KR20170107616A - 표시 장치 - Google Patents

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KR20170107616A
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Abstract

본 개시는 표시 장치에 관한 것으로, 일 실시예에 의한 표시 장치는 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 기판, 상기 기판의 상기 비표시 영역과 중첩하는 COF 패키지, 상기 COF 패키지와 중첩하는 인쇄 회로 기판, 상기 기판의 상기 표시 영역 위에 위치하는 복수의 화소, 상기 복수의 화소에 연결되어 있는 복수의 데이터선, 상기 기판의 상기 비표시 영역 위에 위치하는 제1 크랙 감지선, 상기 기판의 상기 비표시 영역 위에 상기 제1 크랙 감지선과 나란하게 연장되어 있고, 상기 복수의 데이터선 중 제1 데이터선에 연결되어 있는 제2 크랙 감지선, 상기 COF 패키지 위에 위치하고, 상기 제1 크랙 감지선 및 상기 제2 크랙 감지선과 중첩하는 제1 더미 배선, 상기 기판과 상기 COF 패키지 사이에 위치하는 제1 이방성 도전 필름, 상기 인쇄 회로 기판 위에 위치하는 제1 테스트 패턴 및 제2 테스트 패턴, 상기 COF 패키지 위에 위치하고, 상기 제1 테스트 패턴 및 상기 제2 테스트 패턴과 중첩하는 제3 테스트 패턴, 및 상기 COF 패키지와 상기 인쇄 회로 기판 사이에 위치하는 제2 이방성 도전 필름을 포함한다.

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}
본 개시는 표시 장치에 관한 것이다.
휴대 전화, 네비게이션, 디지털 사진기, 전자 북, 휴대용 게임기 등과 같은 휴대용 전자 기기에 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display, LCD)나 유기 전계 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Diode, OLED)가 사용된다. 이러한 휴대용 전자 기기에 사용되는 표시 장치는 휴대성을 향상시키기 위해 플렉서블한 형태로 개발되고 있다.
평판 형태의 표시 장치를 제조한 후 이를 구부려서 플렉서블한 표시 장치를 구현할 수 있다. 이때, 평판 표시 장치를 구부리는 과정에서 기판에 크랙(crack)이 발생할 수 있다. 작은 크기의 크랙이 발생한 경우 초기에 잘 발견되지 않으며, 표시 장치의 구동에 큰 영향을 미치지 않을 수 있다. 이러한 크랙은 시간이 지남에 따라 점점 더 커질 수 있으며, 크랙이 발생한 부분을 통해 표시 장치의 내부로 수분 등이 침투할 수 있다. 수분 등의 침투에 의해 소자 신뢰성이 낮아지게 되고, 표시 장치의 구동에 영향을 미칠 수 있다.
실시예들은 표시 장치에 크랙이 발생하였는지 여부를 감지할 수 있는 표시 장치를 제공하기 위한 것이다.
일 실시예에 의한 표시 장치는 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 기판, 상기 기판의 상기 비표시 영역과 중첩하는 COF 패키지, 상기 COF 패키지와 중첩하는 인쇄 회로 기판, 상기 기판의 상기 표시 영역 위에 위치하는 복수의 화소, 상기 복수의 화소에 연결되어 있는 복수의 데이터선, 상기 기판의 상기 비표시 영역 위에 위치하는 제1 크랙 감지선, 상기 기판의 상기 비표시 영역 위에 상기 제1 크랙 감지선과 나란하게 연장되어 있고, 상기 복수의 데이터선 중 제1 데이터선에 연결되어 있는 제2 크랙 감지선, 상기 COF 패키지 위에 위치하고, 상기 제1 크랙 감지선 및 상기 제2 크랙 감지선과 중첩하는 제1 더미 배선, 상기 기판과 상기 COF 패키지 사이에 위치하는 제1 이방성 도전 필름, 상기 인쇄 회로 기판 위에 위치하는 제1 테스트 패턴 및 제2 테스트 패턴, 상기 COF 패키지 위에 위치하고, 상기 제1 테스트 패턴 및 상기 제2 테스트 패턴과 중첩하는 제3 테스트 패턴, 및 상기 COF 패키지와 상기 인쇄 회로 기판 사이에 위치하는 제2 이방성 도전 필름을 포함한다.
상기 제1 테스트 패턴, 상기 제2 테스트 패턴 및 상기 제3 테스트 패턴은 평면 상에서 상기 COF 패키지와 상기 인쇄 회로 기판의 중첩부의 중심에 위치할 수 있다.
상기 제2 이방성 도전 필름에 의해 상기 제1 테스트 패턴과 상기 제3 테스트 패턴이 연결되어 있고, 상기 제2 테스트 패턴과 상기 제3 테스트 패턴이 연결될 수 있다.
상기 제1 이방성 도전 필름에 의해 상기 제1 크랙 감지선과 상기 제1 더미 배선이 연결되어 있고, 상기 제2 크랙 감지선과 상기 제1 더미 배선이 연결될 수 있다.
일 실시예에 의한 표시 장치는 상기 기판의 상기 비표시 영역에 위치하는 제1 테스트 게이트선 및 제1 테스트 신호선, 및 상기 제1 테스트 게이트선, 상기 제1 테스트 신호선 및 상기 복수의 데이터선에 연결되어 있는 제1 스위칭 소자를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의한 표시 장치는 상기 기판의 상기 비표시 영역에 위치하는 제2 테스트 게이트선 및 제2 테스트 신호선, 및 상기 제2 테스트 게이트선, 상기 제2 테스트 신호선 및 상기 복수의 데이터선에 연결되어 있는 제2 스위칭 소자를 더 포함할 수 있다.
상기 제1 크랙 감지선의 제1 단부는 제2 테스트 신호선에 연결되어 있고, 상기 제1 크랙 감지선의 제2 단부는 상기 제1 더미 배선과 중첩할 수 있다.
상기 제2 크랙 감지선의 제1 단부는 상기 제2 스위칭 소자를 통해 상기 제1 데이터선에 연결되어 있고, 상기 제2 크랙 감지선의 제2 단부는 상기 제1 더미 배선과 중첩할 수 있다.
상기 제1 테스트 게이트선에 게이트 온 전압이 인가되면, 상기 복수의 데이터선은 상기 제1 테스트 신호선으로부터 제1 전압을 인가 받고, 상기 제2 테스트 게이트선에 게이트 온 전압이 인가되면, 상기 복수의 데이터선은 상기 제2 테스트 신호선으로부터 제2 전압을 인가 받을 수 있다.
제1 시간 동안 제1 테스트 게이트선에 게이트 온 전압이 인가된 후, 제2 시간 동안 제2 테스트 게이트선에 게이트 온 전압이 인가될 수 있다.
상기 제1 전압은 상기 제2 전압과 상이할 수 있다.
상기 제1 전압은 최고 계조를 표시하는 전압이고, 상기 제2 전압은 최저 계조를 표시하는 전압일 수 있다.
상기 제1 크랙 감지선 및 상기 제2 크랙 감지선은 상기 기판의 상측 가장자리, 좌측 가장자리 및 하측 가장자리에 위치할 수 있다.
일 실시예에 의한 표시 장치는 상기 기판의 상기 비표시 영역 위에 위치하는 제3 크랙 감지선, 상기 기판의 상기 비표시 영역 위에 상기 제3 크랙 감지선과 나란하게 연장되어 있고, 상기 복수의 데이터선 중 제2 데이터선에 연결되어 있는 제4 크랙 감지선, 및 상기 COF 패키지 위에 위치하고, 상기 제3 크랙 감지선 및 상기 제4 크랙 감지선과 중첩하는 제2 더미 배선을 더 포함할 수 있다.
상기 제3 크랙 감지선 및 상기 제4 크랙 감지선은 상기 기판의 상측 가장자리, 우측 가장자리 및 하측 가장자리에 위치할 수 있다.
제1 이방성 도전 필름에 의해 상기 제3 크랙 감지선과 상기 제2 더미 배선이 연결되어 있고, 상기 제4 크랙 감지선과 상기 제2 더미 배선이 연결될 수 있다.
일 실시예에 의한 표시 장치는 상기 기판의 상기 비표시 영역에 위치하는 제1 테스트 게이트선 및 제1 테스트 신호선, 및 상기 제1 테스트 게이트선, 상기 제1 테스트 신호선 및 상기 복수의 데이터선에 연결되어 있는 제1 스위칭 소자를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의한 표시 장치는 상기 기판의 상기 비표시 영역에 위치하는 제2 테스트 게이트선 및 제2 테스트 신호선, 및 상기 제2 테스트 게이트선, 상기 제2 테스트 신호선 및 상기 복수의 데이터선에 연결되어 있는 제2 스위칭 소자를 더 포함할 수 있다.
상기 제3 크랙 감지선의 제1 단부는 제2 테스트 신호선에 연결되어 있고, 상기 제3 크랙 감지선의 제2 단부는 상기 제1 더미 배선과 중첩할 수 있다.
상기 제4 크랙 감지선의 제1 단부는 상기 제2 스위칭 소자를 통해 상기 제1 데이터선에 연결되어 있고, 상기 제4 크랙 감지선의 제2 단부는 상기 제1 더미 배선과 중첩할 수 있다.
실시예들에 따르면, 표시 장치의 크랙 여부를 감지하여 크랙에 따른 표시 장치의 불량을 방지할 수 있다.
도 1은 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
도 2는 일 실시예에 의한 표시 장치의 기판 및 COF 패키지를 나타낸 평면도이다.
도 3은 도 2의 P1 영역을 확대하여 나타낸 평면도이다.
도 4는 도 3의 IV-IV선을 따라 자른 단면도이다.
도 5는 일 실시예에 의한 표시 장치에 인가되는 신호의 파형도이다.
도 6은 일 실시예에 의한 표시 장치의 COF 패키지 및 인쇄 회로 기판을 나타낸 평면도이다.
도 7은 도 6의 P2 영역을 확대하여 나타낸 평면도이다.
도 8은 도 7의 VIII-VIII선을 따라 자른 단면도이다.
도 9는 참고예에 의한 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 여러 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.
또한, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다. 도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 그리고 도면에서, 설명의 편의를 위해, 일부 층 및 영역의 두께를 과장되게 나타내었다.
또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 또는 "상에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다. 또한, 기준이 되는 부분 "위에" 또는 "상에" 있다고 하는 것은 기준이 되는 부분의 위 또는 아래에 위치하는 것이고, 반드시 중력 반대 방향 쪽으로 "위에" 또는 "상에" 위치하는 것을 의미하는 것은 아니다.
또한, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
또한, 명세서 전체에서, "평면상"이라 할 때, 이는 대상 부분을 위에서 보았을 때를 의미하며, "단면상"이라 할 때, 이는 대상 부분을 수직으로 자른 단면을 옆에서 보았을 때를 의미한다.
도 1을 참고하여, 일 실시예에 의한 표시 장치에 대해 설명하면 다음과 같다.
도 1은 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 일 실시예에 의한 표시 장치는 기판(110)을 포함한다.
기판(110)은 유리, 폴리머 및 스테인리스 강 등과 같이 절연성 재질로 이루어질 수 있다. 기판(110)은 플렉서블(flexible)하거나, 스트렛쳐블(stretchable)하거나, 폴더블(foldable)하거나, 벤더블(bendable)하거나, 롤러블(rollable)할 수 있다. 기판(110)이 플렉서블(flexible)하거나, 스트렛쳐블(stretchable)하거나, 폴더블(foldable)하거나, 벤더블(bendable)하거나, 롤러블(rollable)함으로써, 표시 장치 전체가 플렉서블(flexible)하거나, 스트렛쳐블(stretchable)하거나, 폴더블(foldable)하거나, 벤더블(bendable)하거나, 롤러블(rollable)할 수 있다. 일례로, 기판(110)은 폴리이미드 등의 수지를 포함하는 플렉서블 필름(film) 형태를 가질 수 있다.
기판(110)은 영상을 표시하는 표시 영역(DA)과 표시 영역(DA)을 구동하기 위한 신호를 전달하는 구동부가 위치하는 비표시 영역(NDA)을 포함한다. 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)의 가장자리에 위치한다. 도 1에서 비표시 영역(NDA)이 표시 영역(DA)을 둘러싸는 형태로 이루어지는 것으로 도시되어 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 비표시 영역(NDA)이 표시 영역(DA)의 양측 가장자리에 위치할 수도 있고, 비표시 영역(NDA)이 표시 영역(DA)의 좌측 가장자리 및 하측 가장자리에 위치할 수도 있다.
기판(110)의 표시 영역(DA) 위에는 복수의 화소가 위치한다. 화소는 영상을 표시하는 최소 단위이다.
기판(110)의 일측 가장자리에는 COF 패키지(400, Chip on Film Package)가 부착되어 있다. 도 1에서 COF 패키지(400)는 기판(110)의 하측 가장자리에 부착되어 있는 것으로 도시되어 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 다른 가장자리에 부착될 수도 있다. COF 패키지(400)는 기판(110)의 비표시 영역(NDA)과 중첩한다.
COF 패키지(400)에는 데이터 구동부(DD)가 형성되어 있다. 데이터 구동부(DD)는 기판(110)의 표시 영역(DA)에 데이터 신호를 전달하여 복수의 화소를 구동할 수 있다.
COF 패키지(400)의 일측 가장자리는 기판(110)에 부착되어 있고, 타측 가장자리는 인쇄 회로 기판(500)에 부착되어 있다. 도 1에서 COF 패키지(400)는 인쇄 회로 기판(500)의 상측 가장자리에 부착되어 있는 것으로 도시되어 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 다른 가장자리에 부착될 수도 있다. COF 패키지(400)는 인쇄 회로 기판(500)과 중첩한다.
인쇄 회로 기판(500)은 복수의 화소를 구동하는 다양한 신호들을 생성하여 기판(110)의 표시 영역(DA)에 전달한다. 예를 들면, 인쇄 회로 기판(500)에는 타이밍 제어부가 위치할 수 있으며, 타이밍 제어부는 복수의 화소를 구동하는 구동 신호들을 생성한다.
이하에서는 도 2 내지 도 5를 참고하여, 일 실시예에 의한 표시 장치의 기판 및 COF 패키지와 이들의 연결부에 대해 설명한다.
도 2는 일 실시예에 의한 표시 장치의 기판 및 COF 패키지를 나타낸 평면도이고, 도 3은 도 2의 P1 영역을 확대하여 나타낸 평면도이다. 도 4는 도 3의 IV-IV선을 따라 자른 단면도이고, 도 5는 일 실시예에 의한 표시 장치에 인가되는 신호의 파형도이다.
일 실시예에 의한 표시 장치는 기판(110) 위에 위치하는 복수의 화소(R, G, B)와 복수의 화소(R, G, B)에 연결되어 있는 게이트선(G1, G2…Gn-1, Gn) 및 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)을 포함한다.
복수의 화소(R, G, B)는 기판(110)의 표시 영역(DA)에 위치하고, 행 방향 및 열 방향을 따라 매트릭스 형태로 배치되어 있다.
게이트선(G1, G2…Gn-1, Gn)은 일정한 간격을 가지고, 행 방향을 따라 연장되어 있다. 행 방향으로 인접한 복수의 화소(R, G, B)는 동일한 게이트선(G1, G2…Gn-1, Gn)에 연결되어 있다.
기판(110)의 비표시 영역(NDA) 위에는 게이트선(G1, G2…Gn-1, Gn)에 연결되어 있는 게이트 구동부(GD)가 위치한다. 게이트 구동부(GD)는 게이트 온 전압 및 게이트 오프 전압을 포함하는 게이트 신호를 각 게이트선(G1, G2…Gn-1, Gn)으로 전달한다.
데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)은 일정한 간격을 가지고, 열 방향을 따라 연장되어 있다. 도시는 생략하였으나, 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)은 데이터 구동부(DD)와 연결되어 있다. 데이터 구동부(DD)는 데이터 신호를 각 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)으로 전달한다. 열 방향으로 인접한 복수의 화소(R, G, B)는 동일한 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)에 연결되어 있다. 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)은 각 화소에 데이터 신호를 전달하여, 각 화소가 소정의 휘도를 나타낼 수 있도록 한다.
도시는 생략하였으나, 각 화소(R, G, B)는 박막 트랜지스터에 의해 각 게이트선(G1, G2…Gn-1, Gn) 및 각 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)과 연결되어 있다. 게이트선(G1, G2…Gn-1, Gn)에 게이트 온 전압이 인가될 때 박막 트랜지스터가 온 상태로 되고, 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)을 통해 각 화소에 데이터 신호가 인가된다.
기판(110)의 비표시 영역(NDA)에는 제1 테스트 게이트선(TG1), 제2 테스트 게이트선(TG2), 제1 테스트 신호선(TD1), 복수의 제2 테스트 신호선(TD2a, TD2b, TD2c)이 위치한다.
제1 테스트 게이트선(TG1) 및 제1 테스트 신호선(TD1)은 행 방향을 따라 서로 나란하게 배치될 수 있다. 도 2에서 제1 테스트 게이트선(TG1) 및 제1 테스트 신호선(TD1)은 기판(110)의 하측 가장자리에 위치하는 것으로 도시되어 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 제1 테스트 게이트선(TG1) 및 제1 테스트 신호선(TD1)의 위치는 다양하게 변경이 가능하다.
제2 테스트 게이트선(TG2) 및 제2 테스트 신호선(TD2a, TD2b, TD2c)은 행 방향을 따라 서로 나란하게 배치될 수 있다. 도 2에서 제2 테스트 게이트선(TG2) 및 제2 테스트 신호선(TD2a, TD2b, TD2c)은 기판(110)의 상측 가장자리에 위치하는 것으로 도시되어 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 제2 테스트 게이트선(TG2) 및 제2 테스트 신호선(TD2a, TD2b, TD2c)의 위치는 다양하게 변경이 가능하다.
또한, 기판(110)의 비표시 영역(NDA)에는 제1 테스트 게이트선(TG1), 제1 테스트 신호선(TD1) 및 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)에 연결되어 있는 제1 스위칭 소자(Q1)가 위치한다. 기판(110) 위에는 복수의 제1 스위칭 소자(Q1)가 위치할 수 있으며, 각각의 제1 스위칭 소자(Q1)는 복수의 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm) 중 6개와 연결될 수 있다.
또한, 기판(110)의 비표시 영역(NDA)에는 제2 테스트 게이트선(TG2), 제2 테스트 신호선(TD2a, TD2b, TD2c) 및 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)에 연결되어 있는 제2 스위칭 소자(Q2)가 위치한다. 기판(110) 위에는 3개의 제2 테스트 신호선(TD2a, TD2b, TD2c)이 위치할 수 있으며, 복수의 제2 스위칭 소자(Q2)가 위치할 수 있다. 제2 스위칭 소자(Q2)의 개수는 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)의 개수에 대응할 수 있다. 각각의 제2 스위칭 소자(Q2)는 복수의 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm) 중 어느 하나와 연결되어 있다. 인접한 제2 스위칭 소자(Q2)는 서로 다른 제2 테스트 신호선(TD2a, TD2b, TD2c)에 연결될 수 있다.
기판(110)의 비표시 영역(NDA)에는 제1 크랙 감지선(CD1), 제2 크랙 감지선(CD2), 제3 크랙 감지선(CD3) 및 제4 크랙 감지선(CD4)이 위치한다. 제1 크랙 감지선(CD1), 제2 크랙 감지선(CD2), 제3 크랙 감지선(CD3) 및 제4 크랙 감지선(CD4)은 기판(110)의 표시 영역(DA) 위에 위치하는 금속층과 동일한 층에 위치할 수 있다. 예를 들면, 제1 크랙 감지선(CD1), 제2 크랙 감지선(CD2), 제3 크랙 감지선(CD3) 및 제4 크랙 감지선(CD4)은 게이트선(G1, G2…Gn-1, Gn) 또는 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)과 동일한 층에 위치할 수 있다.
제1 크랙 감지선(CD1) 및 제2 크랙 감지선(CD2)은 복수의 화소(R, G, B)의 상측 일부, 좌측 전체 및 하측 일부를 둘러싸도록 위치할 수 있다. 즉, 제1 크랙 감지선(CD1) 및 제2 크랙 감지선(CD2)은 기판(110)의 상측 가장자리, 좌측 가장자리 및 하측 가장자리에 위치할 수 있다. 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)은 서로 나란하게 연장될 수 있다.
제1 크랙 감지선(CD1)의 제1 단부는 제2 테스트 신호선(TD2a, TD2b, TD2c)들 중 어느 하나와 연결되어 있다. 제1 크랙 감지선(CD1)의 제2 단부는 COF 패키지(400)와 중첩한다. 제2 크랙 감지선(CD2)의 제1 단부는 제2 스위칭 소자(Q2)를 통해 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm) 중 어느 하나와 연결되어 있다. 예를 들면, 제2 크랙 감지선(CD2)의 제1 단부는 기판(110)의 좌측 가장자리로부터 두 번째 열에 위치하는 데이터선(D2, 이하에서 '제1 데이터선'이라고 함)과 연결될 수 있다. 제2 크랙 감지선(CD2)의 제2 단부는 COF 패키지(400)와 중첩한다.
제3 크랙 감지선(CD3) 및 제4 크랙 감지선(CD4)은 복수의 화소(R, G, B)의 상측 일부, 우측 전체 및 하측 일부를 둘러싸도록 위치할 수 있다. 즉, 제3 크랙 감지선(CD3) 및 제4 크랙 감지선(CD4)은 기판(110)의 상측 가장자리, 우측 가장자리 및 하측 가장자리에 위치할 수 있다. 제3 크랙 감지선(CD3) 및 제4 크랙 감지선(CD4)은 서로 나란하게 연장될 수 있다.
제3 크랙 감지선(CD3)의 제1 단부는 제2 테스트 신호선(TD2a, TD2b, TD2c)들 중 어느 하나와 연결되어 있다. 제3 크랙 감지선(CD3)의 제2 단부는 COF 패키지(400)와 중첩한다. 제4 크랙 감지선(CD4)의 제1 단부는 제2 스위칭 소자(Q2)를 통해 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm) 중 어느 하나와 연결되어 있다. 예를 들면, 제4 크랙 감지선(CD4)의 제1 단부는 기판(110)의 우측 가장자리로부터 두 번째 열에 위치하는 데이터선(Dm-1, 이하에서 '제2 데이터선'이라고 함)과 연결될 수 있다. 제4 크랙 감지선(CD4)의 제2 단부는 COF 패키지(400)와 중첩한다.
COF 패키지(400) 위에는 제1 더미 배선(410) 및 제2 더미 배선(420)이 위치한다. 제1 더미 배선(410) 및 제2 더미 배선(420)은 기판(110)과 마주보는 COF 패키지(400)의 면 위에 위치한다.
제1 더미 배선(410)은 제1 크랙 감지선(CD1) 및 제2 크랙 감지선(CD2)과 중첩하고 있으며, 제1 더미 배선(410)은 제1 크랙 감지선(CD1) 및 제2 크랙 감지선(CD2)과 마주보고 있다.
제2 더미 배선(420)은 제3 크랙 감지선(CD3) 및 제4 크랙 감지선(CD4)과 중첩하고 있으며, 제2 더미 배선(420)은 제3 크랙 감지선(CD3) 및 제4 크랙 감지선(CD4)과 마주보고 있다.
기판(110)과 COF 패키지(400)가 중첩하는 부분에서, 기판(110)과 COF 패키지(400) 사이에는 제1 이방성 도전 필름(600)이 위치한다. 제1 이방성 도전 필름(600)은 기판(110)과 COF 패키지(400)를 전기적, 물리적으로 연결할 수 있다. 이방성 도전 필름(Anisotropic Conductive Film, ACF)은 회로 접속에 사용되는 접착 필름으로, 한 방향으로는 전기가 통하지만 다른 방향으로는 절연 상태가 되도록 하는 이방성을 가진다. 즉, 이방성 도전 필름은 두께 방향으로만 전도성을 가진다. 제1 이방성 도전 필름(600)은 열에 의해 경화되는 접착제와 그 안에 위치하는 복수의 제1 도전성 입자(610)를 포함한다. 제1 이방성 도전 필름(600)은 고온 상태에서 압력을 가하면 제1 도전성 입자(610)가 기판(110)과 COF 패키지(400)에 접촉하게 되어 기판(110)과 COF 패키지(400)가 전기적으로 연결된다. 또한, 접착제가 경화되면 기판(110)과 COF 패키지(400)가 물리적으로 연결된다.
앞서 설명한 바와 같이, 기판(110) 위에 위치하는 제1 크랙 감지선(CD1)의 제2 단부 및 제2 크랙 감지선(CD2)의 제2 단부는 COF 패키지(400)와 중첩한다. 특히, 제1 크랙 감지선(CD1)의 제2 단부 및 제2 크랙 감지선(CD2)의 제2 단부는 COF 패키지(400) 위에 위치하는 제1 더미 배선(410)과 중첩한다. 따라서, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제1 더미 배선(410)은 제1 이방성 도전 필름(600)에 의해 연결되고, 제2 크랙 감지선(CD2)과 제1 더미 배선(410)은 제1 이방성 도전 필름(600)에 의해 연결된다. 따라서, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)은 제1 더미 배선(410)을 통해 서로 연결될 수 있다.
또한, 기판(110) 위에 위치하는 제3 크랙 감지선(CD3)의 제2 단부 및 제4 크랙 감지선(CD4)의 제2 단부는 COF 패키지(400)와 중첩한다. 특히, 제3 크랙 감지선(CD3)의 제2 단부 및 제4 크랙 감지선(CD4)의 제2 단부는 COF 패키지(400) 위에 위치하는 제2 더미 배선(420)과 중첩한다. 따라서, 제3 크랙 감지선(CD3)과 제2 더미 배선(420)은 제1 이방성 도전 필름(600)에 의해 연결되고, 제4 크랙 감지선(CD4)과 제2 더미 배선(420)은 제1 이방성 도전 필름(600)에 의해 연결된다. 따라서, 제3 크랙 감지선(CD3)과 제4 크랙 감지선(CD4)은 제2 더미 배선(420)을 통해 서로 연결될 수 있다.
다음으로, 도 5의 신호가 인가될 때 일 실시예에 의한 표시 장치의 동작에 대하여 설명한다.
도 5를 참고하면, 제1 테스트 게이트선(TG1)에 제1 시간(h1) 동안 게이트 온 신호가 인가되면, 제1 스위칭 소자(Q1)가 턴 온 상태가 된다. 제1 테스트 신호선(TD1)에 인가되는 제1 전압(V1)이 제1 스위칭 소자(Q1)를 통해 제1 스위칭 소자(Q1)에 연결되어 있는 복수의 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)에 전달된다. 제1 전압(V1)은 복수의 화소(R, G, B)가 최고 계조를 표시하도록 하는 전압으로 이루어질 수 있다. 복수의 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)에 제1 전압(V1)이 인가되면, 복수의 화소(R, G, B)의 전압(Vp1)은 제1 전압(V1)이 되어 화이트를 표시할 수 있다.
제1 테스트 게이트선(TG1)에 게이트 오프 신호가 인가된 후, 제2 시간(h2) 동안 제2 테스트 게이트선(TG2)에 게이트 온 신호가 인가되면, 제2 스위칭 소자(Q2)가 턴 온 상태가 된다. 제2 테스트 신호선(TD2a, TD2b, TD2c)에 인가되는 제2 전압(V2)이 복수의 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)에 전달된다. 제2 전압(V2)은 복수의 화소(R, G, B)가 최저 계조를 표시하도록 하는 전압으로 이루어질 수 있다. 복수의 데이터선(D1, D2, D3, D4, D5, D6…Dm-5, Dm-4, Dm-3, Dm-2, Dm-1, Dm)에 제2 전압(V2)이 인가되면, 복수의 화소(R, G, B)의 전압(Vp1)은 제2 전압(V2)이 되어 블랙을 표시할 수 있다.
만약, 기판(110)의 비표시 영역(NDA)에 크랙이 발생한 상태라면, 제1 크랙 감지선(CD1), 제2 크랙 감지선(CD2), 제3 크랙 감지선(CD3) 및 제4 크랙 감지선(CD4) 중 적어도 어느 하나에 손상이 가해질 수 있다.
제1 크랙 감지선(CD1)은 제1 더미 배선(410) 및 제2 크랙 감지선(CD2)을 통해 제1 데이터선(D2)과 연결되어 있다. 또한, 제2 크랙 감지선(CD2)은 제1 데이터선(D2)과 연결되어 있다. 기판(110)의 비표시 영역(NDA)에 크랙이 발생하면, 제1 크랙 감지선(CD1)이나 제2 크랙 감지선(CD2)에 손상이 발생할 수 있으며, 제1 데이터선(D2)의 저항이 커진다. 또한, 기판(110)과 COF 패키지(400)의 압착이 제대로 이루어지지 않으면, 제1 크랙 감지선(CD1)과 제1 더미 배선(410)의 연결 상태 또는 제2 크랙 감지선(CD2)과 제1 더미 배선(410)의 연결 상태에 불량이 발생할 수 있으며, 제1 데이터선(D2)의 저항이 커진다. 따라서, 제1 데이터선(D2)에 연결되어 있는 화소(G)의 전압(Vp2)은 제2 전압(V2)에 이르지 못하고, 제2 전압(V2)과 전압 차이(ΔV)가 발생한다. 이러한 전압 차이(ΔV)에 의해 제1 데이터선(D2)에 연결되어 있는 화소(G)는 최저 계조를 표시하지 못하고, 최저 계조보다 높은 계조를 표시하게 된다. 따라서, 기판(110)의 비표시 영역(NDA)에 크랙이 발생하거나, 기판(110)과 COF 패키지(400)의 압착이 제대로 이루어지지 않으면, 제1 데이터선(D2)을 따라 밝은 선이 시인될 수 있다. 즉, 제1 데이터선(D2)을 따라 밝은 선이 시인되는지 여부를 통해, 기판(110)의 비표시 영역(NDA)의 크랙이나 기판(110)과 COF 패키지(400)의 압착 불량을 감지할 수 있다.
제3 크랙 감지선(CD3)은 제2 더미 배선(420) 및 제4 크랙 감지선(CD4)을 통해 제2 데이터선(Dm-1)과 연결되어 있다. 또한, 제4 크랙 감지선(CD4)은 제2 데이터선(Dm-1)과 연결되어 있다. 기판(110)의 비표시 영역(NDA)에 크랙이 발생하면, 제3 크랙 감지선(CD3)이나 제4 크랙 감지선(CD4)에 손상이 발생할 수 있으며, 제2 데이터선(Dm-1)의 저항이 커진다. 또한, 기판(110)과 COF 패키지(400)의 압착이 제대로 이루어지지 않으면, 제3 크랙 감지선(CD3)과 제2 더미 배선(420)의 연결 상태 또는 제4 크랙 감지선(CD4)과 제2 더미 배선(420)의 연결 상태에 불량이 발생할 수 있으며, 제2 데이터선(Dm-1)의 저항이 커진다. 따라서, 제2 데이터선(Dm-1)에 연결되어 있는 화소(G)의 전압(Vp2)은 제2 전압(V2)에 이르지 못하고, 제2 전압(V2)과 전압 차이(ΔV)가 발생한다. 이러한 전압 차이(ΔV)에 의해 제2 데이터선(Dm-1)에 연결되어 있는 화소(G)는 최저 계조를 표시하지 못하고, 최저 계조보다 높은 계조를 표시하게 된다. 따라서, 기판(110)의 비표시 영역(NDA)에 크랙이 발생하거나, 기판(110)과 COF 패키지(400)의 압착이 제대로 이루어지지 않으면, 제2 데이터선(Dm-1)을 따라 밝은 선이 시인될 수 있다. 즉, 제2 데이터선(Dm-1)을 따라 밝은 선이 시인되는지 여부를 통해, 기판(110)의 비표시 영역(NDA)의 크랙이나 기판(110)과 COF 패키지(400)의 압착 불량을 감지할 수 있다.
이하에서는 도 6 내지 도 8을 참고하여, 일 실시예에 의한 표시 장치의 COF 패키지 및 인쇄 회로 기판과 이들의 연결부에 대해 설명한다.
도 6은 일 실시예에 의한 표시 장치의 COF 패키지 및 인쇄 회로 기판을 나타낸 평면도이고, 도 7은 도 6의 P2 영역을 확대하여 나타낸 평면도이며, 도 8은 도 7의 VIII-VIII선을 따라 자른 단면도이다.
인쇄 회로 기판(500) 위에는 제1 테스트 패턴(510) 및 제2 테스트 패턴(520)이 위치한다. 제1 테스트 패턴(510) 및 제2 테스트 패턴(520)은 COF 패키지(400)와 마주보는 인쇄 회로 기판(500)의 면 위에 위치한다.
제1 테스트 패턴(510) 및 제2 테스트 패턴(520)은 서로 나란하게 연장될 수 있다. 제1 테스트 패턴(510)의 적어도 일부 및 제2 테스트 패턴(520)의 적어도 일부는 COF 패키지(400)와 중첩한다.
COF 패키지(400) 위에는 제3 테스트 패턴(530)이 위치한다. 제3 테스트 패턴(530)은 인쇄 회로 기판(500)과 마주보는 COF 패키지(400)의 면 위에 위치한다.
제3 테스트 패턴(530)은 제1 테스트 패턴(510) 및 제2 테스트 패턴(520)과 중첩한다. 제3 테스트 패턴(530)은 제1 테스트 패턴(510) 및 제2 테스트 패턴(520)과 마주보고 있다.
평면 상에서, 제1 테스트 패턴(510), 제2 테스트 패턴(520) 및 제3 테스트 패턴(530)은 COF 패키지(400)와 인쇄 회로 기판(500)의 중첩부의 대략 중심에 위치한다.
COF 패키지(400)와 인쇄 회로 기판(500)이 중첩하는 부분에서, COF 패키지(400)와 인쇄 회로 기판(500) 사이에는 제2 이방성 도전 필름(650)이 위치한다. 제2 이방성 도전 필름(650)은 COF 패키지(400)와 인쇄 회로 기판(500)을 전기적, 물리적으로 연결할 수 있다. 제2 이방성 도전 필름(650)은 열에 의해 경화되는 접착제와 그 안에 위치하는 복수의 제2 도전성 입자(660)를 포함한다.
앞서 설명한 바와 같이, 인쇄 회로 기판(500) 위에 위치하는 제1 테스트 패턴(510) 및 제2 테스트 패턴(520)은 COF 패키지(400) 위에 위치하는 제3 테스트 패턴(530)과 중첩한다. 따라서, 제1 테스트 패턴(510)과 제3 테스트 패턴(530)은 제2 이방성 도전 필름(650)에 의해 연결되고, 제2 테스트 패턴(520)과 제3 테스트 패턴(530)은 제2 이방성 도전 필름(650)에 의해 연결된다. 따라서, 제1 테스트 패턴(510)과 제2 테스트 패턴(520)은 제3 테스트 패턴(530)을 통해 서로 연결될 수 있다.
제1 테스트 패턴(510)의 제1 단부 및 제2 테스트 패턴(520)의 제1 단부는 제3 테스트 패턴(530)과 중첩할 수 있다. 제1 테스트 패턴(510)의 제2 단부 및 제2 테스트 패턴(520)의 제2 단부는 COF 패키지(400)와 중첩하지 않고, 외부로 노출되어 있다. 따라서, 제1 테스트 패턴(510)의 제2 단부 및 제2 테스트 패턴(520)의 제2 단부에 멀티미터를 접촉시킬 수 있으며, 이를 통해 제1 테스트 패턴(510), 제2 테스트 패턴(520) 및 제3 테스트 패턴(530)의 저항을 측정할 수 있다.
COF 패키지(400)와 인쇄 회로 기판(500)의 압착이 제대로 이루어지지 않으면, 제1 테스트 패턴(510)과 제3 테스트 패턴(530)의 연결 상태 또는 제2 테스트 패턴(520)과 제3 테스트 패턴(530)의 연결 상태에 불량이 발생할 수 있으며, 제1 테스트 패턴(510), 제2 테스트 패턴(520) 및 제3 테스트 패턴(530)의 저항이 커진다. 따라서, 제1 테스트 패턴(510), 제2 테스트 패턴(520) 및 제3 테스트 패턴(530)의 저항을 측정하여 기준 저항과 비교함으로써, COF 패키지(400)와 인쇄 회로 기판(500)의 압착 불량을 감지할 수 있다.
이하에서는 도 9를 참고하여, 참고예에 의한 표시 장치와 일 실시예에 의한 표시 장치를 비교하여 살펴본다.
도 9는 참고예에 의한 표시 장치를 나타낸 평면도이다.
참고예에 의한 표시 장치에서는 제1 크랙 감지선(CD1), 제2 크랙 감지선(CD2), 제3 크랙 감지선(CD3) 및 제4 크랙 감지선(CD4)이 COF 패키지(400)와 중첩하지 않는다. 제1 크랙 감지선(CD1)과 제2 크랙 감지선(CD2)이 직접적으로 연결되어 있고, 제3 크랙 감지선(CD3)과 제4 크랙 감지선(CD4)이 직접적으로 연결되어 있다.
또한, 평면 상에서 제1 테스트 패턴(510), 제2 테스트 패턴(520) 및 제3 테스트 패턴(530)은 COF 패키지(400)와 인쇄 회로 기판(500)의 중첩부의 양측 가장자리에 위치한다. 즉, 제1 테스트 패턴(510), 제2 테스트 패턴(520) 및 제3 테스트 패턴(530)이 각각 두 개씩 위치한다. 제1 테스트 패턴(510), 제2 테스트 패턴(520) 및 제3 테스트 패턴(530)은 기판(110)과 COF 패키지(400)의 중첩부까지 연장 형성되어 있다.
참고예에서는 제1 크랙 감지선(CD1), 제2 크랙 감지선(CD2), 제3 크랙 감지선(CD3) 및 제4 크랙 감지선(CD4)을 이용하여 기판(110)의 크랙을 감지할 수 있으며, 기판(110)과 COF 패키지(400)의 압착 불량을 감지할 수는 없다. 제1 테스트 패턴(510), 제2 테스트 패턴(520) 및 제3 테스트 패턴(530)을 이용하여 기판(110)과 COF 패키지(400)의 압착 불량을 감지할 수 있다. 압착 불량을 감지하기 위해서는 제1 테스트 패턴(510) 및 제2 테스트 패턴(520)에 멀티미터를 접촉시켜서 저항을 측정한다. 따라서, 표시 장치를 보호하기 위한 프레임을 조립한 후에는 압착 불량을 확인할 수 없다.
일 실시예에 의한 표시 장치에서는 제1 크랙 감지선(CD1), 제2 크랙 감지선(CD2), 제3 크랙 감지선(CD3) 및 제4 크랙 감지선(CD4)을 이용하여 기판(110)의 크랙 뿐만 아니라 기판(110)과 COF 패키지(400)의 압착 불량까지 감지할 수 있다. 프레임을 조립한 후에도 각 신호선에 소정의 신호 인가를 통해 기판(110)의 크랙 및 기판(110)과 COF 패키지(400)의 압착 불량을 감지할 수 있다.
참고예에서는 제1 테스트 패턴(510), 제2 테스트 패턴(520) 및 제3 테스트 패턴(530)은 COF 패키지(400)와 인쇄 회로 기판(500)의 중첩부의 양측 가장자리에 위치하고 있어, COF 패키지(400)와 인쇄 회로 기판(500)의 중첩부의 중심에서 압착 불량이 발생하는 경우 이를 감지할 수 없다. 실제로 압착 불량은 COF 패키지(400)와 인쇄 회로 기판(500)의 중첩부의 중심에서 자주 발생한다.
일 실시예에서는 제1 테스트 패턴(510), 제2 테스트 패턴(520) 및 제3 테스트 패턴(530)이 COF 패키지(400)와 인쇄 회로 기판(500)의 중첩부의 중심에 위치하도록 함으로써, COF 패키지(400)와 인쇄 회로 기판(500)의 중첩부의 중심에서 압착 불량이 발생하는 것을 감지할 수 있다. 또한, 제1 테스트 패턴(510), 제2 테스트 패턴(520) 및 제3 테스트 패턴(530)의 개수를 줄임으로써, 비용을 절감할 수 있다.
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
110: 기판 400: COF 패키지
410: 제1 더미 배선 420: 제2 더미 배선
500: 인쇄 회로 기판 510: 제1 테스트 패턴
520: 제2 테스트 패턴 530: 제3 테스트 패턴
600: 제1 이방성 도전 필름 650: 제2 이방성 도전 필름
CD1: 제1 크랙 감지선 CD2: 제2 크랙 감지선
CD3: 제3 크랙 감지선 CD4: 제4 크랙 가지선
TD1: 제1 테스트 신호선 TD2a, TD2b, TD2c: 제2 테스트 신호선
TG1: 제1 테스트 게이트선 TG2: 제2 테스트 게이트선

Claims (20)

  1. 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 기판,
    상기 기판의 상기 비표시 영역과 중첩하는 COF 패키지,
    상기 COF 패키지와 중첩하는 인쇄 회로 기판,
    상기 기판의 상기 표시 영역 위에 위치하는 복수의 화소,
    상기 복수의 화소에 연결되어 있는 복수의 데이터선,
    상기 기판의 상기 비표시 영역 위에 위치하는 제1 크랙 감지선,
    상기 기판의 상기 비표시 영역 위에 상기 제1 크랙 감지선과 나란하게 연장되어 있고, 상기 복수의 데이터선 중 제1 데이터선에 연결되어 있는 제2 크랙 감지선,
    상기 COF 패키지 위에 위치하고, 상기 제1 크랙 감지선 및 상기 제2 크랙 감지선과 중첩하는 제1 더미 배선,
    상기 기판과 상기 COF 패키지 사이에 위치하는 제1 이방성 도전 필름,
    상기 인쇄 회로 기판 위에 위치하는 제1 테스트 패턴 및 제2 테스트 패턴,
    상기 COF 패키지 위에 위치하고, 상기 제1 테스트 패턴 및 상기 제2 테스트 패턴과 중첩하는 제3 테스트 패턴, 및
    상기 COF 패키지와 상기 인쇄 회로 기판 사이에 위치하는 제2 이방성 도전 필름을 포함하는 표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 테스트 패턴, 상기 제2 테스트 패턴 및 상기 제3 테스트 패턴은 평면 상에서 상기 COF 패키지와 상기 인쇄 회로 기판의 중첩부의 중심에 위치하는 표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 제2 이방성 도전 필름에 의해 상기 제1 테스트 패턴과 상기 제3 테스트 패턴이 연결되어 있고, 상기 제2 테스트 패턴과 상기 제3 테스트 패턴이 연결되어 있는 표시 장치.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 이방성 도전 필름에 의해 상기 제1 크랙 감지선과 상기 제1 더미 배선이 연결되어 있고, 상기 제2 크랙 감지선과 상기 제1 더미 배선이 연결되어 있는 표시 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 기판의 상기 비표시 영역에 위치하는 제1 테스트 게이트선 및 제1 테스트 신호선, 및
    상기 제1 테스트 게이트선, 상기 제1 테스트 신호선 및 상기 복수의 데이터선에 연결되어 있는 제1 스위칭 소자를 더 포함하는 표시 장치.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 기판의 상기 비표시 영역에 위치하는 제2 테스트 게이트선 및 제2 테스트 신호선, 및
    상기 제2 테스트 게이트선, 상기 제2 테스트 신호선 및 상기 복수의 데이터선에 연결되어 있는 제2 스위칭 소자를 더 포함하는 표시 장치.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 제1 크랙 감지선의 제1 단부는 제2 테스트 신호선에 연결되어 있고, 상기 제1 크랙 감지선의 제2 단부는 상기 제1 더미 배선과 중첩하는 표시 장치.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 제2 크랙 감지선의 제1 단부는 상기 제2 스위칭 소자를 통해 상기 제1 데이터선에 연결되어 있고, 상기 제2 크랙 감지선의 제2 단부는 상기 제1 더미 배선과 중첩하는 표시 장치.
  9. 제6 항에 있어서,
    상기 제1 테스트 게이트선에 게이트 온 전압이 인가되면, 상기 복수의 데이터선은 상기 제1 테스트 신호선으로부터 제1 전압을 인가 받고,
    상기 제2 테스트 게이트선에 게이트 온 전압이 인가되면, 상기 복수의 데이터선은 상기 제2 테스트 신호선으로부터 제2 전압을 인가 받는 표시 장치.
  10. 제9 항에 있어서,
    제1 시간 동안 제1 테스트 게이트선에 게이트 온 전압이 인가된 후, 제2 시간 동안 제2 테스트 게이트선에 게이트 온 전압이 인가되는 표시 장치.
  11. 제10 항에 있어서,
    상기 제1 전압은 상기 제2 전압과 상이한 표시 장치.
  12. 제11 항에 있어서,
    상기 제1 전압은 최고 계조를 표시하는 전압이고, 상기 제2 전압은 최저 계조를 표시하는 전압인 표시 장치.
  13. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 크랙 감지선 및 상기 제2 크랙 감지선은 상기 기판의 상측 가장자리, 좌측 가장자리 및 하측 가장자리에 위치하는 표시 장치.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 기판의 상기 비표시 영역 위에 위치하는 제3 크랙 감지선,
    상기 기판의 상기 비표시 영역 위에 상기 제3 크랙 감지선과 나란하게 연장되어 있고, 상기 복수의 데이터선 중 제2 데이터선에 연결되어 있는 제4 크랙 감지선, 및
    상기 COF 패키지 위에 위치하고, 상기 제3 크랙 감지선 및 상기 제4 크랙 감지선과 중첩하는 제2 더미 배선을 더 포함하는 표시 장치.
  15. 제14 항에 있어서,
    상기 제3 크랙 감지선 및 상기 제4 크랙 감지선은 상기 기판의 상측 가장자리, 우측 가장자리 및 하측 가장자리에 위치하는 표시 장치.
  16. 제14 항에 있어서,
    제1 이방성 도전 필름에 의해 상기 제3 크랙 감지선과 상기 제2 더미 배선이 연결되어 있고, 상기 제4 크랙 감지선과 상기 제2 더미 배선이 연결되어 있는 표시 장치.
  17. 제16 항에 있어서,
    상기 기판의 상기 비표시 영역에 위치하는 제1 테스트 게이트선 및 제1 테스트 신호선, 및
    상기 제1 테스트 게이트선, 상기 제1 테스트 신호선 및 상기 복수의 데이터선에 연결되어 있는 제1 스위칭 소자를 더 포함하는 표시 장치.
  18. 제17 항에 있어서,
    상기 기판의 상기 비표시 영역에 위치하는 제2 테스트 게이트선 및 제2 테스트 신호선, 및
    상기 제2 테스트 게이트선, 상기 제2 테스트 신호선 및 상기 복수의 데이터선에 연결되어 있는 제2 스위칭 소자를 더 포함하는 표시 장치.
  19. 제18 항에 있어서,
    상기 제3 크랙 감지선의 제1 단부는 제2 테스트 신호선에 연결되어 있고, 상기 제3 크랙 감지선의 제2 단부는 상기 제1 더미 배선과 중첩하는 표시 장치.
  20. 제19 항에 있어서,
    상기 제4 크랙 감지선의 제1 단부는 상기 제2 스위칭 소자를 통해 상기 제1 데이터선에 연결되어 있고, 상기 제4 크랙 감지선의 제2 단부는 상기 제1 더미 배선과 중첩하는 표시 장치.
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