JPS62265520A - 2つの検出子を備えた三次元測定機 - Google Patents

2つの検出子を備えた三次元測定機

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JPS62265520A
JPS62265520A JP10924486A JP10924486A JPS62265520A JP S62265520 A JPS62265520 A JP S62265520A JP 10924486 A JP10924486 A JP 10924486A JP 10924486 A JP10924486 A JP 10924486A JP S62265520 A JPS62265520 A JP S62265520A
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藤谷 松四郎
Ichiro Kumagai
熊谷 一郎
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一郎 水野
Eiichi Tsunoda
栄一 角田
Koji Yoda
依田 幸二
Tomoji Nakayama
中山 智司
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、テーブル上の測定対象物と支柱に変位可能に
支持された検出子とを三次元方向に相対移動させつつ形
状、寸法等を測る三次元測定機の改良に関する。
〔1?景技術とその問題点〕 テーブルにa置された測定対象物と、基台に固定されま
たは移動可能とされた支柱にX軸およびZ軸方向に変位
可能に支持された検出子とを三次元方向に相対移動させ
つつその測定対象物の形状や寸法を測るいわゆる三次元
測定機が知られ、高精度−1定可能なことから多くの産
業分野で利用されている。
かかる三次元測定機の一般的構造は、検出子を支持しか
つそれを三次元方向(X、YおよびZ軸方向)に移動さ
せるための移動機構とテーブルとから形成される機械部
と、検出子からの信号を所定処理し形状等を求めるデー
タ処理装置を含む電子部とから構成されている。
ここに、従来三次元測定機の上記機械部について第6図
を参照しながら説明すると、この支柱固定型は、基台l
上にテーブル7と支柱2.2が設けられ、支柱2,2上
をY軸方向に移動可能とされたXスライダ19,19、
このXスライダ19゜19に渡架された横桁部材3上を
X軸方向に移動可能とされたXスライダ4およびこのX
スライダ4に支持されたZ案内ボックス5内をZ軸方向
に移動可能なスピンドル6とから移動機構を形成し、そ
のスピンドル6の先端側に検出子10を取り付けて機械
部を構成していた。したがって、テーブル7に載置した
測定対象物(図示省略)に対しスピンドル6を把持して
検出子10を接触等させつつそのスピンドル6の三次元
的座標値を順次検出し図示省略の電子部で所定処理する
ことによって測定対象物の形状、寸法等を測ることがで
きた。
しかしながら、上記従来の三次元測定機には次のような
問題点があった。
(9二次元測定機の普及に伴いその測定対象物も拡大さ
れ、検出子10をタッチ信号プローブ等に限定していた
のではその接触子が妥当関与できず(たとえば、プリン
ト配線基盤の電子部品取付穴等の穴径、大間ピンチを測
る場合、その穴に接触子が入らない)測定不能というこ
とが生した。そこで、従来、タッチ信号プローブ等の検
出子lOに代えて工具顕微鏡をスピンドル6に取り付け
て測る方法が採られる場合があった。しかし、この場合
いは検出子10を代えるごとにいわゆる雰合わせ作業を
行わなければならず極めて作業能率の悪いものであった
■また、測定対象物の適応性拡大は、上記の場合でいう
タッチ信号プローブと工具顕微鏡とのいずれか一方では
全点測定を行うことができない場合が多く生じたが、ス
ピンドル6へそれら検出子IOを交換取付すること自体
が接触子等の位置づれけを起こさせてしまうため、結果
として測定精度が低くなり、測定作業の限定がされてし
まうという問題があった。しかも、作業者ごとのねじ締
付は等の差異も精度に大きな影ツを残し統一的管理、生
産ができないという欠点もあった。
■また、上記雨検出子IOの交換は、その作業の煩雑化
、位置づれ誤差の発生等のみならず、測定工程中に手作
業が入るためのコンピュータ制御いわゆるCNC三次元
測定機の達成が困難であるという致命的欠陥を有すると
いう問題もあった。
〔発明の目的〕
本発明は、上記従来問題点を除去し、検出子交換作業を
することなく迅速かつ高精度で測定対象の広い2つの検
出子を備えた三次元測定機の提供を目的とする。
〔問題点を解決するための手段および作用〕本発明は、
相互に一定の関連を持たせた2つの検出子を備えること
によって煩雑作業をすることなく高速で高精度の測定を
できるようするのである。これがため、テーブル上の測
定対象物と検出手段とを三次元方向に相対移動しつつ測
定対象物の寸法形状等を測る三次元測定機において、前
記検出手段を各軸線がZ軸線と平行であってZ軸線方向
に変位可能かつXI!th線およびY軸線方向に変位不
能された2つの検出子を備えて構成し前記目的を達成す
るのである。
本発明は上記構成とされているから、一方検出了を用い
た測定と他方検出子を用いた測定並びに雨検出子のX軸
方向およびY軸方向の相対変位が不能とされているから
原点合わせ等を都度しなくとも、雨検出子を両用した測
定が検出子を交換することなく迅速かつ精度よく行うこ
とができる。
また、2つの検出が備えられているので接触型と非接触
型あるいは一般的精度検出子と高精度検出子というよう
な組み合わせ使用ができるので適用性を飛!rJ的に向
上できる。
〔実施例〕
本発明に係る2つの検出子を備えた三次元測定機の一実
施例を図面を参照しながら詳細に説明する。
まず、第1図〜第3図をもって三次元測定機の概略全体
構成を説明すると、基台1のX軸方向の両側に一対の支
柱2,2が立設され、この支柱22の上記側にXスライ
ダ4をX軸方向に摺動自在に案内する横桁部材3が渡架
されている。Xスライダ4に一体的に設けられたZ案内
ボックス5には、Y軸方向に変位可能な変位部材たるス
ピンドル6と角柱体25が支持され、スピンドル6には
検出手段lOの一方検出子たるタッチ信号プローブ11
が角柱体25にはその他方検出子たるビデオカメラ21
にZ軸を合わせる鏡筒22が設けられている。この鏡筒
22には拡大レンズ(図示省略)が倍率切替可能に内蔵
されている。そして、測定対象物(図示省略)を取り付
けるためのテーブル7は基台lに対しY軸方向に移動可
能とされている。したがって、2つの検出子をXスライ
ダ4に一体的とされたZ案内ボックス5に取り付けても
、それら検出子側すなわち検出手段10側をf多動させ
る必要がないから本体構造を小型軽量化できる。
なお、基台lにはY軸方向に沿って断面コ字状の凹所1
4が設けられ、ここに図示省略したテーブル7の基台!
に対するX軸位置規制手段、X軸位置規制手段、Y軸方
向変位検出手段等が収容できるようされており、蛇11
18.8等による防塵装置によりそれら手段に塵埃等が
侵入しないよう構成されいる。
次に、第4図を参照して雨検出子の相互関係を示す構造
を説明する。これはZ案内ボックス5に収容されており
、第2図のIV−[V矢視線に基づく側断面図である。
第4図に見られるように先端側に接触子12を有するタ
ッチ信号プローブ11が設けられたスピンドル6は、X
スライダ4に支持されたエアベアリング9にY軸方向に
慴動自在に支持されるとともに、同じくXスライダ4に
支柱部材84で支持さた保持部材83に回動可能とされ
たローラ82,82に渡架された吊ひも80でバランス
ウェイト81とウェイトバランスされている。したがっ
て、スピンドル6は微力でY軸方向に移動させることが
できる。
そして、このスピンドル6は、第1駆動手段30によっ
て自動運転あるいはCNC運転できるよう構成されてい
る。第1駆動手段30は、Xスライダ4に一体的に設け
られた支持台36に上端面側に固着されたモータ31、
このモータ31で駆動されるギヤ32,33、このギヤ
33で回動駆動されるねじ軸34およびこのねじ軸34
に螺合されスピンドル6に一体化形成されたナツト部材
35とから形成されている。これにより、スピンドル6
は、モータ31を駆動制御することによってY軸方向に
定量的に移動制御できるようなっている。
一方、他方の検出子たるビデオカメラ21に主軸を一致
させる鏡筒22を支持する角柱体25はスピンドル6に
一体化形成された下支持板17に−設けられたエアヘア
リング29にY軸方向に摺動自在に支持されるとともに
、第2駆動手段40でさらにY軸方向に相対移動可能と
されている。この第2駆動手段40は、スピンドル6と
一体的な下支持板16と下支持板17とに回動可能に支
持されたねし軸42と、このねし軸42に螺合されたナ
ツト部材23およびねじ軸42を駆4動するためのモー
タ41とから構成されている。なお、43はロータリー
エンコーダであって、スピンドル6に対する角柱体25
の2軸方向移動変位量を検出するためのものである。こ
こに、角柱体25すなわち他方の検出子たるビデオカメ
ラ21 、 Gn筒22は第2駆動手段40によってス
ピンドル6すなわち一方の検出子たるタッチ(3゛号プ
ローブ11に対し相対変位可能とされかつ、第2駆動手
段40を駆動させないときはスピンドル6と一体的に、
すなわち同期的にY軸方向に変位可能と構成されている
また、この実施例における電子部は、第5図に見られる
ようにビデオ測定回′850とタッチ測定回路60がデ
ータ処理装置70等から構成されるいる。
タッチ測定回路60は、検出手段10の一方の検出子で
あるタッチ信号プローブ11の接触子12が測定対象物
(図示省略)に当接されたときにタッチ信号プローブ1
1から発せられるタッチ信号に基づいて測定対象物の当
該測定面の座1 (X。
YおよびZ軸方向の基準点に対する当該位置)データを
特定するデータ特定回路61とこのデータ特定回路61
で特定した座標データを測定プログラムに基づいて所定
処理し、寸法形状を求める測定部62とからなついる。
したがって、データ特定回路61には、X軸方向変位検
出器65、Y軸方向変位検出器66およびZ軸方向変位
検出器67の各出力が入力され、また、後記ビデオ測定
回路50のためのロータリーエンコーダ43も接続され
ている。
また、ビデオ測定回路50は、鏡筒22から入射された
測定対象物の測定面からの反射光を受けてその測定面を
観察するビデオカメラ21からの出力信号を白、黒の二
値化信号に変換する信号変換回路51と、この二値化信
号を画像蓄積する配位回路52と、その二値化信号され
た画像を写すモニタ72と、このモニタ72に写された
画像の31測すべきポイント、線あるいは面積を特定す
るためにエツジ検出するためのエツジ検出手段53およ
びこのエツジ検出手段53で検出した、例えば、ポイン
ト−ポイント間の長さをビデオカメラ21で決定されて
いるピクセルの数との関係から求める測定部54とから
形成されている。測定部54には、上記のポイント−ポ
イントの両ポイントがモニタ72に同時的に写し出せな
い場合にはその間の比較的大きい距離をも勘案して全長
を測らなければならないことからデータ特定回路61か
らX軸方向およびY軸方向の座標データが入力され、ま
た装置形成便宜上Z軸方向の座標データも入力されてい
る。
データ処理装置70は、CPU73、キーボード71、
モニタ72およびプリンタ、CRT等の出力手段74と
から形成されており、CPU73は、ビデオ測定回路5
0、タッチ測定回路60の双方またはいずれか一方を利
用して測定するための測定プログラム、駆動プログラム
さらに出力手段74をコントロールすべき出力プログラ
ム等に基づきそれら回路、1段等を制御、監視等するも
のとされている。また、キーボード71は、再測定回路
50.60を制御するための指令信号を出力、特定する
ほか前記エツジ検出手段53のすべてまたはその一部と
兼用し、モニタ72も各メソセージの表示はか、上記の
画像を表示するものとされている。
なお、この実施例では、選択によってCPU73からの
測定プログラム、駆動プログラムに基づいて、第1およ
び第2駆動手段30.40を駆動制御し全自動測定が行
うことができるようされており、このためのビデオカメ
ラ21はZ軸方向についてオートフォーカス回路(図示
省略)が内蔵されている。なお、38.48はモータ3
1,41を駆動するためのドライバーである。
このように構成された本実施例では次のような運転、測
定をすることができる。
〔準備〕
テーブル7上に測定対象物(図示省略)を取り付け、検
出手段10とこの測定対象物との相対位置関係すなわち
基準位置合わせを公知の方法で完了しておく。
そして、タッチ測定回路60による測定、ビデオ測定回
路50による測定、両回路50.60の併用測定か否か
をキーボード71で選択しておく。
(タッチ測定回路による測定〕 データ処理装置70のCPU73の指令に基づいて、図
示省略したX軸方向駆動手段、基台lの凹所14に内蔵
されたY軸方向駆動手段並びに第1駆動手段30が自動
運転され、検出手段10と4Iす定対象物とは、X、Y
およびZ軸方向すなゎら三次元方向に自動的に連続的ま
たは/および間歇的に移動運転される。ここで、第1駆
動手段3゜は、CPU73からの指令に基づいてドライ
バー38を介しモータ31を駆動する。するとギヤ32
.33の回動によりねじ軸34、ナツト部材35とを介
することによって、スピンドル6をZ軸方向に移動させ
ることができる。この場合、第2駆動手段40は駆動さ
れないが予め手動により角柱体25を第4図で最上端に
位置づけすることができ、鏡筒22は、タッチ信号プロ
ーブ11による測定を防げないものとされている。
したがって、タッチ信号プローブ11の接触子12が順
次測定対象物の測定面に当接され、当接されるごとに出
力されるタッチ信号に基づいてデータ特定回路61で各
座標データを検出し、測定部62によってその形状、寸
法等が自動測定される。この測定値は、出力手段74た
るプリンタ等に表示記録される。このようにして、タッ
チ測定回路60、データ処理装置70により自動測定を
行うことができる。
〔ビデオ測定回路による測定〕
このビデオ測定回路50による測定の場合にも検出手段
!Oの他方検出子たるビデオカメラ211筒22)と測
定対象物とは前記タッチ測定回路60の場合と同様に自
動的に相対移動される。
なお、この場合は前記場合と逆に一方検出子たるタッチ
信号プローブ11例をZ軸方向の最上位としておくのが
よい。また、ビデオカメラ21のZ軸方向はその鏡筒2
2が測定面と一定の距離となるよう、つまり鮮明画像を
検出できるようドライバー48、モータ41を介し第2
駆動手段40(または/および第1駆動手段30)によ
ってオートフォーカスされる。
したがって、測定対象物の測定面とビデオカメラ21と
が所定の関係に位置づけされたときに捉えた画像を二値
化信号に変換された信号変換回路51からの出力に基づ
いて所定位置でのエツジ検出とその寸法等測定をエツジ
検出手段53、測定部54の作用によって行うことがで
きる。なお、測定面の画像が例えば、拡大倍率によって
一度にモニタ72の有効映像域に表示されない比較的大
きな寸法等を測るときは、先の画像が記憶回路52に記
憶されかつ先のエツジ検出値が測定部54に記tなされ
るよう形成されているから、データ1)足回路61を介
し入力されたX軸、Y軸、Z軸方向座標データを利用し
て測定することができる。
ここに、ビデオ測定回路50による測定は測定対象物に
非接触であって、また、ビデオカメラ21の最小画要で
あるピクセルの数によって分解能が決定されるから1μ
m以下の高精度で測定できる。
なお、この精度をより高くする便法として、特定の場合
に、モータ72に写し出された測定面の拡大画像にエツ
ジ検出手段53で、たとえば、モニタ72上の電子表示
型カーソルの位置と方向を合わせることにより正確なエ
ツジ検出ができるよう部分的、一時的マニュアル操作も
できるよう形成されている。これは、キーボード71の
操作によっと行うことができる。
〔併用4Iり定〕 タッチ測定回路60とビデオ測定回路50との゛併用に
よって測定する場合である。
この併用測定の場合にも、検出手段10と測定対象物と
は前記二態様の場合と同様に三次元的に自動的に相対移
動が行なえる。但し、Z軸方向に付いては、一方検出子
たるタッチ信号プローブ11と他方検出子ためビデオカ
メラ21 (鏡筒22)との相対位置が測定対象物の形
状、位置等によって測定に最適となるようCPU73の
指令によって自動制御される。
すなわら、第1駆動手段30と第2駆動手段40との駆
動と停止およびこれらの組合せによってZ軸方向の位置
:fill ′4nか行われ、各検出子を支持するスピ
ンドル6と角柱体25との相対移動がなされる。この相
対移動変位層はロークリエンコーダ43によって検出さ
れている。
したがって、測定対象物の測定面の姿勢や形態に応じ再
測定態様を併用し広範囲に亘る自動測定が実行される。
特に、ある長さを測る場合その全長的精度は結局その両
側(両エツジ)の検出精度によるから相当長い測定範囲
でもビデオ測定回路50とタッチ測定回路60と組み合
わせ、併用によって高精度で測定することができる。な
お、両険出子の軸線間寸法は予め設定され、その値は測
定部54.62で自動補正されるものとなっている。
この実施例によれば、検出手段10としての−方の検出
子たるタッチ信号プローブ11と他方のビデオカメラ2
1 (鏡筒22)とをZ案内ボックス5内に一体的に収
納させであるからタッチ信号プローブ11によるタッチ
測定とビデオカメラ21による非接触のビデオ測定とを
各独立し又は両者併用の測定ができるので立体物のみな
らず立体物中の***やプリント基板の***をも一括的に
自動測定できるので測定対象物の著しい適用拡大を図る
ことができる。このことは、従来、その***等を測定で
きないがゆえに全体的なCNC達成をできないとしてい
た欠点を除去しCNC三次元測定機の”l!′及を拡大
できるという効果もある。
また、そのタッチ信号プローブ11とビデオカメラ21
とはX軸方向およびY軸方向に一定位置関係をもって設
けられ、両者を交換使用する必要がないから、煩雑な交
換作業がなく長時間作業、取板いをしないから作業能率
を飛曜的に向上させることができるばかりか、着脱によ
るガタ等の誤差がないので高精度測定が保障される。ま
た、ビデオカメラ21の分解能が1μm以下と高いので
長寸にあってもその両エツジの超高精度検出ができるの
で全体として測定精度を向上させることができる。
さらに、ビデオカメラ21を支持する角柱体25とタッ
チ信号プローブ11を支持するスピンドル6とは、第1
駆動手段30で一体的に移動されるほか、第2駆動手段
40によってZ軸方向に相対変位可能とされているから
、両検出子6.21の各測定時に他方側の検出子がじゃ
まとならないので測定対象物に対する移動が容易となり
、迅速、薙実な測定をすることができる。
また、検出手段10が各分解能の異なる2つの検出子す
なわちタッチ信号プローブ11とビデオカメラ21とか
ら形成されているから、徒らな必要以上の超高精度測定
を画一的に実行する必要がなく、反面全体として精度の
高い測定をすることができる。また、一方が接触型、他
方が非接触型とされているらプラスチック等軟弱物にも
検出手段lOを交換することなく一連的測定ができ拡大
性を高めることができる。
さらにまた、三次元方向の一方向すなねたY軸方向の相
対移動−は測定対象物を取り付けるテーブル7を移動で
きるようしているから、2つの検出子を設けてもその1
多動機構を簡素化できるので小型、軽量化が達成される
ほか、これにより構造の撓み等を軽減でき、この点から
も高精度測定が保障される。
なお、以上の実施例では、一方検出子を接触型の夕・7
チ信号プローブ11、他方検出子を非接触型のビデオカ
メラ21としたが、両者ともに接触型または非接触型と
してもよい。また、非接触型はビデオカメラII用の画
像処理方式としたが光源とその反射光を利用するいわゆ
る三角測量方式等の検出子としてもよい、要は、一定の
相対位置関係が保たれた2つの検出子を備えればよいか
ら検出手段の型種、方式は限定されないものである。
但し、一方を接触型、他方を非接触型としておけば適用
拡大性等が著しく向上できる。
また、一方検出子を取り付けるスピンドル6と他方検出
子を取り付ける角柱体25とをZ軸方向に相対移動可能
としたが、必ずしも相対移動させる必要はなく、検出子
の形態や各軸線相互間の寸法等により選択すべきである
。但し、相対移動可能としておけば、円滑な移動、有効
測定範囲の拡大、さらには、上記オートフォーカス等機
能面をより向上させることができる。
また、可動テーブル型の三次元測定機としたが三次元測
定機の、たとえば、移動機構の構成、型++rt等は問
われず、駆動方向も全自動、半自動、手動あるいはこれ
らの組み合わせも任意に選択できるものである。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかの通り、本発明は、検出手段を交
換することなく2つの検出子によって測定対象物、測定
B tlを著しく拡大しつつ迅速かつ高精度で測定でき
るという優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る2つの検出子を伽えた三次元測定
機の全体構成図、第2図、第3図は同じく第1図に対応
させた正面図、側面図、第4図は同しく第2図のTV−
IV矢視線に基づく要部側断面、第5図は同じく電子部
の回路図および第6図は従来の三次元測定機の全体構成
図である。 7・・・テーブル、10・・・検出手段、11・・・一
方検出子であるタッチ信号プローブ、21・・・他方検
出子であるビデオカメラ、30・・・第1駆動手段、4
0・・・第2駆動手段、50・・・ビデオ測定回路、6
0・・・タッチ測定回路。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)テーブル上の測定対象物と検出手段とを三次元方
    向に相対移動しつつ測定対象物の寸法、形状等を測る三
    次元測定機において、 前記検出手段を各軸線がZ軸線と平行であってZ軸線方
    向に変位可能かつX軸線およびY軸線方向に変位不能さ
    れた2つの検出子から構成したことを特徴とする2つの
    検出子を備えた三次元測定機。
  2. (2)前記特許請求の範囲第1項において、前記検出子
    の一方は前記測定対象物に接触されたときにタッチ信号
    を出力するタッチ信号プローブとされ、その他方は前記
    測定対象物に非接触で前記測定対象物の表面寸法等を測
    定できるものとされていることを特徴とする2つの検出
    子を備えた三次元測定機。
  3. (3)前記特許請求の範囲第2項において、前記検出子
    の他方は画像処理方式で前記測定対象物の拡大された表
    面状態を測定するためのビデオカメラを含み形成されて
    いることを特徴とする2つの検出子を備えた三次元測定
    機。
  4. (4)前記特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれ
    かにおいて、前記検出手段は、Z軸方向に一体的に変位
    可能であるとともに各検出子がZ軸方向に相対変位可能
    とされていることを特徴とする2つの検出子を備えた三
    次元測定機。
JP10924486A 1986-05-12 1986-05-12 2つの検出子を備えた三次元測定機 Granted JPS62265520A (ja)

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004535580A (ja) * 2001-07-16 2004-11-25 ベルス・メステヒニーク・ゲーエムベーハー 表面特性の測定方法及び座標測定装置
JP2010160135A (ja) * 2008-12-09 2010-07-22 Toshiba Corp タービン発電機におけるステータコイルの接続組立の3次元形状測定方法及び3次元形状測定装置用冶具
JP2011509402A (ja) * 2007-12-27 2011-03-24 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 超音波検査(ut)を三次元座標測定機(cmm)と統合するための方法及びシステム
JP2011085398A (ja) * 2009-10-13 2011-04-28 Mitsutoyo Corp 表面性状測定機および表面性状測定方法
CN102818532A (zh) * 2011-06-10 2012-12-12 松下电器产业株式会社 三维测定方法
US8650939B2 (en) 2009-10-13 2014-02-18 Mitutoyo Corporation Surface texture measuring machine and a surface texture measuring method
JP2018072270A (ja) * 2016-11-02 2018-05-10 株式会社キーエンス 画像測定装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5350169B2 (ja) 2009-10-13 2013-11-27 株式会社ミツトヨ オフセット量校正方法および表面性状測定機

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53146656A (en) * 1977-05-26 1978-12-20 Nec Corp Outside shape measuring apparatus
JPS5634042A (en) * 1979-08-23 1981-04-06 Toshiba Corp Filter for use in ventilator
JPS5773604A (en) * 1980-10-27 1982-05-08 Sumitomo Metal Ind Ltd Measuring device for height of reinforcement of weld
JPS5866004A (ja) * 1981-10-14 1983-04-20 Nissan Motor Co Ltd 三次元形状の測定方法
JPS5887408A (ja) * 1981-11-07 1983-05-25 カ−ル・ツアイス−スチフツング 多座標測定機械の自己定心作用を有する係合する測定機構に固定された検出ピンを校正する方法並びにこの方法を実施する標準器
JPS60107186A (ja) * 1983-11-15 1985-06-12 Hitachi Ltd 物体認識装置
JPS60161523A (ja) * 1984-02-02 1985-08-23 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 三次元測定機
JPS60171409A (ja) * 1984-02-16 1985-09-04 Sumitomo Metal Ind Ltd 管ネジ部肉厚測定装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53146656A (en) * 1977-05-26 1978-12-20 Nec Corp Outside shape measuring apparatus
JPS5634042A (en) * 1979-08-23 1981-04-06 Toshiba Corp Filter for use in ventilator
JPS5773604A (en) * 1980-10-27 1982-05-08 Sumitomo Metal Ind Ltd Measuring device for height of reinforcement of weld
JPS5866004A (ja) * 1981-10-14 1983-04-20 Nissan Motor Co Ltd 三次元形状の測定方法
JPS5887408A (ja) * 1981-11-07 1983-05-25 カ−ル・ツアイス−スチフツング 多座標測定機械の自己定心作用を有する係合する測定機構に固定された検出ピンを校正する方法並びにこの方法を実施する標準器
JPS60107186A (ja) * 1983-11-15 1985-06-12 Hitachi Ltd 物体認識装置
JPS60161523A (ja) * 1984-02-02 1985-08-23 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 三次元測定機
JPS60171409A (ja) * 1984-02-16 1985-09-04 Sumitomo Metal Ind Ltd 管ネジ部肉厚測定装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004535580A (ja) * 2001-07-16 2004-11-25 ベルス・メステヒニーク・ゲーエムベーハー 表面特性の測定方法及び座標測定装置
JP2011509402A (ja) * 2007-12-27 2011-03-24 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 超音波検査(ut)を三次元座標測定機(cmm)と統合するための方法及びシステム
JP2010160135A (ja) * 2008-12-09 2010-07-22 Toshiba Corp タービン発電機におけるステータコイルの接続組立の3次元形状測定方法及び3次元形状測定装置用冶具
JP2011085398A (ja) * 2009-10-13 2011-04-28 Mitsutoyo Corp 表面性状測定機および表面性状測定方法
US8650939B2 (en) 2009-10-13 2014-02-18 Mitutoyo Corporation Surface texture measuring machine and a surface texture measuring method
CN102818532A (zh) * 2011-06-10 2012-12-12 松下电器产业株式会社 三维测定方法
JP2012255756A (ja) * 2011-06-10 2012-12-27 Panasonic Corp 3次元測定方法
JP2018072270A (ja) * 2016-11-02 2018-05-10 株式会社キーエンス 画像測定装置

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JPH0478929B2 (ja) 1992-12-14

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