KR930005172A - 진공 마이크로 전자소자 및 그 제조방법 - Google Patents
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Abstract
내용 없음.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도 내지 제5도는 본 발명의 양호한 실시예를 형성하는 과정을 단계별로 나타낸 도면.
Claims (13)
- 반도체 기판상의 마이크로전자 소자에 있어서, 기판과 접하는 베이스 전극, 상기 베이스 전극과 접하는 에미터접점, 에미터, 베이스 전극으로부터 분리되어 위에 놓여 있는 그리드 금속, 및 상기 그리드 금속, 에미터, 및 베이스 전극에서 분리되어 덮고 있는 애노드금속을 포함하고, 상기 에미터 접점, 그리드 금속, 애노드 금속이 다수의 유기 스페이서 재료층을 인가하고 제거하는 단계들에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 마이크로전자 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 베이스 전그이 텅스텐 재료를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 그리드 금속이 삼극관을 형성하기 위해서 상기 마이크로 전자 소자내에 결합되는 것을 특징으로 하는 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 그리드 금속이 이극관을 형성하기 위해서 상기 마이크로 전자 소자내에 결합되는 것을 특징으로 하는 장치.
- 제1항에 있어서, 에미터 금속과 밀봉체가 상기 마이크로전자 소자의 처리된 진공에 상기 그리드 금속과 상기 에미터를 유지시키는 것을 특징으로 하는 장치.
- 기판재료의 기판과 절연 유전체 상에 진공 마이크로 전자 소자를 형성하는 방법에 있어서, 절연 유전테상에 베이스 전극을 형성하는 단계; 상기 베이스 전극의 일부를 노출시키기 위한 개구를 가지는 제1유기 스페이서로 베이스 전극을 덮는단계; 금속이 상기 베이스 전극과 접촉하여 에미터 접점을 형성하기 위해 상기 개구에 들어가도록 상기 제1유기 스페이서 위에 금속을 인가하는 단계; 상기 제1유기 스페이서로부터 상기 금속을 제거하는 단계; 상기 에미터와 베이스 전극 상에 제2유기 스페이서를 형성하는 단계; 상기 에미터와 베이스 전극위에 있는 상기 제2유기 스페이서의 일부가 노출되도록 상기 제2유기 스페이서 상에 그리드 금속을 인가하는 단계; 상기 노출된 제2유기 스페이서 내의 그리드 금속상에 제3유기 스페이서를 형성하는 단계; 다수의 접근 개구가 있어 제3유기 스페이서를 노출시킬수 있는 애노드 금속을 제3유기 스페이서 위에 인가하는 단계; 상기 애노드 금속과 상기 그리도 금속, 그리고 상기 그리드 금속과 상기 에미터사이에 공간을 만들기 위해 상기 애노드 금속과 그리드 금속내에서 상기 제2및 제3유기 스페이서를 비우는 단계, 및 상기 접근 개구를 금속 밀봉체로 밀봉하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 베이스 전극을 형성하는 단계가 기판 위에 상기 베이스 전극을 스퍼터링하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 베이스 전극을 덮는 단계가 상기 베이스 전극 위에 포토레지스트를 코팅하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 금속을 제거하는 단계가 상기 기판에서 상기 금속을 에칭하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 그리드 금속을 인가하는 단계가 상기 제2유기 스페이서 상에 상기 그리드 금속을 스퍼터링하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 제3유기 스페이서를 형성하는 단계가 상기 그리드 금속위에 포토레지스트층을 배치하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 애노드 금속을 인가하는 단계가 상기 애노드 금속을 상기 유기 스페이서 위에 스퍼터링하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 제3및 제2유기 스페이서를 비우는 단계가 상기 제3및 제2유기 스페이서를 에칭하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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