KR890008916A - 집적 소자 제조방법 - Google Patents

집적 소자 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR890008916A
KR890008916A KR1019880014202A KR880014202A KR890008916A KR 890008916 A KR890008916 A KR 890008916A KR 1019880014202 A KR1019880014202 A KR 1019880014202A KR 880014202 A KR880014202 A KR 880014202A KR 890008916 A KR890008916 A KR 890008916A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
performing step
substrate
layer
insulating layer
gettering
Prior art date
Application number
KR1019880014202A
Other languages
English (en)
Inventor
퍼낸드 도타터스 민더거스
사이몬 해러스 엘에인
폴 마틴 2세 에드워드
안쏘니 스티비 프레드
Original Assignee
엘리 와이스
아메리칸 텔리폰 앤드 텔레그라프 캄파니
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘리 와이스, 아메리칸 텔리폰 앤드 텔레그라프 캄파니 filed Critical 엘리 와이스
Publication of KR890008916A publication Critical patent/KR890008916A/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/03Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on ceramics or electro-optical crystals, e.g. exhibiting Pockels effect or Kerr effect
    • G02F1/035Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on ceramics or electro-optical crystals, e.g. exhibiting Pockels effect or Kerr effect in an optical waveguide structure
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B6/13Integrated optical circuits characterised by the manufacturing method
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/322Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to modify their internal properties, e.g. to produce internal imperfections
    • H01L21/3221Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to modify their internal properties, e.g. to produce internal imperfections of silicon bodies, e.g. for gettering
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/29Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the position or the direction of light beams, i.e. deflection
    • G02F1/31Digital deflection, i.e. optical switching
    • G02F1/313Digital deflection, i.e. optical switching in an optical waveguide structure
    • G02F1/3132Digital deflection, i.e. optical switching in an optical waveguide structure of directional coupler type
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2201/00Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
    • G02F2201/06Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 integrated waveguide
    • G02F2201/066Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 integrated waveguide channel; buried
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00Function characteristic
    • G02F2203/21Thermal instability, i.e. DC drift, of an optical modulator; Arrangements or methods for the reduction thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

직접 소자 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따라 형성된 케터링(gettering)층을 포함한 개선된 광학 스위치를 설명하는 예시도.
제3도 내지 제2의 스위치 배열의 제조에 있어서 여러 단계를 설명하는 예시도.
제10도는 본 발명에 따라 형성된 중간 게터링층을 포함하는 멀티 레벨 금속 실리콘 직접 회로를 설명하는 예시도.

Claims (17)

  1. 이온의 드리프트를 줄이기 위해 집적 소자를 본질적으로 게터링 하는 단계를 포함하는 집적소자 제조방법에 있어서, 가) 소자 기판내의 집적 소자 구조의 활성화 영역(14,16)을 형성하는 단계와, 나) 소자 구조위에 절연층(20)을 침전시키는 단계를 구비하며, 다) 상기 절연층 위의 포스포실리케이트 그라스의 케터링층(36)을 침전시키는 단계와, 라) 600℃보다 낮은 온도에서 상기 게터링층을 어니일링 시키는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 집적 소자 제조방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 집적 소자가 집적 광학 소자이며, 수행 단계 가)에서, 광학 도파관이 광학 기판에 형성되며 또한, 상기 제조방법이 마) 수행단계 가)에서 형성된 도파관위에 전극구조를 형성하는 단계와, 바) 수행단계 가)에서 침전된 최소한 모든 게터링층이 제거되도록 소자를 엣칭시키는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 집적소자 제조방법.
  3. 제2항에 있어서, 수행단계 바)에서 밑에 있는 절연층 일부가 또한 엣칭되는 것을 특징으로 하는 집적소자 제조방법.
  4. 제2항에 있어서, 수행단계 가)에서 도파관이 광학 기판으로 확산되는 것을 특징으로 하는 집적 제조방법.
  5. 제1항에 있어서, 집적소자 반도체 기판을 사용하여 형성된 멀티 레벨 실리콘 집적 소자이며, 수행단계 가)는 반도체 기판으로 제1 및 제2도전형태의 활성 영역을 확산시키며, 이 확산단계의 미리 선정된 확산표면에 제1금속 전극 구성을 침전시키는 단계를 포함하며, 수행단계 다)는 절연층 표면에 포스포실리케이트 그라스의 게터링층을 침전시키는 단계와, 이 게터링층 표면에 제2절연층을 침전시키는 단계와, 이 제2절연층 표면에 제2금속 전극 구성을 침전시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적 소자 제조방법.
  6. 제5항에 있어서, 수행단계 나) 및 다)는 N금속 레벨 실리콘 직접소자 구조가 형성되도록 N번째 수행되는 것을 특징으로 하는 집적소자 제조방법.
  7. 감소된 이온 드리프트를 나타내는 집적 광학 소자를 형성하는 방법에 있어서, 상기 소자는 이온 드리프트를 일으키는 것으로 알려진 이동이 쉬운 알카리 이온을 포함하는 광학적 비등방성 물질의 기판을 사용하여 형성되며, 상기 기판 물질은 상부 및 하부 주요표면을 갖는 것으로 정의를 내리며, 가) 상부 주요 표면영역에서 상기 기판으로 광학도파관 구조를 형성하는 단계와, 나) 상기 기판의 상기 상부 주요 표면위에 절연층을 침전시키는 단계와, 다) 단계 b)에서 형성된 상기 절연층 위에 게터링층을 침전시키는 단계와, 라) 이동이 쉬운 알카리 이온을 충분히 트랩(trap)하기 위해, 기판으로부터 다른 물질의 외부 확산을 일으키는 알려진 온도보다 작은 온도에서 상기 게터링층을 어니일링 시키는 단계와, 마) 단계 가)에서 형성된 광학 도파관 구조를 충분히 오버레이(overlay)하기 위해 상기 어니일된 게터링층상에 전극구조를 형성하는 단계와, 바) 단계 마)에서 형성된 전극사이에 어떤 분류통로를 제거하기 위해 노출된 어니일링된 게터링층의 충분한 부분을 제거하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 집적 광학 소자를 형성하는 방법.
  8. 제1항에 있어서, 수행단계 다)에서 포스포실리케이트 그라스가 게터링층 물질로서 사용되는 것을 특징으로 하는 집적소자 제조방법.
  9. 제2항에 있어서, 수행단계 다)에서 포스포실리게이트 그라스가 스핀-온 기법을 사용하여 침전되는 것을 특징으로 하는 직접소자 제조방법.
  10. 제1항에 있어서, 수행단계 라)에서 상기 게터링층이 400℃ 내지 600°범위의 온도에서 어니일링 되는 것을 특징으로 하는 집적소자 제조방법.
  11. 제1항에 있어서, 수행단계 바)에서 노출되고 어니일링된 게터링층이 엣칭 마스크로서 전극 구조를 사용하는 엣칭액으로 제거되는 것을 특징으로 하는 집적소자 제조방법.
  12. 제5항에 있어서, 수행단계 바)에서 어니일링된 게터링층이 완충물인 HF용액으로 엣칭되는 것을 특징으로 하는 집적소자 제조방법.
  13. 제6항에 있어서, 수행단계 바)에서 엣칭 단계가 시간 주기 동안에 어니일링된 게터링층의 전체와, 절연층의 작은 일부를 충분히 제거되도록 수행하는 것을 특징으로 하는 집적소자 제조방법.
  14. 제1항에 있어서, 수행단계 나)에서 상기 절연층이 약 1500 내지 3000A°범위의 두께로 침전되며, 수행단계 다)에서 게터링층이 약 200내지 500A°범위의 두께로 침전되는 것을 특징으로 하는 집적소자 제조방법.
  15. 제1항에 있어서, 수행단계 가)에서 전이 금속은 광학 도파관 구조가 형성되도록 기판의 상부 주요 표면을 통해 확산되는 것을 특징으로 하는 집적 소자 제조방법.
  16. 제9항에 있어서, 수행단계 가)에서 티타늄이 광학 도파관 구조가 형성되도록 사용되는 것을 특징으로 하는 집적소자 제조방법.
  17. 제1항에 있어서, 광학적 비등방성 기판이 그룹(group)으로부터 LiNbO₃와 LiTaO₃를 비교하여 선택되는 것을 특징으로 하는 집적소자 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019880014202A 1987-11-02 1988-10-31 집적 소자 제조방법 KR890008916A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11528687A 1987-11-02 1987-11-02
US115,286 1987-11-02

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR890008916A true KR890008916A (ko) 1989-07-13

Family

ID=22360380

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019880014202A KR890008916A (ko) 1987-11-02 1988-10-31 집적 소자 제조방법

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP0315350A1 (ko)
JP (1) JPH01155631A (ko)
KR (1) KR890008916A (ko)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04179931A (ja) * 1990-11-14 1992-06-26 Oki Electric Ind Co Ltd 導波型光デバイス
US5404412A (en) * 1991-12-27 1995-04-04 Fujitsu Limited Optical waveguide device
EP1119042A2 (en) * 1992-08-21 2001-07-25 STMicroelectronics, Inc. Planar integrated circuit
US5418173A (en) * 1992-11-24 1995-05-23 At&T Corp. Method of reducing ionic contamination in integrated circuit fabrication
JP2555942B2 (ja) * 1993-08-27 1996-11-20 日本電気株式会社 光制御デバイス
CA2133300C (en) * 1993-11-01 1999-04-27 Hirotoshi Nagata Optical waveguide device
CA2159129C (en) * 1994-09-27 1999-11-30 Hiroshi Nishimoto Optical control device and method for making the same

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3465209A (en) * 1966-07-07 1969-09-02 Rca Corp Semiconductor devices and methods of manufacture thereof
US4284663A (en) * 1976-05-10 1981-08-18 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Fabrication of optical waveguides by indiffusion of metals
JPS6248068A (ja) * 1985-08-28 1987-03-02 Nec Corp 半導体集積回路装置
EP0224712A3 (en) * 1985-11-01 1988-02-10 Texas Instruments Incorporated Integrated device comprising bipolar and complementary metal oxide semiconductor transistors
GB8531262D0 (en) * 1985-12-19 1986-01-29 British Telecomm Lithium niobate waveguide structures
JPS62227116A (ja) * 1986-03-28 1987-10-06 Nec Corp 光合波分波器

Also Published As

Publication number Publication date
JPH01155631A (ja) 1989-06-19
EP0315350A1 (en) 1989-05-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920007333B1 (ko) 반도체기판 및 그 제조방법
US4459739A (en) Thin film transistors
GB1381602A (en) Integrated circuit structure and method for making integrated circuit structure
KR920003541A (ko) 반도체 장치 및 그 제조방법
US4292156A (en) Method of manufacturing semiconductor devices
JPS6140035A (ja) 半導体装置の製造方法
US3632438A (en) Method for increasing the stability of semiconductor devices
KR890008916A (ko) 집적 소자 제조방법
KR860000706A (ko) 반도체 장치 및 그 제조방법
US3670403A (en) Three masking step process for fabricating insulated gate field effect transistors
US4861126A (en) Low temperature intrinsic gettering technique
KR880011925A (ko) 반도체장치 및 그 제조방법
US4499653A (en) Small dimension field effect transistor using phosphorous doped silicon glass reflow process
EP0076147A2 (en) Method of producing a semiconductor device comprising an isolation region
JP2522014B2 (ja) 透明電極の形成方法
JPS6459940A (en) Manufacture of semiconductor device
JPS6143484A (ja) 半導体装置の電極形成方法
JPS583252A (ja) 半導体集積回路装置
JPS58121643A (ja) 半導体装置の製造方法
KR850000037B1 (ko) 셀프얼라인 금속전극 복합 mos의 제조방법
KR0134859B1 (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
EP0053484B1 (en) A method for fabricating semiconductor device
KR19990060023A (ko) 액정 표시 장치용 박막 트랜지스터 기판과 그 제조 방법
JPS586135A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS6041243A (ja) 半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application