖根ΐ本發明之一實施例之碟片100之詳“ 構參照第3圖’缺陷管理區位於碟片1〇 、： 區以及外圍區當中至少一 F 匚 ¥出 導入區及導出區當中ίΖ區並且時缺陷管理區位於 一般而言，將與管理碟片1。。之缺陷有關之資訊記錄 ul 12293pif.ptd 第14頁 1238387 五、發明說明（9) _ 於缺陷管理區。此種資訊包括磾 J陷資訊之位置、是否執行缺理〇= 二 所假如是可寫一次型碟片，則根據本發明：= 田先刖所圯錄之資料改變時通常欠 硯點 錄之資料之後。 、斫貝料記錄在先前所記 一般而言，當碟片載入如第1 糾- ^ 時，此裝置將由碟片100之導入區錄/再生裝置 =資γ而，若上述導人[=== 呓纾n 4入此碟片之後將花費較長的時間於準備f料< 口己錄或再生。因此，本發 千1薄貝枓之 缺陷資訊的觀念。•時缺陷；；資訊與暫時 錄在：：於導入區及/或導出區之v = 根據本發明之一膏妳你丨，w m 了釈I曰自理&。 管理。因λ，暫時缺陷資訊勺衽線性取代法來執行缺陷 置之資邹 、ρ 包括指示碟片100之缺陷區位 代區：:分示=0當中能夠作為此缺陷區之* 資訊，並；：:：示 置之資訊。 田中°己錄暫恰缺陷資訊之位 錄暫時缺暫管：:η，作結束時將記 括暫時缺陷資訊#。及暫時缺二=。Γι缺陷管理區包 括與記錄於記錄操作#。期間：；;#戶出陷資 訊以及有關一取代區之資1 m出現之缺陷有關之資 '匕之貝讥。暫時缺陷資訊#1包括與記錄 12293pif.pt(j 第15頁 1238387

於記錄操作# 1期間 關一個作為暫時缺 缺陷管理區包括暫 資訊#0、#1包括用 訊。 之資料所出現之缺 陷資訊# 1之取代區 時缺陷管理資訊#0 以管理暫時缺陷資 陷有關之資訊以及有 之資訊。並且，暫時 、# 1。暫時缺陷管理 訊# 0、# 1之相對應資 若 不想要 100)， 缺陷管 管理區 現 訊於缺 於碟片 缺陷管 區，因 由記錄 性。 於 錄之缺 在終結 讀取缺 (DMA) 對 碟片， 不能或不要記錄另外的資料於碟片丨0 0或若使用者 記錄另外的資料於碟片100(亦即需要終結碟片 則暫時缺陷資訊區所記錄之暫時缺陷資訊以及暫時 理資訊區所記錄之暫時缺陷管理資訊將記錄於缺陷 〇 在將說明再度記錄暫時缺陷管理資訊 陷管理區侧之理由。假如不再記錄另外的資料貝 1 〇 〇(亦即需要終結碟片i 0 0 )，則被更新數次之暫時 理資訊及暫時缺陷資訊將移至導入區之缺陷管理 此能夠快速讀取碟片100所記錄之資m。並且，藉 缺陷管理資訊於複數個區域能夠增加資訊之可靠 本發明之一實施例，暫時缺陷資訊區#〇至#丨-1所記 陷資訊被重複地記錄於暫時缺陷f訊區#i。因此， 1 11 G G期間％夠由最後所記錄之暫時缺陷資訊# i 陷資訊並且再度記錄所讀取之資訊於缺陷管理區 3 =^有成十十彳思位兀組（GBs)之記錄容量之高密度 L ¥而要刀配個叢集給一個記錄暫時缺陷管理資

1238387 五 發明說明（11) 訊#丨之區域，並且分 資訊#i之區域。這是因為二給-個記錄暫時缺陷 時通常最好以叢集之單位；:己：2小實體單位是-叢集 訊#丨之數量只有幾千位元组° 貝訊，雖然暫時缺陷資 總數量最好大約是此碟.s旦。碟片100所允許之缺陷 慮到與一缺陷有關之資二=之百分之五。例如，考 小是64千位元組（KBs)長1，大疋位元組長而一叢集之大 記錄暫時缺陷資訊# i。，因此大約需要四到八個叢集來 根據本發明之一觀 Λ 陷資訊#i及暫時缺陷管此句執仃寫後檢驗法於暫時缺 片100當中包含此缺陷之二,。當偵測到-缺陷時，碟 性取代法記錄於—備二缺=記錄之資訊可能利用線 個與此缺陷區相鄰之或者利用挪移取代法記錄於- Μ 4A圖至第4D圖綠示根據本發明之實施例之暫時缺陷 ¥理（^ (TDMA )之資料結構。參照第4A圖，暫時缺陷管理區 才f ^輯^刀為兩部分：一暫時缺陷資訊區，以及一暫時缺 陷官理#訊區。暫時缺陷資訊TDFL#〇、TDFL#1、TDFL#2被 循序地$錄於暫時缺陷資訊區，並且由暫時缺陷資訊區之 起點開始朝向其終點。暫時缺陷管理資訊TDDS#〇、 TTDDS#1、TDDS#2由暫時缺陷管理資訊區之起點開始朝向其 終點循序地予以記錄。暫時缺陷管理資訊、 TDDS#1、TDDS#2分別對應於暫時缺陷資訊TDFL#〇、 TDFL#1、TDFL#2 ° 參照第4β圖，暫時缺陷管理區被邏輯地分為兩部分：

12293pif.ptd 第17頁 1238387

Μ及 一暫時 圖所示 區當中 缺陷管 時缺陷 終點開 TDDS#0 始朝向 TDDS#0 TDFL#0 缺陷 > 訊區 、 q 1…丨，日，吕 >王貝汛區，如第4 A :、、;、而上述暫時缺陷資訊區及暫時缺陷管資 錄資訊之川苜皮命够/1 Λ m t ^ … 1貝Λ η ^只口丨u扭久$ α才蜗陷瞢採咨

Lire第4Α圖之暫時缺陷資訊區及暫時 貝汛區田中記錄資訊之順序不同。詳細斬 資訊TDFL#〇、TDFL#1、TDFL#2由暫時缺陷資:凡二 始朝向其起點循序地予以記錄。暫時缺陷管理; 、TDDS#1、TDDS#2由暫時缺陷管理資訊區之終點 其起點循序地予以記錄。暫時缺陷管理資訊、、’’’汗 TDDS# 1、TDDS#2分別對應於暫時缺陷資 、TDFL#1、TDFL#2。 、。 參照第4C圖’相對應之暫時缺陷資訊及暫時缺陷 資訊是暫時缺，管理區（TDMA)所記錄之相對應暫時管理資 Λ當中的一對貧訊。亦即，暫時管理資訊了〇1^#〇、 TDMA# 1、TDMA#2由暫時缺陷管理區之起點開始朝向其終點 循序地予以記錄。暫時管理資訊TDMA#〇包括一對相對應之 暫=缺陷官理資訊TDDS#0及暫時缺陷資訊71)1^#〇。暫時管 理資訊TDMA#1包括一對相對應之暫時缺陷管理資訊TDDS#i 及暫時缺陷資訊TDFL#1。暫時管理資訊TDMA#2包括一對相 對應之暫時缺陷管理資訊TDDS#2及暫時缺陷資訊TDFL#2。 參照第4 D圖’相較於第4 C圖之暫時缺陷管理區，相對 應之暫時缺陷資訊及暫時缺陷管理資訊是暫時缺陷管理區 所，錄之相對應暫時管理資訊當中的一對資訊，但是其記 錄貧訊之順序不同。亦即，暫時管理資訊71)“#〇、 TDMA# 1、TDMA#2由暫時缺陷管理區之終點開始朝向其起點

1238387 五、發明說明（13) 循序地予以3己錄。暫時管理資訊TDMA#〇、TDMA#1、TDMA#2 分別包括一對相對應之暫時缺陷管理資訊TDDS#〇及暫時缺 陷資訊TDFL# 0、一對相對應之暫時缺陷管理資訊τdm# 1及 暫時缺陷資訊TDFL#1、以及一對相對應之暫時缺陷管理資 訊TDDS#2&暫時缺陷資訊TDFL#2。 暫+缺^ g理貝 第5圖繪示根據本發明之一實施例在使用者資料區a及 備用區B之中的資料記錄。資料可能以磁區（sect〇rs)或叢 集（clusters)之單位來處理。磁區表示電腦檔案系統或應 用所能管理之資料之最小單位，而叢集則表示能夠立即被 實體地記錄於碟片之資料之最小單位。一般而言，一個或 多個磁區構成一個叢集。 有兩種磁區··實體磁區與邏輯磁區。實體磁區是碟片 上要記錄一磁區資料之一區域。一個用以偵測實體磁區之 位址稱為實體磁區號碼（physical sect〇r numbe：f， PSN)。邏輯磁區是檔案系統或應用所能管理之資料之單 位。一個用以偵測邏輯磁區之位址稱為邏輯磁區號碼 (logical sector number，LSN)。當記錄資料於碟片 1〇〇 時，如第1圖所示之碟片記錄/再生裝置利用實體磁區號碼 (PSN)來損測資料之記錄位置，而於一電腦或一應用之中 整個資料是以邏輯磁區號碼（LSNs)之單位來管理並且利用 邏輯磁區號碼（LSN)來偵測資料之位置。記錄/再生裝置之 控制器2根據碟片1 〇 〇是否有缺陷以及記錄資料之初始位置 來改變邏輯磁區號碼（LSN)與實體磁區號碼（pSN)之間的關 係0

12293pif.ptd 第19頁 1238387 五、發明說明（14) 參照第5圖，A表示一使用者資料區而B表示一備用 區’其中實體磁區號碼（PSNs)依照遞增順序分配給複數個 磁區（未顯示）。—般而言，每一個邏輯磁區號碼（LSN)對 應於至少一個實體磁區號碼（pSN)。然而，因為邏輯磁區 號碼（LSNs)依照遞增順序分配給無缺陷的磁區，所以當碟 片100具有缺陷區時，縱使實體磁區之大小與邏輯磁區之 大小相同也無法維持實體磁區號碼（PSNs)與邏輯磁區號碼 (LSNs)之間的對應。 次…於ΐ料區A ’區段1001至1 0 07表示執行寫後檢驗法之 二貝料之單位。§己錄裝置記錄使用者資料於區段1 〇 〇 1，然後 返回區ί又1 0 0 1之起點，並且檢查是否適當地記錄使用者資 料或區段1001是否有缺陷。若在區段1001之一部分偵測到 缺則將此"卩分標示為缺陷# 1。缺陷# 1所記錄之使用者 資料也將記錄於備用—之—部分。在此，備用㈣當中覆 寫缺陷#2所記錄之資料之此部分稱為取代#1。 其—人’兄錄裝置記錄使用者資料於區段1 002，然後返 回區& 1 0 0 2之起點，並且檢查是否 地記上 區段1 0 0 2是否有缺阶。w 旁缺。右在區段1 〇 〇 2之一部分偵測到缺 陷而t此部分標示為缺陷#2。同樣地，與缺陷#2相對應 於使用者資料L之】二^別標示缺陷#3與取代 2丄， Λ之區奴i〇〇3與備用區B。於區段1004， 並未=現缺陷因此不標示缺陷區。 ifn 田^ f ^檢驗區段1〇〇4之資料之後要求結束記錄操作 、’、卩§使用者按下記錄裝置之退出按鈕或一記錄操 1238387

作所配置之使用者資料之記錄步驟已經完成時， 將有關區段1001至1 003所發生之缺陷#1至#3之資二f裝置 時缺陷資訊TDFL#0記錄於暫時缺陷管理區。並且，田作暫 官理暫時缺陷資訊TDFL#0之缺陷管理資訊當作斬:^ 理資訊丁 D D S # 0記錄於暫時缺陷管理區。 、、^盲 當記錄操作#1開始時，將記錄資料於區段1〇〇5至 1〇〇7，並且缺陷#4及缺陷#5與取代#4及取代#5分別形 暫時缺陷管理區之使用者資料區A與備用區β，如， 段1001至1 004之說明。若要求結束第二記錄操作，則記= 裝置將記錄有關缺陷#4及缺陷#5之資訊當作暫時缺陷資訊 TDFL#1，並將再度記錄暫時缺陷資訊TDFL#〇所包含之^ ° 訊。其後，將用以管理暫時缺陷資訊TDFL#1之缺陷管理次 訊記錄於暫時缺陷管理區。 貝 第6 A圖及第6 B圖繪示根據本發明之一實施例之暫時缺 陷資訊TDFL#0及TDFL#〗之資料結構。第7圖繪示有關缺陷、 # 1之資訊之資料結構。 參照第6A圖及第6B圖，暫時缺陷資訊TDFL#〇包含有關 缺陷#1至缺陷#3之資訊。詳細來說，有關缺陷#1之資訊指 不個存在缺陷# 1之區域之位置以及一個記錄取代# 1之區 域之位置。有關缺陷#2之資訊指示一個存在缺陷#2之區域 ^位置以及一個記錄取代#2之區域之位置。有關缺陷#3之 資訊指示一個存在缺陷#3之區域之位置以及一個記錄取代 # 3之區域之位置。 暫時缺陷資訊TDFL#1除了暫時缺陷資訊TDFL#〇所包含

1238387 五、發明說明（16) _ 之資訊以外，争句会右關 暫g#妯π次更 有關缺陷#4及缺陷#5之資訊。亦即 訊觀#1包括有關缺陷# : ’ 之貝汛、有關缺陷#3之資 啕關缺陷#2 缺陷#5之資訊。 °有關缺卩曰#4之貝訊以及有關 參照第7圖，有關缺陷#丨 之指標以及一個指示取抑/1之貝汛巩明一個指示缺陷#i 於；t®扣山 /、 弋# 1之指標。詳細來說，缺陷·令 才曰標指出缺陷#丨之起點及炊 ^ ^ ^ # . &缺陷#!之 #i之起點及終點。 ，而取代#ι之礼標指出取代 陷管理方法。夫昭第8 n 據本發明之一貫施例之缺 撼楚 ^ 、第8圖，於步驟8 0 1，記錄裝置將右關拍 P°己錄刼作所記錄之資料之缺陷資訊當作第一暫時^ 記錄於碟片之暫時缺陷管理區。此程序 片缺陷。於步驟802，將用 胃里碟 理資訊當作第一暫時缺 s弟暫寺缺心資訊之管 區。 丁紙丨曰s理貝讯圮錄於暫時缺陷管理 於步驟803 婪牛碰。 將檢查是否需要終結碟片。於牛踯8n/1 右步驟803測定為不需要終纟士 於步驟8〇4， 802，同時將提供队 、° ” 、複ν驟8〇1及步驟 | J吋將徒供給上述記錄操作、上述蕲 /抑 及上述暫時缺陷总_ ^ ^ Ύ 上乩q時缺陷資訊以 =日叶缺卩曰&理資訊之索引加1。然而， 用其他數目於上^：杏^丨…Μ k 〃、、員然此夠使 ,σϊ 上迷索引以便擴大用以區分所詐你4次Η 組別之數目。 7。己錄之資料之 碟片，則將最 之暫時缺陷資 之暫時缺陷管 於步驟80 5，若步驟8〇3測定為需要終結 f f記錄之暫時缺陷管理資訊及最後所記錄 晟屺錄於缺陷管理區。亦即，將最後所記錄

12293pif.ptd 第22頁 1238387 五、發明說明（17) 理資訊及最後所記錄< _ ^身 理資訊及最終暫時缺嗯二缺陷負5fl §作最終暫時缺陷管 據本發明之一觀點，可二^記錄於缺陷管理區（DMA)。根 訊及最終暫時缺陷資气=重複地記錄最終暫時缺陷管理資 並且，根據本發加資料偵測之可靠性。 最終暫時缺陷管理資訪且觀點，可旎執行寫後檢驗法於 時缺陷管理資訊及最故新主、·冬暫時缺^貝矾。若由最終暫 當中一個出現缺陷之區二時缺陷資訊谓測到缺陷，則碟片 記錄之資料可能被認為:^及在具有缺陷之此區域之後所 理資訊及最終暫時缺陷；；= (:;广將最終暫時缺陷管 且可能再度記錄最終暫睹：^域t不為一缺陷區），並 訊於此缺陷區之後。、缺官理貝矾及最終暫時缺陷資 苐9圖是根據本發明 —. 法之流程圖。朱昭第9圖另一貝訑例之碟片缺陷管理方 資料以資料單位1己錄於次於步驟901 ’記錄裝置將使用者 陷存在於碟片i 00之F B {使用者貝料貞測是否有缺 具有缺陷之=二域。:/「驟9 °3 ’第1圖之控請將 用者資料覆3=;:缺；區，將此缺陷區所記錄之使 π只丨T伋馬於一備用區以產生一 指示此缺陷區與此取代區之指標資訊。；步二產生分別 述指標資訊當作第一暫時缺陷資訊儲存於第 ，將上 3。於步驟905，檢查是否要求結束摔圖之記憶體 決定『…錄操作，則將重複步驟二作^ 。而’於步驟906 ’若步驟9G5決定結束記錄操作（亦 12293pif.ptd 第23頁 1238387 五、發明說明（18) --— 即藉由使用者輸入或根據記錄操作而完成使用者資料之記 錄步驟），則控制器2將由記憶體3讀取暫時缺陷資訊#〇並 將暫時缺陷資訊#〇當作暫時缺陷資訊記錄於一暫時 缺陷管理區。於步驟907，將用以管理暫時缺陷資訊曰、 TDFL#〇之管理資訊當作暫時缺陷管理資訊TDDS#〇記錄於上 述暫時缺陷管理區。 、 於步驟9 08 ’檢查是否需要終結碟片1〇〇。若步驟9〇8 决疋不需要終結碟片1 〇 〇，則將重複步驟9 〇 i至步驟9 〇 7同 時將提供給上述記錄操作、上述暫時缺陷資訊以及上述斬 時缺陷管理資訊之索引加1。然而，顯然能夠使用其他數9 目於上述索引以便擴大用以區分所記錄之資料之組別之數 目° 於步驟910，若步驟908決定需要終結碟片100，則將 最，所記錄之暫時缺陷資訊TDFL# i及最後所記錄之暫時缺 陷官理資訊TDDS#i當作缺陷資訊DFL及缺陷管理資訊D])s呓 ，於一缺陷管理區（DMA)。根據本發明之一觀點，可能重 複地圮錄缺陷資訊DFL及缺陷管理資訊])1)3數次以增加資 偵測之可靠性。 、’ 並且，根據本發明之一觀點，可能執行寫後檢驗法於 缺陷資訊DFL及缺陷管理資訊DDS。若由上述缺陷資訊])Fl 及缺陷管理資訊DDS偵測到一缺陷，則一個具有此缺陷之 區域以及在具有此缺之此區域之後所記錄之資料可能被 為為疋無效的（亦即將包括缺陷資訊DFL及缺陷管理資訊 DDS之區域標示為一缺陷區） 並且可能再度記錄上述缺陷

12293pif.ptd 第24頁 1238387 五、發明說明（19) 管理資訊及缺陷資訊於此缺陷區之後。 上述缺陷管理方法可能+ 眚# 接士 L 電腦能夠執行之電腦轺七氺 貫知。構成上述電腦程式之程式及自電，耘式來 知此項技藝之電腦程式設計師所理 b :転易地被熟 腦可讀媒體。當電腦讀取或热〜、 述耘式儲存於電 本發明之缺陷管理方法。在仃程式時’電腦將執行根據 磁性記錄媒體、光學記錄媒^述電腦^讀媒體可能是 錄媒體。 、、載波媒體韌體或其他可記 夠利都需要，但是很明顯地控制_ 可能以-個具有㈣之晶片來實施上述電η 法。 飞特疋目的之可程式電腦來執行上述方 此夕卜 很明顯地 + ^ Λ ' 為了達成幾十十億位元組 包括-個；爾之弋錄容量，因此記錄及/或再生單元1可 低波長、：數：,錄幾十十億位元組之資料於碟片100

孔徑之單元、盥駐=m)波長之光線並且具有0. 85之聋 片（AOD)相容之、單"元先碟片相容之單元、及/或與先進光 理。:艮d月ί發明提供可應用於碟片之碟片缺陷售 /或導出區/使Λ—觀點’暫時缺陷資訊區位於導入區 在終結碟片期門于、陷貧訊能夠重複地予以記錄。並且 ^ 3 ’由暫時缺陷管理區只讀取最後所記錦

1238387 及、發明說明（20) 暫時缺陷資訊，並且將其記錄於缺陷管理區，因而能夠有 效地利用缺陷管理區。因此，當執行缺陷管理時能夠記錄 使用者資料於甚至是可寫一次型碟片，因而能夠執行更穩 定的備份操作而不致於中斷。 當說明中提及可寫一次型碟片時，顯然上述方法能夠 =用於可覆寫媒體或具有可寫一次部分及可覆寫部分之媒 雖然本發明 用以限定本發明 原理及精神的情 發明之權利保護 準。 已經以其較佳實施例揭露如上，麸豆 ，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之 況下，當可作些許之更動與潤飾，因此 範圍當視後附之申請專利範圍所界定

1238387 圖式簡單說明 第1圖是根據本發明之一實施例之記錄及/或再生裝置 之方塊圖。 第2 A圖及第2B圖繪示根據本發明之實施例之碟片之結 構。 第3圖繪示根據本發明之一實施例且如第2 A圖及第2β 圖所示之碟片之資料結構。 第4 A圖至第4 D圖繪示根據本發明之實施例之暫時缺陷 管理區之資料結構。 第5圖繪示根據本發明之一實施例在使用者資料區及 備用區之中的資料記錄。 第6A圖及第6B圖繪示根據本發明之實施例之暫時缺陷 資訊TDFL#0及TDFL#1之資料結構。 第7圖繪示根據本發明之一實施例之有關缺陷# i之資 訊之資料結構。 第8圖是根據本發明之一實施例之缺陷管理方法之流 程圖。 第9圖是根據本發明之另一實施例之缺陷管理方法之 流程圖。 圖式標記說明 1 記錄/讀取單元 2 控制器 3 記憶體 10 0 碟片 1001 具有缺陷#1之區段

------ 1238387 圖式簡單說明 1002 具有 缺 陷#2 之 區 段 1003 具有 缺 陷#3 之 區 段 1004 無缺 陷 區段 1005 具有 缺 陷#4 之 段 1006 具有 缺 陷#5 之 段 1007 無缺 陷 區段 A 使用者資料區 B 備用區 DMA 缺陷管理區 L0 第 一記 錄 層 L1 第 二1己 錄 層 TDDS#0 暫 時 缺陷 管 理 資訊#0 TDDS#1 暫 時 缺陷 管 理 資訊# 1 TDDS#2 暫 時 缺陷 管 理 資訊#2 TDFL#0 暫 時 缺陷 資 訊# 0 TDFL#1 暫 時 缺陷 資 訊# 1 TDFL#2 暫 時 缺陷 資 訊#2 TDMA 暫時 缺 陷管 理 區 TDMA#0 暫 時 缺陷 管 理 區#0 TDMA#1 暫 時 缺陷 管 理 區#1

12293pif.ptd 第28頁

Claims (1)

1238387 六、申請專利範圍 1 · 一種碟片，可使用於一記錄及/或再生裝置 該碟 片包括 一資料區，用以記錄使用者資料；以及 與違負料區相鄰之一導入區及一導出區當中至少一 區，該區包括一個包含與該資料區所記錄之該使用^資料 有關之暫時缺陷資訊及暫時缺陷管理資訊之暫時缺陷管理 區，並且該區可被該記錄及/或再生裝置所存取以 碟片上執行缺陷管理〇 ^ 2·如申請專利範圍第1項所述之碟片，其中： F之包括在一個與記錄該使用者資料於該資· 區之一圯錄刼作不同之額外記 之額外使用者資料，以及 T 4貝枓£所5己錄 該暫時缺陷答I» r- 對應於在該額外記^更包括記錄於該暫時缺陷管理區且 之額外暫時缺陷資^术作當中所§己錄之該額外使用者資料 3.如申請專利;2額外暫時缺陷管理資訊。 陷資訊包括指示該^第1項所述之「碟片，其中該暫時缺 缺陷區記錄了該使用^區之一缺""區之—位置之資訊，該 錄了該使用者第3項所述片，更包括一個記 其中該暫時缺陷匕该單位以便替換錢陷區之取代區’ 士由社奎巩包括指示該取代區之一位置之資訊。 n 利範圍第1項戶斤述之碟片，其中該暫時缺 訊於該暫時缺陷；=陷資訊區，並且記錄該暫時缺陷貧

12293pif.ptd

第29頁 1238387 六、申請專利範圍 6. 如申請專 陷管理區包括一 陷管理資訊於該 7. 如申請專 之該暫時缺陷資 錄於該暫時缺陷 8. 如申請專 於該導入區及該 在終結該碟片期 最後暫時缺陷資 陷資訊及缺陷管 9 · 一種用以 片包括'一資料區 利範園 暫時缺 暫時缺 利範園 訊及3 管理區 利範圍 導出區 第1項所述之碟片，其中該暫時缺 陷管理資訊區，並且記錄該暫時缺 陷管理資訊區。 第1項所述之碟片，其中將相對應 暫時缺陷管理資訊當作一對資訊記 第1項所述之碟片，更包括一個位 當中至少一區之缺陷管理區，其中 間，將最後記錄於該暫時缺陷管理區之一 訊及一最後暫時缺陷管理資訊當作最終缺 理資訊記錄於該缺陷管理區。 管理 以及 碟片之碟片缺陷之方法，其中該碟 個位於一導入區及一導出區之一之 暫時缺陷管理區，該方法包括·· 記錄暫時缺陷資訊於該暫時缺陷管理區，該暫時缺陷 資訊包括與該資料區根據一記錄操作所記錄之資料有關之 缺陷資訊；以及 記錄暫時缺陷管理資訊於該暫時缺陷管理區，該暫時 缺陷管理資訊包括用以管理該暫時缺陷資訊之管理資訊。 1 0 ·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該方法更 包括： ，於在複數個記錄操作期間所記錄之資料之每一單位 都，。亥暫時缺資訊之記錄步驟及該暫時缺陷管理資訊 之記錄步驟；以及 、

1238387 六、申請專利範圍 將最後所記錄之一鲂眭# μ μ 一 訊記錄於-缺陷管理區，：理資訊及-暫時缺陷資 導出區當巾至少錢陷官理區位於料人區及該 11.如申請專利範圍第9 碟片期間執行最後所々林七 其中在終結該 驟。 相㈣之該暫時缺陷管理資訊之記” -1 2·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中詨 :資訊,記錄步驟包括將指示該資料區之-缺陷區之—缺 置之缺陷位置資訊記錄於該暫時缺陷資訊。 仇 13·如申請專利範圍第丨丨項所述之方法，其中該 缺> Λ之。己錄步驟更包括將指示一個包含該缺陷區、 錄之資料之一部分以便替換該缺陷區之取代區之一位置= 取代位置> §fl屺錄於該暫時缺陷資訊。 1 4·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中·· 该暫時缺陷資訊包括多重單位的暫時缺陷資訊， 该暫時缺陷管理區更包括一暫時缺陷資訊區，以及 該暫時缺陷資訊之記錄步驟更包括循序地記錄該暫時 缺陷資訊之該些單位於該暫時缺陷資訊區，旅且由該暫時 缺陷資訊區之一起點開始。 1 5·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中·· 該暫時缺陷管理資訊包括多重單位的暫時缺陷管理資 訊， 該暫時缺陷管理區更包括〆暫時缺陷管理資區，以 及 1238387 六、申請專利範圍 該暫時缺陷管理負訊之記錄步驟包括循序地記錄該暫 時缺陷管理資訊之該些單位於該暫時缺陷管理資訊區，並 且由該暫時缺陷嘗理> 5代區之一終點開妒。 1 6 ·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中·· 該暫時缺陷資訊包括多重單位的暫時缺陷資訊， 該暫時缺陷管理區更包括一暫時缺陷資訊區及一暫時 缺陷管理資訊區， 該暫時缺陷管理資訊包括多重單位的暫時缺陷管理資 訊’以及 該暫時缺陷資訊之記錄步驟及該暫時缺陷管理資訊之 記錄步驟包括循序地將該暫時缺陷資訊及該暫時缺陷管理 資訊之相對應單位當作一對資訊記錄於暫時管理資訊之相 對應單位，並且由該暫時缺陷管理區乏一起點開始。 1 7 ·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中： 該暫時缺陷資訊包括多重單位的暫時缺陷資訊， 該暫時缺陷管理區更包括一暫時缺陷資訊區及一暫時 缺陷管理資訊區， 該暫時缺陷管理資訊包括多重單位的暫時缺陷管理資 訊，以及 該暫時缺陷資訊之記錄步驟及該暫時缺陷管理資訊之 記錄步驟包括循序地將相對應之該暫時缺陷資訊及該暫時 缺陷管理資訊當作一對資訊予以記錄’並且由該暫時缺陷 管理區之一終點開始。 1 8 ·如申請專利範圍第9項所述之方法，其中該暫時缺

12293pif.ptd 第32買 1238387 六、申請專利範圍 陷資訊之記錄步驟更包括： 以該資料之預定單位來記錄該資料· 缺 檢驗所記錄之該資料以偵測碑 陷區； 有一缺1¾之 若偵測到一缺陷區，則儲存第一 _ 憶體，該第一暫時缺陷資訊包括 A 、陷資於一記 咨印丨、/ 狄- 犯？日不遠缺陷區之 ^ 貝汛以及ί日不一個包含該缺陷區所記錄之〜位置之 便替換該缺陷區之取代區之資訊； 、〃、之〜單位以 重複該資料之記錄步驟至該記憶體之 次；以及 磚存步驟至少一 至少讀取該記憶體所儲存之該第一斬 將所讀取之該資訊當作該第一暫時缺陷41:陷資訊並且 缺陷管理區。 、 孔§己錄於該暫時 ·種可使用一碟片之記錄及/或再生梦¥ 具有一資料區以及一個位於一導入區及一 ，該碟片 一區之暫時缺陷管理區，該裝置包括··泠出區當中至少 圮錄/讀取單元，用以記錄資料於竽 區及/或由該碟片之該資料區讀取資料;、：及 該資料 「控制器，用以控制該記錄/讀取單元以 缺卩曰貝訊於該暫時缺陷管理區，該暫欠…、曰、 且記錄暫所記錄之資料有關之缺陷資訊，並 陷管理資讯勺、括：貝訊於該暫時缺陷管理區’該暫時缺 貝λ ^括用以管理該暫時缺陷資訊之管理資訊。 •如申明專利範圍第1 9項所述之記錄及/或再生裝

12293pif.ptd 第33頁 1238387 六 、申請專利範圍 Xrjy ’ ί ::控制器更控制該記錄/讀取單元以插 很據另一 你γ仏 μ平疋从便： 記俾14錄彳呆作記錄額外資料於該資料F 。匕錄額外暫日4 ϋ μ t . 貝料區， 暫時缺陪其IS π缺陷_貝訊及額外暫時缺陷管理次4认 錚捍作區，該暫時缺陷管理區對庫於钿#貝於該 錄細作所記錄之該額外資料，以A f應於根據該額外記 後所i!!結該碟片期間將最後所記錄之暫時缺P" 陷管理區位卜… 貝 錄於一缺陷管理區，嗜缺 區。位於遠碟片之該導入區及該導出區當中至少」缺 2i.—種可使用一碟片之記錄及/ ;:-資料區以及一個位於一導入區及―⑴’该碟片 日守缺=管理區，該記錄及/或再生裝置包括導出£之-之暫 舌己錄/讀取單元，用以記錄資料於 區或由該碟片之該資料區讀取資料;：及亥碟片之該資料 二控制器，用以控制該記錄/讀取單元以便 圮錄第一暫時缺陷資訊於該暫時缺 暫時缺陷資訊包括與該資料區根據一第二该第-之資料之1-單位有關之缺陷資訊# °己“作所記錄 第一ΪΪ第—暫時缺陷管理資訊於該暫時缺陷管理區，該 第一曰時缺陷管理資訊包括用以管理該第一 之缺陷管理資訊， 賀時缺陷貝汛 斬# 2 ί ΐ二暫時缺陷資訊於該暫時缺陷管理區，該第二 二:极曰貝矾包括與該資料區根據一第二記錄操作所記錄 貝料之—第二單位有關之缺陷資訊，以及

1238387

σ〇 第二f 之缺陷 22 置’其 料之額 C錄操 並且將 時缺陷 區當中 23 置，其 日2 ΐ Ϊ時缺陷官理資訊於該暫時缺陷管理區，該 管理^ ζ理資訊包括用以管理該第二暫時缺陷資訊 申明專利範圍第2丨項所述之記錄及/或再生裝 外Γ控制器更控制該記錄/讀取單元以便記錄該資 作早1立於。亥資料區同時增加一個提供給每一個額外 曰4缺陷資訊以及暫時缺陷管理資訊之索引， 次:所屺錄之暫時缺陷管理資訊及最後所記錄之暫 記錄於一個包含於該碟片之該導入區及該導出 至 >、一區之缺陷管理區。 •中知·申明專利範圍第21項所述之記錄及/或再生裝 錚拉=ϊ ΐ f更控制該記錄/讀取單元以便根據一最後記 月m錄最後資料於該資料區並記錄最終缺陷管理資訊 二陷貝汛於一缺陷官理區，該最終缺陷資訊及該最 :ί:理資訊分別包括與根據該最後記錄操作所記錄之 乂s後 > 料有關之最後所記錄之暫時缺陷資訊及最後纪 錄之暫時缺陷管理資訊，並且 ° 該缺陷管理區位於該碟片之該導入區、該導出區以及 一外圍區當中至少一區。 24·如申請專利範圍第21項所述之記錄及/或再生裝 置，其中該控制器更控制該記錄/讀取單元以便循序地記 錄該暫時缺陷資訊於該暫時缺陷管理區之一暫時缺陷資訊 區，並且由該暫時缺陷資訊區之一起點開始。

12293pif.ptd 第35頁 Ϊ238387 ^" ------- 置，2 5 ·如申請專利範圍第2 1項所述之記錄及/或再生裝 钵μ "中5亥控制器更控制該記錄/讀取單元以便循序地記 管J i ^缺陷管理資訊於該暫時缺陷管理區之一暫時缺陷 始。身訊區，並且由該暫時缺陷管理資訊區之一終點開 置 2 6 ·如申請專利範圍第2 1項所述之記錄及/或再生裝 包人其中該控制器更控制該記錄/讀取單元以便循序地將 匕合該暫時缺陷資訊及該暫時缺陷管理資訊之一相對應對 暫時管理資訊記錄於該暫時缺陷管理區，並且由該暫時 缺陷管理區之一起點開始。 2 7 ·如申請專利範圍第2 1項所述之記錄及/或再生裝 置’其中該控制器更控制該記錄/讀取單元以便循序地將 包含該暫時缺陷資訊及該暫時缺陷管理資訊之一相對應對 之暫時管理資訊記錄於該暫時缺陷管理區，並且由該暫時 缺陷管理區之一終點開始。 28·如申請專利範圍第21項所述之記錄及/或再生裝 置’該裝置更包括一記憶體，其中該控制器更 控制該記錄/讀取單元以便根據一預定記錄操作以該 資料之預定單位來記錄該資料於該碟片， 檢驗所記錄之該資料之該些單元以偵測該碟片上有一 缺陷之一缺陷區， 產生指示一缺陷區之缺陷位置資訊以及指示一個用以 替換該缺陷區之取代區之取代位置資訊， 將所產生之該缺陷位置資訊及該取代位置資訊當作暫

12293pi f.ptd 第36頁 1238387 六、申請專利範圍 時缺陷資訊儲存於該記憶體 控制該記錄/讀取單元q 錄該資料之一額外單位於讀便根據一另外的記錄操作記 在完成該資料之該額外％、曰區之後’ 記錄步驟之後由該記憶體讀=j立根據該另外的記錄操作之 控制該記錄/讀取單元% 5亥暫時缺陷資訊，以及 資訊於該暫時缺陷管理區。w便記錄所讀取之該暫時缺陷 2 9 ·如申請專利範圍第$ 陷管理區更包括該暫時缺p =所，之碟片，其中該暫時缺 資訊區，並且記錄該暫時=j區以外的一暫時缺陷管理 資訊區。 時缺陷管理資訊於該暫時缺陷管理 30.如申請專利範圍第7項所述 之該暫時缺陷資訊及該暫時缺陷管理資訊當;乍： 讥δ己錄於該暫時缺陷管理區之相鄰單位。 、 31·如申請專利範圍第3〇項所述之碟片，其中： 記錄額外使用者資料於該資料區， 將相對應於該額外使用者資料之額外暫時缺陷資訊及 額外暫時缺陷管理資訊當作額外暫時管理資訊記錄^該暫 時缺陷管理區之一第二區之相鄰單位，以及 、、〜曰 記錄該暫時管理資訊於該暫時缺陷管理區當φ 區以外的一第一區。 甲该第一 32· —種儲存媒體，可使用於一記錄及/或再生 該儲存媒體包括： 、 一資料區，該資料區包含使用者資料；以及

12293pif.ptd 第37頁 1238387 、申請專利範圍 祀固 5亥身料區以外的一營理區，該管理區包括一個包含暫 時缺陷眘4 ^ 、成之暫時缺陷管理區，該暫時缺陷資訊與該資料 區所記錄之# , ..^ 该使用者資料有關並且可被該記錄及/或再生 盆 ▲ 乂在該儲存媒體上執行缺陷管理， 媒體了，该錯存媒體是一種具有一特性之可寫一次型儲存 〜 。亥特性為在記錄該資料於該儲存媒體之一區域之後 月匕° ^免將新資料寫入該儲存媒體之該區域。 味 •如申請專利範圍第3 2項所述之儲存媒體，其中該 管i里區更勺 -Lr A 匕括該暫時缺陷管理區以外的一缺陷管理區， ^ Jf Γ〇 , . °°匕έ可被該記錄及/或再生裝置所使用以在古女 儲存媒體上執行該缺陷管理之該暫時缺陷資訊。在為 3/ ·次如，申清專利範圍第3 3項所述之儲存媒體，其中· 該資料區更包括額外使用者資料， /、 · 作額額外使用者資料之額外暫時缺陷資訊當 作額卜Θ時g理資訊記錄於該暫時缺陷管理區， 田 該額外暫時缺陷資訊更包括該暫時缺陷資訊 吞亥缺陷管ρ Θ人·, i 、 及 &理£包含该額外暫時缺陷資訊。 35. —種儲存媒體’可使用於一記 該儲存媒體包括： 久/ A丹生裝置， 貝料區，該資料區包含使用者資料以及一 使用者資料之區域以外的一巴妁 圮鲦該 1 J b域所記錄之額外#用表> 料；以及 a W便用者資 該管理區包括一暫時缺 與該資料區所記錄之1曰 遠資料區以外的一管理區， 管理區’該暫時缺陷管理區包含

12293pif.ptd 第38頁 1238387 申清專利範圍 用者資料有關 訊之區域、 暫時缺陷資訊以及一個記錄該暫時缺陷資 ^ 外的—區域所記錄之額外暫時缺陷資訊， 料之^ p f額外暫時缺陷資訊包括對應於該額外使用者資 兮蚀六、=貝Λ並且可被該記錄及/或再生裝置所存取以在 °亥儲存媒體上執行_陷管s。 2·如申請專利範圍第35項所述之儲存媒體， 缺陷管理區更句杯· 暫時缺陷管理區更;f括固弟Μ項所逆〈爾伟媒體，其中該 用u=缺卩曰s理資訊，可被該記錄及/或再生裝置所使 用以：理該暫時缺陷資訊；以及 斤使 & # 1外暫時缺陷管理資訊，可被該記錄及/或再生穿胃 所使用以管理兮鈕从心 人打王装置 3? β，亥額外暫時缺陷資訊。 將·兮如新申士睛專利範圍第36項所述之儲存媒體，其中： _ J 日守缺陷資訊及該暫時缺陷管理資訊當作斬卩* 理資訊記錄於 ^ 只u田1下暫時管 、〜曰時缺陷管理區之相鄰單位， 將該額外勒u ± 作額外暫時管缺陷資訊及該額外暫時缺陷管 位，以及 里貝訊記錄於該暫時缺陷管理區之相鄰單 # 1 3 2暫時管理資訊於該暫時缺陷管理區當中_ ^ 錄该額外暫時營 Τ 個記 3 8如 理貝訊之區域以外的一區域。 ^ ^ 中叫專利範圍篦3 5須所述之儲存媒體，# & 媒體更包括一兄从礼图弟以孭尸/τ儿响仔姝體，该儲存 址 另外的區域，該另外的區域包含與該資社广 資料， 刀所圮錄之使用者資料之一部分相對應之取代 中4暫時缺陷資訊及該額外暫時缺陷資訊之— 巴括

12293pif.ptd 1238387 六、申請專利範圍 與該缺陷部分之一位置有關之缺陷位置資訊以及與該取代 部分之一位置有關之取代位置資訊。 ^ ^9·如申請專利範圍第35項所述之儲存媒體，其中該 言=f更包括該暫時缺陷管理區以外的一缺陷管理區，該 =IΞ區包含可被該記錄及/或再生裝置所使用以在該 日士 I 次f執行該缺陷管理之該暫時缺陷資訊及該額外暫 · 士申凊專利範圍第3 9項所述之儲存媒體，其中： ΐ = ϊ時缺陷資訊包括該暫時缺陷資訊，以及 乂 、曰&理區包含該額外暫時缺陷資訊。 儲存U體且種&可使7 一儲存媒體之記錄及/或再生裝置，該 資料區以及-管理區，該管理區位於-個 及/或/生/置包括^ 1包括—暫時缺陷管理區，該記錄 料；以及寫（Plckup)早7^，用以轉移關於該資料區之資 一控制器，用以抑法士 區之該資料並且轉移寫單元以便轉移關於該資料 訊，該暫時缺陷資訊包括=3時缺陷管理區之暫時缺陷資 錄之資料有關之缺陷資訊拍、该資料區根據一記錄操作所記 關於該儲存媒體之缺陷管理且可被该控制器所使用以執行 其中該儲存媒體是— ’ 媒體，該特性為在記錄該次二、有特性之可寫一次型儲存 能夠避免將新資料寫入^ Α貝料於該館存媒體之一區域之後 八4儲存媒體之該區域。

12293pif.ptd 苐40頁 1238387 六、申請專利範圍 42. 如申請專利範圍第41項所述之記錄及/或再生 置，其中該控制器更控制該讀寫單元以便轉移關於★亥資 區當中-個記錄該資料之區域以外的—區域之額外資料， 額外趣對應之額外暫時缺陷資訊於該暫 43. 如申請專利範圍第41項所述之記錄及/或 置，其中该控制器更轉移關於該暫時缺陷管理區之^缺 陷管ί U暫時缺陷管理資訊包括可被該控制；所使 用以管理该暫時缺陷資訊之管理資訊。 ° 44. 如申請專利範圍第43項所述之記錄及/或 置，其控制，控制該讀寫單元以便轉移該暫時缺： 汛及忒曰時缺陷管理資訊當作暫時管 2 缺陷管理區之相鄰單位。 ^理貝^己錄於該暫時 置 4】中如申請專利範圍第43項所述之記錄及/或再生裝 該控制器更控制該讀寫單元以 額外資料，並且轉移與該額外資料相對應：：以區之 資t二巧外暫時缺陷管理資訊當作額外暫時管理 於該暫％缺陷管理區之一第二區之相鄰單&，以：以錄 區以理資訊於該暫時缺陷管理區當中該第二 置:中H請專利範圍第41項所述之記錄及/或再生裝 該控制器更控制該讀寫單元以便轉移關於該資料區之

12293pif.ptd 第41頁 1238387 六、申請專利範® 另外的區域之取 代資料，該取代資料對應於該資料區之 一掀阳邱/刀、所記錄之資料，以及 該暫時缺陷資訊包括與該缺陷部分之一位置有關之缺 陷位置資訊以及與該取代部分之一位置有關之取代位置資 訊。 、 4 7 ·如申請專利範圍第41項所述之記錄及/或再生裝 置，其中該管理區更包括該暫時缺陷管理區以外的_ ^ 管理區，並且該控制器控制該讀寫單元以便蒋： 於該缺陷管理區之該暫時缺陷資訊。 轉移關 置，4】.中如，請專利範圍第47項所述之記錄及/或再生裝 該控制器更控制該讀寫單元 額外資料，並且轉移與該額外資料=關，料區之 資訊當作額外暫時管理資於、心之$外暫時缺陷 該額外暫時缺陷資；更時缺陷管理區， 該缺陷管理區包含該額外暫g:日守缺陷貧訊，以及 …49.1電腦可讀媒體，^^陷資訊。 貝細一種轉移關於一電腦所執行、-一 ·碼了處理指令用以 法，該儲存媒體具有一資料區一儲存媒體之資料之方 的一區域並且包括一暫時缺陷管個位於該資料區以外 括： 區之管理區，該方法包 4工制一讀寫單元以便轉 獲得包括與該資料區根據!^資料區之資料； 有關之缺陷資訊之暫時缺陷資 錄操作所記錄之該資料 — ι並且使用該暫時缺心 第42頁 12293pif.ptd 1238387

12293pif.ptd 第43頁 1238387 六、申請專利範圍 讀方法更包括控制該讀寫單元以便轉移關於•資料區 之一另外的區域之取代資料，該取代負料對應於螻資料區 之缺陷部分所記錄之資料之一部分，以及 該暫時缺陷資訊包括與該缺陷部分之一位置有關之缺 陷位置貧訊以及與該取代部分之〆位置有關之取代伋复資 5 4 ·如申請專利範圍第4 9項所述 > .爲

中該管理區更包括該暫時缺陷管理區以外的一缺陷管埋、 區，並且該方法更包括控制該讀寫單元以便額外地轉移關 於該缺陷管理區之該暫時缺陷資訊。 5 5 ·如申請專利範圍第5 4項所述之電腦可讀媒體， . 、 具 中： 該方法更包括控制該讀寫單元以便轉移關於該資料區 之額外資料，並且轉移與該額外資料相對應之額外暫時缺 陷資訊當作額外暫時管理資訊記錄於該暫時缺陷管理區，、 該額外暫時缺陷資訊更包枯該暫時缺陷資訊，以2 該缺陷管理區包含該額外暫時缺陷資訊。

12293pif.ptd 第44頁