KR980005969A - 반도체 소자의 이미지 프로세싱 장치 - Google Patents

반도체 소자의 이미지 프로세싱 장치 Download PDF

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KR980005969A
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KR
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image processing
semiconductor device
wafer
stages
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KR1019960023907A
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Inventor
박정일
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

본 발명에 의한 이미지 프로세싱 장치는 3매의 웨이퍼를 동시에 검사하여 결함을 검출함으로써 제한된 시간내에 보다 많은 양의 웨이퍼를 검사할 수 있다는 장점이 있다.

Description

반도체 소자의 이미지 프로세싱 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명에 의한 이미지 프로세싱 장치를 설명하기 위해 나타난 단면도들이다.

Claims (1)

  1. 3매의 웨이퍼를 각각 장착하고, X, Y, Z축으로 이동하면서 Z축을 중심으로 회전하여 위치 변경이 가능한 3매의 스테이지; 광원에서 나오는 빛을 소정의 각도록 상기 각 웨이퍼상에 조사하는 3매의 옵틱 앤 포커스(Optic Pocus); 및 상기 옵틱 앤 포커스를 통해 반사된 빛으로 상기 웨이퍼상의 결함을 검출하는 이미지 프로세서(Image Procesor)를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 이미지 프로세싱(Image Procesing)장치.
    ※참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960023907A 1996-06-26 1996-06-26 반도체 소자의 이미지 프로세싱 장치 KR980005969A (ko)

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