KR20190125973A - 유리 패널 검출 장치 및 검출 이미지 합성 방법 - Google Patents
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- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 59
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 238000001308 synthesis method Methods 0.000 title claims abstract description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 28
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 16
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 10
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 10
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 10
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 2
- FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 Chemical compound C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9515—Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T17/00—Three dimensional [3D] modelling, e.g. data description of 3D objects
- G06T17/20—Finite element generation, e.g. wire-frame surface description, tesselation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/50—Image enhancement or restoration using two or more images, e.g. averaging or subtraction
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9513—Liquid crystal panels
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9515—Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
- G01N2021/9518—Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device using a surface follower, e.g. robot
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/10—Scanning
- G01N2201/103—Scanning by mechanical motion of stage
- G01N2201/1035—3D motion
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Geometry (AREA)
- Computer Graphics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract
본 발명은 유리 패널 검출 장치 및 검출 이미지 합성 방법을 공개한다. 유리 패널 검출 장치는 받침대, 이동 제어 장치, 패널 고정 장치 및 3 차원 라인 스캐너를 포함하며; 이동 제어 장치는 패널 고정 장치가 3 차원 라인 스캐너 상의 스캐닝 센서의 검출 영역 내에서 이동되도록 제어하고, 3 차원 라인 스캐너는 스캐닝 센서에 의해 스캐닝된 상기 패널 고정 장치 상의 유리 패널에 대한 데이터 정보를 분석하고 처리하며; 패널 고정 장치는 패널 고정 클램프와 패널 고정 클램프 상에 설치된 스캐닝 포지셔닝 치구를 포함하며, 스캐닝 포지셔닝 치구는 4 개의 엣지 프레임으로 둘러싸여 형성된 치구 프레임을 포함하며; 스캐닝 센서에 대향하는 상기 치구 프레임 상의 평면은 기준면이며, 치구 프레임의 4 개의 엣지 프레임 상 또는 임의의 2 개의 상호 인접한 엣지 프레임 상에는 스캐닝 센서에 대향하는 경사면 및 복수의 요홈이 설치된다. 상기 방식을 통해, 본 발명은 유리 패널을 정밀하게 검출할 수 있고, 패널 고정 장치의 구조를 단순화하고, 가공 난이도를 감소시킬 수 있다.
Description
본 발명은 유리 패널 검출 분야와 관련되며, 특히 유리 패널 검출 장치 및 검출 이미지 합성 방법에 관한 것이다.
모바일 인터넷 산업의 급속한 발전과 휴대 전화 및 태블릿 컴퓨터 등과 같은 전자 제품 시장의 급속한 확장에 따라, 전자 제품의 디스플레이 스크린을 보호하기 위해 사용되는 유리 패널도 점점 더 다양해지고 있다. 사용자의 편리성 요구 사항을 충족시키기 위해, 점점 더 많은 전자 제품이 아크형 엣지가 있는 유리 패널을 갖추기 시작하였다. 최근 몇 년 동안, 곡면 디스플레이 스크린의 출현과 일부 휴대폰에서의 성공적인 적용으로 인해, 곡면 스크린을 보호하기 위한 아크형 엣지가 있는 유리 패널 시장 또한 급속하게 발전하였다. 모든 종류의 전자 디스플레이 스크린 유리 패널에 대한 수요가 나날이 증가하고, 그 가공 과정에서의 품질 관리 또한 주목받고 있으며, 결함(크기)의 검출은 그 중에서 매우 중요한 부분이다.
전통적인 검출 플랫폼의 대부분은 주로 수동 검출 플랫폼이다. 작업자는 도트 게이지, 캘리퍼스 및 판독 확대경과 같은 측정 장비를 사용하여, 다양한 조명 조건 하에서, 육안 관찰을 통해 터치 스크린의 표면을 관찰하거나 측정 장비의 판독 값을 읽어, 유리 패널의 외관 결함(크기) 및 기하 형상에 대해 평가 및 측정을 진행한다. 현재는, 육안 검사를 이용한 몇가지 방법이 유리 패널을 검출하는데 사용되고 있다. 그러나, 현재의 육안 검사를 이용한 몇가지 방법은 특히 아크형 엣지를 갖는 유리 패널에 대해 낮은 효율과 낮은 검출 정확도의 문제가 존재하고 있다.
전통적인 기술에는 다음과 같은 기술상의 문제점이 존재한다:
중국 특허 ZL201710681350.2는 곡면 또는 아크면 유리 패널의 검출 장치 및 방법을 개시하고 있다. 그러나, 상기 장치 및 방법에 사용되는 유리 패널 탑재 테이블은 복잡한 형상을 가지며, 가공이 불편하다. 가공에 요구되는 정밀도가 높고, 미세 가공의 정밀도가 낮아, 곡면 유리 패널에 대한 검출 정밀도가 저하된다.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 평면형 유리 패널을 정확하게 검출할 수 있을 뿐만 아니라 곡면형 유리 패널도 정확하게 검출할 수 있으며, 정확한 검출 구조를 가지며, 패널 고정 장치의 구조를 단순화하고, 패널 고정 장치의 가공 난이도를 감소시킬 수 있는 유리 패널 검출 장치를 제공하는 것이다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위해, 본 발명은 다음과 같은 기술 방안을 사용한다: 본 발명이 제공하는 유리 패널 검출 장치는 받침대, 이동 제어 장치, 패널 고정 장치 및 3 차원 라인 스캐너를 포함하며; 상기 3 차원 라인 스캐너 및 상기 이동 제어 장치는 상기 받침대 상에 설치되고, 상기 패널 고정 장치는 상기 이동 제어 장치 상에 고정되고, 상기 이동 제어 장치는 상기 패널 고정 장치가 상기 3 차원 라인 스캐너 상의 스캐닝 센서의 검출 영역 내에서 이동되도록 제어하고, 상기 3 차원 라인 스캐너는 상기 스캐닝 센서에 의해 스캐닝된 상기 패널 고정 장치 상의 유리 패널에 대한 데이터 정보를 분석하고 처리하며; 상기 패널 고정 장치는 패널 고정 클램프와 패널 고정 클램프 상에 설치된 스캐닝 포지셔닝 치구를 포함하며, 상기 스캐닝 포지셔닝 치구는 4 개의 엣지 프레임으로 둘러싸여 형성된 치구 프레임을 포함하며; 상기 스캐닝 센서에 대향하는 상기 치구 프레임 상의 평면은 기준면이며, 상기 치구 프레임의 4 개의 엣지 프레임 상 또는 임의의 2 개의 상호 인접한 엣지 프레임 상에는 상기 스캐닝 센서에 대향하는 경사면 및 복수의 요홈이 설치된다.
바람직하게, 상기 치구 프레임 내에는 2 개의 지지판이 더 설치되며, 2 개의 지지판은 각각 치구 프레임의 양단부에 인접하고, 2 개의 지지판은 동일 평면에 있고 또한 치구 프레임보다 낮다.
바람직하게, 상기 경사면의 길이 방향은 대응하는 엣지 프레임의 길이 방향과 동일하고, 또한 경사면의 길이는 대응하는 엣지 프레임의 길이와 동일하며; 복수의 상기 요홈은 대응하는 엣지 프레임의 길이 방향을 따라 분포된다.
바람직하게, 상기 요홈은 V자형 요홈 또는 아크형 요홈이고, 상기 경사면은 경사 평면 또는 아크형 오목면 또는 아크형 볼록면이며; 상기 엣지 프레임 상의 각 요홈에 대응하는 위치에는 상이한 디지털 마크가 설치된다.
바람직하게, 상기 엣지 프레임은 2 개의 긴 엣지 프레임과 2 개의 짧은 엣지 프레임을 포함하고, 긴 엣지 프레임의 길이는 짧은 엣지 프레임의 길이보다 크며; 상기 긴 엣지 프레임 상의 복수의 요홈은 2 개의 세그먼트로 분할되고, 2 개의 세그먼트의 요홈은 각각 긴 엣지 프레임의 양단부에 인접하게 설치된다.
바람직하게, 상기 패널 고정 클램프는 클램프 기판과, 클램프 기판 상에 고정된 진공 흡착 장치와 그립핑 장치를 포함하며; 상기 그립핑 장치는 상기 치구 프레임의 중공부에 대응하여 설치되고, 그립핑 장치는 상기 유리 패널을 클램핑하기 위해 대향하여 설치된 2 개의 그립퍼와 그립퍼의 이동을 제어하기 위한 실린더를 포함하며; 상기 진공 흡착 장치는 그립퍼 사이에 설치된다.
바람직하게, 상기 그립핑 장치는 2 개가 있고, 2 개의 그립핑 장치 상의 그립퍼의 운동 방향은 각각 상기 유리 패널의 길이 방향 및 폭 방향과 동일하며; 상기 그립퍼의 높이는 상기 지지판의 높이보다 높고, 그립퍼에 대응하는 상기 지지판의 위치에는 그립퍼 회피 구멍이 제공되며; 상기 진공 흡착 장치 상의 흡착 고정 헤드의 높이는 상기 지지판과 동일 평면에 있으며; 상기 진공 흡착 장치 상에는 3 개의 흡착 고정 헤드가 있다.
바람직하게, 상기 이동 제어 장치는 Y 축 운동 유닛, X 축 운동 유닛, Z 축 운동 유닛, 제 1 회전 유닛 및 제 2 회전 유닛을 포함하며; 상기 Y 축 운동 유닛은 상기 받침대 상에 설치되고, Y 축 운동 유닛의 운동 방향은 상기 3 차원 라인 스캐너에 수직되며; 상기 X 축 운동 유닛은 상기 Y 축 운동 유닛 상에 설치되고, X 축 운동 유닛의 운동 방향은 상기 3 차원 라인 스캐너와 평행하며; 상기 Z 축 운동 유닛은 상기 X 축 운동 유닛 상에 설치되고, X 축 운동 유닛의 운동 방향은 상기 3 차원 라인 스캐너의 높이 방향과 동일하며; 상기 제 1 회전 유닛은 X 축 운동 유닛 상에 수직으로 설치되고, 상기 제 2 회전 유닛은 제 1 회전 유닛 상에 수직으로 설치되고, 제 1 회전 유닛 및 제 2 회전 유닛은 자신의 축선을 중심으로 회전 운동을 한다.
바람직하게, 상기 스캐닝 센서는 백색광 공초점 변위 센서이다.
검출 이미지 합성 방법은:
유리 패널을 패널 고정 장치 상에 고정되게 장착하는, a 단계;
Y 축 운동 유닛, Z 축 운동 유닛, 제 1 회전 유닛 및 제 2 회전 유닛을 작동하여 유리 패널의 스캐닝 상태를 자유롭게 조정하는, b 단계;
X 축 운동 유닛이 3 차원 라인 스캐너를 이동시켜 복수의 3D 포인트 클라우드 데이터를 스캔하여 수집하며, 또한 상기 복수의 3D 포인트 클라우드 데이터에 대해 메쉬 처리를 수행하는, c 단계;
3 차원 라인 스캐너가 상기 b단계 및 c단계의 방법에 따라 스캐닝 수집 처리를 여러 번 수행하며, 여기서, 유리 패널의 스캐닝 상태는 매회마다 다른, d단계;
메쉬 처리된 복수의 데이터를 합성하며, 합성 방법은 매회 수집한 기준면, 경사면 및 요홈의 데이터를 중복 합성 기준으로 사용하며; 여기서, 상기 합성 방법은 메쉬 데이터가 추가될 때마다 합성을 진행할 수도 있고, 모든 데이터가 수집되고 메쉬된 후에 전체적인 합성을 진행할 수도 있는, e 단계;
합성이 완성된 이미지를 이론 모델과 비교하여, 전면적 보고서와 무지개 맵을 생성하는, f 단계;를 포함한다.
본 발명은 평면형 유리 패널을 정밀하게 검출할 수 있을 뿐만 아니라 곡면형 유리 패널을 정확하게 검출할 수 있고, 정확한 검출 구조를 가지며, 패널 고정 장치의 구조를 단순화하고, 패널 고정 장치의 가공 난이도를 감소시킬 수 있으며, 그 구조가 간단하고, 사용이 편리하다. 또한 검출 이미지 합성 방법을 제공하여, 검출이 더욱 편리하고, 비교 합성이 더욱 용이하다.
도 1은 본 발명에 따른 유리 패널 검출 장치의 바람직한 실시예의 입체 구조 개략도이다.
도 2는 받침대 및 3 차원 라인 스캐너를 제거한 후의 본 발명에 따른 유리 패널 검출 장치의 다른 각도에서의 입체 구조 개략도이다.
도 3은 본 발명에 따른 유리 패널 검출 장치 상의 패널 고정 클램프의 입체 구조 개략도이다.
도 4는 본 발명에 따른 유리 패널 검출 장치 상의 스캐닝 포지셔닝 치구의 입체 구조 개략도이다.
도 5는 본 발명에 따른 유리 패널 검출 장치 상의 스캐닝 포지셔닝 치구의 평면 구조 개략도이다.
도 2는 받침대 및 3 차원 라인 스캐너를 제거한 후의 본 발명에 따른 유리 패널 검출 장치의 다른 각도에서의 입체 구조 개략도이다.
도 3은 본 발명에 따른 유리 패널 검출 장치 상의 패널 고정 클램프의 입체 구조 개략도이다.
도 4는 본 발명에 따른 유리 패널 검출 장치 상의 스캐닝 포지셔닝 치구의 입체 구조 개략도이다.
도 5는 본 발명에 따른 유리 패널 검출 장치 상의 스캐닝 포지셔닝 치구의 평면 구조 개략도이다.
다음은 본 분야의 기술자가 본 발명의 장점 및 특징을 용이하게 이해할 수 있도록, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 상세히 설명을 진행한다.
도 1 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 실시예는 다음 사항을 포함한다:
유리 패널 검출 장치는 받침대(1), 이동 제어 장치(2), 패널 고정 장치(3) 및 3 차원 라인 스캐너(4)를 포함한다. 상기 3 차원 라인 스캐너(4) 및 상기 이동 제어 장치(2)는 상기 받침대(1) 상에 설치되고, 상기 패널 고정 장치(3)는 상기 이동 제어 장치(2) 상에 고정되고, 상기 이동 제어 장치(2)는 상기 패널 고정 장치(3)가 상기 3 차원 라인 스캐너(4) 상의 스캐닝 센서의 검출 영역 내에서 이동되도록 제어하고, 상기 3 차원 라인 스캐너(4)는 상기 스캐닝 센서에 의해 스캐닝된 상기 패널 고정 장치(3) 상의 유리 패널(7)에 대한 데이터 정보를 분석하고 처리한다. 상기 패널 고정 장치(3)는 패널 고정 클램프와 패널 고정 클램프 상에 설치된 스캐닝 포지셔닝 치구를 포함하며, 패널 고정 클램프는 상기 유리 패널(7)을 고정하고, 스캐닝 포지셔닝 치구는 다중 스캔을 위한 상기 스캐닝 센서의 포지셔닝 기준이고 또한 상기 3 차원 라인 스캐너(4)가 데이터를 분석 처리하는 근거가 된다.
상기 스캐닝 포지셔닝 치구는 4 개의 엣지 프레임으로 둘러싸여 형성된 치구 프레임과 치구 프레임 내에 설치된 2 개의 지지판(66)을 포함한다. 2 개의 지지판(66)는 각각 치구 프레임의 양단부에 인접하고, 2 개의 지지판(66)은 동일 평면에 있고 또한 치구 프레임보다 낮다. 2 개의 지지판(66)은 나중에 유리 패널(7)에 대한 흡착 및 클램핑 고정을 진행하고, 동시에 유리 패널(7)의 변형을 더 크게 방지할 수 있도록, 유리 패널(7)에 대해 편리하게 임시적인 지지를 수행할 수 있다. 상기 스캐닝 센서에 대향하는 상기 치구 프레임 상의 평면은 기준면(61)이며, 상기 치구 프레임의 4 개의 엣지 프레임 상 또는 임의의 2 개의 상호 인접한 엣지 프레임 상에는 상기 스캐닝 센서에 대향하는 경사면(62) 및 복수의 요홈(63)이 설치된다. 상기 요홈(63)은 V자형 요홈 또는 아크형 요홈이고, 상기 경사면(62)은 경사 평면, 아크형 오목면 또는 아크형 볼록면이다. 요홈(63) 및 경사면(62)의 구조는 한정되지 않는다.
상기 경사면(62)의 길이 방향은 대응하는 엣지 프레임의 길이 방향과 동일하고, 경사면(62)의 길이는 대응하는 엣지 프레임의 길이와 동일하다. 복수의 상기 요홈(63)은 대응하는 엣지 프레임의 길이 방향을 따라 분포된다. 기준면(61), 경사면(62) 및 요홈(63)의 면은 후속 작업을 위해 3차원 라인 스캐너(4)에 의해 언제든지 스캐닝될 수 있다.
상기 엣지 프레임은 2 개의 긴 엣지 프레임과 2 개의 짧은 엣지 프레임을 포함하고, 긴 엣지 프레임의 길이는 짧은 엣지 프레임의 길이보다 크다. 상기 긴 엣지 프레임 상의 복수의 요홈(63)은 2 개의 세그먼트로 분할되고, 2 개의 세그먼트의 요홈(63)은 각각 긴 엣지 프레임의 양단부에 인접하게 설치된다. 중간부의 요홈(63)은 사용이 거의 없거나 사용하기 어렵기 때문에, 중간부에는 요홈(63)을 설치하지 않는다. 따라서 요홈(63)의 가공이 감소하여, 가공이 더욱 간단하고, 효율이 더욱 높다.
상기 엣지 프레임 상의 각 요홈(63)에 대응하는 위치에는 상이한 디지털 마크(65)가 설치되어, 수동으로 기준 포지셔닝을 진행할 수 있다. 기준 포지셔닝 후에, 유리 패널(7)의 다음 스캔은 기준 포지셔닝 포인트로부터 직접 개시될 수 있으므로, 공백 위치에 대한 스캐닝이 감소되어, 검출 효율이 향상된다.
상기 패널 고정 클램프는 클램프 기판(50)과, 클램프 기판(50) 상에 고정된 진공 흡착 장치와 그립핑 장치를 포함한다. 상기 그립핑 장치는 치구 프레임의 중공부에 대응되게 설치되며, 그립핑 장치는 상기 유리 패널(7)을 클램핑하기 위해 대향하여 설치된 2 개의 그립퍼(52)와 그립퍼(52)의 이동을 제어하기 위한 실린더(53)를 포함하며, 그립퍼(52)의 높이는 지지판(66)의 높이보다 높다. 상기 진공 흡착 장치는 그립퍼(52) 사이에 설치되고, 진공 흡착 장치 상의 흡착 고정 헤드(51)의 높이는 상기 지지판(66)과 동일 평면에 있다.
상기 그립핑 장치는 2 개가 있고, 2 개의 그립핑 장치 상의 그립퍼(52)의 운동 방향은 각각 상기 유리 패널(7)의 길이 방향 및 폭 방향과 동일하다. 상기 진공 흡착 장치 상에는 3 개의 흡착 고정 헤드(51)가 있어, 3개의 흡착 고정 헤드(51)가 유리 패널(7)을 흡착 고정할 때, 유리판(7)의 변형을 초래하지 않으며, 3개 헤드의 고정면은 평형을 이룬다. 상기 3 개의 흡착 헤드가 그립퍼(52)의 중심 주위에 분포되면 고정 효과가 가장 좋지만, 상기3 개의 흡착 헤드는 그립퍼(52)의 사이에만 위치하면 되고, 중심 위치의 여부는 한정되지 않는다. 그립퍼(52)에 대응하는 상기 지지판(66) 상의 위치에는 그립퍼(52)의 이동을 위한 그립퍼 회피 구멍(64)이 제공된다.
상기 이동 제어 장치(2)는 Y 축 운동 유닛, X 축 운동 유닛, Z 축 운동 유닛, 제 1 회전 유닛 및 제 2 회전 유닛을 포함한다. 상기 Y 축 운동 유닛은 상기 받침대(1) 상에 설치되고, Y 축 운동 유닛의 운동 방향은 상기 3 차원 라인 스캐너(4)에 수직된다. 상기 X 축 운동 유닛은 상기 Y 축 운동 유닛 상에 설치되고, X 축 운동 유닛의 운동 방향은 상기 3 차원 라인 스캐너(4)와 평행하다. 상기 Z 축 운동 유닛은 상기 X 축 운동 유닛 상에 설치되고, X 축 운동 유닛의 운동 방향은 상기 3 차원 라인 스캐너(4)의 높이 방향과 동일하다. 상기 제 1 회전 유닛은 X 축 운동 유닛 상에 수직으로 설치되고, 상기 제 2 회전 유닛은 제 1 회전 유닛 상에 수직으로 설치되고, 제 1 회전 유닛 및 제 2 회전 유닛은 자신의 축선을 중심으로 회전 운동을 수행한다. Y 축 운동 유닛은 Y 축 기판과, 상기 Y 축 기판의 일단에 장착된 Y 축 서보 모터와, Y 축 서보 모터에 의해 구동되는 Y 축 스크류 로드와, Y 축 스크류 로드와 매칭되는 Y 축 스크류 너트와, Y 축 스크류 너트에 고정되게 연결된 Y 축 슬라이더 및 Y 축 스크류 로드에 연결된 Y 축 엔코더를 포함한다. Y 축 슬라이더는 Y 축 기판 상에서 직선으로 슬라이딩할 수 있다. Y 축 스크류 로드에 Y 축 엔코더를 연결하면 Y 방향의 이동 상황을 더 잘 알 수 있고 Y 방향의 변위 크기를 알 수 있다. X 축 운동 유닛과 Z 축 운동 유닛의 구조 및 동작 원리는 상기 Y 축 운동 유닛과 유사함을 알 수 있다. Y 축 운동 유닛의 작동 원리는 다음과 같다: Y 축 서보 모터가 시작되고, Y 축 스크류 로드가 회전하게 구동하고, Y 축 스크류 로드 및 상기 Y 축 스크류 너트가 앞으로 또는 뒤로 움직이며, Y 축 스크류 너트가 Y 축 슬라이더를 구동하여 상응하게 앞으로 또는 뒤로 움직이며, Y 축 슬라이더는 X 축 기판을 구동하여 앞으로 또는 뒤로 움직인다. 제 1 회전 유닛은 제 1 회전 유닛 기판과, 상기 제 1 회전 유닛 기판 상에 고정된 제 1 리니어 구동 모터를 포함한다. 상기 제 1 회전 유닛 기판은 상기 Z 축 슬라이더에 의해 직선 구동된다. 제 2 회전 유닛은 제 2 회전 유닛 기판과, 상기 제 2 회전 유닛 기판에 고정된 제 2 리니어 구동 모터를 포함한다. 상기 제 2 회전 유닛 기판은 상기 제 1 리니어 구동 모터에 의해 회전 구동된다. 이동 제어 장치(2)는 5축 자유도를 가지며, 다중 스캐닝을 위해 다 방향으로 유리 패널(7)의 위치 상태를 조정할 수 있다.
검출 이미지 합성 방법은 다음 단계를 포함한다:
a 단계: 유리 패널(7)을 패널 고정 장치(3) 상에 고정되게 장착한다.
b 단계: Y 축 운동 유닛, Z 축 운동 유닛, 제 1 회전 유닛 및 제 2 회전 유닛을 작동하여 유리 패널(7)의 스캐닝 상태를 자유롭게 조정한다.
c 단계: X 축 운동 유닛이 3 차원 라인 스캐너(4)를 이동시켜 복수의 3D 포인트 클라우드 데이터를 스캔하여 수집하며, 상기 복수의 3D 포인트 클라우드 데이터에 대해 메쉬 처리를 수행한다.
d단계: 3 차원 라인 스캐너(4)가 상기 b단계 및 c단계의 방법에 따라 스캐닝 수집 처리를 여러 번 수행하며, 여기서, 유리 패널(7)의 스캐닝 상태는 매회마다 다르다.
e 단계: 메쉬 처리된 복수의 데이터를 합성하며, 합성 방법은 매회 수집한 기준면(61), 경사면(52) 및 요홈(63)의 데이터를 중복 합성 기준으로 사용한다. 여기서, 상기 합성 방법은 메쉬 데이터가 추가될 때마다 합성을 진행할 수도 있고, 모든 데이터가 수집되고 메쉬된 후에 전체적인 합성을 진행할 수도 있다.
f 단계: 합성이 완성된 이미지를 이론 모델과 비교하여, 전면적 보고서와 무지개 맵을 생성한다.
본 발명은 평면형 유리 패널(7)을 정밀하게 검출할 수 있을 뿐만 아니라 곡면형 유리 패널(7)을 정확하게 검출할 수 있고, 정확한 검출 구조를 가지며, 패널 고정 장치(3)의 구조를 단순화하고, 패널 고정 장치(3)의 가공 난이도를 감소시킬 수 있으며, 그 구조가 간단하고, 사용이 편리하다. 또한 검출 이미지 합성 방법을 제공하여, 검출이 더욱 편리하고, 비교 합성이 더욱 용이하다.
이상은 단지 본 발명의 실시예에 불과하며, 본 발명의 특허 범위를 한정하고자 하는 것이 아니므로, 본 발명의 설명서 및 첨부 도면 내용을 이용하여 행한 모든 등가 구조 또는 등가 공정 변형, 또는 다른 관련 기술에 직접 또는 간접적으로 적용하는 것은, 모두 본 발명의 특허 보호 범위에 포함된다.
1: 받침대, 2: 이동 제어 장치, 3: 패널 고정 장치, 4: 3차원 라인 스캐너, 50: 클램프 기판, 51: 흡착 고정 헤드, 52: 그립퍼, 53: 실린더, 61: 기준면, 62: 경사면, 63: 요홈, 64: 그립퍼 회피 구멍, 65: 디지털 마크, 66: 지지판, 7: 유리 패널.
Claims (10)
- 받침대, 이동 제어 장치, 패널 고정 장치 및 3 차원 라인 스캐너를 포함하며; 상기 3 차원 라인 스캐너 및 상기 이동 제어 장치는 상기 받침대 상에 설치되고, 상기 패널 고정 장치는 상기 이동 제어 장치 상에 고정되고, 상기 이동 제어 장치는 상기 패널 고정 장치가 상기 3 차원 라인 스캐너 상의 스캐닝 센서의 검출 영역 내에서 이동되도록 제어하고, 상기 3 차원 라인 스캐너는 상기 스캐닝 센서에 의해 스캐닝된 상기 패널 고정 장치 상의 유리 패널에 대한 데이터 정보를 분석하고 처리하는 유리 패널 검출 장치에 있어서,
상기 패널 고정 장치는 패널 고정 클램프와 패널 고정 클램프 상에 설치된 스캐닝 포지셔닝 치구를 포함하며, 상기 스캐닝 포지셔닝 치구는 4 개의 엣지 프레임으로 둘러싸여 형성된 치구 프레임을 포함하며;
상기 스캐닝 센서에 대향하는 상기 치구 프레임 상의 평면은 기준면이며, 상기 치구 프레임의 4 개의 엣지 프레임 상 또는 임의의 2 개의 상호 인접한 엣지 프레임 상에는 상기 스캐닝 센서에 대향하는 경사면 및 복수의 요홈이 설치되는 것을 특징으로 하는 유리 패널 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 치구 프레임 내에는 2 개의 지지판이 더 설치되며, 2 개의 지지판은 각각 치구 프레임의 양단부에 인접하고, 2 개의 지지판은 동일 평면에 있고 또한 치구 프레임보다 낮은 것을 특징으로 하는 유리 패널 검출 장치. - 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 경사면의 길이 방향은 대응하는 엣지 프레임의 길이 방향과 동일하고, 또한 경사면의 길이는 대응하는 엣지 프레임의 길이와 동일하며;
복수의 상기 요홈은 대응하는 엣지 프레임의 길이 방향을 따라 분포되는 것을 특징으로 하는 유리 패널 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 요홈은 V자형 요홈 또는 아크형 요홈이고, 상기 경사면은 경사 평면, 아크형 오목면 또는 아크형 볼록면이며;
상기 엣지 프레임 상의 각 요홈에 대응하는 위치에는 상이한 디지털 마크가 설치되는 것을 특징으로 하는 유리 패널 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 엣지 프레임은 2 개의 긴 엣지 프레임과 2 개의 짧은 엣지 프레임을 포함하고, 긴 엣지 프레임의 길이는 짧은 엣지 프레임의 길이보다 크며;
상기 긴 엣지 프레임 상의 복수의 요홈은 2 개의 세그먼트로 분할되고, 2 개의 세그먼트의 요홈은 각각 긴 엣지 프레임의 양단부에 인접하게 설치되는 것을 특징으로 하는 유리 패널 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 패널 고정 클램프는 클램프 기판과, 클램프 기판 상에 고정된 진공 흡착 장치와 그립핑 장치를 포함하며;
상기 그립핑 장치는 상기 치구 프레임의 중공부에 대응하여 설치되고, 그립핑 장치는 상기 유리 패널을 클램핑하기 위해 대향하여 설치된 2 개의 그립퍼와 그립퍼의 이동을 제어하기 위한 실린더를 포함하며;
상기 진공 흡착 장치는 그립퍼 사이에 설치되는 것을 특징으로 하는 유리 패널 검출 장치. - 청구항 2 또는 청구항 6에 있어서,
상기 그립핑 장치는 2 개가 있고, 2 개의 그립핑 장치 상의 그립퍼의 운동 방향은 각각 상기 유리 패널의 길이 방향 및 폭 방향과 동일하며;
상기 그립퍼의 높이는 상기 지지판의 높이보다 높고, 그립퍼에 대응하는 상기 지지판의 위치에는 그립퍼 회피 구멍이 제공되며;
상기 진공 흡착 장치 상의 흡착 고정 헤드의 높이는 상기 지지판과 동일 평면에 있으며;
상기 진공 흡착 장치 상에는 3 개의 흡착 고정 헤드가 있는 것을 특징으로 하는 유리 패널 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 이동 제어 장치는 Y 축 운동 유닛, X 축 운동 유닛, Z 축 운동 유닛, 제 1 회전 유닛 및 제 2 회전 유닛을 포함하며;
상기 Y 축 운동 유닛은 상기 받침대 상에 설치되고, Y 축 운동 유닛의 운동 방향은 상기 3 차원 라인 스캐너에 수직되며;
상기 X 축 운동 유닛은 상기 Y 축 운동 유닛 상에 설치되고, X 축 운동 유닛의 운동 방향은 상기 3 차원 라인 스캐너와 평행하며;
상기 Z 축 운동 유닛은 상기 X 축 운동 유닛 상에 설치되고, X 축 운동 유닛의 운동 방향은 상기 3 차원 라인 스캐너의 높이 방향과 동일하며;
상기 제 1 회전 유닛은 X 축 운동 유닛 상에 수직으로 설치되고, 상기 제 2 회전 유닛은 제 1 회전 유닛 상에 수직으로 설치되고, 제 1 회전 유닛 및 제 2 회전 유닛은 자신의 축선을 중심으로 회전 운동을 하는 것을 특징으로 하는 유리 패널 검출 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 스캐닝 센서는 백색광 공초점 변위 센서인 것을 특징으로 하는 유리 패널 검출 장치. - 청구항 1 내지 청구항 9 중 어느 한 항의 유리 패널 검출 장치를 사용하며,
유리 패널을 패널 고정 장치 상에 고정되게 장착하는, a 단계;
Y 축 운동 유닛, Z 축 운동 유닛, 제 1 회전 유닛 및 제 2 회전 유닛을 작동하여 유리 패널의 스캐닝 상태를 자유롭게 조정하는, b 단계;
X 축 운동 유닛이 3 차원 라인 스캐너를 이동시켜 복수의 3D 포인트 클라우드 데이터를 스캔하여 수집하며, 또한 상기 복수의 3D 포인트 클라우드 데이터에 대해 메쉬 처리를 수행하는, c 단계;
3 차원 라인 스캐너가 상기 b단계 및 c단계의 방법에 따라 스캐닝 수집 처리를 여러 번 수행하며, 여기서, 유리 패널의 스캐닝 상태는 매회마다 다른, d단계;
메쉬 처리된 복수의 데이터를 합성하며, 합성 방법은 매회 수집한 기준면, 경사면 및 요홈의 데이터를 중복 합성 기준으로 사용하며; 여기서, 상기 합성 방법은 메쉬 데이터가 추가될 때마다 합성을 진행할 수도 있고, 모든 데이터가 수집되고 메쉬된 후에 전체적인 합성을 진행할 수도 있는, e 단계;
합성이 완성된 이미지를 이론 모델과 비교하여, 전면적 보고서와 무지개 맵을 생성하는, f 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 검출 이미지 합성 방법.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810403009.5A CN110412054B (zh) | 2018-04-28 | 2018-04-28 | 一种玻璃面板检测设备及检测图像拼接方法 |
CN201810403009.5 | 2018-04-28 | ||
PCT/CN2018/109480 WO2019205499A1 (zh) | 2018-04-28 | 2018-10-09 | 一种玻璃面板检测设备及检测图像拼接方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20190125973A true KR20190125973A (ko) | 2019-11-07 |
KR102157365B1 KR102157365B1 (ko) | 2020-09-18 |
Family
ID=68293725
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020197024253A KR102157365B1 (ko) | 2018-04-28 | 2018-10-09 | 유리 패널 검출 장치 및 검출 이미지 합성 방법 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6797440B2 (ko) |
KR (1) | KR102157365B1 (ko) |
CN (1) | CN110412054B (ko) |
WO (1) | WO2019205499A1 (ko) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2018
- 2018-04-28 CN CN201810403009.5A patent/CN110412054B/zh active Active
- 2018-10-09 JP JP2019543989A patent/JP6797440B2/ja active Active
- 2018-10-09 WO PCT/CN2018/109480 patent/WO2019205499A1/zh active Application Filing
- 2018-10-09 KR KR1020197024253A patent/KR102157365B1/ko active IP Right Grant
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2020520442A (ja) | 2020-07-09 |
JP6797440B2 (ja) | 2020-12-09 |
CN110412054A (zh) | 2019-11-05 |
CN110412054B (zh) | 2024-04-30 |
WO2019205499A1 (zh) | 2019-10-31 |
KR102157365B1 (ko) | 2020-09-18 |
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