NL7506539A - Werkwijze voor het testen van een halfgeleider- geheugenmatrix. - Google Patents

Werkwijze voor het testen van een halfgeleider- geheugenmatrix.

Info

Publication number
NL7506539A
NL7506539A NL7506539A NL7506539A NL7506539A NL 7506539 A NL7506539 A NL 7506539A NL 7506539 A NL7506539 A NL 7506539A NL 7506539 A NL7506539 A NL 7506539A NL 7506539 A NL7506539 A NL 7506539A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
testing
procedure
semiconductor memory
memory matrix
matrix
Prior art date
Application number
NL7506539A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Original Assignee
Ibm
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibm filed Critical Ibm
Publication of NL7506539A publication Critical patent/NL7506539A/xx

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/14—Implementation of control logic, e.g. test mode decoders
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/50—Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
NL7506539A 1974-06-26 1975-06-03 Werkwijze voor het testen van een halfgeleider- geheugenmatrix. NL7506539A (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/483,268 US3995215A (en) 1974-06-26 1974-06-26 Test technique for semiconductor memory array

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL7506539A true NL7506539A (nl) 1975-12-30

Family

ID=23919404

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL7506539A NL7506539A (nl) 1974-06-26 1975-06-03 Werkwijze voor het testen van een halfgeleider- geheugenmatrix.

Country Status (10)

Country Link
US (1) US3995215A (de)
JP (1) JPS5114238A (de)
CA (1) CA1048645A (de)
CH (1) CH581886A5 (de)
DE (1) DE2527486C3 (de)
FR (1) FR2276661A1 (de)
GB (1) GB1476040A (de)
IT (1) IT1037604B (de)
NL (1) NL7506539A (de)
SE (1) SE406829B (de)

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4208730A (en) * 1978-08-07 1980-06-17 Rca Corporation Precharge circuit for memory array
JPS5914838B2 (ja) * 1978-11-25 1984-04-06 富士通株式会社 フィ−ルドプログラマブル素子
JPS5693189A (en) 1979-12-18 1981-07-28 Fujitsu Ltd Field programable element
JPS57105897A (en) * 1980-12-23 1982-07-01 Fujitsu Ltd Semiconductor storage device
JPS57105898A (en) * 1980-12-23 1982-07-01 Fujitsu Ltd Field programmable element
US4430735A (en) 1981-05-26 1984-02-07 Burroughs Corporation Apparatus and technique for testing IC memories
DE3313441A1 (de) * 1983-04-13 1984-10-18 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Halbleiterspeicher
US4719418A (en) * 1985-02-19 1988-01-12 International Business Machines Corporation Defect leakage screen system
EP0195839B1 (de) * 1985-03-29 1989-08-09 Ibm Deutschland Gmbh Stabilitätsprüfung für Halbleiterspeicher
US5208530A (en) * 1986-09-19 1993-05-04 Actel Corporation Testability architecture and techniques for programmable interconnect architecture
US5223792A (en) * 1986-09-19 1993-06-29 Actel Corporation Testability architecture and techniques for programmable interconnect architecture
US5341092A (en) * 1986-09-19 1994-08-23 Actel Corporation Testability architecture and techniques for programmable interconnect architecture
US4768167A (en) * 1986-09-30 1988-08-30 International Business Machines Corporation High speed CMOS latch with alternate data storage and test functions
US4801869A (en) * 1987-04-27 1989-01-31 International Business Machines Corporation Semiconductor defect monitor for diagnosing processing-induced defects
US4779043A (en) * 1987-08-26 1988-10-18 Hewlett-Packard Company Reversed IC test device and method
JPH0268796A (ja) * 1988-09-02 1990-03-08 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US5072175A (en) * 1990-09-10 1991-12-10 Compaq Computer Corporation Integrated circuit having improved continuity testability and a system incorporating the same
US5528600A (en) * 1991-01-28 1996-06-18 Actel Corporation Testability circuits for logic arrays
US5166608A (en) * 1991-11-07 1992-11-24 Advanced Micro Devices, Inc. Arrangement for high speed testing of field-effect transistors and memory cells employing the same
US5646547A (en) * 1994-04-28 1997-07-08 Xilinx, Inc. Logic cell which can be configured as a latch without static one's problem
US5561367A (en) * 1992-07-23 1996-10-01 Xilinx, Inc. Structure and method for testing wiring segments in an integrated circuit device
US5538141A (en) * 1994-09-27 1996-07-23 Intel Corporation Test flow assurance using memory imprinting
GB2370126B (en) 2000-07-18 2004-01-21 Sgs Thomson Microelectronics Memory testing
US8046655B2 (en) * 2005-05-18 2011-10-25 Stmicroelectronics Pvt. Ltd. Area efficient memory architecture with decoder self test and debug capability
CN100495057C (zh) * 2005-12-22 2009-06-03 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 利用阵列与解码器进行器件表征的方法与***

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3795859A (en) * 1972-07-03 1974-03-05 Ibm Method and apparatus for determining the electrical characteristics of a memory cell having field effect transistors

Also Published As

Publication number Publication date
FR2276661A1 (fr) 1976-01-23
JPS5114238A (en) 1976-02-04
SE7506873L (sv) 1975-12-29
FR2276661B1 (de) 1977-12-02
DE2527486B2 (de) 1982-09-16
IT1037604B (it) 1979-11-20
US3995215A (en) 1976-11-30
AU8067975A (en) 1976-11-04
SE406829B (sv) 1979-02-26
USB483268I5 (de) 1976-03-09
CA1048645A (en) 1979-02-13
DE2527486C3 (de) 1983-05-26
GB1476040A (en) 1977-06-10
JPS5415383B2 (de) 1979-06-14
CH581886A5 (de) 1976-11-15
DE2527486A1 (de) 1976-01-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL7506539A (nl) Werkwijze voor het testen van een halfgeleider- geheugenmatrix.
NL7416755A (nl) Werkwijze en inrichting voor het testen van een digitaal geheugen.
NL7500297A (nl) Werkwijze voor het bereiden van een wasver- ingsmiddel.
NL176818C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderinrichting.
NL161302C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderin- richting.
NL7416862A (nl) Inrichting voor het gestrekt houden van een ter.
NL7503439A (nl) Inrichting voor het vasthouden van voorwerpen.
NL170901C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderinrichting.
NL7514581A (nl) Werkwijze voor het bereiden van xantheenkleurstof- fen.
NL161305C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderin- richting.
NL7511998A (nl) Werkwijze voor het bereiden van een laagschui- mend wasmiddel.
NL7508604A (nl) Inrichting voor het controleren van een buislei- ding.
NL186478C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderinrichting.
NL7414007A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een half- geleiderinrichting.
NL7413791A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een half- geleiderinrichting.
NL161619C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een half- geleiderinrichting.
NL7407369A (nl) Werkwijze voor het bereiden van een vertaaid polystyreen.
NL7509464A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een half- geleiderinrichting.
NL7506614A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van tabletten met een vertraagde afgifte.
NL165866C (nl) Inrichting voor het bewaken van een object.
NL165891C (nl) Werkwijze voor de vervaardiging van een halfgeleider- inrichting.
NL7415445A (nl) Inrichting voor het vormen van een voorwerp.
NL7509360A (nl) Werkwijze voor het vormen van een vaste-fazein- richting.
BE770173A (nl) Werkwijze voor het beproeven van een bandvormig materiaal
NL7609919A (nl) Werkwijze voor het waarnemen van fouten in een geheugeninrichting, alsmede inrichting voor het toepassen van deze werkwijze.

Legal Events

Date Code Title Description
BA A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BV The patent application has lapsed