RU2011106755A - Подложка активной матрицы, дисплейное устройство, способ проверки подложки активной матрицы и способ проверки дисплейного устройства - Google Patents

Подложка активной матрицы, дисплейное устройство, способ проверки подложки активной матрицы и способ проверки дисплейного устройства Download PDF

Info

Publication number
RU2011106755A
RU2011106755A RU2011106755/08A RU2011106755A RU2011106755A RU 2011106755 A RU2011106755 A RU 2011106755A RU 2011106755/08 A RU2011106755/08 A RU 2011106755/08A RU 2011106755 A RU2011106755 A RU 2011106755A RU 2011106755 A RU2011106755 A RU 2011106755A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
interconnects
active matrix
interconnect
display device
matrix substrate
Prior art date
Application number
RU2011106755/08A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2475866C2 (ru
Inventor
Масахиро ЙОСИДА (JP)
Масахиро Йосида
Такехико КАВАМУРА (JP)
Такехико КАВАМУРА
Кацухиро ОКАДА (JP)
Кацухиро ОКАДА
Original Assignee
Шарп Кабусики Кайся (Jp)
Шарп Кабусики Кайся
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Шарп Кабусики Кайся (Jp), Шарп Кабусики Кайся filed Critical Шарп Кабусики Кайся (Jp)
Publication of RU2011106755A publication Critical patent/RU2011106755A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2475866C2 publication Critical patent/RU2475866C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/0004—Devices characterised by their operation
    • H01L33/0041—Devices characterised by their operation characterised by field-effect operation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
    • H01L22/14—Measuring as part of the manufacturing process for electrical parameters, e.g. resistance, deep-levels, CV, diffusions by electrical means
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13456—Cell terminals located on one side of the display only
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254—Checking; Testing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421—Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426—Layout of electrodes and connections
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00—Command of the display device
    • G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264—Details of driving circuits
    • G09G2310/0278—Details of driving circuits arranged to drive both scan and data electrodes
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3648—Control of matrices with row and column drivers using an active matrix
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

1. Подложка активной матрицы, содержащая: ! множество первых межсоединений, сформированных параллельно друг другу в области отображения; ! множество вторых межсоединений, сформированных параллельно друг другу, и так, чтобы пересекать множество первых межсоединений в области отображения; ! множество первых контактных выводов, размещенных в области размещения контактных выводов; ! множество вторых контактных выводов, размещенных в области размещения контактных выводов; ! множество первых выбирающих межсоединений, соединяющих множество первых межсоединений и множество первых контактных выводов, соответственно, и ! множество вторых выбирающих межсоединений, соединяющих множество вторых межсоединений и множество вторых контактных выводов, соответственно, ! при этом множество первых выбирающих межсоединений включает в себя множество третьих выбирающих межсоединений и множество четвертых выбирающих межсоединений, причем третьи выбирающие межсоединения сформированы в слое, идентичном слою, в котором сформированы первые межсоединения, по меньшей мере, часть четвертых межсоединений сформирована в слое, отличном от слоя, в котором сформированы первые межсоединения с размещенным между ними изоляционным материалом, причем и третьи выбирающие межсоединения и четвертые выбирающие межсоединения сформированы попеременно в расчете на межсоединения в области периферийных межсоединений, которая отличается от области отображения и области размещения контактных выводов, и ! при этом подложка активной матрицы содержит: ! множество первых соединительных межсоединений, подключенных к множеству первых контакт

Claims (20)

1. Подложка активной матрицы, содержащая:
множество первых межсоединений, сформированных параллельно друг другу в области отображения;
множество вторых межсоединений, сформированных параллельно друг другу, и так, чтобы пересекать множество первых межсоединений в области отображения;
множество первых контактных выводов, размещенных в области размещения контактных выводов;
множество вторых контактных выводов, размещенных в области размещения контактных выводов;
множество первых выбирающих межсоединений, соединяющих множество первых межсоединений и множество первых контактных выводов, соответственно, и
множество вторых выбирающих межсоединений, соединяющих множество вторых межсоединений и множество вторых контактных выводов, соответственно,
при этом множество первых выбирающих межсоединений включает в себя множество третьих выбирающих межсоединений и множество четвертых выбирающих межсоединений, причем третьи выбирающие межсоединения сформированы в слое, идентичном слою, в котором сформированы первые межсоединения, по меньшей мере, часть четвертых межсоединений сформирована в слое, отличном от слоя, в котором сформированы первые межсоединения с размещенным между ними изоляционным материалом, причем и третьи выбирающие межсоединения и четвертые выбирающие межсоединения сформированы попеременно в расчете на межсоединения в области периферийных межсоединений, которая отличается от области отображения и области размещения контактных выводов, и
при этом подложка активной матрицы содержит:
множество первых соединительных межсоединений, подключенных к множеству первых контактных выводов, соответственно, к которым подключено множество третьих выбирающих межсоединений, соответственно;
множество вторых соединительных межсоединений, подключенных к множеству первых контактных выводов, соответственно, к которым подключено множество четвертых выбирающих межсоединений, соответственно;
множество объединенных межсоединений, каждое из которых состоит из взаимно смежных первых соединительных межсоединений и вторых соединительных межсоединений, объединенных друг с другом;
причем первое общее межсоединение, по существу, соединяет объединенные межсоединения, которые не смежны друг с другом, из множества объединенных межсоединений; и
второе общее межсоединение, по существу, соединяет объединенные межсоединения, которые не смежны друг с другом и не подключены к первому общему межсоединению, из множества объединенных межсоединений.
2. Подложка активной матрицы по п.1,
в которой множество первых соединительных межсоединений и множество вторых соединительных межсоединений обрезаны так, что электрическая непрерывность не устанавливается между множеством первых контактных выводов, к которым подключено множество третьих выбирающих межсоединений, соответственно, и множеством первых контактных выводов, к которым подключено множество четвертых выбирающих межсоединений, соответственно.
3. Подложка активной матрицы по п.1,
в которой резистивный элемент подключен к, по меньшей мере, одному из взаимно смежных первого соединительного межсоединения и второго соединительного межсоединения.
4. Подложка активной матрицы по п.3,
в которой резистивный элемент подключен к каждому из взаимно смежных первого соединительного межсоединения и второго соединительного межсоединения.
5. Подложка активной матрицы по п.4,
в которой резистивный элемент, подключенный к первому соединительному межсоединению, и резистивный элемент, подключенный ко второму соединительному межсоединению, имеют практически идентичное значение сопротивления.
6. Подложка активной матрицы по п.3,
в которой каждое из множества объединенных межсоединений обрезано.
7. Подложка активной матрицы по п.4,
в которой каждое из множества объединенных межсоединений обрезано.
8. Подложка активной матрицы по п.5,
в которой каждое из множества объединенных межсоединений обрезано.
9. Подложка активной матрицы по любому из пп.1-8,
в которой первые межсоединения являются межсоединениями затвора, а вторые межсоединения являются межсоединениями истока.
10. Подложка активной матрицы по любому из пп.1-8,
в которой первые межсоединения являются межсоединениями истока, а вторые межсоединения являются межсоединениями затвора.
11. Дисплейное устройство, содержащее подложку активной матрицы по любому из пп.1-8.
12. Дисплейное устройство, содержащее подложку активной матрицы по п.9.
13. Дисплейное устройство, содержащее подложку активной матрицы по п.10.
14. Дисплейное устройство по п.11, в котором дисплейное устройство является жидкокристаллическим дисплейным устройством.
15. Дисплейное устройство по п.12, в котором дисплейное устройство является жидкокристаллическим дисплейным устройством.
16. Дисплейное устройство по п.13, в котором дисплейное устройство является жидкокристаллическим дисплейным устройством.
17. Способ проверки подложки активной матрицы по п.1, содержащий этапы, на которых:
проверяют третьи выбирающие межсоединения и четвертые выбирающие межсоединения посредством ввода взаимно независимых сигналов проверки в первое общее межсоединение и второе общее межсоединение; и
обрезают множество первых соединительных межсоединений и множество вторых соединительных межсоединений после этапа проверки.
18. Способ проверки дисплейного устройства, включающего в себя подложку активной матрицы по п.1, содержащий этапы, на которых:
проверяют третьи выбирающие межсоединения и четвертые выбирающие межсоединения посредством ввода взаимно независимых сигналов проверки в первое общее межсоединение и второе общее межсоединение; и
обрезают множество первых соединительных межсоединений и множество вторых соединительных межсоединений после этапа проверки.
19. Способ проверки подложки активной матрицы по любому из пп.3-5, содержащий этапы, на которых:
проверяют третьи выбирающие межсоединения и четвертые выбирающие межсоединения посредством ввода взаимно независимых сигналов проверки в первое общее межсоединение и второе общее межсоединение; и
обрезают множество объединенных межсоединений после этапа проверки.
20. Способ проверки дисплейного устройства, включающего в себя подложку активной матрицы по любому из пп.3-5, содержащий этапы, на которых:
проверяют третьи выбирающие межсоединения и четвертые выбирающие межсоединения посредством ввода взаимно независимых сигналов проверки в первое общее межсоединение и второе общее межсоединение; и
обрезают множество объединенных межсоединений после этапа проверки.
RU2011106755/08A 2008-07-23 2009-05-11 Подложка активной матрицы, дисплейное устройство, способ проверки подложки активной матрицы и способ проверки дисплейного устройства RU2475866C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008-190148 2008-07-23
JP2008190148 2008-07-23
PCT/JP2009/058777 WO2010010750A1 (ja) 2008-07-23 2009-05-11 アクティブマトリクス基板、表示装置、アクティブマトリクス基板の検査方法、および表示装置の検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2011106755A true RU2011106755A (ru) 2012-08-27
RU2475866C2 RU2475866C2 (ru) 2013-02-20

Family

ID=41570217

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011106755/08A RU2475866C2 (ru) 2008-07-23 2009-05-11 Подложка активной матрицы, дисплейное устройство, способ проверки подложки активной матрицы и способ проверки дисплейного устройства

Country Status (8)

Country Link
US (2) US8502227B2 (ru)
EP (2) EP2317492B1 (ru)
JP (2) JP4982609B2 (ru)
KR (1) KR101247023B1 (ru)
CN (1) CN102099847B (ru)
BR (1) BRPI0917025A2 (ru)
RU (1) RU2475866C2 (ru)
WO (1) WO2010010750A1 (ru)

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BRPI0917025A2 (pt) * 2008-07-23 2016-02-16 Sharp Kk substrato de matriz ativo, dispositivo de exibição, método para inspecionar o substrato de matriz ativa, e método para inspecionar o dispositivo de exibição
US9276019B2 (en) * 2011-07-19 2016-03-01 Sharp Kabushiki Kaisha Method of manufacturing element substrate
KR101947163B1 (ko) 2012-02-10 2019-02-13 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
KR20140064553A (ko) * 2012-11-20 2014-05-28 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법
KR102025835B1 (ko) * 2012-11-26 2019-11-27 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치
TWI505010B (zh) * 2013-11-12 2015-10-21 E Ink Holdings Inc 主動元件陣列基板
US9785032B2 (en) 2013-11-12 2017-10-10 E Ink Holdings Inc. Active device array substrate and display panel
KR102231898B1 (ko) * 2013-12-13 2021-03-25 엘지디스플레이 주식회사 표시장치 및 표시패널
KR102196179B1 (ko) * 2013-12-31 2020-12-29 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이 장치 및 그의 제조방법
KR20150084127A (ko) 2014-01-13 2015-07-22 삼성디스플레이 주식회사 표시 기판, 표시 기판의 제조 방법 및 이를 포함하는 표시 장치
JP6370057B2 (ja) * 2014-02-20 2018-08-08 三菱電機株式会社 アレイ基板およびアレイ基板の検査方法
WO2016185642A1 (ja) 2015-05-21 2016-11-24 パナソニック液晶ディスプレイ株式会社 表示パネル
KR102412675B1 (ko) * 2015-06-03 2022-06-24 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이의 구동 방법
KR102490891B1 (ko) * 2015-12-04 2023-01-25 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN105469731A (zh) * 2016-01-28 2016-04-06 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、电学老化方法、显示装置及其制作方法
JP6805604B2 (ja) * 2016-07-26 2020-12-23 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置および電子機器
CN109390352A (zh) * 2017-08-09 2019-02-26 昆山国显光电有限公司 阵列基板及其制造方法、显示面板及其制造方法
KR102392373B1 (ko) * 2017-08-24 2022-04-29 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN108052462B (zh) * 2017-12-20 2019-12-10 苏州华兴源创科技股份有限公司 一种oled基板识别***与方法
US10852591B2 (en) * 2018-06-29 2020-12-01 Sharp Kabushiki Kaisha Image display device
KR20200053720A (ko) * 2018-11-08 2020-05-19 삼성디스플레이 주식회사 표시장치
KR20200057141A (ko) * 2018-11-15 2020-05-26 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN109830197B (zh) * 2019-01-17 2022-03-15 昆山国显光电有限公司 一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置
KR20210005352A (ko) 2019-07-03 2021-01-14 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
TWI742519B (zh) * 2019-07-26 2021-10-11 友達光電股份有限公司 可撓性顯示裝置及其製造方法
CN111736380A (zh) * 2019-07-26 2020-10-02 友达光电股份有限公司 显示面板及其制造方法
KR102269139B1 (ko) * 2019-09-20 2021-06-25 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치
KR102182538B1 (ko) * 2019-09-20 2020-11-25 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치
CN111508858B (zh) * 2020-05-06 2022-11-08 中国电子科技集团公司第四十四研究所 Emccd倍增区电极短路的检测方法
US11415854B2 (en) * 2020-06-29 2022-08-16 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3010800B2 (ja) * 1991-07-16 2000-02-21 日本電気株式会社 液晶表示装置及び液晶表示パネル
JP2758105B2 (ja) * 1992-04-28 1998-05-28 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板の検査方法及び検査装置
US5426447A (en) 1992-11-04 1995-06-20 Yuen Foong Yu H.K. Co., Ltd. Data driving circuit for LCD display
JP3315834B2 (ja) 1995-05-31 2002-08-19 富士通株式会社 薄膜トランジスタマトリクス装置及びその製造方法
JP3251474B2 (ja) 1995-09-06 2002-01-28 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板
JP3276557B2 (ja) 1996-05-23 2002-04-22 三菱電機株式会社 液晶表示装置
JPH09329796A (ja) * 1996-06-10 1997-12-22 Hitachi Ltd 液晶表示基板
JPH11119683A (ja) * 1997-10-13 1999-04-30 Fujitsu Ltd 液晶表示パネルの検査方法
JP5053479B2 (ja) 2000-09-14 2012-10-17 株式会社ジャパンディスプレイセントラル マトリクスアレイ基板及びその製造方法
JP2002116453A (ja) * 2000-10-05 2002-04-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶画像表示装置とその製造方法、および画像検査方法
KR100769160B1 (ko) * 2000-12-29 2007-10-23 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치의 테스트 패드
JP2002328627A (ja) * 2001-04-27 2002-11-15 Seiko Epson Corp 表示装置の検査方法
JP2002341377A (ja) 2001-05-15 2002-11-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄膜トランジスタアレイ基板
JP3977061B2 (ja) 2001-11-21 2007-09-19 シャープ株式会社 液晶表示装置及びその欠陥修復方法
JP4006284B2 (ja) * 2002-07-17 2007-11-14 株式会社 日立ディスプレイズ 液晶表示装置
KR100923056B1 (ko) 2002-09-16 2009-10-22 삼성전자주식회사 표시 장치 및 이의 제조방법
KR100895311B1 (ko) * 2002-11-19 2009-05-07 삼성전자주식회사 액정 표시 장치 및 그 검사 방법
JP2004325956A (ja) * 2003-04-25 2004-11-18 Sharp Corp 表示装置及びその製造方法
JP4178090B2 (ja) * 2003-09-19 2008-11-12 シャープ株式会社 電極配線基板および表示装置
US7205209B2 (en) * 2004-05-11 2007-04-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Fabrication of stacked dielectric layer for suppressing electrostatic charge buildup
WO2005116745A1 (en) * 2004-05-27 2005-12-08 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate, method for correcting a pixel deffect therein and manufacturing method thereof
KR100692691B1 (ko) * 2004-10-26 2007-03-14 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정표시장치
JP4667846B2 (ja) * 2004-12-10 2011-04-13 三菱電機株式会社 薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法
JP2007219046A (ja) * 2006-02-15 2007-08-30 Epson Imaging Devices Corp 液晶表示パネル
JP2007256540A (ja) * 2006-03-22 2007-10-04 Sharp Corp 液晶表示装置の検査方法、及び液晶表示装置
CN101443700B (zh) 2006-07-31 2011-05-04 夏普株式会社 有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法
BRPI0912347A2 (pt) * 2008-05-16 2015-10-13 Sharp Kk substrato de matriz ativa, dispositivo de exibição, método para inspecionar substrato de matriz ativa, e método para inspecionar dispositivo de exibição
BRPI0917025A2 (pt) * 2008-07-23 2016-02-16 Sharp Kk substrato de matriz ativo, dispositivo de exibição, método para inspecionar o substrato de matriz ativa, e método para inspecionar o dispositivo de exibição

Also Published As

Publication number Publication date
KR20110031503A (ko) 2011-03-28
JP5438798B2 (ja) 2014-03-12
EP2797069A1 (en) 2014-10-29
US8502227B2 (en) 2013-08-06
JP2012177927A (ja) 2012-09-13
JPWO2010010750A1 (ja) 2012-01-05
EP2317492A4 (en) 2011-12-21
WO2010010750A1 (ja) 2010-01-28
EP2797069B1 (en) 2019-07-10
US20130299850A1 (en) 2013-11-14
CN102099847A (zh) 2011-06-15
US9299877B2 (en) 2016-03-29
EP2317492A1 (en) 2011-05-04
RU2475866C2 (ru) 2013-02-20
CN102099847B (zh) 2013-03-13
BRPI0917025A2 (pt) 2016-02-16
EP2317492B1 (en) 2014-05-14
US20110127536A1 (en) 2011-06-02
KR101247023B1 (ko) 2013-03-25
JP4982609B2 (ja) 2012-07-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2011106755A (ru) Подложка активной матрицы, дисплейное устройство, способ проверки подложки активной матрицы и способ проверки дисплейного устройства
CN102789076B (zh) 一种检测线路及液晶显示面板的制作方法
US20090250255A1 (en) Connections for electronic devices on double-sided circuit board
WO2006104879A3 (en) Apparatus, system and method for testing electronic elements
KR20120129805A (ko) 칩 크랙 검출 구조를 갖는 반도체 디바이스
KR20130044048A (ko) 반도체 웨이퍼 및 이를 이용한 스택 패키지 제조방법
CN104795382A (zh) 半导体封装
ATE440290T1 (de) System zum testen und einbrennen integrierter schaltungen
CN103887264B (zh) 预空间变换器、空间变换器、以及半导体装置检查设备
CN104849880B (zh) 显示器面板teg测试组件及其形成方法和测试方法
CN113383241B (zh) 显示基板的扇出走线的断路检测方法及显示基板
US8179155B2 (en) Layout structure of electronic elements and method for addressing to detect electronic elements
JP2010537187A5 (ru)
TWI484254B (zh) 光調變面板之母板、光調變面板及立體顯示裝置
CN105874584A (zh) 使用临时牺牲接合焊盘测试半导体晶片的方法
CN212625492U (zh) 一种led芯片检测装置
KR101354635B1 (ko) 임베디드 토로이달 코일 및 그 제조방법과 다층인쇄회로기판
ATE541312T1 (de) Chip mit zwei gruppen von chipkontakten
CN103779327A (zh) Imd测量电路结构和imd性能测试方法
KR20150007305A (ko) 테스트를 하기 위한 마이크로 전자 기판들의 대향하는 표면들에 결합가능한 트랜슬레이터들, 및 관련 시스템들과 방법들
TW201340283A (zh) 晶圓結構、晶片結構以及堆疊型晶片結構
JP2007324319A5 (ru)
TWM387342U (en) Array substrate having testing circuit layout
KR20110115306A (ko) 반도체 칩
CN115706073A (zh) 半导体结构及其制造方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20190512