KR20190075488A - 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치 - Google Patents

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Abstract

금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치를 개시한다.
본 발명의 일실시예에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치는 금속판의 델타 페라이트 함량을 측정하는 제1측정프로브와 금속판의 자성을 측정하는 제2측정프로브가 구비된 측정유닛; 상기 측정유닛이 금속판에 대하여 전후와 좌우 및 상하로 이동하도록 하여 금속판의 복수개의 지점의 델타 페라이트 함량과 자성을 상기 측정유닛이 측정하도록 하는 이동유닛; 을 포함하며, 상기 측정유닛은 상기 제1측정프로브에 의해서 델타 페라이트 함량이 측정된 금속판의 일 지점의 자성을 상기 제2측정프로브에 의해서 측정하도록 구성될 수 있다.

Description

금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치{APPARATUS FOR MEASURING DELTA FERRITE AND MAGNETISM OF METAL PLATE}
본 발명은 금속판의 델타 페라이트 함량과 자성을 측정하는 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치에 관한 것이다.
오스테나이트계 또는 듀플렉스계 스테인리스강은 강의 응고 과정에서 델타 페라이트로 초기 응고가 시작되어, 응고가 완료되는 시점까지 상변태가 일어나지 않고 잔류하게 되는 경우가 많다. 이렇게 잔류하는 델타 페라이트는 오스테나이트 또는 듀플렉스계 스테리인스강의 표면품질이나 자성 등과 같은 다양한 물성에 영향을 미치므로, 스테인리스강의 내부에 얼마나 많은 분율로 존재하는지 또는 측정위치 별로 편차가 어느 정도가 되는지 분석하는 것이 중요하다.
한편, 최근 가전산업이나 정밀 분석기기 산업이 발전하면서 비자성 오스테나이트계 스테인리스강에 대한 요구가 증가하고 있다. 오스테나이트 미세조직은 면심입방형 결정구조를 갖는 조직으로서 비자성 특성을 가지나, 페라이트 미세조직은 체심입방형 결정구조를 가져 자성을 띠게 된다. 전술한 델타 페라이트도 체심입방형 결정구조로서 자성을 띄게 되며, 강의 미세조직 내 잔류하게 되면 자성으로 인하여 비자성이 요구되는 분야에 적용할 수 없다.
그러므로, 스테인리스강의 미세조직 내에 존재하는 델타 페라이트의 분율을 상세 분석하고 그에 따른 자성의 변화를 측정하는 것이 중요하다.
종래에는, 이와 같이 델타 페라이트와 자성을 측정하기 위해서, 먼저 측정하고자 하는 시편의 표면에 그리드를 수작업으로 그렸다. 그리고, 그리드의 순서에 따라 수작업으로 자성을 측정한 후, 그리드의 순서에 따라 델타 페라이트의 함량을 수작업으로 측정하였다. 이와 같이, 수작업으로 측정한 자성과 델타 페라이트의 함량을 비교 분석하였다.
그러나, 이러한 방식은 측정에 많은 시간이 소요되며, 작업자의 피로도가 증가하는 등의 문제가 발생하였고, 시편의 동일한 지점에서의 자성과 델타 페라이트의 함량을 측정하기 어려워서 측정의 신뢰성이 저하되었다.
한국등록특허공보 제1746800호 (2017.06.13. 공고)
본 발명은 상기와 같은 종래에서 발생하는 요구 또는 문제들 중 적어도 어느 하나를 인식하여 이루어진 것이다.
본 발명의 목적의 일 측면은 금속판의 복수개의 지점의 델타 페라이트 함량과 자성을 자동으로 측정하며 금속판의 동일 지점에서의 델타 페라이트 함량과 자성을 측정하도록 하는 것이다.
상기 과제들 중 적어도 하나의 과제를 실현하기 위한 일실시 형태와 관련된 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치는 다음과 같은 특징을 포함할 수 있다.
본 발명의 일실시 형태에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치는 금속판의 델타 페라이트 함량을 측정하는 제1측정프로브와 금속판의 자성을 측정하는 제2측정프로브가 구비된 측정유닛; 상기 측정유닛이 금속판에 대하여 전후와 좌우 및 상하로 이동하도록 하여 금속판의 복수개의 지점의 델타 페라이트 함량과 자성을 상기 측정유닛이 측정하도록 하는 이동유닛; 을 포함하며, 상기 측정유닛은 상기 제1측정프로브에 의해서 델타 페라이트 함량이 측정된 금속판의 일 지점의 자성을 상기 제2측정프로브에 의해서 측정하도록 구성될 수 있다.
이 경우, 상기 측정유닛은 상기 이동유닛에 연결되는 연결판과, 상기 연결판에 회전가능하게 연결되며 상기 제1측정프로브와 상기 제2측정프로브가 구비되는 회전판을 포함할 수 있다.
또한, 상기 제1측정프로브와 상기 제2측정프로브는 서로 소정 각도로 이격되도록 상기 회전판에 구비될 수 있다.
그리고, 금속판의 델타 페라이트 함량을 측정하는 경우 상기 제1측정프로브가 금속판 위에 위치하도록 상기 회전판을 소정 각도로 일측방향으로 회전시키고, 금속판의 자성을 측정하는 경우 상기 제2측정프로브가 금속판 위에 위치하도록 상기 회전판을 소정 각도로 타측방향으로 회전시킬 수 있다.
또한, 상기 회전판에는 가이드구멍이 형성되며, 상기 연결판에는 상기 회전판의 회전위치를 고정하는 고정볼트가 상기 가이드구멍을 관통하여 연결될 수 있다.
그리고, 상기 측정유닛은 상기 회전판에 구비되며 상기 제1측정프로브나 상기 제2측정프로브가 완충되게 삽입되어 구비되는 완충부를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 완충부는 상기 회전판에 구비되는 소켓부재, 상기 소켓부재에 일측이 돌출되게 이동가능하게 구비되며 상기 제1측정프로브나 상기 제2측정프로브가 삽입되는 삽입부재 및, 상기 삽입부재를 탄성지지하도록 상기 소켓부재에 구비되는 탄성부재를 포함할 수 있다.
그리고, 상기 이동유닛은 상기 연결판이 연결되는 상하이동부재, 상기 상하이동부재가 상하로 이동가능하게 구비되는 좌우이동부재, 상기 좌우이동부재가 좌우로 이동가능하게 구비되는 전후이동부재 및, 상기 전후이동부재가 전후로 이동가능하게 구비되는 이동가이드부재를 포함할 수 있다.
이상에서와 같이 본 발명의 실시예에 따르면, 금속판의 복수개의 지점의 델타 페라이트 함량과 자성을 자동으로 측정하며 금속판의 동일 지점에서의 델타 페라이트 함량과 자성을 측정할 수 있다.
도1은 본 발명에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치의 일실시예를 나타내는 도면이다.
도2는 본 발명에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치의 일실시예에 포함되는 측정유닛을 나타내는 도면이다.
도3은 본 발명에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치의 일실시예에 포함되는 측정유닛에 포함되는 완충부의 단면도이다.
도4는 본 발명에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치의 일실시예에 의해서 금속판의 델타 페라이트 함량을 측정하는 것을 나타내는 도면이다.
도5는 본 발명에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치의 일실시예에 의해서 금속판의 자성을 측정하는 것을 나타내는 도면이다.
상기와 같은 본 발명의 특징들에 대한 이해를 돕기 위하여, 이하 본 발명의 실시예와 관련된 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치에 대하여 보다 상세하게 설명하도록 하겠다.
이하 설명되는 실시예들은 본 발명의 기술적인 특징을 이해시키기에 가장 적합한 실시예들을 기초로 하여 설명될 것이며, 설명되는 실시예들에 의해 본 발명의 기술적인 특징이 제한되는 것이 아니라, 이하 설명되는 실시예들과 같이 본 발명이 구현될 수 있다는 것을 예시하는 것이다. 따라서, 본 발명은 아래 설명된 실시예들을 통해 본 발명의 기술 범위 내에서 다양한 변형 실시가 가능하며, 이러한 변형 실시예는 본 발명의 기술 범위 내에 속한다 할 것이다. 그리고, 이하 설명되는 실시예의 이해를 돕기 위하여 첨부된 도면에 기재된 부호에 있어서, 각 실시예에서 동일한 작용을 하게 되는 구성요소 중 관련된 구성요소는 동일 또는 연장 선상의 숫자로 표기하였다.
이하, 도1 내지 도5을 참조로 하여 본 발명에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치의 일실시예에 대하여 설명한다.
도1은 본 발명에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치의 일실시예를 나타내는 도면이며, 도2는 본 발명에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치의 일실시예에 포함되는 측정유닛을 나타내는 도면이고, 도3은 본 발명에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치의 일실시예에 포함되는 측정유닛에 포함되는 완충부의 단면도이다.
또한, 도4는 본 발명에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치의 일실시예에 의해서 금속판의 델타 페라이트 함량을 측정하는 것을 나타내는 도면이고, 도5는 본 발명에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치의 일실시예에 의해서 금속판의 자성을 측정하는 것을 나타내는 도면이다.
본 발명에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치(100)의 일실시예는 측정유닛(200)과, 이동유닛(300)을 포함할 수 있다.
측정유닛(200)에는 제1측정프로브(PB1)와 제2측정프로브(PB2)가 구비될 수 있다.
제1측정프로브(PB1)는 금속판(MP)의 델타 페라이트 함량을 측정할 수 있다. 제1측정프로브(PB1)의 구성은 특별히 한정되지 않고, 금속판(MP)의 델타 페라이트 함량을 측정할 수 있는 구성이라면 주지의 어떠한 구성이라도 가능하다.
제2측정프로브(PB2)는 금속판(MP)의 자성을 측정할 수 있다. 제2측정프로브(PB2)의 구성은 특별히 한정되지 않고, 금속판(MP)의 자성을 측정할 수 있는 구성이라면 주지의 어떠한 구성이라도 가능하다
측정유닛(200)은 제1측정프로브(PB1)에 의해서 델타 페라이트 함량이 측정된 금속판(MP)의 일 지점의 자성을 제2측정프로브(PB2)에 의해서 측정하도록 구성될 수 있다. 그러므로, 금속판(MP)의 동일 지점에서의 델타 페라이트 함량과 자성을 용이하고 신뢰성있게 측정할 수 있다.
이를 위해서, 측정유닛(200)은 도2에 도시된 바와 같이 연결판(210)과, 회전판(220)을 포함할 수 있다.
연결판(210)은 이동유닛(300)에 연결될 수 있다. 이동유닛(300)에 의해서 연결판(210)을 포함하는 측정유닛(200)이 금속판(MP)에 대하여 전후와 좌우 및 상하로 이동할 수 있다. 그리고, 연결판(210)에 회전가능하게 연결되는 회전판(220)에 구비되는 제1측정프로브(PB1)와 제2측정프로브(PB2)에 의해서 금속판(MP)의 복수개의 지점의 델타 페라이트 함량과 자성을 측정할 수 있다.
연결판(210)은, 예컨대 이동유닛(300)에 포함되는 후술할 상하이동부재(310)에 연결될 수 있다. 연결판(210)은, 예컨대 회전판(220)에 형성되는 통과구멍(222)을 통과하여 연결판(210)에 형성된 연결구멍(212)에 구비되는 연결볼트(도시되지 않음)에 의해서 이동유닛(300)의 상하이동부재(310)에 연결될 수 있다. 그러나, 연결판(210)이 이동유닛(300), 예컨대 이동유닛(300)의 상하이동부재(310)에 연결되는 구성은 특별히 한정되지 않고, 주지의 어떠한 구성이라도 가능하다.
회전판(220)은 연결판(210)에 회전가능하게 연결될 수 있다. 예컨대, 연결판(210)의 중심에 회전판(220)의 중심이 회전가능하게 구비되는 회전축(도시되지 않음)이 구비되는 것에 의해서 회전판(220)이 연결판(210)에 회전가능하게 구비될 수 있다. 그러나, 회전판(220)이 연결판(210)에 회전가능하게 구비되는 구성은 특별히 한정되지 않고, 주지의 어떠한 구성이라도 가능하다.
회전판(220)에는 제1측정프로브(PB1)와 제2측정프로브(PB2)가 구비될 수 있다. 예컨대, 볼트(도시되지 않음)와 연결지지부재(도시되지 않음) 등에 의해서 제1측정프로브(PB1)와 제2측정프로브(PB2)가 회전판(220)에 구비될 수 있다. 그러나, 제1측정프로브(PB1)와 제2측정프로브(PB2)가 회전판(220)에 구비되는 구성은 특별히 한정되지 않고, 주지의 어떠한 구성이라도 가능하다.
제1측정프로브(PB1)와 제2측정프로브(PB2)는 도2에 도시된 바와 같이 서로 소정 각도로 이격되도록 회전판(220)에 구비될 수 있다. 예컨대, 제1측정프로브(PB1)와 제2측정프로브(PB2)는 서로 직각으로 이격되도록 회전판(220)에 구비될 수 있다. 그러나, 제1측정프로브(PB1)와 제2측정프로브(PB2)가 서로 이격되게 회전판(220)에 구비되는 소정 각도는 특별히 한정되지 않고 어떠한 각도라도 가능하다.
이러한 구성에 의해서, 금속판(MP)의 델타 페라이트 함량을 측정하는 경우에는 도4에 도시된 바와 같이 제1측정프로브(PB1)가 금속판(MP) 위에 위치하도록 회전판(220)을 소정 각도로 일측방향으로 회전시킬 수 있다.
그리고, 이동유닛(300)에 의해서 측정유닛(200)이 금속판(MP)에 대하여 전후와 좌우 및 상하로 이동하도록 하여 금속판(MP)의 복수개의 지점의 델타 페라이트 향유량을 측정할 수 있다.
또한, 금속판(MP)의 자성을 측정하는 경우에는 도5에 도시된 바와 같이 제2측정프로브(PB2)가 금속판(MP) 위에 위치하도록 회전판(220)을 소정 각도로 타측방향으로 회전시킬 수 있다.
그리고, 이동유닛(300)에 의해서 측정유닛(200)이 금속판(MP)에 대하여 전후와 좌우 및 상하로 이동하도록 하여 금속판(MP)의 복수개의 지점의 자성을 측정할 수 있다.
이에 의해서, 제1측정프로브(PB1)에 의해서 델타 페라이트 함량이 측정된 금속판(MP)의 복수개의 지점의 자성을 제2측정프로브(PB2)에 의해서 측정할 수 있다. 즉, 제1측정프로브(PB1)에 의해서 금속판(MP)의 델타 페라이트 함량이 측정된 금속판(MP)의 복수개의 지점과 제2측정프로브(PB2)에 의해서 금속판(MP)의 자성이 측정된 금속판(MP)의 복수개의 지점이 동일하도록 할 수 있다.
회전판(220)에는 가이드구멍(221)이 형성될 수 있다. 예컨대, 도2에 도시된 바와 같이 회전판(220)의 중앙을 중심으로 사분원의 호의 형태로 가이드구멍(221)이 형성될 수 있다. 그리고, 고정볼트(211)가 가이드구멍(221)을 관통하여 연결판(210)에 연결될 수 있다.
이에 의해서, 고정볼트(211)를 풀어서 회전판(220)을 연결판(210)에 대하여 고정하지 않으면 회전판(220)이 회전될 수 있다. 또한, 고정볼트(211)를 죄어서 회전판(220)을 연결판(210)에 대하여 고정하면, 회전판(220)이 회전되지 않을 수 있다.
이에 따라, 도4에 도시된 바와 같이, 제1측정프로브(PB1)가 금속판(MP) 위에 위치하도록 회전판(220)을 소정 각도로 일측방향으로 회전하거나, 도5에 도시된 바와 같이 제2측정프로브(PB2)가 금속판(MP) 위에 위치하도록 회전판(220)을 소정 각도로 타측방향으로 회전한 후, 고정볼트(211)로 회전판(220)이 회전되지 않도록 할 수 있다.
그러므로, 이동유닛(300)에 의해서 측정유닛(200)이 금속판(MP)에 대하여 전후와 좌우 및 상하로 이동한다고 하더라도 제1측정프로브(PB1)나 제2측정프로브(PB2)가 움직이지 않고 금속판(MP)의 복수개의 지점의 델타 페라이트 함량이나 자성을 신뢰성 있게 측정할 수 있다. 또한, 제1측정프로브(PB1)가 델타 페라이트 함량을 측정한 금속판(MP)의 지점의 자성을 제2측정프로브(PB2)에 의해서 측정할 수 있다.
측정유닛(200)은 완충부(230)를 더 포함할 수 있다. 완충부(230)는 회전판(220)에 구비되며 제1측정프로브(PB1)나 상기 제2측정프로브(PB2)가 완충되게 삽입되어 구비될 수 있다.
예컨대, 도3에 도시된 바와 같이 제2측정프로브(PB2)가 완충부(230)에 완충되게 삽입되어 구비될 수 있다. 그러나, 제1측정프로브(PB1)가 완충부(230)에 완충되게 삽입되어 구비될 수도 있으며, 2개의 완충부(230)가 회전판(220)에 구비되어 제1측정프로브(PB1)와 제2측정프로브(PB2)가 2개의 완충부(230)에 각각 완충되게 삽입되어 구비될 수도 있다.
완충부(230)는 도3에 도시된 바와 같이 소켓부재(231), 삽입부재(232) 및, 탄성부재(233)를 포함할 수 있다.
소켓부재(231)는 회전판(220)에 구비될 수 있다. 예컨대, 소켓부재(231)는 볼트와 연결지지부재 등에 의해서 회전판(220)에 구비될 수 있다. 소켓부재(231)는 도3에 도시된 바와 같이 소켓본체(231a)와 지지부재(231b)를 포함할 수 있다. 소켓본체(231a)에는 삽입부재(232)가 이동가능하게 구비되고 탄성부재(233)가 구비되는 이동구멍(HM)이 관통되게 형성될 수 있다. 또한, 지지부재(231b)는 소켓본체(231a)에 연결되어, 일측이 삽입부재(232)를 탄성지지하도록 소켓본체(231a)의 이동구멍(HM)에 구비되는 탄성부재(233)의 타측을 탄성지지할 수 있다.
삽입부재(232)는 일측이 돌출되게 소켓부재(231)에 이동가능하게 구비될 수 있다. 삽입부재(232)는 소켓부재(231), 예컨대 소켓부재(231)의 소켓본체(231a)에 형성된 이동구멍(HM)에 일측이 돌출되게 이동가능하게 구비될 수 있다.
삽입부재(232)에는 제1측정프로브(PB1)나 제2측정프로브(PB2)가 삽입될 수 있다. 이를 위해서, 삽입부재(232)에는 도3에 도시된 바와 같이 제1측정프로브(PB1)나 제2측정프로브(PB2)가 삽입되는 삽입구멍(232a)이 형성될 수 있다.
한편, 소켓부재(231)의 소켓본체(231a)에는 도3에 도시된 바와 같이 이동멈춤턱(SP)이 형성되고 삽입부재(232)에는 걸림턱(HK)이 형성되어 삽입부재(232)의 일측이 소켓부재(231)로부터 돌출되어 소정거리 이상 이동하지 않도록 할 수 있다.
탄성부재(233)는 삽입부재(232)를 탄성지지하도록 소켓부재(231)에 구비될 수 있다. 탄성부재(233)는 소켓부재(231)의 소켓본체(231a)의 이동구멍(HM)에 구비되어 일측이 삽입부재(232)에 접촉하여 삽입부재(232)를 탄성지지할 수 있다. 그리고, 탄성부재(233)의 타측은 소켓부재(231)의 지지부재(231b)에 의해서 지지될 수 있다.
이러한 구성에 의해서, 제1측정프로브(PB1)나 제2측정프로브(PB2)가 금속판(PM)의 복수개의 지점의 측정을 위해서 금속판(PM) 위를 이동하는 동안에, 금속판(MP) 표면의 굴곡 등에 의해서 제1측정프로브(PB1)나 제2측정프로브(PB2)에 외력이 작용한다고 하더라도, 완충부(230)에 의해서 완충될 수 있다.
그러므로, 제1측정프로브(PB1)나 제2측정프로브(PB2)에 의한 금속판(MP)의 델타 페라이트 함량이나 자성의 측정이 신뢰성있게 이루어질 수 있고, 제1측정프로브(PB1)나 제2측정프로브(PB2)의 수명이 연장될 수 있다.
이동유닛(300)은 측정유닛(200)이 금속판(MP)에 대하여 전후와 좌우 및 상하로 이동하도록 하여 금속판(MP)의 복수개의 지점의 델타 페라이트 함량과 자성을 측정유닛(200)이 측정하도록 할 수 있다.
이동유닛(300)은 도1에 도시된 바와 같이 상하이동부재(310), 좌우이동부재(320), 전후이동부재(330) 및, 이동가이드부재(340)를 포함할 수 있다.
상하이동부재(310)에는 측정유닛(200)의 연결판(210)이 연결될 수 있다.
좌우이동부재(320)에는 상하이동부재(310)가 상하로 이동가능하게 구비될 수 있다. 상하이동부재(310)가 좌우이동부재(320)에서 상하로 이동하는 것에 의해서 측정유닛(200)이 금속판(MP)에 대하여 상하로 이동할 수 있다.
전후이동부재(330)는 좌우이동부재(320)가 좌우로 이동가능하게 구비될 수 있다. 좌우이동부재(320)가 전후이동부재(330)에서 좌우로 이동하는 것에 의해서 측정유닛(200)이 금속판(MP)에 대하여 좌우로 이동할 수 있다.
이동가이드부재(340)는 전후이동부재(330)가 전후로 이동가능하게 구비될 수 있다. 전후이동부재(330)가 이동가이드부재(340)에서 전후로 이동하는 것에 의해서 측정유닛(200)이 금속판(MP)에 대하여 전후로 이동할 수 있다.
상하이동부재(310)와 좌우이동부재(320) 및 전후이동부재(330)의 이동은 모터와 모터에 연결된 기어 등에 의해서 자동으로 이루어질 수 있다. 예컨대, 모터 등에 전기적으로 연결된 제어부(도시되지 않음)에 입력된 금속판(MP)의 복수개의 지점의 좌표만큼 모터에 의해서 상하이동부재(310)와 좌우이동부재(320) 및 전후이동부재(330)가 이동할 수 있다.
이상에서와 같이 본 발명에 따른 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치를 사용하면, 금속판의 복수개의 지점의 델타 페라이트 함량과 자성을 자동으로 측정하며 금속판의 동일 지점에서의 델타 페라이트 함량과 자성을 측정할 수 있다.
상기와 같이 설명된 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치는 상기 설명된 실시예의 구성이 한정되게 적용될 수 있는 것이 아니라, 상기 실시예들은 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다.
100 : 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치
200 : 측정유닛 210 : 연결판
211 : 고정볼트 212 : 연결구멍
220 : 회전판 221 : 가이드구멍
222 : 통과구멍 230 : 완충부
231 : 소켓부재 231a : 소켓본체
231b : 지지부재 232 : 삽입부재
232a : 삽입구멍 233 : 탄성부재
300 : 이동유닛 310 : 상하이동부재
320 : 좌우이동부재 330 : 전후이동부재
340 : 이동가이드부재 PB1 : 제1측정프로브
PB2 : 제2측정프로브 HM : 이동구멍
SP : 이동멈춤턱 HK : 걸림턱

Claims (8)

  1. 금속판의 델타 페라이트 함량을 측정하는 제1측정프로브와 금속판의 자성을 측정하는 제2측정프로브가 구비된 측정유닛; 및
    상기 측정유닛이 금속판에 대하여 전후와 좌우 및 상하로 이동하도록 하여 금속판의 복수개의 지점의 델타 페라이트 함량과 자성을 상기 측정유닛이 측정하도록 하는 이동유닛; 을 포함하며,
    상기 측정유닛은 상기 제1측정프로브에 의해서 델타 페라이트 함량이 측정된 금속판의 일 지점의 자성을 상기 제2측정프로브에 의해서 측정하도록 구성된 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 측정유닛은 상기 이동유닛에 연결되는 연결판과, 상기 연결판에 회전가능하게 연결되며 상기 제1측정프로브와 상기 제2측정프로브가 구비되는 회전판을 포함하는 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제1측정프로브와 상기 제2측정프로브는 서로 소정 각도로 이격되도록 상기 회전판에 구비되는 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치.
  4. 제3항에 있어서, 금속판의 델타 페라이트 함량을 측정하는 경우 상기 제1측정프로브가 금속판 위에 위치하도록 상기 회전판을 소정 각도로 일측방향으로 회전시키고, 금속판의 자성을 측정하는 경우 상기 제2측정프로브가 금속판 위에 위치하도록 상기 회전판을 소정 각도로 타측방향으로 회전시키는 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 회전판에는 가이드구멍이 형성되며, 상기 연결판에는 상기 회전판의 회전위치를 고정하는 고정볼트가 상기 가이드구멍을 관통하여 연결되는 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치.
  6. 제2항에 있어서, 상기 측정유닛은 상기 회전판에 구비되며 상기 제1측정프로브나 상기 제2측정프로브가 완충되게 삽입되어 구비되는 완충부를 더 포함하는 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 완충부는 상기 회전판에 구비되는 소켓부재, 상기 소켓부재에 일측이 돌출되게 이동가능하게 구비되며 상기 제1측정프로브나 상기 제2측정프로브가 삽입되는 삽입부재 및, 상기 삽입부재를 탄성지지하도록 상기 소켓부재에 구비되는 탄성부재를 포함하는 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치.
  8. 제2항에 있어서, 상기 이동유닛은 상기 연결판이 연결되는 상하이동부재, 상기 상하이동부재가 상하로 이동가능하게 구비되는 좌우이동부재, 상기 좌우이동부재가 좌우로 이동가능하게 구비되는 전후이동부재 및, 상기 전후이동부재가 전후로 이동가능하게 구비되는 이동가이드부재를 포함하는 금속판의 델타 페라이트 및 자성 측정장치.
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