KR20190096473A

KR20190096473A - 표시 장치

Info

Publication number: KR20190096473A
Application number: KR1020180015829A
Authority: KR
Inventors: 김현웅; 이승규; 김광민; 박종원
Original assignee: 삼성디스플레이 주식회사
Priority date: 2018-02-08
Filing date: 2018-02-08
Publication date: 2019-08-20
Also published as: KR102508468B1; CN110136580A; CN110136580B; US20190279543A1; US10446069B2

Abstract

표시 장치는 표시 패널, 제1 검사선, 제2 검사선 및 상기 제1 검사선 및 제1 화소 그룹 사이와 상기 제2 검사선 및 제2 화소 그룹 사이의 연결을 제어하는 검사 회로부를 포함하고, 상기 검사 회로부는, 상기 제1 검사선과 상기 제1 화소 그룹의 연결을 제어하는 제1 스위칭부 및 상기 제2 검사선과 상기 제2 화소 그룹의 연결을 제어하는 제2 스위칭부를 포함하는 스위칭부, 및 상기 스위칭부와 전기적으로 연결되며, 서로 연결된 제1 더미 전극 및 제2 더미 전극, 및 더미 제어 전극을 포함하는 더미 트랜지스터를 포함하는 더미 회로부를 포함할 수 있다.

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}

본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 크랙 여부를 검사할 수 있는 표시 장치에 관한 것이다.

표시 패널은 유연성이 우수한 기판을 포함할 수 있다. 유연성이 우수한 기판을 포함하는 표시 패널은 적어도 일부가 구부러지거나 휘어질 수 있다. 예를 들어, 영상이 표시되지 않는 비표시 영역 중 일부를 구부려 네로우 베젤을 구현할 수 있다. 또한, 영상이 표시되는 표시 영역 중 일부를 구부려 곡률을 갖는 표시 장치를 구현할 수 있다. 이 경우, 기판에 구비된 신호선들에 크랙이 발생되는 경우, 구동 불량이 발생될 수 있고, 표시 장치의 품질이 저하되는 문제가 발생될 수 있다.

본 발명의 목적은 표시 패널의 크랙 여부에 대한 검사가 가능하고, 검사 회로부를 정전기로부터 보호할 수 있는 신뢰성이 향상된 표시 장치를 제공하는 데 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역 및 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역이 정의되고, 상기 표시 영역에 배치된 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 상기 비표시 영역에 배치되며, 검사 전압을 수신하고, 상기 복수의 화소들 중 제1 화소 그룹과 전기적으로 연결되는 제1 검사선, 상기 검사 전압을 수신하고, 상기 비표시 영역의 일부를 경유하며, 상기 복수의 화소들 중 상기 제1 화소 그룹과 상이한 제2 화소 그룹과 전기적으로 연결되는 제2 검사선, 및 상기 비표시 영역에 배치되어, 상기 제1 검사선 및 상기 제1 화소 그룹 사이와 상기 제2 검사선 및 상기 제2 화소 그룹 사이의 연결을 제어하는 검사 회로부를 포함하고, 상기 검사 회로부는 상기 제1 검사선과 상기 제1 화소 그룹의 연결을 제어하는 제1 스위칭부 및 상기 제2 검사선과 상기 제2 화소 그룹의 연결을 제어하는 제2 스위칭부를 포함하는 스위칭부, 및 상기 스위칭부와 전기적으로 연결되며, 서로 연결된 제1 더미 전극 및 제2 더미 전극, 및 더미 제어 전극을 포함하는 더미 트랜지스터를 포함하는 더미 회로부를 포함할 수 있다.

상기 더미 회로부는 상기 제1 스위칭부와 상기 제1 검사선 사이에 연결된 제1 더미 회로부 및 상기 제2 스위칭부와 상기 제2 검사선 사이에 연결된 제2 더미 회로부를 포함할 수 있다.

상기 더미 회로부는 상기 제1 스위칭부와 상기 제1 검사선 사이에 연결되거나, 상기 제2 스위칭부와 상기 제2 검사선 사이에 연결될 수 있다.

상기 제1 스위칭부 및 상기 제2 스위칭부 각각은 스위칭 트랜지스터를 포함하고, 상기 스위칭 트랜지스터는 스위칭 제어 전극, 상기 제1 검사선 또는 상기 제2 검사선에 연결된 제1 스위칭 전극 및 상기 제1 화소 그룹 또는 상기 제2 화소 그룹에 연결된 제2 스위칭 전극을 포함하고, 상기 더미 제어 전극과 상기 스위칭 제어 전극은 서로 동일한 신호를 수신하고, 상기 제1 더미 전극 및 상기 제2 더미 전극은 상기 제1 검사선 또는 상기 제2 검사선에 연결될 수 있다.

상기 복수의 화소들은 제1 색을 표시하는 제1 화소, 상기 제1 색과 상이한 제2 색을 표시하는 제2 화소, 및 상기 제1 색 및 상기 제2 색과 상이한 제3 색을 표시하는 제3 화소를 포함하고, 상기 제1 화소 그룹은 상기 제1 내지 제3 화소 중 적어도 하나 이상의 화소로 구성되고, 상기 제2 화소 그룹은 상기 제1 화소 그룹과 동일한 색을 표시하는 화소로 구성될 수 있다.

상기 제1 화소 그룹 및 상기 제2 화소 그룹 각각은 복수로 제공되고, 상기 제1 검사선은 복수로 제공된 상기 제1 화소 그룹들과 전기적으로 연결되고, 상기 제2 검사선은 복수로 제공된 상기 제2 화소 그룹들과 전기적으로 연결될 수 있다.

상기 검사 전압을 수신하는 검사 전압 패드를 더 포함하고, 상기 제1 검사선은 상기 검사 전압 패드 및 상기 제1 스위칭부와 전기적으로 연결되고, 상기 제2 검사선은 상기 검사 전압 패드 및 상기 제2 스위칭부와 전기적으로 연결될 수 있다.

상기 제2 검사선은 상기 검사 전압 패드로부터 연장하여 상기 비표시 영역의 상기 일부를 경유하는 제1 서브 검사선, 및 상기 제1 서브 검사선으로부터 연장하여 상기 제2 스위칭부와 연결되는 제2 서브 검사선을 포함할 수 있다.

상기 제1 검사선은 매칭 저항을 포함할 수 있다.

상기 매칭 저항은 상기 검사 전압 패드와 상기 제1 스위칭부 사이에 제공될 수 있다.

상기 비표시 영역에 배치되어, 상기 복수의 화소들로 제공되는 데이터 전압을 수신하는 복수의 패드들을 더 포함하고, 평면 상에서 상기 검사 회로부는 상기 표시 영역과 상기 복수의 패드들 사이에 배치될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 비표시 영역이 정의되고, 상기 표시 영역에 배치된 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 검사 전압을 수신하고, 상기 복수의 화소들 중 적어도 일부와 전기적으로 연결된 검사선, 상기 비표시 영역에 배치되어, 상기 검사선과 상기 복수의 화소들 중 적어도 일부 사이의 연결을 제어하는 스위칭 트랜지스터, 및 상기 비표시 영역에 배치되며, 상기 검사선에 연결된 더미 트랜지스터를 포함하고, 상기 스위칭 트랜지스터는 스위칭 제어 전극, 상기 검사선에 전기적으로 연결된 제1 스위칭 전극 및 상기 복수의 화소들 중 적어도 일부에 전기적으로 연결된 제2 스위칭 전극을 포함하고, 상기 더미 트랜지스터는 상기 스위칭 제어 전극과 동일한 신호를 수신하는 더미 제어 전극, 상기 검사선에 전기적으로 연결된 제1 더미 전극 및 제2 더미 전극을 포함할 수 있다.

상기 검사선들은 상기 검사 전압을 수신하고, 상기 복수의 화소들 중 제1 화소 그룹과 전기적으로 연결되는 제1 검사선, 및 상기 검사 전압을 수신하고, 상기 비표시 영역의 일부를 경유하며, 상기 복수의 화소들 중 제2 화소 그룹과 전기적으로 연결되는 제2 검사선을 포함하고, 상기 제1 화소 그룹과 상기 제2 화소 그룹은 동일한 색을 표시하는 화소들로 구성될 수 있다.

상기 제1 더미 전극 및 상기 제2 더미 전극은 서로 연결될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 영역 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 비표시 영역이 정의되고, 상기 표시 영역에 배치되며, 각각이 제1 방향으로 배열된 복수의 화소들을 포함하며 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향을 따라 배열된 복수의 제1 화소 그룹들 및 각각이 상기 제1 방향으로 배열된 복수의 화소들을 포함하며 상기 제2 방향을 따라 배열된 복수의 제2 화소 그룹들을 포함하는 표시 패널, 검사 전압을 수신하고, 상기 복수의 제1 화소 그룹들과 전기적으로 연결되는 제1 검사선, 상기 검사 전압을 수신하고, 상기 비표시 영역의 일부를 경유하며, 상기 복수의 제2 화소 그룹들과 전기적으로 연결되는 제2 검사선, 및 상기 비표시 영역에 배치되어, 상기 제1 검사선 및 상기 제1 화소 그룹 사이와 상기 제2 검사선 및 상기 제2 화소 그룹 사이의 연결을 제어하는 검사 회로부를 포함하고, 상기 검사 회로부는 상기 제1 검사선과 상기 복수의 제1 화소 그룹들의 연결을 제어하는 제1 스위칭부 및 상기 제2 검사선과 상기 복수의 제2 화소 그룹들의 연결을 제어하는 제2 스위칭부를 포함하는 스위칭부, 및 상기 스위칭부와 전기적으로 연결된 더미 회로부를 포함할 수 있다.

상기 제1 검사선은 매칭 저항을 더 포함하고, 상기 매칭 저항은 상기 검사 전압이 수신되는 부분과 상기 제1 더미 회로부 사이에 제공될 수 있다.

상기 더미 회로부는 더미 트랜지스터를 포함하고, 상기 더미 트랜지스터는 상기 제1 스위칭부 및 상기 제2 스위칭부를 제어하는 신호와 동일한 신호를 수신하는 더미 제어 전극, 상기 제1 검사선 또는 상기 제2 검사선에 연결된 제1 더미 전극 및 상기 제1 더미 전극에 연결된 제2 더미 전극을 포함할 수 있다.

상기 복수의 제1 화소 그룹들과 상기 복수의 제2 화소 그룹들은 번갈아 가며 배열될 수 있다.

상기 복수의 제1 화소 그룹들과 상기 복수의 제2 화소 그룹들은 동일한 색을 표시하는 화소들로 구성될 수 있다.

본 발명에 따르면, 스위칭부를 정전기로부터 보호하기 위해 더미 회로부가 제공된다. 따라서, 정전기에 의해 스위칭부를 구성하는 스위칭 트랜지스터가 손상이 되는 것을 방지될 수 있다.

또한, 본 발명에 따르면, 하나의 검사선에 복수의 화소 그룹들이 연결된다. 표시 패널의 크랙 검사 시, 크랙이 발생한 경우 복수의 화소 그룹들이 발광한다. 따라서, 복수의 화소 그룹들의 발광 여부의 판단이 용이하고, 크랙 발생 여부의 판단이 용이할 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 평면도이다.
도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 평면도이다.
도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 사시도이다.
도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널 및 검사 회로부를 도시한 평면도이다.
도 3b는 검사 회로부의 일부분을 도시한 회로도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널 및 검사 회로부를 도시한 평면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 회로부의 등가 회로도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 회로부의 등가 회로도이다.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명한다. 본 명세서에서, 어떤 구성요소(또는 영역, 층, 부분 등)가 다른 구성요소 "상에 있다", "연결 된다", 또는 "결합 된다"고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성요소 상에 직접 연결/결합될 수 있거나 또는 그들 사이에 제3의 구성요소가 배치될 수도 있다는 것을 의미한다.

동일한 도면부호는 동일한 구성요소를 지칭한다. 또한, 도면들에 있어서, 구성요소들의 두께, 비율, 및 치수는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. "및/또는"은 연관된 구성들이 정의할 수 있는 하나 이상의 조합을 모두 포함한다.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.

"포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 사시도이다.

도 1을 참조하면, 표시 장치(DD)는 표시면(IS)을 통해 영상(IM)을 표시할 수 있다. 도 1에서는 표시면(IS)이 제1 방향(DR1) 및 제1 방향(DR1)과 교차하는 제2 방향(DR2)이 정의하는 면과 평행한 것으로 도시하였다. 하지만, 이는 예시적인 것으로, 다른 실시예에서 표시 장치(미도시)의 표시면(미도시)은 휘어진 형상을 가질 수 있다.

표시면(IS)의 법선 방향, 즉 표시 장치(DD)의 두께 방향은 제3 방향(DR3)이 지시한다. 각 부재들의 전면(또는 상면)과 배면(또는 하면)은 제3 방향(DR3)에 의해 구분된다. 그러나, 제1 내지 제3 방향들(DR1, DR2, DR3)이 지시하는 방향은 상대적인 개념으로서 다른 방향으로 변환될 수 있다. 이하, 제1 내지 제3 방향들은 제1 내지 제3 방향들(DR1, DR2, DR3)이 각각 지시하는 방향으로 동일한 도면 부호를 참조한다.

도 1에서 표시 장치(DD)로 휴대용 전자 기기를 예시적으로 도시하였다. 하지만, 표시 장치(DD)는 텔레비전, 모니터, 또는 외부 광고판과 같은 대형 전자장치를 비롯하여, 퍼스널 컴퓨터, 노트북 컴퓨터, 개인 디지털 단말기, 자동차 네비게이션 유닛, 게임기, 스마트폰, 태블릿, 및 카메라와 같은 중소형 전자 장치 등에 사용될 수도 있다. 또한, 이것들은 단지 실시예로서 제시된 것들로서, 본 발명의 개념에서 벗어나지 않은 이상 다른 전자 기기에도 채용될 수 있다.

표시면(IS)은 영상(IM)이 표시되는 표시 영역(DD-DA) 및 표시 영역(DD-DA)에 인접한 비표시 영역(DD-NDA)을 포함한다. 비표시 영역(DD-NDA)은 영상이 표시되지 않는 영역이다. 도 1에는 영상(IM)의 일 예로 어플리케이션 아이콘들을 도시하였다. 일 예로써, 표시 영역(DD-DA)은 사각 형상일 수 있다. 비표시 영역(DD-NDA)은 표시 영역(DD-DA)을 에워쌀 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 표시 영역(DD-DA)의 형상과 비표시 영역(DD-NDA)의 형상은 상대적으로 디자인될 수 있다. 또한, 표시 장치(DD)의 전면에 비표시 영역(DD-NDA)이 존재하지 않을 수도 있다.

도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 평면도이고, 도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 사시도이다.

도 2a 및 도 2b를 참조하면, 표시 패널(DP)에는 표시 영역(DA) 및 비표시 영역(NDA)이 정의될 수 있다. 표시 영역(DA)은 영상이 표시 되는 영역이고, 비표시 영역(NDA)은 영상이 비표시 되는 영역이다. 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA) 주변에 정의될 수 있다.

표시 패널(DP)의 표시 영역(DA)은 표시 장치(DD, 도 1 참조)의 표시 영역(DD-DA, 도 1)에 대응되고, 표시 패널(DP)의 비표시 영역(NDA)은 표시 장치(DD, 도 1 참조)의 표시 영역(DD-NDA, 도 1)에 대응될 수 있다. 하지만, 반드시 동일할 필요는 없고, 표시 패널(DP)의 구조/디자인에 따라 변경될 수 있다.

표시 패널(DP)의 기판은 실리콘 기판, 플라스틱 기판, 절연 필름, 또는 복수의 절연층들을 포함하는 적층 구조체일 수 있다. 표시 패널(DP)의 기판은 유연성을 가질 수 있고, 표시 패널(DP)의 적어도 일부는 벤딩될 수 있다. 도 2b에서는 표시 패널(DP)의 적어도 일부가 벤딩된 상태를 도시하였다.

도 2b를 참조하면, 표시 패널(DP)은 벤딩 여부를 기준으로, 제1 영역(NBA, 이하 비 벤딩 영역) 및 제2 영역(BA, 이하 벤딩 영역)으로 구분될 수 있다. 벤딩 영역(BA)은 벤딩된 상태에서 소정의 곡률을 갖는 곡률 영역(CA) 및 벤딩된 상태에서 비 벤딩 영역(NBA)과 마주하게 될 대향 영역(FA)을 포함할 수 있다. 비 벤딩 영역(NBA), 곡률 영역(CA), 및 대향 영역(FA)은 제1 방향(DR1)을 따라 배열될 수 있다. 벤딩 영역(BA)은 제2 방향(DR2)을 따라 연장되는 벤딩축(BX)을 따라 벤딩되고, 벤딩 영역(BA) 중 곡률 영역(CA)은 벤딩축(BX)을 따라 구부러지고, 대향 영역(FA)은 제3 방향(DR3)에서 비 벤딩 영역(NBA)의 일부와 마주하도록 배치된다.

표시 영역(DA)에는 화소들(PX), 화소들(PX)과 전기적으로 연결된 게이트 라인들(GL) 및 데이터 라인들(DL)이 배치될 수 있다. 비표시 영역(NDA)에는 게이트 구동부들(GD), 검사 회로부(TC), 패드부(PDD), 및 검사선들(TL2a, TL2b)이 배치될 수 있다.

게이트 라인들(GL), 및 데이터 라인들(DL) 각각은 화소들(PX) 중 대응하는 화소들에 전기적으로 연결될 수 있다. 검사 회로부(TC)는 데이터 라인들(DL) 중 적어도 일부의 데이터 라인들(DL)과 전기적으로 연결될 수 있다.

검사선들(TL2a, TL2b)은 비표시 영역(NDA)의 일부를 경유하며, 검사 회로부(TC)와 전기적으로 연결될 수 있다. 이에 대해서는 도 3에서 보다 구체적으로 설명된다.

도 2a에서는 게이트 구동부들(GD)이 표시 영역(DA)을 사이에 두고 마주하는 영역, 즉 표시 영역(DA)의 양 옆에 배치된 것을 예로 들어 도시하였다. 게이트 구동부들(GD)은 게이트 라인들(GL) 각각의 양 단에 게이트 신호를 인가하여, 게이트 신호의 딜레이에 의한 충전 불량을 방지할 수 있다. 하지만, 본 발명이 이에 제한되는 것은 아니고, 게이트 구동부들(GD) 중 하나는 생략되어, 표시 영역(DA)의 일 측에만 게이트 구동부가 배치될 수도 있다.

패드부(PDD)는 검사 전압 패드(PD_T) 및 패드들(PD)을 포함할 수 있다. 검사 전압 패드(PD_T)는 검사 회로부(TC)와 전기적으로 연결되어, 외부에서 제공되는 검사 전압을 검사 회로부(TC)로 전달할 수 있다. 패드들(PD) 각각은 데이터 라인들(DL) 각각과 전기적으로 연결될 수 있다.

별도로 도시하지 않았으나, 표시 패널(DP)은 패드부(PDD)에 COF(chip on film) 형태로 결합된 데이터 구동회로를 더 포함할 수 있다. 하지만, 이는 예시적인 것으로 본 발명의 다른 실시예에서 데이터 구동회로 역시 표시 패널(DP)에 집적화될 수도 있다. 데이터 구동 회로는 데이터 라인들(DL)과 전기적으로 연결되어 데이터 전압을 데이터 라인들(DL)로 전달할 수 있다.

표시 영역(DA)은 비 벤딩 영역(NBA)과 중첩하도록 제공될 수 있고, 대향 영역(FA)에는 검사 회로부(TC) 및 패드부(PDD)가 배치될 수 있다. 곡률 영역(CA)은 표시 영역(DA)과 검사 회로부(TC)가 실장된 영역 사이에 제공될 수 있다. 즉, 벤딩된 상태에서 비벤딩 영역(NBA) 아래에 배치되는 대향 영역(FA)에 검사 회로부(TC)가 배치된다. 대향 영역(FA)의 면적을 조절하여 검사 회로부(TC)가 제공될 영역의 면적을 확보할 수 있다. 따라서, 검사 회로부(TC)가 제공될 영역을 확보하기 보다 용이할 수 있다.

도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널 및 검사 회로부를 도시한 평면도이고, 도 3b는 검사 회로부의 일부분을 도시한 회로도이다.

도 3a 및 도 3b를 참조하면, 검사 전압 패드(PD_T)로부터 검사 전압을 수신하는 검사선은 제1 검사선(TL1) 및 제2 검사선들(TL2a, TL2b)을 포함할 수 있다.

제1 검사선(TL1)은 매칭 저항(MR)을 포함하는 검사선이고, 제2 검사선들(TL2a, TL2b)은 비표시 영역(NDA, 도 2a 참조)을 경유하는 검사선일 수 있다.

제2 검사선들(TL2a, TL2b)은 평면 상에서 표시 영역(DA)의 일부를 둘러싸고, 제2 검사선들(TL2a, TL2b) 각각은 루프 형상을 가질 수 있다. 본 발명의 실시예에서는 2 개의 제2 검사선들(TL2a, TL2b)을 도시하였으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 예를 들어, 본 발명의 다른 실시예에서는 1 개의 제2 검사선(TL2a) 만이 제공될 수도 있고, 3개 이상의 제2 검사선들이 제공될 수도 있다.

제2 검사선(TL2a)은 제1 서브 검사선(TL2-1a) 및 제2 서브 검사선(TL2-2a)을 포함할 수 있다. 제2 검사선(TL2b)은 제1 서브 검사선(TL2-1b) 및 제2 서브 검사선(TL2-2b)을 포함할 수 있다. 제1 서브 검사선(TL2-1a, TL2-1b)은 검사 전압 패드(PD_T)로부터 연장하여, 비표시 영역(NDA, 도 2a 참조)의 일부를 경유할 수 있고, 제2 서브 검사선(TL2-2a, TL2-2b)은 제1 서브 검사선(TL2-1a, TL2-1b)으로부터 연장하여 검사 회로부(TC)와 연결될 수 있다.

복수의 화소들(PX, 도 2a 참조)은 제1 화소(PX1), 제2 화소(PX2), 및 제3 화소(PX3)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 화소(PX1)는 제1 색을 표시하는 화소이고, 제2 화소(PX2)는 제1 색과 상이한 제2 색을 표시하는 화소이고, 제3 화소(PX3)는 제1 색 및 제2 색과 상이한 제3 색을 표시하는 화소일 수 있다.

본 발명의 일 실시예에서, 제1 화소(PX1)는 적색을 표시하는 화소일 수 있고, 제2 화소(PX2)는 녹색을 표시하는 화소일 수 있고, 제3 화소(PX3)는 청색을 표시하는 화소일 수 있다. 다만, 이는 예시적인 것으로 본 발명이 이에 제한되는 것은 아니다. 예를 들어, 본 발명의 다른 실시예에서, 복수의 화소들(PX)은 백색을 표시하는 제4 화소를 더 포함할 수도 있고, 다른 혼합색을 표시하는 제4 화소를 더 포함할 수도 있다.

제1 화소(PX1) 및 제3 화소(PX3)는 제1 방향(DR1)을 따라 번갈아 가며 배열될 수 있다. 제2 화소(PX2)는 복수로 제공되며, 제1 방향(DR1)을 따라 배열될 수 있다. 제1 화소(PX1) 및 제3 화소(PX3)가 번갈아 배열된 하나의 열과 제2 화소(PX2)가 배열된 하나의 열은 제2 방향(DR2)을 따라 번갈아 가며 배열될 수 있다. 이는 펜타일 구조로 명칭될 수 있다.

제1 검사선(TL1)은 복수의 화소들(PX, 도 2a 참조) 중 제1 화소 그룹(PXG1)과 전기적으로 연결되고, 제2 검사선들(TL2a, TL2b)은 복수의 화소들(PX, 도 2a 참조) 중 제2 화소 그룹(PXG2)과 전기적으로 연결될 수 있다.

제1 화소 그룹(PXG1)과 제2 화소 그룹(PXG2) 각각은 적어도 하나 이상의 화소로 구성될 수 있다. 제1 화소 그룹(PXG1)과 제2 화소 그룹(PXG2)을 구성하는 화소는 동일한 색을 표시하는 화소로 구성될 수 있다.

도 3a에서는 제1 화소 그룹(PXG1) 및 제2 화소 그룹(PXG2) 각각이 제2 화소(PX2)로 구성된 것을 예시적으로 도시하였다. 하지만, 본 발명이 이에 제한되는 것은 아니다. 예를 들어, 본 발명의 다른 실시예에서, 제1 화소 그룹(PXG1) 및 제2 화소 그룹(PXG2) 각각은 제1 화소(PX1) 및 제3 화소(PX3)로 구성될 수도 있다.

제1 화소 그룹(PXG1)과 제2 화소 그룹(PXG2) 각각은 복수로 제공될 수 있다. 복수로 제공된 제1 화소 그룹들(PXG1)은 제1 검사선(TL1)에 전기적으로 연결되고, 복수로 제공된 제2 화소 그룹들(PXG2)은 제2 검사선들(TL2a, TL2b)에 전기적으로 연결될 수 있다. 복수의 제1 화소 그룹들(PXG1)과 복수의 제2 화소 그룹들(PXG2)은 제2 방향(DR2)을 따라 교대로 배열될 수 있다.

도 3a에서는 제1 검사선(TL1)에 전기적으로 연결된 복수의 제1 화소 그룹들(PXG1), 제2 검사선(TL2a)에 전기적으로 연결된 복수의 제2 화소 그룹들(PXG2), 제1 검사선(TL1)에 전기적으로 연결된 복수의 제1 화소 그룹들(PXG1), 제2 검사선(TL2b)에 전기적으로 연결된 복수의 제2 화소 그룹들(PXG2), 및 제1 검사선(TL1)에 전기적으로 연결된 복수의 제1 화소 그룹들(PXG1)이 순차적으로 제2 방향(DR2)을 따라 배열된 것이 도시되었다.

검사 회로부(TC)는 제1 검사선(TL1)과 제1 화소 그룹들(PXG1) 사이 및 제2 검사선(TL2a, TL2b)과 제2 화소 그룹들(PXG2) 사이의 연결을 제어할 수 있다.

검사 회로부(TC)는 제1 스위칭부(TSC1), 제2 스위칭부(TSC2a, TSC2b) 및 더미 회로부(DC)를 포함할 수 있다.

제1 스위칭부(TSC1)는 제1 검사선(TL1)과 제1 화소 그룹들(PXG1)의 연결을 제어할 수 있다. 제2 스위칭부(TSC2a)는 제2 검사선(TL2a)과 제2 화소 그룹들(PXG2)의 연결을 제어할 수 있다. 제2 스위칭부(TSC2b)는 제2 검사선(TL2b)과 제2 화소 그룹들(PXG2)의 연결을 제어할 수 있다.

제1 스위칭부(TSC1) 및 제2 스위칭부(TSC2a, TSC2b) 각각은 스위칭 트랜지스터(STR)를 포함할 수 있다. 스위칭 트랜지스터(STR)는 복수로 제공될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(STR)는 데이터 라인(DL, 도 2a 참조)을 제1 검사선(TL1) 또는 제2 검사선(TL2a, TL2b)에 전기적으로 연결시킬 수 있다.

스위칭 트랜지스터(STR)는 스위칭 제어 전극(SEC), 제1 스위칭 전극(SE1) 및 제2 스위칭 전극(SE2)을 포함할 수 있다.

스위칭 제어 전극(SEC)은 스위칭 제어 신호(TGATE)를 수신할 수 있다. 스위칭 제어 신호(TGATE)는 스위칭 트랜지스터(STR)의 온-오프를 제어하는 신호일 수 있다. 표시 패널(DP, 도 2a 참조)의 크랙 검사 시에 스위칭 제어 신호(TGATE)에 의해 스위칭 트랜지스터(STR)는 턴-온될 수 있다. 제1 스위칭 전극(SE1)은 검사선에 전기적으로 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1 스위칭부(TSC1)의 제1 스위칭 전극(SE1)은 제1 검사선(TL1)에 연결되고, 제2 스위칭부(TSC2a)의 제1 스위칭 전극(SE1)은 제2 검사선(TL2a)에 연결될 수 있다. 제2 스위칭부(TSC2b)의 제1 스위칭 전극(SE1)은 제2 검사선(TL2b)에 연결될 수 있다.

제2 스위칭 전극(SE2)은 데이터 라인(DL, 도 2a 참조)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1 스위칭부(TSC1)의 제2 스위칭 전극(SE2)은 제1 화소 그룹(PXG1)에 연결된 데이터 라인과 연결되고, 제2 스위칭부(TSC2a, TSC2b)의 제2 스위칭 전극(SE2)은 제2 화소 그룹(PXG2)에 연결된 데이터 라인과 연결될 수 있다.

표시 패널(DP, 도 2a 참조)의 크랙 검사에 대해 예를 들어 설명하면, 제1 기간 동안 제1 화소 그룹들(PXG1) 및 제2 화소 그룹들(PXG2)은 소정의 빛을 방출한다. 예를 들어, 제1 기간 동안 제1 화소 그룹들(PXG1) 및 제2 화소 그룹들(PXG2)은 최대 휘도의 빛을 방출할 수 있다. 제1 기간 이후 제2 기간 동안, 제1 화소 그룹들(PXG1)에는 제1 검사선(TL1)을 통해, 제2 화소 그룹들(PXG2)에는 제2 검사선(TL2a, TL2b)을 통해 검사 전압이 인가된다. 검사 전압은 블랙 데이터 신호에 대응하는 전압일 수 있다.

표시 패널(DP, 도 2a 참조)에 크랙이 발생된 경우, 제2 검사선(TL2a, TL2b)의 저항은 증가될 수 있다. 따라서, 제2 기간 동안 제2 검사선(TL2a, TL2b)을 통해 제2 화소 그룹들(PXG2)에 인가되는 전압은 블랙의 전압 레벨까지 충전되지 못할 수 있다. 즉, 제2 화소 그룹들(PXG2)의 화소는 블랙이 아닌 소정의 빛을 방출할 수 있다. 이를 이용하여, 표시 패널(DP, 도 2a 참조)의 크랙 발생 여부를 판단할 수 있다.

제2 검사선(TL2a, TL2b)은 표시 패널(DP, 도 2a 참조)의 비표시 영역(NDA, 도 2a 참조)을 경유하기 때문에, 제1 검사선(TL1)의 배선 저항보다 큰 배선 저항을 가질 수 있다. 따라서, 이를 보상하기 위해 제1 검사선(TL1)에는 매칭 저항(MR)이 제공될 수 있다. 매칭 저항(MR)은 검사 전압 패드(PD_T)와 제1 스위칭부(TSC1) 사이에 제공될 수 있다.

매칭 저항(MR)에 의해 정상 상태(예를 들어, 크랙이 발생되지 않은 상태)에서 제1 검사선(TL1)을 통해 제1 화소 그룹들(PXG1)로 제공되는 제1 전압과 제2 검사선(TL2a, TL2b)을 통해 제2 화소 그룹(PXG2)로 제공되는 제2 전압의 차이는 최소화될 수 있다. 크랙이 발생되어, 제2 검사선(TL2a, TL2b)의 저항이 증가된 경우(비정상 상태로 명칭 될 수 있음), 상기 제2 전압은 상기 제1 전압보다 낮은 레벨을 가질 수 있다. 즉, 상기 제2 전압과 상기 제1 전압의 차이는 증가할 수 있다.

본 발명의 실시예에 따르면, 하나의 제2 검사선(TL2a)에 복수의 제2 화소 그룹들(PXG2)이 연결된다. 크랙이 발생한 경우, 제2 검사선(TL2a)에 연결된 복수의 제2 화소 그룹들(PXG2)이 소정의 빛을 방출한다. 즉, 크랙이 발생하였을 때, 다수의 화소 그룹들이 발광하기 때문에, 발광 여부의 판단이 용이할 수 있다. 따라서, 크랙 발생 여부의 판단이 용이할 수 있다.

제1 스위칭부(TSC1) 및 제2 스위칭부(TSC2)로 정전기가 유입되면, 제1 스위칭부(TSC1) 및 제2 스위칭부(TSC2)를 구성하는 스위칭 트랜지스터(STR)에 손상이 발생될 수 있다. 이를 방지하기 위해, 더미 회로부(DC)가 제공될 수 있다. 더미 회로부(DC)는 정전기로부터 제1 스위칭부(TSC1) 및 제2 스위칭부(TSC2)를 보호할 수 있다.

더미 회로부(DC)는 제1 더미 회로부(DC1) 및 제2 더미 회로부(DC2a, DC2b)를 포함할 수 있다. 제1 더미 회로부(DC1)는 제1 검사선(TL1)과 제1 스위칭부(TSC1) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 더미 회로부(DC2a)는 제2 검사선(TL2a)과 제2 스위칭부(TSC2a) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 더미 회로부(DC2b)는 제2 검사선(TL2b)과 제2 스위칭부(TSC2b) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다.

더미 회로부(DC)는 검사 회로부(TC)로 연장된 제1 검사선(TL1) 및 제2 검사선(TL2a, TL2b)에 제1 스위칭부(TSC1) 및 제2 스위칭부(TSC2)보다 먼저 연결될 수 있다. 따라서, 검사 회로부(TC)로 정전기가 유입되었을 때, 정전기는 더미 회로부(DC)로 먼저 유입될 수 있다.

예를 들어, 제1 검사선(TL1)을 통해 유입된 정전기는 제1 더미 회로부(DC1)로 유입될 수 있다. 정전기는 제1 더미 회로부(DC1)에 포함된 더미 트랜지스터들(DTR)을 손상시킬 수 있다. 제1 더미 회로부(DC1)를 경유한 정전기는 약화될 수 있고, 제1 스위칭부(TSC1)로 정전기가 유입될 확률이 감소될 수 있다. 또한, 제2 검사선(TL2a)을 통해 유입된 정전기는 제2 더미 회로부(DC2a)로 유입될 수 있다. 정전기는 제2 더미 회로부(DC2a)에 포함된 더미 트랜지스터들(DTR)을 손상시킬 수 있다. 따라서, 제2 스위칭부(TSC2a)로 정전기가 유입될 확률이 감소될 수 있다.

더미 회로부(DC)는 더미 트랜지스터(DTR)를 포함할 수 있다. 더미 트랜지스터(DTR)는 복수로 제공될 수 있다. 더미 트랜지스터(DTR)은 스위칭 트랜지스터(STR)과 동일한 공정을 통해 형성될 수 있다. 더미 트랜지스터(DTR)는 더미 제어 전극(DEC), 제1 더미 전극(DE1) 및 제2 더미 전극(DE2)을 포함할 수 있다.

제1 더미 전극(DE1)은 검사선에 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 더미 회로부(DC1)의 제1 더미 전극(DE1)은 제1 검사선(TL1)에 연결되고, 제2 더미 회로부(DC2a)의 제1 더미 전극(DE1)은 제2 검사선(TL2a)에 연결될 수 있다. 제2 더미 회로부(DC2b)의 제1 더미 전극(DE1)은 제2 검사선(TL2b)에 연결될 수 있다.

제2 더미 전극(DE2)은 제1 더미 전극(DE1)에 연결될 수 있다. 즉, 제1 더미 회로부(DC1)의 제2 더미 전극(DE2)은 제1 검사선(TL1)에 연결되고, 제2 더미 회로부(DC2a)의 제2 더미 전극(DE2)은 제2 검사선(TL2a)에 연결되고, 제2 더미 회로부(DC2b)의 제2 더미 전극(DE2)은 제2 검사선(TL2b)에 연결될 수 있다.

더미 제어 전극(DEC)은 스위칭 제어 전극(SEC)과 동일한 신호를 수신할 수 있다. 즉, 더미 제어 전극(DEC)은 스위칭 제어 신호(TGATE)를 수신할 수 있다. 따라서, 크랙 검사 시에 스위칭 트랜지스터(STR)가 턴-온되면, 더미 트랜지스터(DTR)도 턴-온 될 수 있다. 크랙 검사 과정 중에 정전기보다 낮은 전압 레벨을 갖지만 트랜지스터의 특성을 변화시킬 정도의 이상 전압이 유입되는 경우, 상기 이상 전압은 턴-온 된 더미 트랜지스터(DTR)로 유입될 수 있다. 따라서, 더미 트랜지스터(DTR)에 의해 스위칭 트랜지스터(SRT)의 특성 변화가 일어나는 것이 방지될 수 있다. 따라서, 크랙 검사의 신뢰성이 보다 향상될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에서, 제1 더미 회로부(DC1) 및 제2 더미 회로부(DC2a) 각각을 구성하는 더미 트랜지스터들(DTR)의 개수는 서로 동일할 수 있다. 하지만, 이에 제한되는 것은 아니다. 예를 들어, 본 발명의 다른 실시예에서, 제1 더미 회로부(DC1)를 구성하는 더미 트랜지스터들(DTR)의 개수와 제2 더미 회로부(DC2a)를 구성하는 더미 트랜지스터들(DTR)의 개수는 서로 상이할 수 있다. 예를 들어, 배선 설계에 따라 더미 트랜지스터들(DTR)이 형성될 수 있는 여유 공간에 차이가 있다면 제1 더미 회로부(DC1)를 구성하는 더미 트랜지스터들(DTR)의 개수와 제2 더미 회로부(DC2a)를 구성하는 더미 트랜지스터들(DTR)의 개수는 서로 상이할 수 있다. 또한, 제1 더미 회로부(DC1)에 연결된 제1 검사선(TL1)보다 제2 더미 회로부(DC2a)에 연결된 제2 검사선(TL2a)에서 정전기가 발생될 확률이 더 높거나, 발생되는 정전기의 세기가 더 크다면, 제2 더미 회로부(DC2a)를 구성하는 더미 트랜지스터들(DTR)의 개수는 제1 더미 회로부(DC1)를 구성하는 더미 트랜지스터들(DTR)의 개수보다 많을 수 있다.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널 및 검사 회로부를 도시한 평면도이다. 도 3a를 참조하여 설명된 구성에 대해서는 동일한 도면 부호를 표기하였고, 이에 대한 설명은 생략된다.

도 4를 참조하면, 복수의 화소들(PX, 도 2a 참조)은 제1 화소(PX1), 제2 화소(PX2), 및 제3 화소(PX3)를 포함할 수 있다. 제1 화소(PX1), 제2 화소(PX2) 및 제3 화소(PX3)는 제2 방향(DR2)을 따라 번갈아 가며 배열될 수 있다. 제1 화소(PX1)는 복수로 제공되며, 제1 방향(DR1)을 따라 배열될 수 있다. 제2 화소(PX2)는 복수로 제공되며, 제1 방향(DR1)을 따라 배열될 수 있다. 제3 화소(PX3)는 복수로 제공되며, 제1 방향(DR1)을 따라 배열될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에서, 제1 화소(PX1)는 적색을 표시하는 화소일 수 있고, 제2 화소(PX2)는 녹색을 표시하는 화소일 수 있고, 제3 화소(PX3)는 청색을 표시하는 화소일 수 있다.

제1 검사선(TL1) 및 제2 검사선(TL2a, TL2b)은 제2 화소(PX2)에 연결될 수 있다. 녹색의 제2 화소(PX2)는 어두운 곳에서 다른 색에 비해 시인성이 높다. 따라서, 크랙 검사 시 블랙의 전압 레벨까지 충전되지 못하여 제2 검사선(TL2a, TL2b)에 연결된 제2 화소(PX2)가 소정의 빛을 발광할 때, 약한 광을 발광하여도 크랙 여부를 용이하게 판단할 수 있다.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 회로부의 등가 회로도이다.

도 5에 도시된 검사 회로부(TCa)는 도 3a 및 도 3b와 비교하였을 때, 제1 더미 회로부(DC1, 도 3b 참조)가 생략될 수 있다.

제2 검사선(TL2a)은 표시 패널(DP, 도 2a 참조)의 비표시 영역(NDA, 도 2a 참조)의 일부를 경유하는 루프 형상을 가질 수 있다. 따라서, 제2 검사선(TL2a)은 정전기에 취약할 수 있다. 따라서, 도 5에 도시된 실시예에서는 제2 더미 회로부(DC2)만이 제공될 수 있다.

제2 더미 회로부(DC2)는 제2 검사선(TL2a)에 연결될 수 있다. 따라서, 제2 검사선(TL2a)을 통해 유입되는 정전기는 제2 스위칭부(TSC2)로 유입되기 전에 제2 더미 회로부(DC2)로 유입될 수 있다. 따라서, 제2 스위칭부(TSC2)가 정전기에 의해 파손되는 것을 방지할 수 있다.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 회로부의 등가 회로도이다.

도 6에 도시된 검사 회로부(TCb)는 도 3a 및 도 3b와 비교하였을 때, 제2 더미 회로부(DC2a, DC2b, 도 3a 및 도 3b 참조)가 생략될 수 있다.

정전기는 검사 전압 패드(PD_T)를 통해 유입될 수 있다. 제1 검사선(TL1)은 제2 검사선(TL2a)보다 스위칭부(TSC)에 더 짧은 경로를 제공할 수 있다. 따라서, 본 발명의 일 실시예에서, 제2 더미 회로부(DC2a, DC2b)는 생략되고, 제1 더미 회로부(DC1)만이 제공될 수 있다.

검사 전압 패드(PD_T)로부터 제1 검사선(TL1)을 통해 유입되는 정전기는 제1 스위칭부(TSC1)로 유입되기 전에 제1 더미 회로부(DC1)로 유입될 수 있다. 따라서, 제1 스위칭부(TSC1)가 정전기에 의해 파손되는 것이 방지될 수 있다.

이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술 분야에 통상의 지식을 갖는 자라면, 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.

DP: 표시 패널 TC: 검사 회로부
TL1: 제1 검사선 TL2a, TL2b: 제2 검사선
TSC1: 제1 스위칭부 TSC2a, TSC2b: 제2 스위칭부
DC: 더미 회로부 DC1: 제1 더미 회로부
DC2a, DC2b: 제2 더미 회로부

Claims

표시 영역 및 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역이 정의되고, 상기 표시 영역에 배치된 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널;
상기 비표시 영역에 배치되며, 상기 복수의 화소들 중 제1 화소 그룹과 전기적으로 연결되는 제1 검사선;
상기 비표시 영역의 일부를 경유하며, 상기 복수의 화소들 중 상기 제1 화소 그룹과 상이한 제2 화소 그룹과 전기적으로 연결되는 제2 검사선; 및
상기 비표시 영역에 배치되어, 상기 제1 검사선 및 상기 제1 화소 그룹 사이와 상기 제2 검사선 및 상기 제2 화소 그룹 사이의 연결을 제어하는 검사 회로부를 포함하고,
상기 검사 회로부는,
상기 제1 검사선과 상기 제1 화소 그룹의 연결을 제어하는 제1 스위칭부 및 상기 제2 검사선과 상기 제2 화소 그룹의 연결을 제어하는 제2 스위칭부를 포함하는 스위칭부; 및
상기 스위칭부와 전기적으로 연결되며, 서로 연결된 제1 더미 전극 및 제2 더미 전극, 및 더미 제어 전극을 포함하는 더미 트랜지스터를 포함하는 더미 회로부를 포함하는 표시 장치.
제1 항에 있어서,
상기 더미 회로부는 상기 제1 스위칭부와 상기 제1 검사선 사이에 연결된 제1 더미 회로부 및 상기 제2 스위칭부와 상기 제2 검사선 사이에 연결된 제2 더미 회로부를 포함하는 표시 장치.
제1 항에 있어서,
상기 더미 회로부는 상기 제1 스위칭부와 상기 제1 검사선 사이에 연결되거나, 상기 제2 스위칭부와 상기 제2 검사선 사이에 연결된 표시 장치.
제1 항에 있어서,
상기 제1 스위칭부 및 상기 제2 스위칭부 각각은 스위칭 트랜지스터를 포함하고,
상기 스위칭 트랜지스터는 스위칭 제어 전극, 상기 제1 검사선 또는 상기 제2 검사선에 연결된 제1 스위칭 전극 및 상기 제1 화소 그룹 또는 상기 제2 화소 그룹에 연결된 제2 스위칭 전극을 포함하고,
상기 더미 제어 전극과 상기 스위칭 제어 전극은 서로 동일한 신호를 수신하고, 상기 제1 더미 전극 및 상기 제2 더미 전극은 상기 제1 검사선 또는 상기 제2 검사선에 연결된 표시 장치.
제1 항에 있어서,
상기 복수의 화소들은 제1 색을 표시하는 제1 화소, 상기 제1 색과 상이한 제2 색을 표시하는 제2 화소, 및 상기 제1 색 및 상기 제2 색과 상이한 제3 색을 표시하는 제3 화소를 포함하고,
상기 제1 화소 그룹은 상기 제1 내지 제3 화소 중 적어도 하나 이상의 화소로 구성되고, 상기 제2 화소 그룹은 상기 제1 화소 그룹과 동일한 색을 표시하는 화소로 구성되는 표시 장치.
제1 항에 있어서,
상기 제1 화소 그룹 및 상기 제2 화소 그룹 각각은 복수로 제공되고,
상기 제1 검사선은 복수로 제공된 상기 제1 화소 그룹들과 전기적으로 연결되고, 상기 제2 검사선은 복수로 제공된 상기 제2 화소 그룹들과 전기적으로 연결되는 표시 장치.
제1 항에 있어서,
상기 제1 검사선 및 상기 제2 검사선 각각으로 검사 전압을 제공하는 검사 전압 패드를 더 포함하고,
상기 제1 검사선은 상기 검사 전압 패드 및 상기 제1 스위칭부와 전기적으로 연결되고,
상기 제2 검사선은 상기 검사 전압 패드 및 상기 제2 스위칭부와 전기적으로 연결되는 표시 장치.
제7 항에 있어서,
상기 제2 검사선은
상기 검사 전압 패드로부터 연장하여 상기 비표시 영역의 상기 일부를 경유하는 제1 서브 검사선; 및
상기 제1 서브 검사선으로부터 연장하여 상기 제2 스위칭부와 연결되는 제2 서브 검사선을 포함하는 표시 장치.
제7 항에 있어서,
상기 제1 검사선은 매칭 저항을 포함하는 표시 장치.
제9 항에 있어서,
상기 매칭 저항은 상기 검사 전압 패드와 상기 제1 스위칭부 사이에 제공되는 표시 장치.
제1 항에 있어서,
상기 비표시 영역에 배치되어, 상기 복수의 화소들로 제공되는 데이터 전압을 수신하는 복수의 패드들을 더 포함하고,
평면 상에서 상기 검사 회로부는 상기 표시 영역과 상기 복수의 패드들 사이에 배치된 표시 장치.
표시 영역 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 비표시 영역이 정의되고, 상기 표시 영역에 배치된 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널;
상기 복수의 화소들 중 적어도 일부와 전기적으로 연결된 검사선;
상기 비표시 영역에 배치되어, 상기 검사선과 상기 복수의 화소들 중 적어도 일부 사이의 연결을 제어하는 스위칭 트랜지스터; 및
상기 비표시 영역에 배치되며, 상기 검사선에 연결된 더미 트랜지스터를 포함하고,
상기 스위칭 트랜지스터는 스위칭 제어 전극, 상기 검사선에 전기적으로 연결된 제1 스위칭 전극 및 상기 복수의 화소들 중 적어도 일부에 전기적으로 연결된 제2 스위칭 전극을 포함하고,
상기 더미 트랜지스터는 상기 스위칭 제어 전극과 동일한 신호를 수신하는 더미 제어 전극, 상기 검사선에 전기적으로 연결된 제1 더미 전극 및 제2 더미 전극을 포함하는 표시 장치.
제12 항에 있어서,
상기 검사선들은,
상기 복수의 화소들 중 제1 화소 그룹과 전기적으로 연결되는 제1 검사선; 및
상기 비표시 영역의 일부를 경유하며, 상기 복수의 화소들 중 제2 화소 그룹과 전기적으로 연결되는 제2 검사선을 포함하고, 상기 제1 화소 그룹과 상기 제2 화소 그룹은 동일한 색을 표시하는 화소들로 구성된 표시 장치.
제12 항에 있어서,
상기 제1 더미 전극 및 상기 제2 더미 전극은 서로 연결된 표시 장치.
표시 영역 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 비표시 영역이 정의되고, 상기 표시 영역에 배치되며, 각각이 제1 방향으로 배열된 복수의 화소들을 포함하며 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향을 따라 배열된 복수의 제1 화소 그룹들 및 각각이 상기 제1 방향으로 배열된 복수의 화소들을 포함하며 상기 제2 방향을 따라 배열된 복수의 제2 화소 그룹들을 포함하는 표시 패널;
상기 복수의 제1 화소 그룹들과 전기적으로 연결되는 제1 검사선;
상기 비표시 영역의 일부를 경유하며, 상기 복수의 제2 화소 그룹들과 전기적으로 연결되는 제2 검사선; 및
상기 비표시 영역에 배치되어, 상기 제1 검사선 및 상기 제1 화소 그룹 사이와 상기 제2 검사선 및 상기 제2 화소 그룹 사이의 연결을 제어하는 검사 회로부를 포함하고,
상기 검사 회로부는,
상기 제1 검사선과 상기 복수의 제1 화소 그룹들의 연결을 제어하는 제1 스위칭부 및 상기 제2 검사선과 상기 복수의 제2 화소 그룹들의 연결을 제어하는 제2 스위칭부를 포함하는 스위칭부; 및
상기 스위칭부와 전기적으로 연결된 더미 회로부를 포함하는 표시 장치.
제15 항에 있어서,
상기 더미 회로부는 상기 제1 스위칭부와 상기 제1 검사선 사이에 연결된 제1 더미 회로부 및 상기 제2 스위칭부와 상기 제2 검사선 사이에 연결된 제2 더미 회로부를 포함하는 표시 장치.
제16 항에 있어서,
상기 제1 검사선 및 상기 제2 검사선으로 검사 전압을 전달하는 검사 패드부를 더 포함하고,
상기 제1 검사선은 매칭 저항을 더 포함하고, 상기 매칭 저항은 상기 검사 패드부와 상기 제1 더미 회로부 사이에 제공되는 표시 장치.
제15 항에 있어서,
상기 더미 회로부는 더미 트랜지스터를 포함하고, 상기 더미 트랜지스터는 상기 제1 스위칭부 및 상기 제2 스위칭부를 제어하는 신호와 동일한 신호를 수신하는 더미 제어 전극, 상기 제1 검사선 또는 상기 제2 검사선에 연결된 제1 더미 전극 및 상기 제1 더미 전극에 연결된 제2 더미 전극을 포함하는 표시 장치.
제15 항에 있어서,
상기 복수의 제1 화소 그룹들과 상기 복수의 제2 화소 그룹들은 번갈아 가며 배열된 표시 장치.
제15 항에 있어서,
상기 복수의 제1 화소 그룹들과 상기 복수의 제2 화소 그룹들은 동일한 색을 표시하는 화소들로 구성된 표시 장치.