TW577035B - Substrate for a display device, array substrate, inspection circuit, inspection method and method of fabricating liquid crystal cell - Google Patents

Description

577035

發明背景 本發明與一種用於在一主動式矩陣顯示裝置製程期間進 行檢查的檢查電路有關。 目則廣泛使用的薄膜電晶體（TFT)彩色液晶顯示裝置製程 可被分成三種製程：一種液晶單元製程；一種液晶模組製 程，以及一種液晶監視器製程。液晶模組完成方式為，將 液晶單元連接至驅動器1C及用於產生要輸入至驅動器1〇之 控制信號的驅動電路，以及裝上背光和機械組件。另外， 液晶監視器完成方式為，將液晶模組進一步連接至用於產 生含有所要輸入之影像資訊之信號的圖形配接卡，以及裝 上機械組件。 在製程液晶顯示裝置過程中，基本上需要提早偵測因製 程期間混入灰塵所造成之缺陷或因尺寸錯誤所造成之缺陷 ，以便提高製造效率。因此，在液晶顯示裝置製程的每個 步驟中，都會進行如間隙檢查及發光檢查之類的各種檢查。 例如，曰本未審查專利公報案號60(1985)-2989發表一種 用於偵測用以建構液晶單元之TFT陣列基板之資料/掃描信 號線路之斷線及短路的方法。該方法實行只包含一個X—驅 動電路系統之液晶顯示裝置之資料/掃描信號線路中之斷線 偵測’該方法藉由在X-驅動電路的反面提供用於檢查的一 組電晶體來偵測資料/掃描信號線路的斷線及短路。確切而 言’執行檢查的方式為，從用於檢查的電晶體輸入藉由驅 動電路輸出的特定檢查信號。除前面的方法以外，日本未 審查專利公報案號3(199 1)-18891、案號3(1991 )-20721、案 -5- 本纸張尺度適_關轉準_) A4規格(摩撕公羡)

裝 訂

577035 A7 ------B7 五、發明説明（2 ) 號5(1993)-5897及案號5(1993)-1 1000發表檢查TFT陣列基板 ’其方式為將用於檢查的信號線路或開關電路連接至位於 驅動電路反面上的主動式矩陣陣列。另外，曰本未審查專 利么報案號2(1990)· 154292發表藉由使用具有類比開關功能 的t擇電路，在連接至驅動器1C之前先檢查主動式矩陣陣 列斷線。 。則面各種檢查之一是影像品質檢查，這是在完成TF丁液晶 單元後執行的檢查。雖然已知有TFT液晶單元影像品質檢查 的各種方法，但是主要採用的檢查方法稱為多稍探針模式。 執行夕稍探針模式的方式為，在製造液晶單元的最後步 驟中，使用探針獨立連接液晶單元的所有信號輸入端子， 以及從液晶模組中的驅動器IC輸入同等於輸入信號的電子 信號二在此方式中，可徹底重現最終產品之液晶單元的驅 動藉此藉由視覺上檢查最終產品的顯示幕來執行檢查。 在此情況下，準備的輸入信號實行有種類螢幕顯示。但是 ，按照多稍探針模式的檢查涉及數項問題，如下文所述。 首先，多稍探針成本極高，並且也需要相當長的生產時 間。例如，具有包1024像素（（乘）3像素）（乘）768列的液晶單 疋包含用於輸入至少3840條信號線路的佈線。因此，為了 執行影像品質檢查，必需準備能夠接觸幾乎4〇〇〇個信號輸 入端子的探針。 另外，還有關於檢查穩定性的問題。近來年，由於隨著 j晶單元擴展及高度清晰度發展導致探針點遞增及密度提 兩，因而浮現探針電性接觸不穩定的問題。當電性接觸不

裝- 訂

-6 -

五、發明説明（3 ) 穩定時’沿著實際上未提供輸入信號之佈線的檢查螢幕不 會顯示，因而檢查效率大幅下降。這是藉由使用影像處理 等等來執行自動檢查而言非常關鍵。另外，隨著高度清晰 度液晶單元開發，介於互相鄰接之兩個探針之間的空間隨 之縮小。因此，問題不僅僅在於檢查穩定度下降，而且還 有探針本身之製造也正到達其極限的問題。 此外，因為多稍探針不適用於各種模組，所以還會引起 成本增加及檢查效率下降。此類問題歸因於以下事實，依 據製造的液晶單元各種模組，因為模組之間的規格差異， 所以各種模組之中的探針排列標準化非常困難。因此，需 要針對每種模組準備探針組，藉此每當檢查不同模組時更 換檢查系統上的探針組。 由於前面提出的原因，所以已要求一種能夠縮減多稍探 針的檢查方法，即使檢查方法只能顯示有限類型的檢查螢 幕。 1999 年 Society for lnformati〇I1 Display International Symposium上Μ· Kodate等人發表的「>^1〇61^&1^〇11丁？丁-Array Testing for High-Resolution/High-Content AMLCDs」 中揭示一種用於檢查TFT陣列基板的改良方法。這項檢查方 法包括，在TFT陣列基板的周圍，用於選擇一用於測量像素 充電之電荷量之信號線路的第一選擇元件（TFT)，以及一用 於保存不測量之信號線電位的第二選擇元件（TFT)。另外， 該檢查方法的特徵為，形成一檢查電路，其建構方式為經 由該等第一選擇元件將複數條信號線路繫結在一起。由於 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 577035 A7 _____ B7 五、發明説明（4 ) 該檢查電路中會經由該等第一選擇元件將複數條信號線路 繫結在一起，所以可減少進行檢查時所需的探針數量。 曰本未審查專利公報案號} 1(1999)-338376發表一種能夠 減少進行檢查時所需之探針數量的檢查電路，甚至在^成 TFT液晶單元後執行影像品f檢查。在，日本未審查專利公 報案號1 1(1999)-338376發表的檢查電路中，會將用於切換 供應檢查顯示信號或掃描信號的檢查TFT逐一且各自連接至 複數條資料信號線路及掃描信號線路。 該檢查電路進一步包括一檢查顯示信號線路，用於將檢 查顯示信號供應至連接資料信號線路的檢查TFT，該檢查顯 示信號路線連接至共同的各自元件。此時，該檢查電:: 包括依據顯示色彩的3條各自的控制信號線路，用於輸入控 制信號以處理或關閉檢查TFT。 如上文所述，已開發出能夠減少進行檢查時所需之探針 數量的檢查電路或檢查方法。但是，在這些檢查電路或檢 查方法中，會以分開且獨立方式來形成陣列基板檢查電路 及液晶單元檢查電路。 發明概要 本發明的目的疋長:供一種併入一陣列基板檢查電路與一 單元檢查電路的新穎檢查電路，該檢查電路還能夠減少進 行檢查時所需的探針數量。 本發明是一種顯示裝置基板包括：一基板主體；像素部 件，其被排列在該基板主體的一矩陣上；複數條信號線路 ’用於將彳§號傳輸至該等像素部件；以及一檢查電路，其 -8 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐) 577035 A7

形成在該基板主體上。此處，該檢查電路包括：一檢查信 號輸入端子，用於將一第一檢查信號輸入至該等信號線路 的所有M(M是大於1的整數）條線路；複數個第一選擇元件 ’每個第一選擇元件都被配置在介於信號線路與檢查信號 輸入端子之間；第一控制佈線，其由n(乘）M(n是正整數）條 線路所組成’該等線路係用於將一控制信號分別供應至該 等複數個第一選擇元件；複數個第二選擇元件，每個第二 選擇元件皆分別連接至該等信號線路；檢查信號佈線，其 係由複數條線路所組成’該等複數條線路係用於經由該等 複數個第二選擇元件將一第二檢查信號分別供應至該等信 號線路，以及第二控制佈線，其由n(乘）M(n是正整數）條線 路所組成，該等線路係用於將一控制信號分別供應至該等 複數個第二選擇元件。 在關於一根據本發明之顯示裝置之基板的檢查電路中， 一用於執行關於一 TFT陣列基板之斷線及短路之檢查（下文 中將此類檢查稱為陣列檢查）的電路及一用於執行一液晶單 元之影像品質檢查（下文中將此類檢查稱為單元檢查）的電路 被整合在一起。 換言之，在進行陣列檢查時，會從該檢查信號輸入端子 輸入該陣列檢查的第一檢查信號，以及藉由該第一選擇元 件選取要將該第一檢查信號供應至該處的一信號線路。在 此情況下，該等第二選擇元件可被用來保持未選取之信號 線路的電位。 反之，在進行單元檢查時，供應至該檢查信號佈線之單

裝 m -9- 577035 五、發明説明（6 70檢f的該等第二檢查信號係經由該等第二選擇元件供應 至該等信號線路。在此情況下，在每個檢查信號都具有互 相相反極性電位的狀態中，由於在該檢查信號佈線中配備 複數條線路，所以可將該等檢查信號供應至鄰接的信號線 路。另外’由於可將獨立的檢查信號供應至鄰接的信號線 路，所以進行單元檢查過程中可構成任意色彩或圖樣的影 另外，本發明提供有關並聯佈線之所有Μ條信號線路的檢 查信號輸入端子。因此，可減少陣列檢查所需的探針數量 。由於複數條線路（兩條或兩條以上線路）足夠檢查信號佈線 所需’所以為此所需的端子數量可減少至非常少的數量。 /了獲得如上文所述的成果，本發明的之顯示裝置基板 最好進一步包括以下‘構。 明確的說，本發明的較佳模式包括以下特徵： 連接檢查#號輸入端子的複數個第一選擇元件分別連 接該第一控制佈線的不同線路； 違寺第一選擇元件的指$數量第一選擇元件被連接至該 共用第一控制佈線的一線路； 連接私查#號輸入端子的複數個第二選擇元件分別連 接。亥第一控制佈線的不同線路· 逵等第一選擇TL件的指定數量第二選擇元件被連接至該 共用第二控制佈線的一線路； 互相鄰接的該等第二選擇元件係分別連接至該檢查信號 佈線的不同線路；以及 10- :297公釐） 裝 訂 五、發明説明（7 ) Μ是6或6的倍數。 ^文所述之根據本發明之顯示裝置基板可被實現為TFT 顯示裝置的陣列基板。換言之，本發明提供一種陣列 土板’ «列基板上之具有開關元件的像素部件被排列在 矩陣中。亥陣列基板包括：複數條信號線路，用於將一 信號傳輸至該等像素部件；第一檢查電晶體，其分別連接 至複數條信號線路，該等第一檢查電晶體控制該等第一檢 查信號至該等像素部件的輸入；第一控制佈線，其係由複 數條線路所組成，該等複數條線路係用於供應用以控制該 f第一檢查電晶體之開啟和關閉的控制信號；第二檢查電 曰曰體，其分別連接至複數條信號線路，該等第二檢查電晶 體控制該等第二檢查信號至該等像素部件的輸入；電位供 應佈線’其係由複數條線路所組成，該等複數條線路係用 於將指定電位供應至該等第二檢查電晶體；以及第二控制 佈線，其係由複數條線路所組成，該等複數條線路係用於 供應用以控制該等第二檢查電晶體之開啟和關閉的控制信 號。 在本發明的陣列基板中，雖然在完成陣列檢查後可去除 用於陣列檢查的電路部份，但是此類電路部份可保持原狀 此外，雖然在完成單元檢查後可去除檢查電路，但是檢 查電路也可保持原狀。 在本發明的陣列基板中，可減少接觸型探針的數量，其 方式為每個指定數量的信號線路提供一檢查信號輸入端子 ’該檢查信號輸入端子係用來將該等第一檢查信號輸入至 -11 - 577035 A7 ___ B7 五、發明説明（8 ) έ亥寺苐一檢查電晶體。 另外’在本發明的陣列基板中，最好將連接一檢查信號 輸入端子的複數個第一檢查電晶體分別連接該第一控制佈 線的不同線路。 此外’在本發明的陣列基板中，該第一控制佈線最好配 備指定數量Μ或Μ之整數倍的線路，其中乂是連接至該檢查 信號輸入端子的信號線路數量。 在本發明的陣列基板中，最好將連接一檢查信號輸入端 子的複數個第二檢查電晶體分別連接該第二控制佈線的不 同線路。 另外，在本發明的陣列基板中，該第二控制佈線最好配 備指定數量Μ或Μ之整數倍的線路，其中“是連接至該檢查 <5號輸入子的信號線路數量。 此外，在本發明的陣列基板中，最好將互相鄰接的該等 第二檢查電晶體分別連接至該電位供應佈線的不同線路。 例如，本發明提供在陣列基板上開發的以下檢查電路。 明確的說，本發明提供一種檢查電路包括：第一信號供應 佈線，用以供應一第一檢查信號；複數個第一薄膜電晶體 -4等複數個第一薄膜電晶體的源極（或者汲極）都被連接至 該第一信號供應佈線；第一控制佈線，其係由連接至該等 複數個第一薄膜電晶體之閘極的複數條線路所組成；複數 個第二薄膜電晶體，該等第二薄膜電晶體的沒極(或者源極) 都被連接至該等複數個第一薄膜電晶體的沒極（或者源極）； 第二控制佈線，其係由連接至該等複數個第二薄膜電晶體 -12·

577035 五、發明説明（9 之閘極的複數條線路所組成：以及第二信號供應佈線，盆 ，由連接至該等複數個第二薄膜電晶體之源極（或者汲極㈣ : 旻數條線路所組成’·該第二信號供應佈線係用來供應有關 每個指定數量之第二薄膜電晶體的一第二檢查信號。 例如，可將本發明的檢查電路建構在117丁陣列基板上。另 外，本發明的檢查電路也可常駐在包含TFT陣列基板的液晶 單元或液晶顯示裝置中。 由於本發明的檢查電路包括如上文所述的建構，所以本 發明的檢查電路建構一能夠執行陣列檢查及單元檢查的統 一電路。 在本發明的檢查電路中，最好將互相鄰接的該等第二薄 膜電晶體連接至該第二信號供應佈線的不同線路。 在本發明的檢查電路中，當供應用於陣列檢查的第一檢 查信號時，供應的信號及電位如下所述。明確的說，在以 下狀態中會將該第一檢查信號供應至該第一信號供應佈線 •經由該第一控制佈線，將選擇電位供應至該等複數個第 一薄膜電晶體之任一第一薄膜電晶體，並且將非選擇電位 供應至除刖述第一薄膜電晶體以外的第一薄膜電晶體；以 及經由該第二控制佈線，將非選擇電位供應至該等第二薄 膜電晶體之中連接至將選擇電位供應至該處之第一薄膜電 晶體的第二薄膜電晶體，並且將選擇電位供應至除前述第 二薄膜電晶體以外的第二薄膜電晶體。 另外，在本發明的檢查電路中，當供應用於單元檢查的 第一檢查#號時，供應的信號及電位如下所述。明確的說 -13 - 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公爱） 577035

發明説明（1〇 ，在經由該第二控制佈線將選擇電位供應至所有 薄膜電晶體的狀態巾’將該第二檢查信號供應至：：： 號供應佈線。 ~ 從前面的說明可明確得知，本發明提供一種檢查電路勺 括：用於將一共同帛—檢查信號選擇性供應至指定數旦^ 料信號線路之任一資料信號線路的功能·：以及用於將二二 二檢查信號以分開且獨立方式供應至該等指定數量資料 號線路的功能。 5 明確的說，本發明提供一種檢查電路，用於將檢查信號 供應至建構一主動式矩陣顯示裝置的複數條信號線路:= 處，該檢查電路包括：一第一檢查信號供應電路，用於將 一共同第一檢查信號選擇性供應至指定數量信號線路的任 一 h號線路，以及一第二檢查信號供應電路，用於將一不 同第二檢查信號供應至該等指定數量信號線路的鄰接信號 線路。 〜 在本發明的檢查電路中，該第一檢查信號供應電路最好 包括：一檢查信號輪入端子，用於輸入該第一檢查信號； 以及開關裝置，其係由薄膜電晶體所組成，該開關裝置從 該等指定數量信號線路選出要將來自於該第一檢查信號輪 入端子的第一檢查信號供應至該處的信號線路。 在本發明的檢查電路中，該第二檢查信號供應電路最好 包括··薄膜電晶體’該等薄膜電晶體分別連接至該等指定 數量信號線路；檢查信號佈線，其係由指定數量線路所組 成，該等指定數量線路係用於將該等第二檢查信號分別供 -14 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(2i〇x297公爱) 裝 訂 、發明説明（11 ) 應至該等薄膜電晶體；以及控制佈線，其係由指定數量線 路所組成，該等指定數量線路係用於供應用以控制該等薄 膜電晶體之開啟和關閉的控制信號。 另外，在本發明的檢查電路中，雖然該等信號線路可被 凋整為資料信號線路及掃描信號線路，但是該等信號線路 最好疋資料#號線路。如果，資料信號線路數量大於掃描 k號線路數量，這適用於當本發明的檢查電路應用在資料 k號線路面的情況下。 例如，本發明提供關於如上文所述之顯示裝置基板的以 下檢查方法。明確的說，本發明提供顯示裝置基板檢查方 去，泫顯不裝置基板包括：一基板主體；像素部件，其被 &列在4基板主體的一矩陣上；複數條信號線路，用於將 信號傳輸至該等像素部件；以及一檢查電路，其具有一檢 查信號輸入端子，用於將一第一檢查信號輸入至該等信號 、本路的所有M(M疋大於1的整數）條線路；複數個第一選擇 元件，每個第一選擇元件都被配置在介於信號線路與檢查 信號輸入端子之間；第一控制佈線，其由n(乘）M(n是正整 數）條線路所組成，該等線路係用於將一控制信號分別供應 至該等複數個第一選擇元件；複數個第二選擇元件，每個 第二選擇元件皆分別連接至該等信號線路；檢查信號佈線 ，其係由複數條線路所組成，該等複數條線路係用於經由 泫等複數個第二選擇元件將第二檢查信號分別供應至該等 信號線路；第二控制佈線，其由n(乘）M(n是正整數）條線路 所組成，該等線路係用於將控制信號分別供應至該等複數 五、發明説明（12 ) Πΐ擇元件；以及一檢查電路，其形成在該基板主體 上。此處，該檢查方法包括第一 行的第二檢杳。另外m“ 查後執 μ *亥第一檢查的較方式為，當經由 该第-控制佈線將一控制信號供應至該等第一選擇元件 且該第f控制佈線將—控制信號供應至該等第二選擇 :，將该第一檢查信號輸入至該檢查信號輸入端子。 並且’該第二檢查的執行方式為，當經由該第二控制佈線 將「控制信號供應至該等第二選擇元件時，將該第二檢查 4吕號供應至該檢查信號佈線。 一 檢Γ’經由該第一控制佈線將該控制信號供 至該等複數個第-選擇元件的任-第-選擇元Γ:= 非選擇k號供應至除前述第—選擇元件外的第—選擇元 件1再者’在該第-檢查中’經由該第二控制佈線將該控 制k號供應至該等第二選擇元件的執行方式為：將一 擇信號供應至第二檢查元件’該第二檢查元件相對應於將 該選擇信號供應至該處的第一選擇元件；以及將一選擇信 號供應至除前述第二選擇S件外的第二選擇元件。 β 另外’在該第二檢查中，經由該第二控制佈線將該控制 信號供應至該等第二選擇元件的執行方式為，將一選擇信 號供應至所有該等第二選擇元件。 另外本發明提供一種用於依據前述檢查方法製造一液 晶早7C之方法。明確的說，減本發明之製造液晶單元的 方法包括：在-陣列基板上形成-檢查電路之步驟，該檢 五、發明説明（13 ) 查電路具有：第-信號供應佈線，用以供應一第一檢查广 號；複數個第一薄膜電晶體，該等複數個第一薄膜 的源極（或者汲極）都被連接至該第一信號供應佈線；第:栌 制佈線，其係由連接至該等複數個第一薄膜電晶體之閘2 的複數條線路所組成；複數個第二薄膜電晶體，該等^二 薄膜電晶體的汲極（或者源極）都被連接至該等複數個第一Z 膜電晶體的汲極（或者源極）；第二控制佈線，其係由連接至 該等複數個第二薄膜電晶體之問極的複數條線路所組成； 以及第二信號供應佈線，其係由連接至該等複數個第二薄 膜電晶體之源極（或者汲極）的複數條線路所組成；該第二信 號供應佈線係用來將一第二檢查信號供應至該等第二薄膜 電晶體；第-檢查步驟，用於當經由該第一控制佈線將選 擇電位供應至該等複數個第一薄膜電晶體之任一第一薄膜 電晶體並且將非選#電位供應至除前述第一薄膜電晶體以 外的第-薄膜電晶體時，以及t經由該第二控制佈線將非 選擇電位供應至連接至將選擇電位供應至該處之第一薄膜 電晶體的第二薄膜電晶體並且將選擇電位供應至除前述第 二薄膜電晶體以外的第二薄膜電晶體時，將該第一檢查信 號供應至該第一信號供應佈線；一形成一單元之步驟，其 方式為疊層該陣列基板及一彩色攄光基板，同時將一液晶 材料夾在中間；以及一第二檢查步驟，用於當經由該第二 控制佈線將選擇電位供應至所有該等第二薄膜電晶體時， 將第二檢查信號供應至該第二信號供應佈線。 圖式簡單說明

本纸張尺度適财國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 577035 A7 B7 五、發明説明（μ ) 為了更瞭解本發明及其優點，請參考配合附圖說明的詳 細說明。 [圖1] 圖1顯示根據本發明一項具體實施例之液晶單元概要建構 的平面圖。[圖2] 圖2顯示根據具體實施例之液晶單[圖3] 圖3顯示根據具體實施例之第一檢查電路及第二檢查電路 之配置的概要圖。[圖4] 圖4顯示根據具體實施例之第一檢查電路之電路結構的概 要圖。 元之電路結構的概要圖 [圖5] 圖5顯示根據具體實施例之第二檢查電 要圖。 路結構的概 [圖6] 圖6顯示用於說明根據具體實施例之陣列檢查運作的圖式。 [圖7] 圖7顯示用於說明根據具體實施例之陣列檢查運作的另一 圖式。 [圖8] 圖8顯示用於說明根據具體實施例之陣列檢查運作的另 圖式。 18· 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 577035 A7 B7

[圖9] 圖9顯示在具體實施例中陣列檢查使用之陣列測試器建構 的方塊圖。 [圖 10] 圖10顯示用於說明根據具體實施例之單元檢查運作的圖 式。 m in 圖π顯示用於說明根據具體實施例之單元檢查運作的另 一圖式。 [圖 12] 圖12顯示根據具體實施例之進行單元檢查時供應之信號 波形的圖式。 [圖 13] 圖13顯示根據具體實施例之檢查電路修改實例的概要圖。 [圖 14] 圖14顯示根據具體實施例之第一檢查電路中缺陷實例的 圖式。 較佳具體實施例之詳細說明 下文中將依據較佳具體實施例來說明本發明。 圖1顯示根據本發明一項具體實施例之液晶單元整體建構 的概要圖。在圖1中，參考數字丨標示液晶單元、參考數字2 標示TFT陣列基板及參考數字3標示以平行於TFT陣列基板2 方式配置的反面基板。雖然圖中未顯示，但是會在TFT陣列 基板2與反面基板3之間使用密封構件及密封樹脂填滿液晶 •19- 五、發明説明（16 ★ 日在液日日單元1上形成對準層、轉遞（transfer)和極 化膜等等，亚且使用介於基板間的間隔來固定基板之間的 間隙。在本具體實施例中，反面基板3是彩色滤光基板，用 於在其上形成RGB彩色濾光板。 對準層以面對面方式形成在兩個基板的各自面板上，以 便界定液晶的起始對準。密封構件被形成在顯示區域6的周 圍曰以便將兩個基板黏在一起，並且密封介於基板之間的 液曰曰。另外，密封樹脂被形成以密封先前提供之密封構件 中稱為液晶注入口的未成形地帶，這是在透過該液晶注入 將液a曰庄入基板之間之後執行。Μ隔是用於界定兩個基 板間之間隙的絕緣體，其被配備在其中一個基板上。形成 於顯不區域6外的轉遞與導電材料有關，用於將從TFT陣列 基板2之端子輸人的共同電極電位轉遞至反面基板]上的妓 同電極。極化膜分別形式在兩個疊層基板的外部面板上:、 極化膜被提供用於控制入射液晶單元丨的極化光。 在圖1中，參考數字4標示用於執行陣列檢查的第一檢查 電路，而參考數字5標示用於執行單元檢查的第二檢查電路 。第-檢查電路4及第二檢查電路5被形成在爪陣列基板〕 上。參考數字6標示在液晶單幻上實際執行顯示的顯示區 域。參考數字7標示顯示區域6的周圍區域.，其中合在周圍 區域連接用於將影像顯示信號輸入至顯示區域㈣驅動器 1C 〇 圖2顯示TFT陣列基板2之顯示區域6之電路結構的概要圖 。在圖2中’參考數字η標示以互相平行方式往某方向延伸 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X297公羡Τ -20- 577035 A7

五、發明説明（18 ) 並且會在下文中會說明，第一檢查電路4及第二檢查電路5 也包括當作選擇元件的非晶性矽型TFT。因此，藉由在光罩 上附加圖樣，就可在形成TFT 14時同時形成第一檢查電路4 及第二檢查電路5。另外，在形$TFT 14時，也可同時形成 第一檢查電路4及第二檢查電路5的佈線及檢查端子。結果 ，不需要用於形成第一檢查電路4及第二檢查電路5的額外 製程處理。雖然執行TFT陣列基板2製程處理係利用沈積處 理及使用光阻的蝕刻處理，但是由於這些製程處理是公開 的已知技藝，所以本份說明書中不提供其詳細說明。 接著，將參考圖3至5以說明第一檢查電路4及第二檢查電 路5。圖3顯示在TFT陣列基板2上配置第一檢查電路*及第二 檢查電路5的圖式。請注意，製圖只描繪電路的局部建構， 亚且為了便於說明，製圖不描繪電路的整個建構。如圖3所 示，沿著顯示區域6的周圍分別形成第一檢查電路4及第二 檢查電路5。第一檢查電路4被連接至資料信號線路^，用 於在進行陣列檢查及單元檢查時，供應㈣資料信號線路 12的檢查信號。第二檢查電路5被連接至掃描信號線路η， 用於在進行陣列檢查及單元檢查時，供應有關掃描信號線 路11的檢查信號。依據第一檢查電路4及第二檢查電路5控 制，將這些檢查信號供應至顯示區域6内的任意像素Η。工 圖4顯示第一檢查電路4略圖的電路圖，而圖5顯示第二檢 查電路5略圖的電路圖。首先，參考圖4以說明有關第 查電路4的建構。 如圖4所示，第一檢查電路4係由位於製圖中虛線上方的 本紙張尺度it财國國家標準(CNS) A4規格(210X297公爱) •22- :::路部件4a及位於製圖中虛線下方的第二電路部㈣ 第-電路部件4a包括：_陣列檢查端子21 ;第_控 線22 ;第一控制信號輸入端子24a至24f，其連接至第一控 制佈線22的各自線路，·以及第—選擇it件23d23f ,其^ 電極分別被連接至第一控制佈線22。 /、 關於第-電路部件4a，在陣列檢查端子21與複數條（在本 具體實施例中為6條）資料信號線路12之間連接相對應於各 自貧料信號線路12a至12f的第一選擇元件23&至23£。換言之 第選擇元件23a至23f的源電極（或汲電極）被連接至從陣 列檢查端子21延伸的第一信號供應佈線21a ,而第一選擇元 件23a至23f的汲電極（或源電極）被連接至各自資料信號線路 12a至12f。第一選擇元件23a至23f的閘電極被連接至第一控 制佈線22。確切而言，第一選擇元件23a的閘電極被連接至 第一控制佈線22中連接第一控制信號輸入端子24a的位置； 第一選擇元件23b的閘電極被連接至第一控制佈線22中連接 第一控制信號輸入端子24b的位置；第一選擇元件23c的閘 電極被連接至第一控制佈線22中連接第一控制信號輸入端 子24c的位置；以及第一選擇元件23d等等的閘電極同樣被 連接至第一控制佈線22。因此，藉由從第一控制信號輸入 端子24a至24f分別輸入的控制信號，控制開啟或關閉第一 選擇元件23a至23f。最後，按照從第一控制信號輸入端子 24a至24f輸入的控制信號，將從陣列檢查端子21輸入的檢 查信號輸入至資料信號線路12a至12f。 -23- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 577035 A7 ------------ - B7 五、發明説明（20 ) "觸------ _ 一 =路部件4b包括··電位供應佈線25;電位輸入端子 其分別連接至電位供應佈線25 ;第二控制佈線 一，一空制信號輸入端子29a至29f,其分別被連接至第 、 乂及弟一選擇疋件27a至27f ,其閘電極分 別被連接至第二控制佈線28。 在第，電路部件4b中，電位輸入端子26a至26f分別被連接 至當作第二信號供應佈線之電位供應佈線25的導線。另外 ，連接至電位輸入端子26a之電位供應佈線乃部位被連接至 第二選擇元件27a的源電極（或汲電極）；連接至電位輸入端 子26b之電位供應佈線25部位被連接至第二選擇元件27匕的 源電極（或汲電極）；連接至電位輸入端子26c之電位供應佈 線25部位被連接至第二選擇元件27c的源電極（或汲電極）； 以及第二選擇元件27d等等同樣被連接至電位輸入端子 等等。同時，第二選擇元件27a至27f的汲電極（或源電極）分 別連接至資料信號線路12a至12f，而資料信號線路12&至 分別連接至第一選擇元件23a至23f。另外，第二選擇元件 27a至27f的閘電極被連接第二控制佈線28，而至第二控制 信號輸入端子29a至29f分別被連接第二控制佈線28。 由於第一電路部件4b包括如上文所述的建構，所以會藉 由從第二控制信號輸入端子29a至29f分別輸入的控制信號 ，控制開啟或關閉第二選擇元件27a至27f。最後，經由從 第二控制信號輸入端子29a至29f輸入的控制信號所控制的 第二選擇元件27a至27f，將從電位輸入端子26a至26f輸入的 t 5虎電位供應至各自資料信號線路12a至12卜因此，就單 -24- 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公爱) 577035 A7

577035 五、發明説明（22 ) 同樣如上文所述，指定數量的第二選擇元件27應被連接至 共同第二控制佈線28。 接下來，將參考圖5以說明有關第二檢查電路5的建構❹ 如圖5所示，第二檢查電路5係由位於製圖中虛線上方的 第一電路部件5a及位於製圖中虛線下方的第二電路部件％ 所組成。 第-=路部件5a包括：一陣列檢查端子31 ;第_控制佈 線32 ;第一控制信號輸入端子34a至34f ,其連接至第一控 制佈線32的各自線路；以及第一選擇元件33a至，其閘 電極分別被連接至第一控制佈線32。 關於第一電路部件5a，在陣列檢查端子3丨與複數條（在本 具體實施例中為6條）掃描信號線路丨丨之間連接相對應於各 自掃描信號線路11的第一選擇元件33&至33{^。換言之，第 k擇元件33a至33f的源電極（或沒電極）被連接至從陣列檢 查端子31 ,而第一選擇元件33&至3玎的汲電極（或源電極）被 連接至各自掃描信號線路lla至nf。第一選擇元件33a至33f 的閘電極被連接至第一控制佈線32。確切而言，第一選擇 70件33a的閘電極被連接至第一控制佈線32中連接第一控制 信號輸入端子34a的位置；第一選擇元件33b的閘電極被連 接至第一控制佈線32中連接第一控制信號輸入端子3仆的位 置，第一選擇元件33c的閘電極被連接至第一控制佈線32中 連接第一控制信號輸入端子3軋的位置；以及第一選擇元件 33d等等的閘電極同樣被連接至第一控制佈線32。因此，藉 由攸第控制#號輸入端子34a至34f分別輸入的控制信號 本紙張尺Μ财㈣家標準(_ M規格(鄭挪公爱) •26· 五、發明説明（23 ，控 第一 列檢 Ilf。 制開啟或關閉第一選擇元件33a至33f。最後，按昭從 ㈣信號輸人端子34a至34f輸人的控制信號，將從陣 查端子3 1輸入的檢查信號輸入至掃描信號線路1 la至 第二電路部件5b包括··電位供應佈線35;電位輸入端子 36a至36f，其分別連接至電位供應佈線35 ;第二控制佈線 38 ;第二控制信號輸入端子39a至39f，其分別被連接至第 二控制佈線38 ;以及第二選擇元件3〜至3歼，其閘電極分 別被連接至第二控制佈線38。 在第二電路部件5b中，電位輸入端子36a至36b分別被連 接至電位供應佈線35的導線。另彳，連接至電位輸入端子 36a之電位供應佈線35部位被連接至第二選擇元件3乃 和37e的源電極（或汲電極）；以及連接至電位輸入端子刊七之 電位供應佈線35部位被連接至第二選擇元件37b、37d*37f 的源電極（或汲電極）。同時，第二選擇元件37a至37f的汲電 極（或源電極）分別連接至掃描信號線路丨u至丨lf，而掃描信 號線路11a至Ilf分別連接至第一選擇元件33a至33f。另外， 第二選擇元件37&至37£的閘電極被連接第二控制佈線“， 而至第二控制信號輸入端子39a至39f分別被連接第二控制 佈線3 8。 由於第二電路部件5b包括如上文所述的建構，所以會藉 由從第二控制信號輸入端子39&至39f分別輸入的控制信號 ’控制開啟或關閉第二選擇元件37&至37f。最後，經由從 第二控制信號輸入端子39a至39f輸入的控制信號所控制的 本紙張尺度適财g B家標準(CNS) A4規格(21〇: 297公釐） -27- 五、發明説明（24 ) 第二選擇元件37a至37f，將從電位輸入端子36&至3615輸入的 電位供應至各自掃描信號線路丨la至丨lf。因此，會按昭供 應至掃描信號線路Ua至Uf的電位，相對應於資料传. 路Ua至Uf的各自像素13照著執行顯示。 、。 接著，說明藉由使用如上文所述之第一檢查電路4及第二 松查電路5進行之陣列檢查及單元檢查的具體運作。 首先，將參考圖6到8來說明陣列檢查。在陣列檢查中， 只在指定時間週期期間，才會將指定電位連續寫入^形式 於TFT陣列基板2上的每個像素13。之後，在指定時間週期 期間内保留電荷，然後讀取相對應像素13。判斷所讀取的 值是否是相對應像素13的正常值。這個電位被供應至資料 信號線路12a至12f。於是，在陣列檢查中，需要以獨立方 式將電位供應至各自資料信號線路1 2a至丨2f，及供應至各 自掃描信號線路11 a至11 f。 圖ό顯示在第一檢查電路4中，將所要寫入之電位供應至 資料彳5號線路12a的運作。當作第一檢查信號的指定電位被 供應至陣列檢查端子2 1。在圖6中，使用粗線標示供應電位 的狀態。在此情況下，會將選擇電位供應至連接第一控制 信號輸入端子24a的第一控制佈線22部位，所以在第一選擇 元件23a至23f之中，連接至資料信號線路12a的第一選擇元 件23a被開啟。將非選擇電位供應至除第一選擇元件23&外 的第一選擇元件23b至23f。在此情況下，為了封鎖相對應 於第一選擇元件23a的第二選擇元件27a，即，連接至資料 信號線路12a的第二選擇元件27a，會將非選擇電位供應至 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公嫠) -28- 577035 A7

五、發明説明（26 ) 從陣列檢查端子21供應至指定數量之資料信號線路12a至 12f的任一資料信號線路。同時，第二檢查電路$包括用於 選擇性供應一共同檢查信號的電路，其中會將該共同檢查 信號從陣列檢查端子31供應至指定數量之掃描信號線路丨u 至11 f的任一掃描信號線路。 如上文所述，藉由第一檢查電路4將指定電位供應至資料 #號線路12a，藉由第二檢查電路5將指定電位供應至掃描 信號線路11a ^然後，如圖8所示，藉由資料信號線路12a及 掃描信號線路11a指定的像素13變成作用中狀態。在圖8中 ，作用中像素13被塗上黑色。陣列檢查連續啟動像素丨3 , 將指定電位寫入像素中，並且讀取電荷。以下列將說明其 具體實例。 圖9顯示用於寫入及讀取電位之測試器4〇的電路建構。在 圖9中，測試器40包括：一整合器（integrat〇r)，其具有一重 置開關（Reset-SW)及一電容器（C); 一開關（sw-1);以及一 電源（Vd)。關於測試器40，位於開關（SW-1)側上的寫入端 被認為連接至第一檢查電路4的陣列檢查端子21 ,而另一寫 入端被認為連接至AD轉換器（ADC)。 首先’重置開關（Reset-SW)被連接以重置整合器。在此情 況下，電容器（C)被充電。接著，開關（sw-1)被連接至電源 (Vd)，藉此經由陣列檢查端子21將電位¥(1供應至資料信號 線路12a。此時，選擇電位（Vgh)被供應至掃描信號線路na ’藉此使用Vd充電像素13的輔助電容器（Cs)18。然後，將 保留電位（VgL)供應至掃描信號線路丨丨a ^之後，將開關 •30- 五、發明説明（27 ) (SW-1)連接至整合器之後，資料信號線路⑵的電位被設定 成接地（GND)位準。接著，重置開關（Reset -SW)被釋放。並 且，當將選擇電位（Vgh)再次供應至掃描信號線路1 la時， 健存3素u之輔助電容器（Cs)18中的電荷被轉遞至整合器 的電合益（C) 配合前面的說明，降低整合器的輸出電位。 然後，將VgL再次供應至掃描信號線路Ua。在指定時間週 ^後’整合器的輸出電位被取樣及保持，並且使用AD轉 ^(ADC)將之轉換成數位值。進而從該值判斷像素的數 —當關於藉由掃描信號線路！ ！ a與藉由f料信號線路】2 a指 定之像素13的檢查及測量完成後，連續執行關於藉由盆他 ，描信號線路llb等等與藉由其他資料信號線路⑵等等指 定之像素13的檢查及測量。完成陣列檢查後，第-電路部 件4认第-電路部件5&變成多餘。因此，完成陣列檢查後 ，可藉由沿著圖4及圖5標示的虛線來切割以去除第一電路 部件4a及第-電路部件53。當然'，也可保電路部件 4"及第—電路部件5a。就保留第—電路部件4a及第-電路 部件5a而言’會對抓陣列基板2進行液晶單元i製程，以在 其上形成保留第-電路部件如和5a及第二電路部件朴和外 。以下概要說明這項製程。首先，TFT陣列基板2及反面基 板3被疊層’同時將液晶材料夾在中間，皆知，密封構 件係用於疊層處理。當獲得液晶單元旧，會藉由使用第二 電路部件4b和55來執行單元檢查。接下來，將說明根據本 具體實施例的單元檢查’即’關於影像品質檢查的具體内 577035 A7 -----B7 五、發明説明~~ -- 容。 將說明根據本具體實施例的液晶單元i影像品質檢查方法 。在本具體實施例中，發表以黃色顯示整個螢幕的實例。 如圖10所不，在第一檢查電路4中，標示為D(卜i)至D㈣）的 第二檢查信號（電位）分別被供應至資料信號線路心至以。 D(j+1)和D(j+4)是供應至紅色⑻像素13的電位· d和 D(j + 5)是供應至綠色（G)像素13的電位；以及D(j + 3)和D(j + 6) 疋供應至藍色（B)像素13的電位。即，將不同的檢查信號供 應至鄰接的資料信號線路12。分別從電位輸入端子26&至 26f供應此類電位。作為供應至資料信號線路12&至i2f之電 位〇(卜1)至〇(卜6)的必要條件，將選擇電位供應至第二控 制信號輸入端子29a至29f，藉此開啟第二選擇元件27a至 27f 〇 如圖11所不，在第二檢查電路5中，標示為G(k+1)至 G(k+6)的檢查信號分別被供應至掃描信號線路na至uf。作 為供應至掃描信號線路1 i a至丨丨f之檢查信號G(k+丨）至G(k+6) 的必要條件，將選擇電位供應至第二控制信號輸入端子39a 至39f’猎此開啟第二選擇元件37a至37f。 圖12顯示本具體實施例中供應至第一檢查電路4及第二檢 查電路5之檢查驅動波形的實例。這些實例呈現藉由像素反 相（圖反相）驅動，以黃色顯示整個螢幕的案例圖12只有顯示 要供應檢查^號的部份。事實上，會將完全相同於製圖所 示之^號的信號持續輸入至液晶單元1。在圖12中，橫軸標 示時間軸。時間範圍T(l)、T(2)及T(3)皆表示一個圖框 -32- 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X297公釐) 五、發明説明（29 ) (frame)的時間週期，而時間範圍丁（1)與時間範圍之严、 j異為，信號D(j+1)和D(j + 6)的相位互相相反。雖然的 範圍T⑴與T(2)-起設定為-個循環，但是只要顯示檢Z 面，就會將這些信號重複且持續輸入至液晶單元丨。—息 其他驅動實例包括列反相驅動、行反相驅動等等。夢 修改輸入信號㈣，就可很容易収這些必要驅動方^由 另外，藉由提供輸入信號電壓變量，就可實行任意層次顯 不。此外，由於本實例中可獨立輸入R、〇和3信號，二 可貫行任意色彩顯示。 在圖12中，當將檢查信號G(k+i)和G(k+2)供應至掃描信號 線路11a和lib時，按照時間週期的分時處理，在時間範圍U τ(υ時，將供應至電位輸入端子26a至26d的檢查信號電位 D(j + 1)至D(j+4)提供給相對應於各自資料信號線路12/至1 的像素13。之後，將檢查信號電位保留一段期間，直到在 時間耗圍T(2)將檢查信號G(k+!)和G(k+2)被供應至掃描信號 線路11a至11b。如圖12所示，在時間範圍τ(2)提供之電位波 形的極性分別反相於在時間範圍τ(1)提供之電位波形的極 性：同時，在時間範圍Τ(3)提供之電位的極性相同於在時 間範圍丁（ 1)提供之電位的極性。 、如圖12所示，由於D(j + 1)'D(j+2)和D(j+4)的振幅小，所 、相對應於R和G的像素13呈現明亮顯示。由於〇(卜3)的振 幅；^，所以相對應於B的像素13呈現黑暗顯示。因此，會使 用單色的黃色來顯示整個顯示區域6。 在進行液晶單元1的單元檢查時，藉由採用如上文所述的 本紙張尺度时料297_ -33- 577035

方法，可使用非常少量信號輸入端子來顯示檢查所需的顯 示圖樣，因此可達成穩定且低成本檢查。 執行如上文所述的單元檢查之後，驅動器IC及用於產生 要輸入至驅動器ic之控制信號的驅動電路被連接至液晶單 元1，並且裝上背光和機械組件，以此方式完成液晶模組。 在驅動最後成品時，會關閉用於檢查的TFT，即，第一選擇 元件23a至23f和33a至33f，及第二選擇元件27a至27f和37a 至37。前述的目的是為了安全分開進行檢查時繫結輸入。 在本具體貫施例中’如圖13所示，還可在第一選擇元件 23a至23f與電位供應佈線25之間分別配置驅動器IC連接墊 50。在此情況下，去除第一電路部件乜。儘管前述說明， 在本具體實施例中，包含第一電路部件乜的第一檢查電路4 及第一檢查電路5可被保留直到成品。在此情況下，驅動器 1C連接墊50被配置在第一控制佈線22外。 如上文所述，由於本具體實施例包括如上文所述建構的 檢查電路，所以可將陣列檢查及單元檢查所需的信號輸入 至液晶單元1，而不需要使用多稍探針，藉此使高效率檢查 變成可行。此外，由於根據本具體實施例的第一檢查電路4 及第一檢查電路5將用於陣列檢查的電路及用於單元檢查的 電路整合在一起’所以可縮小這些電路佔用TFT陣列基板2 的面積。就獨立提供陣列檢查電路及單元檢查電路而言， 總共需要3列選擇元件群組，即，供陣列檢查電路使用的2 列選擇元件群組’及供單元檢查電路使用的1列選擇元件群 組。但是’根據本具體實施例，用於陣列檢查及單元檢查 -34·

五、發明説明（31 ) 的電路可由總共2列選擇^件群組所建構。另外，傳統陣列 榀f電路被形式非當作液晶單元丨之剩餘區域外的區域中。 仁疋根據本具體實施例，幾乎一半的電路可被形成在+ 作液晶單元1的剩餘區域中1此，例如，可擴大用於安: TFT陣列基板2的母板玻璃的可用區域。 、„在本具體實施例中，整合陣列檢查電路與單元檢查電路 還具有一項優點，進行陣列檢查時可偵測單元檢查電路 的缺陷。 例如，如圖14所示，當第一檢查電路4中介於第二選擇元 件2_7b的源極與沒極之間有短路缺陷（製圖中標示為⑷）時， 進订陣列檢查時可该測到此類缺陷。進行單元檢查時無法 毛見這員短路缺，但是，完成液晶顯示裝置時，短路缺 陷會構成缺陷（線路缺陷）。因此，需要預先«此類缺陷。、 進行陣列檢查時將保持電位（Vh()ld)供應至電位供應佈線η ，如果Vh〇ld有變化並且讀取值呈現類似變則可發現介 於源極與汲極之間有短路缺陷。 另外，如圖Μ所示，例如，當介於第二選擇元件W的開 極與沒極之間有短路缺陷（製圖中標示為⑻）時，進行陣列 檢查時可偵測到此類缺陷。但是，完成液晶顯示裝置時， 短路缺陷會構U品缺陷（線路缺陷）。進行.單元檢杳時益法 發現这項短路缺陷。但是，由於在加陣列基…中這項缺 陷屬於可校正缺陷’所以進行陣列檢查時發現此類缺陷可 防止發生產品缺陷。即，如果進行陣列檢查時讀取用於控 制第二選擇元件27c的非選擇電位，則可發現如上文所述的

短路缺陷。 開路缺P “圖14所不’例如，當介於第二選擇元件27d上有 :=(製圖中標示為⑷)時，進行陣列檢查時 雖然當完成液晶顯示裝置時，這項缺陷不會構 士 、卩曰仁是必須預先偵測此類缺陷，因為進行單元 電二I會構成缺陷。即，進行陣列檢查時，如果當將選擇 P〜至第-選擇元件27d時無法讀取Vhold，則可發現缺 1曰〇 在本具體實施例中，根據本發明的檢查電路係、使用掃描 2線路U及資料信號線路12形成。但是根據本發明的 —=路也可針對掃描信號線路與資料信號線路之任一種 ” ·路提供並j_經由傳統多銷探針將檢查信號輸入至其他 線路組。例如，可連接多銷探針，而不是連接第二檢查電 路5。由於行方向的像素數量通常大於列方向的像素數量， 所以根據本發明的檢查電路非常適用於資料信號線路12。 另外，還可依據顯示幕類型或驅動狀況的需要，遞增或 遞減輸入端子數量。確切而言，在本具體實施例中，雖然2 組（電位輸入端子26a至26f和第二控制信號輸入端子29a至 29f)連接端子被連接至資料信號線路12，但是藉由遞增連接 端子數量，可實行更精細的組塊顯示。

反之，也可理解遞減輸入端子數量。例如，就只執行全 螢幕彩色顯示檢查作為影像品質檢查的情況下，在位於掃 描信號線路11面上的檢查電路中只配備一個共同源極端子 。在位於掃描佈線面上的檢查電路中，只分別形成尺、G -36- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐)

裝 訂 暖 五、發明説明（33 ) ^ B之像素13的共同源極端子’各個端子供各個色彩使用。 藉由使用這些檢查電㈣控制電壓供應、，至少可實行全色 的全螢幕顯示。 另外，根據本具體實施例，藉由使用第一檢查電路4 ,可 在TFT陣列基板2上形成電沈積膜。電沈積膜可當作一彩色 渡光板。例如，在圖4中，將選擇電位提供至用於控制相對 應於R G和B之任-色之部份第二選擇元件27a至27f的第二 控制佈線28部位，並i將指定電位^提供至連接到部份第 二選擇元件27a至27f的電位供應佈線25 m兄下，如 果用於控制像素13的所有掃描信號線路i 1都被設定為選擇 電位則會將電位Ve提供至相對應於所選色彩的所有像素 電極。換言之，期望色彩的彩色渡光板可被形成在位於電 沈積槽内部的像素電極上。最後，R、GW彩色遽光板可 被形成在TFT陣列基板2上，其方式為重複如上文所述製程 一-人’同％變更色彩。請注意，最好將等於電沈積槽内部 之反面電極之電位的電位提供給相對應於非所選色彩之電 位供應佈線2 5的部位。 另外，本發明的檢查電路不僅適用於液晶單元1，而且還 適用於使用其他主動元件的顯示裝置，或適用於不使用彩 色遽光板的液晶顯示裝置。其他顯示裝置的實例包括自^ 發光型顯示器，其使用藉由操作要供應至含主動元件之有 機膜之電壓來控制發光的主動型矩陣聚合物發光二極體 (AM-PLED)，《主動型有機發光二極體（ΑΜ_〇[Εϋ)等等。 如上文所述，根據本發明，本發明揭示用於將陣列檢杳 577035 A7 B7 五、發明説明（34 ) 電路及單元檢查電路整合在一起的新穎檢查電路，該等檢 查電路還能夠減少進行檢查時所需的探針數量。 雖然已詳細說明本發明較佳具體實施例，但是應明白可 對本文進行各種變更、替換及修改，而不會脫離如隨附申 請專利範圍定義的本發明精神及範疇。 -38- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)

Claims (1)

1. 申請專利範圍 ’ 種用於顯示裝置基板，該基板包括： 一基板主體； 像素部件，其被排列在該基板主體的一矩陣上； 複數條信號線路，用於將信號傳輸至該等像素部件； 以及 ’ 一檢查電路，其形成在該基板主體上；

   其中該檢查電路包括： 一檢查信號輸入端子，用於將一第一檢查信號輸入至 该等信號線路的M(M是大於丨的整數）條線路之每一條； 複數個第一選擇元件，每個第一選擇元件都被配置在 ;丨於^號線路與檢查信號輸入端子之間； 第一控制佈線，其由η(乘）M(n是正整數）條線路所組成 ’違等線路係用於將一控制信號分別供應至該等複數個 第一選擇元件；

   A8 B8 C8 D8 複數個第二選擇元件，每個第二選擇元件皆分別連接 至該等信號線路； 檢查信號佈線，其係由複數條線路所組成，該等複數 條線路係用於經由該等複數個第二選擇元件將一第二檢 查信號分別供應至該等信號線路；以及 第二控制佈線’其由n(乘）M(n是正整數）條線路所組成 ，泫等線路係用於將一控制信號分別供應至該等複數個 第二選擇元件。 2.如申請專利範圍第1項之顯示裝置基板，其中連接一檢 查k號輸入端子的該等複數個第一選擇元件分別連接該 _____-39- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公董） 六、申請專利範圍 A8 B8

   3. 4. 5. 6. 第-控制佈線的不同線路。 如申凊專利範圍第 撰煜分杜♦此 員之顯示裝置基板’其中該等第一 選擇兀件之指定數 德疲沾 ^ 里第—選擇元件被連接至該第一控制 佈線的一共同線路。 如申請專利範圍第 _查信號輸入端子的，裳”、’貝不裝置基板’其中連接-檢 的”亥專複數個第二選擇元件分別連接該 第一控制佈線的不同線路。 如申請專利範圚楚 A 圍第4項之顯示裝置基板，其中該等第二 選擇7L件之指定鲁旦哲_、 里第二選擇元件被連接至該第二控制 佈線的一共同線路。 如：請專利範圍第1項之顯示裝置基板，其中互相鄰接 等第垃擇元件被連接至該檢查信號佈線的不同線 路。

   7. 如申請專利範圍第i項之顯示裝置基板，其中祕是6與6 的倍數之任一值。 8. 種陣列基板，該陣列基板上之包含開關元件的像素部 件被排列在一矩陣中，該陣列基板包括： 複數條信號線路，用於將信號傳輸至該等像素部件； 第一檢查電晶體，其分別連接至該等複數條信號線路 ，該等第一檢查電晶體控制該等第一檢查信號至該等像 素部件的輸入； 第一控制佈線，其係由複數條線路所組成，該等複數 條線路係用於供應用以控制該等第一檢查電晶體之開啟 和關閉的控制信號； -40 - 本紙張尺度適財關家標準(CNS) A4規格(210 X挪公爱) 訂 線

   圍 、申請專利範 ，：，檢查電晶體，其分別連接至該等複數條信號線路 。亥等第一檢查電晶體控制該等第二檢查信 素部件的輸入； 像 電位供應佈線，其係由複數條線路所組成，該等複數 :、線路係用於將指定f位供應至該等第二檢查電晶體； 以及 第二控制佈線，其係由複數條線路所組成，該等複數 線路係用於供應用以控制該等第二檢查電晶體之開啟 和關閉的控制信號。 9·如申請專利範圍第8項之陣列基板，其中每個指定數量 之該等信號線路配置_檢查信號輸人端子，用於將該等 第一檢查信號輸入至該等第一檢查電晶體。 •，申印專利蛇圍第8項之陣列基板，其中連接一檢查信 號輸入端子的該等第_檢查電晶體分別連接該第一控制 佈線的不同線路。 U·如申請專利範圍第9項之陣列基板，其中該第-控制佈 線配備該指定數量或該指定數量之整數倍之任一數量的 線路，該指絲量是連接至該檢查信號輸人端子的該等 "ί吕號線路數量。 12. 如中請專利範” 8項之陣聽板，其中連接—檢查件 號輸入端子的該等第二檢查電晶體分別連接該第二控制 佈線的不同線路。 13. 如申請專利範圍第9項之陣列基板，其中該第二控制佈 線配備該指定數量或該指定數量之整數倍之任一數量的 -41 - X 297公釐） 7紙張尺度適财s s家料(CNS了 申請專利範圍 線路’遠指定數量是連接至該檢查信號輸入端子的該等 信號線路數量。 14·如申請專利範圍第8項之陣列基板，其中互相鄰接的該 等第二檢查電晶體分別連接該電位供應佈線的不同線路。 15· —種檢查電路，包括： 第一 h號供應佈線，用以供應一第一檢查信號； 複數個第一薄膜電晶體，該等複數個第一薄膜電晶體 的源極（或者汲極）都被連接至該第一信號供應佈線； 第一控制佈線，其係由連接至該等複數個第一薄膜電 晶體之分別的閘極的複數條線路所組成； 第二薄膜電晶體，該等第二薄膜電晶體的汲極（或者 源極）都被連接至該等複數個第一薄膜電晶體的分別的汲 極（或者源極）； 第二控制佈線，其係由連接至該等複數個第二薄聘電 晶體之分別的閘極的複數條線路所組成；以及 第二信號供應佈線，其係由連接至該等複數個第二薄 膜電Ba體之分別的源極（或者汲極）的複數條線路所組成 ，該第二信號供應佈線將一.第二檢查信號供應至每個指 定數量的該等第二薄膜電晶體。 16·如申請專利範圍第15項之檢查電路，其中該等第二薄膜 電晶體之指定數量第二薄膜電晶體被連接至該第二信號 供應佈線的一共同線路。 17.如申請專利範圍第15項之檢查電路， 其中在以下狀態中會將該第一檢查信號供應至該第一 -42- 577035 A8 B8 C8

   4吕號供應佈線： 經由該第一控制佈線，將選擇電位供應至該等複數個 第一薄膜電晶體之任一第一薄膜電晶體，並且將非選 電位供應至除已供應選擇電位至該處之該第_薄膜電曰 體以外的該等第一薄膜電晶體；以及 經由該第二控制佈線，將非選擇電位供應至該等第二 薄膜電晶體之中連接.至將選擇電位供應至該處之該第= 薄膜電晶體的該第二薄獏電晶體，並且將選擇電^供應 至除已供應非選擇電位至該處之該第二薄膜電晶體 的該等第二薄膜電晶體。 1 8.如申請專利範圍第17項之檢查電路， 其中在經由該第二控制佈線將選擇電位供應至所有該 等第二薄膜電晶體的狀態中，將該第二檢查信號供應至 該第二信號供應佈線^ 〜 19. 一種檢查電路’用於將檢查信號供應至動式矩陣顯 示名置的複數條彳§號線路，該檢查電路包括： 一第一檢查信號供應電路，用於將一共同第一檢查信 號選擇性供應至指定數量信號線路的任一信號線路·’以及 一第一榀查化唬供應電路，用於將一不同第二檢查信 號供應至該等指定數量信號線路的鄰接信號線路。 2〇·如申请專利蛇圍第19項之檢查電路， 其中該第一檢查信號供應電路包括： -檢查信號輸人端子’用於輸人該第—檢查信號；以及 開關裝置，其係由薄膜電晶體所組成，該開關裝置從

   訂 線

   •43-

   申請專利範

   該指定·數量之該等信號線路選出一要將來自於該第一檢 查L 5虎輸入端子輸入的第一檢查信號供應至該處的信號 線路。 σ A 21·如申請專利範圍第19項之檢查電路， 其中該第二檢查信號供應電路包括： B薄膜電晶體，該等薄膜電晶體分別連接至該等指定數 量信號線路； 檢查信號佈線，其係由指定數量線路所組成，該等指 疋數里線路係用於將該等第二檢查信號分別供應至該等 薄膜電晶體；以及 控制佈線，其係由該等指定數量線路所組成，該等指 疋數量線路係用於供應用以控制該等薄膜電晶 和關閉的控制信號。 開啟 22·如申請專利範圍第19項之檢查電路，其中該等信號線路 是資料信號線路。 23· 一種檢查方法，用於 一種顯示裝置基板，該基板包括··一基板主體；像素 部件，其被排列在該基板主體的一矩陣上；複數條信號 線路，用於將信號傳輸至該等像素部件；以及一檢查電* 路包括··一檢查信號輸入端子，用於將一第一檢查信號 輸入至泫等信號線路的M(m是大於1的整數）條線路之每 一條；複數個第一選擇元件，每個第一選擇元件都被配 置在介於該信號線路與該檢查信號輸入端子之間；第一 控制佈線，其由η(乘）M(n是正整數）條線路所組成，該等 A B c D 577035 線路係用於將一控制信號分別供應至該等複數個第一選 擇元件，.複數個第二選擇元件，每個第二選擇元件皆分 別連接至該等信號線路；檢查信號佈線，其係由複數條 線路所組成，該等複數條線路係用於經由該等複數個第 二選擇元件將第二檢查信號分別供應至該等信號線路； 第二控制佈線，其由n(乘）M(n是正整數）條線路所組成， 該等線路係用於將控制信號分別供應至該等複數個第二 選擇兀件；以及一檢查電路，其形成在該基板主體上； 其中該檢查方法包括··第一檢查步驟；以及在該第一 檢查後執行的第二檢查， 該第-檢查步驟包括，當經由該第一控制佈線將一控 制信號供應至該等第_選擇元件並且經由該第二控制佈 線將一控制信號供應至該等第二選擇元件時，將該第一 檢查#號輸入至該檢查信號輸入端子之步驟；以及 該第二檢查步驟包括，當經由該第二控制佈線將一控 制信號供應至該等第二選擇元件時，將該第二檢查作號 供應至該檢查信號佈線之步驟。 一 °儿 24.如申請專利範圍第23項之檢查方法， 二ί:$ ^查步驟中’經由該第-控制佈線將該 等第—選擇元件的執行方式為··將- nr::等第—選擇元件的任-第-選擇元件 第信號供應至除該等第-選擇元件之該 第一選擇疋件外的該等第-選擇元件；以及 在5亥第一檢查步驟中，經由兮笛一 、，，由5亥第二控制佈線將該控制 巧張尺度適财S S家標準(CNS)

   577035 A8 B8 C8

   乜號供應至該荨第二選擇元件 ^ ^ σ. ^ 丁 W钒仃方式為：將一非選 擇仏唬供應至第二選擇元件， 技姑艰挪 /第一選擇疋件相對應於 將忒、擇信號供應至該處一- ^ ^ ^ ^選擇兀件；以及將一 選擇4 5虎供應至除要將該非潠摆产 一哪挪 耵碌非選擇、號供應至該處之該第 一k擇元件外的該等第二選擇元件。 A如申請專利範圍第23項之檢查方法，其中在該第二檢杳 =驟經由該第二控制佈線將該控制信號供應至該等 弟擇7L件的執行方式為’將_選擇信號供應至所有 該等第二選擇元件。 26· —種製造液晶單元的方法，包括： 在一陣列基板上形成一檢查電路之步驟，該檢查電路 包括：第一信號供應佈線，用以供應一第一檢查信號； 複數個第—薄膜電晶體，該等複數個第-薄膜電晶體的 源極（或者汲極）都被連接至該第一信號供應佈線；第一 控制佈線，其係由連接至該等複數個第一薄膜電晶體之 分別的閘極的複數條線路所組成；複數個第二薄膜電晶 體，泫等第二薄膜電晶體的汲極（或者源極）都被連接至 該等複數個第一薄膜電晶體的分別的汲極（或者源極）； 第二控制佈線，其係由連接至該等複數個第二薄膜電晶 體之分別的閘極的複數條線路所組成；以及第二信號供 應佈線，其係由連接至該等複數個第二薄膜電晶體之分 別的源極（或者汲極）的複數條線路所組成，該第二信號 供應佈線係用來將一第二檢查信號供應至該等第二薄膜 電晶體； -46- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 577035 A8 B8 C8 ________D8___ 六 申請專利範圍 第一檢查步驟，用於當經由該第一控制佈線將選擇電 位供應至該等複數個第一薄膜電晶體之任一第一薄膜電 晶體並且將非選擇電位供應至除該等第一薄膜電晶體之 該任一第一薄膜電晶體以外的第一薄膜電晶體時，以及 當經由該第二控制佈線將非選擇電位供應至連接至將選 擇電位供應至該處之該第一薄膜電晶體的該第二薄膜電 晶體並且將選擇電位供應至除已供應非選擇電位至該處 之该第二薄膜電晶體以外的該等第二薄膜電晶體時，將 該第一檢查信號供應至該第一信號供應佈線； 形成一單元之步驟’該單元包含該陣列基板、一疊 層於該陣列基板的彩色濾光基板及一夾在該陣列基板與 該彩色濾光基板之間的液晶材料；以及 一第二檢查步驟’用於當經由該第二控制佈線將選擇 電位供應至所有該等第二薄膜電晶體時，將第二檢查信 號供應至該第二信號供應佈線。 -47- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)