TW202014290A - 射出成型系統及射出成型方法 - Google Patents

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Abstract

一種射出成型系統，包括一射出成型機、一自動檢測裝置以及一缺陷修正模組。射出成型機適於依據一射出成型參數射出成型一成品。自動檢測裝置適於檢測成品以產生一檢測資料。缺陷修正模組適於依據檢測資料產生一校正參數，且射出成型機適於依據射出成型參數及校正參數射出成型另一成品。此外，一種射出成型方法亦被提及。

Description

射出成型系統及射出成型方法
本發明是有關於一種成型系統及成型方法，且特別是有關於一種射出成型系統及射出成型方法。
射出成型(injection molding)是一種生產由熱塑性塑膠或熱固性塑膠所構成的部件的過程。塑料在射出成型機的料筒內被加熱而熔化呈流動狀態，接著在柱塞或螺杆的加壓下，塑料被壓縮並向前移動，進而通過料筒前端的噴嘴以很快的速度注入溫度較低的閉合模具內。經過一段時間冷卻定型後，開啟模具即得射出成型製品。
在射出成型的過程中，射出壓力、模具溫度、保壓時間及環境溫度等因素皆會影響成品的品質。操作人員通常以目視的方式依經驗判斷成品的缺陷程度，並據以推估新的射出成型參數提供給機台，重新射出成型新的成品。然而，操作人員的經驗判斷無法完全準確地調整射出成型參數，且經驗不足的操作人員難以依此方式進行參數的調整，使得成品良率低且浪費重新製做成品的成本。
本發明提供一種射出成型系統及射出成型方法，可精確地依據成品的缺陷調整射出成型參數。
本發明的射出成型系統包括一射出成型機、一自動檢測裝置以及一缺陷修正模組。射出成型機適於依據一射出成型參數射出成型一成品。自動檢測裝置適於檢測成品以產生一檢測資料。缺陷修正模組適於依據檢測資料產生一校正參數，射出成型機適於依據射出成型參數及校正參數射出成型另一成品。
在本發明的一實施例中，上述的缺陷修正模組具有一資料庫，資料庫包括多個缺陷樣本資訊及多個缺陷修正資訊，所述缺陷樣本資訊的其中之一對應於檢測資料，所述缺陷修正資訊的其中之一對應於所述缺陷樣本資訊的其中之一，缺陷修正模組適於依據所述缺陷修正資訊的其中之一產生校正參數。
在本發明的一實施例中，上述的射出成型系統更包括一合理化參數模組，合理化參數模組適於依據一產品資訊產生射出成型參數。
在本發明的一實施例中，上述的射出成型系統更包括一判斷單元，判斷單元適於依據檢測資料判斷成品是否有缺陷以產生一判斷結果，缺陷修正模組適於依據判斷結果產生校正參數或不產生校正參數。
在本發明的一實施例中，上述的自動檢測裝置為自動光學檢測裝置或自動重量檢測裝置。
本發明的射出成型方法包括以下步驟。藉由一射出成型機依據一射出成型參數射出成型一成品。藉由一自動檢測裝置檢測成品以產生一檢測資料。藉由一缺陷修正模組依據檢測資料產生一校正參數。藉由射出成型機依據射出成型參數及校正參數射出成型另一成品。
在本發明的一實施例中，上述的缺陷修正模組具有一資料庫，資料庫包括多個缺陷樣本資訊及多個缺陷修正資訊，所述缺陷樣本資訊的其中之一對應於檢測資料，所述缺陷修正資訊的其中之一對應於所述缺陷樣本資訊的其中之一，產生校正參數的步驟包括以下步驟。藉由缺陷修正模組依據所述缺陷修正資訊的其中之一產生校正參數。
在本發明的一實施例中，上述的射出成型方法更包括以下步驟。藉由一合理化參數模組依據一產品資訊產生射出成型參數。
在本發明的一實施例中，上述的射出成型方法更包括以下步驟。藉由一判斷單元依據檢測資料判斷成品是否有缺陷以產生一判斷結果。接著，依據判斷結果，藉由缺陷修正模組產生校正參數，或不產生校正參數。
在本發明的一實施例中，上述的檢測成品的步驟包括以下步驟。藉由自動檢測裝置對成品進行自動光學檢測或自動重量檢測。
基於上述，本發明利用自動檢測裝置檢測射出成型成品的缺陷以產生檢測資料。相較於習知以目視判斷的方式來檢測成品的缺陷，本發明的自動檢測裝置可提供更精準的缺陷檢測結果。藉由此精準的缺陷檢測結果(即所述檢測資料)搭配缺陷修正模組所預先儲存的缺陷資訊，可精準地依據成品的缺陷調整射出成型參數。若以習知目視判斷的方式來檢測成品的缺陷，由於其檢測結果並不精準，故無法有效利用缺陷修正模組所儲存的缺陷資訊達到精確調整射出成型參數的效果。亦即，本發明藉由自動檢測裝置的精準檢測而使缺陷修正模組的效用能夠完全發揮，據以提升射出成型成品的良率。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1是本發明一實施例的射出成型系統的示意圖。請參考圖1，本實施例的射出成型系統100包括一射出成型機110、一自動檢測裝置120及一缺陷修正模組130。射出成型機110適於依據一射出成型參數P1射出成型一成品，其例如是塑料成品。自動檢測裝置120適於檢測所述成品以產生一檢測資料D。缺陷修正模組130例如是位於雲端C且適於依據檢測資料D產生一校正參數P2，射出成型機110適於依據射出成型參數P1及校正參數P2射出成型另一成品。
相較於習知以目視判斷的方式來檢測成品的缺陷，本實施例的自動檢測裝置120可提供更精準的缺陷檢測結果。藉由此精準的缺陷檢測結果(即所述檢測資料D)搭配缺陷修正模組130所預先儲存的缺陷資訊(即後述的缺陷樣本資訊I1即缺陷修正資訊I2)，可精準地產生校正參數P2並據以調整射出成型參數P1。若以習知目視判斷的方式來檢測成品的缺陷，由於其檢測結果並不精準，故無法有效利用缺陷修正模組130所儲存的缺陷資訊達到精確調整射出成型參數P1的效果。亦即，本實施例藉由自動檢測裝置120的精準檢測而使缺陷修正模組130的效用能夠完全發揮，據以提升射出成型成品的良率。
以下以圖1所示實施例，說明本發明的射出成型方法的主要步驟。圖2是本發明一實施例的射出成型方法的流程圖。請參考圖1及圖2，首先，藉由一射出成型機110依據一射出成型參數P1射出成型一成品(步驟S202)。接著，藉由一自動檢測裝置120檢測成品以產生一檢測資料D(步驟S204)。藉由一缺陷修正模組130依據檢測資料D產生一校正參數P2(步驟S206)。藉由射出成型機110依據射出成型參數P1及校正參數P2射出成型另一成品(步驟S208)。
在本實施例中，自動檢測裝置120可為自動光學檢測裝置。透過自動光學檢測裝置測得成品P1的形狀尺寸、直線度或灰階分布，來判斷成品P1是否具有缺陷及缺陷種類、程度。在其他實施例中，自動檢測裝置120亦可為自動重量檢測裝置或其他適當種類，本發明不對此加以限制。
圖3是圖1的缺陷修正模組的示意圖。詳細而言，本實施例的缺陷修正模組130具有一資料庫132，資料庫132包括分別相對應的多個缺陷樣本資訊I1及多個缺陷修正資訊I2。所述缺陷樣本資訊I1的其中之一對應於檢測資料D，所述缺陷修正資訊I2的其中之一對應於缺陷樣本資訊I1的所述其中之一，缺陷修正模組130適於依據缺陷修正資訊I2的所述其中之一產生圖1所示的校正參數P2。圖3將缺陷樣本資訊I1及缺陷修正資訊I2的數量分別繪示為三個，然其僅為示意，缺陷樣本資訊I1及缺陷修正資訊I2的數量實際上可為更多，以精準地對應於射出成型成品的各種程度或種類的缺陷。
請參考圖1，本實施例的射出成型系統100更包括一合理化參數模組140。合理化參數模組140例如是位於雲端C且適於依據一產品資訊產生射出成型參數P1，所述產品資訊例如是由使用者依據所欲射出成型之產品的尺寸及材料而輸入至合理化參數模組140的資訊。射出成型參數P1例如是從位於雲端C的合理化參數模組140先傳遞至使用者的可攜式電子裝置50(如智慧型手機或平板電腦)，然後再從可攜式電子裝置50傳遞至射出成型機110。類似地，校正參數P2例如是從位於雲端C的缺陷修正模組130先傳遞至使用者的可攜式電子裝置50，然後再從可攜式電子裝置50傳遞至射出成型機110。然本發明不以此為限，在其他實施例中，射出成型參數P1及校正參數P2可分別從射出成型參數P1及缺陷修正模組130直接傳遞至射出成型機110。此外，在其他實施例中，射出成型參數P1及缺陷修正模組130可不設於雲端C，而是設於使用者端的電子設備，如對應於射出成型機110的電腦系統。
本實施例的射出成型系統100更包括一判斷單元150，判斷單元150例如是整合於自動檢測裝置120或所述電子設備，且適於依據檢測資料D判斷成品是否有缺陷以產生一判斷結果，缺陷修正模組130適於依據此判斷結果產生校正參數P2或不產生校正參數P2。
以下藉由圖式說明本實施例的射出成型方法的詳細流程。圖4繪示圖2的射出成型方法的詳細流程。請參考圖4，使用者先將所述產品資訊輸入至合理化參數模組140，合理化參數模組140據以產生射出成型參數P1並將其傳遞至射出成型機110。射出成型機110依據射出成型參數P1射出成型成品，且自動檢測裝置120對成品進行缺陷檢測。接著，藉由判斷單元150依據自動檢測裝置120的檢測資料D判斷成品是否合格，若合格則將成品視為合格產品且不進一步進行射出成型參數P1的調整。反之，若不合格則將檢測資料D傳遞至缺陷修正模組130，缺陷修正模組130據以產生校正參數P2，且射出成型機110依據經校正參數P2調整後的射出成型參數P1射出成型另一成品，直到成品為合格產品。
綜上所述，本發明利用自動檢測裝置檢測射出成型成品的缺陷以產生檢測資料。相較於習知以目視判斷的方式來檢測成品的缺陷，本發明的自動檢測裝置可提供更精準的缺陷檢測結果。藉由此精準的缺陷檢測結果(即所述檢測資料)搭配缺陷修正模組所預先儲存的缺陷資訊，可精準地依據成品的缺陷調整射出成型參數。若以習知目視判斷的方式來檢測成品的缺陷，由於其檢測結果並不精準，故無法有效利用缺陷修正模組所儲存的缺陷資訊達到精確調整射出成型參數的效果。亦即，本發明藉由自動檢測裝置的精準檢測而使缺陷修正模組的效用能夠完全發揮，據以提升射出成型成品的良率。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
50:可攜式電子裝置100:射出成型系統110:射出成型機120:自動檢測裝置130:缺陷修正模組132:資料庫140:合理化參數模組150:判斷單元C:雲端D:檢測資料I1:缺陷樣本資訊I2:缺陷修正資訊P1:射出成型參數P2:校正參數
圖1是本發明一實施例的射出成型系統的示意圖。 圖2是本發明一實施例的射出成型方法的流程圖。 圖3是圖1的缺陷修正模組的示意圖。 圖4繪示圖2的射出成型方法的詳細流程。
50:可攜式電子裝置
100:射出成型系統
110:射出成型機
120:自動檢測裝置
130:缺陷修正模組
140:合理化參數模組
150:判斷單元
C:雲端
D:檢測資料
P1:射出成型參數
P2:校正參數

Claims (10)

  1. 一種射出成型系統，包括： 一射出成型機，適於依據一射出成型參數射出成型一成品； 一自動檢測裝置，適於檢測該成品以產生一檢測資料；以及 一缺陷修正模組，適於依據該檢測資料產生一校正參數，其中該射出成型機適於依據該射出成型參數及該校正參數射出成型另一成品。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的射出成型系統，其中該缺陷修正模組具有一資料庫，該資料庫包括多個缺陷樣本資訊及多個缺陷修正資訊，該些缺陷樣本資訊的其中之一對應於該檢測資料，該些缺陷修正資訊的其中之一對應於該些缺陷樣本資訊的該其中之一，該缺陷修正模組適於依據該些缺陷修正資訊的該其中之一產生該校正參數。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的射出成型系統，更包括一合理化參數模組，其中該合理化參數模組適於依據一產品資訊產生該射出成型參數。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的射出成型系統，更包括一判斷單元，其中該判斷單元適於依據該檢測資料判斷該成品是否有缺陷以產生一判斷結果，該缺陷修正模組適於依據該判斷結果產生該校正參數或不產生該校正參數。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的射出成型系統，其中該自動檢測裝置為自動光學檢測裝置或自動重量檢測裝置。
  6. 一種射出成型方法，包括： 藉由一射出成型機依據一射出成型參數射出成型一成品； 藉由一自動檢測裝置檢測該成品以產生一檢測資料； 藉由一缺陷修正模組依據該檢測資料產生一校正參數；以及 藉由該射出成型機依據該射出成型參數及該校正參數射出成型另一成品。
  7. 如申請專利範圍第6項所述的射出成型方法，其中該缺陷修正模組具有一資料庫，該資料庫包括多個缺陷樣本資訊及多個缺陷修正資訊，該些缺陷樣本資訊的其中之一對應於該檢測資料，該些缺陷修正資訊的其中之一對應於該些缺陷樣本資訊的該其中之一，產生該校正參數的步驟包括： 藉由該缺陷修正模組依據該些缺陷修正資訊的該其中之一產生該校正參數。
  8. 如申請專利範圍第6項所述的射出成型方法，更包括： 藉由一合理化參數模組依據一產品資訊產生該射出成型參數。
  9. 如申請專利範圍第6項所述的射出成型方法，更包括： 藉由一判斷單元依據該檢測資料判斷該成品是否有缺陷以產生一判斷結果；以及 依據該判斷結果，藉由該缺陷修正模組產生該校正參數，或不產生該校正參數。
  10. 如申請專利範圍第6項所述的射出成型方法，其中檢測該成品的步驟包括： 藉由該自動檢測裝置對該成品進行自動光學檢測或自動重量檢測。
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