KR920001003B1

KR920001003B1 - 시간축 보정장치

Info

Publication number: KR920001003B1
Application number: KR1019880008370A
Authority: KR
Inventors: 하루오 오오다; 도끼가즈 마찌모도
Original assignee: 마쯔시다덴기산교 가부시기가이샤; 다니이 아끼오
Priority date: 1987-07-21
Filing date: 1988-07-06
Publication date: 1992-02-01
Also published as: US4905101A; KR890003191A; DE3855057D1; JPS6424686A; DE3855057T2; EP0300633A3; JP2548210B2; EP0300633B1; EP0300633A2

Abstract

내용 없음.

Description

시간축 보정장치

제1도는 본 발명의 제1실시예의 블록도.

제2도는 본 발명의 원리를 설명하는 파형도.

제3도는 본 발명에 따른 보간함수의 주파수특성을 나타내는 도면.

제4도는 본 발명에 사용되는 보간필터의 블록도.

제5도는 제4도에 나타난 보간필터의 동작을 설명하는 파형도.

제6도는 본 발명의 제1실시예에서 리샘플링위치신호 생성회로예의 블록도.

제7도 및 제8도는 제6도에 나타낸 리샘플링위치신호생성회로의 동작을 설명하는 파형도.

제9도는 본 발명에 따른 보간함수의 다른 주파수특성을 나타내는 도면.

제10도는 본 발명의 제2실시예의 블록도.

제11도는 제2실시예에서의 리샘플링위치신호생성회로예의 블록도.

제12도는 제2실시예에서 리샘플링위치신호생성회로의 다른 예의 블록도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

102, 109 : 리샘플링위치신호생성회로 103 : 애널로그디지틀(AD)변환회로

104 : 보간필터 106 : 디지틀애널로그(DA)변환회로

107 : 클록발생기 112 : 시프트레지스터

119 : 선택회로 121~124, 413 : 승산기

125 : 가산기 131 : ROM

200 : 애널로그비데오신호 201 : 클록신호

202 : 디지틀비데오신호 203 : 리샘플링위치신호

204 : 디지틀신호 205 : 애널로그비데오신호

210 : 분할클록신호 211 : 래치신호

212 : 기준신호 213 : 진폭차이

415 : 집적회로 416 : LPF

본 발명은 자기테이프에서 재생된 비데오신호와 같은 신호의 시간축불안정 또는 시간축변동을 보정하기 위한 시간축 보정장치에 관한 것이다.

종래에, 방송에 사용하는 비데오테이프녹화기에서, 시간축 보정장치는 재생된 비데오신호의 시간축변동을 보정하기 위해 폭넓게 사용되었다.

미국특허 제3,931,638호에 개시된 시간축 보정장치는, 애널로그시프트레지스터를 사용하며, 그중 하나의 레지스터는 그의 시간축불안정에 대응되는 비율로 하나의 비데오선신호의 샘플을 클록(clock)하고, 다른 레지스터는 균일한 비율로 그앞의 선의 애널로그신호를 클록아웃하거나, 또는 그 역으로 구성되어 있다. 다양한 지연선을 사용하는 다른 형태의 시간축 보정장치가 “시간축 보정기술 및 그들의 응용의 개관”(사다시게 K., SMPTE Journal, Vol.85, October 1976, pp.787-791)에 개시되어 있다. 이들 시간축 보정장치는 애널로그시프트레지스터와 다양한 지연선과 같은 애널로그장치의 사용에 의한 단점이 일반적으로 공지되어 있다.

또한, 상기 사다시게의 논문 789-790면에는, 디지틀메모리를 사용하는 시간축 보정장치가 개시되어 있다. 이와 유사한 디지틀 시간축 보정장치가 미국특허 제4,120,000호에 개시되어 있다. 이들 종래의 디지틀 시간축 보정장치는 다음과 같은 기본구성을 지닌다.

시간축변동을 지닌 재생애널로그 비데오신호는 표분화되어 도입되는 재생애널로그 비데오신호에 고정된 클록신호에 응답하는 애널로그디지틀(AD)변환기에 의해 디지틀신호로 변환되며, 이 디지틀신호는 메모리내에 저장된다. 일시적으로 저장된 디지틀신호는 시간축이 고정된 다른 클록신호에 응해서 독출된다. 독출 디지틀신호는 디지틀애널로그(DA)변환기에 의해 애널로그신호로 변환되고, DA변환기에서 출력된 애널로그 비데오신호는 시간축변동을 지나지 않는다. 그러나, 이런 종래의 디지틀 시간축 보정장치는 몇가지 문제점을 지닌다.

첫째 문제점은, 도입되는 재생애널로그 비데오신호에 고정되는 클록신호를 발생하는 클록발생기내에 애널로그성분을 준비해야만 한다. 애널로그성분의 온도특성과 성능변화는 바람직하지 않는 발생클록신호의 변화를 발생하므로 시간축 보정장치의 성능에 악영향을 나타낸다. 또한, 축전기와 유도기를 함유하는 애널로그 성분은 집적회로내에 장착할 수 없으므로, 시간축 보정장치의 비용을 감축하기 어렵다는 점이다.

다른 문제점은, 메모리기록 및 판독동작이 각각 2개의 상이한 클록신호에 의해 제어되므로 메모리의 구성과 메모리제어기가 복잡해진다는 점이다.

또한, AD 변환기는 시간축변동클록신호로 구동되므로, AD변환기의 출력이 다른 디지틀처리시스템에 공통으로 사용될 수 없다는 문제점도 있다.

본 발명의 목적은 동작시 정확하고 안정한 신규의 시간축 보정장치를 제공하는데 있다.

본 발명의 다른 목적은 집적회로내에 쉽게 집적하여 비용을 줄일 수 있는 신규의 시간축 보정장치를 제공하는데 있다.

본 발명의 또다른 목적은 시간축변동을 지니는 클록신호를 사용하지 않고 주기가 고정된 클록신호만을 사용하는 신규의 시간축 보정장치를 제공하는데 있다.

이들 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 시간축 보정장치는, 고정주기를 지닌 클록신호를 발생하는 클록발생수단과, 상기 클록신호에 응해서, 상기 클록신호에 의해 주어진 각각의 샘플링점에서 상기 입력애널로그신호의 진폭값을 샘플링하여 디지틀신호를 출력하는 애널로그디지틀 변환수단과, 상기 시간축변동을 검출하고 검출된 시간축변동으로부터 상기 샘플링점의 대응되는 점에 관하여 리샘플링점의 위치를 표시하는 리샘플링위치신호를 생성하며, 상기 리샘플링점은 대응되는 샘플링점에서 샘플링되는 입력애널로그신호의 진폭값이 존재하는 점인 리샘플링위치신호생성수단과, 상기 애널로그디지틀변환수단으로부터의 상기 샘플링된 진폭값 및 상기 리샘플링위치신호를 사용하여 리샘플링점에서 각각의 진폭값을 보간하고, 상기 보간된 진폭값을, 상기 클록신호에 의해서 주어진 샘플링타이밍에서 디지틀신호로서 출력하는 보간수단과, 상기 클록신호에 응해서 상기 보간수단으로부터 출력된 디지틀신호를 시간축변동보정애널로그신호인 애널로그신호로 변환하는 디지틀애널로그변환수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.

리샘플링위치신호생성회로는 애널로그디지틀변환기의 출력 또는 보간필터의 출력중의 어느 하나로부터 시간축변동을 검출해도 된다.

본 발명의 특징과 이점 그리고 상기 및 기타 목적들은 단지 예시용으로만 부여되며 본 발명을 제한하지 않는 첨부한 도면과 관련한 다음의 설명으로부터 더욱 명확하게 될 것이다.

제1도는 기록매체(도시안됨)에서 재생된 비데오신호(200)의 시간축변동을 보정하기 위한 본 발명의 제1실시예의 블록도이다. 수정발진기로 이루어진 클록발생기(107)는 일정한 주기(T)를 지니는 클록신호(201)를 발생하며, 이 클록주기(T)는 비데오신호의 목표수평주사주기의 1/L과 동일하다. 입력단자(10)를 통해 입력된 애널로그비데오신호(200)는 클록주파수 fs(=1/T)의 절반범위안에서 주파수대가 제한되고, 애널로그디지틀(AD)변환기(103)는 클록신호(201)에 응해서 비데오신호(200)의 진폭값을 샘플링하여 디지틀비데오신호(202)를 생성한다. 리샘플링위치신호생성(RPSP)회로(102)는 디지틀비데오신호(202)의 휘도동기신호에서 디지틀비데오신호(202)의 시간축변동을 검출하고, AD변환기의 샘플링점에 관하여 리샘플링점의 위치를 표현하는 리샘플링위치신호(203)를 생성하며, 리샘플링점에서 진폭값은 시간축변동이 존재하지 않는 샘플링점에서 샘플링된다. 보간필터(104)는 디지틀신호(202)와 리샘플링위치신호(203)를 사용한 보간연산에 의해, 리샘플링위치신호(203)가 나타내는 각각의 리샘플링점에서 비데오신호(200)의 진폭값을 표현하는 디지틀신호(204)를 발생한다. 디지틀애널로그(DA)변환기(106)는 디지틀신호(204)를 애널로그비데오신호(205)로 전환하여, 출력단자(18)로 출력한다. 출력비데오신호(205)는 시간축변동을 지니지 않으며 이것의 수평주사주기는 클록신호(201)주기의 L배이다.

제2도는 본 실시예의 시간축변동보정의 원리를 설명한 것이다. 제2도의 (a)는 시간축변동이 없는 원신호(기록전)의 파형이고, (d)는 주기가 (T)인 클럭신호(201)를 나타낸다. 제2도의 (b)는 시간축변동을 지닌 재생신호(200)의 파형이다. 제1도의 AD 변환기(103)는 제2도(b)에 있어서 흑점(●)으로 표시한 샘플링점(301)~(305)에서 입력신호(200)의 진폭값을 샘플링한다. 제1도의 보간필터(104)는 입력 신호(200)의 시간축에 로킹된 제2도의 (b)에 사각기호(□)로 표시한 리샘플링점(311)~(315)에서 진폭값을 계산하고, 제2도의 (c)에 도시한 바와같이 클록신호(201)에 의해 주어진 타이밍에 리샘플링된 데이터를 출력한다. 제2도의 (c)에 나타낸 신호는 시간축변동보정신호로 제2도의 (a)에 나타낸 원신호와 동일하다.

이하, 제1도에서의 보간필터(104)에 있어서의 보간원리에 대해서 설명한다. 제1도에서, 입력신호(200) v(t)로 표현하면, 샘플링된 디지틀신호(202)는 v(kt)(단, k는 정수)로 표현된다. 입력신호 v(t)는 클록주파수 fs=1/T의 절반범위안에서 대역제한되므로, 시간(τ)에서의 진폭값 v(τ)은 샘플링된 데이터로부터 다음식(1)에 의해 구해진다. 즉,

여기서, s(t)는 보간함수이다. 보간함수 s(t)는 필터의 임펄스(impulse) 응답이며, 이것의 주파수응답 s(f)는 다음식(2)를 만족한다.

여기서, f_m은 입력비데오신호 v(t)의 최대주파수이고, fs(=1/T)는 샘플링된 주파수이다. 예를들면, s(f)가 제3도에 나타낸 바와같이 이상적인 저주파통과필터의 주파수응답이며, s(t)는 다음식(3)으로 얻어진다.

식(1)에 따르면, 샘플링된 값 v(kT)의 무한수(k=-∞~+∞)가 v(τ)를 구하는데 필요하다. 그러나, 계산에 있어서 오차가 충분히 작을 경우(예를들면, 디지틀데이터의 LSB의 1/2보다 적을때)에는 실용상 아무런 문제가 없다. 그러므로, 본 발명은 다음식(4)를 사용한다.

여기서, N과 M은 정수로, 식(4)에 따른 계산에 있어서의 오차가 충분히 작도록 결정된다.

제1도에서, 리샘플링점신호(203)는 입력비데오신호(200)의 시간축에 대해 로킹되는 리샘플링시간(τ)을 나타낸다. 식(4)에 따라서 보간필터(104)는 v(τ)를 방출한다.

다음에, 제4도를 참조하여 보간필터(104)의 예를 설명한다. 제4도는 4개의 샘플링된 값(즉, 방정식(4)에서 N과 M은 N-M+1=4를 만족시킨다)을 사용하여 보간된 진폭값을 생성하는 보간필터(104)의 블록도이다. 제4도에서, 클록신호(201)의 선을 제외한 각 선은 각각 다수의 병렬비트를 지니는 디지틀신호선을 나타낸다. 보간필터의 입력단자(111)에 입력된 디지틀신호(202)는, 다수의 병렬 D플립플롭으로 각각 구성된 다수의 직렬접속지연회로로 이루어진 시프트레지스터(112)로 출력된다. 시프트레지스터(112)에서, 각각의 지연회로는 클록신호(201)의 1주기에 대응되는 시간동안 그곳에 입력된 데이터를 지연한다. 시프트레지스터(112)의 병렬출력으로부터, 앞의 세트로부터 1클록분만큼 각각 이동된 4개의 연속적인 샘플링된 값(113)~(118)의 차례로 이동된 세트가 선택회로(119)로 공급된다. 선택회로(119)는 선택신호(134)(다음에 설명)에 의한 셋트(113)~(118)중의 하나를 선택하고, 이렇게 선택된 세트를 데이터세트(120)로서 출력한다.

반면, 분할회로(133)에는 리샘플링위치신호(203)가 입력되고, 이 분할회로(133)는 선택신호(134)와 시간표시신호(132)를 발생한다. 선택신호(134)와 시간표시신호(132)는 제5도를 참조하여, 이하에 설명한다.

제5도는 입력비데오신호(202)의 일부의 파형을 나타낸다. 흑점(●)으로 표시한 점(140)~(148)은 클록신호(201)에 응해서 제1도의 AD 변환기(103)에 의해 샘플링된 샘플링점이다. 사각기호(□)로 표시한 점(204)~(247)은 리샘플링점으로, 시간축변동이 없으면 샘플링되고 제1도의 보간필터(104)에 의해 보간되는 리샘플링점이다. 보간되거나 리샘플링된 제5도에서 백색원(0)으로 표시한 바와같이 클록신호(201)와 동기인 타이밍에서 출력된다. 리샘플랭점(243)이 샘플링점(143)과 (144) 사이에 위치하여 샘플링점(143)으로부터 (△t)만큼 이동하는 예를 고려하면, 샘플링점(142)~(145)에서 4개의 연속적인 샘플링된 값의 데이터집합은 선택신호(134)에 따른 선택회로(119)에 의해 제4도의 데이터세트(120)로서 선택된다. 제4도에서 시간표시신호(132)는 제5도에 나타낸 바와같이 클록신호(201)의 1주기내의 시간이동(△t)을 나타낸다. 리샘플링위치신호(203)의 소정의 상부비트는 선택신호(134)로서 사용되고, 나머지 하부비트는 시간표시신호(132)로서 사용된다. 일반적으로, n이 0을 포함하는 정수(양 또는 음), T가 클록신호(201)의 주기, △t가 클록신호(201)의 1주기내의 시간이동인 경우, 시간축오차는 nT+△t로 표현될 수 있다. 또, 리샘플링 위치신호의 상부비트는 nT로, 하부비트는 △t로 표현된다.

다시 제4도를 참조하면, 데이터세트(120)의 4개의 샘플링된 값은 승산기(121)~(124)로 각각 급송되고 반면에, 시간표시신호(132)는 어드레스로서 판독전용메모리(ROM)(131)로 공급되어 계수데이터(127)~(130)가 ROM(131)으로부터 판독된 후 각각 승산기(121)~(124)로 공급된다. 계수데이터(127)~(130)는 각각 식(4)에 있어서 S(τ-MT), S(τ-(M+1)T), S(τ-(M+2)T)및 S(τ-(M+3)T)(=S(τ-NT)로 표현된다. 승산기(121)~(124)는 데이터세트(120)의 4개의 샘플링된 값을 각각 계수데이터(127)~(130)에 각각 곱한다. 가산기(125)는 승산기(121)~(124)의 출력을 더하여 식(4)에서 v(τ)로 표현되는 신호(204)를 출력하며, 이것은 시간축변동보정신호이다. 신호(204)는 출력단자(126)에서 출력된다.

상기 보간필터(104)에 대한 설명은, 설명을 간단하게 하기 위하여 N-M+1=4의 조건하에서 행하였으나, 실제로, N과 M은 식(4)에 따라서 계산에 있어서 오차가 충분히 작도록 결정해야만 한다. 시프트레지스터(112)스텝의 수는 필요한 시간축보정의 범위에 따라서 결정해야만 한다.

다음에, 제6도, 제7도 및 제8도와 관련하여 리샘플링위치신호(203)를 얻는 방법에 대해 이하 설명한다. 제6도는 리샘플링위치신호생성회로(102)의 일례의 블록도이고, 제7도는 제6도의 리샘플링위치신호생성회로내의 몇몇 점에서의 파형도를 나타내며, 제8도는 제7도에서의 구간 A부분을 확대하여 상세히 나타낸 것이다.

제6도에서, 주파수 분할기(411)는 클록신호(201)의 주파수를 L로 분할하여 클록신호(201)의 주파수의 1/L배인 주파수를 지니는 분할클록신호(210)를 생성한다. 그러므로, 분할클록신호(210)의 주기는 목표수평주사주기와 동일하다. 클록신호(201), 분할클록신호(210) 및 입력비데오신호(200) 사이의 관계는 제7도에 예시되어 있다. 제7도에서, (a)는 클록신호(201)를, (b)는 분할클록신호(210)를, (c)는 제6도에서 기준신호(212)로 표현된 기준수준과 입력비데오신호(200)를 나타낸다. 분할클록신호(210)의 각 펄스의 선두에지는 입력비데오신호의 각 수평동기신호의 전이주기동안 발생한다.

제6도에서, 래치회로(410)는 분할클록신호(210)에 응하여 디지틀비데오신호(202)를 래치하여 래치신호(211)를 얻는다. 제8도를 참조하면, 샘플링점(154)에서의 진폭값은 샘플링점(151)~(156)에서의 값중에 래치된다. 제6도에서, 감산기(412)는 래치신호(211)와 기준원(412a)으로 생성된 기준신호(212) 사이의 진폭차이를 신호(213)로서 생성한다. 제8도를 참조하면, 기준수준은, 점(160)이 제8도(b)에 나타낸 분할클록신호(210)에 의해 샘플링되는 목표샘플링점인 것을 표시한다. 제6도에서 신호(213)는 제8도(c)에서 (161)로 나타낸 바와같은 진폭차이를 나타낸다. 제8도(c)를 참조하면, 래치점(154)과 목표점(160) 사이의 시간차이(162)는 거의 진폭차이(161)에 비례한다. 그러므로, 제6도에서 신호(213)는 시간차이(162)를 나타내는 신호로 간주될 수 있다. 신호(213)는 승산기(413)에서 소정계수와 승산되어 리샘플링위치신호(214)가 된다.

상기 설명한 바와같이, 제1도의 실시예는 애널로그신호처리없이 디지틀신호처리를 실행하여 시간축변동을 보정할 수 있으므로, 애널로그성분의 온도 특성과 물리량의 변화에 영향을 받지 않는다. 또한, 이 실시예는 어떠한 애널로그성분도 사용하지 않으므로, 전체회로를 집적회로내에 제조하는 것이 가능하므로 비용을 절감할 수 있다. 더우기, 본 실시예는 시간축변동을 지니는 어떠한 클록신호도 사용하지 않으므로, 시간축 보정장치를 다른 디지틀신호처리시스템과 쉽게 결합시킬 수 있다. 본 실시예의 또 다른 특징은 피이드포워드(feedforward)제어에 의해 시간축변동을 보정하므로 신속하게 시간축변동을 보정할 수 있다.

또한, 상기 설명에 있어서, 보간함수s(t)는 이상적인 저주파통과필터의 임펄스응답인 식(3)으로 얻어지나, 주파수응답이 제9도에 도시되어 있는 코사인로울오프(role-off)필터의 임펄스응답을 s(t)로서 사용해도 된다. 이런 경우 함수 s(t)는 다음식(5)에 의해 구해진다. 즉,

이 함수 s(t)를 사용하면, 적당하게 작은 오차를 지니며 보간된 v(t)를 생성하기 위하여 샘플링된 값의 수(즉, 제4도에서 N-M+1)는 현저하게 감소될 수 있다. 그러므로, 보간필터는 작은 회로규모로 구성될 수 있다.

비록 상기 보간필터의 예로서는, 입력신호를 지연하는 시프트레지스터와 데이터세트를 선택하는 선택회로를 사용하였으나, 본 발명은 이것으로 제한되지는 않는다. 예를들면, 보간필터는 입력신호를 지연하는 랜덤액세스메모리(RAM)와 데이터세트를 선택하는 번지제어회로를 사용해도 된다.

다음에, 제10도를 참조하여, 본 발명의 제2실시예를 설명한다.

제10도는 본 발명의 제2실시예의 블록도이다. 제10도에서, 제1도의 제1실시예와 동일한 기능을 지니는 블록에는 동일한 번호를 사용하였다. 이 실시예에서, 리샘플링위치신호생성(RPSP)회로(109)는 디지틀신호(204)의 휘도동기신호로부터 디지틀신호(204)의 시간축변동을 검출하고, 리샘플링위치신호(203)를 다시 보간필터(104)에 급송한다.

리샘플링위치신호생성회로(109)의 예를, 제11도 및 제12도를 참조하여 이하 설명한다.

제11도는 리샘플링위치생성회로(109)의 제1예의 블록도이다. 제11도에서, 제6도의 회로와 동일한 기능을 지니는 블록에는 동일한 번호를 사용하였다. 리샘플링위치신호검출회로의 입력신호는 시간축변동보정을 받게 되는 신호(204)이다. 그러므로, 보간필터(104)에 다시 급송되는 리샘플링위치신호(203)가 집적회로(415)에서 승산기(413)의 출력신호를 집적하여 발생되어 이전의 리샘플링위치를 유지하고 현재 시간축변동을 가산한다.

제10도에 나타낸 실시예에서, 시간축변동은 피이드백제어로 보정되므로 잡음에 영향을 받지 않는다. 물론, 이 실시예는 피이드포워드제어를 제외하고는 제1도의 실시예와 동일한 특징은 지닌다.

제10도에 나타낸 본 발명의 제2실시예에 사용하는 리샘플링위치신호생성회로(109)의 제2예를 이하 제12도를 참조하면서 설명한다.

제12도는 리샘플링위치신호생성회로(109)의 제2예의 블록도이다. 제12도에서, 제11도내의 회로와 동일한 기능을 지니는 블록에는 동일번호를 사용한다. 이 회로에서, 저주파통과필터(416)는 일반적으로 고주파수를 지니는 잡음을 제거하기 위해 일정한 승산기(413)와 집적회로(415) 사이에 삽입된다. 저주파통과필터가 피이드백루우프내에 삽입되어 있으므로, 잡음감응이 훨씬 감소되어, 시간축변동을 보정하는 성능이 훨씬 향상된다.

Claims

입력애널로그신호(200)의 시간축변동을 보정하는 시간축 보정장치에 있어서, 고정주기를 지닌 클록신호(201)를 발생하는 클록발생수단(107)과, 상기 클록신호(201)에 응해서, 상기 클록신호(201)에 의해 주어진 각각의 샘플링점에서 상기 입력애널로그신호(200)의 진폭값을 샘플링하여 디지틀신호(202)를 출력하는 애널로그디지틀변환수단(103)과, 상기 시간축변동을 검출하고 검출된 시간축변동으로부터 상기 샘플링점의 대응되는 점에 관하여 리샘플링점의 위치를 표시하는 리샘플링위치신호를 생성하며, 상기 리샘플링점은 대응되는 샘플링점에서 샘플링되는 입력애널로그신호의 진폭값이 존재하는 점인 리샘플링위치신호생성수단(102, 109)과, 상기 애널로그디지틀변환수단(103)으로부터의 상기 샘플링된 진폭값 및 상기 리샘플링위치신호를 사용하여 리샘플링점에서 각각의 진폭값을 보간하고, 상기 보간된 진폭값을, 상기 클록신호(201)에 의해서 주어진 샘플링타이밍에서 디지틀신호(204)로서 출력하는 보간수단(104)과, 상기 클록신호(201)에 응해서 상기 보간수단(104)으로부터 출력된 디지틀신호(204)를 시간축변동보정애널로그신호인 애널로그신호(205)로 변환하는 디지틀애널로그변환수단(106)을 포함하는것을 특징으로 하는 시간축 보정장치.
제1항에 있어서, 상기 보간수단(104)은, 상기 애널로그디지틀변환수단으로부터의 상기 샘플링된 진폭값을 각각 상기 클록신호(201)의 1주기분만큼 연속적으로 이동시켜, 그의 병렬출력데이터로서 복수의 연속 이동된 샘플링된 진폭값을 출력하는 이동수단(112)과, 상기 이동수단의 상기 병렬출력데이터로부터, 상기 리샘플링위치신호에 따라 리샘플링점이 존재하는 1주기내의 각각의 연속샘플링점에서 특정수의 연속샘플링된 진폭값을 선택하는 선택수단(119)과, 상기 리샘플링위치신호에 따라 소정계수를 생성하는 계수생성수단(131)과, 상기 선택수단에 의해 선택된 상기 샘플링된 진폭값을 상기 소정계수에 곱하는 승산수단(121, 122, 123, 124)과, 상기 승산수단으로부터 승산된 결과를 가산하여 보간된 진폭값을 출력하는 가산수단(125)을 포함하는 것을 특징으로 하는 시간축 보정장치.
입력애널로그신호의 시간축변동을 보정하는 시간축 보정장치에 있어서, 고정주기를 지닌 클록신호(201)를 발생하는 클록발생수단(107)과, 상기 클록신호에 응해서, 상기 클록신호에 의해 주어진 각각의 샘플링점에서 상기 입력애널로그신호의 진폭값을 샘플링하여 디지틀신호(202)를 출력하는 애널로그디지틀변환수단(103)과, 상기 디지틀신호(202)로부터 상기 시간축변동을 검출하고, 상기 검출된 시간축변동으로부터, 상기 샘플링점의 대응되는 점에 관하여 리샘플링점의 위치를 표시하는 리샘플링 위치신호를 생성하며, 상기 리샘플링점에 대응되는 샘플링점에서 샘플링되는 입력애널로그신호의 진폭값이 존재하는 점인 리샘플링위치신호생성수단(102)과, 상기 애널로그디지틀변환수단으로부터의 상기 샘플링된 진폭값 및 상기 리샘플링위치신호를 사용하여 리샘플링점에서 각각의 진폭값을 보간하고, 상기 보간된 진폭값을, 상기 클록신호에 의해 주어진 샘플링타이밍에서 디지틀신호로서 출력하는 보간수단(104)과, 상기 클록신호에 응해서, 상기 보간수단으로부터 출력된 디지틀신호를, 시간축변동보정애널로그신호인 애널로그신호로 변환하는 디지틀애널로그변환수단(106)을 포함하는 것을 특징으로 하는 시간축 보정장치.
제3항에 있어서, 상기 보간수단(104)은, 상기 애널로그디지틀변환수단으로부터의 상기 샘플링된 진폭값을 각각 상기 클록신호의 1주기분만큼 연속적으로 이동시켜, 그의 병렬출력데이터로서 복수의 연속이동된 샘플링된 진폭값을 출력하는 이동수단(112)과, 상기 이동수단의 상기 병렬출력데이터로부터, 상기 리샘플링 위치신호에 따라 리샘플링점이 존재하는 1주기내의 각각의 연속샘플링점에서 특정수의 연속샘플링된 진폭값을 선택하는 선택수단(119)과, 상기 리샘플링위치신호에 따라 소정계수를 생성하는 계수생성수단(131)과, 상기 선택수단에 의해 선택된 상기 샘플링된 진폭값을 상기 소정계수에 곱하는 승산수단(121, 122, 123, 124)과, 상기 승산수단으로부터 승산된 결과를 가산하여 보간된 진폭값을 출력하는 가산수단(125)을 포함하는 것을 특징으로 하는 시간축 보정장치.
입력애널로그신호의 시간축변동을 보정하는 시간축 보정장치에 있어서, 고정주기를 지닌 클록신호를 발생하는 클록발생수단(107)과, 상기 클록신호에 응해서, 상기 클록신호에 의해 주어진 각각의 샘플링점에서 상기 입력애널로그신호의 진폭값을 샘플링하여 디지틀신호를 출력하는 애널로그디지틀변환수단(103)과, 상기 시간축변동을 검출하고, 상기 검출된 시간축변동으로부터 상기 샘플링점의 대응되는 점에 관하여 리샘플링점의 위치를 표시하는 리샘플링위치신호를 생성하며, 상기 리샘플링점은 대응되는 샘플링점에서 샘플링되는 입력애널로그신호의 진폭값이 존재하는 점인 리샘플링 위치신호생성수단(109)과, 상기 애널로그디지틀변화수단으로부터의 상기 샘플링된 진폭값 및 상기 리샘플링위치신호를 사용하여 리샘플링점에서 각각의 진폭값을 보간하고, 상기 보간된 진폭값을 상기 클록신호에 의해 주어진 샘플링타이밍에서 디지틀신호로서 출력하는 보간수단(104)과, 상기 클록신호에 응해서, 상기 보간수단으로부터 출력된 디지틀신호를 시간축변동보정애널로그신호인 애널로그신호로 변환하는 디지틀애널로그변환수단(106)을 포함하며, 상기 리샘플링위치신호생성수단(109)은 상기 보간수단의 출력디지틀신호(204)로부터 시간축변동을 검출하는 것을 특징으로 하는 시간축 보정장치.
제5항에 있어서, 상기 보간수단(104)은, 상기 애널로그디지틀 변환수단으로부터의 상기 샘플링된 진폭값을 각각 상기 클록신호의 1주기분만큼 연속적으로 이동시켜, 그의 병렬출력데이터로서 복수의 연속이동된 샘플링된 진폭값을 출력하는 이동수단(112)과, 상기 이동수단의 상기 병렬출력데이터로부터, 상기 리샘플링위치신호에 따라 리샘플링점이 존재하는 1주기내의 각각의 연속샘플링점에서 특정수의 연속샘플링된 진폭값을 선택하는 선택수단(119)과, 상기 리샘플링위치신호에 따라 소정계수를 생성하는 계수생성수단(131)과, 상기 선택수단에 의해 선택된 상기 샘플링된 진폭값을 상기 소정계수에 곱하는 승산수단(121, 122, 123, 124)과, 상기 승산수단으로부터 승산된 결과를 가산하여 보간된 진폭값을 출력하는 가산수단(125)을 포함하는 것을 특징으로 하는 시간축 보정장치.
제5항에 있어서, 상기 리샘플링위치신호생성수단(109)은 검출된 시간축변동을 집적하여 상기 리샘플링위치신호를 생성하는 집적수단(415)을 포함하는 것을 특징으로 하는 시간축 보정장치.
제7항에 있어서, 리샘플링위치생성수단(109)은 또한, 상기 집적수단(415)앞에 설치되어 고주파수 잡음을 감소하는 필터수단(416)을 포함하는 것을 특징으로 하는 시간축 보정장치.