201113601 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於液晶顯示元件之連續製造 置，是對於形成既定尺寸的液晶面板，將以 面板寬度切出之偏光薄膜的薄片貼合而製造 。更具體的說，是關於液晶顯示元件之連續 用之資訊儲存讀出運算系統以及前述資訊儲 Φ 統之製造方法。該資訊儲存讀出運算系統係 缺點相關資訊（連續狀光學薄膜經由經查所 資訊儲存媒體、賦予識別標識之連續狀檢查 之積層體捲、以及根據從資訊儲存媒體讀出 求出切斷位置之切斷位置運算手段。 【先前技術】 液晶面板W，如第1圖所示，例如以畫 φ 42吋之大型電視用液晶面板爲例，是被縱（ X橫（950~970) mmx厚 0.7mm ( 700μηι)左
基板挾持，且是由配備有透明電極和濾色器 的液晶層所構成之層狀面板。液晶面板W 1.4mm ( 1400μπι)左右。液晶顯示元件，通 板W的表側（目視側）和背面（背光側） 偏光子和保護薄膜之偏光薄膜的薄片 Π”， 薄片11”如第2圖所示，是從積層構造之可 1 〇所含的偏光薄膜Π，例如成形爲第1圖戶J 裝置方法及裝 對應於該液晶 液晶顯示元件 製造裝置所使 存讀出運算系 具備：儲存有 檢測出的）之 完成光學薄膜 的缺點資訊來 面尺寸爲對角 540〜560) mm 右的矩形玻璃 等之5 μ m左右 本身的厚度爲 吊是在液晶面 分別貼合含有 藉此來生成。 撓性光學薄膜 亍示的尺寸。 -5- 201113601 在液晶顯示元件的功能方面，液晶分子的配向方向和 偏光子的偏光方向密切相關。液晶顯示元件技術’使用 TN ( Twisted Nematic )型液晶之LCD (液晶顯示裝置） 首先被實用化，然後，才到達使用 VA ( Vertical Alignment)型液晶、IPS ( Inplane Switching)型液晶等 的LCD之實用化。在此省略詳細的技術說明，在使用TN 型液晶面板之LCD，藉由配置在液晶面板之玻璃基板的內 面而分別具有摩擦方向之上下兩片的配向膜，將液晶分子 以光軸方向扭轉90°的狀態排列，若施加電壓則變成與配 向膜垂直排列。然而，若要使從顯示畫面左右觀察的像形 成相同，例如，目視側的配向膜之摩擦方向必須爲4 5 ° ( 另一方的配向膜之摩擦方向必須爲1 3 5 ° )。因此，配合此 ，分別貼合在液晶面板的表側和背側之偏光薄膜的薄片所 含之偏光子的偏光方向，也必須相對於顯示畫面之縱或橫 方向朝45°方向傾斜配置。 因此，貼合在TN型液晶面板的液晶顯示元件上之偏 光薄膜的薄片，必須從上述般含有偏光方向45°的偏光子 之光學薄膜，按照TN型液晶面板的大小而衝切或切斷加 工成矩形。該技術例如日本特開2003-161935號公報（專 利文獻1 )或日本特許第3 6 1 6 8 6 6號公報（專利文獻2) 所示。加工成矩形之薄片的寬度，亦即薄片的短邊當然也 比光學薄膜的寬度小。如此般從光學薄膜衝切或切斷加工 成矩形後的薄片稱爲「逐片型薄片」。 使用逐片型薄片來製造液晶顯示元件時，逐片型薄片 -6- 201113601 ，是事先從光學薄膜衝切或切斷，以在黏著層上貼附有剝 離片（separator )的狀態成形爲矩形。成形後的逐片型薄 片，在液晶顯示元件的製造過程被收容於匣體。收容於匣 體之逐片型薄片，要貼合於液晶面板W時，例如是藉由 吸附搬運裝置，而逐片搬運至要與液晶面板貼合的位置。 逐片型薄片，要貼合於液晶面板W之前，須將可剝離自 如地積層在所形成的黏著層上之剝離片予以剝離，藉此使 φ 黏著層露出，而透過該黏著層貼合在液晶面板W。由於逐 片型薄片具有可撓性，在貼合時周緣所產生之撓曲、彎曲 會造成問題。因此，在使用逐片型薄片之液晶顯示元件的 製造過程，爲了使每一片剝離片的剝離動作變容易而能高 精度且迅速地進行與液晶面板之對準及貼合，不得不採用 撓曲及彎曲少、搬運及貼合容易、具有一定程度的剛性且 四邊被整形之逐片型薄片。例如，在逐片型薄片上，不是 在偏光子的一面，而是在兩面上積層厚度4 0〜80μηι左右的 φ 保護薄膜以確保剛性，就是這個原因。在製造液晶顯示元 件的技術之初期階段，該光學薄膜之薄片或該薄片所含之 偏光薄膜的薄片，一般稱爲「偏光板」，這也是現在的通 稱。 在如此般ΤΝ型液晶顯示元件的製造技術，在衝切或 切斷加工步驟之後，所成形出的薄片並無法連續地貼合於 液晶面板而經由一連串的步驟製造出液晶顯示元件。這是 因爲，這時所使用的光學薄膜之薄片，如上述般相對於偏 光子之朝縱或橫方向延伸之配向方向（亦即，成形前之光 201113601 學薄膜的進給方向或與其交叉的方向）’其長邊或短邊的 方向必須成形爲4 5 °方向。如此般成形出的薄片’並無法 以相同的姿勢連續地貼合於液晶面板。如專利文獻1或2 所示，爲了將薄片貼合於液晶面板’必須從連續狀光學薄 膜（寬度比液晶面板的長邊更寬）藉由模具等以相對於光 學薄膜長邊方向爲45°的方向衝切出一片一片的薄片’再 將其供應至液晶面板之貼合步驟。或是’所使用之連續狀 光學薄膜，必須是從相當寬的連續狀光學薄膜朝相對於其 長邊方向呈45°的方向事先衝切或切斷而形成之帶狀的光 學薄膜，或是將所成形出之一片一片的光學薄膜之薄片接 合成薄膜狀而構成帶狀的光學薄膜。這些方法，都沒有脫 離逐片型薄片製造技術的範疇。 專利文獻3，是在V A型液晶和IP S液晶等尙未實用 化之前所採用的技術，其所揭示的裝置，是連續供應含有 偏光薄膜之光學薄膜，並將成形爲必要長度之偏光薄膜的 薄片依序貼合於液晶面板而形成液晶面板。該裝置，是製 造採用TN型液晶的LCD之貼合裝置（labeler )。該裝置 所使用之光學薄膜’必須是從相當寬的連續狀光學薄膜按 照液晶面板寬度以相對於偏光薄膜的延伸方向爲45。的方 向進行切斷加工而形成的一片帶狀的光學薄膜，或是將如 此般一片一片的光學薄膜之薄片接合成薄膜狀而構成的帶 狀光學薄膜。因此’對於從積層構造的連續狀光學薄膜連 續地成形出偏光薄膜的薄片，將其貼合於採用VA型液晶 或IPS型液晶之液晶面板而製造出液晶顯示元件之製造裝 201113601 置，上述裝置並無法直接運用於此。 關於使用逐片型薄片來製造液晶顯示元件之自動化技 術’例如揭示於日本特開2002-2 3 1 5 1號公報（專利文獻4 )。可撓性的逐片型薄片，起因於端部發生彎曲、下垂等 ’容易產生撓曲和彎曲，對於與液晶面板進行對準、貼合 時之精度及速度，會造成極大的技術障礙。因此，對於逐 片型薄片，爲了使吸附搬運、與液晶面板之對準及貼合等 φ 變容易，是要求一定程度的厚度及剛性。例如，日本特開 2 004- 1 449 1 3號公報（專利文獻 5 )、日本特開 2005-298 2 08號公報（專利文獻6)及日本特開2006-5 84 1 1號 公報（專利文獻7 )所揭示的，都是著眼於上述技術課題 而進行開發的技術。 相對於TN型液晶面板，在VA型液晶面板和IPS型 液晶面板，液晶分子並不是排列成扭轉狀態。因此，使用 這些液晶面板之液晶顯示元件，基於液晶配向狀態所獲得 φ 的特性，像使用TN型液晶面板的情況那樣，使光學薄膜 的薄片之偏光方向相對於液晶顯示元件的長邊或短邊方向 形成45°方向是不需要的。使用該等液晶面板的液晶顯示 元件，是將偏光軸方向與液晶面板的長邊或短邊平行旦方 向彼此差90°之光學薄膜的薄片，分別貼合在液晶面板的 表面和背側。在VA型液晶面板和IPS型液晶面板，考慮 到視角特性的對稱性和目視確認性的情況，由於光學薄膜 的薄片之光學軸方向代表最大對比方向，因此光學薄膜的 薄片的光學軸宜與液晶面板的長邊或短邊方向平行。因此 -9 - 201113601 ，要貼合在該等液晶面板上之光學薄膜的薄片的優點在於 ，可將含有朝縱或橫方向實施延伸處理後的偏光薄膜之連 續狀光學薄膜連續地送出’相對於該連續狀光學薄膜的送 出方向朝橫方向進行切斷，藉此以矩形光學薄膜薄片（寬 度與光學薄膜的寬度相同）的形式連續地成形。 大型電視用的顯示元件所使用的液晶，基於提昇視野 角特性的觀點，是從TN型液晶轉變成VA型液晶、IPS液 晶。隨著如此般技術開發環境的變化，如日本特開2004-3 6 1 7 4 1號公報（專利文獻8 )所揭示，以該等液晶面板爲 前提，如何提昇生產效率的技術已被提出。專利文獻8所 揭示的技術，是將連續狀光學薄膜連續地送出，將光學薄 膜切斷成液晶面板的大小後，將所切出的光學薄膜的薄片 連續貼合於液晶面板的技術。 然而，由於存在以下所示的技術課題，液晶顯示元件 的製造依然是以逐片型薄片的製造爲主流。在製造液晶顯 示元件時之重要的技術課題，是在事前確認所製造的顯示 元件的缺陷，而避免發生不良品。然而，就現狀而言，由 於要製造零缺點的連續狀光學薄膜極爲困難，要以完全除 去所積層之各個薄膜所含的缺點的狀態來提供連續狀光學 薄膜是不切實際的。另一方面’即使可目視的損傷或缺點 極少，要想將這樣的含有損傷或缺點之光學薄膜的薄片當 作電視用薄片來使用’基於維持液晶顯示元件本身品質的 觀點是不容許的。例如’若從光學薄膜成形出的薄片之長 邊約1 m左右’在無法事前除去缺點部位的情況，在單純 -10- 201113601 的計算下，所製造的液晶顯示元件每1 000個，就會發生 2 0~2 00個含有缺點的不良品。 因此，就現狀而言，區分成矩形之光學薄膜之不存在 缺點的正常區域，是以適當地避開同樣是區分成矩形之光 學薄膜之含有缺點的不良區域的方式，從連續狀光學薄膜 進行衝切或切斷而獲得正常品的薄片（以下稱「正常薄片 j)。或是，以不區別正常區域和不良區域的方式將光學 $ 薄膜衝切或切斷成矩形，其中的不良薄片（以下稱「不良 薄片」），在之後的步驟進行分選而予以排除。因此，由 於面臨製品精度及製造速度雙方的界限，要將逐片型薄片 製造方法之生產效率提昇至現時點的效率以上是有困難的 〇 本申請人，基於多少能提昇製造逐片型薄片的生產效 率之目的，例如日本特許第3 974400號公報（專利文獻9 )、日本特開2005-62 1 65號公報（專利文獻10)、日本 φ 特開2007-649 8 9號公報（專利文獻1 1 )所揭示，提出偏 光薄膜之事前檢查裝置。該等的技術，主要是包含以下三 個步驟。在第1步驟，首先是檢查連續供應之連續狀光學 薄膜的偏光薄膜所存在的缺點，將所檢測出的缺點位置施 以影像處理，將影像處理後的資訊編碼化。接著，在從連 續狀光學薄膜衝切成逐片型薄片時以切邊的形式殘留的端 部，藉由記錄裝置直接打印編碼化的資訊後，將連續狀光 學薄膜捲取而生成捲體。在第2步驟，藉由讀取裝置來讀 取從所生成的捲體送出之連續狀光學薄膜上所打印之編碼 -11 - 201113601 化資訊，根據判定良窳的結果來在缺點部位賦予標記。在 第3步驟，是從連續狀光學薄膜衝切出逐片型薄片，根據 事先賦予的標記將光學薄膜的逐片型薄片分選爲正常薄片 和不良薄片。前述步驟，是爲了提昇逐片型薄片的製造良 率所不可缺少的技術手段。 再者，本申請人在日本特開2007-14〇〇46號公報（專 利文獻12)提出一種製造方法，是將從連續狀光學薄膜的 積層體捲連續送出之連續狀光學薄膜（該文獻中稱爲「偏 光板原板」）所含之載體薄膜（該文獻中稱爲「脫離薄膜 」）剝離而讓含有黏著層之偏光薄膜（該文獻中稱爲「偏 光板」）露出，檢測出存在於偏光薄膜的缺點之後，避開 偏光薄膜的缺點部位而僅衝切出矩形的正常區域，將衝切 出的正常薄片（該文獻中稱爲「薄片狀製品」）使用其他 搬運介質移送至要與液晶面板貼合的位置。然而，該技術 並無法實現出：將從連續狀光學薄膜成形出的光學薄膜之 正常薄片藉由載體薄膜搬送至與液晶面板進行貼合的位置 。前述技術，是將一旦切斷後的逐片型薄片貼合在其他搬 運介質而移送至與液晶面板進行貼合的位置，仍屬於未脫 離逐片型薄片製造範疇之液晶顯示元件的製造方法。 本申請人，如專利文獻1 3所示，提出將光學薄膜的 薄片貼合於液晶面板之方法及裝置。該發明是一種劃時代 的提案，是從將事先成形好的逐片型薄片拿到液晶顯示元 件的製造過程而貼合於液晶面板之液晶顯示元件製造技術 切換成··在液晶顯示元件的製造過程’將光學薄膜的薄片 -12- 201113601 連續地成形而直接貼合於液晶面板之液晶顯示元件@ ^ 製造技術。 該發明的特徵，是在液晶顯示元件之一連串的製造步· 驟包括：爲了檢查並決定光學薄膜之不良區域和正 而從連續狀光學薄膜將載體薄膜或表面保護薄膜一 s _ 的步驟、在檢查後將代替載體薄膜或代替表面保護薄膜再 度積層的步驟。該等的步驟，是在液晶顯示元件的連續製 造步驟中，爲了一邊保護隨著載體薄膜或表面保護薄膜的 剝離而出現之偏光薄膜的黏著層露出面及無黏著層的面、 一邊進行所存在的缺點檢查，所必須具備的步驟。然而， 該等步驟，不僅會造成將成形後的光學薄膜之正常薄片貼 合於液晶面板之方法或裝置整體變得相當複雜，且會使步 驟數目增多，而要控制各個步驟變得困難。因此，專利文 獻13所記載的發明，存在著不得不犧牲製造速度的缺點 〇 本發明是以上述關聯發明爲基礎，爲了使液晶顯示元 件之連續製造變得可能，且能大幅地提高製造液晶顯示元 件時之製品精度及製造速度，又能根本地改善製品良率， 經由深入探討而開發完成的。 〔專利文獻1〕日本特開2003-161935號公報 〔專利文獻2〕日本特許第3 6丨6 8 ·6 6號公報 〔專利文獻3〕日本特公昭62-1 48 1 0號公報 〔專利文獻4〕日本特開2002-23151號公報 〔專利文獻5〕日本特開2004-144913號公報 -13- 201113601 〔專利文獻6〕日本特開2〇〇5_2982〇8号 〔專利文獻7〕日本特開2006_58411號 〔專利文獻8〕日本特開2〇〇4_361741 « 〔專利文獻9〕日本特許第3974400號: 〔專利文獻10〕日本特開2005_62 1 65号 〔專利文獻11〕日本特開2007-64989号 〔專利文獻12〕日本特開2007-140046 〔專利文獻】3〕日本特開2009-061498 【發明內容】 在V A型液晶面板和I p s型液晶面板方 液晶配向狀態所獲得的視野角特性，TN型 的技術限制，亦即相對於液晶面板的長邊或 須以偏光薄膜的偏光方向成爲45°方向的方 的薄片貼合在液晶面板的表側和背側的面上 是不存在的。因此，採用VA型液晶面板或 板之液晶顯示元件，在連續狀光學薄膜的供 從連續狀光學薄膜切出（朝與進給方向垂直 之偏光薄膜的薄片連續地貼合於液晶面板， 出液晶顯示元件。此外，在連續狀光學薄膜 不中斷供應的狀態下，藉由事前檢查其所含 薄膜而分別切出含有檢測出的缺點之不良薄 之正常薄片，僅將其中的正常薄片供應至與 的位置藉此在液晶顯示元件的連續製造中’ I公報 公報 f公報 ：>報 I公報 t公報 號公報 號公報 面，基於根據 液晶面板特有 短邊方向，必 式將偏光薄膜 之技術限制， IPS型液晶面 應中，藉由將 的方向切斷） 可連續地製造 的供應中，在 的連續狀偏光 片和不含缺點 液晶面板貼合 可大幅提昇製 -14- 201113601 品精度和製造速度，而能大幅改善製品良率。 本發明之目的，是藉由提供以下的手段，亦即，將包 含連續狀偏光薄膜（含有黏著層）和可剝離自如地積層於 黏著層之連續狀載體薄膜之檢查完成的連續狀光學薄膜（ 以下稱爲「連續狀檢查完成光學薄膜」）供應至貼合位置 ’並將含有事前檢查所檢測出之缺點的不良薄片和不含缺 點之正常薄片分別連續地切出。以實現出：在不中斷連續 0 狀檢查完成光學薄膜的供應的狀態下，僅將切出的正常薄 片連續地貼合於液晶面板的手段，如此可大幅提昇液晶顯 示元件連續製造時之製品精度及製造速度，而能大幅改善 製品良率。 上述目的可藉由提供以下的手段來達成。該手段係具 備：儲存有缺點資訊（連續狀光學薄膜所含的連續狀偏光 薄膜經由檢查所檢測出的）之資訊儲存媒體、檢査結束後 賦予識別標識之連續狀檢查完成光學薄膜之積層體捲、以 Φ 及根據缺點資訊（對應於讀取積層體捲上所賦予的識別標 識而從資訊儲存媒體讀出）來求出切斷位置之切斷位置運 算手段。 本發明的第1態樣，是提供液晶顯示元件的連續製造 裝置所使用之資訊儲存讀出運算系統。本資訊儲存讀出運 算系統，是液晶顯示元件的連續製造裝置所使用的資訊儲 存讀出運算系統；該連續製造裝置，是從連續狀光學薄膜 (包含：寬度與既定尺寸的液晶面板的長邊或短邊一致之 含有黏著層的連續狀偏光薄膜、以及可剝離自如地積層於 -15- 201113601 前述黏著層之連續狀載體薄膜）的積層體捲以對應於液晶 面板的長邊或短邊的既定長度切出薄片，並將該薄片貼合 於液晶面板而連續製造出液晶顯示元件。本資訊儲存讀出 運算系統的特徵在於係具備：儲存有缺點的位置資訊（連 續狀光學薄膜所含的連續狀偏光薄膜經由檢査所檢測出的 )之資訊儲存媒體、賦予識別標識之連續狀檢查完成光學 薄膜之積層體捲、以及使用缺點的位置資訊（根據識別標 識而從資訊儲存媒體讀出）和測長資料（根據從積層體捲 送出連續狀檢查完成光學薄膜時的送出量而算出）來決定 不良薄片切斷位置（用來劃定含有缺點的不良薄片）和正 常薄片切斷位置（用來劃定不含缺點的正常薄片）之切斷 位置運算手段。在液晶顯示元件之連續製造裝置藉由使用 本資訊儲存讀出運算系統，根據所運算出的不良薄片切斷 位置及正常薄片切斷位置，對於連續狀檢查完成光學薄膜 ，從與連續狀載體薄膜的相反側以到達連續狀載體薄膜之 黏著層側之面的深度，朝相對於連續狀檢查完成光學薄膜 之進給方向呈垂直的方向進行切入，即可切出偏光薄膜的 正常薄片。 在本發明之一實施形態，連續狀檢查完成光學薄膜係 進一步含有：可剝離自如地積層在連續狀偏光薄膜之非黏 著層側的面上之連續狀表面保護薄膜。 本發明之第2態樣，是提供液晶顯示元件的連續製造 裝置所使用之資訊儲存讀出運算系統之製造方法。本方法 適用於液晶顯示元件的連續製造裝置；該連續製造裝置， -16- 201113601 是從連續狀光學薄膜（包含：寬度與既定尺寸的液晶面板 的長邊或短邊一致之含有黏著層的連續狀偏光薄膜、以及 可剝離自如地積層於前述黏著層之連續狀載體薄膜）的積 層體捲，沿著相對於長邊方向呈垂直方向的線切入而以對 應於液晶面板的長邊或短邊的既定長度切出薄片，並將該 薄片貼合於液晶面板而連續製造出液晶顯示元件。本方法 係包含以下步驟：在連續狀偏光子之至少一面積層連續狀 Φ 保護薄膜而製造連續狀偏光薄膜，檢查連續狀偏光薄膜而 檢測出存在於連續狀偏光薄膜之缺點，在連續狀偏光薄膜 上透過黏著層可剝離自如地積層連續狀載體薄膜而製造出 連續狀檢查完成光學薄膜，生成用來識別連續狀檢查完成 光學薄膜的識別標識並賦予連續狀檢查完成光學薄膜，將 賦予識別標識後的連續狀檢查完成光學薄膜捲取成捲體狀 ，以製造出賦予識別標識之連續狀檢查完成光學薄膜的積 層體捲之步驟；將經由檢查所檢測出之缺點的位置資訊儲 φ 存於事先準備的資訊儲存媒體，以製造出儲存有缺點的位 置資訊之資訊儲存媒體之步驟；以及提供切斷位置運算手 段之步驟；該切斷位置運算手段，是使用缺點的位置資訊 (根據識別標識而從資訊儲存媒體讀出）和測長資料（根 據從積層體捲送出連續狀檢查完成光學薄膜時的送出量而 算出）來決定不良薄片切斷位置（用來劃定含有缺點的不 良薄片）和正常薄片切斷位置（用來劃定不含缺點的正常 薄片）。 在本發明之一實施形態，製造積層體捲之步驟，是進 -17- 201113601 一步包含：在連續狀偏光薄膜之非黏著層側的面上可剝離 自如地積層連續狀表面保護薄膜之步驟。 在本發明之一實施形態，製造積層體捲之步驟是包含 以下步驟之任一者或是其等的組合：藉由反射光來檢査主 要爲連續狀偏光薄膜的表面之步驟；藉由讓從光源照射的 光透過而將存在於連續狀偏光薄膜之缺點以陰影的形式檢 測出之步驟：或是將連續狀偏光薄膜和偏光過濾器以其等 的吸收軸呈正交偏光的方式配置，對其照射來自光源的光 並觀察所透過的光而將存在於連續狀偏光薄膜之缺點以亮 點的形式檢測出之步驟。 本發明之第3態樣，是提供液晶顯示元件的連續製造 裝置所使用之資訊儲存讀出運算系統之其他製造方法。本 方法適用於液晶顯示元件的連續製造裝置；該連續製造裝 置，是從連續狀光學薄膜（包含：寬度與既定尺寸的液晶 面板的長邊或短邊一致之含有黏著層的連續狀偏光薄膜、 以及可剝離自如地積層於前述黏著層之連續狀載體薄膜） 的積層體捲，沿著相對於長邊方向呈垂直方向的線切入而 以對應於液晶面板的長邊或短邊的既定長度切出薄片’並 將該薄片貼合於液晶面板而連續製造出液晶顯示元件。本 方法係包含以下步驟： 準備連續狀擬光學薄膜（包含：含有黏著層之連續狀 偏光薄膜、以及可剝離自如地積層於前述黏著層之連續狀 擬載體薄膜）的捲體，一邊從該捲體送出連續狀擬光學薄 膜一邊將連續狀擬載體薄膜剝離而露出含有黏著層之連續 -18- 201113601 狀偏光薄膜，檢查所露出之含有黏著層的連續狀偏光薄膜 以檢測出存在於含有黏著層之連續狀偏光薄膜之缺點’在 連續狀偏光薄膜之露出的黏著層上可剝離自如地積層連續 狀載體薄膜而製造出連續狀檢查完成光學薄膜，生成用來 識別連續狀檢查完成光學薄膜的識別標識並賦予連續狀檢 查完成光學薄膜，將賦予識別標識後的連續狀檢查完成光 學薄膜捲取成捲體狀，以製造出賦予識別標識之連續狀檢 Φ 查完成光學薄膜的積層體捲之步驟：將經由檢查所檢測出 之缺點的位置資訊儲存於事先準備的資訊儲存媒體，以製 造出儲存有缺點的位置資訊之資訊儲存媒體之步驟；以及 提供切斷位置運算手段之步驟；該切斷位置運算手段，是 使用缺點的位置資訊（根據識別標識而從資訊儲存媒體讀 出）和測長資料（根據從積層體捲送出連續狀檢查完成光 學薄膜時的送出量而算出）來決定不良薄片切斷位置（用 來劃定含有缺點的不良薄片）和正常薄片切斷位置（用來 Φ 劃定不含缺點的正常薄片）。 在本發明之一實施形態，連續狀擬載體薄膜，係在一 面實施脫模處理後塗布含有黏著劑之溶劑後讓其乾燥，以 具有藉此形成出之可轉印的黏著層。 在本發明之一實施形態，連續狀載體薄膜，是在積層 於連續狀偏光薄膜之露出的黏著層之面上實施脫模處理。 在本發明之一實施形態，製造積層體捲之步驟，係進 一步包含：在連續狀偏光薄膜之非黏著層側的面上可剝離 自如地積層連續狀表面保護薄膜之步驟。 -19- 201113601 在本發明之一實施形態’製造積層體捲之步驟是包含 以下步驟之任一者或是其等的組合：藉由反射光來檢查主 要爲連續狀偏光薄膜的表面之步驟；藉由§襄從光源照射的 光透過而將存在於連續狀偏光薄膜之缺點以陰影的形式檢 測出之步驟；或是將連續狀偏光薄膜和偏光過濾器以其等 的吸收軸呈正交偏光的方式配置’對其照射來自光源的光 並觀察所透過的光而將存在於連續狀偏光薄膜之缺點以亮 點的形式檢測出之步驟。 【實施方式】 本說明書中，在一面或兩面積層著連續狀保護薄膜之 連續狀偏光子（polarizer)之待貼合於液晶面板W的一面 上形成有黏著層之連續狀薄膜是稱爲連續狀偏光薄膜，從 通稱爲「偏光板」之該連續狀偏光薄膜成形爲矩形之薄片 是稱爲「偏光薄膜的薄片」或簡稱爲「薄片」。此外，從 與連續狀表面保護薄膜及連續狀載體薄膜形成一體之連續 狀偏光薄膜切出薄片的情況，當必須將該薄片和「偏光薄 膜的薄片」區別時’將其稱爲「光學薄膜的薄片」，從其 所包含的連續狀表面保護薄膜或連續狀載體薄膜切出的薄 片是稱爲「表面保護薄膜的薄片」或「載體薄膜的薄片」 p 以下，參照圖式來詳細說明本發明的實施態樣。 1 .液晶顯示元件之連續製造裝置的構造 -20- 201113601 第3圖係顯示液晶顯示元件之連續製造裝置1的槪略 圖。本裝置1係包含··從積層體捲R將連續狀檢査完成光 學薄膜連續送出之光學薄膜供應裝置1〇〇、搬運液晶面板 (與從連續狀檢查完成光學薄膜切出的偏光薄膜之正常薄 片貼合）之搬運裝置300、以及控制光學薄膜供應裝置 1 〇〇及液晶面板的搬運裝置300全體的動作之控制裝置 4〇〇。連續狀檢查完成光學薄膜之積層體捲R，是在連續 I 狀光學薄膜（包含：寬度與液晶面板的寬度對應之含有黏 著層的連續狀偏光薄膜、以及可剝離自如地積層在黏著層 上之連續狀載體薄膜）上賦予識別標識20的。該識別標 識20，較佳爲和事先儲存於資訊儲存媒體800之缺點資訊 8〇 (連續狀偏光薄膜或含有黏著層的偏光薄膜經由檢查所 檢測出的）相關聯。資訊儲存媒體8 00，如後述般，是儲 存有缺點資訊80(包含在連續狀檢査完成光學薄膜的製造 過程被檢測出的缺點位置）之資訊儲存媒體。作爲資訊儲 φ 存媒體，可使用軟碟、CD、DVD、快閃記憶體、硬碟等。 此外，根據連續狀偏光薄膜或含有黏著層的偏光薄膜經由 檢查所檢測出的缺點位置而生成之缺點資訊80，在積層體 捲R的製造裝置生成缺點資訊8 0後，不透過資訊儲存媒 體8 00，而是通過網際網路或專用線路直接轉送至液晶顯 示元件的連續製造裝置1之記憶裝置420亦可。在此情況 ，記憶裝置420是作爲本發明的資訊儲存媒體而發揮作用 〇 光學薄膜供應裝置100係包含：從連續狀檢查完成光 -21 - 201113601 學薄膜切出偏光薄膜的薄片11”之切斷站A、從切出的偏 光薄膜的薄片11”當中排出不良薄片之排除站C、將正常 薄片貼合於液晶面板之貼合站B。光學薄膜供應裝置100 ，如後述般，將貼合站B和排除站C重複配置亦可。液晶 面板搬運裝置300的詳細內容，是使用第21圖在後面作 說明。控制裝置400，是對應於識別標識讀取裝置1 20對 識別標識20的讀取而從資訊儲存媒體800或控制裝置400 的記億裝置420讀出缺點資訊80，並根據該缺點資訊來運 算應切入連續狀檢査完成光學薄膜的切斷位置。 光學薄膜供應裝置100進一步包含··用來將連續狀檢 査完成光學薄膜的積層體捲R裝設成可旋轉自如之支架裝 置1 1 〇、用來讀取識別標識20之識別標識讀取裝置1 20、 含有一對進給輥（其中一方內置有用來計測連續狀檢查完 成光學薄膜的送出量之編碼器131)之薄膜供應裝置130 、含有累積輥（用來以一定速度供應薄膜）之速度調整裝 置1 40、根據測長資料（依據編碼器1 3 1所算出之連續狀 檢查完成光學薄膜的送出量）及缺點資訊80 (對應於識別 標識20的讀取而被讀出的）而在連續狀檢査完成光學薄 膜上朝與進給方向垂直的方向切入以形成切入線之切斷裝 置1 5 0、用來確認所形成的切入線的位置之切斷位置確認 裝置160、含有進給輥之薄膜供應裝置17〇、含有累積輥 (用來以一定速度供應薄膜）之速度調整裝置180、用來 認識偏光薄膜的不良薄片並從連續狀載體薄膜排除之不良 薄片排除裝置1 90、將以對應於液晶面板的既定長度切出 -22- 201113601 之偏光薄膜的正常薄片從連續狀載體薄膜剝離後貼合於液 晶面板之含有一對貼合輥之貼合裝置2 0 0、用來捲取連續 狀載體薄膜之載體薄膜捲取驅動裝置210、確認偏光薄膜 的正常薄片的前端之邊緣檢測裝置220、以及用來檢測偏 光薄膜的正常薄片的直進位置之直進位置檢測裝置230。 第4圖係顯示’藉由前述裝置所進行之液晶顯示元件的連 續製造裝置1之各製造步驟的流程圖。 2.連續狀檢查完成光學薄膜之積層體捲R的製造 (連續狀檢查完成光學薄膜10的構造） 裝設在光學薄膜供應裝置1〇〇之連續狀檢查完成光學 薄膜，如第2圖所示，是可撓性的連續狀檢查完成光學薄 膜10，其具備：在積層著連續狀保護薄膜之連續狀偏光子 之待貼合於液晶面板的面上形成黏著層1 2之連續狀偏光 薄膜11、積層在連續狀偏光薄膜11之未形成黏著層12的 面上且具有黏著面之連續狀表面保護薄膜13、可剝離自如 地積層在連續狀偏光薄膜11的黏著層12上之連續狀載體 薄膜14。在液晶顯示元件之連續製造裝置1’是使用由該 連續狀檢查完成光學薄膜10捲取成之積層體捲R。尙未 形成黏著層1 2之連續狀偏光薄膜11 ’（爲了與形成有黏著 層12之「含有黏著層之連續狀偏光薄膜11」區別’將尙 未形成黏著層12之連續狀偏光薄膜稱爲「連續狀偏光薄 膜11’」或含有黏著層之連續狀偏光薄膜11，是事前檢查 是否有缺點存在。 -23- 201113601 在製造連續狀檢查完成光學薄膜ι〇的情況’有兩種 檢查方法。其中一種，是在從PVA薄膜所形成的連續狀 偏光子上積層連續狀保護薄膜之連纘狀偏光薄膜11 ’的製 造過程，檢查製造中的連續狀偏光薄膜11’的方法。另外 一種，是使用事先製造準備好的連續狀擬光學薄膜10 ’的 積層體捲R’來進行檢查的方法；該連續狀擬光學薄膜10 ’ 至少包含：含有黏著層之連續狀偏光薄膜1】和可剝離自 如地積層在前述黏著層上之連續狀擬載體薄膜I4’。具體 而言，是一邊從積層體捲R’送出連續狀擬光學薄膜10’一 邊將連續狀擬載體薄膜14’剝離，而對露出的含有黏著層 之連續狀偏光薄膜11進行檢查的方法。連續狀檢査完成 光學薄膜1 0，較佳爲寬度與要貼合的液晶面板之長邊或短 邊相同。此外，積層在連續狀偏光子的一面或兩面上的連 續狀保護薄膜，較佳爲透明保護薄膜。連續狀載體薄膜Μ ，是在液晶顯示元件的製造過程中保護連續狀偏光薄膜11 的黏著層1 2，在將偏光薄膜的正常薄片從連續狀載體薄膜 1 4剝離而貼合於液晶面板時，是被捲取除去的脫離薄膜。 連續狀載體薄膜1 4，在將以對應於液晶面板的既定長度切 出之偏光薄膜的正常薄片搬運到貼合站B爲止具有載體的 功能，在此稱爲「載體薄膜」。 連續狀偏光薄膜11’或含有黏著層之連續狀偏光薄膜 11，例如是經由以下步驟而製造出。首先，將厚度 50~80μπι左右的PVA (聚乙烯醇系）薄膜用碘染色，經由 交聯處理，再對PVA薄膜實施朝縱或橫方向延伸之配向 -24- 201113601 處理。結果，使碘錯合物朝與PVA薄膜延伸方向平行的 方向排列，藉此形成：可吸收具有該方向的振動之偏光而 在與延伸方向平行的方向具有吸收軸之連續狀偏光子。爲 了製作出具有優異的均一性及精度以及優異的光學特性之 連續狀偏光子，PVA薄膜的延伸方向宜與薄膜的縱或橫方 向一致。一般而言，偏光子或含有偏光子之連續狀偏光薄 膜11’的吸收軸，是與連續狀偏光薄膜11’的長邊方向平行 Φ ，偏光軸則是朝向與其垂直的橫向。偏光子厚度爲 2 0〜3 Ομηι。在所製作成的連續狀偏光子的兩面，透過黏著 劑來積層用來保護連續狀偏光子之連續狀保護薄膜。連續 狀保護薄膜，一般大多使用厚度40〜80μπι左右之透明 TAC (三醋酸纖維素系）薄膜。基於液晶顯示元件之薄型 化的觀點，也會有僅在連續狀偏光子的一面貼合連續狀保 護薄膜的情況。最後，在積層著連續狀保護薄膜之連續狀 偏光子的一面上’形成要貼合於液晶面板之丙烯酸系的黏 φ 著層，而製造出含有黏著層之偏光薄膜11。如第2圖所示 ，黏著層的厚度爲10〜3 Ομπι。又含有黏著層之連續狀偏光 薄膜11的厚度，通常爲110〜2 20μιη左右。 連續狀保護薄膜之一方，可取代成具有光學補償功能 之相位差薄膜（使用環烯烴系聚合物、T A C系聚合物等） 。此外’連續狀偏光薄膜1 1 ’，也能在T A C系的透明基材 上賦予：將聚酯系或聚醯亞胺系的聚合物材料施以塗布/ 配向而硬化後的層。此外，要貼合於液晶顯示元件之背光 側之連續狀偏光薄膜1 1 ’的情況，也能在連續狀偏光子的 -25- 201113601 背光側之連續狀保護薄膜上貼合亮度提昇薄膜來附加功能 。此外，關於連續狀偏光薄膜Π ’的構造，在連續狀偏光 子的一面貼合TAC薄膜，在另一面貼合PET薄膜等的各 種變化也已被提出。 連續狀表面保護薄膜13及連續狀載體薄膜14，通常 是使用PET (聚對苯二甲酸乙二醇酯系）薄膜。連續狀表 面保護薄膜13及連續狀載體薄膜14，都是在連續製造液 晶顯示元件之最終步驟之後被剝離除去的所謂製造過程材 料。連續狀表面保護薄膜1 3，是在液晶顯示元件的製造過 程中，用來保護連續狀偏光薄膜11之沒有黏著層的面而 避免其污染或損傷。連續狀載體薄膜14，是用來保護黏著 層之露出面而使用的薄膜。連續狀擬載體薄膜14’也是同 樣的薄膜。 在連續狀偏光薄膜1 1 ’（尙未形成用來貼合於液晶面 板之黏著層）上形成黏著層的方法之一，是在連續狀偏光 薄膜Π ’之要貼合於液晶面板的面上，積層連續狀載體薄 膜1 4 (形成有可轉印的黏著層）。具體的轉印方法如下所 述。首先，在連續狀載體薄膜14的製造過程，在連續狀 偏光薄膜之要貼合於液晶面板的面上所積層之連續狀載體 薄膜14的一面上，實施脫模處理後，在該面上塗布含有 黏著劑的溶劑後讓其乾燥，藉此在連續狀載體薄膜1 4上 形成黏著層。接下來，例如，將含有所形成的黏著層之連 續狀載體薄膜14連續送出，積層在以同樣方式送出的連 續狀偏光薄膜1 1 ’上，藉此在連續狀偏光薄膜1 1 ’上轉印連 -26- 201113601 續狀載體薄膜14的黏著層而形成黏著層12。取代如此般 形成的黏著層，在連續狀偏光薄膜11’之要貼合於液晶面 板的面上直接塗布含有黏著劑之溶劑後讓其乾燥而形成黏 著層1 2亦可。 連續狀表面保護薄膜13,通常是具有黏著面。該黏著 面，不同於連續狀偏光薄膜11的黏著層12,在液晶顯示 元件的製造過程中，在從偏光薄膜的薄片Π”將表面保護 薄膜的薄片（未圖示）剝離除去時，必須和表面保護薄膜 一體地剝離。第2圖（製品圖），是顯示表面保護薄膜的 薄片被剝離除去的狀態。不論在連續狀偏光薄膜1 1上是 否積層有連續狀表面保護薄膜13，在連續狀偏光薄膜11 之目視側保護薄膜的表面上都能實施可獲得防眩等的效果 之表面處理（包括：保護液晶顯示元件的最外面之硬塗層 處理、防眩處理等）。 (積層體捲R之製造） 以下，分別使用第5圖及第6圖、第7圖及第8圖來 說明，液晶顯示元件的連續製造裝置所使用的資訊儲存讀 出運算系統之積層體捲R的製造裝置及方法之第1及第2 實施態樣。液晶顯示元件的連續製造裝置所使用的資訊儲 存讀出運算系統係包含：儲存有連續狀檢查完成光學薄膜 的缺點資訊80之資訊儲存媒體800、賦予與缺點資訊80 相關聯的識別標識20之連續狀檢查完成光學薄膜1 0的積 層體捲R、以及用來運算連續狀檢查完成光學薄膜10的 -27- 201113601 切入位置之切斷位置運算手段。 (第1實施形態） 第5圖係本發明的一實施形態之連續狀檢查完成光學 薄膜之積層體捲R的製造裝置5 00之示意圖。第6圖係對 應於第5圖所示的裝置500，顯示連續狀檢査完成光學薄 膜的積層體捲R之製造方法的流程圖。 第5圖所示的裝置5 00，是包含製造線510〜5 5 0。製 造線5 1 0是製造連續狀偏光子的步驟，製造線520是製造 要積層在連續狀偏光子之連續狀保護薄膜的步驟。製造線 530是包含：在連續狀偏光子上透過黏著劑積層連續狀保 護薄膜而製造連續狀偏光薄膜11’的步驟。製造線540是 包含：在完成缺點檢査後之連續狀偏光薄膜11’的一面上 積層連續狀載體薄膜14(形成有可轉印的黏著層），在另 一面上按照需要可剝離自如地積層連續狀表面保護薄膜1 3 而製造出連續狀檢查完成光學薄膜的步驟。製造線5 5 0是 包含：在連續狀檢查完成光學薄膜賦予識別標識20之後 ，將其捲取而製造積層體捲R的步驟。製造線5 3 0進一步 包含：檢查連續狀偏光薄膜11’是否存在缺點的步驟。製 造線540進一步包含：對連續狀檢査完成光學薄膜賦予識 別標識20的步驟。裝置5 00進一步包含：進行裝置全體 的控制之控制裝置7〇〇。 如第5圖所示，製造線5 10包含以下步驟。亦即，將 PVA薄膜（連續狀偏光子的基材）的捲體51裝設成可旋 -28- 201113601 轉自如，藉由貼合驅動裝置5 60或未圖示的其他驅動裝置 從捲體51送出PVA薄膜，將其實施染色、交聯、延伸處 理後讓其乾燥而製造連續狀偏光子。製造線520包含以下 步驟。亦即，將通常爲透明TAC薄膜（連續狀保護薄膜 的基材）的捲體52裝設成可旋轉自如，藉由貼合驅動裝 置560或未圖示的其他驅動裝置從捲體52送出透明TAC 薄膜，將其實施皂化處理後讓其乾燥而製造連續狀保護薄 ^ 膜。製造線530可包含以下步驟。亦即，在製造線510及 520的終端設置具有一對貼合輥561、562之貼合驅動裝置 5 60，在偏光子和保護薄膜的界面塗布黏著劑（以聚乙烯 醇系樹脂爲主劑），藉由兩個貼合輥以數μπι厚的黏著層 將兩薄膜乾燥黏著而製造連續狀偏光薄膜1·1’（第6圖的 步驟1)。貼合驅動裝置560，爲了從所製造的連續狀偏 光薄膜11’的前端起算之送出量算出測長資料，是將編碼 器組裝於貼合輥之任一者而構成測長裝置570 »藉此可測 φ 定連續狀偏光薄膜11’的送出量（第6圖的步驟2)。貼 合輥561及562，是將連續狀偏光子和連續狀保護薄膜一 邊壓接一邊貼合而製造連續狀偏光薄膜11’。貼合輥561 及562，是與後述的捲取驅動裝置630連動，以送出並連 續供應連續狀偏光薄膜11 ’。 製造線530進一步具備連續狀偏光薄膜π，的檢查站 Μ，是藉由檢查連續狀偏光薄膜11’的表面及內部以檢測 出所存在的缺點（步驟3)。檢查站Μ係具備：檢查連續 狀偏光薄膜11’的表面及內面是否有缺點之檢查裝置580 -29 201113601 。檢査裝置5 8 0 ’如第9圖所不’是進彳了例如反射檢査、 透過檢査、正交偏光透過檢查。在檢查站Μ可具備：所屬 技術領域具有通常知識者所周知之以下三種檢查裝置之任 一者或其等的組合。 第1檢查裝置，是利用光反射來檢測連續狀偏光薄膜 11’的表面之缺點檢查裝置。可檢測出的缺點，如第9圖 所示，是侷限於CCD攝影機可檢測出之表面凹凸、損傷 、不規則。 第2檢査裝置，是讓光源所照射的光，朝連續狀偏光 薄膜11’垂直射入且由光學式檢查單元接收，以將存在於 連續狀偏光薄膜1 1 ’之缺點以陰影的形式檢測出之缺點檢 査裝置。可檢測出的缺點，如第9圖所示，是內部的異物 及形成於內部的氣泡等。 第3檢查裝置，是依據正交偏光條件之缺點檢查裝置 。隨著這種缺點檢査裝置的實用化，連續狀偏光薄膜之缺 點檢査的精度大幅提昇。就大型液晶顯示元件用的連續狀 偏光薄膜而言，通常的傾向是僅使用能通過依據正交偏光 條件之缺點檢查的。其檢查方法如下所述。首先，將作爲 檢查對象之連續狀偏光薄膜Π ’及相對應的偏光過濾器， 以其等的吸收軸成爲正交偏光的方式進行配置。接著，讓 光源發出的光朝連續狀偏光薄膜1 1 ’垂直或傾斜射入，以 在光學式偵測單元前方設置偏光過濾器（相對於連續狀偏 光薄膜11’的吸收軸，偏光過濾器的吸收軸成爲90°)的狀 態，讓光學式偵測單元接收透過連續狀偏光薄膜1 Γ的光 -30- 201113601 ’藉此將存在於連續狀偏光薄膜1 1，之缺點以亮點的形式 檢測出。可檢測出的缺點’如第9圖所示，除了表面凹凸 以外是包含幾乎所有的缺點。 控制裝置700 ’將在檢查站M檢測出的缺點影像予以 處理’而生成與缺點有關的資訊8〇(步驟4)。控制裝置 700進一步將所生成的缺點資訊8〇儲存於記憶裝置720 ( 步驟5)，然後再儲存於資訊儲存媒體8 〇 〇 (步驟i 4 )。 φ 缺點資訊8 0 ’爲了進行缺點資訊8 0的備份，也能儲存在 複數個資訊儲存媒體。缺點資訊80生成後，不透過資訊 儲存媒體800 ’而是通過網際網路或專用線路直接轉送至 液晶顯示元件的連續製造裝置1之記億裝置420亦可。在 此情況’記憶裝置420是作爲本發明的資訊儲存媒體而發 揮作用。 以下說明檢查裝置5 8 0和控制裝置700的關聯性。檢 查裝置5 80，例如具備含有CCD攝影機之影像讀取裝置 φ 581。影像讀取裝置581，是連接於控制裝置700所具備的 資訊處理裝置7 1 0。讓藉由影像讀取裝置5 8 1讀取的影像 資料’和藉由測長裝置570 (連接於資訊處理裝置710) 所計測之測長資料相關聯而進行資訊處理。資訊處理裝置 7 1 0，藉由使影像讀取裝置5 8 1之影像資料和測長裝置5 7 0 之測長資料（根據從連續狀偏光薄膜Μ ’的檢查位置（通 常爲前端位置）起算之送出量）相關聯而進行資訊處理， 以生成關於連續狀偏光薄膜11’的缺點位置之資訊80 (步 驟4 )，並儲存於記億裝置720 (步驟5 )。缺點資訊80 -31 - 201113601 ，至少包含與缺點位置有關的位置資料，也能進一步包含 與缺點種類、缺點大小等有關的資訊。 資訊處理裝置710，接下來生成：用來識別現在製造 的連續狀檢查完成光學薄膜之積層體捲和其他連續狀檢查 完成光學薄膜之積層體捲的識別標識20。識別標識20較 佳爲與缺點資訊80相關聯。該識別標識20，是在液晶顯 示元件的連續製造中，用來從資訊儲存媒體800或記憶裝 置420讀出缺點資訊80。所生成的識別標識20，被賦予 最終製造出的連續狀檢查完成光學薄膜（步驟12)，而製 造成賦予識別標識20之連續狀檢查完成光學薄膜1〇(步 驟1 3 )。識別標識20，可包含與缺點資訊80相關聯之製 造批號、捲體公尺（m )數等的資訊。 當連續狀偏光薄膜11 ’的缺點檢査結束後，必須在連 續狀偏光薄膜U ’的一面上形成爲了貼合於液晶面板之黏 著層12。如第5圖所示，在製造線540，是包含裝設有連 續狀載體薄膜14(事先形成有可轉印的黏著層）之捲體 59之載體薄膜供應裝置5 90。連續狀載體薄膜14，是事前 在載體薄膜的製造線（未圖示）上，使用厚20〜5 Ομπι左右 的PET (聚對苯二甲酸乙二醇酯系）薄膜爲基材而製造的 。在連續狀載體薄膜14的一面上，一般而言，是將PET 薄膜的一面實施脫模處理後，在該面塗布含有丙烯酸系黏 著劑的溶劑後讓其乾燥，藉此形成厚10〜30 μιη之可轉印的 黏著層，並在該黏著層上可剝離自如地積層脫離薄膜。從 載體薄膜供應裝置5 90 —邊剝離脫離薄膜一邊供應連續狀 -32- 201113601 載體薄膜14，藉由一對的載體薄膜貼合輥591及592將其 可剝離自如地積層於連續狀偏光薄膜1 1 ’。藉此，使形成 於連續狀載體薄膜14之黏著層轉印於連續狀偏光薄膜11’ ，而製造出含有黏著層的連續狀偏光薄膜11。 製造線540，也能包含表面保護薄膜供應裝置640, 其是用來在連續狀偏光薄膜11之與連續狀載體薄膜14積 層面相反側的面上，積層具有黏著面之連續狀表面保護薄 φ 膜13。製造線5 40進一步包含裝置620，其是在連續狀偏 光薄膜11上積層連續狀表面保護薄膜13及/或連續狀載 體薄膜14而製造連續狀檢查完成光學薄膜10之後，用來 賦予識別標識20。識別標識20所賦予的位置，較佳爲對 應於連續狀偏光薄膜Π ’之缺點檢查開始位置。 製造線5 5 0，係包含具有一對捲取輥63 1及632之光 學薄膜捲取驅動裝置63 0(步驟13)，是用來在藉由裝置 6 20將識別標識20賦予連續狀檢查完成光學薄膜1 0之後 % ，將其捲取而加工成積層體捲R。又在連續狀偏光子的兩 面積層連續狀保護薄膜的情況，裝置500是包含連續狀保 護薄膜的兩個製造線520、520’（在此省略製造線520，） 。此外，亦可在連續狀保護薄膜的製造線520附加：在連 續狀偏光子上積層連續狀保護薄膜之前，在保護薄膜表面 (非積層面）實施硬塗層處理、防眩處理或防眩光處理之 加工處理線。 (第2實施形態） -33- 201113601 第7圖係顯示本發明的一實施形態之連續狀檢查完成 光學薄膜10之積層體捲R的製造裝置500,之示意圖。第 8圖係對應於第7圖所示的裝置500’，顯示連續狀檢査完 成光學薄膜10之積層體捲R的製造方法之製造步驟的流 程圖。 關於第7圖所示的裝置500,，除了與第1實施形態的 裝置500不同的構造以外，對於同樣構造是使用同一符號 來作說明。裝置500’，是使用事先製造準備好的連續狀擬 光學薄膜10’之積層體捲R’。積層體捲R’，是將至少包含 連續狀偏光薄膜Π (含有黏著層）和可剝離自如地積層於 前述黏著層之連續狀擬載體薄膜14’之連續狀擬光學薄膜 1〇’捲取成捲體狀而構成的積層體捲。在此的連續狀偏光 薄膜11，是在連續狀積層體（在連續狀偏光子上積層連續 狀保護薄膜而構成）上已形成有黏著層之連續狀薄膜，亦 即所謂含有黏著層之連續狀偏光薄膜。連續狀偏光薄膜11 ，是尙未檢測是否存在缺點之缺點檢查前的含有黏著層之 連續狀偏光薄膜，在其黏著層上，可剝離自如地積層用來 保護其之連續狀擬載體薄膜14’。因此，裝置5 00’係包含 :從連續狀擬光學薄膜10’的積層體捲R’（可旋轉自如地 裝設於支架裝置）供應連續狀擬光學薄膜10’之擬光學薄 膜供應線5 1 0 ’、從連續狀擬光學薄膜1 〇 ’剝離連續狀擬載 體薄膜14’而將含有黏著層之連續狀偏光薄膜1 1以露出狀 態供應之偏光薄膜供應線520’。 第2實施形態的裝置500’，是使用事先製造的連續狀 -34- 201113601 擬光學薄膜10’之積層體捲R，。因此，本裝置5〇〇，，當然 不具備連續狀偏光子的製造線及連續狀保護薄膜的製造線 。此外’像第1實施形態的製造線5 3 0那樣，藉由貼合驅 動裝置560之一對貼合輥561及562來在界面塗布黏著劑 而將連續狀偏光子和連續狀保護薄膜施以乾燥黏著之步驟 也是不需要的。與其對應的製造線，如第7圖所示，是連 續狀擬光學薄膜10’之積層體捲R’的供應線510,（第8圖 φ 所示的步驟1 )。在供應線5 1 0 ’具備擬光學薄膜供應驅動 裝置560’（包含：從裝設於支架裝置之積層體捲R’送出 連續狀擬光學薄膜10’之一對的進給輥561，及562’）。 擬光學薄膜供應驅動裝置560’係包含··將編碼器組裝於進 給輥之任一者而構成的測長裝置570’，以計測從連續狀擬 光學薄膜10’的前端起算之送出量而算出測長資料。藉此 ’可測定連續狀擬光學薄膜1 0 ’的送出量（步驟2 )。進 給輥56 1’及5 62’，是與捲取驅動裝置63 0 (將所製造的連 φ 續狀檢查完成光學薄膜10捲取而加工成積層體捲R)連 動，以送出連續狀擬光學薄膜10’而進行連續供應。 第7圖所示之連續狀擬光學薄膜1 0’的供應線5 1 0’， 是藉由擬光學薄膜供應驅動裝置5 60’將含有連續狀擬載體 薄膜1 4 ’之連續狀擬光學薄膜1 〇 ’送入剝離站L。供應線 5 20’係包含剝離站L。在該剝離站L，是藉由擬載體薄膜 剝離裝置65 0從連續狀擬光學薄膜10’剝離連續狀擬載體 薄膜1 4’後，以露出狀態供應含有黏著層之連續狀偏光薄 膜Π。製造線530’係包含：將露出的含有黏著層之連續 -35- 201113601 狀偏光薄膜11送入檢查站μ，以檢測存在於露出的含有 黏著層之連續狀偏光薄膜11之缺點的檢查步驟。第2實 施形態之連續狀檢查完成光學薄膜10之積層體捲R的製 造，是從製造線530’開始。 事先製造之連續狀擬光學薄膜10’之積層體捲R’，在 其製造過程，較佳爲使用形成有可轉印的黏著層之連續狀 擬載體薄膜14’。這是因爲，在裝置5 00’，從積層體捲R’ 送出連續狀擬光學薄膜10’後，從連續狀擬光學薄膜1〇’剝 離連續狀擬載體薄膜1 4’時，可讓剝離自如地形成於連續 狀擬載體薄膜14’之黏著層轉印於連續狀偏光薄膜11’，而 製造出含有黏著層的連續狀偏光薄膜11。製造線53 0’’ 係包含與第1實施形態的裝置5 00所含的檢查站Μ同樣的 檢查站Μ。 在裝置5 00中是否存在缺點之檢查對象爲不含黏著層 之連續狀偏光薄膜11’本身，相對於此，在裝置500’中的 檢查對象是露出狀態的含有黏著層之連續狀偏光薄膜11。 檢查站Μ係包含：檢測含有黏著層之連續狀偏光薄膜11 的表面及內面是否有缺點之檢查裝置580。檢查裝匱580 如第9圖所示，例如是進行反射檢查、透過檢查、正交偏 光透過檢查。檢查站Μ圖包含的檢查裝置，是與上述第1 實施形態的情況相同。控制裝置7 0 0，將在檢查站Μ檢測 出的缺點影像予以處理，而生成與缺點有關的資訊8 0 (步 驟6 )。所生成的缺點資訊80，經由記憶裝置720而儲存 於資訊儲存媒體8 00 (步驟7及步驟16 )。缺點資訊80 ’ -36- 201113601 爲了進行備份也能儲存在複數個資訊儲存媒體。 檢查裝置580和控制裝置700的關聯性是與 形態的裝置500相同。讓藉由影像讀取裝置58 1 像資料，和藉由測長裝置57〇’（連接於資訊處理 )所計測之測長資料相關聯而進行資訊處理。資 置7 1 0，藉由使影像讀取裝置5 8 1之影像資料和 570’之測長資料（根據從連續狀擬光學薄膜10’ $ 學薄膜供應驅動裝置5 60’的位置（通常爲前端位 之送出量）相關聯而進行資訊處理，以生成關於 層的連續狀偏光薄膜1 1的缺點之資訊8 0 (步驟 儲存於記憶裝置720 (步驟7 )。 資訊處理裝置7 1 0接下來生成：用來識別現 連續狀檢查完成光學薄膜之積層體捲和其他連續 成光學薄膜之積層體捲的識別標識20。識別標識 爲與缺點資訊80相關聯。該識別標識20，是在 φ 元件的連續製造中，用來從資訊儲存媒體8 00或 420讀出缺點資訊80。所生成的識別標識20，被 製造出的連續狀檢查完成光學薄膜（步驟14)， 賦予識別標識2 0之連續狀檢查完成光學薄膜1 0 )。識別標識20所賦予的位置，較佳爲對應於 層之連續狀偏光薄膜1 1之缺點檢查開始位置。 20，可包含與缺點資訊80相關聯之製造批號、 (m)數等的資訊。 第2實施形態的製造線540’，係包含裝設有 第1實施 讀取的影 裝置710 訊處理裝 測長裝置 通過擬光 置）起算 含有黏著 6)，並 在製造的 狀檢查完 20較佳 液晶顯示 記憶裝置 賦予最終 而製造成 (步驟1 5 含有黏著 識別標識 捲體公尺 連續狀載 -37- 201113601 體薄膜14的捲體59’之載體薄膜供應裝置590’。連續狀載 體薄膜14，是事前在載體薄膜的製造線（未圖示），以厚 2 0〜5 Ομιη左右的PET (聚對苯二甲酸乙二醇酯）薄膜爲基 材而製造出，並在該PET薄膜的一面實施脫模處理，由於 不須像第1實施形態的製造線540那樣形成可轉印的黏著 層，脫離薄膜是不需要的》從載體薄膜供應裝置5 9 0’供應 之連續狀載體薄膜14，是藉由一對的載體薄膜貼合輥 591’及592’來剝離自如地積層於連續狀偏光薄膜11的黏 著層。第2實施形態的裝置500’之製造線5 5 0，由於具有 與第1實施形態的裝置500相同的構造及功能，在此省略 其說明。 3 .使用資訊儲存讀出運算系統之液晶顯示元件的連續製造 第1 0圖係顯示本發明的一實施形態之資訊儲存讀出 運算系統示意圖。該系統係包含：在第5圖或第7圖所示 的裝置生成之賦予識別標識20之連續狀檢査完成光學薄 膜1 〇的積層體捲R、儲存有缺點資訊8 0之資訊儲存媒體 及/或記憶裝置4 1 0、以及用來運算應切入連續狀檢查 完成光學薄膜10上的位置之切斷位置運算手段415。在此 ’與第4圖的流程圖相關聯，說明本發明的一實施形態之 {吏用資訊儲存讀出運算系統之液晶顯示元件的連續製造方 法及裝置。 (賦予識別標識20之連續狀檢查完成光學薄膜10的送出 -38- 201113601 如上述般製造出之積層體捲R’是裝設在液晶顯示元 件的連續製造裝置1所具備之光學薄膜供應裝置1 〇〇的送 出裝置，從積層體捲R將連續狀檢查完成光學薄膜1〇送 出（第4圖之步驟Π 。送出之光學薄膜1〇的測定長度， 是藉由另外設置在光學薄膜供應裝置100上的編碼器131 而根據光學薄膜的送出量來算出（第4圖的步驟3)。用 _ 來算出測長資料之編碼器’也能設置在光學薄膜供應裝置 1〇〇之支架裝置ιι〇(未圖示）。藉由編碼器131算出的 測長資料，較佳爲儲存於控制裝置400之記憶裝置420。 (識別標識20的種類） 第1 1圖係顯示本發明的一實施形態之連續狀檢查完 成光學薄膜1 〇上所賦予的識別標識20的種類。識別標識 20 ,能夠使用1維或2維碼、1C標籤等，可儲存有用來界 Φ 定連續狀檢查完成光學薄膜1 0之識別資訊（例如批號等 的資料）。 (切斷位置的運算） 在從積層體捲R將賦予識別標識2 0之連續狀檢查完 成光學薄膜1〇(以下簡稱「連續狀檢查完成光學薄膜1〇 」）連續地送出，藉由識別標識讀取裝置1 20讀取連續狀 檢查完成光學薄膜1 0上所賦予的識別標識20 (第4圖的 步驟2 )。接著，對應於識別標識20的讀取而從資訊儲存 -39- 201113601 媒體800或記憶裝置420讀出切斷位置資訊80。資訊處理 裝置410之切斷位置運算手段415，使用所讀出的缺點資 訊80(具體而言是缺點的位置資料）和編碼器131所算出 的測長資料算出：劃定正常薄片X α之正常薄片切斷位置 和劃定不良薄片Χ/3之不良薄片切斷位置。 切斷位置運算手段415，根據缺點位置和連續狀檢查 完成光學薄膜10之測長資料，如下述般求出應形成在連 續狀檢查完成光學薄膜1 0上之切入線位置（切斷位置） 資訊（以下稱「切斷位置資訊」）。在製造液晶顯示元件 時藉由切斷裝置150，相對於所供應的連續狀檢查完成光 學薄膜1 〇進給方向朝橫方向，從與連續狀載體薄膜的相 反側以到達連續狀載體薄膜之黏著層側之面的深度切入該 光學薄膜，以生成切入線。這種切斷方法，也有被稱爲半 切割（half-cut )的情況。所生成的切斷位置資訊，較佳 爲儲存於記憶裝置420。 在由光學薄膜的上游側的切入線和離該切入線既定距 離之下游側的切入線這兩處切入線所形成的區域，包含： 不含缺點之偏光薄膜的正常區域（長度依待貼合之液晶面 板的邊長來決定）、含有缺點之偏光薄膜的不良區域。藉 由兩處的切入線（由切斷裝置1 5 0切出）所形成的偏光薄 膜11之不良區域，成爲會藉由不良薄片排除裝置190從 連續狀檢查完成光學薄膜1〇(具體而言是連續狀載體薄膜 14)排除的不良薄片X/3。同樣的，正常區域成爲：會從 連續狀檢查完成光學薄膜1〇(具體而言是連續狀載體薄膜 -40- 201113601 1 4 )剝離而藉由貼合裝置貼合於液晶面板的一側之正常薄 片X α。 第12圖係顯示，對於所供應的連續狀檢查完成光學 薄膜10’算出切斷位置（用來區分不良區域和正常區域） 的方法之示意圖。第13圖至第15圖係顯示算出所供應的 連續狀檢査完成光學薄膜10的切斷位置之不同方法的流 程圖。此外，第16圖至第18圖係顯示，藉由前述不同方 法所運算出的結果之切斷位置資訊的決定方式。 以下，使用第1 2圖至第1 8圖來詳細說明切斷位置資 訊的運算方法。首先，如上述般，送出連續狀檢查完成光 學薄膜10(第13圖的步驟1)，光學薄膜上所賦予的識 別標識20是藉由識別標識讀取裝置1 20進行讀取（第1 3 圖的步驟2 )。此外，根據連續狀檢査完成光學薄膜1 0的 送出量獲得測長資料。對應於識別標識20的讀取，資訊 處理裝置410從資訊儲存媒體800或記憶裝置420讀出對 應的缺點資訊8 0。 接著，在第13圖的步驟3及步驟4，切斷位置運算手 段41 5根據所讀出的缺點資訊80和測長資料，將光學薄 膜的薄片長度和相當於正常區域的長度χα作比較。首先 ’在步驟3,切斷位置運算手段415運算：從連續狀檢査 完成光學薄膜1 0的某個位置（例如第1 2圖的Α所示的位 置，將此位置設定成第1切斷位置）至缺點位置的距離X 。接著在步驟4，切斷位置運算手段415運算從距離X減 去相當於正常區域的長度xa後的距離（χ-χα ) =x’。相 -41 - 201113601 當於連續狀檢查完成光學薄膜10的正常區域之長度χα， 是根據液晶面板大小而由系統管理者所設定，且事先儲存 於記憶裝置420。接著切斷位置運算手段4 1 5判定：所算 出的距離X’，是比事先儲存於記憶裝置420之相當於光學 薄膜的正常區域長度χα更大或更小。 χ’>χ α時，可在連續狀檢查完成光學薄膜10上確保 正常區域Χα (步驟5)。因此，切斷位置運算手段415 ，將往連續狀檢查完成光學薄膜1〇的上游側離位置A ( 第1切斷位置）距離χα的位置B，決定爲用來形成相當 於正常區域的正常薄片Χα之下個切斷位置（第2切斷位 置）（步驟6)。同樣的，切斷位置運算手段415計算從 第2切斷位置Β減去相當於正常區域的長度χα後的長度 ，當該長度大於χα的情況，將往光學薄膜的上游側離第 2切斷位置Β距離χα的位置C決定爲第3切斷位置，接 下來也是同樣地將位置D決定爲第4切斷位置。 另一方面，x’Sxa時，亦即第12圖所示的X…Sxa 時，無法在連續狀檢查完成光學薄膜10上確保正常區域 Χα。在此情況，切斷位置運算手段415在X’’’加上一定尺 寸Χ〇而算出相當於不良區域XyS之長度（X’’’+X〇) =X召 。亦即從位置D往連續狀檢查完成光學薄膜1 0的上游側 距離X0的位置E，被決定爲用來形成不良薄片Χ/3 (相 當於光學薄膜的不良區域）的切斷位置（步驟6)。 綜上所述，切斷位置運算手段4 1 5，根據缺點資訊8 0 (對應於識別標識20的讀取而從資訊儲存媒體8 00或記 -42- 201113601 億裝置420讀出）和測長資料（根據連續狀檢查完成光學 薄膜10的送出量來算出）進行以下（a)及（b) (a) χ’>χα時，到下個切斷位置爲止的距離=χα (b) x’Sxo：時，到下個切斷位置爲止的距離=( χ’ + χΟ) =χ β 的琿算，將該位置決定爲下個切斷位置。 然而，藉由切斷位置運算手段415進行運算後的結果 φ ’當相當於不良區域的長度（x’+xO ) =x召與相當於正常 區域的長度X α相等時，亦即（x’ + xO ) =x 〇:時，資訊處理 裝置410無法識別或分選正常區域Χα和不良區域χβ。 亦即，不良區域無法以不良區域X /3的形式來被認識，資 訊處理裝置410無法判定該區域是正常區域Χα和不良區 域X 的哪一個。這種事態可想像的情況包括：存在於連 續狀檢查完成光學薄膜10的缺點位置非常接近光學薄膜 的下個切斷位置的情況，遍及相當於正常區域的長度χα φ 缺點連續分布的情況。因此，當（x’+x〇 ) =x α時，資訊 處理裝置4 1 0較佳爲，至少根據以下任一個方法來進行可 識別或分選正常區域X α和不良區域X Θ之資訊處理。 在上述（b )的情況，即使切斷位置運算手段41 5所 算出之到下個切斷位置爲止的距離=(x’+x〇)成爲相當於 正常區域的長度χα，該區域仍不是正常區域Χα。爲了 認識此情況，在本發明之一實施形態，如第1 3圖的步驟5 所示，使分別代表正常區域和不良區域的資料與切斷位置 資訊相關聯。例如，藉由切斷位置運算手段4 1 5運算的結 -43- 201113601 果（x，+xO) =XCK的情況，資訊處理裝置410如第16圖所 示，讓該切斷位置或是前一個切斷位置的任一個，與代表 不良區域的値XT= 1相關聯。另一方面，除此以外的情況 ，亦即χ’>χ α的情況，資訊處理裝置4 1 0讓該切斷位置或 是前一個切斷位置的任一個，與代表正常區域的値ΧΤ = 0 相關聯。又在X θ <χ α的情況也是，讓切斷位置與代表不 良區域的値Χΐ=1相關聯。 在本發明的其他實施形態，當所算出之到下個切斷位 置爲止的距離=(χ’+χ〇)成爲相當於正常區域的長度χα 的情況，切斷位置運算手段41 5如第1 4圖的步驟5所示 ，將運算結果修正爲（x’ + x〇’）（其中，χ0’>χ0)。該方 法如第17圖所示，藉由計算與χα不同之xy3 = (x’+x0’ )，即可識別或分選（x’+x〇’）的長度區域（不良區域X /3 )和正常區域X α。 在在本發明的其他實施形態，當所算出之到下個切斷 位置爲止的距離=(χ’+χ0)成爲相當於正常區域的長度χ α 的情況，切斷位置運算手段41 5如第1 5圖的步驟5所示 ，將運算結果修正爲（x’+x〇)/m ( m = 2以上，較佳爲2或3 )。該方法如第18圖所示，藉由計算與χα不同的x/3 = (x’ + xO) /m’即可識別或分選（x’+x〇) /m的長度區域（ 不良區域X沒）和正常區域Χα。 綜上所述’在本發明’作爲用來識別或分選不良區域 和正常區域的資訊之生成方法，例如可採用以下任一方法 44 - 201113601 (1) 作爲用來識別或分選（x’+x〇)的長度之不良區 域X/3和正常區域Χα的資訊，生成X丫的方法。 (2) 生成與xa不同之到下個切斷位置爲止的距離 = x，+xO，（其中 xO’>xO)的方法。 (3) 生成與χα不同之到下個切斷位置爲止的距離= (x’ + xO) /m(m = 2以上）的方法。 特別是在採用（2 )或（3 )的方法的情況，由於（ φ χ’ + χΟ) =χα經由切斷位置運算手段415修正的結果而變 成（χ’+χΟ’）关χα或（x’+xO) /m妾χα ，因此該等切斷位 置資訊本身，成爲能與正常薄片Χα識別或分選之代表不 良薄片X々的資訊（亦即，相當於（1)方法中的XT資訊 )° 當切斷位置決定後，接著在步驟7，資訊處理裝置 4 1 〇在（1 )的情況，將所決定的到下個切斷位置爲止的長 度與資訊X丫相關聯而儲存於記憶裝置420。在上述（2 ) φ 或（3 )的情況，資訊處理裝置4 1 0，將步驟6所決定之到 下個切斷位置爲止的長度儲存於記憶裝置420。 (切入線的形成） 藉由識別標識讀取裝置1 20來讀取識別標識20之後 ’連續狀檢查完成光學薄膜10被送到切斷站A。切斷裝 置150在第4圖的步驟5，根據切斷位置運算手段415所 決定的切斷位置資訊和光學薄膜的測長資料，在光學薄膜 上依序形成切入線（亦即，切斷裝置1 5 0將光學薄膜施以 -45- 201113601 半切割）。作爲切斷裝置1 5 0，例如可使用雷射切斷裝置 、刀具裝置等公知的裝置。 (切斷位置的確認） 在切斷站A，切斷裝置150根據切斷位置資訊而在光 學薄膜上朝橫方向依序形成切入線。然而，如果依序形成 的切入線的位置不正確的話，將難以提昇液晶顯示元件的 製品精度。因此，在液晶顯示元件的連續製造時，在光學 薄膜上正確地形成切入線是重要的。 第19圖係顯示切斷位置確認裝置160的動作（第4 圖的步驟6)之示意圖。 切斷位置確認裝置1 60是用來確認：在連續狀檢查完 成光學薄膜10上相對於其進給方向朝橫方向形成的切入 線的實際位置、和藉由切斷位置運算手段4 1 5算出的切斷 位置兩者間的偏差。切斷位置確認裝置1 60，從連續狀檢 查完成光學薄膜1〇的進給方向觀察，以前後夾住切斷裝 置1 5 0的方式設置在上游側和下游側。在下游側的切斷位 置確認裝置1 60之更下游側，設置包含進給輥之薄膜供應 裝置1 70，藉此，在形成切入線時暫時停止之連續狀檢查 完成光學薄膜1 〇的供應，能夠再度開始。另一方面，在 上游側的切斷位置確認裝置1 60之更上游側，設置包含累 積輥之速度調整裝置 M0，藉此，即使在形成切入線時讓 連續狀檢査完成光學薄膜1 〇的搬運暫時停止，仍能維持 藉由包含進給輥之薄膜供應裝置1 3 0對連續狀檢查完成光 -46- 201113601 學薄膜1 〇的供應。 相對於連續狀檢查完成光學薄膜10的進給方向朝橫 方向形成的切入線位置，是否與藉由切斷位置運算手段 415算出的切斷位置一致的確認，可藉由求出連續狀檢查 完成光學薄膜10的行進方向（X方向）和橫越方向（Υ 方向）之正確位置來進行。該確認較佳爲，在前後夾住切 斷位置之兩處，計測實際的切斷位置及光學薄膜10的邊 φ 緣（側端部）位置分別相對於各位置的基準線在X方向及 Υ方向的偏差。例如，藉由使用包含CCD攝影機之切斷位 置確認裝置160，拍攝連續狀檢查完成光學薄膜10之切斷 位置及邊緣位置，並將其影像化。在拍攝範圍內事先設置 各個基準線。基準線，是代表藉由切斷位置運算手段4 1 5 算出的切斷位置。依據所拍攝之影像內的對比差來判定連 續狀檢查完成光學薄膜10之切斷位置及邊緣位置。接著 ，算出事先設定的基準線和切斷位置及邊緣位置的距離（ φ 偏差），根據所算出的距離（偏差），修正切斷裝置150 之位置及角度。 具體的說，爲了確認所形成的切入線位置和藉由切斷 位置運算手段4 1 5所決定的切斷位置兩者間的偏差，其檢 查手法之一例可依以下順序進行。 (1 )將切斷位置和兩處的邊緣位置藉由含有CCD攝 影機之切斷位置確認裝置1 60進行拍攝並，根據影像內的 對比差來取得切斷位置X及邊緣位置Υ 1、Υ2。 (2 )在從X方向觀察位於上游側之切斷位置確認裝 -47- 201113601 置1 60的拍攝範圍內所事先設定的沿Y方向延伸的基準線 、和從X方向觀察位於下游側之切斷位置確認裝置1 60的 拍攝範圍內所事先設定的沿Υ方向延伸的基準線兩者的中 間位置，事先設定沿Υ方向延伸之切斷基準位置1 65，將 表示上游側的基準線和下游側的基準線間的距離γ，事先 儲存於記憶裝置420。此外，在從X方向觀察位於下游側 之切斷位置確認裝置1 60的拍攝範圍內，事先設定沿X方 向延伸的基準線。 (3)根據所取得之切斷位置X及邊緣位置Υ1、Υ2 和上述基準線，算出切斷位置的修正量a和切斷角度的修 正量（5。切斷位置的修正量α ，是所計測出的偏差量α ， 也就是切斷位置X和下游側的沿Υ方向延伸之基準線間 的偏差量α。切斷角度的修正量（5，是根據相對於沿X方 向延伸之下游側的基準線及上游側的基準線之偏差量（冷 1及02’亦即’根據從連續狀檢查完成光學薄膜10的邊 緣位置之距離所計測出之Υ方向兩處的偏差量）和兩基準 線間的距離γ，依以下的式子算出。 [數1]
V 人2作厂02 )2 (4 )根據所算出的資料，爲了與沿Υ方向延伸之切 斷位置的基準線一致而應指示切斷裝置150之修正量〇及 占（角度修正6和X方向的位置修正^)，是儲存於記憶 ·* 48 - 201113601 裝置420。 (5) 切斷裝置150，根據所儲存的修正量^及5，爲 了在形成下個切入線時能夠使切入線與基準線一致，進行 朝進給方向之修正及相對於進給方向朝橫方向的角度修正 〇 (6) 然後，切斷裝置150進行動作，以在連續狀檢 查完成光學薄膜1 0上形成下個切入線。 (不良薄片的排除） 藉由切斷裝置150形成切入線後，連續狀檢查完成光 學薄膜1 〇被送到排除站C。在送到排除站C之連續狀檢 查完成光學薄膜10的連續狀載體薄膜14上，被切入線切 斷後之偏光薄膜11的正常薄片Χα和不良薄片X/3是剝 離自如地積層著。排除站C之不良薄片排除裝置190，可 識別或分選連續狀檢查完成光學薄膜10所含的不良薄片 φ X石，而將其從連續狀載體薄膜14剝離並排除（第4圖的 步驟9 )。第20 ( 1 )圖及第20 ( 2 )圖係顯示用來識別或 分選不良薄片X召之不良薄片排除裝置190。不良薄片排 除裝置190，可根據第13圖及第16圖所示的不良薄片的 識別資訊ΧΥ而僅將不良薄片X 予以和正常薄片X α識別 或分選，或是可根據第14圖、第15圖、第17圖及第18 圖所示之正常薄片Χα和不良薄片的長度而將不良薄 片X /3予以識別或分選。 第20(1)圖之不良薄片排除裝置190係包含：可貼 -49- 201113601 附剝離不良薄片X /?(剝離自如地積層在連續狀載體薄膜 1 4上）並將其從連續狀載體薄膜1 4剝離之擬薄膜驅動裝 置191'以及當不良薄片到達連續狀檢查完成光學薄 膜10的搬運路徑之排除起點時產生動作之移動裝置192; 藉由移動裝置192來移動連續狀檢查完成光學薄膜丨〇，使 其接近或遠離擬薄膜驅動裝置191的擬薄膜搬運路徑。 此外’第20 ( 2 )圖之不良薄片排除裝置190，是在 貼合站Β，與含有一對貼合輥的貼合裝置200產生連動的 裝置，係包含：貼附不良薄片ΧΘ並將其從連續狀載體薄 膜1 4剝離之擬薄膜驅動裝置1 9 1、以及構成該擬薄膜驅動 裝置191的擬薄膜搬運路徑之移動輥192。第20(2)圖 的裝置和第20(1)圖的裝置之不同點在於：第20(2) 圖的裝置的特徵在於，在貼合站Β，與貼合裝置200所含 的一對貼合輥近接配置且構成擬薄膜搬運路徑之移動輥 192，是與貼合裝置200的貼合輥產生連動。具體而言， 在貼合站Β，藉由控制裝置400的控制，當不良薄片X召 到達光學薄膜的搬運路徑之終點（亦即排除起點）時讓一 對的貼合輥分離，讓構成擬薄膜搬運路徑之移動輥1 92移 動到分離的貼合輥間之間隙，藉此將移動輥1 92置換成貼 合輥當中一方的輥，而使移動輥1 92和貼合輥當中另一方 的輥產生連動。這時，由於是藉由載體薄膜捲取驅動裝置 21〇來捲取連續狀載體薄膜14，可從連續狀載體薄膜14 將不良薄片剝離，剝離後的不良薄片，是藉由與 貼合輥當中另一方的輥連動之移動輥1 92來貼合於擬薄膜 -50- 201113601 搬運路徑並予以排除。 (液晶面板的搬運及與正常薄片之貼合） 在排除站c不良薄片X/3被除去，在連續狀載 I4上僅存在正常薄片Χα之連續狀檢查完成光學袭 接下來被送到貼合站Β。採用第20(2)圖的排除 其他實施形態，則是將在連續狀載體薄膜1 4上形 常薄片Χα和不良薄片Χ0之光學薄膜送到貼合站 此雖是針對前者的實施形態來說明液晶面板和正常 α的貼合，但關於後者的實施形態也是，除了在貼 將不良薄片X /3排除以外是與前者的實施形態相同 圖係顯示：藉由液晶面板搬運裝置3 00所具備的預 置3 10、對準裝置320、前往貼合位置之搬運裝置 液晶面板邊緣檢測裝置34〇等的各裝置，將姿勢經 液晶面板W搬運至貼合位置。第22圖係顯示正常 α和液晶面板W的貼合裝置200，該貼合裝置係具 來檢測正常薄片X α前端的邊緣部分之邊緣檢測裝 、以及從正常薄片Χα將連續狀載體薄膜14予以 剝離之剝離板2 1 1。 液晶面板W，藉由供應裝置從匣體（可收容多 晶面板）一片一片取出，例如經由洗淨/硏磨後如第 所示，藉由搬運裝置3 00調整成一定間隔及一定速 運到貼合站Β的貼合裝置200。搬運裝置3 00，如負 所示係包含液晶面板姿勢控制裝置，該控制裝置係 體薄膜 I膜10 裝置之 成有正 Β。在 薄片X 合站Β 。第21 對準裝 3 30及 控制之 薄片X 備：用 置 220 銳角地 數個液 21圖 度而搬 I 2 1圖 具備： -51 - 201113601 預對準裝置310、對準裝置3 20、前往貼合位置之搬運裝 置3 3 0以及液晶面板邊緣檢測裝置340 (用來檢測液晶面 板W前端的邊緣部分）。搬運裝置3 00，在正常薄片Χα 被送入貼合站Β時’是與正吊薄片Χα的送入同步地控制 液晶面板W的姿勢。 連續狀載體薄膜14上的正常薄片Χα較佳爲，調整 成一定搬運速度而供應至貼合站Β的貼合裝置200。在貼 合站Β如第21圖或第22圖所示，讓連續狀載體薄膜14 經由剝離板2 1 1進行銳角地折返，以從正常薄片X α剝離 。藉由讓連續狀載體薄膜14銳角地折返，能讓正常薄片 Χα的黏著層逐漸露出。結果，使正常薄片乂《前端的邊 緣部分稍微露出，而使前端的邊緣部分和液晶面板W前 端的邊緣部分容易進行對準。 正常薄片Χα前端的邊緣部分，從貼合裝置200之一 對貼合輥呈上下分離狀態下的間隙露出。正常薄片X 〇：， 雖是以積層於連續狀載體薄膜1 4的狀態被送出，但相對 於連續狀載體薄膜14長邊方向之進給方向的角度0，以 Θ =〇的方式進行正確送出的情況較少。於是例如使用邊 緣檢查裝置220及直進位置檢測裝置2 3 0的CCD攝影機 來拍攝正常薄片Χα並將其影像化，藉此將正常薄片χα 之進給方向及橫方向的偏差量，使用長邊方向的距離X、 與長邊方向正交的方向之距離y、及相對於長邊方向的角 度0來算出（第4圖的步驟10)。 另一方面，從搬出裝置以一定間隔及一定速度依序供 -52- 201113601 應液晶面板w，每一片送來的液晶面板W，是藉由第2 1 圖所示的液晶面板搬運裝置3 00來控制其姿勢。關於該姿 勢控制是參照第2 1圖來作說明。 液晶面板W，藉由預對準裝置3 1 0依序以其縱及橫分 別對準搬運路徑的進給方向及與其垂直的方向之方式進行 大致定位（第4圖的步驟12)。接著，液晶面板W被搬 運到對準裝置320 (含包可轉動之對準台321)。裝載於 $ 對準台32 1之液晶面板W前端的邊緣部分，是藉由邊緣 檢測裝置340進行檢測（第4圖的步驟1 3 )。前端之邊緣 部分的位置，是與記憶裝置420所儲存的基準貼合位置（ 具體而言，是使用代表所供應的正常薄片Χα的姿勢之X 、y、0來算出之資料）進行比對。例如，使用第1圖所 示之液晶面板W的對準標記，測定該位置和基準貼合位 置間的位置偏差量，算出偏差角0，使對準台321轉動0 (第4圖的步驟14)。接著，將對準台321連接於前往貼 φ 合站B之搬運裝置3 30 »液晶面板W，藉由前往貼合站B 之搬運裝置3 3 0維持相同姿勢送往貼合裝置200，液晶面 板W前端之邊緣部分，與偏光薄膜的正常薄片χα前端之 邊緣部分對準而重疊在一起（第4圖的步驟15)。最後， 對準後之正常薄片X α和液晶面板W藉由一對的貼合輥進 行壓接（第4圖的步驟1 6 )而完成液晶顯示元件。 在本發明之方法及裝置，正常薄片Χα，由於是藉由 以拉伸狀態供應的連續狀檢查完成光學薄膜1 〇而與連續 狀載體薄膜14 —體地供應至液晶面板W的貼合裝置200 -53- 201113601 ，正常薄片Χα的周緣不容易發生彎曲或下垂，因此正常 薄片X α不致發生撓曲或彎曲。所以，要使液晶面板w的 姿勢與送入貼合站Β之正常薄片χα—致變容易，可謀求 液晶顯示元件之製造高速化及液晶顯示元件之高精度化。 這樣的方法及裝置，習知之逐片型薄片製造方法及裝置（ 對於每一片的逐片型薄片，將剝離片剝離後露出黏著層， 吸附搬運至與液晶面板W的貼合位置，與液晶面板W對 準、重疊、貼合而完成液晶顯示元件的情況）根本就無法 採用。 本發明，雖是針對較佳實施形態進行相關的記載，但 所屬技術領域具有通常知識者，在不脫離本發明的範圍內 可進行各種變更，而用均等物來替代相關的要素，這是能 夠理解的。因此，本發明並不限定於所揭示的特定實施態 樣（爲了實施本發明所考慮之最佳實施態樣），而是包含 申請專利範圍所涵蓋之全部的實施形態。 【圖式簡單說明】 第1圖係畫面尺寸爲對角42吋的大型電視用液晶顯 示元件之例。 第2圖係顯示本發明的液晶顯示元件之製造所使用之 連續狀光學薄膜構造 '以及將從連'續狀光學薄膜切出@偏 光薄膜之薄片貼合而構成的液晶顯示元件。 第3圖係顯示’使用本發明的—實施形態之資訊儲存 讀出運算系統之 '液晶顯斥1元件連'續製造裝置2丨旣^ Η ° -54- 201113601 第4圖係第3圖所示的裝置之製造步驟的流程圖。 第5圖係顯示本發明的一實施形態之賦予識別標識（ 與儲存於資訊儲存媒體之缺點資訊相關聯）的連續狀檢查 完成光學薄膜之積層體捲R的製造裝置° 第6圖係第5圖所示的裝置之製造步驟的流程圖。 第7圖係顯示本發明的其他實施形態之賦予識別標識 (與儲存於資訊儲存媒體之缺點資訊相關聯）的連續狀檢 查完成光學薄膜之積層體捲R的製造裝置° 第8圖係第7圖所示的裝置之製造步驟的流程圖。 第9圖係顯示缺點檢查裝置、缺點種類和缺點檢查方 法之表。 第10圖係顯示本發明的一實施形態之包含賦予識別 標識（與儲存於資訊儲存媒體之缺點資訊相關聯）的連續 狀檢査完成光學薄膜之積層體捲R和切斷位置運算手段之 資訊儲存讀出運算系統。 第1 1圖係顯示本發明的一實施形態之連續狀檢查完 成光學薄膜上所賦予的識別標識的種類。 第12圖係顯示：對於所供應的連續狀檢查完成光學 薄膜，算出切入線形成位置（用來區分不良區域和正常區 域）的方法。 第1 3圖係顯示：對於所供應的連續狀檢查完成光學 薄膜算出切入線形成位置的方法之流程圖。 第1 4圖係顯示：對於所供應的連續狀檢査完成光學 薄膜算出切入線形成位置的其他方法之流程圖。 -55- 201113601 第15圖係顯示：對於所供應的連續狀檢查完成光學 薄膜算出切入線形成位置的其他方法之流程圖。 第16圖係顯示，作爲第13圖所示的方法的運算結果 所生成的切斷位置資訊。 第1 7圖係顯示，作爲第1 4圖所示的方法的運算結果 所生成的切斷位置資訊。 第18圖係顯示，作爲第15圖所示的方法的運算結果 所生成的切斷位置資訊。 第19圖係顯不：在含有本發明的一實施形態之資訊 儲存讀出運算系統之液晶顯示元件連續製造裝置中，切斷 位置確認裝置的動作。 第20( 1) (2)圖係顯示：在含有本發明的一實施形 態之資訊儲存讀出運算系統之液晶顯示元件連續製造裝置 中，用來識別或分選不良薄片而進行動作之不良薄片排除 裝置。 第2 1圖係顯示：在含有本發明的一實施形態之資訊 儲存讀出運算系統之液晶顯示元件連續製造裝置中，將姿 勢經控制後的液晶面板搬運到貼合裝置。 第2 2圖係顯示：在本發明的~實施形態之液晶顯示 元件連續製造裝置中，正常薄片和液晶面板的貼合裝置。 【主要元件符號說明】 1 :液晶顯示元件的連續製造裝置 10:連續狀檢查完成光學薄膜 -56- 201113601 ι〇’：連續狀擬光學薄膜 11 :含有黏著層之連續狀偏光薄膜 11’：尙未形成黏著層之連續狀偏光薄膜 1 2 ’·黏著層 13:連續狀表面保護薄膜 1 4 =連續狀載體薄膜 14’：連續狀擬載體薄膜 20 :識別標識 8 0 :切斷位置資訊 100 :光學薄膜供應裝置 1 10 :支架裝置 120:識別標識讀取裝置 130、170:薄膜供應裝置 131 :編碼器 140、180 :速度調整裝置 150 :切斷裝置 160 :切斷位置確認裝置 190:不良薄片排除裝置 2 0 0 ·貼合裝置 2 1 〇 :載體薄膜捲取驅動裝置 220 :邊緣檢測裝置 23 0 =直進位置檢測裝置 3 00 :液晶面板搬運裝置 4 0 0 :控制裝置 -57- 201113601 4 1 0 :資訊處理裝置 4 1 5 :切斷位置運算手段 420 :記憶裝置 5 0 0 :第1實施形態之資訊儲存讀出運算系統所使用 的積層體捲之製造裝置 5 00,：第2實施形態之資訊儲存讀出運算系統所使用 的積層體捲之製造裝置 5 1 0 :偏光子的製造線 5 1 0 ’ ：擬光學薄膜供應線 5 20 :保護薄膜的製造線 520’：露出之含有黏著層的偏光薄膜之供應線 530:連續狀偏光薄膜的檢查線 530’：含有黏著層的連續狀偏光薄膜的檢查線 5 40、5 40’ ：賦予識別標識之連續狀檢查完成光學薄 膜的製造線 5 50 :積層體捲R的製造線 560 :貼合驅動裝置 560’ ：擬光學薄膜供應驅動裝置 5 7 0、5 7 0 ’ ：組裝有編碼器之測長裝置 5 80 :檢查裝置 5 8 1 :影像讀取裝置 590、590’：載體薄膜供應裝置 6 2 0 :識別標識印字裝置 63 0 :捲取驅動裝置 201113601 640 :表面保護薄膜貼合裝置 65 0 :擬載體薄膜捲取驅動裝置 700 :控制裝置 7 1 0 :資訊處理裝置 720 :記億裝置 800 :資訊儲存媒體
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