KR20120076900A - 디스플레이 장치 및 그 테스트 방법 - Google Patents

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Abstract

테스트 회로부를 통한 1차 테스트 및 구동 IC 출력 패드부를 통한 2차 테스트를 통해 불량 여부가 더욱 정확히 테스트될 수 있는 디스플레이 장치 및 그 테스트 방법이 개시된다. 본 발명의 디스플레이 장치 및 그 테스트 방법에 의하면, 디스플레이 패널에 형성된 테스트 회로부를 통하여 1차적으로 라인 결함(line defect) 등의 불량을 테스트한 후, 결함이 검출된 디스플레이 패널에 대하여 구동 IC 출력 패드부를 통한 2 차 테스트를 더 실시함으로써 디스플레이 장치의 불량을 더욱 정확히 테스트할 수 있다.

Description

디스플레이 장치 및 그 테스트 방법{Display Apparatus and Method for Testing The Same}
본 발명은 디스플레이 장치 및 그 테스트 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 능동형 디스플레이 장치는 하부 기판을 포함한다. 하부 기판은 서로 교차하는 데이터 라인들과 게이트 라인들을 포함한다. 이러한 교차 구조로 인해 매트릭스 타입으로 배열된 다수의 화소들이 하부 기판 상에 형성된다. 데이터 라인들과 게이트 라인들이 교차하는 영역 마다 스위칭 소자 및 화소전극이 형성되어 있다. 스위칭 소자는 게이트 라인을 통해 인가되는 스캔 펄스에 따라 데이터 라인을 화소 전극에 선택적으로 연결한다.
디스플레이 장치는 게이트 구동 IC 및 데이터 구동 IC를 포함한다. 게이트 구동 IC는 스위칭 소자의 스위칭 동작을 제어하기 위한 스캔 펄스를 게이트 라인들에 공급한다. 데이터 구동 IC는 표시하고자 하는 계조에 대응하는 데이터 전압을 데이터 라인들에 공급한다.
게이트 구동 IC 및 데이터 구동 IC를 디스플레이 패널에 연결하는 방법으로는 TAB(Tape Automated Bonding) 방식 및 COG(Chip On Glass) 방식이 있다. TAB 방식의 경우, 구동 IC가 캐리어 필름에 실장되고 이 캐리어 필름이 디스플레이 패널에 연결된다. 반면에, COG 방식의 경우, 범프(bump)가 형성된 구동 IC가 입력 패드 및 출력 패드가 형성된 디스플레이 패널에 직접 실장된다.
최근들어 미세 실장 기술이 발전함에 따라 디스플레이 장치의 소형화에 유리하고 제조 단가가 낮은 COG 방식이 주로 사용되고 있다.
디스플레이 장치의 신뢰성을 높이기 위해서는 구동 IC가 디스플레이 패널에 실장되기 전에 디스플레이 패널에 대한 불량 여부가 테스트될 필요가 있다.
본 발명의 일 관점은, 테스트 회로부를 통한 1차 테스트 및 구동 IC 출력 패드부를 통한 2차 테스트를 통해 불량 여부가 더욱 정확히 테스트될 수 있는 디스플레이 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 관점은, 테스트 회로부를 통한 1차 테스트 및 구동 IC 출력 패드부를 통한 2차 테스트를 통해 디스플레이 장치의 불량 여부를 더욱 정확히 테스트할 수 있는 디스플레이 장치의 테스트 방법을 제공하는 것이다.
위에서 언급된 본 발명의 관점들 외에도, 본 발명의 다른 특징 및 이점들이 이하에서 기술되거나, 그러한 기술 및 설명으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
위와 같은 본 발명의 일 관점에 따라, 복수 개의 게이트 라인들; 상기 게이트 라인들의 일단들이 접속된 게이트 구동 IC 출력 패드들; 상기 게이트 라인들과 교차하는 복수 개의 데이터 라인들; 상기 데이터 라인들의 일단들이 접속된 데이터 구동 IC 출력 패드들; 복수 개의 화소전극들; 상기 게이트 라인들로부터 공급되는 스캔 펄스에 따라 상기 데이터 라인들을 상기 화소전극들에 선택적으로 연결시키 위한 복수 개의 화소 스위칭 소자들; 상기 화소전극들에 대향하는 공통전극; 게이트 테스트 단자부; 데이터 테스트 단자부; 상기 게이트 구동 IC 출력 패드들을 상기 게이트 테스트 단자부에 선택적으로 연결시키고, 상기 데이터 구동 IC 출력 패드들을 상기 데이터 테스트 단자부에 선택적으로 연결시키기 위한 복수 개의 테스트 스위칭 소자들; 상기 테스트 스위칭 소자들에 인에이블 신호를 제공하기 위한 인에이블 단자부; 상기 공통전극에 공통전압을 제공하기 위한 공통전압 테스트 단자부; 및 상기 공통전압 테스트 단자부와 연결된 공통전압 패드를 포함하는 디스플레이 장치가 제공된다.
본 발명의 다른 관점에 따라, 복수 개의 게이트 라인들의 일단들이 접속된 게이트 구동 IC 출력 패드들, 상기 게이트 라인들과 교차하는 복수 개의 데이터 라인들의 일단들이 접속된 데이터 구동 IC 출력 패드들, 게이트 테스트 단자부, 데이터 테스트 단자부, 상기 게이트 구동 IC 출력 패드들을 상기 게이트 테스트 단자부에 선택적으로 연결시키고 상기 데이터 구동 IC 출력 패드들을 상기 데이터 테스트 단자부에 선택적으로 연결시키기 위한 복수 개의 테스트 스위칭 소자들, 상기 테스트 스위칭 소자들에 인에이블 신호를 제공하기 위한 인에이블 단자부, 공통전극에 공통전압을 제공하기 위한 공통전압 테스트 단자부, 및 상기 공통전압 테스트 단자부와 연결된 공통전압 패드를 포함하는 디스플레이 패널을 제조하는 단계; 상기 게이트 테스트 단자부, 데이터 테스트 단자부, 인에이블 단자부, 및 공통전압 테스트 단자부에 게이트 전압, 데이터 전압, 인에이블 신호, 및 공통전압을 각각 인가함으로써 상기 디스플레이 패널을 1차적으로 테스트하는 단계; 및 상기 게이트 구동 IC 출력 패드들, 데이터 구동 IC 출력 패드들 및 공통전압 패드에 게이트 전압, 데이터 전압 및 공통전압을 각각 인가함으로써 상기 디스플레이 패널을 2차적으로 테스트하는 단계를 포함하는 디스플레이 장치의 테스트 방법이 제공된다.
위와 같은 본 발명에 대한 일반적 서술은 본 발명을 예시하거나 설명하기 위한 것일 뿐으로서, 본 발명의 권리범위를 제한하지 않는다.
본 발명의 디스플레이 장치 및 그 테스트 방법에 의하면, 디스플레이 패널에 형성된 테스트 회로부를 통하여 1차적으로 라인 결함(line defect) 등의 불량을 테스트한 후, 결함이 검출된 디스플레이 패널에 대하여 구동 IC 출력 패드부를 통한 2 차 테스트를 더 실시함으로써 디스플레이 장치의 불량을 더욱 정확히 테스트할 수 있다.
또한, 테스트 회로부를 통한 1차 테스트 결과 불량으로 판정된 디스플레이 패널에 대하여 구동 IC 출력 패드부를 통한 2차 테스트를 실시함으로써, 디스플레이 패널의 엑티브 영역 내의 결함이 아닌 테스트 회로 자체의 결함으로 인해 1차 테스트를 통과하지 못한 디스플레이 패널을 구제할 수 있고, 그 결과 디스플레이 장치의 수율을 향상시킬 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 디스플레이 패널의 엑티브 영역과 구동 IC 출력 패드부 사이의 거리를 최소화함으로써 디스플레이 장치의 소형화를 구현할 수 있다.
이 밖에도, 본 발명의 실시를 통해 본 발명의 또 다른 특징 및 이점들이 새롭게 파악되어질 수도 있을 것이다.
첨부된 도면은 본 발명의 이해를 돕고 본 명세서의 일부를 구성하기 위한 것으로서, 본 발명의 실시예들을 예시하며, 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 원리들을 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치를 개략적으로 보여주기 위한 도면이고,
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 장치를 개략적으로 보여주기 위한 도면이고,
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 게이트 구동 IC 출력 패드들을 상세하게 보여주기 위한 도면이고,
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 구동 IC 출력 패드부 및 테스트 회로부를 보여주며,
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 구동 IC 출력 패드부 및 테스트 회로부를 보여준다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 디스플레이 장치 및 그 테스트 방법의 실시예들을 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치를 간략하게 나타낸다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치는 영상이 표시되는 엑티브 영역(AA)을 포함한다.
엑티브 영역(AA)에는 데이터 라인들[D1 내지 D(m)]과 게이트 라인들[G1 내지 G(2n)]이 서로 교차하고, 이러한 교차 구조로 인해 m×2n개의 화소들이 매트릭스 타입으로 배열된다. 데이터 라인들[D1 내지 D(m)]과 게이트 라인들[G1 내지 G(2n)]이 교차하는 영역마다 화소 스위칭 소자들(SW)이 형성되어 있다. 상기 화소 스위칭 소자들(SW)은 박막트랜지스터들일 수 있으며, 이하에서는 박막트랜지스터를 예로 들어 설명한다. 각각의 박막트랜지스터는 게이트 전극, 소스 전극, 및 드레인 전극을 갖는다. 게이트 전극은 게이트 라인들[G1 내지 G(2n)] 중 하나에 접속되고, 소스 전극은 데이터 라인들[D1 내지 D(m)] 중 하나에 접속되며, 드레인 전극은 해당 화소의 화소 전극(10)에 접속된다.
스캔 펄스가 게이트 라인들[G1 내지 G(2n)] 중 하나에 공급되면, 해당 게이트 라인에 연결된 박막트랜지스터들이 상기 스캔 펄스에 응답하여 턴온(turn-on)됨으로써 데이터 라인들[D1 내지 D(m)]을 통해 공급되는 데이터 전압이 대응하는 화소들의 화소 전극들(10)로 인가된다. 화소 전극들(10)에 대향하는 공통 전극(20)에는 공통 전압(Vcom)이 인가된다. 화소 전극(10)과 공통 전극(20) 사이에 인가되는 전계에 의해 해당 화소에 특정 계조가 표시될 수 있다.
본 발명의 디스플레이 장치는 액정표시장치 또는 전기영동표시장치일 수 있다. 액정표시장치의 경우, 화소 전극(10)과 공통 전극(20) 사이에 인가되는 전계에 의해 액정 분자가 재배열됨으로써 백라이트 유닛으로부터 제공되는 광의 투과율이 조절된다. 이에 반해, 전기영동표시장치의 경우, 화소 전극(10)과 공통 전극(20) 사이에 인가되는 전계에 의해 이들 사이에 존재하는 대전 입자들이 전기영동(electrophoresis)에 의해 반대 극성의 전극으로 각각 이동함으로써 해당 화소에 화상이 표시된다.
도 1에 도시되어 있지는 않지만, 본 발명의 디스플레이 장치는 게이트 구동부 및 데이터 구동부를 포함한다. 게이트 구동부는 스캔 구동부라고도 지칭되며, 타이밍 컨트롤러(미도시)의 제어에 따라 박막트랜지스터들의 스위칭 동작을 제어하기 위한 스캔 펄스를 게이트 라인들[G1 내지 G(2n)]에 공급한다. 데이터 구동부는 소스 구동부라고도 지칭되며, 타이밍 컨트롤러의 제어 하에, 표시하고자 하는 계조에 대응하는 데이터 전압을 데이터 라인들[D1 내지 D(m)]에 공급한다.
본 발명에 의하면, 게이트 구동부 및 데이터 구동부를 위한 구동 IC들은 COG(Chip On Glass) 방식으로 디스플레이 패널 상에 실장된다. 구동 IC들의 실장을 위하여, 본 발명의 디스플레이 장치는 구동 IC 출력 패드부(100) 및 구동 IC 입력 패드부(300)를 포함한다. 구동 IC의 입력 범프 및 출력 범프는 구동 IC 입력 패드부(300) 및 구동 IC 출력 패드부(100)에 이방성 도전 필름(Anisotropic Conductive Film: ACF) 등과 같은 도전성 물질로 각각 접착된다.
구동 IC 입력 패드부(300)는 FPC(Flexible Printed Circuit) 패드부(400)와 전기적으로 연결되어 있다. FPC 패드부(400)는 FPC를 통해 외부의 인쇄회로기판(Printed Circuit Board: PCB)(미도시)에 연결될 수 있다. 구동 IC는 FPC 패드부(400) 및 구동 IC 입력 패드부(300)를 통해 디지털 화상 데이터 및 각종 타이밍 제어신호를 수신한다.
구동 IC 출력 패드부(100)는 나란히 배열된 복수 개의 게이트 구동 IC 출력 패드들(110) 및 복수 개의 데이터 구동 IC 출력 패드들(120)을 포함한다. 게이트 구동 IC 출력 패드들(110)에는 게이트 라인들[G1 내지 G(2n)]의 일단들이 각각 접속되어 있고, 데이터 구동 IC 출력 패드들(120)에는 데이터 라인들[D1 내지 D(m)]의 일단들이 각각 접속되어 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 도 1에 도시된 바와 같이, 게이트 구동 IC 출력 패드들(110)은 제1 게이트 구동 IC 출력 패드들(110a) 및 제2 게이트 구동 IC 출력 패드들(110b)을 포함하고, 데이터 구동 IC 출력 패드들(120)은 제1 게이트 구동 IC 출력 패드들(110a)과 제2 게이트 구동 IC 출력 패드들(110b) 사이에 위치한다.
위와 같은 구성을 통해, 게이트 라인들[G1 내지 G(2n)]과 데이터 라인들[D1 내지 D(m)]을 구동 IC 출력 패드부(100)와 전기적으로 연결시키기 위한 배선들이 엑티브 영역(AA)과 구동 IC 출력 패드부(100) 사이의 영역에서 효율적으로 배열됨으로써 엑티브 영역(AA)과 구동 IC 출력 패드부(100) 사이의 거리가 최소화될 수 있다.
도 1에 예시된 바와 같이, 제1 게이트 구동 IC 출력 패드들(110a)에는 전반(first half) 게이트 라인들[G1 내지 G(n)]의 일단들이 각각 접속되고, 제2 게이트 구동 IC 출력 패드들(110b)에는 후반(second half) 게이트 라인들[G(n+1) 내지 G(2n)]의 일단들이 각각 접속될 수 있다.
다만, 본 발명의 디스플레이 장치가 도 1에 예시된 구성으로 제한되는 것은 아니며, 게이트 구동 IC 출력 패드들(110)과 게이트 라인들[G1 내지 G(2n)]은 다양한 방식을 통해 연결될 수 있다. 예를 들어, 도 2에 예시된 바와 같이, 제1 게이트 구동 IC 출력 패드들(110a)에는 홀수 번째 게이트 라인들[G1, G3 … G(2n-1)]의 일단들이 각각 접속되고, 제2 게이트 구동 IC 출력 패드들(110b)에는 짝수 번째 게이트 라인들[G2, G4 … G(2n)]의 일단들이 각각 접속될 수 있다.
본 발명에 의하면, 테스트 회로부(200)을 이용한 제1차 오토프로브(Autoprobe) 테스트 후에 구동 IC 출력 패드들(110, 120)을 이용한 제2차 오토프로브 테스트가 수행된다. 따라서, 본 발명의 구동 IC 출력 패드들(110, 120)은 프로브 컨택이 용이하게 이루어질 수 있도록 충분히 긴 길이를 가져야 한다. 예를 들어 구동 IC 출력 패드들(110, 120)의 길이는 150 내지 250 ㎛일 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 게이트 구동 IC 출력 패드들(110a)을 상세하게 보여주기 위한 도면이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 게이트 구동 IC 출력 패드들(110a)은 데이터 구동 IC 출력 패드들(120)의 반대 측에 위치한 외곽 게이트 구동 IC 출력 패드들(110c: GP1, GP2, GP3 및 GP4) 및 데이터 구동 IC 출력 패드들(120) 측에 위치한 중앙 게이트 구동 IC 출력 패드들[110d: GP5, GP6, GP7, …, GP(n)]을 포함한다.
게이트 라인들[G1 내지 G(2n)]과 데이터 라인들[D1 내지 D(m)]을 구동 IC 출력 패드부(100)와 전기적으로 연결시키기 위한 배선 공간을 확보함과 동시에 엑티브 영역(AA)과 구동 IC 출력 패드부(100) 사이의 거리를 최소화하기 위하여, 도 3에 예시된 바와 같이, 외곽 게이트 구동 IC 출력 패드들(110c)의 길이가 중앙 게이트 구동 IC 출력 패드들(110d)에 비해 상대적으로 짧을 수 있다.
상대적으로 짧은 길이를 갖는 외곽 게이트 구동 IC 출력 패드들(110c)의 개수는 3개 내지 7개일 수 있으며, 이들 중에서도 더 바깥 측에 위치한 출력 패드가 더 짧은 길이를 가질 수 있다.
본 발명의 제2 게이트 구동 IC 출력 패드들(110b)도 데이터 구동 IC 출력 패드들(120)의 반대 측에 위치한 외곽 게이트 구동 IC 출력 패드들 및 데이터 구동 IC 출력 패드들(120) 측에 위치한 중앙 게이트 구동 IC 출력 패드들을 포함할 수 있으며, 외곽 게이트 구동 IC 출력 패드들의 길이가 중앙 게이트 구동 IC 출력 패드들에 비해 상대적으로 짧을 수 있다.
본 발명의 디스플레이 장치는, 구동 IC가 디스플레이 패널에 실장되기 전에 디스플레이 패널에 대한 불량 여부를 1차적으로 테스트하기 위한 테스트 회로부(200)를 포함한다.
이하에서는, 도 4를 참조하여 본 발명의 테스트 회로부(200)를 구체적으로 살펴보도록 한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 구동 IC 출력 패드부(100) 및 테스트 회로부(200)를 예시한다.
도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 회로부(200)는 게이트 테스트 단자부(210), 데이터 테스트 단자부(220), 게이트 구동 IC 출력 패드들(110)을 게이트 테스트 단자부(210)에 선택적으로 연결시키고 데이터 구동 IC 출력 패드들(120)을 데이터 테스트 단자부(220)에 선택적으로 연결시키기 위한 복수 개의 테스트 스위칭 소자들(230), 테스트 스위칭 소자들(230)에 인에이블 신호를 제공하기 위한 인에이블 단자부(240), 및 공통전극(20)에 공통전압(Vcom)을 제공하기 위한 공통전압 테스트 단자부(250)를 포함한다.
게이트 테스트 단자부(210)는 홀수 번째 게이트 라인들[G1, G3 … G(2n-1)]을 위한 제1 게이트 테스트 단자(211) 및 짝수 번째 게이트 라인들[G2, G4 … G(2n)]을 위한 제2 게이트 데스트 단자(212)를 포함할 수 있다.
도 1에 예시된 바와 같이 제1 게이트 구동 IC 출력 패드들(110a)에 전반 게이트 라인들[G1 내지 G(n)]의 일단들이 각각 접속되고 제2 게이트 구동 IC 출력 패드들(110b)에 후반 게이트 라인들[G(n+1) 내지 G(2n)]의 일단들이 각각 접속된다면, 도 4에 도시된 바와 같이 제1 게이트 테스트 단자(211)는 홀수 번째 게이트 구동 IC 출력 패드들[GP1, GP3 … GP(2n-1)]에 전기적으로 연결되고, 제2 게이트 데스트 단자(212)는 짝수 번째 게이트 구동 IC 출력 패드들[GP2, GP4 … GP(2n)]에 연결된다.
반면에, 도 2에 예시된 바와 같이 제1 게이트 구동 IC 출력 패드들(110a)에 홀수 번째 게이트 라인들[G1, G3 … G(2n-1)]의 일단들이 각각 접속되고 제2 게이트 구동 IC 출력 패드들(110b)에 짝수 번째 게이트 라인들[G2, G4 … G(2n)]의 일단들이 각각 접속된다면, 제1 게이트 테스트 단자(211)는 전반 게이트 구동 IC 출력 패드들[GP1, GP2 … GP(n)]에 전기적으로 연결되고, 제2 게이트 데스트 단자(212)는 후반 게이트 구동 IC 출력 패드들[GP(n+1), GP(n+2) … GP(2n)]에 연결될 것이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 데이터 테스트 단자부(220)는 홀수 번째 데이터 라인들[D1, D3 …]을 위한 제1 데이터 테스트 단자(221) 및 짝수 번째 데이터 라인들[D2, D4 …]을 위한 제2 데이터 테스트 단자(222)를 포함할 수 있다.
선택적으로, 도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 데이터 테스트 단자부(220')는 적색(R)용 데이터 라인들[D1, D4, …, D(m-2)]을 위한 제1 데이터 테스트 단자(223), 녹색(G)용 데이터 라인들[D2, D5, …, D(m-1)]을 위한 제2 데이터 테스트 단자(224) 및 청색(B)용 데이터 라인들[D3, D6, …, D(m)]을 위한 제3 데이터 테스트 단자(225)를 포함할 수도 있다.
복수 개의 테스트 스위칭 소자들(230)은 게이트 구동 IC 출력 패드들(110)을 게이트 테스트 단자부(210)에 선택적으로 연결시키고 데이터 구동 IC 출력 패드들(120)을 데이터 테스트 단자부(220)에 선택적으로 연결시킨다.
테스트 스위칭 소자들(230)은 게이트 전극, 소스 전극 및 드레인 전극을 포함하는 박막트랜지스터들일 수 있다. 상기 박막트랜지스터들 각각의 게이트 전극은 인에이블 단자부(250)에 연결되어 있고, 소스 전극은 게이트 테스트 단자부(210) 또는 데이터 테스트 단자부(220)에 각각 연결되어 있다.
인에이블 단자부(250)를 통해 상기 박막트랜지스터들의 게이트 전극들에 인에이블 신호가 제공되면 상기 박막트랜지스터들이 턴온되고, 상기 게이트 테스트 단자부(210)를 통해 인가되는 게이트 테스트 전압이 상기 게이트 라인들[G1 ~ G(2n)]에 전달되고, 상기 데이터 테스트 단자부(220)를 통해 인가되는 데이터 테스트 전압이 상기 데이터 라인들[D1 ~ D(m)]에 전달된다.
앞에서 설명한 바와 같이, 홀수 번째 게이트 라인들[G1, G3 … G(2n-1)]은 제1 게이트 테스트 단자(211)를 통해 게이트 테스트 전압을 수신하고, 짝수 번째 게이트 라인들[G2, G4 … G(2n)]은 제2 게이트 데스트 단자(212)를 통해 게이트 테스트 전압을 수신할 수 있다. 이와 같은 구성을 통해 홀수 번째 게이트 라인들[G1, G3 … G(2n-1)]과 짝수 번째 게이트 라인들[G2, G4 … G(2n)]에 대한 테스트를 분리하여 진행할 수 있다.
또한, 도 4에 도시된 바와 같이 홀수 번째 데이터 라인들[D1, D3 …]은 제1 데이터 테스트 단자(221)를 통해 데이터 테스트 전압을 수신하고 짝수 번째 데이터 라인들[D2, D4 …]은 제2 데이터 테스트 단자(222)를 통해 데이터 테스트 전압을 수신하도록 함으로써 홀수 번째 데이터 라인들[D1, D3 …]과 짝수 번째 데이터 라인들[D2, D4 …]에 대한 테스트를 분리하여 진행할 수 있다.
또한, 도 5에 도시된 바와 같이 적색(R)용 데이터 라인들[D1, D4, …, D(m-2)]은 제1 데이터 테스트 단자(223)를 통해 데이터 테스트 전압을 수신하고, 녹색(G)용 데이터 라인들[D2, D5, …, D(m-1)]은 제2 데이터 테스트 단자(224)를 통해 데이터 테스트 전압을 수신하며, 청색(B)용 데이터 라인들[D3, D6, …, D(m)]은 제3 데이터 테스트 단자(225)를 통해 데이터 테스트 전압을 수신하도록 함으로써 적색(R)용 데이터 라인들[D1, D4, …, D(m-2)], 녹색(G)용 데이터 라인들[D2, D5, …, D(m-1)] 및 청색(B)용 데이터 라인들[D3, D6, …, D(m)]에 대한 테스트를 분리하여 진행할 수도 있다.
공통전압 테스트 단자부(250)는 공통 전극(20)에 공통전압(Vcom)을 제공하기 위한 것이다.
이상에서 설명한 게이트 테스트 단자부(210), 데이터 테스트 단자부(220), 인에이블 단자부(240), 및 공통전압 테스트 단자부(250)를 통해 구동 IC 실장 전 디스플레이 패널에 대한 1차 오토프로브(Autoprobe) 테스트를 수행할 수 있다.
한편, 본 발명의 디스플레이 장치는 공통전압 테스트 단자부(250)와 전기적으로 연결된 공통전압 패드(500)를 더 포함한다.
공통전압 패드(500)는 구동 IC 출력 패드들(110, 120)과 더불어 2차 오토프로브 테스트를 위한 컨택 포인트를 제공한다. 따라서, 공통전압 패드(500)는 구동 IC 출력 패드들(110, 120)과 마찬가지로 프로브 컨택이 용이하게 이루어질 수 있도록 충분히 긴 길이를 가져야 하는데, 예를 들어 공통전압 패드(500)의 길이는 150 내지 250 ㎛일 수 있다.
도 4 및 도 5에는 제1 게이트 구동 IC 출력 패드들(110a)과 데이터 구동 IC 출력 패드들(120) 사이에 형성된 공통전압 패드(500)가 예시되어 있으나, 공통전압 패드(500)와 구동 IC 출력 패드들(110, 120)에 테스트 전압을 인가하기 위한 오토프로브에 적합하기만 하다면 공통전압 패드(500)의 위치에 특별한 제한이 있는 것은 아니다. 즉, 공통전압 패드(500)는 예를 들어, 제2 게이트 구동 IC 출력 패드들(110b)과 데이터 구동 IC 출력 패드들(120) 사이 또는 구동 IC 출력 패드부(100) 바로 옆에 형성될 수 있다.
이상에서 살펴본 구성을 갖는 디스플레이 패널이 제조되면, 게이트 테스트 단자부(210), 데이터 테스트 단자부(220), 인에이블 단자부(240), 및 공통전압 테스트 단자부(250)에 게이트 전압, 데이터 전압, 인에이블 신호, 및 공통전압을 각각 인가함으로써 디스플레이 패널을 1차적으로 테스트한다.
테스트 회로부(200)를 이용한 1차 테스트를 통해 불량으로 판정된 디스플레이 패널 중에는 디스플레이 패널 자체의 결함으로 인해 불량 판정이 난 것들도 있지만 디스플레이 패널의 자체 결함 없이 단지 테스트 회로부(200)의 결함으로 인해 불량 판정이 난 것들도 포함되어 있을 수 있다. 테스트 회로부(200)의 결함은 구동 IC가 실장된 후 디스플레이 장치가 구동될 때 아무런 영향을 끼치지 않는다.
따라서, 본 발명에 의하면, 1차 테스트를 통해 불량으로 판정된 디스플레이 패널에 대하여 2차 테스트를 수행한다. 상기 2차 테스트는 게이트 구동 IC 출력 패드들(110), 데이터 구동 IC 출력 패드들(120) 및 공통전압 패드(500)에 게이트 전압, 데이터 전압 및 공통전압을 각각 인가함으로써 수행될 수 있다.
2차 테스트를 통과한 디스플레이 패널은 양품으로 취급하고 이에 대해서는 구동 IC 실장 등의 후속 공정을 수행한다.
위에서 살펴본 본 발명의 실시예들은 본 발명을 예시하거나 설명하기 위한 것일 뿐으로서, 특허청구범위의 발명에 대한 더욱 자세한 설명을 제공하기 위한 것으로 이해되어야 한다. 본 발명의 기술적 사상 및 범위를 벗어나지 않는 범위 내에서 상기 실시예들의 다양한 변경 및 변형이 가능하다는 점은 당업자에게 자명할 것이다. 따라서, 본 발명은 특허청구범위에 기재된 발명 및 그 균등물의 범위 내의 변경 및 변형을 모두 포함한다.
10: 화소전극 20: 공통전극
100: 구동 IC 출력 패드부 200: 테스트 회로부
300: 구동 IC 입력 패드부 400: FPC 패드부
500: 공통전압 패드

Claims (10)

  1. 복수 개의 게이트 라인들;
    상기 게이트 라인들의 일단들이 접속된 게이트 구동 IC 출력 패드들;
    상기 게이트 라인들과 교차하는 복수 개의 데이터 라인들;
    상기 데이터 라인들의 일단들이 접속된 데이터 구동 IC 출력 패드들;
    복수 개의 화소전극들;
    상기 게이트 라인들로부터 공급되는 스캔 펄스에 따라 상기 데이터 라인들을 상기 화소전극들에 선택적으로 연결시키 위한 복수 개의 화소 스위칭 소자들;
    상기 화소전극들에 대향하는 공통전극;
    게이트 테스트 단자부;
    데이터 테스트 단자부;
    상기 게이트 구동 IC 출력 패드들을 상기 게이트 테스트 단자부에 선택적으로 연결시키고, 상기 데이터 구동 IC 출력 패드들을 상기 데이터 테스트 단자부에 선택적으로 연결시키기 위한 복수 개의 테스트 스위칭 소자들;
    상기 테스트 스위칭 소자들에 인에이블 신호를 제공하기 위한 인에이블 단자부;
    상기 공통전극에 공통전압을 제공하기 위한 공통전압 테스트 단자부; 및
    상기 공통전압 테스트 단자부와 연결된 공통전압 패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 게이트 구동 IC 출력 패드들은,
    제1 게이트 구동 IC 출력 패드들; 및
    제2 게이트 구동 IC 출력 패드들을 포함하고,
    상기 데이터 구동 IC 출력 패드들은 상기 제1 게이트 구동 IC 출력 패드들과 상기 제2 게이트 구동 IC 출력 패드들 사이에 위치하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 제1 게이트 구동 IC 출력 패드들에는 전반 게이트 라인들의 일단들이 각각 접속되고,
    상기 제2 게이트 구동 IC 출력 패드들에는 후반 게이트 라인들의 일단들이 각각 접속되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 제1 게이트 구동 IC 출력 패드들에는 홀수 번째 게이트 라인들의 일단들이 각각 접속되고,
    상기 제2 게이트 구동 IC 출력 패드들에는 짝수 번째 게이트 라인들의 일단들이 각각 접속되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  5. 제 2 항에 있어서,
    상기 게이트 구동 IC 출력 패드들의 길이는 150 내지 250 ㎛이고,
    상기 제1 및 제2 게이트 구동 IC 출력 패드들 중 상기 데이터 구동 IC 출력 패드들의 반대 측에 각각 위치한 외곽 게이트 구동 IC 출력 패드들의 길이는 상기 데이터 구동 IC 출력 패드들 측에 위치한 중앙 게이트 구동 IC 출력 패드들에 비해 상대적으로 짧은 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 게이트 테스트 단자부는,
    홀수 번째 게이트 라인들을 위한 제1 게이트 테스트 단자; 및
    짝수 번째 게이트 라인들을 위한 제2 게이트 데스트 단자를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 데이터 테스트 단자부는,
    홀수 번째 데이터 라인들을 위한 제1 데이터 테스트 단자; 및
    짝수 번째 데이터 라인들을 위한 제2 데이터 테스트 단자를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 데이터 데스트 단자부는,
    적색(R)용 데이터 라인들을 위한 제1 데이터 테스트 단자;
    녹색(G)용 데이터 라인들을 위한 제2 데이터 테스트 단자; 및
    청색(B)용 데이터 라인들을 위한 제3 데이터 테스트 단자를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  9. 복수 개의 게이트 라인들의 일단들이 접속된 게이트 구동 IC 출력 패드들, 상기 게이트 라인들과 교차하는 복수 개의 데이터 라인들의 일단들이 접속된 데이터 구동 IC 출력 패드들, 게이트 테스트 단자부, 데이터 테스트 단자부, 상기 게이트 구동 IC 출력 패드들을 상기 게이트 테스트 단자부에 선택적으로 연결시키고 상기 데이터 구동 IC 출력 패드들을 상기 데이터 테스트 단자부에 선택적으로 연결시키기 위한 복수 개의 테스트 스위칭 소자들, 상기 테스트 스위칭 소자들에 인에이블 신호를 제공하기 위한 인에이블 단자부, 공통전극에 공통전압을 제공하기 위한 공통전압 테스트 단자부, 및 상기 공통전압 테스트 단자부와 연결된 공통전압 패드를 포함하는 디스플레이 패널을 제조하는 단계;
    상기 게이트 테스트 단자부, 데이터 테스트 단자부, 인에이블 단자부, 및 공통전압 테스트 단자부에 게이트 전압, 데이터 전압, 인에이블 신호, 및 공통전압을 각각 인가함으로써 상기 디스플레이 패널을 1차적으로 테스트하는 단계; 및
    상기 게이트 구동 IC 출력 패드들, 데이터 구동 IC 출력 패드들 및 공통전압 패드에 게이트 전압, 데이터 전압 및 공통전압을 각각 인가함으로써 상기 디스플레이 패널을 2차적으로 테스트하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 테스트 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 2차 테스트는 상기 1차 테스트를 통과하지 못한 디스플레이 패널에 대해서만 수행되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 테스트 방법.
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