TW202242912A - 透明導電薄膜層合體 - Google Patents

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桒原惇
山木繁
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日商昭和電工股份有限公司
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Abstract

本發明可簡便提供一種適用於具有曲面的3次元成形之透明導電薄膜層合體。 本發明的透明導電薄膜層合體的特徵為具有，藉由透明熱塑性樹脂薄膜所成的透明基材、形成於前述透明基材的至少一方主面上之含有黏合劑樹脂及金屬奈米線而構成的透明導電膜，與形成於上述透明導電膜上的含有樹脂成分之保護膜；上述黏合劑樹脂含有，聚-N-乙烯基乙醯胺、將N-乙烯基乙醯胺(NVA)作為單體單位含有70莫耳%以上之共聚物，及纖維素系樹脂的至少一種，且構成上述保護膜之樹脂成分的94質量%以上來自熱塑性樹脂者。

Description

透明導電薄膜層合體
本發明係關於透明導電薄膜層合體。更詳細為有關適用於3次元加工(立體成形)之透明導電薄膜層合體。
透明導電膜可使用於液晶顯示器(LCD)、電漿顯示平板(PDP)、有機電致發光型顯示器、太陽電池(PV)及觸控板(TP)的透明電極、帶電防止(ESD)薄膜以及電磁波遮蔽(EMI)薄膜等種種領域。作為此等透明導電膜，雖過去使用利用ITO(酸化銦錫)者，但有著銦之供給穩定性低，製造成本高，欠缺柔軟性及成膜時需要高溫等問題。因此，取代ITO之透明導電膜的探索正熱烈進行者。此等中含有金屬奈米線之透明導電膜，因導電性、光學特性及柔軟性優異，且在濕式製程可成膜，製造成本低，成膜時無需高溫，故可作為取代ITO之透明導電膜使用。例如已知有含有銀奈米線且具有高導電性、光學特性、柔軟性之透明導電膜(參照專利文獻1)。
另一方面，含有銀奈米線的透明導電膜之銀質量單位的表面積為大，容易與種種化合物進行反應，故有著欠缺耐環境性之問題，使用於步驟中的種種藥劑或洗淨液之影響，或因長期保管所產生的空氣中氧或水分之影響等，腐蝕奈米結構體，容易降低導電性。又，特別在電子材料等用途上，欲防止對基板表面上的微粒子狀雜質或粉塵或灰塵等附著或混入，使用刷子等物理性洗淨步驟的情況雖多，但即使藉由該步驟亦有著表面受傷之問題。
欲解決此課題，於含有銀奈米線之透明導電膜表面上層合保護膜，對於該透明導電膜賦予硬度及耐環境性之嘗試多次被進行。又，因必需將自電子電路的配線與透明導電膜進行電性接合，故需要可維持自保護膜表面至透明導電膜的電接觸性之保護膜。
欲解決此等課題，在下述專利文獻2揭示具備一邊維持對含有導電性纖維的透明導電膜之電接觸性，一邊對該透明導電膜可賦予高耐環境性的保護膜之透明導電薄膜及其製造方法。
另一方面，隨著過去觸控板及觸控板之普及，搭載此等的機器種類亦多樣化，欲進一步提高機器操作性，提出觸控面含有曲面之3次元形狀的觸控板及觸控板。
例如，於專利文獻1中揭示至少具備透明基材片，與具有使用可使基材片的一面之乾燥塗膜的延伸率成為10%以下，可見光透過率成為90%以上的導電性墨水而形成的複數主電極區域的主電極層之層合體，層合體藉由加熱軟化時之金屬加工(metalworking)成為含有3次元曲面之成形物的具有3次元曲面形狀觸控面之靜電容量方式觸控板。
更具體為，對於專利文獻1所揭示的3次元曲面觸控板之製造方法，首先於透明基材片表面上，設置具有使用含有有機導電材料的導電性墨水所形成的複數主電極區域之主電極層。其次，在主電極層上藉由金屬加工(metalworking)成為3次元曲面內之周緣部的場所，設置具有補助電極區域之補助電極層。其後，藉由將由此等三層所成的層合體進行加熱軟化之狀態下的金屬加工(metalworking)成形為3次元曲面，經冷卻或放冷後得到曲面形狀成形物者。注意到與金屬奈米纖維相比碳奈米試管或PEDOT等更具有優異的延伸性，在金屬加工(metalworking)時延伸較小的主電極區域中使用金屬奈米纖維，在延伸較大的補助電極區域中使用碳奈米試管或PEDOT等。
在專利文獻2中，作為可熱成形之層合體，揭示以(A)含有作為主成分的聚碳酸酯之熱成形用薄膜、(B)接著層、(C)透明導電層的順序進行層合的層合體。
專利文獻3中揭示，以具有基材、形成於前述基材的至少一方主面上之含有黏合劑樹脂及導電性纖維所構成的透明導電膜，與形成於前述透明導電膜上之保護膜，前述黏合劑樹脂之熱分解開始溫度為210℃以上，且前述保護膜為熱硬化性樹脂之熱硬化膜者為特徵之透明導電基板。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1] 日本特開2013-246741號公報 [專利文獻2] 日本特開2021- 70181號公報 [專利文獻3] 國際公開第2018/101334號
[發明所解決的問題]
然而，在專利文獻1之製造方法所使用的含有碳奈米試管或PEDOT等有機導電性材料的導電性墨水所形成的導電性墨水層(導電層)的有機材料本體的電阻值即為較高的50Ω/□以上，且因在變形時會延伸導電層，故進一步有著電阻值變高的傾向，且由工業面上有著問題。
相對於此，藉由金屬所構成的金屬層即使其開口率為90%以上之網孔形狀，具有比有機導電性材料更低的1Ω/□以下之電阻值，具有優異的導電特性。
另一方面，對樹脂基板上使用具有藉由金屬鍍敷處理或金屬蒸鍍等所形成的金屬層之導電性薄膜而賦予立體形狀(3次元形狀)時，金屬層無法追隨樹脂基板的延伸而使斷裂情況變多，專利文獻1所揭示的設計變得需要。
於專利文獻2中揭示，(C)透明導電層藉由含有導電性糊或者金屬網孔層者所構成，但對於在(C)透明導電層設定保護膜，以及對於使用於熱成形的較佳保護膜之構成則無揭示。
於專利文獻3中雖揭示具備保護膜的透明導電薄膜，但未有賦予立體形狀(3次元形狀)之意圖，故對於可賦予立體形狀(3次元形狀)之較佳保護膜的構成無揭示。
然後，本發明為有鑑於上述實情，以簡便地提供具有曲面之3次元成形的較佳透明導電薄膜層合體為目的。 [解決課題的手段]
本發明者欲解決上述課題而重複進行詳細研究結果，發現具備透明基材、透明導電膜與保護膜的透明導電薄膜層合體適合成形為3次元，該透明基材為，藉由透明熱塑性樹脂薄膜所成者；該透明導電膜為，將藉由延伸的電阻值之上昇為小的熱塑性樹脂作為主成分而含有的樹脂材料及將柔軟性優異的銀奈米線作為導電構件使用者；該保護膜為，將熱塑性樹脂作為主成分含有者。
本發明含有以下實施態樣。
[1] 透明導電薄膜層合體，其特徵為具有透明基材、透明導電膜與保護膜，該透明基材為藉由透明熱塑性樹脂薄膜所成者；該透明導電膜為形成於前述透明基材的至少一方主面上之含有黏合劑樹脂及金屬奈米線而構成者；該保護膜為形成於前述透明導電膜上的含有樹脂成分者；前述黏合劑樹脂含有，聚-N-乙烯基乙醯胺、將N-乙烯基乙醯胺(NVA)作為單體單位含有70莫耳%以上之共聚物，及纖維素系樹脂的至少一種，且構成前述保護膜之樹脂成分的94質量%以上來自熱塑性樹脂。
[2] 前述黏合劑樹脂為聚-N-乙烯基乙醯胺，及將N-乙烯基乙醯胺(NVA)作為單體單位含有70莫耳%以上的共聚物的至少一方之如[1]所記載的透明導電薄膜層合體。
[3] 前述透明熱塑性樹脂薄膜為聚碳酸酯薄膜之如[1]或[2]所記載的透明導電薄膜層合體。
[4] 前述黏合劑樹脂為聚-N-乙烯基乙醯胺之如[1]至[3]中任一所記載的透明導電薄膜層合體。
[5] 構成前述保護膜之樹脂成分為來自含有羧基的聚胺基甲酸酯或乙基纖維素之熱塑性樹脂的如[1]至[4]中任一所記載的透明導電薄膜層合體。
[6] 其中構成前述保護膜之樹脂成分為，來自含有羧基的聚胺基甲酸酯與於一分子中具有2個以上環氧基的環氧樹脂，前述於一分子中具有2個以上環氧基的環氧樹脂之含有量在前述樹脂成分中超過0質量%且6質量%以下，相對於前述含有羧基的聚胺基甲酸酯所具有羧基(COOH)，前述於一分子中具有2個以上環氧基的環氧樹脂所具有環氧基(Ep)之莫耳比(Ep/COOH)為超過0且0.02以下之如[5]所記載的透明導電薄膜層合體。
[7] 前述金屬奈米線為銀奈米線之如[1]至[6]中任一所記載的透明導電薄膜層合體。
[8] 使用於如[1]至[7]中任一所記載的透明導電薄膜層合體，與將聚碳酸酯作為主成分的樹脂薄膜之成形用透明導電薄膜層合體。 [發明之效果]
依據本發明之透明導電薄膜層合體，可得到3次元成形後依舊具有良好的導電性、透明性之3次元成形體，使用於具有曲面形狀之觸控板等曲面形狀成形物的成形上。
[實施發明的型態]
以下說明本實施發明的型態(以下亦稱為實施形態)。
有關實施形態之透明導電薄膜層合體的特徵為具有，藉由透明熱塑性樹脂薄膜所成的透明基材、形成於透明基材的至少一方主面上之含有黏合劑樹脂及金屬奈米線而構成的透明導電膜，與形成於上述透明導電膜上的含有樹脂成分的保護膜；上述黏合劑樹脂含有，聚-N-乙烯基乙醯胺、將N-乙烯基乙醯胺(NVA)作為單體單位含有70莫耳%以上之共聚物，及纖維素系樹脂的至少一種，且構成上述保護膜之樹脂成分的94質量%以上來自熱塑性樹脂者。在本說明書中之「透明」表示全光線透過率為75%以上之意思。
＜透明基材＞ 上述透明基材雖可著色，但以全光線透過率(對於可見光之透明性)較高者為佳，以全光線透過率為80%以上者為佳。可使用的透明基材為熱塑性樹脂薄膜，作為熱塑性樹脂薄膜，例如可舉出聚酯(聚乙烯對苯二甲酸酯[PET]、聚乙烯萘二甲酸酯[PEN]等)、聚碳酸酯、丙烯酸樹脂(聚甲基丙烯酸甲酯[PMMA]等)、環烯烴聚合物等樹脂薄膜。樹脂薄膜以在3次元成形上具有良好成形性之非晶性熱塑性樹脂薄膜者為佳。因此，前述樹脂薄膜之中亦以非晶性聚碳酸酯，及環烯烴聚合物為佳，以聚碳酸酯為較佳。聚碳酸酯若含有於分子主鏈中含有碳酸酯鍵之-[O-R-OCO]-單位(R為脂肪族基、芳香族基，或含有脂肪族基與芳香族基雙方者，進一步具有直鏈結構或者分支結構者)者即可並無特別限定。作為環烯烴聚合物，可使用降冰片烯之氫化開環易位聚合型環烯烴聚合物(ZEONOR(註冊商標，日本Zeon股份有限公司製)、ZEONEX(註冊商標，日本Zeon股份有限公司製)、ARTON(註冊商標，JSR股份有限公司製)等)或降冰片烯/乙烯加成共聚合型環烯烴聚合物(APEL(註冊商標，三井化學股份有限公司製)、TOPAS(註冊商標，聚塑質股份有限公司製))。作為聚碳酸酯，具體可使用Upiron(註冊商標，三菱瓦斯化學股份有限公司製)，或Panlight(註冊商標，帝人股份有限公司製)。此等中亦以玻璃轉移溫度(Tg)為90～170℃者因可耐住在抽屜接線或連接器部分等製造步驟中之加熱，故較佳，以125～160℃者為較佳。厚度以10～500μm者為佳，以25～250μm者為較佳，以40～150μm為更佳。
＜透明導電膜＞ 作為構成透明導電膜的導電構件使用金屬奈米線。金屬奈米線的延伸性比碳奈米試管低，但其為具有柔軟性之材料，由透明性的觀點來看，以碳奈米試管為較佳。又，若使用與特定黏合劑樹脂(後述聚-N-乙烯基乙醯胺(PNVA(註冊商標)))組合的導電性墨水，在事前即可確認，即使輸入15%的變形亦可形成不會產生如斷線等不適當情況之配線。然而，聚-N-乙烯基乙醯胺(PNVA(註冊商標))具有吸濕性，因藉由該影響會使透明導電膜之薄層電阻值變得不穩定，故設置覆蓋該表面的保護膜成為必要。金屬奈米線為徑為奈米級尺寸之金屬，具有線圈狀之形狀的導電性材料。在一實施形態中，與金屬奈米線共同(混合)，或取代金屬奈米線可使用具有多孔性或無孔性試管狀之形狀的導電性材料之金屬奈米試管。對於本說明書，「線圈狀」與「試管狀」皆為線狀，但前者表示中央非中空者，後者表示中央為中空者，此等性狀可為柔軟亦可為剛硬。對於本說明書，將前者稱為「狹義的金屬奈米線」，將後者稱為「狹義的金屬奈米試管」，「金屬奈米線」包含狹義的金屬奈米線與狹義的金屬奈米試管之雙方。狹義的金屬奈米線及狹義的金屬奈米試管可各單獨使用，亦可為混合後使用。
透明導電膜欲使金屬奈米線具有交差部，形成於透明基材上，具有未形成金屬奈米線的開口部可透過光之構成。構成金屬奈米線具有交差部之奈米結構網絡者為佳，形成有交差部的至少一部經融合的奈米結構網絡者為較佳。金屬奈米線的交差部是否融合，可由透過型電子顯微鏡(TEM)之電子線衍射圖型的解析來確認。具體為，解析金屬奈米線彼此交差的場所之電子線衍射圖型，由結晶結構之變化(再結晶之產生)來確認。
作為金屬奈米線之製造方法，可使用公知製造方法。例如銀奈米線為使用多元醇(Poly-ol)法，可藉由在聚乙烯吡咯啶酮存在下使硝酸銀還原而合成(參照Chem. Mater., 2002, 14, 4736)。金奈米線亦同樣地，可藉由在聚乙烯吡咯啶酮存在下使氯化使氯金酸水合物進行還原而合成(參照J. Am. Chem. Soc., 2007, 129, 1733)。有關銀奈米線及金奈米線之大規模合成及純化的技術，於國際公開第2008/073143號手冊與國際公開第2008/046058號手冊有詳細記載。具有多孔性結構之金奈米試管可藉由將銀奈米線作為模板，可藉由還原氯金酸溶液而合成。使用於模板的銀奈米線可藉由與氯金酸之氧化還原反應而於溶液中溶離，作為結果可形成具有多孔性結構之金奈米試管(參照J. Am. Chem. Soc., 2004, 126, 3892-3901)。
金屬奈米線之徑的粗度平均以1～500nm為佳，以5～200nm為較佳，以5～100nm為更佳，以10～50nm為特佳。金屬奈米線的長軸之長度平均以1～100μm為佳，以1～80μm為較佳，以2～70μm為更佳，以5～50μm為特佳。金屬奈米線在徑之平均及長軸長度平均滿足上述範圍，且縱橫比平均比5大者為佳，以10以上者為較佳，以100以上者為更佳，以200以上者為特佳。其中，縱橫比為，金屬奈米線之平均徑近似為b，長軸之平均長度近似為a時，以a/b所求得之值。a及b使用掃描型電子顯微鏡(SEM)及光學顯微鏡而測定。具體為b(平均徑)使用電場發射型掃描電子顯微鏡JSM-7000F(日本電子股份有限公司製)，測定任意選擇的100根銀奈米線之尺寸，以所得的測定值之算術平均值而決定。又，a(平均長度)的算出中，使用形狀測定雷射顯微鏡VK-X200(Keyence股份有限公司製)，測定任意選擇的100根銀奈米線尺寸，以所得的測定值之算術平均值而決定。
作為金屬奈米線之材料，例如可舉出選自由金、銀、鉑、銅、鎳、鐵、鈷、鋅、釕、銠、鈀、鎘、鋨、銥所成群的至少1種以及組合此等金屬的合金等。欲得到具有低薄層電阻且高全光線透過率之塗膜，以含有金、銀及銅中至少任1種者為佳。此等金屬因導電性高，故在得到一定薄層電阻時，可減少於面所佔金屬的密度，而可實現高全光線透過率。在此等金屬之中，亦以含有金或銀的至少1種者為較佳，以銀奈米線者為最佳。
透明導電膜含有金屬奈米線與黏合劑樹脂。作為黏合劑樹脂，一般具有透明性，可使用加工性優異者。使用由使用多元醇法而製造的金屬奈米線時，由與該製造用溶劑(多元醇)之相溶性的觀點來看，使用在醇、水或者醇與水的混合溶劑中可溶之黏合劑樹脂者為佳。在一實施態樣中，黏合劑樹脂含有聚-N-乙烯基乙醯胺(PNVA (註冊商標))、N-乙烯基乙醯胺共聚物及纖維素系樹脂的至少一種。作為黏合劑樹脂，可僅使用聚-N-乙烯基乙醯胺(PNVA(註冊商標))、N-乙烯基乙醯胺共聚物或纖維素系樹脂中任一者，亦可併用此等複數種。纖維素系樹脂雖可僅使用後述一種，但亦可併用複數種。由後加工之觀點來看，若考慮到使用耐熱性高的黏合劑樹脂者為佳，以聚-N-乙烯基乙醯胺(PNVA(註冊商標))為較佳。
聚-N-乙烯基乙醯胺為N-乙烯基乙醯胺(NVA)之均聚物。作為N-乙烯基乙醯胺共聚物，可使用將N-乙烯基乙醯胺(NVA)作為單體單位含有70莫耳%以上的共聚物。作為可與NVA進行共聚合之單體，例如可舉出N-乙烯基甲醯胺、N-乙烯基吡咯啶酮、丙烯酸、甲基丙烯酸、丙烯酸鈉、甲基丙烯酸鈉、丙烯醯胺、丙烯腈。若共聚合成分之含有量變多時，所得的透明導電膜之薄層電阻會變高，與金屬奈米線之混合性或與基板之密著性有降低之傾向，又耐熱性(熱分解開始溫度)亦有降低之傾向，故來自N-乙烯基乙醯胺的單體單位於聚合物中以含有70莫耳%以上者為佳，以含有80莫耳%以上者為較佳，以含有90莫耳%以上者為更佳。如此聚合物的絕對分子量之重量平均分子量以3萬～400萬者為佳，以10萬～300萬者為較佳，以30萬～150萬者為更佳。聚-N-乙烯基乙醯胺及N-乙烯基乙醯胺共聚物之絕對分子量可藉由以下方法而測定。
＜絕對分子量測定＞ 於下述溶離液溶解黏合劑樹脂，並靜置20小時。該溶液中之黏合劑樹脂的濃度為0.05質量%。
將此以0.45μm薄膜濾器進行過濾，將濾液以GPC-MALS實施分子量測定，算出絕對分子量基準之重量平均分子量。 GPC：昭和電工股份有限公司製Shodex(註冊商標)SYSTEM21 管柱：Tosoh公司股份有限公司製TSKgel(註冊商標)G6000PW 管柱溫度：40℃ 溶離液：0.1mol/L NaH 2PO 4水溶液+0.1mol/L Na 2HPO 4水溶液 流速：0.64mL/min 試料注入量：100μL MALS檢測器：Wyatt Technology Corporation、DAWN (註冊商標) DSP 雷射波長：633nm 多角度擬合法：Berry法
纖維素系樹脂為含有醚基的藉由所謂醣苷鍵經共價鍵的6員醚環所成的線狀聚合物。纖維素本身雖不溶解於水、醇、醇與水的混合溶劑，但於經變性的纖維素衍生物中有可溶解於水、醇、醇與水之混合溶劑者。作為纖維素系樹脂，若可溶解於水、醇、醇與水之混合溶劑中任一者即可，並無特別限制，可使用纖維素醚。作為纖維素醚，例如可舉出烷基纖維素(例如甲基纖維素、乙基纖維素等之C1-4烷基纖維素)、羥基烷基纖維素(例如羥基甲基纖維素、羥基乙基纖維素、羥基丙基纖維素等之羥基C1-4烷基纖維素)、羥基烷基烷基纖維素(例如羥基丙基甲基纖維素等之羥基C2-4烷基C1-4烷基纖維素)、羧基烷基纖維素(例如羧基甲基纖維素)，及烷基-羧基烷基纖維素(例如甲基羧基甲基纖維素)。此等可單獨使用或可組合二種以上而使用。此等中亦由對上述溶劑之溶解性、耐環境性(耐濕性)的觀點來看，使用甲基纖維素或乙基纖維素者為佳。纖維素系樹脂之重量平均分子量以10萬～20萬者為佳。本說明書的揭示內容中，纖維素系樹脂之重量平均分子量為藉由凝膠滲透層析法(以下以GPC表示)所測定的聚環氧乙烷換算之值。
上述透明導電膜為，可藉由將含有上述金屬奈米線、黏合劑樹脂及溶劑之導電性墨水於透明基材的至少一方主面上藉由印刷等進行塗布，將溶劑乾燥除去後而可形成。
溶劑若為可良好地分散金屬奈米線，且可溶解黏合劑樹脂但不溶解透明基材的溶劑即可，並無特別限定。使用以多元醇法進行合成的金屬奈米線時，由與該製造用溶劑(多元醇)之相溶性的觀點來看，使用醇、水或者醇與水的混合溶劑者為佳。因容易控制黏合劑樹脂的乾燥速度，故使用醇與水之混合溶劑者為較佳。醇以至少含有一種C nH 2n+1OH(n為1～3的整數)所示碳原子數為1～3的飽和一元醇(甲醇、乙醇、正丙醇及異丙醇)[以下僅以「碳原子數為1～3的飽和一元醇」表示]者為佳，以全醇中含有40質量%以上之碳原子數為1～3的飽和一元醇者為較佳。使用碳原子數為1～3的飽和一元醇時，因可容易進行溶劑乾燥，故在步驟上為有利。作為醇，可併用碳原子數為1～3的飽和一元醇以外之醇。作為可併用的碳原子數為1～3的飽和一元醇以外之醇，例如可舉出乙二醇、丙二醇、乙二醇單甲基醚、乙二醇單乙基醚、丙二醇單甲基醚，及丙二醇單乙基醚。藉由將此等醇與碳原子數1～3的飽和一元醇併用時，可調整溶劑之乾燥速度。混合溶劑中之全醇的含有率以5～90質量%者為佳。混合溶劑中之醇的含有率未達5質量%，或超過90質量%時，於塗布時會有產生條紋模樣(塗布斑)之情況。
導電性墨水可藉由將黏合劑樹脂、金屬奈米線及溶劑使用自轉公轉攪拌機等進行攪拌並混合而製造。於導電性墨水中所含有的黏合劑樹脂之含有量以0.01～1.0質量%之範圍者為佳。於導電性墨水中所含有的金屬奈米線之含有量以0.01～1.0質量%的範圍者為佳。於導電性墨水中所含有的溶劑之含有量以98.0～99.98質量%的範圍者為佳。
導電性墨水之印刷可藉由棒塗布法、旋轉塗布法、噴霧塗布法、凹板法、狹縫塗布法等進行。對於藉由印刷所形成的印刷膜或圖型之形狀，並無特別限定，但可舉出形成於透明基材上之配線或電極的圖型形狀，或者包覆透明基材之全面或一部分面的膜(純色圖案)之形狀。所形成的圖型具有藉由經加熱使溶劑乾燥的導電性。透明導電膜之乾燥厚度依據所使用的金屬奈米線之徑、所望薄層電阻值等而相異，以10～300nm為佳，較佳為30～200nm。透明導電膜之乾燥厚度若為10nm以上時，因金屬奈米線之交點數會增加而可得到良好導電性。透明導電膜的乾燥厚度若為300nm以下時，因光變得容易透過且抑制藉由金屬奈米線之反射故可得到良好光學特性。視必要對導電圖型亦可進行適宜的光照射。
＜保護膜＞ 一般而言保護透明導電膜之保護膜，由可機械性地保護透明導電膜之觀點來看，藉由硬化性樹脂組成物之硬化膜而形成者為佳。然而，因硬化膜非成形加工性優異者，故作為使用於3次元成形的保護膜並不佳。依據最終適用形態而不同，例如使用於觸控板時，透明導電薄膜層合體通常與其他構件貼合而使用，即成為藉由其他構件以機械性保護的形態。此時，透明導電薄膜層合體本身不需要高機械性強度。因此，含有構成一實施形態之透明導電薄膜層合體的樹脂成分之保護膜係將成形加工性優異的熱塑性樹脂作為主成分。換言之，構成保護膜的樹脂成分之94質量%以上來自熱塑性樹脂。如後述所示，保護膜係藉由將樹脂溶解於溶劑的樹脂組成物塗布於透明導電膜上而形成。因此，所謂構成保護膜的樹脂成分之94質量%以上來自熱塑性樹脂為，使用於形成保護膜的樹脂組成物中所含有的樹脂成分之94質量%以上為熱塑性樹脂的意思。必須使用不會侵入透明導電膜之黏合劑樹脂及透明基材，且可良好地塗布於透明導電膜上之溶劑中溶解樹脂成分，於透明導電膜上可形成膜的樹脂組成物。作為可適用的樹脂組成物，例如可舉出含有乙基纖維素或具有羧基的聚胺基甲酸酯之樹脂組成物。作為含有乙基纖維素的樹脂組成物，例如可舉出Etocell(註冊商標)STD-100(Dow Chemical (US)製 乙基纖維素 重量平均分子量：180,000，分子量分布(Mw/Mn)=3.0[目錄值])。含有羧基的聚胺基甲酸酯的重量平均分子量以1,000～100,000者為佳，以3,000～85,000者為較佳，以5,000～70,000者為更佳，以10,000～65,000者為特佳。對於本說明書，含有羧基的聚胺基甲酸酯之重量平均分子量為以GPC進行測定的聚苯乙烯換算值。含有羧基的聚胺基甲酸酯之重量平均分子量若未達1,000時，會有塗膜伸度、可撓性，以及強度受損之情況產生，超過100,000時，對溶劑的聚胺基甲酸酯之溶解性變低，且即使溶解，黏度亦會變得過高，故在使用層面上有著很大的限定性。
對於本說明書，若無特別說明，有關含有羧基的聚胺基甲酸酯之重量平均分子量的GPC之測定條件如以下所示。 裝置名：日本分光股份有限公司製HPLC單位 HSS-2000 管柱：Shodex管柱LF-804 移動相：四氫呋喃 流速：1.0mL/min 檢測器：日本分光股份有限公司製 RI-2031Plus 溫度：40.0℃ 試料量：樣品循環 100μL 試料濃度：約0.1質量%
含有羧基的聚胺基甲酸酯之酸價以10～140mg-KOH/g者為佳，以15～130mg-KOH/g者為較佳。含有羧基的聚胺基甲酸酯之酸價若為10mg-KOH/g以上時，保護膜之耐溶劑性為良好，微量併用硬化成分時的樹脂組成物之硬化性亦良好。具有羧基的聚胺基甲酸酯之酸價若為140mg-KOH/g以下時，聚胺基甲酸酯樹脂對溶劑的溶解性為良好，容易調整樹脂組成物的黏度成為所望黏度。
對於本說明書，含有羧基的聚胺基甲酸酯的酸價為藉由以下方法的測定值。
於100ml三角燒瓶中以精密天秤精秤出試料約0.2g，於此加入乙醇/甲苯=1/2(質量比)之混合溶劑10ml並溶解。於該容器中進一步添加作為指示藥的酚酞乙醇溶液1～3滴，充分攪拌至試料成均勻。將此以0.1N氫氧化鉀-乙醇溶液進行滴定，將指示藥的微紅色保持30秒的時間點作為中和終點。
將使用下述計算式所得的值作為含有羧基的聚胺基甲酸酯之酸價。
Figure 02_image001
B：0.1N氫氧化鉀-乙醇溶液之使用量(mL) f：0.1N氫氧化鉀-乙醇溶液之係數 S：試料之採取量(g)
含有羧基的聚胺基甲酸酯更具體為，將(a1)聚異氰酸酯化合物、(a2)多元醇化合物，及(a3)具有羧基的二羥基化合物作為單體使用而合成的聚胺基甲酸酯。由耐光性及耐候性之觀點來看，(a1)、(a2)及(a3)各未含有芳香族化合物等具有共軛性的官能基者為佳。以下對於各單體進行更詳細說明。
(a1)聚異氰酸酯化合物 作為(a1)聚異氰酸酯化合物，通常使用每1分子中有2個異氰酸酯基之二異氰酸酯。作為聚異氰酸酯化合物，例如可舉出脂肪族聚異氰酸酯、脂環式聚異氰酸酯，此等可單獨使用或組合2種以上後使用。含有羧基的聚胺基甲酸酯在不凝膠化的範圍下，亦可使用少量的具有3個以上異氰酸酯基之聚異氰酸酯。
作為脂肪族聚異氰酸酯，例如可舉出1,3-三亞甲基二異氰酸酯、1,4-四亞甲基二異氰酸酯、1,6-六亞甲基二異氰酸酯、1,9-九亞甲基二異氰酸酯、1,10-十亞甲基二異氰酸酯、2,2,4-三甲基六亞甲基二異氰酸酯、2,4,4-三甲基六亞甲基二異氰酸酯、賴胺酸二異氰酸酯、2,2’-二乙基醚二異氰酸酯、二聚物酸二異氰酸酯。
作為脂環式聚異氰酸酯，例如可舉出1,4-環己烷二異氰酸酯、1,3-雙(異氰酸根甲基)環己烷、1,4-雙(異氰酸根甲基)環己烷、3-異氰酸根甲基-3,5,5-三甲基環己基異氰酸酯(IPDI、異佛爾酮二異氰酸酯)、雙-(4-異氰酸根環己基)甲烷(氫化MDI)、氫化(1,3-或1,4-)亞二甲苯二異氰酸酯、降冰片烷二異氰酸酯。
作為(a1)聚異氰酸酯化合物，藉由使用異氰酸酯基(-NCO基)中之碳原子以外的碳原子數為6～30之脂環式化合物，可得到高溫高濕時之信賴性高且適用於電子機器零件之構件的保護膜。上述例示的脂環式聚異氰酸酯之中，亦以1,4-環己烷二異氰酸酯、異佛爾酮二異氰酸酯、雙-(4-異氰酸根環己基)甲烷、1,3-雙(異氰酸根甲基)環己烷、1,4-雙(異氰酸根甲基)環己烷為佳。
由如上述的耐候性及耐光性之觀點來看，作為(a1)聚異氰酸酯化合物，以使用不具有芳香環之化合物者為較佳。因此，視必要使用芳香族聚異氰酸酯、芳香脂肪族聚異氰酸酯時，此等含有量相對於(a1)聚異氰酸酯化合物之總量(100mol%)而言，以50mol%以下為佳，較佳為30mol%以下，更佳為10mol%以下。
(a2)多元醇化合物 (a2)多元醇化合物(但，於(a2)多元醇化合物中未含有具有後述(a3)羧基之二羥基化合物)的數平均分子量通常為250～50,000，以400～10,000為佳，較佳為500～5,000。多元醇化合物之數平均分子量為在前述條件下藉由GPC所測定的聚苯乙烯換算值。
作為(a2)多元醇化合物，例如可舉出聚碳酸酯多元醇、聚醚多元醇、聚酯多元醇、聚內酯多元醇、兩末端羥基化聚矽氧，及將植物系油脂作為原料的C18(碳原子數18)不飽和脂肪酸及來自其聚合物的多元羧酸經氫化而使羧酸變更為羥基所得的碳原子數18～72之多元醇化合物。由保護膜的耐水性、絕緣信賴性及與基材的密著性之平衡的觀點來看，(a2)多元醇化合物以聚碳酸酯多元醇者為佳。
聚碳酸酯多元醇可藉由將碳原子數3～18的二醇與碳酸酯或光氣進行反應而得，例如以下結構式(1)所示。
Figure 02_image003
對於式(1)，R 3為自對應的二醇(HO-R 3-OH)除去羥基的殘基之碳原子數3～18的伸烷基，n 3為正整數，較佳為2～50。
式(1)所示聚碳酸酯多元醇，具體可藉由將1,3-丙烷二醇、1,4-丁二醇、1,5-戊烷二醇、1,6-己二醇、3-甲基-1,5-戊烷二醇、1,8-辛烷二醇、1,3-環己烷二甲醇、1,4-環己烷二甲醇、1,9-壬二醇、2-甲基-1,8-辛烷二醇、1,10-十亞甲基甘醇或1,2-十四烷二醇等作為原料使用而製造者。
聚碳酸酯多元醇可為該骨架中具有複數種烷烴二基之聚碳酸酯多元醇(共聚合聚碳酸酯多元醇)。共聚合聚碳酸酯多元醇之使用，由含有羧基的聚胺基甲酸酯之結晶化防止的觀點來看有利情況為多。若考慮到對溶劑之溶解性時，併用具有分支骨架，於分支鏈末端上具有羥基之聚碳酸酯多元醇者為佳。
在不損害本發明之效果的範圍下，作為(a2)多元醇化合物，通常可使用作為合成聚酯或聚碳酸酯時的二醇成分之分子量300以下的二醇。作為如此低分子量二醇，例如可舉出乙二醇、1,2-丙烷二醇、1,3-丙烷二醇、1,2-丁二醇、1,3-丁二醇、1,4-丁二醇、1,5-戊烷二醇、1,6-己二醇、3-甲基-1,5-戊烷二醇、1,8-辛烷二醇、1,3-環己烷二甲醇、1,4-環己烷二甲醇、1,9-九二醇、2-甲基-1,8-辛烷二醇、1,10-十亞甲基甘醇、1,2-十四烷二醇、2,4-二乙基-1,5-戊烷二醇、丁基乙基丙烷二醇、1,3-環己烷二甲醇、二乙二醇、三乙二醇及二丙二醇。
(a3)含有羧基的二羥基化合物 作為(a3)含有羧基的二羥基化合物，具有選自羥基，或碳原子數1或者2的羥基烷基中任2種的分子量200以下之羧酸或胺基羧酸時由可控制交聯點的觀點來看為佳。作為(a3)含有羧基的二羥基化合物，例如可舉出2,2-二甲硫醇丙酸、2,2-二甲硫醇丁烷酸、N,N-雙羥基乙基甘胺酸及N,N-雙羥基乙基丙胺酸，此等中亦由對溶劑之溶解性高來看，以2,2-二甲硫醇丙酸及2,2-二甲硫醇丁烷酸為佳。(a3)含有羧基的二羥基化合物可單獨使用或可組合2種以上而使用。
含有羧基的聚胺基甲酸酯可僅由上述3成分((a1)、(a2)及(a3))合成而得。亦可進一步使(a4)單羥基化合物及/或(a5)單異氰酸酯化合物進行反應而合成。由耐光性之觀點來看，(a4)單羥基化合物及(a5)單異氰酸酯化合物以於分子內不具有芳香環或碳-碳雙鍵之化合物者為佳。
含有羧基的聚胺基甲酸酯為，在如二丁基錫二月桂酸酯的公知胺基甲酸酯化觸媒之存在下或非存在下，使用適當有機溶劑，可藉由反應上述(a1)聚異氰酸酯化合物、(a2)多元醇化合物及(a3)具有羧基的二羥基化合物而合成。將含有羧基的聚胺基甲酸酯在無觸媒下進行反應時，因不需要考慮到最終時錫等混入而有利。
有機溶劑若為與異氰酸酯化合物之反應性低者即可，並無特別限定。有機溶劑為含有胺等鹼性官能基，且沸點為50℃以上，以80℃以上為佳，較佳為100℃以上的溶劑。作為如此溶劑，例如可舉出甲苯、二甲苯、乙基苯、硝基苯、環己烷、異佛爾酮、二乙二醇二甲基醚、乙二醇二乙基醚、乙二醇單甲基醚乙酸酯、丙二醇單甲基醚乙酸酯、丙二醇單乙基醚乙酸酯、二丙二醇單甲基醚乙酸酯、二乙二醇單乙基醚乙酸酯、甲氧基丙酸甲酯、甲氧基丙酸乙酯、乙氧基丙酸甲酯、乙氧基丙酸乙酯、乙酸乙酯、乙酸n-丁酯、乙酸異戊酯、乳酸乙酯、丙酮、甲基乙基酮、環己酮、N,N-二甲基甲醯胺、N,N-二甲基乙醯胺、N-甲基吡咯啶酮、γ-丁內酯及二甲基亞碸。
若考慮到所生成的聚胺基甲酸酯之溶解性低的有機溶劑並不合適，及在電子材料用途中，將聚胺基甲酸酯作為保護膜用墨水之原料時，有機溶劑以丙二醇單甲基醚乙酸酯、丙二醇單乙基醚乙酸酯、二丙二醇單甲基醚乙酸酯、二乙二醇單乙基醚乙酸酯、γ-丁內酯或此等組合者為佳。
對於原料之投入順序並無特別限制，通常先將(a2)多元醇化合物及(a3)具有羧基的二羥基化合物放入反應容器中，於溶劑經溶解或分散後，在20～150℃為佳，較佳為60～120℃下，一邊滴入(a1)聚異氰酸酯化合物一邊加入，其後在30～160℃為佳，較佳為50～130℃下反應此等。
原料的裝入莫耳比可配合目的之聚胺基甲酸酯的分子量及酸價而調節。
具體的(a1)聚異氰酸酯化合物之異氰酸酯基：((a2)多元醇化合物之羥基+(a3)具有羧基之二羥基化合物的羥基)的莫耳比以0.5～1.5:1為佳，較佳為0.8～1.2:1，更佳為0.95～1.05:1。
(a2)多元醇化合物之羥基：(a3)具有羧基的二羥基化合物之羥基的莫耳比，以1:0.1～30為佳，較佳為1:0.3～10。
如前述所示，構成保護膜的樹脂成分之94質量%以上來自熱塑性樹脂。構成保護膜之樹脂成分的6質量%以下亦可來自硬化性樹脂(化合物)。樹脂組成物中之樹脂成分的硬化性樹脂(化合物)之量若在6質量%以下之範圍時，不會導致3次元成形加工性之顯著降低，且可提高作為保護膜之功能。作為可與熱塑性樹脂併用之較佳硬化性樹脂(化合物)，可舉出於一分子中具有2個以上環氧基之環氧樹脂(化合物)。
於形成保護膜時，有時熱塑性樹脂與熱硬化性樹脂可彼此反應。例如有著作為熱塑性樹脂使用含有羧基的聚胺基甲酸酯，作為熱硬化性樹脂使用環氧樹脂時，使聚胺基甲酸酯之羧基與環氧樹脂之環氧基進行反應，形成聚胺基甲酸酯-環氧樹脂複合體之情況。對於本說明書，所謂「構成保護膜之樹脂成分的94質量%以上來自熱塑性樹脂」表示，使用於保護膜之形成的熱塑性樹脂，例如含有羧基的聚胺基甲酸酯相當於保護膜之樹脂成分的94質量%以上，使用於保護膜的形成之熱硬化性樹脂，例如於一分子中具有2個以上環氧基之環氧樹脂相當於保護膜之樹脂成分的6質量%以下者之意思。形成保護膜的樹脂成分來自含有羧基的聚胺基甲酸酯與於一分子中具有2個以上環氧基之環氧樹脂的情況，於一分子中具有2個以上環氧基的環氧樹脂之含有量在上述樹脂成分中超過0質量%超且6質量%以下的意思。
作為於一分子中具有2個以上環氧基之環氧樹脂(化合物)，例如可舉出雙酚A型環氧化合物、氫化雙酚A型環氧樹脂、雙酚F型環氧樹脂、酚醛清漆型環氧樹脂、酚酚醛清漆型環氧樹脂、甲酚酚醛清漆型環氧樹脂、N-縮水甘油基型環氧樹脂、雙酚A之酚醛清漆型環氧樹脂、螯合型環氧樹脂、乙二醛型環氧樹脂、含有胺基的環氧樹脂、橡膠變性環氧樹脂、二環戊二烯酚醛型環氧樹脂、矽氧變性環氧樹脂、ε-己內酯變性環氧樹脂、含有縮水甘油基的脂肪族型環氧樹脂、含有縮水甘油基的脂環式環氧樹脂。
可更佳地使用於一分子中具有3個以上環氧基的環氧化合物。作為如此環氧化合物，例如可舉出EHPE(註冊商標)3150(股份有限公司大賽璐製)、jER(註冊商標)604(三菱化學股份有限公司製)、EPICLON(註冊商標)EXA-4700(DIC股份有限公司製)、EPICLON(註冊商標) HP-7200(DIC股份有限公司製)、季戊四醇四縮水甘油基醚、季戊四醇三縮水甘油基醚、TEPIC(註冊商標)-S(日產化學股份有限公司製)。
環氧樹脂(化合物)與含有羧基的聚胺基甲酸酯之配合比例，對於含有羧基的聚胺基甲酸酯所具有羧基(COOH)的環氧樹脂所具有環氧基(Ep)之莫耳比(Ep/COOH)以超過0且0.02以下者為佳。
併用環氧樹脂(化合物)與含有羧基的聚胺基甲酸酯時，於樹脂組成物中可進一步添加硬化促進劑。作為硬化促進劑之具體例子，可舉出三苯基膦、三丁基膦等之膦系化合物(北興化學工業股份有限公司製)、Curesol (註冊商標)(咪唑系環氧樹脂硬化劑：四國化成股份有限公司製)、2-苯基-4-甲基-5-羥基甲基咪唑、U-CAT(註冊商標)SA系列(DBU鹽：san-apro股份有限公司製)、Irgacure (註冊商標)184。硬化促進劑的使用量相對於環氧樹脂(化合物)100質量份，以20～80質量份為佳，較佳為30～70質量份，更佳為40～60質量份。上述硬化促進劑為含於非熱塑性樹脂的樹脂成分者。
亦可併用硬化助劑。作為硬化助劑，例如可舉出多官能硫醇化合物或氧雜環丁烷化合物。作為多官能硫醇化合物，例如可舉出季戊四醇肆(3-巰基丙酸酯)、參-[(3-巰基丙醯基氧基)-乙基]-異氰脲酸酯、三羥甲基丙烷參(3-巰基丙酸酯)、Currants(註冊商標)MT系列(昭和電工股份有限公司製)。作為氧雜環丁烷化合物，可舉出亞倫氧雜環丁烷(註冊商標)系列(東亞合成股份有限公司製)、ETERNACOLL(註冊商標)OXBP或OXMA(宇部興產股份有限公司製)。硬化助劑之使用量在可得到添加效果，且可迴避硬化速度之過度上昇而維持處理性下，相對於環氧樹脂(化合物)100質量份，以0.1～10質量份為佳，較佳為0.5～6質量份。上述硬化助劑亦為含於非熱塑性樹脂的樹脂成分者。
於樹脂組成物中，含有溶劑95.0質量%以上99.9質量%以下者為佳，以含有96質量%以上99.7質量%以下者為較佳，以含有97質量%以上99.5質量%以下者為更佳。作為溶劑，可使用不侵入透明導電膜或透明基材者。亦可直接使用於含有羧基的聚胺基甲酸酯之合成上所使用的溶劑，欲調整黏合劑樹脂之溶解性或印刷性也可使用其他溶劑。使用其他溶劑時，於添加新溶劑的前後，可餾去使用於含有羧基的聚胺基甲酸酯之合成的溶劑而取代溶劑。若考慮到操作的煩雜性或能量成本時，直接使用於含有羧基的聚胺基甲酸酯的合成所使用之溶劑的至少一部分者為佳。若考慮到樹脂組成物之穩定性時，溶劑的沸點以80℃至300℃者為佳，以80℃至250℃者為較佳。溶劑的沸點若未達80℃時，於印刷時容易乾燥，且容易產生塗布不均的溶劑的沸點若比300℃高時，乾燥及硬化時必須在高溫下進行長時間的加熱處理，故並不適用於工業生產上。
作為溶劑可使用丙二醇單甲基醚乙酸酯(沸點146℃)、γ-丁內酯(沸點204℃)、二乙二醇單乙基醚乙酸酯(沸點218℃)、三丙二醇二甲基醚(沸點243℃)等使用於聚胺基甲酸酯合成的溶劑；丙二醇二甲基醚(沸點97℃)、二乙二醇二甲基醚(沸點162℃)等醚系溶劑；異丙醇(沸點82℃)、t-丁基醇(沸點82℃)、1-己醇(沸點157℃)、丙二醇單甲基醚(沸點120℃)、二乙二醇單甲基醚(沸點194℃)、二乙二醇單乙基醚(沸點196℃)、二乙二醇單丁基醚(沸點230℃)、三乙二醇(沸點276℃)、乳酸乙酯(沸點154℃)等含有羥基的溶劑；甲基乙基酮(沸點80℃)等酮系溶劑；或乙酸乙酯(沸點77℃)等酯系溶劑。此等溶劑可單獨使用或混合2種類以上而使用。混合2種類以上時，除了使用於含有羧基的聚胺基甲酸酯之合成的溶劑，考慮使用的聚胺基甲酸酯、環氧樹脂等溶解性，併用不產生凝集及沈澱的具有羥基之沸點超過100℃的溶劑，或墨水的乾燥性之觀點來看，沸點100℃以下之溶劑者為佳。在使用單獨溶劑時，對於會侵入透明導電膜或透明基材的溶劑，作為與其他溶劑之混合溶劑若為不侵入透明導電膜或透明基材的組成即可適用。
樹脂組成物可由以下而製造，於含有羧基的聚胺基甲酸酯中視必要添加環氧化合物與硬化促進劑及/或硬化助劑的混合物中，添加溶劑至樹脂組成物中之溶劑的含有率為95.0質量%以上99.9質量%以下，將此等成分攪拌均勻而製造。
樹脂組成物中之固體成分濃度雖依具所望膜厚或印刷方法而相異，但以0.1～10質量%者為佳，以0.5質量%～5質量%者較佳。固體成分濃度若在0.1～10質量%之範圍，將樹脂組成物塗布於透明導電膜上時，膜厚不會過度厚，可保持與透明導電膜的電性接觸之狀態，且可賦予保護膜耐候性及耐光性。
使用以上所記載的樹脂組成物，藉由棒塗布印刷法、凹板印刷法、噴墨法、狹縫塗布法等印刷，於透明導電膜上塗布樹脂組成物，藉由將溶劑乾燥及除去後形成保護膜。保護膜之厚度通常超過100nm且1μm以下。保護膜之厚度以超過100nm且500nm以下者為佳，以100nm超200nm以下者為較佳，以超過100nm且150nm以下者為更佳，以超過100nm且120nm以下者為特佳。保護膜之厚度若超過1μm時，在後步驟難達到配線與透明導電膜之導通。
於如上述的透明基材上，藉由依序形成透明導電膜(例如銀奈米線層)及保護膜而得之透明導電薄膜層合體具有優良3次元加工性。作為透明導電薄膜層合體之3次元加工方法，可舉出真空成形、吹塑成形、非吹塑成形、壓空成形、真空壓空成形、熱壓成形等種種公知方法，但即使使用其中任一方法，對於經3次元加工的透明導電薄膜層合體因施予應力而產生變形。該變形會引起透明導電薄膜層合體的延伸。在3次元加工性低之透明導電薄膜層合體中，通常已確認在低應力(低延伸倍率)下構成透明導電薄膜層合體之透明導電膜的斷裂或薄層電阻值之顯著增大。另一方面，在3次元加工性良好的透明導電薄膜層合體中，不產生達到高應力(高延伸倍率)之透明導電膜的斷裂，或者薄層電阻值之上昇較小。因此，藉由將透明導電薄膜層合體經拉伸試驗而測定薄層電阻值之變化時，可評估透明導電薄膜層合體之3次元加工性。如後述實施例所示，在一實施形態之透明導電薄膜層合體中，對於施予變形前之薄層電阻值(R 0)的施予15%的變形後之薄層電阻值(R)的比(R/R 0)在25以下實為良好。推測此為藉由使用樹脂成分的94質量%以上為熱塑性樹脂之保護膜，即使施予變形對於保護膜亦難產生裂紋，也可迴避保護膜之裂紋傳達至透明導電膜而損害到該導電性之事故。且，由3次元加工性之觀點來看，以於保護膜中未含有硬化成分(環氧化合物、硬化促進劑等)者為佳。
其他相關實施形態之透明導電薄膜層合體為，進一步含有作為與含有熱塑性樹脂之基材(前面板)進行積層而得的成形用層合體(成形用透明導電薄膜層合體)之態樣。欲進行進行透明導電薄膜層合體之保護、裝飾、賦予形狀之保持等，於前述透明導電薄膜層合體層合含有熱塑性樹脂之基材(前面板)。構成基材之熱塑性樹脂的種類若為透明並無特別限定，但可使用聚碳酸酯(PC)樹脂、丙烯酸樹脂、聚乙烯對苯二甲酸酯(PET)、三乙醯纖維素(TAC)、聚乙烯萘二甲酸酯(PEN)、熱塑性聚醯亞胺(PI)、環烯烴聚合物(COP)、環烯烴共聚物(COC)、聚醚碸、賽璐玢(Cellophane)等各種樹脂。基材之熱塑性樹脂中在此等選擇項中，至少含有聚碳酸酯樹脂者為佳。基材(前面板)之厚度以0.5～3.0mm的範圍者為佳，以0.6～2.5mm的範圍者為較佳，以0.8～2.0mm的範圍者為更佳。若為0.5～3.0mm之範圍，可無問題而賦予形狀，而可保持賦形後之形狀。
作為含於基材的聚碳酸酯樹脂之種類，若含有於分子主鏈中含有碳酸酯鍵之-[O-R-OCO]-單位(R為含有脂肪族基、芳香族基或脂肪族基與芳香族基雙方者，且具有直鏈結構或者分支結構者)者即可，並無特別限定，以具有雙酚骨架的聚碳酸酯等為佳，以具有雙酚A骨架或雙酚C骨架的聚碳酸酯為特佳。作為聚碳酸酯樹脂，亦可使用雙酚A與雙酚C之混合物或共聚物。藉由使用雙酚C系聚碳酸酯樹脂，例如藉由使用僅雙酚C的聚碳酸酯樹脂、雙酚C與雙酚A之混合物或者共聚物之聚碳酸酯樹脂，可提高基材之硬度。又，聚碳酸酯樹脂之黏度平均分子量以15,000～40,000者為佳，較佳為20,000～35,000，更佳為22,500～25,000。使用與作為構成前述透明導電薄膜層合體之透明基材而使用的聚碳酸酯相同者為佳。
又，作為含於基材的丙烯酸樹脂，並無特別限定，例如可舉出以甲基丙烯酸甲酯(MMA)作為代表的各種(甲基)丙烯酸酯之均聚物(PMMA等)，或MMA與其他1種以上單體之共聚物，進一步可舉出混合此等樹脂之複數種者。此等中，亦以含有低雙折射性、低吸濕性、耐熱性優異的環狀烷基結構之(甲基)丙烯酸酯為佳。作為如以上的丙烯酸樹脂，例如可舉出Acrypet(註冊商標，三菱化學股份有限公司製)、Dell pet(註冊商標，旭化成股份有限公司製)、Parapet(註冊商標，Kuraray Co., Ltd.製)，但未限定於此等。
基材可使用含有聚碳酸酯樹脂與上述丙烯酸樹脂之二層品。藉由使用含有聚碳酸酯樹脂與上述丙烯酸樹脂之二層品，可提高表面硬度且可維持基材的熱成形性。
又，基材中可含有作為熱塑性樹脂以外的成分之添加劑。例如可舉出熱安定劑、抗氧化劑、難燃劑、難燃助劑、紫外線吸收劑、脫模劑及著色劑，可使用選自由此等所成群的單獨或2種類以上。又，亦可將帶電防止劑、螢光增白劑、防霧劑、流動性改良劑、可塑劑、分散劑、抗菌劑等添加於基材。
基材以含有熱塑性樹脂80質量%以上者為佳，較佳為90質量%以上，更佳為95質量%以上。又，基材之熱塑性樹脂中，含有聚碳酸酯樹脂80質量%以上者為佳，較佳為90質量%以上，更佳為95質量%以上。
可使用對熱塑性樹脂進一步進行硬質塗布的基材。藉由將含有光聚合性化合物之硬質塗布組成物對基材進行塗布並乾燥後，藉由紫外線進行硬化的方法，或將含有熱硬化性化合物的熱硬化性組成物對基材進行塗布並乾燥後，藉由加熱進行硬化的方法，可得到經硬質塗布之基材。以將含有光聚合性化合物之硬質塗布組成物對基材進行塗布並乾燥後，藉由紫外線進行硬化的方法為佳。硬質塗布在與後述接著層的反面之基材表面進行者為佳。
光聚合性化合物若為保有具有光聚合性之官能基的化合物之任一者即可使用，以含有胺基甲酸酯(甲基)丙烯酸酯成分者為佳。胺基甲酸酯(甲基)丙烯酸酯為含有多元醇、異氰酸酯，及含有來自(甲基)丙烯酸酯的胺基甲酸酯(甲基)丙烯酸酯與(甲基)丙烯酸酯之樹脂材料的聚合物。即，將多元醇、異氰酸酯及(甲基)丙烯酸酯之三成分經脫水縮合反應而得之胺基甲酸酯(甲基)丙烯酸酯與(甲基)丙烯酸酯之混合物者為佳。
硬質塗布組成物中可添加可改善物性之添加劑。作為添加劑，例如可舉出可賦予防污性或濕滑性的氟系添加物或矽氧系添加物、欲改善耐擦傷性的無機粒子成分。
對熱塑性樹脂可使用與硬質塗布層相異的處理層，例如可使用防眩層或具有防污染･指紋跡處理層之基材。
透明導電薄膜層合體與基材藉由接著層進行層合。接著層若為可黏著透明導電薄膜層合體與基材者即可使用。接著層可由於基材表面將黏著劑進行塗布並乾燥後容易地獲得。亦可使用販售的使用於光學透明黏著之薄片(OCA)或光學透明黏著樹脂(OCR)進行貼合。
OCA為在大氣壓或者真空下貼合黏合體者，使用丙烯酸系、矽氧系等材料。例如可舉出LUCIACS(註冊商標，日東電工股份有限公司製)、Clearfit(註冊商標，三菱化學股份有限公司製)、HSV(積水化學工業股份有限公司製)。
OCR為使用於張貼黏合體時的接著樹脂，有丙烯酸系、矽氧系等材料被販售。 [實施例]
以下具體說明本發明之實施例。且，以下實施例係欲容易地理解本發明者，但本發明並未限定於此等實施例者。
＜銀奈米線之製作＞ 銀奈米線1 將聚乙烯吡咯啶酮K-90(日本觸媒股份有限公司製) (0.98g)、AgNO 3(1.04g)及FeCl 3(0.8mg)溶解於乙二醇(250ml)，在150℃進行1小時加熱反應。將所得的銀奈米線粗分散液分散於水/乙醇=20/80[質量比]混合溶劑2000ml，將此流入於桌上小型試驗機(Japan Gaishi股份有限公司製，陶瓷膜濾器的沉澱使用之膜面積0.24m 2，孔徑2.0μm，尺寸Φ30mm×250mm，過濾差壓0.01MPa)，以循環流速12L/min且分散液溫度25℃下實施橫流過濾而將雜質除去，得到銀奈米線1(平均直徑：26nm，平均長度：20μm)。所得的銀奈米線1之平均徑為使用電場發射型掃描電子顯微鏡JSM-7000F(日本電子股份有限公司製)測定任意選擇的100根銀奈米線尺寸(徑)，由該算術平均值求得。又，所得的銀奈米線1之平均長為使用形狀測定激光顯微鏡VK-X200(Keyence股份有限公司製)測定任意選擇的100根銀奈米線尺寸(長度)，由該算術平均值求得。又，上述甲醇、乙二醇、AgNO 3、FeCl 3為使用富士軟片和光純藥股份有限公司製試藥。
＜導電性墨水(銀奈米線墨水)之製作＞ 調製例1(銀奈米線墨水1) 混合以上述多元醇法所合成的銀奈米線1之水/乙醇混合溶劑的分散液11g(銀奈米線濃度0.62質量%，水/乙醇=20/80[質量比])、水1.1g、甲醇6.0g(富士薄膜和光純藥股份有限公司製)、乙醇7.2g(富士薄膜和光純藥股份有限公司製)、丙二醇單甲基醚(PGME，富士薄膜和光純藥股份有限公司製)12.8g、丙二醇1.2g(PG，旭硝子股份有限公司製)、PNVA(註冊商標)水溶液(昭和電工股份有限公司製之固體成分濃度10質量%的絕對分子量90萬)0.7g，以混合轉子VMR-5R(AS ONE股份有限公司製)進行1小時在室溫且大氣環境下之攪拌(轉動速度100rpm)而製作出40g之銀奈米線墨水1。
調製例2(銀奈米線墨水2) 將在銀奈米線墨水1添加的PNVA(註冊商標)水溶液(昭和電工股份有限公司之固體成分濃度10質量%，絕對分子量90萬)0.7g變更為使用Etocell(註冊商標)STD100cps(Dow Chemical(US)製之乙基纖維素，重量平均分子量：180,000，分子量分布(Mw/Mn)=3.0[目錄值])所調製的溶液(固體成分濃度10質量%，乙醇溶液)0.7g以外，與調製例1同樣地進行調製，得到銀奈米線墨水2。乙醇為使用富士軟片和光純藥股份有限公司製試藥。
＜銀奈米線墨水塗膜之印刷＞ 使用在上述調製例1所調製的銀奈米線墨水1，藉由棒塗布印刷機(Cortec股份有限公司公司製AFA-Standard)，於PC薄膜(三菱瓦斯化學股份有限公司製Upiron(註冊商標)FS-2000H玻璃轉移溫度：130℃(目錄值)，100μm厚)之主面上，塗層為濕膜厚度20μm，印刷成A4尺寸之純色圖案的透明導電膜(銀奈米線墨水塗膜)。使用楠本化成股份有限公司製恆溫器ETAC HS350，在80℃的1分鐘的條件下進行溶劑乾燥後，測定所得的透明導電膜之薄層電阻。薄層電阻為，將透明導電膜(純色圖案)切成邊長3cm的四方形區域，測定各區域之中央附近的30點薄層電阻之算術平均值。使用銀奈米線墨水1的透明導電膜之薄層電阻皆為50Ω/□。且，薄層電阻為使用非接觸式電阻測定器(Napson股份有限公司製EC-80P)而測定。又，透明導電膜之厚度為使用依據光干涉法的膜厚測定系統F20-UV (Filmometry股份有限公司製)測定，其結果為80nm。改變測定處，測定3點的平均值作為膜厚使用。解析為使用450nm至800nm的光譜。藉由該測定系統，可直接測定形成在透明基材上之銀奈米線層的膜厚(Tc)。
＜保護膜墨水(樹脂組成物)之製作＞ 含有羧基的聚胺基甲酸酯之合成例 合成例1 於具備攪拌裝置、溫度計、凝結器(迴流冷卻器)之2L三口燒瓶中，裝入作為多元醇化合物之C-1015N(Kuraray Co., Ltd.製的聚碳酸酯二醇，原料二醇莫耳比：1,9-壬二醇：2-甲基-1,8-辛烷二醇=15：85，分子量964)16.7g、作為含有羧基的二羥基化合物之2,2-二羥甲基丁烷酸(湖州長盛化工有限公司公司製)10.8g，及作為溶劑之丙二醇單甲基醚乙酸酯(富士軟片和光純藥股份有限公司製)62.6g，在90℃下溶解前述2,2-二羥甲基丁烷酸。
將反應液的溫度降至70℃，藉由滴定漏斗經30分鐘滴入作為聚異氰酸酯的Desmodur(註冊商標)-W(雙-(4-異氰酸酯環己基)甲烷)、Sumika Covestro Urethane股份有限公司製)23.5g。滴下終了後，升溫至100℃，在100℃進行15小時反應，由IR來確認異氰酸酯幾乎全消失後，加入異丁醇0.5g，再於100℃進行6小時反應。藉由所得的含有羧基的聚胺基甲酸酯之GPC而求得之重量平均分子量為33500，該樹脂溶液之酸價為39.4mgKOH/g。
保護膜墨水1 加入在上述合成例1所得的含有羧基的聚胺基甲酸酯溶液(固體成分濃度42.4質量%)7.1g、作為溶劑的1-己醇(C6OH)與乙酸乙酯(EA)(C6OH：EA=50：50(質量比))之混合物92.9g，使用Shinky公司製之自轉･公轉真空混合機泡取練太郎(註冊商標)ARV-310，以1200rpm進行20分鐘攪拌至均勻後得到保護膜墨水1。由溶劑乾燥前後之質量所算出來的保護膜墨水1之不揮發分(固體成分)濃度(含有羧基的聚胺基甲酸酯之量)為3質量%。
保護膜墨水2 將在保護膜墨水1添加的含有羧基的聚胺基甲酸酯溶液變更為Etocell(註冊商標)STD100cps(Dow Chemical(US)製 乙基纖維素)溶液(固體成分濃度10質量%乙醇溶液)30.0g，作為溶劑加入1-己醇(C6OH)與乙酸乙酯(EA) (C6OH：EA=50:50(質量比))之混合物70.0g以外，與保護膜墨水1同樣地進行調製，得到保護膜墨水2。由溶劑乾燥前後之質量所算出的保護膜墨水2之不揮發分(固體成分)濃度(Etocell(註冊商標)之量)為3質量%。
保護膜墨水3 加入在上述合成例1所得的含有羧基的聚胺基甲酸酯溶液(固體成分濃度42.4質量%)1.8g、作為環氧化合物1的季戊四醇四縮水甘油基醚(昭和電工股份有限公司製)0.1g、作為硬化促進劑的U-CAT5003(第4級鏻溴化物)(san-apro股份有限公司製)0.05g、作為溶劑的1-己醇(C6OH)與乙酸乙酯(EA)(C6OH：EA=50:50(質量比))之混合物28.0g，使用Shinky股份有限公司製之自轉･公轉真空混合機泡取練太郎(註冊商標)ARV-310以1200rpm進行20分鐘攪拌至均勻，得到保護膜墨水3。由溶劑乾燥前後之質量所算出的保護膜墨水3之不揮發分(固體成分)濃度(含有羧基的聚胺基甲酸酯、環氧化合物、硬化促進劑之總量)為3質量%。保護膜墨水3中對於含有羧基的聚胺基甲酸酯所具有羧基(COOH)之環氧樹脂所具有環氧基(Ep)的莫耳比(Ep/COOH)為1.0。
保護膜墨水4 將在保護膜墨水3添加的環氧化合物1變更為環氧化合物2(EPICLON(註冊商標)850(DIC股份有限公司製 雙酚A型液狀環氧樹脂))0.2g，將硬化促進劑變更為0.1g以外，與保護膜墨水3之同樣地調製，得到保護膜墨水4。由溶劑乾燥前後之質量所算出的保護膜墨水4的不揮發分(固體成分)濃度(含有羧基的聚胺基甲酸酯、環氧化合物、硬化促進劑之總量)為3質量%。保護膜墨水4中對於含有羧基的聚胺基甲酸酯所具有羧基(COOH)之環氧樹脂所具有環氧基(Ep)的莫耳比(Ep/COOH)為1.0。
保護膜墨水5 將在保護膜墨水3添加的環氧化合物1之量變更為0.07g以外，與保護膜墨水3之同樣進行調製，得到保護膜墨水5。保護膜墨水5中對於含有羧基的聚胺基甲酸酯所具有羧基(COOH)的環氧樹脂所具有環氧基(Ep)之莫耳比(Ep/COOH)為0.7。由溶劑乾燥前後之質量所算出的保護膜墨水5的不揮發分(固體成分)濃度(含有羧基的聚胺基甲酸酯、環氧化合物、硬化促進劑之總量)為3質量%。
保護膜墨水6 將在保護膜墨水3添加的環氧化合物1之量變更為0.2g以外，與保護膜墨水3之同樣進行調製，得到保護膜墨水6。保護膜墨水6中對於含有羧基的聚胺基甲酸酯所具有羧基(COOH)之環氧樹脂所具有環氧基(Ep)的莫耳比(Ep/COOH)為2.0。由溶劑乾燥前後之質量所算出的保護膜墨水6的不揮發分(固體成分)濃度(含有羧基的聚胺基甲酸酯、環氧化合物、硬化促進劑之總量)為3質量%。
保護膜墨水7 將在保護膜墨水4添加的環氧化合物2之量變更為0.13g以外，與保護膜墨水4同樣地進行調製，得到保護膜墨水7。保護膜墨水7中對於含有羧基的聚胺基甲酸酯所具有羧基(COOH)之環氧樹脂所具有環氧基(Ep)的莫耳比(Ep/COOH)為0.7。由溶劑乾燥前後之質量所算出的保護膜墨水7的不揮發分(固體成分)濃度(含有羧基的聚胺基甲酸酯、環氧化合物、硬化促進劑之總量)為3質量%。
保護膜墨水8 將在保護膜墨水3添加的環氧化合物1之量變更為0.05g以外，與保護膜墨水3之同樣進行調製，得到保護膜墨水8。保護膜墨水8中對於含有羧基的聚胺基甲酸酯所具有羧基(COOH)之環氧樹脂所具有環氧基(Ep)的莫耳比(Ep/COOH)為0.5。由溶劑乾燥前後之質量所算出的保護膜墨水8的不揮發分(固體成分)濃度(含有羧基的聚胺基甲酸酯、環氧化合物、硬化促進劑之總量)為3質量%。
保護膜墨水9 將在保護膜墨水3添加的環氧化合物1之量變更為0.01g以外，與保護膜墨水3之同樣進行調製，得到保護膜墨水9。保護膜墨水9中對於含有羧基的聚胺基甲酸酯所具有羧基(COOH)之環氧樹脂所具有環氧基(Ep)的莫耳比(Ep/COOH)為0.1。由溶劑乾燥前後之質量所算出的保護膜墨水9的不揮發分(固體成分)濃度(含有羧基的聚胺基甲酸酯、環氧化合物、硬化促進劑之總量)為3質量%。
保護膜墨水10 將在保護膜墨水3添加的環氧化合物1之量變更為0.002g以外，與保護膜墨水3之同樣進行調製，得到保護膜墨水10。保護膜墨水10中對於含有羧基的聚胺基甲酸酯所具有羧基(COOH)之環氧樹脂所具有環氧基(Ep)的莫耳比(Ep/COOH)為0.02。由溶劑乾燥前後之質量所算出的保護膜墨水10的不揮發分(固體成分)濃度(含有羧基的聚胺基甲酸酯、環氧化合物、硬化促進劑之總量)為3質量%。
＜保護膜之印刷＞ 實施例1 使用藉由上述調製例1所得的銀奈米線墨水1，於印刷於PC薄膜之主面上的透明導電膜(銀奈米線墨水塗膜)上，使用前述棒塗布印刷機，於透明導電膜之主面上塗布保護膜墨水1成為濕膜厚度約7μm之塗層，作為A4尺寸之純色圖案，印刷附有保護膜的透明導電膜(附有保護膜之銀奈米線墨水塗膜)。使用前述恆溫器，在80℃且1分鐘之條件下進行溶劑乾燥，而成為實施例1之透明導電薄膜層合體。測定所得的透明導電薄膜層合體之薄層電阻。此時的薄層電阻為，將透明導電薄膜層合體(純色圖案)切割成每邊3cm的四方形區域，測定各區域之中央附近30點的薄層電阻之算術平均值。使用保護膜墨水1的透明導電薄膜層合體之薄層電阻皆為50Ω/□。且，薄層電阻係使用前述非接觸式電阻測定器而測定。又，保護膜之厚度，與前述銀奈米線層的膜厚同樣地，使用依據光干涉法的膜厚測定系統F20-UV(Filmometry股份有限公司製)進行測定，其結果為90nm。此時，改變測定處，測定3點之平均值作為膜厚。解析中使用450nm至800nm的光譜。藉由該測定系統，可直接測定形成於透明基材上的銀奈米線層之膜厚(Tc)，與形成於該上面的保護膜之膜厚(Tp)的總膜厚(Tc+Tp)，故由該測定值減去先測定的銀奈米線層之膜厚(Tc)即可得到保護膜之膜厚(Tp)。
實施例2、3及比較例1～8 與實施例1同樣地，組合表1所示者，製造出銀奈米線墨水塗膜、保護膜，而成為各透明導電薄膜層合體。且比較例8中必須事先確認可形成即使施予15%的變形亦不會產生斷線等不當情況的配線，於未製造保護膜之透明基材上僅設置銀奈米線墨水塗膜之2層構成。
Figure 02_image005
透明導電膜之評估 ＜薄層電阻值＞ 使用非接觸式電阻測定器(Napson股份有限公司製 EC-80P，探頭型High：10～1000Ω/□，S-High：1000～3000Ω/□)，測定在上述各實施例、比較例所得的各透明導電薄膜層合體之薄層電阻值，依據下述判定進行評估。結果如表2所示。 ○：各處薄層電阻值之平均值為50±5Ω/□，σ為10以下。 △：各處薄層電阻值之平均值為50±5Ω/□，σ為30以下。 ×：各處薄層電阻值之平均值非50±5Ω/□。
＜光學特性＞ 將在上述各實施例、比較例所得的各透明導電薄膜層合體藉由Haze meter NDH 2000(日本電色公司製)進行測定，依據下述判定進行評估。結果如表2所示。 ○：Haze為1.0以下，且全光線透過率為88%以上，b*為1.4以下者。 △：相當於上述2項目者。 ×：相當於上述1項目者，或者未有相當者。
＜拉伸特性＞ 拉伸試驗為使用將在上述各實施例、比較例所得的各透明導電薄膜層合體剪裁成寬度30mm，長度160mm之短冊狀試驗片。於事前於相當夾頭之間的部位上以10mm間隔劃上標線，切割成10處，測定各薄層電阻值，將此作為R 0。其後將上述試驗片安裝於精密萬能試驗器(島津製作所製autographAG-X)。安裝時的夾頭之間距離為100mm，試驗速度為50mm/min，在試驗設定溫度155℃下賦予任意變化。於試驗後再次測定10處的薄層電阻值，將此作為R。自值算出R/R 0，依據下述判定進行評估。結果如表2所示。 ○：15%變形時的R/R 0之平均值為10以下者。 △：15%變形時的R/R 0之平均值為10以上者。 ×：未有相當於上述者。
＜耐環境性＞ 將在上述各實施例、比較例所得的各透明導電薄膜層合體於保持85℃且85%之高溫高濕器內，算出經過500小時後之電阻值變化，依據下述判定進行評估。結果如表2所示。 ○：電阻值變化為10%以下者。 △：電阻值變化超過10%且20%以下者。 ×：電阻值變化超過20%者。
Figure 02_image007
表2中之保護膜的熱塑性樹脂含有率(質量%)係由使用於各實施例、比較例的各保護膜墨水組成(不揮發分(固體成分)之[含有羧基的聚胺基甲酸酯、環氧化合物、硬化促進劑之總量]對於[含有羧基的聚胺基甲酸酯或Etocell(註冊商標)]之比例(質量%))而算出。
由未含有作為構成保護膜之樹脂成分的硬化成分(環氧化合物、硬化促進劑)之實施例1、2及含有6質量%以下之硬化成分(環氧化合物、硬化促進劑)的實施例3所得的透明導電薄膜層合體，於拉伸試驗後皆可測定接觸電阻，得知可作為電子裝置用電極而適用。然而，添加於保護膜中的硬化成分(環氧化合物、硬化促進劑)之量超過6質量%(熱塑性樹脂之含有羧基的聚胺基甲酸酯的量未達94質量%)的比較例1～7中，進行拉伸試驗時，皆成為15%變形(夾頭之間距離為115mm)的時間點時變得無法測定薄層電阻值，透明導電薄膜層合體已失去作為導電體之功能。於保護膜中添加硬化成分時，進行保護膜的交聯，於拉伸載荷之早期因產生保護膜的裂紋，導致銀奈米線會隨之斷裂，變得無法測定薄層電阻。
＜透明導電薄膜層合體與基材(前面板)之成形用透明導電薄膜層合體＞ 實施例4 於在實施例1所得的透明導電薄膜層合體之保護膜側上隔著OCA而貼合前面板，藉此，製造出透明導電薄膜層合體與前面板之成形用層合體。作為OCA，可使用日東電工股份有限公司製CS9864UAS(厚度100μm)。作為前面板使用三菱瓦斯化學製FS-2000H(厚度0.5mm)。具體為將於兩面具有分離器(Separator)之OCA剪裁成所定尺寸後，剝離一方的分離器)，將一方黏著面於前面板表面上使用手壓機(2kg滾筒)在1往返條件下貼合。其次，剝離另一方分離器，將另一方黏著面於透明導電薄膜層合體之保護膜側上以下述條件進行貼合，製作出透明導電薄膜層合體與前面板之層合體(成形用透明導電薄膜層合體)作為試驗片。 (貼合條件) 面壓：0.4MPa 真空度：30Pa 貼合時間：2秒 其次，將上述試驗片投入於高壓高溫釜中，在溫度50℃且壓力0.5MPa之條件下進行15分鐘之高壓高溫釜處理。進一步將上述試驗片靜置於23℃且50%RH之環境下1小時後使用於試驗。
實施例5 使用取代銀奈米線墨水1使用銀奈米線墨水2，以與實施例1之同樣方式所製造的透明導電薄膜層合體，與實施例4同樣地製作出透明導電薄膜層合體與前面板之層合體。
比較例9 使用有關比較例8之透明導電薄膜層合體以外，以與實施例4同樣方式製作出透明導電薄膜層合體與前面板之層合體。
比較例10 使用取代銀奈米線墨水1而使用銀奈米線墨水2，以與比較例8同樣方式所製造的透明導電薄膜層合體，以與比較例9之同樣方式製作出透明導電薄膜層合體與前面板之層合體。
成形用透明導電薄膜層合體之評估 ＜薄層電阻值＞ 使用非接觸式電阻測定器(Napson股份有限公司製 EC-80P，探頭型High：10～1000Ω/□，S-High：1000～3000Ω/□)，將在上述各實施例、比較例所得的各成形用透明導電薄膜層合體之薄層電阻值由透明基材側(與貼合前面板之面為相反的面)進行測定，依據下述判定進行評估。結果如表3所示。 ○：各處薄層電阻值之平均值為50±5Ω/□，σ為10以下。 △：各處薄層電阻值之平均值為50±5Ω/□，σ為30以下。 ×：各處薄層電阻值之平均值非50±5Ω/□。
＜光學特性＞ 將在上述各實施例、比較例所得之各成形用透明導電薄膜層合體以Haze meter NDH 2000(日本電色公司製)進行測定，依據下述判定進行評估。結果如表2所示。 ○：Haze為1.0以下且全光線透過率為88%以上，b*為1.4以下者。 △：相當上述2項目者。 ×：相當上述1項目或者未有相當者。
＜拉伸特性＞ 拉伸試驗為使用將在上述各實施例、比較例所得的各成形用透明導電薄膜層合體剪裁為寬度30mm，長度160mm之短冊狀的試驗片。於事前在相當於夾頭之間的部位以10mm間隔劃上標線，切割成10處，測定各薄層電阻值，將此作為R 0。其後，將上述試驗片安裝於精密萬能試驗器(島津製作所製autographAG-X)。安裝時的夾頭之間距離為100mm，以試驗速度50mm/min且試驗溫度155℃下賦予任意應變。於試驗後再次測定10處的薄層電阻值，將此作為R。由該值算出R/R 0，依據下述判定進行評估。結果如表2所示。 ○：15%變形時的R/R 0之平均值為10以下者。 △：15%變形時的R/R 0之平均值為10以上者。 ×：未有相當於上述者。
＜耐環境性＞ 將在上述各實施例、比較例所得的各成形用透明導電薄膜層合體在保持85℃且85%RH的高溫高濕器內，算出經過500小時後的電阻值變化，依據下述判定進行評估。結果如表3所示。 ○：電阻值變化為10%以下者。 △：電阻值變化超過10%且20%以下者。 ×：電阻值變化超過20%者。
Figure 02_image009
藉由實施例4與實施例1之比較，得知對於貼合透明導電薄膜層合體與基材之成形用透明導電薄膜層合體亦可得到與透明導電薄膜層合體單獨情況的大概同等薄層電阻值、光學特性、拉伸特性、耐環境性。由實施例4與實施例5之比較可得知，與作為透明導電膜之黏合劑樹脂使用PNVA的實施例4相比較，使用Etocell的實施例5具有更優異的拉伸特性，但光學特性則稍變低。作為透明導電膜之黏合劑樹脂而使用Etocell時，拉伸特性較為優異的理由，可推測為因Etocell之玻璃轉移溫度比PNVA之玻璃轉移溫度低，故在試驗條件下更容易變形之原因。藉由OCA的貼合對薄層電阻值、光學特性的影響為微不足道。
實施例4、5與比較例9、10之構成相異性為，透明導電薄膜層合體之保護膜的有無。使用不具有保護層的透明導電薄膜層合體之比較例9、10，與使用具有保護膜的透明導電薄膜層合體之實施例4、5相比較，耐環境性之惡化為顯著。推測為因對透明導電膜使用水溶性黏合劑樹脂，故若未形成保護膜時黏合劑樹脂容易吸濕，且電阻值變化變大之故。

Claims (8)

  1. 一種透明導電薄膜層合體，其特徵為具有，藉由透明熱塑性樹脂薄膜所成的透明基材、形成於前述透明基材的至少一方主面上之含有黏合劑樹脂及金屬奈米線而構成的透明導電膜，與形成於前述透明導電膜上的含有樹脂成分之保護膜；前述黏合劑樹脂含有，聚-N-乙烯基乙醯胺、將N-乙烯基乙醯胺(NVA)作為單體單位含有70莫耳%以上之共聚物，及纖維素系樹脂的至少一種，且構成前述保護膜的樹脂成分之94質量%以上來自熱塑性樹脂。
  2. 如請求項1之透明導電薄膜層合體，其中前述黏合劑樹脂為聚-N-乙烯基乙醯胺，及將N-乙烯基乙醯胺(NVA)作為單體單位含有70莫耳%以上的共聚物之至少一方。
  3. 如請求項1或2之透明導電薄膜層合體，其中前述透明熱塑性樹脂薄膜為聚碳酸酯薄膜。
  4. 如請求項1至3中任一項之透明導電薄膜層合體，前述黏合劑樹脂為聚-N-乙烯基乙醯胺。
  5. 如請求項1至4中任一項之透明導電薄膜層合體，其中構成前述保護膜之樹脂成分為來自含有羧基的聚胺基甲酸酯或含有乙基纖維素的熱塑性樹脂。
  6. 如請求項5之透明導電薄膜層合體，其中構成前述保護膜之樹脂成分為，來自含有羧基的聚胺基甲酸酯與於一分子中具有2個以上環氧基的環氧樹脂，前述於一分子中具有2個以上環氧基的環氧樹脂之含有量在前述樹脂成分中超過0質量%且6質量%以下，相對於前述含有羧基的聚胺基甲酸酯所具有羧基(COOH)，前述於一分子中具有2個以上環氧基的環氧樹脂所具有環氧基(Ep)之莫耳比(Ep/COOH)為超過0且0.02以下。
  7. 如請求項1至6中任一項之透明導電薄膜層合體，其中前述金屬奈米線為銀奈米線。
  8. 一種成形用透明導電薄膜層合體，其為使用於如請求項1至7中任一項之透明導電薄膜層合體，與將聚碳酸酯作為主成分的樹脂薄膜之成形用透明導電薄膜層合體。
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