KR850008566A - 대치용장 회로를 가진 반도체집적 회로 - Google Patents

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KR850008566A
KR850008566A KR1019850003795A KR850003795A KR850008566A KR 850008566 A KR850008566 A KR 850008566A KR 1019850003795 A KR1019850003795 A KR 1019850003795A KR 850003795 A KR850003795 A KR 850003795A KR 850008566 A KR850008566 A KR 850008566A
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    • G—PHYSICS
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  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

대치용장 회로를 가진 반도체집적 회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도 및 제3도는 제1도에 표시된 회로에서 사용된 일치 검출회로의 구조에 대한 예시도.
제4도는 본 발명의 실시예에 따르는 집적회로의 블록도.
제5도는 본 발명의 또 다른 실시예에 따르는 집적회로의 블록도.
제6도는 제4도 및 제5도에 표시된 회로에 사용된 일치검출회로의 구조에 대한 예시도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
2 : 일치검출회로 21 : 메모리 24 : 비교회로 7: 외부접속단자 25 : 상태검출회로 31 : 제어선.

Claims (10)

  1. 고장회로 부분을 용장회로 부분에 의해 대치시키기 위해 고장회로부분의 어드레스 정보를 기억시키기위한 메모리 수단, 상기 메모리수단으로부터 읽혀진 데이터 및 수신된 입력 어드레스간의 일치를 검출하기 위한 비교수단, 및 상기 비교수단에 의한 비교로부터 얻어진 데이타를 외부접속단자를 통해 전달하기 위한 전달수단으로 구성되는 것을 특징으로하는 반도체 집적회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 비교수단이 어드레스데이타의 모든 비트에 대해 일치를 검출하도록 하는 것을 특징으로하는 반도체 집적회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 비교수단이 어드레스데이타의 한 비트에 대해 일치를 검출하도록 하는 것을 특징으로하는 반도체 집적회로.
  4. 제1항에 있어서, 상기 메모리수단이 퓨우즈와 트랜지스터로 구성되는 것을 특징으로하는 반도체 집적회로.
  5. 제1항에 있어서, 하나의 메모리셀에 대응하는 특별한 어드레스 신호를 공급함으로써 다수의 메모리셀에 공통적으로 접속된 단자로부터 상기 메모리수단내의 상기 다수의 메모리셀중 하나의 기입상태를 표시하기 위한 신호를 전달하기 위해 상태검출수단을 더 포함하는 것을 특징으로하는 반도체 집적회로.
  6. 제5항에 있어서, 상기 메모리셀의 각각이 퓨우즈와 트랜지스터로 구성되는 것을 특징으로하는 반도체 집적회로.
  7. 제5항에 있어서, 상기 상태검출 수단이 검출선과 전압원 사이에 직렬로 접속된 트랜지스터로 구성되는 것을 특징으로하는 반도체 집적회로.
  8. 제5항에 있어서, 상기 상태 검출수단이 검출선 및 전압원 사이에 전속된 직렬접속 트랜지스터 및 병렬접속된 직렬접속 트랜지스터들로 구성되는 것을 특징으로하는 반도체 집적회로.
  9. 제5항에 있어서, 상기 상태검출수단이 제1 검출선과 전압원 사이에 직렬로 접속된 트랜지스터 및 제2 검출선과 전압원 사이에 직렬로 접속된 트랜지스터로 구성되는 것을 특징으로하는 반도체 집적회로.
  10. 제5항에 있어서, 상기 상태검출 수단이 검출선과 전압원사이에 직렬 접속된 직렬접속 트랜지스터들 및 병렬 접속된 직렬 접속 트랜지스터로 구성되는 것을 특징으로하는 반도체 집적회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019850003795A 1984-05-31 1985-05-31 대치 용장회로를 가진 반도체집적회로 KR900008191B1 (ko)

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JP59-109463 1984-05-31
JP59109463A JPS60254499A (ja) 1984-05-31 1984-05-31 記憶装置の作動状態の検査を行うことができる、冗長機能を有する半導体集積回路装置
JP109463 1984-05-31
JP153942 1984-07-26
JP15394284A JPS6134799A (ja) 1984-07-26 1984-07-26 半導体集積回路装置

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EP0163580A3 (en) 1988-08-31
EP0163580A2 (en) 1985-12-04
EP0163580B1 (en) 1996-09-04
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