TW201904842A - 檢測系統及檢測方法 - Google Patents

檢測系統及檢測方法

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盟立自動化股份有限公司
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Abstract

一種檢測系統,其包括輸送模組、取置模組及暫存移載模組。輸送模組具有用以承載至少一待檢測物的軌道,軌道沿著第一軸向延伸,輸送模組沿著第一軸向輸送待檢測物。取置模組設置在鄰近軌道的位置,且能沿著與第一軸向交錯的第二軸向往復移動,取置模組能將待檢測物自軌道上移動軌道旁的檢測位置,或將待檢測物移開檢測位置。暫存移載模組設置在鄰近軌道的位置,且能夠沿著第一軸向往復移動,暫存移載模組用以自取置模組承接離開檢測位置的待檢測物,並將待檢測物放置於軌道上。

Description

檢測系統及檢測方法
本發明涉及一種檢測系統及檢測方法,特別是涉及一種能夠提升工作效率的檢測系統及檢測方法。
隨著人類社會進入到工業化時代,為了能夠準確又高效率的不斷製造出各種生活以及工業用品,生產線的概念以及自動化的技術越來越普及,已經是不可或缺的重要技術。
工業上,除了在各種物件的生產、組裝過程中大量的採用前述生產線與自動化的概念,為了能夠提供高品質的產品,在產品的檢測與品管上,生產線與自動化的概念也早已行之有年。
現有的技術在進行產品檢驗的過程中,常常是將大量的待檢測物依序放置在一個輸送設備上,在待檢測物進入各個檢測站點的時候,由人工的方式或機器自動化的方式,對待檢測物進行檢驗。考慮到檢測工作的進行必須耗費一定的時間,往往會為了配合檢測工作的進行,讓進入檢測站點的待檢測物被充分檢查完畢,並重新回到輸送設備的輸送軌道後,再將輸送設備上的所有待檢測物繼續向後輸送,因此輸送設備常常被設定成走走停停的模式。
前述現象不僅嚴重拖慢了整個作業流程的效率,反覆停止與再啟動的過程,對輸送設備本身的各個部件往往也造成極大的負擔,因而縮短了輸送設備的使用壽命,造成業者在設備養護及更換上沉重的成本。
本發明所要解決的技術問題在於,針對現有技術的不足提供一種檢測系統及檢測方法,用以提升整個檢測流程的工作效率。
為了解決上述的技術問題,本發明所採用的其中一技術方案是,提供一種檢測系統,所述檢測系統包括一輸送模組、一取置模組以及一暫存移載模組,其中所述輸送模組具有用以承載至少一待檢測物的一軌道,所述軌道沿著一第一軸向延伸,所述輸送模組沿著所述第一軸向輸送所述待檢測物;所述取置模組設置在鄰近所述軌道的位置,且能沿著與所述第一軸向交錯的一第二軸向往復移動,所述取置模組能將所述待檢測物自所述軌道上移動至所述軌道旁的一檢測位置,或者能將所述待檢測物移開所述檢測位置;所述暫存移載模組設置在鄰近所述軌道的位置,且能夠沿著所述第一軸向往復移動,所述暫存移載模組用以自所述取置模組承接離開所述檢測位置的所述待檢測物,並將所述待檢測物放置於所述軌道上。
為了解決上述的技術問題,本發明所採用的另外一技術方案是,提供一種檢測系統,所述檢測系統包括一輸送模組、一取置模組以及一暫存移載模組,其中,所述輸送模組具有用以承載至少一待檢測物的一軌道,所述軌道沿著一第一軸向延伸;所述取置模組設置在鄰近所述軌道的位置,且能沿著與所述第一軸向交錯的一第二軸向往復移動;所述暫存移載模組設置在鄰近所述軌道的位置,且能夠沿著所述第一軸向往復移動。
為了解決上述的技術問題,本發明所採用的另外再一技術方案是,提供一種檢測方法,所述檢測方法應用於一檢測系統,所述檢測方法包括下列步驟:通過一輸送模組的一軌道,以承載至少一待檢測物,並沿著一第一軸向輸送所述待檢測物;通過設置在鄰近所述軌道的一取置模組,以沿著與所述第一軸向交錯的一第二軸向,將所述待檢測物自所述軌道上移動至所述軌道旁的一 檢測位置;在所述檢測位置對所述待檢測物進行檢測;當所述待檢測物被判定為良品時,所述取置模組將所述待檢測物移動至一暫存移載模組;以及,所述暫存移載模組沿著所述第一軸向往復移動,並將所述待檢測物放置於所述軌道上。
本發明的其中一有益效果在於,本發明所提供的檢測系統及檢測方法,其能通過“軌道沿著第一軸向延伸”、“取置模組沿著與所述第一軸向交錯的第二軸向往復移動”以及“暫存移載模組沿著第一軸向往復移動”的技術方案,以在所述取置模組將所述待檢測物移回所述軌道時,能夠通過所述暫存移載模組暫時承接所述待檢測物,並由所述暫存移載模組將所述待檢測物放置回所述軌道上,使得所述取置模組能夠立即再次拿取所述軌道上的其他所述待檢測物,而能夠大幅提升整個檢測流程的工作效率。
為使能更進一步瞭解本發明的特徵及技術內容,請參閱以下有關本發明的詳細說明與附圖,然而所提供的附圖僅用於提供參考與說明,並非用來對本發明加以限制。
S‧‧‧檢測系統
1‧‧‧輸送模組
11‧‧‧軌道
111‧‧‧輸送滾輪
G‧‧‧間隙
12‧‧‧支撐架
2‧‧‧取置模組
3‧‧‧暫存移載模組
4‧‧‧檢測位置
5‧‧‧控制模組
6‧‧‧自動光學檢測模組
A1‧‧‧第一軸向
A2‧‧‧第二軸向
D‧‧‧待檢測物
21‧‧‧第一固定座
22‧‧‧第一升降機構
23‧‧‧取置機構
231‧‧‧中心柱
232‧‧‧架體
233‧‧‧固定吸盤
31‧‧‧第二固定座
32‧‧‧第二升降機構
33‧‧‧暫存機構
331‧‧‧基座
332‧‧‧承載桿
41‧‧‧檢測檯面
圖1為本發明第一實施例的檢測系統的立體局部示意圖。
圖2為本發明第一實施例的取置模組以及位在軌道上的待檢測物的側視示意圖。
圖3為本發明第一實施例的取置模組從軌道上拿取待檢測物的側視示意圖。
圖4為圖3的I部分的局部放大示意圖。
圖5為本發明第一實施例的取置模組從軌道上拿起待檢測物的側視示意圖。
圖6為本發明第一實施例的取置模組沿第二軸向將待檢測物移動至檢測位置的側視示意圖。
圖7為本發明第一實施例的取置模組將待檢測物放置於檢測位置的側視示意圖。
圖8為本發明第一實施例的待檢測物被放置於檢測位置後取置模組離開的立體示意圖。
圖9為本發明第一實施例的取置模組將待檢測物放置於暫存移載模組的立體示意圖。
圖10為本發明第一實施例的暫存移載模組承載待檢測物的前視示意圖。
圖11為本發明第一實施例的暫存移載模組向下移動使待檢測物被放置於軌道上的前視示意圖。
圖12為本發明第二實施例的元件連接關係方塊圖。
圖13為本發明第三實施例的方法流程示意圖。
以下是通過特定的具體實施例來說明本發明所公開有關“檢測系統及檢測方法”的實施方式,本領域技術人員可由本說明書所公開的內容瞭解本發明的優點與效果。本發明可通過其他不同的具體實施例加以施行或應用,本說明書中的各項細節也可基於不同觀點與應用,在不悖離本發明的精神下進行各種修飾與變更。另外,本發明的附圖僅為簡單示意說明,並非依實際尺寸的描繪,事先聲明。以下的實施方式將進一步詳細說明本發明的相關技術內容,但所公開的內容並非用以限制本發明的保護範圍。
[第一實施例]
請參閱圖1所示,圖1為本發明第一實施例的檢測系統S的立體局部示意圖。概略地說,由圖1可知本發明第一實施例提供一種檢測系統S,其包括:輸送模組1、取置模組2以及暫存移載模組3,其中輸送模組1具有用以承載至少一待檢測物D的軌道11,軌道11沿著第一軸向A1延伸,輸送模組1沿著第一軸向A1輸送待檢測物D;取置模組2設置在鄰近軌道11的位置,且能沿著與第一軸向A1交錯的第二軸向A2往復移動,取置模組2能將 待檢測物D自軌道11上移動至軌道11旁的檢測位置4,或者能將待檢測物D移開檢測位置4;暫存移載模組3設置在鄰近軌道11的位置,且能夠沿著第一軸向A1往復移動,暫存移載模組3用以自取置模組2承接離開檢測位置4的待檢測物D,並將待檢測物D放置於軌道11上。
以下藉由圖2至圖11所示,針對本實施例的具體細部特徵,以及各部件之間的相互作動關係,作更進一步的舉例說明,特別再次強調的是,以下所述各細部特徵僅是為了方便本領域技術人員更輕易瞭解本發明之內容,其具體的施作方式並不以此為限。
首先,請參閱圖2至圖5所示,圖2為本發明第一實施例的取置模組2以及位在軌道11上的待檢測物D的側視示意圖。圖3為本發明第一實施例的取置模組2從軌道11上拿取待檢測物D的側視示意圖。圖4為圖3的I部分的局部放大示意圖。圖5為本發明第一實施例的取置模組2從軌道11上拿起待檢測物D的側視示意圖。
本實施例的取置模組2包括第一固定座21、第一升降機構22以及取置機構23。其中,第一固定座21被固設在輸送模組1的支撐架12上,且在第二軸向A2的方向上朝兩側延伸;第一升降機構22設置在第一固定座21上,且可相對於第一固定座21沿著第二軸向A2往復移動;取置機構23設置在第一升降機構22上,且能相對於第一升降機構22上下往復升降。
更具體的說,可在第一固定座21配置驅動器,並以驅動器帶動第一升降機構22以及其上的取置機構23沿著第二軸向A2(在本實施例也是第一固定座21的延伸方向)往復移動。此外,在第一升降機構22上配置另外的驅動器,藉此帶動取置機構23進行升降。
在本實施例中,請參閱圖2所示,當待檢測物D被放置在軌道11上,且沿著第一軸向A1(如圖1所示)被輸送至靠近檢測 位置4處,取置模組2會移動到待檢測物D的上方。請參閱圖3所示,為了拿取位在軌道11上的待檢測物D,取置機構23沿著第一升降機構22下降,並與待檢測物D相結合。
接著請參閱圖4所示,在本實施例中,取置機構23包括中心柱231、架體232以及固定吸盤233,其中中心柱231的一端連接至第一升降機構22,且能被帶動而上升或下降,多個架體232被配置在中心柱231上,且每一個架體232上故設有多個固定吸盤233。本實施例的取置機構23通過多個固定吸盤233吸附於待檢測物D(如面板)的頂面,以使取置模組2能固定並移動待檢測物D。在本發明其他可能的實施例中,也可以根據待檢測物D的形狀或大小等因素,改變取置模組2與待檢測物D之間的結合方式,並不以吸附固定為限。
再來請參閱圖5所示,在本實施例中,取置模組2的取置機構23通過固定吸盤233固定待檢測物D後,取置機構23的中心柱231沿著第一升降機構22上升,使待檢測物D被取置機構23帶動離開軌道11的表面。至此,取置模組2通過第一固定座21、第一升降機構22以及取置機構23的相互配合,完成了從軌道11拿取待檢測物D的工作。
接下來,請參閱圖6至圖8所示,圖6為本發明第一實施例的取置模組2沿第二軸向A2將待檢測物D移動至檢測位置4的側視示意圖。圖7為本發明第一實施例的取置模組2將待檢測物D放置於檢測位置4的側視示意圖。圖8為本發明第一實施例的待檢測物D被放置於檢測位置4後取置模組2離開的立體示意圖。
如圖6所示,在取置模組2從軌道11的表面拿取了待檢測物D之後。取置模組2的第一升降機構22以及取置機構23會共同沿著第一固定座21移動,與此同時,會帶動待檢測物D沿著第二軸向A2朝檢測位置4移動。
在此特別一提的是,本發明所指的檢測位置4可以是一個設 置有自動檢測設備的檢測點,以在待檢測物D被送入檢測位置4時,自動檢測設備可以自動對待檢測物D進行檢測;或者,檢測位置4也可以是一個半自動檢測的檢查站,當待檢測物D被送入檢測位置4之後,由人工手動啟動檢測設備,對待檢測物D進行檢察;甚至是,也可以純粹是一個人工目視檢查的檢測站點。本發明主要的架構在於,待檢測物D從軌道11被送入檢測位置4的過程中,以及待檢測物D從軌道檢測位置4被送回軌道11的過程中,能使取置模組2拿取或放置待檢測物D的工作流暢進行,至於待檢測物D在檢測位置4會被採用什麼方式進行檢驗,並非本發明所欲特別加以限定的技術標的。
回到本實施例繼續說明本發明的詳細技術內容。請參閱圖7所示,在本實施例中,在取置模組2將待檢測物D移動到檢測位置4上方後,取置機構23的中心柱231沿著第一升降機構22下降,使待檢測物D被取置機構23放置到檢測位置4的表面。接著,請參閱圖8所示,當待檢測物D被取置機構23放置到檢測位置4的表面後,取置模組2離開檢測位置4。更具體的說,取置模組2會先解除取置機構23的固定吸盤233與待檢測物D之間的吸附狀態,並且讓取置機構23的中心柱231沿著第一升降機構22上升,將待檢測物D留在檢測位置4的檢測檯面41上。在本實施例中,檢測檯面41可以是燈箱的透光檯面,以便檢測人員目視確認待檢測物D是否有瑕疵,當然,如同前文所述,檢測檯面41也可以是單純用於放置待檢測物D的承載檯面,並且在檢測位置4上可通過其他自動檢測設備對待檢測物D進行檢測,其具體的檢測方式並非本發明權利範圍之限制。
再接下來,請參閱圖9至圖11所示,圖9為本發明第一實施例的取置模組2將待檢測物D放置於暫存移載模組3的立體示意圖。圖10為本發明第一實施例的暫存移載模組3承載待檢測物D的前視示意圖。圖11為本發明第一實施例的暫存移載模組3向下 移動使待檢測物D被放置於軌道11上的前視示意圖。
在本實施例中,當待檢測物D已經在檢測位置4上被檢測完畢,且被判斷為良品後,需要重新將待檢測物D從檢測位置4移動回軌道11。在此過程中,首先會以取置模組2將待檢測物D從檢測位置4的檢測檯面41上拿起,由於此一過程原則上與取置模組2將待檢測物D從軌道11上拿起大致相同,在此不重覆繪製圖式說明。
接下來,請先參閱圖9所示,通過取置模組2的第一升降機構22以及取置機構23會共同沿著第一固定座21移動,並帶動待檢測物D沿著第二軸向A2返回軌道11上。在本實施例中,待檢測物D並不會直接被放置到軌道11上,而是由暫存移載模組3自取置模組2承接離開檢測位置4的待檢測物D。
更具體的說,請搭配參閱圖9以及圖10所示,在取置模組2帶著待檢測物D從檢測位置4返回軌道11上前,暫存移載模組3的第二升降機構32以及暫存機構33會共同沿著第二固定座31移動,換句話說,沿著第一軸向A1移動到能夠承接離開檢測位置4的待檢測物D的位置。在取置模組2帶著待檢測物D返回後,取置模組2便將待檢測物D放置在暫存移載模組3的暫存機構33上。如此,當暫存移載模組3的第二升降機構32以及暫存機構33沿著第一軸向A1移開後,取置模組2就能夠再次拿取放置在下方軌道11上的其他待檢測物D。
接下來,通過圖10以及圖11說明在本實施例中,暫存移載模組3如何將待檢測物D放置回軌道11上。需要先說明的是,以下所描述的放置方式,僅僅是本發明其中一種可能的施作方式,本發明的具體保護範圍並不以此為限,凡是本領域技術人員所能夠輕易思及的其他放置方式,都應該認為在本發明主要概念的涵蓋之下。
在說明本實施例的放置方式前,有必要先針對本實施例的軌 道11的構造作更進一步的說明。本實施例的輸送模組1沿著軌道11設有多個輸送滾輪111,在輸送模組1沿著第一軸向A1輸送待檢測物D的過程中,主要是將待檢測物D放置在多個輸送滾輪111的上表面,且使待檢測物D被多個輸送滾輪111帶動而沿著第一軸向A1移動。多個輸送滾輪111彼此之間具有間隙G,間隙G小於待檢測物D沿著第一軸向A1的長度,更具體的說,間隙G小於待檢測物D沿著第一軸向A1的長度的1/2或更小,以避免輸送過程中待檢測物D落入多個輸送滾輪111之間的間隙G中。
以下繼續說明暫存移載模組3如何將待檢測物D放置回軌道11上,請再參閱圖10以及圖11所示。在本實施例中,暫存移載模組3的暫存機構33包括基座331與承載桿332,其中基座331的一端連接至第二升降機構32,且能被帶動而上升或下降,多個承載桿332被配置在基座331上,用以承載待檢測物D。多個承載桿332以平行於輸送滾輪111的方向延伸設置,且能夠隨著基座331被第二升降機構32帶動而上升或下降。
承接前文所述,在取置模組2將待檢測物D從檢測位置4上移開後,暫存移載模組3會承接待檢測物D,且在暫存移載模組3自軌道11的頂面向下移動時,會使得待檢測物D被放置於軌道11上。具體的說,取置模組2會將待檢測物D放置在暫存移載模組3的多個承載桿332上。當第二升降機構32以及暫存機構33沿著第一軸向A1移動到沒有其他待檢測物D的位置時,暫存機構33的基座331沿著第二升降機構32下降,且使多個承載桿332穿分別過多個輸送滾輪111之間的多個間隙G,以使待檢測物D被放置到多個輸送滾輪111上。至此,待檢測物D就回到了輸送模組1的軌道11上,且待檢測物D能夠被輸送模組1沿著第一軸向A1繼續輸送,以進行後續的拼裝作業或者其他種類的檢測作業。
在取置模組2與暫存移載模組3的相互搭配之下,使得取置 模組2在將待檢測物D從檢測位置4送回軌道11後,能夠立即再次拿取軌道11上的其他待檢測物D,而不必為了執行檢測工作,暫停整個軌道11的運送作業,也不必為了讓取置模組2將待檢測物D放回軌道11,而等待輸送模組1將其他待檢測物D移動到其他位置,以便在軌道11上空出能夠放置待檢測物D的空位,因此,能夠大幅提升整個檢測流程的工作效率。
以上所記載的是本發明相對基礎的應用型態,歸納而言,此一基礎應用型態主要包括下列特徵:檢測系統S包括輸送模組1、取置模組2以及暫存移載模組3,其中,輸送模組1具有用以承載至少一待檢測物D的軌道11,軌道11沿著第一軸向A1延伸;取置模組2設置在鄰近軌道11的位置,且能沿著與第一軸向A1交錯的第二軸向A2往復移動;暫存移載模組3設置在鄰近軌道11的位置,且能夠沿著第一軸向A1往復移動。然而,實際應用上,本發明還可以通過附加技術特徵,達成進一步的其他功效,以下藉由其他實施例作更進一步的詳細說明。
[第二實施例]
請一併參閱圖1以及圖12所示,其中,圖12為本發明第二實施例的元件連接關係方塊圖。在本實施例中,主要是加入了控制模組5以及自動光學檢測模組6,並沿著軌道11旁設置有多個檢測位置4,且對應於多個檢測位置4分別設有取置模組2以及暫存移載模組3。其中,控制模組5分別連接輸送模組1、多個取置模組2、多個暫存移載模組3以及自動光學檢測模組6,且能控制輸送模組1、多個取置模組2、多個暫存移載模組3以及自動光學檢測模組6的運作。
在本實施例中,通過控制模組5控制輸送模組1輸送待檢測物D。在將待檢測物D送至檢測位置4之前,控制模組5會先控制自動光學檢測模組6對待檢測物D進行預檢測。具體而言,自 動光學檢測模組6用於判斷待檢測物D是否具有一識別特徵,該識別特徵根據不同的應用例,可以是潛在瑕疵特徵,也可以是分類特徵。舉例來說,若自動光學檢測模組6判斷待檢測物D具有潛在瑕疵特徵,則後續待檢測物D被輸送模組1輸送到靠近檢測位置4時,取置模組2就會自軌道11拿取待檢測物D,以便能將待檢測物D移動至檢測位置4進行更進一步的詳細檢測。在其他應用方式中,若每一個檢測位置4分別對應於一個檢測類別,而自動光學檢測模組6用於判斷待檢測物D的分類特徵,則控制模組5可以在接收到自動光學檢測模組6所識別出的分類特徵後,根據每一個待檢測物D的分類特徵,驅動對應的取置模組2,以便將待檢測物D移動至能夠進行相對應的檢測類別的檢測位置4。
這裡必須先予指明的是,通過自動光學檢測模組6預先判斷待檢測物D是否具有識別特徵,並根據判斷結果決定取置模組2是否自軌道11拿取待檢測物D的這一個功能,未必要通過控制模組5分別控制自動光學檢測模組6以及取置模組2來實現,在本發明的其他實施例中,也可以將自動光學檢測模組6與取置模組2直接連接,並通過其他操控方式完成,包括但不限於:由自動光學檢測模組6直接發送控制訊號取置模組2:或者,自動光學檢測模組6發送判斷結果給取置模組2後,由內建在取置模組2的控制機制驅動取置模組2拿取待檢測物D。
回到本實施例,在自動光學檢測模組6用於判斷待檢測物D是否具有潛在瑕疵特徵的應用例中,若待檢測物D在檢測位置4上被進一步確認判定為瑕疵品,則取置模組2將待檢測物D從檢測位置4移開後,就不再將待檢測物D移回到軌道11上,也不會放置到暫存移載模組3,而是直接從取置模組2上將待檢測物D移動至一棄置區(圖示未繪製)。移動至棄置區的待檢測物D可能被淘汰、拋棄,也可能被進一步修復後重新進行下一輪的檢測。
另外,在本發明的其他應用方式上,也可以通過控制模組5 的適當排程,決定每一個待檢測物D分別要被送入哪一個檢測位置4進行檢測。舉例而言,若一次有十五個待檢測物D需要進行檢驗,而檢測系統S設有三個檢測位置4,此時,可以通過控制模組5將排列在第1、4、7、10及13順位的待檢測物D送入第一個檢測位置4進行檢測,將排列在第2、5、8、11及14順位的待檢測物D送入第二個檢測位置4進行檢測,將排列在第3、6、9、12及15順位的待檢測物D送入第三個檢測位置4進行檢測。如此,當排列在第1順位的待檢測物D被取置模組2從軌道11上取至第一個檢測位置4時,軌道11仍然可以保持輸送的狀態,讓其他待檢測物D繼續向後被輸送,而不必讓輸送模組1的運作有任何停頓。當排列在第1順位的待檢測物D被檢測完畢後,對應於第一個檢測位置4的取置模組2會把,排列在第1順位的待檢測物D移動到對應於第一個檢測位置4的暫存移載模組3上,並且由暫存移載模組3在軌道11上找到沒有放置其他待檢測物D的空位,並將待檢測物D放回軌道11上。
[第三實施例]
上面各個實施例是針對本發明的整體系統架構,以及可能附加的一些結構特徵所作的說明,接下來,通過第三實施例說明本發明所提供的方法流程。請參閱圖13所示,圖13為本發明第三實施例的方法流程示意圖。以下搭配圖1至圖12中所標記之元件符號,以及圖13中所列示的方法流程示意圖,說明本發明第三實施例的方法流程。
本實施例提供一種檢測方法,所述檢測方法應用於檢測系統S,且所述檢測方法包括下列步驟:S100:以自動光學檢測模組6對待檢測物D進行預檢測。
S102:通過輸送模組1的軌道11承載待檢測物D,並沿著第一軸向A1輸送待檢測物D。值得一提的是,步驟S100以及步 驟S102並沒有必然的先後順序,也可以先通過輸送模組1的軌道11輸送待檢測物D,並於輸送過程中以自動光學檢測模組6對待檢測物D進行預檢測。
S104:根據待檢測物D是否具識別特徵,決定是否以取置模組2將待檢測物D移動至檢測位置4。在判斷待檢測物D具有識別特徵時,進入步驟S106;否則,進入步驟S114。更具體的說,還可以將具有不同種類識別特徵的待檢測物D,區分為不同的待檢測物D,並針對分別不同的待檢測物D,分別以不同的取置模組2,各自移動至對應的檢測位置4。
S106:通過設置在鄰近軌道11的取置模組2,以沿著與第一軸向A1交錯的第二軸向A2,將待檢測物D自軌道11上移動至軌道11旁的檢測位置4。
S108:在檢測位置4對待檢測物D進行檢測。
S110:當待檢測物D被判定為良品時,取置模組2將待檢測物D移動至暫存移載模組3;反之,當待檢測物D在檢測位置4被判定為瑕疵品時,取置模組2取走待檢測物D後,將待檢測物D自取置模組2上移動至一棄置區。
S112:暫存移載模組3沿著第一軸向A1往復移動,並將待檢測物D放置於軌道11上。在此步驟中,當暫存移載模組3從軌道11的頂面向下移動時,暫存移載模組3的多個承載桿332分別穿過多個輸送滾輪111間的多個間隙G,進而使待檢測物D從多個承載桿332上被移置到多個輸送滾輪111上。
S114:在待檢測物D回到軌道11上之後(承接步驟S112),或是待檢測物D未曾被取置模組2將待檢測物D移動至檢測位置4(承接步驟S104),由軌道11繼續輸送待檢測物D。
通過前述的方法流程,不儘可以預先以自動光學檢測模組6判斷待檢測物D是否具有/具有何種識別特徵,已決定後續是否要/要以哪個取置模組2拿取待檢測物D,而能夠達到瑕疵預檢或分 類(將具有不同種類識別特徵的待檢測物D,區分為不同的待檢測物D,並分別以不同的取置模組2分別移動至對應的檢測位置4)等功效,更重要的是,通過取置模組2與暫存移載模組3的相互搭配,使得取置模組2在將待檢測物D從檢測位置4送回軌道11後,能夠立即再次拿取軌道11上的其他待檢測物D,而不必為了執行檢測工作,暫停整個軌道11的運送作業,也不必為了讓取置模組2將待檢測物D放回軌道11,而等待輸送模組1將其他待檢測物D移動到其他位置,以便在軌道11上空出能夠放置待檢測物D的空位,因此,能夠大幅提升整個檢測流程的工作效率。
[實施例的有益效果]
本發明的有益效果在於,其能通過“軌道11沿著第一軸向A1延伸”、“取置模組2沿著與所述第一軸向A1交錯的第二軸向A2往復移動”以及“暫存移載模組3沿著第一軸向A1往復移動”的技術方案,以在取置模組2將待檢測物D移回軌道11時,能夠通過暫存移載模組3暫時承接待檢測物D,並由暫存移載模組3將待檢測物D放置回軌道11上,使得取置模組2能夠立即再次拿取軌道11上的其他待檢測物D,而能夠大幅提升整個檢測流程的工作效率。
以上所公開的內容僅為本發明的優選可行實施例,並非因此侷限本發明的申請專利範圍,所以凡是運用本發明說明書及附圖內容所做的等效技術變化,均包含於本發明的申請專利範圍內。

Claims (10)

  1. 一種檢測系統,其包括:一輸送模組,其具有用以承載至少一待檢測物的一軌道,所述軌道沿著一第一軸向延伸,所述輸送模組沿著所述第一軸向輸送所述待檢測物;一取置模組,其設置在鄰近所述軌道的位置,且能沿著與所述第一軸向交錯的一第二軸向往復移動,所述取置模組能將所述待檢測物自所述軌道上移動至所述軌道旁的一檢測位置,或者能將所述待檢測物移開所述檢測位置;以及一暫存移載模組,其設置在鄰近所述軌道的位置,且能夠沿著所述第一軸向往復移動,所述暫存移載模組用以自所述取置模組承接離開所述檢測位置的所述待檢測物,並將所述待檢測物放置於所述軌道上。
  2. 如請求項1所述的檢測系統,其中,所述輸送模組沿著所述軌道設有多個輸送滾輪,多個所述輸送滾輪間的間隙小於所述待檢測物沿著所述第一軸向的長度,所述暫存移載模組具有多個承載桿,所述取置模組將所述待檢測物放置於所述暫存移載模組的多個所述承載桿上,在所述暫存移載模組自所述軌道的頂面向下移動時,所述暫存移載模組的多個所述承載桿分別穿過多個所述輸送滾輪間的多個間隙,使得所述待檢測物被放置於所述軌道的多個所述輸送滾輪上。
  3. 如請求項1所述的檢測系統,還進一步包括:一自動光學檢測模組,所述自動光學檢測模組用於判斷所述待檢測物是否具有一識別特徵,以使所述取置模組根據所述自動光學檢測模組的判斷結果,決定是否自所述軌道拿取所述待檢測物,其中,當所述待檢測物在所述檢測位置被判定為瑕疵品時,所述待檢測物自所述取置模組上被移動至一棄置區。
  4. 如請求項1所述的檢測系統,還進一步包括:多個檢測位置,多個所述檢測位置沿著所述軌道設置,且對應於多個所述檢測位置分別設有所述取置模組以及所述暫存移載模組;以及一控制模組,其能控制並驅動多個所述取置模組以及多個所述暫存移載模組;其中,在所述輸送模組輸送多個所述待檢測物時,所述控制模組控制不同的所述取置模組,以將不同的所述待檢測物分別移動至對應於所述取置模組的所述檢測位置;其中,所述控制模組控制所述取置模組,以將所述待檢測物移動至所述暫存移載模組,且所述控制模組控制所述暫存移載模組,以將所述待檢測物放置到所述軌道上的空位處。
  5. 一種檢測系統,其包括:一輸送模組,其具有用以承載至少一待檢測物的一軌道,所述軌道沿著一第一軸向延伸;一取置模組,其設置在鄰近所述軌道的位置,且能沿著與所述第一軸向交錯的一第二軸向往復移動;以及一暫存移載模組,其設置在鄰近所述軌道的位置,且能夠沿著所述第一軸向往復移動。
  6. 一種檢測方法,應用於一檢測系統,所述檢測方法包括:通過一輸送模組的一軌道,以承載至少一待檢測物,並沿著一第一軸向輸送所述待檢測物,通過設置在鄰近所述軌道的一取置模組,以沿著與所述第一軸向交錯的一第二軸向,將所述待檢測物自所述軌道上移動至所述軌道旁的一檢測位置,在所述檢測位置對所述待檢測物進行檢測;當所述待檢測物被判定為良品時,所述取置模組將所述待檢測物移動至一暫存移載模組;以及 所述暫存移載模組沿著所述第一軸向往復移動,並將所述待檢測物放置於所述軌道上。
  7. 如請求項6所述的檢測方法,其中,所述輸送模組沿著所述軌道設有多個輸送滾輪,所述暫存移載模組具有用以放置所述待檢測物的多個承載桿,其中,所述檢測方法還包括:所述暫存移載模組從所述軌道的頂面向下移動,且使所述暫存移載模組的多個所述承載桿分別穿過多個所述輸送滾輪間的多個間隙,進而使所述待檢測物從多個所述承載桿上被移置到多個所述輸送滾輪上。
  8. 如請求項6所述的檢測方法,其中,所述檢測系統還包括一自動光學檢測模組,所述自動光學檢測模組用於判斷所述待檢測物是否具有一識別特徵,其中,所述檢測方法還包括:以所述自動光學檢測模組對所述待檢測物進行預檢測;以及判斷所述待檢測物是否具有一識別特徵;其中,當判斷所述待檢測物具有所述識別特徵時,所述取置模組將所述待檢測物移動至所述檢測位置;其中,當判斷所述待檢測物不具有所述識別特徵時,保持所述待檢測物於所述軌道上的移動。
  9. 如請求項6所述的檢測方法,其中,所述檢測方法還包括:當所述待檢測物在所述檢測位置被判定為瑕疵品時,將所述待檢測物自所述取置模組上移動至一棄置區。
  10. 如請求項6所述的檢測方法,其中,所述檢測系統沿著所述軌道設置有多個檢測位置,且對應於多個所述檢測位置分別設有所述取置模組以及所述暫存移載模組,其中,所述檢測方法還包括:將不同的所述待檢測物,以不同的所述取置模組分別移動至對應的所述檢測位置;將所述待檢測物從所述檢測位置移動至所述暫存移載模組;以 及通過所述暫存移載模組,以將所述待檢測物放置到所述軌道上的空位處。
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