JP5599501B2 - 画像表示パネルの検査方法 - Google Patents
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Description
図1は、この発明の実施の形態1によるカラー液晶表示装置の構成を示すブロック図である。図1において、このカラー液晶表示装置は、液晶パネル1、垂直走査回路7および水平走査回路8を備え、たとえば携帯電話機に設けられる。
図7は、この発明の実施の形態2によりLCDモジュールの検査方法を説明するための図である。図7において、この検査方法では、ガラス基板40の表面に複数(図では3つ)のLCDモジュール41〜43が形成される。LCDモジュール41〜43の各々は、図3で示したものと同じである。LCDモジュール41〜43の各々の検査時に使用される端子31〜36は、ガラス基板40の1辺に対向して配置される。また、ガラス基板40のその1辺に沿って、R端子51、G端子52、B端子53、制御端子54〜56、偶数データ端子57、および奇数データ端子58が配置される。
図8は、この発明の実施の形態3によるLCDモジュールの検査方法を説明するための図である。図8において、この検査方法では、ガラス基板60の表面に複数(図では3つ)のLCDモジュール61〜63が形成される。LCDモジュール61〜63の外部端子部61a〜61cは、ガラス基板60の1辺に対向して配置される。LCDモジュール61〜63の外部端子部61a〜61cに沿って、それぞれ検査用端子切換回路64〜66が設けられる。また、ガラス基板60のその1辺に沿って、R端子71、G端子72、B端子73、制御端子74〜76、偶数データ端子77、および奇数データ端子78が設けられる。
図11は、この発明の実施の形態4によるLCDモジュールの構成を示す回路ブロック図であって、図3と対比される図である。図11を参照して、このLCDモジュールが図3のLCDモジュールと異なる点は、端子34〜36と検査用端子切換回路25の間の3本の配線がCOG(chip on glass)実装領域80を通過し、3本の配線のCOG実装領域80内の所定の位置にパッド81〜83がそれぞれ設けられている点である。検査の終了後には、COG実装領域80を覆うようにして半導体チップが実装される。このとき、半導体チップの接地電位GNDの電極が3つのパッド81〜83と導通状態にされ、パッド81〜83は接地電位GNDに固定される。半導体チップには、図示しない電源端子および接地端子より、電源電位VDDおよび接地電位GNDが与えられる。半導体チップは、DC−DCコンバータなどを含んでいる。
Claims (2)
- 絶縁基板上に形成され、複数行複数列に配置された複数の画素表示回路と、それぞれ前記複数行に対応して設けられた複数の走査線と、それぞれ前記複数列に対応して設けられた複数のデータ線とを含み、前記複数のデータ線が3本ずつ複数のデータ線グループに分割された画像表示パネルと、
それぞれ前記複数のデータ線グループに対応して設けられ、各々が、前記画像表示パネルの通常動作時に、データ線選択信号に同期して第1〜第3の画像表示信号を時分割で受ける複数のデータ端子と、
それぞれ前記複数のデータ線グループに対応して設けられ、各々が、前記画像表示パネルの通常動作時に、対応のデータ端子に与えられた前記第1〜第3の画像表示信号を前記データ線選択信号に同期して対応のデータ線グループに含まれる3本のデータ線にそれぞれ供給する複数の切換回路とを備えた画像表示装置において、前記画像表示パネルを検査する方法であって、
さらに、前記画像表示パネルの検査時に、前記データ線選択信号に同期して論理レベルが変化する検査用データ信号を受ける検査端子と、
各データ線グループに対応して設けられ、第1の電極が前記検査端子に接続され、第2の電極が対応のデータ端子に接続され、前記画像表示パネルの通常動作時に非導通状態にされ、前記画像表示パネルの検査時に導通状態にされる3端子半導体スイッチとを備え、
各切換回路は、前記画像表示パネルの検査時に、前記検査端子および対応の3端子半導体スイッチを介して与えられた前記検査用データ信号を前記データ線選択信号に同期して対応のデータ線グループに含まれる3本のデータ線に順次供給する、画像表示パネルの検査方法。 - 絶縁基板上に形成され、複数行複数列に配置された複数の画素表示回路と、それぞれ前記複数行に対応して設けられた複数の走査線と、それぞれ前記複数列に対応して設けられた複数のデータ線とを含み、前記複数のデータ線が3本ずつ複数のデータ線グループに分割された画像表示パネルと、
それぞれ前記複数のデータ線グループに対応して設けられ、各々が、前記画像表示パネルの通常動作時に、データ線選択信号に同期して第1〜第3の画像表示信号を時分割で受ける複数のデータ端子と、
それぞれ前記複数のデータ線グループに対応して設けられ、各々が、前記画像表示パネルの通常動作時に、対応のデータ端子に与えられた第1〜第3の画像表示信号を前記データ線選択信号に同期して対応のデータ線グループに含まれる3本のデータ線にそれぞれ供給する複数の切換回路とを備えた画像表示装置において、前記画像表示パネルを検査する方法であって、
さらに、前記画像表示パネルの検査時に、前記データ線選択信号に同期して論理レベルが変化する第1の検査用データ信号を受ける第1の検査端子と、
前記画像表示パネルの検査時に、前記データ線選択信号に同期して論理レベルが変化する第2の検査用データ信号を受け、前記第1および第2の検査用データ信号は互いに相補な信号である第2の検査端子と、
各奇数番のデータ線グループに対応して設けられ、第1の電極が前記第1の検査端子に接続され、第2の電極が対応のデータ端子に接続され、前記画像表示パネルの通常動作時に非導通状態にされ、前記画像表示パネルの検査時に導通状態にされる第1の3端子半導体スイッチと、
各偶数番のデータ線グループに対応して設けられ、第1の電極が前記第2の検査端子に接続され、第2の電極が対応のデータ端子に接続され、前記画像表示パネルの通常動作時に非導通状態にされ、前記画像表示パネルの検査時に導通状態にされる第2の3端子半導体スイッチとを備え、
各奇数番の切換回路は、前記画像表示パネルの検査時に、前記第1の検査端子および対応の第1の3端子半導体スイッチを介して与えられた前記第1の検査用データ信号を前記データ線選択信号に同期して対応のデータ線グループに含まれる3本のデータ線に順次供給し、
各偶数番の切換回路は、前記画像表示パネルの検査時に、前記第2の検査端子および対応の第2の3端子半導体スイッチを介して与えられた前記第2の検査用データ信号を前記データ線選択信号に同期して対応のデータ線グループに含まれる3本のデータ線に順次供給する、画像表示パネルの検査方法。
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