TW477724B

TW477724B - Nickel powder and conductive paste

Info

Publication number: TW477724B
Application number: TW090104481A
Authority: TW
Inventors: Takao Hayashi; Yasuhide Yamaguchi
Original assignee: Mitsui Mining & Smelting Co
Priority date: 2000-02-28
Filing date: 2001-02-27
Publication date: 2002-03-01
Also published as: EP1127638A3; EP1127638A2; US20010018116A1; EP1127638B1; DE60125078T2; DE60125078D1; US6517745B2

Description

477724 五、發明說明（1 ).

[本發明所屬之技術領域] 質且呈接近於早分散的狀態而在導電膏製備期間可高度地分散有機載劑中，而且由於尖銳又備使用於製造沒有任何突起之多〜/ 夕道ΦAM, 谷器之溥内電極之導電β的鎳粉，以及包括此鎳粉之 [相關背景技藝] 多層陶究電容器包括交替地放置在雇中並予以社人之複數個陶兗介電層及複數個内電極層。在該種多声㈣容器之内電極的製備中，通常係、將作為内電極㈣的金屬微細粉末轉換成導電膏，將所得之導電膏印刷在陶堯介電材料的生片材上’接著在層中交替地放置陶究介電材料的生片材及導電f層，在加熱下使用I力使這些層彼此貼附因而使之成一體’再於減壓下於高溫燒製所得之積層板，因雨結合陶瓷介電層及内電極層。至於該種内電極的材料，傳統上係使用麵，鈀及銀_ 經濟部智慧財產局員工消費合社印製鈀’但近來已發展使用卑金屬如錄取代這些貴金屬如翻，纪及銀-絶之各種技術且已逐漸地增進。通常，由乾式反應或濕式反應所製備且未施加任何後處理的金屬粉末係呈至少部‘份結塊的狀態，而且其粒度愈小，其結塊的程度愈高。鎳粉能類似藉由乾式反應或濕式反應予以製備，但所得之鎳粉嚴重地遭受到此結塊的問題。尤其，其在有機載劑中的分散性為製備導電膏的重要因素，因此希望發展較本紙張尺度適用中國國家標準:'CNS)A4規格（210 X 297公爱） 312392 477724 A7 五、發明說明（2 ). 少結塊或具有與單分散狀態幾乎相同之分散狀態的鎳粉。右使用讓—種養少結—線—之鎳粉普最終獲得之導電層的稠密度，所獲得之產品的可信度亦^ 加，尤其，使用此種鎳粉可抑制電氣特性如絕緣特性及介電特性上的任何缺陷^此導致產品良率的改善。又，近來前述之多層陶瓷電容器等漸增地被小型化，陶瓷介電層及内電極必須更薄且欲積層的層數相對地增加因此，已製造積層零件，尤其是介電層的厚度不超過 2vm，内電極的厚度不超過15//m且多層的數目不少於 100的多層陶瓷電容器。 ‘ 若希望獲得薄内電極層’則要充分使用具有相對應於電極層之減少厚度之小平均粒度的金屬微細顆粒。然而，若使用包括含有粗顆粒之金屬粉末的導電膏形成内電極層，該種粗顆粒在所得之内電極層上形成突起且其經常裂穿薄陶£介電層’ g而形成短路。為了防止在這些内電極層間形成任何該種短路’必須使用具有平均粒度實質上小於相對應於電極層之減少厚度之前述平均粒度的金屬粉羥濟部智慧財產局員工消費合作社印製末。例如，曰本未審查專利公開第平u_1898〇l號揭露具有〇·2至0.6# m之平均粒度且以顆粒數目計具有粒度不 J β 倍平均粒度之粗顆粒的存在比例不超㉟的鎳超2細粉末。此專利說明書亦於第4攔，第21至24行，揭路如下.例如，若這些粗顆粒的粒度限制於不小於約，則依據本發明之錄超微細粉末的平均粒度應限制 312392 477724 i A7 五、發明說明（3 ) 於〇·6 // m” 。換言之，薄内電極層的形成需使用具有相當小平均粗度的金屬粉末。备粉末之導電膏的黏度愈高。又，該種金屬粉末亦遭遇到在燒製時促進金屬粉末的熱收縮及/或氧化的問題。 [發明的揭露] 因此’本發明的目的係提供抑制鎳顆粒間的結塊，幾乎呈單分散狀態，因此在導電膏製備中於有機載劑中具有優異分散性且具有尖銳粒度分佈，因此可製備多層陶竟電容器之沒有任何突起之薄内電極層，無非必須地降低鎳粉之平均粒度的鎳粉。本發明之又一目的係提供一種可有效地使用於製造，例如，多層陶瓷電容器之含有前述鎳粉的導電膏。本發明的發明人已進行各種研究以達成前述目的，已發現錄粉的特定去結塊處理可使鎳顆粒間的結塊程度儘可能降低’若粗顆粒的比例控制在相對較低的程度且將大部份鎳顆粒的粒度調整至落在所希望的範圍内，則無非必要地降低鎳粉的粒度即能製備沒有任何突起的内電極層，因而儘可能降低造成内電極間短路的可能性，由於低比例的超微細顆粒故而抑制鎳顆粒的氧化及熱收縮，以及所得之產品並未相對應地具有不足之電氣性如絕緣特性及介電特性，因此已基於這些發現而完成本發明。依據本發明之一方面，係提供經由掃描電子顯微鏡 (SEM)觀察所測定之〇·〗至} # m的平均粒度且由雷射繞射 -散射粒度分佈分析所測定之值與由SEM觀察所測定冬紙張尺度適用中國國·家標準（CNS)A4規格（210 X 297公爱） I— I n· Hi HI in I— an n I · u ell 1 1 i ^ t 1βΒ 1 .09 mmmoM ΟΛ i 1 I (請先閱讀背面之注意事項再填冩本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 312392 477724 A7 一， .......——— _ B7 " --—------- 五、發明說明（4 ) · 之平均粒度滿足式（1)搿示之下述關係式的鎳粉·· 1 ^ |(1>50 ^),{φ SEM m ^ ^ ^ ^ ^ ^ ^ ^ ^ 1.8 .........⑴ 依據本發明之另一方而，在祖糾力万面，係棱供一種包括前述鎳粉的導電膏。 [特別實施例的說明] *如先前標題為“先前技藝的說明，，的段落所述，鎳粉能藉由各種方法予以製備’但#製備導電膏時關粒間所存在的結塊會負面地影響其在有機載劑中的分散性。作為評估此分散性的指標（評估分散性的間接方法），本發明的發明人注意到下述比率·· (由雷射繞射·散射粒度分佈分析所測定之d5〇值）/(由 SE1V[觀察所測定之平均粒度）。更明確地說，我們能以由雷射繞射-散射粒度分佈分析所測定之值（質量基礎分佈的平均值）截取存在於鎳粉中之結塊顆粒的平均粒度而且我們亦能以由SEM觀察所測定之平均粒度截取粉末中之個別初始顆粒的幾何平均粒度。當此比率接近於1時，鎳粉接近於單分散狀態或具有優異之分散性。 ' 換言之，依據本發明之鎳粉具有〇 i至1 # m，較佳為〇·5至l//m之由SEM觀察所測定之平均粒度及不小於1 且不超過1.8,較佳為不超過ι·5及更佳為不超過〗3之比率：（由雷射繞射-散射粒度分佈分析所測定之Dm值）/(由 SEM觀察所測定之平均粒度）。 (請先閱讀背面之注意事項巧填寫本頁) 訂！ #· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製本紙張尺度適用中國s家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 4 312392 ' --- 4//724 鲁經濟部智慧財產局消費合社印製 A7 五、發明說明（5 ) · 、理’上’則述式子不能具有小於1的值。又，若前述式子具有超過1·8的值，則在平均上有18初始顆粒結塊而使該種錄粉在導電膏的製備中於有機載劑中具有抵劣的分散性。此外’依據本發明之鎳粉較佳包括由雷射繞射-散射粒度刀佈分析所測定之不超過媳顆粒數目之2〇%比例之粒度不小於DSG值之1.5倍的顆粒。若該種類粒的比例落在上述特疋範圍内’則在鎳粉中不會存在任何實質數目的粗顆粒’因此所得之多層電容器較不易遭致電極間的短路。更佳地，具有不小於15倍Dm值之粒度的顆粒比例為不超過1 5 4 ’特佳為不超過總顆粒數目的1 〇 %。此外，依據本發明的鎳粉較佳包括由雷射繞射_散射粒度刀佈分析所測定之不超過總顆粒數目之5%比例之粒度不超過值之〇·5倍的顆粒。若該種顆粒的比例落在上述特定範圍内，則鎳粉中不會存在任何實質數目的微細顆粒因此，鎳粉較不易遭致結塊而使其在摻混於導電膏時於有機載劑中具有優異的分散性。更佳地，具有不超過〇 5 倍Ε>5❹值之粒度的顆粒比例為不超過3%，特佳為不超過總顆粒數目的1%。又’於以具有約XI0000放大倍率之SEM觀察所測定之粒度中，本發明的鎳粉較佳包括不超過總顆粒數目之 1 0 /。，更佳為不超過7%，特佳為不超過5%等級之粒度為不]於平均粒度之12倍的顆粒。此外，此鎳粉較佳包^ 不超過總顆粒數目之，更佳為不超過7%，特佳為不本紙張尺度適用中随家標準（CNS)A4規格（210 X 297公爱） 5 312392^ I------------裝--------- --------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 A7 經濟部智慧財產局消費合社印製 312392 五、發明說明（6 ). 超過5%等級之粒度為不超過平均粒 a χ ^ 〈 0·8倍的顆粒。具有刚述特性的鎳粉具有尖銳的粒度分佈。因此使用此粉末製造多層陶瓷電容器内右雷六吳认后由 ^ €極，則能減少所得電合Is的厗度且其容量亦隨之增加細私士认如也 …、非必要地降低鎳微、、，田叔末的粒度，而且使用此鎳粉可進一义 , ^抑制内電極之任何短路的發生，尤其是抑制具有不曰問 ^ yr ρ » τγ σ χ 之電氣特性如絕緣不良及不足之介電特性之電容器的形成。再者’依據本發明的鎳粉較佳具有小於㈣小於35%，特佳為小於3〇%之以 1土為 (cv)。卜$(2)所測定之偏差係數 CV(%) = ( 〇Γ /χ)χ 1〇〇 ......(2) (式⑺中，X示由雷射繞射-散射粒度分佈分析所測… 值及σ不雷射繞射·散射粒度分佈分析中之顆 / 的標準偏差）。双9刀邱當使用含有具有該種特性之錄粉的導電瓷電容器的内雷炻眭，处# , ^ ^ ^ ^ ^ 所得電容器的厚度且能增加欲積層之層數，至相女v—、古至㈣於^於那些由使用含有具有前述粒度刀佈之鎳粉的導電膏所達成者的程度。此外’本發明的鎳粉可為純鎳粉，在構成錄粉之各微細顆粒内含有合屬g /卜私冑金屬氧化物之鎳粉或以金屬氧化物覆蓋各微、’田顆；立φ之鎳粉。然而，當顧及在移除黏合劑時抗錄氧化的改良和防止其擴散至陶瓷介電材料中的改良以及埶收縮的改良時’錄粉較佳為以金屬氧化物均句微顆粒表面之二。以金屬錄微細顆粒的質量計之蓋= •本紙張尺度適用中 (請先閱讀背面之注意事項寫本頁) 項 rl裝言 -u II —8 I , .#· 477724 法經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 五、發明說明（7 ) · 之金屬氧化物的用量較佳為0 〇5至1〇質量％。欲塗覆之金屬氧化物可為，例如，屬於周期表第2至 14族具有12至82之斥早赵夕石丨 ’、 ^'一種金屬元素的氧化物或複氧化物且較佳為屬於周期表第2，3，4，7，13及μ 族具有12至82之原子數之至少—種金屬元素的氧化物或複氧化物。其特定實例為選自下述組群之至少一者， ⑽，δΓ〇 ’ ㈣，Zn〇，A1A ’ Ga2〇3，γ2〇3，Sl〇2，Ti〇2，

Zr〇2，Cr2〇3 ’ Μη〇2，Μη3〇4，Pb〇，則2〇5，叫〇3，Ά， Dy203 ’ Er2〇3，H〇2〇3，BaTi〇3，CaTi〇3，，MgTi〇3，

BaZr03，CaZr〇3，SrZr〇3，（Mg，Ca)Ti〇3，（Ba，Ca)(Ti， z〇〇3，·〇3 ’ Pb(Zr，Ti)〇3，（Pb，Ca)Ti〇3，MgA队及BaTiW9。這些氧化物及複氧化物可以金屬如Nb，w， La，Y及/或Mo予以摻雜。然後以下將詳細說明依據本發明之製備鎳粉的較佳方法〇 ' 鎳粉通常可藉由乾式或濕式方法如液相縮減_分離氣相化學反應法，氣相蒸發法予以製備，但粉末的特性如形狀，粒度分佈及結塊可視所選擇之各特別方法而變〇使用作為製備本發明鎳粉之起始物質的鎳粉可為藉由乾式或濕式方法所獲得者。僅糟由刖述製備方法相當難以得到抑制鎳顆粒間的梦塊，在製備導電膏時於有機載劑中具有優異分散性且其粒度分佈相當尖銳的鎳粉。因此，為了得到該種鎳粉，相當本纸張尺度適用中國函家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 312392 %n i m I— an ^1· m n I iwmm I n I · n i 11 1ΊΛ m ϋ 111 t i a i n I I fl— I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 477724 A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製五、發明說明J：8 希望使用事先自其移除強力結塊之顆粒及極大之顆粒的鎳粉再對鎳粉施加使顆粒表面平滑的處理，使得結塊的顆粒完全地分離且分離的顆粒較不易遭致第二次結塊。鎳粉之前述處理中，由不僅是使粒度均勻的觀點，亦由兩確地且穩定地確保後續去結塊處理之所希望之效果的觀點來看移除強力結塊之顆粒及相當大之顆粒的前處理相當重要。關於前處理，當顧及抑制鎳顆粒表面的氧化及加工性時，例如，使用篩或篩子並不適當。因此最佳手段為，例如，風力分級裝置，更明確地說，離心分級裝置如工氣刀離機’ Spedic分級機，Aquecut，渦輪分級機。又’在後續進行之去結塊處理中，重要的是合併使用明確地分離結塊的鎳顆粒之高剪切裝置及確保強力研磨和摩擦功能（包含鎳顆粒間的摩擦作用）的裝置。利用具有優異之這些功能之這些裝置的處理可形成具有幾乎單分散狀態及低結塊度的鎳粉且亦可控制第二次結塊。前述高剪切裝置及確保高研磨和摩擦切能之裝置的典型實例包含輥研磨機，但該種裝置的主要功能太強而無法控制其其他功能，或者該種裝置顯示其他強功能，特別是強壓縮功能，因而此裝置經常不適合應用於顯示高延伸性的金屬粉末。由於顧及這些缺點’所以本發明的發明人已發現在去結塊時本發明的鎳粉能經由同時使用具有高剪切功能之粉碎裝置及顯示高研磨和摩擦功能之粉碎裝置而以兩個或更多個步驟予以便利地製備。 (請先閱讀背面之注意事項一^寫本頁> —裝 § . 卜紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐 312392 477724 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 312392 A7 B7 五、發明說明（9 ) · 更明確地說，發明人因此下結論如下：較佳首先使用高剪切裝置分雜結塊的鎳顆毒，之後再使—甩顯私摩擦功能的粉碎裝置以改良由此去結塊之這些顆粒的表面平滑度。雖然顯示研磨和摩擦功能之較佳粉碎裝置的實例為

Dyno Mill (Willy A. Bachofen AG Mashinenfabrik 出品）， Hallel Homogenizer (Kokusan Seiko 公司出品）及 (Ebara公司出品）’但較佳使用於此處之前述高剪切裝置的實例為粉碎機（HOSOKAWA MICRON公司出品），Super Micron (HOSOKAWA MICRON 公司出品）及 Supermasscolloider (Masuko Sangyo 公司出品）。這些裝置並不侷限於任何特別者只要其基本上具有前述功能（剪切，研磨及/或摩擦功能）即可，雖然已知各種顯示該些功能的裝置，以各種總稱，一般名稱及商品為人所知’且雖然其具有不同名#但其中某些具有相同功能。此外，去結塊處理可為乾式或濕式方法，關於此點，亦可能想出控制鎳顆粒氧化之任何手段。更明埃地說，若藉由乾式方法進行去結塊處理，則錄粉較佳於惰性氣體或摄；5> i 暹原虱體乳氛中施加此處理。該種惰性氣體及還原氣體的特定實例為氣氣，氯氣，氣氣，一氧化碳及含氫之氮氣，其通過去結塊裝置。較佳地，其中進订去結塊處理之裝置内的氧氣濃度調整至不超過10000 PPm且裝置中的溫度控制在15至抑的範圍。另一方面，若藉由濕放方汰A —， ____、、、乂方法進仃去結塊處理，則較佳械張尺度顧 I . ^--------^ίί------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 477724 A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製五、發明說明（10 ) 添加還原劑至含鎳粉的漿液中。該種還原劑的特定實例為劑。較佳地，以0,0005至i當量的用量將還原劑添加至鎳粉漿液中而且在去結塊處理期間將含鎳粉之漿液的溫度控制在25至80°C。 1 我們將要說明依據本發明製備導電膏的較佳方法。本發明的導電貧包括，例如，本發明之前述鎳粉，樹脂及溶劑，以及作為選擇性成分之分散劑及/或燒結抑制劑等。更明確地說，樹脂的實例為纖維素衍生物如乙基識雉素，含乙烯基之未固化樹脂如丙烯酸樹脂，聚乙稀醇縮丁醛樹脂及聚乙烯醇；以及熱固性樹脂如環氧樹脂及丙烯酸類其較仏與過氧化物合併使用。此外，前述溶劑的實例為萜品醇，萘滿，丁基卡必醇及乙酸卡必醇酯，其能單獨或以任何組合使用之。又，若有需要，導電膏可包括玻璃轴。依據本發明的導電膏能藉由在攪拌下，於混合裝置如球研磨機或二輥研磨機中混合前述成分而予以製備。本發明以下將參照下述實施例及比較例更加詳細予以說明，但本發明絕非侷限於這些特定實施例。實施例1將硫酸鎳六水合物（鎳含量：22·2質量％; 44 8kg)溶於 80L純水中，得到水溶液，接著逐漸滴加所得之水溶液至l〇〇L之氫氧化鈉之2〇〇g/L水溶液中同時保持混合物的溫度至60 °C，由而分離出氫氧化鎳。將肼單水合物（30kg)添加至所得之懸浮液中，歷時 ‘紙張尺度適用中國函家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 312392 (請先閱讀背面之注意事項耳填寫本頁) r«裝 r n I I n —1 |

477724 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ------_B7____ 五、發明說明（U ). 分鐘’同時保持懸浮液的溫度至6 〇 °C，由而將氫氧化鎳還原成元素鎳。過濾所得之含鎳顆粒之漿液後，以純水洗蘇錄顆粒直至洗液的pH值達到不超過9，然後予以乾燥得到鎳粉。使用於6000rpm轉子轉數及7.2m3/min空氣流動速率之空氣分離機：SF Sharp Cut Separator KSC-02 型 (Kurimoto公司出品）處理此鎳粉，由而移除粗顆粒。將自其移除粗顆粒之所得鎳粉進料至備有刀狀鎚子的粉碎機AP_1SH型（HOSOKAWA MICRO公司出品）中以 250〇rpm於其中予以處理，接著添加8〇L純水至所得之鎳粉中，以於5000rpm及27.5L/min之漿液處理速度的HaUel 均質機KH-2型（Kokusan Seiko公司出品）處理漿液，歷時 2小時，接著過濾及乾燥以得到鎳粉。將此鎳粉（O.lg)與SN分散劑5468(San Nopco公司出品）之0 · 1 %水溶液混合，接著以超音波均質機（U s_3 0 〇 T， Nihonseiki Kaisha公司出品）使其分散於溶液中，歷時5分鐘，再使用雷射繞射-散射粒度分佈測量裝置：Micr〇 Trac HRA 9320-X100 型（Leeds+Northrup 公司出品）測定 d5〇值。結果，發現此值為0.50 #m，發現具有大於075/z m(〇5〇 X 1.5 = 0.750)之粒度的顆粒比例為總顆粒數目的4 2%並發現具有小於0.25"111(0.5(^ 0.5 = 0.250)之粒度的顆粒比例為總顆粒數目的1.0%。分別地，藉由具有xl 〇〇〇〇放大倍率之SEM觀察鎳粉，由而測定所有存在於隨機選擇之5個可見領域之丨5〇〇個 i i In n n n I n n m n n 1 · 1 $ ϋ I n n K t 1 u i ϋ ]i i n I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國画家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 11 312392 477724 A7

五、發明說明（12 ♦ 粒的粒度。結皋，發現平均粒度為0.43 /z m，發現具有大於0.51#〇1(0.43父1.2=0.516)之粒度的顆粒數目為29個顆 1 · I - (請先閱讀背面之注意事項寫本頁粒（相當於總顆粒數目的1.9%)並發現具有小於〇.35/Zm (〇·43χ 0·8 = 0.344)之粒度的顆粒數目為68個顆粒（相當於總顆粒數目的4^5%)。由前述測量結果可清楚得知，發現此比率：（由雷射繞射-散射粒度分佈分析所測定之由SEM觀察所測定之平均粒度）為0.50/0.43 = 1.16。將包括5質量份乙基纖維素，60質量份礦油精及35 質量份丁基卡必醇的載劑添加至50質量份之此鎳粉中，接著混合這些成分，再以三輥研磨機混鍊所得之混合物，得到導電膏。使用此導電膏形成具有2/zm之介電層厚度，之内電極層厚度，350層多層數目的組件，再燒製所得之組件，得到具有2.Οχ 1·25χ 1.25mm之大小的電容器。自所製備之這些陶瓷電容器隨機取出陶瓷電容器（2〇〇件），以測定在電氣特性如絕緣性質及介電特性上不足之產經濟部智慧財產局員工消費合作社印製品數目。結果’發現不合格品數目為1並發現瑕疵品百分比為0.5%。實施例2 使已充分乾燥且具有50 Oppm疏含量之無水氣化鎳 (22.0kg)於石英容器中靜置，然後於1〇L/min之作為載體氣體的氬氣流中在加熱下予以蒸發，同時保持容器中的溫度至900°C。使還原用的氳氣以3 5L/niin之流動速率通過經蒸發之氣化鎳氣體，同時將還原溫度控制至1〇〇(rc，得本纸張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 12 312392 477724 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製五、發明說明（13 ) · 到鎳粉。以純水洗滌所得之錄粉直至洗液的pH值達到不超過9，接著過濾，其後乾燥再以實施例1所使用之相同方式移除粗顆粒。使用於1500rpm轉子轉數之Super Micron M52NC型 (HOSOKAWA MICRON公司出品）處理自其移除粗顆粒之鎳粉’接著添加80L純水至所得之鎳粉中，使用於iL/min 之速率的 Dyno Mill KDL 型（Willy A. Bachofen AG Maschinenfabrik出品）（玻璃球珠：顆粒大小2mm中）處理所得之懸浮液，歷時1 5分鐘，過滤及乾燥，得到鎳粉。將此鎳粉（O.lg)與SN分散劑5468(SanNopco公司出品）之0.1%水溶液混合，接著以超音波均質機（1；8_3〇〇丁， Nihonseiki Kaisha公司出品）使其分散於溶液中，歷時5分鐘’再使用雷射繞射-散射粒度分佈測量裝置：Micr〇 HRA 9320-X100 型（Leeds+Northrup 公司出品）測定 d50 值。結果，發現此值為0.55 // m，發現具有大於0.82 # m(0.55 X 1.5 = 0.825)之粒度的顆粒比例為總顆粒數目的6.3%並發現具有小於0.28# m(0.55x 0.5 = 0.275)之粒度的顆粒比例為總顆粒數的1.6%。分別地’藉由具有xlOOOO放大倍率之SEM觀察錄粉，由而測定所有存在於隨機選擇之5個可見領域之1500個顆粒的粒度。結果，發現平均粒度為0.40 # m，發現具有大於0.48//111(0.4(^ 1.2=0.480)之粒度的顆粒數目為77個顆粒（相當於總顆粒數目的5.1%)並發現具有小於〇 32//m (0.40x 0.8 = 0·320)之粒度的顆粒數目為92個顆粒（相當於本紙張尺度適用中國画家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 13 312392 ------------------ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂- 丨線· 477724

經濟部智慧財產局員工消費合作社印製總顆粒數目的6.1%)。由前述測量結果可清楚得知，發現此比率：（由雷射繞射-散射粒度分佈分析所測定之〇5^值）/(由sem觀察所定之平均粒度）為0.55/0.40 = 1.38。 “ 將包括5質畺伤乙基纖維素.，6 〇質量份礦油精及3 $ 質量份丁基卡必醇的載劑添加至5〇質量份之此錄粉中，接著混合這些成分，再以三輥研磨機混鍊所得之混合物，得到導電膏。使用此導電膏成具有2介電層厚度，i s // m之内電極層厚度，35〇層多層數目的級件，再燒製所付之組件’付到具有2 · 〇 X 1.2 5X 1.2 5 mm之大小的電容器。自所製備之這些陶瓷電容器隨機取出陶竟電容器（2〇〇件），以測定在電氣特性如絕緣性質及介電特性上不足之產 σσ數目。結果’發現不合格品數目為2並發現瑕疵品百分比為1 % 〇比較例1 重複實施例1所使用之相同程序，但不使用任何去結塊處理，得到鎳粉。將此鎳粉（O.lg)與SN分散劑5468(SanNopco公司出品）的0.1%水溶液混合，接著以超音波均質機（US-300T， Nihonseiki Kaisha公司出品）使其分散於溶液中，歷時5分鐘’再使用雷射繞射-散射粒度分佈測量裝置：Micro Trac HRA 9320-X100 型（Leeds+Northrup 公司出品）測定 D50 值。結果，發現此值為0.87// m，發現具有大於1.30# m(0.87 X 1.5 = 1.305)之粒度的顆粒比例為總顆粒數目的15.0%並本紙張尺度適用中國函家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 14 312392 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) prl裝---- 訂------後

477724 m 經濟部智慧財產局消費合社印製 A7 五、發明說明（15 ). 發現具有小於0.44/zm(0.87x 0.5 = 0 435)之粒度的顆粒比例為總顆粒數目的5.2%。分別地，藉由具有X10000放大倍率之SEM觀察鎳粉，由而測定所有存在於隨機選擇之5個可見領域之1500個顆粒的粒度。結果，發現平均粒度為0 44 #m;發現具有大於0·52/ζ Π1(0·44Χ 1.2=0.528)之粒度的顆粒數目為93個顆粒（相當於總顆粒數目的6·2%)並發現具有小於〇 36以茁 (〇·44χ 〇·8 = 〇·352)之粒度的顆粒數目為83個顆粒（相當於總顆粒數目的5.5%)。由前述測量結果可请楚得知，發現此比率：（由雷射繞射-散射粒度分佈分析所測定之Dw值）/(SEM觀察所測定之平均粒度）為0.87/0.44 = 1.98。將包括5質量份乙基纖維素，6〇質量份礦油精及質I份丁基卡必醇的載劑添加至5〇質量份之此鎳粉中，接著混合這些成分，再以三輥研磨機混鍊所得之混合物，得到導電膏。使用此導電膏形成具有介電層厚度， 1.5/zm之内電極層厚度，350層多層數目的組件，再燒製所知之組件’付到具有2·〇χ 1 ·25χ 1.25mm大小的電容器。自所製備之這些陶瓷電容器隨機取出陶瓷電容器（2〇〇件）’以測定在電氣特性如絕緣性質及介電特性上不足之產品數目。結果，發現不合格品數目為12並發現瑕疵品百分比為6%。比較例2 重複實施例1所使用之相同程序，但省略利用Haiiei * I M ------ iill-----^ f請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國®家標準（CNS)A4規格（210 x 297公爱） 15 312392 477724 A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製五、發明說明（16 均質機的處理，得到鎳粉。將此鎳粉( o . l g )與—S N分散务 )的0· 1 /。水溶液混合，接著以超音波均質機（uS_3οο.τ， Nihonseiki Kaisha公司出品）使其分散於溶液中，歷時5分鐘，再使用雷射繞射-散射粒度分佈測量裝置· Micr〇 Trac HRA 9320-X100 型（Leeds+Northrup 公司出品）測定 D5〇值。結果，發現此值為0_80#m，發現具有大於i 2〇/zm5(Q〇 8〇 x 1.5 = 1.200)之粒度的顆粒比.例為總顆粒數目的7 3%並發現具有小於0.40 # m(〇.8〇x 0.5=0.400)之粒度的顆粒比例為總顆粒數目的2.6%。分別地’藉由具有xioooo放大倍率之SEM觀察鎳粉，由而測定所有存在於隨機選擇之5個可見領域之15〇〇^顆粒的粒度。結果，發現平均粒度為〇·42 # m，發現具有大於0.50"m(0.42x 1·2=0·5〇4)之粒度的顆粒數目為8〇個顆粒（相當於總顆粒數目的5_3%)並發現具有小於〇 34"瓜 (0·42χ 0·8 = 0·3 36)之粒度的顆粒數目為98個顆粒(相卷於總顆粒數目的6 · 5 % )。由前述測量結果可清楚得知，發現此比率· υ千·（由雷射緩射-散射粒度分佈分析所測定之Dw值）/(由SEM觀察所y 定之平均粒度）為0.80/0·42 = 1.90。將包括5質量份乙基纖維素，60質量份礦油精及質量份丁基卡必醇的載劑添加至50質量份之此錄粉中，著混合這些成分，再以三輥研磨機混鍊所得之混人物 , 到導電膏。使用此導電膏形成具有2/zm之介電層厚户件 Μ氏張尺度適用中國囤家標準（CNS)A4規格（210 297公釐） 16 312392 !! 气 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁} • i dn i ι_ϋ I H.4 訂-I-- #- +//724 A7 B7 五、發明說明（17 ). 之内電極層厚度’ 350層多層數目的組件，再燒製所得之組件，得到具有2·0χ 1.25χ 1 ·25mm大小的電容器。自由此所製備之這些陶瓷電容器隨機取出陶瓷電容器（2⑽ 件）’以測定在電氣特性如絕緣性質及介電特定上不足之產品數目。結果，發現不合格品數.目為5並發現瑕疵品百分比為2.5 %。如上所詳述，依據本發明的錄粉由於低結塊性質及接近於單分散狀態，故在導電膏製備期間可高度地分散於有機載劑中，而且由於其尖銳的顆粒分佈，故此鎳粉特別適合於製備使用於製造沒有任何突起之多層陶瓷電容器之薄内電極的導電膏。 I ----------* ^ 3 I i -----I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製本紙張尺度適用中國®家標準（CNS)A4規格（21〇 X 297公釐） 17 312392

Claims

477724 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製六、申請專利範圍 1·種鎳粉’其特徵在於其具有經由掃描電子顯微鏡 (SEM)觀察所収之01至btn的平均粒度及由雷射繞射-散射粒度分佈分析所侧定之Dm值與由SEM觀察所測定之平均粒度滿足式⑴所示之下述關係式： 1 S [(D50值）/(由SEM觀察所測定之平均粒度）]$ i 8 2·如申請專利範圍第1項之鎳粉，其中在雷射繞射_散射粒度分佈分析中，具有不小於Dm值之15倍之粒度的顆粒比例為不超過總顆粒數目的2〇%及具有不超過值之〇·5倍之粒度的顆粒比例為不超過總顆粒數目的 5% 〇 3·如申請專利範圍第1項之鎳粉，其中在由SEM觀察所測疋之粒度中’具有不小於平均粒度之1 2倍之粒度的顆粒比例為不超過總顆粒數目的及具有不超過平均粒度之0.8倍之粒度的顆粒比例為不超過總顆粒數目的 10% 〇 4·如申請專利範圍第2項之鎳粉，其中在由SEM觀察所測定之粒度中，具有不小於平均粒度之12倍之粒度的顆粒比例為不超過總顆粒數目的1 〇 %及具有不超過平均粒度之0.8倍之粒度的顆粒比例為不超過總顆粒數目的 10% 〇 5· —種導電膏，包括如申請專利範圍第1，2, 3或4項之鎳粉。 6.如申請專利範圍第5項之導電膏，其中其係使用於製造本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 18 312392 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -I n. H ϋ n —ft ^ ^ n i n fl— 訂 i!線一· 477724 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍多層陶瓷電容器 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 19 312392