KR920704125A - 분석하려는 샘플의 성분을 질적 및/또는 양적으로 측정하기 위한 장치 - Google Patents

분석하려는 샘플의 성분을 질적 및/또는 양적으로 측정하기 위한 장치

Info

Publication number
KR920704125A
KR920704125A KR1019920701237A KR920701237A KR920704125A KR 920704125 A KR920704125 A KR 920704125A KR 1019920701237 A KR1019920701237 A KR 1019920701237A KR 920701237 A KR920701237 A KR 920701237A KR 920704125 A KR920704125 A KR 920704125A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
atr
hollow body
light source
shape
photodetector
Prior art date
Application number
KR1019920701237A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100213580B1 (en
Inventor
랄프 하 프리스
대진 윤
Original Assignee
김, 윤옥
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김, 윤옥 filed Critical 김, 윤옥
Publication of KR920704125A publication Critical patent/KR920704125A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100213580B1 publication Critical patent/KR100213580B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55—Specular reflectivity
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55—Specular reflectivity
    • G01N21/552—Attenuated total reflection
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N2021/4702—Global scatter; Total scatter, excluding reflections
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/065—Integrating spheres

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

분석하려는 샘플의 성분을 질적 및/또는 양적으로 측정하기 위한 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 장치의 종단면도.
제2도는 제1도에 따른 장치의 횡단면도.
제3도는 제1도에 따른 장치의 저면도.

Claims (24)

  1. 분석하려는 샘플(16)의 성분을 질적 및/또는 양적으로 측정하기위한 장치에 있어서,-광반사되는 물질로 내측에 코팅되거나 또는 광반사되는 물질로 완전히 이루어지고 그리고 적어도 하나의 개구(12) 및 적어도 하나의 광검출기(22)를 중공체(10) 및/또는 중공체 내부(10a)에 가지는 적어도 하나의 중공체(10)가 제공되며, -적어도 하나의 ATR-부재(14)가 중공체의 개구(12)를 덮으며,-ATR 부재의 증공체의 다른 변(14b)에 분석하려는 샘플(16)이 놓이고,-ATR-부재의 경사면(14c)으로 적어도 하나의 주광원(24)의 광이 방향 잡히는 상기 특징들의 조합을 특징으로 하는 분석하려는 샘플의 성분을 질적 및/또는 양적으로 측정하기위한 장치.
  2. 제1항에 있어서, 중공체가 다면체, 타원면, 포물면, 반구 또는 구의 형상을 가지거나 또는 불규칙 형상을 가지는 것을 특징으로 하는 장치.
  3. 제2항에 있어서, 중공체의 형상이 규칙 형태의 중간 형상이거나 또는 혼합 형상인 것을 특징으로 하는 장치.
  4. 제1 내지 3항중 어느 한 항에 있어서, 중공체(10)의 개구(들)(12)의 전체면이 중공체 내면의 최대 10%인 것을 특징으로 하는 장치.
  5. 제1 내지 4항중 어느 한 항에 있어서, 중공체(10)의 개구(들)(12)의 전체면이 중공체의 내면의 최대 5%인 것을 특징으로 하는 장치.
  6. 제1 내지 5항중 어느 한 항에 있어서, 유입 개구(12)와 광검출기(22)사이의 광 직통로가 적어도 하나의 형체(28)에 의해 차단되는 것을 특징으로하는 장치.
  7. 제1 내지 6항중 어느 한 항에 있어서, ATR 부재가 프리즘, 반실린더, 사다리꼴 또는 반구의 형상을 가지거나 또는 불규칙 형상을 가지는 것을 특징으로 하는 장치.
  8. 제7항에 있어서, ATR 부재의 형상이 규칙 형체의 중간 형상이거나 또는 혼잡 형상인 것을 특징으로 하는 장치.
  9. 제1 내지 8항중 어느 한 항에 있어서, 증공체(10)와 ATR부재(14) 사이에 적어도 하나의 광 필터가 장치되는 것을 특징으로 하는 장치.
  10. 제1 내지 9항중 어느 한 항에 있어서, ATR부재의 표면이 광학적으로 전부 또는 일부 코팅된 것을 특징으로 하는 장치.
  11. 제1 내지 10항중 어느 한 항에 있어서, 주광원(24)이 크세논램프 또는 수은 고압방전램프 또는 가열가능한 세라믹이 되는 것을 특징으로 하는 장치.
  12. 제11항에 있어서, 세라믹이 예를들면 네른스트 핀이나 또는 실리콘 카바이드-봉과갈은 산화 또는 산화물 세라믹인 것을 특징으로 하는 장치.
  13. 제1내지 11항중 어느 한 항에 있어서, 주광원(24)이 레이저, 바람직하게는 HeNe-레이저 또는 반도체 레이저인 것을 특징으로 하는 장치.
  14. 제1 내지 13항중 어느 한 항에 있어서, 주광원(24)이 빔 도파로를 거쳐 ATR-부재와 연결되는 것을 특징으로 하는 장치.
  15. 제1 내지 14항중 어느 한 항에 있어서, 측면(14d)을 통해 ATR 부재(14)로부터 나온 약화된 주광을 검출하기위해 ATR 부재(14)의 외부에 적어도 하나의 다른 광검출기(26)가 제공되는 것을 특징으로 하는 장치.
  16. 제15항에 있어서, 광검출기(26)가 빔도파로를 거쳐 ATR 부재와 연결되는 것을 특징으로 하는 장치.
  17. 제1 내지 16항중 어느 한 항에 있어서, 본 장치에 필요한 모든 부재의 크기가 최대 1000mm인 것을 특징으로 하는 장치.
  18. 제17항에 있어서, 중공체(10), 주광원(24) 및 광검출기(20 및 26)가 최대로 확장해도 20mm 보다 작은 것을 특징으로 하는 장치.
  19. 제1 내지 18항중 어느 한 항에 있어서, 주광원(24) 및 광검출기(20 및 26)가 최대로 확장해도 20mm보다 크지 않은 것을 특징으로 하는 장치.
  20. 제1 내지 19항중 어느 한 항에 있어서, 중공체(10)와 ATR 부재(14) 사이 및/또는 주광원(24)과 ATR부재(14) 사이 및/또는 ATR 부재(l4)와 광검출기(26) 사이에 광의 진로를 따라서 렌즈나 또는 블라인드와 같은 광부재가 장치되는 것을 특징으로 하는 장치.
  21. 제1 내지 20항중 어느 한 항에 있어서, ATR 부재로의 주광의 입사각이 임의로 조절가능한 것을 특징으로하는 장치.
  22. 제1 내지 21항중 어느 한 항에 있어서, 샘플에서 형광이 발생될 수 있도록 입사각이 정해지는 것을 특징으로 하는 장치.
  23. 제1 대지 22항중 어느 한 항에 있어서, 주광원(24)이 서로 다른 파장을 가지는 광을 방출하며, 이는 ATR 부재(14)내로 따로 또는 혼합되어 들어가는 것을 특징으로 하는 장치.
  24. 제1 내지 23항중 어느 한 항에 있어서, 광검출기에 인가되는 전기 신호가 푸리에 변환과 같은 하나 또는 그 이상의 주파수 필터링 방법에 의해 다중 부재 및/또는 많은 성분 분석을 위한 다중 선형 또는 다중 변형회귀 분석의 적용에 이용되는 것을 특징으로 하는 장치.
    ※참고사항:최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920701237A 1990-09-28 1992-05-27 Device for the qualitative and/or quantitative determination of the composition of a sample that is to be analyzed KR100213580B1 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4030836A DE4030836A1 (de) 1990-09-28 1990-09-28 Vorrichtung zur qualitativen und/oder quantitativen bestimmung der zusammensetzung einer zu analysierenden probe
DEP4030836.7 1990-09-28
PCT/DE1991/000769 WO1992006366A1 (de) 1990-09-28 1991-09-28 Vorrichtung zur qualitativen und/oder quantitativen bestimmung der zusammensetzung einer zu analysierenden probe

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR920704125A true KR920704125A (ko) 1992-12-19
KR100213580B1 KR100213580B1 (en) 1999-08-02

Family

ID=6415234

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019920701237A KR100213580B1 (en) 1990-09-28 1992-05-27 Device for the qualitative and/or quantitative determination of the composition of a sample that is to be analyzed

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5408312A (ko)
EP (1) EP0550542B1 (ko)
JP (1) JPH06505092A (ko)
KR (1) KR100213580B1 (ko)
AT (1) ATE106559T1 (ko)
DE (2) DE4030836A1 (ko)
WO (1) WO1992006366A1 (ko)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4227813A1 (de) * 1992-08-21 1994-02-24 Kim Yoon Ok Vorrichtung zur qualitativen und/oder quantitativen Bestimmung einer zu analysierenden Probe
DE19758533B4 (de) * 1997-12-04 2005-09-29 Micronas Gmbh Verfahren zum Strukturieren einer Oberflächenschicht
DE69820412T2 (de) * 1998-02-19 2004-05-27 Innovative Technology Ltd., Oldham Banknotenechtheitsprüfer
DE19812681A1 (de) * 1998-03-23 1999-09-30 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Vorrichtung zum Nachweis eines Fluoreszenzfarbstoffs
DE19816487A1 (de) 1998-04-14 1999-10-21 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Vorrichtung zum Nachweis eines Fluoreszenzfarbstoffs
US6424413B1 (en) * 1998-06-12 2002-07-23 Gretagmacbeth Llc Multi-channel integrating sphere
US6424851B1 (en) 1998-10-13 2002-07-23 Medoptix, Inc. Infrared ATR glucose measurement system (II)
US6522903B1 (en) * 2000-10-19 2003-02-18 Medoptix, Inc. Glucose measurement utilizing non-invasive assessment methods
US20040225206A1 (en) * 2003-05-09 2004-11-11 Kouchnir Mikhail A. Non-invasive analyte measurement device having increased signal to noise ratios
US20050137469A1 (en) * 2003-12-17 2005-06-23 Berman Herbert L. Single detector infrared ATR glucose measurement system
US20050171413A1 (en) * 2004-02-04 2005-08-04 Medoptix, Inc. Integrated device for non-invasive analyte measurement
CN112119294B (zh) * 2018-04-12 2024-05-24 雷迪奥米特医学公司 多孔膜传感器元件

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3604927A (en) * 1966-11-16 1971-09-14 Block Engineering Total reflection fluorescence spectroscopy
US3975084A (en) * 1973-09-27 1976-08-17 Block Engineering, Inc. Particle detecting system
DE2417399C3 (de) * 1974-04-09 1981-11-05 Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH, 8000 München Gerät zur Messung inhomogener optischer Strahlung
US3939350A (en) * 1974-04-29 1976-02-17 Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Fluorescent immunoassay employing total reflection for activation
US3920336A (en) * 1974-05-21 1975-11-18 Us Air Force System for intensification of weak absorption and collection of weak light emission
DE2834982C3 (de) * 1978-08-10 1981-02-12 Vladimir Dipl.-Ing. 5100 Aachen Blazek Photometerkugel
DE2834983C3 (de) * 1978-08-10 1981-09-03 Vladimir Dr.-Ing. 5100 Aachen Blazek Meßkopf für Beleuchtungsstärke-Meßgeräte
DE2950139A1 (de) * 1979-12-13 1981-06-19 Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen In den probenraum eines spektralphotometers einsetzbares zusatzgeraet fuer remissions- oder fluoreszenzmessungen
DE3041396C2 (de) * 1980-11-03 1983-10-27 Karl Albert 7000 Stuttgart Krieger Lichtfühler-Einrichtung zur Anpassung der Beleuchtung eines vorgegebenen Bereichs an die Helligkeit von Fremdlicht
JPH0245814B2 (ja) * 1982-03-31 1990-10-11 Matsushita Electric Works Ltd Hantomeibutsutainonaibushokusokuteihoho
JPS5960229A (ja) * 1982-09-29 1984-04-06 Shimadzu Corp 積分球式反射測定装置
JPS5979841A (ja) * 1982-10-29 1984-05-09 Shimadzu Corp 絶対反射率測定装置
DE3373720D1 (en) * 1982-12-16 1987-10-22 Ciba Geigy Ag Colour-photographic recording material
US4991106A (en) * 1983-03-02 1991-02-05 Alfa-Laval Ab Method and apparatus for aligning and analyzing sample and control signals
DE3337453A1 (de) * 1983-10-14 1985-05-02 Asker Alekper Ogly Abdullaev Optisches attenuations-totalreflexionselement spektralanalyseverfahren und mat rix zur herstellung dieses elements
DE3735269A1 (de) * 1987-10-17 1989-04-27 Hoechst Ag Vorrichtung zur bestimmung der oberflaechenfeuchtigkeit
DE3818815A1 (de) * 1988-06-03 1989-12-14 Zeiss Carl Fa Remissionsmessgeraet
US4892409A (en) * 1988-07-14 1990-01-09 Smith Harry F Photometric apparatus for multiwell plates having a positionable lens assembly
US4873430A (en) * 1988-10-25 1989-10-10 International Business Machines Corporation Method and apparatus for optically measuring characteristics of a thin film by directing a P-polarized beam through an integrating sphere at the brewster's angle of the film
US5258363A (en) * 1989-03-21 1993-11-02 Troy Investments Inc. Superconducting integrating spheres
DE9005845U1 (de) * 1990-05-23 1990-07-26 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Vorrichtung zur Messung der Absorption von transparenten Proben mit ungünstiger Außenform

Also Published As

Publication number Publication date
WO1992006366A1 (de) 1992-04-16
EP0550542A1 (de) 1993-07-14
EP0550542B1 (de) 1994-06-01
DE59101814D1 (de) 1994-07-07
DE4030836A1 (de) 1992-04-02
ATE106559T1 (de) 1994-06-15
US5408312A (en) 1995-04-18
JPH06505092A (ja) 1994-06-09
KR100213580B1 (en) 1999-08-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960705200A (ko) 표면의 광열검사장치
EP0699898B1 (en) A dual beam tunable spectrometer
KR920704125A (ko) 분석하려는 샘플의 성분을 질적 및/또는 양적으로 측정하기 위한 장치
US3944368A (en) Apparatus for color analysis of precious stones
JPS61116646A (ja) ケイ光光度計及びケイ光測定方法
JPS6177745A (ja) 試料中の物質濃度の蛍光測定装置
KR100521616B1 (ko) 분광 반사율 측정 장치 및 분광 반사율 측정 방법
US4529319A (en) Method and apparatus for the detection of thermo-optical signals
FI78355B (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
KR890000876A (ko) 미소 고저차 측정장치 및 그 방법
KR890005498A (ko) 분광 광도계
KR950014849A (ko) 콜로이드 매체의 박막에 의해 산란된 광도 측정용 검출기
US4037974A (en) Sample cell for spectrophotometers
US5700428A (en) Fluorescence detector, and a device for supporting a replacable sample cuvette in a fluorescence detector
JPH0352575B2 (ko)
JPH0835926A (ja) 試料セル
JP4146761B2 (ja) 蛍光測定装置
US3704955A (en) Radiation entrapping, multi-reflection raman sample cell employing a single concave mirror
JPH04232837A (ja) 散乱光トラップを備えた測光装置
JP3039569B2 (ja) 顕微全反射測定用プリズム
JPH04138340A (ja) 赤外スペクトル測定ヘッド及び測定装置
CA1083380A (en) Gas concentration measuring device with series radiation paths
SU855445A1 (ru) Кювета дл рентгеновского анализа легковоспламен ющихс жидкостей
JPS6224131A (ja) 光透過式計測器
JP2002340786A (ja) 光量照度調整装置及びそれを備えた試料検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee